KR102517964B1 - 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 - Google Patents
마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102517964B1 KR102517964B1 KR1020207015212A KR20207015212A KR102517964B1 KR 102517964 B1 KR102517964 B1 KR 102517964B1 KR 1020207015212 A KR1020207015212 A KR 1020207015212A KR 20207015212 A KR20207015212 A KR 20207015212A KR 102517964 B1 KR102517964 B1 KR 102517964B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light emitting
- micro light
- emitting diode
- protrusion
- bridge arm
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 56
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 50
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 20
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 20
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 claims description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 11
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 11
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 8
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 8
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 6
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 claims description 5
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 claims description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 238000002144 chemical decomposition reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 claims description 2
- -1 polydimethylsiloxane Polymers 0.000 claims description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 27
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 235000019557 luminance Nutrition 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000005411 Van der Waals force Methods 0.000 description 1
- 230000003416 augmentation Effects 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
- H01L33/22—Roughened surfaces, e.g. at the interface between epitaxial layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/15—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
- H01L27/153—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
- H01L27/156—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/93—Batch processes
- H01L24/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L24/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0095—Post-treatment of devices, e.g. annealing, recrystallisation or short-circuit elimination
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/50—Wavelength conversion elements
- H01L33/501—Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
- H01L33/502—Wavelength conversion materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/48—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
- H01L33/62—Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/80001—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by connecting a bonding area directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding
- H01L2224/80007—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected by connecting a bonding area directly to another bonding area, i.e. connectorless bonding, e.g. bumpless bonding involving a permanent auxiliary member being left in the finished device, e.g. aids for protecting the bonding area during or after the bonding process
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
- H01L25/0753—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12044—OLED
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
본 발명은 마이크로 발광소자, 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법을 공개했고, 마이크로 발광 소자는 1개 이상의 마이크로 발광다이오드, 마이크로 발광다이오드를 수용하는 오목홈을 구비한 베이스 프레임, 마이크로 발광 다이오드와 베이스 프레임을 연결하기 위한 브릿지 암을 포함하고, 마이크로 발광다이오드의 브릿지 암의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드에 연결된 브릿지 암의 상부 표면에는 돌기를 구비하여, 전사 과정에서 인쇄 스탬프에 의해 브릿지 암이 쉽게 파단되는 마이크로 발광다이오드 전사 문제를 해결하여, 마이크로 발광다이오드의 전사 수율을 향상시킨다.
Description
본 발명은 반도체 제조 분야에 속하며, 구체적으로 마이크로 발광소자, 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법에 관한 것이다.
마이크로 LED(mLED)는 현재 핫한 연구 대상인 차세대 디스플레이 광원이다. 마이크로 LED는 전력소비가 낮고, 휘도가 높으며, 해상도 및 색채 포화도가 매우 높고, 반응속도가 빠르며, 에너지 소모가 낮고, 수명이 긴 등 장점을 가진다. 그밖에, 마이크로 LED의 전력소모량은 LCD의 약 10%, OLED의 약 50%이다. 마찬가지로 자체 발광하는 OLED와 비교하면, 휘도가 30배 높으며, 해상도는 1500PPI(픽셀 밀도)에 달할 수 있다. mLED는 이러한 뚜렷한 장점들로 인해, 시중의 OLED 및 LCD를 대체하여 차세대 디스플레이 광원이 될 수 있다. mLED는 현재 극복해야 할 기술적인 난제가 많아, 대량으로 생산할 수 없으며, 그 중 하나의 중요한 난제는 전사 수율을 향상시키는 것이다.
도 1을 참조하면, 종래의 마이크로 발광소자는 마이크로 발광다이오드를 전사하는 과정에서, 마이크로 발광소자가 일반적으로 발광다이오드(110), 오목홈(120), 기판(131) 및 접합층(132)으로 구성된 베이스 프레임(130), 브릿지 암(140)을 구비하고, 마이크로 발광다이오드가 제1 전극(111), 제2 전극(112) 및 반도체 에피택셜층(113)을 포함하며, 마이크로 발광다이오드(110)의 크기가 너무 작아, 인쇄 스탬프(200)에 대한 정밀도 요구가 높다. 예를 들면 전사 과정에서, 인쇄 스탬프(200)가 압력을 받아 함몰되고, 인쇄 스탬프(200)의 정밀도가 좋지 않은 등의 원인으로 인해, 인쇄 스탬프(200)가 마이크로 발광소자의 브릿지 암(140)에 눌리면서, 도면의 점선 박스 내에 도시된 브릿지 암(140)이 손상되거나 파단되는 문제가 쉽게 발생하여, 마이크로 발광다이오드(110)가 베이스 프레임(130)의 오목홈(120) 내로 떨어지는 등의 이상 상황을 초래하므로, 전사 수율이 낮아지게 된다.
본 발명은 종래 기술의 문제에 대해 실행 가능한 해결 방안을 제공하여, 높은 수율의 마이크로 발광소자의 전사를 실현할 수 있다.
본 발명은 1개 이상의 마이크로 발광다이오드, 마이크로 발광다이오드를 수용하는 오목홈을 구비한 베이스 프레임, 마이크로 발광다이오드와 베이스 프레임을 연결하기 위한 브릿지 암을 포함하고, 브릿지 암은 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 위치하며, 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하고, 돌기 상부가 위치하는 수평면은 브릿지 암의 최고점이 위치하는 수평면보다 높거나, 또는 마이크로 발광다이오드에 연결되는 브릿지 암의 상부 표면에 돌기를 구비하는 마이크로 발광소자를 제공한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 높이는 0.5㎛ ~ 1㎛, 1㎛ ~ 3㎛ 또는 3㎛ ~ 5㎛이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 반도체 에피택셜층을 포함하고, 돌기의 재료는 적어도 반도체 에피택셜층의 성분 중 하나와 동일하다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 재료는 반도체 에피택셜층, 파장변환 재료, 투명절연 재료 또는 이들의 임의의 조합을 포함한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 재료는 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 이산화규소, 질화규소, 실리카 겔, 수지, UV접착제, TiO2 또는 이들의 임의의 조합을 포함한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광소자에 매트릭스 배열된 마이크로 발광다이오드를 구비한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 폭을 가진다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 길이를 가진다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 높이를 가진다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 베이스 프레임은 기판 및 접합층을 포함한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 접합층의 재료는 BCB접착제, 실리카 겔, UV접착제 또는 수지이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 브릿지 암의 재료는 유전체, 금속 또는 반도체 재료이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드의 하부 표면에는 제1 전극 및 제 2전극을 구비한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 플립칩 구조이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 인쇄 스탬프를 통해 전사되어 베이스 프레임과 분리된다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 인쇄 스탬프 재료는 폴리디메틸실록산(PDMS), 실리카 겔, 열분해 접착제 또는 UV접착제이다.
일부 실시예에서, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 서로 다른 높이의 돌기를 구비한다.
일부 실시예에 따르면, 바람직하게는, 서로 다른 높이의 돌기 하측은 서로 다른 발광다이오드이다.
일부 실시예에 따르면, 바람직하게는, 서로 다른 발광다이오드는 서로 다른 크기, 서로 다른 형상, 서로 다른 파장, 서로 다른 휘도 또는 서로 다른 색온도를 가진다.
일부 실시예에서, 바람직하게는, 마이크로 발광 다이오드와 오목홈 사이에 희생 재료를 구비하며, 적어도 특정 상황에서 희생 재료의 제거 효율은 마이크로 발광다이오드보다 높고, 특정 상황은 화학적 분해 또는 물리적 분해를 포함한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 형상은, 사각대, 원통형, 원형대, 원기둥 또는 뿔체이다.
본 발명에서 제공하는 마이크로 발광소자에 의해, 본 발명은 상기 마이크로 발광소자에서 전사 분리된 다이인 마이크로 발광다이오드를 추가로 제공한다.
본 발명은, 적어도 반도체 에피택셜층 및 브릿지 암을 구비하며, 브릿지 암이 상부 표면에 위치하는 마이크로 발광다이오에 있어서, 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드에 연결되는 브릿지 암의 상부 표면에 돌기를 구비하는 마이크로 발광다이오드를 제공한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 높이는 0.5㎛ ~ 1㎛, 1㎛ ~ 3㎛ 또는 3㎛ ~ 5㎛이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 재료는 적어도 반도체 에피택셜층의 성분 중 하나와 동일하다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 재료는 반도체 에피택셜층, 파장변환 재료, 투명절연 재료 또는 이들의 임의의 조합을 포함한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 재료는 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 이산화규소, 질화규소, 실리카 겔, 수지, UV접착제, TiO2 또는 이들의 임의의 조합을 포함한다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 돌기의 형상은 사각대, 원통형, 원형대, 원기둥 또는 뿔체이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 플립칩 구조이다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 폭을 가진다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 길이를 가진다.
본 발명에 따르면, 바람직하게는, 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 높이를 가진다.
본 발명은, 1개 이상의 마이크로 발광다이오드, 마이크로 발광다이오드를 수용하는 오목홈을 구비한 베이스 프레임, 마이크로 발광다이오드와 베이스 프레임을 연결하기 위한 브릿지 암을 포함하고, 마이크로 발광다이오드의 브릿지 암의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드에 연결된 브릿지 암의 상부 표면에 돌기를 구비하는 마이크로 발광소자를 제공하는 단계(1);
인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광소자 상의 마이크로 발광다이오드에 대해 스탬핑을 진행하고, 스탬핑 과정에서, 인쇄 스탬프는 돌기와 접촉하여, 돌기에 압력을 전달하고, 압력을 받으면, 마이크로 발광다이오드는 마이크로 발광소자와 분리되는 단계(2)를 포함하는 마이크로 발광다이오드의 전사 방법을 추가로 제공한다.
본 발명은 적어도 아래와 같은 유익한 효과가 있다.
(1) 마이크로 발광다이오드의 브릿지 암의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드에 연결된 브릿지 암의 상부 표면에는 돌기를 구비하므로, 전사 과정에서 인쇄 스탬프를 누를 때 브릿지 암에 접촉하여 가압함으로 인한 브릿지 암의 손상을 방지할 수 있다.
(2) 돌기의 재료는 반도체 에피택셜층의 성분 중 하나와 동일하며, 예를 들면 반도체 에피택셜층을 통해 돌기를 직접 형성하므로, 돌기의 광 흡수로 인한 광 효율 손실을 감소시킨다.
(3) 마이크로 발광다이오드 상부 표면에 파장변환용 돌기를 제작하면, 디스플레이의 각 파장에 대한 출광 요구를 만족시킬 수 있으며, 또한 상기 돌기의 효과를 일으킬 수 있으므로, 공정 흐름을 단순화한다.
(4) 서로 다른 높이의 돌기 하측은 서로 다른 발광다이오드이므로, 선택적 전사 가능성을 실현한다.
본 발명의 기타 특징 및 장점은 아래에서 상세하게 설명될 것이며, 일부 특징 및 장점은 상세한 설명을 통해 자명해지거나, 또는 본 발명을 실시함으로써 이해하게 될 것이다. 본 발명의 목적 및 기타 장점은 상세한 설명, 청구 범위 및 도면에서 특정한 구조를 통해 실현될 수 있다.
도면은 본 발명에 대한 추가적인 이해를 위해 제공하며, 상세한 설명의 일부분을 구성하며, 본 발명의 실시예와 함께 본 발명을 설명하기 위한 것일 뿐, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 도면의 데이터는 설명의 요약이며, 비율에 따라 그려진 것이 아니다.
도 1은 종래 기술의 마이크로 발광다이오드 전사 과정 개략도이다.
도 2는 실시예 1의 마이크로 발광소자의 개략도이다.
도 3은 실시예 1의 마이크로 발광소자가 인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광다이오드를 전사하는 개략도이다.
도 4는 실시예 1의 마이크로 발광소자의 마이크로 발광다이오드 매트릭스이다.
도 5는 실시예 2의 마이크로 발광소자의 개략도이다.
도 6은 실시예 2의 일부 실시예에서 날개형 구조의 마이크로 발광다이오드를 구비한 마이크로 발광소자의 개략도이다.
도 7은 실시예 4의 마이크로 발광소자가 인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광다이오드를 선택적으로 전사하는 개략도이다.
도 8은 실시예 5의 마이크로 발광다이오드의 개략도이다.
도 9는 실시예 6의 마이크로 발광다이오드의 개략도이다.
도 10은 실시예 6의 일부 실시형태의 마이크로 발광다이오드의 개략도이다.
도 11은 실시예 8의 마이크로 발광다이오드의 전사 개략도이다.
도 1은 종래 기술의 마이크로 발광다이오드 전사 과정 개략도이다.
도 2는 실시예 1의 마이크로 발광소자의 개략도이다.
도 3은 실시예 1의 마이크로 발광소자가 인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광다이오드를 전사하는 개략도이다.
도 4는 실시예 1의 마이크로 발광소자의 마이크로 발광다이오드 매트릭스이다.
도 5는 실시예 2의 마이크로 발광소자의 개략도이다.
도 6은 실시예 2의 일부 실시예에서 날개형 구조의 마이크로 발광다이오드를 구비한 마이크로 발광소자의 개략도이다.
도 7은 실시예 4의 마이크로 발광소자가 인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광다이오드를 선택적으로 전사하는 개략도이다.
도 8은 실시예 5의 마이크로 발광다이오드의 개략도이다.
도 9는 실시예 6의 마이크로 발광다이오드의 개략도이다.
도 10은 실시예 6의 일부 실시형태의 마이크로 발광다이오드의 개략도이다.
도 11은 실시예 8의 마이크로 발광다이오드의 전사 개략도이다.
이하, 도면 및 실시예와 결합하여 본 발명의 실시 방식을 상세히 설명함으로써, 본 발명이 어떻게 기술수단을 응용하여 기술 문제를 해결하고, 기술 효과를 이루는지에 대한 과정을 보여주고자 한다. 설명해야 할 점은, 모순되지 않는 한, 본 발명의 각 실시예 및 각 실시예의 각 특징은 서로 결합될 수 있고, 결합된 기술방안은 모두 본 발명의 보호 범위 내에 있어야 한다.
이해해야 할 것은, 본 발명에서 사용한 용어는 구체적인 실시예를 설명하기 위한 것일 뿐, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 이해해야 할 것은, 본 발명에서 사용된 "포함", "함유"라는 용어는, 설명되는 특징, 전체, 단계, 동작, 소자 및/또는 존재를 설명하기 위한 것이고, 하나 또는 하나 이상의 다른 특징, 전체, 단계, 동작, 소자 및 /또는 이들 조합의 존재 또는 증가를 배제하지 않는다.
다르게 정의되지 않는 한, 본 발명에서 사용되는 모든 용어(기술용어 및 과학 용어 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 본 발명에서 사용되는 용어는, 본 설명서의 문맥 및 관련 분야에서의 이러한 용어의 의미와 일치한 의미를 갖는 것으로 이해되어야 하며, 본 발명에서 명확하게 정의한 것을 제외하고, 이상적이거나 매우 공식적인 의미로 이해되어서는 안 된다.
도 2 ~ 도 4를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에서 제공하는 마이크로 발광소자는, 1개 이상의 마이크로 발광다이오드(110), 마이크로 발광다이오드(110)를 수용하는 오목홈(120)을 구비한 베이스 프레임(130), 마이크로 발광다이오드(100)와 베이스 프레임(130)을 연결하기 위한 브릿지 암(140)을 포함하고, 브릿지 암(140)은 오목홈(120) 개구 방향의 마이크로 발광다이오드(110)의 상부 표면에 위치하며, 브릿지 암(140)의 수량은 1개 이상이며, 베이스 프레임(130)은 기판(131) 및 접합층(132)을 포함하고, 접합층(132)의 재료는 BCB접착제, 실리카 겔, UV접착제 또는 수지이며, 브릿지 암(140)의 재료는 유전체, 금속 또는 반도체 재료이며, 마이크로 발광다이오드(110)는 인쇄 스탬프(200)를 통해 전사되어 베이스 프레임(130)과 분리되며, 인쇄 스탬프(200) 재료는 PDMS, 실리카 겔, 열분해 접착제 또는 UV접착제이다. 어떤 경우에는, 마이크로 발광다이오드(110)와 오목홈(120) 사이에 희생 재료(150)를 구비하며, 적어도 특정 상황에서 희생 재료의 제거 효율은 마이크로 발광다이오드(110)보다 높고, 특정 상황은 자외선 분해, 에칭 제거 또는 충격 제거 등과 같은 화학적 분해 또는 물리적 분해를 포함한다.
마이크로 발광소자 내에 대량의 마이크로 발광다이오드(110)를 수용할 수 있으며, 마이크로 발광다이오드(110)는 예를 들면 매트릭스 배열을 이용한다. 일반적으로, 마이크로 발광다이오드(110)란 폭이 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛이고, 길이가 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛, 높이가 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛인 마이크로 발광다이오드(110)를 의미한다. 본 실시예의 마이크로 발광다이오드(110)의 하부 표면에 제1 전극(111)과 제2 전극(112)을 구비하며, 플립칩 구조를 추천하며, 플립칩 구조를 이용하면, 휘도가 우수하고, 전사 후에도 패키징 접합을 직접 진행할 수 있어, 공정이 단순하다.
마이크로 발광다이오드(110)의 브릿지 암(140)의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암(140)보다 높은 돌기(160)를 구비하며, 본 실시예에서, 돌기(160)의 높이는 0.05㎛ ~ 1㎛, 1㎛ ~ 3㎛ 또는 3㎛ ~ 5㎛으로 설계될 수 있다. 돌기(160)의 재료는 이산화규소, 질화규소 등과 같은 투명 절연 재료를 선택할 수 있다. 돌기(160)의 형상은 사각대, 원통형, 원형대, 원기둥 또는 뿔체일 수 있다. 도 3으로부터 알 수 있듯이, 상기 마이크로 발광소자는 인쇄 스탬프(200)에 대한 제작 요구가 낮으며, 평면형 인쇄 스탬프(200)면 인쇄 작업을 완성할 수 있어, 인쇄 스탬프(200)의 표면 품질로 인한 공정 상의 제한을 벗어나, 종래 기술에 비해 인쇄 스탬프에서 브릿지 암까지의 거리도 보장한다.
제1 실시예의 일부 실시형태에서, 돌기(160)의 재료는 실리카 겔, 수지, UV접착제, TiO2도 포함할 수 있으며, 예를 들어 실리카 겔, 수지 또는 UV접착제에 형광 분말과 같은 파장변환 재료를 혼합하거나, TiO와 같은 반사 재료를 이용하여 광 경로를 변화시킬 수 있다.
도 5를 참고하면, 제2 실시예에서, 제1 실시예의 마이크로 발광다이오드(100)의 상부 표면에 브릿지 암(140)보다 높은 돌기(160)를 구비한 것과의 차이점은, 마이크로 발광다이오드(100)에 연결된 브릿지 암(140)의 상부 표면에 돌기(160)를 구비한다는 점이다.
제2 실시예의 일부 실시형태에서, 마이크로 발광다이오드(110)는 반도체 에피택셜층(113)을 포함하며, 반도체 에피택셜층(113)은 예를 들면 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 또는 버퍼링, 차단, 확장, 응력 조절 등과 같은 기능층을 추가한 것이며, 돌기(160)의 재료는 적어도 반도체 에피택셜층(113)의 성분 중 하나와 동일하다.
도 6을 참고하면, 이러한 실시형태에서, N형 반도체 또는 P형 반도체를 날개형 구조로 제작하고, 상기 날개형 구조는 마이크로 발광다이오드(110)와 베이스 프레임(130)의 연결 브릿지 암(140)으로 사용될 수 있다.
제3 실시예에서, 제1 실시예 및 제2 실시예와의 차이점은, 본 실시예의 돌기(160)는 파장변환 재료를 사용하는 것이며, 상기 실시예의 전사 수율을 향상시키는 기능 외에도, 각 파장의 자유로운 조합을 실현하여, 디스플레이의 컬러 요구를 만족시킬 수 있다.
제1 실시예 ~ 제3 실시예에서, 돌기(160) 재료는 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 이산화규소, 질화규소 또는 이들의 임의의 조합일 수 있다.
도 7을 참고하면, 제4 실시예에서, 다른 실시예와의 주요 차이점은, 마이크로 발광소자는 서로 다른 높이의 돌기를 가진다는 점이다. 서로 다른 높이의 돌기 하측은 서로 다른 규격의 마이크로 발광다이오드(110)에 대응되며, 예를 들면 서로 다른 크기, 서로 다른 형상, 서로 다른 파장, 서로 다른 휘도 또는 서로 다른 색온도를 가질 수 있다.
도8을 참고하면, 제5 실시예에서, 본 발명에서 제공하는 마이크로 발광소자를 통해, 본 발명은 마이크로 발광다이오드(110)를 더 제공하며, 상기 마이크로 발광다이오드(110)는 상기 마이크로 발광소자에서 분리된 다이이다.
본 발명은 마이크로 발광다이오드(110)을 제공하며, 결합 발광을 위한 반도체 에피택셜층(113) 및 브릿지 암(140)을 구비하며, 상기 브릿지 암(140)은 상기 마이크로 발광소자로부터 분리될 때 마이크로 발광다이오드(110) 상에 잔류한 것이고, 브릿지 암(140)은 마이크로 발광다이오드(110)의 상부 표면에 위치하고, 브릿지 암(140)의 수량은 1개 이상이며, 브릿지 암(140)의 재료는 유전체, 금속 또는 반도체 재료이며, 마이크로 발광다이오드(110)는 인쇄 스탬프(200)를 통해 전사되어 베이스 프레임(130)과 분리된다. 마이크로 발광다이오드(110)란 폭이 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛이고, 길이가 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛, 높이가 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛인 마이크로 발광다이오드(110)를 의미한다. 본 실시예의 마이크로 발광다이오드(110)의 하부 표면에 제1 전극(111) 및 제2 전극(112)을 구비하며, 플립칩 구조를 추천한다.
마이크로 발광다이오드(110)의 브릿지 암(140)의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암(140)보다 높은 돌기(160)를 구비하며, 돌기(160)의 높이는 0.5㎛ ~ 1㎛, 1㎛ ~ 3㎛ 또는 3㎛ ~ 5㎛이다. 돌기(160)의 재료는 이산화규소, 질화규소 등과 같은 투명 절연 재료를 선택할 수 있다. 돌기(160)의 형상은 사각대, 원통형, 원형대, 원기둥 또는 뿔체일 수 있다.
제5 실시예의 일부 실시형태에서, 돌기(160)의 재료는 실리카 겔, 수지, UV접착제, TiO2도 포함할 수 있으며, 예를 들어 실리카 겔, 수지 또는 UV접착제에 형광 분말과 같은 파장변환 재료를 혼합하거나, TiO와 같은 반사 재료를 이용하여 광 경로를 변화시킬 수 있다.
도 9를 참고하부 표면, 제6 실시예에서, 제5 실시예의 마이크로 발광다이오드(110)의 상부 표면에 브릿지 암(140)보다 높은 돌기(160)를 구비한 것과의 차이점은, 마이크로 발광다이오드(110)에 연결된 브릿지 암(140)의 상부 표면에 돌기(160)를 구비하고, 상기 브릿지 암(140)의 전체 또는 일부는 전사 후 마이크로 발광다이오드(110) 다이의 표면에 잔류한다는 점이다.
제6 실시예의 일부 실시형태에서, 마이크로 발광다이오드(110)는 반도체 에피택셜층(113)을 포함하며, 반도체 에피택셜층(113)은 예를 들면 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 또는 버퍼링, 차단, 확장, 응력 조절 등과 같은 기능층을 추가한 것이며, 돌기(160)의 재료는 적어도 반도체 에피택셜층(113)의 성분 중 하나와 동일하다.
도 10을 참고하면, 이러한 실시형태에서, N형 반도체 또는 P형 반도체를 날개형 구조로 제작하고, 날개형 구조는 다수개의 돌출부 또는 돌출링을 포함하고, 상기 날개형 구조는 마이크로 발광다이오드(110)와 베이스 프레임(130)의 연결 브릿지 암(140)으로 사용될 수 있다.
제7 실시예에서, 제5 실시예 및 제6 실시예와의 차이점은, 본 실시예의 돌기(160)는 파장변환 재료를 사용하는 것이며, 상기 실시예의 전사 수율을 향상시키는 기능 외에도, 각 파장의 자유로운 조합을 실현하여, 디스플레이의 컬러 요구를 만족시킬 수 있다.
제5 실시예 ~ 제7 실시예에 따르면, 돌기(160) 재료는 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 이산화규소, 질화규소 또는 이들의 임의의 조합일 수 있다.
도11을 참조하면, 제8 실시예에서, 상기 마이크로 발광소자와 마이크로 발광다이오드를 기초로, 본 발명은 마이크로 발광다이오드의 전사 방법을 추가로 제공하며,
1개 이상의 마이크로 발광다이오드(110), 마이크로 발광다이오드(110)를 수용하는 오목홈을 구비한 베이스 프레임(130), 마이크로 발광다이오드(110)와 베이스 프레임(130)을 연결하기 위한 브릿지 암(140)을 포함하고, 마이크로 발광다이오드(110)의 브릿지 암(140)의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암(140)보다 높은 돌기(160)를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드(110)에 연결된 브릿지 암(140)의 상부 표면에 돌기(160)를 구비하는 마이크로 발광소자를 제공하는 단계(1);
인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광소자 상의 마이크로 발광다이오드(110)에 대해 스탬핑을 진행하고, 스탬핑 과정에서, 인쇄 스탬프(200)는 돌기(160)와 접촉하여, 돌기(160)에 압력을 전달하고, 압력을 받으면, 마이크로 발광다이오드(110)는 마이크로 발광소자와 분리되는 단계(2), 상기 단계의 분리는, 브릿지 암(140)의 파단으로 인한 마이크로 발광다이오드(110)와 마이크로 발광소자의 분리, 브릿지 암(140)이 베이스 프레임(130)으로부터 탈락함으로 인한 마이크로 발광다이오드(110)와 마이크로 발광소자의 분리, 마이크로 발광다이오드(110)가 브릿지 암(140)으로부터 탈락함으로 인한 마이크로 발광다이오드(100)와 마이크로 발광소자의 분리, 마이크로 발광다이오드(110)와 브릿지 암(140)의 연결부분의 판단으로 인한 마이크로 발광다이오드(110)와 마이크로 발광소자의 분리 또는 상기 경우들의 임의의 조합으로 인한 분리를 포함함;
인쇄 스탬프(200)와 마이크로 발광다이오드(110) 사이의 반데르발스 힘, 변형 조임력 또는 기타 흡착력을 이용하여, 마이크로 발광다이오드(100)를 패키징 기판에 전사하거나 또는 다른 용도로 사용하는 단계(3)을 포함한다.
도 7을 참고하면, 제9 실시예에서, 마이크로 발광소자를 구비한 서로 다른 높이의 돌기를 이용하여, 선택적으로 마이크로 다이를 대량 전사한다.
본 실시예에서 선택적 전사 방법을 제공하며, 상기 방법에서, 마이크로 발광다이오드(110)의 출광 파장은 청색광 대역이며, 예를 들어 파장은 400 ~ 800nm이며, 청색광 마이크로 발광다이오드는 3부분으로 구분되고, 제1 부분의 청색광 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 절연 재료 돌기(161)를 제조한 다음, 제2 부분의 청색광 마이크로 발광다이오드를 선택하여, 제2 부분의 청색광 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 예를 들면 녹색광 형광층(청색광을 녹색광으로 변환) 등 파장 변환 재료의 돌기(162)를 제작하며, 상기 돌기(162)는 상기 절연 재료 돌기(161)보다 높고, 제3 부분의 청색광 마이크로 발광다이오드(110)의 상부 표면에 예를 들면 적색광 형광층(청색광을 적색광으로 변환) 등 파장 변환 재료의 돌기(163)를 제작하고, 상기 돌기(163)는 상기 절연 재료 돌기(161) 및 녹색광 형광층 돌기(162)보다 높다.
돌기 높이 차이를 이용하여, 인쇄 스탬프(200)는 먼저 적색광 형광층을 가진 마이크로 발광다이오드에 대해 전사를 진행한 다음, 녹색광 형광층을 가진 마이크로 발광다이오드에 대해 전사를 진행하고, 마지막으로 절연 재료 돌기(161)를 가진 청색광 마이크로 발광다이오드에 대해 전사를 진행하면, 공정이 용이한 마이크로 발광다이오드의 선택적 전사를 실현할 수 있다.
제 9 실시예의 일부 실시형태에서, 동일한 규격의 마이크로 발광다이오드에 대해 전사를 진행하는 공정을 더 포함하고, 서로 다른 돌기 높이를 이용하여 선택적으로 일부 마이크로 발광다이오드 다이를 전사한다.
이상은 단지 본 발명의 바람직한 선택적 실시형태일 뿐이고, 이해해야 할 것은, 당업자는 본 발명의 원리를 벗어나지 않는다는 전제하에서, 변경 및 수정할 수 있으며, 이러한 변경 및 수정은 본 발명의 보호 범위 내에 속한다.
110: 마이크로 발광다이오드
111: 제1 전극
112: 제2 전극
113: 반도체 에피택셜층
120: 오목홈
130: 베이스 프레임
131: 기판
132: 접합층
140: 브릿지 암
150: 희생 재료
160 ~ 163: 돌기
200: 인쇄 스탬프
화살표: 인쇄 스탬프의 이동 방향을 나타냄
대괄호: 대표부재의 포함관계
111: 제1 전극
112: 제2 전극
113: 반도체 에피택셜층
120: 오목홈
130: 베이스 프레임
131: 기판
132: 접합층
140: 브릿지 암
150: 희생 재료
160 ~ 163: 돌기
200: 인쇄 스탬프
화살표: 인쇄 스탬프의 이동 방향을 나타냄
대괄호: 대표부재의 포함관계
Claims (34)
- 표면이 구비되는 인쇄 스탬프에 적용되고, 1개 이상의 마이크로 발광다이오드, 마이크로 발광다이오드를 수용하는 오목홈을 구비한 베이스 프레임, 브릿지 암을 포함하는 마이크로 발광소자에 있어서,
각각의 마이크로 발광다이오드는 상부 표면 및 하부 표면을 구비하고, 상기 하부 표면은 제1 전극 및 제2 전극을 구비하고, 상기 브릿지 암은 상기 베이스 프레임의 상기 오목홈 개구 방향의 상기 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 위치하고,
상기 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 상기 마이크로 발광다이오드에 연결되는 브릿지 암의 상부 표면에 돌기를 구비하고, 상기 돌기는 인쇄 스탬프의 표면에 연결되고, 상기 돌기의 재료는 반도체 에피택셜층, 파장변환 재료, 투명절연 재료 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는,
마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 돌기의 높이는 0.5㎛ ~ 1㎛, 1㎛ ~ 3㎛ 또는 3㎛ ~ 5㎛인, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 반도체 에피택셜층을 포함하고, 상기 돌기의 재료는 적어도 반도체 에피택셜층의 성분 중 하나와 동일한, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 돌기의 재료는 반도체 에피택셜층, 파장변환 재료, 투명절연 재료 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 돌기의 재료는 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 이산화규소, 질화규소, 실리카 겔, 수지, UV접착제, TiO2 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
마이크로 발광소자에 매트릭스 배열된 마이크로 발광다이오드를 구비하는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 폭을 가지는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 길이를 가지는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 높이를 가지는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 베이스 프레임은 기판 및 접합층을 포함하는, 마이크로 발광소자. - 제10항에 있어서,
상기 접합층의 재료는 BCB접착제, 실리카 겔, UV접착제 또는 수지인, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 브릿지 암의 재료는 유전체, 금속 또는 반도체 재료인, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드의 하부 표면에는 제1 전극 및 제 2전극을 구비하는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 플립칩 구조인, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 인쇄 스탬프를 통해 전사되어 베이스 프레임과 분리되는, 마이크로 발광소자. - 제15항에 있어서,
상기 인쇄 스탬프 재료는 폴리디메틸실록산(PDMS), 실리카 겔, 열분해 접착제 또는 UV접착제인, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광소자는 서로 다른 높이의 돌기를 구비하는, 마이크로 발광소자. - 제17항에 있어서,
서로 다른 높이의 돌기 하측은 서로 다른 발광다이오드인, 마이크로 발광소자. - 제17항에 있어서,
서로 다른 발광다이오드는 서로 다른 크기, 서로 다른 형상, 서로 다른 파장, 서로 다른 휘도 또는 서로 다른 색온도를 가지는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 마이크로 발광 다이오드와 오목홈 사이에 희생 재료를 구비하며, 적어도 특정 상황에서 희생 재료의 제거 효율은 마이크로 발광다이오드보다 높고, 특정 상황은 화학적 분해 또는 물리적 분해를 포함하는, 마이크로 발광소자. - 제1항에 있어서,
상기 돌기의 형상은 사각대, 원통형, 원형대, 원기둥 또는 뿔체인, 마이크로 발광소자. - 반도체 에피택셜층을 구비하는 마이크로 발광다이오드에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 제1항 내지 제21항 중 어느 한 항에 따른 마이크로 발광소자에서 전사 분리된 다이인,
마이크로 발광다이오드. - 표면을 구비하는 인쇄 스탬프에 적용되고, 오목홈을 구비하는 베이스 프레임에 적용되며, 적어도 반도체 에피택셜층 및 브릿지 암을 구비하는 마이크로 발광다이오드에 있어서,
각각의 마이크로 발광다이오드는 상부 표면 및 하부 표면을 구비하고, 상기 하부 표면은 제1 전극과 제2 전극을 구비하고 상기 브릿지 암은 상기 베이스 프레임의 상기 오목홈 개구 방향에 적용되는 상기 마이크로 발광다이오드의 상부 표면에 위치하고 반도체 에피텍셜층에 일체로 연결되고, 또한 상기 베이스 프레임에 연결되고,
상기 마이크로 발광다이오드의 상부 표면은 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드에 연결되는 브릿지 암의 상부 표면에 돌기를 구비하고, 상기 돌기는 인쇄 스탬프의 표면에 연결되는, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 돌기의 높이는 0.5㎛ ~ 1㎛, 1㎛ ~ 3㎛ 또는 3㎛ ~ 5㎛인, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 돌기의 재료는 적어도 반도체 에피택셜층의 성분 중 하나와 동일한, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 돌기의 재료는 반도체 에피택셜층, 파장변환 재료, 투명절연 재료 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 돌기의 재료는 N형 반도체, 다중 양자 우물, P형 반도체, 이산화규소, 질화규소, 실리카 겔, 수지, UV접착제, TiO2 또는 이들의 임의의 조합을 포함하는, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 돌기의 형상은 사각대, 원통형, 원형대, 원기둥 또는 뿔체인, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 플립칩 구조인, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 폭을 가지는, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 길이를 가지는, 마이크로 발광다이오드. - 제23항에 있어서,
상기 마이크로 발광다이오드는 2㎛ ~ 5㎛, 5㎛ ~ 10㎛, 10㎛ ~ 20㎛, 20㎛ ~ 50㎛ 또는 50㎛ ~ 100㎛의 높이를 가지는, 마이크로 발광다이오드. - 1개 이상의 마이크로 발광다이오드, 마이크로 발광다이오드를 수용하는 오목홈을 구비한 베이스 프레임, 마이크로 발광다이오드와 베이스 프레임을 연결하기 위한 브릿지 암을 포함하고, 마이크로 발광다이오드의 브릿지 암의 일측에 위치한 상부 표면에 브릿지 암보다 높은 돌기를 구비하거나 또는 마이크로 발광다이오드에 연결된 브릿지 암의 상부 표면에 돌기를 구비하는 마이크로 발광소자를 제공하는 단계(1); 및
인쇄 스탬프를 통해 마이크로 발광소자 상의 마이크로 발광다이오드에 대해 스탬핑을 진행하고, 스탬핑 과정에서, 인쇄 스탬프의 표면은 돌기 상측과 접촉하여, 돌기에 압력을 전달하고, 압력을 받으면, 마이크로 발광다이오드는 마이크로 발광소자와 분리되는 단계(2)
를 포함하는 마이크로 발광다이오드의 전사 방법. - 제33항에 있어서,
상기 마이크로 발광소자는 서로 다른 높이의 돌기를 가지는, 마이크로 발광다이오드의 전사 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020237011041A KR102586192B1 (ko) | 2018-03-20 | 2018-04-28 | 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810229801.3 | 2018-03-20 | ||
CN201810229801.3A CN108364971B (zh) | 2018-03-20 | 2018-03-20 | 微发光元件、微发光二极管及其转印方法 |
PCT/CN2018/085133 WO2019178920A1 (zh) | 2018-03-20 | 2018-04-28 | 微发光元件、微发光二极管及其转印方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020237011041A Division KR102586192B1 (ko) | 2018-03-20 | 2018-04-28 | 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20200068742A KR20200068742A (ko) | 2020-06-15 |
KR102517964B1 true KR102517964B1 (ko) | 2023-04-03 |
Family
ID=63000634
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020207015212A KR102517964B1 (ko) | 2018-03-20 | 2018-04-28 | 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 |
KR1020237011041A KR102586192B1 (ko) | 2018-03-20 | 2018-04-28 | 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020237011041A KR102586192B1 (ko) | 2018-03-20 | 2018-04-28 | 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US11424385B2 (ko) |
JP (2) | JP7194183B2 (ko) |
KR (2) | KR102517964B1 (ko) |
CN (3) | CN108364971B (ko) |
TW (1) | TWI709252B (ko) |
WO (1) | WO2019178920A1 (ko) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI707491B (zh) | 2019-12-04 | 2020-10-11 | 錼創顯示科技股份有限公司 | 微型發光二極體顯示面板 |
CN110998878B (zh) * | 2019-03-19 | 2022-11-22 | 厦门市三安光电科技有限公司 | 一种半导体发光组件 |
JP7154371B2 (ja) * | 2019-03-25 | 2022-10-17 | 廈門市三安光電科技有限公司 | マイクロ発光デバイス、マイクロ発光ダイオード及びマイクロ発光ダイオードの転写方法 |
CN112750935B (zh) * | 2020-12-31 | 2022-03-15 | 深圳市思坦科技有限公司 | 一种led芯片及其制作方法 |
CN113451352B (zh) * | 2021-08-31 | 2021-12-28 | 深圳市思坦科技有限公司 | 芯片弱化结构及其制作方法、巨量转移方法、显示面板 |
CN116053361A (zh) * | 2021-10-28 | 2023-05-02 | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 | 转移基板、制备方法和led芯片的巨量转移方法 |
CN114300500B (zh) * | 2021-12-20 | 2024-09-03 | Tcl华星光电技术有限公司 | Micro LED芯片组件、显示面板及制造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150348926A1 (en) * | 2011-06-08 | 2015-12-03 | Semprius, Inc. | Methods for surface attachment of flipped active components |
Family Cites Families (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1983649A (zh) * | 2005-12-13 | 2007-06-20 | 北京大学 | 光子晶体和织构化薄膜转印提高led出光效率的方法 |
KR100695169B1 (ko) * | 2006-01-11 | 2007-03-14 | 삼성전자주식회사 | 평판표시장치 |
CN101207169B (zh) * | 2006-12-19 | 2010-05-19 | 南茂科技股份有限公司 | 发光芯片封装体与光源组件 |
US7923746B2 (en) * | 2008-03-12 | 2011-04-12 | Industrial Technology Research Institute | Light emitting diode package structure and method for fabricating the same |
JP2010135746A (ja) * | 2008-10-29 | 2010-06-17 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 半導体発光素子およびその製造方法、発光装置 |
JP2011060966A (ja) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 発光装置 |
WO2011129320A1 (ja) * | 2010-04-13 | 2011-10-20 | コニカミノルタオプト株式会社 | 発光装置及びその製造方法 |
CN102903804B (zh) * | 2011-07-25 | 2015-12-16 | 财团法人工业技术研究院 | 发光元件的转移方法以及发光元件阵列 |
US9105714B2 (en) * | 2012-12-11 | 2015-08-11 | LuxVue Technology Corporation | Stabilization structure including sacrificial release layer and staging bollards |
US9111464B2 (en) * | 2013-06-18 | 2015-08-18 | LuxVue Technology Corporation | LED display with wavelength conversion layer |
US9087764B2 (en) * | 2013-07-26 | 2015-07-21 | LuxVue Technology Corporation | Adhesive wafer bonding with controlled thickness variation |
US9761754B2 (en) * | 2014-06-18 | 2017-09-12 | X-Celeprint Limited | Systems and methods for preparing GaN and related materials for micro assembly |
US9698308B2 (en) * | 2014-06-18 | 2017-07-04 | X-Celeprint Limited | Micro assembled LED displays and lighting elements |
US20160064630A1 (en) * | 2014-08-26 | 2016-03-03 | Texas Instruments Incorporated | Flip chip led package |
US11894350B2 (en) * | 2014-10-31 | 2024-02-06 | e Lux, Inc. | Fluidic assembly enabled mass transfer for microLED displays |
US10643981B2 (en) * | 2014-10-31 | 2020-05-05 | eLux, Inc. | Emissive display substrate for surface mount micro-LED fluidic assembly |
US9825202B2 (en) * | 2014-10-31 | 2017-11-21 | eLux, Inc. | Display with surface mount emissive elements |
US10804426B2 (en) * | 2014-10-31 | 2020-10-13 | ehux, Inc. | Planar surface mount micro-LED for fluidic assembly |
US9640715B2 (en) * | 2015-05-15 | 2017-05-02 | X-Celeprint Limited | Printable inorganic semiconductor structures |
TWI557831B (zh) * | 2015-05-15 | 2016-11-11 | 友達光電股份有限公司 | 微組件的傳送方法 |
EP3248226B1 (en) * | 2015-11-04 | 2020-02-26 | Goertek Inc. | Micro-led transferring method and manufacturing method of micro-led device |
KR20170059068A (ko) * | 2015-11-19 | 2017-05-30 | 삼성전자주식회사 | 광원 모듈, 디스플레이 패널 및 이를 구비한 디스플레이 장치 |
JP2017183462A (ja) * | 2016-03-30 | 2017-10-05 | ソニー株式会社 | 発光素子 |
CN107437523B (zh) * | 2016-05-26 | 2020-01-31 | 群创光电股份有限公司 | 拾取与放置装置及其作动方法 |
US9997501B2 (en) * | 2016-06-01 | 2018-06-12 | X-Celeprint Limited | Micro-transfer-printed light-emitting diode device |
CN106229326B (zh) * | 2016-07-22 | 2019-03-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 转印微发光二极管的方法及显示面板的制作方法 |
US10044873B2 (en) * | 2016-08-15 | 2018-08-07 | Opentv, Inc. | Mute alert |
US11024608B2 (en) * | 2017-03-28 | 2021-06-01 | X Display Company Technology Limited | Structures and methods for electrical connection of micro-devices and substrates |
CN106941108B (zh) * | 2017-05-23 | 2019-09-17 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 微发光二极管显示面板及其制作方法 |
CN107170771B (zh) * | 2017-05-23 | 2019-12-24 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 微发光二极管阵列基板的封装结构及其封装方法 |
CN108231968B (zh) * | 2017-12-11 | 2020-02-11 | 厦门市三安光电科技有限公司 | 微发光二极管及其转移方法 |
JP7194138B2 (ja) | 2019-03-25 | 2022-12-21 | ヤンマーパワーテクノロジー株式会社 | 苗縦送り機構 |
US11355686B2 (en) * | 2019-03-29 | 2022-06-07 | Seoul Semiconductor Co., Ltd. | Unit pixel having light emitting device, pixel module and displaying apparatus |
-
2018
- 2018-03-20 CN CN201810229801.3A patent/CN108364971B/zh active Active
- 2018-03-20 CN CN202110228310.9A patent/CN112786642B/zh active Active
- 2018-03-20 CN CN202110228326.XA patent/CN112786643B/zh active Active
- 2018-04-28 KR KR1020207015212A patent/KR102517964B1/ko active IP Right Grant
- 2018-04-28 KR KR1020237011041A patent/KR102586192B1/ko active IP Right Grant
- 2018-04-28 JP JP2020526218A patent/JP7194183B2/ja active Active
- 2018-04-28 WO PCT/CN2018/085133 patent/WO2019178920A1/zh active Application Filing
-
2019
- 2019-03-07 TW TW108107566A patent/TWI709252B/zh active
-
2020
- 2020-09-17 US US17/024,391 patent/US11424385B2/en active Active
-
2022
- 2022-08-12 US US17/819,406 patent/US12040430B2/en active Active
- 2022-12-09 JP JP2022196999A patent/JP7493019B2/ja active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150348926A1 (en) * | 2011-06-08 | 2015-12-03 | Semprius, Inc. | Methods for surface attachment of flipped active components |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2021504937A (ja) | 2021-02-15 |
CN112786642A (zh) | 2021-05-11 |
US20210005782A1 (en) | 2021-01-07 |
CN108364971B (zh) | 2021-03-30 |
JP7493019B2 (ja) | 2024-05-30 |
US12040430B2 (en) | 2024-07-16 |
KR20200068742A (ko) | 2020-06-15 |
KR20230047518A (ko) | 2023-04-07 |
CN112786642B (zh) | 2023-08-11 |
US11424385B2 (en) | 2022-08-23 |
WO2019178920A1 (zh) | 2019-09-26 |
JP7194183B2 (ja) | 2022-12-21 |
CN112786643B (zh) | 2023-06-13 |
KR102586192B1 (ko) | 2023-10-05 |
CN112786643A (zh) | 2021-05-11 |
TWI709252B (zh) | 2020-11-01 |
TW201941453A (zh) | 2019-10-16 |
CN108364971A (zh) | 2018-08-03 |
JP2023022313A (ja) | 2023-02-14 |
US20220384678A1 (en) | 2022-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102517964B1 (ko) | 마이크로 발광다이오드 및 그 전사 방법 | |
US10692844B2 (en) | Micro-transfer printed LED and color filter structures | |
US10679974B2 (en) | Display device having multiple pixels in a substrate groove | |
JP6290389B2 (ja) | 波長変換層を有するledディスプレイ | |
WO2017150257A1 (ja) | 表示装置及びその製造方法、並びに発光装置及びその製造方法 | |
US10319878B2 (en) | Stratified quantum dot phosphor structure | |
KR101068866B1 (ko) | 파장변환시트 및 이를 이용한 발광장치 | |
US8557619B2 (en) | Light emitting diode display and method of manufacturing the same | |
KR20180090006A (ko) | 발광 다이오드 유닛 | |
US12107205B2 (en) | Method for manufacturing display device using semiconductor light-emitting elements and display device | |
KR101259122B1 (ko) | 수직형 발광 소자 및 그 제조 방법 | |
KR20090034412A (ko) | 발광 칩 및 이의 제조 방법 | |
KR20160038094A (ko) | 발광 다이오드의 색변환용 기판 및 그 제조방법 | |
CN113540318A (zh) | 一种波长转换器件及其制作方法、背光源 | |
CN216389361U (zh) | Led芯片封装结构及led显示装置 | |
WO2019148680A1 (zh) | 微发光装置的键合治具、键合设备及其键合方法 | |
CN215987950U (zh) | 一种Micro LED单色显示屏 | |
KR20080010225A (ko) | 발광 소자 및 그 제조방법 | |
Dawson | AlInGaN Micro-Pixel Light Emitting Diodes: Novel Sources for Displays, Instrumentation, Communications and Hybrid Inorganic/Organic Optoelectronics | |
KR20180074959A (ko) | Led 모듈 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
A107 | Divisional application of patent | ||
GRNT | Written decision to grant |