KR101824827B1 - Surface-treated copper foil - Google Patents

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Abstract

동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박. 고주파 용도에 바람직한 액정 폴리머 (LCP) 에 동박을 적층한 플렉시블 프린트 기판 (FPC) 용 동박을 제공할 때, 필 강도를 향상시킨 동박을 얻는 것을 과제로 한다. Wherein the Si concentration is 2.0% or more and the N concentration is 2.0% or more in the XPS survey measurement of the surface of the copper foil. A copper foil for a flexible printed circuit board (FPC) in which a copper foil is laminated on a liquid crystal polymer (LCP) preferable for high frequency use is provided.

Description

표면 처리 동박{SURFACE-TREATED COPPER FOIL}SURFACE-TREATED COPPER FOIL}

본 발명은, 고주파 전기 신호의 효율이 양호한 전송이 가능한 플렉시블 프린트 배선판 (FPC) 을 제조하기 위한 구리 피복 적층판용 표면 처리 동박에 관한 것이다. The present invention relates to a surface-treated copper foil for a copper clad laminate for manufacturing a flexible printed wiring board (FPC) capable of performing efficient transmission of a high-frequency electrical signal.

플렉시블 프린트 회로판은, 기판의 동박을 에칭하여 여러 가지 배선 패턴을 형성하고, 전자 부품을 땜납으로 접속하여 실장함으로써 제조된다. 동박은 그 제조 방법으로부터 전해 동박과 압연 동박으로 분류되고, 플렉시블 기판용 동박에는, 내굴곡성이 우수한 압연 동박이 즐겨 사용되어 왔다. 또, PC 나 이동체 통신 등의 전자기기에서는, 통신의 고속화, 대용량화에 수반하여, 전기 신호의 고주파화가 진행되고 있고, 이것에 대응할 수 있는 프린트 배선판 및 동박이 요구되고 있다. The flexible printed circuit board is manufactured by etching a copper foil of a substrate to form various wiring patterns, and connecting the electronic components by soldering. The copper foil is classified into an electrolytic copper foil and a rolled copper foil from its production method, and a rolled copper foil having excellent flexibility is favorably used for a copper foil for a flexible substrate. In electronic devices such as PCs and mobile communications, as the communication speed and capacity increase, electric signals are being made higher in frequency, and printed wiring boards and copper foils capable of coping with them are required.

PC 나 이동체 통신 등의 전자기기에서는 전기 신호가 고주파화되고 있지만, 전기 신호의 주파수가 1 ㎓ 이상이 되면, 전류가 도체의 표면에만 흐르는 표피 효과의 영향이 현저해져, 표면의 요철로 전류 전송 경로가 변화하여 도체 손실이 증대되는 영향을 무시할 수 없게 된다. 이 점에서도 동박의 표면 조도가 작을 것이 요망된다. In electronic apparatuses such as PCs and mobile communications, electric signals are made to have a high frequency. However, when the frequency of electric signals becomes 1 GHz or more, the influence of the skin effect on the surface of the conductor only becomes significant, And the influence of the increase of the conductor loss can not be ignored. Also in this respect, it is desired that the surface roughness of the copper foil is small.

생박 (生箔) 의 전해 동박의 표면은 구리의 전착 입자에 의해 형성되고, 생박의 압연 동박의 표면은 압연롤과의 접촉에 의해 형성된다. 그 때문에, 일반적으로 생박의 압연 동박의 표면 조도는 전해 동박의 표면 조도보다 작다. 또, 조화 처리에 있어서의 전착 입자는, 압연 동박 쪽이 미세하다. 이 의미로부터, 압연 동박은 고주파 회로용 동박으로서 우수하다고 할 수 있다. The surface of the electrolytic copper foil of green foil is formed by electrodeposited particles of copper, and the surface of the rolled copper foil is formed by contact with the rolling roll. Therefore, in general, the surface roughness of rolled copper foil is smaller than the surface roughness of electrolytic copper foil. The electrodeposited particles in the roughening treatment are finer in the rolled copper foil. For this reason, the rolled copper foil is considered to be excellent as a copper foil for a high-frequency circuit.

한편, 고주파가 될수록 데이터 수송량은 커지지만, 신호 전력의 손실 (감쇠) 도 커져, 데이터를 판독할 수 없게 되기 때문에, FPC 의 회로 길이가 제한된다. 이와 같은 신호 전력의 손실 (감쇠) 을 줄이기 위하여, 도체측은 동박의 표면 조도가 작은 것으로, 또 수지측으로는, 폴리이미드에서 액정 폴리머로 이행하는 경향이 있다. 또한, 표피 효과의 관점에서 가장 바람직한 것은, 조화 처리를 형성하지 않은, 조도가 작은 동박인 것으로 생각된다. On the other hand, the higher the frequency, the larger the data transfer amount, but the loss (attenuation) of the signal power becomes larger, and the data can not be read, so that the circuit length of the FPC is limited. In order to reduce the loss (attenuation) of such signal power, the surface roughness of the copper foil on the conductor side is small and the transition from polyimide to liquid crystal polymer on the resin side tends to occur. From the viewpoint of the skin effect, it is most preferable that the copper foil does not have a roughening treatment and has a low roughness.

전자 회로에 있어서의 신호 전력의 손실 (감쇠) 은 크게 둘로 나눌 수 있다. 첫째는, 도체 손실 즉 동박에 의한 손실이고, 둘째는, 유전체 손실 즉 기판에 의한 손실이다. 도체 손실에서는, 고주파역에서는 표피 효과가 있고, 전류는 도체의 표면을 흐른다는 특성을 갖는다. 이 때문에, 동박 표면이 거칠면, 복잡한 경로를 더듬어, 전류가 흐르게 된다. 상기 서술한 바와 같이, 압연 동박은 전해 동박에 비하여 조도가 작기 때문에, 도체 손실이 적다는 경향이 있다. The loss (attenuation) of the signal power in the electronic circuit can largely be divided into two. The first one is the conductor loss, that is, the loss due to the copper foil. The second one is the dielectric loss, that is, the loss due to the substrate. In conductor loss, there is a skin effect at high frequencies, and current has the property of flowing through the surface of a conductor. Therefore, if the surface of the copper foil is rough, a complicated path follows and a current flows. As described above, since the roughness of the rolled copper foil is smaller than that of the electrolytic copper foil, the conductor loss tends to be small.

한편, 액정 폴리머 (LCP) 는, 액상 (용융 또는 용액) 에서 광학적 이방성을 나타내는 폴리머로서, 동박과는 접착제 없이 적층하는 것이 필요해진다. 전체 방향족 폴리에스테르계 액정 폴리머는, 용융 상태에서도 분자의 배향성을 나타내고, 고체 상태에서도 이 상태가 유지되고, 열가소성을 나타내는 할로겐 프리의 재료이다. On the other hand, a liquid crystal polymer (LCP) is required to be laminated without a glue to a copper foil as a polymer exhibiting optical anisotropy in a liquid phase (melting or solution). The entire aromatic polyester-based liquid crystal polymer is a halogen-free material exhibiting the orientation properties of molecules even in a molten state and maintaining this state even in a solid state and exhibiting thermoplasticity.

액정 폴리머 (LCP) 의 특징은, 저유전율, 저유전 정접인 것이다. 덧붙여 LCP 의 비유전률은 3.3 인 것에 반하여, 폴리이미드의 비유전률은 3.5 이고, 유전 정접은 LCP 가 0.002 인 것에 반하여, 폴리이미드의 그것은 0.01 이므로, 액정 폴리머 (LCP) 쪽이, 특성적으로 우수하다. 또, 액정 폴리머 (LCP) 는, 저흡수성이고, 또한 저흡습률인 특징을 갖고, 전기 특성의 변화가 적으며, 또 치수 변화가 적다는 큰 이점을 갖는다. Liquid crystal polymer (LCP) is characterized by low dielectric constant and low dielectric loss tangent. In addition, the relative dielectric constant of polyimide is 3.5 and the dielectric loss tangent of LCP is 0.002, while that of polyimide is 0.01, so that the liquid crystal polymer (LCP) is more excellent in characteristics . In addition, the liquid crystal polymer (LCP) has the advantage of being low in absorbency and having a low moisture absorption rate, having little change in electrical characteristics, and having a small dimensional change.

압연 동박에 있어서는, 핸들링성을 유지할 목적으로부터, 최종 어닐링 후에 압연한다는 압연 마무리재가 최적 (예를 들어, 특허문헌 1 참조) 이라는 특징을 갖는다. In the rolled copper foil, the rolling finish material which is rolled after the final annealing is optimized (see, for example, Patent Document 1) for the purpose of maintaining the handling property.

그러나, 액정 폴리머 (LCP) 는 폴리이미드와 비교하여 강도가 약하고, 동박을 적층한 재료는 필 강도가 나오기 어렵다는 큰 문제를 갖고 있다. 동박의 조도를 크게 하면, 물리적인 앵커 효과가 얻어지는 점에서 필 강도는 높아지는 경향이 있지만, 상기 서술한 표피 효과의 영향에 의해, 고주파에 있어서의 전기 특성이 악화된다.However, the liquid crystal polymer (LCP) has a weaker strength than the polyimide, and a material in which the copper foil is laminated has a large problem that peel strength is hard to be obtained. When the roughness of the copper foil is increased, the peel strength tends to increase because a physical anchor effect can be obtained. However, the electrical characteristics at high frequencies are deteriorated by the influence of the above-described skin effect.

또, 고주파 회로용 동박의 제안이 몇 개 있지만 (예를 들어, 특허문헌 2, 3, 4, 5 참조), 압연 동박의 제조 공정의 간소화와 고주파 전송 손실을 감소시킨다는 관점에서, 유효한 기술이 없는 것이 현 상황이다. Although there are several proposals for a copper foil for a high-frequency circuit (see, for example, Patent Documents 2, 3, 4 and 5), from the viewpoint of simplifying the manufacturing process of the rolled copper foil and reducing the high- This is the current situation.

일본 공개특허공보 2003-193211호Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-193211 일본 특허공보 소61-54592호Japanese Patent Publication No. 61-54592 일본 특허공보 평3-34679호Japanese Patent Publication No. 3-34679 일본 특허공보 평7-10564호Japanese Patent Publication No. 7-10564 일본 공개특허공보 평5-55746호Japanese Unexamined Patent Publication No. 5-55746

본 발명은, 상기와 같은 문제점을 감안하여 이루어진 것으로서, 그 목적으로 하는 바는, 고주파 용도에 바람직한 액정 폴리머 (LCP) 에 동박을 적층한 플렉시블 프린트 기판 (FPC) 용 동박을 제공할 때, 필 강도를 향상시킨 동박을 얻는 것을 과제로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a copper foil for a flexible printed circuit board (FPC) in which a copper foil is laminated on a liquid crystal polymer (LCP) suitable for high frequency applications, And a copper foil having an improved copper foil.

본 발명자들은, 다음의 이유에 의해 전송 손실을 저하시킬 수 있는 것을 알아냈다. The present inventors have found that transmission loss can be reduced by the following reasons.

첫째는, 고주파 영역에 있어서 동박의 표면에 크게 영향을 받는다는 것이다. 표면 조도가 커지면 전송 손실은 커진다. 따라서, 동박의 표면 조도를, 가능한한 작게 조정하는 것이 유효하다. The first is that the surface of the copper foil is greatly affected in the high frequency region. As the surface roughness increases, the transmission loss increases. Therefore, it is effective to adjust the surface roughness of the copper foil as small as possible.

둘째는, 액정 폴리머 (LCP) 적층 기판의 이용이다. 그러나, 이것을 위해서는 동박과의 접착 강도 (필 강도) 를 높일 필요가 있다. The second is the use of a liquid crystal polymer (LCP) laminated substrate. However, for this purpose, it is necessary to increase the adhesive strength (peel strength) to the copper foil.

이상의 문제를 해결함으로써, 신호 전력 손실 (감쇠) 을 억제한 플렉시블 프린트 기판 (FPC) 을 제공할 수 있다는 지견을 얻었다. By solving the above problems, it has been found that a flexible printed circuit board (FPC) in which signal power loss (attenuation) is suppressed can be provided.

상기의 지견으로부터, 본원발명은 이하의 발명을 제공한다. From the above findings, the present invention provides the following inventions.

1) 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.1) A surface-treated copper foil having a Si concentration of 2.0% or more and an N concentration of 2.0% or more in XPS survey measurement of the surface of the copper foil.

2) 플렉시블 프린트 회로 기판용 동박인 것을 특징으로 하는 상기 1) 에 기재된 표면 처리 동박.2) The surface-treated copper foil according to 1) above, which is a copper foil for a flexible printed circuit board.

3) 동박이 압연 동박 또는 전해 동박인 것을 특징으로 하는 상기 1) ∼ 2) 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박.3) The surface-treated copper foil according to any one of 1) to 2) above, wherein the copper foil is a rolled copper foil or an electrolytic copper foil.

4) 액정 폴리머로 이루어지는 플렉시블 프린트 회로 기판에 접합되는 동박인 것을 특징으로 하는 상기 1) ∼ 3) 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박.(4) The surface-treated copper foil according to any one of (1) to (3) above, which is a copper foil bonded to a flexible printed circuit board made of a liquid crystal polymer.

5) 액정 폴리머로 이루어지는 플렉시블 프린트 회로 기판에 접합된 경우의 90 도의 상태 필 강도가 0.3 ㎏/㎝ 이상인 것을 특징으로 하는 상기 1) ∼ 4) 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박.(5) The surface-treated copper foil according to any one of (1) to (4) above, wherein the state fill strength at 90 degrees when bonded to a flexible printed circuit board made of a liquid crystal polymer is 0.3 kg / cm or more.

6) 1 ㎓ 를 초과하는 고주파수 하에서의 사용이 가능한 플렉시블 프린트 회로판에 접합되는 것을 특징으로 하는 상기 1) ∼ 5) 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박.6) The surface-treated copper foil according to any one of 1) to 5) above, which is bonded to a flexible printed circuit board usable under high frequencies exceeding 1 GHz.

본 발명에 의해, 고주파 회로 용도에 사용할 수 있는 표면 처리 동박을 제조 할 수 있고, 그 동박을 액정 폴리머 (LCP) 적층 기판에 적용함으로써, 접착 강도 (필 강도) 를 높이는 것이 가능하고, 또한 1 ㎓ 를 초과하는 고주파수 하에서의 사용이 가능한 플렉시블 프린트 회로판을 실현할 수 있다는 우수한 효과가 얻어진다.According to the present invention, it is possible to manufacture a surface-treated copper foil that can be used for a high-frequency circuit application, and the copper foil can be applied to a liquid crystal polymer (LCP) A flexible printed circuit board which can be used under a high frequency exceeding the above range can be realized.

고주파 회로 용도에 사용할 수 있는 표면 처리 동박은, 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상인 것을 특징으로 한다. 이로써, 동박을 액정 폴리머 (LCP) 적층 기판에 접착할 때에, 접착 강도 (필 강도) 를 높이는 것이 가능해진다. 또한, 상기 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 달성하는 1 개의 수단으로서 동박 표면을 실란 처리하는 것을 들 수 있다. 또, 본원의 표면 처리 동박을 고주파 회로용 동박에 사용하는 것은 유효하다. The surface-treated copper foil usable for high frequency circuit applications is characterized in that the Si concentration is 2.0% or more and the N concentration is 2.0% or more in the XPS survey measurement of the surface of the copper foil. This makes it possible to increase the adhesive strength (peel strength) when bonding the copper foil to the liquid crystal polymer (LCP) laminated substrate. As one means for achieving the Si concentration and the N concentration on the surface of the copper foil, the copper foil surface is subjected to a silane treatment. It is also effective to use the surface-treated copper foil of the present invention for a copper foil for a high-frequency circuit.

동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.0 % 미만이고, N 농도가 2.0 % 미만이면 접착 강도는 충분하지 않고, 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 20.0 % 를 초과하고, N 농도가 40.0 % 을 초과하는 경우에는, LCP 와의 적층시에 발포가 일어나므로, 지나치게 많은 것은 바람직하지 않다고 할 수 있다. When the Si concentration is less than 2.0% and the N concentration is less than 2.0% in the XPS survey measurement of the surface of the copper foil surface, the bonding strength is not sufficient and in the XPS survey measurement of the copper foil surface, the Si concentration exceeds 20.0% If the concentration exceeds 40.0%, foaming occurs at the time of laminating with the LCP, so that an excessively large amount is not preferable.

또한, 실란 도포 방법은 실란 커플링제 용액의 스프레이 분무, 코터 도포, 침지, 부어 흘리기 등 어느 것이어도 된다. 이들에 대해서는, 이미 공지된 기술이므로 (예를 들어, 일본 특허공보 소60-15654호 참조), 상세한 것은 생략한다.The silane application method may be any of spraying, coating, immersion, pouring, etc. of the silane coupling agent solution. Since these are known techniques (see, for example, Japanese Patent Application Laid-open No. 60-15654), detailed description thereof will be omitted.

동박 표면의 Si 및 N 의 농도에 대해서는, 표면 처리된 동박의 수지와의 접합면을, XPS 로 survey 스펙트럼을 측정하고, 최표면의 Si 농도와 N 농도를 구하였다. 분석 조건을 이하에 나타낸다. With respect to the concentrations of Si and N on the surface of the copper foil, the surface of the copper foil bonded to the surface of the resin was measured by XPS to determine the Si concentration and N concentration of the outermost surface. The analysis conditions are shown below.

장치 : 알박·파이 주식회사 제조 5600MC Device: manufactured by ULVAC PY LTD 5600MC

도달 진공도 : 2.0 × 10-9 Torr Reaching vacuum degree: 2.0 × 10 -9 Torr

여기원 : 단색화 AlKα Here the circle: Monochromated AlKα

출력 : 210 W Output: 210 W

검출 면적 : 800 ㎛φ Detection area: 800 탆

입사각 : 45° Angle of incidence: 45 °

취출각 : 45° Extraction angle: 45 °

중화총 없음No Chunghwa

접착 강도를 높인 동박은, 액정 폴리머로 이루어지는 플렉시블 프린트 회로 기판용으로서 최적인 고주파 회로용 동박이 된다. 즉, 액정 폴리머로 이루어지는 플렉시블 프린트 회로 기판에 접합된 경우의 90 도의 상태 필 강도를 0.3 ㎏/㎝ 이상으로 하는 것이 가능해진다. The copper foil having an increased bonding strength is a copper foil for a high-frequency circuit most suitable for a flexible printed circuit board made of a liquid crystal polymer. That is, the state fill strength at 90 degrees in the case of bonding to a flexible printed circuit board made of a liquid crystal polymer can be 0.3 kg / cm or more.

또, 동박의 접착 강도를 높일 수 있으므로, 동박의 표면 조도가 적은 (도체 손실이 적은) 압연 동박 및 전해 동박에 적용할 수 있고, 최적인 고주파 회로용 동박을 얻을 수 있다. 고주파 회로용 동박은, 1 ㎓ 를 초과하는 고주파수 하에서의 사용이 가능한 플렉시블 프린트 회로판을 제조할 수 있게 한다. In addition, since the bonding strength of the copper foil can be increased, the copper foil can be applied to the rolled copper foil and the electrolytic copper foil which have less surface roughness (less conductor loss) and obtain the optimum copper foil for a high frequency circuit. The copper foil for a high frequency circuit makes it possible to manufacture a flexible printed circuit board which can be used under a high frequency exceeding 1 GHz.

또한, 본원의 발명에 관련된 표면 처리 동박은 조화 처리층 및/또는 내열 처리층 및/또는 방청 처리층 및/또는 크로메이트 처리층 및/또는 도금 처리층 및/또는 실란 커플링 처리층을 가져도 된다. 상기 조화 처리층은 특별히 한정은 되지 않고, 모든 조화 처리층이나 공지된 조화 처리층을 적용할 수 있다. 상기 내열 처리층은 특별히 한정은 되지 않고, 모든 내열 처리층이나 공지된 내열 처리층을 적용할 수 있다. 상기 방청 처리층은 특별히 한정은 되지 않고, 모든 방청 처리층이나 공지된 방청 처리층을 적용할 수 있다. 상기 도금 처리층은 특별히 한정은 되지 않고, 모든 도금 처리층이나 공지된 도금 처리층을 적용할 수 있다. 상기 크로메이트 처리층은 특별히 한정은 되지 않고, 모든 크로메이트 처리층이나 공지된 크로메이트 처리층을 적용할 수 있다. The surface-treated copper foil according to the present invention may have a roughening treatment layer and / or heat-resistant treatment layer and / or a rust-preventive treatment layer and / or a chromate treatment layer and / or a plating treatment layer and / or a silane coupling treatment layer . The roughening treatment layer is not particularly limited, and any roughening treatment layer or a known roughening treatment layer can be applied. The heat-resistant layer is not particularly limited, and any heat-resistant layer or a known heat-resistant layer may be used. The rust-preventive treatment layer is not particularly limited, and all rust-inhibited treatment layers and known rust-inhibited treatment layers can be applied. The plating treatment layer is not particularly limited, and any plating treatment layer or a known plating treatment layer can be applied. The chromate treatment layer is not particularly limited, and any chromate treatment layer or a known chromate treatment layer can be applied.

예를 들어, 본원의 발명에 관련된 표면 처리 동박은 그 표면에, 예를 들어 절연 기판과의 밀착성을 양호하게 하는 것 등을 위한 조화 처리를 실시함으로써 조화 처리층을 형성해도 된다. 조화 처리는, 예를 들어, 구리 또는 구리 합금으로 조화 입자를 형성함으로써 실시할 수 있다. 조화 처리는 미세한 것이어도 된다. 조화 처리층은, 구리, 니켈, 인, 텅스텐, 비소, 몰리브덴, 크롬, 코발트 및 아연으로 이루어지는 군에서 선택된 어느 단체 또는 어느 1 종 이상을 함유하는 합금으로 이루어지는 층 등이어도 된다. For example, the surface-treated copper foil according to the invention of the present application may be subjected to a roughening treatment for improving the adhesion with, for example, an insulating substrate to the surface thereof, thereby forming the roughened layer. The roughening treatment can be carried out, for example, by forming coarse particles with copper or a copper alloy. The harmonic treatment may be fine. The roughening treatment layer may be a layer made of an alloy containing any one or more selected from the group consisting of copper, nickel, phosphorus, tungsten, arsenic, molybdenum, chromium, cobalt and zinc.

또, 구리 또는 구리 합금으로 조화 입자를 형성한 후, 추가로 니켈, 코발트, 구리, 아연의 단체 또는 합금 등으로 2 차 입자나 3 차 입자를 형성하는 조화 처리를 실시할 수도 있다. 그 후에, 니켈, 코발트, 구리, 아연의 단체 또는 합금 등으로 내열 처리층 또는 방청 처리층을 형성해도 되고, 추가로 그 표면에 크로메이트 처리, 실란 커플링 처리 등의 처리를 실시해도 된다. 또는 조화 처리를 실시하지 않고, 니켈, 코발트, 구리, 아연의 단체 또는 합금 등으로 내열 처리층 또는 방청 처리층을 형성하고, 추가로 그 표면에 크로메이트 처리, 실란 커플링 처리 등의 처리를 실시해도 된다. It is also possible to carry out a harmonizing treatment for forming secondary particles or tertiary particles with nickel, cobalt, copper, zinc alone, or an alloy of nickel, cobalt, zinc, or the like after the roughening particles are formed of copper or a copper alloy. Thereafter, the heat-resistant layer or rust-preventive layer may be formed of a single body of nickel, cobalt, copper, zinc, or an alloy, or the surface may further be subjected to chromate treatment, silane coupling treatment or the like. Even if a heat-resistant treatment layer or rust-preventive treatment layer is formed of a single body of nickel, cobalt, copper, zinc or an alloy or the like and the surface is further subjected to a treatment such as a chromate treatment or a silane coupling treatment do.

즉, 조화 처리층의 표면에, 내열 처리층, 방청 처리층, 크로메이트 처리층 및 실란 커플링 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층을 형성해도 되고, 표면 처리 동박의 표면에, 내열 처리층, 방청 처리층, 크로메이트 처리층 및 실란 커플링 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층을 형성해도 된다. 또한, 상기 서술한 내열층, 방청 처리층, 크로메이트 처리층, 실란 커플링 처리층은 각각 복수의 층으로 형성되어도 된다 (예를 들어 2 층 이상, 3 층 이상 등). 또한, 본 발명에 있어서 「방청 처리층」은 「크로메이트 처리층」을 포함한다. That is, at least one layer selected from the group consisting of heat-resistant treatment layer, rust-preventive treatment layer, chromate treatment layer and silane coupling treatment layer may be formed on the surface of the roughened treatment layer, , An anti-rust treatment layer, a chromate treatment layer, and a silane coupling treatment layer may be formed. The heat-resistant layer, rust-preventive treatment layer, chromate treatment layer and silane coupling treatment layer described above may be formed of a plurality of layers (for example, two or more layers, three or more layers, etc.). In the present invention, the " anti-rust treatment layer " includes a " chromate treatment layer ".

또한, 수지와의 밀착성을 고려하면, 표면 처리 동박의 최외층에 실란 커플링 처리층을 형성하는 것이 바람직하다. Further, in consideration of the adhesion with the resin, it is preferable to form a silane coupling treatment layer on the outermost layer of the surface-treated copper foil.

또한, 조화 처리층으로는 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층이 형성되어 있는 것이 바람직하다. As the coarsened layer, it is preferable that a primary particle layer of copper and a secondary particle layer of a ternary alloy composed of copper, cobalt and nickel are formed on the primary particle layer.

또, 그 1 차 입자층의 평균 입자경이 0.25 - 0.45 ㎛ 이고, 그 2 차 입자층의 평균 입자경이 0.05 - 0.25 ㎛ 인 것이 보다 바람직하다. It is more preferable that the primary particle layer has an average particle diameter of 0.25 - 0.45 탆 and the secondary particle layer has an average particle diameter of 0.05 - 0.25 탆.

또, 방청 처리 또는 크로메이트 처리로서 이하의 처리를 사용할 수 있다. As the rust-preventive treatment or the chromate treatment, the following treatments can be used.

<Ni-Co 도금> : Ni-Co 합금 도금 ≪ Ni-Co plating >: Ni-Co alloy plating

(액 조성) Co : 1 ∼ 20 g/ℓ, Ni : 1 ∼ 20 g/ℓ(Liquid composition) Co: 1 to 20 g / l, Ni: 1 to 20 g / l

(pH) 1.5 ∼ 3.5 (pH) 1.5 to 3.5

(액온) 30 ∼ 80 ℃ (Liquid temperature) 30 to 80 DEG C

(전류 밀도) 1 ∼ 20 A/d㎡ (Current density) 1 to 20 A / dm 2

(통전 시간) 0.5 ∼ 4 초(Energization time) 0.5 to 4 seconds

<Zn-Ni 도금> : Zn-Ni 합금 도금 <Zn-Ni plating>: Zn-Ni alloy plating

(액 조성) Zn : 10 ∼ 30 g/ℓ, Ni : 1 ∼ 10 g/ℓ (Liquid composition) Zn: 10 to 30 g / l, Ni: 1 to 10 g / l

(pH) 3 ∼ 4 (pH) 3 to 4

(액온) 40 ∼ 50 ℃ (Liquid temperature) 40 to 50 DEG C

(전류 밀도) 0.5 ∼ 5 A/d㎡ (Current density) 0.5 to 5 A / dm &lt; 2 &gt;

(통전 시간) 1 ∼ 3 초(Energization time) 1 to 3 seconds

<Ni-Mo 도금> : Ni-Mo 합금 도금 &Lt; Ni-Mo plating &gt;: Ni-Mo alloy plating

(액 조성) 황산니켈 : 270 ∼ 280 g/ℓ, 염화니켈 : 35 ∼ 45 g/ℓ, 아세트산니켈 : 10 ∼ 20 g/ℓ, 몰리브덴 (몰리브덴산나트륨으로서 첨가) : 0.1 ∼ 10 g/ℓ, 시트르산3나트륨 : 15 ∼ 25 g/ℓ, 광택제 : 사카린, 부틴디올 등, 도데실황산나트륨 : 55 ∼ 75 ppm Molybdenum (added as sodium molybdate): 0.1 to 10 g / l, nickel chloride: 35 to 45 g / l, nickel acetate: 10 to 20 g / Sodium citrate: 15-25 g / l Brightener: Saccharin, Butynediol, etc. Dodecylsulfate: 55-75 ppm

(pH) 4 ∼ 6(pH) 4 to 6

(액온) 55 ∼ 65 ℃(Liquid temperature) 55 to 65 ° C

(전류 밀도) 1 ∼ 11 A/d㎡(Current density) 1 to 11 A / dm &lt; 2 &gt;

(통전 시간) 1 ∼ 20 초(Energization time) 1 to 20 seconds

<Cu-Zn 도금> : Cu-Zn 합금 도금 <Cu-Zn plating>: Cu-Zn alloy plating

(액 조성) NaCN : 10 ∼ 30 g/ℓ, NaOH : 40 ∼ 100 g/ℓ, Cu : 60 ∼ 120 g/ℓ, Zn : 1 ∼ 10 g/ℓ (Liquid composition) NaCN: 10-30 g / l, NaOH: 40-100 g / l, Cu: 60-120 g / l, Zn: 1-10 g /

(액온) 60 ∼ 80 ℃(Liquid temperature) 60 to 80 DEG C

(전류 밀도) 1 ∼ 10 A/d㎡(Current density) 1 to 10 A / dm &lt; 2 &gt;

(통전 시간) 1 ∼ 10 초(Energization time) 1 to 10 seconds

<전해 크로메이트><Electrolytic chromate>

(액 조성) 무수 크롬산, 크롬산, 또는 중크롬산칼륨 : 1 ∼ 10 g/ℓ, 아연 (첨가하는 경우에는 황산아연의 형태로 첨가) : 0 ∼ 5 g/ℓ 1 to 10 g / l of zinc chloride (added in the form of zinc sulfate if added): 0 to 5 g / l

(pH) 0.5 ∼ 10 (pH) 0.5 to 10

(액온) 40 ∼ 60 ℃ (Liquid temperature) 40 to 60 DEG C

(전류 밀도) 0.1 ∼ 2.6 A/d㎡ (Current density) 0.1 to 2.6 A / d &lt;

(쿨롬량) 0.5 ∼ 90 As/d㎡ (Coulomb amount) 0.5 to 90 As / dm &lt; 2 &gt;

(통전 시간) 1 ∼ 30 초(Energization time) 1 to 30 seconds

<침지 크로메이트> <Immersion Chromate>

(액 조성) 무수 크롬산, 크롬산, 또는 중크롬산칼륨 : 1 ∼ 10 g/ℓ, 아연(첨가하는 경우에는 황산아연의 형태로 첨가) : 0 ∼ 5 g/ℓ1 to 10 g / l of zinc chloride (added in the form of zinc sulfate if added): 0 to 5 g / l

(pH) 2 ∼ 10(pH) 2 to 10

(액온) 20 ∼ 60 ℃(Liquid temperature) 20 to 60 DEG C

(처리 시간) 1 ∼ 30 초(Processing time) 1 to 30 seconds

또, 실란 커플링 처리에 있어서, 동박의 표면에 Si 와 N 을 부착시키는 경우에는, 실란 커플링 처리에는 아미노실란을 사용한다. 그리고, 실란 커플링 처리액 중의 실란 커플링제의 농도를 종래보다 고농도 (예를 들어, 1.5 vol% 이상) 로 하여, 실란 커플링 처리를 실시하는 것이 필요하다. 또, 실란 커플링 처리 후의 건조 온도를 지나치게 높게 하지 않고, 또 건조 시간을 지나치게 길게 하지 않는 것이 필요하다. 건조 온도를 지나치게 높게 하거나 건조 시간을 지나치게 길게 한 경우, 동박 표면에 존재하는 실란 커플링제가 탈리되는 경우가 있기 때문이다. When Si and N are attached to the surface of the copper foil in the silane coupling treatment, aminosilane is used for the silane coupling treatment. It is also necessary to perform the silane coupling treatment at a higher concentration (for example, 1.5 vol% or more) than that of the prior art in the concentration of the silane coupling agent in the silane coupling treatment liquid. It is also necessary that the drying temperature after the silane coupling treatment is not excessively increased and that the drying time is not excessively long. If the drying temperature is excessively high or the drying time is too long, the silane coupling agent present on the surface of the copper foil may be desorbed.

실란 커플링 처리 후의 건조는 예를 들어 건조 온도 90 ∼ 110 ℃ , 바람직하게는 95 ℃ ∼ 105 ℃ 에서, 건조 시간 1 ∼ 10 초간 바람직하게는 1 ∼ 5 초간으로 실시하는 것이 바람직하다. The drying after the silane coupling treatment is preferably carried out at a drying temperature of 90 to 110 캜, preferably 95 to 105 캜, for a drying time of 1 to 10 seconds, preferably 1 to 5 seconds.

또, 바람직한 실시양태에 있어서, 아미노실란으로서 1 이상의 아미노기 및/또는 이미노기를 함유하는 실란을 사용할 수 있다. 아미노실란에 함유되는 아미노기 및 이미노기의 수는, 예를 들어 각각 1 ∼ 4 개, 바람직하게는 각각 1 ∼ 3 개, 더욱 바람직하게는 1 ∼ 2 개로 할 수 있다. 바람직한 실시양태에 있어서, 아미노실란에 함유되는 아미노기 및 이미노기의 수는 각각 1 개로 할 수 있다.In a preferred embodiment, a silane containing at least one amino group and / or an imino group as an aminosilane can be used. The number of amino groups and imino groups contained in the aminosilane may be, for example, 1 to 4, preferably 1 to 3, and more preferably 1 to 2, respectively. In a preferred embodiment, the number of amino groups and imino groups contained in the aminosilane may be one each.

아미노실란에 함유되는 아미노기 및 이미노기의 수의 합계가, 1 개인 아미노실란은 특별히 모노아미노실란, 2 개인 아미노실란은 특별히 디아미노실란, 3 개인 아미노실란은 특별히 트리아미노실란으로 부를 수 있다. 모노아미노실란, 디아미노실란은 본 발명에 있어서 바람직하게 사용할 수 있다. 바람직한 실시양태에 있어서, 아미노실란으로서 아미노기 1 개를 함유하는 모노아미노실란을 사용할 수 있다. 바람직한 실시양태에 있어서, 아미노실란은, 적어도 1 개, 예를 들어 1 개의 아미노기를, 분자의 말단에, 바람직하게는 직사슬형 또는 분지형의 사슬형 분자의 말단에 함유하는 것으로 할 수 있다. The aminosilane having one amino group and the total number of imino groups contained in the aminosilane is particularly monoaminosilane, the two aminosilanes are particularly diaminosilane, and the three aminosilanes are particularly called triaminosilane. Monoaminosilane and diaminosilane can be preferably used in the present invention. In a preferred embodiment, a monoaminosilane containing one amino group as the aminosilane can be used. In a preferred embodiment, the aminosilane can contain at least one amino group, for example one amino group, at the end of the molecule, preferably at the end of a linear or branched chain-like molecule.

아미노실란으로는, 예를 들어, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란, 1-아미노프로필트리메톡시실란, 2-아미노프로필트리메톡시실란, 1,2-디아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노-1-프로페닐트리메톡시실란, 3-아미노-1-프로피닐트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-트리에톡시실릴-N-(1,3-디메틸-부틸리덴)프로필아민, N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-(비닐벤질)-2-아미노에틸-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, N-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, 3-(N-페닐)아미노프로필트리메톡시실란을 들 수 있다. Examples of the aminosilane include N-2- (aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, Aminopropyltrimethoxysilane, 2-aminopropyltrimethoxysilane, 1,2-diaminopropyltrimethoxysilane, 3-amino-1-propenyltrimethoxysilane, 3-amino Propyl trimethoxy silane, 3-aminopropyl triethoxy silane, 3-triethoxysilyl-N- (1,3-dimethyl-butylidene) Aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-amino-3-aminopropyltrimethoxysilane), N- Ethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane and 3- (N-phenyl) aminopropyltrimethoxysilane.

또, 바람직한 실시양태에 있어서, 실란 커플링 처리에는 이하의 식 I 의 구조식을 갖는 실란을 사용하는 것이 바람직하다. In a preferred embodiment, it is preferable to use silane having the following formula I for the silane coupling treatment.

식 I : H2N-R1-Si(OR2)2(R3) (식 I)Formula I: H 2 NR 1 -Si (OR 2 ) 2 (R 3 ) (Formula I)

(단, 상기 식 I 에 있어서, (In the above formula I,

R1 은, 직사슬형 또는 분지를 갖는, 포화 또는 불포화의, 치환 또는 비치환의, 고리형 또는 비고리형의, 복소 고리를 갖는 또는 복소 고리를 갖지 않는, C1 ∼ C12 의 탄화수소의 2 가 기이고, R1 is a divalent group of C1 to C12 hydrocarbon, having a linear or branched, saturated or unsaturated, substituted or unsubstituted, cyclic or acyclic, having a heterocyclic ring or not having a heterocyclic ring,

R2 는, C1 ∼ C5 의 알킬기이고, R2 is a C1-C5 alkyl group,

R3 은, C1 ∼ C5 의 알킬기, 또는 C1 ∼ C5 의 알콕시기이다)R3 is a C1 to C5 alkyl group or a C1 to C5 alkoxy group)

R1 이, 치환 또는 비치환의 C1 ∼ C12 의 직사슬형 포화 탄화수소의 2 가 기, 치환 또는 비치환의 C1 ∼ C12 의 분지형 포화 탄화수소의 2 가 기, 치환 또는 비치환의 C1 ∼ C12 의 직사슬형 불포화 탄화수소의 2 가 기, 치환 또는 비치환의 C1 ∼ C12 의 분지형 불포화 탄화수소의 2 가 기, 치환 또는 비치환의 C1 ∼ C12 의 고리형 탄화수소의 2 가 기, 치환 또는 비치환의 C1 ∼ C12 의 복소 고리형 탄화수소의 2 가 기, 치환 또는 비치환의, C1 ∼ C12 의 방향족 탄화수소의 2 가 기로 이루어지는 군에서 선택된 기인 것이 바람직하다. R1 is a substituted or unsubstituted linear saturated hydrocarbon of a divalent group, a substituted or unsubstituted C1 to C12 branched saturated hydrocarbon divalent group, a substituted or unsubstituted C1 to C12 linear unsaturated A divalent group of a hydrocarbon, a substituted or unsubstituted C1 to C12 branched unsaturated hydrocarbon, a divalent group of a substituted or unsubstituted C1 to C12 cyclic hydrocarbon, a substituted or unsubstituted C1 to C12 heterocyclic A divalent group of a hydrocarbon, a substituted or unsubstituted divalent group of a C1 to C12 aromatic hydrocarbon, and the like.

또, R1 이, -(CH2)n-, -(CH2)n-(CH)m-(CH2)j-1-, -(CH2)n-(CC)-(CH2)n-1-, -(CH2)n-NH-(CH2)m-, -(CH2)n-NH-(CH2)m-NH-(CH2)j-, -(CH2)n-1-(CH)NH2-(CH2)m-1-, -(CH2)n-1-(CH)NH2-(CH2)m-1-NH-(CH2)j- 로 이루어지는 군에서 선택된 기인 (단, n, m, j 는 1 이상의 정수 (整數) 이다) 것이 바람직하다. In addition, R1 a, - (CH 2) n - , - (CH 2) n - (CH) m - (CH 2) j-1 -, - (CH 2) n - (CC) - (CH 2) n -1 -, - (CH 2) n -NH- (CH 2) m -, - (CH 2) n -NH- (CH 2) m -NH- (CH 2) j -, - (CH 2) n -1 - (CH) NH 2 - (CH 2) m-1 -, - (CH 2) n-1 - (CH) NH 2 - (CH 2) m-1 -NH- (CH 2) j - in (Provided that n, m, and j are integers equal to or greater than 1).

R1 이 -(CH2)n-, 또는 -(CH2)n-NH-(CH2)m- 인 것이 바람직하다. It is preferable that R1 is - (CH 2 ) n - or - (CH 2 ) n -NH- (CH 2 ) m -.

n, m, j 가 각각 독립적으로, 1, 2 또는 3 인 것이 바람직하다. n, m and j are each independently 1, 2 or 3.

R2 가 메틸기 또는 에틸기인 것이 바람직하다. R 2 is preferably a methyl group or an ethyl group.

R3 이 메틸기, 에틸기, 메톡시기 또는 에톡시기인 것이 바람직하다. R3 is preferably a methyl group, an ethyl group, a methoxy group or an ethoxy group.

또, 다른 실시형태에 있어서는 스퍼터링, CVD 및 PDV 등의 건식 도금에 의해 동박의 표면에 Si 와 N 을 함유하는 층을 형성해도 된다. 그리고, 그 후 가열 온도 150 ∼ 250 ℃ 에서 1 초 ∼ 300 초로 가열해도 된다. 가열함으로써 표층에 존재하는 Si 와 N 을 동박측으로 확산시킴으로써, 동박 표면의 Si 와 N 의 농도를 소정의 범위로 제어하기 쉬워지기 때문이다. In another embodiment, a layer containing Si and N may be formed on the surface of the copper foil by dry plating such as sputtering, CVD, or PDV. Then, it may be heated at a heating temperature of 150 to 250 ° C for 1 second to 300 seconds. Si and N present in the surface layer are diffused toward the copper foil side by heating so that the concentration of Si and N on the surface of the copper foil can be easily controlled to a predetermined range.

이하에 스퍼터링의 조건의 일례를 나타낸다. An example of the conditions of the sputtering is shown below.

(타깃) : Si 15 ∼ 65 mass%, N 25 ∼ 55 mass%, Si 농도와 N 농도의 합계가 50 mass% 이상. 잔부는 임의의 원소여도 된다. (Target): 15 to 65 mass% of Si, 25 to 55 mass% of N, and a total of 50 mass% or more of Si concentration and N concentration. The remainder may be any element.

(장치) 주식회사 알박 제조의 스퍼터 장치 (Apparatus) Sputtering apparatus manufactured by ULVAC Co., Ltd.

(출력) DC 50 W (Output) DC 50 W

(아르곤 압력) 0.2 ㎩(Argon pressure) 0.2 Pa

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 설명한다. 또한, 본 실시예는 바람직한 일례를 나타내는 것으로, 본 발명은 이들의 실시예에 한정되는 것은 아니다. 따라서, 본 발명의 기술 사상에 포함되는 변형, 다른 실시예 또는 양태는, 모두 본 발명에 포함된다. 또한, 본 발명과의 대비를 위하여, 비교예를 병기한다. Hereinafter, the present invention will be described by way of examples. It should be noted that the present embodiment shows a preferable example, and the present invention is not limited to these embodiments. Accordingly, all modifications, other embodiments or aspects included in the technical idea of the present invention are included in the present invention. For comparison with the present invention, a comparative example is also described.

(실시예 1) (Example 1)

무산소동에 1200 ppm 의 Sn 을 첨가한 잉곳을 용제하고, 이 잉곳을 900 ℃ 로부터 열간 압연하여, 두께 10 ㎜ 의 판을 얻었다. 그 후, 냉간 압연과 어닐링을 반복하여, 최종적으로 9 ㎛ 두께의 동박으로 냉간 압연하였다. 이 압연 동박의 표면 조도는 Rz 0.63 ㎛ 였다. An ingot in which 1200 ppm of Sn was added to oxygen-free copper was melted, and the ingot was hot-rolled from 900 占 폚 to obtain a plate having a thickness of 10 mm. Thereafter, cold rolling and annealing were repeated, and finally cold rolled with a copper foil having a thickness of 9 탆. The surface roughness of the rolled copper foil was Rz 0.63 탆.

다음으로, 상기 압연 동박에, 다음의 조건으로 Ni 도금을 실시하였다 (조화 처리는 실시하지 않음). Next, the rolled copper foil was plated with Ni under the following conditions (no coarsening treatment).

또한, Ni 도금액의 잔부는 물이다. 또 본원에 기재되어 있는, 조화 처리, 도금, 실란 처리, 내열 처리, 방청 처리 등에 사용되는 액의 잔부도 특별히 기재가 없는 한, 물로 하였다. The remainder of the Ni plating solution is water. The balance of the solution used in the coarsening treatment, the plating treatment, the silane treatment, the heat-resistant treatment and the rust-inhibitive treatment described in the present application was also made with water unless otherwise specified.

Ni 이온 : 10 ∼ 40 g/ℓNi ion: 10 to 40 g / l

온도 : 30 ∼ 70 ℃Temperature: 30 ~ 70 ℃

전류 밀도 : 1 ∼ 9 A/d㎡ Current density: 1 to 9 A / dm 2

도금 시간 : 0.1 ∼ 3.0 초 Plating time: 0.1 ~ 3.0 seconds

pH : 1.0 ∼ 5.0pH: 1.0-5.0

다음으로, 상기 Ni 도금을 한 압연 동박에, 다음의 조건으로 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. Next, the above-mentioned Ni-plated rolled copper foil was subjected to an immersion chromate treatment under the following conditions.

K2Cr2O7 : 1 ∼ 10 g/ℓK 2 Cr 2 O 7 : 1 to 10 g / l

온도 : 20 ∼ 60 ℃ Temperature: 20 ~ 60 ℃

처리 시간 : 1 ∼ 5 초Processing time: 1 to 5 seconds

다음으로, 표 1 에 나타내는 실란 커플링 처리를 실시하였다. Next, silane coupling treatment shown in Table 1 was carried out.

실란의 종류 : N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란 Type of silane: N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane

실란 농도 : 1.5 vol% Silane concentration: 1.5 vol%

온도 : 10 ∼ 60 ℃ Temperature: 10 ~ 60 ℃

처리 시간 : 1 ∼ 5 초 Processing time: 1 to 5 seconds

실란 처리 후의 건조 : 100 ℃ × 3 초Drying after silane treatment: 100 占 폚 × 3 seconds

이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz (10 점 평균 조도) 는 0.63 ㎛ 가 되었다. 또한, Rz 는 JIS B 0601-1982 에 준거하여, 주식회사 코사카 연구소 제조 접촉 조도계 Surfcorder SE-3C 촉침식 조도계를 사용하여 측정하였다. 동박 표면의 Si 농도와 N 농도에 대해서는, XPS survey 측정에 의해, Si 농도는 2.2 %, N 농도는 5.0 % 가 되고, 또한 고주파 특성도 양호하였다. 또한, XPS survey 측정에 의해 측정되는 Si 농도, N 농도는 원자 농도 (atom%) 이다. 또한, 본 측정에서 Si 및 N 이 검출된 경우에는, 표면 처리 동박에 아미노실란에 의한 실란 커플링 처리층이 존재하는 것으로 판정할 수 있다. As a result, the copper foil surface roughness Rz (10-point average roughness) after the silane coupling treatment was 0.63 mu m. Rz was measured using a contact roughness tester Surfcorder SE-3C, a contact-type roughness meter manufactured by Kosaka Laboratory Co., Ltd., in accordance with JIS B 0601-1982. With respect to the Si concentration and the N concentration on the surface of the copper foil, the Si concentration was 2.2% and the N concentration was 5.0% by XPS survey measurement, and the high-frequency characteristics were also good. Also, the Si concentration and the N concentration measured by the XPS survey measurement are the atom concentration (atom%). Further, when Si and N are detected in this measurement, it can be judged that a silane coupling treatment layer made of aminosilane exists in the surface-treated copper foil.

이하의 실시예 및 비교예의 동박 표면의 Si 농도 및 N 농도의 측정법 (평가방법) 에 대해서는, 동일하게 하여 실시하고 있기 때문에, 이 조작 방법은, 번잡함을 피하기 위하여, 설명을 생략하는 것으로 한다. Since the measurement method (evaluation method) of the Si concentration and the N concentration of the copper foil surface in the following examples and comparative examples is carried out in the same manner, the explanations thereof are omitted in order to avoid complication.

이상의 결과는, 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The above results achieved the conditions of the present invention in which the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the XPS survey measurement of the surface of the copper foil.

이와 같이 하여 제조한 실란 처리된 압연 동박을, 두께 50 ㎛ 의 액정 폴리머 (Kuraray 제조, Vecstar CT-Z) 의 수지에 프레스로 첩합 (貼合) 하였다. 이와 같이 하여 얻은 시료를 사용하여 90 도 필 강도를 측정하였다. The silane-treated rolled copper foil thus produced was bonded to a resin of a liquid crystal polymer (Vecstar CT-Z, manufactured by Kuraray Co., Ltd.) having a thickness of 50 占 퐉 by a press. The sample thus obtained was used to measure the 90 degree peel strength.

필 강도는 회로폭 3 ㎜ 로 하고, 90 도의 각도로 50 ㎜/min 의 속도로 수지와 동박을 박리한 경우이다. 2 회 측정하여, 그 평균치로 하였다. The peel strength is a case where the resin and the copper foil are peeled off at a speed of 50 mm / min at an angle of 90 degrees with a circuit width of 3 mm. The measurement was carried out twice, and the average value was determined.

이 필 강도의 측정은, JIS C 6471-1995 에 준거하는 것이다 (이하, 동일하다). 이 결과, 90 도 필 강도는 0.32 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이 결과를 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 1 에 나타내는 바와 같이, 실시예 1 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. The measurement of the peel strength is in accordance with JIS C 6471-1995 (hereinafter the same). As a result, a 90 degree fill strength of 0.32 kg / cm was obtained. The results are shown in Table 1. As shown in Example 1, the surface-treated rolled copper foil of Example 1 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

또, 이 동박을 50 ㎛ 의 액정 폴리머에 접합한 후, 고주파 특성을 조사하기 위하여, 마이크로 스트립 라인 구조를 형성하였다. 이 때, 특성 임피던스는 50 Ω 이 되도록 회로 형성을 실시하였다. 이 회로를 사용하여 전송 손실의 측정을 실시하여, 30 ㎓ 의 주파수에 있어서의 전송 손실이 -0.6 보다 작은 경우, 고주파 특성을 ◎ 로 표기하였다. After bonding the copper foil to a liquid crystal polymer having a thickness of 50 탆, a microstrip line structure was formed to investigate high frequency characteristics. At this time, the circuit was formed so as to have a characteristic impedance of 50 OMEGA. The transmission loss was measured using this circuit, and when the transmission loss at a frequency of 30 GHz was smaller than -0.6, the high frequency characteristic was marked as?.

또, -0.6 ∼ -0.8 을 ○, -0.8 ∼ -1.2 를 △, -1.2 보다 전송 손실이 큰 경우에는 × 로 하였다. 또한, 이 측정치는 참고로서 나타내는 것으로, 범위를 한정하는 것은 아니다. Also, -0.6 to -0.8 was rated as?, -0.8 to -1.2 was evaluated as?, And when the transmission loss was larger than -1.2, it was evaluated as?. This measurement value is shown as a reference and does not limit the scope.

Figure 112016059356616-pat00001
Figure 112016059356616-pat00001

(실시예 2) (Example 2)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 1.7 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.61 ㎛ 가 되었다. The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 1.7 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.61 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 3.7 %, N 농도는 8.5 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 3.7% and the N concentration was 8.5%, indicating that the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.48 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 2 에 나타내는 바와 같이, 실시예 2 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.48 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 2, the surface-treated rolled copper foil of Example 2 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 3) (Example 3)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 2.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.61 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 2.0 vol%), and the other conditions were the same as in Example 1. [ As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.61 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.7 %, N 농도는 10.7 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 5.7% and 10.7% in the same manner as in Example 1. As a result, the Si concentration and the N concentration were found to be 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.55 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 3 에 나타내는 바와 같이, 실시예 3 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.55 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 3, the surface-treated rolled copper foil of Example 3 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 4) (Example 4)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 3.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.67 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was set to 3.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.67 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.5 %, N 농도는 10.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were measured in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 5.5% and the N concentration was 10.1%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.63 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 4 에 나타내는 바와 같이, 실시예 4 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.63 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 4, the surface-treated rolled copper foil of Example 4 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 5)(Example 5)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 4.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.65 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 4.0 vol%), and the other conditions were the same as in Example 1. [ As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.65 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 6.6 %, N 농도는 10.8 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 6.6% and 10.8%, respectively, in the same manner as in Example 1. As a result, the Si concentration and the N concentration were 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.63 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 5 에 나타내는 바와 같이, 실시예 5 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.63 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 5, the surface-treated rolled copper foil of Example 5 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 6)(Example 6)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 5.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.61 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 5.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. [ As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.61 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 8.5 %, N 농도는 14.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 8.5% and 14.1%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.77 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 6 에 나타내는 바와 같이, 실시예 6 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.77 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 6, the surface-treated rolled copper foil of Example 6 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 7) (Example 7)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 6.5 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.60 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 6.5 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.60 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 9.0 %, N 농도는 12.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 9.0% and 12.1%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.83 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 7 에 나타내는 바와 같이, 실시예 7 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.83 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 7, it can be seen that the surface-treated rolled copper foil of Example 7 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 8) (Example 8)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시하고, 또한 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 5.0 vol%) 하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리, 실란 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.90 ㎛ 가 되었다. 하기에 조화 처리 조건의 일례를 든다. 또한, 본 실시예는 하기의 도금 조건으로 조화 처리 (조화 처리 도금) 를 실시하였다. Before the nickel plating in Example 1, the roughening treatment was carried out and then the heat resistance and rustproofing treatment were carried out and the conditions of the silane treatment were changed (the silane concentration was 5.0 vol%). Other conditions were the same as those of Example 1. (That is, roughening treatment, heat resistance and anti-rust treatment, immersion chromate treatment and silane treatment were performed on the rolled copper foil which was cold rolled and made to a thickness of 9 mu m in Example 1. Did not do it). As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 0.90 mu m. An example of the blending treatment conditions will be described below. In this embodiment, the coarsening treatment (coarsening treatment plating) was carried out under the following plating conditions.

또한, 이 도금 조건은 어디까지나 바람직한 예를 나타내는 것으로, 하기에 표시하는 것 이외의 도금 조건이어도 문제는 없다. This plating condition represents a preferable example, and plating conditions other than those shown below are acceptable.

(구리의 1 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of primary particles of copper)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 황산 50 ∼ 100 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, sulfuric acid 50 to 100 g / l

액온 : 25 ∼ 50 ℃ Solution temperature: 25 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 1 ∼ 58 A/d㎡ Current density: 1 to 58 A / dm 2

도금 시간 : 0.1 ∼ 10 초Plating time: 0.1 to 10 seconds

(2 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of secondary particles)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 니켈 5 ∼ 15 g/ℓ, 코발트 5 ∼ 15 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, nickel 5 to 15 g / l, cobalt 5 to 15 g / l

pH : 2 ∼ 3 pH: 2-3

액온 : 30 ∼ 50 ℃ Temperature: 30 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 24 ∼ 50 A/d㎡ Current density: 24 ~ 50 A / dm2

도금 시간 : 0.5 ∼ 4 초Plating time: 0.5 to 4 seconds

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 7.2 %, N 농도는 15.2 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한 실시예 1 ∼ 7 보다는 약간 떨어지기는 하지만, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were measured in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 7.2% and 15.2%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good although slightly lower than those of Examples 1 to 7.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.95 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 8 에 나타내는 바와 같이, 실시예 8 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90-degree peel strength was 0.95 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 8, the surface-treated rolled copper foil of Example 8 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 9) (Example 9)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시하고, 또한 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 7.5 vol%) 하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리, 실란 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.92 ㎛ 가 되었다. 또한, 본 실시예에서는 실시예 8 과 동일한 도금 조건으로 조화 처리 (조화 처리 도금) 를 실시하였다. Before the nickel plating in Example 1, the roughening treatment was carried out, and then the heat resistance and rustproofing treatment were carried out, and the conditions of the silane treatment were changed (the silane concentration was 7.5 vol%). Other conditions were the same as those of Example 1. (That is, roughening treatment, heat resistance and anti-rust treatment, immersion chromate treatment and silane treatment were performed on the rolled copper foil which was cold rolled and made to a thickness of 9 mu m in Example 1. Did not do it). As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.92 mu m. Further, in this embodiment, roughening treatment (roughening treatment plating) was performed under the same plating conditions as in Example 8. [

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 9.9 %, N 농도는 22.4 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한 실시예 1 ∼ 7 보다는 약간 떨어지기는 하지만, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 9.9% and 22.4%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. The high-frequency characteristics were also good although slightly lower than those of Examples 1 to 7.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 1.13 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 9 에 나타내는 바와 같이, 실시예 9 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 1.13 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 9, the surface-treated rolled copper foil of Example 9 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 10)(Example 10)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시하고, 또한 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 7.5 vol%) 하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리, 실란 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.48 ㎛ 가 되었다. Before the nickel plating in Example 1, the roughening treatment was carried out, and then the heat resistance and rustproofing treatment were carried out, and the conditions of the silane treatment were changed (the silane concentration was 7.5 vol%). Other conditions were the same as those of Example 1. (That is, roughening treatment, heat resistance and anti-rust treatment, immersion chromate treatment and silane treatment were performed on the rolled copper foil which was cold rolled and made to a thickness of 9 mu m in Example 1. Did not do it). As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 1.48 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 14.6 %, N 농도는 25.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한 실시예 1 ∼ 7 보다는 약간 떨어지기는 하지만, 고주파 특성도 보통 레벨이고, 특별히 문제가 되는 것은 아니었다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 14.6% and 25.3%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. Although it is slightly lower than those of Examples 1 to 7, the high-frequency characteristics are also at a normal level and are not particularly problematic.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 1.31 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 10 에 나타내는 바와 같이, 실시예 10 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 1.31 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 10, the surface-treated rolled copper foil of Example 10 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 11) (Example 11)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 종류와 조건을 변경 (N-2-아미노에틸-3-아미노프로필메틸디메톡시실란, 실란 농도를 5.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.62 ㎛ 가 되었다. The conditions and conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (N-2-aminoethyl-3-aminopropylmethyldimethoxysilane, silane concentration was 5.0 vol%) and other conditions were the same as in Example 1 . As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.62 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 10.1 %, N 농도는 19.8 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were determined in the same manner as in Example 1. As a result, the Si concentration and the N concentration were found to be 10.1% and 19.8%, respectively, and the Si concentration and the N concentration were 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.71 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 11 에 나타내는 바와 같이, 실시예 11 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90-degree peel strength was 0.71 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 11, the surface-treated rolled copper foil of Example 11 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 12) (Example 12)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 종류와 조건을 변경 (3-아미노프로필메톡시실란, 실란 농도를 7.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.65 ㎛ 가 되었다. The conditions and conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (3-aminopropylmethoxysilane and silane concentration: 7.0 vol%), and other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.65 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 12.3 %, N 농도는 11.9 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 12.3% and 11.9%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.81 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 12 에 나타내는 바와 같이, 실시예 12 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, a 90 degree peel strength of 0.81 kg / cm was obtained. These are shown in Table 1. As shown in Example 12, the surface-treated rolled copper foil of Example 12 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 13) (Example 13)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 종류와 조건을 변경 (3-트리에톡시실릴-N-1,3디메틸-부틸리덴프로필아민, 실란 농도를 5.5 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.64 ㎛ 가 되었다. (3-triethoxysilyl-N-1,3-dimethyl-butylidenepropylamine, silane concentration: 5.5 vol%) and the other conditions were the same as in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.64 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 8.3 %, N 농도는 8.5 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 8.3% and the N concentration was 8.5%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.71 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 13 에 나타내는 바와 같이, 실시예 13 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90-degree peel strength was 0.71 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 13, the surface-treated rolled copper foil of Example 13 has industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 14)(Example 14)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 종류와 조건을 변경 (N-페닐-3-아미노프로필메톡시실란, 실란 농도를 7.5 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.60 ㎛ 가 되었다. The conditions and conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (N-phenyl-3-aminopropylmethoxysilane, silane concentration: 7.5 vol%). As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.60 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 18.5 %, N 농도는 16.5 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 또한, 고주파 특성도 양호하였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 18.5% and the N concentration was 16.5%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Respectively. The high-frequency characteristics were also good.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.79 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 실시예 14 에 나타내는 바와 같이, 실시예 14 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.79 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Example 14, the surface-treated rolled copper foil of Example 14 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 1) (Comparative Example 1)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 0.5 vol%) 하고, 동일하게 90 도 필 강도를 측정하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.60 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 0.5 vol%), and the 90 degree peel strength was measured in the same manner. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.60 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 1.1 %, N 농도는 3.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위 외였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 1.1% and 3.3%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% .

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.11 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 1 에 나타내는 바와 같이, 비교예 1 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 - degree peel strength was as low as 0.11 ㎏ / ㎝. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 1, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 1 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 2) (Comparative Example 2)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 1.0 vol%) 하고, 동일하게 90 도 필 강도를 측정하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.61 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (the silane concentration was 1.0 vol%), and the 90 degree peel strength was measured in the same manner. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.61 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 1.4 %, N 농도는 3.5 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위 외였다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were found to be 1.4% and 3.5%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 .

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.12 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 2 에 나타내는 바와 같이, 비교예 2 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 - degree peel strength was as low as 0.12 ㎏ / ㎝. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 2, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 2 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 3) (Comparative Example 3)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리를 실시하지 않았다. 따라서, 동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않는다. 그리고, 동일하게 90 도 필 강도를 측정하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.61 ㎛ 가 되었다. The silane treatment in Example 1 was not carried out. Therefore, there is no Si or N on the surface of the copper foil. The 90 degree peel strength was measured in the same manner. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.61 mu m.

동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않기 때문에, 동박 표면의 Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위 외였다. Si and N on the surface of the copper foil were not present. Therefore, the Si concentration on the copper foil surface was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.03 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 3 에 나타내는 바와 같이, 동박 표면에 Si, N 이 존재하지 않는 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.03 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 3, the rolled copper foil having no Si or N on the surface of the copper foil could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high frequency circuit board.

(비교예 4)(Comparative Example 4)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시했지만, 실란 처리는 실시하지 않았다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 따라서, 동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않는다. 그리고, 동일하게 90 도 필 강도를 측정하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.92 ㎛ 가 되었다. 또한, 본 실시예에서는 실시예 8 과 동일한 도금 조건으로 조화 처리 (조화 처리 도금) 를 실시하였다.The steel sheet was subjected to a roughening treatment before the nickel plating in Example 1, and then heat-resistant and rust-preventive treatment were carried out. However, no silane treatment was carried out (in other words, the rolled copper foil was cold- Treatment, heat resistance and rust prevention treatment, and immersion chromate treatment were carried out. Therefore, there is no Si or N on the surface of the copper foil. The 90 degree peel strength was measured in the same manner. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.92 mu m. Further, in this embodiment, roughening treatment (roughening treatment plating) was performed under the same plating conditions as in Example 8. [

동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않기 때문에, 동박 표면의 Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위 외였다. Si and N on the surface of the copper foil were not present. Therefore, the Si concentration on the copper foil surface was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.32 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 실시예 8 및 9 와 비교하면, 동박 표면에 Si, N 이 존재하지 않는 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 - degree peel strength was as low as 0.32 ㎏ / ㎝. These are shown in Table 1. Compared with Examples 8 and 9, the rolled copper foil having no Si or N on the surface of the copper foil could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high frequency circuit board.

(비교예 5) (Comparative Example 5)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시했지만, 실란 처리는 실시하지 않았다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 따라서, 동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않는다. 그리고, 동일하게 90 도 필 강도를 측정하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.53 ㎛ 가 되었다. 또한, 본 실시예에서는 실시예 10 과 동일한 도금 조건으로 조화 처리 (조화 처리 도금) 를 실시하였다.The steel sheet was subjected to a roughening treatment before the nickel plating in Example 1, and then heat-resistant and rust-preventive treatment were carried out. However, no silane treatment was carried out (in other words, the rolled copper foil was cold- Treatment, heat resistance and rust prevention treatment, and immersion chromate treatment were carried out. Therefore, there is no Si or N on the surface of the copper foil. The 90 degree peel strength was measured in the same manner. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 1.53 탆. Further, in this embodiment, roughening treatment (roughening treatment plating) was carried out under the same plating conditions as in Example 10.

동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않기 때문에, 동박 표면의 Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위 외였다. Si and N on the surface of the copper foil were not present. Therefore, the Si concentration on the copper foil surface was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.66 ㎏/㎝ 가 되었다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 실시예 10 과 비교하면, 동박 표면에 Si, N 이 존재하지 않는 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 최적인 표면 성능이라고는 할 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.66 kg / cm. These are shown in Table 1. Compared with Example 10, the rolled copper foil with no Si or N on the surface of the copper foil could not be regarded as the optimum surface performance industrially as a material for a high frequency circuit board.

(비교예 6) (Comparative Example 6)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시했지만, 실란 처리는 실시하지 않았다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 따라서, 동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않는다. 그리고, 동일하게 90 도 필 강도를 측정하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 3.21 ㎛ 가 되었다. The steel sheet was subjected to a roughening treatment before the nickel plating in Example 1, and then heat-resistant and rust-preventive treatment were carried out. However, no silane treatment was carried out (in other words, the rolled copper foil was cold- Treatment, heat resistance and rust prevention treatment, and immersion chromate treatment were carried out. Therefore, there is no Si or N on the surface of the copper foil. The 90 degree peel strength was measured in the same manner. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 3.21 탆.

동박 표면의 Si, N 도 존재하지 않기 때문에, 동박 표면의 Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위 외였다. Si and N on the surface of the copper foil were not present. Therefore, the Si concentration on the copper foil surface was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.89 ㎏/㎝ 가 되었다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 다른 비교예와 비교하면 필 강도는 높지만, 이것은 표면 조도가 거친 것에 의한 물리적인 효과인데, 상기 서술한 바와 같이, 조도가 크면 표피 효과 에 의해 손실이 커지기 때문에, 이 동박은 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 최적인 표면 성능을 가진다고는 할 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was 0.89 kg / cm. These are shown in Table 1. Compared with other comparative examples, the peel strength is high, but this is a physical effect of roughness of the surface. As described above, if the roughness is large, the loss increases due to the skin effect. It can not be said that it has industrially optimum surface performance.

(비교예 7) (Comparative Example 7)

상기 실시예 1 의 니켈 도금 전에 조화 처리를 실시하고, 그 후 내열 및 방청 처리를 실시했지만, 추가로 실란 처리의 조건을 변경 (실란 농도를 10.0 vol%) 하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다 (즉, 상기 실시예 1 의 냉간 압연하여 9 ㎛ 두께로 한 압연 동박에 조화 처리, 내열 및 방청 처리, 침지 크로메이트 처리, 실란 처리를 실시하였다. 니켈 도금은 실시하지 않았다). 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.51 ㎛ 가 되었다. 또한, 본 실시예에서는 실시예 10 과 동일한 도금 조건으로 조화 처리 (조화 처리 도금) 를 실시하였다. The roughening treatment was performed before the nickel plating in Example 1, and then the heat resistance and rustproofing treatment were performed. However, the conditions of the silane treatment were further changed (the silane concentration was 10.0 vol%). Other conditions were the same as those of Example 1. (That is, roughening treatment, heat resistance and anti-rust treatment, immersion chromate treatment and silane treatment were performed on the rolled copper foil which was cold rolled and made to a thickness of 9 mu m in Example 1. Did not do it). As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 1.51 탆. Further, in this embodiment, roughening treatment (roughening treatment plating) was carried out under the same plating conditions as in Example 10.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도 및 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 20.6 %, N 농도는 40.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 범위에는 있었지만, 다량의 존재는 문제가 있고, 액정 폴리머 (LCP) 와의 적층시에 발포가 일어났다. 그 때문에, 이 동박에 대해서는 필 강도를 측정하지 않았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 7 에 나타내는 바와 같이, 비교예 7 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were 20.6% and 40.1%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 , But there was a problem in the presence of a large amount, and foaming occurred at the time of lamination with liquid crystal polymer (LCP). Therefore, the peel strength of the copper foil was not measured. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 7, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 7 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 8) (Comparative Example 8)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (글리시독시프로필트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 1.5 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.62 ㎛ 가 되었다. The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (glycidoxypropyltrimethoxysilane was used and the concentration was 1.5 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.62 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도 및 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 2.2 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration were found to be 2.2% and 0.0%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1. As a result, Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.13 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 8 에 나타내는 바와 같이, 비교예 8 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 - degree peel strength was as low as 0.13 ㎏ / ㎝. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 8, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 8 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 9)(Comparative Example 9)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (글리시독시프로필트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 5.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.63 ㎛ 가 되었다. The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (glycidoxypropyltrimethoxysilane was used, and the concentration was 5.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.63 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 9.5 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 9.5% and the N concentration was 0.0%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.19 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 9 에 나타내는 바와 같이, 비교예 9 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 - degree peel strength was as low as 0.19 ㎏ / ㎝. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 9, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 9 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 10) (Comparative Example 10)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 2.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.67 ㎛ 가 되었다. The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (3-methacryloxypropyltrimethoxysilane was used and the concentration was 2.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.67 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.2 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 5.2% and 0.0%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.04 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 10 에 나타내는 바와 같이, 비교예 10 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.04 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 10, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 10 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 11)(Comparative Example 11)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (비닐트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 0.5 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.65 ㎛ 가 되었다. The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (vinyltrimethoxysilane was used, and the concentration was 0.5 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.65 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 1.4 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 1.4% and the N concentration was 0.0%, indicating that the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.07 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 11 에 나타내는 바와 같이, 비교예 11 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.07 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 11, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 11 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 12) (Comparative Example 12)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (비닐트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 2.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.65 ㎛ 가 되었다.The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (vinyltrimethoxysilane was used and the concentration was 2.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.65 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.8 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 5.8% and 0.0%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.09 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 12 에 나타내는 바와 같이, 비교예 12 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.09 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 12, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 12 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 13) (Comparative Example 13)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (비닐트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 5.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.65 ㎛ 가 되었다.The conditions of the silane treatment in Example 1 were changed (vinyltrimethoxysilane was used, and the concentration was 5.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.65 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 11.1 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 11.1% and the N concentration was 0.0%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.11 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 13 에 나타내는 바와 같이, 비교예 13 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low at 0.11 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 13, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 13 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 14) (Comparative Example 14)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (3-메르캅토프로필트리메톡시실란을 사용하고, 농도를 2.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.64 ㎛ 가 되었다. The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (3-mercaptopropyltrimethoxysilane was used and the concentration was 2.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.64 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.6 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 5.6% and 0.0%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.07 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 14 에 나타내는 바와 같이, 비교예 14 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.07 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 14, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 14 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 15) (Comparative Example 15)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (테트라메톡시실란을 사용하고, 농도를 2.0 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.67 ㎛ 가 되었다.The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (tetramethoxysilane was used, and the concentration was 2.0 vol%), and the other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.67 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.7 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration were found to be 5.7% and 0.0%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.07 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 15 에 나타내는 바와 같이, 비교예 15 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.07 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 15, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 15 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 16) (Comparative Example 16)

상기 실시예 1 에 있어서의 실란 처리의 조건을 변경 (테트라메톡시실란, 3-메르캅토프로필트리메톡시실란 혼합을 사용하고, 농도를 0.2 + 0.5 vol%) 하고, 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.64 ㎛ 가 되었다. The conditions for the silane treatment in Example 1 were changed (tetramethoxysilane and 3-mercaptopropyltrimethoxysilane were mixed and the concentration was 0.2 + 0.5 vol%), and the other conditions were the same as in Example 1 Likewise. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.64 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 3.2 %, N 농도는 0.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 3.2% and 0.0%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.05 ㎏/㎝ 로 현저하게 낮았다. 이들을 표 1 에 나타낸다. 본 비교예 16 에 나타내는 바와 같이, 비교예 16 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 가질 수 없었다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably low as 0.05 kg / cm. These are shown in Table 1. As shown in Comparative Example 16, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 16 could not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

다음으로, 동박의 종류 및 조화 처리, 내열 처리, 방청 처리를 바꾼 경우의 예를 나타낸다. 본 예에는 내열 처리 및/또는 방청 처리를 실시하지 않는 예도 포함된다 (실시예 28, 29, 31 ∼ 33). 이 경우, 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도를 5.0 vol% 로 하였다. 실란 처리 후의 건조는, 모두 100 ℃ × 3 초로 하였다. 또한, 내열 처리는 동박과 액정 폴리머 (LCP) 의 적층시에 내열성을 확보할 수 있으면 되고, 금속종은 문제삼지 않는다. Next, examples of the case where the kind of the copper foil, the roughening treatment, the heat-resistant treatment, and the anti-rust treatment are changed. This example also includes examples in which the heat-resistant treatment and / or the rust-preventive treatment are not performed (Examples 28, 29, 31 to 33). In this case, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane, and the silane concentration was 5.0 vol%. The drying after the silane treatment was performed at 100 ° C for 3 seconds. Further, in the heat resistance treatment, heat resistance can be ensured at the time of laminating the copper foil and the liquid crystal polymer (LCP), and the metal species is not a problem.

예로서 Zn, Ni, Co, Mo, P, Cr, W 등의 단일 혹은 합금 도금을 들 수 있다. 또한, Zn 을 함유하지 않는 내열 처리층이어도 된다. 하기의 실시예 21 ∼ 실시예 33 및 비교예 21 ∼ 비교예 27 까지의 제조 조건과 평가 (필 강도의) 방법은, 각 개별로 기재하는 것 이외에는 실시예 1 과 동일하다. 또한, Ni-Co 도금 처리, Zn-Ni 도금 처리, Ni-Mo 도금 처리, Cu-Zn 도금 처리, 전해 크로메이트 처리 및 침지 크로메이트 처리의 처리 조건은 상기 서술한 바와 같이 하였다. 또한, 침지 크로메이트 처리의 조건은 실시예 1 과 동일한 조건으로 하였다. Examples thereof include single or alloy platings of Zn, Ni, Co, Mo, P, Cr, W and the like. The heat-treated layer may be Zn-free. The manufacturing conditions and the evaluation (of the peel strength) from the following Examples 21 to 33 and Comparative Examples 21 to 27 were the same as those of Example 1 except that each was described individually. The processing conditions of the Ni-Co plating treatment, the Zn-Ni plating treatment, the Ni-Mo plating treatment, the Cu-Zn plating treatment, the electrolytic chromate treatment and the immersion chromate treatment were as described above. The conditions of the immersion chromate treatment were the same as those in Example 1.

(실시예 21) (Example 21)

판두께가 6 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Co 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. 다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.82 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The rolled copper foil having a thickness of 6 占 퐉 was roughened and subjected to Ni-Co plating treatment as a heat-resistant treatment. In addition, electrolytic chromate treatment was performed as the rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.82 mu m. Table 2 shows the treatment conditions.

Figure 112016059356616-pat00002
Figure 112016059356616-pat00002

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 6.6 %, N 농도는 8.2 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 6.6% and 8.2%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.88 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. As a result, a high value of 0.88 kg / cm was obtained for the 90 degree peel strength.

이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 21 에 나타내는 바와 같이, 실시예 21 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. The results are shown in Table 3. As shown in Example 21, the surface-treated rolled copper foil of Example 21 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

Figure 112016059356616-pat00003
Figure 112016059356616-pat00003

(실시예 22) (Example 22)

판두께가 12 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Zn-Ni 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. The rolled copper foil having a thickness of 12 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Zn-Ni plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.90 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 0.90 mu m. Table 2 shows the treatment conditions.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 6.8 %, N 농도는 9.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 6.8% and 9.0%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.93 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 22 에 나타내는 바와 같이, 실시예 22 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, a high value of 0.93 kg / cm was obtained for the 90 degree peel strength. The results are shown in Table 3. As shown in Example 22, the surface-treated rolled copper foil of Example 22 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 23) (Example 23)

판두께가 35 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Mo 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. A rolled copper foil having a thickness of 35 탆 was roughened and subjected to Ni-Mo plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.55 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 1.55 mu m. Table 2 shows the treatment conditions.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.5 %, N 농도는 7.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were found to be 5.5% and 7.3%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 1.30 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 23 에 나타내는 바와 같이, 실시예 23 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was as high as 1.30 kg / cm. The results are shown in Table 3. As shown in Example 23, the surface-treated rolled copper foil of Example 23 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 24) (Example 24)

판두께가 18 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Cu-Zn 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. A rolled copper foil having a thickness of 18 탆 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Cu-Zn plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, electrolytic chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.81 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 0.81 탆. Table 2 shows the treatment conditions.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 3.8 %, N 농도는 4.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 3.8% and 4.3%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.85 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 24 에 나타내는 바와 같이, 실시예 24 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, a high value of 0.85 kg / cm was obtained for the 90 degree peel strength. The results are shown in Table 3. As shown in the twenty-fourth embodiment, the surface-treated rolled copper foil of the twenty-fourth embodiment has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 25) (Example 25)

판두께가 18 ㎛ 인 전해 동박의 광택면에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Co 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. The surface of the electrolytic copper foil having a plate thickness of 18 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to Ni-Co plating treatment as heat treatment. Further, electrolytic chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.62 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 1.62 mu m. Table 2 shows the treatment conditions.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 4.6 %, N 농도는 8.9 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration were found to be 4.6% and 8.9%, respectively, and the Si concentration and the N concentration were 2.0% or more and 2.0% or more, respectively, in the same manner as in Example 1 Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 1.29 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 25 에 나타내는 바와 같이, 실시예 25 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was as high as 1.29 kg / cm. The results are shown in Table 3. As shown in Example 25, it is found that the surface-treated electrolytic copper foil of Example 25 has industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 26) (Example 26)

판두께가 5 ㎛ 인 전해 동박의 광택면에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Zn-Ni 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. The surface of the electrolytic copper foil having a thickness of 5 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Zn-Ni plating treatment as a heat treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.31 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 1.31 탆. Table 2 shows the treatment conditions.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.2 %, N 농도는 5.9 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 5.2% and the N concentration was 5.9%, the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 1.01 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 26 에 나타내는 바와 같이, 실시예 26 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 degree peel strength was as high as 1.01 kg / cm. The results are shown in Table 3. As shown in Example 26, it can be seen that the surface-treated electrolytic copper foil of Example 26 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 27) (Example 27)

판두께가 12 ㎛ 인 전해 동박의 광택면에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Mo 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. The shiny surface of the electrolytic copper foil having a thickness of 12 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Ni-Mo plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 5.0 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.42 ㎛ 가 되었다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. The other conditions were the same as those in Example 1. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 1.42 mu m. Table 2 shows the treatment conditions.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 5.4 %, N 농도는 6.4 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 5.4% and 6.4%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 1.18 ㎏/㎝ 의 높은 값이 얻어졌다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 27 에 나타내는 바와 같이, 실시예 27 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. As a result, the 90 - degree peel strength was as high as 1.18 kg / cm. The results are shown in Table 3. As shown in Example 27, it can be seen that the surface-treated electrolytic copper foil of Example 27 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

다음으로, 동박의 종류 및 조화 처리, 내열 처리, 방청 처리를 바꾸었을 경우의 예를 나타낸다. 이 경우, 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도를 0.5 vol% 로 하였다. 실란 처리 후의 건조는, 모두 100 ℃ × 3 초로 하였다. Next, examples of the case where the kind of the copper foil, the roughening treatment, the heat resistance treatment and the anti-rust treatment are changed. In this case, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane, and the silane concentration was set to 0.5 vol%. The drying after the silane treatment was performed at 100 ° C for 3 seconds.

또한 비교예 21 ∼ 비교예 27 에 대해서는 기재의 종류 및 조화 처리, 방청 처리, 크로메이트 처리의 조건은, 실시예 21 ∼ 실시예 27 과 동일 조건이고, 실란 농도만 변화시킨 경우 (필연적으로, Si 및 N 의 부착량이 변화된다) 의 예를 나타낸다. In Comparative Examples 21 to 27, the conditions of the base material, the roughening treatment, the rust-preventive treatment and the chromate treatment were the same as those in Examples 21 to 27. When only the silane concentration was changed (inevitably, Si and The amount of deposition of N is changed).

(실시예 28) (Example 28)

두께 9 ㎛ 의 압연 동박 (JX 닛코 닛세키 금속 주식회사 제조 터프 피치동 (JIS H 3100 합금 번호 C1100)) 에 하기의 조건으로 조화 처리를 실시하고, 그 후 실란 커플링 처리를 실시하였다. 또한, 조화 처리는 상기 압연 동박의 표면에, 구리의 1 차 입자를 형성하는 처리를 실시하고, 그 후, 2 차 입자를 형성하는 처리를 실시함으로써 실시하였다. 또, 실란 처리의 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.91 ㎛ 가 되었다. A roughened copper foil having a thickness of 9 占 퐉 (JIS H 3100 alloy No. C1100 manufactured by JX Nikkus Nisseki Metal Co., Ltd.) was subjected to a roughening treatment under the following conditions, and then subjected to a silane coupling treatment. The roughening treatment was carried out by subjecting the surface of the rolled copper foil to a treatment of forming primary particles of copper and then forming a secondary particle. N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane for the silane treatment, and the silane concentration was 5.0 vol%. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.91 mu m.

<조화 처리 조건> &Lt; Harmonizing treatment condition &

(구리의 1 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of primary particles of copper)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 황산 50 ∼ 100 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, sulfuric acid 50 to 100 g / l

액온 : 25 ∼ 50 ℃ Solution temperature: 25 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 1 ∼ 58 A/d㎡ Current density: 1 to 58 A / dm 2

도금 시간 : 0.1 ∼ 10 초Plating time: 0.1 to 10 seconds

(2 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of secondary particles)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 니켈 5 ∼ 15 g/ℓ, 코발트 5 ∼ 15 g/ℓLiquid composition: copper 10 to 20 g / l, nickel 5 to 15 g / l, cobalt 5 to 15 g / l

pH : 2 ∼ 3pH: 2-3

액온 : 30 ∼ 50 ℃Temperature: 30 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 24 ∼ 50 A/d㎡Current density: 24 ~ 50 A / dm2

도금 시간 : 0.5 ∼ 4 초Plating time: 0.5 to 4 seconds

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 7.3 %, N 농도는 15.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.95 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were measured in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 7.3% and 15.1%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Respectively. As a result, the 90-degree peel strength was 0.95 kg / cm.

또, 실란 처리 후의 표면 처리 동박의 표면에 대해, 주사형 전자현미경 (SEM) 을 사용하여 사진 촬영을 실시하였다. 그리고 당해 사진을 사용하여 조화 처리의 입자의 관찰을 실시하였다. 그 결과, 구리의 1 차 입자층의 평균 입자경은 0.25 ∼ 0.45 ㎛ 이고, 2 차 입자층의 평균 입자경은 0.05 ∼ 0.25 ㎛ 였다. 또한, 입자를 둘러싸는 최소원의 직경을 입자경으로서 측정하고, 평균 입자경을 산출하였다. The surface of the surface-treated copper foil after the silane treatment was photographed using a scanning electron microscope (SEM). Then, the grains of the roughening treatment were observed using the photographs. As a result, the average particle diameter of the primary particle layer of copper was 0.25 to 0.45 mu m, and the average particle diameter of the secondary particle layer was 0.05 to 0.25 mu m. Further, the diameter of the minimum circle surrounding the particles was measured as the particle diameter, and the average particle diameter was calculated.

이들을 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 28 에 나타내는 바와 같이, 실시예 28 의 표면 처리된 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. These are shown in Table 3. As shown in Example 28, it can be seen that the surface-treated copper foil of Example 28 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 29)(Example 29)

두께 9 ㎛ 의 압연 동박 (JX 닛코 닛세키 금속 주식회사 제조 터프 피치동 (JIS H 3100 합금 번호 C1100)) 에 하기의 조건으로 조화 처리를 실시하고, 그 후 전해 크로메이트 처리를 실시하고, 추가로 그 후 실란 커플링 처리를 실시하였다. 또한, 조화 처리는 상기 압연 동박의 표면에, 구리의 1 차 입자를 형성하는 처리를 실시하고, 그 후, 2 차 입자를 형성하는 처리를 실시함으로써 실시하였다. 또, 실란 처리의 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.91 ㎛ 가 되었다. (JIS H 3100 alloy No. C1100) manufactured by JX Nikko Nisseki Metal Co., Ltd.) having a thickness of 9 탆 was subjected to a roughening treatment under the following conditions and then subjected to electrolytic chromate treatment, Silane coupling treatment. The roughening treatment was carried out by subjecting the surface of the rolled copper foil to a treatment of forming primary particles of copper and then forming a secondary particle. N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane for the silane treatment, and the silane concentration was 5.0 vol%. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.91 mu m.

<조화 처리 조건>&Lt; Harmonizing treatment condition &

(구리의 1 차 입자의 도금 조건)(Plating conditions of primary particles of copper)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 황산 50 ∼ 100 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, sulfuric acid 50 to 100 g / l

액온 : 25 ∼ 50 ℃ Solution temperature: 25 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 1 ∼ 58 A/d㎡ Current density: 1 to 58 A / dm 2

도금 시간 : 0.1 ∼ 10 초Plating time: 0.1 to 10 seconds

(2 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of secondary particles)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 니켈 5 ∼ 15 g/ℓ, 코발트 5 ∼ 15 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, nickel 5 to 15 g / l, cobalt 5 to 15 g / l

pH : 2 ∼ 3 pH: 2-3

액온 : 30 ∼ 50 ℃ Temperature: 30 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 24 ∼ 50 A/d㎡ Current density: 24 ~ 50 A / dm2

도금 시간 : 0.5 ∼ 4 초Plating time: 0.5 to 4 seconds

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 7.5 %, N 농도는 15.4 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.96 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were found to be 7.5% and 15.4%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. As a result, the 90 degree peel strength was 0.96 kg / cm.

또, 실란 처리 후의 표면 처리 동박의 표면에 대해, 주사형 전자현미경 (SEM) 을 사용하여 사진 촬영을 실시하였다. 그리고 당해 사진을 사용하여 조화 처리의 입자의 관찰을 실시하였다. 그 결과, 구리의 1 차 입자층의 평균 입자경은 0.25 ∼ 0.45 ㎛ 이고, 2 차 입자층의 평균 입자경은 0.05 ∼ 0.25 ㎛ 였다. 또한, 입자를 둘러싸는 최소원의 직경을 입자경으로서 측정하고, 평균 입자경을 산출하였다. The surface of the surface-treated copper foil after the silane treatment was photographed using a scanning electron microscope (SEM). Then, the grains of the roughening treatment were observed using the photographs. As a result, the average particle diameter of the primary particle layer of copper was 0.25 to 0.45 mu m, and the average particle diameter of the secondary particle layer was 0.05 to 0.25 mu m. Further, the diameter of the minimum circle surrounding the particles was measured as the particle diameter, and the average particle diameter was calculated.

이들을 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 29 에 나타내는 바와 같이, 실시예 29 의 표면 처리된 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. These are shown in Table 3. As shown in Example 29, the surface-treated copper foil of Example 29 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 30) (Example 30)

두께 9 ㎛ 의 압연 동박 (JX 닛코 닛세키 금속 주식회사 제조 터프 피치동 (JIS H 3100 합금 번호 C1100)) 에 하기의 조건으로 조화 처리를 실시하고, 그 후, Ni-Co 도금 처리를 실시하고, 그 후 전해 크로메이트 처리를 실시하고, 추가로 그 후 실란 커플링 처리를 실시하였다. 또한, 상기 조화 처리는 상기 압연 동박의 표면에, 구리의 1 차 입자를 형성하는 처리를 실시하고, 그 후, 2 차 입자를 형성하는 처리를 실시함으로써 실시하였다. 또, 실란 처리의 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.90 ㎛ 가 되었다. A roughening treatment was carried out on a rolled copper foil having a thickness of 9 占 퐉 (JIS H 3100 alloy No. C1100 manufactured by JX Nikkus Nisseki Metal Co., Ltd., JIS H 3100 alloy No. C1100) under the following conditions and then subjected to Ni-Co plating treatment, Followed by a subsequent electrolytic chromate treatment, and then further subjected to a silane coupling treatment. The roughening treatment was performed by subjecting the surface of the rolled copper foil to a treatment of forming primary particles of copper and then forming a secondary particle. N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane for the silane treatment, and the silane concentration was 5.0 vol%. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 0.90 mu m.

<조화 처리 조건> &Lt; Harmonizing treatment condition &

(구리의 1 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of primary particles of copper)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 황산 50 ∼ 100 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, sulfuric acid 50 to 100 g / l

액온 : 25 ∼ 50 ℃ Solution temperature: 25 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 1 ∼ 58 A/d㎡ Current density: 1 to 58 A / dm 2

도금 시간 : 0.1 ∼ 10 초Plating time: 0.1 to 10 seconds

(2 차 입자의 도금 조건) (Plating conditions of secondary particles)

액 조성 : 구리 10 ∼ 20 g/ℓ, 니켈 5 ∼ 15 g/ℓ, 코발트 5 ∼ 15 g/ℓ Liquid composition: copper 10 to 20 g / l, nickel 5 to 15 g / l, cobalt 5 to 15 g / l

pH : 2 ∼ 3 pH: 2-3

액온 : 30 ∼ 50 ℃ Temperature: 30 ~ 50 ℃

전류 밀도 : 24 ∼ 50 A/d㎡ Current density: 24 ~ 50 A / dm2

도금 시간 : 0.5 ∼ 4 초Plating time: 0.5 to 4 seconds

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 7.6 %, N 농도는 15.6 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.96 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 7.6% and 15.6%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. As a result, the 90 degree peel strength was 0.96 kg / cm.

또, 실란 처리 후의 표면 처리 동박의 표면에 대해, 주사형 전자현미경 (SEM) 을 사용하여 사진 촬영을 실시하였다. 그리고 당해 사진을 사용하여 조화 처리의 입자의 관찰을 실시하였다. 그 결과, 구리의 1 차 입자층의 평균 입자경은 0.25 ∼ 0.45 ㎛ 이고, 2 차 입자층의 평균 입자경은 0.05 ∼ 0.25 ㎛ 였다. 또한, 입자를 둘러싸는 최소원의 직경을 입자경으로서 측정하고, 평균 입자경을 산출하였다. The surface of the surface-treated copper foil after the silane treatment was photographed using a scanning electron microscope (SEM). Then, the grains of the roughening treatment were observed using the photographs. As a result, the average particle diameter of the primary particle layer of copper was 0.25 to 0.45 mu m, and the average particle diameter of the secondary particle layer was 0.05 to 0.25 mu m. Further, the diameter of the minimum circle surrounding the particles was measured as the particle diameter, and the average particle diameter was calculated.

이들을 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 30 에 나타내는 바와 같이, 실시예 30 의 표면 처리된 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. These are shown in Table 3. As shown in Example 30, the surface-treated copper foil of Example 30 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 31) (Example 31)

두께 12 ㎛ 의 압연 동박 (JX 닛코 닛세키 금속 주식회사 제조 터프 피치동 (JIS H 3100 합금 번호 C1100)) 에 전해 크로메이트 처리를 실시하고, 추가로 그 후 실란 커플링 처리를 실시하였다. 실란 처리의 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.62 ㎛ 가 되었다. (JIS H 3100 alloy No. C1100) manufactured by JX Nikko Nisseki Metal Co., Ltd.) having a thickness of 12 탆 was subjected to electrolytic chromate treatment, and then further subjected to a silane coupling treatment. N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane-treated silane, and the silane concentration was 5.0 vol%. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.62 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 8.4 %, N 농도는 14.0 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.67 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 8.4% and the N concentration was 14.0%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Respectively. As a result, the 90-degree peel strength was 0.67 kg / cm.

이들을 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 31 에 나타내는 바와 같이, 실시예 31 의 표면 처리된 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. These are shown in Table 3. As shown in Example 31, it can be seen that the surface-treated copper foil of Example 31 has industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 32)(Example 32)

두께 12 ㎛ 의 고광택 압연 동박 (JX 닛코 닛세키 금속 주식회사 제조 터프 피치동 (JIS H 3100 합금 번호 C1100), 60 도 경면 광택도 500 % 이상) 에 실란 커플링 처리를 실시하였다. 실란 처리의 실란에는 N-2-(아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란을 사용하고, 실란 농도는 5.0 vol% 로 하였다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.31 ㎛ 가 되었다. (JIS H 3100 alloy No. C1100, manufactured by JX Nikko Nisseki Metal Co., Ltd. (JIS H 3100 alloy No. C1100), 60 ° specular surface glossiness of 500% or more) having a thickness of 12 탆 was subjected to silane coupling treatment. N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane was used as the silane-treated silane, and the silane concentration was 5.0 vol%. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.31 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 8.2 %, N 농도는 13.8 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.61 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 8.2% and 13.8%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Respectively. As a result, the 90-degree peel strength was 0.61 kg / cm.

이들을 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 32 에 나타내는 바와 같이, 실시예 32 의 표면 처리된 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. These are shown in Table 3. As shown in Example 32, the surface-treated copper foil of Example 32 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(실시예 33) (Example 33)

두께 12 ㎛ 의 고광택 압연 동박 (JX 닛코 닛세키 금속 주식회사 제조 터프 피치동 (JIS H 3100 합금 번호 C1100), 60 도 경면 광택도 500 % 이상) 에 하기 스퍼터링 조건으로 SiN 막을 형성하고, 그 후 200 ℃ 에서 5 분간 가열을 실시하였다. 스퍼터링 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.30 ㎛ 가 되었다. A SiN film was formed under the following sputtering conditions on a high-gloss rolled copper foil having a thickness of 12 占 퐉 (JIS H 3100 alloy No. C1100 manufactured by JX Nikkus Nisseki Metal Co., Ltd .; For 5 minutes. The copper foil surface roughness Rz after sputtering was 0.30 mu m.

(타깃) : Si 59.5 mass% 이상, N 39.5 mass% 이상. (Target): more than 59.5 mass% of Si, more than 39.5 mass% of N.

(장치) 주식회사 알박 제조의 스퍼터 장치 (Apparatus) Sputtering apparatus manufactured by ULVAC Co., Ltd.

(출력) DC 50 W (Output) DC 50 W

(아르곤 압력) 0.2 ㎩(Argon pressure) 0.2 Pa

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 8.5 %, N 농도는 11.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 달성하고 있었다. 이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.65 ㎏/㎝ 가 얻어졌다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 8.5% and 11.3%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Respectively. As a result, the 90 degree fill strength was 0.65 kg / cm.

이들을 표 3 에 나타낸다. 본 실시예 33 에 나타내는 바와 같이, 실시예 33 의 표면 처리된 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것을 알 수 있다. These are shown in Table 3. As shown in Example 33, the surface-treated copper foil of Example 33 has industrially satisfactory surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 21) (Comparative Example 21)

판두께가 6 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Co 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. 또한, 실란 농도 0.5 vol% 는 일반적으로 실란 처리에서 설정되는 농도이다. 또, 실란의 비중은 약 1.0 이기 때문에, 0.5 vol% 는 약 0.5 wt% 를 의미한다. The rolled copper foil having a thickness of 6 占 퐉 was roughened and subjected to Ni-Co plating treatment as a heat-resistant treatment. In addition, electrolytic chromate treatment was performed as the rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%. Also, the silane concentration of 0.5 vol% is generally the concentration set in the silane treatment. Also, since the specific gravity of silane is about 1.0, 0.5 vol% means about 0.5 wt%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.82 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.82 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.3 %, N 농도는 0.4 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 0.3% and the N concentration was 0.4%, indicating that the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.29 ㎏/㎝ 로 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 21 에 나타내는 바와 같이, 비교예 21 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90 - degree peel strength decreased to 0.29 ㎏ / ㎝. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 21, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 21 did not have an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 22) (Comparative Example 22)

판두께가 12 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Zn-Ni 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. The rolled copper foil having a thickness of 12 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Zn-Ni plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.90 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 0.90 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.3 %, N 농도는 0.5 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 0.3% and the N concentration was 0.5%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.32 ㎏/㎝ 가 되어, 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 22 에 나타내는 바와 같이, 비교예 22 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90-degree peel strength became 0.32 kg / cm and decreased. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 22, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 22 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 23) (Comparative Example 23)

판두께가 35 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Mo 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. A rolled copper foil having a thickness of 35 탆 was roughened and subjected to Ni-Mo plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.55 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 1.55 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.7 %, N 농도는 0.8 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 0.7% and 0.8%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.70 ㎏/㎝ 로 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 23 에 나타내는 바와 같이, 비교예 23 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90 - degree peel strength decreased to 0.70 ㎏ / ㎝. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 23, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 23 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 24) (Comparative Example 24)

판두께가 18 ㎛ 인 압연 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Cu-Zn 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. A rolled copper foil having a thickness of 18 탆 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Cu-Zn plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, electrolytic chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.81 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 0.81 탆.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.4 %, N 농도는 0.7 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the copper foil surface were found to be 0.4% and 0.7%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.30 ㎏/㎝ 로 현저하게 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 24 에 나타내는 바와 같이, 비교예 24 의 표면 처리된 압연 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖고 있지 않았다. As a result, the 90 degree peel strength was remarkably decreased to 0.30 kg / cm. The results are shown in Table 3. As shown in Comparative Example 24, the surface-treated rolled copper foil of Comparative Example 24 did not have industrially sufficient surface performance as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 25) (Comparative Example 25)

판두께가 18 ㎛ 인 전해 동박의 광택면에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Co 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. The surface of the electrolytic copper foil having a plate thickness of 18 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to Ni-Co plating treatment as heat treatment. Further, electrolytic chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.62 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 1.62 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 1.0 %, N 농도는 1.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 1.0% and 1.1%, respectively, and the Si concentration and the N concentration were 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.65 ㎏/㎝ 로 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 25 에 나타내는 바와 같이, 비교예 25 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90 - degree peel strength decreased to 0.65 ㎏ / ㎝. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 25, the surface-treated electrolytic copper foil of Comparative Example 25 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 26) (Comparative Example 26)

판두께가 5 ㎛ 인 전해 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Zn-Ni 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. An electrolytic copper foil having a thickness of 5 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Zn-Ni plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.31 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 1.31 탆.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.8 %, N 농도는 1.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were found to be 0.8% and 1.3%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.44 ㎏/㎝ 로 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 26 에 나타내는 바와 같이, 비교예 26 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90 - degree peel strength decreased to 0.44 ㎏ / ㎝. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 26, the surface-treated electrolytic copper foil of Comparative Example 26 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 27) (Comparative Example 27)

판두께가 12 ㎛ 인 전해 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Mo 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. An electrolytic copper foil having a thickness of 12 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Ni-Mo plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 1.42 ㎛ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment became 1.42 mu m.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 1.1 %, N 농도는 1.1 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were measured in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration and the N concentration were 1.1% and 1.1%, respectively, and that the Si concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.45 ㎏/㎝ 로 저하되었다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 27 에 나타내는 바와 같이, 비교예 27 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90 - degree peel strength decreased to 0.45 ㎏ / ㎝. The results are shown in Table 3. As shown in Comparative Example 27, the surface-treated electrolytic copper foil of Comparative Example 27 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

(비교예 28)(Comparative Example 28)

판두께가 12 ㎛ 인 전해 동박의 광택면에, 내열 처리로서 Ni-Zn 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 전해 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. Ni-Zn plating treatment was performed on the glossy surface of the electrodeposited copper foil having a thickness of 12 占 퐉 as heat resistance treatment. Further, electrolytic chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 또한, 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.60 ㎛ 가 되었다. 또, 이 때의 Ni 및 Zn 의 부착량은 각각 600 ㎍/d㎡ 및 90 ㎍/d㎡ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.60 mu m. The adhesion amounts of Ni and Zn at this time were 600 占 퐂 / dm 2 and 90 占 퐂 / dm 2, respectively.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.7 %, N 농도는 0.9 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined in the same manner as in Example 1 to find that the Si concentration was 0.7% and the N concentration was 0.9%, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.10 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 28 에 나타내는 바와 같이, 비교예 28 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. As a result, the 90 degree peel strength was as low as 0.10 kg / cm. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 28, the surface-treated electrolytic copper foil of Comparative Example 28 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board.

또한, 이 동박과 폴리이미드를 접합하여 필 강도를 측정하면, 0.8 ㎏/㎝ 가 되고, 수지에 의해 필 강도 차가 큰 것을 확인할 수 있다. When the copper foil and the polyimide were bonded to each other to measure the fill strength, it was found to be 0.8 kg / cm and the resin had a large difference in fill strength.

(비교예 29) (Comparative Example 29)

판두께가 12 ㎛ 인 전해 동박에 조화 처리를 실시하고, 내열 처리로서 Ni-Mo 도금 처리를 실시하였다. 또, 방청 처리로서의 침지 크로메이트 처리를 실시하였다. 또한 이 위에 실란 처리를 실시하였다. 실란 농도는 0.5 vol% 로 하였다. An electrolytic copper foil having a thickness of 12 占 퐉 was subjected to a roughening treatment and subjected to a Ni-Mo plating treatment as a heat-resistant treatment. Further, an immersion chromate treatment was performed as a rust-preventive treatment. Silane treatment was carried out on this. The silane concentration was 0.5 vol%.

다른 조건은 실시예 1 과 마찬가지로 하였다. 이 처리 조건을 표 2 에 나타낸다. 이 결과, 실란 커플링 처리 후의 동박 표면 조도 Rz 는 0.61 ㎛ 가 되었다. 또, 이 때의 Ni 및 Zn 의 부착량은 각각 2850 ㎍/d㎡ 및 190 ㎍/d㎡ 가 되었다. The other conditions were the same as those in Example 1. Table 2 shows the treatment conditions. As a result, the surface roughness Rz of the copper foil after the silane coupling treatment was 0.61 mu m. The deposition amounts of Ni and Zn at this time were 2850 占 퐂 / dm 2 and 190 占 퐂 / dm 2, respectively.

실시예 1 과 마찬가지로 하여, 동박 표면의 Si 농도와 N 농도를 구한 결과, Si 농도는 0.9 %, N 농도는 1.3 % 가 되어, Si 농도가 2.0 % 이상이고, N 농도가 2.0 % 이상이라는 본원발명의 조건을 만족하고 있지 않았다. The Si concentration and the N concentration of the surface of the copper foil were determined to be 0.9% and 1.3%, respectively, and the Si concentration was 2.0% or more and the N concentration was 2.0% or more in the same manner as in Example 1 Was not satisfied.

이상의 결과, 90 도 필 강도는 0.11 ㎏/㎝ 로 낮았다. 이들의 결과를 표 3 에 나타낸다. 본 비교예 29 에 나타내는 바와 같이, 비교예 29 의 표면 처리된 전해 동박은, 고주파용 회로 기판의 소재로서 기대하는 공업적으로 충분한 표면 성능을 갖는 것에는 이르지 못하였다. 또한, 이 동박과 폴리이미드를 접합하여 필 강도를 측정하면, 1.2 ㎏/㎝ 가 되고, 수지에 의해 필 강도 차가 큰 것을 확인할 수 있다. As a result, the 90 - degree peel strength was as low as 0.11 ㎏ / ㎝. The results are shown in Table 3. As shown in this Comparative Example 29, the surface-treated electrolytic copper foil of Comparative Example 29 did not reach an industrially satisfactory surface performance expected as a material for a high-frequency circuit board. Further, when the peel strength was measured by bonding the copper foil and the polyimide, it was found to be 1.2 kg / cm, and it was confirmed that the resin had a large difference in the peel strength.

산업상 이용가능성Industrial availability

본 발명은, 고주파 회로용 동박이 제조 가능하고, 그 동박을 액정 폴리머 (LCP) 적층 기판에 적용함으로써, 접착 강도 (필 강도) 를 높일 수 있고, 또한 1 ㎓ 를 초과하는 고주파수 하에서의 사용이 가능한 플렉시블 프린트 회로판을 실현할 수 있다는 우수한 효과가 얻어져, 공업적으로 매우 유용하다.
The present invention can manufacture a copper foil for a high-frequency circuit, and the copper foil can be applied to a liquid crystal polymer (LCP) laminate substrate to increase the adhesive strength (fill strength), and also to provide a flexible An excellent effect that a printed circuit board can be realized can be obtained, which is industrially very useful.

Claims (34)

표면 처리 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.2 atom% 이상 18.5 atom% 이하이고, N 농도가 4.3 atom% 이상 25.3 atom% 이하이고, 그 표면 처리 동박 표면의 10 점 평균 거칠기 Rz 가 1.62 ㎛ 이하이고,
상기 동박 표면에 조화 처리층을 갖고, 상기 조화 처리층이 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층을 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
Wherein the Si concentration is not less than 2.2 atomic% and not more than 18.5 atomic%, the N concentration is not less than 4.3 atomic% and not more than 25.3 atomic%, and the 10-point average roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 1.62 Mu m or less,
Characterized in that the roughening treatment layer on the surface of the copper foil has a primary particle layer of copper and a secondary particle layer composed of a ternary alloy of copper, cobalt and nickel on the primary particle layer. Copper foil.
표면 처리 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 2.2 atom% 이상 18.5 atom% 이하이고, N 농도가 5.0 atom% 이상 25.3 atom% 이하이고, 그 표면 처리 동박 표면의 10 점 평균 거칠기 Rz 가 1.62 ㎛ 이하이고,
상기 동박 표면에 조화 처리층을 갖고, 상기 조화 처리층이 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층을 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
Wherein the Si concentration is not less than 2.2 atomic% and not more than 18.5 atomic%, the N concentration is not less than 5.0 atomic% and not more than 25.3 atomic%, and the 10 point average roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 1.62 Mu m or less,
Characterized in that the roughening treatment layer on the surface of the copper foil has a primary particle layer of copper and a secondary particle layer composed of a ternary alloy of copper, cobalt and nickel on the primary particle layer. Copper foil.
표면 처리 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 3.7 atom% 이상 18.5 atom% 이하이고, N 농도가 8.5 atom% 이상 25.3 atom% 이하이고, 그 표면 처리 동박 표면의 10 점 평균 거칠기 Rz 가 1.62 ㎛ 이하이고,
상기 동박 표면에 조화 처리층을 갖고, 상기 조화 처리층이 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층을 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
Wherein the Si concentration is at least 3.7 atomic% and not more than 18.5 atomic%, the N concentration is at least 8.5 atomic% and not more than 25.3 atomic%, and the 10-point average roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 1.62 Mu m or less,
Characterized in that the roughening treatment layer on the surface of the copper foil has a primary particle layer of copper and a secondary particle layer composed of a ternary alloy of copper, cobalt and nickel on the primary particle layer. Copper foil.
표면 처리 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 5.5 atom% 이상 18.5 atom% 이하이고, N 농도가 10.1 atom% 이상 25.3 atom% 이하이고, 그 표면 처리 동박 표면의 10 점 평균 거칠기 Rz 가 1.62 ㎛ 이하이고,
상기 동박 표면에 조화 처리층을 갖고, 상기 조화 처리층이 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층을 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
Wherein the Si concentration is not less than 5.5 atomic% and not more than 18.5 atomic%, the N concentration is not less than 10.1 atomic% and not more than 25.3 atomic%, and the ten-point average roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 1.62 Mu m or less,
Characterized in that the roughening treatment layer on the surface of the copper foil has a primary particle layer of copper and a secondary particle layer composed of a ternary alloy of copper, cobalt and nickel on the primary particle layer. Copper foil.
표면 처리 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 6.6 atom% 이상 18.5 atom% 이하이고, N 농도가 10.8 atom% 이상 25.3 atom% 이하이고, 그 표면 처리 동박 표면의 10 점 평균 거칠기 Rz 가 1.62 ㎛ 이하이고,
상기 동박 표면에 조화 처리층을 갖고, 상기 조화 처리층이 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층을 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
Wherein the Si concentration is 6.6 atomic% or more and 18.5 atomic% or less, the N concentration is 10.8 atomic% or more and 25.3 atomic% or less, and the 10-point average roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 1.62 Mu m or less,
Characterized in that the roughening treatment layer on the surface of the copper foil has a primary particle layer of copper and a secondary particle layer composed of a ternary alloy of copper, cobalt and nickel on the primary particle layer. Copper foil.
표면 처리 동박 표면의 XPS survey 측정에 있어서, Si 농도가 8.5 atom% 이상 18.5 atom% 이하이고, N 농도가 12.1 atom% 이상 25.3 atom% 이하이고, 그 표면 처리 동박 표면의 10 점 평균 거칠기 Rz 가 1.62 ㎛ 이하이고,
상기 동박 표면에 조화 처리층을 갖고, 상기 조화 처리층이 구리의 1 차 입자층과, 그 1 차 입자층 위에 구리, 코발트 및 니켈로 이루어지는 3 원계 합금으로 이루어지는 2 차 입자층을 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
Wherein the Si concentration is 8.5 atom% or more and 18.5 atom% or less, the N concentration is 12.1 atom% or more and 25.3 atom% or less, and the 10-point average roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 1.62 Mu m or less,
Characterized in that the roughening treatment layer on the surface of the copper foil has a primary particle layer of copper and a secondary particle layer composed of a ternary alloy of copper, cobalt and nickel on the primary particle layer. Copper foil.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리 동박 표면의 표면 거칠기 Rz 가 0.92 ㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the surface roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 0.92 占 퐉 or less.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 표면 처리 동박 표면의 표면 거칠기 Rz 가 0.82 ㎛ 이상 1.62 ㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the surface roughness Rz of the surface-treated copper foil surface is 0.82 탆 or more and 1.62 탆 or less.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
플렉시블 프린트 배선판용 동박인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the copper foil is a copper foil for a flexible printed wiring board.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
동박이 압연 동박 또는 전해 동박인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the copper foil is a rolled copper foil or an electrolytic copper foil.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
액정 폴리머에 접합되는 동박인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the copper foil is a copper foil bonded to a liquid crystal polymer.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
Kuraray 제조의 Vecstar (등록 상표) CT-Z 의 액정 폴리머에 회로 폭 3 ㎜ 로 하고 프레스에 의해 접합된 경우의 JIS C6471-1995 에 준거하여 행해지는 90 도의 상태 필 강도가 0.3 ㎏/㎝ 이상인 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
The state peel strength at 90 degrees in accordance with JIS C6471-1995 when the liquid crystal polymer of Vecstar (registered trademark) CT-Z manufactured by Kuraray is bonded by press with a circuit width of 3 mm is 0.3 kg / cm or more Treated copper foil.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
1 ㎓ 를 초과하는 고주파수 하에서 사용되는 플렉시블 프린트 회로판에 사용되는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
A surface-treated copper foil used for a flexible printed circuit board used under a high frequency exceeding 1 GHz.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 조화 처리층 위에 내열 처리층, 방청 처리층, 크로메이트 처리층 및 실란 커플링 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층을 갖는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
And at least one layer selected from the group consisting of a heat-resistant treatment layer, a rust-preventive treatment layer, a chromate treatment layer and a silane coupling treatment layer on the roughening treatment layer.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 조화 처리층 위에 크로메이트 처리층을 갖고, 상기 크로메이트 처리층 위에 실란 커플링 처리층을 갖는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
A surface-treated copper foil having a chromate treatment layer on the roughening treatment layer and a silane coupling treatment layer on the chromate treatment layer.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 조화 처리층 위에 방청 처리층 및 내열 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층을 갖고, 상기 방청 처리층 및 내열 처리층으로 이루어지는 군에서 선택된 1 종 이상의 층 위에 크로메이트 처리층을 갖고, 상기 크로메이트 처리층 위에 실란 커플링 처리층을 갖는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
And at least one layer selected from the group consisting of a rust preventive treatment layer and a heat resistant treatment layer on the roughening treatment layer and having a chromate treatment layer on at least one layer selected from the group consisting of the anti-rust treatment layer and the heat resistant treatment layer, A surface treated copper foil having a silane coupling treatment layer on the treatment layer.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,
조화 처리층 위에 내열 처리층을 갖고, 상기 내열 처리층 위에 방청 처리층을 갖고, 상기 방청 처리층 위에 크로메이트 처리층을 갖고, 상기 크로메이트 처리층 위에 실란 커플링 처리층을 갖는 표면 처리 동박.
7. The method according to any one of claims 1 to 6,
A surface-treated copper foil having a heat-resistant treatment layer on a roughening treatment layer, a rust-inhibitive treatment layer on the heat-resistant treatment layer, a chromate treatment layer on the rust-inhibitive treatment layer, and a silane coupling treatment layer on the chromate treatment layer.
제 14 항에 있어서,
상기 1 차 입자층의 평균 입자경이 0.25 - 0.45 ㎛ 이고, 상기 2 차 입자층의 평균 입자경이 0.05 - 0.25 ㎛ 인 표면 처리 동박.
15. The method of claim 14,
Wherein the primary particle layer has an average particle diameter of 0.25 - 0.45 탆 and the secondary particle layer has an average particle diameter of 0.05 - 0.25 탆.
제 17 항에 있어서,
상기 1 차 입자층의 평균 입자경이 0.25 - 0.45 ㎛ 이고, 상기 2 차 입자층의 평균 입자경이 0.05 - 0.25 ㎛ 인 표면 처리 동박.
18. The method of claim 17,
Wherein the primary particle layer has an average particle diameter of 0.25 - 0.45 탆 and the secondary particle layer has an average particle diameter of 0.05 - 0.25 탆.
제 14 항에 있어서,
상기 조화 처리층 위에 크로메이트 처리층을 갖고, 상기 크로메이트 처리층 위에 실란 커플링 처리층을 갖는 표면 처리 동박.
15. The method of claim 14,
A surface-treated copper foil having a chromate treatment layer on the roughening treatment layer and a silane coupling treatment layer on the chromate treatment layer.
제 14 항에 있어서,
상기 조화 처리층 위에 방청 처리층을 갖고, 상기 방청 처리층 위에 크로메이트 처리층을 갖고, 상기 크로메이트 처리층 위에 실란 커플링 처리층을 갖는 표면 처리 동박.
15. The method of claim 14,
A surface-treated copper foil having a roughening treatment layer on the roughening treatment layer, a chromate treatment layer on the rust-preventive treatment layer, and a silane coupling treatment layer on the chromate treatment layer.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박을 구비한 플렉시블 프린트 배선판 (FPC) 를 제조하기 위한 동박 적층판.A copper-clad laminate for manufacturing a flexible printed wiring board (FPC) having the surface-treated copper foil according to any one of claims 1 to 6. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박을 사용한 플렉시블 프린트 배선판.A flexible printed wiring board using the surface-treated copper foil according to any one of claims 1 to 6. 제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 기재된 표면 처리 동박을 사용한 플렉시블 프린트 회로판.A flexible printed circuit board using the surface-treated copper foil according to any one of claims 1 to 6. 제 23 항에 기재된 플렉시블 프린트 배선판을 구비한 전자 기기. An electronic device comprising the flexible printed wiring board according to claim 23. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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