KR101441618B1 - 디스플레이 패널 검사용 프로버 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로버에 관한 것으로서, 검사용 회로기판; 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭; 을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 의해, 프로버 자체에 자가 탄성 기능을 부여함으로써 가압 시 발생하는 변위를 흡수하여 접촉 소자의 접촉 신뢰성을 극대화시킬 수 있으며, 탄성블럭의 변위 흡수에 의해 접촉 소자의 변형 및 파손이 최소화되며, 프로버의 검사 수명이 증대될 수 있다.
또한, 접촉소자를 구성하는 연결부의 형태 구조를 다양화시킴으로써 연결부와 검사용 회로기판의 전기적 접속이 신뢰적으로 유지될 수 있다.

Description

디스플레이 패널 검사용 프로버{DISPLAY PANEL TESTING PROBER}
본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로버에 관한 것이다.
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), 및 유기발광소자(Organic Light Emitting Diodes)를 포함하는 디스플레이 패널의 제조는 생산의 최종 단계에서 프로버에 의하여 접속 단자들의 정상 작동 여부를 검사하는 공정을 포함한다.
여기서, 프로버는 디스플레이 패널의 패드 전극과 직접적으로 접촉하여 전기적 신호를 인가하고 이와 동시에 출력을 검출함으로써 디스플레이 패널의 이상 유무를 검사한다.
이러한 디스플레이 패널 검사용 프로버에 관련된 종래기술로는 대한민국 등록특허공보 등록번호 제10-0828950호(2008.5.13. 공고)가 있었으며, 상기 종래기술은 디스플레이 패널의 수평도를 유지한 상태에서 안정적인 검사를 진행하기 위한 패널 푸셔 및 프로브 유닛에 관한 것이다.
그러나 종래기술의 경우, 패널 푸셔에 의한 프로브 유닛 가압 시 패널 패드 전극과 접촉되는 프로브 변형 및 파손을 방지하지 못하는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기 문제점을 개선하기 위하여 창작된 것으로, 본 발명의 목적은, 접촉 소자의 접촉 부분만을 제외한 나머지 부분을 감싸는 탄성블럭을 배치시켜 프로버에 자가 탄성 기능을 부여할 수 있는 기술을 제공하는 데 있다.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 검사용 회로기판; 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭; 을 포함하는 디스플레이 패널 검사용 프로버에 의해 달성될 수 있다.
여기서, 상기 탄성블럭은 액상 실리콘 고무를 경화시켜 마련될 수 있다.
또한, 상기 접촉소자는, 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 상기 탄성블럭에 수용되는 연결부; 및 상기 연결부의 단부에 형성되며, 상기 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부; 를 포함한다.
여기서, 상기 연결부는 측단면을 기준으로, 검사용 회로기판과 접촉되는 둘 이상의 접촉부분을 구비하며, '⊃' 형태로 마련되는 중단 부분의 하부가 상기 둘 이상의 접촉부분을 연결시키는 형태로 마련될 수 있다.
또는, 상기 연결부는 측단면을 기준으로 상기 탄성블럭의 폭과 높이에 대응되도록 상방으로 경사지게 형성될 수 있다.
여기서, 상기 연결부는, 상기 검사용 회로기판으로부터 직립되는 제1부분; 상기 제1부분으로부터 전방으로 연장형성되는 제2부분; 및 상기 제2부분으로부터 상방으로 연장형성되는 제3부분; 을 포함한다.
또한, 상기 제2부분은 경사진 형태로 마련되어 상기 제1부분과 제3부분 사이를 연결시키도록 마련될 수 있다.
본 발명에 의하면 다음과 같은 효과를 발휘할 수 있다.
첫째, 프로버 자체에 자가 탄성 기능을 부여함으로써 가압 시 발생하는 변위를 흡수하여 접촉 소자의 접촉 신뢰성을 극대화시킬 수 있다.
둘째, 탄성블럭의 변위 흡수에 의해 접촉 소자의 변형 및 파손이 최소화되며, 이에 의해 프로버의 검사 수명이 증대될 수 있다.
셋째, 접촉소자를 구성하는 연결부의 형태 구조를 다양화시킴으로써 연결부와 검사용 회로기판의 전기적 접속이 신뢰적으로 유지될 수 있다.
도 1 은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버의 사시도이다.
도 2 는 본 발명의 연결부의 구조를 도시한 측단면도이다.
도 3 은 본 발명의 연결부의 다른 구조를 도시한 측단면도이다.
도 4 는 본 발명의 연결부의 또 다른 구조를 도시한 측단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성을 상세히 설명하기로 한다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어는 사전적인 의미로 한정 해석되어서는 아니되며, 발명자는 자신의 발명을 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절히 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예 및 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 표현하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 존재할 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1 은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버의 사시도이며, 도 2 는 본 발명의 연결부의 구조를 도시한 측단면도이고, 도 3 은 본 발명의 연결부의 다른 구조를 도시한 측단면도이며, 도 4 는 본 발명의 연결부의 또 다른 구조를 도시한 측단면도이다.
도 1 내지 도 4 를 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버는, 검사용 회로기판(10), 접촉소자(20) 및 탄성블럭(30)를 포함한다.
검사용 회로기판(10)은 디스플레이 패널에 각종 검사용 전기 신호를 인가하기 위한 검사 유닛에 접속되고, 디스플레이 패널에서 리턴된 전기 신호를 검사 유닛으로 전달하는 역할을 수행하며, 인쇄회로기판(PCB)으로 마련될 수 있으며, 바람직하게는 가요성을 구비한 플렉시블 인쇄회로기판(FPCB)로 마련될 수 있다.
접촉소자(20)는 일단이 검사용 회로기판(10)에 전기적으로 접속되며, 타단이 피검사 대상물인 디스플레이 패널에 접촉되어 검사 유닛으로부터 인가된 전기 신호를 디스플레이 패널로 전달함과 동시에 디스플레이 패널에서 리턴된 전기 신호를 검사용 회로기판(10)으로 전달하는 역할을 수행한다.
탄성블럭(30)은 접촉소자(20) 중 디스플레이 패널과 직접적으로 접촉하는 부분을 제외한 부분을 감싸는 구성으로 검사 중 가압에 의한 외력에 의해 디스플레이 패널 또는 접촉소자의 파손을 방지하는 역할을 수행한다.
탄성블럭(30)은 실리콘 고무로 마련될 수 있으며, 바람직하게는, 액상 실리콘 고무를 경화시킴으로써 프로버 상에 형성할 수 있다.
즉, 본 발명에 따른 프로버는, 접촉소자(20) 부분에 탄성블럭(30)을 형성시킴으로써 가압 시 발생하는 디스플레이 패널 또는 프로버의 변위를 프로버에서 자체적으로 흡수하여 복수개로 마련된 접촉소자(20)들이 일괄적으로 디스플레이 패널에 접촉됨과 동시에 접촉소자(20)의 변형 또는 파손을 최소화시켜, 궁극적으로는 프로버의 내구성 증대 및 프로버의 교체 감소를 통한 품질 안정화 및 생산 효율 증대를 기대할 수 있는 것이다.
한편, 접촉소자(20)는, 검사용 회로기판(10)과 전기적으로 연결되며, 탄성블럭(30)에 수용되는 연결부(22)와 연결부(22)의 단부에 형성되며, 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부(24)를 포함한다.
여기서, 접촉소자(20)는 도 2 내지 도 4 에서와 같이 다양한 구조로 마련될 수 있다.
구체적으로, 연결부(22)는 도 2 에서와 같이, 검사용 회로기판(10)과 접촉되는 둘 이상의 접촉부분을 구비하며, '⊃' 형태로 마련되는 중단 부분의 하부가 둘 이상의 접촉부분을 연결시키는 형태로 마련되며, '⊃' 형태로 마련되는 중단 부분의 상부 일측에서 상방으로 연장되어 탐침부(24)가 형성된 접촉소자(20)를 구성할 수 있다.
여기서, 연결부(22)의 중단부분을 '⊃' 형태로 마련함으로써 연결부(22)는 판 스프링 구조를 구비하며, 하부가 둘 이상의 접촉부분을 연결시키는 형태로 마련되어 접촉소자(20)와 검사용 회로기판(10) 간의 접촉 신뢰성을 향상시키며, 가압에 의한 외력 작용이 탄성블럭(30) 및 연결부(22)에서 흡수됨으로써 접촉소자(20)의 내구성이 증대될 수 있다.
또는, 연결부(22)는 측단면을 기준으로 탄성블럭(30)의 폭과 높이에 대응되도록 상방으로 경사지게 형성될 수 있다.
여기서, 연결부(22)는 도 3 에서와 같이, 검사용 회로기판(10)으로부터 직립되는 제1부분(22a), 제1부분(22a)으로부터 전방으로 연장형성되는 제2부분(22b) 및 제2부분(22b)으로부터 상방으로 연장형성되는 제3부분(22c)을 구비하는 형태로 마련될 수 있으며, 제3부분(22c)에서 탐침부(24)가 상방으로 형성되어 접촉소자(20)를 구성할 수 있다.
또한 이 경우, 도 3 의 도시를 기준으로 제1부분(22a)과 제2부분(22b)의 상측 접합부분 또는 제2부분(22b)과 제3부분(22c)의 우측 접합부분을 곡면으로 처리하여 가압에 의한 연결부(22)에 인가되는 응력을 효율적으로 지지하도록 할 수 있으며, 제2부분(22b)의 상부는 직선으로, 하부는 소정의 각도로 상방으로 기울여진 형태로 구성될 수 있다.
또한, 제2부분(22b)은 도 4 에서와 같이, 경사진 형태로 마련되어 제1부분(22a)과 제3부분(22c) 사이를 연결시키도록 마련될 수도 있다.
또한, 도 4 에서와 같이, 탄성블럭(30)은 접촉소자(20)의 양단부(탐침부와 탐침부의 대향부분)를 제외한 부분을 감싸도록 형성될 수도 있다. 여기서, 접촉소자(20)와 검사용 회로기판(10)의 접촉부분은 일부가 탄성블럭(30)에 의해 수용되고 일부가 노출된다.
즉, 본 발명은 연결부(22)의 구조를 외력에 대응할 수 있는 다양한 형태로 마련함으로써 가압에 의한 접촉소자(20)의 변형 및 파손을 방지할 수 있는 것이다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버는, 프로버 자체에 자가 탄성 기능을 부여함으로써 가압 시 발생하는 변위를 흡수하여 접촉 소자의 접촉 신뢰성을 극대화시킬 수 있으며, 탄성블럭의 변위 흡수에 의해 접촉 소자의 변형 및 파손이 최소화되며, 이에 의해 프로버의 검사 수명이 증대될 수 있다.
또한, 접촉소자를 구성하는 연결부의 형태 구조를 다양화시킴으로써 연결부와 검사용 회로기판의 전기적 접속이 신뢰적으로 유지될 수 있다.
이상, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이러한 것에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해, 본 발명의 기술적 사상과 하기 될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 실시가 가능할 것이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
10 : 검사용 회로기판
20 : 접촉소자
22 : 연결부
22a : 제1부분 22b : 제2부분 22c : 제3부분
24 : 탐침부
30 : 탄성블럭

Claims (7)

  1. 검사용 회로기판;
    상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및
    상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭; 을 포함하며,
    상기 접촉소자는,
    상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 상기 탄성블럭에 수용되는 연결부; 및
    상기 연결부의 단부에 형성되며, 상기 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부; 를 포함하고,
    상기 연결부는 측단면을 기준으로 상기 탄성블럭의 폭과 높이에 대응되도록 상방으로 경사지게 형성되는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 탄성블럭은 액상 실리콘 고무를 경화시켜 마련되는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 연결부는 측단면을 기준으로, 검사용 회로기판과 접촉되는 둘 이상의 접촉부분을 구비하며, '⊃' 형태로 마련되는 중단 부분의 하부가 상기 둘 이상의 접촉부분을 연결시키는 형태로 마련되는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 연결부는,
    상기 검사용 회로기판으로부터 직립되는 제1부분;
    상기 제1부분으로부터 전방으로 연장형성되는 제2부분; 및
    상기 제2부분으로부터 상방으로 연장형성되는 제3부분; 을 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제2부분은 경사진 형태로 마련되어 상기 제1부분과 제3부분 사이를 연결시키는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.


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