KR102643362B1 - 하전 입자선 장치 - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 106
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims abstract description 60
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims abstract description 47
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 47
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 42
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 36
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 22
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 claims description 13
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 9
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 60
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 48
- 230000008569 process Effects 0.000 description 43
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 27
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 description 15
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 7
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 7
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 6
- 238000013527 convolutional neural network Methods 0.000 description 5
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
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- G06V10/82—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning using neural networks
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/23—Clustering techniques
- G06F18/232—Non-hierarchical techniques
- G06F18/2321—Non-hierarchical techniques using statistics or function optimisation, e.g. modelling of probability density functions
- G06F18/23213—Non-hierarchical techniques using statistics or function optimisation, e.g. modelling of probability density functions with fixed number of clusters, e.g. K-means clustering
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/70—Denoising; Smoothing
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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- G06V10/70—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
- G06V10/762—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning using clustering, e.g. of similar faces in social networks
- G06V10/763—Non-hierarchical techniques, e.g. based on statistics of modelling distributions
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- G06V10/70—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
- G06V10/764—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning using classification, e.g. of video objects
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- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
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- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- H01J2237/22—Treatment of data
- H01J2237/221—Image processing
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Abstract
Description
도 2는, 실시형태 1의 하전 입자선 장치에서, 선택 처리를 포함하는 화질 열화 방지를 도모하는 촬영 기능의 처리 플로를 나타내는 도면.
도 3은, 실시형태 1의 하전 입자선 장치에서, 주사 전의 설정에 대하여, 유저 인터페이스로서 표시 장치에 표시되는 화면예를 나타내는 도면.
도 4는, 실시형태 1의 하전 입자선 장치에서, 주사 화상의 표시에 대하여, 유저 인터페이스로서 표시 장치에 표시되는 화면예를 나타내는 도면.
도 5는, 실시형태 1의 하전 입자선 장치에서, 적산 화상의 표시에 대하여, 유저 인터페이스로서 표시 장치에 표시되는 화면예를 나타내는 도면.
도 6은, 실시형태 1에서, 데이터베이스의 구성예를 나타내는 도면.
도 7은, 실시형태 1의 하전 입자선 장치에 있어서의, 화질 열화 방지를 도모하는 촬영 기능의 데이터 플로를 나타내는 도면.
도 8은, 실시형태 1의 하전 입자선 장치에서, 선택 처리에 대하여, 특징량과 기계 학습에 의한 분류의 예를 나타내는 도면.
도 9는, 본 발명의 실시형태 2의 하전 입자선 장치에 있어서의, 화질 열화 방지를 도모하는 관찰 기능의 데이터 플로를 나타내는 도면.
도 10은, 실시형태 2의 하전 입자선 장치에서, 오류 정정에 대하여, 유저 인터페이스로서 표시 장치에 표시되는 화면의 일례를 나타내는 도면.
10 : 촬상 장치
20 : 컴퓨터
201 : 프로세서
202 : 메모리
21 : 표시 장치
22 : 조작 장치
Claims (14)
- 하전 입자선을 시료에 조사하고, 상기 시료의 정보를 화상화하는 촬상 장치와,
상기 촬상 장치를 이용해서 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상을 기억하는 메모리, 및 화상 처리를 실행하는 프로세서를 구비한 컴퓨터
를 구비하고,
상기 컴퓨터는,
상기 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상에 대하여, 비지도의 기계 학습에 의해서, 화상 그룹으로 분류하고, 기준 화상을 포함하는 화상 그룹을, 열화(劣化)를 포함하지 않는 화상 그룹으로 하고,
상기 열화를 포함하지 않는 화상 그룹을 화상 적산하고,
상기 화상 적산에 의해서 얻어진 화상을 출력하는,
하전 입자선 장치. - 삭제
- 제1항에 있어서,
유저의 입력을 접수하는 조작 장치, 및 그래피컬·유저·인터페이스를 표시하는 표시 장치를 구비하고,
상기 컴퓨터는, 상기 화상 그룹의 각 화상 그룹에 대한 식별 정보를 부여해서, 상기 화상 그룹 및 상기 식별 정보를 상기 표시 장치의 화면에 표시하는,
하전 입자선 장치. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 하전 입자선을 시료에 조사하고, 상기 시료의 정보를 화상화하는 촬상 장치와,
상기 촬상 장치를 이용해서 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상을 기억하는 메모리, 및 화상 처리를 실행하는 프로세서를 구비한 컴퓨터와,
유저의 입력을 접수하는 조작 장치, 및 그래피컬·유저·인터페이스를 표시하는 표시 장치
를 구비하고,
상기 컴퓨터는,
상기 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상에 대하여, 지도의 기계 학습에 의해서, 열화를 포함하는 화상과, 열화를 포함하지 않는 화상으로 분류하고,
상기 열화를 포함하지 않는 화상을 화상 적산하고,
상기 화상 적산에 의해서 얻어진 화상을 출력하고,
상기 지도의 기계 학습에 관한 오류 정정을 행하기 위한 정보를 상기 표시 장치의 화면에 표시하고,
상기 화면에 대한 상기 유저의 조작에 의거해서, 또는, 상기 기계 학습의 모델에 의한 판단에 의거해서, 과거에 얻은 상기 열화를 포함하는 화상과, 상기 열화를 포함하지 않는 화상을 입력으로 한 상기 지도의 기계 학습을 행하게 하는,
하전 입자선 장치. - 하전 입자선을 시료에 조사하고, 상기 시료의 정보를 화상화하는 촬상 장치와,
상기 촬상 장치를 이용해서 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상을 기억하는 메모리, 및 화상 처리를 실행하는 프로세서를 구비한 컴퓨터
를 구비하고,
상기 컴퓨터는,
상기 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상에 대하여, 열화를 포함하는 화상과, 열화를 포함하지 않는 화상으로 분류하고,
상기 열화를 포함하지 않는 화상을 화상 적산하고,
상기 화상 적산에 의해서 얻어진 화상을 출력하고,
상기 컴퓨터는, 유저의 조작에 관계없이, 상기 같은 영역을 복수회 주사함에 의해 얻어지는 각 화상에 대하여, 모두 선택해서 상기 화상 적산을 해서 생성한 적산 화상과, 상기 각 화상을 선택이나 비선택으로 하는 각 패턴에 따라서 상기 화상 적산을 해서 생성한 각 적산 화상을 비교해서 화질을 평가하고, 상기 평가에 의거해서, 이들 복수의 적산 화상에서 선택한 적산 화상을 출력하는,
하전 입자선 장치. - 제3항에 있어서,
상기 컴퓨터는, 상기 분류에 의해서 얻어진 상기 기준 화상을 포함하는 화상 그룹에 대하여, 상기 유저의 조작에 의거해서, 상기 기준 화상을 포함하는 화상 그룹에 있어서의 화상을 재선택하는 기능을 갖는,
하전 입자선 장치. - 제11항에 있어서,
상기 컴퓨터는, 상기 지도의 기계 학습을 이용해서 상기 화상 적산을 행하는 기능에 대하여, 일정 기간을 초과해도, 상기 열화를 포함하는 화상과 상기 열화를 포함하지 않는 화상의 분류가 갱신되지 않는 경우에는, 상기 기능을 오프로 하도록 전환하는,
하전 입자선 장치.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2019/016720 WO2020213145A1 (ja) | 2019-04-18 | 2019-04-18 | 荷電粒子線装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210133293A KR20210133293A (ko) | 2021-11-05 |
KR102643362B1 true KR102643362B1 (ko) | 2024-03-07 |
Family
ID=72837178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020217031681A KR102643362B1 (ko) | 2019-04-18 | 2019-04-18 | 하전 입자선 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11928801B2 (ko) |
JP (1) | JP7162734B2 (ko) |
KR (1) | KR102643362B1 (ko) |
CN (1) | CN113728411B (ko) |
WO (1) | WO2020213145A1 (ko) |
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- 2019-04-18 JP JP2021514762A patent/JP7162734B2/ja active Active
- 2019-04-18 WO PCT/JP2019/016720 patent/WO2020213145A1/ja active Application Filing
- 2019-04-18 US US17/594,342 patent/US11928801B2/en active Active
- 2019-04-18 KR KR1020217031681A patent/KR102643362B1/ko active IP Right Grant
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JP2019008599A (ja) | 2017-06-26 | 2019-01-17 | 株式会社 Ngr | 順伝播型ニューラルネットワークを用いた画像ノイズ低減方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113728411B (zh) | 2025-01-03 |
WO2020213145A1 (ja) | 2020-10-22 |
CN113728411A (zh) | 2021-11-30 |
US11928801B2 (en) | 2024-03-12 |
JP7162734B2 (ja) | 2022-10-28 |
US20220261973A1 (en) | 2022-08-18 |
KR20210133293A (ko) | 2021-11-05 |
JPWO2020213145A1 (ko) | 2020-10-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
PA0105 | International application |
Patent event date: 20211001 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20211001 Comment text: Request for Examination of Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20230610 Patent event code: PE09021S01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20230711 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20240122 |
|
PG1601 | Publication of registration |