KR19980044622U - 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치 - Google Patents

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Abstract

본 고안은 번-인 시스템에서 번인 테스트를 위한 입력 신호가 소자에 인가된 후 번트가 일어나는 소자의 위치를 표시함으로써 이를 용이하게 검출할 수 있는 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 보드를 제공하는 것으로, 번-인 시스템으로부터 번-인 보드로 입력되는 신호를 통하여 번-인 보드에서 소자를 번-인 하는 번-인 장치에 있어서, 번-인 보드는 번-인 시 번트된 소자를 표시하는 표시부를 포함하고, 표시부는 소자의 접지와 VSS핀 사이의 전압이 소정 레벨 이상인 경우 구동되는 것을 특징으로 한다.

Description

번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치
본 고안은 반도체 소자의 테스트 장치에 관한 것으로 특히, 소자의 번인(Burn-In) 테스트 시 번트(burnt) 소자를 표시하여 이를 용이하게 검출할 수 있는 번트 소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치에 관한 것이다.
일반적으로 반도체 소자의 패키지 제조공정에서 팹-아웃된 웨이퍼는 전기적 프로브 테스트(Electrical Probe Test) 후 굳 다이(good die)만을 모아서 패키지화한 다음, 번-인 테스트를 행한다.
그러나, 상기한 종래의 번-인 테스트 시 번인 보드에서 래치업(latch up)으로 인하여 소자가 번트가 나면, 소정의 결함신호(fault signal)가 발생함으로써 번트가 발생된 보드만을 검출하기 때문에, 소자의 결함 발생 위치를 육안으로 확인하여 이를 제거하여야 하는 어려움이 있었다. 따라서, 이러한 번트롤 인한 소자의 결함이 제거되지 않을 경우 소켓(socket)이 파손되는 경우가 발생하여 생산성을 저하시킬 뿐만 아니라 소자분리(isolation)가 되어 있지 않은 보드에서는 인접한 소자까지 번트가 일어나는 문제가 발생하였다.
이에, 본 고안은 상기한 문제점을 감안하여 창출된 것으로서, 번-인 시스템에서 번인 테스트를 위한 입력신호가 소자에 인가된 후 번트가 일어나는 소자를 표시함으로써 이를 용이하게 검출할 수 있는 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치를 제공함에 그목적이 있다.
도 1A 및 도 1B는 본 고안의 실시예에 따른 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치를 나타낸 도면.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
100 : 번-인 보드200 : 번-인 시스템 입력단
10 : 소켓 및 소자 영역20 : 입력신호
LED : 발광 소자
상기 목적을 달성하기 위한 본 고안에 따른 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치는 번-인 시스템으로부터 번-인 보드로 입력되는 신호를 통하여 상기 번-인 보드에서 소자를 번인하는 번-인 장치에 있어서, 상기 번-인 보드는 상기 번-인 시 번트된 소자를 표시하는 표시부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 표시부는 상기 소자의 접지와 VSS 핀 사이의 전압이 소정 레벨이상인 경우 구동되는 것을 특징으로 한다.
상기 구성으로 된 본 고안에 의하면, 소자가 번트가 나는 경우 소자의 VSS핀과 접지 사이에 구비된 표시부가 구동되어 번트 소자를 표시한다.
[실시예]
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 실시예를 설명한다.
도 1A 및 도 1B는 본 고안에 실시예에 따른 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치를 나타낸 평면도로서, 도 1B는 상기한 도 1A에 도시된 번-인 보드(100)의 소정 부분을 확대하여 나타낸 도면이다.
먼저, 도 1A에 도시된 바와 같이, 번-인 시스템의 입력단(200)이 번-인 보드(100)와 접속되어 번인 시스템(도시되지 않음)에서 번-인 보드(100)로 소정의 테스트를 위한 입력 신호를 인가하게 되면, 번-인 보드(100)의 소정 부분(A)에 장착된 소자가 상기 입력 신호에 의해 동작함으로써, 번-인 테스트를 실시한다.
그러나, 정상적인 소자의 VSS 핀의 전압레벨이 0V에서 0.2V 정도인 반면, 상기 소자가 불량이거나 래치업을 발생시킬 경우, 소자의 VSS 핀의 로우입력전압(VIL)레벨이 IV 정도로 상승하게 된다.
도 1B에 도시된 바와 같이, 상기 번-인 보드의 소정 부분(A)에 장착된 0.7V이상에서 동작하는 발광소자(LED)가 소켓 및 소자영역(10)의 VSS핀(VSS)과 접지(GND)에 구비된다. 이에 따라, 번-인 테스트를 위한 입력 신호(20)가 소켓 및 소자영역(10)로 입력되어, 예컨대 소자가 불량이거나 래치업을 발생시켜 소자에 번트를 일으킬 경우 즉, VSS핀(VSS)과 접지(GND) 사이의 전위레벨이 0.7V 이상일 경우에는 발광소자(LED)를 구동하게 된다.
상기 실시예에 의하면, 소자가 번트가 나는 경우 소자의 VSS핀과 접지 사이에 구비된 발광소자가 구동됨에 따라 번트 소자를 표시함으로써 이를 용이하게 검출할 수 있게 됨으로써, 소켓의 파손을 방지하고, 보드의 사용을 연장시킬 수 있을 뿐만 아니라, 소자의 결함을 감소시킴으로서 생산성이 향상된다.
또한, 본 고안은 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 고안의 기술적 요지를 벗어나지 않는 범위내에서 다양하게 변형시켜 실시할 수 있다.

Claims (4)

  1. 번-인 시스템으로부터 번-인 보드로 입력되는 신호를 통하여 번-인 보드에서 소자를 번-인 하는 번-인 장치에 있어서,
    상기 번-인 보드는 번-인 시 번트된 소자를 표시하는 표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 표시부는 상기 소자의 접지와 VSS핀 사이의 전압이 소정 레벨 이상인 경우 구동되는 것을 특징으로 하는 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 표시부는 발광 소자를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 표시부는 상기 소자의 접지와 VSS핀 사이의 전압 레벨이 0.7V 이상인 경우 구동되는 것을 특징으로 하는 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치.
KR2019960057758U 1996-12-27 1996-12-27 번트소자 표시기능을 갖춘 번-인 장치 KR19980044622U (ko)

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