KR20030087699A - 유기ｅｌ 모듈 및 그 에이징 방법 - Google Patents

유기ｅｌ 모듈 및 그 에이징 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 유기EL 모듈 및 그 에이징 방법에 관한 것으로, 본 발명의 유기EL 모듈 및 그의 에이징 방법은 유기EL 모듈이 제작 완성된 상태에서 상기 데이터드라이버 및 스캔드라이버에 임의의 전압을 인가하여 유기 EL 패널에 역전압을 가함으로써 불순물을 제거함할 수 있기 때문에 상기 유기EL 모듈의 내구성을 높일 수 있다.

Description

유기ＥＬ 모듈 및 그 에이징 방법{Organic Electro Luminescent Module and Aging Method for the same}
본 발명은 유기EL 모듈 및 그 에이징 방법에 관한 것으로, 특히 유기EL 모듈(Module)이 제작 완료된 상태에서 에이징할 수 있는 유기EL 모듈 및 그 에이징 방법에에 관한 것이다.
최근 전기 발광 소자 (이하, 'EL 소자'라고 함)는 자발광형의 평면형 표시 소자로서의 용도가 유망시되고 있다. EL 소자 중에서도 유기 EL 소자는 무기 EL소자와는 달리 교류 구동 내지 고전압이 필요하다든지 하는 제약이 없으며, 또한 유기 화합물의 다양성에 따라 다색화가 비교적 용이하다고 여겨지기 때문에 완전 컬러 디스플레이 등으로의 응용이 기대되고 있으며, 활발히 연구 개발이 이루어져 저전압으로 높은 휘도를 갖는 구조가 개발되고 있다.
먼저, 무기 EL 소자는 전계 여기형 발광이지만, 유기 EL 소자는 양극에서는 정공을 주입하고 음극에서는 전자를 주입하여 작동하는 이른바 캐리어 주입형 발광이다. 두 전극으로부터 주입된 양, 음의 캐리어는 각각 반대극으로 이동하고, 이들의 재결합에 의해 여기자가 형성된다. 이 여기자가 완화될 때 방출되는 광이 유기 EL 소자에서의 발광이다.
반면, 유기 EL 소자는 예로부터 고순도의 안트라센 단결정을 사용하는 연구가 활발했지만, 고전압 인가를 필요로 하는 것에 비해 휘도 및 발광 효율이 모두 낮고, 안정성이 부족하였다. 이와 같은 유기EL에서의 불량에 대한 문제는 아주 중요한 문제이다.
특히, 기판에서의 작은 파티클(Particle)과 같은 불순물 때문에 애노드(Anode) 전극과 캐소드(Cathode) 전극에서 발생하는 단락문제는 기판의 세정문제와 함께 중요한 문제로 대두되고 있다. 따라서, 종래에는 양산에서는 기판의 제작공정에 있어서, 에이징(Aging) 혹은 버닝(Burning) 공정을 더 추가하여 상기 불순물을 제거할 수 있었다.
이와 같은 종래 기술의 유기EL 에이징 방법은 유기EL 패널 기판의 공정중에 에이징을 위하여 모든 데이터라인을 하나로 연결한 쇼팅바(Shorting Bar)를 만들고, 모든 스캔라인을 하나로 연결한 쇼팅바를 만들어서 에이징(Aging)을 수행한 후에 상기 쇼팅바 부분을 잘라서 버리고 모듈로 만들고 있다.
하지만, 종래 기술의 유기EL 에이징 방법은 양산 이후 일정한 시간이 경과된 경우 즉, 유기EL 패널의 제작을 완료한 상태에서 미세한 입자들로 인하여 발생하는 단락현상을 없애기 위하여 에이징작업을 실시할 수가 없다.
따라서, 종래 기술에 따른 유기EL 모듈은 유기EL 패널의 제작을 완료한 이후 미립자와 같은 불순물에 의해 불량이 발생할 경우, 에이징 기능을 수행하지 못하였기 때문에 모듈불량으로 설정해야만 하는 경우가 종종 있어 왔다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 유기EL 패널의 제작을 완료한 모듈상태에서 드라이버 구동부 또는 상기 데이터드라이버 및 스캔드라이버 각각에 에이징 작업을 실시할 수 있도록 하는 기능을 추가하여 유기EL의 내구성을 높일 수 있는 유기EL 모듈 및 에이징 방법을 제안하고자 한다.
도 1은 본 발명의 유기EL 모듈을 개략적으로 도시한 회로도이다.
도 2는 본 발명에 따른 유기EL 모듈의 에이징 회로도이다.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
11 : 스캔라인 13 : 데이터라인
15 : 스캔드라이버 17 : 데이터드라이버
19 : 발광다이오드 21 : 트랜지스터
23,27 : 싱크용 트랜지스터 25 : 정전류 소스
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 유기EL 모듈 에이징 방법은, 데이터드라이버에 연결된 모든 데이터라인을 접지시키고, 스캔드라이버에 연결된 모든 스캔라인에 특정전압을 인가하는 유기EL 모듈 에이징 방법에 있어서, 상기 데이터드라이버와 스캔드라이버의 출력전압을 비교하여 상기 데이터드라이버의 출력전압을 로우 내지 접지로 설정하고, 상기 스캔드라이버의 출력전압을 하이 내지 일정전압 이상으로 설정할 수 있는 것을 특징으로 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 유기EL 에이징 방법을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 유기EL 모듈을 개략적으로 도시한 회로도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 유기EL 모듈은 수직하도록 형성된 다수개의 스캔라인(11) 및 데이터라인(13)이 교차하는 지점에 발광 다이오드(19)를 구비한 유기EL 패널(도시되지 않음)과, 상기 스캔라인(11)을 제어하기 위해 각각 복수의 트랜지스터(21,23)를 구비한 스캔드라이버(15)와, 상기 데이터라인(13)을 제어하기 위한 트랜지스터(27)와 정전류 소스(25)를 구비한 데이터드라이버(17)를 포함하여 구성된다.
도시하지는 않았지만, 상기 스캔드라이버(15) 및 상기 데이터드라이버(17)의 출력전압을 비교하여 상기 각 드라이버에 설정된 전압을 인가할 수 있는 드라이버 구동부를 더 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 스캔드라이버(15)는 상기 스캔라인(11)에 각각 연결된 역전압 연결용 트랜지스터(23) 및 싱크용(Sync) 트랜지스터(21)를 구비한다. 또한, 상기 데이터드라이버(17)는 상기 데이터라인(13)에 각각 연결된 정전류 소스(source)(25) 및 싱크용 트랜지스터(23)를 구비한다.
또한, 상기 스캔드라이버(15) 및 데이터드라이버(17)는 각각의 신호를 출력하기 위해 각각 전원(Vpp, Vdd)에 연결되어 있다.
특히, 상기 스캔드라이버(15)에 연결된 전원(Vpp)은 항복전압 이하에서 고전압을 인가하고, 상기 데이터드라이버(17)를 접지시킴으로써 상기 발광 다이오드(19)에 역전압을 가할 수 있기 때문에 유기EL 모듈을 에이징시킬 수 있다.
따라서, 본 발명의 유기EL 모듈은 다수개의 스캔라인(11)에 각각 복수개의 트랜지스터(21,23)를 구비한 스캔드라이버(15)와, 다수개의 데이터 라인(13)에 트랜지스터(27) 및 정전류 소스(25)를 구비한 데이터드라이버(17)를 포함하여 이루어진다.
또한, 상기 스캔드라이버(15)에 연결된 전원(Vpp)은 항복전압의 이하에서 고전압을 인가여 상기 발광 다이오드(19)에 역전압을 인가하여 유기EL을 에이징시킬 수 있다.
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 유기EL 모듈의 화상구현 동작은 다음과 같다.
먼저, 상기 스캔드라이버(15)에서 화상을 구현하기 위해 한 프레임당 일정시간 동안 하나의 싱크용 트랜지스터(23)를 동작해서 상기 스캔라인(11) 접지상태로 만들고, 동작시키지 않는 스캔라인(11)에는 역전압(Vpp)이 인가되는 구조를 가지고 있다.
동시에, 상기 프레임에 해당하는 상기 데이터드라이버(17)가 상기 정전류 소스(25)를 통하여 데이터라인(13)에 데이터 신호를 인가하고, 상기 데이터 신호가 인가되지 않는 데이터라인(13)은 상기 싱크용 트랜지스트(23)에 의해 접지상태로 된다.
따라서, 본 발명에 따른 유기EL 모듈은 다수개의 스캔라인(11) 및 데이터라인(13)이 교차하는 부분에 인가되는 전압차를 이용하여 화상을 구현할 수 있다.
그러나, 이러한 상태에서 상기 유기EL 패널 내부에 미세입자들과 같은 불순물로 인해 이상이 발생할 경우(스캔라인(11) 및 데이터라인(13)의 연결이 약한 상태) 스캔라인(11) 혹은 데이터라인(13)을 따라서 라인형태의 이상현상이 생길 수 있다. 이러한 현상을 방지하기 위하여 유기EL 모듈 또는 유기EL 모듈을 사용하는 이동기기를 통하여 에이징을 시킬 필요가 있다.
이에, 본 발명은 이와 같은 불순물로 인해 발생하는 이상 현상을 상기 유기EL 모듈 또는 유기EL 모듈이 장착된 이동기기에서 직접 에이징을 제어할 수 있는 수단을 구비함으로써 유기EL 모듈의 내구성을 높이고 불량을 방지할 수 있도록 한다.
도 2는 본 발명에 따른 유기EL 모듈의 에이징 회로도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 유기EL 모듈 에이징 방법은 데이터드라이버(17)에 연결된 모든 데이터라인(13)을 접지시키고, 스캔드라이버(15)에 연결된 모든 스캔라인에 역전압(Vpp)을 인가함으로써 이루어질 수 있다.
이때, 본 발명에 따른 유기EL 모듈은 상기 데이터드라이버(17)와 스캔드라이버(15)의 출력전압을 비교하여 상기 데이터드라이버(17)의 출력전압을 로우 내지 접지로 설정하고, 상기 스캔드라이버(15)의 출력전압을 하이 내지 일정전압 이상으로 설정할 수 있다.
또한, 상기 드라이버 구동부에 미리 설정된 일정한 파형에 따라 상기 데이터드라이버(17) 및 스캔드라이버(15)의 구동을 제어하여 역전압을 인가할 수도 있다.
뿐만 아니라, 이와 같은 방법으로 상기 출력전압이 미리 설정된 상기 데이터드라이버(17) 및 스캔드라이버(15)의 구동용 IC의 특정 핀(Pin)의 상태에 따라 온오프(On/Off) 구동을 할 수도 있다.
상기 스캔드라이버(15)에서의 출력전압은 상기 유기EL 모듈 내에 존재하는 미세 입자와 같은 불순물을 제거할 수 있는 정도의 일정전압 이하로 제한되어 있다.
따라서, 본 발명의 유기EL 모듈 에이징 방법은 상기 미세입자와 같은 불순물을 제거하기 위해 상기 데이터드라이버(17) 및 스캔드라이버(15)에 하드웨어(Hardware) 또는 소프트웨어(Software)적으로 역전압을 인가하도록 설계할 수 있다.
결과적으로, 본 발명의 유기EL 모듈 에이징 방법은 상기 드라이버 구동부에서 데이터라인(13) 및 스캔라인(11)에 파형을 갖거나 일정한 역전압을 인가함으로써 상기 유기EL 패널내의 미세입자와 같은 불순물을 버닝(Burning)시킬 수 있기 때문에 상기 유기EL 패널내에 존재하는 불순물을 제거할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 유기EL 모듈 에이징 방법은 상기 데이터드라이버(17) 및 스캔드라이버(15)에 특정한 전압을 인가하여 유기EL 패널내의 불순물을 제거함으로써 상기 유기EL 모듈의 내구성을 높일 수 있다.
또한, 본 발명의 유기EL 모듈은 이동기기에서 에이징하는 사양(Menu) 또는 키(Key)를 구비하여 사용자가 직접 상기 사양 또는 키를 선택함으로써 상기 유기EL 모듈을 에이징할 수 있다.
이상 상술한 바와 같이, 본 발명의 액정표시장치는 다음과 같은 효과가 있다.
본 발명의 유기EL 모듈 및 그의 에이징 방법은 유기EL 모듈이 제작 완성된 상태에서 상기 데이터드라이버(17) 및 스캔드라이버(15)에 역전압을 인가하여 유기EL 패널내의 불순물을 제거함할 수 있기 때문에 상기 유기EL 모듈의 내구성을 높일 수 있다.

Claims (5)

  1. 데이터드라이버에 연결된 모든 데이터라인을 접지시키고, 스캔드라이버에 연결된 모든 스캔라인에 특정전압을 인가하는 유기EL 모듈 에이징 방법에 있어서,
    상기 데이터드라이버와 스캔드라이버의 출력전압을 비교하여 상기 데이터드라이버의 출력전압을 로우 내지 접지로 설정하고, 상기 스캔드라이버의 출력전압을 하이 내지 일정전압 이상으로 설정할 수 있는 것을 특징으로 하는 유기EL 모듈 에이징 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 데이터드라이버 및 상기 스캔드라이버에 미리 설정된 일정한 파형에 따라 역전압을 인가할 수 있는 것을 특징으로 하는 유기EL 모듈 에이징 방법.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 출력전압이 미리 설정된 상기 데이터드라이버 및 스캔드라이버의 미리 설정된 핀의 상태에 따라 온오프 구동할 수 있는 것을 특징으로 하는 유기EL 모듈 에이징 방법.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 스캔드라이버의 출력전압은 유기EL 패널 내부의 불순물을 제거할 수 있는 정도인 것을 특징으로 하는 유기EL 모듈 에이징 방법.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 상태의 설정을 유기EL 모듈을 사용하는 기기에 있어 특정한 키 또는 특정한 상태를 설정했을 때 동작하게 하는 것을 특징으로 하는 유기EL 모듈.
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