KR102036105B1 - Data signal transmission connector - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 신호 전송 커넥터에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 반도체 패키지와 같은 전자부품에 접속하여 전기적 신호를 전달하는데 이용되는 신호 전송 커넥터에 관한 것이다.The present invention relates to a signal transmission connector, and more particularly, to a signal transmission connector used to connect to an electronic component such as a semiconductor package and transmit an electrical signal.
현재, 전자 산업분야나 반도체 산업분야 등 다양한 분야에서 전기적 신호를 전송하기 위한 다양한 종류의 커넥터가 사용되고 있다.Currently, various types of connectors for transmitting electrical signals are used in various fields such as the electronics industry or the semiconductor industry.
일예로, 반도체 패키지의 경우, 전 공정, 후 공정 그리고 테스트 공정을 거쳐 제조되며, 이러한 제조공정에 커넥터가 사용된다. 전 공정은 펩(FAB) 공정이라고도 불리며, 단결정 실리콘 재질의 웨이퍼에 집적회로를 형성하는 공정이다. 후공정은 어셈블리 공정이라고도 불리며, 상기 웨이퍼를 각각의 칩들로 분리시키고, 외부 장치와 전기적 신호의 연결이 가능하도록 칩에 도전성의 리드나 볼을 접속시키고, 칩을 외부 환경으로부터 보호하기 위한 에폭시 수지와 같은 수지로 몰딩시킴으로써 반도체 패키지를 형성하는 공정이다. 테스트 공정은 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하여 양품과 불량품을 선별하는 공정이다.For example, a semiconductor package is manufactured through a pre-process, a post-process, and a test process, and a connector is used in such a manufacturing process. The entire process, also called a PAB process, is a process of forming an integrated circuit on a wafer made of single crystal silicon. The post process is also called an assembly process, and separates the wafer into individual chips, connects a conductive lead or ball to the chip so as to connect an electrical signal with an external device, and an epoxy resin for protecting the chip from the external environment. It is a process of forming a semiconductor package by molding with the same resin. The test process is a process of sorting good and defective products by testing whether the semiconductor package is operating normally.
테스트 공정에 적용되는 핵심 부품 중의 하나가 소위 테스트용 소켓이라 불리는 커넥터이다. 테스트용 소켓은 집적회로 테스트용 테스터에 전기적으로 연결된 인쇄회로기판에 장착되어 반도체 패키지의 검사에 이용된다. 테스트용 소켓은 콘택핀(Contact pin)을 구비하며, 이 콘택핀이 반도체 패키지의 리드와 인쇄회로기판의 단자를 전기적으로 연결시킨다.One of the key components of the test process is a connector called a test socket. The test socket is mounted on a printed circuit board electrically connected to an integrated circuit tester and used to inspect a semiconductor package. The test socket has a contact pin, which electrically connects the leads of the semiconductor package to the terminals of the printed circuit board.
테스터는 테스트용 소켓과 접속될 반도체 패키지를 테스트하기 위한 전기적 신호를 생성하여 반도체 패키지로 출력시킨 후, 반도체 패키지를 거쳐 입력되는 전기적 신호를 이용하여 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트한다. 그 결과, 반도체 패키지가 양품 또는 불량품으로 결정된다.The tester generates an electrical signal for testing the semiconductor package to be connected to the test socket and outputs the electrical signal to the semiconductor package, and then tests whether the semiconductor package operates normally by using the electrical signal input through the semiconductor package. As a result, the semiconductor package is determined to be good or defective.
한편, 최근 집적회로의 고속화, 고기능화 및 생산성 향상을 위한 동시 테스트 피검사 디바이스(DUT : Device Under Test)의 증가 등으로 인해 테스터의 가격이 고가화되고 있다. 이러한 고가의 테스터를 효율적으로 사용하기 위해서는 적당한 테스트용 소켓의 선택 사용 및 테스트용 소켓의 수명 관리가 매우 중요하다.Meanwhile, the price of testers has become expensive due to the increase in the number of simultaneous device under test (DUT) for high speed, high functionality, and productivity of integrated circuits. In order to efficiently use such expensive testers, it is very important to select and use a suitable test socket and to manage the life of the test socket.
대량의 반도체 패키지에 대한 검사 중 테스트용 소켓의 수명이 다하여 테스트용 소켓의 성능이 저하되면, 양질의 반도체 패키지를 불량으로 처리하는 문제가 발생하게 된다. 또한, 불량 테스트용 소켓이 발생될 때마다 교체를 위하여 고가의 테스터와 핸들러를 정지시켜야 하므로, 테스트의 효율이 떨어지고 결과적으로 생산수율에 악영향을 미치게 된다.If the performance of the test socket is reduced due to the end of the life of the test socket during the inspection of a large number of semiconductor packages, there is a problem of treating a good quality semiconductor package as a defect. In addition, each time a bad test socket is generated, expensive testers and handlers have to be stopped for replacement, thereby reducing test efficiency and consequently adversely affecting production yield.
도 1은 반도체 패키지의 검사에 이용되는 종래의 테스트용 소켓을 나타낸 것이다.1 shows a conventional test socket used for inspecting a semiconductor package.
반도체 패키지의 검사 시, 반도체 패키지(10)의 단자(12)가 테스트용 소켓(20)의 도전부(22)에 접촉하게 된다. 테스트용 소켓(20)의 도전부(22)는 실리콘 등 탄성력을 갖는 소재의 내부에 도전성 입자가 분산되어 있는 형태로 이루어지며, 실리콘 등 탄성력을 갖는 소재로 이루어지는 절연부(24)에 의해 상호 절연되도록 지지된다. 절연부(24)의 상면에는 가이드 필름(30)이 배치된다.During the inspection of the semiconductor package, the
그런데 이러한 테스트용 소켓(20)은 도 1에 나타낸 것과 같이, 반도체 패키지(10)가 압착될 때 화살표 방향으로 힘을 받아 옆으로 퍼지는 현상이 발생한다. 특히, 반도체 패키지(10)의 단자(12)와 테스트용 소켓(20)의 도전부(22) 간의 안정적인 접촉을 위해 접촉 압력을 증가시킬 경우, 도전부(22)나 절연부(24)의 손상이 가속화되고, 이러한 현상이 반복되면 테스트용 소켓(20)의 수명이 단축되는 문제가 발생한다.However, as shown in FIG. 1, when the
또한, 종래의 테스트용 소켓(20)은 반도체 패키지(10)를 테스트용 소켓(20)으로 밀어주는 이동력이 과도하여 오버 스트로크(Over-Stroke)가 발생하는 경우, 도전부(22)의 형상이나 위치가 변하고, 도전부(22)와 단자(12) 간의 접촉 위치가 틀어질 수 있다. 이 경우, 단자(12)와 도전부(22) 간의 접속이 안되거나, 단락(short) 발생으로 이어질 수 있다. 그리고 단자(12)와 도전부(22) 간의 전기적 신호 전달이 불안정 할 경우, 저항 값 상승으로 신호 전달 특성이 저하되는 문제가 발생한다.In addition, the
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 복수의 도전부를 지지하는 절연부의 상부에 배치되는 가이드 필름을 도전부를 지지할 수 있는 구조로 개선하여 도전부나 절연부의 변형을 방지함으로써, 제품 수명이 증대되고, 신호 전달 성능이 향상될 수 있는 신호 전송 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made in view of the above-mentioned point, and by improving the guide film disposed on the upper portion of the insulating portion supporting the plurality of conductive portions to a structure capable of supporting the conductive portion, thereby preventing deformation of the conductive portion and the insulating portion, It is an object of the present invention to provide a signal transmission connector that can increase its lifespan and improve signal transmission performance.
상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는, 전자부품에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있는 신호 전송 커넥터에 있어서, 상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전부; 탄성 절연물질로 이루어지고, 상기 복수의 도전부 주위를 둘러싸서 상기 복수의 도전부를 상호 이격되도록 지지하는 절연부; 및 상기 절연부의 일면에 결합되고, 상기 복수의 도전부 각각에 대응하는 위치마다 필름 홀이 형성되어 있는 가이드 필름;을 포함하고, 상기 필름 홀은, 상기 절연부 측으로 갈수록 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어지고 상하로 이격되어 다단 배치되는 복수의 테이퍼 홀을 포함하며, 상기 도전부는 상기 절연부 속에 배치되는 도전부 바디와, 상기 도전부 바디와 연결되어 상기 필름 홀의 하나 이상의 테이퍼 홀을 채우도록 상기 필름 홀에 배치되는 도전부 범프를 포함한다.The signal transmission connector according to the present invention for solving the above object is a signal transmission connector that can transmit an electrical signal by connecting to an electronic component, a plurality of elastic insulating material to be connected to the terminal of the electronic component A plurality of conductive portions in which the conductive particles are aligned in the thickness direction; An insulating part made of an elastic insulating material and surrounding the plurality of conductive parts to support the plurality of conductive parts so as to be spaced apart from each other; And a guide film coupled to one surface of the insulation portion and having a film hole formed at each position corresponding to each of the plurality of conductive portions, wherein the film hole has a shape in which the width gradually decreases toward the insulation portion. And a plurality of tapered holes spaced apart from each other and vertically spaced apart from each other, wherein the conductive part is connected to the conductive part body and fills one or more tapered holes of the film hole. And conductive bumps disposed in the film holes.
상기 필름 홀은, 상하로 이웃하는 테이퍼 홀 사이에 일정한 폭을 갖도록 연장되는 하나 이상의 연장 홀을 포함할 수 있다.The film hole may include one or more extension holes extending to have a predetermined width between the tapered holes adjacent up and down.
상기 필름 홀을 통해 상기 가이드 필름의 외면으로부터 외부로 노출되는 상기 도전부 범프의 끝단 폭은 상기 가이드 필름의 외면에 형성되는 테이퍼 홀의 폭보다 작고, 상기 가이드 필름의 외면에 형성되는 테이퍼 홀에는 상기 도전부 범프의 끝단 주위를 둘러싸는 보강 절연부가 배치될 수 있다.The end width of the conductive part bump exposed to the outside from the outer surface of the guide film through the film hole is smaller than the width of the tapered hole formed on the outer surface of the guide film, the conductive tape is formed on the outer surface of the guide film Reinforcing insulation can be arranged surrounding the ends of the secondary bumps.
상기 보강 절연부는 상기 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 동일한 탄성 절연물질로 이루어지되, 상기 보강 절연부의 탄성 절연물질은 상기 도전부의 탄성 절연물질과 일체형으로 고형화된 것일 수 있다.The reinforcement insulating part may be made of the same elastic insulating material as that of the elastic insulating material constituting the conductive part, and the elastic insulating material of the reinforcing insulating part may be integrally solidified with the elastic insulating material of the conductive part.
상기 가이드 필름 안쪽에는 복수의 경사부가 상기 복수의 테이퍼 홀 각각의 둘레를 따라 마련되되, 상기 복수의 경사부 중 적어도 하나는 라운드 처리될 수 있다.A plurality of inclined portions may be provided along the circumference of each of the plurality of tapered holes, and at least one of the plurality of inclined portions may be rounded inside the guide film.
상기 가이드 필름 안쪽에는 복수의 경사부가 상기 복수의 테이퍼 홀 각각의 둘레를 따라 마련되되, 상대적으로 상기 절연부에 가까이 배치되는 경사부의 경사각은 상대적으로 상기 절연부에서 멀리 배치되는 경사부의 경사각과 같거나, 그 보다 작을 수 있다.Inside the guide film, a plurality of inclined portions are provided along the circumference of each of the plurality of tapered holes, and the inclined angle of the inclined portion disposed relatively close to the insulated portion is equal to the inclined angle of the inclined portion disposed relatively away from the insulated portion. May be less than that.
한편, 상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명의 다른 측면에 따른 신호 전송 커넥터는, 전자부품에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있는 신호 전송 커넥터에 있어서, 상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전부; 탄성 절연물질로 이루어지고, 상기 복수의 도전부 주위를 둘러싸서 상기 복수의 도전부를 상호 이격되도록 지지하는 절연부; 및 상기 절연부의 일면에 결합되고, 상기 복수의 도전부 각각에 대응하는 위치마다 필름 홀이 형성되어 있는 가이드 필름;을 포함하고, 상기 필름 홀은, 상기 가이드 필름의 외면에서 상기 절연부 측으로 연장되되, 상기 절연부 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 외측 테이퍼 홀과, 상기 외측 테이퍼 홀과 연결되어 일정한 폭으로 상기 절연부 측으로 연장되는 연결 홀과, 상기 연결 홀과 연결되어 상기 절연부 측으로 연장되되, 상기 절연부 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 내측 테이퍼 홀을 포함하며, 상기 도전부는, 상기 절연부 속에 배치되는 도전부 바디와, 상기 도전부 바디와 연결되어 상기 내측 테이퍼 홀을 채우는 범프 테이퍼부 및 상기 범프 테이퍼부와 연결되어 상기 연결 홀에 대응하는 폭을 갖고 외측으로 연장되는 범프 연장부를 구비하는 도전부 범프를 포함한다.On the other hand, the signal transmission connector according to another aspect of the present invention for solving the above object is a signal transmission connector that can be connected to the electronic component to transmit an electrical signal, it is elastic so that it can be connected to the terminal of the electronic component A plurality of conductive parts in which a plurality of conductive particles are arranged in the thickness direction in the insulating material; An insulating part made of an elastic insulating material and surrounding the plurality of conductive parts to support the plurality of conductive parts so as to be spaced apart from each other; And a guide film coupled to one surface of the insulation portion and having a film hole formed at each position corresponding to each of the plurality of conductive portions, wherein the film hole extends from the outer surface of the guide film toward the insulation portion. An outer taper hole which gradually decreases in width while going toward the insulation portion, a connection hole connected to the outer taper hole and extending to the insulation portion at a predetermined width, and connected to the connection hole and extending toward the insulation portion, An inner tapered hole having a width gradually decreasing toward the insulating portion, wherein the conductive portion includes: a conductive portion body disposed in the insulating portion; a bump tapered portion connected to the conductive portion body to fill the inner tapered hole; A bump extension connected to the bump taper and extending outwardly with a width corresponding to the connection hole; And a conductive portion bump having a portion.
본 발명의 다른 측면에 따른 신호 전송 커넥터는, 상기 범프 연장부의 주위를 둘러싸도록 상기 외측 테이퍼 홀에 배치되는 보강 절연부;를 포함할 수 있다.The signal transmission connector according to another aspect of the present invention may include a reinforcing insulation part disposed in the outer taper hole to surround the bump extension part.
본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는 절연부의 일면에 배치되는 가이드 필름에 형성된 필름 홀에 도전부의 도전부 범프가 배치되고, 도전부 범프의 둘레가 가이드 필름 내측의 경사부 및 수직부에 의해 지지됨으로써, 전자부품의 단자가 도전부에 압착될 때 도전부가 받는 외력이 도전부의 수직 방향으로 집중되지 않고 여러 방향으로 분산된다. 따라서, 전자부품의 단자가 도전부 범프에 압착될 때, 도전부가 옆으로 퍼지거나 휘어지는 문제를 줄일 수 있고, 도전부가 단자와 안정적으로 접속될 수 있다.In the signal transmission connector according to the present invention, the conductive part bumps are disposed in a film hole formed in the guide film disposed on one surface of the insulating part, and the periphery of the conductive part bumps is supported by the inclined part and the vertical part inside the guide film. When the terminal of the electronic component is pressed against the conductive portion, the external force received by the conductive portion is dispersed in various directions without being concentrated in the vertical direction of the conductive portion. Therefore, when the terminal of the electronic component is pressed against the conductive part bump, the problem of spreading or bending the conductive part sideways can be reduced, and the conductive part can be stably connected to the terminal.
또한, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는 도전부 범프가 반복적으로 압축력을 받더라도 도전부 범프가 가이드 필름의 경사부 및 수직부에 의해 지지됨으로써, 도전부 범프의 표면 평탄도가 양호하게 유지되고, 수명이 증대될 수 있다.In addition, the signal transmission connector according to the present invention is supported by the inclined portion and the vertical portion of the guide film even if the conductive part bump is repeatedly subjected to a compressive force, thereby maintaining a good surface flatness of the conductive part bump, life This can be increased.
또한, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는 전자부품에 과도한 이동력이 제공되어 오버 스트로크가 발생하더라도, 도전부 범프가 가이드 필름의 경사부 및 수직부에 의해 지지되어 도전부의 변형이 억제되므로, 도전부와 단자 간의 접촉 위치가 틀어지는 문제를 줄일 수 있고, 도전부가 단자와 안정적으로 접속되어 양호한 신호 전달 성능을 유지할 수 있다.In addition, in the signal transmission connector according to the present invention, even when excessive movement force is provided to the electronic parts, the conductive part bumps are supported by the inclined and vertical portions of the guide film, so that the deformation of the conductive part is suppressed. The problem that the contact position between the terminal and the terminal is distorted can be reduced, and the conductive portion can be stably connected to the terminal to maintain good signal transmission performance.
또한, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터는 도전부의 도전부 범프가 가이드 필름에 형성되는 다단 층계 형상의 필름 홀을 채우는 형태로 가이드 필름과 결합됨으로써, 도전부 범프와 가이드 필름 간의 결합 면적을 증대시킬 수 있다. 따라서, 도전부 범프가 가이드 필름에서 쉽게 박리되지 않고 가이드 필름과 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있다.In addition, the signal transmission connector according to the present invention is coupled to the guide film in the form of the conductive part bump to fill the multi-stage layered film hole formed in the guide film, thereby increasing the bonding area between the conductive part bump and the guide film. have. Accordingly, the conductive bumps may not be easily peeled off from the guide film and may maintain a stable bonding state with the guide film.
도 1은 반도체 패키지 검사에 이용되는 종래의 테스트용 소켓을 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이다.
도 3은 도 2에 나타낸 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품의 일부분을 발췌하여 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터의 일부분을 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터의 가이드 필름을 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터의 가이드 필름을 나타낸 단면도이다.1 shows a conventional test socket used for semiconductor package inspection.
2 illustrates a signal transmission connector and an electronic component connected thereto according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a schematic view of a portion of the signal transmission connector shown in FIG. 2 and an electronic component connected thereto.
4 is a plan view showing a portion of a signal transmission connector according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a cross-sectional view showing a guide film of the signal transmission connector according to an embodiment of the present invention.
6 illustrates a signal transmission connector and an electronic component connected thereto according to another embodiment of the present invention.
7 is a cross-sectional view showing a guide film of a signal transmission connector according to another embodiment of the present invention.
이하, 본 발명에 따른 신호 전송 커넥터를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a signal transmission connector according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이고, 도 3은 도 2에 나타낸 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품의 일부분을 발췌하여 나타낸 것이며, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터의 일부분을 나타낸 평면도이다.FIG. 2 illustrates a signal transmission connector and an electronic component connected thereto according to an embodiment of the present invention. FIG. 3 illustrates an extract of a part of the signal transmission connector and an electronic component connected thereto illustrated in FIG. Is a plan view showing a portion of a signal transmission connector according to an embodiment of the present invention.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(50)에 접속하여 전기 신호를 전송할 수 있는 것으로, 전자부품(50)의 단자(52)와 접속할 수 있는 복수의 도전부(110)와, 복수의 도전부(110) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(110)를 상호 이격되도록 지지하는 절연부(120)와, 절연부(120)의 일면에 결합되어 절연부(120)의 일면을 덮는 가이드 필름(130)과, 절연부(120)와 결합되어 절연부(120)를 지지하는 지지 플레이트(150)를 포함한다. 이러한 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(50)에 접속하여 전기 신호를 전송함으로써, 테스터를 통한 전자부품의 검사, 또는 전자부품과 다양한 전자장치를 전기적으로 연결하여 전기 신호를 전송하는데 이용될 수 있다.As shown in the figure, the
도전부(110)는 전자부품(50)의 단자(52)와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 형태로 이루어질 수 있다. 도전부(110)는 복수 개가 접속 대상이 되는 전자부품(50)에 구비되는 단자(52)에 대응하도록 절연부(120)의 내측에 이격 배치된다.The
도전부(110)는 절연부(120) 속에 배치되는 도전부 바디(111)와, 전자부품(50)의 단자(52)와 접촉할 수 있도록 도전부 바디(111)와 연결되어 절연부(120)의 일면으로부터 돌출되는 도전부 범프(112)를 포함한다. 도전부 바디(111)와 도전부 범프(112)에서 도전성 입자의 밀도는 같거나, 또는 다를 수 있다.The
도전부 범프(112)는 도전부 바디(111)로부터 연장되는 범프 테이퍼부(113)와, 범프 테이퍼부(113)에서 외측으로 연장되는 범프 연장부(114)를 포함한다. 범프 테이퍼부(113)는 절연부(120) 측으로 갈수록 그 폭이 점진 적으로 감소하도록 테이퍼진 형상으로 이루어지고, 범프 연장부(114)는 범프 테이퍼부(113)에서 동일한 폭으로 연장된다. 범프 연장부(114)는 가이드 필름(130)에 구비되는 연장 홀(134)의 폭에 대응하는 폭을 갖는다.The
도전부(110)의 도전부 바디(111)는 도시된 것과 같은 원기둥 형상, 또는 다양한 다른 형상으로 이루어질 수 있다. 또한, 도전부 바디(111)는 도시된 것과 같이 가이드 필름(130)에서 멀어질수록 그 폭이 점진적으로 증가하는 형상, 또는 그 이외의 다양한 다른 형상으로 이루어질 수 있다.The
도전부(110)를 구성하는 탄성 절연물질로는 가교 구조를 갖는 내열성의 고분자 물질, 예를 들어, 실리콘 고무, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소플렌 고무, 스틸렌-부타디엔 공중합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무, 스틸렌-부타디엔-디엔 블럭 공중합체 고무, 스틸렌-이소플렌 블럭 공중합체 고무, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피크롤히드린 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무, 연질 액상 에폭시 고무 등이 이용될 수 있다.The elastic insulating material constituting the
또한, 도전부(110)를 구성하는 도전성 입자로는 자장에 의해 반응할 수 있도록 자성을 갖는 것이 이용될 수 있다. 예를 들어, 도전성 입자로는 철, 니켈, 코발트 등의 자성을 나타내는 금속의 입자, 혹은 이들의 합금 입자, 또는 이들 금속을 함유하는 입자 또는 이들 입자를 코어 입자로 하고 그 코어 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐, 라듐 등의 도전성이 양호한 금속이 도금된 것, 또는 비자성 금속 입자, 글래스 비드 등의 무기 물질 입자, 폴리머 입자를 코어 입자로 하고 그 코어 입자의 표면에 니켈 및 코발트 등의 도전성 자성체를 도금한 것, 또는 코어 입자에 도전성 자성체 및 도전성이 양호한 금속을 도금한 것 등이 이용될 수 있다.In addition, as the conductive particles constituting the
절연부(120)는 탄성 절연물질로 이루어질 수 있다. 절연부(120)는 복수의 도전부(110) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(110)를 상호 이격되도록 지지한다. 절연부(120)를 구성하는 탄성 절연물질은 도전부(110)를 구성하는 탄성 절연물질과 동일한 물질로 이루어질 수 있다.The insulating
도 2 내지 도 5를 참조하면, 가이드 필름(130)은 절연부(120)의 일면, 즉 절연부(120)의 전자부품(50)과 마주하는 면에 배치된다. 가이드 필름(130)은 형상이 안정적으로 유지될 정도로 절연부(120)의 강성보다 큰 강성을 갖는 다양한 소재로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 가이드 필름(130)은 합성수지, 세라믹 등의 소재로 이루어질 수 있다. 가이드 필름(130)에는 복수의 도전부(110) 각각에 대응하는 위치마다 필름 홀(131)이 형성되어 있다.2 to 5, the
필름 홀(131)은 복수의 테이퍼 홀(132)(133)과, 복수의 테이퍼 홀(132)(133) 사이에 배치되는 연장 홀(134)을 포함한다. 복수의 테이퍼 홀(132)(133)은 절연부(120) 측으로 갈수록 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어지고 상하로 이격되어 동심 배치된다. 가이드 필름(130)의 안쪽에는 필름 홀(131)의 둘레를 따라 복수의 경사부(135)(136)와, 복수의 경사부(135)(136) 사이에 배치되는 수직부(137)가 마련된다.The
본 실시예에서는 복수의 테이퍼 홀(132)(133) 중에서 가이드 필름(130)의 외면에서 내측으로 연장되는 것을 외측 테이퍼 홀(132)로, 절연부(120)와 접하는 가이드 필름(130)의 내면에서 내측으로 연장되는 것을 내측 테이퍼 홀(133)로 구분하고, 복수의 경사부(135)(136) 중에서 외측 테이퍼 홀(132)의 둘레에 배치되는 것을 외측 경사부(135)로, 내측 테이퍼 홀(133)의 둘레에 배치되는 것을 내측 경사부(136)로 구분하여 설명하기로 한다.In the present exemplary embodiment, the inner surface of the
외측 테이퍼 홀(132)은 가이드 필름(130)의 외면에서 절연부(120) 측으로 연장되되, 절연부(120) 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어진다. 내측 테이퍼 홀(133)은 가이드 필름(130)의 내측에서 절연부(120) 측으로 연장되되, 절연부(120) 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어진다. 연장 홀(134)은 외측 테이퍼 홀(132)과 내측 테이퍼 홀(133) 사이에서 일정한 폭으로 연장되어 외측 테이퍼 홀(132)과 내측 테이퍼 홀(133)을 연결한다. 외측 테이퍼 홀(132)은 전체적으로 그 폭이 내측 테이퍼 홀(133)의 폭보다 크다.The outer
내측 테이퍼 홀(133)에는 도전부(110)의 범프 테이퍼부(113)가 배치되고, 범프 테이퍼부(113)는 내측 경사부(136)에 접하여 내측 경사부(136)에 의해 지지된다. 연장 홀(134)에는 도전부(110)의 범프 연장부(114)가 배치되고, 범프 연장부(114)는 수직부(137)에 접하여 수직부(137)에 의해 지지된다. 따라서, 전자부품(50)의 단자(52)가 도전부 범프(112)에 접촉할 때, 도전부 범프(112)의 범프 테이퍼부(113)와 범프 연장부(114)가 내측 경사부(136)와 수직부(137)에 의해 지지된다. 또한, 도전부 범프(112)에 가해지는 외력이 범프 테이퍼부(113)에서 내측 경사부(136)로 전달되고, 범프 연장부(114)에서 수직부(137)로 전달됨으로써, 도전부 범프(112)에 가해지는 외력이 도전부(110)의 수직 방향으로 집중되지 않고 여러 방향으로 분산될 수 있다. 따라서, 전자부품(50)의 단자(52)가 도전부 범프(112)에 압착될 때, 도전부(110)의 퍼짐량이나 변형량을 줄일 수 있다.The bump tapered
외측 테이퍼 홀(132)의 최외측 폭은 범프 연장부(114)의 폭보다 크며, 범프 연장부(114)는 외측 경사부(135)와 접하지 않는다. 외측 테이퍼 홀(132)에는 보강 절연부(140)가 범프 연장부(114)의 주위를 둘러싸도록 배치된다. 보강 절연부(140)는 범프 연장부(114)의 강도를 보강해주고, 전자부품(50)의 단자(52)가 범프 연장부(114)에 접촉할 때 범프 연장부(114)가 옆으로 퍼지지 않도록 범프 연장부(114)를 지지할 수 있다. 즉, 범프 연장부(114)는 보강 절연부(140)를 통해 외측 경사부(135)에 지지될 수 있다. The outermost width of the outer
또한, 보강 절연부(140)는 인접하는 도전부 범프(112) 사이를 이격 및 절연시킴으로써, 단자(52)가 도전부 범프(112)에 압착될 때 도전부 범프(112)가 옆으로 퍼지면서 인접하는 다른 도전부 범프(112)와 단락되는 문제를 방지할 수 있다.In addition, the
보강 절연부(140)는 도전부(110)를 형성하는 탄성 절연물질과 같은 탄성 절연물질로 이루어질 수 있다. 즉, 보강 절연부(140)의 탄성 절연물질은 도전부(110)의 탄성 절연물질과 일체형으로 고형화된 것일 수 있다. 신호 전송 커넥터(100)의 제조 과정에서, 다수의 도전성 입자가 분산되어 있는 액상의 탄성 절연물질에 자기장을 인가함으로써, 도전성 입자가 집중 분포하는 도전부 범프(112)와, 도전성 입자가 분포하지 않거나 전기 신호를 전달할 수 없을 정도로 미미하게 포함되어 있는 보강 절연부(140)를 동시에 형성할 수 있다.The
도 5에 나타낸 것과 같이, 내측 경사부(136)의 경사각(α1)은 외측 경사부(135)의 경사각(α2)과 같거나 그 보다 작게 설계될 수 있다. 여기에서, 내측 경사부(136) 및 외측 경사부(135)의 경사각(α1)(α2)은 내측 경사부(136) 및 외측 경사부(135)가 가이드 필름(130)의 표면에 대해 기울어진 각도를 나타낸다. 이와 같이, 상대적으로 절연부(120)에 가까이 배치되는 내측 경사부(136)의 경사각(α1)을 상대적으로 절연부(120)에서 멀리 배치되는 외측 경사부(135)의 경사각(α2)과 같거나 그 보다 작게 하는 것은, 도전부(110)에 가해지는 외력을 보다 다양한 방향으로 분산시키는데 유리하다. 또한, 내측 경사부(136)의 경사각(α1)을 외측 경사부(135)의 경사각(α2)과 같거나 그 보다 작게 하는 것이, 내측 경사부(136)의 경사각(α1)을 외측 경사부(135)의 경사각(α2)보다 크게 하는 것에 비해 필름 홀(131) 속에 위치하는 도전부 범프(112)의 체적을 늘리는데 유리하다.As shown in FIG. 5, the inclination angle α1 of the inner
지지 플레이트(150)는 탄성력을 갖는 절연부(120)를 안정적으로 지지하면서 쉽게 변형되지 않고, 그 형상이 안정적으로 유지될 정도의 강성을 갖는 다양한 소재로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 지지 플레이트(150)는 합성수지, 금속, 세라믹 등의 소재로 이루어질 수 있다. 지지 플레이트(150)가 금속으로 이루어지는 경우에는 지지 플레이트(150)의 표면에 절연성 피막이 코팅될 수 있다.The
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 절연부(120)의 일면에 배치되는 가이드 필름(130)에 형성된 필름 홀(131)에 도전부(110)의 도전부 범프(112)가 배치되고, 도전부 범프(112)의 둘레가 가이드 필름(130) 내측의 경사부(135)(136) 및 수직부(137)에 의해 지지됨으로써, 전자부품(50)의 단자(52)가 도전부(110)에 압착될 때 도전부(110)가 받는 외력이 도전부(110)의 수직 방향으로 집중되지 않고 여러 방향으로 분산된다. 따라서, 전자부품(50)의 단자(52)가 도전부 범프(112)에 압착될 때, 도전부(110)가 옆으로 퍼지거나 휘어지는 문제를 줄일 수 있고, 도전부(110)가 단자(52)와 안정적으로 접속될 수 있다.As described above, the
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 도전부 범프(112)가 반복적으로 압축력을 받더라도 도전부 범프(112)가 가이드 필름(130)의 경사부(135)(136) 및 수직부(137)에 의해 지지됨으로써, 도전부 범프(112)의 표면 평탄도가 양호하게 유지되고 수명이 증대될 수 있다.In addition, in the
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 전자부품(50)에 과도한 이동력이 제공되어 오버 스트로크가 발생하더라도, 도전부 범프(112)가 가이드 필름(130)의 경사부(135)(136) 및 수직부(137)에 의해 지지되어 도전부(110)의 변형이 억제되므로, 도전부(110)와 단자(52) 간의 접촉 위치가 틀어지는 문제를 줄일 수 있고, 도전부(110)가 단자(52)와 안정적으로 접속되어 양호한 신호 전달 성능을 유지할 수 있다.In addition, the
또한, 본 발명의 일실시예에 따른 신호 전송 커넥터(100)는 도전부(110)의 도전부 범프(112)가 가이드 필름(130)에 형성되는 다단 층계 형상의 필름 홀(131)을 채우는 형태로 가이드 필름(130)과 결합됨으로써, 도전부 범프(112)와 가이드 필름(130) 간의 결합 면적이 상대적으로 넓다. 따라서, 도전부 범프(112)와 가이드 필름(130)이 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있고, 도전부 범프(112)가 가이드 필름(130)에서 박리되는 문제가 발생하지 않는다.In addition, the
한편, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터와 이와 접속하는 전자부품을 나타낸 것이고, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터의 가이드 필름을 나타낸 단면도이다.6 illustrates a signal transmission connector and an electronic component connected thereto according to another embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a guide film of the signal transmission connector according to another embodiment of the present invention.
도 6 및 도 7에 나타낸 신호 전송 커넥터(200)는 복수의 도전부(210)와, 복수의 도전부(210)를 상호 이격되도록 지지하는 절연부(120)와, 절연부(120)의 일면에 결합되어 절연부(120)의 일면을 덮는 가이드 필름(230)를 포함한다. 이러한 신호 전송 커넥터(200)는 앞서 설명한 신호 전송 커넥터(100)와 비교하여 도전부(210) 및 가이드 필름(230)의 일부 구성이 변형된 것이다.The
도전부(210)는 절연부(120) 속에 배치되는 도전부 바디(211)와, 전자부품(50)의 단자(52)와 접촉할 수 있도록 도전부 바디(211)와 연결되어 절연부(120)의 일면으로부터 돌출되는 도전부 범프(212)를 포함한다. 도전부 범프(212)는 도전부 바디(211)로부터 연장되는 범프 테이퍼부(213)와, 범프 테이퍼부(213)에서 외측으로 연장되는 범프 연장부(214)를 포함한다. 범프 테이퍼부(213)는 절연부(120) 측으로 갈수록 그 폭이 점진 적으로 감소하도록 테이퍼진 형상으로 이루어지고, 범프 연장부(214)는 범프 테이퍼부(213)에서 동일한 폭으로 연장된다. 범프 테이퍼부(213)의 외면은 둥글게 라운드 처리된다. 범프 연장부(214)는 가이드 필름(130)에 구비되는 연장 홀(234)의 폭에 대응하는 폭을 갖는다.The
가이드 필름(230)은 절연부(120)의 강성보다 큰 강성을 갖는 소재로 이루어질 수 있다. 가이드 필름(230)에는 복수의 도전부(210) 각각에 대응하는 위치마다 필름 홀(231)이 형성된다.The
필름 홀(231)은 절연부(120) 측으로 갈수록 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어지는 외측 테이퍼 홀(232) 및 내측 테이퍼 홀(233)과, 외측 테이퍼 홀(232)과 내측 테이퍼 홀(233) 사이에 배치되는 연장 홀(234)을 포함한다. 외측 테이퍼 홀(232)과 내측 테이퍼 홀(233)은 상하로 이격되어 동심 배치된다. 가이드 필름(230)의 안쪽에는 필름 홀(231)의 둘레를 따라 외측 경사부(235)와 내측 경사부(236) 및 수직부(237)가 마련된다. 내측 경사부(236)는 도전부(210)의 범프 테이퍼부(213) 형상에 대응하도록 둥글게 라운드 처리된다.The
외측 테이퍼 홀(232)은 가이드 필름(130)의 외면에서 절연부(120) 측으로 연장되되, 절연부(120) 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어진다. 내측 테이퍼 홀(233)도 가이드 필름(130)의 내측에서 절연부(120) 측으로 연장되되, 절연부(120) 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어진다. 연장 홀(234)은 외측 테이퍼 홀(232)과 내측 테이퍼 홀(233) 사이에서 일정한 폭으로 연장되어 외측 테이퍼 홀(232)과 내측 테이퍼 홀(233)을 연결한다.The
내측 테이퍼 홀(233)에는 도전부(210)의 범프 테이퍼부(213)가 배치되고, 범프 테이퍼부(213)는 내측 경사부(236)에 접하여 내측 경사부(236)에 의해 지지된다. 연장 홀(234)에는 도전부(210)의 범프 연장부(214)가 배치되고, 범프 연장부(214)는 수직부(237)에 접하여 수직부(237)에 의해 지지된다.The bump tapered
외측 테이퍼 홀(232)의 최외측 폭은 범프 연장부(214)의 폭보다 크고, 외측 테이퍼 홀(232)에는 보강 절연부(140)가 범프 연장부(214)의 주위를 둘러싸도록 배치된다. 보강 절연부(140)의 기능은 상술한 것과 같다.The outermost width of the
이러한 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 전송 커넥터(200) 역시 가이드 필름(230)의 필름 홀(231)에 도전부 범프(212)가 배치되고, 도전부 범프(212)의 둘레가 가이드 필름(130) 내측의 경사부(235)(236) 및 수직부(237)에 의해 지지됨으로써, 전자부품(50)의 단자(52)가 도전부(110)에 압착될 때 도전부(110)가 받는 외력이 도전부(110)의 수직 방향으로 집중되지 않고 여러 방향으로 분산된다. 따라서, 전자부품(50)의 단자(52)가 도전부 범프(212)에 압착될 때, 도전부(210)가 옆으로 퍼지거나 휘어지는 문제를 줄일 수 있고, 도전부(210)가 단자(52)와 안정적으로 접속될 수 있다.In the
이상 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명되고 도시되는 형태로 한정되는 것은 아니다.Although the present invention has been described with reference to preferred examples, the scope of the present invention is not limited to the forms described and illustrated above.
예를 들어, 도면에는 필름 홀(131)이 상하 이격되는 한 쌍의 테이퍼 홀(132)(133)과 한 쌍의 테이퍼 홀(132)(133)을 연결하는 하나의 연장 홀(134)을 구비하는 것으로 나타냈으나, 필름 홀이 포함하는 테이퍼 홀의 개수는 다양하게 변경될 수 있다. 그리고 필름 홀은 복수의 테이퍼 홀이 상하 이격되어 다단 배치되는 다양한 다른 모양으로 변경될 수 있다. 그리고 도전부도 필름 홀의 형상에 따라 복수의 경사부를 갖는 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다.For example, in the drawing, the
또한, 가이드 필름(130)에 구비되는 경사부의 개수나 모양, 각각의 경사각은 도시된 것으로 한정되지 않고, 다양하게 변경될 수 있다.In addition, the number or shape of the inclined portion provided in the
이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.While the invention has been shown and described in connection with preferred embodiments for illustrating the principles of the invention, the invention is not limited to the construction and operation as shown and described. Rather, it will be apparent to those skilled in the art that many changes and modifications to the present invention are possible without departing from the spirit and scope of the appended claims.
100, 200 : 신호 전송 커넥터 110, 210 : 도전부
111, 211 : 도전부 바디 112, 212 : 도전부 범프
113, 213 : 범프 테이퍼부 114, 214 : 범프 연장부
120 : 절연부 130, 230 : 가이드 필름
131, 231 : 필름 홀 132, 232 : 외측 테이퍼 홀
133, 233 : 내측 테이퍼 홀 134, 234 : 연장 홀
135, 235 : 외측 경사부 136, 236 : 내측 경사부
137, 237 : 수직부 140 : 보강 절연부
150 : 지지 플레이트100, 200:
111, 211:
113 and 213: bump tapered
120:
131, 231:
133, 233:
135, 235: outer
137, 237: vertical portion 140: reinforcement insulation portion
150: support plate
Claims (8)
상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전부;
탄성 절연물질로 이루어지고, 상기 복수의 도전부 주위를 둘러싸서 상기 복수의 도전부를 상호 이격되도록 지지하는 절연부; 및
상기 절연부의 일면에 결합되고, 상기 복수의 도전부 각각에 대응하는 위치마다 필름 홀이 형성되어 있는 가이드 필름;을 포함하고,
상기 필름 홀은, 상기 절연부 측으로 갈수록 폭이 점진적으로 감소하는 형상으로 이루어지고 상하로 이격되어 다단 배치되는 복수의 테이퍼 홀을 포함하며,
상기 도전부는 상기 절연부 속에 배치되는 도전부 바디와, 상기 도전부 바디와 연결되어 상기 필름 홀의 하나 이상의 테이퍼 홀을 채우도록 상기 필름 홀에 배치되는 도전부 범프를 포함하고,
상기 필름 홀을 통해 상기 가이드 필름의 외면으로부터 외부로 노출되는 상기 도전부 범프의 끝단 폭은 상기 가이드 필름의 외면에 형성되는 테이퍼 홀의 폭보다 작고,
상기 가이드 필름의 외면에 형성되는 테이퍼 홀에는 상기 도전부 범프의 끝단 주위를 둘러싸는 보강 절연부가 배치되는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
In the signal transmission connector capable of transmitting an electrical signal by connecting to an electronic component,
A plurality of conductive parts in which a plurality of conductive particles are arranged in a thickness direction in the elastic insulating material so as to be connected to the terminals of the electronic component;
An insulating part made of an elastic insulating material and surrounding the plurality of conductive parts to support the plurality of conductive parts so as to be spaced apart from each other; And
And a guide film coupled to one surface of the insulating part and having a film hole formed at each position corresponding to each of the plurality of conductive parts.
The film hole has a shape in which the width gradually decreases toward the insulating portion side and includes a plurality of tapered holes spaced up and down and arranged in multiple stages,
The conductive part includes a conductive part body disposed in the insulating part, and a conductive part bump disposed in the film hole to be connected to the conductive part body to fill one or more tapered holes of the film hole.
An end width of the conductive part bump exposed to the outside from the outer surface of the guide film through the film hole is smaller than the width of the tapered hole formed on the outer surface of the guide film,
And a reinforcing insulation portion disposed around an end of the conductive portion bump in a tapered hole formed on an outer surface of the guide film.
상기 필름 홀은, 상하로 이웃하는 테이퍼 홀 사이에 일정한 폭을 갖도록 연장되는 하나 이상의 연장 홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
The method of claim 1,
The film hole, the signal transmission connector, characterized in that it comprises one or more extension holes extending to have a constant width between the tapered holes neighboring up and down.
상기 보강 절연부는 상기 도전부를 구성하는 탄성 절연물질과 동일한 탄성 절연물질로 이루어지되, 상기 보강 절연부의 탄성 절연물질은 상기 도전부의 탄성 절연물질과 일체형으로 고형화된 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
The method of claim 1,
And the reinforcing insulating part is made of the same elastic insulating material as that of the elastic insulating material constituting the conductive part, wherein the resilient insulating material of the reinforcing insulating part is solidified integrally with the elastic insulating material of the conductive part.
상기 가이드 필름 안쪽에는 복수의 경사부가 상기 복수의 테이퍼 홀 각각의 둘레를 따라 마련되되,
상기 복수의 경사부 중 적어도 하나는 라운드 처리되는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
The method of claim 1,
A plurality of inclined portions are provided along the circumference of each of the plurality of tapered holes inside the guide film.
At least one of the plurality of inclined portions is rounded.
상기 가이드 필름 안쪽에는 복수의 경사부가 상기 복수의 테이퍼 홀 각각의 둘레를 따라 마련되되,
상대적으로 상기 절연부에 가까이 배치되는 경사부의 경사각은 상대적으로 상기 절연부에서 멀리 배치되는 경사부의 경사각과 같거나, 그 보다 작은 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
The method of claim 1,
A plurality of inclined portions are provided along the circumference of each of the plurality of tapered holes inside the guide film.
And the inclination angle of the inclined portion relatively disposed relatively to the insulator portion is relatively equal to or smaller than the inclination angle of the inclined portion disposed relatively far from the insulator portion.
상기 전자부품의 단자와 접속할 수 있도록 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전부;
탄성 절연물질로 이루어지고, 상기 복수의 도전부 주위를 둘러싸서 상기 복수의 도전부를 상호 이격되도록 지지하는 절연부; 및
상기 절연부의 일면에 결합되고, 상기 복수의 도전부 각각에 대응하는 위치마다 필름 홀이 형성되어 있는 가이드 필름;을 포함하고,
상기 필름 홀은, 상기 가이드 필름의 외면에서 상기 절연부 측으로 연장되되, 상기 절연부 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 외측 테이퍼 홀과, 상기 외측 테이퍼 홀과 연결되어 일정한 폭으로 상기 절연부 측으로 연장되는 연결 홀과, 상기 연결 홀과 연결되어 상기 절연부 측으로 연장되되, 상기 절연부 측으로 가면서 폭이 점진적으로 감소하는 내측 테이퍼 홀을 포함하며,
상기 도전부는, 상기 절연부 속에 배치되는 도전부 바디와, 상기 도전부 바디와 연결되어 상기 내측 테이퍼 홀을 채우는 범프 테이퍼부 및 상기 범프 테이퍼부와 연결되어 상기 연결 홀에 대응하는 폭을 갖고 외측으로 연장되는 범프 연장부를 구비하는 도전부 범프를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.
In the signal transmission connector capable of transmitting an electrical signal by connecting to an electronic component,
A plurality of conductive parts in which a plurality of conductive particles are arranged in a thickness direction in the elastic insulating material so as to be connected to the terminals of the electronic component;
An insulating part made of an elastic insulating material and surrounding the plurality of conductive parts to support the plurality of conductive parts so as to be spaced apart from each other; And
And a guide film coupled to one surface of the insulating part and having a film hole formed at each position corresponding to each of the plurality of conductive parts.
The film hole extends from the outer surface of the guide film to the insulating part side, the outer taper hole gradually decreasing in width as it goes toward the insulating part side, and connected to the outer taper hole to extend to the insulating part side at a constant width. A connection hole and an inner taper hole which is connected to the connection hole and extends toward the insulation portion and gradually decreases in width while going toward the insulation portion;
The conductive part may include a conductive part body disposed in the insulating part, a bump taper part connected to the conductive part body to fill the inner taper hole and a width connected to the bump taper part to have a width corresponding to the connection hole to the outside. And a conductive bump having an extended bump extension.
상기 범프 연장부의 주위를 둘러싸도록 상기 외측 테이퍼 홀에 배치되는 보강 절연부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 전송 커넥터.The method of claim 7, wherein
And a reinforcing insulation part disposed in the outer taper hole to surround the bump extension part.
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102179457B1 (en) * | 2020-03-25 | 2020-11-16 | (주)티에스이 | Test socket and test apparatus having the same, manufacturing method for the test socket |
KR102212872B1 (en) * | 2020-01-23 | 2021-02-05 | (주)티에스이 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
KR102218626B1 (en) * | 2020-01-23 | 2021-02-22 | (주)티에스이 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
KR102257740B1 (en) * | 2020-05-19 | 2021-05-28 | (주)티에스이 | Insulation film for test socket and test socket having the same |
KR102271503B1 (en) * | 2020-05-25 | 2021-07-01 | (주)티에스이 | Data signal transmission connector |
KR20210149352A (en) * | 2020-06-02 | 2021-12-09 | (주)티에스이 | Test apparatus for semiconductor package |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060062824A (en) | 2004-12-06 | 2006-06-12 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | Silicone connector for testing semiconductor package |
JP2006162605A (en) * | 2004-11-11 | 2006-06-22 | Jsr Corp | Sheet-like probe, probe card, and wafer inspection method |
JP2007134048A (en) * | 2001-08-07 | 2007-05-31 | Shinozaki Seisakusho:Kk | Method of manufacturing thin-film sheet with bump, and thin-film sheet with bump |
EP1970719A1 (en) * | 2005-12-21 | 2008-09-17 | JSR Corporation | Anistropic conductive connector, conversion adapter for inspection device having the anisotropic conductive connector, and method for manufacturing the anistropic conductive connector |
KR101179545B1 (en) * | 2011-09-23 | 2012-09-05 | 하동호 | Semiconductor test socket |
KR101303184B1 (en) * | 2012-06-04 | 2013-09-09 | 에이케이이노텍주식회사 | Contactor for testing semiconductor |
KR101353481B1 (en) * | 2013-02-28 | 2014-01-20 | 주식회사 아이에스시 | Test socket with high density conduction section |
JP2016505155A (en) * | 2013-02-19 | 2016-02-18 | 株式会社アイエスシーIsc Co., Ltd. | Test socket with high density conductive part |
KR101593936B1 (en) * | 2014-10-08 | 2016-02-26 | (주)티에스이 | Silicon rubber connector |
KR20170078457A (en) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 주식회사 오킨스전자 | Burn-in test socket having wire silicon rubber interposed between contact pin and semiconductor device |
-
2018
- 2018-11-06 KR KR1020180135085A patent/KR102036105B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007134048A (en) * | 2001-08-07 | 2007-05-31 | Shinozaki Seisakusho:Kk | Method of manufacturing thin-film sheet with bump, and thin-film sheet with bump |
JP2006162605A (en) * | 2004-11-11 | 2006-06-22 | Jsr Corp | Sheet-like probe, probe card, and wafer inspection method |
KR20060062824A (en) | 2004-12-06 | 2006-06-12 | 주식회사 아이에스시테크놀러지 | Silicone connector for testing semiconductor package |
EP1970719A1 (en) * | 2005-12-21 | 2008-09-17 | JSR Corporation | Anistropic conductive connector, conversion adapter for inspection device having the anisotropic conductive connector, and method for manufacturing the anistropic conductive connector |
KR101179545B1 (en) * | 2011-09-23 | 2012-09-05 | 하동호 | Semiconductor test socket |
KR101303184B1 (en) * | 2012-06-04 | 2013-09-09 | 에이케이이노텍주식회사 | Contactor for testing semiconductor |
JP2016505155A (en) * | 2013-02-19 | 2016-02-18 | 株式会社アイエスシーIsc Co., Ltd. | Test socket with high density conductive part |
KR101353481B1 (en) * | 2013-02-28 | 2014-01-20 | 주식회사 아이에스시 | Test socket with high density conduction section |
KR101593936B1 (en) * | 2014-10-08 | 2016-02-26 | (주)티에스이 | Silicon rubber connector |
KR20170078457A (en) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 주식회사 오킨스전자 | Burn-in test socket having wire silicon rubber interposed between contact pin and semiconductor device |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102212872B1 (en) * | 2020-01-23 | 2021-02-05 | (주)티에스이 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
KR102218626B1 (en) * | 2020-01-23 | 2021-02-22 | (주)티에스이 | Data signal transmission connector and manufacturing method for the same |
KR102179457B1 (en) * | 2020-03-25 | 2020-11-16 | (주)티에스이 | Test socket and test apparatus having the same, manufacturing method for the test socket |
US11131707B1 (en) | 2020-03-25 | 2021-09-28 | Tse Co., Ltd. | Test socket and test apparatus having the same, manufacturing method for the test socket |
TWI751061B (en) * | 2020-03-25 | 2021-12-21 | 南韓商Tse有限公司 | Test socket and test apparatus having the same, manufacturing method for the test socket |
KR102257740B1 (en) * | 2020-05-19 | 2021-05-28 | (주)티에스이 | Insulation film for test socket and test socket having the same |
KR102271503B1 (en) * | 2020-05-25 | 2021-07-01 | (주)티에스이 | Data signal transmission connector |
KR20210149352A (en) * | 2020-06-02 | 2021-12-09 | (주)티에스이 | Test apparatus for semiconductor package |
KR102410156B1 (en) | 2020-06-02 | 2022-06-17 | (주)티에스이 | Test apparatus for semiconductor package |
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