KR102140498B1

KR102140498B1 - 패널 검사장치

Info

Publication number: KR102140498B1
Application number: KR1020190177927A
Authority: KR
Inventors: 남현우; 김정; 노영래
Original assignee: 남현우
Priority date: 2019-12-30
Filing date: 2019-12-30
Publication date: 2020-08-03

Abstract

블록유닛과, 블록유닛의 하부에 결합되는 탑 플레이트를 포함하고, 탑 플레이트의 하부에는 검사할 패널과 접속을 위한 커넥터부를 가지는 FPCB가 커버 플레이트에 의해 밀착 고정되고, 탑 플레이트의 선단부 하부에는 FPCB의 커넥터부를 패널에 접촉되도록 가압하는 가압리브가 돌출되게 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치가 개시된다.

Description

패널 검사장치{AN APPARATUS FOR TESTING PANEL}

본 발명은 패널 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 FPCB를 지지한 채 패널과 접촉시켜 패널을 검사할 수 있는 패널 검사장치에 관한 것이다.

일반적으로 다양한 전자기기에 사용되는 디스플레이 패널을 양산하는 과정에서, 제조된 패널이 정상적으로 동작하는지를 검사하기 위해서 다양한 프로브 검사장치들이 이용된다.

패널을 검사하는 방법으로는 풀 컨텍(Full Contact) 검사방법과, 쇼팅(Shorting) 검사방법이 있다. 최근에는 검사 시간을 단축시키는 쇼팅 검사방법이 주로 사용되고 있다.

상기 패널과 같은 검사 대상물은 전극 패드들과 접촉되도록 구비된 다수의 커넥터(일예로, 탐침)들을 갖는 패널 검사유닛(일 예로 프로브 유닛)을 이용하여 검사될 수 있다. 패널 검사유닛은 회로기판으로부터 인가되는 전기신호를 테스트할 패널로 인가하기 위한 FPCB를 장착하고, 그 FPCB 단부의 커넥터(탐침)를 패널에 접촉하도록 이동하여 패널이 정상적으로 동작하는지를 검사하게 된다.

그런데, 상기와 같이 패널 검사유닛의 선단 즉, 프로브 유닛에서 FPCB를 장착하는 프로브 블록이 패널에 밀착되는 과정에서, 패널과 FPCB의 접촉에 불량이 발생되어 패널을 정상적으로 검사하지 못하는 문제점이 발생하고 있다.

대한민국 등록특허 제10-1961692호

본 발명은 상기와 같은 점을 감안하여 창안된 것으로서, FPCB와 패널 간의 접속이 안정적으로 유지되도록 하면서 접속압력에 의한 손상을 방지할 수 있는 패널 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 패널 검사장치는, 블록유닛; 및 상기 블록유닛의 하부에 결합되는 탑 플레이트;를 포함하고, 상기 탑 플레이트의 하부에는 검사할 패널과 접속을 위한 커넥터부를 가지는 FPCB가 커버 플레이트에 의해 밀착 고정되고, 상기 탑 플레이트의 선단부 하부에는 상기 FPCB의 커넥터부를 상기 패널에 접촉되도록 가압하는 가압리브가 돌출되게 형성되는 것을 특징으로 한다.

이로써, 패널 검사를 위한 FPCB와 패널의 접촉상태를 양호하게 확보하여 검사의 신뢰성을 높일 수 있다.

여기서, 상기 블록유닛은, 연결 블록; 및 상기 연결 블록의 하부에 적층되어 결합되고, 선단부와 하부로부터 단차지게 형성되어 완충부재와 상기 탑 플레이트가 적층되어 결합되는 단차 결합부를 가지는 베이스 블록;을 포함하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 가압리브는, 상기 탑 플레이트의 하면에서 길이 방향으로 연속되게 돌출 형성되고, 상기 커넥터부에 선접촉되어 가압하도록 끝단이 예각을 이루도록 형성되는 것이 좋다.

이로써, 커넥터부가 패널에 안정적으로 접촉되어 패널 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

또한, 상기 탑 플레이트는 길이 방향에 교차하도록 상기 가압리브가 형성되는 선단에서부터 후단 방향으로 절개된 절개부를 가지는 것이 좋다.

이로써, 탑 플레이트의 길이 방향으로 불균일한 접촉 가압력이 작용하더라도 탑 플레이트가 절개부를 기준으로 다르게 변형됨으로써 패널에 가해지는 압력이 균일화되고 접촉균일성이 향상되도록 할 수 있다.

또한, 상기 탑 플레이트는 복수의 체결나사에 의해 상기 블록유닛에 결합되며, 상기 복수의 체결나사는 상기 탑 플레이트의 폭 방향으로의 중심에서 상기 가압리브의 반대 측에 치우치게 결합되는 것이 좋다.

이로써, 탑 플레이트의 가압리브 쪽에서의 패널과의 접촉력에 의한 압력을 효과적으로 완충할 수 있다.

또한, 상기 탑 플레이트와 상기 블록 유닛 사이에 개재되는 완충부재를 더 포함하고, 상기 완충부재는, 상기 탑 플레이트와 상기 블록유닛 사이에 위치하도록 상기 체결나사에 설치되는 복수의 스프링을 포함하는 것이 좋다.

이로써, 패널에 접촉시 발생하는 충격을 완충하여 패널과 FPCB의 손상을 방지할 수 있다.

또한, 상기 탑 플레이트와 상기 블록 유닛 사이에 개재되는 완충부재를 더 포함하고, 상기 완충부재는, 상기 탑 플레이트와 상기 블록 유닛 사이에 설치되는 완충패드를 더 포함하는 것이 좋다.

이로써, 완충효과를 더욱 향상시킬 수 있다.

또한, 상기 가압리브는, 상기 탑 플레이트의 하면에서 길이 방향으로 연속되게 돌출 형성되고, 상기 커넥터부에 선접촉되어 가압하도록 하면이 경사지게 형성되는 것이 좋다.

본 발명의 패널 검사장치에 따르면, FPCB를 패널에 밀착시키도록 탑 플레이트에 형성된 가압리브의 선단이 예각을 이루도록 형성됨으로써, FPCB의 커넥터부를 면접촉이 아니라 선접촉하여 가압함으로써 상기 커넥터부를 통해 패널에 가해지는 접촉압력을 최소화하면서도 안정적으로 접촉이 이루어지도록 할 수 있다.

특히, 완충부재에 의해서 접촉시의 충격이 흡수되어 패널과 커넥터부의 손상을 방지할 수 있으며, 미소한 변형이 가능하게 되어 패널의 접속부 전체적으로 높이차가 발생하더라도 커넥터부와의 전체적인 접촉이 안정적으로 이루어지고, 접촉력이 균일하게 분포되도록 할 수 있다.

또한, 탑 플레이트의 절개부를 기준으로 탑 플레이트의 길이 방향으로 서로 다른 접촉력이 작용하고 서로 다른 완충률은 물론, 다른 변형률을 갖게 되므로, 프로브의 수평오차나, 기계적 동작 오차 또는 패널의 자세 오차 등 다양한 오차에 대응하여 안정적인 접속이 이루어지도록 할 수 있다.

도 1 및 도 2 각각은 본 발명의 실시예에 따른 패널 검사장치를 나타내 보인 사시도이다.
도 3은 도 1에 도시된 패널 검사장치의 좌측면도이다.
도 4는 도 1에 도시된 패널 검사장치의 정면도이다.
도 5는 도 3의 요부를 발췌하여 나타내 보인 도면이다.
도 6은 도 1에 도시되 패널 검사장치의 저면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 다른 패널 검사장치를 나타내 보인 정면도이다.
도 8은 도 8에 도시된 패널 검사장치의 측면도이다.
도 9는 도 7의 Ⅰ-Ⅰ선 단면도이다.
도 10은 도 9의 A 부분을 확대하여 보인 도면이다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 패널 검사장치의 요부를 설명하기 위한 단면도이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 패널 검사장치를 자세히 설명하기로 한다.

도 1 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 패널 검사장치(100)는, 블록유닛(110)과, 상기 블록유닛(110)에 적층되어 결합되는 프로브(130)를 구비한다.

상기 블록유닛(110)은 연결블록(111)과, 연결블록(111)에 결합되는 베이스 블록(113)을 구비한다.

상기 연결블록(111)은 수직으로 소정 길이로 형성되며, 하측에는 베이스 블록(113)이 결합된다. 연결블록(111)과 베이스 블록(113)은 일체로 형성될 수도 있다.

상기 베이스 블록(113)의 하측의 일부에는 프로브(130)가 적층되어 결합된다. 즉, 베이스 블록(113)을 기준으로 상측에 연결블록(111)이 배치되고, 하측에는 프로브(130)가 배치될 수 있다.

베이스 블록(113)의 하부에는 프로브(130)가 장착되도록 단차 결합부(113a)가 소정 폭으로 형성된다.

상기 프로브(130)는 베이스 블록(113)의 단차 결합부(113a)에 결합되는 탑 플레이트(131)와, 탑 플레이트(131)와 베이스 블록(113) 사이에 배치되는 완충부재(133)와, 선단의 커넥터부(135a)가 탑 블레이트(131)의 선단에 위치하도록 베이스 블록(113)의 하부에 배치되는 FPCB(135)와, FPCB(135)를 외측에서 덮어서 결합하는 커버 플레이트(137)를 구비한다.

상기 탑 블레이트(131)는 베이스 블록(113)의 하부면에 대응되는 높이를 갖도록 단차 결합부(113a)에 배치되어 완충부재(133)와 적층되어 결합된다. 즉 복수 위치에서 체결나사(139)에 의해 단차 결합부(113a)에 결합되고, 완충부재(133)를 함께 고정시킨다. 탑 플레이트(131)의 선단의 하부에는 가압리브(131a)가 돌출 형성된다. 가압리브(131a)는 탑플레이트(131)의 길이 방향으로 나란하게 배치되고, 끝단으로 갈수록 두께가 좁아지도록 서로 대치되는 경사면(s1,s2)을 가진다. 이러한 가압리브(131a)는 FPCB(135)의 커넥터부(135a)를 가압하여 검사할 패널(10)에 커넥터부(135a)가 가압되면서 접촉상태가 안정적으로 이루어지도록 할 수 있다. 이를 위해 가압리브(131a)의 끝단 즉, 접촉단은 예각을 이루도록 형성되는 것이 바람직하다.

이처럼 가압리브(131a)의 접촉단이 예각을 이루도록 형성함으로써, FPCB(135)의 커넥터부(135a)와 선접촉하여 가압하여 패널(10)에 접촉하도록 하여 커넥터부(135a)에 면접촉하여 불필요한 부분에 압력이 가해져서 FPCB(135)가 손상되는 것을 방지하고, 접점만 패널(10)에 정확하게 접촉이 이루어지도록 할 수 있다.

그리고 상기 완충부재(133)는 프로브(130)가 패널(10)에 밀착되어 가압될 때, 프로브(130)와 패널(10) 간의 충돌로 인한 충격을 흡수하여 패널(10)과 FPCB(135)의 손상을 방지하기 위한 것이다. 이러한 완충부재(133)는 실리콘, 고무 등의 재질로 형성된 완충패드(133a)를 포함하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 탑 플레이트(131)는 복수의 체결나사(139)에 의해 단차 결합부(113a)에 결합되는데, 복수의 체결나사(139)는 가압리브(131a)의 길이 방향으로 일정 간격으로 배치된다. 그리고 바람직하게는 체결나사(139)는 탑 플레이트(131)의 폭의 중앙선(L)을 기준으로 가압리브(131a)로부터 멀리 이격되게 배치된다. 따라서, 체결나사(139)에 의한 체결력이 가압리브(131a)로부터 먼 쪽에 치우치게 됨으로써, 가압리브(131a)가 형성된 쪽으로는 외력에 의해 미세하게 움직일 수 있는 자유도가 확보될 수 있다. 특히, 완충부재(133)도 체결나사(139)에 의해 체결되어 고정됨으로, 완충부재(133)의 완충력도 가압리브(131a)에 대응되는 위치에서 더 크게 작용하게 되어, 가압리브(131a)를 통해 전달되는 충격을 효과적으로 흡수할 수 있다.

또한, 탑 플레이트(131)는 길이 방향으로 대략 중앙 부분에 절개부(131b)가 형성되는 것이 좋다. 상기 절개부(131b)는 가압리브(131a)가 형성된 선단로부터 대략 중앙 부분까지 형성된다. 이처럼 절개부(131b)를 형성하게 됨으로써, 패널(10)과 접촉시 접촉 높이가 서로 다를 경우 탑 플레이트(131)에서 패널(10)로 전달되는 가압력이 어느 한쪽으로 치우치거나 집중되는 것을 방지하고, 접촉 높이에 따라서 완충률 즉, 완충부재(133)의 변형과 가압리브(131a)의 높이가 다르게 이루어질 수 있도록 한다.

따라서, 패널(10)과 FPCB(135)의 커넥터부(135a)의 접촉부위의 높이가 길이 방향으로 서로 다르더라도 검사를 위한 접점이 전체 길이 방향으로 안정적으로 이루어지도록 함은 물론, 어느 한쪽으로 가압력이 집중되어 패널(10) 또는 FPCB(135)의 손상이 발생하는 것을 방지할 수 있게 된다.

상기 구성을 가지는 탑 플레이트(131)는 비금속 재질로 형성되며, 바람직하게는 합성수지 재질 또는 엔지니어링 플라스틱으로 형성되는 것이 좋다.

상기 FPCB(135)는 커버 플레이트(131)에 의해 베이스 블록(113)의 하부면에 밀착되어 고정 결합된다.

상기 커버 플레이트(137)는 금속 재질 또는 합성수지 재질로 형성될 수 있으며, 나사에 의해 베이스 블록(113)에 착탈 가능하게 결합되어, FPCB(135)를 밀착 지지한다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 패널 검사장치(100)에 의하면, 패널(10)을 검사하기 위해서 패널(10)에 접근시켜서 FPCB(135)의 커넥터부(135a)를 패널(10)에 접촉시킨다. 이때 탑 플레이트(131)의 가압리브(131a)가 커넥터부(135a)를 면접촉이 아니라 선접촉하여 가압함으로써 커넥터부(135a)를 통해 패널(10)에 가해지는 접촉압력을 최소화하면서도 안정적으로 접촉이 이루어지도록 할 수 있다. 특히, 완충부재(133)에 의해서 접촉시의 충격이 흡수되어 패널(10)과 커넥터부(135a)의 손상을 방지할 수 있으며, 미소한 변형이 가능하게 되어 패널(10)의 접속부 전체적으로 높이차가 발생하더라도 커넥터부(135a)와의 전체적인 접촉이 안정적으로 이루어지고, 접촉력이 균일하게 분포되도록 할 수 있다.

특히, 탑 플레이트(131)의 절개부(131b)를 기준으로 탑 플레이트(131)의 길이 방향으로 서로 다른 접촉력이 작용하고 서로 다른 완충률은 물론, 다른 변형률을 갖게 되므로, 프로브(130)의 수평오차나, 기계적 동작 오차 또는 패널(10)의 자세 오차 등 다양한 오차에 대응하여 안정적인 접속이 이루어지도록 할 수 있다.

따라서, 패널(10) 검사를 확실하게 할 수 있고, 패널(10) 검사시 패널(10)의 손상을 방지할 수 있어 검사의 안정성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

또한, 도 7 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 다른 실시예에 따른 패널 검사장치(100')는 프로브(130')의 탑 플레이트(131')가 하부로 돌출된 가압리브(131a')를 구비하되, 상기 가압리브(131a')의 하면이 경사지게 형성된 점에 특징이 있다. 즉, 가압리브(131a')의 하면은 탑 플레이트(131')의 끝단에서 멀어질수록 상부로 경사지게 형성됨으로써, 가압리브(131a')가 패널에 접촉시 패널과 선접촉되어 가압할 수 있게 된다. 상기 가압리브(131a')의 하면의 경사각은 8도 내지 12도 각도로 형성되는 것이 좋다.

또한, 상기 패널 검사장치(100')는 완충부재(133)로서 탑 플레이트(131')와 베이스 블록(113) 사이에 설치되는 스프링(133')을 구비한다. 스프링(133')은 복수의 체결나사(139) 각각에 끼워져 설치되며, 탑 플레이트(131')와 베이스 블록(113) 사이에서 충격을 완충하는 역할을 한다.

또한, 도 11에 도시된 바와 같이, 완충부재 없이 체결나사(139)에 의해 결합디는 탑 플레이트(131')의 후단이 베이스 블록(113)에 직접 접촉되어 체결나사(139)에 의해 체결되고, 선단부 즉 가압리브(131a')가 형성된 부분은 베이스 블록(113)과 이격되어 외력에 의해 변형 가능하도록 설치되는 프로브(130")의 구성도 가능하다. 이 경우, 도 11과 같이 베이스 블록(113)의 단부 즉, 가압리브(131a')에 대응되는 부분에 단차지게 형성됨으로써, 가압리브(131a')가 형성된 탑 플레이트(131')의 선단과의 사이에 공간이 확보되어 탑 플레이트(131')의 선단이 외력에 의해 변형될 수 있다.

이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 특허청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.

10..패널 100..패널 검사장치
110..블록 유닛 130,130',130"..프로브
131,131'..탑 플레이트 131a,131'..가압리브
131a..절개부 133..완충부재
133'..스프링

Claims

블록유닛; 및
상기 블록유닛의 하부에 결합되는 탑 플레이트;를 포함하고,
상기 탑 플레이트의 하부에는 검사할 패널과 접속을 위한 커넥터부를 가지는 FPCB가 커버 플레이트에 의해 밀착 고정되고,
상기 탑 플레이트의 선단부 하부에는 상기 FPCB의 커넥터부를 상기 패널에 접촉되도록 가압하는 가압리브가 돌출되게 형성되고,
상기 탑 플레이트는 길이 방향에 교차하도록 상기 가압리브가 형성되는 선단에서부터 후단 방향으로 절개된 절개부를 가지는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
제1항에 있어서, 상기 블록유닛은,
연결 블록; 및
상기 연결 블록의 하부에 적층되어 결합되고, 선단부와 하부로부터 단차지게 형성되어 완충부재와 상기 탑 플레이트가 적층되어 결합되는 단차 결합부를 가지는 베이스 블록;을 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 가압리브는,
상기 탑 플레이트의 하면에서 길이 방향으로 연속되게 돌출 형성되고, 상기 커넥터부에 선접촉되어 가압하도록 끝단이 예각을 이루도록 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
삭제
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 탑 플레이트는 복수의 체결나사에 의해 상기 블록유닛에 결합되며,
상기 복수의 체결나사는 상기 탑 플레이트의 폭방향으로의 중심에서 상기 가압리브의 반대 측에 치우치게 결합되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 탑 플레이트와 상기 블록 유닛 사이에 개재되는 완충부재를 더 포함하고,
상기 완충부재는,
상기 탑 플레이트와 상기 블록유닛 사이에 위치하도록 설치되는 복수의 스프링을 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 탑 플레이트와 상기 블록 유닛 사이에 개재되는 완충부재를 더 포함하고,
상기 완충부재는 상기 탑 플레이트와 상기 블록 유닛 사이에 설치되는 완충패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 가압리브는,
상기 탑 플레이트의 하면에서 길이 방향으로 연속되게 돌출 형성되고, 상기 커넥터부에 선접촉되어 가압하도록 하면이 경사지게 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 검사장치.