KR101748189B1 - 디스플레이 패널 검사용 프로버 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로버에 관한 것으로, 검사용 회로기판; 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭;을 포함하며, 상기 탄성블럭의 일부는 상면이 상기 검사용 회로기판의 표면에 대해 소정의 경사를 가지도록 하부로 기울어져 형성되는 것을 특징으로 한다.
이를 통해 디스플레이 패널 검사용 프로버는 하부로 기울어져 형성되는 탄성블럭의 상면을 통해 디스플레이 패널과 프로버간의 검사 수행 시 접촉 면에서 발생하는 다양한 이물질의 제거가 용이할 뿐만 아니라, 탄성블럭 상면에 위치하는 탐침부 주변만이 디스플레이 패널과 접촉하여 이상 유무 검사 시 가압에 의해 발생하는 접촉면적을 최소화함으로써, 검사의 반복적 수행에 의해 발생하는 다양한 이물질의 발생 빈도를 낮출 수 있도록 한다.

Description

디스플레이 패널 검사용 프로버 {DISPLAY PANEL TESTING PROBER}
본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로버에 관한 것이다.
TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel) 및 유기발광소자(Organic Light Emitting Diodes)를 포함하는 디스플레이 패널의 제조는 생산의 최종 단계에서 프로버에 의해 접속 단자들의 정상 작동 여부를 검사하는 공정을 수행한다.
여기서, 프로버는 디스플레이 패널의 패드 전극과 직접적으로 접촉하여 전기적 신호를 인가하고 이와 동시에 출력을 검출함으로써 디스플레이 패널의 이상 유무를 검사하는데 사용된다.
이러한, 프로버는 반도체의 정상 여부를 판단함에 있어서 전기 전도성을 높이고 접촉 저항을 낮추기 위해 탐침부의 구조를 변형함으로써, 프로버의 판단상의 정확도를 높이고 오차를 줄이기 위해 마련된 종래기술에 대한 선행문헌에는 대한민국 공개특허공보 제10-2012-0078901호의 "웨이퍼 검사 프로버"(이하, '종래기술1'이라고 함)가 있다.
하지만, 종래기술1과 같은 탐침부의 구조 상의 변형은 접촉하는 탐침부 선단의 구조적인 변형만을 통해 프로버와 패널 간의 접촉을 유발하는 가압에 의한 형태 변화를 고려하지 못하여, 충분한 탄성을 제공하지 못하였다.
따라서 접촉방식을 통한 디스플레이 패널 검사에 사용되는 프로버는 별도의 푸셔를 통해 프로버 위로 가압되는 패널과의 접촉이 반복적으로 수행됨에 따라 프로버의 구조적 변형 및 파손이 발생하고, 결과적으로 패널의 이상 유무 판단에 있어서 접촉상의 문제점이 발생하여, 본 발명의 출원인은 대한민국 등록특허공보 제10-1441618호의 "디스플레이 패널 검사용 프로버"에 따른 선행문헌을 통해 디스플레이 패널과 접촉하는 접촉소자의 접촉 부분을 제외한 나머지 부분을 감싸는 탄성블럭의 구성을 가짐으로써, 자가 탄성 기능이 마련된 디스플레이 패널 검사용 프로버를 제시한 바 있다.
이러한 선행기술의 경우, 프로버 자체에 자가 탄성 기능을 부여함으로써 가압에 의해 발생하는 변위의 흡수를 통한 접촉소자의 신뢰성 및 내구성의 증강을 기대할 수 있게 되었다.
아울러, 프로버의 가압에 의한 접촉 시 발생하는 압력의 보완을 위해 별도의 부재를 첨부하여, 하중을 완화하고 프로버의 변형에 의한 손상을 방지하여 검사 반복에 따른 신뢰성을 유지하기 위한 다양한 기술들이 개발되었으며, 이러한 종래기술에 대한 선행문헌에는 대한민국 공개특허공보 제10-1189666호의 "평판디스플레이 검사용 프로버 유닛"(이하, '종래기술2'이라고 함)이 있다.
하지만 이러한 종래기술2의 경우 역시, 피검사체와 접촉하는 프로버의 접촉면이 평행으로 이루어져 반복적인 검사에 의해 발생하는 많은 불량요소들이 프로버의 접촉면 상에 축적되거나, 다른 피검사체로의 불량요소 전이가 발생하여 검사의 신뢰성이 낮아지는 점이 문제가 되었다.
아울러 본 출원인에 의해 제시된 선행기술에 있어서도, 반복적으로 수행되는 디스플레이 패널의 이상 유무 검사를 통해 패널과 접촉소자 및 탄성블럭의 상면 상에서 발생하는 이물질이 검사 결과에 영향을 주는 불량요소로서 작용함에 따라 이를 방지하기 위한 다양한 기술들이 요구되고 있다.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위해 창작된 것으로써, 본 발명의 목적은 반복적인 디스플레이 패널 검사에 따른 패널과 프로버 사이의 접촉면에서 발생하는 이물질의 발생 및 제거를 용이하게 수행할 수 있는 기술을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버는, 검사용 회로기판; 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭;을 포함하며, 상기 탄성블럭의 상면은, 상기 검사용 회로기판의 전방으로부터 일정한 높이로 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 평행부; 및 상기 평행부로부터 상기 검사용 회로기판의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 경사부;를 포함한다.
여기서, 상기 탄성블럭은 액상 실리콘 고무 또는 액상 우레탄 중 적어도 하나를 경화시켜 마련된다.
아울러, 상기 접촉소자는, 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 상기 탄성블럭에 수용되는 연결부; 및 상기 연결부의 단부에 형성되며, 상기 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부;를 포함한다.
또한, 상기 탐침부는 상기 평행부의 상면에 위치한다.
그리고, 상기 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버는, 상기 탄성블럭의 상면에 형성되는 하나 이상의 얼라인 키;를 더 포함한다.
한편, 상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버는, 검사용 회로기판; 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭;을 포함하며, 상기 탄성블럭의 상면은, 상기 검사용 회로기판의 전방으로부터 일정한 높이로 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 평행부; 및 상기 평행부로부터 상기 검사용 회로기판의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 경사부;를 포함하며, 상기 평행부는 상기 검사용 회로기판의 전방으로부터 상기 접촉소자의 단부가 위치한 부분까지 형성되는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 탄성블럭은 액상 실리콘 고무 또는 액상 우레탄 중 적어도 하나를 경화시켜 마련된다.
아울러, 상기 접촉소자는, 상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 상기 탄성블럭에 수용되는 연결부; 및 상기 연결부의 단부에 형성되며, 상기 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부;를 포함한다.
그리고, 상기 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버는, 상기 탄성블럭의 상면에 형성되는 하나 이상의 얼라인 키;를 더 포함한다.
본 발명에 의하면 다음과 같은 효과를 발휘할 수 있다.
첫째, 하부로 기울어져 형성되는 탄성블럭의 상면을 통해 디스플레이 패널과 프로버간의 검사 수행 시 접촉 면에서 발생하는 다양한 이물질의 제거가 용이하다.
둘째, 탄성블럭 상면에 위치하는 탐침부 주변만이 디스플레이 패널과 접촉하여 이상 유무 검사 시 가압에 의해 발생하는 접촉면적을 최소화함으로써, 검사의 반복적 수행에 의해 발생하는 다양한 이물질의 발생 빈도를 낮출 수 있다.
셋째, 위와 같은 반복적 검사에 의한 이물질 발생 빈도 저하 및 제거의 용이성을 마련함과 동시에, 탄성블럭을 통해 프로버가 자가 탄성 기능을 부여받아 프로버의 접촉 신뢰성 및 내구성의 향상을 도모할 수 있다.
도1은 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버를 도시하는 사시도이다.
도2는 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버를 도시하는 측단면도이다.
도3은 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버를 도시하는 평면도이다.
도4 내지 도5는 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버 내 얼라인 키의 다양한 실시예를 도시하는 평면도이다.
도6은 본 발명의 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버를 도시하는 사시도이다.
도7은 본 발명의 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버를 도시하는 측단면도이다.
도8은 본 발명의 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버를 도시하는 평면도이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명하되, 이미 주지된 기술적 부분에 대해서는 설명의 간결함을 위해 생략하거나 압축하기로 한다.
1. 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버의 구성요소에 관한 설명
도1 내지 도3을 참조하여 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버(100)을 설명하면, 디스플레이 패널 검사용 프로버(100)은 검사용 회로기판(110); 접촉소자(120); 및 탄성블럭(130);을 포함한다.
검사용 회로기판(110)은 디스플레이 패널에 각종 검사용 전기 신호를 인가하기 위한 검사 유닛에 접속되고, 디스플레이 패널에서 리턴된 전기신호를 검사 유닛으로 전달하는 역할을 수행한다.
여기서, 검사용 회로기판(110)은 인쇄회로기판(PCB, Printed Circuit Board)으로 마련될 수 있으며, 좀 더 구체적으로는 연성 인쇄회로기판(FPCB, Flexible Printed Circuit Board)로 마련되는 것이 바람직하다.
접촉소자(120)은 일단이 검사용 회로기판(110)에 전기적으로 접속되며, 타단이 피검사 대상물인 디스플레이 패널에 접촉되어 검사 유닛으로부터 인가된 전기신호를 디스플레이 패널로 전달함과 동시에 디스플레이 패널에서 리턴된 전기 신호를 검사용 회로기판(110)로 전달하는 역할을 수행한다.
여기서, 검사용 회로기판(110) 및 디스플레이 패널과 전기적으로 연결되는 접촉소자(120)은 전도성 재질로 마련되며, 좀 더 구체적으로는 니켈(Ni), NiCo 및 NiW 등의 니켈 합금, 금(Au), 로듐(Rh), 백금(Pt) 중 적어도 하나의 물질을 이용한 전기 도금을 통해 마련될 수 있다.
또한, 접촉소자(120)은 아래 설명될 탄성블럭(130)의 감싸짐 유무를 기준으로 연결부(121); 및 탐침부(122)로 구분된다.
여기서, 연결부(121)은 도2에 도시된 바와 같이 검사용 회로기판(110)과 하단이 전기적으로 연결되며, 일정한 형태로 상부를 향해 연장 형성된다. 이렇게 일정한 형태로 마련된 연결부(121)은 탄성블럭(130)에 수용되어 감싸진다.
또한, 탐침부(122)는 연결부(121)의 단부에 형성되며, 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 탄성블럭(130)로부터 노출되는 부분을 의미한다.
탄성블럭(130)은 접촉소자(120) 중 디스플레이 패널과 직접적으로 접촉하는 부분을 제외한 부분을 감싸는 구성으로 검사중 가압에 의한 외력에 의해 디스플레이 패널 또는 접촉소자(120)가 파손됨을 방지한다.
여기서, 탄성블럭(130)은 액상 실리콘 고무 또는 액상 우레탄을 기반으로 경화시키는 작업을 수행하여 탄성력을 가진 재질로 마련한다.
이러한 탄성블럭(130)은 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시 가압에 의해 발생하는 프로버(100) 변위를 프로버(100) 자체에서 흡수하여 회복시키도록 함으로써, 복수개로 마련되는 접촉소자(120)들과 디스플레이 패널 간의 일괄적인 접촉을 가능하게 하여 접촉면적의 평행성을 높이고, 감싸진 접촉소자(120)의 변형 및 파손을 최소화하여 프로버(100)의 내구성 증대, 품질의 안정화 및 생산 효율의 증대 등을 기대할 수 있다.
아울러, 탄성블럭(130)의 상면은 도1 및 도2에 도시된 바와 같이 검사용 회로기판(110)의 전방으로부터 일정한 높이로 접촉소자(120)의 연결부(121)을 감싸는 평행부(131) 및 평행부(131)로부터 검사용 회로기판(110)의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 접촉소자(120)의 연결부(121)를 감싸는 경사부(132)로 구성된다.
여기서, 경사부(132)는 검사용 회로기판(110)의 표면을 기준으로 소정의 경사(α)를 가지고 평행부(131)로부터 하부로 기울어져 형성된다.
또한, 접촉소자 내 탐침부(122)는 도2에 도시된 바와 같이 평행부(131) 상면에 위치한다.
이와 같이 탄성블럭(130)의 상면은 탐침부(122)가 위치하는 평행부(131)와 하부로 기울어진 경사부(132)로 구성되어, 디스플레이 패널의 검사 시 탄성블럭 내 평행부(131) 및 해당 평행부(131)에 대해 돌출된 접촉소자 내 탐침부(122)만이 디스플레이 패널과 접촉함으로써, 가압되어지는 과정에서 발생할 수 있는 직, 간접적 접촉면을 접촉소자 내 탐침부(122)의 주변만으로 한정할 수 있다.
다시 말해, 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시 프로버와 접촉되는 면적 상에 수평부분을 최소화하여 필수적이고 선택적인 접촉을 통한 검사가 가능하도록 상면이 하부로 기울어진 형태의 탄성블럭(130)을 형성한다.
또한, 탄성블럭의 상면이 검사용 회로기판(110)의 표면을 기준으로 평행하여 탄성블럭이 측단면을 기준으로 직사각형의 형태를 띠는 프로버에 비해, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로버(100)은 평행부(131)로부터 검사용 회로기판(110)의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 기울어진 경사부(132)를 통해 반복적인 디스플레이 패널의 이상 유무 검사의 수행을 통해 접촉면상에서 발생할 수 있는 이물질의 제거 및 발생의 최소화를 기대할 수 있다.
여기서, 일련의 디스플레이 패널 이상 유무 검사 과정이 반복적으로 진행됨에 있어서, 프로버(100)의 검사 시 디스플레이 패널과 접촉하는 부분에 발생한 이물질은 계속적으로 이어져 진행될 검사들의 과정에까지 전달되어 영향을 줌으로써 전체적인 검사 과정 상에 오차 요인으로서 이물질이 확산될 수 있다.
즉, 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시, 프로버와 디스플레이 패널의 접촉면 상에 발생한 이물질은 검사 결과의 오차 발생과 같은 이상 현상을 발생시킬 수 있는 불량 요소로서 작용함으로 이에 대한 발생의 최소화 및 이와 같은 이물질의 추후 공정 진행에 전달됨을 방지하는 효과는 결과적으로 디스플레이 패널 검사용 프로버(100)의 검사 성능의 향상과도 직접적인 관계가 있다.
그리고 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버(100)는 도1 및 도3에 도시된 바와 같이 탄성블럭(130)의 상면에 형성되는 하나 이상의 얼라인 키(Align Key, 140)를 더 포함할 수 있다.
여기서, 하나 이상으로 마련되는 얼라인 키(140)는 카메라에 의해 인지 가능하도록 탄성블럭(130)의 내부 또는 상면에 삽입 형성되어 상면 상에 위치가 노출됨으로써, 탄성블럭(130)의 상면에 노출되어진 접촉소자(120)의 탐침부(122) 위치를 지시하고 있다.
이를 위해, 얼라인 키(140)는 도3에 도시된 봐와 같이 탄성블럭의 상면에 배열된 탐침부(122)의 양 단부측에 하나씩 위치하여 형성됨으로써, 탐침부(122)와 나란히 정렬되어 지는 것이 바람직하다.
종래의 경우, 디스플레이 패널 이상 유무 검사 과정이 반복적으로 진행됨에 있어서, 디스플레이 패널의 컨택 패드와 프로버(100)의 접촉소자(120) 간의 접촉 부위를 일치시키기 위해 검사용 카메라를 이용해 각각의 접촉소자(120)와 각각의 컨택 패드의 위치를 일일이 확인하여 일치 정렬시킨 뒤 검사를 수행하였다.
하지만, 본 발명의 경우 탄성블록(130)의 상면 상에 적어도 하나 이상의 얼라인 키(140)가 형성됨에 따라 검사용 카메라가 자동으로 얼라인 키(140)의 위치를 인식하여 컨택 패드와 접촉소자(120)를 일치 정렬시킴으로써, 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시 좀 더 정확한 정렬 정도 및 반복 검사 수행에도 일정한 정확도를 제공할 수 있을 뿐만 아니라 전체 검사 시간의 단축에도 기여할 수 있다.
여기서, 하나 이상의 얼라인 키(140)의 형상은 기하학적 중심점 판단의 용이성을 확보하고, 위치에 대한 시인성을 높이기 위해 도3에 도시된 바와 같이 '+'자 형태로 마련되는 것이 바람직하나, 이에 한정되지 않고 도4 내지 도5에 도시된 바와 같이 다양한 형태로 구현이 가능하다.
2. 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버의 구성요소에 관한 설명
도6 내지 도8을 참조하여 본 발명의 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버(200)을 설명하면, 디스플레이 패널 검사용 프로버(200)은 검사용 회로기판(210); 접촉소자(220); 및 탄성블럭(230);을 포함하며, 탄성블럭(230)의 상면 상에는 하나 이상의 얼라인 키(240)가 추가적으로 형성될 수 있다.
본 발명의 제2실시예에 대해서는 앞서 언급한 제1실시예와의 차이점 위주로 설명하며, 중복되는 설명은 간략히 하거나 생략하기로 한다.
여기서, 본 발명의 제2실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버(200)의 제검사용 회로기판(210), 접촉소자(220) 및 얼라인 키(240)의 구성적 특징은 상기 본 발명의 제1실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로버(100)의 제검사용 회로기판(110), 접촉소자(120) 및 얼라인 키(140)의 구성적 특징에 대한 상기 기재와 동일하게 대응되므로 자세한 설명은 생략한다.
탄성블럭(230)은 접촉소자(220) 중 디스플레이 패널과 직접적으로 접촉하는 부분을 제외한 부분을 감싸는 구성으로 검사중 가압에 의한 외력에 의해 디스플레이 패널 또는 접촉소자(220)가 파손됨을 방지한다.
여기서, 탄성블럭(230)은 액상 실리콘 고무 또는 액상 우레탄을 기반으로 경화시키는 작업을 수행하여 탄성력을 가진 재질로 마련한다.
이러한 탄성블럭(230)은 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시 가압에 의해 발생하는 프로버(200) 변위를 프로버(200) 자체에서 흡수하여 회복시키도록 함으로써, 복수개로 마련되는 접촉소자(220)들과 디스플레이 패널 간의 일괄적인 접촉을 가능하게 하여 접촉의 신뢰성을 높이고, 감싸진 접촉소자(220)의 변형 및 파손을 최소화하여 프로버(200)의 내구성 증대, 품질의 안정화 및 생산 효율의 증대 등을 기대할 수 있다.
아울러, 탄성블럭(230)은 도6에 도시된 바와 같이 검사용 회로기판(210)의 전방으로부터 일정한 높이로 접촉소자(220)의 연결부(221)을 감싸는 평행부(231) 및 평행부(231)로부터 검사용 회로기판(210)의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 접촉소자(220)의 연결부(221)를 감싸는 경사부(232)로 구성된다.
여기서, 평행부(231)는 도6 및 도7에 도시된 바와 같이 검사용 회로기판(210)의 전방으로부터 탐침부(222)가 위치한 부분까지 형성됨으로써, 접촉소자 내 탐침부(122)는 도7에 도시된 바와 같이 경사부(232) 상면에 위치한다.
여기서, 경사부(232)는 검사용 회로기판(210)의 표면을 기준으로 소정의 경사(α')를 가지고 평행부(231)로부터 하부로 기울어져 형성된다.
도7에 도시된 바와 같이 검사용 회로기판(210)의 후방측 방향을 기준으로 탐침부(222)를 지난 이후의 상면이 기울어진 탄성블럭(230)은 디스플레이 패널의 검사 시 탄성블럭(230)의 상면 및 해당 상면에 대해 돌출된 접촉소자 내 탐침부(222)가 디스플레이 패널과 접촉하여 가압되어지는 과정에서 발생할 수 있는 직, 간접적 접촉면을 최소화함과 동시에 접촉의 신뢰성은 더욱이 높일 수 있다.
다시 말해, 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시 프로버와 접촉되는 면적 상에 수평부분을 최소화하여 필수적이고 선택적인 접촉을 통한 검사가 가능하도록 상면이 하부로 기울어진 형태의 탄성블럭(230)을 형성한다.
또한, 탄성블럭의 상면이 검사용 회로기판(210)의 표면을 기준으로 평행하여 탄성블럭이 측단면을 기준으로 직사각형의 형태를 띠는 프로버에 비해, 본 발명의 디스플레이 패널 검사용 프로버(200)은 반복적인 디스플레이 패널의 이상 유무 검사의 수행을 통해 접촉면상에서 발생할 수 있는 이물질의 제거 및 발생의 최소화를 기대할 수 있다.
여기서, 일련의 디스플레이 패널 이상 유무 검사 과정이 반복적으로 진행됨에 있어서, 프로버(200)의 검사 시 디스플레이 패널과 접촉하는 부분에 발생한 이물질은 계속적으로 이어져 진행될 검사들의 과정에까지 전달되어 영향을 줌으로써 전체적인 검사 과정 상에 오차 요인으로서 이물질이 확산될 수 있다.
즉, 디스플레이 패널의 이상 유무 검사 시, 프로버와 디스플레이 패널의 접촉면 상에 발생한 이물질은 검사 결과의 오차 발생과 같은 이상 현상을 발생시킬 수 있는 불량 요소로서 작용함으로 이에 대한 발생의 최소화 및 이와 같은 이물질의 추후 공정 진행에 전달됨을 방지하는 효과는 결과적으로 디스플레이 패널 검사용 프로버(200)의 검사 성능의 향상과도 직접적인 관계가 있다.
본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의해서 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 보호범위는 아래 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100, 200 : 디스플레이 패널 검사용 프로버
110, 210 : 검사용 회로기판
120, 220 : 접촉소자
121, 221 : 연결부
122, 222 : 탐침부
130, 230 : 탄성블럭
131, 231 : 평행부
132, 232 : 경사부
140, 240 : 얼라인 키

Claims (9)

  1. 디스플레이 패널 검사용 프로버로서,
    검사용 회로기판;
    상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및
    상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭 ― 상기 디스플레이 패널은 상기 탄성블럭의 상면에 놓여 검사가 수행됨 ―;을 포함하며,
    상기 탄성블럭의 상면은,
    상기 검사용 회로기판의 전방으로부터 일정한 높이로 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 평행부; 및
    상기 평행부로부터 상기 검사용 회로기판의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 경사부;를 포함하고,
    상기 탄성블럭은 액상 실리콘 고무 또는 액상 우레탄 중 적어도 하나를 경화시켜 마련되고,
    상기 접촉소자는,
    상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 상기 탄성블럭에 수용되는 연결부; 및
    상기 연결부의 단부에 형성되며, 상기 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부;를 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 탐침부는 상기 평행부의 상면에 위치하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널 검사용 프로버는,
    상기 탄성블럭의 상면에 형성되는 하나 이상의 얼라인 키;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  6. 디스플레이 패널 검사용 프로버로서,
    검사용 회로기판;
    상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 단부가 디스플레이 패널과 접촉되는 하나 이상의 접촉소자; 및
    상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 탄성블럭 ― 상기 디스플레이 패널은 상기 탄성블럭의 상면에 놓여 검사가 수행됨 ―;을 포함하며,
    상기 탄성블럭의 상면은,
    상기 검사용 회로기판의 전방으로부터 일정한 높이로 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 평행부; 및
    상기 평행부로부터 상기 검사용 회로기판의 후방으로 갈수록 높이가 줄어들며 상기 접촉소자의 단부를 제외한 부분을 감싸는 경사부;를 포함하며,
    상기 평행부는 상기 검사용 회로기판의 전방으로부터 상기 접촉소자의 단부가 위치한 부분까지 형성되고,
    상기 탄성블럭은 액상 실리콘 고무 또는 액상 우레탄 중 적어도 하나를 경화시켜 마련되고.
    상기 접촉소자는,
    상기 검사용 회로기판과 전기적으로 연결되며, 상기 탄성블럭에 수용되는 연결부; 및
    상기 연결부의 단부에 형성되며, 상기 디스플레이 패널에 접촉되기 위하여 노출되는 탐침부;를 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  7. 삭제
  8. 제6항에 있어서,
    상기 탐침부는 상기 경사부의 상면에 위치하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
  9. 제6항에 있어서,
    상기 디스플레이 패널 검사용 프로버는,
    상기 탄성블럭의 상면에 형성되는 하나 이상의 얼라인 키;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는
    디스플레이 패널 검사용 프로버.
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