KR200286270Y1 - 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자 - Google Patents

칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자 Download PDF

Info

Publication number
KR200286270Y1
KR200286270Y1 KR2020020015368U KR20020015368U KR200286270Y1 KR 200286270 Y1 KR200286270 Y1 KR 200286270Y1 KR 2020020015368 U KR2020020015368 U KR 2020020015368U KR 20020015368 U KR20020015368 U KR 20020015368U KR 200286270 Y1 KR200286270 Y1 KR 200286270Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
chip capacitor
terminal
capacity
measuring
processing machine
Prior art date
Application number
KR2020020015368U
Other languages
English (en)
Inventor
이명수
Original Assignee
삼화엔지니어링 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼화엔지니어링 주식회사 filed Critical 삼화엔지니어링 주식회사
Priority to KR2020020015368U priority Critical patent/KR200286270Y1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR200286270Y1 publication Critical patent/KR200286270Y1/ko

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 고안은 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자에 관한 것으로 칩 콘덴서 가공기 내에 설치되며, 칩 콘덴서(40)에 직류를 일정시간 인가하여 칩 콘덴서 단자에 발생하는 전압을 측정하여 칩 콘덴서(40)의 용량을 검사하는 측정기(30)에 연결되는 도체 패턴부(11)(Pattern)가 형성된 PCB(Printed Circuit Board) 기판(10)과, 일단이 상기 PCB 기판(10)의 도체 패턴부(11)에 연결되어 고정되고, 끝단은 상부로 절곡형성되어 칩 콘덴서 단자(41)에 접촉하는 접촉부(21)로 형성되며, 탄성을 가지는 도체재질로 이루어져 상, 하 일정폭으로 탄성적으로 휘어지는 탄성단자판(20)으로 구성되어 탄성적으로 원위치로 복원되는 상기 탄성단자판(20)을 사용하여 장기간 사용중에도 칩 콘덴서 단자(41)에 정확히 접촉하여 그 용량을 정확하게 측정할 수 있는 것이다.
또한, 칩 콘덴서 단자(41)가 접촉하여 그 용량을 측정하는 용량측정단자의 구성을 단순화하여, 간단히 제조, 설치할 수 있으며, 제조비용을 감소시킬 수 있는 것이다.
따라서, 가공된 칩 콘덴서(40)의 용량측정검사장치를 구성하는 데 드는 비용이 감소함과 동시에 정확한 용량측정이 가능하여 불량품 발생확율을 저하시키는 매우 유용한 고안인 것이다.

Description

칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자{Capacity measuring terminal for chip condenser processing machine}
본 고안은 칩 콘덴서 가공기용 용량측정단자에 관한 것으로 더 상세하게는 칩 콘덴서를 가공하는 가공기 내에 설치되는 용량측정단자의 제조원가를 저하시키고, 더 정확하게 용량을 측정할 수 있도록 고안된 것이다.
일반적으로, 칩 콘덴서의 가공기 내에는 가공된 칩 콘덴서에 직류를 일정시간 인가하여 칩 콘덴서 단자에 발생하는 전압을 측정하여 칩 콘덴서의 용량을 검사한다.
그리고, 칩 콘덴서의 가공기 내에는 상기한 바와 같이 칩 콘덴서의 용량을 검사하는 측정기가 설치되며, 이 측정기는 칩 콘덴서의 칩 콘덴서 단자에 접촉되는 용량측정단자에 연결된다.
즉, 용량측정단자에 칩 콘덴서의 칩 콘덴서 단자가 접촉하면, 측정기에서 칩 콘덴서 단자에 발생되는 전압을 측정하여 칩 콘덴서의 용량을 검사하게 되는 것이다.
한편, 통상적으로 가공된 칩 콘덴서의 칩 콘덴서 단자에 접촉하여 그 용량을 측정하는 용량측정단자는 도 1 에서 도시한 바와 같이 원통형상으로 형성되어 내부에 소정의 공간부(1a)를 구비하고 있으며, 일측이 개구된 케이싱부재(1)와;
상기 케이싱부재(1)의 개구된 일측에 결합되며, 끝단이 바늘형상으로 날카롭게 형성되도록 원추형상으로 형성된 침봉단자(2)와;
상기 케이싱부재(1)의 내부에 설치되어 이 케이싱부재(1)의 공간부 저면(1a)과 상기 침봉부재(2)의 하부면 사이에 지지되는 스프링부재(3)로 구성된다.
즉, 칩 콘덴서 단자에 상기 침봉단자(2)가 접촉하여 전기신호가 인가되면, 이 전기신호를 측정기로 전달하게 되며, 침봉단자(2)가 칩 콘덴서 단자에 접촉할 경우 상기 스프링부재(3)가 완충작용을 하여 칩 콘덴서가 검사중에 손상되는 것을 방지하는 것이다.
그러나, 상기한 바와 같이 구성된 종래의 칩 콘덴서 가공기용 용량측정단자는 케이싱부재, 침봉단자, 스프링부재등으로 구성되어 그 구성이 복잡하여 용량측정단자의 제조비용이 고가인 단점이 있었던 것이다.
그리고, 상기 침봉단자는 미세한 크기의 칩 콘덴서 단자에 정확히 접촉하기 위하여 그 끝단이 바늘형상으로 날카롭게 형성하여야 하므로 그 제조가 어렵고 사용중 그 끝단이 무뎌질 경우 칩 콘덴서 단자에 정확히 접촉하지 못하여 칩 콘덴서의 정밀한 용량측정이 불가능하게 되는 폐단이 발생하였던 것이다.
본 고안의 목적은 PCP 기판과 일단이 절곡된 탄성단자판으로 용량측정단자를 구성하여 그 제조비용을 절감하고, 칩 콘덴서의 전기용량을 정확히 측정할 수 있는 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자를 제공하는 데 있다.
도 1 은 종래의 용량측정단자의 구성을 도시한 단면도.
도 2는 본 고안이 설치된 상태를 도시한 사용상태도.
도 3 은 본 고안의 작동상태를 도시한 요부확대도.
도 4 는 본 고안의 평면을 도시한 평면도.
*도면 중 주요 부호에 대한 설명*
1 - 케이싱부재 2 - 침봉단자
3 - 스프링부재 10 - PCB 기판
11 - 도체 패턴부 20 - 탄성단자판
21 - 접촉부 30 - 측정기
40 - 칩 콘덴서 41 - 칩 콘덴서 단자
50 - 콘덴서 고정척 51 - 지지대
이러한 본 고안의 목적은 칩 콘덴서 가공기 내에 설치되며, 칩 콘덴서(40)에직류를 일정시간 인가하여 칩 콘덴서 단자에 발생하는 전압을 측정하여 칩 콘덴서(40)의 용량을 검사하는 측정기(30)에 연결되는 도체 패턴부(11)(Pattern)가 형성된 PCB(Printed Circuit Board) 기판(10)과;
일단이 상기 PCB 기판(10)의 도체 패턴부(11)에 연결되어 고정되고, 끝단은 상부로 절곡형성되어 칩 콘덴서 단자(41)에 접촉하는 접촉부(21)로 형성되며, 탄성을 가지는 재질로 이루어져 상, 하 일정폭으로 탄성적으로 휘어지는 탄성단자판(20)으로 구성되어 달성된다.
즉, 가공기 내에서 가공된 칩 콘덴서(40)가 콘덴서 고정척(50)에 물려 하강하여 칩 콘덴서 단자(41)를 상기 탄성단자판(20)의 접촉부(21)에 접촉시켜 측정기(30)에서 그 용량을 측정하게 하는 것이다.
그리고, 칩 콘덴서 단자(41)가 탄성단자판(20)의 접촉부(21)에 접촉할 경우 탄성단자판(20)이 아래측으로 탄성적으로 휘어지면서 그 충격을 완화하여 용량측정검사중에 콘덴서가 손상되는 것을 방지할 수 있는 것이다.
또한, PCB 기판(10)과, 탄성단자판(20)의 간단한 구성으로 용량측정단자가 구성되므로, 그 제조비용을 절감시킬 수 있는 것이다.
본 고안의 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 고안이 설치된 상태를 도시한 사용상태도로서, 칩 콘덴서가 콘덴서 고정척에 물려, 본 고안인 용량측정단자의 탄성단자판에 접촉되는 것을 나타내고 있다.
도 3 은 본 고안의 작동상태를 도시한 요부확대도로서, 콘덴서 고정척에 물린 칩 콘덴서가 하강하여, 탄성단자판에 접촉하면 이 탄성단자판이 하부로 일정폭으로 탄성적으로 휘어지면서 그 충격을 완화시키는 것을 나타내고 있다.
도 4 는 본 고안의 평면을 도시한 평면도로서, 탄성단자판이 PCB 기판의 도체 패턴부의 상부에 고정되고, 이 도체 패턴부는 측정기에 연결되는 것을 나타내고 있다.
즉, 도 2 ∼ 도 3에서 도시한 바와 같이 탄성단자판(20)은 탄성재질로 형성되며, 끝단이 상부로 절곡형성된 접촉부(21)로 형성되어, 칩 콘덴서 단자(41)에 접촉된다.
그리고, 상기 탄성단자판(20)은 가압될 경우 탄성재질로 이루어진 이 탄성단자판(20)이 상, 하로 탄성적으로 휘어질 수 있도록 끝단이 PCB 기판(10)의 외측으로 일정길이 이상으로 돌출되도록 일단을 PCB 기판(10)의 도체 패턴부(11)에 납땜고정한다.
즉, 소정의 높이를 가지는 지지대(51)에 상하로 이동가능하도록 장착된 콘덴서 고정척(50)에 칩 콘덴서(40)가 하강하여 이 칩 콘덴서 단자(41)가 상기 탄성단자판(20)의 접촉부(21)에 접촉하면서 이 탄성단자판(20)을 가압하면 하부로 탄성적으로 휘어지면서 탄성단자판(20)과 칩 콘덴서 단자가 접촉하는 중에 발생되는 충격을 완화시켜 주는 것이다.
따라서, 가공이 완료된 칩 콘덴서(40)가 용량을 측정하는 검사과정에서 그 충격에 의해 손상되는 것을 방지할 수 있는 것이다.
그리고, 상기 칩 콘덴서(40)가 용량을 측정을 완료되어, 콘덴서 고정척(50)이 상승하여 칩 콘덴서 단자(41)와 상기 탄성단자판(20)이 접촉되도록 가압된 상태가 해제되면 이 탄성단자판(20)은 탄성적으로 원상태로 복원되어 지속적으로 칩 콘덴서의 칩 콘덴서 단자(41)에 정확하게 접촉할 수 있게 되는 것이다.
한편, PCB 기판(10)은 전기절연성의 재료로 형성되며, 도 4에서 도시한 바와 같이 상기 탄성단자판(20)이 고정되어 이 탄성단자판(20)에 전기신호를 인가하도록 표면에 도전성재료로 도체 패턴부(11)가 형성·고착되어 있다.
그리고, 상기 도체 패턴부(11)는 칩 콘덴서(40)에 직류를 인정시간 인가하여 콘덴서의 양단에 발생하는 전압을 측정하여 콘덴서의 용량을 측정하는 측정기(30)에 연결된다.
또한, 상기 측정기(30)는 칩 콘덴서(40)에 교류신호가 인가하여 연산증폭기와 저항에 의해 발생되는 출력을 증폭하고, 이 전압을 아날로그/디지털 변환기를 통해 변환하여 콘덴서의 용량을 측정하는 것이다.
즉, 칩 콘덴서(40)가 콘덴서 고정척(50)에 물려 이 칩 콘덴서 단자(41)를 탄성단자판(20)의 접촉부(21)에 접촉시키면 측정기(30)에 의해 콘덴서의 용량을 정확하게 측정하게 되는 것이다.
상기한 본 고안의 구성에 의하면, 칩 콘덴서 단자가 접촉하여 그 용량을 측정하는 용량측정단자의 구성을 단순화하여, 간단히 제조, 설치할 수 있으며, 제조비용을 감소시킬 수 있는 것이다.
또한, 탄성적으로 원위치로 복원되는 탄성단자판을 사용하여 장기간 사용중에도 칩 콘덴서 단자에 정확히 접촉하여 그 용량을 정확하게 측정할 수 있는 것이다.
따라서, 가공된 칩 콘덴서의 용량측정검사장치를 구성하는 데 드는 비용이 감소함과 동시에 정확한 용량측정이 가능하여 불량품 발생확율을 저하시키는 매우 유용한 고안인 것이다.

Claims (1)

  1. 칩 콘덴서 가공기 내에 설치되며, 칩 콘덴서(40)에 직류를 일정시간 인가하여 칩 콘덴서 단자에 발생하는 전압을 측정하여 칩 콘덴서(40)의 용량을 검사하는 측정기(30)에 연결되는 도체 패턴부(11)(Pattern)가 형성된 PCB(Printed Circuit Board) 기판(10)과;
    일단이 상기 PCB 기판(10)의 도체 패턴부(11)에 연결되어 고정되고, 끝단은 상부로 절곡형성되어 칩 콘덴서 단자(41)에 접촉하는 접촉부(21)로 형성되며, 탄성을 가지는 도체재질로 이루어져 상, 하 일정폭으로 탄성적으로 휘어지는 탄성단자판(20)으로 구성된 것을 특징으로 하는 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자.
KR2020020015368U 2002-05-20 2002-05-20 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자 KR200286270Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020020015368U KR200286270Y1 (ko) 2002-05-20 2002-05-20 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020020015368U KR200286270Y1 (ko) 2002-05-20 2002-05-20 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR200286270Y1 true KR200286270Y1 (ko) 2002-08-21

Family

ID=73123315

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020020015368U KR200286270Y1 (ko) 2002-05-20 2002-05-20 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR200286270Y1 (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101149760B1 (ko) 검사용 탐침 장치
KR101422566B1 (ko) 프로브 및 프로브 카드
KR101057371B1 (ko) 검사용 탐침 장치
KR20050073511A (ko) 프로브카드
KR100958135B1 (ko) 검사용 탐침 장치
KR20100077724A (ko) 검사용 탐침 장치
KR101066630B1 (ko) 탐침 프로브
KR200286270Y1 (ko) 칩 콘덴서 가공기용 용량측정 단자
KR200286271Y1 (ko) 탈탄 콘덴서 가공기용 용량측정 단자
WO2006132243A1 (ja) 検査装置
KR101399542B1 (ko) 프로브 카드
CN210863796U (zh) 一种用于微型电子元件检测的装载盒
JP2004085261A (ja) プローブピン及びコンタクタ
JP2004340867A (ja) スプリングプローブ及びicソケット
JPH0829475A (ja) 実装基板検査装置のコンタクトプローブ
JP4056983B2 (ja) プローブカード
JPH06289097A (ja) コンタクトユニット
KR100876960B1 (ko) 검사용 탐침 장치
JP2006170700A (ja) プローブ校正用治具、校正用治具付きプローブカードおよび半導体ウェハ測定装置
JPH0566243A (ja) Lsi評価用治具
KR100782167B1 (ko) 집적회로 검사용 프로브 카드
KR102541594B1 (ko) Mlcc 및 파인피치용 검침헤드
JPH0351766A (ja) 導電接触子
KR100246320B1 (ko) 반도체 웨이퍼 검사용 프로브 카드
JP2004340793A (ja) 電子回路ユニットの測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
REGI Registration of establishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070731

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee