KR102584726B1 - laser processing apparatus - Google Patents
laser processing apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR102584726B1 KR102584726B1 KR1020190077093A KR20190077093A KR102584726B1 KR 102584726 B1 KR102584726 B1 KR 102584726B1 KR 1020190077093 A KR1020190077093 A KR 1020190077093A KR 20190077093 A KR20190077093 A KR 20190077093A KR 102584726 B1 KR102584726 B1 KR 102584726B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- unit
- viewport
- driving
- support frame
- chamber
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/70—Auxiliary operations or equipment
- B23K26/702—Auxiliary equipment
- B23K26/706—Protective screens
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/16—Removal of by-products, e.g. particles or vapours produced during treatment of a workpiece
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/38—Removing material by boring or cutting
Abstract
본 발명은, 레이저 가공장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 기판에 대하여 레이저를 이용하여 기판처리를 수행하는 레이저 가공장치에 관한 것이다.
본 발명은, 레이저를 이용하는 기판처리를 위한 처리공간(S)이 형성되는 챔버(100)와; 기판(10)의 처리면이 하방을 향하도록 기판(10)을 지지하며 상기 챔버(100)의 길이방향(이하, 제1방향)을 따라 선형이동 가능하게 설치되는 캐리어(200)와; 상기 챔버(100) 외부에 설치되며, 상기 챔버(100) 하측에 구비되는 뷰포트(102)를 통해 상기 캐리어(200)에 의해 이송되는 기판(10)의 처리면에 레이저광을 조사하는 레이저모듈(300)과; 상기 처리공간(S) 내의 파티클에 의해 상기 뷰포트(102)가 오염되는 것을 방지하기 위하여 상기 뷰포트(102) 상측에 간격을 두고 설치되는 뷰포트보호부(400)와; 상기 뷰포트보호부(400)를 지지하며 상기 뷰포트보호부(400)가 상기 제1방향에 수직한 상기 챔버(100)의 폭방향(이하, 제2방향)을 따라 이동가능하게 설치되는 지지프레임부(500)와; 상기 챔버(100) 내부에 설치되며, 상기 지지프레임부(500)를 상기 제1방향을 따라 이동시키기 위한 제1구동부(600)와; 상기 제1구동부(600)에 의해 상기 지지프레임부(500)와 함께 상기 제1방향을 따라 이동하며, 상기 뷰포트보호부(400)를 상기 지지프레임부(500)에 대해 상기 제2방향을 따라 상대이동시키기 위한 제2구동부(700)를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치를 개시한다.The present invention relates to a laser processing device, and more specifically, to a laser processing device that processes a substrate using a laser.
The present invention includes a chamber 100 in which a processing space (S) for substrate processing using a laser is formed; a carrier 200 that supports the substrate 10 so that the processing surface of the substrate 10 faces downward and is installed to be linearly movable along the longitudinal direction (hereinafter, the first direction) of the chamber 100; A laser module ( 300) and; a viewport protection unit 400 installed at intervals above the viewport 102 to prevent the viewport 102 from being contaminated by particles in the processing space (S); A support frame unit that supports the viewport protection unit 400 and is movably installed along the width direction (hereinafter, second direction) of the chamber 100, where the viewport protection unit 400 is perpendicular to the first direction. (500) and; a first driving unit 600 installed inside the chamber 100 and configured to move the support frame unit 500 in the first direction; It moves along the first direction together with the support frame part 500 by the first driving part 600, and moves the viewport protection part 400 along the second direction with respect to the support frame part 500. Disclosed is a laser processing device comprising a second driving unit 700 for relative movement.
Description
본 발명은, 레이저 가공장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 기판에 대하여 레이저를 이용하여 기판처리를 수행하는 레이저 가공장치에 관한 것이다.The present invention relates to a laser processing device, and more specifically, to a laser processing device that processes a substrate using a laser.
일반적으로 OLED 디스플레이 패널용 기판은, 그 발광구조에 따른 분류로서, 전면발광(Top Emission) 방식과 후면발광(Bottom Emission) 방식이 있으며, 이 중 후면발광 방식이 주로 사용되고 있다.In general, substrates for OLED display panels are classified according to their light-emitting structure into a top emission method and a bottom emission method, of which the back emission method is mainly used.
주로 사용되고 있는 후면발광방식의 경우, 빛이 박막트랜지스터를 통과해서 발산하므로, 픽셀에서 박막트랜지스터를 제외한 나머지 부분에서 빛이 발산하는 구조이며, 이로써, 고해상도를 위하여 픽셀 사이즈가 작아지는 와중에도, 박막트랜지스터의 크기가 작아지는데 한계가 있으므로, 빛이 발산되는 영역이 좁아지는 문제점이 있다. In the case of the mainly used back-emitting method, light passes through the thin film transistor and is emitted, so the light is emitted from the remaining part of the pixel excluding the thin film transistor. As a result, even while the pixel size is becoming smaller for high resolution, the thin film transistor Since there is a limit to reducing the size, there is a problem in that the area where light is emitted becomes narrow.
이로써, 후면발광방식의 경우, 전면발광방식에 비해 개구율이 떨어지는 문제점이 있다.Accordingly, in the case of the back-emitting method, there is a problem in that the aperture ratio is lower than that of the front-emitting method.
이에 반해, 전면발광방식의 경우, 빛이 박막트랜지스터를 통과해서 발산되는 것이 아니라, 봉지영역으로 발산하므로, 더 높은 개구율을 확보할 수 있어 OLED 디스플레이 패널용 기판으로 최근 각광받고 있다.On the other hand, in the case of the front emission method, light is not emitted through the thin film transistor but is emitted into the encapsulation area, so a higher aperture ratio can be secured and has recently been in the spotlight as a substrate for OLED display panels.
그러나, 전면발광방식의 경우, 전면 캐소드 전극을 최대한 얇게 구현함과 동시에 투명도를 높여야 하는데, 그 과정에서 캐소드 전극의 저항이 증가하고, 이로써 전극 길이 증가에 따른 휘도의 불균일이 발생하는 문제점이 있다.However, in the case of the front emission method, the front cathode electrode must be made as thin as possible and transparency must be increased at the same time, but in the process, the resistance of the cathode electrode increases, which causes uneven luminance due to an increase in electrode length.
이러한 문제를 해결하기 위하여, 종래 레이저를 이용하여 기판에 접촉홀을 형성하고, 캐소드 전극과 보조전극을 연결함으로써, 캐소드 전극의 저항을 낮추는 기술이 사용되었다.To solve this problem, a technology was used to lower the resistance of the cathode electrode by forming a contact hole in the substrate using a conventional laser and connecting the cathode electrode and the auxiliary electrode.
한편, 레이저를 이용하여 기판에 접촉홀을 형성하는 과정에서, 기판의 가공면이 상방을 향하는 페이스 업 상태의 기판의 경우, 레이저 광의 조사에 따라 가공 위치에서 대량의 부유 이물질이 발생하는 바, 부유 이물질이 기판에 재흡착되어 기판을 오염시키는 문제점이 있다.Meanwhile, in the process of forming a contact hole in a substrate using a laser, in the case of a substrate in a face-up state with the processing surface of the substrate facing upward, a large amount of floating foreign matter is generated at the processing location due to irradiation of the laser light. There is a problem in that foreign substances are re-adsorbed to the substrate and contaminate the substrate.
이러한 문제를 해결하기 위하여, 종래 기판의 가공면이 하방을 향하는 페이스다운 상태의 기판에 레이저 가공을 실시하는 플립형 레이저 가공장치를 사용하고 있다.To solve this problem, conventional flip-type laser processing equipment is used to perform laser processing on a face-down substrate with the processing surface of the substrate facing downward.
이러한 플립형 레이저 가공장치의 경우, 진공분위기의 챔버 내에 기판(글라스)가 페이스다운 상태로 지지되고 챔버 외부의 레이저가 챔버의 뷰포트를 통과하여 기판처리가 수행된다.In the case of this flip-type laser processing device, a substrate (glass) is supported in a face-down state within a chamber in a vacuum atmosphere, and a laser outside the chamber passes through the viewport of the chamber to process the substrate.
플립형 레이저 가공장치는, 레이저가 상방으로 레이저광을 사출하기 때문에, 기판에서 발생되는 파티클이 챔버 하측의 뷰포트로 떨어져 뷰포트를 오염시킬 수 있다.Since the flip-type laser processing device emits laser light upward, particles generated from the substrate may fall into the viewport at the bottom of the chamber and contaminate the viewport.
뷰포트가 파티클에 의해 오염되면, 뷰포트를 통과하는 레이저광의 투과율(파워)가 떨어지게 되므로 이를 방지하기 위해 뷰포트로 파티클이 떨어지지 않게 걸러주는 부재(보호윈도우)가 뷰포트 상측에 설치되는 것이 일반적이다.If the viewport is contaminated by particles, the transmittance (power) of the laser light passing through the viewport decreases. To prevent this, a member (protection window) that filters particles from falling into the viewport is usually installed on the upper side of the viewport.
그러나, 보호윈도우가 설치되는 경우라고 하더라도 기판처리가 수행됨에 따라 보호윈도우에도 일정영역에 파티클이 계속해서 쌓이게 되고 역시 투과되는 레이저광의 파워가 떨어지게 되므로, 보호윈도우를 긴 시간동안 사용하지 못하고 자주 교체해 주어야 하는 문제점이 있다.However, even in the case where a protective window is installed, as substrate processing is performed, particles continue to accumulate in a certain area of the protective window and the power of the transmitted laser light decreases, so the protective window cannot be used for a long time and must be replaced frequently. There is a problem.
본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 레이저광이 투과되는 뷰포트가 파티클에 의해 오염되는 것을 방지하는 뷰포트보호부의 X-Y 평면 상 위치를 다양하게 조정함으로써 뷰포트보호부가 미사용된 영역을 효과적으로 활용할 수 있고 그에 따라 뷰포트보호부의 교체간격을 극대화시킬 수 있는 레이저 가공장치를 제공하는데 있다.The purpose of the present invention is to effectively utilize the unused area of the viewport protector by variously adjusting the position on the The aim is to provide a laser processing device that can maximize the replacement interval of the viewport protection part.
본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 레이저를 이용하는 기판처리를 위한 처리공간(S)이 형성되는 챔버(100)와; 기판(10)의 처리면이 하방을 향하도록 기판(10)을 지지하며 상기 챔버(100)의 길이방향(이하, 제1방향)을 따라 선형이동 가능하게 설치되는 캐리어(200)와; 상기 챔버(100) 외부에 설치되며, 상기 챔버(100) 하측에 구비되는 뷰포트(102)를 통해 상기 캐리어(200)에 의해 이송되는 기판(10)의 처리면에 레이저광을 조사하는 레이저모듈(300)과; 상기 처리공간(S) 내의 파티클에 의해 상기 뷰포트(102)가 오염되는 것을 방지하기 위하여 상기 뷰포트(102) 상측에 간격을 두고 설치되는 뷰포트보호부(400)와; 상기 뷰포트보호부(400)를 지지하며 상기 뷰포트보호부(400)가 상기 제1방향에 수직한 상기 챔버(100)의 폭방향(이하, 제2방향)을 따라 이동가능하게 설치되는 지지프레임부(500)와; 상기 챔버(100) 내부에 설치되며, 상기 지지프레임부(500)를 상기 제1방향을 따라 이동시키기 위한 제1구동부(600)와; 상기 제1구동부(600)에 의해 상기 지지프레임부(500)와 함께 상기 제1방향을 따라 이동하며, 상기 뷰포트보호부(400)를 상기 지지프레임부(500)에 대해 상기 제2방향을 따라 상대이동시키기 위한 제2구동부(700)를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치를 개시한다.The present invention was created to achieve the object of the present invention as described above, and includes a
상기 뷰포트보호부(400)는, 상기 레이저광이 투과될 수 있는 보호글라스(410)와, 상기 보호글라스(410)의 가장자리에 설치되어 상기 보호글라스(410)를 지지하는 외곽프레임(420)을 포함할 수 있다.The
상기 제1구동부(600)는, 상기 챔버(100) 내에 상기 제1방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 제1구동샤프트부(610)와, 상기 제1구동샤프트부(610)가 회전가능하게 삽입되어 상기 제1구동샤프트부(610)의 회전에 따라 상기 제1방향으로 선형이동하며 상기 지지프레임부(500)에 결합되는 제1이동블록과, 상기 제1이동블록의 선형이동을 가이드하는 이동블록가이드부(620)를 포함할 수 있다.The first driving
상기 제2구동부(700)는, 상기 제2방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 제2구동샤프트부(720)와, 상기 제2구동샤프트부(720)가 회전가능하게 삽입되어 상기 제2구동샤프트부(720)의 회전에 따라 상기 제2방향으로 선형이동되며 상기 뷰포트보호부(400)와 결합되는 제2이동블록(710)과, 상기 제1구동부(600)에 의해 상기 지지프레임부(500)와 함께 상기 제1방향을 따라 선형이동되며 상기 제2구동샤프트부(720)의 회전을 구동하는 제2회전구동부(740)를 포함할 수 있다.The second driving
상기 제2구동부(700)는, 상기 제2회전구동부(740)와 결합되어 구동력을 전달하며 상기 제1방향과 평행을 이루는 회전축(730)과, 상기 제2회전구동부(740)로부터 상기 회전축(730)으로 전달된 구동력을 상기 제2구동샤프트부(720)로 전달하기 위한 교차축동력전달부(750)를 추가로 포함할 수 있다.The
상기 제2구동부(700)는, 상기 처리공간(S)과 격리되어 내부공간을 대기압상태로 유지하며 상기 제2회전구동부(740)를 수용하는 제2회전구동부하우징을 추가로 포할 수 있다.The
상기 제2구동부(700)는, 상기 지지프레임부(500)에 결합되어 상기 지지프레임부(500)에 대한 상기 제2이동블록(710)의 상기 제1방향의 선형이동을 가이드하는 제2이동블록가이드부를 추가로 포함할 수 있다.The
상기 레이저 가공장치는, 상기 뷰포트보호부(400)를 통한 상기 레이저광의 투과율이 저하되지 않도록, 상기 뷰포트보호부(400)의 상기 제1방향 및 상기 제2방향 중 적어도 하나의 위치를 조정하도록 상기 제1구동부(600) 및 상기 제2구동부(700) 중 적어도 하나를 제어하는 제어부를 추가로 포함할 수 있다.The laser processing device is configured to adjust the position of at least one of the first direction and the second direction of the
본 발명에 따른 레이저 가공장치는, 레이저광이 투과되는 뷰포트가 파티클에 의해 오염되는 것을 방지하는 뷰포트보호부의 X-Y 평면 상 위치를 다양하게 조정함으로써 뷰포트보호부가 미사용된 영역을 효과적으로 활용할 수 있고 그에 따라 뷰포트보호부의 교체간격을 극대화시킬 수 있는 이점이 있다.The laser processing device according to the present invention can effectively utilize the unused area of the viewport protection unit by variously adjusting the position of the viewport protection unit on the There is an advantage in that the replacement interval of the protective part can be maximized.
구체적으로, 본 발명에 따른 레이저 가공장치는, 평면 상 뷰포트보호부를 챔버의 길이방향(제1방향)으로 선형이동시키는 제1구동부와, 뷰포트보호부를 챔버의 폭방향(제2방향)으로 선형이동시키는 제2구동부를 구성함에 있어서, 제2구동부를 제1구동부에 결합시킴으로써 제1구동부에 의한 제1방향 구동시 제2구동부가 함께 제1방향으로 이동하며 뷰포트보호부의 제2방향 이동을 구동하는 구조를 채택함으로써, 뷰포트보호부의 제2방향 위치제어를 보다 원활히 수행할 수 있는 이점이 있다.Specifically, the laser processing device according to the present invention includes a first driving part that linearly moves the viewport protection part in the longitudinal direction (first direction) of the chamber on a plane, and a first driving part that linearly moves the viewport protection part in the width direction (second direction) of the chamber. In constructing the second driving unit, the second driving unit is coupled to the first driving unit, so that when driven in the first direction by the first driving unit, the second driving unit moves in the first direction together and drives the movement of the viewport protection unit in the second direction. By adopting the structure, there is an advantage that the second direction position control of the viewport protection part can be performed more smoothly.
또한, 본 발명에 따른 레이저 가공장치는, 평면 상 뷰포트보호부를 챔버의 길이방향(제1방향)으로 선형이동시키는 제1구동부와, 뷰포트보호부를 챔버의 폭방향(제2방향)으로 선형이동시키는 제2구동부를 구성함에 있어서, 제2구동부를 제1구동부에 의해 제1방향으로 이동가능하게 설치하고 제2구동부를 통한 구동력전달을 위해 교차축기어(베벨기어)를 적용함으로써, 제2구동부를 챔버의 폭방향(제2방향) 좁은공간에 제한받지 않고 설치하여 뷰포트보호부의 제2방향 선형이동을 구현할 수 있는 이점이 있다.In addition, the laser processing device according to the present invention includes a first driving part that linearly moves the viewport protection part in the longitudinal direction (first direction) of the chamber on a plane, and a first driving part that linearly moves the viewport protection part in the width direction (second direction) of the chamber. In constructing the second driving unit, the second driving unit is installed to be movable in the first direction by the first driving unit and a cross-axis gear (bevel gear) is applied to transmit the driving force through the second driving unit, thereby forming the second driving unit. There is an advantage that linear movement in the second direction of the viewport protection part can be realized by installing it without being limited to a narrow space in the width direction (second direction) of the chamber.
도 1은, 본 발명에 따른 레이저 가공장치를 보여주는 사시도이다.
도 2는, 도 1의 레이저 가공장치의 구성 일부를 보여주는 평면도이다.
도 3a 내지 도 3d는, 도 1의 레이저 가공장치의 뷰포트보호부의 위치에 따른 뷰포트보호부 상면의 파티클적층영역을 보여주는 평면도이다.
도 4는, 도 1의 레이저 가공장치의 구성 일부를 보여주는 평면도이다.Figure 1 is a perspective view showing a laser processing device according to the present invention.
FIG. 2 is a plan view showing part of the configuration of the laser processing device of FIG. 1.
FIGS. 3A to 3D are plan views showing the particle stacking area on the upper surface of the viewport protection unit according to the position of the viewport protection unit of the laser processing device of FIG. 1.
FIG. 4 is a plan view showing part of the configuration of the laser processing device of FIG. 1.
이하 본 발명에 따른 레이저 가공장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the laser processing device according to the present invention will be described with reference to the attached drawings.
본 발명에 따른 레이저 가공장치는, 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 레이저를 이용하는 기판처리를 위한 처리공간(S)이 형성되는 챔버(100)와; 기판(10)의 처리면이 하방을 향하도록 기판(10)을 지지하며 상기 챔버(100)의 길이방향(이하, 제1방향)을 따라 선형이동 가능하게 설치되는 캐리어(200)와; 상기 챔버(100) 외부에 설치되며, 상기 챔버(100) 하측에 구비되는 뷰포트(102)를 통해 상기 캐리어(200)에 의해 이송되는 기판(10)의 처리면에 레이저광을 조사하는 레이저모듈(300)과; 상기 처리공간(S) 내의 파티클에 의해 상기 뷰포트(102)가 오염되는 것을 방지하기 위하여 상기 뷰포트(102) 상측에 간격을 두고 설치되는 뷰포트보호부(400)와; 상기 뷰포트보호부(400)를 지지하며 상기 뷰포트보호부(400)가 상기 제1방향에 수직한 상기 챔버(100)의 폭방향(이하, 제2방향)을 따라 이동가능하게 설치되는 지지프레임부(500)와; 상기 챔버(100) 내부에 설치되며, 상기 지지프레임부(500)를 상기 제1방향을 따라 이동시키기 위한 제1구동부(600)와; 상기 제1구동부(600)에 의해 상기 지지프레임부(500)와 함께 상기 제1방향을 따라 이동하며, 상기 뷰포트보호부(400)를 상기 지지프레임부(500)에 대해 상기 제2방향을 따라 상대이동시키기 위한 제2구동부(700)를 포함한다. As shown in FIGS. 1 to 4, the laser processing device according to the present invention includes a
여기서 기판처리의 대상인 기판(10)은, 식각, 증착 등 기판처리가 수행되는 구성으로서, 반도체 제조용기판, LCD 제조용기판, OLED 제조용기판, 태양전지 제조용기판, 투명 글라스기판 등 레이저가공을 통한 기판처리가 필요한 기판이면 어떠한 기판도 가능하다.Here, the
특히, 상기 기판(10)은, OLED 제조용기판으로서, 캐소드 전극과 보조전극을 연결함으로써, 캐소드 전극의 저항을 낮추기 위해 레이저를 이용하여 접촉홀이 형성되도록 기판처리될 수 있으며, 대면적 기판일 수 있다.In particular, the
상기 챔버(100)는, 레이저를 이용하는 기판처리를 위한 처리공간(S)이 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 챔버(100)는, 처리공간(S)을 형성하는 챔버본체와, 챔버본체의 상단에 설치되며, 기판(10)의 회전 가능하도록, 회전반경에 대응되는 곡률로 형성되는 천정부를 포함할 수 있다.For example, the
상기 챔버(100)는, 내부가 진공상태, 대기압 상태 등 공정조건에 따라 다양한 조건일 수 있으며, 보다 바람직하게는 진공상태를 유지할 수 있다.The interior of the
상기 챔버본체는, 처리공간(S)을 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The chamber main body forms the processing space (S), and various configurations are possible.
상기 챔버본체에는, 처리면이 상방을 향한 상태로 도입되는 기판(10)이 처리면이 하방을 향하도록 플립되는 영역과, 플립된 기판(10)이 캐리어(200)에 의해 지지된 상태로 챔버본체의 길이방향을 따라 선형이동되어 레이저모듈(300)에 의해 레이저가공되는 영역이 형성될 수 있다.The chamber main body includes a region where the
상기 캐리어(200)는, 기판(10)의 처리면이 하방을 향하도록 기판(10)을 지지하며 챔버(100)의 길이방향(이하, 제1방향)을 따라 선형이동 가능하게 설치되는 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The
여기서, 상기 제1방향은, 캐리어(200)의 선형이동방향으로, 챔버(100)의 길이방향(도면 기준, X축방향)으로 정의될 수 있다.Here, the first direction is the linear movement direction of the
이때, 본 발명은, 상기 캐리어(200)가 처리공간(S) 내에서 선형이동 가능하도록 처리공간(S)에 설치되는 주행축(미도시)을 포함할 수 있다.At this time, the present invention may include a traveling axis (not shown) installed in the processing space (S) so that the
상기 주행축은, 캐리어(200)가 선형이동 할 수 있도록 처리공간(S)에 설치되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The traveling axis is installed in the processing space (S) so that the
예를 들면, 상기 주행축은, 한 쌍으로 설치되며 캐리어(200)가 결합하여 캐리어(200)가 안정적으로 이동하도록 할 수 있다. For example, the traveling axes may be installed as a pair and combined with the
또한, 상기 주행축은, 진공환경 및 고온환경에서의 내구성 유지를 위해, 낮은 열팽창률을 가지는 인바(INVAR) 재질로 제작될 수 있다.Additionally, the driving shaft may be made of INVAR material with a low thermal expansion coefficient to maintain durability in a vacuum environment and a high temperature environment.
한편, 상기 캐리어(200)는, X, Y, Θ 방향 중 적어도 하나로 이동 가능할 수 있다.Meanwhile, the
예를 들면, 상기 캐리어(200)는, 3단 구조의 XYΘ테이블일 수 있으며, 보다 바람직하게는 2단구조의 UVW테이블일 수 있다.For example, the
한편, 이를 통해 상기 캐리어(200)는, 지지된 기판(10)의 정밀한 위치조정이 가능하며, 보다 구체적으로는 UVW테이블로써, 1단에 설치되는 1개의 선형모터와, 2단에 설치되는 2개의 선형모터를 이용하여, X, Y, Θ방향 중 적어도 하나로 이동 가능할 수 있다.Meanwhile, through this, the
이로써, 미리설치된 주행축으로 선형이동하는 캐리어(200)를 X, Y, Θ방향 중 적어도 한 방향으로 이동하여, 고정설치되는 레이저모듈(300)을 통한 기판처리를 보다 정밀한 위치에서 수행할 수 있다.As a result, the
예로서, 상기 캐리어(200)에는 기판(10)을 정전흡착하는 정전척이 구비될 수 있다.For example, the
다른 예로서, 상기 캐리어(200)에는, 진공흡착을 통해 기판(10)을 흡착하여 고정하거나 또는, 기타 물리부재를 이용하여 기판(10)을 고정 안착시킬 수 있음은 또한 물론이다.As another example, it goes without saying that the
상기 레이저모듈(300)은, 챔버(100) 외부에 설치되며, 챔버(100) 하측에 구비되는 뷰포트(102)를 통해 캐리어(200)에 의해 이송되는 기판(10)의 처리면에 레이저광을 조사하는 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 레이저모듈(300)은, 캐소드 전극의 저항을 낮추기 위하여, 캐소드 전극과 보조전극을 연결하기 위한 접촉홀을 기판(10)의 가공면에 형성하기 위한 구성일 수 있다.For example, the
한편, 기판(10)의 처리면이 상방을 향하는 페이스 업 상태에서의 가공의 경우, 가공된 부유물이 중력에 의해 기판(10)의 처리면에 재유착되는 문제가 있을 수 있는 바, 기판(10)의 처리면이 하방을 향하는 페이스다운 상태에서의 가공이 이루어 질 수 있다.On the other hand, in the case of processing in a face-up state where the processing surface of the
이를 위하여, 상기 레이저모듈(300)은, 챔버(100)의 외부 하측에 위치하여, 플립되어 하방을 향하는 기판(10) 처리면을 향해 상측으로 레이저 광을 조사할 수 있다.To this end, the
또한 상기 레이저모듈(300)은, 레이저광을 조사하는 복수의 조사부(미도시)들과, 상기 복수의 조사부들이 형성되는 레이저본체(미도시)를 포함할 수 있다.Additionally, the
상기 뷰포트보호부(400)는, 처리공간(S) 내의 파티클에 의해 뷰포트(102)가 오염되는 것을 방지하기 위하여 뷰포트(102) 상측에 간격을 두고 설치되는 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The
상기 뷰포트(102)는, 챔버(100)의 하측에 구비되는 윈도우창으로 챔버(100) 하측에 형성되는 개구(104)에 설치될 수 있다.The
상기 뷰포트(102)를 통해 레이저모듈(300)에서 나온 레이저광이 기판(10)의 처리면에 조사될 수 있다.Laser light emitted from the
상기 뷰포트보호부(400)는, 뷰포트(102) 상측에 처리공간(S)에 발생되는 파티클이 쌓이는 것을 방지하기 위하여 뷰포트(102)의 상부에 간격을 두고 설치되는 부재로서 레이저광이 투과 가능한 글래스재질로 이루어질 수 있다.The
예로서, 상기 뷰포트보호부(400)는, 레이저광이 투과될 수 있는 보호글라스(410)와, 보호글라스(410)의 가장자리에 설치되어 보호글라스(410)를 지지하는 외곽프레임(420)을 포함할 수 있다.For example, the
상기 보호글라스(410)는, 글라스재질의 플레이트로서, 뷰포트(102)를 복개할 수 있다면 다양한 평면형상으로 이루어질 수 있으며, 설계에 따라 다양한 두께로 형성될 수 있다.The
상기 외곽프레임(420)은, 보호글라스(410)의 가장자리에 결합되어 보호글라스(410)를 지지하는 프레임으로 다양한 구성이 가능하며, 강성을 가진다면 다양한 재질로 이루어질 수 있다.The
상기 지지프레임부(500)는, 뷰포트보호부(400)를 지지하며 뷰포트보호부(400)가 상기 제1방향에 수직한 상기 챔버(100)의 폭방향(이하, 제2방향)을 따라 이동가능하게 설치되는 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The
여기서, 상기 제2방향은, 뷰포트보호부(400)가 지지프레임부(500)에 대해 선형이동되는 방향으로, 제1방향(캐리어(200)의 선형이동방향)에 수직한 챔버(100)의 폭방향으로 정의될 수 있다.Here, the second direction is the direction in which the
상기 지지프레임부(500)는, 뷰포트보호부(400)를 지지하며 뷰포트보호부(400)가 지지프레임부(500)에 대해 제2방향을 따라 상대선형이동가능하게 설치될 수 있다면, 다양한 형상 및 재질로 이루어질 수 있다.The
상기 제1구동부(600)은, 챔버(100) 내부에 설치되며, 지지프레임부(500)를 제1방향을 따라 이동시키기 위한 구동부로서 다양한 구성이 가능하다.The
예로서, 상기 제1구동부(600)는, 챔버(100) 내에 제1방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 제1구동샤프트부(610)와, 제1구동샤프트부(610)가 회전가능하게 삽입되어 제1구동샤프트부(610)의 회전에 따라 제1방향으로 선형이동하며 지지프레임부(500)에 결합되는 제1이동블록과, 제1이동블록의 선형이동을 가이드하는 제1이동블록가이드부(620)를 포함할 수 있다.For example, the
상기 제1구동샤프트부(610)는, 챔버(100) 내에 제1방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 스크류축으로서 다양한 구성이 가능하다.The first
상기 제1구동샤프트부(610)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 챔버(100)의 양측면에 한 쌍으로 설치될 수 있다.As shown in FIG. 2, the first
상기 제1구동샤프트부(610)는, 일단에서 제1회전구동부(612)와 결합되어 제1회전구동부(612)의 회전구동에 의해 회전될 수 있다.The first
상기 제1이동블록은, 제1구동샤프트부(610)가 회전가능하게 삽입되어 제1구동샤프트부(610)의 회전에 따라 제1방향으로 선형이동되는 구성으로, 볼스크류 또는 리드스크류의 암나사부재에 대응될 수 있다.The first moving block is a configuration in which the first
상기 제1이동블록은 지지프레임부(500)에 결합됨으로써 제1이동블록과 함께 지지프레임부(500)가 제1방향(도면기준 X축방향)을 따라 선형이동될 수 있다.The first movable block is coupled to the
이때, 상기 뷰포트보호부(400)는, 지지프레임부(500)에 결합되므로 지지프레임부(500)와 함께 제1방향(도면기준 X축방향)을 따라 선형이동될 수 있다.At this time, since the
상기 제1이동블록가이드부(620)는, 제1이동블록의 선형이동을 가이드하는 리니어가이드로서 다양한 구성이 가능하다.The first moving
상기 제1이동블록가이드부(620) 또한 제1구동샤프트부(610)에 대응되어 한 쌍으로 설치될 수 있음은 물론이다.Of course, the first moving
상술한 제1구동부(600)의 경우, 볼스크류모터 또는 리드스크류모터 방식으로 지지프레임부(500)를 직접구동할 수 있고, 그에 따라 지지프레임부(500)가 챔버(100)의 길이방향(제1방향)을 따라 챔버(100) 내의 모든영역에서 선형이동될 수 있다.In the case of the above-described first driving
상기 제2구동부(700)는, 제1구동부(600)에 의해 지지프레임부(500)와 함께 제1방향을 따라 이동하며, 뷰포트보호부(400)를 지지프레임부(500)에 대해 제2방향을 따라 상대이동시키기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The
상기 제2구동부(700)는, 제1구동부(600)에 결합되거나 또는 지지프레임부(500)에 결합됨으로써 제1구동부(600)에 의해 지지프레임(500)과 함께 제1방향으로 이동될 수 있다.The
상기 제2구동부(700)는, 제2방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 제2구동샤프트부(720)와, 제2구동샤프트부(720)가 회전가능하게 삽입되어 제2구동샤프트부(720)의 회전에 따라 제2방향으로 선형이동되며 뷰포트보호부(400)와 결합되는 제2이동블록(710)과, 제1구동부(600)에 의해 지지프레임부(500)와 함께 제1방향을 따라 선형이동되며 제2구동샤프트부(720)의 회전을 구동하는 제2회전구동부(740)를 포함할 수 있다.The
상기 제2구동샤프트부(720)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제2방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 스크류축으로서 다양한 구성이 가능하다.As shown in FIG. 4, the second
상기 제2구동샤프트부(720)는, 제1구동부(600) 또는 지지프레임(500)에 설치되어 제1구동부(600)에 의해 제1방향으로 이동되며 후술하는 제2회전구동부(740)의 회전구동에 의해 회전될 수 있다.The second
상기 제2이동블록(710)은, 제2구동샤프트부(720)가 회전가능하게 삽입되어 제2구동샤프트부(720)의 회전에 따라 제2방향으로 선형이동되는 구성으로, 볼스크류 또는 리드스크류의 암나사부재에 대응될 수 있다.The second moving
상기 제2이동블록(710)은, 뷰포트보호부(400)와 결합될 수 있고, 그에 따라, 상기 제2이동블록(710)의 제2방향 선형이동 시 뷰포트보호부(400)도 함게 제2방향으로 선형이동될 수 있다.The second moving
이때, 상기 제2구동부(700)는, 지지프레임부(500)에 결합되어 제2이동블록(710)의 제2방향 선형이동을 가이드하는 제2이동블록가이드부(미도시)를 포함할 수 있다.At this time, the
상기 제2이동블록가이드부는, 제2이동블록(720)의 제2방향 선형이동을 가이드하는 리니어가이드로서 다양한 구성이 가능하다.The second moving block guide part is a linear guide that guides the linear movement of the second moving
상기 제2이동블록가이드부는, 제2이동블록(720)과 지지프레임부(500) 사이 또는 뷰포트보호부(400)의 외곽프레임(420)과 지지프레임부(500) 사이 중 적어도 어느 하나에 설치될 수 있다.The second moving block guide part is installed at least one of between the second moving
상기 제2회전구동부(740)는, 제1구동부(600)에 의해 지지프레임부(500)와 함께 제1방향을 따라 선형이동되며 제2구동샤프트부(720)의 회전을 구동하는 구동원으로 다양한 구성이 가능하다.The second
상기 제2회전구동부(740)는 제1구동부(600)에 결합되거나 또는 지지프레임부(500)에 결합됨으로써 제1구동부(600)에 의해 지지프레임부(500)와 함께 제1방향을 따라 선형이동될 수 있다.The second
일 실시예에서, 상기 제2구동부(700)는, 제2회전구동부(740)와 결합되어 구동력을 전달하며 상기 제1방향과 평행을 이루는 회전축(730)과, 제2회전구동부(740)로부터 회전축(730)으로 전달된 구동력을 제2구동샤프트부(720)로 전달하기 위한 교차축동력전달부(750)를 추가로 포함할 수 있다.In one embodiment, the
상기 회전축(730)은 챔버(100)의 폭방향 공간을 고려하여 제1방향과 평행한 방향으로 설치될 수 있다.The
이때, 상기 회전축(730)과 상기 제2구동샤프트부(720)는 서로 수직으로 교차될 수 있다.At this time, the
상기 교차축동력전달부(750)는, 제2회전구동부(740)에 의해 회전축(730)으로 전달된 구동력을 제2구동샤프트부(720)로 전달하기 위한 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The cross-axis
예로서, 상기 교차축동력전달부(750)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제2회전구동부(740)의 회전축(730)과 제2구동샤프트부(720)의 끝단 결합부위에 설치되는 베벨기어(752, 754)를 포함할 수 있다.For example, the cross-axis
이를 통해, 챔버(100)의 폭방향 크기를 크게 하지 않아도 기존의 챔버(100) 내부 공간을 활용하여 뷰포트보호부(400)의 제2방향 구동을 위한 제2회전구동부(740)가 설치될 수 있다.Through this, the second
다른 예로서, 도시하지는 않았으나, 상기 제2회전구동부(740)는, 제2구동샤프트부(720)의 일단에 직결되어 제2구동샤프트부(720)의 회전을 구동할 수 있다.As another example, although not shown, the second
이러한 경우, 제2회전구동부(740)의 회전축(730)으로부터 제2구동샤프투부(720)로 동력을 전달하기 위한 별도의 동력전달구조는 불필요함은 물론이다.In this case, it goes without saying that a separate power transmission structure for transmitting power from the
한편, 챔버(100) 내부 처리공간(S)은 진공분위기를 유지해야 하는 데 반해 제2회전구동부(740)는 대기압환경(ATM)에 설치되는 바, 제2회전구동부(740)는 처리공간(S)과 격리될 필요가 있다.Meanwhile, while the processing space (S) inside the
이를 위하여, 상기 제2구동부(700)는, 처리공간(S)과 격리되어 내부공간을 대기압상태로 유지하며 제2회전구동부(740)를 수용하는 제2회전구동부하우징을 추가로 포함할 수 있다.To this end, the
한편, 상기 레이저 가공장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 챔버(100)의 일측에 결합되는 뷰포트보호부(400)에 대한 교체를 위한 뷰포트보호부교체모듈(900)를 추가로 포함할 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 1, the laser processing device may additionally include a viewport protection
상기 뷰포트보호부교체모듈(900)은, 뷰포트보호부(400)들을 수용하며, 뷰포트보호부교체모듈(900)과 챔버(100) 사이에 설치되는 게이트(G)를 통해 챔버(100)로부터 교체가 필요한 뷰포트보호부(400)를 전달받고 새로운 뷰포트보호부(400)를 챔버(100)로 전달함으로써, 뷰포트보호부(400)의 교체를 가능하게 하는 구성으로 다양한 구성이 가능하다.The viewport protection
한편, 상술한 구성을 포함하는 레이저 가공장치는, 뷰포트보호부(400)를 통한 레이저광의 투과율이 저하되지 않도록, 뷰포트보호부(400)의 제1방향 및 제2방향 중 적어도 하나의 위치를 조정하도록 제1구동부(600) 및 제2구동부(700) 중 적어도 하나를 제어하는 제어부를 추가로 포함할 수 있다.Meanwhile, the laser processing device including the above-described configuration adjusts the position of at least one of the first direction and the second direction of the
이하, 레이저 가공장치, 특히 뷰포트보호부(400)의 제1방향 및 제2방향 이동과 관련하여 제어부의 동작을 자세히 설명한다.Hereinafter, the operation of the control unit will be described in detail in relation to the movement of the laser processing device, particularly the
상기 챔버(100)의 일측을 통해 기판(10)이 도입되면 처리면이 하방을 향하도록 플립된 후 캐리어(200)에 의해 챔버(100)의 타측을 향해 제1방향을 따라 선형이동될 수 있다.When the
상기 제어부는, 제1방향을 따라 선형이동되는 기판(10)의 처리면에 레이저모듈(300)에서 나온 레이저광을 통해 기판처리가 수행됨에 따라 뷰포트(102)가 오염되는 것을 방지하기 위하여, 뷰포트보호부(400)의 제1방향 위치를 조정하여 뷰포트(102) 직상부에 위치되도록 제1구동부(600)를 제어할 수 있다. The control unit operates the
상기 제1구동부(600)에 의해 뷰포트보호뷰(400)의 제1방향 위치조정 시 제2구동부(700) 또한 뷰표트보호부(400)와 함께 제1방향으로 이동된다.When the position of the
이때, 상기 뷰포트보호부(400)는, 도 3a와 같이 위치될 수 있고, 기판처리가 수행됨에 따라 보호글라스(410) 상 라인 g를 따라 배치되는 A영역(파티클적층영역)에 파티클이 적층될 수 있다.At this time, the
기판처리가 지속됨에 따라 A영역에 파티클이 점차 쌓이면서 A영역을 투과하는 레이저광의 파워가 점차 떨어지게 될 수 있다.As substrate processing continues, particles gradually accumulate in area A, and the power of the laser light passing through area A may gradually decrease.
이때, 상기 제어부는, 보호글라스(410)를 통과하는 레이저광의 파워가 미리 설정된 기준값 이하가 되지 않도록, 뷰포트보호부(400)를 제1방향 또는 제2방향 중 어느 하나의 방향으로 선형이동시킬 수 있다.At this time, the control unit may linearly move the
예로서, 상기 제어부는, 도 3a와 같이 뷰포트보호부(400)를 위치시킨 상태에서 기판처리를 수행하다가, A영역에 파티클이 과도하게 적층되면, 도 3b와 같이, 제1구동부(600)를 통해 지지프레임부(500)를 제1방향으로 선형이동시켜 뷰포트보호부(400)의 제1방향 위치를 +△X 만큼 조정할 수 있다.For example, while performing substrate processing with the
이를 통해, 라인 g를 따라 배치되는 A영역은 보호글라스(410)의 미사용영역에 재대응될 수 있고, 보호글라스(410)에 대한 교체 없이 보호글라스(410)를 다시 활용하여 기판처리를 수행할 수 있다.Through this, area A arranged along line g can be re-corresponded to the unused area of the
기판처리가 지속됨에 따라 도 3b의 A영역 또한 파티클이 점차 쌓이면서 A영역을 투과하는 레이저광의 파워가 점차 떨어지게 될 수 있다.As substrate processing continues, particles gradually accumulate in area A of FIG. 3B, and the power of the laser light passing through area A may gradually decrease.
이때, 상기 제어부는, 보호글라스(410)를 통과하는 레이저광의 파워가 미리 설정된 기준값 이하가 되지 않도록, 뷰포트보호부(400)를 다시 제1방향 또는 제2방향 중 어느 하나의 방향으로 선형이동시킬 수 있다.At this time, the control unit linearly moves the
예로서, 상기 제어부는, 도 3b와 같이 뷰포트보호부(400)를 위치시킨 상태에서 기판처리를 수행하다가, A영역에 파티클이 과도하게 적층되면, 도 3c와 같이, 제2구동부(700)를 통해 지지프레임부(500)에 대해 뷰포트보호부(400)를 제2방향으로 선형이동시켜 뷰포트보호부(400)의 제2방향 위치를 +△Y 만큼 조정할 수 있다.For example, the control unit performs substrate processing with the
이를 통해, 라인 p 상에 위치하는 A영역이 라인 p 상으로부터 이탈하도록 조정되어 A영역은 보호글라스(410)의 미사용영역에 재대응될 수 있고, 보호글라스(410)에 대한 교체 없이 보호글라스(410)를 다시 활용하여 기판처리를 수행할 수 있다.Through this, area A located on line p is adjusted to deviate from line p, so area A can be re-corresponded to the unused area of the
기판처리가 지속됨에 따라 도 3c의 A영역 또한 파티클이 점차 쌓이면서 A영역을 투과하는 레이저광의 파워가 점차 떨어지게 될 수 있다.As substrate processing continues, particles gradually accumulate in area A of FIG. 3C, and the power of the laser light passing through area A may gradually decrease.
이때, 상기 제어부는, 보호글라스(410)를 통과하는 레이저광의 파워가 미리 설정된 기준값 이하가 되지 않도록, 뷰포트보호부(400)를 다시 제1방향 또는 제2방향 중 어느 하나의 방향으로 선형이동시킬 수 있다.At this time, the control unit linearly moves the
예로서, 상기 제어부는, 도 3c와 같이 뷰포트보호부(400)를 위치시킨 상태에서 기판처리를 수행하다가, A영역에 파티클이 과도하게 적층되면, 도 3d와 같이, 제1구동부(600)를 통해 지지프레임부(500)를 제1방향으로 선형이동시켜 뷰포트보호부(400)의 제1방향 위치를 -△X 만큼 조정할 수 있다.For example, the control unit performs substrate processing with the
이를 통해, 라인 g를 따라 배치되는 A영역은 보호글라스(410)의 미사용영역에 재대응될 수 있고, 보호글라스(410)에 대한 교체 없이 보호글라스(410)를 다시 활용하여 기판처리를 수행할 수 있다.Through this, area A arranged along line g can be re-corresponded to the unused area of the
본 발명은, 상기 제어부가 제1구동부(600) 및 제2구동부(700)를 통해 뷰포트보호부(400)의 제1방향 위치 및 제2방향 위치를 적절히 조정함에 따라 보호글라스(410)의 미사용영역을 최소화하며 보호글라스(410)를 교체없이 오랜 시간동안 활용할 수 있고, 그에 따라 뷰포트보호부(400)의 교체주기를 극대화할 수 있는 이점이 있다.In the present invention, the control unit appropriately adjusts the first and second direction positions of the
이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다. Since the above is only a description of some of the preferred embodiments that can be implemented by the present invention, as is well known, the scope of the present invention should not be construed as limited to the above embodiments, and the scope of the present invention described above Both the technical idea and the technical idea underlying it will be said to be included in the scope of the present invention.
10: 기판 100: 챔버
200: 캐리어 300: 레이저모듈10: substrate 100: chamber
200: Carrier 300: Laser module
Claims (8)
기판(10)의 처리면이 하방을 향하도록 기판(10)을 지지하며 상기 챔버(100)의 길이방향(이하, 제1방향)을 따라 선형이동 가능하게 설치되는 캐리어(200)와;
상기 챔버(100) 외부에 설치되며, 상기 챔버(100) 하측에 구비되는 뷰포트(102)를 통해 상기 캐리어(200)에 의해 이송되는 기판(10)의 처리면에 레이저광을 조사하는 레이저모듈(300)과;
상기 처리공간(S) 내의 파티클에 의해 상기 뷰포트(102)가 오염되는 것을 방지하기 위하여 상기 뷰포트(102) 상측에 간격을 두고 설치되는 뷰포트보호부(400)와;
상기 뷰포트보호부(400)를 지지하며 상기 뷰포트보호부(400)가 상기 제1방향에 수직한 상기 챔버(100)의 폭방향(이하, 제2방향)을 따라 이동가능하게 설치되는 지지프레임부(500)와;
상기 챔버(100) 내부에 설치되며, 상기 지지프레임부(500)를 상기 제1방향을 따라 이동시키기 위한 제1구동부(600)와; 상기 제1구동부(600)에 의해 상기 지지프레임부(500)와 함께 상기 제1방향을 따라 이동하며, 상기 뷰포트보호부(400)를 상기 지지프레임부(500)에 대해 상기 제2방향을 따라 상대이동시키기 위한 제2구동부(700)를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치. a chamber 100 in which a processing space (S) for substrate processing using a laser is formed;
a carrier 200 that supports the substrate 10 so that the processing surface of the substrate 10 faces downward and is installed to be linearly movable along the longitudinal direction (hereinafter, the first direction) of the chamber 100;
A laser module ( 300) and;
a viewport protection unit 400 installed at intervals above the viewport 102 to prevent the viewport 102 from being contaminated by particles in the processing space (S);
A support frame unit that supports the viewport protection unit 400 and is movably installed along the width direction (hereinafter, second direction) of the chamber 100, where the viewport protection unit 400 is perpendicular to the first direction. (500) and;
a first driving unit 600 installed inside the chamber 100 and configured to move the support frame unit 500 in the first direction; It moves along the first direction together with the support frame part 500 by the first driving part 600, and moves the viewport protection part 400 along the second direction with respect to the support frame part 500. A laser processing device comprising a second driving unit 700 for relative movement.
상기 뷰포트보호부(400)는,
상기 레이저광이 투과될 수 있는 보호글라스(410)와, 상기 보호글라스(410)의 가장자리에 설치되어 상기 보호글라스(410)를 지지하는 외곽프레임(420)을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.In claim 1,
The viewport protection unit 400,
A laser processing device comprising a protective glass 410 through which the laser light can pass, and an outer frame 420 installed at an edge of the protective glass 410 to support the protective glass 410. .
상기 제1구동부(600)는,
상기 챔버(100) 내에 상기 제1방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 제1구동샤프트부(610)와, 상기 제1구동샤프트부(610)가 회전가능하게 삽입되어 상기 제1구동샤프트부(610)의 회전에 따라 상기 제1방향으로 선형이동하며 상기 지지프레임부(500)에 결합되는 제1이동블록과, 상기 제1이동블록의 선형이동을 가이드하는 이동블록가이드부(620)를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.In claim 1,
The first driving unit 600,
A first driving shaft part 610 is installed in the chamber 100 along the first direction and has threads formed on the outer peripheral surface, and the first driving shaft part 610 is rotatably inserted to form the first driving shaft. A first movable block that moves linearly in the first direction according to the rotation of the unit 610 and is coupled to the support frame portion 500, and a movable block guide portion 620 that guides the linear movement of the first movable block. A laser processing device comprising:
상기 제2구동부(700)는,
상기 제2방향을 따라 설치되며 외주면에 나사산이 형성되는 제2구동샤프트부(720)와,
상기 제2구동샤프트부(720)가 회전가능하게 삽입되어 상기 제2구동샤프트부(720)의 회전에 따라 상기 제2방향으로 선형이동되며 상기 뷰포트보호부(400)와 결합되는 제2이동블록(710)과,
상기 제1구동부(600)에 의해 상기 지지프레임부(500)와 함께 상기 제1방향을 따라 선형이동되며 상기 제2구동샤프트부(720)의 회전을 구동하는 제2회전구동부(740)를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.In claim 2,
The second driving unit 700,
A second drive shaft portion 720 installed along the second direction and having threads formed on the outer peripheral surface,
A second moving block in which the second driving shaft part 720 is rotatably inserted and moves linearly in the second direction according to the rotation of the second driving shaft part 720 and is coupled to the viewport protection part 400. (710) and,
It is linearly moved along the first direction together with the support frame part 500 by the first driving part 600 and includes a second rotation driving part 740 that drives rotation of the second driving shaft part 720. A laser processing device characterized in that.
상기 제2구동부(700)는,
상기 제2회전구동부(740)와 결합되어 구동력을 전달하며 상기 제1방향과 평행을 이루는 회전축(730)과, 상기 제2회전구동부(740)로부터 상기 회전축(730)으로 전달된 구동력을 상기 제2구동샤프트부(720)로 전달하기 위한 교차축동력전달부(750)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.In claim 4,
The second driving unit 700,
A rotation axis 730 that is coupled to the second rotation drive unit 740 to transmit driving force and is parallel to the first direction, and a driving force transmitted from the second rotation drive unit 740 to the rotation shaft 730 A laser processing device characterized in that it additionally includes a cross-axis power transmission unit (750) for transmitting it to the second drive shaft unit (720).
상기 제2구동부(700)는, 상기 처리공간(S)과 격리되어 내부공간을 대기압상태로 유지하며 상기 제2회전구동부(740)를 수용하는 제2회전구동부하우징을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.In claim 4,
The second driving unit 700 is isolated from the processing space (S), maintains the internal space at atmospheric pressure, and further includes a second rotating driving unit housing that accommodates the second rotating driving unit 740. A laser processing device.
상기 제2구동부(700)는,
상기 지지프레임부(500)에 결합되어 상기 지지프레임부(500)에 대한 상기 제2이동블록(710)의 상기 제1방향의 선형이동을 가이드하는 제2이동블록가이드부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.In claim 4,
The second driving unit 700,
It is coupled to the support frame part 500 and further includes a second moving block guide part that guides the linear movement of the second moving block 710 in the first direction with respect to the support frame part 500. A laser processing device that uses
상기 레이저 가공장치는,
상기 뷰포트보호부(400)를 통한 상기 레이저광의 투과율이 저하되지 않도록, 상기 뷰포트보호부(400)의 상기 제1방향 및 상기 제2방향 중 적어도 하나의 위치를 조정하도록 상기 제1구동부(600) 및 상기 제2구동부(700) 중 적어도 하나를 제어하는 제어부를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저 가공장치.The method of any one of claims 1 to 7,
The laser processing device,
The first driving unit 600 to adjust the position of at least one of the first direction and the second direction of the viewport protection unit 400 so that the transmittance of the laser light through the viewport protection unit 400 does not decrease. and a control unit that controls at least one of the second driving units (700).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190077093A KR102584726B1 (en) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | laser processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190077093A KR102584726B1 (en) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | laser processing apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210001257A KR20210001257A (en) | 2021-01-06 |
KR102584726B1 true KR102584726B1 (en) | 2023-10-05 |
Family
ID=74128393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190077093A KR102584726B1 (en) | 2019-06-27 | 2019-06-27 | laser processing apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102584726B1 (en) |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101759522B1 (en) * | 2016-01-04 | 2017-07-19 | 주식회사 에스에프에이 | Apparatus for etching glass using laser |
KR101913579B1 (en) * | 2016-12-22 | 2018-11-01 | 삼성디스플레이 주식회사 | Apparatus for etching substrates |
-
2019
- 2019-06-27 KR KR1020190077093A patent/KR102584726B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20210001257A (en) | 2021-01-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11676831B2 (en) | Laser irradiation apparatus, laser irradiation method, and method for manufacturing semiconductor device | |
CN111066123B (en) | Laser irradiation apparatus, laser irradiation method, and semiconductor device manufacturing method | |
JP6968243B2 (en) | Laser irradiation device, laser irradiation method, and manufacturing method of semiconductor device | |
JP2018064048A (en) | Laser irradiation device, laser irradiation method, and method of manufacturing semiconductor device | |
US7651311B2 (en) | Substrate container opener and opener-side door drive mechanism thereof | |
KR102584726B1 (en) | laser processing apparatus | |
CN103904005B (en) | Test and etched substrate multi-function device and include its substrate processing apparatus | |
CN208450851U (en) | Producing line laser scribing device | |
KR101666805B1 (en) | Apparatus for rotating substrate | |
KR100360833B1 (en) | Substrate assembling apparatus | |
KR102584725B1 (en) | laser processing apparatus | |
KR101912732B1 (en) | Apparatus for etching substrates | |
KR102512208B1 (en) | laser processing apparatus | |
KR20150028005A (en) | Dummy glass remover | |
KR102003229B1 (en) | A laser etching machine combined with drilling | |
KR20120113994A (en) | Sputtering apparatus and method for forming thin film using the same | |
KR102296394B1 (en) | Apparatus for etching substrates | |
JP2008084847A (en) | Exhaust hole processing device for display panel | |
KR101727980B1 (en) | Apparatus for dispensing sealant in in flat panel display cell | |
WO2017031785A1 (en) | Repair apparatus for transparent conductive electrode | |
KR101234020B1 (en) | Vacuum processing apparatus using ES-Chuck carrier | |
JP7095166B2 (en) | Laser irradiation device, laser irradiation method, and manufacturing method of semiconductor device | |
KR102153644B1 (en) | Film forming apparatus, mask frame, alignment method | |
KR102243901B1 (en) | Thin film deposition apparatus | |
WO2022163783A1 (en) | Conveyance device, conveyance method, and method for manufacturing semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |