KR101593634B1 - Electrical test socket - Google Patents

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KR101593634B1
KR101593634B1 KR1020140195086A KR20140195086A KR101593634B1 KR 101593634 B1 KR101593634 B1 KR 101593634B1 KR 1020140195086 A KR1020140195086 A KR 1020140195086A KR 20140195086 A KR20140195086 A KR 20140195086A KR 101593634 B1 KR101593634 B1 KR 101593634B1
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정영배
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주식회사 아이에스시
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Abstract

The present invention relates to an electrical test socket, and more specifically, to the electrical test socket for connecting a port of a tested device to a pad of a test device electrically. The electrical test socket of the present invention includes: a cover member which has an insertion hole into which the tested device is inserted in a center, and can move up and down; a base member which is arranged at a lower side of the cover member, has an accommodation hole at a position corresponding to the insertion hole and is installed at a side of the test device; and a latch unit which is connected to the base member and the cover member respectively, and opens and closes the accommodation hole by performing rotation as to the base member according to ascending and descending of the cover member. The cover member includes: a first cover member which is delivered with pressurizing force by coming into contact with an external pressurizing unit; a second cover member which is arranged at a lower side of the first cover member and is connected to the latch unit; and a stroke increasing unit which is in contact with the first cover member and the second cover member respectively, and makes descending stroke of the second cover member larger than descending stroke of the first cover member by increasing a relative distance between the first cover member and the second cover member when the first cover member descends.

Description

전기적 검사소켓{Electrical test socket}[0001] Electrical test socket [0002]

본 발명은 전기적 검사소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 래치부재의 개방량을 최대로 할 수 있는 전기적 검사소켓에 대한 것이다.The present invention relates to an electrical inspection socket, and more particularly, to an electrical inspection socket capable of maximizing the opening amount of the latch member.

일반적으로, 반도체 집적 회로 장치의 제조 공정에서는, 예를 들면 실리콘으로 이루어지는 웨이퍼에 다수의 집적 회로를 형성하고, 그 후 이들 집적 회로의 각각에 대하여 기초적인 전기 특성을 검사함으로써, 결함을 갖는 집적 회로를 선별하는 프로브 시험이 행해진다. 이어서, 이 웨이퍼를 절단함으로써 반도체칩이 형성되고, 이 반도체칩이 적절한 패키지 내에 수납되어 밀봉된다. 또한, 패키지화된 반도체 집적 회로 장치의 각각에 대하여 고온 환경하에서 전기 특성을 검사함으로써, 잠재적 결함을 갖는 반도체 집적 회로 장치를 선별하는 번인(burn-in) 시험이 행해진다. Generally, in a process of manufacturing a semiconductor integrated circuit device, for example, a plurality of integrated circuits are formed on a wafer made of silicon, and then each of these integrated circuits is checked for fundamental electric characteristics, A probe test is performed. Subsequently, the semiconductor chip is formed by cutting the wafer, and the semiconductor chip is housed and sealed in an appropriate package. In addition, a burn-in test is conducted to select semiconductor integrated circuit devices having potential defects by inspecting electrical characteristics of each packaged semiconductor integrated circuit device under a high-temperature environment.

이러한 번인 시험에 사용되는 전기적 검사소켓의 일 예는 한국등록특허 제10-1016019호에 개시되어 있다.An example of an electrical test socket used in this burn-in test is disclosed in Korean Patent No. 10-1016019.

이러한 종래기술에 따른 전기적 검사소켓은 도 1 및 도 2를 통하여 설명한다.Such an electric inspection socket according to the prior art will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG.

종래기술의 전기적 검사소켓은, 상면에 WELP타입 패키지(5) 탑재부(12)를 구비하고, 상기 WELP타입 패키지(5)가 탑재부(12)에 장착되는 경우에 상기 WELP타입 패키지(5)의 각 리드(7)에 대응하는 위치에 콘택트 수용부(14)를 구비하는 베이스(10); 상기 콘택트 수용부(14)에 수용되어, 상기 베이스(10) 외부로 전기적 연결을 이루는 프로브부(22), 상기 WELP타입 패키지(5)의 패키지부 하면에 위치하는 리드(7)의 아래쪽에 위치하여 상하이동에 따라 상부로 이동시 상기 WELP타입 패키지(5)의 패키지부 하면에 위치하는 리드(7)와 접촉이 이루어지고 하부로 이동시 상기 WELP타입 패키지(5)의 패키지부 하면에 위치하는 리드(7)와 분리가 이루어지는 접촉부(24)를 구비하는 콘택트(20); 및, 상기 패키지 탑재부(12)에 상기 WELP타입 패키지(5) 탈착 시에는 개방되어 상기 베이스(10)에 상기 WELP타입 패키지(5)가 탈착되는 공간이 확보되게 하고, 상기 WELP타입 패키지(5) 탑재 후에는 닫혀 상기 WELP타입 패키지(5)의 상하 방향 이동을 고정하는 서로 대향하여 배치되는 1쌍의 래치(40)를 포함하여 구성된다.The electrical inspection socket of the prior art has a WELP type package 5 mounting portion 12 on its upper surface and is provided with a plurality of WELP type packages 5, A base (10) having a contact receiving portion (14) at a position corresponding to the lead (7); A probe portion 22 accommodated in the contact accommodating portion 14 and electrically connected to the outside of the base 10; a probe portion 22 positioned below the lead 7 located on the bottom surface of the package portion of the WELP type package 5; The WELP type package 5 is brought into contact with the leads 7 positioned on the lower surface of the package portion of the WELP type package 5 when the upper portion of the WELP type package 5 is moved up and down. 7) and a contact portion (24) separating the contact (20); And a WELP type package 5 is detachably attached to the package mounting part 12 to secure a space for detachment of the WELP type package 5 to the base 10, And a pair of latches 40 which are disposed so as to face each other to fix the movement of the WELP type package 5 in the up and down direction after the mounting.

이러한 종래기술에 따른 전기적 검사소켓은, 외부의 가압수단에 의하여 커버(30)을 하강시키면, 래치의 회전구동부(44)를 누르게 되어 래치를 회전시켜 개방하여 패키지를 받을 준비를 하게 된다. When the cover 30 is lowered by the external pressing means, the electric test socket according to the related art presses the rotation driving portion 44 of the latch, and rotates the latch to open the cover, thereby preparing to receive the package.

이후에 패키지가 탑재되면, 다시 커버가 위로 이동하게 되고 이에 따라, 래치를 회전시켜 래치를 닫아 패키지를 고정하게 된다. 이후에 패키지에 대한 전기적 검사가 수용된다.Thereafter, when the package is mounted, the cover is moved upward again, thereby rotating the latch and closing the latch to fix the package. Electrical inspection of the package is then accepted.

이러한 종래기술은 아래와 같은 문제점이 있다.Such conventional techniques have the following problems.

래치를 개방하고 폐쇄하기 위해서는 커버를 하강 및 상승시켜야 하는데, 이러한 커버를 하강시키기 위한 가압수단이 전기적 검사소켓의 외부에 별도로 존재한다.In order to open and close the latch, the cover must be lowered and raised, and the pressing means for lowering the cover are separately provided outside the electrical inspection socket.

패키지는 그 모양과 형상이 다양하고 전기적 검사소켓은 그 형태 및 모양이 다양하기 때문에 래치를 확실하게 개방시키기 위하여 커버를 눌러야 하는 양도 전기적 검사소켓마다 다소 차이가 존재한다. 따라서, 소정 거리 이상 눌러야만 비로서 래치가 완전하게 개방되는 전기적 검사소켓가 있는 반면, 소정 거리 이하로 눌러도 래치가 완전하게 개방되는 전기적 검사소켓가 존재하는데, 이와 같이 다양한 형태를 가지는 전기적 검사소켓을 위하여 기존에는 다양한 가압거리를 가지는 가압수단을 마련해야 했다. 그러나, 소모품인 전기적 검사소켓와는 가압수단은 비용이 고가이기 때문에 다양한 종류의 가압수단을 검사업체에서 보유하는 것이 어렵다는 문제가 있게 된다.Packages vary in shape and shape, and electrical inspection sockets vary in shape and shape, so there is some variation in the amount of electrical inspection sockets required to press the cover in order to reliably open the latch. Accordingly, there is an electrical inspection socket in which the latch is completely opened by a predetermined distance or more, while there is an electrical inspection socket in which the latch is completely opened even when the predetermined distance or less is pushed. Pressurizing means having various pressurizing distances must be provided. However, there is a problem that it is difficult to have various kinds of pressing means in the testing company because the pressing means is expensive because of the electric testing socket, which is a consumable.

대한민국 등록특허 10-1016019호Korean Patent No. 10-1016019

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 범용적인 가압수단을 사용해도 래치부재의 개방량을 충분하게 확보할 수 있는 전기적 검사소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an electric inspection socket which is capable of sufficiently securing an opening amount of a latch member even if a universal pressing means is used.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전기적 검사소켓은, 피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사소켓에 있어서,According to an aspect of the present invention, there is provided an electrical inspection socket for electrically connecting a terminal of a device to be inspected to a pad of an inspection apparatus,

피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재;A cover member which is provided at the center of the insertion hole into which the device to be inspected is inserted and is movable up and down;

상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 베이스부재; 및A base member disposed on the lower side of the cover member and provided with a receiving hole at a position corresponding to the insertion hole, And

상기 베이스부재와 상기 커버부재에 각각 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공을 개방 및 폐쇄하는 래칫수단을 포함하되,And ratchet means connected to the base member and the cover member for opening and closing the receiving hole by rotating with respect to the base member in accordance with the rising and falling of the cover member,

상기 커버부재는, 외부의 가압수단에 접촉되어 가압력을 전달받는 제1커버부재와, 상기 제1커버부재의 하측에 배치되며 상기 래칫수단이 연결되는 제2커버부재와, 상기 제1커버부재 및 제2커버부재에 각각 접촉하며, 상기 제1커버부재가 하강할 때 상기 제1커버부재와 상기 제2커버부재 간의 상대거리를 증가되도록 함으로서 상기 제1커버부재보다 상기 제2커버부재의 하강 스크로크를 더 크게 하는 스트로크 증가수단을 포함한다.The cover member includes a first cover member which is in contact with an external pressing means and receives a pressing force, a second cover member which is disposed below the first cover member and to which the ratchet means is connected, The first cover member and the second cover member being in contact with the first cover member and the second cover member, respectively, so that when the first cover member is lowered, the relative distance between the first cover member and the second cover member is increased, And a stroke increasing means for increasing the lock.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 스트로크 증가수단은,In the electrical inspecting socket, the stroke increasing means includes:

상기 제1커버부재에 의한 가압력을 전달받아 상기 제1커버부재와 상기 제2커버부재와 접촉하여 회전운동하는 거리조정부를 포함할 수 있다.And a distance adjusting unit that receives the pressing force of the first cover member and rotates in contact with the first cover member and the second cover member.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 거리조정부는,In the electrical inspection socket,

상기 제1커버부재 및 상기 제2커버부재에 각각 접촉한 상태에서 회전하면서 상기 제1커버부재 및 상기 제2커버부재의 이격거리를 변화시키도록 비대칭 캠 형상을 가질 수 있다.And may have an asymmetrical cam shape so as to change a distance between the first cover member and the second cover member while rotating while being in contact with the first cover member and the second cover member.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 거리조정부의 회전축을 지나면서 외면의 가장 가까운 지점을 잇는 축을 단축이라고 하였을 때, 상기 비대칭 캠은, 상기 제1커버부재가 하강할수록 수직축과 단축간의 각도가 증가하는 것이 바람직하다.In the electrical inspection socket, when an axis connecting the nearest point of the outer surface through the rotation axis of the distance adjustment unit is referred to as a short axis, the angle between the vertical axis and the short axis of the asymmetric cam increases as the first cover member descends Do.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 거리조정부는, In the electrical inspection socket,

상기 제1커버부재와 상기 제2커버부재의 사이에 위치할 수 있다.And may be positioned between the first cover member and the second cover member.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 제2커버부재에는, 상하방향으로 개구되고 제2커버부재의 측면을 따라서 연장되는 수용슬롯이 마련되고, 상기 수용슬롯 내에 상기 거리조정부가 수용될 수 있다.In the electrical inspection socket, the second cover member is provided with a receiving slot which is opened in the up-and-down direction and extends along the side surface of the second cover member, and the distance adjusting portion can be received in the receiving slot.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 수용슬롯 내에는, 수평방향으로 연장되는 접촉부가 마련되어 있으며, In the electrical inspecting socket, a horizontally extending contact portion is provided in the receiving slot,

상기 거리조정부는, 상기 제2커버부재의 접촉부와 접촉됨으로서 상기 제2커버부재를 가압할 수 있다.The distance adjusting unit may contact the contact portion of the second cover member to press the second cover member.

상기 전기적 검사소켓에서, In the electrical inspection socket,

상기 스트로크 증가수단은, 일단이 상기 베이스부재에 회전가능하게 연결되고 타단은 상기 거리조정부에 연결되는 연결바를 더 포함할 수 있다.The stroke increasing means may further include a connecting bar having one end rotatably connected to the base member and the other end connected to the distance adjusting unit.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 스크로크 증가수단은, In the electrical inspection socket, the sclock-

후크형상으로 이루어질 수 있다.And may be formed in a hook shape.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 베이스부재의 수용공 내부에는 상기 검사장치의 패드와 상기 피검사 디바이스의 단자를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 매개수단이 마련될 수 있다.In the electrical inspection socket, an intermediate means for electrically connecting the pad of the inspection apparatus and the terminal of the device to be inspected may be provided in the receiving hole of the base member.

상기 전기적 검사소켓에서, 상기 매개수단은,In the electrical inspection socket,

상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 탄성 고분자 물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열된 도전부와, 상기 도전부를 지지하면서 절연시키는 절연부를 포함하는 이방 도전성 시트일 수 있다.A conductive part having a plurality of conductive particles arranged in the thickness direction in the elastic polymer material at positions corresponding to the terminals of the device to be inspected and an insulating part for supporting and insulating the conductive parts.

본 발명은 제1커버부재가 하강할 때 제1커버부재와 제2커버부재 간의 상대거리를 증가되도록 하는 스트로크 증가수단을 구비함으로서, 범용적인 가압수단을 사용하는 경우에도 래치부재의 개방량을 최대화할 수 있는 장점이 있다.The present invention is provided with stroke increasing means for increasing the relative distance between the first cover member and the second cover member when the first cover member is lowered so that the opening amount of the latch member is maximized even when the general pressing means is used There is an advantage to be able to do.

도 1은 종래기술의 일 실시예에 따른 전기적 검사소켓의 사시도.
도 2는 도 2의 전기적 검사장치의 결합도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 검사장치의 분리사시도.
도 4는 도 3의 결합도.
도 5 및 도 6은 도 3의 전기적 검사장치의 작동모습의 일예를 나타내는 도면.
도 7 및 도 8은 도 3의 전기적 검사장치의 작동모습의 다른 예를 나타내는 도면.1 is a perspective view of an electrical inspection socket according to an embodiment of the prior art;
Fig. 2 is a combined view of the electrical inspection apparatus of Fig. 2; Fig.
3 is an exploded perspective view of an electrical inspection apparatus according to an embodiment of the present invention;
Figure 4 is a view of the coupling of Figure 3;
Figs. 5 and 6 are views showing an example of the operation of the electrical inspection apparatus of Fig. 3; Fig.
Figs. 7 and 8 are views showing another example of the operation of the electrical inspection apparatus of Fig. 3; Fig.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기적 검사소켓을 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.Hereinafter, an electrical inspection socket according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 전기적 검사소켓은, 피검사 디바이스(200)의 전기적 검사를 위하여 검사장치(미도시) 측에 설치되어 외부로부터 운반되는 피검사 디바이스(200)를 안착하고 그 안착된 디바이스(200)를 검사장치(미도시)와 전기적으로 연결시키는 검사장치에 대한 것이다. The electrical inspection socket according to the present invention includes a device 200 mounted on an inspection device (not shown) for electrical inspection of a device 200 to be inspected, To an inspection apparatus (not shown).

본 발명의 전기적 검사소켓(100)은, 피검사 디바이스의 안착, 고정을 동시에 수행하여 피검사 디바이스가 검사과정에서 안정적으로 전기적 연결이 유지될 수 있도록 한다.The electrical inspection socket 100 of the present invention performs simultaneous seating and fixing of the device to be inspected so that the device under test can stably maintain the electrical connection in the inspection process.

이러한 본 발명의 전기적 검사소켓(100)은, 커버부재(110), 베이스부재(150), 래칫수단(161) 및 매개수단(170)을 포함하여 구성된다.The electrical inspection socket 100 of the present invention comprises a cover member 110, a base member 150, a ratchet means 161 and an intermediate means 170.

상기 커버부재(110)는, 피검사 디바이스(200)가 삽입되는 삽입공(111)이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 것이다. The cover member 110 is provided at the center of the insertion hole 111 into which the device under test 200 is inserted and is movable up and down.

이러한 커버부재(110)는, 제1커버부재(120), 제2커버부재(130) 및 스트로크 증가수단(140)을 포함한다.The cover member 110 includes a first cover member 120, a second cover member 130, and a stroke increasing means 140.

상기 제1커버부재(120)는, 외부의 가압수단(미도시)에 접촉되어 가압력을 전달받는 것이다. 이러한 제1커버부재(120)는, 사각 프레임 형태로 이루어지고 각 모서리에는 하측으로 돌출되는 제1이탈방지걸림턱(121)이 마련되어 있게 된다. 상기 제1이탈방지걸림턱(121)은 베이스부재(150) 측에 걸려서 상기 베이스부재(150)로부터 완전하게 벗어나는 것을 방지한다. 이러한 제1커버부재(120)는 외부의 가압수단이 가하는 가압력을 전달받아 가압수단의 가압 스트로크(가압거리)만큼 하강하도록 구성된다.The first cover member 120 is in contact with an external pressing means (not shown) to receive a pressing force. The first cover member 120 is formed in the shape of a rectangular frame, and each of the corners is provided with a first escape preventing jaw 121 projecting downward. The first escape preventing jaw 121 is caught by the base member 150 to prevent the base member 150 from completely separating from the base member 150. The first cover member 120 is configured to be received by a pressing force exerted by external pressing means and to be lowered by a pressing stroke (pressing distance) of the pressing means.

상기 제2커버부재(130)는, 상기 제1커버부재(120)의 하측에 배치되며 상기 래칫수단(161)이 연결되는 것이다. 이러한 제2커버부재(130)는 래칫수단(161)과 연결되어 상기 래칫수단(161)의 개방 및 폐쇄량을 결정하게 된다. 즉, 제2커버부재(130)의 하강높이에 따라서 래칫수단(161)의 개방량이 결정된다. The second cover member 130 is disposed below the first cover member 120 and is connected to the ratchet means 161. The second cover member 130 is connected to the ratchet means 161 to determine the opening and closing amount of the ratchet means 161. That is, the opening amount of the ratchet means 161 is determined according to the descent height of the second cover member 130.

이러한 제2커버부재(130)는, 대략 사각프레임 형태로 이루어지되 서로 마주보는 측벽의 하면으로부터 돌출되는 제1돌출부(131)와, 상기 제1돌출부(131)가 설치되지 않은 측벽의 하면으로부터 돌출되는 제2이탈방지걸림턱(132)이 마련된다. 이러한 제2이탈방지걸림턱(132)은 베이스부재(150) 측에 걸려서 상기 베이스부재(150)로부터 제2커버부재(130)가 완전하게 이탈하는 것을 방지하게 된다.The second cover member 130 includes a first protrusion 131 protruding from the lower surface of the side wall facing each other and a protrusion 131 protruding from the lower surface of the side wall where the first protrusion 131 is not provided. The second separation preventing hook 132 is provided. The second separation preventing stopper 132 is engaged with the base member 150 to prevent the second cover member 130 from completely disengaging from the base member 150. [

이러한 제2커버부재(130)에는, 상하방향으로 개구되고 제2커버부재(130)의 측면을 따라서 연장되는 수용슬롯(133)이 마련된다. 또한, 상기 수용슬롯(133) 내부에는 대략 중앙정도의 높이에 거리조정부(141)가 슬라이드 되면서 접촉되는 접촉부(134)가 마련되어 있게 된다. The second cover member 130 is provided with a receiving slot 133 which is opened in the vertical direction and extends along the side surface of the second cover member 130. In addition, a contact portion 134 is provided in the receiving slot 133 to be in contact with the distance adjusting portion 141 while being slid at a substantially central height.

이러한 접촉부(134)는 일측에 개방되어 있어서 스크로크 증가수단의 연결바(142)가 이동하는 것을 허용하게 된다.This contact portion 134 is open at one side to allow the connecting bar 142 of the sclock increasing means to move.

상기 스트로크 증가수단(140)은, 상기 제1커버부재(120) 및 제2커버부재(130)에 각각 접촉하며, 상기 제1커버부재(120)가 하강할 때 상기 제1커버부재(120)와 상기 제2커버부재(130) 간의 상대거리를 증가되도록 함으로서 상기 제1커버부재(120)보다 상기 제2커버부재(130)의 하강 스크로크를 더 크게 하는 것이다.The stroke increasing means 140 may contact the first cover member 120 and the second cover member 130. When the first cover member 120 is lowered, The first cover member 120 and the second cover member 130 are formed to have a larger relative distance between the first cover member 120 and the second cover member 130 than the first cover member 120. [

이러한 스트로크 증가수단(140)은, 거리조정부(141)와 연결바(142)를 포함하여 구성되며 대략 전체적으로 후크형상으로 이루어진다.The stroke increasing means 140 includes a distance adjusting unit 141 and a connecting bar 142, and is generally formed into a hook shape.

상기 거리조정부(141)는, 상기 제1커버부재(120)와 상기 제2커버부재(130)의 사이에 배치되는 것으로서, 상기 제1커버부재(120)에 의한 가압력을 전달받아 상기 제1커버부재(120)와 상기 제2커버부재(130)와 접촉하여 회전운동하는 것이다. 이러한 거리조정부(141)는 상기 제1커버부재(120) 및 상기 제2커버부재(130)에 각각 접촉한 상태에서 회전하면서 상기 제1커버부재(120) 및 상기 제2커버부재(130)의 이격거리를 변화시키도록 비대칭 캠 형상을 가지는 것이다. The distance adjusting unit 141 is disposed between the first cover member 120 and the second cover member 130 and receives the pressing force of the first cover member 120, The first cover member 130 and the second cover member 130 are rotated. The distance adjusting unit 141 rotates while being in contact with the first cover member 120 and the second cover member 130 so that the distance between the first cover member 120 and the second cover member 130 And has an asymmetric cam shape to change the separation distance.

상기 거리조정부(141)의 회전축(O)을 지나면서 외면의 가장 가까운 지점을 잇는 축을 단축이라고 하였을 때, 상기 비대칭 캠 형상을 가진 거리조정부(141)는, 상기 제1커버부재(120)가 하강할수록 수직축과 단축간의 각도가 증가하도록 구성된다. 구체적으로는 폭이 좁은 단축(S1)과, 폭이 넓은 장축(S2)으로 이루어지는데, 장축(S2)이 눕혀지고 단축(S1)이 세워진 상태에서 상기 장축(S2)이 세워지고 단축(S1)이 눕혀지면서 상기 제1커버부재(120)와 상기 제2커버부재(130) 간의 거리를 서로 멀게 이격시킨다.The distance adjusting unit 141 having the asymmetric cam shape is configured such that when the first cover member 120 is lowered when the axis passing through the rotation axis O of the distance adjusting unit 141 is referred to as a short axis connecting the nearest point of the outer surface, The angle between the vertical axis and the minor axis increases. The long axis S2 is raised and the short axis S1 is raised in a state in which the long axis S2 is laid down and the minor axis S1 is erected. The first cover member 120 and the second cover member 130 are spaced apart from each other.

이러한 거리조정부(141)는, 상기 제2커버부재(130)의 수용슬롯(133) 내에 삽입된 상태에서 상기 제2커버부재(130)의 접촉부(134)와 접촉됨으로서 상기 제2커버부재(130)를 가압하게 된다.The distance adjusting unit 141 contacts the contact portion 134 of the second cover member 130 while being inserted into the receiving slot 133 of the second cover member 130, .

상기 연결바(142)는, 일단이 베이스부재(150)에 회전가능하게 연결되고 타단은 상기 거리조정부(141)에 연결되는 것으로서 베이스부재(150)에 연결된 부분을 통하여 회동하면서 상기 거리조정부(141)가 회전하면서 슬라이드 이동하게 한다. One end of the connection bar 142 is rotatably connected to the base member 150 and the other end of the connection bar 142 is connected to the distance adjustment unit 141 and rotates through a portion connected to the base member 150, ) To slide while rotating.

상기 베이스부재(150)는, 상기 커버부재(110)의 하측에 배치되고 상기 삽입공(115)과 대응되는 위치에 수용공(151)이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 것이다. 이러한 베이스부재(150)는, 검사장치에 고정결합된 상태에서 외부로부터 운반되어온 피검사 디바이스(200)를 검사장치에 전기적으로 접속되도록 한다. 또한, 상기 베이스부재(150)는 커버부재(110)가 상승 및 하강할 때 상기 커버부재(110)의 상승 및 하강경로를 제공함은 물론 상기 커버부재(110)가 상기 베이스부재(150)로부터 벗어나지 못하도록 하는 기능도 동시에 수행한다.The base member 150 is disposed on the lower side of the cover member 110 and has a receiving hole 151 at a position corresponding to the insertion hole 115, The base member 150 is configured to electrically connect the device 200 to be inspected, which is carried from the outside, to the inspection apparatus while being fixedly coupled to the inspection apparatus. In addition, the base member 150 not only provides a lifting and lowering path of the cover member 110 when the cover member 110 is lifted and lowered, but also allows the cover member 110 to be separated from the base member 150 But also the function of inhibiting it.

즉, 베이스부재(150)의 외측면에 제1커버부재(120)의 제1이탈방지걸림턱(121)이 끼워걸림은 물론, 베이스부재(150)의 외측면에 제2커버부재(130)의 제2이탈방지걸림턱(132)이 끼워걸려 제1커버부재(120) 및 제2커버부재(130)가 상기 베이스부재(150)로부터 이탈되는 것을 방지한다.The first cover member 120 is fitted to the outer surface of the base member 150 so as to engage with the first cover member 120. The second cover member 130 is attached to the outer surface of the base member 150, The first and second cover members 120 and 130 are prevented from being separated from the base member 150 by engaging with the second separation preventing stoppers 132 of the first cover member 120 and the second cover member 130, respectively.

한편, 상기 베이스부재(150)에는 연결핀(152)이 측면에 설치되어 있어서 상기 연결핀(152)을 통하여 상기 스트로크 증가수단(140)의 연결바(142)가 회동되도록 한다. The base member 150 is provided with a connecting pin 152 on the side thereof so that the connecting bar 142 of the stroke increasing means 140 is rotated through the connecting pin 152.

상기 래칫수단(161)은, 상기 베이스부재(150)와 상기 제2커버부재(130)에 각각 연결되어 상기 제2커버부재(130)의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재(150)에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공(151)을 개방 및 폐쇄하는 것이다. The ratchet means 161 is connected to the base member 150 and the second cover member 130 and rotates about the base member 150 in accordance with the rising and falling of the second cover member 130, So that the receiving hole 151 is opened and closed.

이러한 래칫수단(161)은, 래칫(161), 래칫봉(162), 연결바(142), 래칫핀(164) 및 누름판(165)으로 이루어진다.The ratchet means 161 includes a ratchet 161, a ratchet rod 162, a connecting bar 142, a ratchet pin 164, and a pressure plate 165.

상기 래칫(161)은 상기 베이스부재(150)의 일측에 각각 설치되는 것으로서, 전체적으로 사각형태를 가지되 소정의 두께를 가지며 일축방향으로 소정각도 구부러진 곡면형태를 가진다. 이러한 래칫(161)은 제2커버부재(130)의 상하유동에 따라서 회전하도록 구성된다.The ratchet 161 is installed at one side of the base member 150 and has a rectangular shape as a whole, a predetermined thickness, and a curved shape bent at a predetermined angle in a uniaxial direction. The ratchet 161 is configured to rotate in accordance with the upward and downward movement of the second cover member 130.

상기 래칫봉(162)은, 베이스부재(150)에 끼워져 설치되는 것으로서 봉의 형상을 가진다. 상기 연결대(163)는 일단은 상기 래칫봉(162)에 고정되고 타단은 상기 래칫(161)의 일단 측에 회전가능하게 연결되는 것이다. The ratchet rod 162 is fitted to the base member 150 and has a rod shape. One end of the linkage 163 is fixed to the ratchet rod 162 and the other end of the linkage 163 is rotatably connected to one end of the ratchet 161.

상기 래칫핀(164)은, 제2커버부재(130)의 제1돌출부(131)에 끼워진 상태에서 베이스부재(150)에 슬라이드 가능하게 끼워지는 것이다. The ratchet pin 164 is slidably fitted in the base member 150 in a state of being fitted in the first projection 131 of the second cover member 130.

상기 누름판(165)은 상기 래칫(161)의 일단에 설치되어 래칫(161)과 함께 회동하는 것으로서, 피검사 디바이스(200)의 상면과 접촉하여 상기 피검사 디바이스(200)를 가압하기 위한 것이다. 이러한 누름판(165)은 사각판 형태로 이루어지며 그 하면이 피검사 디바이스(200)의 상면에 접촉되도록 구성된다.The push plate 165 is provided at one end of the ratchet 161 and rotates with the ratchet 161 to press the device under test 200 in contact with the upper surface of the device under test 200. The pressure plate 165 is in the form of a rectangular plate, and its lower surface is configured to contact the upper surface of the device under test 200.

상기 수용공(151) 내부에는 상기 검사장치의 패드와 상기 피검사 디바이스(200)의 단자(201)를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 매개수단(170)이 마련되어 있다. 이러한 매개수단(170)으로는 이방 도전성 시트가 사용된다. 구체적으로 상기 이방 도전성 시트는 전체적으로 시트형태로 이루어지되, 도전부와 절연부로 이루어진다. The receiving hole 151 is provided with an intermediate means 170 for electrically connecting the pad of the inspection apparatus and the terminal 201 of the device under test 200 with each other. As the intermediate means 170, an anisotropically conductive sheet is used. Specifically, the anisotropically conductive sheet is formed in a sheet form as a whole, and includes a conductive portion and an insulating portion.

상기 도전부는 피검사 디바이스(200)의 단자(201) 및 검사장치의 패드와 대응되는 위치마다 배치되어 피검사 디바이스(200)의 단자(201) 및 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 기능을 수행한다. 각각의 도전부는 절연성 탄성물질 내에 두께방향으로 배향되는 다수의 도전성 입자가 밀집되어 배치된다. 이때 절연성 탄성물질은 실리콘 고무와 같이 연질이면서 탄성이 좋은 소재가 사용되는데, 이에 한정되는 것은 아니며 천연고무 등이 다양하게 사용될 수 있다.The conductive portion is disposed at a position corresponding to the terminal 201 of the device under test 200 and the pad of the inspection apparatus to electrically connect the terminals 201 of the inspection subject device 200 and the pads of the inspection apparatus to each other . Each of the conductive parts is arranged in a concentrated manner with a plurality of conductive particles oriented in the thickness direction in the insulating elastic material. In this case, the insulating elastic material is a soft and elastic material such as silicone rubber, but not limited thereto, and natural rubber may be used in various ways.

이러한 도전부의 상면에는 피검사 디바이스(200)의 단자(201)가 접촉되고 도전부의 하면에는 검사장치의 패드가 접촉되는데, 피검사 디바이스(200)의 단자(201)가 상기 도전부를 가압하는 경우에는 도전성 입자들이 서로 확실하게 접촉되면서 전기적 도통로를 형성함으로서 검사장치의 패드와 피검사 디바이스(200)의 단자(201) 사이에 전류가 흐를 수 있도록 한다.The terminal 201 of the device under test 200 is brought into contact with the upper surface of the conductive portion and the pad of the testing device is brought into contact with the lower surface of the conductive portion. When the terminal 201 of the device under test 200 presses the conductive portion The conductive particles are surely brought into contact with each other to form an electric conduction path so that a current can flow between the pad of the testing apparatus and the terminal 201 of the device under test 200. [

상기 절연부는 각각의 도전부를 지지하면서 각 도전부를 서로 절연시키는 기능을 수행한다. 즉, 도전부를 통하여 수직방향으로 흐르는 전류가 인접한 도전부 측으로 흐르지 않도록 충분한 절연성을 가지게 됨은 물론 각 도전부를 둘러싸면서 지지하는 기능을 수행한다. 이러한 절연부는 상기 도전부를 구성하는 절연성 탄성물질과 동일한 소재를 사용하는 것도 가능하며, 바람직하게는 실리콘 고무가 사용되는 것이 좋다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 천연고무가 사용될 수 있다. 한편, 도전부를 구성하는 절연성 탄성물질과 절연부의 소재를 동일한 소재가 사용되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니며 도전부를 견고하게 지지하기 위하여 도전부를 구성하는 절연성 탄성물질보다 절연부의 소재가 경질인 것도 좋다.The insulating portion functions to insulate each conductive portion from each other while supporting each conductive portion. That is, it has a sufficient insulating property so that the current flowing in the vertical direction through the conductive parts does not flow to the adjacent conductive parts, but also functions to surround and support the respective conductive parts. The insulating part may be made of the same material as the insulating elastic material constituting the conductive part, and preferably silicone rubber is preferably used. However, it is not limited thereto, and natural rubber may be used. On the other hand, it is preferable that the same material is used for the insulating elastic material constituting the conductive portion and the material of the insulating portion. However, the present invention is not limited thereto, and the material of the insulating portion may be harder than the insulating elastic material constituting the conductive portion good.

도 3에서, 도면부호 180, 190는 안착부(180) 및 스프링(190)을 도시한다. 상기 안착부(180)는, 상기 피검사 디바이스(200)가 안착되는 것으로서, 피검사 디바이스(200)가 안착되는 사각틀 형태의 안착몸체(181)와, 상기 안착몸체(181)와 연결핀(152)을 연결하는 안착바(182)를 포함한다.In Fig. 3, reference numerals 180 and 190 denote a seat portion 180 and a spring 190. The mounting part 180 includes a rectangular mounting body 181 on which the device under test 200 is mounted and on which the device under test 200 is mounted and a mounting body 181 on which the mounting body 181 and connection pins 152 (Not shown).

상기 스프링(190)은 제2커버부재(130)의 각 모서리와 베이스부재(150)의 각 모서리의 사이에 배치된다. 구체적으로 상기 스프링(190)은 4군데에 배치되어 있어서 제2커버부재(130)를 상기 베이스부재(150)에 대하여 멀어지는 방향으로 탄성바이어스 시킨다.The spring 190 is disposed between each corner of the second cover member 130 and each corner of the base member 150. Specifically, the spring 190 is disposed at four locations to elastically bias the second cover member 130 in a direction away from the base member 150. [

이러한 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 검사소켓(100)의 작용효과는 다음과 같다.The operation and effect of the electrical inspection socket 100 according to an embodiment of the present invention are as follows.

먼저 도 4 및 도 5는 커버부재(110)가 최대한 상승한 상태를 도시한다. 이러한 커버부재(110)가 최대한 상승한 상태에서는 래칫수단(161)이 수용부를 폐쇄하고 있게 된다. 이때 스크로크 증가수단의 거리조정부(141)는 제1커버부재(120)와 제2커버부재(130)에 접촉한 상태에 있으면서, 거리조정부(141)의 단축에 해당하는 부분이 수직선과 거의 평행한 상태에 놓여있게 된다.4 and 5 show a state in which the cover member 110 is maximally raised. In a state in which the cover member 110 is maximally raised, the ratchet means 161 closes the receiving portion. The distance adjusting unit 141 of the stroke increasing means is in contact with the first cover member 120 and the second cover member 130 so that the portion corresponding to the short axis of the distance adjusting unit 141 is substantially parallel to the vertical line As shown in FIG.

이후에, 제1커버부재(120)가 외부의 가압수단에 의하여 하강하게 되면, 스트로크 증가수단(140)은 연결핀(152)을 중심축으로 하여 회동하게 된다. 이와 같이 스트로크 증가수단(140)이 연결핀(152)을 중심축으로 하여 회동하게 되면, 스트로크 증가수단(140)의 거리조정부(141)도 제1커버부재(120)의 하면을 따라서 슬라이드 이동하면서 소정의 회전축을 중심으로 하여 회전하게 된다.Thereafter, when the first cover member 120 is lowered by the external pressing means, the stroke increasing means 140 rotates around the connecting pin 152 as a center axis. When the stroke increasing means 140 is pivoted about the connecting pin 152 as a center axis, the distance adjusting portion 141 of the stroke increasing means 140 also slides along the lower surface of the first cover member 120 And is rotated around a predetermined rotation axis.

구체적으로는 거리조정부(141)가 회전하면서 단축이 세워졌던 상태에서 점차적으로 단축이 눕혀지는 상태로 변화되고 이와 함께 장축이 세워지는 상태로 놓이게 되는데, 이에 다라서 제1커버부재(120)와 제2커버부재(130) 간의 이격거리가 증가하게 된다. 전체적으로 비대칭 캠 형태를 가지는 거리조정부(141)가 제1커버부재(120)와 제2커버부재(130)의 사이에서 회전하면서 상기 제1커버부재(120)와 제2커버부재(130) 간의 이격거리를 서로 변화시키게 된다. Specifically, when the distance adjusting unit 141 rotates, the short axis is gradually changed to a state where the short axis is laid, and the long axis is set along with the short axis. In this case, The spacing distance between the two cover members 130 is increased. The distance adjusting unit 141 having an asymmetrical cam shape as a whole is rotated between the first cover member 120 and the second cover member 130 to separate the first cover member 120 and the second cover member 130 The distance is changed.

이에 의하면, 제1커버부재(120)가 소정의 높이만큼 하강하는 경우에 제2커버부재(130)는 제1커버부재(120)의 하강거리에 제1커버부재(120)와 제2커버부재(130)의 이격거리만큼 추가적으로 하강하게 된다. 즉, 제1커버부재(120)가 하강하기 전의 높이를 (h11)이라고 하고, 제1커버부재(120)가 하강한 후의 높이를 (h12)이라고 하며, 제2커버부재(130)가 하강하기 전의 높이를 (h21)이라고 하며, 제2커버부재(130)가 하강한 후의 높이를 (h22)라고 할 때, 제2커버부재(130)의 하강스트로크(h21-h22)는 제1커버부재(120)의 하강스트로크(h11-h12)보다 크게 된다. When the first cover member 120 is lowered by a predetermined height, the second cover member 130 is moved downward by a distance corresponding to the distance of the first cover member 120 from the first cover member 120 to the second cover member 120, (Not shown). That is, the height before the first cover member 120 descends is referred to as (h11), the height after the first cover member 120 descends is referred to as (h12), and the second cover member 130 descends H21 of the second cover member 130 and the height of the first cover member 130 when the second cover member 130 is lowered is denoted by h22, H12 of the upper and lower plates 120 and 120, respectively.

이와 같이 제2커버부재(130)가 충분하게 하강하게 되는 경우에는 래칫수단(161)의 회전량을 증대시켜서 래칫수단(161)이 수용공(151)을 충분하게 개방시키도록 한다.When the second cover member 130 is sufficiently lowered as described above, the amount of rotation of the ratchet means 161 is increased so that the ratchet means 161 sufficiently opens the receiving hole 151. [

이와 같이 래칫수단(161)이 충분히 개방되어 피검사 디바이스(200)가 수용공(151) 내부로 진입하게 되는 경우에는, 제1커버부재(120) 및 제2커버부재(130)가 상승하게 되고 이 과정에서 래칫수단(161)이 수용공(151)을 폐쇄하면서 래칫수단(161)의 누름판(165)은 피검사 디바이스(200)의 상면을 눌러 가압하게 된다. When the ratchet means 161 is sufficiently opened to allow the device 200 to be inspected to enter the receiving hole 151, the first cover member 120 and the second cover member 130 are raised The ratchet means 161 closes the receiving hole 151 and the pressing plate 165 of the ratchet means 161 presses the upper surface of the device 200 to be inspected.

이후에 검사장치로부터 소정의 전기적 신호가 인가되면 수용된 피검사 디바이스(200)에 대한 전기적 검사가 수행되는 것이다.Thereafter, when a predetermined electrical signal is applied from the inspection apparatus, the electrical inspection of the received inspected device 200 is performed.

한편, 전기적 검사가 완료된 후에는 커버부재를 가압하여 수용공을 확실하게 개방하고 나서 피검사 디바이스를 상기 전기적 검사소켓으로부터 빼내게 된다. On the other hand, after the electrical inspection is completed, the cover member is pressed to reliably open the receiving hole, and then the device to be inspected is taken out of the electrical inspection socket.

이러한 본 발명에 따른 전기적 검사소켓은, 기존 Socket과 공용사용 가능하다는 장점이 있다. 특히 가압수단에 의한 가압스트로크가 적은 경우에도 래칫수단을 최대한 개방시켜 피검사 디바이스의 안착을 가능하게 한다. 또한, 매개수단으로서 러버를 접합한 시트를 사용하는 경우에 하우징 공간 제약을 효과적으로 극복할 수 있는 장점이 있다.The electrical inspection socket according to the present invention has an advantage that it can be commonly used with existing sockets. Even when the pressure stroke by the pressure means is small, the ratchet means is maximally opened to allow the device to be inspected to be placed. Further, there is an advantage that the space of the housing can be effectively overcome in the case of using a sheet joined with rubber as an intermediate means.

이상에서 다양한 실시예를 들어 본 발명의 전기적 검사소켓을 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 권리범위로부터 합리적으로 해석될 수 있는 것이라면 무엇이나 본 발명의 권리범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been described in connection with certain exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the invention.

100...전기적 검사소켓 110...커버부재
120...제1커버부재 121...제1이탈방지걸림턱
130...제2커버부재 131...제1돌출부
132...제2이탈방지걸림턱 133...수용슬롯
134...접촉부 140...스트로크 증가수단
141...거리조정부 142...연결바
150...베이스부재 151...수용공
152...연결핀 160...래칫수단
170...매개수단 180...안착부
190...스프링 200...피검사 디바이스
201...단자100 ... electrical inspection socket 110 ... cover member
120 ... first cover member 121 ... first departure preventing jaw
130 ... second cover member 131 ... first protrusion
132 ... second escape prevention jaw 133 ... accommodating slot
134 ... contact portion 140 ... stroke increasing means
141 ... distance adjustment section 142 ... connection bar
150 ... base member 151 ... receiving hole
152 ... connection pin 160 ... ratchet means
170 ... intermediate means 180 ... seat portion
190 ... spring 200 ... inspected device
201 ... terminal

Claims (11)

피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사소켓에 있어서,
피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재;
상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 베이스부재; 및
상기 베이스부재와 상기 커버부재에 각각 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공을 개방 및 폐쇄하는 래칫수단을 포함하되,
상기 커버부재는,
외부의 가압수단에 접촉되어 가압력을 전달받는 제1커버부재와,
상기 제1커버부재의 하측에 배치되며 상기 래칫수단이 연결되는 제2커버부재와,
상기 제1커버부재 및 제2커버부재에 각각 접촉하며, 상기 제1커버부재가 하강할 때 상기 제1커버부재와 상기 제2커버부재 간의 상대거리를 증가되도록 함으로서 상기 제1커버부재보다 상기 제2커버부재의 하강 스트로크를 더 크게 하는 스트로크 증가수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.An electrical inspection socket for electrically connecting a terminal of a device to be inspected to a pad of an inspection apparatus,
A cover member which is provided at the center of the insertion hole into which the device to be inspected is inserted and is movable up and down;
A base member disposed on the lower side of the cover member and provided with a receiving hole at a position corresponding to the insertion hole, And
And ratchet means connected to the base member and the cover member for opening and closing the receiving hole by rotating with respect to the base member in accordance with the rising and falling of the cover member,
The cover member
A first cover member which is in contact with an external pressing means to receive a pressing force,
A second cover member disposed below the first cover member and connected to the ratchet means,
Wherein the first cover member and the second cover member are in contact with each other, and when the first cover member is lowered, the relative distance between the first cover member and the second cover member is increased, (2) Stroke increasing means for increasing the descending stroke of the cover member. 제1항에 있어서,
상기 스트로크 증가수단은,
상기 제1커버부재에 의한 가압력을 전달받아 상기 제1커버부재와 상기 제2커버부재와 접촉하여 회전운동하는 거리조정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.The method according to claim 1,
Wherein the stroke increasing means comprises:
And a distance adjustment unit that receives the pressing force of the first cover member and rotates in contact with the first cover member and the second cover member. 제2항에 있어서,
상기 거리조정부는,
상기 제1커버부재 및 상기 제2커버부재에 각각 접촉한 상태에서 회전하면서 상기 제1커버부재 및 상기 제2커버부재의 이격거리를 변화시키도록 비대칭 캠 형상을 가지는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.3. The method of claim 2,
The distance adjustment unit,
And an asymmetrical cam shape so as to change a distance between the first cover member and the second cover member while rotating while being in contact with the first cover member and the second cover member. 제3항에 있어서,
상기 거리조정부의 회전축을 지나면서 외면의 가장 가까운 지점을 잇는 축을 단축이라고 하였을 때, 상기 비대칭 캠은, 상기 제1커버부재가 하강할수록 수직축과 단축간의 각도가 증가하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.The method of claim 3,
Wherein an angle between the vertical axis and the minor axis increases as the first cover member is lowered when the axis connecting the closest point of the outer surface through the rotation axis of the distance adjustment unit is referred to as a short axis. 제2항에 있어서,
상기 거리조정부는,
상기 제1커버부재와 상기 제2커버부재의 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.3. The method of claim 2,
The distance adjustment unit,
And the second cover member is located between the first cover member and the second cover member. 제2항에 있어서,
상기 제2커버부재에는, 상하방향으로 개구되고 제2커버부재의 측면을 따라서 연장되는 수용슬롯이 마련되고, 상기 수용슬롯 내에 상기 거리조정부가 수용되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.3. The method of claim 2,
Wherein the second cover member is provided with a receiving slot which is opened in the vertical direction and extends along the side surface of the second cover member, and the distance adjusting portion is accommodated in the receiving slot. 제6항에 있어서,
상기 수용슬롯 내에는, 수평방향으로 연장되는 접촉부가 마련되어 있으며,
상기 거리조정부는, 상기 제2커버부재의 접촉부와 접촉됨으로서 상기 제2커버부재를 가압하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.The method according to claim 6,
In the receiving slot, a contact portion extending in the horizontal direction is provided,
Wherein the distance adjusting portion presses the second cover member by coming into contact with the contact portion of the second cover member. 제2항에 있어서,
상기 스트로크 증가수단은,
일단이 상기 베이스부재에 회전가능하게 연결되고 타단은 상기 거리조정부에 연결되는 연결바를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.3. The method of claim 2,
Wherein the stroke increasing means comprises:
Further comprising a connecting bar having one end rotatably connected to the base member and the other end connected to the distance adjusting unit. 제8항에 있어서,
상기 스트로크 증가수단은,
후크형상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.9. The method of claim 8,
Wherein the stroke increasing means comprises:
Wherein the socket is formed in a hook shape. 제1항에 있어서,
상기 베이스부재의 수용공 내부에는 상기 검사장치의 패드와 상기 피검사 디바이스의 단자를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 매개수단이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.The method according to claim 1,
Wherein an intermediate means for electrically connecting the pad of the inspection apparatus and the terminal of the device to be inspected is provided in the receiving hole of the base member. 제10항에 있어서,
상기 매개수단은,
상기 피검사 디바이스의 단자와 대응되는 위치마다 탄성 고분자 물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께방향으로 배열된 도전부와, 상기 도전부를 지지하면서 절연시키는 절연부를 포함하는 이방 도전성 시트인 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.11. The method of claim 10,
Wherein said intermediate means comprises:
An electrically conductive sheet having a plurality of conductive particles arranged in the thickness direction in the elastic polymer material at positions corresponding to the terminals of the device to be inspected and an insulating portion for insulating and supporting the conductive portions, socket.
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