KR19990061089A - 공중합체 수지와 그 제조방법 및 이 수지를 이용한 포토레지스트 - Google Patents
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- 229920006026 co-polymeric resin Polymers 0.000 title claims abstract description 63
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 title claims abstract description 23
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 14
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 14
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims abstract description 14
- RUDJPDIZDJNULE-UHFFFAOYSA-N 2,3-ditert-butylbicyclo[2.2.1]hept-5-ene-2,3-dicarboxylic acid Chemical group C1C2C=CC1C(C(O)=O)(C(C)(C)C)C2(C(O)=O)C(C)(C)C RUDJPDIZDJNULE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N maleic anhydride Chemical compound O=C1OC(=O)C=C1 FPYJFEHAWHCUMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- FYGUSUBEMUKACF-UHFFFAOYSA-N bicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carboxylic acid Chemical compound C1C2C(C(=O)O)CC1C=C2 FYGUSUBEMUKACF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000003505 polymerization initiator Substances 0.000 claims description 14
- JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N cyclohexanone Chemical compound O=C1CCCCC1 JHIVVAPYMSGYDF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 12
- PHSXOZKMZYKHLY-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxyethyl bicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carboxylate Chemical compound C1C2C(C(=O)OCCO)CC1C=C2 PHSXOZKMZYKHLY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N diacetyl peroxide Chemical compound CC(=O)OOC(C)=O ZQMIGQNCOMNODD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 9
- JYZKYCYHXBQTCY-CWKFCGSDSA-N (1s,2r,3s,4r)-3-methoxycarbonylbicyclo[2.2.1]hept-5-ene-2-carboxylic acid Chemical compound C1[C@H]2C=C[C@@H]1[C@H](C(=O)OC)[C@@H]2C(O)=O JYZKYCYHXBQTCY-CWKFCGSDSA-N 0.000 claims description 8
- JGEMYUOFGVHXKV-UPHRSURJSA-N malealdehyde Chemical compound O=C\C=C/C=O JGEMYUOFGVHXKV-UPHRSURJSA-N 0.000 claims description 8
- -1 mono-methyl cis-5-norbornene-endo-2,3-dicarboxylic acid Chemical compound 0.000 claims description 7
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims description 7
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- LGJCFVYMIJLQJO-UHFFFAOYSA-N 1-dodecylperoxydodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCCOOCCCCCCCCCCCC LGJCFVYMIJLQJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- UKHWLXGIMYRQIS-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxypropyl bicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carboxylate Chemical compound C1C2C(C(=O)OCC(O)C)CC1C=C2 UKHWLXGIMYRQIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000004342 Benzoyl peroxide Substances 0.000 claims description 5
- OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N Benzoylperoxide Chemical group C=1C=CC=CC=1C(=O)OOC(=O)C1=CC=CC=C1 OMPJBNCRMGITSC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 235000019400 benzoyl peroxide Nutrition 0.000 claims description 5
- LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N di-tert-butyl peroxide Chemical compound CC(C)(C)OOC(C)(C)C LSXWFXONGKSEMY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- SWAXTRYEYUTSAP-UHFFFAOYSA-N tert-butyl ethaneperoxoate Chemical compound CC(=O)OOC(C)(C)C SWAXTRYEYUTSAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- FAYMLNNRGCYLSR-UHFFFAOYSA-M triphenylsulfonium triflate Chemical group [O-]S(=O)(=O)C(F)(F)F.C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 FAYMLNNRGCYLSR-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- VRRCYIFZBSJBAT-UHFFFAOYSA-N 4-methoxybutanoic acid Chemical group COCCCC(O)=O VRRCYIFZBSJBAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 2
- 238000003756 stirring Methods 0.000 claims description 2
- LXAWHMFHGHNIHC-UHFFFAOYSA-N sulfanyl trifluoromethanesulfonate Chemical compound FC(F)(F)S(=O)(=O)OS LXAWHMFHGHNIHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N methyl 3-methoxypropanoate Chemical compound COCCC(=O)OC BDJSOPWXYLFTNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 abstract description 7
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000000059 patterning Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010526 radical polymerization reaction Methods 0.000 abstract description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 13
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 12
- ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N cyclopentadiene Chemical compound C1C=CC=C1 ZSWFCLXCOIISFI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 7
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 6
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 6
- MYBZOQDIRORKOI-UHFFFAOYSA-N 3-hydroxypropyl bicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carboxylate Chemical compound C1C2C(C(=O)OCCCO)CC1C=C2 MYBZOQDIRORKOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 5
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 3
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 3
- OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxyethyl prop-2-enoate Chemical compound OCCOC(=O)C=C OMIGHNLMNHATMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SROPJGYJPDWLHF-UHFFFAOYSA-N 5-tert-butylbicyclo[2.2.1]hept-2-ene-5-carboxylic acid Chemical compound C1C2C(C(C)(C)C)(C(O)=O)CC1C=C2 SROPJGYJPDWLHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OZAIFHULBGXAKX-VAWYXSNFSA-N AIBN Substances N#CC(C)(C)\N=N\C(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-VAWYXSNFSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000006239 protecting group Chemical group 0.000 description 2
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M triflate Chemical compound [O-]S(=O)(=O)C(F)(F)F ITMCEJHCFYSIIV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- BRETYAHLENMEAI-UHFFFAOYSA-N 2,6-dimethylbenzenesulfonic acid Chemical compound CC1=CC=CC(C)=C1S(O)(=O)=O BRETYAHLENMEAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methoxy-5-methylphenyl)ethanamine Chemical compound COC1=CC=C(C)C=C1CCN SMZOUWXMTYCWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 2-Propenoic acid Natural products OC(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QZPSOSOOLFHYRR-UHFFFAOYSA-N 3-hydroxypropyl prop-2-enoate Chemical compound OCCCOC(=O)C=C QZPSOSOOLFHYRR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 125000002723 alicyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 125000004391 aryl sulfonyl group Chemical group 0.000 description 1
- 238000012662 bulk polymerization Methods 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000007942 carboxylates Chemical class 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000012043 crude product Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- MSVGHYYKWDQHFV-BQYQJAHWSA-N ditert-butyl (e)-but-2-enedioate Chemical compound CC(C)(C)OC(=O)\C=C\C(=O)OC(C)(C)C MSVGHYYKWDQHFV-BQYQJAHWSA-N 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 238000010528 free radical solution polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 description 1
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 125000000999 tert-butyl group Chemical class [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WLOQLWBIJZDHET-UHFFFAOYSA-N triphenylsulfonium Chemical compound C1=CC=CC=C1[S+](C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 WLOQLWBIJZDHET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012953 triphenylsulfonium Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/039—Macromolecular compounds which are photodegradable, e.g. positive electron resists
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F232/00—Copolymers of cyclic compounds containing no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system
- C08F232/02—Copolymers of cyclic compounds containing no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system having no condensed rings
- C08F232/04—Copolymers of cyclic compounds containing no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system having no condensed rings having one carbon-to-carbon double bond
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07C—ACYCLIC OR CARBOCYCLIC COMPOUNDS
- C07C69/00—Esters of carboxylic acids; Esters of carbonic or haloformic acids
- C07C69/74—Esters of carboxylic acids having an esterified carboxyl group bound to a carbon atom of a ring other than a six-membered aromatic ring
- C07C69/753—Esters of carboxylic acids having an esterified carboxyl group bound to a carbon atom of a ring other than a six-membered aromatic ring of polycyclic acids
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08F—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
- C08F222/00—Copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by a carboxyl radical and containing at least one other carboxyl radical in the molecule; Salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof
- C08F222/04—Anhydrides, e.g. cyclic anhydrides
- C08F222/06—Maleic anhydride
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
Abstract
본 발명은 KrF 나 ArF등의 초단파장 광원용 공중합체 수지와 그 제조방법 및 이 수지를 함유하는 포토레지스트에 관한 것이다. 본 발명에 따른 공중합체 수지는 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 구조에 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 단위체를 도입함으로써 통상의 라디칼 중합으로 중합이 용이하며 193㎚ 파장에서의 명성이 높고, 에칭내성이 증가할 뿐만 아니라, 공중합체 수지의 보호율을 증가시킬 수 있어 탑로스(top loss) 현상을 억제하면서 접착력을 크게 증가시킬 수 있으며 또한 실제 패터닝 실험에서 0.13㎛의 우수한 해상력을 나타낸다.
Description
본 발명은 KrF 나 ArF등과 같은 초단파장 광원용 공중합체 수지와 그 제조방법 및 이 수지를 이용한 포토레지스트에 관한 것으로서, 특히 본 발명은 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 구조에 2,3-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 단위체를 도입함으로써 1G, 4G DRAM등의 초고집적소자에의 적용이 예상되는 KrF(248㎚) 혹은 ArF(193㎚) 광원을 이용하는 리소그래피(lithography) 공정에 사용될 수 있는 공중합체 수지와 그 제조방법 및 이 수지를 함유하는 포토레지스트에 관한 것이다.
일반적으로 ArF용 공중합체 수지는 193㎚파장에서의 낮은 광흡수도, 에칭내성, 접착성등이 요구되고 있으며 또한 2.38 w% 테트라메틸암모늄하이드록시드(TMAH) 수용액으로 현상이 가능해야 하지만, 포토레지스트의 이러한 모든 특성을 만족시키는 공중합체 수지를 합성하기는 매우 어렵다. 현재까지 많은 연구방향은 193㎚ 파장에서 투명성을 높이고 에칭내성을 증가시키기 위한 수지로서 노볼락계열의 수지 탐색에 집중되어 왔다. 이에 따라 벨 연구소(Bell Lab.)는 공중합체 주쇄에 지방족환형단위체(alicyclic unit)를 도입하여 에칭내성을 향상시키고자 시도하였다. 예를들어, 주쇄가 노보란(norboran), 아크릴레이트(acrylate) 및 말레익안하이드라이드(maleic anhydride)로 치환된 구조를 갖는 하기 화학식 1의 공중합체수지가 제안되엇다.
상기 화학식 1의 공중합체 수지에서 말레익안하이드라이드 부분(A부분)은 지방족환형 올레핀단위체(alicyclic olefin unit)을 중합시키기 위해 사용되었다. 그러나 말레익안하이드라이드 부분은 비노광시에도 2.38% TMAH 수용액에 매우 잘 용해되어 실제 감광막 패터닝시 패턴의 상부가 둥글게 형성되는 탑 로스(top loss)현상이 발생되어 ArF용 수지로의 사용이 불가능하다는 문제점이 있었다.
따라서 용해억제를 위해서는 t-부틸이 치환된 y부분을 매우 증가시켜야 한다. 그러나 y부분이 증가하면 할수록 상대적으로 하단층(substrate)과의 접착력 및 감도를 증가시켜 주는 z부분(카르복실레이트부분)의 감소를 초래하여 실제적인 패터닝(patterning)시 포토레지스트가 웨이퍼로부터 떨어져 나와 패턴 형성이 불가능하게 되는 단점이 발생된다.
따라서 본 발명자들은 이러한 단점을 해소하기 위한 시도로서 2-t-부틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 5-노르보넨-2-카르복실산으로 이루어진 하기 화학식2로 표시되는 포토레지스트용 공중합체 수지를 개발하여 특허출원한 바 있다(1997. 6. 21.자 출원된 대한민국 특허출원 제 97-26807호 참조).
이 출원에서 제안된 포토레지스트용 공중합체 수지는 접착력 및 감도가 높고 해상력이 우수한 구조의 고분자수지이다. 그러나 접착력을 부여하는 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트의 량을 2-t-부틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트에 비하여 상대적으로 늘릴수록 접착력은 증가하지만 탑로스 현상이 심해져서 패턴 프로파일(pattern profile)에 나쁜 영향을 주게된다.
본발명자들은 상술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 수 많은 연구와 실험을 거듭한 결과, 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 구조에 2개의 보호기를 갖는 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 단위체를 도입함으로써 통상의 라디칼 중합으로 중합이 용이하며 193㎚ 파장에서의 투명성이 높고 에칭내성이 증가할 뿐만 아니라 공중합체 수지내 보호율을 증가시킬 수 있어 탑로스(top loss) 현상을 억제하면서 접착력을 크게 증가시킬 수 있으며, 또한 실제 패터닝 실험에서 0.13㎛의 우수한 해상력을 나타낼 수 있다는 놀라운 사실을 밝혀내고 본 발명을 완성하게 되었다.
본 발명은 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 구조에 하기 화학식 3으로 표시되는 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 단위체를 함유함을 특징으로 하는 공중합체 수지에 관한 것이다.
본 발명에 따른 공중합체 수지는 바람직하게는 하기 화학식 4 내지 7로 표시되는 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체를 포함한다.
(1). 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/5-노르보넨-2-카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 3,000-100,000).
상기식중, x : y : z의 비는 (0∼99%) : (0∼99%) : (0∼99%)이다.
(2). 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 3,000-100,000).
[상기식중, x : y : z의 비는 (0∼99%) : (0∼99%) : (0∼99%)이다],
(3). 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/5-노르보넨-2-카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 4,000-100,000).
[상기식중, x 는 0.005 내지 0.9의 몰분율이며, y 및 z는 0.001 내지 0.9의 몰분율이다],
(4). 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 4,000-100,000).
상기식에서,
x : y : z의 비는 (0∼99%) : (0∼99%) : (0∼99%)이다.
본 발명에 따른 화학식 4의 공중합체 수지는 하기 반응도식 Ⅰ에 나타낸 바와같이 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 5-노르보넨-2-카르복실산을 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시켜 제조할 수 있다.
[반응도식 Ⅰ]
본 발명에 따른 화학식 5의 공중합체 수지는 하기 반응도식 Ⅱ에 나타낸 바와같이 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실산을 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시켜 제조할 수 있다.
[반응도식 Ⅱ]
본 발명에 따른 화학식 6의 공중합체 수지는 하기 반응도식 Ⅲ에 나타낸 바와같이 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 5-노르보넨-2-카르복실산을 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시켜 제조할 수 있다.
[반응도식 Ⅲ]
본 발명에 따른 화학식 7의 공중합체 수지는 하기 반응도식 Ⅳ에 나타낸 바와같이 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 모노-메틸 시스 5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실산을 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시켜 제조할 수 있다.
[반응도식 Ⅳ]
본 발명에 따른 공중합체 수지(화학식 4-7)는 벌크중합 또는 용액중합 등 통상의 중합방법에 따라 제조할 수 있다. 본 발명에서 사용가능한 중합개시제로는 벤조일퍼옥사이드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴(AIBN), 아세틸퍼옥사이드, 라우릴퍼옥사이드, t-부틸퍼아세테이트, 디-t-부틸퍼옥시드 등을 포함한다. 또한 용매로는 시클로헥사논, 메틸에틸케톤, 벤젠, 톨루엔, 디옥산, 디메틸포름아미드 등의 단독용매 또는 이들의 혼합용매를 사용할 수 있다.
본 발명에 따른 공중합체 수지의 제조에 있어서 중합반응 조건은 일반적인 라디칼 중합온도 및 압력을 반응물의 특성에 따라 조절하여 사용할 수 있으며, 60∼200℃의 온도 및 질소 또는 아르곤 분위기하에서 4∼24 시간 수행하는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 공중합체 수지는 보호기로 작용하는 터셔리부틸기를 2개 함유한 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트가 도입되어 있어 보호율을 크게 증가시킬 수 있고, 상대적으로 2-히드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트의 량을 증가시킬 수 있어 탑로스 현상을 줄이면서도 접착력을 현저히 증가시킬 수 있다. 또한 본 발명에 따라 제조된 공중합체 수지는 1G, 4G DRAM에의 적용이 예상되는 리소그래피(lithography) 공정에 유용하게 사용할 수 있다.
본 발명에 따른 공중합체 수지는 통상의 포토레지스트 조성물의 제조방법에 따라 유기용매에 통상적인 광산발생제와 혼합하여 포토레지스트용액을 제조함으로써 포지티브 미세화상 형성에 사용할 수 있다. 반도체소자의 감광막 패턴의 형성공정에 있어서 본 발명의 공중합체 수지의 사용량은 유기용매, 광산발생제 및 리소그래피조건등에 따라 변할 수 있으나, 대체로 포토레지스트의 제조시 사용하는 유기용매에 대해 약 10∼30 중량% 사용한다.
본 발명에 따른 공중합체 수지를 이용하여 반도체소자의 감광막 패턴을 형성하는 방법을 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
본 발명에 따른 공중합체 수지를 시클로헥사논에 10 내지 30 중량%로 용해시키고, 광산발생제로서 오니움염 또는 유기설폰산을 공중합체 수지에 대해 0.1 내지 10 중량%로 배합하고 초미세필터로 여과하여 포토레지스트 용액을 제조한다. 여기서 사용 가능한 광산발생제로는 트리페닐설포늄 트리플레이트, 디부틸나프틸설포늄 트리플레이트, 2,6-디메틸페닐설포네이트, 비스(아릴설포닐)-디아조메탄, 옥심설포네이트, 2,1-디아조나프토퀴논-4-설포네이트 등을 포함한다. 그후 포토레지스트 용액을 실리콘웨이퍼에 스핀도포하여 박막을 제조한 다음 80∼150 ℃의 오븐 또는 열판에서 1∼5 분간 전열처리하고, 원자외선 노광장치 또는 엑시머 레이져 노광장치를 이용하여 노광한 후, 100∼200℃의 온도에서 1초∼5분간 후열처리한다. 이렇게 노광한 웨이퍼를 2.38% TMAH수용액중에 1∼1분 30 초간 침지함으로써 포지티브 레지스트 패턴을 얻을 수 있다.
이하, 제조예 및 실시예에 의거하여 본 발명을 구체적으로 설명하지만, 이들로 본 발명의 기술적 범위가 한정되는 것으로 이해해서는 않된다.
제조예 1: 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트의 합성
반응기에 시클로펜타디엔 22g을 넣은 후, 테트라하이드로푸란 용매 150g을 넣고 균일하게 교반한다. 반응혼합물에 1,4-디-t-부틸푸말레이트 70g을 넣고 20 내지 80℃의 온도에서 교반시키면서 10 시간 정도 반응시킨다. 반응 완료후 로타리 증류기로 용매를 제거한 다음 감압증류하여 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 72g을 얻었다 (수율: 74%).
제조예 2: 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트의 합성
반응기에 시클로펜타디엔 66g과 2-하이드록시에틸아크릴레이트 140g을 테트라하이드로푸란 용매 140g중에 용해시키고, 30℃에서 24시간 반응시킨 후, 로타리 증류기로 용매를 제거한 다음 감압증류하여 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트 148g을 얻었다 (수율: 72%).
제조예 3: 2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트의 합성
2-하이드록시에틸아크릴에이트 대신에 3-하이드록시프로필아크릴레이트 152g을 사용하는 것을 제외하고는 제조예 2와 동일한 절차를 수행하여 3-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트 156g을 얻었다 (수율: 74%).
제조예 4: 5-노르보넨-2-카르복실산의 합성
반응기에 시클로펜타디엔 66g과 아크릴산 86g을 테트라하이드로퓨란 용매 500g중에 용해시키고, 약 30℃에서 약 24 시간 반응시킨 후, 로타리 증류기로 용매를 제거한 다음, 감압증류하여 5-노르보넨-2-카르복실레이트 110g을 얻었다 (수율: 71%).
제조예 5: 모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트의 합성
반응기에 시클로펜타디엔66g을 넣은 후, 테트라하이드로퓨란 용매 500g을 넣고 균일하게 혼합한다. 반응혼합물에 말레익안하이드라이드 98g을 넣고 0℃의 온도에서 교반시키면서 12시간 정도 반응시켜 침전물을 여과하여 얻은 반응물에 10% NaOH 수용액에 넣고 가수분해시킨 후, 10% 황산용액으로 중화시키고, 반응 완료후 필터를 이용 여과 건조시켜 모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트 150g을 얻었다 (수율 : 86%).
실시예 1: 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/5-노르보넨-2-카르복실산] 공중합체 수지(화학식 4)의 합성
말레익안하이드라이드 1몰, 제조예 1에서 합성한 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 0.5∼0.9몰, 제조예 2에서 합성한 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트 0.05∼0.8몰 및 제조예 4에서 합성한 5-노르보넨-2-카르복실레이트 0.01∼0.5몰을 테트라하이드로푸란 또는 톨루엔에 용해시킨다. 이어서 중합개시제로 2,2'-아조비스이소부티로니트릴(AIBN) 0.5∼10g을 넣어준 후 질소 또는 아르곤 분위기하에서 65∼70℃의 온도에서 4∼24 시간 동안 반응시킨다. 이렇게 하여 생성된 조생성물을 에틸에테르 혹은 헥산으로 침전 건조시켜 분자량 3,000∼100,000의 표제 공중합체 수지(화학식 4) 58g을 얻었다 (수율: 80%). 여기서 합성한 공중합체 수지는 ArF광에 대한 투명성이 높고 에칭내성이 증가되며 2.38 wt% TMAH 수용액으로 현상가능하고 접착성이 우수하고 대량생산이 가능한 공중합체 수지이다.
실시예 2: 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트] 공중합체 수지(화학식 5)의 합성
5-노르보넨-2-카르복실산 대신에 제조예 5에서 합성한 모노메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트 10g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 동일한 절차를 수행하여 분자량 3,000∼100,000의 표제 공중합체수지(화학식 5) 62g을 얻었다 (수율: 81%). 여기서 합성한 공중합체 수지는 실시예 1의 수지와 유사한 성질을 가지며 또한 모노 메틸시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트의 도입에 따라 악취성을 제거한 우수한 공중합체 수지이다.
실시예 3: 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/3-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/5-노르보넨-2-카르복실산] 공중합체 수지(화학식 6)의 합성
2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카를복실레이트 대신에 제조예 3에서 합성한 3-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트 20g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 동일한 절차를 수행하여 분자량 4,000∼100,000의 표제 공중합체수지(화학식 6) 60g을 얻었다 (수율: 79%). 여기서 합성한 공중합체수지는 3-히드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트의 도입에 따라 친수성기(-OH)가 속해있는 사슬의 탄소수가 3개로 증가함으로 사슬(chain)의 유연성(flexibility)이 증가하여 향상된 접착력을 가진 공중합체 수지이다.
실시예 4: 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/3-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트] 공중합체 수지(화학식 7)의 합성
5-노르보넨-2-카르복실산 대신에 제조예 5에서 합성한 모노메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트 10g을 사용하는 것을 제외하고는 실시예1과 동일한 절차를 수행하여 분자량 3,000∼100,000의 표제 공중합체수지(화학식 5) 62g을 얻었다 (수율: 80%). 여기서 합성한 공중합체 수지는 실시예 3의 수지의 성질과 유사하지만 단량체의 악취문제를 해결하여 양산 가능한 공중합체 수지이다.
실시예 5; 포토레지스트 합성 및 패턴 형성
실시예 1 내지 4에서 합성한 공중합체수지(화학식 4 ∼ 7)중 어느 하나의 수지 10g을 40g의 3-메톡시메틸프로피오네이트 용매에 녹인 후, 광산발생제로서 트리페닐설포늄트리플레이트 또는 디부틸나프틸설포늄 트리플레이트의 약 0.2∼1g을 넣어준 후 교반시킨 다음 필터로 여과하여 포토레지스트 용액을 얻는다. 그 후 포토레지스트 용액을 웨이퍼의 표면에 스핀포하여 박막을 제조한 다음 70∼150 ℃의 오븐 또는 열판에서 1∼5분간 전열처리하고, 노광장치를 사용하여 250㎚ 파장의 광원으로 노광한 후 90∼160℃`에서 후열처리한다. 그후 상기 노광한 웨이퍼를 현상액으로 0.01∼5 중량%농도의 TMAH수용액에서 1분 30초간 침지하여 현상하면 초미세 감광막패턴을 얻었다 (해상력 : 0.13 ㎛).
본 발명에 따른 공중합체 수지는 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 구조에 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 단위체를 도입함으로써 통상의 라디칼 중합으로 중합이 용이하며 193㎚ 파장에서 투명성이 높고 에칭내성이 증가할 뿐만 아니라 공중합체 수지내 보호율을 증가시킬 수 있어 탑로스(top loss) 현상을 억제하면서 접착력을 크게 증가시킬 수 있으며 또한 실제 패터닝실험에서 0.13㎛의 우수한 해상력을 나타낸다.
Claims (24)
- 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 구조에 하기 화학식 3으로 표시되는 2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트 단위체를 함유함을 특징으로 하는 공중합체 수지.
- 제 1 항에 있어서, 하기 화학식 4로 표시되는 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/5-노르보넨-2-카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 3,000-100,000).상기식에서,x : y : z의 비는 (0.001∼99%) : (0.001∼99%) : (0.001∼99%)이다.
- 제 1 항에 있어서, 하기 화학식 5로 표시되는 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 3,000∼100,000).상기식에서,x : y : z의 비는 (0.001∼99%) : (0.001∼99%) : (0.001∼99%)이다.
- 제 1 항에 있어서, 하기 화학식 6으로 표시되는 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/5-노르보넨-2-카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 4,000∼100,000).상기식에서,x는 0.005 내지 0.9의 몰분율이고 y 및 z는 각각 0.001 내지 0.9의 몰분율이다.
- 제 1 항에 있어서, 하기 화학식 7로 표시되는 폴리[2,3-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트/2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트/말레익안하이드라이드/모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실산] 공중합체 수지 (분자량 : 4,000∼100,000).상기식에서,x : y : z의 비는 (0.001∼99%) : (0.001∼99%) : (0.001∼99%)이다.
- 하기 반응도식Ⅰ에 나타낸 바와같이, 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 5-노르보넨-2-카르복실산을 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시킴을 포함하는 제 2 항에 정의된 화학식 4의 공중합체 수지의 제조방법.[반응도식 Ⅰ]
- 제 6 항에 있어서, 중합개시제가 벤조일퍼옥사이드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 아세틸퍼옥사이드, 라우릴퍼옥사이드, t-부틸퍼아세테이트 또는 디-t-부틸퍼옥사이드인 공중합체수지의 제조방법.
- 제 6 항에 있어서, 중합을 시클로헥사논, 메틸에틸케톤, 벤젠, 톨루엔, 디옥산 및 디메틸포름아미드중에서 선택된 1종 또는 2종 이상의 용매의 존재하에 수행하는 공중합체수지의 제조방법.
- 하기 반응도식 Ⅱ에 나타낸 바와같이, 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시에틸-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 모노-메틸 시스-5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트를 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시킴을 포함하는 청구항 제 3 항에 정의된 화학식 5의 공중합체 수지의 제조방법.[반응도식 Ⅱ]
- 제 9 항에 있어서, 중합개시제가 벤조일퍼옥사이드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 아세틸퍼옥사이드, 라우릴퍼옥사이드, t-부틸퍼아세테이트 또는 디-t-부틸퍼옥사이드인 공중합체수지의 제조방법.
- 제 9 항에 있어서, 중합을 시클로헥사논, 메틸에틸케톤, 벤젠, 톨루엔, 디옥산 및 디메틸포름아미드중에서 선택된 1종 또는 2종 이상의 용매의 존재하에 수행하는 공중합체수지의 제조방법.
- 하기 반응도식 Ⅲ에 나타낸 바와같이, 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 5-노르보넨-2-카르복실산을 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시킴을 포함하는 제 4 항에 정의된 화학식 6의 감광막 공중합체 수지의 제조방법.[반응도식 Ⅲ]
- 제 12 항에 있어서, 중합개시제가 벤조일퍼옥사이드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 아세틸퍼옥사이드, 라우릴퍼옥사이드, t-부틸퍼아세테이트 또는 디-t-부틸퍼옥사이드인 공중합체수지의 제조방법.
- 제 12 항에 있어서, 중합을 시클로헥사논, 메틸에틸케톤, 벤젠, 톨루엔, 디옥산 및 디메틸포름아미드중에서 선택된 1종 또는 2종 이상의 용매의 존재하에 수행하는 공중합체수지의 제조방법.
- 하기 반응도식 Ⅳ에 나타낸 바와같이, 2,2-디-t-부틸-5-노르보넨-2,3-디카르복실레이트, 2-하이드록시프로필-5-노르보넨-2-카르복실레이트, 말레익안하이드라이드 및 모노-메틸 시스 5-노르보넨-엔도-2,3-디카르복실레이트를 통상의 중합개시제의 존재하에 반응시킴을 포함하는 제 5 항에 정의된 화학식 7의 감광막 공중합체 수지의 제조방법.[반응도식 Ⅳ]
- 제 15 항에 있어서, 중합개시제가 벤조일퍼옥사이드, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 아세틸퍼옥사이드, 라우릴퍼옥사이드, t-부틸퍼아세테이트 또는 디-t-부틸퍼옥사이드인 공중합체수지의 제조방법.
- 제 15 항에 있어서, 중합을 시클로헥사논, 메틸에틸케톤, 벤젠, 톨루엔, 디옥산 및 디메틸포름아미드중에서 선택된 1종 또는 2종 이상의 용매의 존재하에 수행하는 공중합체수지의 제조방법.
- 제 1 항 내지 제 5 항중 어느 하나에 정의된 노르보넨-말레익안하이드라이드 공중합체 수지, 유기용매 및 광산발생제를 함유하는 포토레지스트.
- 제 18 항에 있어서, 상기 용매가 3-메톡시메틸프로피오네이트인 것을 특징으로하는 포토레지스트.
- 제 18 항에 있어서, 광산발생제가 트리페닐설포늄 트리플레이트 또는 디부틸나프틸 설포늄 트리플레이트인 포토레지스트.
- 제 1 항 내지 제 5 항중 어느 하나에 정의된 공중합체 수지를 용매에 녹이는 제1단계와,상기 제1단계의 결과물에 광산발생제를 넣고 교반는 제2단계와,상기 제2단계 결과물을 여과하여 포토레지스트를 형성하는 제3단계를 구비하는 포토레지스트 제조방법.
- 제 21 항에 있어서, 상기 제1단계의 용매가 메틸 3-메톡시 프로피오네이트인 포토레지스트의 제조방법.
- 제 21 항에 있어서, 상기 제2단계의 광산발생제가 트리페닐설포늄 트리플레이트 또는 디부틸나프틸 설포늄 트리플레이트인 포토레지스트의 제조방법.
- 제 18 항의 포토레지스트를 사용하여 형성된 반도체소자.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970081343A KR100334387B1 (ko) | 1997-12-31 | 1997-12-31 | 공중합체수지와그제조방법및이수지를이용한포토레지스트 |
TW087120806A TW546538B (en) | 1997-12-31 | 1998-12-15 | Positive photoresist copolymer and photoresist composition using the same |
JP37466198A JP3835506B2 (ja) | 1997-12-31 | 1998-12-28 | フォトレジスト用共重合体樹脂、フォトレジスト組成物、フォトレジストパターン形成方法及び半導体素子の製造方法 |
US09/223,662 US6348296B1 (en) | 1997-12-31 | 1998-12-30 | Copolymer resin, preparation thereof, and photoresist using the same |
DE19860809A DE19860809A1 (de) | 1997-12-31 | 1998-12-30 | Copolymerharz, seine Herstellung und ein Photoresist, welches dieses verwendet |
CNB981267424A CN1230455C (zh) | 1997-12-31 | 1998-12-31 | 共聚物树脂,其制备方法及用其制成的光阻剂 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970081343A KR100334387B1 (ko) | 1997-12-31 | 1997-12-31 | 공중합체수지와그제조방법및이수지를이용한포토레지스트 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990061089A true KR19990061089A (ko) | 1999-07-26 |
KR100334387B1 KR100334387B1 (ko) | 2002-11-22 |
Family
ID=19530556
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970081343A KR100334387B1 (ko) | 1997-12-31 | 1997-12-31 | 공중합체수지와그제조방법및이수지를이용한포토레지스트 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6348296B1 (ko) |
JP (1) | JP3835506B2 (ko) |
KR (1) | KR100334387B1 (ko) |
CN (1) | CN1230455C (ko) |
DE (1) | DE19860809A1 (ko) |
TW (1) | TW546538B (ko) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20010011771A (ko) * | 1999-07-30 | 2001-02-15 | 김영환 | 신규의 포토레지스트용 공중합체 및 이를 이용한 포토레지스트조성물 |
KR20010011773A (ko) * | 1999-07-30 | 2001-02-15 | 김영환 | 모포린 유도체를 포함하는 신규의 포토레지스트용 단량체, 그의 공중합체 및 이를 이용한 포토레지스트 조성물 |
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KR100682168B1 (ko) * | 1999-07-30 | 2007-02-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 신규의 포토레지스트용 공중합체 및 이를 이용한 포토레지스트조성물 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6103845A (en) * | 1996-10-11 | 2000-08-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Chemically amplified resist polymers |
US6808859B1 (en) * | 1996-12-31 | 2004-10-26 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | ArF photoresist copolymers |
JP3587743B2 (ja) | 1998-08-26 | 2004-11-10 | 株式会社ハイニックスセミコンダクター | フォトレジスト単量体とその製造方法、フォトレジスト共重合体とその製造方法、フォトレジスト組成物、フォトレジストパターン形成方法、および、半導体素子。 |
US6569971B2 (en) * | 1998-08-27 | 2003-05-27 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Polymers for photoresist and photoresist compositions using the same |
KR100634973B1 (ko) | 1999-04-09 | 2006-10-16 | 센쥬긴소쿠고교가부시키가이샤 | 솔더볼 및 솔더볼의 피복방법 |
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KR20010054851A (ko) * | 1999-12-08 | 2001-07-02 | 윤종용 | 지환식 감광성 폴리머 및 이를 포함하는 레지스트조성물과 그 제조방법 |
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KR20060084256A (ko) | 2005-01-19 | 2006-07-24 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 발광 다이오드 소자의 렌즈 조성물,이를 포함하는 발광 다이오드 소자, 백라이트 유닛 및액정 표시 장치 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2162458B1 (ko) * | 1971-12-06 | 1976-08-20 | Asahi Chemical Ind | |
US4106943A (en) * | 1973-09-27 | 1978-08-15 | Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. | Photosensitive cross-linkable azide containing polymeric composition |
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-
1997
- 1997-12-31 KR KR1019970081343A patent/KR100334387B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1998
- 1998-12-15 TW TW087120806A patent/TW546538B/zh not_active IP Right Cessation
- 1998-12-28 JP JP37466198A patent/JP3835506B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-12-30 US US09/223,662 patent/US6348296B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-12-30 DE DE19860809A patent/DE19860809A1/de not_active Withdrawn
- 1998-12-31 CN CNB981267424A patent/CN1230455C/zh not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1230455C (zh) | 2005-12-07 |
JP3835506B2 (ja) | 2006-10-18 |
CN1223252A (zh) | 1999-07-21 |
JPH11279122A (ja) | 1999-10-12 |
US6348296B1 (en) | 2002-02-19 |
TW546538B (en) | 2003-08-11 |
DE19860809A1 (de) | 1999-07-22 |
KR100334387B1 (ko) | 2002-11-22 |
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