KR102477553B1 - Probe pin block for display panel test - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것으로, 특히 프로브 핀을 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립 후 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정하고, 잠금키 해제 후에는 프로브 핀을 개별적으로 교체할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin block for inspecting a display panel, and in particular, a display in which probe pins are assembled to a block base in a sliding insertion manner, locked and fixed with a detachable lock key, and the probe pins can be individually replaced after the lock key is released. It relates to a probe pin block for panel inspection.

Description

디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록{PROBE PIN BLOCK FOR DISPLAY PANEL TEST}Probe pin block for display panel inspection {PROBE PIN BLOCK FOR DISPLAY PANEL TEST}

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프로브 핀을 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립 후 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정하고, 잠금키 해제 후에는 프로브 핀을 개별적으로 교체할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin block for inspecting a display panel, and more particularly, probe pins are assembled to a block base in a sliding insertion manner, locked and fixed with a detachable lock key, and after releasing the lock key, the probe pins can be individually replaced. It relates to a probe pin block for display panel inspection that can be used.

일반적으로 LCD나 OLED와 같은 디스플레이 패널은 검사 프로브(test probe)를 데이터 라인이나 전원 라인의 전극(단자)에 접촉하여 테스트 신호를 인가함으로써 제품이 양호한지 혹은 불량한지에 대한 검사를 진행한다.In general, display panels such as LCDs and OLEDs test whether a product is good or bad by applying a test signal by bringing a test probe into contact with an electrode (terminal) of a data line or power line.

검사는 디스플레이 패널의 전극에 접촉되는 프로브 블록이 전단부에 장착된 프로브 유닛에 의해 진행되는데, 프로브 블록에는 전극 수에 대응하는 다수개의 프로브 핀이 구비되어 있어서 픽셀 양부 등의 검사를 진행할 수 있게 한다.Inspection is performed by a probe unit mounted on the front end of a probe block that contacts the electrodes of the display panel. The probe block is equipped with a plurality of probe pins corresponding to the number of electrodes, allowing inspection of pixel quality, etc. .

예컨대, 도 1과 같이 프로브 유닛(10)은 디스플레이 패널(20)에 인접하여 이상 유무를 검사한다. 이때, 프로브 유닛(10)은 테스트 신호를 전극에 인가하고, 그에 따른 출력 신호를 전달받아 검사 시스템으로 전달한다.For example, as shown in FIG. 1 , the probe unit 10 is adjacent to the display panel 20 and inspects whether there is an abnormality. At this time, the probe unit 10 applies the test signal to the electrode, receives the resulting output signal, and transfers it to the inspection system.

도 2는 프로브 유닛(10)의 사시도이다. 도시된 바와 같이 디스플레이 패널(20)을 검사하는 프로브 유닛(10)은 일반적으로 프로브 블록(12), PCB부(16), 및 헤드 블록(14)을 포함한다.2 is a perspective view of the probe unit 10 . As shown, the probe unit 10 for inspecting the display panel 20 generally includes a probe block 12, a PCB unit 16, and a head block 14.

여기서, 프로브 블록(12)은 디스플레이 패널(20)의 전극에 탐침을 접촉시켜 테스트 신호를 인가하고 그에 따른 출력 신호를 검출하는 것으로, PCB부(16)에서 수신된 테스트 신호를 전달받는다.Here, the probe block 12 applies a test signal by bringing a probe into contact with an electrode of the display panel 20 and detects an output signal accordingly, and receives the test signal received from the PCB unit 16 .

헤드 블록(14)은 프로브 블록(12)의 탐침이 적당한 물리적 압력으로 디스플레이 패널(20)의 전극과 접촉하도록 프로브 블록(12)을 상하로 이동시키거나 일정 위치에 고정시킨다.The head block 14 moves the probe block 12 up and down or fixes it in a certain position so that the probe of the probe block 12 contacts the electrode of the display panel 20 with appropriate physical pressure.

PCB부(16)는 디스플레이 패널(20)의 각 셀(cell)에 대한 검사를 위한 테스트 신호를 생성 혹은 전송하며, 일 예로 신호케이블에 해당하는 필름(18)을 매개로 프로브 블록(12)에 전달한다.The PCB unit 16 generates or transmits a test signal for inspection of each cell of the display panel 20, and for example, the probe block 12 via a film 18 corresponding to a signal cable. convey

그런데, 디스플레이 패널에는 고밀도의 미세 전극이 다수개 구비되어 있기 때문에 이에 접촉하여 검사를 진행하기 위한 프로브 블록에도 다수의 프로브 핀이 고밀도로 배치된다.However, since the display panel is provided with a plurality of high-density microelectrodes, a plurality of probe pins are also disposed at a high density in a probe block for conducting an inspection by contacting the microelectrodes.

따라서, 프로브 블록의 제작 과정에서 일부 프로브 핀에 불량이 발생한 경우나, 프로브 블록으로 검사를 반복 진행함에 따라 마모나 불량이 발생하여 교체가 필요한 경우 프로브 블록 전체를 교체해야 하는 문제가 있었다.Therefore, when defects occur in some probe pins during the manufacturing process of the probe block or when replacement is required due to wear or defect due to repeated inspections with the probe block, there is a problem in that the entire probe block needs to be replaced.

또한, 프로브 블록 전체를 교체하지 않고, 이상이 발생한 일부의 프로브 핀만을 교체할 수 있는 경우에도 프로브 핀을 교체하는 단계가 복잡하여 오랜 시간이 걸리거나 교체가 어렵다는 문제가 있었다.In addition, even when only a part of the probe pins with an error can be replaced without replacing the entire probe block, the process of replacing the probe pins is complicated and takes a long time or is difficult to replace.

대한민국 등록특허 제10-1152181호Republic of Korea Patent No. 10-1152181 대한민국 등록특허 제10-0854757호Republic of Korea Patent No. 10-0854757

본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 프로브 핀을 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립 후 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정하고, 잠금키 해제 후에는 프로브 핀을 개별적으로 교체할 수 있는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록을 제공하고자 한다.The present invention is to solve the above-mentioned problems, and after assembling probe pins in a sliding insertion method on a block base, locking and fixing them with a detachable lock key, and after releasing the lock key, a display panel in which the probe pins can be individually replaced. It is intended to provide a probe pin block for inspection.

이를 위해, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록은 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부를 구비한 프로브 핀과; 상기 프로브 핀이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯과 상기 걸림부가 노출되도록 잠금홈을 구비한 블록 베이스; 및 상기 잠금홈 내에 탈착 가능하게 조립되며, 일단이 상기 걸림부에 밀착되어 상기 프로브 핀을 고정시키는 잠금키;를 포함하여, 상기 잠금키를 탈착 후 상기 프로브 핀을 상기 블록 베이스로부터 인출할 수 있도록 구성된 것을 특징으로 한다.To this end, a probe pin block for inspecting a display panel according to the present invention is made of a conductive material, and includes a probe pin having a probe part in contact with an inspection target and a hooking part protruding at least one place; a block base having a slot into which the probe pin is inserted and assembled in a sliding manner and a locking groove to expose the locking portion; and a lock key detachably assembled in the lock groove and having one end in close contact with the locking part to fix the probe pin, so that the probe pin can be withdrawn from the block base after detaching the lock key. characterized in that it consists of

이때, 상기 블록 베이스의 슬롯은 상기 프로브 핀이 인입되는 제1 슬롯; 및 상기 제1 슬롯에 인입된 프로브 핀을 상기 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯;을 포함하는 것이 바람직하다.At this time, the slot of the block base includes a first slot into which the probe pin is inserted; and a second slot for moving the probe pin retracted into the first slot in a direction diverted from the retracting direction.

또한, 상기 제1 슬롯은 직선 방향으로 형성되고, 상기 제2 슬롯은 상기 제1 슬롯에 대해 직교하는 방향으로 형성되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the first slot is formed in a straight direction, and the second slot is formed in a direction orthogonal to the first slot.

또한, 상기 블록 베이스의 잠금홈은 다수의 프로브 핀에 각각 구비되어 있는 걸림부가 모두 노출되도록 상기 블록 베이스의 길이 방향을 따라 연속하여 형성되어 있는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the locking grooves of the block base are continuously formed along the longitudinal direction of the block base so that all hooking parts provided in each of the plurality of probe pins are exposed.

상기 블록 베이스의 잠금홈은 상기 걸림부의 옆에 상기 잠금키가 삽입되는 공간을 형성하여, 상기 잠금키의 일단은 상기 걸림부에 밀착되고 타단은 상기 잠금홈의 내측벽에 밀착되는 것이 바람직하다.Preferably, the locking groove of the block base forms a space next to the locking part into which the locking key is inserted, so that one end of the locking key is in close contact with the locking part and the other end is in close contact with the inner wall of the locking groove.

또한, 상기 잠금키는 상기 프로브 핀을 탄성 가압하도록 탄성체로 구성되는 것이 바람직하다.In addition, the locking key is preferably composed of an elastic body to elastically press the probe pin.

이상과 같은 본 발명은 블록 베이스에 슬라이딩 삽입 방식으로 조립된 프로브 핀을 탈착 가능한 잠금키로 잠궈 고정한다. 따라서, 잠금키 해제 후에는 각각의 프로브 핀이 슬라이딩 인출이 가능한 상태가 되므로, 편리하면서도 빠르게 프로브 핀을 교체할 수 있게 한다.As described above, the present invention locks and fixes the probe pin assembled in the sliding insertion method to the block base with a detachable lock key. Therefore, after the lock key is released, each probe pin can be slid and withdrawn, so that the probe pin can be replaced conveniently and quickly.

도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유닛을 나타낸 평면도이다.
도 2는 종래 기술에 따른 프로브 유닛을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 프로브 핀과 블록 베이스를 나타낸 정단면도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 조립 상태도이다.
도 6은 상기 도 5의 블록 베이스를 나타낸 사시도이다.
도 7은 본 발명의 제1 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록의 분해 순서도이다.
도 8은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 사시도이다.
도 9는 본 발명의 제2 실시예에 따른 프로브 핀과 블록 베이스를 나타낸 정단면도이다.
도 10은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록을 나타낸 조립 상태도이다.
도 11은 본 발명의 제2 실시예에 따른 검사용 프로브 핀 블록의 분해 순서도이다.1 is a plan view showing a probe unit according to the prior art.
2 is a perspective view showing a probe unit according to the prior art.
3 is a perspective view illustrating a probe pin block for inspection according to a first embodiment of the present invention.
4 is a front cross-sectional view showing a probe pin and a block base according to a first embodiment of the present invention.
5 is an assembly state diagram showing a probe pin block for inspection according to a first embodiment of the present invention.
6 is a perspective view showing the block base of FIG. 5;
7 is an exploded flowchart of the probe pin block for inspection according to the first embodiment of the present invention.
8 is a perspective view illustrating a probe pin block for inspection according to a second embodiment of the present invention.
9 is a front cross-sectional view showing a probe pin and a block base according to a second embodiment of the present invention.
10 is an assembled state diagram showing a probe pin block for inspection according to a second embodiment of the present invention.
11 is an exploded sequence diagram of a probe pin block for inspection according to a second embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, a probe pin block for inspecting a display panel according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 LCD나 OLED와 같은 디스플레이 패널에 구비되어 있는 데이터나 전원 라인 등의 전극(혹은 단자)에 접촉되어 테스트 신호를 인가하고 시험을 진행한다.The probe pin block 100 for inspecting a display panel according to the present invention contacts an electrode (or terminal) of a data or power line provided in a display panel such as an LCD or OLED to apply a test signal and conduct a test.

이를 위해, 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 프로브 핀(110)과, 블록 베이스(120) 및 잠금키(130)를 포함하며, TCP 회로기판이나 입출력 터미널과 같은 필수 구성들을 더 포함할 수 있다.To this end, the probe pin block 100 for inspecting the display panel includes a probe pin 110, a block base 120, and a lock key 130, and may further include essential components such as a TCP circuit board or an input/output terminal. can

이러한 구성에서 본 발명은 고밀도의 디스플레이 패널 전극에 대응하여 적어도 하나 이상, 바람직하게는 다수개의 프로브 핀(110)을 블록 베이스(120)에 조립 후, 잠금키(130)를 이용하여 프로브 핀(110)들을 고정시킨다.In this configuration, the present invention assembles at least one, preferably a plurality of probe pins 110 corresponding to the high-density display panel electrodes to the block base 120, and then uses the lock key 130 to assemble the probe pins 110. ) are fixed.

특히, 프로브 핀(110)은 블록 베이스(120)에 형성된 슬롯(121)들에 각각 슬라이딩 방식으로 삽입 조립된 후 슬라이딩 이동을 제한하는 위치에 잠금키(130)를 끼워 고정하며, 교체시에는 잠금키(130)를 해제한 후 필요한 프로브 핀(110)만을 밀어 탈착시킬 수 있게 한다.In particular, the probe pin 110 is inserted and assembled into the slots 121 formed on the block base 120 in a sliding manner, and then the lock key 130 is inserted and fixed at a position to restrict the sliding movement, and when replaced, the lock is locked. After releasing the key 130, only necessary probe pins 110 can be pushed and detached.

<실시예 1><Example 1>

도 3과 같이, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 실시예로서 일측에 조립된 커버(CV)에 의해 보호되며, 회로기판을 구비하며 신호케이블(DL)을 통해 테스트 신호를 입력받는다. 또한 검사를 위해 프로브 핀(110)과, 블록 베이스(120) 및 잠금키(130)를 포함한다.As shown in FIG. 3, the probe pin block 100 for inspecting a display panel of the present invention is protected by a cover (CV) assembled on one side as an embodiment, has a circuit board, and transmits a test signal through a signal cable (DL). receive input It also includes a probe pin 110, a block base 120 and a lock key 130 for inspection.

여기서, 프로브 핀(110)은 디스플레이 패널의 전극(혹은 단자)에 접촉하여 테스트 신호를 인가할 수 있도록 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부(111)와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부(112)를 구비한다.Here, the probe pin 110 is made of a conductive material to apply a test signal by contacting the electrode (or terminal) of the display panel, and protrudes at least one point from the probe part 111 in contact with the test target. A hooking portion 112 is provided.

도 4와 같이, 탐침부(111)는 전극에 접촉하는 것으로 전방부에서 하측으로 연장되며, 보통은 단부가 뾰족함 탐침 형상을 갖는다.As shown in Figure 4, the probe portion 111 is in contact with the electrode and extends downward from the front portion, and usually has a tipped tip shape.

걸림부(112)는 상기 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 이루어지는 부분으로 프로브 핀(110)의 상부에 돌출되며, 일 예로 프로브 핀(110)의 길이 방향을 따라 2개가 이격 형성된다.The hooking part 112 is a part that is engaged by the locking key 130 and protrudes from the top of the probe pin 110. For example, two are spaced apart from each other along the length direction of the probe pin 110.

이러한 걸림부(112)는 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 일어날 수 있으면 다양한 형상으로 이루어질 수 있으며, 도 5와 같이 'ㄱ'자 형상으로 이루어진 걸림부(112)는 그 후방측 수직면과 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내측벽 사이에 잠금키(130)가 끼워진다.The locking portion 112 may be formed in various shapes as long as the locking action can occur by the locking key 130, and as shown in FIG. The lock key 130 is inserted between the inner wall of the lock groove 122 of the base 120.

이러한 프로브 핀(110)의 후방부에는 기판 접촉부(113)가 구비될 수 있다. 기판 접촉부(113)는 프로브 핀(110)의 후방측 단부에서 상측으로 연장됨에 따라 회로기판의 패드 등에 접촉되어 테스트 신호 등을 입력받는다.A substrate contact portion 113 may be provided at a rear portion of the probe pin 110 . As the substrate contact portion 113 extends upward from the rear end of the probe pin 110, it contacts a pad of the circuit board to receive a test signal or the like.

블록 베이스(120)는 핀 블록의 몸체를 구성하는 것으로 절연성 재질로 이루어지며, 상술한 프로브 핀(110)이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯(slot, 121)과 상기 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)을 구비한다.The block base 120 constituting the body of the pin block is made of an insulating material, and the slot 121 into which the above-described probe pin 110 is inserted and assembled in a sliding manner and the engaging portion 112 are exposed. A locking groove 122 is provided.

이때, 잠금홈(122)은 슬롯(121)의 일측(삽입 방향 단부)에 연결되거나 슬롯(121)의 일부분에 잠금홈(122)을 형성한다. 따라서, 슬롯(121)을 통해 삽입 조립된 프로브 핀(110)은 그 걸림부(112)가 잠금홈(122) 내에 위치하게 된다.At this time, the locking groove 122 is connected to one side (insertion direction end) of the slot 121 or forms the locking groove 122 on a part of the slot 121 . Accordingly, in the probe pin 110 inserted and assembled through the slot 121, the hooking portion 112 is positioned within the locking groove 122.

도 6과 같이, 블록 베이스(120)에 형성된 슬롯(121)은 프로브 핀(110)이 인입되는 제1 슬롯(121-S1) 및 상기 제1 슬롯(121-S1)에 인입된 프로브 핀(110)을 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯(121-S2)을 포함한다.As shown in FIG. 6, the slot 121 formed in the block base 120 includes a first slot 121-S1 into which the probe pin 110 is inserted and a probe pin 110 inserted into the first slot 121-S1. ) to a direction diverted from the inlet direction.

바람직하게 제1 슬롯(121-S1)은 직선 방향으로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)에 대해 직교하는 방향으로 형성되는데, 예컨대 제1 슬롯(121-S1)은 하단에서 직상부로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)의 상단에서 전방측으로 형성된다.Preferably, the first slot 121-S1 is formed in a straight line direction, and the second slot 121-S2 is formed in a direction orthogonal to the first slot 121-S1. S1) is formed from the lower end to the upper part, and the second slot 121-S2 is formed from the upper end of the first slot 121-S1 to the front side.

따라서, 프로브 핀(110)은 블록 베이스(120)의 하단에서 제1 슬롯(121-S1)을 통해 인입되고, 제1 슬롯(121-S1)의 단부까지 이동 후에는 제2 슬롯(121-S2)을 따라 전방측으로 방향을 전환하여 조립이 이루어지게 된다.Therefore, the probe pin 110 is inserted from the bottom of the block base 120 through the first slot 121-S1, and after moving to the end of the first slot 121-S1, the second slot 121-S2 ), the assembly is performed by changing the direction to the front side.

조립 후에는 잠금키(130)에 의해 이동이 제한되도록 고정되는데, 조립 상태에서 프로브 핀(110)의 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)은 제2 슬롯(121-S2)의 일측에 연결 혹은 일체로 형성되므로, 프로브 핀(110)은 제2 슬롯(121-S2)에서의 이동이 제한된다.After assembly, the movement is restricted by the lock key 130. In the assembled state, the locking groove 122 exposing the engaging portion 112 of the probe pin 110 is one side of the second slot 121-S2. Since it is connected to or integrally formed, the movement of the probe pin 110 in the second slot 121-S2 is restricted.

다만, 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은 다수의 프로브 핀(110)에 각각 구비되어 있는 걸림부(112)가 모두 노출되도록 블록 베이스(120)의 폭 방향을 따라 연속하여 일체로 형성되어 있는 것이 바람직하다.However, the locking grooves 122 of the block base 120 are continuously and integrally formed along the width direction of the block base 120 so that all of the hooking parts 112 provided on the plurality of probe pins 110 are all exposed. It is desirable to be

이를 통해 하나의 잠금홈(122) 내에 고밀도의 패턴으로 배치된 다수개의 프로브 핀(110)들이 동시에 노출되고, 여기에 하나 또는 다수의 잠금키(130)를 선택적으로 끼워넣어 모든 프로브 핀(110)들을 고정시킬 수 있게 한다.Through this, a plurality of probe pins 110 arranged in a high-density pattern in one locking groove 122 are exposed at the same time, and one or a plurality of lock keys 130 are selectively inserted therein, so that all probe pins 110 allow them to be fixed.

한편, 잠금키(130)는 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내에 탈착 가능하게 조립되는 것으로, 그 일단(예: 전방측)이 걸림부(112)에 밀착되어 프로브 핀(110)을 고정시킨다. On the other hand, the lock key 130 is detachably assembled in the locking groove 122 of the block base 120, and one end (eg, the front side) is in close contact with the locking portion 112 to secure the probe pin 110. fix it

다시 말해, 프로브 핀(110)을 블록 베이스(120)의 제1 슬롯(121-S1) 및 제2 슬롯(121-S2)을 따라 슬라이딩 방식으로 끝까지 밀어 넣어 조립 후에는 절연성의 잠금키(130)를 끼워넣어 고정(검사 상태)이 이루어지게 한다.In other words, the probe pin 110 is pushed to the end in a sliding manner along the first slot 121-S1 and the second slot 121-S2 of the block base 120, and after assembly, the insulating lock key 130 is inserted to make it fixed (inspection state).

반면, 도 7과 같이 교체시에는 잠금키(130)를 들어올려 뺀 후 선택된 프로브 핀(110)을 조립시와 반대 경로를 따라 이동시켜 탈착한다. 따라서, 마모나 파손 등이 일어난 프로브 핀(110)을 쉽게 교체할 수 있도록 한다.On the other hand, in the case of replacement as shown in FIG. 7 , after the lock key 130 is lifted and removed, the selected probe pin 110 is moved along a path opposite to that of the assembly and detached. Therefore, it is possible to easily replace the probe pin 110 that has been worn or damaged.

위와 같이 잠금키(130)는 슬라이딩 조립된 프로브 핀(110)이 움직이지 못하도록 고정하는 역할을 하는 것이므로, 이를 가능하게 할 수 있다면 다양한 타입의 잠금키(130)가 적용될 수 있다.As described above, since the lock key 130 serves to fix the slidingly assembled probe pin 110 so as not to move, various types of lock keys 130 may be applied if this is possible.

그러나, 잠금키(130)를 억지끼움 방식으로 삽입할 수 있으면 프로브 핀(110)을 견고히 고정하면서도 탈부착이 용이하게 된다다. 이에, 잠금키(130)는 삽입홈 내에서 다수의 프로브 핀(110)에 걸리는 길이 부재가 적용될 수 있다.However, if the lock key 130 can be inserted in an interference fit method, the probe pin 110 is firmly fixed while being easily attached and detached. Thus, the lock key 130 may be a length member caught on the plurality of probe pins 110 in the insertion groove.

길이 부재인 잠금키(130)는 일 예로 도시한 바와 같이 단면이 원형인 일체(하나)의 끼움 로드(rod)가 적용될 수 있다. 물론, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 그 외 단면이 다각형인 것이나 길이 방향을 따라 절단된 다수의 잠금키(130)들을 하나의 잠금홈(122)에 끼울 수도 있다.The locking key 130, which is a length member, may be an integral (one) fitting rod having a circular cross section, as shown in an example. Of course, the present invention is not limited thereto, and a plurality of lock keys 130 having polygonal cross sections or cut along the longitudinal direction may be inserted into one lock groove 122 .

다만, 잠금키(130)로서 길이 부재를 이용하는 경우, 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은 프로브 핀(110)의 걸림부(112) 옆에 잠금키(130)가 삽입되는 공간을 형성한 것이 사용될 수 있다.However, when a length member is used as the lock key 130, the lock groove 122 of the block base 120 forms a space next to the locking part 112 of the probe pin 110 into which the lock key 130 is inserted. one can be used.

따라서, 삽입 공간에 길이 부재인 잠금키(130)를 억지끼움 방식으로 장착하면 잠금키(130)의 일단은 걸림부(112)에 밀착되고 타단은 잠금홈(122)의 내측벽에 밀착되면서, 잠금키(130)로 프로브 핀(110)의 이동을 제한(제2 슬롯에서 이탈 방지)하여 잠금 상태가 된다.Therefore, when the lock key 130, which is a length member, is installed in the insertion space in an interference fit manner, one end of the lock key 130 is in close contact with the locking portion 112 and the other end is in close contact with the inner wall of the lock groove 122, The movement of the probe pin 110 is restricted by the lock key 130 (preventing it from leaving the second slot) to enter a locked state.

또한, 위와 같은 잠금키(130)는 실리콘과 같은 탄성체로 구성되는 것이 바람직한데, 잠금키(130)를 탄성체로 구성하면 잠금홈(122)에 삽입시 프로브 핀(110)의 손상을 방지하면서도 프로브 핀(110)을 탄성 가압하여 고정되게 한다.In addition, the lock key 130 as described above is preferably made of an elastic material such as silicon. If the lock key 130 is made of an elastic material, the probe pin 110 is prevented from being damaged when inserted into the lock groove 122, and the probe pin 110 is prevented from being damaged. The pin 110 is elastically pressed to be fixed.

<실시예 2><Example 2>

도 8과 같이, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)은 다른 실시예로서 디스플레이 패널의 검사를 위해 프로브 핀(110)과, 블록 베이스(120) 및 잠금키(130)를 포함하며, 이점은 위에서 설명한 바와 같다.As shown in FIG. 8, the probe pin block 100 for inspecting a display panel according to another embodiment includes a probe pin 110, a block base 120, and a lock key 130 for inspecting a display panel. , the advantages are as described above.

그러나, 이하에서 설명하는 다른 실시예는 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록(100)가 다양한 구조의 프로브 핀(110) 및 블록 베이스(120)에 대해 적용됨은 물론, 조립(해제) 방향도 변형될 수 있음을 보여준다.However, in another embodiment described below, the probe pin block 100 for display panel inspection of the present invention is applied to the probe pin 110 and the block base 120 of various structures, as well as the assembly (disassembly) direction. shows that it can be transformed.

이에, 상기한 프로브 핀(110)은 디스플레이 패널의 전극(혹은 단자)에 접촉하여 테스트 신호를 인가할 수 있도록 전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부(111)와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부(112)를 구비한다.Accordingly, the probe pin 110 is made of a conductive material so as to apply a test signal by contacting the electrode (or terminal) of the display panel, and is connected to the probe unit 111 in contact with the test target at least one place. A protruding hooking portion 112 is provided.

도 9와 같이, 탐침부(111)는 디스플레이 패널의 전극에 접촉하는 것으로 전방부에서 하측으로 연장되며, 프로브 핀(110)의 상단부에는 회로기판의 패드 등에 접촉되는 기판 접촉부(113)가 구비된다.As shown in FIG. 9, the probe part 111 contacts the electrode of the display panel and extends downward from the front part, and the upper end of the probe pin 110 has a substrate contact part 113 that contacts the pad of the circuit board. .

이때, 걸림부(112)는 상기 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 이루어지는 부분으로 하측의 탐침부(111)와 상측의 기판 접촉부(113) 사이에 구비되며, 걸림부(112)의 전면부에 잠금키(130)가 끼워져 지지된다.At this time, the hooking part 112 is a part where the locking action is performed by the lock key 130 and is provided between the lower probe part 111 and the upper substrate contact part 113, and the front part of the hooking part 112 The lock key 130 is inserted into and supported.

이러한 걸림부(112)는 잠금키(130)에 의해 걸림 작용이 일어날 수 있으면 다양한 형상으로 이루어질 수 있으며, 도 10과 같이 사각판 형상으로 이루어진 걸림부(112)는 그 전방측 수직면과 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내측벽 사이에 잠금키(130)가 끼워진다.The locking portion 112 may be formed in various shapes as long as the locking action can occur by the locking key 130, and as shown in FIG. The lock key 130 is inserted between the inner walls of the lock groove 122 of 120.

블록 베이스(120)는 핀 블록의 몸체를 구성하는 것으로 절연성 재질로 이루어지며, 상술한 프로브 핀(110)이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯(121)과 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)을 구비한다.The block base 120 constitutes the body of the pin block and is made of an insulating material, and the slot 121 into which the above-described probe pin 110 is inserted and assembled in a sliding manner and the locking groove in which the engaging portion 112 is exposed ( 122) is provided.

이때, 잠금홈(122)은 슬롯(121)의 일측(삽입 방향 단부)에 연결되거나 슬롯(121)의 일부분에 잠금홈(122)을 형성한다. 따라서, 슬롯(121)을 통해 삽입 조립된 프로브 핀(110)은 그 걸림부(112)가 잠금홈(122) 내에 위치하게 된다.At this time, the locking groove 122 is connected to one side (insertion direction end) of the slot 121 or forms the locking groove 122 on a part of the slot 121 . Accordingly, in the probe pin 110 inserted and assembled through the slot 121, the hooking portion 112 is positioned within the locking groove 122.

블록 베이스(120)에 형성된 슬롯(121)은 프로브 핀(110)이 인입되는 제1 슬롯(121-S1) 및 상기 제1 슬롯(121-S1)에 인입된 프로브 핀(110)을 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯(121-S2)을 포함한다.The slot 121 formed in the block base 120 is the first slot 121-S1 into which the probe pin 110 is inserted and the probe pin 110 inserted into the first slot 121-S1 from the drawing direction. and a second slot (121-S2) for moving in the switched direction.

바람직하게 제1 슬롯(121-S1)은 직선 방향으로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)에 대해 직교하는 방향으로 형성되는데, 예컨대 제1 슬롯(121-S1)은 하단에서 직상부로 형성되고, 제2 슬롯(121-S2)은 제1 슬롯(121-S1)의 상단에서 후방측으로 형성된다.Preferably, the first slot 121-S1 is formed in a straight line direction, and the second slot 121-S2 is formed in a direction orthogonal to the first slot 121-S1. S1) is formed from the lower end to the upper part, and the second slot (121-S2) is formed from the upper end of the first slot (121-S1) to the rear side.

따라서, 프로브 핀(110)은 블록 베이스(120)의 하단에서 제1 슬롯(121-S1)을 통해 인입되고, 제1 슬롯(121-S1)의 단부까지 이동 후에는 제2 슬롯(121-S2)을 따라 방향을 전환하여 조립이 이루어지게 된다. Therefore, the probe pin 110 is inserted from the bottom of the block base 120 through the first slot 121-S1, and after moving to the end of the first slot 121-S1, the second slot 121-S2 ), the assembly is performed by changing the direction.

조립 후에는 잠금키(130)에 의해 이동이 제한되도록 고정되는데, 조립 상태에서 프로브 핀(110)의 걸림부(112)가 노출되는 잠금홈(122)은 제2 슬롯(121-S2)의 일측에 연결 혹은 일체로 형성되므로, 프로브 핀(110)은 제2 슬롯(121-S2)에서의 이동이 제한된다.After assembly, the movement is restricted by the lock key 130. In the assembled state, the lock groove 122 where the locking part 112 of the probe pin 110 is exposed is one side of the second slot 121-S2. Since it is connected to or integrally formed, the movement of the probe pin 110 in the second slot 121-S2 is restricted.

본 발명의 다른 실시예에서도 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은 다수의 프로브 핀(110)에 각각 구비되어 있는 걸림부(112)가 모두 노출되도록 블록 베이스(120)의 폭 방향을 따라 연속하여 일체로 형성되어 있는 것이 바람직하다.In another embodiment of the present invention, the locking groove 122 of the block base 120 is formed along the width direction of the block base 120 so that all of the hooking parts 112 provided on the plurality of probe pins 110 are all exposed. It is preferable to be integrally formed continuously.

이를 통해 하나의 잠금홈(122) 내에 고밀도의 패턴으로 배치된 다수개의 프로브 핀(110)들이 동시에 노출되고, 여기에 하나 또는 다수의 잠금키(130)를 선택적으로 끼워넣어 모든 프로브 핀(110)들을 고정시킬 수 있게 한다.Through this, a plurality of probe pins 110 arranged in a high-density pattern in one lock groove 122 are exposed at the same time, and one or a plurality of lock keys 130 are selectively inserted therein, so that all probe pins 110 allow them to be fixed.

한편, 잠금키(130)는 블록 베이스(120)의 잠금홈(122) 내에 탈착 가능하게 조립되는 것으로, 그 일단(예: 후방측)이 걸림부(112)에 밀착되어 프로브 핀(110)을 고정시킨다.On the other hand, the locking key 130 is detachably assembled in the locking groove 122 of the block base 120, and one end (eg, the rear side) is in close contact with the locking portion 112 to secure the probe pin 110. fix it

다시 말해, 프로브 핀(110)을 블록 베이스(120)의 제1 슬롯(121-S1) 및 제2 슬롯(121-S2)을 따라 슬라이딩 방식으로 끝까지 밀어 넣어 조립 후에는 절연성의 잠금키(130)를 끼워넣어 고정(검사 상태)이 이루어지게 한다.In other words, the probe pin 110 is pushed to the end in a sliding manner along the first slot 121-S1 and the second slot 121-S2 of the block base 120, and after assembly, the insulating lock key 130 is inserted to make it fixed (inspection state).

반면, 도 11과 같이 교체시에는 잠금키(130)를 들어올려 뺀 후 선택된 프로브 핀(110)을 조립시와 반대 경로를 따라 이동시켜 탈착한다. 따라서, 마모나 파손 등이 일어난 프로브 핀(110)을 쉽게 교체할 수 있도록 한다.On the other hand, when replacing as shown in FIG. 11, after lifting and removing the lock key 130, the selected probe pin 110 is detached by moving along the opposite path to that of assembly. Therefore, it is possible to easily replace the probe pin 110 that has been worn or damaged.

위와 같이 잠금키(130)는 슬라이딩 조립된 프로브 핀(110)이 움직이지 못하도록 고정하는 것으로, 삽입홈 내에서 다수의 프로브 핀(110)에 걸리는 길이 부재가 적용될 수 있다.As described above, the locking key 130 fixes the slidingly assembled probe pin 110 so as not to move, and a length member caught on the plurality of probe pins 110 in the insertion groove may be applied.

길이 부재인 잠금키(130)는 단면이 원형인 일체(하나)의 끼움 로드(rod)가 적용될 수 있다. 물론, 그 외 단면이 다각형인 것이나 길이 방향을 따라 절단된 다수의 잠금키(130)들을 하나의 잠금홈(122)에 끼울 수도 있다.The locking key 130, which is a length member, may be an integral (one) fitting rod having a circular cross section. Of course, a plurality of other lock keys 130 having a polygonal cross section or cut along the length direction may be inserted into one lock groove 122 .

따라서, 삽입 공간에 길이 부재인 잠금키(130)를 억지끼움 방식으로 장착하면 잠금키(130)의 일단은 걸림부(112)에 밀착되고 타단은 잠금홈(122)의 내측벽에 밀착되면서, 잠금키(130)로 프로브 핀(110)의 이동을 제한(제2 슬롯에서 이탈 방지)하여 잠금 상태가 된다.Therefore, when the lock key 130, which is a length member, is installed in the insertion space in an interference fit manner, one end of the lock key 130 is in close contact with the locking portion 112 and the other end is in close contact with the inner wall of the lock groove 122, The movement of the probe pin 110 is restricted by the lock key 130 (preventing it from leaving the second slot) to enter a locked state.

또한, 위와 같은 잠금키(130)는 실리콘과 같은 탄성체로 구성되는 것이 바람직한데, 잠금키(130)를 탄성체로 구성하면 잠금홈(122)에 삽입시 프로브 핀(110)의 손상을 방지하면서도 프로브 핀(110)을 탄성 가압하여 고정되게 한다.In addition, the lock key 130 as described above is preferably made of an elastic material such as silicon. If the lock key 130 is made of an elastic material, the probe pin 110 is prevented from being damaged when inserted into the lock groove 122, and the probe pin 110 is prevented from being damaged. The pin 110 is elastically pressed to be fixed.

이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다.In the above, specific embodiments of the present invention have been described in detail. However, the spirit and scope of the present invention is not limited to these specific embodiments, but those skilled in the art can make various modifications and variations without changing the gist of the present invention. You will understand when you grow up.

따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, since the embodiments described above are provided to completely inform those skilled in the art of the scope of the invention to which the present invention pertains, it should be understood that it is illustrative and not limiting in all respects, The invention is only defined by the scope of the claims.

110: 프로브 핀
111: 탐침부
112: 걸림부
113: 기판 접촉부
120: 블록 베이스
121: 슬롯
121-S1: 제1 슬롯
121-S2: 제2 슬롯
122: 잠금홈
130: 잠금키110: probe pin
111: probe unit
112: hanging part
113: board contact
120: block base
121: slot
121-S1: first slot
121-S2: second slot
122: lock groove
130: lock key

Claims (6)

전도성 재질로 이루어지며, 검사 대상에 접촉하는 탐침부(111)와 적어도 한 개소 이상에 돌출된 걸림부(112)를 구비한 프로브 핀(110)과;
상기 프로브 핀(110)이 슬라이딩 방식으로 삽입 조립되는 슬롯(121)과 상기 걸림부(112)가 노출되도록 잠금홈(122)을 구비한 블록 베이스(120); 및
상기 잠금홈(122) 내에 탈착 가능하게 조립되며, 일단이 상기 걸림부(112)에 밀착되어 상기 프로브 핀(110)을 고정시키는 잠금키(130);를 포함하여,
상기 잠금키(130)를 탈착 후 상기 프로브 핀(110)을 상기 블록 베이스(120)로부터 인출할 수 있도록 구성되고,
상기 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은,
다수의 프로브 핀(110)에 각각 구비되어 있는 걸림부(112)가 모두 노출되도록 상기 블록 베이스(120)의 길이 방향을 따라 연속하여 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록.a probe pin 110 made of a conductive material and having a probe unit 111 in contact with the test target and a hooking unit 112 protruding at least one location;
a block base 120 having a slot 121 into which the probe pin 110 is inserted and assembled in a sliding manner and a locking groove 122 to expose the locking portion 112; and
A lock key 130 detachably assembled in the lock groove 122 and having one end in close contact with the locking portion 112 to fix the probe pin 110; including,
After the lock key 130 is detached, the probe pin 110 is configured to be withdrawn from the block base 120,
The locking groove 122 of the block base 120,
A probe pin block for inspecting a display panel, characterized in that it is continuously formed along the longitudinal direction of the block base 120 so that the hooking parts 112 provided on each of the plurality of probe pins 110 are all exposed. 제1항에 있어서,
상기 블록 베이스(120)의 슬롯(121)은,
상기 프로브 핀(110)이 인입되는 제1 슬롯(121-S1); 및
상기 제1 슬롯(121-S1)에 인입된 프로브 핀(110)을 상기 인입 방향으로부터 전환된 방향으로 이동시키는 제2 슬롯(121-S2);을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록.According to claim 1,
The slot 121 of the block base 120,
a first slot 121-S1 into which the probe pin 110 is inserted; and
and a second slot (121-S2) for moving the probe pin (110) retracted into the first slot (121-S1) in a direction switched from the retracted direction. block. 제2항에 있어서,
상기 제1 슬롯(121-S1)은 직선 방향으로 형성되고,
상기 제2 슬롯(121-S2)은 상기 제1 슬롯(121-S1)에 대해 직교하는 방향으로 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록.

According to claim 2,
The first slot (121-S1) is formed in a linear direction,
The probe pin block for inspecting a display panel, characterized in that the second slot (121-S2) is formed in a direction orthogonal to the first slot (121-S1).

 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 블록 베이스(120)의 잠금홈(122)은,
상기 걸림부(112)의 옆에 상기 잠금키(130)가 삽입되는 공간을 형성하여, 상기 잠금키(130)의 일단은 상기 걸림부(112)에 밀착되고 타단은 상기 잠금홈(122)의 내측벽에 밀착되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록.According to claim 1,
The locking groove 122 of the block base 120,
A space into which the lock key 130 is inserted is formed next to the locking portion 112 so that one end of the locking key 130 is in close contact with the locking portion 112 and the other end of the locking groove 122. Probe pin block for display panel inspection, characterized in that in close contact with the inner wall. 제1항에 있어서,
상기 잠금키(130)는,
상기 프로브 핀(110)을 탄성 가압하도록 탄성체로 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 핀 블록.According to claim 1,
The lock key 130,
A probe pin block for inspecting a display panel, characterized in that composed of an elastic body to elastically press the probe pin (110).
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