TW201546778A - 用於測試顯示面板的點測器 - Google Patents

用於測試顯示面板的點測器 Download PDF

Info

Publication number
TW201546778A
TW201546778A TW104103250A TW104103250A TW201546778A TW 201546778 A TW201546778 A TW 201546778A TW 104103250 A TW104103250 A TW 104103250A TW 104103250 A TW104103250 A TW 104103250A TW 201546778 A TW201546778 A TW 201546778A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
contact
circuit board
test circuit
display panel
contact elements
Prior art date
Application number
TW104103250A
Other languages
English (en)
Inventor
Hee-Sung Yang
Jae-Hong Lee
Original Assignee
Memspia Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Memspia Inc filed Critical Memspia Inc
Publication of TW201546778A publication Critical patent/TW201546778A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • G01R31/2825Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

於此揭示為用於測試顯示面板的點測器。該點測器包含一測試電路板、一或多個接觸元件以及一彈性塊,該一或多個接觸元件與該測試電路板電氣連接,並經配置以具有與一顯示面板接觸的多數各別端部,該彈性塊則經配置以環繞不同於該等接觸元件該等端部的部分。據此,由於分配給該點測器自我彈性功能,因為當該點測器受壓時所產生的位移被吸收,因此可將該等接觸元件的接觸可靠性最大化。此外,可將歸屬於該彈性塊位移與吸收之該等接觸元件的變形與傷害最小化,而增加該點測器的測試壽命。此外,因為形成該接觸元件的連接單元具有各種形式,因此該連接單元與該測試電路板可以保持可靠的電氣連接。

Description

用於測試顯示面板的點測器 【相關申請交叉參考】
本發明主張於2014年六月13日於韓國智慧財產局所申請之韓國專利申請號10-2014-0071826的利益,該申請案完整內容於此引用做為參考。
本發明與用於測試顯示面板的點測器有關。
顯示面板的製造,像是薄膜電晶體液晶顯示器(TFT-LCD)、電漿顯示面板(PDP)與有機發光二極體(OLED),係包含在該製造的最終步驟中,以點測器測試連接終端是否正常操作的測試程序。
該點測器直接與一顯示面板的焊墊電極接觸,施加電子訊號至該等焊墊電極,並同時偵測輸出,藉此測試該顯示面板是否正常。
與所述用於測試顯示面板之一點測器有關的傳統技術包含韓國專利申請號10-0828950(2008年五月6日)。該傳統技術與一種面板推動器與一探針單元有關,用以在顯示面板保持水平的狀態中執行穩定測試。
然而,該傳統技術具有的問題是,當並未避免由該面板推進器對該探針單元加壓時,與該面板焊墊電極接觸的探針將存在變形與傷害。
據此,本發明已經謹記先前技術中所發生的上述問題於心中,而本發明的目標為提供一種技術,該技術能夠藉由將一彈性塊放置繞著該點測器不與多數接觸元件接觸之部分的剩餘部分方式,將自我彈性功能分配給一點測器。
根據本發明一態樣,提供一種用於測試一顯示面板的點測器,該點測器包括一測試電路板、一或多個接觸元件與一彈性塊,該一或多個接觸元件與該測試電路板電氣連接,並經配置以具有與一顯示面板接觸的多數各別端部,而該彈性塊經配置以環繞不同於該等接觸元件該等端部的部分。
在此情況中,該彈性塊係由液態的矽橡膠硬化所形成。
此外,該等接觸元件的每一個都可以包含一連接單元與一點測單元,該連接單元與該測試電路板電氣連接,並被接收於該彈性塊中,而該點測單元形成於該連接單元的一端處,並經暴露以與該顯示面板接觸。
在此情況中,該連接單元包括二或多個接點部分,該等接點部分基於一側部橫斷面與該測試電路板接觸,而一中間部分的一下方部分係包含於該連接單元之中,並經配置 以具有「」形式,以經配置以與二或多個接點部分接觸。
替代的,該連接單元可以一種基於一側部橫斷面而與該彈性塊之寬度與高度對應的方式朝上傾斜。
在此情況中,該連接單元可以包含一第一部分、一第二部分與一第三部分,該第一部分經配置以與該測試電路板垂直,該第二部分自該第一部分向前延伸,而該第三部分自該第二部分向上延伸。
此外,該第二部分係以傾斜形式提供,並經配置以與該第一部分與該第三部分連接。
10‧‧‧測試電路板
20‧‧‧接觸元件
22‧‧‧連接單元
22a‧‧‧第一部分
22b‧‧‧第二部分
22c‧‧‧第三部分
24‧‧‧點測單元
30‧‧‧彈性塊
第1圖為根據本發明一具體實施例,用於測試顯示面板之一點測器的透視圖;第2圖為根據本發明一具體實施例,描繪一連接單元之結構的側部斷面圖;第3圖為根據本發明另一具體實施例,描繪一連接單元之結構的側部斷面圖;以及第4圖仍為根據本發明另一具體實施例,描繪一連接單元之結構的側部斷面圖。
本發明的某些示例具體實施例係參考該等伴隨圖式詳細敘述。
在本說明書與申請專利範圍中所使用的用詞與文字 不應該被解釋為具有字典的涵義,而應該被解釋為具有符合本發明之技術精神的涵義與概念,本發明之技術精神則基於本發明人可以適當地定義該等用詞或文字的概念,以對他或她的發明進行最佳敘述。
據此,以下敘述與圖示只描繪本發明之示例具體實施例,但並不完全表現本發明的範圍。要瞭解到各種的等價物與修改品在本發明的申請期間係可能將該等具體實施例進行取代。
第1圖為根據本發明一具體實施例,用於測試顯示面板之一點測器的透視圖,第2圖為根據本發明一具體實施例,描繪一連接單元之結構的側部斷面圖,第3圖為根據本發明另一具體實施例,描繪一連接單元之結構的側部斷面圖,而第4圖仍為根據本發明另一具體實施例,描繪一連接單元之結構的側部斷面圖
參考第1圖至第4圖,根據本發明一具體實施例,用於測試一顯示面板的點測器包含一測試電路板10、多數接觸元件20與一彈性塊30。
該測試電路板10經連接至一測試單元,該測試單元經配置以對一顯示面板施加各種進行測試的電子訊號。該測試電路板10的功能係用於傳輸一電子訊號,自該顯示面板返回至該測試單元。該測試電路板10可以印刷電路板(PCB)實作,較佳的是利用具有彈性的彈性電路板(FPCB)實作。
該等接觸元件20的每一個都經配置以具有電氣連接至該測試電路板10的一端,以及與一顯示面板接觸的另一 端,也就是與一被測試目標接觸。該接觸元件20的功能係用於自該測試單元傳輸一電子訊號至該測試面板,同樣也傳輸一電子訊號自該顯示面板返回至該測試電路板10。
該彈性塊30繞著該等接觸元件20直接與該顯示面板接觸部分以外的其他部分,並用於避免歸屬於在測試期間因加壓造成之外部力量,而對於該顯示面板或該等接觸元件所形成的傷害。
該彈性塊30可由矽橡膠製成,並可以利用將液態矽橡膠固化的方式形成在該點測器上。
也就是說,在根據本發明具體實施例的點測器中,該彈性塊30係形成於該等接觸元件20的部分中,因此該點測器吸收該顯示面板或該點測器在被加壓期間所產生的位移,因此該複數個接觸元件20便同時與該顯示面板接觸。據此,可將該等接觸元件20的變形或傷害最小化,該點測器的耐久性可以增加,而該等點測器的更換情形可以減少,藉此提高品質穩定性與生產效率。
該等接觸元件20係電氣連接至該測試電路板10,而該等接觸元件20的每一個都包含容納於該彈性塊30中的一連接單元22,以及形成於該連接單元22端部處並經暴露的一點測單元24,因此該接觸元件20便與該顯示面板接觸。
在此情況中,該接觸元件20可以具有如第2圖至第4圖所描繪的各種結構。
更具體的,如第2圖所描繪,該連接單元22可以包含二或多個與該測試電路板10接觸的部分。包含於該連接單 元22中並經配置以具有「」形式之一中間部分的下方部分,係用於與該二或多個接點部分連接。該接觸元件20可以自經配置為「」形式之該中間部分的上方部分的一側朝上延伸,因此形成該點測單元24。
在此情況中,因為該連接單元22之該中間部分具有「」形式,該連接單元22係具有一頁片彈簧結構,而該中間部分的下方部分則經配置以與該二或多個接點部分連接。據此,可以改善在該等接點單元20與該測試電路板10之問的接觸可靠性。此外,該等接點單元20的耐久性可以提高,因為該彈性塊30與該連接單元22吸收歸屬於加壓所形成的外部力動作。
替代的,該連接單元22可以朝上傾斜,因此其基於一側部橫斷面而與該彈性塊30之寬度與高度對應。
在此情況中,如第3圖中所描繪,該連接單元22可經配置以包含一第一部分22a、一第二部分22b與一第三部分22c,該第一部分22a經配置以與該測試電路板10垂直,該第二部分22b自該第一部分22a向前延伸,該第三部分22c自該第二部分22b向上延伸。該點測單元24則自該第三部分22c朝上形成,藉此能夠形成該接觸元件20。
此外,在以第3圖之側部橫斷面的基礎上,該第一部分22a與該第二部分22b的上方連接部分,或是該第二部分22b與該第三部分22c的右側連接部分,可以進行彎曲加工,因此由於加壓而施加至該連接單元22的應力可被有效支撐。該第二部分22b之一頂部表面可經配置以具有直線,而其下方部分表面可以朝上傾斜。
此外,如第4圖中所描繪,該第二部分22b可經配置以具有傾斜形式,並連接至該第一部分22a與該第三部分22c。
此外,如第4圖中所描繪,該彈性塊30可經配置以繞著不同於該接觸元件20兩者端部的部分(也就是,對應於該點測單元與該點測單元的部分)。在此情況中該接觸元件20接點部分的部分以及該測試電路板10可容納於該彈性塊30中,而其部分可被暴露。
根據本發明,因為該連接單元22具有能夠處理外部力的各種形式,因此可以避免歸屬於受壓而對該等接觸元件20所形成的變形與傷害。
如以上敘述,根據本發明一具體實施例用於測試一顯示面板的點測器,因為分配給該點測器本身自我彈性功能,因此可以吸收在經受壓時所產生的位移。據此便可將該等接觸元件的接觸可靠性最大化,將歸屬於彈性塊位移與吸收的該等接觸元件變形及傷害最小化,並因此增加該點測器的測試壽命。
此外,因為形成該接觸元件之該連接單元係以各種 形式配置,因此該連接單元與該測試電路板可以保持可靠的電氣連接。
本發明具有下述優點。
首先,因為分配給該點測器自我彈性功能,便可將該等接觸元件的接觸可靠性最大化,因為當該點測器受壓時發生的位移將被吸收。
第二,可將歸屬於該彈性塊位移與吸收的該等接觸元件變形及傷害最小化,而該點測器的測試壽命可以增加。
第三,因為形成該接觸元件之該連接單元具有各種形式,因此該連接單元與該測試電路板可以保持可靠的電氣連接。
雖然本發明的某些示例具體實施例已經結合該等圖式敘述,但本發明的範圍並由該等具體實施例所限制,且該領域技術人員將可理解可在不背離本發明精神下進行各種修改。
10‧‧‧測試電路板
20‧‧‧接觸元件
30‧‧‧彈性塊

Claims (7)

  1. 一種用於測試一顯示面板的點測器,該點測器包括:一測試電路板;一或多個接觸元件,該一或多個接觸元件與該測試電路板電氣連接並經配置以具有與一顯示面板接觸的多數各別端部;以及一彈性塊,該彈性塊經配置以環繞不同於該等接觸元件該等端部的部分。
  2. 如請求項1所述之點測器,其中該彈性塊係由液態的矽橡膠硬化所形成。
  3. 如請求項1所述之點測器,其中該等接觸元件的每一個都包括:一連接單元,該連接單元與該測試電路板電氣連接,並被接收於該彈性塊中;以及一點測單元,該點測單元形成於該連接單元的一端處,並經暴露以與該顯示面板接觸。
  4. 如請求項3所述之點測器,其中:該連接單元包括二或多個接點部分,該等接點部分基於一側部橫斷面與該測試電路板接觸;以及一中間部分的一下方部分係包含於該連接單元之中,並經配置以具有「」形式,以經配置以與二或多個接點部分 接觸。
  5. 如請求項3所述之點測器,其中該連接單元係以一種基於一側部橫斷面而與該彈性塊之寬度與高度對應的方式朝上傾斜。
  6. 如請求項3所述之點測器,其中該連接單元包括:一第一部分,該第一部分經配置以與該測試電路板垂直;一第二部分,該第二部分自該第一部分向前延伸;以及一第三部分,該第三部分自該第二部分向上延伸。
  7. 如請求項6所述之點測器,其中該第二部分係以傾斜形式提供,並經配置以與該第一部分與該第三部分連接。
TW104103250A 2014-06-13 2015-01-30 用於測試顯示面板的點測器 TW201546778A (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140071826A KR101441618B1 (ko) 2014-06-13 2014-06-13 디스플레이 패널 검사용 프로버

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW201546778A true TW201546778A (zh) 2015-12-16

Family

ID=51760451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW104103250A TW201546778A (zh) 2014-06-13 2015-01-30 用於測試顯示面板的點測器

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101441618B1 (zh)
TW (1) TW201546778A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107025871A (zh) * 2017-06-13 2017-08-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板检测装置及检测方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101624946B1 (ko) 2015-04-24 2016-05-27 김진호 탄성블록을 갖는 프로브장치
KR101748189B1 (ko) * 2015-06-05 2017-06-16 양희성 디스플레이 패널 검사용 프로버
KR101704459B1 (ko) * 2015-08-20 2017-02-22 초이스테크닉스 주식회사 전기 신호 연결용 컨택터
KR101654307B1 (ko) 2015-10-20 2016-09-09 하태성 화질 검사용 디스플레이 패널의 연성인쇄회로기판 자동접촉장치
KR102436670B1 (ko) * 2020-10-05 2022-08-25 김택원 제품 모델에 따라 교체와 선택적인 테스트가 가능한 어댑터 장치를 구비하는 검사시스템
KR102647468B1 (ko) * 2021-11-29 2024-03-13 임동현 마이크로 led 검사장치

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100737384B1 (ko) 2006-11-09 2007-07-09 주식회사 코디에스 모바일용 디스플레이 패널의 검사장치 및 방법
KR101077277B1 (ko) * 2009-11-04 2011-10-27 (주)이노웍스 디스플레이 패널의 점등 검사용으로 사용되는 프로브 장치
KR20120062091A (ko) * 2010-12-06 2012-06-14 (주)기가레인 엘시디 패널 검사용 필름 및 이를 갖는 엘시디 패널 검사 유닛, 엘시디 패널 검사용 필름 제조 방법
KR101311441B1 (ko) * 2011-01-21 2013-09-25 주식회사 프로이천 프로브블록

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107025871A (zh) * 2017-06-13 2017-08-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板检测装置及检测方法
CN107025871B (zh) * 2017-06-13 2021-01-26 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板检测装置及检测方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR101441618B1 (ko) 2014-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201546778A (zh) 用於測試顯示面板的點測器
KR101566995B1 (ko) 반도체 패키지 및 기판 검사용 소켓, 이에 사용되는 플렉시블 콘택트핀, 및 이 플렉시블 콘택트핀의 제조 방법
US20120038383A1 (en) Direct-docking probing device
KR101271216B1 (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
JP2008039768A (ja) プローブカード
JP2007218890A5 (zh)
US20150033553A1 (en) Assembly method of direct-docking probing device
KR101311441B1 (ko) 프로브블록
KR101241804B1 (ko) 프로브블록
KR20160048337A (ko) 필름형 프로브 유닛
KR101077277B1 (ko) 디스플레이 패널의 점등 검사용으로 사용되는 프로브 장치
KR100825294B1 (ko) 탐침
JP2013148500A (ja) 電子部品特性測定用治具
KR101242372B1 (ko) 패널 테스트용 글라스 범프 타입 프로브 블록
KR101748189B1 (ko) 디스플레이 패널 검사용 프로버
KR100600701B1 (ko) 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR101704459B1 (ko) 전기 신호 연결용 컨택터
WO2021193579A1 (ja) 検査用プローブ、及び検査装置
KR20070102784A (ko) 프로브 유닛
KR200475615Y1 (ko) 패널 테스트용 핀 보드 및 이에 사용되는 연성회로기판
WO2023008227A1 (ja) プローブカード
KR100656065B1 (ko) 평판표시소자 검사용 전기적 접촉 단자
JP7287250B2 (ja) 試験装置及び試験方法
KR101617234B1 (ko) 필름 관통형 범프를 형성한 전자부품의 특성 검사용 프로브
JP2015122204A (ja) 電気部品用ソケット