KR20040034699A - Ｍａｐ 디코더용 파이프라인 구조 - Google Patents

Ｍａｐ 디코더용 파이프라인 구조 Download PDF

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Abstract

본 발명의 파이프라인식 MAP(Maximum A Posteriori) 디코더 구조에서의 슬라이딩 윈도우 방법은 처리 시간을 감소시키기 위해 변경된다. 순방향 메트릭이 디코더의 제1 슬라이딩 윈도우에 대해서 계산되면, 다음 윈도우에 대한 순방향 메트릭이 계산되는 동안 각 윈도우에 대한 역방향 메트릭이 계산된다. 각각의 새로운 순방향 메트릭이 계산되어 메모리(14) 내에 저장됨에 따라 이전의 윈도우로부터의 순방향 메트릭은 외부 값의 계산시에 계산되는 역방향 메트릭과 함께 사용하기 위해서 메모리(14)로부터 판독된다. 외부 값의 계산시에 사용하기 위한 각 순방향 메트릭은 새로운 순방향 메트릭이 동일한 메모리 위치에 기록되는 동일한 클록 에지 상의 메모리로부터 판독된다. 이와 같은 구조가 터보 디코더의 용도로 개발되고 있을지라도, 모든 컨볼루션 코드들은 본 발명의 MAP 알고리즘을 사용할 수 있다.

Description

ＭＡＰ 디코더용 파이프라인 구조 {PIPELINE ARCHITECTURE FOR MAXIMUM A POSTERIORI(MAP) DECODERS}
터보 디코더(Turbo Decoder) 알고리즘과 같은 일부 에러 정정 알고리즘은 MAP 알고리즘의 변화를 이용해서 노이즈에 의해 손상된 부호화 비트 시퀀스로부터 정보 비트의 시퀀스를 재생시킨다. 상기 MAP 알고리즘에 의해 요구되는 계산의 반복적인 특성은 실시하는 데 비용이 많이 들게 된다.
예컨대, 도 1은 Aforward@metrics 세트 및 Abackward@metrics 세트의 함수로서 상기 MAP 알고리즘에 의한 시퀀스 출력을 예시한다. 그러나, 각 순방향 메트릭(k)은 이전의 순방향 메트릭(k-1)의 함수이고, 각 역방향 메트릭(k-1)은 다음 역방향 메트릭(k)의 함수이다. 도 1의 시간선도(timeline diagram)에 예시된 바와 같이, 이 알고리즘을 실행하는 구조는 출력이 계산되는 동안 다른 메트릭 세트가 계산될 수 있도록 모든 순방향 메트릭이나 모든 역방향 메트릭 중 어느 하나를유지하는 데 충분히 큰 버퍼를 필요로 하며, 그 설계는 대기 시간이 복호화에 필요한 블럭 크기의 대략 2배에 비례하는 디코더로 유도된다.
상기 MAP 알고리즘에 요구되는 버퍼 크기를 저감하기 위한 노력의 일환으로, 소위 슬라이딩 윈도우 알고리즘이라 칭하는 MAP 알고리즘의 변형된 버전이 개발되고 있다. 역방향 메트릭 계산에 있어서 작은 근사값을 구성하는 것에 의해 슬라이딩 윈도우 알고리즘 방법은 요구되는 메트릭 버퍼의 크기를 저감한다. 이는 수신된 시퀀스를 윈도우로 분할한 후, 각 윈도우를 처리함으로써 달성된다.
도 2는 데이터가 2 개의 윈도우로 분할되었을 때 슬라이딩 윈도우 계산이 어떻게 실시되는지에 대한 시간선을 예시하고 있다. 테일(tail) 및 학습 크기(learn size)의 길이는 통상적으로 처리되는 데이터량과 비교해서 매우 작다. 윈도우 크기가 학습 윈도우의 크기와 비교해서 상대적으로 크게 되는 한 디코더를 통한 대기 시간이 상당히 증가되지는 않지만, 순방향 메트릭을 유지하는 데 필요한 버퍼의 크기는 현저하게 감소되는 점은 명확한 사실이다.
따라서, 본 발명의 목적은 MAP 알고리즘의 실시와 관련된 대기 시간과 비용의 양자 모두의 저감을 도모하는 데 있다.
본 발명은 에러 검출(error detection) 및 에러 정정(error correction) 알고리즘 처리 분야에 관한 것으로서, 특히 본 발명은 MAP(Maximum A Posteriori) 알고리즘을 처리하는 데 효율적인 파이프라인식 구조(pipelined architecture)에 관한 것이다.
도 1은 종래 기술의 에러 정정 알고리즘 구조의 시간선의 일례를 도시한다.
도 2는 슬라이딩 윈도우를 사용해서 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭이 계산되는 종래 기술의 에러 정정 알고리즘 구조의 시간선의 제2 예를 도시한다.
도 3은 본 발명의 에러 정정 알고리즘 구조가 상주할 수 있는 터보 디코더의 블록도이다.
도 3a는 순방향 메트릭 계산과 역방향 메트릭 계산이 서로 반대가 되는 다른 터보 디코더의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 에러 정정 알고리즘 구조의 시간선을 도시하는 도면이다.
본 발명의 파이프라인식 MAP 디코더 구조에서는 슬라이딩 윈도우 방법은 그 처리 시간을 감소시키기 위하여 변형된다. 순방향 메트릭이 제1 윈도우에 대해서 계산되면, 다음 윈도우에 대한 순방향 메트릭이 계산되는 동안 각 윈도우에 대한 역방향 메트릭이 계산된다. 각각의 새로운 순방향 메트릭이 계산되어 메모리 내에저장됨에 따라 이전의 윈도우로부터의 순방향 메트릭은 새로운 역방향 메트릭이 계산될 수 있도록 메모리로부터 판독된다. 이전의 윈도우로부터의 각 순방향 메트릭은 다음 윈도우에 대한 새로운 순방향 메트릭이 동일한 메모리 위치에 기록되는 동일한 클록 에지 상의 메모리로부터 판독된다. 이러한 방식으로 순방향 메트릭을 메모리에 판독 및 기록하는 것에 의해 순방향 메트릭 버퍼의 크기는 증가시킬 필요가 없게 된다. 또한, 파이프라인식 계산은 데이터가 2개의 윈도우로 분할되는 경우에 실시될 수도 있다. 이러한 구조가 터보 디코더의 용도로 개발되었을지라도, 상기 MAP 알고리즘의 버전을 사용하는 임의의 디코더라도 상기 구조에 사용할 수 있다. 상기 파이프라인식 슬라이딩 윈도우 구조는 처리 시간을 감소시킨다. 동일한 처리량을 실현하기 위해서는 상기 표준 슬라이딩 윈도우 구조를 상당히 높은 클록 속도로 구동시킬 필요가 있다.
이하에서는 첨부된 보면을 참조하여 동일한 구성 요소에는 동일한 참조 번호를 부여해서 본 발명을 상세히 설명할 것이다.
본 발명의 도 3은 본 발명의 파이프라인식 디코더 구조가 상주할 수 있는 터보 디코더의 블록도이다. 본 발명의 파이프라인식 MAP 디코더 구조에서는 슬라이딩 윈도우 방법은 그 처리 시간을 감소시키기 위하여 변형된다. 도 4는 본 발명에 의해 달성되는 시간선을 도시한다. 순방향 메트릭이 제1 윈도우에 대해서 계산되면, 다음 윈도우에 대한 순방향 메트릭이 계산되는 동안 각 윈도우에 대한 역방향 메트릭이 계산된다. 각각의 새로운 순방향 메트릭이 계산되어 메모리 내에 저장됨에 따라 이전의 윈도우로부터의 순방향 메트릭은 새로운 역방향 메트릭이 계산될 수 있도록 메모리로부터 판독된다. 각 순방향 메트릭은 새로운 순방향 메트릭이 동일한 메모리 위치에 기록되는 동일한 클록 에지 상의 메모리로부터 판독된다. 이러한 방식으로 순방향 메트릭을 메모리에 판독 및 기록하는 것에 의하여 순방향 메트릭 버퍼의 크기는 증가시킬 필요가 없게 된다.
도 3은 본 발명의 원리 및 기술을 통합한 터보 디코더의 일 실시예의 블록도를 나타낸다.
터보 디코더(10)는 예를 들어 각 데이터 비트(A1@ 또는 A0@)를 3 개의 비트, 즉 데이터 또는 시스템적 비트(s), 제1 패리티 비트(p1) 및 제2 패리티 비트(p2)[이하, sp1p2라 칭함]로 변환하는 기지국(BS; Base Station)과 같은 전송 설비로부터 데이터를 수신한다. 상기 sp1p2 데이터는 메모리 레지스터(12)로 인가되는데,상기 메모리 레지스터(12)는 이하에서 보다 상세히 설명되는 외인성 메모리(14)로부터 판독된 외부 데이터(extrinsic data) 및 인터리브 어드레스 생성기(16)로부터 획득된 어드레스를 수신한다. 따라서, 메모리 레지스터(12)는 sp1p2 데이터, 라인 14a에 나타낸 외부 데이터(extrin_data_out) 및 라인 16a에 나타낸 외부 데이터가 위치하는 어드레스(extrin_read_addr.)를 초기에 수신해서 저장한다. 상기 어드레스는 이하에서 보다 상세히 설명하기 위한 목적으로 계산을 통한 상기 sp1p2 데이터와 함께 수반된다.
상기 splp2 데이터는 메모리 레지스터(12)로부터 감마.() 계산기(18)로 전송되고, 국부 메모리(20)에 추가로 저장된다.
통상적인 터보 디코더에서와 같이, 3가지 수량, 즉 알파.(), 베타.() 및 감마.()가 정의된다. 특정 상태 및 특정 시간 스텝에 대해서는 터보 디코더가 그 특정 상태에 있거나 그 특정 시간 스텝에 있을 확률을 정의하는 값을 갖는다. 알파는 시간 k=1로부터 귀납적 개시 및 시간 내에 순방향 이동이 유도된다. 그 값은 유사하지만, 시간 내에 역방향으로 움직인다. 감마.()는 터보 디코더가 소정 시간의 상태로부터 다음 후속 시간 증분의 일부 허용된 상태로 이동할 수 있는 전이 확률(transition probability)로서 정의된다. 알파.()는 감마.()에 의해 표시된 상태 전이 확률에 기초하여 트렐리스(Trellis)로 모든 상태에 대해 계산될 수 있다. 감마.() 계산기(18)에서 실행된 감마.() 계산은 레지스터(22)에 저장된다. 계산 단(24, 26)은 각각 각 알파를 계산하고 상기 알파 계산을 표준화한다. 각 알파.() 값은 입력단(24b)으로 제공된 이전의 계산된 알파값 뿐만 아니라 레지스터(22)로부터의 입력에 기초하여 계산되어, 계산 단(26)으로부터 8개의 계산된 값을 유지하는 멀티플렉서(28) 및 레지스터(30)를 통해 출력된다. 레지스터(30)의 출력은 제1 메모리 위치(23a)에서의 제1 계산된 알파 값을 저장하는 알파 메모리(32)의 입력에 결합되고, 그 계산된 알파값을 입력단(24b)으로 제공한다.
계산을 초기화하고, 그 초기 상태에서 동작을 개시하도록 하기 위해서, 초기의 8개의 알파 메트릭은 계산 단(24, 26)에서 8개의 알파 값을 계산하기 위해 멀티플렉서(28)의 초기화된 입력단(28a)에 인가되는 일부 초기값으로 설정된다. 전술한 바와 같이, 상기 sp1p2 데이터는 국부 메모리(20)에 저장된다.
초기에, 모든 알파 값이 계산되면, 베타 값은 베타에 대한 역방향 일반 공식에 필요한 계산을 실행하기 위해 국부 메모리(20)로부터의 역방향 순서[즉, 후입 선출(A last-in, first-out) order@]로 판독되는 sp1p2 데이터의 이용에 의하여 계산된다. 상기 sp1p2 데이터로서 국부 메모리(20)의 최종 판독은 레지스터(34)로 판독되는데, 상기 레지스터(34)는 상기 sp1p2 데이터 뿐만 아니라 외부 값(초기 단 연산인 경우에는 0임) 및 그 초기 외부 값이 외인성 메모리(14)에 위치하는 메모리 위치를 표시하는 데이터를 포함한다. 상기 sp1p2 데이터인 외부 데이터는 감마 계산 단(36)에서 계산을 수행한다. 감마 계산 단(36)의 출력은 감마 레지스터(38, 40)에 인가된다. 베타 계산은 베타 계산 단(44) 및 베타 표준화 단(46)에 의해 각각 실시된다. 초기에, 이진수 1(A1@)의 개시 조건은 멀티플렉서(42)의 입력단(42a)에 인가된다. 표준화된 베타 계산은 최종 계산된 입력을 멀티플렉서(42)의 입력단(42b)에 추가로 인가하는 출력 레지스터(48)를 통해 외부 값 계산 단(50)으로 초기에 인가된다. 외부 값 계산 단(50)은 입력단(58)에서 수신된 레지스터(52)에 대한 알파값, 입력단(50b)에서 수신된 레지스터(38)로부터의 감마값 및 입력단(50c)에서 수신된 레지스터(48)로부터의 베타값을 조사함으로써 각각의 시간 상태 k에 대한 외부 값을 계산한다. 레지스터(48, 52, 38)는 외부 값 계산 단(50)에서의 신호의 시간 등록을 보장하기 위해 제공된다.
제1 외부 값 계산 단(50)에 의해 계산된 중간값은 그 내용을 외부 값 계산기의 제2 외부 값 계산 단(56)으로 전달하는 레지스터(54)에 인가된다.
전술한 바와 같이, 레지스터(34)는 그 내용을 레지스터(58)로 전달하고, 이 레지스터(58)는 그 내용을 레지스터(60)로 전달하며, 상기 레지스터(60)의 내용은 제2 외부 값 계산 단(56)의 출력으로 나타나는 외부 값으로부터 감산되고, 이 감산 단는 감산 회로(62)에서 실시된다.
상기 제2 외부 값 계산 단(56)에서 획득된 외부 값은 이 제2 외부 값 계산 단(56)의 출력을 수신하는 이진 상태 판정 회로(64)로 구성된 SIHO(soft-in-hard-out) 회로(64)에 추가로 인가된다. SIHO 회로(64) 내의 회로(66)의 연산은 이하에서 보다 상세히 설명할 것이다.
차 회로(difference circuit)(62)에서 출력되는 차이값은 레지스터(68)에 인가되는데, 상기 레지스터(68)는 외부 값 계산을 외인성 메모리(14)의 외부 데이터(14b)(즉, extrin_data_in)로서 인가한다. 전술한 바와 같이, 국부 메모리(20)는 데이터, 패리티 및 외부 값을 저장하는 것 이외에도 외인성 메모리(14)의 제1 외부 값 어드레스를 추가로 저장하고, 이 어드레스는 메모리 레지스터(34) 및 외부 값 계산이 저장되는 외인성 메모리(14)의 위치를 제공하는 시간 동기화 레지스터(70, 72, 74)를 통해 연속해서 결합되며, 상기 메모리 위치 데이터는 외인성 메모리(14)의 외부 데이터(14b)로서 인가한다.
도 2에 도시된 예를 참조하여 이하에서 설명하는 바와 같이, 알파를 결정하는 계산의 1/2은 제1 타임 윈도우 k/2의 기간 동안 실시된다.
역방향 메트릭.()의 계산은 제1 윈도우의 최종 1/2(k/2)의 기간 동안 실시된다. 알파값은 그들이 저장되는 역방향 순서로 알파 메모리(32)로부터 판독된다. 윈도우 2에 대한 순방향 메트릭(도 4 참조)의 기간 동안 계산된 알파값은 윈도우 1의 기간 동안 계산된 알파값이 외부 값을 계산하기 위한 목적으로 판독되는 메모리 위치에 동시에 저장되며, 이로써 도 3의 실시예에서 메모리 용량을 1/2만큼 감소시킨다. 새로 계산된 알파값이 제1 윈도우의 기간 동안 계산된 순서와 역순으로 저장되는 점에 주목할 필요가 있다.
각각의 후속되는 윈도우 계산 쌍에 있어서, 실시되는 다수의 계산은 외부 값을 계산하는 다수의 소망의 반복 함수이고, 알파 메모리(32)의 알파값의 판독 및 기록 순서는 서로 반전되어, 이전에 계산된 알파값은 최종 메모리 위치에서 제1 메모리 위치의 저장 순서로 판독되며, 상기 알파값은 제1 메모리 위치에서 최종 메모리 위치의 역순으로 판독되고, 또한 상기 알파값은 순방향 메트릭에 대한 제2 반복의 윈도우 2에서 결정되며, 계산 단(24, 26)에서 계산된 새로운 값들은 알파값이 판독되는 위치와 동일한 위치에서 판독된다.
전술한 바와 같이, 외부 값이 계산될 때, 즉 제1 반복이 완료되면, 이 외부값은 외인성 메모리(14)에서 판독되고, 다음 반복의 계산 중에 사용된다. 설명의 간소화의 목적으로 도시하지 않은 종래의 제어 회로는 실시되는 다수의 반복을 결정한다.
전술한 바와 같이, 각 외부 값이 결정됨에 따라서 각각의 외부 값은 그 진폭을 조사함으로써 각 데이터 비트가 A1@이거나 또는 A0@인지 여부를 결정하는 회로(66)에 인가되는데, 여기서, 특정 임계치 이상인 경우에는 A1@가 되도록 결정되고, 특정 임계치 이하인 경우에는 A0@가 되도록 결정된다. 이와 같이 달성된 값은 레지스터(76)에 인가되고, 레지스터(74)로부터 유도된 외부 값 메모리 위치와 함께 합병되어, 합병 회로(78)에 인가된다. 출력 비트는 메모리(84)에 기록된다. SIHO 회로(64)는 각 행이 16 비트 폭인 메모리 위치에 각 비트를 기록한다. 합병 회로 멀티플렉서(78), 멀티플렉서 회로(80) 및 출력 메모리 판독 레지스터(82)는 이진 상태 판정 회로(66)에 의하여 평가된 16 데이터 비트를 저장함으로써 각 메모리 위치의 전체 16개의 이진 비트를 이용하기 위하여 동작한다.
도 3에 도시된 실시예가 제1 윈도우 기간 동안 알파가 계산되고 상기 제1 윈도우의 후반부의 기간 동안 베타가 계산되는 실시 형태를 개시하고 있을지라도, 상기 알파 계산 및 베타 계산은 도 1에 도시된 실시예에 대한 전체 이점을 여전히 유도하는, 즉 최근의 기술 및 장치와 비교해서 도 3의 터보 디코더에 대한 메모리 요구의 50% 저감 뿐만 아니라 계산 시간의 현저한 저감을 유도할 수 있는 한 도 5에 도시된 바와 같이 서로 반전될 수 있음을 이해할 수 있다. 본 발명의 구조는 메모리 크기의 추가적인 저감을 가능하게 한다. 예를 들어, 3개의 윈도우, 4개의 윈도우 등을 사용해서 데이터를 처리하면, 메모리 크기의 추가적인 저감을 제공할 수 있다. 예컨대, 4개의 윈도우를 사용하면, 윈도우를 사용하지 않는 처리와 비교해서 메모리 크기가 3인 메모리 크기가 된다.
도 4는 2개의 윈도우로 데이터가 분할되는 경우에 파이프라인 계산이 어떻게 실시되는지를 도시한다. 학습 윈도우의 크기 및 다수의 테일 비트를 무시하면, 이 예에서 파이프라인식 슬라이딩 윈도우 디코더를 통한 대기 시간은 간단한 슬라이딩 윈도우 구조에서의 2 K와 대향되는 12 K에 비례한다. 처리에 필요한 데이터량에 따른 윈도우 크기, 윈도우 수 및 학습 크기를 변경함으로써 대기 시간을 저감할 수 있다.
전술한 구조가 비록 터보 디코더의 용도로 개발되고 있을지라도, 모든 컨볼루션 코드들은 MAP 디코더를 사용할 수 있다. 순방향 메트릭의 계산은 역방향 메트릭 전후에 계산될 수 있다. 역방향 메트릭이 먼저 계산된 후, 출력 계산이 실시되는 동안 순방향 메트릭이 계산될 수 있다. 이는 예를 들어 도 3a의 실시예에 의해 도시된 바와 같이 달성될 수 있는데, 계산 블럭 241은 베타 계산기이고; 계산 블럭 24 는 베타 표준화 계산 블럭이며, 메모리 321은 베타 메모리이고; 계산 블럭 441은 알파 계산 블럭이며, 계산 블럭 461은 알파 표준화 계산 블럭이다.
도 3a의 실시예의 동작과 관련해서 그밖의 다른 점에 있어서는 도 3의 실시예의 동작과 실질적으로 동일하다.

Claims (39)

  1. 출력 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 방법으로서,
    (a) 상기 순방향 메트릭 계산을 2개의 단에서 실시하는 단계로서, 순방향 메트릭 계산의 제1 그룹은 제2 단에서 계산되는 순방향 메트릭 계산의 제2 그룹에 의해 후속된 제1 단에서 계산되는 것인 순방향 메트릭 계산을 실시하는 단계와;
    (b) 역방향 메트릭 값을 사용해서 메모리로부터 제1 단의 기간 동안 계산된 상기 순방향 메트릭을 판독하여 출력 계산을 실시하는 단계와;
    (c) 상기 역방향 메트릭 계산을 제1 단에 이어서 제2 단에서 실시하는 단계와;
    (d) 상기 역방향 메트릭 계산이 실시됨에 따라 순방향 메트릭 계산의 제2의 반을 실시하는 단계와;
    (e) 제1 단에서 실시된 상기 순방향 메트릭 계산의 각각을 저장하는 단계와;
    (f) 제2 단의 기간 동안 계산된 각각의 순방향 메트릭을, 제1 단의 기간 동안 계산된 순방향 메트릭이 출력 계산시에 사용하기 위해 판독되는 메모리 위치 내에 기록하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 상태 판정 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 단에서 계산된 순방향 메트릭 및 상기 제2 단에서계산된 역방향 메트릭을 이용한 출력 계산을 실시하는 단계를 더 포함하는 상태 판정 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 (e) 단계 및 (f) 단계는 클럭 신호의 공통의 클럭 에지를 사용하여 실시되는 것인 상태 판정 방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 제2 단에서 계산된 순방향 메트릭을 사용하기 위해 역방향 메트릭을 제2 단에 이어서 제3 단에서 실시하고, 상기 제2 단의 기간 동안 계산된 순방향 메트릭 및 상기 제3 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭을 이용한 출력 계산을 실시하는 단계를 더 포함하는 상태 판정 방법.
  5. 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 포함하고, 전송 채널 내의 노이즈에 의하여 손상될 수 있는 원격 위치로부터 수신된 전송을 복호화하는 방법으로서,
    (a) 제1 시간 간격 동안, 전송 위치로부터 수신된 각각의 데이터 비트 및 그 데이터 비트에 따른 패리티 비트에 대한 순방향 메트릭 값을 계산하는 단계와;
    (b) 각각의 순방향 메트릭 값을 제1 메모리에 저장하는 단계와;
    (c) 각각의 수신된 데이터 비트 및 그 데이터 비트에 따른 패리티 비트를, 그 비트들이 수신되는 국부 메모리에 저장하는 단계와;
    (d) 제2 시간 간격 동안 상기 제1 메모리로부터 순방향 메트릭 값을 판독하여 외부 값을 계산하는 단계와;
    (e) 메모리에 사전에 저장된 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 이용하여 상기 제2 시간 간격 중에 역방향 메트릭 값을 계산하는 단계와;
    (f) 상기 제2 시간 간격 동안, 이 제2 시간 간격 중에 수신된 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 대한 순방향 메트릭 값을 계산하고, 상기 제2 시간 간격 중에 계산된 각각의 순방향 메트릭 값을, 상기 (d) 단계 중에 순방향 메트릭 값이 판독되는 메모리 위치에 저장하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 복호화 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 (c) 단계 중에 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트의 국부 메모리로의 판독은 상기 역방향 메트릭의 계산시에 사용하는 역순으로 상기 국부 메모리에서 판독되는 것인 복호화 방법.
  7. 제5항에 있어서, 상기 계산된 순방향 메트릭 값은 상기 순방향 메트릭 값이 상기 외부 값의 계산시에 사용하는 메모리로 판독되는 순서의 역순으로 메모리에서 판독되는 것인 복호화 방법.
  8. 제5항에 있어서, 상기 (a) 단계는 제1 시간 간격 동안 순방향 메트릭 값을 계산하기 전에 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 대해서 감마 계산을 실시하는 단계를 더 포함하는 복호화 방법.
  9. 제5항에 있어서, 소정의 순방향 메트릭 값, 소정의 역방향 메트릭 값 및 소정의 데이터 비트 관련 패리티 비트에 기초해서 초기 외부 값을 계산하는 단계를 더 포함하는 복호화 방법.
  10. 제9항에 있어서, 외인성 메모리에 상기 외부 값을 저장하는 것인 복호화 방법.
  11. 제9항에 있어서, 상기 외부 값을 저장하는 단계는,
    내부 값을, 저장된 외부 값을 계산하는데 이용되는 데이터 비트와 연결된 메모리 위치에 저장하는 단계를 포함하는 복호화 방법.
  12. 제10항에 있어서, 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 국부 메모리로부터 추출하는 단계와;
    상기 외부 값 계산에 사용하기 위해 제2 시간 간격 동안 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 대해서 감마 계산을 실시하는 단계를 더 포함하는 복호화 방법.
  13. 제12항에 있어서, 최종 외부 값을 얻기 위해 상기 초기 외부 값으로부터 제2 시간 간격 동안 상기 국부 메모리에서 판독된 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 감산하는 단계를 더 포함하는 복호화 방법.
  14. 제12항에 있어서, 이진 상태와 관련된 경판정(hard decision)을 구성하기 위해 외부 값 계산기의 출력 데이터의 이진 상태를 결정하는 단계와;
    상기 경판정 출력을 메모리에 저장하는 단계를 더 포함하는 복호화 방법.
  15. 관련된 패리티 비트에 의해 각각 수반되어 손상될 수 있는 데이터 비트를 수신하는 터보 디코더를 조작하는 방법으로서,
    (a) 순방향 메트릭 계산을 2개의 연속 시간 간격으로 실시하는 단계로서, 순방향 메트릭 계산의 하나의 그룹은 제2 시간 간격에 의해 후속된 제1 시간 간격에서 계산되는 것인 순방향 메트릭 계산을 실시하는 단계와;
    (b) 상기 제1 시간 간격 동안 실시된 상기 순방향 메트릭 계산의 각각을 저장하는 단계와;
    (c) 외부 값의 계산시에 역방향 메트릭 값과 함께 사용하기 위해 메모리로부터 제1 시간 간격 동안 계산된 각각의 순방향 메트릭 값을 판독하는 단계와;
    (d) 상기 제2 시간 간격 동안 및 상기 제1 시간 간격 중에 실시된 순방향 메트릭 계산의 완료 이후에 역방향 메트릭 계산을 실시하는 단계와;
    (e) 상기 제2 시간 간격 동안 계산된 각각의 순방향 메트릭 값을, 상기 제1 시간 간격 동안 계산된 순방향 메트릭 값이 메모리에서 판독되는 메모리 위치 내에 기록하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 터보 디코더 조작 방법.
  16. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 터보 디코더로서,
    (a) 외인성 메모리에 메모리 위치를 생성하는 단계와;
    (b) 노이즈 등에 의해 손상될 수 있는 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 포함한 신호를 수신하는 단계와;
    (c) 상기 데이터 비트, 관련된 패리티 비트, 메모리 위치 및 개시 외부 값을 저장하는 단계와;
    (d) 상기 데이터 비트, 관련된 패리티 비트 및 개시 외부 값에 기초해서 순방향 메트릭 값의 제1 세트를 계산하는 단계와;
    (e) 상기 계산된 순방향 메트릭 값을 순방향 메트릭 메모리에 저장하는 단계와;
    (f) 상기 외부 값의 계산시에 역방향 메트릭 값과 함께 사용해서 메모리로부터 상기 계산된 순방향 메트릭 값을 판독하는 단계와;
    (g) 상기 (a) 단계 및 (c) 단계를 사용해서 상기 역방향 메트릭 값이 계산되는 동안 순방향 메트릭 값의 제2 세트를 계산하는 단계와;
    (h) 순방향 메트릭 값의 제2 세트의 각각을, 순방향 메트릭 값의 제1 세트의 하나가 역방향 메트릭 값의 계산시에 사용하기 위해 판독되는 동일한 메모리 위치 내에 저장하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 상태 판정 터보 디코더.
  17. 제16항에 있어서, 역방향 메트릭 값의 계산시에 그들이 메모리로부터 판독되는 역순으로 메모리에서 상기 순방향 메트릭 값을 판독하는 단계를 더 포함하는 상태 판정 방법.
  18. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭(α) 및 역방향 메트릭(β)을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 터보 디코더로서,
    (a) 노이즈 등에 의해 신호가 손상될 수 있는 관련된 패리티 비트를 각각 갖는 데이터 비트를 포함한 신호를 수신하는 단계와;
    (b) 외인성 메모리에 메모리 위치를 생성하여 외부 값을 저장하는 단계와;
    (c) 제1 데이터 비트, 관련된 패리티 비트, 메모리 위치 및 개시 외부 값을 제1 메모리에 저장하는 단계와;
    (d) 상기 데이터 비트, 관련된 패리티 비트 및 개시 외부 값에 기초해서 제1 순방향 메트릭 값을 계산하는 단계와;
    (e) 상기 계산된 순방향 메트릭 값을 순방향 메트릭 메모리에 저장하는 단계와;
    (f) 상기 외부 값의 계산시에 역방향 메트릭 값과 함께 사용해서 순방향 메트릭 메모리로부터 상기 계산된 순방향 메트릭 값을 판독하는 단계와;
    (g) 상기 (a) 단계 및 (c) 단계를 사용해서 상기 역방향 메트릭 값이 계산되는 동안 순방향 메트릭 값의 제2 세트의 제1 순방향 메트릭 값을 계산하는 단계와;
    (h) 순방향 메트릭 값의 제2 세트의 상기 제1 순방향 메트릭 값을, 순방향 메트릭 값의 제1 세트의 하나가 외부 값의 계산시에 사용하기 위해 판독되는 동일한 메모리 위치 내에 저장하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 상태 판정 터보 디코더.
  19. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 터보 디코더로서,
    외인성 메모리와;
    상기 외인성 메모리에 메모리 위치를 생성하는 제1 수단과;
    노이즈 등에 의해 손상될 수 있는 관련된 패리티 비트를 각각 갖는 데이터 비트를 포함한 신호를 수신하는 제2 수단과;
    상기 데이터 비트, 관련된 패리티 비트 및 메모리 위치를 저장하는 제3 수단과;
    상기 데이터 비트, 관련된 패리티 비트 및 초기 개시 외부 값에 기초해서 순방향 메트릭 값의 제1 세트를 계산하는 제4 수단과;
    상기 계산된 순방향 메트릭 값을 순방향 메트릭 메모리에 저장하는 제5 수단과;
    상기 외부 값의 계산시에 역방향 메트릭 값과 함께 사용하기 위해 상기 순방향 메트릭 메모리로부터 상기 계산된 순방향 메트릭 값을 판독하는 제6 수단
    을 포함하고,
    상기 제1 수단, 제2 수단 및 제3 수단은 상기 역방향 메트릭 값이 계산되는 동안 순방향 메트릭 값의 제2 세트를 계산하며;
    상기 제5 수단은, 순방향 메트릭 값의 제2 세트의 하나를, 순방향 메트릭 값의 제1 세트의 하나가 외부 값의 계산시에 사용하기 위해 판독되는 것으로서 상기 순방향 메트릭 메모리의 동일한 메모리 위치 내에 저장하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 상태 판정 터보 디코더.
  20. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 터보 디코더에 사용하기 위한 저장 기술로서,
    (a) 순방향 메트릭 값의 제1 그룹을 메모리에 소정의 순서로 저장하는 단계와;
    (b) 저장된 순방향 메트릭 값들을 최종 계산된 값에서 최초 계산된 값의 순서로 판독하는 단계와;
    (c) 순방향 메트릭 값의 제2 그룹을 메모리에 소정의 순서로 저장하는 단계
    를 포함하고,
    상기 제2 그룹의 최초 계산된 순방향 메트릭 값은 상기 제2 그룹의 최종 계산된 메트릭 값이 판독되는 메모리 위치에 저장되는 것을 특징으로 하는 저장 기술.
  21. 제20항에 있어서, 메모리에서 판독된 상기 순방향 메트릭 값에 기초해서 역방향 메트릭 값을 계산하는 단계를 더 포함하는 저장 기술.
  22. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 터보 디코더에 사용하기 위한 장치로서,
    데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 저장하는 제1 메모리와;
    순방향 메트릭 메모리와;
    상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 기초해서 순방향 메트릭 값의 제1 그룹을 계산하는 수단과;
    상기 순방향 메트릭 값의 제1 그룹을 메모리에 소정의 순서로 저장하는 수단과;
    저장된 메트릭 값의 제1 그룹을 상기 메모리로부터 최종 계산된 값에서 최초 계산된 값의 순서로 판독하는 수단과;
    상기 메트릭 값의 제1 그룹의 계산에 이어서 순방향 메트릭 값의 제2 그룹을 계산하기 위하여 상기 계산 수단을 제어하는 수단과;
    상기 순방향 메트릭 값의 제2 그룹을 상기 순방향 메트릭 메모리에 소정의 순서로 저장하는 수단
    을 포함하고,
    상기 제2 그룹의 최초 계산된 순방향 메트릭 값은 상기 제1 그룹의 최종 계산된 메트릭 값이 판독되는 메모리 위치에 저장되는 것을 특징으로 하는 터보 디코더에 사용하기 위한 장치.
  23. 제22항에 있어서, 상기 순방향 메트릭 값의 제1 그룹의 계산 중에 상기 제1 메모리에서 판독되는 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 기초해서 역방향 메트릭 값을 계산하는 제2 수단을 더 포함하는 터보 디코더에 사용하기 위한 장치.
  24. 출력 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 방법으로서,
    (a) 상기 역방향 메트릭 계산을 2개의 단에서 실시하는 단계로서, 역방향 메트릭 계산의 하나의 그룹은 제2 단에서 계산되는 역방향 메트릭 계산의 제2 그룹에 의해 후속된 제1 단에서 계산되는 것인 역방향 메트릭 계산을 실시하는 단계와;
    (b) 제1 단에서 실시된 상기 역방향 메트릭 계산의 각각을 저장하는 단계와;
    (c) 출력 계산시에 사용하기 위해 메모리로부터 제1 단의 기간 동안 계산된 상기 역방향 메트릭 값을 판독하는 단계와;
    (d) 상기 역방향 메트릭 계산의 제1 단의 완료후 및 상기 역방향 메트릭 계산의 제2 단 이전에 상기 순방향 메트릭 계산을 실시하는 단계와;
    (e) 제2 단의 기간 동안 계산된 각각의 역방향 메트릭을, 제1 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭이 출력 계산시에 사용하기 위해 판독되는 메모리 위치 내에 기록하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 상태 판정 방법.
  25. 제24항에 있어서, 상기 제1 단에서 계산된 역방향 메트릭 및 상기 제2 단에서 계산된 순방향 메트릭을 이용한 출력 계산을 실시하는 단계를 더 포함하는 상태 판정 방법.
  26. 제24항에 있어서, 상기 (c) 단계 및 (e) 단계는 클럭 신호의 공통의 클럭 에지를 사용하여 실시되는 것인 상태 판정 방법.
  27. 제25항에 있어서, 상기 제2 단에서 계산된 역방향 메트릭에 응답하여 순방향 메트릭을 상기 제2 단에 이어서 제3 단에서 실시하는 단계와;
    상기 제2 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭 값 및 상기 제3 단의 기간 동안 계산된 순방향 메트릭 값을 이용한 출력 계산을 실시하는 단계를 더 포함하는 상태 판정 방법.
  28. 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 포함하고, 전송 채널 내의 노이즈에 의하여 손상될 수 있는 원격 위치로부터 수신된 전송을 복호화하는 방법으로서,
    (a) 제1 시간 간격 동안, 전송 위치로부터 수신된 각각의 데이터 비트 및 그 데이터 비트에 따른 패리티 비트에 대한 역방향 메트릭 값을 계산하는 단계와;
    (b) 각각의 역방향 메트릭 값을 제1 메모리에 저장하는 단계와;
    (c) 각각의 수신된 데이터 비트 및 그 데이터 비트에 따른 패리티 비트를, 그 비트들이 수신되는 국부 메모리에 저장하는 단계와;
    (d) 외부 값의 계산시에 사용하기 위해 상기 제1 메모리로부터 역방향 메트릭 값을 판독하는 단계와;
    (e) 국부 메모리에 사전에 저장된 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 이용하여 순방향 메트릭 값을 계산하는 단계와;
    (f) 상기 제2 시간 간격 동안, 이 제2 시간 간격 중에 수신된 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 대한 역방향 메트릭 값을 계산하고, 상기 제2 시간 간격 중에 계산된 각각의 역방향 메트릭 값을, 상기 (d) 단계의 기간 중에 역방향 메트릭 값이 판독되는 상기 제1 메모리의 메모리 위치에 저장하는 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 복호화 방법.
  29. 제28항에 있어서, 상기 (c) 단계 중에 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트의 국부 메모리로의 판독은 상기 외부 값의 계산시에 사용하는 역순으로 상기 국부 메모리에서 판독되는 것인 복호화 방법.
  30. 제29항에 있어서, 상기 제1 시간 간격에서 계산된 역방향 메트릭 값은 상기 제2 시간 간격에서 계산된 역방향 메트릭 값이 메모리로 판독되는 순서의 역순으로 메모리에서 판독되는 것인 복호화 방법.
  31. 제29항에 있어서, 소정의 순방향 메트릭 값, 소정의 역방향 메트릭 값 및 소정의 데이터 비트와 관련된 패리티 비트에 기초해서 외부 값을 계산하는 단계를 더포함하는 복호화 방법.
  32. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 방법으로서,
    (a) 순방향 메트릭 계산의 제1 그룹을 제1 단의 기간 동안 실시하는 단계와;
    (b) 순방향 메트릭 값의 제1 그룹을 메모리에 저장하는 단계와;
    (c) 역방향 메트릭 계산을 상기 제1 단에 이어서 제2 단의 기간 동안 실시하는 단계와;
    (d) 역방향 메트릭 값이 상기 제2 단의 기간 동안 계산됨에 따라 순방향 메트릭 계산의 제2 그룹을 실시하는 단계와;
    (e) 상기 제2 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭 값과 함께 사용하기 위해 메모리의 위치에서 상기 제1 그룹의 순방향 메트릭 값을 판독하여 상기 수신된 신호의 이진 상태를 판정하기 위한 계산을 실시하는 단계와;
    (f) 상기 역방향 메트릭 값이 제2 단에서 계산되는 시간 동안 순방향 메트릭 값의 제2 그룹의 계산을 저장하는 단계
    를 포함하고,
    상기 제2 단의 기간 동안 계산된 각각의 순방향 메트릭 값은, 상기 제1 단의 기간 동안 계산된 순방향 메트릭 값이 상기 수신된 신호의 이진 상태를 판정하기 위해 계산의 실행시에 사용하기 위해 판독되는 동일한 위치 내에 저장되는 것을 특징으로 하는 상태 판정 방법.
  33. 출력 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 장치로서,
    상기 역방향 메트릭 계산을 2개의 단에서 실시하는 단계로서, 역방향 메트릭 계산의 하나의 그룹은 제2 단에서 계산되는 역방향 메트릭 계산의 제2 그룹에 의해 후속된 제1 단에서 계산되는 것인 역방향 메트릭 계산을 실시하는 수단과;
    제1 단에서 실시된 상기 역방향 메트릭 계산의 각각을 저장하는 수단과;
    출력 계산시에 사용하기 위해 메모리로부터 제1 단의 기간 동안 계산된 상기 역방향 메트릭 값을 판독하는 수단과;
    역방향 메트릭 계산의 제1 단의 완료후 및 역방향 메트릭 계산의 제2 단 이전에 상기 순방향 메트릭 계산을 실시하는 수단과;
    제2 단의 기간 동안 계산된 각각의 역방향 메트릭을, 제1 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭이 출력 계산시에 사용하기 위해 판독되는 메모리 위치 내에 기록하는 수단
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 상태 판정 장치.
  34. 제33항에 있어서, 상기 제1 단에서 계산된 역방향 메트릭 및 상기 제2 단에서 계산된 순방향 메트릭을 이용한 출력 계산을 실시하는 수단을 더 포함하는 상태 판정 장치.
  35. 제33항에 있어서, 상기 제2 단에서 계산된 역방향 메트릭에 응답하여 순방향 메트릭을 상기 제2 단에 이어서 제3 단에서 실시하는 수단과;
    상기 제2 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭 값 및 상기 제3 단의 기간 동안 계산된 순방향 메트릭 값을 이용한 출력 계산을 실시하는 수단을 더 포함하는 상태 판정 장치.
  36. 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 포함하고, 전송 채널 내의 노이즈에 의하여 손상될 수 있는 원격 위치로부터 수신된 전송을 복호화하는 장치로서,
    제1 시간 간격 동안, 전송 위치로부터 수신된 각각의 데이터 비트 및 그 데이터 비트에 따른 패리티 비트에 대한 역방향 메트릭 값을 계산하는 수단과;
    각각의 역방향 메트릭 값을 저장하는 제1 메모리와;
    각각의 수신된 데이터 비트 및 그 데이터 비트에 따른 패리티 비트를 저장하는 국부 메모리와;
    외부 값의 계산시에 사용하기 위해 상기 제1 메모리로부터 역방향 메트릭 값을 판독하는 수단과;
    국부 메모리에 사전에 저장된 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 이용하여 순방향 메트릭 값을 계산하는 수단과;
    상기 제2 시간 간격 동안, 이 제2 시간 간격 중에 수신된 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트에 대한 역방향 메트릭 값을 계산하고, 상기 제2 시간 간격 중에 계산된 각각의 역방향 메트릭 값을, 상기 (d) 단계의 기간 동안 역방향 메트릭 값이 판독되는 상기 제1 메모리의 메모리 위치에 저장하는 수단
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 복호화 장치.
  37. 제36항에 있어서, 판독 전용 수단에 의해 상기 외부 값의 계산시에 사용하는 역순으로 상기 국부 메모리로 판독된 상기 데이터 비트 및 관련된 패리티 비트를 국부 메모리에서 판독하는 수단을 더 포함하는 복호화 장치.
  38. 제37항에 있어서, 소정의 순방향 메트릭 값, 소정의 역방향 메트릭 값 및 소정의 데이터 비트와 관련된 패리티 비트에 기초해서 외부 값을 계산하는 수단을 더 포함하는 복호화 장치.
  39. 계산의 실시에 필요한 순방향 메트릭 및 역방향 메트릭을 계산하여 수신된 신호의 이진 상태를 판정하는 장치로서,
    순방향 메트릭 계산의 제1 그룹을 제1 단의 기간 동안 실시하는 수단과;
    순방향 메트릭 값의 제1 그룹을 저장하는 메모리 수단과;
    역방향 메트릭 계산을 상기 제1 단에 이어서 제2 단의 기간 동안 실시하는 수단과;
    역방향 메트릭 값이 상기 제2 단의 기간 동안 계산됨에 따라 순방향 메트릭 계산의 제2 그룹을 실시하는 수단과;
    상기 제2 단의 기간 동안 계산된 역방향 메트릭 값과 함께 사용하기 위해 메모리의 위치에서 상기 제1 그룹의 순방향 메트릭 값을 판독하여 상기 수신된 신호의 이진 상태를 판정하기 위한 계산을 실시하는 수단과;
    상기 역방향 메트릭 값이 제2 단에서 계산되는 시간 동안 순방향 메트릭 값의 제2 그룹의 계산을 저장하는 수단
    을 포함하고,
    상기 제2 단의 기간 동안 계산된 각각의 순방향 메트릭 값은, 상기 제1 단의 기간 동안 계산된 순방향 메트릭 값이 상기 수신된 신호의 이진 상태를 판정하기 위해 계산의 실행시에 사용하기 위해 판독되는 동일한 위치 내에 저장되는 것을 특징으로 하는 상태 판정 장치.
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