KR200382084Y1 - The prober which is made of two sleeves - Google Patents

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Abstract

본 고안은 LCD(Liquid Crystal Display)제작 시에 제품을 출하하기 전 출하검사에서 LCD전극의 불량여부, 즉 단락, 단선 여부를 검사하기 위해 사용되는 프로브에 관한 것으로 종래의 1단 슬리브 구조로 이루어져 설치된 것을 2단 슬리브 구조를 사용함으로 작업 도중에 프로브 핀의 절단 및 파손 시에, 상기 프로브 핀을 교환하는데 걸리는 시간을 단축하여 검사 시에 불필요한 시간을 제거하고 LCD의 검사량을 증대하기 위한 것이다. The present invention relates to a probe used to inspect the LCD electrodes for defects, that is, short circuits or disconnections, during shipment inspection before the product is shipped when manufacturing a liquid crystal display (LCD). By using the two-stage sleeve structure, when cutting and breaking the probe pin during the operation, the time taken to replace the probe pin is shortened to eliminate unnecessary time during the inspection and to increase the inspection amount of the LCD.

이에 본 고안은 LCD전극과 접촉하는 첨두부가 형성되어 있는 프로브 핀과, 프로브 핀을 삽입하는 1차 슬리브와, 프로브 핀을 삽입하고 있는 1차 슬리브를 다시 삽입하고 하부에 테이퍼 형상으로 이루어진 접촉핀이 형성되어 있는 2차 슬리브와, 상기와 같이 구성된 프로브를 삽입하여 프로브 프레임에 고정되는 프로브 블록으로 이루어진 2단 슬리브를 가지는 프로브에 관한 것이다.Therefore, the present invention inserts a probe pin having a tip contacting the LCD electrode, a primary sleeve for inserting the probe pin, and a primary sleeve for inserting the probe pin, and has a tapered contact pin at the bottom thereof. It relates to a probe having a secondary sleeve formed of a two-stage sleeve consisting of a probe block fixed to the probe frame by inserting the probe configured as described above.

Description

2단 슬리브를 가지는 프로브{The prober which is made of two sleeves}The prober which is made of two sleeves}

본 고안은 완성된 LCD제품을 출하하기 전에 검사하는 출하검사에서 LCD전극의 단락, 단선 등의 불량여부를 검사하기 위해서 사용되는 프로브에 관한 것으로, 종래에 사용되고 있는 프로브를 살펴보면 도 2, 3에서 도시된 바와 같이 슬리브(30a) 하부가 테이퍼형상으로 가공된 접촉핀(3a)이 형성되어 있으며 상부에는 프로브 핀 삽입구(7a)가 형성되어 있고, 상기와 같이 구성된 슬리브(30a)는 슬리브 블록(40a)에 끼어져 고정되고 슬리브 블록 아래로 돌출 되어 나온 접촉핀(3a)은 프로브 프레임(50a)에 납땜(9)되어 있다. 프로프 핀(10a)은 슬리브(30a) 상부의 삽입구 안으로 삽입되어 설치된다. 상기와 같이 설치된 프로브 프레임(50a)은 도 1에서 도시된 바와 같이 LCD위에서 놓이게 되고 LCD전극과 프로브 프레임에 설치되어 있는 프로브의 첨두부(1a)와 접촉하여 LCD의 단락, 단선 검사를 하게 되고 이렇게 반복적인 작업으로 프로브 핀(10a)의 핀 부(2a)가 절단되는 경우가 빈번하게 발생하게 된다. 절단된 핀 부(2a)는 슬리브(30a)에서 핀 부(10a)만 제거하여 교환하기가 불가능하기 때문에 프로브 프레임(50a)과 접촉핀(3a)과의 납땜(9)을 제거하여 슬리브(30a)가 삽입된 프로브 블록(40a)을 프로브 프레임(50a)에서 분리시켜 이를 교환하고, 다시 이를 납땜시켜야 하므로 교환에 오랜 시간이 소요되는 문제점이 발생한다.The present invention relates to a probe used to inspect whether there is a short circuit or disconnection of an LCD electrode in a shipment inspection that inspects a finished LCD product before shipment. The probes used in the prior art are illustrated in FIGS. 2 and 3. As described above, a contact pin 3a having a tapered shape is formed at a lower portion of the sleeve 30a, and a probe pin insertion hole 7a is formed at an upper portion thereof. The sleeve 30a configured as described above is a sleeve block 40a. The contact pins 3a, which are clamped in and fixed under the sleeve block, are soldered to the probe frame 50a. The prop pin 10a is inserted into the insertion hole in the upper portion of the sleeve 30a and installed. The probe frame 50a installed as described above is placed on the LCD as shown in FIG. 1, and the LCD electrode and the tip 1a of the probe installed on the probe frame are contacted to inspect the short circuit and disconnection of the LCD. In the repetitive operation, the pin portion 2a of the probe pin 10a is frequently cut. Since the cut pin portion 2a cannot be replaced by removing only the pin portion 10a from the sleeve 30a, the sleeve 30a is removed by removing the solder 9 between the probe frame 50a and the contact pin 3a. ) Is inserted into the probe block 40a from the probe frame 50a, so that the probe block 40a needs to be replaced and soldered again. Therefore, a long time is required for the replacement.

이에 제품에 검사 시에 시간이 많이 걸리는 문제점으로 인해 보다 많은 양의 제품을 생산하는 데에 문제가 발생하여 전체적인 단가 및 경제성에 많은 영향을 끼치고 있는 실정으로 보다 효율적인 검사장치의 구성을 통하여 경제성이 높은 제품의 생산을 이룰 수 있는 기술의 개발이 절실히 요구되고 있는 실정이다. As a result, it takes a lot of time to inspect the product, causing a problem in producing a larger amount of products, which affects the overall cost and economics. There is an urgent need for the development of technologies that can produce products.

이에 본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 고안한 것으로, 2차 슬리브(20)를 이용하여, 즉 2단으로 된 슬리브를 이용함으로 장시간 소요되는 프로브 프레임(50)에서의 프로브 핀의 교환시간을 3분의 1수준으로 줄여 제품의 생산단가를 낮추는데 그 목적을 두고 고안한 것이다. The present invention has been devised to solve the above problems, by using a secondary sleeve 20, that is, by using a two-stage sleeve replacement time of the probe pin in the probe frame 50 takes a long time It is designed for the purpose of reducing the production cost of the product by reducing the level to one third.

상기와 같은 문제점을 일소하기 위해 본 고안에 따른 2단 슬리브를 가지는 프로브는 LCD전극과 접촉하는 첨두부(1)를 가진 프로브 핀(10)과, 프로브 핀을 삽입하는 2차 슬리브(20)와, 다시 프로프 핀(10)을 삽입한 2차 슬리브(20)를 다시 삽입하는 1차 슬리브(30)와, 1차 슬리브(30)가 고정되어 프로브 프레임(50)에 삽입되는 프로브 블록(40)으로 구성되는 LCD전극의 단락, 단선검사용 프로브에 관한 것으로, In order to eliminate the above problems, the probe having a two-stage sleeve according to the present invention includes a probe pin 10 having a tip 1 in contact with the LCD electrode, a secondary sleeve 20 for inserting the probe pin, and In addition, the primary sleeve 30 to reinsert the secondary sleeve 20 into which the prop pin 10 is inserted again, and the probe block 40 to which the primary sleeve 30 is fixed and inserted into the probe frame 50 are inserted. It relates to a short circuit, disconnection inspection probe of the LCD electrode consisting of

첨부된 도면을 참조하여 본 고안을 더욱 자세히 설명을 하면,Referring to the present invention in more detail with reference to the accompanying drawings,

도 1은 일반적인 LCD전극을 검사하는 작업의 나타내는 상태도이고, 도 2는 종래의 1단 슬리브를 가지는 프로브의 결합을 나타내는 결합도이며, 도 3은 도 2에서의 a-b의 단면도이고, 도 4는 본 고안인 2단 슬리브를 가지는 프로브를 나타내는 사시도이며, 도 5는 본 고안인 2단 슬리브를 가지는 프로브의 결합을 나타내는 결합도를 나타낸다. 1 is a state diagram showing an operation of inspecting a general LCD electrode, FIG. 2 is a coupling diagram showing a coupling of a probe having a conventional one-stage sleeve, FIG. 3 is a cross-sectional view of ab in FIG. 5 is a perspective view showing a probe having a two-stage sleeve of the present invention, and FIG. 5 shows a coupling diagram showing the coupling of the probe having the two-stage sleeve of the present invention.

도 4,5에 도시된 바와 같이 본 고안에 따른 2단 슬리브를 가지는 프로브는 검사할 LCD전극과 접촉하는 첨두부(1)를 가진 프로브 핀(10)과, 프로브 핀(10)을 삽입하는 2차 슬리브(20)와, 2차 슬리브(20)를 삽입하는 1차 슬리브(30)와, 1차 슬리브(30)를 삽입고정하여 프로브 프레임(50)에 끼워져 고정되는 프레임 블록(40)으로 구성된다.As shown in FIGS. 4 and 5, a probe having a two-stage sleeve according to the present invention includes a probe pin 10 having a tip 1 contacting an LCD electrode to be inspected, and a probe pin 10 inserted into the probe pin 10. The primary sleeve 30, the primary sleeve 30 to insert the secondary sleeve 20, and the frame block 40 fixed to the probe frame 50 by inserting and fixing the primary sleeve 30 are configured. do.

상기 프로브 핀(10)는 첨두부(1)와 핀 부(2)와 몸통부(4)로 구성되며 상부에는 설치되어 있는 첨두부(1)는 LCD전극과 접촉할 때 발생하는 수직압력으로 인해 접촉하는 LCD전극에 손상을 입힐 수 있으므로 뾰족한 형태가 아닌 반구형 등의 끝이 다소 평면적으로 이루어진다.The probe pin 10 is composed of a peak part 1, a pin part 2, and a body part 4, and the peak part 1 installed at an upper part thereof is caused by the vertical pressure generated when contacting the LCD electrode. It may damage the contacting LCD electrode, so the tip of the hemispherical shape is not planar but rather flat.

핀 부(2)는 상부에 첨두부(1)가 형성되어 있고 몸통부(4) 내부로 일부가 삽입되고, 종래와 같이 몸통부(4) 내부에도 스프링이 설치되어 몸통부 내부로 삽입된 일부의 핀 부(2)와 접하여 첨두부(1)가 LCD전극을 검사하기 위해 LCD전극과 접촉할 때 받는 수직압력에 의해 스프링을 밀어 핀 부(2)가 몸통부 속으로 들어가도록 하여 완충작용이 되게 한다. The pin part 2 has a peak part 1 formed on the upper part and a part is inserted into the body part 4, and a part of the pin part 2 is inserted into the body part by installing a spring in the body part 4 as in the prior art. Contacting the pin part (2) of the pin (1) pushes the spring by the vertical pressure received when the tip (1) is in contact with the LCD electrode to check the LCD electrode, so that the pin part (2) enters the body part To be.

2차 슬리브(20) 상부에는 상기 프로브 핀(10)의 몸통부(4)가 삽입될 수 있는 삽입구(5)가 형성되고, 1차 슬리브(30)는 상부에 상기 2차 슬리브(20)를 삽입하는 삽입구(6)를 형성하고, 하부에는 테이퍼형상으로 가공되어진 접촉핀(3)이 형성된다.An insertion hole 5 through which the body portion 4 of the probe pin 10 is inserted is formed on the secondary sleeve 20, and the primary sleeve 30 has the secondary sleeve 20 on the upper portion thereof. An insertion hole 6 to be inserted is formed, and a lower contact pin 3 is formed in a tapered shape.

프로브 블록(40)은 종래와 같은 형상과 구조를 가지는데 1차 슬리브(30)가 삽입되어 고정될 수 있는 슬리브 홈(7)이 형성되어 있으며 프로브 프레임(50)에 형성되어 있는 블록 홈(8)에 끼워진다. The probe block 40 has a shape and structure as in the related art, but a sleeve groove 7 in which the primary sleeve 30 is inserted and fixed is formed and the block groove 8 formed in the probe frame 50. )

상기와 같이 구성된 본 고안에 따른 2단 슬리브(20, 30)를 가지는 프로브는 1차 슬리브(30)가 프로브 블록(40)에 형성되어 있는 슬리브 홈(7)에 삽입되어 고정되고, 프로브 블록(40)은 프로브 프레임(50)에 형성되어 있는 블록 홈(8)에 끼워져 고정된다. 이에 프로브 블록(40)에 고정되어 있는 1차 슬리브(30)의 삽입구(6)로 2차 슬리브(20)를 삽입하고 다시 2차 슬리브(20)의 삽입구(5)로 프로브 핀(10)을 삽입하여 프로브 프레임(50)에 프로브를 설치 완료한다. 이렇게 설치된 프로브를 계속적으로 사용하면 첨두부(1)가 있는 핀 부(2)가 계속적으로 작용하는 수직압력으로 인해 절단 및 파손 되어 더 이상 검사작업을 수행할 수 없게 된다. 따라서 프로브 프레임(50)에서 프로브 블록(40)과 프로브 블록(40)에 삽입되어 있는 1차 슬리브(30)는 고정된 상태로 있으면서 2차 슬리브(20)만을 교환하게 되므로 종래의 1단 슬리브(30a)로만 된 프로브에서 교환하기 위해 접촉핀과 프로브 프레임사이에 작업되어 있는 납땜을 제거하고 다시 결합 시 납땜을 하는 등의 작업과정을 할 필요가 없어 프로브에 이상이 발생 시 교환 작업시간이 단축되게 된다.Probe having a two-stage sleeve (20, 30) according to the present invention configured as described above is inserted into a sleeve groove (7) formed in the probe block 40, the primary sleeve 30 is fixed, the probe block ( 40 is fitted into the block groove 8 formed in the probe frame 50 and is fixed. Accordingly, the secondary sleeve 20 is inserted into the insertion hole 6 of the primary sleeve 30 fixed to the probe block 40, and the probe pin 10 is inserted into the insertion hole 5 of the secondary sleeve 20. Insert and complete the installation of the probe in the probe frame 50. The continuous use of the probe installed in this way causes the pin part 2 with the peak part 1 to be cut and broken due to the vertical pressure continuously acting, so that no further inspection work can be performed. Therefore, in the probe frame 50, since the primary sleeve 30 inserted into the probe block 40 and the probe block 40 is in a fixed state, only the secondary sleeve 20 is replaced. It is not necessary to remove the soldering work between the contact pin and the probe frame in order to replace it in the probe made of 30a) only, and to reduce the replacement work time when a problem occurs in the probe. do.

본 고안은 종래의 1단으로 된 슬리브(30a)를 이용한 LCD전극에 사용되는 프로브를 2단으로 된 슬리브(20, 30)를 갖도록 구성함으로 반복적인 LCD전극 검사에 의해 발생하는 프로브 핀(10)의 핀 부(2)의 절단 및 파손 시에 프로브 브록(40)에 삽입되어 있는 1차 슬리브(30)에 끼워져 있는 2차 슬리브(20)만을 제거하여 교환하면 되므로 종래의 프로브에서의 교환에 걸리는 작업 시간이 3분의 1수준으로 떨어져 제품을 완성하는 시간을 단축시키는 등 아주 다대한 효과가 있다. The present invention is a probe pin 10 generated by repeated LCD electrode inspection by configuring the probe used for the LCD electrode using a conventional one-stage sleeve (30a) having a two-stage sleeve (20, 30). Since the secondary sleeve 20 inserted in the primary sleeve 30 inserted in the probe block 40 needs only to be removed and replaced when the pin portion 2 of the pin 2 is cut or damaged. The work time is reduced to one third, which shortens the time to complete the product.

도 1은 일반전인 LCD전극을 검사하는 작업을 나타내는 상태도.1 is a state diagram showing the operation of inspecting a conventional LCD electrode.

도 2는 종래의 1단 슬리브를 가지는 프로브의 결합을 나타내는 결합도.Figure 2 is a coupling diagram showing the coupling of a probe having a conventional one-stage sleeve.

도 3은 도 2에서의 a-b의 단면도.3 is a cross-sectional view of a-b in FIG.

도 4은 본 고안인 2단 슬리브를 가지는 프로브를 나타내는 사시도.Figure 4 is a perspective view showing a probe having a two-stage sleeve of the present invention.

도 5는 본 고안인 2단 슬리브를 가지는 프로브의 결합을 나타내는 결합도. 5 is a coupling diagram showing the coupling of the probe having a two-stage sleeve of the present invention.

■ 도면의 주요부분에 사용된 주요부호의 설명 ■■ Explanation of the major symbols used in the main parts of the drawings ■

1 : 첨두부 2 : 핀                    1: Peak 2: Pin

3 : 접촉핀 4 : 몸통부                     3: contact pin 4: body

5, 6 : 삽입구 7 : 슬리브 홈                    5, 6: insertion hole 7: sleeve groove

8 : 블록 홈                     8: block groove

10 : 프로브 핀 20 : 2차 슬리브                    10: probe pin 20: secondary sleeve

30 : 1차 슬리브 40 : 프로브 블록                    30: primary sleeve 40: probe block

50 : 프로브 프레임                    50: probe frame

Claims (1)

LCD전극과 접촉하는 프로브 핀이, 프로브블록을 통하여 프로브 프레임에 납땜고정되는 슬리브에 삽입되어 LCD전극의 단락, 단선을 검사하는 프로브의 구성에 있어서, In the configuration of the probe that the probe pin in contact with the LCD electrode is inserted into the sleeve which is fixed to the probe frame through the probe block to check the short circuit, disconnection of the LCD electrode, 상기 프로브 핀(10)이 삽입될 수 있는 삽입구(5)를 상부에 구성되고, 프로브블록(40)에 삽입되어 있는 상기 슬리브(30)의 삽입구(6)에 삽입될 수 있도록 하부가 구성된 2차 슬리브(20)를 통하여, 프로프 핀(10)을 프로브프레임(50)과 일측이 결합된 슬리브(30)에 안착 구성한 것으로,The secondary port configured to be inserted into the insertion hole 5 of the upper portion and the insertion hole 6 of the sleeve 30 is inserted into the probe block 40, the probe pin 10 can be inserted into the secondary Through the sleeve 20, the prop pin 10 is configured to be seated on the sleeve 30 coupled to the probe frame 50, 삽입 프로브 핀(10)의 핀 부(2)의 절단 및 파손 시 상기 슬리브(30)에서 탈부착이 가능하도록 되어 있는 2차 슬리브(20)를 빼내서 핀(10)의 수리를 할 수 있도록 한 것을 포함하는 2차 슬리브를 가지는 프로브. When the pin portion (2) of the insertion probe pin 10 is cut and damaged, the secondary sleeve 20, which is detachable from the sleeve 30, is removed so that the pin 10 can be repaired. A probe having a secondary sleeve.
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