KR101606866B1 - Test connector - Google Patents
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Abstract
본 발명은 검사용 커넥터에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키기 위한 검사용 커넥터에 있어서, 상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되어 있는 도전부와, 각각의 도전부 사이에 배치되어 도전부를 감싸면서 도전부를 지지하는 절연지지부와, 각각의 도전부의 내부에 배치되며 도전성 와이어가 나선방향으로 감겨있는 탄성체를 포함하되, 상기 탄성체는 복수개가 도전부 내에 서로 인접하게 배치되어 있는 검사용 커넥터에 대한 것이다.The present invention relates to an inspection connector, and more particularly to an inspection connector arranged between a device to be inspected and an inspection device for electrically connecting the terminals of the device to be inspected and the pads of the inspection device, A conductive part having a plurality of conductive particles arranged in a thickness direction in an insulating elastic material for each position corresponding to a terminal of the inspection device; an insulating support part disposed between the conductive parts to support the conductive part while supporting the conductive part; And an elastic body disposed inside the conductive portion and having a conductive wire wound in a spiral direction, wherein the elastic body is disposed adjacent to each other in the conductive portion.
Description
본 발명은 검사용 커넥터에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 고온의 조건하에서도 안정적인 전기적 특성을 얻을 수 있는 검사용 커넥터에 대한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an inspection connector, and more particularly, to an inspection connector that can obtain stable electrical characteristics even under high temperature conditions.
일반적으로 피검사 디바이스의 전기적 특성 검사를 위해서는 피검사 디바이스와 테스트 장치와의 전기적 연결이 안정적으로 이루어져야 한다. 통상 피검사 디바이스와 테스트 장치와의 연결을 위한 장치로서 검사용 커넥터가 사용된다.Generally, in order to inspect the electrical characteristics of a device to be inspected, the electrical connection between the device to be inspected and the testing device must be stable. A connector for inspection is usually used as an apparatus for connection between a device to be inspected and a testing apparatus.
이러한 검사용 커넥터의 역할은 피검사 디바이스의 단자와 테스트장치의 패드를 서로 연결시켜 전기적인 신호가 양방향으로 교환 가능하게 하는 것이다. 이를 위하여 검사용 커넥터의 내부에 사용되는 접촉수단으로 탄성도전시트 또는 포고핀이 사용된다. 이러한 탄성도전시트는 탄성을 가지는 도전부를 피검사 디바이스의 단자와 접속시키는 것이며, 포고핀은 내부에 스프링이 마련되어 있어서 피검사 디바이스와 테스트 장치와의 연결을 원활하게 하고, 연결시 발생할 수 있는 기계적인 충격을 완충할 수 있어 대부분의 검사용 커넥터에 사용되고 있다. The role of the inspection connector is to connect the terminals of the device under test and the pads of the testing device to each other so that electrical signals can be exchanged in both directions. To this end, an elastic conductive sheet or a pogo pin is used as the contact means used inside the inspection connector. The elastic conductive sheet is for connecting a conductive part having elasticity to a terminal of the device to be inspected. The pogo pin is provided with a spring inside to smoothly connect the device under test and the testing device, It can be used for most inspection connectors because it can absorb shock.
이러한 검사용 커넥터의 일례로서, 도 1에 도시되 바와 같다. 이러한 검사용 커터(20)는 BGA(Ball Grid Array) 반도체소자(2)의 볼리드(ball lead, 4)가 접촉되는 영역에 형성된 도전성 실리콘부(8)와 상기 도전성 실리콘부(8)를 지지할 수 있도록 반도체소자(2)의 단자(4)가 접촉되지 않는 영역에 형성되어 절연층 역할을 하는 절연 실리콘부(6)로 구성된다. 이때 도전성 실리콘부(8)는 실리콘 고무 내에 서로 일정간격 이격된 도전성 입자들(8a)로 구성되어 있게 된다. 이러한 검사용 커넥터(20)는 다수의 패드(10)가 마련되는 검사장치(9)에 장착되어 사용된다. 구체적으로는 검사장치(9)의 패드(10)에 각 도전성 실리콘부(8)가 접촉된 상태에서 검사용 커넥터(20)가 상기 검사장치(9)에 탑재되어 사용된다. An example of such an inspection connector is shown in Fig. The
검사용 커넥터의 검사를 위하여 반도체 소자가 하강하여 상기 반도체 소자의 볼리드가 상기 도전성 실리콘부(8)에 접촉한 후에, 상기 반도체 소자(2)가 추가적으로 하강하게 되면 상기 도전성 실리콘부(8)는 두께방향으로 압축되면서 전기적 도통 상태를 이루게 된다. 이때 검사장치(9)로부터 소정의 전기적 신호가 인가되면 상기 전기적 신호는 도전성 실리콘부(8)를 거쳐서 반도체소자(2)측으로 전달되면서 소정의 전기적 검사가 수행된다.When the semiconductor element is further lowered after the ball lead of the semiconductor element comes in contact with the
이러한 반도체 소자는 상온에서 검사를 수행하는 경우도 있지만, 고온 환경 하에서 검사를 수행하는 경우가 있다. 이러한 검사를 번인검사라고 하는데, 번인검사시에는 물성 문제로 전기적 특성이 저하되는 문제점이 있다. 전기적 특성이 저하되는 원인 중 하나는 고온 환경 하에서 도전성 실리콘부를 구성하는 실리콘 고무가 팽창함으로서 도전성 실리콘부 내부의 도전성 입자들 사이의 간격이 서로 멀어져서 발생하게 된다. 예를 들어, 상온상태에서는 도 1에 도시된 바와 같이 S1의 거리로 서로 이격되어 있는 도전성 입자들이 고온환경하에서는 도 2에 도시된 바와 같이 S2(S2 > S1)의 거리로 이격됨으로서, 각 도전성 입자들 간의 이격거리가 증가되게 된다. 이와 같이 도전성 입자들 간의 이격거리가 증가되면, 도전성 입자들이 서로 접촉하기가 어려워지게 되는데 이에 따라서 전체적인 전기적인 특성이 저하되는 문제점이 발생하게 되는 것이다.Such a semiconductor device may be inspected at room temperature, but may be inspected in a high temperature environment. Such an inspection is called a burn-in inspection, and there is a problem that electrical characteristics are deteriorated due to physical property problems during burn-in inspection. One of the reasons for deteriorating the electrical characteristics is that the silicone rubber constituting the conductive silicon part expands under a high temperature environment, and the distance between the conductive particles in the conductive silicon part is distant from each other. For example, as shown in FIG. 1, the conductive particles spaced apart from each other by a distance of S1 are separated from each other by a distance of S2 (S2> S1) as shown in FIG. 2 under a high temperature environment, So that the distance between them increases. When the spacing distance between the conductive particles is increased, it is difficult for the conductive particles to contact each other, which causes a problem that the overall electrical characteristics are deteriorated.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 고온의 조건하에서도 안정적인 전기적 특성을 얻을 수 있는 검사용 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide an inspection connector which can obtain stable electrical characteristics even under high temperature conditions.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 검사용 커넥터는, 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키기 위한 검사용 커넥터에 있어서,In order to achieve the above object, according to the present invention, there is provided an inspection connector for electrically connecting a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspection apparatus, the connector being disposed between the device to be inspected and the inspection apparatus,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되어 있는 도전부와,A conductive part in which a plurality of conductive particles are arranged in a thickness direction in an insulating elastic material for each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
각각의 도전부 사이에 배치되어 도전부를 감싸면서 도전부를 지지하는 절연지지부와,An insulating support portion disposed between the respective conductive portions to support the conductive portions while surrounding the conductive portions,
각각의 도전부의 내부에 배치되며 도전성 와이어가 나선방향으로 감겨있는 탄성체를 포함하되,And an elastic body disposed inside each of the conductive portions and having a conductive wire wound in a spiral direction,
상기 탄성체는 복수개가 도전부 내에 서로 인접하게 배치된다.A plurality of the elastic bodies are disposed adjacent to each other in the conductive portion.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
각각의 탄성체는 서로 이격되는 경우에도 서로간의 접촉이 유지될 수 있다.Even when the respective elastic members are spaced from each other, the contact between them can be maintained.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
상기 도전성 와이어가 나선방향으로 감긴 횟수를 N 이라고 하였을 때, N ≥ 1/2 일 수 있다.When N is the number of times the conductive wire is wound in the spiral direction, N? 1/2.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
상기 탄성체의 주변에는 다수의 도전성 입자가 분포될 수 있다.A plurality of conductive particles may be distributed around the elastic body.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
상기 도전성 와이어의 선경을 d 라고 하였을 때, 0.01mm < d < 3 mm 일 수 있다.When the diameter of the conductive wire is represented by d, 0.01 mm <d <3 mm.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
나선형으로 감긴 도전성 와이어의 외경을 D 라고 하였을 때, 0.01mm < D < 0.5mm 일 수 있다.When the outer diameter of the spirally wound conductive wire is represented by D, 0.01 mm <D <0.5 mm.
상기 검사용 커넥터의 상기 탄성체에서, D > d 일 수 있다.In the elastic body of the inspection connector, D > d.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 검사용 커넥터는, 피검사 디바이스와 검사장치의 사이에 배치되어 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 접속시키기 위한 검사용 커넥터에 있어서,In order to achieve the above object, according to the present invention, there is provided an inspection connector for electrically connecting a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspection apparatus, the connector being disposed between the device to be inspected and the inspection apparatus,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되어 있는 도전부와,A conductive part in which a plurality of conductive particles are arranged in a thickness direction in an insulating elastic material for each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
각각의 도전부 사이에 배치되어 도전부를 감싸면서 상기 도전부를 지지하는 절연지지부와,An insulating support portion disposed between the respective conductive portions to support the conductive portions while surrounding the conductive portions,
상기 도전부의 내부에 배치되며 도전성 와이어가 나선방향으로 감겨있는 탄성스프링을 포함하되,And an elastic spring disposed inside the conductive portion and having a conductive wire wound in a spiral direction,
상기 탄성스프링은 각각의 도전부의 내부에 적어도 2개 이상이 서로 얽혀서 배치된다.The elastic spring is arranged so that at least two or more of the elastic springs are intertwined with each other inside each conductive part.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
상기 복수의 탄성스프링은 서로 인접하여 배치되고 주변에 다수의 도전성 입자가 분포될 수 있다.The plurality of elastic springs are disposed adjacent to each other and a plurality of conductive particles may be distributed around the plurality of elastic springs.
상기 검사용 커넥터에서,In the inspection connector,
상기 탄성스프링은 두께방향으로 적어도 2개 이상 배열될 수 있다.At least two or more elastic springs may be arranged in the thickness direction.
본 발명에 따른 검사용 커넥터는, 도전성 입자와 스프링 형태의 탄성체를 혼합하여 도전부 내부에 사용하고 있기 때문에 고온에서 절연성 탄성물질이 팽창하는 경우에도 인접한 스프링이 서로 얽히도록 구성되어 있기 때문에 전기적 특성이 저하되는 것을 최소화할 수 있다는 장점이 있다. Since the inspecting connector according to the present invention is formed by mixing the conductive particles with the elastic body in spring form and using the same in the conductive portion, even when the insulating elastic material is expanded at a high temperature, the neighboring springs are intertwined with each other. There is an advantage that the degradation can be minimized.
도 1은 종래기술에 따른 검사용 커넥터를 도시한 도면.
도 2는 고온환경하에서 도 1의 검사용 커넥터의 모습을 나타내는 도면.
도 3는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 커넥터를 도시한 도면.
도 4는 도 3의 작동모습을 나타내는 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 shows a connector for inspection according to the prior art; Fig.
Fig. 2 is a view showing a state of the inspection connector of Fig. 1 under a high-temperature environment; Fig.
3 is a view showing a connector for inspection according to an embodiment of the present invention;
Fig. 4 is a view showing the operation of Fig. 3; Fig.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명하겠다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명에 따른 검사용 커넥터(100)는, 피검사 디바이스(140)와 검사장치(150)의 사이에 배치되어 피검사 디바이스(140)의 단자(141)와 검사장치(150)의 패드(151)를 서로 전기적으로 접속시키기 위한 것이다.The
이러한 검사용 커넥터(100)는, 도전부(110), 절연지지부(120) 및 탄성체(130)를 포함하여 구성된다. The
상기 도전부(110)는 상기 피검사 디바이스(140)의 단자(141)와 대응되는 위치마다 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자(111)가 두께방향으로 배열되어 있는 것이다. 이러한 도전부(110)에는 자성을 나타내는 도전성 입자(111)가 두께 방향으로 늘어서도록 배향된 상태로 조밀하게 함유되어 있다. The
도전부(110)를 형성하는 절연성 탄성물질로서는, 가교 구조를 갖는 내열성 고분자 물질이 바람직하다. 이러한 가교 고분자 물질을 얻기 위해서 사용할 수 있는 경화성 고분자 물질 형성 재료로서는 여러가지의 것을 사용할 수 있으며, 그 구체적인 예로서는 실리콘 고무, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소프렌 고무, 스티렌-부타디엔 공중합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무 등의 공액 디엔계 고무 및 이들의 수소 첨가물, 스티렌-부타디엔-디엔 블럭 공중합체 고무, 스티렌-이소프렌 블럭 공중합체 등의 블럭 공중합체 고무 및 이들의 수소 첨가물, 클로로프렌 고무, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피클로로히드린 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무, 연질 액상 에폭시 고무 등을 들 수 있다. As the insulating elastic material forming the
이 중에서는 성형 가공성, 전기 특성의 관점에서 실리콘 고무가 바람직하다.Of these, silicone rubber is preferable from the viewpoints of moldability and electrical characteristics.
또한, 검사용 커넥터(100)를 웨이퍼에 형성된 집적 회로에 대한 프로브 시험 또는 번인 시험에 사용하는 경우에는, 탄성 고분자 물질로서 부가형 액상 실리콘 고무의 경화물(이하, 「실리콘 고무 경화물」이라고 함)이며, 그 150 ℃에서의 압축 영구 왜곡이 10 % 이하인 것을 사용하는 것이 바람직하고, 8 % 이하인 것을 사용하는 것이 보다 바람직하며, 6 % 이하인 것을 사용하는 것이 더욱 바람직하다. 상기 압축 영구 왜곡이 10 %를 초과하는 경우에는, 얻어지는 검사용 커넥터(100)를 다수회에 걸쳐 반복 사용했을 때, 또는 고온 환경하에서 반복하여 사용했을 때에는 도전부(110)에 영구 왜곡이 발생하기 쉽고, 그에 따라 도전부(110)에서의 도전성 입자(111)의 연쇄가 흐트러져, 그 결과 목적하는 도전성을 유지하기가 곤란해지는 경우가 있다.When the
또한, 실리콘 고무 경화물로서는, 23 ℃에서의 듀로미터 A 경도가 10 내지 60인 것을 사용하는 것이 바람직하고, 15 내지 60인 것을 사용하는 것이 더욱 바람직하며, 20 내지 60인 것을 사용하는 것이 특히 바람직하다. 상기 듀로미터 A 경도가 10 미만인 경우에는, 가압되었을 때 도전부(110)를 서로 절연하는 절연지지부가 과도하게 왜곡되기 쉽고, 도전부(110) 사이의 목적하는 절연성을 유지하는 것이 곤란해지는 경우가 있다. 한편, 상기 듀로미터 A 경도가 60을 초과하는 경우에는, 도전부(110)에 적정한 왜곡을 제공하기 위해 상당히 큰 하중에 의한 가압력이 필요해지기 때문에, 예를 들면 검사 대상물의 변형이나 파손이 생기기 쉬워진다.The silicone rubber cured product preferably has a durometer A hardness of 10 to 60 at 23 캜, more preferably 15 to 60, particularly preferably 20 to 60 Do. When the Durometer A hardness is less than 10, the insulating support portion that insulates the
검사용 커넥터(100)에서의 도전부(110)에 함유되는 도전성 입자(111)로서는, 자장을 가하여 성형 재료 중에서 해당 도전성 입자(111)를 쉽게 이동시킬 수 있다는 관점에서 자성을 나타내는 것을 사용하는 것이 바람직하다. 이러한 자성을 나타내는 도전성 입자(111)의 구체예로서는 철, 니켈, 코발트 등의 자성을 나타내는 금속 입자, 또는 이들의 합금의 입자 또는 이들 금속을 함유하는 입자, 또는 이들 입자를 코어 입자로 하고, 해당 코어 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐, 로듐 등의 도전성이 양호한 금속의 도금을 실시한 것, 또는 비자성 금속 입자 또는 유리 비드 등의 무기 물질 입자 또는 중합체 입자를 코어 입자로 하고, 해당 코어 입자의 표면에 니켈, 코발트 등의 도전성 자성체의 도금을 실시한 것, 또는 코어 입자에 도전성 자성체 및 도전성이 양호한 금속 모두를 피복한 것 등을 들 수 있다.As the
이들 중에서는 니켈 입자를 코어 입자로 하고, 그 표면에 금이나 은 등의 도전성이 양호한 금속의 도금을 실시한 것을 사용하는 것이 바람직하다.Among these, nickel particles are preferably used as the core particles, and the surface thereof is plated with metal having good conductivity such as gold or silver.
코어 입자의 표면에 도전성 금속을 피복하는 수단으로서는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들면 무전해 도금에 의해 행할 수 있다.The means for covering the surface of the core particle with the conductive metal is not particularly limited, but can be performed by, for example, electroless plating.
도전성 입자(111)로서, 코어 입자의 표면에 도전성 금속이 피복되어 이루어지는 것을 사용하는 경우에는, 양호한 도전성이 얻어지는 관점에서 입자 표면에서의 도전성 금속의 피복률(코어 입자의 표면적에 대한 도전성 금속의 피복 면적의 비율)이 40 % 이상인 것이 바람직하고, 45 % 이상인 것이 더욱 바람직하며, 47 내지 95 %인 것이 특히 바람직하다.In the case of using the
또한, 도전성 금속의 피복량은 코어 입자의 2.5 내지 50 중량%인 것이 바람직하고, 3 내지 30 중량%인 것이 보다 바람직하며, 3.5 내지 25 중량%인 것이 더욱 바람직하고, 4 내지 20 중량%인 것이 특히 바람직하다. 피복되는 도전성 금속이 금인 경우에는, 그 피복량은 코어 입자의 3 내지 30 중량%인 것이 바람직하고, 3.5 내지 25 중량%인 것이 보다 바람직하며, 4 내지 20 중량%인 것이 더욱 바람직하고, 4.5 내지 10 중량%인 것이 특히 바람직하다. 또한, 피복되는 도전성 금속이 은인 경우에는, 그 피복량은 코어 입자의 3 내지 30 중량%인 것이 바람직하고, 4 내지 25 중량%인 것이 보다 바람직하며, 5 내지 23 중량%인 것이 더욱 바람직하고, 6 내지 20 중량%인 것이 특히 바람직하다.The covering amount of the conductive metal is preferably 2.5 to 50% by weight, more preferably 3 to 30% by weight, still more preferably 3.5 to 25% by weight, and most preferably 4 to 20% by weight Particularly preferred. When the conductive metal to be coated is gold, the covering amount is preferably 3 to 30% by weight, more preferably 3.5 to 25% by weight, still more preferably 4 to 20% by weight, Particularly preferably 10% by weight. When the conductive metal to be coated is silver, the covering amount is preferably 3 to 30% by weight, more preferably 4 to 25% by weight, still more preferably 5 to 23% by weight of the core particles, Particularly preferably 6 to 20% by weight.
또한, 도전성 입자(111)의 입경은 1 내지 500 ㎛인 것이 바람직하고, 2 내지 400 ㎛인 것이 보다 바람직하며, 5 내지 300 ㎛인 것이 더욱 바람직하고, 10 내지 150 ㎛인 것이 특히 바람직하다.The particle diameter of the
또한, 도전성 입자(111)의 입경 분포(Dw/Dn)는 1 내지 10인 것이 바람직하고, 1 내지 7인 것이 보다 바람직하며, 1 내지 5인 것이 더욱 바람직하고, 1 내지 4인 것이 특히 바람직하다.The particle diameter distribution (Dw / Dn) of the
이러한 조건을 만족하는 도전성 입자(111)를 사용함으로써, 얻어지는 검사용 커넥터(100)는 가압 변형이 용이해지고, 해당 검사용 커넥터(100)에서의 도전부(110)에 있어서 도전성 입자(111) 사이에 충분한 전기적 접촉을 얻을 수 있다.By using the
또한, 도전성 입자(111)의 형상은 특별히 한정되는 것은 아니지만, 고분자 물질 형성 재료 중에 쉽게 분산시킬 수 있다는 점에서 구상인 것, 별 형상인 것이 바람직하다.The shape of the
상기 절연지지부(120)는 상기 도전부(110) 주위에 배치되어 각각의 도전부(110)는 절연시키면서 도전부(110)를 지지하는 것으로서, 절연성 탄성물질로 이루어지며 그 내부에 도전성 입자(111)가 전혀 또는 거의 함유되어 있지 않은 것이다. 이러한 절연지지부(120)는 도전부(110)를 구성하는 절연성 탄성물질과 동일한 소재로 이루어지는 것이 바람직하다. 예를 들어 실리콘 고무로 이루어지는 것이 가능하다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 다양한 소재가 사용될 수 있음은 물론이다. The insulating
상기 탄성체(130)는 각각의 도전부(110)의 내부에 배치되며 도전성 와이어가 나선방향으로 감겨있는 것으로서, 복수개가 도전부(110) 내에 서로 인접하게 배치되어 있게 된다. 도전부(110)가 피검사 디바이스(140)의 단자(141)의 가압에 의하여 두께방향으로 압축되었을 때 서로 인접하게 배치된 각각의 탄성체(130)는 서로 접촉될 수 있도록 구성되어 있게 된다. The
이러한 탄성체(130)는 통상의 스프링과 유사한 형상을 가질 수 있게 되는데(스프링 형상의 탄성체(130)를 '탄성스프링'이라 한다), 이때 도전성 와이어가 상기 도전성 와이어가 나선방향으로 감긴 횟수(또는 '턴수')를 N 이라고 하였을 때, N ≥ 1/2 인 것이 바람직하다. 또한, 상기 탄성체(130)의 주변에는 다수의 도전성 입자(111)가 분포되어 있어서 탄성체(130)와 도전성 입자(111)가 함께 두께방향으로 전기가 흐르는 도전로를 형성하는 것이 바람직하다.The
한편, 상기 도전성 와이어의 선경을 d 라고 하였을 때, 0.01mm < d < 3 mm 이며, 나선형으로 감긴 도전성 와이어의 외경을 D 라고 하였을 때, 0.01mm < D < 0.5mm 인 것이 좋다. 또한, 상기 탄성체(130)에서, D > d 인 것이 좋은 데, 이는 탄성체(130)가 인접한 탄성체(130)와 쉽게 얽힐 수 있도록 하기 위함이다. It is preferable that 0.01 mm <D <0.5 mm when the diameter of the conductive wire is 0.01 mm <d <3 mm and the outer diameter of the spirally wound conductive wire is D In addition, in the
이러한 탄성체(130)는 자성체섬유인 것이 바람직하고, 그 길이는, 도전부(110)의 두께보다 작은 것이 좋다. 구체적으로는 상기 탄성체(130)가 도전부(110) 내에서 두께방향으로 적어도 2개 이상 배열될 수 있도록 도전부의 두께방향 길이의 1/2 이하의 길이를 가지는 것이 좋다. 한편 탄성체(130)를 구성하는 자성체섬유로서는, 예를 들면, 니켈, 철, 코발트, SUS 등의 스테인리스 강, 그 외의 자성체인 합금으로 이루어진 자성체금속 섬유로 할 수 있다. 이 경우, 자성체금속 섬유의 표면에는, 금, 은, 동, 로듐, 페러디엄 등의 금속 또는 이들의 합금으로 이루어진 도전성 금속 피복으로 피복하는 것이 바람직하다. 이러한 도전성 금속으로 피복함으로써, 전기저항값을 낮게 할 수 있다.It is preferable that the
이외에도 탄성체(130)를 구성하는 도전성 와이어는 그 표면에 자성체금속이 피복된 비자성체 섬유로 할 수 있다. 이 경우, 비자성체 섬유로서는, 인청동, 놋쇠, SUS등의 스테인리스 강, 탄소 섬유 등의 비자성체 금속섬유를 사용할 수 있고 자성체 금속으로서는, 니켈, 니켈 코발트 합금, 철 등을 사용할 수 있다. 게다가 비자성체섬유로서 유리섬유, 아라미드 섬유 등의 비자성체무기 섬유 또는 비자성체유기 섬유를 사용할 수 있으며 이 경우, 표면에 도전성 금속 피복으로 피복하는 것이 바람직하다. In addition, the conductive wire constituting the
이러한 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(100)는 다음과 같은 작용효과를 가진다.The
먼저, 도전부(110)를 검사장치(150)의 패드(151)와 접촉하도록 검사용 커넥터(100)를 검사장치(150)에 탑재한 상태에서, 피검사 디바이스(140)를 검사용 커넥터(100) 측으로 이동시킨다. 이후에 검사용 커넥터(100)를 하강시켜 도 5에 도시된 바와 같이 상기 피검사 디바이스(140)의 단자(141)들이 상기 도전부(110)의 상면에 접촉되도록 한다. 이후에 검사장치(150)로부터 소정의 전기적인 신호가 인가되면 그 신호를 도전부(110)를 거쳐서 피검사 디바이스(140)로 전달되면서 소정의 전기적 검사를 수행하게 되는 것이다.The inspected
이러한 검사가 고온환경하(150℃이상)에서 수행되는 경우 절연성 탄성물질인 실리콘 고무가 과도한 팽창을 하게 되어도 도전부(110) 내의 도전성 입자(111)들은 서로 멀어지는 방향으로 이격되게 된다. 또한 탄성체(130)도 실리콘 고무의 팽창에 따라서 서로 멀어지는 방향으로 이동하게 된다. 다만 탄성체(130)는 복수개가 서로 얽혀 있기 때문에 각각의 탄성체(130)가 서로 멀어지도록 이동하는 경우에도 접촉상태를 유지하게 되기 때문에 전기적 특성이 저하되는 일이 없게 된다. If the test is performed in a high temperature environment (150 ° C or higher), the
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(100)는 도전성 입자(111)와 스프링 형태의 탄성체(130)를 혼합하여 사용하게 되는데, 이때 탄성체(130)는 도전성 입자(111)에 비하여 전기 접점의 수를 낮춰 안정적인 전기적 특성을 얻을 수 있는 장점이 있다.In the
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(100)는 탄성체(130) 자체의 탄성으로 인해 전체적인 접촉력(contact force)을 낮출 수 있는 장점이 있게 된다.Also, the
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 커넥터(100)는, 스프링 형태의 탄성체(130)들이 서로 엉켜 실리콘 고무가 고온환경하에서 팽창하여 도전성 입자(111)들 사이의 거리가 멀어져도 안정적으로 접촉특성을 유지할 수 있는 장점이 있게 된다. 이때, 스프링 형태의 탄성체(130)는 감김수가 1턴 이상이며 스프링 형태의 탄성체(130)의 피치는 소선의 직경보다 커서 탄성체(130)들이 서로 엉킬 수 있는 것이 좋다. Also, in the
이상에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사용 커넥터를 예시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어 탄성체에 대하여 스프링의 형상으로 한정하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 도전체를 구성하는 실리콘 고무가 고온 환경하에서 팽창시 서로 인접한 탄성체 간의 접촉이 그대로 유지될 수 있는 형상이라면 무엇이나 가능하고, 예를 들어 "C", "S" 자 형이 가능함은 물론이다. 즉, 스프링 형상이나 턴수에 관계없이 다양한 형상이 도전부 내에 사용될 수 있음은 물론이다.Although the inspection connector according to the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited thereto. For example, the shape of the elastic body is limited to the shape of a spring. However, the present invention is not limited thereto. The silicone rubber constituting the conductive body can be any shape as long as the contact between the elastic bodies adjacent to each other when the silicone rubber expands under a high- For example, "C" and "S" can be used. That is, it goes without saying that various shapes can be used in the conductive portion regardless of the spring shape or the number of turns.
이상에서 다양한 실시예를 들어 본 발명의 접속용 커넥터를 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 권리범위로부터 합리적으로 해석될 수 있는 것이라면 무엇이나 본 발명의 권리범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been described with reference to the exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the invention.
100...검사용 커넥터 110...도전부
111...도전성 입자 120...절연지지부
130...탄성체 140...피검사 디바이스
141...단자 150...검사장치
151...패드100 ...
111 ...
130 ...
141 ...
151 ... pad
Claims (10)
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되어 있는 도전부와,
각각의 도전부 사이에 배치되어 도전부를 감싸면서 도전부를 지지하는 절연지지부와,
각각의 도전부의 내부에 배치되며 도전성 와이어가 나선방향으로 감겨있는 탄성체를 포함하되,
상기 탄성체는 복수개가 도전부 내에 서로 인접하게 배치되어 있고,
상기 도전성 와이어의 선경을 d 라고 하였을 때, 0.01mm < d < 3 mm 이고,
나선형으로 감긴 도전성 와이어의 외경을 D 라고 하였을 때, 0.01mm < D < 0.5mm 이며,
D > d 인 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.A testing connector for electrically connecting a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspecting device to each other, the insulated connector being disposed between the inspected device and the inspecting device,
A conductive part in which a plurality of conductive particles are arranged in a thickness direction in an insulating elastic material for each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
An insulating support portion disposed between the respective conductive portions to support the conductive portions while surrounding the conductive portions,
And an elastic body disposed inside each of the conductive portions and having a conductive wire wound in a spiral direction,
Wherein a plurality of the elastic members are disposed adjacent to each other in the conductive portion,
And d is a diameter of the conductive wire, 0.01 mm <d <3 mm,
When the outer diameter of the spirally wound conductive wire is D, 0.01 mm <D <0.5 mm,
D > d.
각각의 탄성체는 서로 이격되는 경우에도 서로간의 접촉이 유지되도록 구성된 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the elastic members are configured to maintain contact with each other even when the elastic members are spaced apart from each other.
상기 도전성 와이어가 나선방향으로 감긴 횟수를 N 이라고 하였을 때, N ≥ 1/2 인 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.The method according to claim 1,
And N > 1/2 when the number of times the conductive wire is wound in the spiral direction is N. [
상기 탄성체의 주변에는 다수의 도전성 입자가 분포되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.The method according to claim 1,
And a plurality of conductive particles are distributed around the elastic body.
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 절연성 탄성물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열되어 있는 도전부와,
각각의 도전부 사이에 배치되어 도전부를 감싸면서 상기 도전부를 지지하는 절연지지부와,
상기 도전부의 내부에 배치되며 도전성 와이어가 나선방향으로 감겨있는 탄성스프링을 포함하되,
상기 탄성스프링은 각각의 도전부의 내부에 적어도 2개 이상이 서로 얽혀서 배치되고,
상기 탄성스프링는 복수개가 도전부 내에 서로 인접하게 배치되어 있고,
상기 도전성 와이어의 선경을 d 라고 하였을 때, 0.01mm < d < 3 mm 이고,
나선형으로 감긴 도전성 와이어의 외경을 D 라고 하였을 때, 0.01mm < D < 0.5mm 이며,
D > d 인 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.A testing connector for electrically connecting a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspecting device to each other, the insulated connector being disposed between the inspected device and the inspecting device,
A conductive part in which a plurality of conductive particles are arranged in a thickness direction in an insulating elastic material for each position corresponding to a terminal of the device to be inspected;
An insulating support portion disposed between the respective conductive portions to support the conductive portions while surrounding the conductive portions,
And an elastic spring disposed inside the conductive portion and having a conductive wire wound in a spiral direction,
At least two elastic springs are disposed so as to be intertwined with each other inside each of the conductive parts,
Wherein a plurality of the elastic springs are disposed adjacent to each other in the conductive portion,
And d is a diameter of the conductive wire, 0.01 mm <d <3 mm,
When the outer diameter of the spirally wound conductive wire is D, 0.01 mm <D <0.5 mm,
D > d.
상기 복수의 탄성스프링은 서로 인접하여 배치되고 주변에 다수의 도전성 입자가 분포되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.9. The method of claim 8,
Wherein the plurality of elastic springs are disposed adjacent to each other and a plurality of conductive particles are distributed around the plurality of elastic springs.
상기 탄성스프링은 두께방향으로 적어도 2개 이상 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 검사용 커넥터.9. The method of claim 8,
Wherein at least two elastic springs are arranged in the thickness direction.
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