KR102102816B1 - Data signal transmission connector and manufacturing method for the same - Google Patents
Data signal transmission connector and manufacturing method for the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR102102816B1 KR102102816B1 KR1020190002318A KR20190002318A KR102102816B1 KR 102102816 B1 KR102102816 B1 KR 102102816B1 KR 1020190002318 A KR1020190002318 A KR 1020190002318A KR 20190002318 A KR20190002318 A KR 20190002318A KR 102102816 B1 KR102102816 B1 KR 102102816B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- conductive
- height
- insulator
- signal transmission
- electronic component
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/0735—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0483—Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
- G01R1/06722—Spring-loaded
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07321—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support the probes being of different lengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 신호 전송 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 패키지와 같은 전자부품에 접속하여 전기적 신호를 전달하는 신호 전송 커넥터 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a signal transmission connector, and more particularly, to a signal transmission connector for connecting an electronic component such as a semiconductor package and transmitting an electrical signal, and a method for manufacturing the same.
현재, 전자 산업분야나 반도체 산업분야 등 다양한 분야에서 전기적 신호를 전송하기 위한 다양한 종류의 커넥터가 사용되고 있다.Currently, various types of connectors are used for transmitting electrical signals in various fields such as the electronics industry and the semiconductor industry.
일예로, 반도체 패키지의 경우, 전 공정, 후 공정 그리고 테스트 공정을 거쳐 제조되며, 이러한 제조공정에 커넥터가 사용된다. 전 공정은 펩(FAB) 공정이라고도 불리며, 단결정 실리콘 재질의 웨이퍼에 집적회로를 형성하는 공정이다. 후공정은 어셈블리 공정이라고도 불리며, 웨이퍼를 각각의 칩들로 분리시키고, 외부 장치와 전기적 신호의 연결이 가능하도록 칩에 도전성의 리드나 볼을 접속시키고, 칩을 외부 환경으로부터 보호하기 위한 에폭시 수지와 같은 수지로 몰딩시킴으로써 반도체 패키지를 형성하는 공정이다. 테스트 공정은 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하여 양품과 불량품을 선별하는 공정이다.For example, in the case of a semiconductor package, it is manufactured through a pre-process, a post-process, and a test process, and a connector is used in this manufacturing process. The entire process is also called a fab (FAB) process, and is a process of forming an integrated circuit on a wafer made of single crystal silicon. The post process is also called an assembly process, and separates the wafer into individual chips, connects conductive leads or balls to the chip to enable connection of electrical signals with external devices, and epoxy resins to protect the chip from the external environment. This is a process of forming a semiconductor package by molding with a resin. The test process is a process of testing whether a semiconductor package operates normally, and selecting good and bad products.
테스트 공정에 적용되는 핵심 부품 중의 하나가 소위 테스트용 소켓이라 불리는 커넥터이다. 테스트용 소켓은 집적회로 테스트용 테스터에 전기적으로 연결된 인쇄회로기판에 장착되어 반도체 패키지의 검사에 이용된다. 테스트용 소켓은 콘택 핀(Contact pin)을 구비하며, 이 콘택 핀이 반도체 패키지의 리드와 인쇄회로기판의 단자를 전기적으로 연결시킨다.One of the key components applied to the test process is a so-called test socket. The test socket is mounted on a printed circuit board electrically connected to an integrated circuit test tester and used for inspection of a semiconductor package. The test socket has a contact pin, which electrically connects the lead of the semiconductor package to the terminal of the printed circuit board.
테스터는 테스트용 소켓과 접속될 반도체 패키지를 테스트하기 위한 전기적 신호를 생성하여 반도체 패키지로 출력시킨 후, 반도체 패키지를 거쳐 입력되는 전기적 신호를 이용하여 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트한다. 그 결과, 반도체 패키지가 양품 또는 불량품으로 결정된다.The tester generates an electrical signal for testing a semiconductor package to be connected to a test socket, outputs it to the semiconductor package, and then tests whether the semiconductor package operates normally using an electrical signal input through the semiconductor package. As a result, the semiconductor package is determined to be good or bad.
도 1은 반도체 패키지의 검사에 이용되는 종래의 테스트용 소켓을 나타낸 것이다.1 shows a conventional test socket used for inspection of a semiconductor package.
반도체 패키지의 검사 시, 반도체 패키지(10)의 단자(12)가 테스트용 소켓(20)의 도전부(22)에 접촉하게 되며, 도전부(22)를 통해 전기적 신호가 테스터로 전달된다.Upon inspection of the semiconductor package, the
그런데 넓이가 상대적으로 넓은 반도체 패키지(10)는 도 1에 나타낸 것과 같이, 제조 후 중앙부가 가장자리에 비해 위쪽으로 올라가는 형태, 또는 다른 형태로 미세하게 뒤틀릴 수 있다. 이러한 반도체 패키지(10)의 뒤틀림은 그 정도가 미세하여 육안으로 확인하기 어려울 수 있지만, 검사 시에는 단자(12)가 테스트용 소켓(20)의 도전부(22)에 안정적으로 접촉하지 못하는 접촉 불량으로 이어져 반도체 패키지(10)의 검사 정확도가 저하될 수 있다.However, as shown in FIG. 1, the
또한, 뒤틀림이 발생한 반도체 패키지(10)의 경우, 검사를 위해 반도체 패키지(10)를 테스트용 소켓(20)에 압착시킬 때 단자(12) 간의 높이 차이로 인해 도전부(22)가 받는 압력이 서로 다르게 나타날 수 있다. 이때, 상대적으로 큰 가압력을 받는 도전부(22)에 집중 응력이 발생하게 되고, 이러한 현상이 반복되면 집중 응력이 발생하는 도전부(22)가 손상되어 테스트용 소켓(20)의 수명이 단축되는 문제가 발생한다.In addition, in the case of the
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 반도체 패키지와 같은 전자부품의 뒤틀림 현상에 대응한 구조 개선을 통해 전자부품의 단자와 안정적으로 접속될 수 있고, 제품 수명이 증대되며, 신호 전달 성능이 향상될 수 있는 신호 전송 커넥터 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been devised in view of the above-mentioned points, and it is possible to stably connect to a terminal of an electronic component through an improvement in structure corresponding to a warping phenomenon of an electronic component such as a semiconductor package, increase product life, and signal. It is an object of the present invention to provide a signal transmission connector capable of improving transmission performance and a method for manufacturing the same.
상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는, 전자부품에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있는 신호 전송 커넥터에 있어서, 상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함되어 있는 복수의 도전부; 탄성 절연물질로 이루어지고, 상기 복수의 도전부 주위를 둘러싸서 상기 복수의 도전부를 상호 이격되도록 지지하는 절연체; 및 상기 복수의 도전부에 대응하도록 상기 절연체에 결합되고, 각각에 대응하는 도전부로부터 이격되어 해당 도전부의 둘레를 둘러싸는 복수의 스프링;을 포함하되, 상기 복수의 도전부 중 하나 이상의 도전부의 높이가 나머지 도전부의 높이보다 높고, 상기 복수의 스프링은 각각에 대응하는 도전부 높이에 상응하는 높이를 갖는 것을 특징으로 한다.The signal transmission connector according to the present invention for solving the above object is a signal transmission connector that can be connected to an electronic component to transmit an electrical signal, a plurality of elastic insulating material to be connected to the terminal of the electronic component A plurality of conductive parts containing conductive particles; An insulator made of an elastic insulating material and surrounding the plurality of conductive parts to support the plurality of conductive parts to be spaced apart from each other; And a plurality of springs coupled to the insulator to correspond to the plurality of conductive parts and spaced apart from the corresponding conductive parts to surround the periphery of the conductive part. Is higher than the height of the remaining conductive portions, and the plurality of springs have a height corresponding to the height of the corresponding conductive portion.
상기 스프링은, 상기 전자부품의 단자에 접속될 수 있도록 도전성 소재로 이루어지고, 상기 단자가 상기 도전부에 접촉할 때 상기 단자와 접촉할 수 있는 범위 내에서 상기 도전부로부터 이격될 수 있다.The spring is made of a conductive material so that it can be connected to the terminal of the electronic component, and can be spaced from the conductive portion within a range that can contact the terminal when the terminal contacts the conductive portion.
상기 절연체는 상기 복수의 도전부를 각각 둘러싸는 복수의 절연부를 포함하되, 상기 복수의 절연부는 각각에 대응하는 도전부 높이에 상응하는 높이를 가질 수 있다.The insulator includes a plurality of insulating parts surrounding each of the plurality of conductive parts, and the plurality of insulating parts may have a height corresponding to the height of the corresponding conductive part.
상기 복수의 도전부 중에서 상대적으로 높이가 높은 도전부는 상대적으로 높이가 낮은 도전부보다 상기 절연체의 중간부에 배치될 수 있다.A conductive part having a relatively high height among the plurality of conductive parts may be disposed at an intermediate portion of the insulator than a conductive part having a relatively low height.
상기 복수의 도전부 중에서 그 높이가 가장 낮은 도전부는 그 끝단이 상기 절연체의 표면에 위치하고, 나머지 도전부는 상기 절연체의 표면으로부터 돌출되는 도전부 범프를 포함할 수 있다.The conductive part having the lowest height among the plurality of conductive parts may include a conductive part bump whose end is located on the surface of the insulator, and the remaining conductive parts protrude from the surface of the insulator.
상기 복수의 도전부와 상기 복수의 스프링은 상기 절연체의 중간부에서 가장자리 쪽으로 갈수록 그 높이가 감소하는 계단 구조로 배치될 수 있다.The plurality of conductive parts and the plurality of springs may be arranged in a staircase structure in which their height decreases from the middle of the insulator toward the edge.
한편, 상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터의 제조방법은, 전자부품에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있는 신호 전송 커넥터의 제조방법에 있어서, (a) 내부에 캐비티가 구비된 성형 금형과, 적어도 하나의 높이가 나머지와 다른 복수의 스프링을 준비하는 단계; (b) 상기 캐비티에 복수의 스프링을 이격되도록 배치하는 단계; (c) 상기 복수의 스프링이 배치된 상기 캐비티에 액상의 탄성 절연물질을 주입하는 단계; (d) 상기 탄성 절연물질을 경화시켜 상기 복수의 스프링을 지지하는 절연체를 형성하고, 상기 복수의 스프링이 결합된 상기 절연체를 상기 성형 금형에서 분리하는 단계; (e) 상기 절연체 중 상기 복수의 스프링에 의해 각각 둘러싸이는 부분을 관통하도록 상기 절연체에 복수의 절연체 홀을 각각의 주위를 둘러싸는 스프링 높이에 상응하는 높이로 형성하는 단계; (f) 상기 복수의 절연체 홀 각각에 액상의 탄성 절연물질 내에 도전성 입자들이 함유된 도전성 혼합물을 각 절연체 홀의 높이에 상응하는 높이로 주입하는 단계; 및 (g) 상기 도전성 혼합물을 자기장 인가 후 경화시켜 상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 상기 스프링과 이격되어 상기 스프링에 의해 둘러싸이는 복수의 도전부를 각각의 주위를 둘러싸는 스프링의 높이에 상응하는 높이로 형성하는 단계;를 포함한다.On the other hand, the method for manufacturing a signal transmission connector according to the present invention for solving the above-mentioned object is a method for manufacturing a signal transmission connector capable of transmitting an electrical signal by connecting to an electronic component, wherein (a) has a cavity therein. Preparing a provided molding mold and a plurality of springs having at least one height different from the rest; (b) disposing a plurality of springs in the cavity to be spaced apart; (c) injecting a liquid elastic insulating material into the cavity in which the plurality of springs are disposed; (d) curing the elastic insulating material to form an insulator supporting the plurality of springs, and separating the insulator to which the plurality of springs are coupled from the molding mold; (e) forming a plurality of insulator holes in the insulator at a height corresponding to the height of the springs surrounding the respective circumferences so as to penetrate through portions of the insulators each surrounded by the plurality of springs; (f) injecting a conductive mixture containing conductive particles in a liquid elastic insulating material into each of the plurality of insulator holes to a height corresponding to the height of each insulator hole; And (g) a height corresponding to the height of the spring surrounding each of the plurality of conductive parts spaced by the spring and spaced apart from the spring so that the conductive mixture is cured after application of a magnetic field to be connected to a terminal of the electronic component. Forming with; includes.
본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는, 전자부품이 단자와 접촉하는 도전부가 높이가 상대적으로 낮은 것과, 높이가 상대적으로 높은 것이 섞여 절연체에 이격 배치되고, 각각의 도전부 높이에 상응하는 높이를 갖는 복수의 스프링이 각 도전부를 둘러쌈으로써, 단자 간의 높이 차가 나도록 변형된 전자부품과도 안정적으로 접속될 수 있다.In the signal transmission connector according to the present invention, a plurality of conductive parts in which the electronic component comes into contact with a terminal has a relatively low height, a relatively high height, and is spaced apart from the insulator, and has a height corresponding to the height of each conductive part. By surrounding the conductive parts of the spring of the, it can be stably connected to the electronic component deformed so that the height difference between the terminals.
또한, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는 전자부품의 단자와 반복 접촉하는 도전부의 둘레를 스프링이 둘러쌈으로써, 도전부의 강도가 보강되고, 도전부가 전자부품의 단자에 의해 서로 다른 압력을 받게 되어 일부 도전부에 응력집중이 발생하면서 도전부가 변형되거나 손상되는 문제를 줄일 수 있다.In addition, in the signal transmission connector according to the present invention, a spring surrounds the periphery of the conductive portion that repeatedly contacts the terminal of the electronic component, so that the strength of the conductive portion is reinforced, and the conductive portion is subjected to different pressures by the terminal of the electronic component. It is possible to reduce the problem that the conductive portion is deformed or damaged while stress concentration occurs in the conductive portion.
또한, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는 전자부품의 단자가 도전부에 접하여 전자부품이 도전부를 가압할 때 스프링이 도전부를 가압하는 반대 방향으로 전자부품에 탄성력을 가할 수 있다. 따라서, 도전부가 전자부품으로부터 과도한 하중을 받지 않게 되어 도전부가 보호될 수 있고, 전자부품의 단자가 Over-Stroke 발생없이 안정적인 Stroke로 도전부에 접촉하도록 유도함으로써, 도전부의 손상이 최소화될 수 있다.In addition, in the signal transmission connector according to the present invention, when the terminal of the electronic component comes into contact with the conductive portion and the electronic component presses the conductive portion, the spring may apply elastic force to the electronic component in the opposite direction to press the conductive portion. Therefore, the conductive portion can be protected by not receiving excessive load from the electronic component, and the damage of the conductive portion can be minimized by inducing the terminal of the electronic component to contact the conductive portion with a stable stroke without generating over-stroke.
도 1은 반도체 패키지 검사에 이용되는 종래의 테스트용 소켓을 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이다.
도 3은 도 2에 나타낸 신호 전송 커넥터의 일부분을 확대하여 나타낸 것이다.
도 4 내지 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터의 제조방법을 설명하기 위한 것이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터를 나타낸 것이다.
도 10은 도 9에 나타낸 신호 전송 커넥터의 일부분을 확대하여 나타낸 것이다.1 shows a conventional test socket used for semiconductor package inspection.
2 shows a signal transmission connector according to an embodiment of the present invention and an electronic component connected thereto.
3 is an enlarged view of a portion of the signal transmission connector shown in FIG. 2.
4 to 7 are for explaining a method of manufacturing a signal transmission connector according to an embodiment of the present invention.
8 shows a signal transmission connector according to another embodiment of the present invention and an electronic component connected thereto.
9 shows a signal transmission connector according to another embodiment of the present invention.
10 is an enlarged view of a portion of the signal transmission connector shown in FIG. 9.
이하, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터 및 그 제조방법을 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a signal transmission connector and a manufacturing method according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(30)에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있는 것으로, 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있는 복수의 도전부(110)(112)와, 복수의 도전부(110)(112) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(110)(112)를 상호 이격되도록 지지하는 절연체(120)와, 도전부(110)(112)의 둘레를 둘러싸도록 절연체(120)에 결합되는 복수의 스프링(130)(132)을 포함한다. 이러한 신호 전송 커넥터(100)는 다양한 전자부품과 접속하여 전기 신호를 전송함으로써, 테스터를 통한 전자부품의 검사, 또는 전자부품과 다양한 전자장치를 전기적으로 연결하는데 이용될 수 있다.As shown in the figure, the
이하에서는 본 발명의 일실시예 따른 신호 전송 커넥터(100)가 전자부품(30)에 접속하여 전자부품(30)을 검사하는데 이용되는 것으로 예를 들어 설명한다.Hereinafter, it will be described, for example, that the
도전부(110)(112)는 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함되어 있는 형태로 이루어진다. 도전부(110)(112)는 복수 개가 접속 대상이 되는 전자부품(30)에 구비되는 단자(32)에 대응하도록 절연체(120)의 내측에 이격 배치된다. 도전부(110)(112)는 원기둥 형상, 또는 다양한 다른 형상으로 절연체(120)를 두께 방향으로 관통하는 형태로 구비될 수 있다.The
도전부(110)(112)를 구성하는 탄성 절연물질로는 가교 구조를 갖는 내열성의 고분자 물질, 예를 들어, 실리콘 고무, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소플렌 고무, 스틸렌-부타디엔 공중합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무, 스틸렌-부타디엔-디엔 블럭 공중합체 고무, 스틸렌-이소플렌 블럭 공중합체 고무, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피크롤히드린 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무, 연질 액상 에폭시 고무 등이 이용될 수 있다.As the elastic insulating material constituting the
또한, 도전부(110)(112)를 구성하는 도전성 입자로는 자장에 의해 반응할 수 있도록 자성을 갖는 것이 이용될 수 있다. 예를 들어, 도전성 입자로는 철, 니켈, 코발트 등의 자성을 나타내는 금속의 입자, 혹은 이들의 합금 입자, 또는 이들 금속을 함유하는 입자 또는 이들 입자를 코어 입자로 하고 그 코어 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐, 라듐 등의 도전성이 양호한 금속이 도금된 것, 또는 비자성 금속 입자, 글래스 비드 등의 무기 물질 입자, 폴리머 입자를 코어 입자로 하고 그 코어 입자의 표면에 니켈 및 코발트 등의 도전성 자성체를 도금한 것, 또는 코어 입자에 도전성 자성체 및 도전성이 양호한 금속을 도금한 것 등이 이용될 수 있다.Further, as the conductive particles constituting the
복수의 도전부(110)(112) 중에서 하나 이상의 도전부(112)는 그 높이가 나머지 도전부(110)의 높이보다 높다. 이들 높이가 서로 다른 복수의 도전부(110)(112)는 그 높이에 따라 절연체(120) 중의 적당한 위치에 배치된다. 즉, 복수의 도전부(110)(112) 중에서 상대적으로 높이가 높은 도전부(112)는 상대적으로 높이가 낮은 도전부(110)보다 절연체(120)의 중간부에 배치되고, 상대적으로 높이가 낮은 도전부(110)는 상대적으로 높이가 높은 도전부(112)보다 절연체(120)의 가장자리 쪽에 배치된다.Among the plurality of
이러한 도전부(110)(112)의 구조 및 배치는 도면에 나타낸 것과 같이 중앙부가 가장자리에 비해 위쪽으로 올라가는 형태로 뒤틀린 전자부품(30)과의 안정적인 접속을 위한 것이다. 전자부품(30)의 검사 과정에서, 중앙부가 가장자리에 비해 위쪽으로 올라가는 형태로 뒤틀린 전자부품(30)이 신호 전송 커넥터(100) 측으로 가압되어 상대적으로 아래쪽에 위치하는 전자부품(30)의 단자(32)가 신호 전송 커넥터(100)의 도전부(110)와 접촉할 때, 상대적으로 위쪽에 위치하는 전자부품(30)의 단자(32)는 상대적으로 높이가 높은 도전부(112)에 접촉할 수 있다. 따라서, 전자부품(30)이 뒤틀리거나 굽힘 변형되어 단자(32) 간의 높이 차가 생기더라도 전자부품(30)은 신호 전송 커넥터(100)와 안정적으로 접속될 수 있다.The structure and arrangement of the
도전부(110)(112)의 설계 시, 상대적으로 높이가 높은 도전부(112)와 상대적으로 높이가 낮은 도전부(110) 간의 높이 차는 단자(32) 간의 높이 차가 있는 전자부품(30)의 최상부에 위치하는 단자(32)와 최하부에 위치하는 단자(32) 간의 높이 차와 실질적으로 같게 설정될 수 있다.When designing the
절연체(120)는 탄성 절연물질로 이루어지고, 복수의 도전부(110)(112) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(110)(112)를 상호 이격되도록 지지한다. 절연체(120)를 구성하는 탄성 절연물질은 도전부(110)(112)를 구성하는 탄성 절연물질과 같은 탄성 절연물질일 수 있다.The
절연체(120)는 복수의 도전부(110)(112)를 각각 둘러싸는 복수의 절연부(121)(122)와, 외곽에 배치되는 절연 연장부(123)를 포함한다. 절연 연장부(123)는 절연체(120)를 쉽게 변형되지 않게 지지하기 위한 지지 플레이트 등의 구조물과 결합될 수 있다. 복수의 절연부(121)(122)는 이들 각각이 둘러싸는 도전부(110)(112)의 높이에 상응하는 높이, 즉 상하 두께를 갖는다.The
구체적으로, 상대적으로 높이가 낮은 도전부(110)를 둘러싸는 절연부(121)는 상대적으로 높이가 낮고, 그 높이는 대응하는 도전부(110)의 높이와 실질적으로 같다. 그리고 상대적으로 높이가 높은 도전부(112)를 둘러싸는 절연부(122)는 상대적으로 높이가 높고, 그 높이는 대응하는 도전부(112)의 높이와 실질적으로 같다. 따라서, 도전부(110)(112)와 마찬가지로, 절연부(121)(122)도 상대적으로 높이가 높은 절연부(122)가 상대적으로 높이가 낮은 절연부(121)보다 중간부에 배치되고, 상대적으로 높이가 낮은 절연부(121)가 상대적으로 높이가 높은 절연부(122)보다 가장자리 쪽에 배치된다.Specifically, the insulating
복수의 스프링(130)(132)은 각 도전부(110)(112)로부터 이격되어 각 도전부(110)(112)와 절연되며, 각 도전부(110)(112)의 둘레를 둘러싸도록 절연체(120)에 결합된다. 스프링(130)(132)은 도시된 것과 같은 통상의 코일 스프링 구조, 또는 도전부(110)(112)의 둘레를 둘러쌀 수 있는 다양한 다른 구조를 취할 수 있다. 복수의 스프링(130)(132)은 각각에 대응하는 도전부(110)(112) 높이에 상응하는 높이를 갖는다.The plurality of
즉, 상대적으로 높이가 낮은 도전부(110)를 둘러싸는 스프링(130)은 상대적으로 높이가 낮고, 그 높이는 대응하는 도전부(110)의 높이와 실질적으로 같다. 그리고 상대적으로 높이가 높은 도전부(112)를 둘러싸는 스프링(132)은 상대적으로 높이가 높고, 그 높이는 대응하는 도전부(112)의 높이와 실질적으로 같다. 따라서, 도전부(110)(112)와 마찬가지로, 복수의 스프링(130)(132)도 상대적으로 높이가 높은 스프링(132)이 상대적으로 높이가 낮은 스프링(130)보다 절연체(120)의 중간부에 배치되고, 상대적으로 높이가 낮은 스프링(130)이 상대적으로 높이가 높은 스프링(132)보다 절연체(120)의 가장자리 쪽에 배치된다.That is, the
이러한 스프링(130)(132)은 도전부(110)(112)의 주위를 둘러쌈으로써 도전부(110)(112)가 전자부품(30)의 단자(32)와 접촉할 때, 도전부(110)(112)를 옆으로 퍼지지 않게 지지해주고 도전부(110)(112)의 강도를 보강해준다. 따라서, 전자부품(30)이 신호 전송 커넥터(100)에 압착될 때, 신호 전송 커넥터(100) 전체 및 각 도전부(110)(112)가 가압력에 의한 하중을 견딜 수 있도록 해주고, 단자(32) 간의 높이 차가 나도록 변형된 전자부품(30)이 압착되면서 일부 도전부에 응력집중이 발생하는 문제를 줄여줄 수 있다. 또한, 스프링(130)(132)은 도전부(110)(112) 및 신호 전송 커넥터(100) 전체의 변형을 최소화하고, 이를 통해 신호 전송 커넥터(100)의 수명을 연장시킬 수 있다.The
스프링(130)(132)은 도전성 소재로 이루어지고, 그 끝단이 절연체(120)의 표면으로부터 외측으로 노출될 수 있다. 도전성의 스프링(130)(132)은 전자부품(30)의 단자(32)가 도전부(110)(112)에 접속할 때, 도전부(110)(112)와 함께 전자부품(30)의 단자(32)에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있다. 이러한 도전성의 스프링(130)(132)은 신호 전송 커넥터(100)의 접속 영역을 확장시키는 역할을 할 수 있다. 즉, 도전부(110)(112)에 전자부품(30)의 단자(32)가 제대로 접촉하지 못하더라도 스프링(130)(132)이 단자(32)에 접촉되어 전기 신호를 전송함으로써, 도전부(110)(112)의 오접촉에 의한 신호 전송 문제를 줄여줄 수 있다.
이를 위해, 스프링(130)(132)은 각각에 대응하는 도전부(110)(112)에 단자(32)가 압착될 때 단자(32)와 접촉할 수 있는 범위 내에서 각 도전부(110)(112)로부터 이격 배치될 수 있다.To this end, the
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(30)이 단자(32)와 접촉하는 도전부(110)(112)가 높이가 상대적으로 낮은 것과, 높이가 상대적으로 높은 것이 섞여 절연체(120)에 이격 배치되고, 각각의 도전부(110)(112) 높이에 상응하는 높이를 갖는 복수의 스프링(130)(132)이 각 도전부(110)(112)를 둘러쌈으로써, 단자(32) 간의 높이 차가 나도록 변형된 전자부품(30)과도 안정적으로 접속될 수 있다.As described above, in the
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(30)의 단자(32)와 반복 접촉하는 도전부(110)(112)의 둘레를 스프링(130)(132)이 둘러쌈으로써, 도전부(110)(112)의 강도가 보강되고, 도전부(110)(112)가 전자부품(30)의 단자(32)에 의해 서로 다른 압력을 받게 되어 일부 도전부에 응력집중이 발생하면서 도전부가 변형되거나 손상되는 문제를 줄일 수 있다.In addition, the
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 스프링(130)(132)이 전자부품(30)의 단자(32)에 접속되어 전기 신호를 전송할 수 있으므로, 도전부만으로 전기 신호를 전송하는 종래 기술에 비해 전자부품(30)과의 접속 영역이 넓고, 단자(32)와 도전부(110)(112) 간의 오접촉에 의한 신호 전송 오류의 문제를 줄일 수 있다.In addition, in the
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(30)의 단자(32)가 도전부(110)(112)에 접하여 전자부품(30)이 도전부(110)(112)를 가압할 때 스프링(130)(132)이 도전부(110)(112)를 가압하는 반대 방향으로 전자부품(30)에 탄성력을 가할 수 있다. 따라서, 도전부(110)(112)가 전자부품(30)으로부터 과도한 하중을 받지 않게 되어 도전부(110)(112)가 보호될 수 있고, 전자부품(30)의 단자(32)가 Over-Stroke 발생없이 안정적인 Stroke로 도전부(110)(112)에 접촉하도록 유도함으로써, 도전부(110)(112)의 손상이 최소화될 수 있다.In addition, the
이하에서는, 도 4 내지 도 7을 참조하여 상술한 것과 같은 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)를 제조하는 방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing a
먼저, 도 4에 나타낸 것과 같은 성형 금형(50)을 준비한다. 성형 금형(50)은 상호 마주하도록 배치되는 상부 금형(52)과 하부 금형(54)을 포함할 수 있다. 상부 금형(51)의 안쪽에는 상하 높이가 다른 복수의 상부 금형 홈(52)(53)이 구비되고, 하부 금형(54)의 안쪽에는 하부 금형 홈(55)이 마련된다. 상부 금형(51)에 구비되는 복수의 상부 금형 홈(52)(53)은 상하 높이가 상대적으로 낮은 상부 금형 홈(52)과, 높이가 상대적으로 높은 상부 금형 홈(53)으로 구분될 수 있다. 높이가 상대적으로 높은 상부 금형 홈(53)은 높이가 상대적으로 낮은 상부 금형 홈(52)에 비해 상부 금형(51)의 중간부에 배치된다.First, a
다음으로, 도 5에 나타낸 것과 같이, 상부 금형(51)과 하부 금형(54)을 포개어 상부 금형(51)과 하부 금형(54)으로 둘러싸이는 캐비티(56)를 형성하고, 캐비티(56)에 복수의 스프링(130)(132)을 이격되도록 배치한다. 캐비티(56)는 상하 높이가 다른 복수의 성형 공간(57)(58)을 포함하고, 복수의 성형 공간(57)(58)은 상대적으로 상하 높이가 낮은 성형 공간(57)과 상대적으로 상하 높이가 높은 성형 공간(58)으로 구분될 수 있다. 높이가 상대적으로 높은 성형 공간(58)은 높이가 상대적으로 낮은 성형 공간(57)에 비해 성형 금형(50)의 중간부에 배치된다. 이때, 높이가 상대적으로 낮은 스프링(130)은 높이가 상대적으로 낮은 성형 공간(57)에 놓이고, 높이가 상대적으로 높은 스프링(132)은 높이가 상대적으로 높은 성형 공간(58)에 놓인다.Next, as shown in FIG. 5, the
스프링(130)(132)의 배치 후, 액상의 탄성 절연물질을 캐비티(56)에 주입하고, 캐비티(56)에 주입된 탄성 절연물질을 경화시켜 복수의 스프링(130)(132)을 지지하는 절연체(120)를 형성한다. 이때, 캐비티(56)의 성형 공간(57)을 채우는 탄성 절연물질은 상대적으로 높이가 낮은 스프링(130)을 지지하는 절연부(121)를 형성하고, 캐비티(56)의 다른 성형 공간(58)을 채우는 탄성 절연물질은 상대적으로 높이가 높은 스프링(132)을 지지하는 절연부(122)를 형성하게 된다.After the arrangement of the
다음으로, 절연체(120)와 복수의 스프링(130)(132)이 결합된 중간 성형물(60)을 성형 금형(50)에서 분리하고, 도 6에 나타낸 것과 같이 중간 성형물(60)을 두께 방향으로 관통하는 복수의 절연체 홀(62)을 형성한다. 이때, 절연체(120) 중간의 각 스프링(130)(132)에 의해 둘러싸이는 부분을 관통하도록 절연체 홀(62)을 각각의 주위를 둘러싸는 스프링(130)(132) 높이에 상응하는 높이로 형성한다. 절연체 홀(62)은 레이저 홀 가공, 펀칭 가공, 어레이 가공 등 다양한 방식을 통해 균일한 폭으로 형성될 수 있다.Next, the intermediate molded
다음으로, 도 7에 나타낸 것과 같이, 복수의 절연체 홀(62) 각각에 액상의 탄성 절연물질 내에 도전성 입자들이 함유된 도전성 혼합물(72)을 각 절연체 홀(62)의 높이에 상응하는 높이로 주입한다. 액상의 도전성 혼합물(72)은 액상의 탄성 절연물질 내에 도전성 입자들이 분산된 상태로 준비될 수 있다. 이때, 액상의 도전성 혼합물(72)에 액상의 접착용 프라이머를 함께 혼합함으로써, 도전성 입자와 액상 탄성 절연물질 간의 결합을 보다 견고히 할 수 있다. 액상의 도전성 혼합물(72)을 절연체 홀(62) 내로 충전하는데 디스펜서(70)가 이용될 수 있다.Next, as shown in FIG. 7, a
다음으로, 도전성 혼합물(72)을 자기장 인가 후 경화시킴으로써, 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있도록 복수의 스프링(130)(132)에 의해 각각 둘러싸이는 복수의 도전부(110)(112)를 각각에 대응하는 스프링(130)(132)의 높이에 상응하는 높이로 형성할 수 있다.Next, by applying a magnetic field after curing the
도전성 혼합물(72)을 절연체 홀(62)에 주입하는 과정과, 도전성 혼합물(72)에 자기장을 인가하는 과정은 별도의 금형 속에서 이루어질 수 있다. 도전성 혼합물(72)에 자기장을 인가하면, 액상의 탄성 절연물질 중에 분산되어 있던 도전성 입자들이 자기장의 영향으로 절연체(120)의 두께 방향으로 배향되면서 전기적 통로를 형성할 수 있다.The process of injecting the
한편, 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이고, 도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터를 나타낸 것이며, 도 10은 도 9에 나타낸 신호 전송 커넥터의 일부분을 확대하여 나타낸 것이다.Meanwhile, FIG. 8 shows a signal transmission connector according to another embodiment of the present invention and an electronic component connected thereto, FIG. 9 shows a signal transmission connector according to another embodiment of the present invention, and FIG. 10 shows FIG. 9 It is an enlarged view of a part of the signal transmission connector shown in.
먼저, 도 8에 나타낸 신호 전송 커넥터(200)는 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있는 복수의 도전부(210)(212)(214)와, 복수의 도전부(210)(212)(214) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(210)(212)(214)를 상호 이격되도록 지지하는 절연체(220)와, 도전부(210)(212)(214)의 둘레를 둘러싸도록 절연체(220)에 결합되는 복수의 스프링(230)(232)(234)을 포함한다.First, the
복수의 도전부(210)(212)(214)는 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함되어 있는 형태로 이루어진다. 복수의 도전부(210)(212)(214)는 높이가 다른 것들이 그 높이에 따라 절연체(220) 중의 적당한 위치에 배치된다. 즉, 복수의 도전부(210)(212)(214) 중에서 상대적으로 높이가 높은 것은 상대적으로 높이가 낮은 것보다 절연체(220)의 중간부에 놓여, 절연체(220)의 중간부에서 가장자리 쪽으로 갈수록 그 높이가 감소하는 계단 구조로 배치된다.The plurality of
절연체(220)는 복수의 도전부(210)(212)(214)를 각각 둘러싸는 복수의 절연부(221)(222)(223)와, 외곽에 배치되는 절연 연장부(224)를 포함한다. 복수의 절연부(221)(222)(223)는 이들 각각이 둘러싸는 도전부(210)(212)(214)의 높이에 상응하는 높이를 갖는다. 즉, 복수의 절연부(221)(222)(223)는 각각이 둘러싸는 도전부(210)(212)(214)의 높이와 실질적으로 같은 높이를 갖는다. 따라서, 복수의 절연부(221)(222)(223)도 절연체(220)의 중간부에서 가장자리 쪽으로 갈수록 그 높이가 감소하는 계단 구조로 배치된다.The
복수의 스프링(230)(232)(234)은 각 도전부(210)(212)(214)로부터 이격되어 각 도전부(210)(212)(214)와 절연되며, 각 도전부(210)(212)(214)의 둘레를 둘러싸도록 절연체(220)에 결합된다. 복수의 스프링(230)(232)(234)은 각각에 대응하는 도전부(210)(212)(214) 높이에 상응하는 높이를 갖는다. 즉, 복수의 스프링(230)(232)(234)은 각각이 둘러싸는 도전부(210)(212)(214)의 높이와 실질적으로 같은 높이를 갖는다. 따라서, 복수의 스프링(230)(232)(234)도 절연체(220)의 중간부에서 가장자리 쪽으로 갈수록 그 높이가 감소하는 계단 구조로 배치된다. 복수의 스프링(230)(232)(234)은 앞서 설명한 실시예와 같이 도전성 소재로 이루어질 수 있다.The plurality of
본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터(200)는 복수의 도전부(210)(212)(214)와, 복수의 절연부(221)(222)(223)와, 복수의 스프링(230)(232)(234)이 절연체(220)의 중간부에서 가장자리 쪽으로 갈수록 그 높이가 감소하는 계단 구조로 배치됨으로써, 중앙부가 가장자리에 비해 위쪽으로 올라가는 형태로 뒤틀린 전자부품(30)과 더욱 안정적으로 접속할 수 있다.The
이러한 신호 전송 커넥터(200)는 앞서 설명한 것과 같이, 성형 금형의 내측에 스프링(230)(232)(234)을 배치하고, 이에 액상의 탄성 절연물질을 주입하여 중간 성형물을 형성하고, 중간 성형물에 절연체 홀 가공 후, 절연체 홀에 액상의 도전성 혼합물을 주입하는 방법으로 제조될 수 있다.As described above, the
도 9 및 도 10에 나타낸 신호 전송 커넥터(300)는 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있는 복수의 도전부(310)(312)와, 복수의 도전부(310)(312) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(310)(312)를 상호 이격되도록 지지하는 절연체(320)와, 도전부(310)(312)의 둘레를 둘러싸도록 절연체(320)에 결합되는 복수의 스프링(330)(332)을 포함한다.The
복수의 도전부(310)(312)는 전자부품(30)의 단자(32)와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함되어 있는 형태로 이루어진다. 복수의 도전부(310)(312)는 높이가 다른 것들이 그 높이에 따라 절연체(320) 중의 적당한 위치에 배치된다. 즉, 복수의 도전부(310)(312) 중에서 상대적으로 높이가 높은 것은 상대적으로 높이가 낮은 것보다 절연체(320)의 중간부에 배치되고, 상대적으로 높이가 낮은 것은 상대적으로 높이가 높은 것보다 절연체(320)의 가장자리 쪽에 배치된다. 이들 복수의 도전부(310)(312) 중에서 그 높이가 가장 낮은 도전부(310)는 그 상부 끝단이 절연체(320)의 표면에 위치하고, 나머지 상대적으로 높이가 높은 도전부(312)는 전자부품(30)의 단자(32)와 접촉할 수 있도록 절연체(320)의 표면으로부터 돌출되는 도전부 범프(313)를 갖는다.The plurality of
절연체(320)는 복수의 도전부(310)(312)를 각각 둘러싸는 복수의 절연부(321)와, 절연부(321)의 외곽에 배치되는 절연 연장부(322)를 포함한다.The
복수의 스프링(330)(332)은 각 도전부(310)(312)로부터 이격되어 각 도전부(310)(312)와 절연되며, 각 도전부(310)(312)의 둘레를 둘러싸도록 절연체(320)에 결합된다. 복수의 스프링(330)(332)은 각각에 대응하는 도전부(310)(312) 높이에 상응하는 높이를 갖는다. 즉, 복수의 스프링(330)(332)은 각각이 둘러싸는 도전부(310)(312)의 높이와 실질적으로 같은 높이를 갖는다. 따라서, 상대적으로 높이가 낮은 도전부(310)를 둘러싸는 스프링(330)은 그 상부 끝단이 도전부(310)의 상부 끝단 및 절연부(321)의 표면과 실질적으로 같은 높이에 위치한다. 그리고 상대적으로 높이가 높은 도전부(312)를 둘러싸는 스프링(332)은 그 상부 끝단이 절연부(321)의 표면으로부터 돌출되어 해당 도전부(312)의 상부 끝단 높이와 실질적으로 같은 높이에 위치한다. 복수의 스프링(330)(332)은 앞서 설명한 실시예와 같이 도전성 소재로 이루어질 수 있다.The plurality of
신호 전송 커넥터(300)는 중앙부가 가장자리에 비해 위쪽으로 올라가는 형태로 뒤틀린 전자부품(30)과 접촉할 때, 상대적으로 높이가 높은 도전부(312)의 도전부 범프(313)가 전자부품(30)의 상대적으로 위쪽에 위치하는 단자(32)와 안정적으로 접촉할 수 있으므로, 단자(32) 간의 높이 차가 나도록 굽힘 변형된 전자부품(30)과 안정적으로 접속할 수 있다.When the
그리고 절연부(321)로부터 돌출되는 도전부(312)의 도전부 범프(313)를 스프링(332)이 둘러쌈으로써, 도전부 범프(313)에 단자(32)가 압착될 때 도전부 범프(313)가 옆으로 퍼지거나, 손상되는 문제를 줄일 수 있다.Then, the
또한, 전자부품(30)이 신호 전송 커넥터(300) 측으로 과도하게 하강할 때, 스프링(330)(332)이 전자부품(30)과 접촉하여 전자부품(30)을 탄력적으로 지지함으로써, 신호 전송 커넥터(300)가 과도한 압력을 받아 변형되거나 손상되는 문제를 줄일 수 있다.In addition, when the
이러한 신호 전송 커넥터(300)는 앞서 설명한 것과 같이, 성형 금형의 내측에 스프링(330)(332)을 배치하고, 이에 액상의 탄성 절연물질을 주입하여 중간 성형물을 형성하고, 중간 성형물에 절연체 홀 가공 후, 절연체 홀에 액상의 도전성 혼합물을 주입하는 방법으로 제조될 수 있다.As described above, the
이상 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명되고 도시되는 형태로 한정되는 것은 아니다.The present invention has been described as a preferred example, but the scope of the present invention is not limited to the form described and illustrated above.
예를 들어, 앞서서는 스프링이 전기 신호를 전송할 수 있는 도전성 소재로 이루어지고, 전자부품의 단자에 접속할 수 있도록 그 끝단이 절연체의 외측으로 노출되는 것으로 설명하였으나, 스프링은 비전도성 소재로 이루어질 수 있다. 비전도성 소재의 스프링은 전기 신호를 전송하지는 못하고, 도전부의 강도를 증대시키는 기능을 수행할 수 있다. 이 경우, 스프링은 그 끝단이 절연체(120)의 외측으로 노출될 필요는 없으며 전체적으로 절연체 속에 내장될 수 있다.For example, it was previously described that the spring is made of a conductive material capable of transmitting an electrical signal, and its end is exposed to the outside of the insulator so that it can be connected to the terminal of the electronic component, the spring can be made of a non-conductive material. . The spring of the non-conductive material does not transmit an electrical signal, and may function to increase the strength of the conductive portion. In this case, the spring does not need to have its ends exposed outside the
또한, 도면에는 도전부와, 절연부와, 스프링이 각각 두 가지 또는 세 가지의 서로 다른 높이를 갖는 것으로 나타냈으나, 도전부와, 절연부와, 스프링 각각의 높이는 다양하게 변경될 수 있다.In addition, although the drawings show that the conductive parts, the insulating parts, and the springs each have two or three different heights, the heights of the conductive parts, the insulating parts, and the springs may be variously changed.
또한, 도면에는 도전부와, 절연부와, 스프링이 각각 상대적으로 높이가 높은 것이 상대적으로 높이가 낮은 것보다 절연체의 중간부에 배치되고, 상대적으로 높이가 낮은 것이 상대적으로 높이가 높은 것보다 절연체의 가장자리 쪽에 배치되는 것으로 나타냈으나, 이들 도전부와, 절연부와, 스프링은 전자부품의 뒤틀림, 또는 굽힘 형태에 따라 계단식 배치 구조, 물결 모양 배치 구조 등 다양한 다른 구조로 배치될 수 있다.In addition, in the drawing, a conductive part, an insulating part, and a spring having a relatively high height are disposed at a middle portion of the insulator rather than having a relatively low height, and a relatively low height is an insulator than a relatively high height. Although shown as being disposed on the edge of the, these conductive parts, insulating parts, and springs can be arranged in various other structures such as a stepped arrangement structure, a wavy arrangement structure, or the like depending on the warping or bending shape of the electronic component.
또한, 앞서서는 성형 금형의 내측에 스프링을 배치하고, 이에 액상의 탄성 절연물질을 주입하여 중간 성형물을 형성하고, 중간 성형물에 절연체 홀 가공 후, 절연체 홀에 액상의 도전성 혼합물을 주입하는 방법으로 신호 전송 커넥터를 제조하는 것으로 설명하였으나, 신호 전송 커넥터는 이러한 제조방법 이외의 다양한 다른 방법으로 제조될 수 있다.In addition, prior to placing a spring inside the molding mold, and injecting a liquid elastic insulating material thereto to form an intermediate molding, and processing the insulator hole in the intermediate molding, and then injecting a liquid conductive mixture into the insulator hole Although it has been described as manufacturing a transmission connector, the signal transmission connector can be manufactured by various other methods than this manufacturing method.
이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.Above, the present invention has been shown and described in connection with a preferred embodiment for illustrating the principles of the present invention, but the present invention is not limited to the configuration and operation as shown and described. Rather, those skilled in the art will appreciate that many changes and modifications to the present invention are possible without departing from the spirit and scope of the appended claims.
30 : 전자부품 32 : 단자
50 : 성형 금형 51 : 상부 금형
54 : 하부 금형 60 : 중간 성형물
62 : 절연체 홀 70 : 디스펜서
100, 200, 300 : 신호 전송 커넥터
110, 112, 210, 212, 214 : 도전부 120, 220, 320 : 절연체
121, 122, 221, 222, 223 : 절연부 123, 224, 322 : 절연 연장부
130, 132, 230, 232, 234, 330, 332 : 스프링
313 : 도전부 범프30: electronic component 32: terminal
50: forming mold 51: upper mold
54: lower mold 60: intermediate molding
62: insulator hole 70: dispenser
100, 200, 300: signal transmission connector
110, 112, 210, 212, 214:
121, 122, 221, 222, 223:
130, 132, 230, 232, 234, 330, 332: spring
313: Bump of the conductive part
Claims (7)
상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함되어 있는 복수의 도전부;
탄성 절연물질로 이루어지고, 상기 복수의 도전부 주위를 둘러싸서 상기 복수의 도전부를 상호 이격되도록 지지하는 절연체; 및
상기 복수의 도전부에 대응하도록 상기 절연체에 결합되고, 각각에 대응하는 도전부로부터 이격되어 해당 도전부의 둘레를 둘러싸는 복수의 스프링;을 포함하되,
상기 복수의 도전부 중 하나 이상의 도전부의 높이가 나머지 도전부의 높이보다 높고, 상기 복수의 스프링은 각각에 대응하는 도전부 높이에 상응하는 높이를 갖고,
상기 복수의 도전부 중에서 그 높이가 가장 낮은 도전부는 그 끝단이 상기 절연체의 표면에 위치하고, 나머지 도전부는 상기 절연체의 표면으로부터 돌출되는 도전부 범프를 포함하며,
상기 복수의 스프링 중에서 높이가 가장 낮은 도전부를 둘러싸는 스프링은 그 상부 끝단이 상기 절연체의 표면과 같은 높이에 위치하고, 상대적으로 높이가 높은 도전부를 둘러싸는 스프링은 그 상부 끝단이 상기 절연체의 표면으로부터 돌출되어 해당 도전부의 도전부 범프를 둘러싸는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
In the signal transmission connector that can be connected to an electronic component to transmit an electrical signal,
A plurality of conductive parts including a plurality of conductive particles in an elastic insulating material to be connected to the terminals of the electronic component;
An insulator made of an elastic insulating material and surrounding the plurality of conductive parts to support the plurality of conductive parts to be spaced apart from each other; And
It includes a plurality of springs coupled to the insulator to correspond to the plurality of conductive parts, spaced apart from the conductive parts corresponding to each, and surrounding the periphery of the conductive part;
The height of at least one of the plurality of conductive parts is higher than the height of the remaining conductive parts, and the plurality of springs have a height corresponding to the height of the corresponding conductive part,
The conductive part having the lowest height among the plurality of conductive parts has an end portion located on the surface of the insulator, and the remaining conductive parts include a conductive part bump protruding from the surface of the insulator,
Of the plurality of springs, the spring surrounding the conductive part having the lowest height is positioned at the same height as the surface of the insulator, and the spring surrounding the conductive part having a relatively high height has an upper end projecting from the surface of the insulator. Signal transmission connector, characterized in that surrounding the conductive portion bump of the conductive portion.
상기 스프링은, 상기 전자부품의 단자에 접속될 수 있도록 도전성 소재로 이루어지고, 상기 단자가 상기 도전부에 접촉할 때 상기 단자와 접촉할 수 있는 범위 내에서 상기 도전부로부터 이격되는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
According to claim 1,
The spring is made of a conductive material so as to be connected to the terminal of the electronic component, characterized in that spaced apart from the conductive portion within a range that can contact the terminal when the terminal contacts the conductive portion Signal transmission connector.
상기 복수의 도전부 중에서 상대적으로 높이가 높은 도전부는 상대적으로 높이가 낮은 도전부보다 상기 절연체의 중간부에 배치되는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
According to claim 1,
A signal transmission connector, characterized in that a conductive part having a relatively high height among the plurality of conductive parts is disposed in a middle portion of the insulator than a conductive part having a relatively low height.
상기 복수의 도전부와 상기 복수의 스프링은 상기 절연체의 중간부에서 가장자리 쪽으로 갈수록 그 높이가 감소하는 계단 구조로 배치되는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
According to claim 1,
The plurality of conductive parts and the plurality of springs is a signal transmission connector, characterized in that arranged in a staircase structure whose height decreases toward the edge from the middle of the insulator.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190002318A KR102102816B1 (en) | 2019-01-08 | 2019-01-08 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
PCT/KR2019/014010 WO2020145492A1 (en) | 2019-01-08 | 2019-10-23 | Signal transmission connector and manufacturing method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190002318A KR102102816B1 (en) | 2019-01-08 | 2019-01-08 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR102102816B1 true KR102102816B1 (en) | 2020-04-22 |
Family
ID=70472885
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190002318A KR102102816B1 (en) | 2019-01-08 | 2019-01-08 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102102816B1 (en) |
WO (1) | WO2020145492A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024167260A1 (en) * | 2023-02-10 | 2024-08-15 | 주식회사 아이에스시 | Testing connector |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102484329B1 (en) * | 2022-08-12 | 2023-01-03 | 주식회사 비이링크 | Interposer |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20070073233A (en) * | 2006-01-04 | 2007-07-10 | 삼성전자주식회사 | Test socket for bga package |
KR101482245B1 (en) * | 2013-12-27 | 2015-01-16 | 주식회사 아이에스시 | Electrical test socket |
KR20150008264A (en) * | 2013-07-11 | 2015-01-22 | (주)이니큐브 | Semiconductor test device contactor |
KR101567956B1 (en) * | 2014-06-05 | 2015-11-10 | 주식회사 아이에스시 | Contact sheet and socket |
KR101593936B1 (en) * | 2014-10-08 | 2016-02-26 | (주)티에스이 | Silicon rubber connector |
KR101614472B1 (en) * | 2015-01-26 | 2016-04-29 | 주식회사 아이에스시 | Test connector |
KR20180043095A (en) | 2016-10-19 | 2018-04-27 | 주식회사 오킨스전자 | Device for micro bump interposer, and test socket having the same |
KR20180092167A (en) * | 2017-02-08 | 2018-08-17 | 주식회사 오킨스전자 | Open cell type FPCB film, test socket having thereof, and method for manufacturing thereof |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09292411A (en) * | 1996-04-25 | 1997-11-11 | Toppan Printing Co Ltd | Inspecting jig with anisotropic conductive material and its manufacturing method |
KR101667929B1 (en) * | 2015-03-31 | 2016-10-20 | (주)티에스이 | Silicon rubber socket |
KR101911496B1 (en) * | 2018-04-13 | 2018-12-28 | 황동원 | Socket device for testing a semiconductor device |
-
2019
- 2019-01-08 KR KR1020190002318A patent/KR102102816B1/en active IP Right Grant
- 2019-10-23 WO PCT/KR2019/014010 patent/WO2020145492A1/en active Application Filing
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20070073233A (en) * | 2006-01-04 | 2007-07-10 | 삼성전자주식회사 | Test socket for bga package |
KR20150008264A (en) * | 2013-07-11 | 2015-01-22 | (주)이니큐브 | Semiconductor test device contactor |
KR101482245B1 (en) * | 2013-12-27 | 2015-01-16 | 주식회사 아이에스시 | Electrical test socket |
KR101567956B1 (en) * | 2014-06-05 | 2015-11-10 | 주식회사 아이에스시 | Contact sheet and socket |
KR101593936B1 (en) * | 2014-10-08 | 2016-02-26 | (주)티에스이 | Silicon rubber connector |
KR101614472B1 (en) * | 2015-01-26 | 2016-04-29 | 주식회사 아이에스시 | Test connector |
KR20180043095A (en) | 2016-10-19 | 2018-04-27 | 주식회사 오킨스전자 | Device for micro bump interposer, and test socket having the same |
KR20180092167A (en) * | 2017-02-08 | 2018-08-17 | 주식회사 오킨스전자 | Open cell type FPCB film, test socket having thereof, and method for manufacturing thereof |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024167260A1 (en) * | 2023-02-10 | 2024-08-15 | 주식회사 아이에스시 | Testing connector |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2020145492A1 (en) | 2020-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102063761B1 (en) | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same | |
CN113063970B (en) | Test socket, test device comprising same and manufacturing method of test socket | |
KR102036105B1 (en) | Data signal transmission connector | |
KR102102816B1 (en) | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same | |
KR102063762B1 (en) | Contactor for connecting bga type electronic device and method for manufacturing the same | |
KR102063763B1 (en) | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same | |
KR20180092167A (en) | Open cell type FPCB film, test socket having thereof, and method for manufacturing thereof | |
US11763959B2 (en) | Electroconductive particles and signal-transmitting connector having same | |
KR102244246B1 (en) | Test socket in which buffer area is formed around electrically conductive line | |
KR102269398B1 (en) | Inspection socket having an insulating base made of a pcb in which conductive shielding layers are stacked in multiple layers | |
KR101726399B1 (en) | Test socket having bottom metal plate bump and method for manufacturing thereof | |
KR102191701B1 (en) | Test socket capable of being partially replaced | |
KR102110150B1 (en) | Protective member for conduction part of data signal transmission connector, manufacturing method for the same, data signal transmission connector having the protective member and manufacturing method for the data signal transmission connector | |
JP2002139541A (en) | Inspection tool for electric circuit part and inspection method of electric circuit part | |
KR20170108521A (en) | Device and method for manufacturing conductive particle of test socket using wire bonding and press | |
KR102270275B1 (en) | Test socket | |
KR102079213B1 (en) | Data signal transmission connector | |
KR20190022249A (en) | Bi-directional electrically conductive module | |
KR20230031638A (en) | Test socket and test apparatus having the same, manufacturing method for the test socket | |
KR101967401B1 (en) | Test socket | |
TW202133500A (en) | Connector | |
KR20220072219A (en) | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same | |
KR102661984B1 (en) | Data signal transmission connector | |
KR20190051909A (en) | Bi-directional electrically conductive module | |
KR101830937B1 (en) | Universal test socket |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |