KR19980015128A - 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치(apparatus for on line test in switch) - Google Patents

Abstract

본 발명은 서비스중인 상태의 시스템에서 스위치 네트워크의 상태 진단을 위한 전전자 교환기의 온 라인 테스트 장치로서, 스타트채널, 테스트 스타트, 클럭 및 동기 신호(CP4,FS)와 채널 수에 대한 정보를 입력하여 대응하는 채널에 의사 랜덤 데이터를 발생시켜 타임 스위치에 인가하는 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)와 메모리(3)와 상기 의사 랜덤 데이터 발생 희로(1)의 의사 랜덤 데이터를 상기 메모리(3)에 저장하는 데이터 저장 제어 회로(2)와 소정의 선택 신호에 따라 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 데이타 및 서브 하이웨이를 통하여 타임 스위치의 데이터를 선택적으로 수신하며, 수신된 데이터가 의사 랜덤 데이터 일때에 상기 메모리(3)에 저장된 데이터를 독취하여 출력하는 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)와 상기 메모리(3)로부터 독취된 데이터와 상기 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)에 수신된 데이터를 비교하여 에러 신호를 출력하는 비교 회로(5)와 상기 비교 회로(5)의 에러 신호를 카운팅하여 출력하는 에러 카운팅 회로(6)를 구비한다.

따라서, 본 발명은 서비스를 행하고 있는 시스템에서 스위치 네트워크들이 정확히 스위칭을 행하고 있는가 및 스위치 네트워크의 정상유무를 용이하게 알 수 있다는 효과가 있다.

Description

전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치

도면은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치의 블록도

* 도면의 중요부분에 대한 부호 설명

1 : 의사 랜덤 데이터 발생 회로

2 : 데이터 저장 제어 회로 3 : 메모리

4 : 의사 랜덤 데이터 수신 회로

5 : 비교 회로 6 : 에러 카운팅 회로

본 발명은 전전자 교환기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 스위치 네트워크의 상태를 테스트하는 전전자 교환기의 온-라인 테스트(On-Line Tese)장치에 관한 것이다.

전전자 교환기는 통신의 확실성을 담보하기 위하여 각 기능들을 테스트할 필요가 있다. 예컨데 서비스를 행하고 있는 시스템에서 스위치 네트워크들이 정확히 스위칭을 행하고 있는가를 즉, 온-라인 테스팅을 행할필요가 있다. 그러나, 종래의 전전자 교환기에서는 이를 위한 별도의 장치가 없어 통신의 확실성을 확보하기 어려웠다는 문제가 있었다.

본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 서비스중인 상태의 시스템에서 스위치 네트워크의 상태 진단을 위한 온 라인 테스트 장치를 제공하는데 있다.

본 발명에 따른 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치는, 본 발명은 서비스중인 상태의 시스템에서 스위치 네트워크의 상태 진단을 위한 전전자 교환기의 온 라인 테스트 장치로서, 스타트 채널, 테스트스타트, 클럭 및 동기 신호와 채널 수에 대한 정보를 입력하여 대응하는 채널에 의사 랜덤 데이터를 발생시켜 타임 스위치에 인가하는 의사 랜덤 데이터 발생 회로와 메모리와 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로의 의사 랜덤 데이터를 상기 메모리에 저장하는 데이터 저장 제어 회로와, 소정의 선택 신호에 따라 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로의 데이타 및 서브 하이웨이를 통하여 타임 스위치의 데이터를 선택적으로 수신하며, 수신된 데이터가 의사 랜덤 데이터 일때에 상기 메모리에 저장된 데이터를 독취하여 출력하는 의사 랜덤 데이터 수신 회로와 상기 메모리로부터 독취된 데이터와 상기 의사 랜덤 데이터 수신 회로에 수신된 데이터를 비교하여 에러 신호를 출력하는 비교 회로와 상기 비교회로의 에러 신호를 카운팅하여 출력하는 에러 카운팅 회로를 구비한다.

이하, 본 발명의 일 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도면은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치의 블록도로서, 도시된 바와 같이 의사 랜덤 데이터(Pseudo Random Data) 발생 회로(1), 데이터 저장 제어 회로(2), 메모리(3), 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4), 비교 회로(5) 및 에러 카운팅 회로(6)를 포함한다.

이를 구체적으로 설명하면, 도시하지 않은 프로세서는 의사 랜덤 발생 회로(1)에 스타트 채널, 테스트 스타트, 채널 수에 대한 정보를 제공한다. 여기서 스타트 채널은 예컨데 온-라인 테스트를 위한 서브 하이웨이의 64개 채널중 테스트 데이터를 실어주는 시작 채널을 지정하기 위한 것이다· 또한, 온-라인 테스트를 위해 1개에서 최대 63개까지 연속된 채널에 데이터를 실어줄 수 있고 동시에 여러개의 채널을 시험할 수 있는 바, 채널 수에 대한 정보를 제공하는 것이다.

이러한 정보를 입력받는 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 검줄부(11)는 스타트 채널 및 채널수를 검출하여 테스트 인에이블 신호를 의사 랜덤 발생기(12)에 인가하고, 의사 랜덤 데이터 발생기(12)는 해당 채널에 의사 랜덤 데이터를 발생시켜 서브 하이웨이를 통해 타임 스위치에 인가한다. 이때, 발생기(12)에서 발생된 의사 랜덤 데이터의 헤더에는 이 데이터가 의사 랜덤 데이터의 시작임을 알리는 정보를 갖게 된다.

이러한 의사 랜덤 데이터는 데이터 저장 제어 회로(2)에 인가되며, 제어 회로(2)내의 직병렬 변환 회로(21)는 직렬 상태의 의사 랜덤 데이터를 병렬로 변환하여 메모리(3)에 인가하고, 헤더 검사부(22)는 입력되는 신호의 헤더를 검사하여 의사 랜덤 데이터의 시작임을 알리는 헤더가 검출될 때에 어드레스 인에이블 신호를 출력한다.

한편, 기록 어드레스 발생부(23)는 이러한 어드레스 인에이블 신호가 입력될 때에 메모리(3)에 기록 어드레스를 인가하여 메모리(3)로 하여금 직병렬 변환 회로(21)의 데이터를 저장하게 한다.

의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)로부터 타임 스위치에 인가되는 의사 랜덤 데이터는 다른 한편으로 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)에 인가되며, 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)는 서브 하이웨이를 통하여 타임 스위치를 통하여 인가되는 데이터들을 수신하게 된다.

즉, 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)내의 멀티플렉서(41)는 선택 신호에 따라 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 의사 랜덤 데이터 또는 서브 하이웨이를 통한 타임 스위치의 데이터를 선택적으로 수신하는 것이다

이와 같이 멀티 플렉서(41)를 통하여 수신된 데이터들은 헤더검사부(42) 및 직병렬 변환 회로(43)에 인가되며 헤더 검사부(42)는 수신된 데이터의 헤더로부터 일반 통신용 데이터인지 또는 의사 랜덤 데이터인지를 검사하여 의사 랜덤 데이터인 경우에는 독취 어드레스 인에 이블 신호를 독취 어드레스 발생부(44)에 인가하고, 클리어 신호를 에러 카운팅 회로(6)에 인가한다.

독취 어드레스 발생부(44)는 독취 어드레스 인에이블 신호가 인가되면 소정의 독취 어드레스를 메모리(3)에 인가하여 메모리(3)로 하여금 저장하였던 의사 랜덤 데이터를 비교 회로(5)에 인가하도록 한다.

한편, 직병렬 회로(43)는 멀티 플렉서(41)로부터 인가되는 데이터를 병렬로 변화시켜 비교 회로(5)에 인가한다. 따라서, 비교 회로(5)는 멀티 플렉서(41)에 수신된 데이터가 의사 랜덤 데이터인 경우에 직병렬 회로(43)의 데이터와 메모리((3)의 데이터를 비교하여 이들이 상호 상이한 경우에 에러 신호(ERR)를 출력한다

따라서, 에러 카운팅 회로(6)는 의사 랜덤 데이터가 멀티 플릭서(41)에 수신될 때에 클리어된 후에 에러 신호를 카운팅하게 되는 것이다. 이러한 에러 카운팅 회로(6)의 카운팅 값은 프로세서에 인가되며 이에 따라 사용자는 에러가 발생한 총에러 수를 용이하게 알 수 있게 되는 것이다.

이와 같이 본 발명은 서비스를 행하고 있는 시스템에서 스위치 네트워크들이 정확히 스위칭을 행하고 있는가 및 스위치 네트워크의 정상유무를 용이하게 알 수 있다는 효과가 있다.

Claims (4)

1. 서비스중인 상태의 시스템에서 스위치 네트워크의 상태 진단을 위한 전전자 교환기의 온 라인 테스트 장치로서, 스타트 채널, 테스트 스타트, 클럭 및 동기 신호(CP4,FS)와 채널 수에 대한 정보를 입력하여 대응하는 채널에 의사 랜덤 데이터를 발생시켜 타임 스위치에 인가하는 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)와 메모리(3)와, 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 의사 랜덤 데이터를 상기 메모리(3)에 저장하는 데이터 저장 제어 회로(2)와, 소정의 선택 신호에 따라 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 데이타 및 서브 하이웨이를 통하여 타임 스위치의 데이터를 선택적으로 수신하며, 수신된 데이터가 의사 랜덤 데이터 일때에 상기 메모리(3)에 저장된 데이터를 독취하여 출력하는 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)와 상기 메모리(3)로부터 독취된 데이터와 상기 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)에 수신된 데이터를 비교하여 에러 신호를 출력하는 비교 회로(5)와, 상기 비교 회로(5)의 에러 신호를 카운팅하여 출력하는 에러카운팅 회로(6)를 구비하는 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치
2. 제 1 항에 있어서, 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)는, 상기 스타트 채널 및 채닐수를 검출하여 테스트 인에이블 신호를 출력하는 검출부(11)와, 상기 테스트 인에이블 신호의 인가시에 의사 랜덤 데이터를 발생시켜 서브 하이웨이를 통해 타임 스위치에 인가하는 의사 랜덤 데이터 발생기(12)를 구비하는 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치.
3. 제 1 항에 있어서, 상기 데이터 저장 제어 회로(2)는, 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 의사 랜덤 데이터를 병렬로 변환시켜 출력하는 직병렬 변환 회로(21)와 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(l)로부터의 데이터 헤더를 검사하여 의사 랜덤 데이터임을 알리는 헤더가 검출될 때에 어드레스 인에이블 신호를 출력하는 헤더 검사부(22)와, 상기 어드레스 인에이블 신호가 입력될 때에 상기 메모리(3)에 기록 어드레스를 인가하여 메모리(3)로 하여금 직병렬 변환 회로(21)의 데이터를 저장하게 하는 기록 어드레스 발생부(23)를 구비하는 전전자 교환기의 온-라인 데스트 장치.
4. 제 1 항에 있어서, 상기 의사 랜덤 데이터 수신 회로(4)는, 선택 신호에 따라 상기 의사 랜덤 데이터 발생 회로(1)의 의사 랜덤 데이터 또는 서브 하이웨이를 통한 타임 스위치의 데이터를 선택적으로 수신하는 멀티플렉서(41)와, 상기 멀티 플렉서(41)에 수신된 데이터의 헤더로부터 일반 통신용 데이터인지 또는 의사 랜덤 데이터인지를 검사하여 의사 랜덤 데이터인 경우에는 독취 어드레스 인에이블 신호를 출력하는 헤더 검사부(42 )와, 상기 독취 어드레스 인에이블 신호가 인가되면 소정의 독취 어드레스를 메모리(3)에 인가하여 메모리(3)로 하여금 저장하였던 의사랜덤 데이터를 비교 회로(5)에 인가하도록 하는 독취 어드레스 발생부(44 )와, 상기 멀티 플렉서(41)로부터 인가되는 데이터를 병렬로 변화시켜 비교 회로(5)에 인가하는 직병렬 회로(43)를 구비하는 전전자 교환기의 온-라인 테스트 장치.