JP3315088B2 - IC socket structure and IC mounting method - Google Patents
IC socket structure and IC mounting methodInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、フラットパッケー
ジタイプのIC(半導体集積回路)を着脱可能に装着す
るICソケット構造に関し、特に、バーンインテスト及
びハンドラテスト等に用いて好適なICソケット構造及
びICの基板への装着方法に関する。The present invention relates to an IC socket structure for detachably mounting a flat package type IC (semiconductor integrated circuit), and more particularly to an IC socket structure and an IC suitable for use in a burn-in test and a handler test. To a method of mounting the substrate on a substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体製品のみならず、ほとんどの製品
の故障率は、出荷直後と製品寿命が尽きる頃の双方で高
く、その間の安定期では低いことが知られている。この
故障率の傾向を時間的に見ると、バスタブ(浴槽)の形
に似ていることからこの現象は「バスタブ曲線」と呼ば
れている。バーンインテストは、このバスタブ曲線理論
を利用して行われるもので、100゜C以上の高温下で
ICを動作させ、ボーダーライン付近の故障しかかって
いるものを短時間に見つけて、スクリーニング(除去)
するという出荷検査技法の一つである。2. Description of the Related Art It is known that not only semiconductor products but also most products have a high failure rate both immediately after shipment and at the end of the product life, and are low during a stable period. This phenomenon is called a “bathtub curve” because the trend of the failure rate is similar to the shape of a bathtub when viewed in time. The burn-in test is performed by using the bathtub curve theory. The IC is operated at a high temperature of 100 ° C. or more, and a failure near the border line is detected in a short time to perform screening (removal).
This is one of the shipping inspection techniques.
【0003】この種のテストでは、バーンインボードと
呼ばれる専用のボードに数十個のICをセットし、一度
に多数のボードを高温チャンバーに入れて動作テストを
行うが、ボードにセットしたICは、テスト後に簡単に
取り外せなければならない為、ここに、着脱可能なIC
ソケットが必要になる。In this type of test, dozens of ICs are set on a dedicated board called a burn-in board, and an operation test is performed by putting many boards at a time in a high-temperature chamber. Since it must be easy to remove after the test, here is a removable IC
You need a socket.
【0004】図3は従来の着脱可能なICソケットの概
略図である。1はフラットパッケージタイプ(リードピ
ン1aの先がフラットなパッケージ)のICであり、こ
のIC1を位置合わせして、ソケット本体2の凹部3に
装着し、図示を略した手段によって、IC1を適度な力
で上から押さえつけることにより、バーンインボードへ
のセットを行う。FIG. 3 is a schematic view of a conventional detachable IC socket. Reference numeral 1 denotes an IC of a flat package type (a package having a flat tip of a lead pin 1a). The IC 1 is positioned and mounted in the concave portion 3 of the socket body 2, and the IC 1 is applied with an appropriate force by means not shown. Press down from above to set on the burn-in board.
【0005】凹部3の底には、IC1のリードピン1a
の先に接触する端子群4が設けられており、この例で
は、IC1が4つの側面にリードピン1aを出すクワッ
ド(quad)タイプであるため、端子群4は4つ設けられ
ている。但し、うち二つは凹部3の壁に隠れて見えな
い。At the bottom of the recess 3, a lead pin 1a of the IC 1 is provided.
In this example, four terminal groups 4 are provided because the IC 1 is of a quad type in which the lead pins 1a are provided on four side surfaces in this example. However, two of them are hidden behind the wall of the concave portion 3 and cannot be seen.
【0006】図4は端子群4の要部詳細図である。端子
群4は多数個の金属端子5を等ピッチに並置して構成さ
れており、各々の金属端子5は、IC1のリードピン1
aの先が接触するIC接触部5aと、この接触部5aを
弾性的に保持する梁部5bと、凹部3の底に着座する基
部5cと、凹部3の底を突き抜けるピン5dとを一体的
に形成している。FIG. 4 is a detailed view of a main part of the terminal group 4. As shown in FIG. The terminal group 4 is configured by arranging a large number of metal terminals 5 at equal pitches.
The IC contact part 5a with which the tip of a contacts is formed, a beam part 5b elastically holding the contact part 5a, a base part 5c seated on the bottom of the concave part 3, and a pin 5d penetrating the bottom of the concave part 3 integrally. Is formed.
【0007】ピン5dの先端を図示を略したバーンイン
ボードのホール穴に挿入し、はんだ付けしてICソケッ
ト2とボードとを固定する。The tip of the pin 5d is inserted into a hole of a burn-in board (not shown) and soldered to fix the IC socket 2 to the board.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来のICソケットにあっては、端子群4はソケット本
体2の凹部に設けられてソケット本体2と一体化してい
るため、例えば、金属端子5に疲労、破損又は変形等の
不良を生じた場合には、その数がたった一つであっても
ICソケット全体が使用不能になるという問題点があっ
た。また、金属端子5のピン5dの先端をバーンインボ
ードにはんだ付けしていたため、バーンインテストにお
いて、数十個のICソケットをバーンインボードに搭載
する際に、不良の金属端子を有するICソケットが多く
発生した場合、ボード全体を破棄しなければならない
為、きわめて不経済であった。However, in such a conventional IC socket, the terminal group 4 is provided in the recess of the socket main body 2 and is integrated with the socket main body 2. When a defect such as fatigue, breakage or deformation occurs, even if the number is only one, there is a problem that the entire IC socket becomes unusable. In addition, since the tips of the pins 5d of the metal terminals 5 are soldered to the burn-in board, when mounting dozens of IC sockets on the burn-in board in the burn-in test, many IC sockets having defective metal terminals are generated. In that case, the entire board had to be destroyed, which was extremely uneconomical.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、金属
端子部分をソケット本体とは別体に形成し、不良の金属
端子が生じた場合でも金属端子部分だけを交換できるよ
うにし、以って経済性を大幅に改善することを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention provides a metal terminal portion formed separately from a socket body so that even if a defective metal terminal occurs, only the metal terminal portion can be replaced. To significantly improve economic efficiency.
【0010】本発明は、上記課題を解決するため、表面
に配線がされた基板上で用いられ、ICのリードピン及
び前記基板上の配線にそれぞれ接して前記ICと前記基
板とを導通する金属端子を複数有するICソケット構造
において、前記複数の金属端子を並置して保持する端子
保持手段と、前記端子保持手段を収納する収納部を有す
るICソケット本体と、該ICソケット本体に着脱可能
に取付けられ、前記金属端子が前記基板上の配線に接触
するよう前記端子保持手段を押圧する押圧部材と、を備
えることを特徴とする。 According to the present invention, there is provided a metal terminal which is used on a substrate having a wiring provided on a surface thereof and which is in contact with a lead pin of an IC and a wiring on the substrate to conduct the IC and the substrate. In the IC socket structure having a plurality of terminals, a terminal holding means for holding the plurality of metal terminals side by side, an IC socket main body having a storage portion for storing the terminal holding means, and detachably attached to the IC socket main body. And a pressing member for pressing the terminal holding means so that the metal terminal comes into contact with the wiring on the substrate.
【0011】この構成によれば、複数の金属端子を有す
る端子保持手段がICソケット本体とは別体に形成され
て、ICソケット本体に収納されているため、一つ又は
いくつかの金属端子が不良になった場合、その不良端子
を含む端子保持手段を取外して交換することができる。According to this structure, the terminal holding means having a plurality of metal terminals is formed separately from the IC socket main body and housed in the IC socket main body. In the case of failure, the terminal holding means including the defective terminal can be removed and replaced.
【0012】本発明は、上記課題を解決するため、上記
ICソケット構造において、前記端子保持手段が、前記
ICの側面毎のリードピン群に対応した金属端子群を保
持する。特に、前記ICの側面ごとに設けられたリード
ピン群の1つに対応する金属端子群を形成するように前
記複数の金属端子を並置して保持する、前記リードピン
群の数に対応した数の端子保持手段を設けることが好ま
しい。 According to the present invention, in order to solve the above-mentioned problems, in the above IC socket structure, the terminal holding means holds a metal terminal group corresponding to a lead pin group for each side surface of the IC. In particular, leads provided on each side of the IC
Before forming a metal terminal group corresponding to one of the pin groups
The lead pin for holding a plurality of metal terminals side by side;
It is preferable to provide a number of terminal holding means corresponding to the number of groups.
New
【0013】この構成によれば、端子保持手段が、IC
の側面毎のリードピン群に対応した金属端子群を保持し
ているため、一つ又はいくつかの金属端子が不良になっ
た場合、その不良端子を含む金属端子群を保持する端子
保持手段のみを取外して交換することができる。According to this configuration, the terminal holding means is an IC.
Since the metal terminal group corresponding to the lead pin group for each side surface is held, if one or several metal terminals become defective, only the terminal holding means for holding the metal terminal group including the defective terminal is used. Can be removed and replaced.
【0014】本発明は、上記課題を解決するため、上記
いずれかのICソケット構造において、前記金属端子
が、前記端子保持手段に挟持される胴部と、前記ICの
リードピンに接するIC接触部と、前記端子保持手段の
外面に折込まれて前記基板上の配線と接する基板配線接
触部と、を有する。The present invention, in order to solve the above problems, the
In any one of the IC socket structures, the metal terminal may include a body portion sandwiched by the terminal holding means, an IC contact portion in contact with a lead pin of the IC, and And a substrate wiring contact portion in contact with the wiring.
【0015】この構成によれば、基板配線接触部が端子
保持手段の外面に折込まれているため、端子保持手段を
基板上の配線に載せるだけで金属端子の基板配線接触部
と基板表面の配線を接触することができる。According to this structure, since the board wiring contact portion is folded into the outer surface of the terminal holding means, the board holding contact portion of the metal terminal and the wiring on the board surface can be formed simply by placing the terminal holding means on the wiring on the board. Can be contacted.
【0016】本発明は、上記課題を解決するため、上記
いずれかのICソケット構造において、前記ICソケッ
ト本体の前記収納部が前記基板に対して貫通する貫通穴
である。The present invention, in order to solve the above problems, the
In any one of the IC socket structures, the storage portion of the IC socket main body is a through hole penetrating the substrate.
【0017】この構成によれば、ICソケット本体の収
納部が基板に対して貫通しているため、端子保持手段が
直接基板上に載せられ、金属端子の基板配線接触部と基
板表面の配線を接触することができる。According to this structure, since the housing portion of the IC socket body penetrates through the board, the terminal holding means is directly mounted on the board, and the board wiring contact portion of the metal terminal and the wiring on the board surface are connected. Can contact.
【0018】本発明は、上記課題を解決するため、IC
を表面に配線がされた基板へ装着させる方法において、
収納部を有するICソケット本体を前記基板表面に載
せ、前記ICの側面ごとに設けられたリードピン群の1
つに対応する金属端子群を形成するように前記複数の金
属端子を並置して保持する、前記リードピン群の数に対
応した数の端子保持手段を前記収納部に収納し、前記I
Cソケット本体に着脱可能に取付けた押圧部材によって
前記端子保持手段を押圧し、前記金属端子を前記基板上
の配線と接触させることを特徴とする。 According to the present invention, there is provided an IC for solving the above problems.
In the method of mounting on a substrate with a wiring on the surface,
An IC socket body having an accommodating portion is placed on the surface of the substrate , and one of a group of lead pins provided on each side of the IC is provided.
The plurality of metal terminals so as to form a corresponding metal terminal group.
The number of lead pins that hold the metal terminals side by side
A corresponding number of terminal holding means are housed in the housing, and
The terminal holding means is pressed by a pressing member detachably attached to the C socket body, and the metal terminal is brought into contact with the wiring on the substrate.
【0019】この方法によれば、ICソケット本体とは
別体に形成された複数の金属端子を有する端子保持手段
をICソケット本体に収納するため、一つ又はいくつか
の金属端子が不良になった場合、その不良端子を含む端
子保持手段を取外して交換することができる。According to this method, since the terminal holding means having a plurality of metal terminals formed separately from the IC socket main body is housed in the IC socket main body, one or several metal terminals become defective. In this case, the terminal holding means including the defective terminal can be removed and replaced.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面に基
づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0021】図1及び図2は本発明に係るICソケット
構造の一実施例を示す図である。本ICソケット構造
は、パッケージの4つの側面からリードピンが出たクワ
ッドタイプのICを表面に配線がされた基板に導通させ
るよう構成されている。ここで表面に配線がされた基板
とは、パターン配線がされたプリントボード等の他、接
続端子を有する基板であって該接続端子が基板表面に露
出している様々な態様の基板のことをいう。FIGS. 1 and 2 show an embodiment of an IC socket structure according to the present invention. The present IC socket structure is configured to conduct a quad-type IC having lead pins protruding from four side surfaces of a package to a substrate having wiring on the surface. Here, the substrate with wiring on the surface refers to a substrate having connection terminals other than a printed board or the like on which pattern wiring is performed and various types of substrates in which the connection terminals are exposed on the substrate surface. Say.
【0022】図1に示したICソケット構造は、ソケッ
ト本体10と、4つの金属端子部分16〜19と、及び
押圧手段20とを有している。The IC socket structure shown in FIG. 1 has a socket body 10, four metal terminal portions 16 to 19, and pressing means 20.
【0023】ソケット本体10には、上面開放の凹部1
1が形成されている。凹部11の底面には、さらに一段
深い4つの貫通穴12〜15が形成されている。The socket body 10 has a recess 1 with an open top.
1 is formed. On the bottom surface of the recess 11, four through holes 12 to 15 which are further deeper are formed.
【0024】4つの金属端子部分16〜19はすべて同
一の構成であるため、代表して図面右上の金属端子部分
16について説明する。金属端子部分16は、複数の金
属端子16b及びこれらの金属端子16bを並置して保
持するベース部材16cを有している。ベース部材16
cは2枚の板状体からなり、絶縁性素材によって形成さ
れている。各金属端子16bは隣接する金属端子16b
から絶縁性を保つように一定の間隔を隔ててベース部材
16cに保持されている。Since all four metal terminal portions 16 to 19 have the same configuration, the metal terminal portion 16 at the upper right of the drawing will be described as a representative. The metal terminal portion 16 has a plurality of metal terminals 16b and a base member 16c that holds the metal terminals 16b in a side-by-side manner. Base member 16
c is made of two plate-like bodies and is formed of an insulating material. Each metal terminal 16b is connected to an adjacent metal terminal 16b.
It is held by the base member 16c at a certain interval so as to maintain insulation from the base member 16c.
【0025】図2に金属端子部分16の詳細断面図を示
している。各金属端子16bは、ベース部材16cの2
枚の板状体によって上下から挟まれて保持されている。
各金属端子16bは、IC21のリードピン21aと接
するIC接触部16aと、ベース部材16cによって挟
持される胴部(16b)と、及び表面に配線がされた基
板22の配線と接する基板配線接触部16dと、を有し
ている。FIG. 2 is a detailed sectional view of the metal terminal portion 16. Each metal terminal 16b is connected to two of the base members 16c.
It is sandwiched and held by the plate-like bodies from above and below.
Each metal terminal 16b has an IC contact portion 16a in contact with the lead pin 21a of the IC 21, a body portion (16b) sandwiched by the base member 16c, and a board wiring contact portion 16d in contact with the wiring of the substrate 22 wired on the surface. And
【0026】図2に示したように、IC接触部16aは
金属端子16bの一端を略L字状に曲げて形成され、I
C21のリードピン21aに接するようになっている。
一方金属端子16bの他端は略コの字状にベース部材1
6cの外面に折込まれている。また、ベース部材16c
は2枚の板状体によって金属端子16bの胴部を挟持し
ているため、ベース部材16cは金属端子が露出してい
ない上面を有している。As shown in FIG. 2, the IC contact portion 16a is formed by bending one end of a metal terminal 16b into a substantially L-shape.
It comes into contact with the lead pin 21a of C21.
On the other hand, the other end of the metal terminal 16b is substantially U-shaped.
6c is folded into the outer surface. Also, the base member 16c
Since the body of the metal terminal 16b is sandwiched between two plate-like members, the base member 16c has an upper surface where the metal terminal is not exposed.
【0027】ベース部材16cが保持する金属端子16
bの数は装着対象のICの各側面単位のリードピンの数
に対応する数であり、各金属端子16bの形状はICの
リードピンの形状に合うように形成される。The metal terminal 16 held by the base member 16c
The number b is a number corresponding to the number of lead pins of each side surface of the IC to be mounted, and the shape of each metal terminal 16b is formed so as to match the shape of the lead pin of the IC.
【0028】図1に示したように、金属端子部分16の
ベース部材16cの平面形状は長方形であり、その長手
方向の長さをDa、短手方向の長さ(幅)をDbとす
る。ソケット本体10の貫通穴12は金属端子部分16
を収納するように金属端子部分16の形状に合わせて形
成されており、大小の長方形が長手方向に並列した形状
をしている。ここで大きい方の長方形は長手方向の長さ
Da′、短手方向の長さ(幅)Db′を有しており、D
a′はベース部材16cの長手方向の長さDaと略等し
く、Db′はベース部材16cの短手方向の長さDbと
略等しい。また小さい方の長方形はベース部材16cか
ら露出した金属端子を収納する形状となっている。As shown in FIG. 1, the planar shape of the base member 16c of the metal terminal portion 16 is rectangular, and its length in the longitudinal direction is Da, and its length (width) in the short direction is Db. The through hole 12 of the socket body 10 is
Is formed in accordance with the shape of the metal terminal portion 16 so that large and small rectangles are arranged in parallel in the longitudinal direction. Here, the larger rectangle has a length Da ′ in the longitudinal direction and a length (width) Db ′ in the lateral direction.
a 'is approximately equal to the longitudinal length Da of the base member 16c, and Db' is approximately equal to the lateral length Db of the base member 16c. The smaller rectangle has a shape for storing the metal terminal exposed from the base member 16c.
【0029】従って、金属端子部分16を貫通穴12に
収納すると、貫通穴12の大きい方の長方形によって、
ベース部材16cの各辺がしっかりと保持される。ここ
では、金属端子部分16及び貫通穴12について説明し
たが、金属端子部分17〜19も又貫通穴13〜15に
それぞれ収納されるようになっている。さらに、各貫通
穴12〜15の位置によって、ソケット本体10に収納
される際の各金属端子部分16〜19の位置が決められ
るため、各貫通穴12〜15の位置は、図示を略した装
着対象のICの種類に応じて決められる。Therefore, when the metal terminal portion 16 is housed in the through hole 12, the larger rectangle of the through hole 12
Each side of the base member 16c is firmly held. Here, the metal terminal portion 16 and the through hole 12 have been described, but the metal terminal portions 17 to 19 are also accommodated in the through holes 13 to 15, respectively. Further, since the positions of the metal terminal portions 16 to 19 when being stored in the socket body 10 are determined by the positions of the through holes 12 to 15, the positions of the through holes 12 to 15 are It is determined according to the type of the target IC.
【0030】押圧部材20はその外径がソケット本体1
0の凹部11と略一致しており、ソケット本体10に嵌
め込まれるようになっている。押圧部材20の4辺の底
部にはそれぞれ金属端子部分16〜19のベース部材1
6cの形状に合わせた凹部が設けられている。押圧部材
20がソケット本体10に嵌め込まれると、ソケット本
体10の貫通穴12〜15にそれぞれ収納された金属端
子部分16〜19は押圧部材20の凹部に嵌め合わされ
るため、各金属端子部分16〜19のベース部材16c
の上面が押圧部材によって押圧されるようになってい
る。The pressing member 20 has an outer diameter of the socket body 1.
The recesses 11 are substantially coincident with the recesses 11 of 0, and are fitted into the socket body 10. The base members 1 of the metal terminal portions 16 to 19 are respectively provided at the bottoms of the four sides of the pressing member 20.
A concave portion corresponding to the shape of 6c is provided. When the pressing member 20 is fitted into the socket body 10, the metal terminal portions 16 to 19 accommodated in the through holes 12 to 15 of the socket body 10 are fitted into the concave portions of the pressing member 20, so that the metal terminal portions 16 to 19 are fitted. 19 base members 16c
Is pressed by a pressing member.
【0031】なお、図1及び図2では、ICを押さえつ
けるための手段(又は機構)を省略している。In FIGS. 1 and 2, the means (or mechanism) for pressing down the IC is omitted.
【0032】次にバーンインボード等の基板上でICを
テストするために、ICと基板とを導通させる方法につ
いて説明する。Next, a method for conducting the IC and the substrate to test the IC on a substrate such as a burn-in board will be described.
【0033】まずソケット本体10を基板の所定の位置
に載せる。次に各金属端子部分16〜19をそれぞれソ
ケット本体10の貫通穴12〜15に収納し、押圧部材
20を凹部11に嵌め込み、ビス等でソケット本体10
に取付ける。よって各金属端子部分16〜19の上面は
押圧部材20の凹部に嵌め合わされて押圧部材20の底
面によって押圧される。そのため金属端子16bの基板
配線接触部16dが基板の配線と接触する。その後図2
に示したように、IC21をそのリードピン21aが金
属端子部分16〜19の金属端子16bのIC接触部と
接するようにICソケット上に配置する。First, the socket body 10 is placed at a predetermined position on the board. Next, the metal terminal portions 16 to 19 are respectively housed in the through holes 12 to 15 of the socket body 10, the pressing member 20 is fitted into the concave portion 11, and the socket body 10 is screwed or the like.
Attach to Therefore, the upper surfaces of the metal terminal portions 16 to 19 are fitted into the concave portions of the pressing member 20 and pressed by the bottom surface of the pressing member 20. Therefore, the board wiring contact portion 16d of the metal terminal 16b contacts the wiring of the board. Then Figure 2
As shown in (1), the IC 21 is arranged on the IC socket such that the lead pins 21a thereof are in contact with the IC contact portions of the metal terminals 16b of the metal terminal portions 16 to 19.
【0034】このようにすると、ICソケット構造を介
して、ICと基板が導通してICと基板との間で信号の
やり取りや電源の供給経路を確保することができる。In this manner, the IC and the substrate are electrically connected via the IC socket structure, so that a signal exchange and a power supply path can be secured between the IC and the substrate.
【0035】金属端子16bを保持する端子保持手段1
6〜19はソケット本体10の貫通穴12〜15に収納
されているだけなので、例えば、疲労、破損又は変形等
によって一つの金属端子16bが不良となった場合に
は、押圧部材20をソケット本体から取り外し、不良の
金属端子16bを含む特定の金属端子部分だけを交換す
ればよい為、ICソケット全体が使用不能になるという
無駄がない。したがって、ICソケットよりもはるかに
安価な金属端子部分を交換部品として供給すればよく、
きわめて経済性に優れたICソケット構造を提供するこ
とができ、特に、バーンインテストの大幅なコスト低下
を図ることができるという格別な効果が得られる。Terminal holding means 1 for holding metal terminal 16b
6 to 19 are only housed in the through holes 12 to 15 of the socket body 10, so if one of the metal terminals 16b becomes defective due to, for example, fatigue, breakage or deformation, the pressing member 20 is moved to the socket body. , And only the specific metal terminal portion including the defective metal terminal 16b needs to be replaced, so that there is no waste that the entire IC socket becomes unusable. Therefore, it is sufficient to supply a metal terminal part which is much cheaper than an IC socket as a replacement part.
An extremely economical IC socket structure can be provided, and in particular, a remarkable effect of significantly reducing the cost of the burn-in test can be obtained.
【0036】また、各金属端子部分毎に金属端子16b
の長さ、本数又はピッチ等を変えることによって、様々
な種類のICに対応したICソケット構造を提供するこ
とができ、ある程度の汎用性を持つことができる。Further, each metal terminal portion has a metal terminal 16b.
By changing the length, the number, the pitch, and the like, IC socket structures corresponding to various types of ICs can be provided, and a certain degree of versatility can be achieved.
【0037】なお、本明細書では着脱可能なICソケッ
トの用途としてバーンインテストを例にしたが、これは
最も経済効果の大きい例を示したに過ぎず、他の用途を
排除するものではない。また、ICのタイプとしてクワ
ッドタイプを例にしたが、金属端子部分の数や位置を調
節すれば、二つの側面からリードピンが出るタイプ(例
えば、デュアルインタイプ)等にも適用できる。In this specification, a burn-in test is taken as an example of the application of the detachable IC socket. However, this is only an example having the greatest economic effect, and does not exclude other applications. In addition, although the quad type is taken as an example of the IC type, the present invention can also be applied to a type (for example, a dual-in type) in which lead pins come out from two side surfaces by adjusting the number and positions of metal terminals.
【0038】[0038]
【発明の効果】本発明によれば、複数の金属端子を有す
る端子保持手段がICソケット本体とは別体に形成され
て、ICソケット本体に収納されているため、一つ又は
いくつかの金属端子が不良になった場合、その不良端子
を含む端子保持手段を取外して交換することができる。According to the present invention, the terminal holding means having a plurality of metal terminals is formed separately from the IC socket main body and is housed in the IC socket main body. When the terminal becomes defective, the terminal holding means including the defective terminal can be removed and replaced.
【0039】本発明によれば、端子保持手段が、ICの
側面毎のリードピン群に対応した金属端子群を保持して
いるため、一つ又はいくつかの金属端子が不良になった
場合、その不良端子を含む金属端子群を保持する端子保
持手段のみを取外して交換することができる。According to the present invention, since the terminal holding means holds the metal terminal group corresponding to the lead pin group for each side of the IC, when one or several metal terminals become defective, Only the terminal holding means for holding the metal terminal group including the defective terminal can be removed and replaced.
【0040】本発明によれば、基板配線接触部が端子保
持手段の外面に折込まれているため、端子保持手段を基
板上の配線に載せるだけで金属端子の基板配線接触部と
基板表面の配線を接触することができる。According to the present invention, since the board wiring contact portion is bent into the outer surface of the terminal holding means, the terminal holding means is simply placed on the wiring on the board and the board wiring contact portion of the metal terminal and the wiring on the board surface are provided. Can be contacted.
【0041】本発明によれば、ICソケット本体の収納
部が基板に対して貫通しているため、端子保持手段が直
接基板上に載せられ、金属端子の基板配線接触部と基板
表面の配線を接触することができる。According to the present invention, since the accommodating portion of the IC socket body penetrates the substrate, the terminal holding means is directly mounted on the substrate, and the metal wiring contact portion of the substrate and the wiring on the substrate surface are connected. Can contact.
【0042】本発明によれば、ICソケット本体とは別
体に形成された複数の金属端子を有する端子保持手段を
ICソケット本体に収納するため、一つ又はいくつかの
金属端子が不良になった場合、その不良端子を含む端子
保持手段を取外して交換することができる。According to the present invention, since the terminal holding means having a plurality of metal terminals formed separately from the IC socket main body is housed in the IC socket main body, one or several metal terminals become defective. In this case, the terminal holding means including the defective terminal can be removed and replaced.
【0043】以上のように本発明によれば、不良の金属
端子が生じた場合でも金属端子部分だけを交換でき、I
Cソケット全体を交換する従来技術に比べて、大幅な経
済性の改善を図ることができるという有利な効果が得ら
れる。As described above, according to the present invention, even when a defective metal terminal occurs, only the metal terminal portion can be replaced,
As compared with the conventional technique in which the entire C socket is replaced, an advantageous effect that a great improvement in economy can be achieved can be obtained.
【図1】一実施例の概略組み立て図である。FIG. 1 is a schematic assembly diagram of one embodiment.
【図2】一実施例の金属端子部分の好ましい断面図であ
る。FIG. 2 is a preferred cross-sectional view of a metal terminal portion of one embodiment.
【図3】従来例の概略外観図である。FIG. 3 is a schematic external view of a conventional example.
【図4】従来例の金属端子群の要部詳細図である。FIG. 4 is a detailed view of a main part of a conventional metal terminal group.
10:ソケット本体 12〜15:貫通穴(収納部) 16a:IC接触部 16b:金属端子 16c:ベース部材(端子保持手段) 16〜19:金属端子部分 20:押圧部材 21:IC 21a:リードピン 10: Socket body 12-15: Through hole (storage part) 16a: IC contact part 16b: Metal terminal 16c: Base member (terminal holding means) 16-19: Metal terminal part 20: Pressing member 21: IC 21a: Lead pin
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−121135(JP,A) 特開 平2−27677(JP,A) 特開 平6−252294(JP,A) 特開 昭49−115779(JP,A) 実開 昭64−2177(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01R 33/76 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-5-121135 (JP, A) JP-A-2-27677 (JP, A) JP-A-6-252294 (JP, A) JP-A-49-49 115779 (JP, A) Japanese Utility Model Showa 64-2177 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01R 33/76
Claims (4)
Cの側面ごとに設けられたリードピン群及び前記基板上
の配線にそれぞれ接して前記ICと前記基板とを導通す
る金属端子を複数有するICソケット構造において、前記ICの側面ごとに設けられたリードピン群の1つに
対応する金属端子群を形成するように前記複数の金属端
子を並置して保持する、前記リードピン群の数に対応し
た数の 端子保持手段と、 前記端子保持手段を収納する収納部を有するICソケッ
ト本体と、 該ICソケット本体に着脱可能に取付けられ、前記金属
端子が前記基板上の配線に接触するよう前記端子保持手
段を押圧する押圧部材とを備えることを特徴とするIC
ソケット構造。1. A used on the substrate on which the wiring is on the surface, I
In the IC socket structure in which a plurality have a metal pin contact each wiring lead pins group and the substrate provided for each C side of the conduction between the substrate and the IC, lead pin group provided for each side of the IC One of
The plurality of metal ends so as to form a corresponding metal terminal group.
The number of the lead pins that hold the
The number of the terminal holding means is, the IC socket body having an accommodating portion for accommodating the terminal holding means detachably attached to the IC socket body, the terminal so that the metal terminal is in contact with the wiring on the substrate IC, characterized in that it comprises a pressing member for pressing the retaining means
Socket structure.
される胴部と、前記ICのリードピンに接するIC接触
部と、前記端子保持手段の外面に折込まれて前記基板上
の配線と接する基板配線接触部と、を有する請求項1に
記載のICソケット構造。 2. The method according to claim 1 , wherein said metal terminal is held between said terminal holding means.
Contact between the body and the lead pin of the IC
Part, which is folded into the outer surface of the terminal holding means and
And a substrate wiring contact portion in contact with said wiring.
The described IC socket structure.
基板に対して貫通する貫通穴である請求項1または請求
項2に記載のICソケット構造。 3. The IC socket body according to claim 2, wherein
The through-hole which penetrates through the substrate is a through-hole.
Item 3. An IC socket structure according to Item 2.
る方法において、 収納部を有するICソケット本体を前記基板表面に載
せ、 前記ICの側面ごとに設けられたリードピン群の1つに
対応する金属端子群を形成するように前記複数の金属端
子を並置して保持する、前記リードピン群の数に対応し
た数の端子保持手段を前記収納部に収納し、 前記ICソケット本体に着脱可能に取付けられた押圧部
材によって前記端子保持手段を押圧し、 前記金属端子を前記基板上の配線と接触させることを特
徴とするICの装着方 法。 4. An IC is mounted on a substrate having a surface wired.
Mounting an IC socket body having a storage portion on the substrate surface.
And one of the lead pin groups provided on each side of the IC.
The plurality of metal ends so as to form a corresponding metal terminal group.
The number of the lead pins that hold the
And a pressing portion detachably attached to the IC socket body.
Pressing the terminal holding means with a material to bring the metal terminals into contact with the wiring on the substrate.
Mounting how the IC to be butterflies.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP03588899A JP3315088B2 (en) | 1999-02-15 | 1999-02-15 | IC socket structure and IC mounting method |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP7239527A Division JP2922139B2 (en) | 1995-09-19 | 1995-09-19 | IC socket |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11312567A JPH11312567A (en) | 1999-11-09 |
JP3315088B2 true JP3315088B2 (en) | 2002-08-19 |
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JP (1) | JP3315088B2 (en) |
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JP4783825B2 (en) * | 2008-11-01 | 2011-09-28 | 株式会社ヨコオ | Clip-type relay connector |
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