KR101531150B1 - Led 프로브 킷 어셈블리 - Google Patents

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문용규
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Abstract

본 발명은 LED를 불량 유무를 검사하는 프로브 킷에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LED의 불량 여부를 검사하기 위하여 바디와 상기 바디에 구비되는 프로브 핀에 LED와 접하는 제1 단자부와, 상기 제1 단자부로 전기를 전달하는 제2 단자부를 구비하되, 상기 제1 단자부가 마모되는 경우에 프로브 핀을 뒤집어 제2 단자부를 제1 단자부로, 기존의 제1 단자부를 제2 단자부로 사용할 수 있도록 구성하여 유지보수 비용을 절감하고, 사용기간을 연장할 수 있으며, 상기 프로브 핀과 바디를 인장수단을 통해 연결함에 따라 기존의 압축방식보다 수명이 증가하고, 프로브 핀의 움직임이 수월하여 측정의 정확도를 향상시킬 수 있는 LED 프로브 킷 어셈블리에 관한 것이다.

Description

LED 프로브 킷 어셈블리{LED PROBE KIT ASSEMBLY}
본 발명은 LED를 불량 유무를 검사하는 프로브 킷에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LED의 불량 여부를 검사하기 위하여 바디와 상기 바디에 구비되는 프로브 핀에 LED와 접하는 제1 단자부와, 상기 제1 단자부로 전기를 전달하는 제2 단자부를 구비하되, 상기 제1 단자부가 마모되는 경우에 프로브 핀을 뒤집어 제2 단자부를 제1 단자부로, 기존의 제1 단자부를 제2 단자부로 사용할 수 있도록 구성하여 유지보수 비용을 절감하고, 사용기간을 연장할 수 있으며, 상기 프로브 핀과 바디를 인장수단을 통해 연결함에 따라 기존의 압축방식보다 수명이 증가하고, 프로브 핀의 움직임이 수월하며 측정의 정확도를 향상시킬 수 있는 LED 프로브 킷 어셈블리에 관한 것이다.
일반적으로 LED를 제작하는 경우 LED의 불량여부를 검사하기 위하여 프로브가 구비되고 있는데,
이러한 종래기술로는 등록특허 제10-1199016호 『엘이디 검사용 프로브 카드』가 있는데,
상기 종래기술은 복수개의 니들 핀이 구비되어 상기 니들 핀의 상단 팁이 돌출되어 잇는 니들 블록과, 상기 니들 블록의 하측에 연결된 프로브 기판을 포함하며, 상기 복수개의 니들 핀은 웨이퍼 상태의 엘이디와 접촉 가능한 것을 특징으로 하는 엘이디 검사용 프로브 카드를 제시하고 있다.
그러나 상기 종래기술은 엘이디의 전기적 성능을 대면적 검사하는 니들 핀을 이용하는 것으로서, 다량의 엘이디 검사에 의해 니들 핀이 파손되는 경우, 니들 핀을 새로운 니들 핀으로 교체해야 하여야 하므로 유지보수 비용이 증가하는 문제점이 있다.
또한 종래기술로 등록특허 제10-1072614호 『엘이디 칩 검사장치 및 그 검사방법』이 있는데, 상기 종래기술은 엘이디 칩을 공급하는 공급부와, 상기 공급부에서 전달된 엘이디 칩이 안착되며, 상기 검사위치에 대응하는 칩안착영역을 가지고 상기 검사위치로 이동하는 칩안착블록과, 상기 엘이디 칩의 안착 상태가 정위치가 아니면 상기 엘이디 칩을 유동시켜서 상기 칩안착영역에 정위치로 안착시키는 보정편을 갖는 보정수단을 포함하는 엘이디 칩 검사장치 및 그 검사방법을 제시하고 있다.
그러나 상기 종래기술은 칩을 정위치 시켜 검사를 용이하게 하기 위한 것으로서, 본원 발명과는 차이가 있다.
나아가 종래기술로 등록특허 제10-1009751호 『LED용 전기적 검사장비』가 있는데,
상기 종래기술은 일방향으로 이동 가능한 이동부재와, 상기 이동부재에 탑재되고, 적어도 표면은 전기적 흐름이 가능한 전도성을 가지도록 구성된 전도성부재 및 하면은 상기 전도성부재의 표면과 접촉되며 상면은 상기 LED 디바이스의 제2 패드가 접촉될 수 있고, 그 제2 패드와 접촉되어 있을 때에는 제2 패드와 전도성 부재를 서로 전기적으로 연결시킬 수 있는 탄성도전시트를 포함하는 LED 전기적 검사방법에 관한 것이다.
상기 종래기술은 제1 및 제2 패드를 이용하여 전기적 흐름을 엘이디에 부여하여 불량여부를 검사하는 것으로서, 엘이디 디바이스에 전기적 흐름을 부여하기 위한 전극을 접촉시키는 경우, 전극이 연결되는 부분이 마모되는 경우 새롭게 교체해야 하여 유지보수 비용이 증가하는 문제점이 있다.
따라서 본 발명은 상기 문제를 해결하기 위해 안출한 것으로서, LED 프로브 킷 어셈블리에 있어서,
바디와, 상기 바디를 덮는 헤드 및 상기 바디에 구비되는 프로브 핀을 구비하되, 상기 프로브 핀을 뒤집어 제1 단자부와 제2 단자부를 교차하여 사용할 수 있도록 하여, 제1 단자부가 마모되는 경우 프로브 핀을 뒤집어 재사용 할 수 있는 LED 프로브 킷 어셈블리를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한 상기 각 프로브 핀의 단자부재를 상기 프로브 핀의 양 단부에 Y 자형으로 각각 구비하여, 상기 프로브 핀을 가로방향으로 뒤집어서 재사용할 수 있는 LED 프로브 킷 어셈블리를 제공함을 목적으로 한다.
나아가 상기 한 쌍의 프로브 핀은 서서로 대칭되어 구비되되 인접하는 제1 단자부 사이에 이격부를 형성하도록 구성하여 서로 다른 전극이 흐르는 각 프로브 핀 사이에 합선 등으로 인한 전기적 쇼트가 발생하는 것을 방지하는 것을 또 하나의 목적으로 한다.
아울러 상기 프로브 핀이 이동하는 바디의 이동홈에 확장부를 더 구비하여 프로브 핀이 이동시에 마찰력을 감소시켜, 마모, 파손되는 것을 방지함과 동시에, 감소되는 마찰력에 의해 이동홈 사이를 용이하게 왕복운동 할 수 있도록 하는 LED 프로브 킷 어셈블리를 제공함을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여,
본 발명에 따른 프로브 킷 어셈블리는
한 쌍의 이동홈이 구비되는 바디;
상기 바디 상부에 결합되어, 상기 바디를 덮는 헤드;
상기 이동홈에 각각 구비되는 몸체와, 상기 몸체의 양단부에 각각 구비되는 제1 단자부와 제2 단자부로 이루어지는 단자부재를 포함하는 한 쌍의 프로브 핀; 및
상기 바디에 구비되는 고정핀과, 상기 프로브 핀에 구비되는 인장핀 및 상기 고정핀과 인장핀을 연결하는 탄성체를 포함하는 인장수단;을 포함하여 이루어지되,
상기 프로브 핀의 제1 단자부와 제2 단자부는 상기 프로브 핀을 뒤집어 상호 교차되어 사용되는 것을 특징으로 한다.
이상과 같이 본 발명에 따른 LED 프로브 핀 어셈블리는 바디와 상기 바디를 덮는 헤드 및 상기 바디에 구비되어 왕복운동을 하며 LED에 전기적 흐름을 부여하여 LED 불량여부를 검사하는 한 쌍의 프로브 핀을 구비하되, 상기 프로브 핀의 양 단부에 제1 단자부와 제2 단자부를 구비하되, 상기 프로브 핀을 뒤집어 제1 단자부와 제2 단자부가 상호 교차 되어 사용될 수 있도록 구성하여 제1 단자부가 마모되는 경우, 프로브 핀을 새롭게 교체할 필요 없이 뒤집어 사용함으로서 유지 보수비용을 절감시킬 수 있으며,
상기 제1 단자부와 제2 단자부로 이루어지는 단자부재를 상기 프로브 핀의 양 단부에 Y 자형으로 각각 구비하여, 제1 단자부가 마모되는 경우, 가로방향으로 뒤집거나 세로방향으로 뒤집어 총 4번의 사용을 가능하게 하여 내구성을 향상시키고, 사용 수명을 연장할 수 있으며,
프로브 핀이 이동하는 바디의 이동홈에 확장부를 구비하여 마찰력을 감소시킴에 따라 마찰에 의한 마모를 방지하여 수명을 더욱 연장하고, 마찰력 감소로 인해 이동홈 사이를 용이하게 왕복 운동 가능하게 하고,
상기 프로브 핀과 바디는 탄성체로 이루어지는 인장수단에 의해 결합됨으로서 기존의 피스톤, 압축 방식 등과 같은 방법보다 수명이 연장되고, 움직임이 신속하게 이뤄질 수 있으며, 정밀도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리의 사시도
도 2는 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리의 분해사시도
도 3은 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리의 단면도
도 4는 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리의 제1 실시예
도 5는 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리의 제2 실시예
이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명을 상세히 설명하도록 한다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 구현예(態樣, aspect)(또는 실시예)들을 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
각 도면에서 동일한 참조부호, 특히 십의 자리 및 일의 자리 수, 또는 십의 자리, 일의 자리 및 알파벳이 동일한 참조부호는 동일 또는 유사한 기능을 갖는 부재를 나타내고, 특별한 언급이 없을 경우 도면의 각 참조부호가 지칭하는 부재는 이러한 기준에 준하는 부재로 파악하면 된다.
또 각 도면에서 구성요소들은 이해의 편의 등을 고려하여 크기나 두께를 과장되게 크거나(또는 두껍게) 작게(또는 얇게) 표현하거나, 단순화하여 표현하고 있으나 이에 의하여 본 발명의 보호범위가 제한적으로 해석되어서는 안 된다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 구현예(태양, 態樣, aspect)(또는 실시예)를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, ~포함하다~ 또는 ~이루어진다~ 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
먼저 도 1 및 도 2 에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리(A)는 바디(10)와, 상기 바디(10)를 덮는 헤드(20) 및 상기 바디(10)에 구비되어 LED 에 전기적 흐름을 부여하여 불량여부를 검사하는 프로브 핀(30)을 포함하여 이루어져 있다.
보다 상세하게는 상기 바디(10)에는 상기 헤드(20)와의 결합을 위한 복수개의 결합공(12)이 구비되어 있다. 또한 상기 헤드(20)에는 상기 결합공(12)에 대응되는 대응결합공(21)이 구비되며, 상기 결합공(12) 또는 상기 대응결합공(21) 내에는 나사산이 형성됨에 따라 별도의 고정볼트를 이용하여 상기 헤드(20)와 바디(10)를 고정볼트가 결합공(12)과 대응결합공(21)을 나사 결합함에 따라 견고하게 고정 시킬 수 있도록 한다.
또한 상기 바디(10)와 헤드(20)에는 상응하는 위치에 관통되는 제1 및 제2 고정공(14)(23)이 각각 구비되어 있는데, 이는 상기 제1 및 제2 고정공(14)(23)을 통하여 상기 바디(10) - 헤드(20) 결합체를 LED의 불량여부를 검사하기 위한 검사 장치에 제1 및 제2 관통공을 관통하는 고정볼트를 통해 결합할 수 있도록 한다. 나아가 상기 바디(10)의 후면에는 서로 모양 또는 직경이 다른 정위치확인공이 구비되어, 상기 검사 장치에 방향성을 유지하여 결합될 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
다시 도 2 에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리(A)의 바디(10)에는 이동홈(11)이 구비되어 있는데, 상기 이동홈(11)은 상기 바디(10)의 상부에 두 개가 한 쌍으로 구비되어 있으며, 상기 이동홈(11)은 상기 프로브 핀(30)의 폭과 동일하게 구성되는 이동부(111)와, 상기 이동부(111)의 폭보다 크게 구성되어 상기 이동부(111)에 복수개로 구비되는 확장부(112)로 이루어져 있다. 따라서 상기 이동홈(11)에 프로브 핀(30)이 안착되는 경우, 상기 이동부(111)에 의해 프로브 핀(30)이 흔들림 없이 왕복 운동을 할 수 있으며, 상기 확장부(112)를 구비함에 따라 상기 프로브 핀(30)과 상기 이동홈(11)과의 마찰력을 감소시켜 프로브 핀(30)의 내구성을 향상시키고, 수명을 연장함과 동시에 상기 마찰력 감소로 보다 원활하게 이동홈(11) 내에서 왕복 운동을 할 수 있도록 한다.
또한 상기 이동홈(11)은 상기 바디(10)의 중앙을 중심선으로 좌우 대칭으로 이루어지는 것이 바람직하며, 상기 각 이동홈(11) 사이의 거리는 후술하는 프로브 핀(30)의 제1 단자부(331)가 서로 접하지 않는 거리로 유지되는 것이 바람직하다.
또한 상기 이동홈(11)에는 LED에 전기적 흐름을 부여하는 프로브 핀(30)이 구비되어 있는데, 상기 프로브 핀(30)은 한 쌍의 이동홈(11) 각각에 구비되며, 서로 대칭되는 구조로 결합되게 되며, 설명의 편의를 위해 하나의 이동홈(11)에 구비되는 프로브 핀(30)을 기준으로 설명하며 이에 권리범위를 제한해석 해서는 안 된다.
다시 도 2 내지 도 4 에 도시된 바와 같이, 상기 프로브 핀(30)은 상기 이동홈(11)에 구비되는 몸체(31)와, 상기 몸체(31)의 양단부에 각각 구비되는 제1 단자부(331)와 제2 단자부(333)로 이루어지는 단자부재(33)를 포함하여 이루어져 있다. 보다 상세하게는 상기 프로브 핀(30)은 상기 이동홈(11)에 안착될 수 있는 몸체(31)가 구비되며, 상기 몸체(31)의 중앙에는 후술하는 인장수단(40)의 고정핀(41)이 관통되어 이동할 수 있는 이동공(311)이 구비되어 있다. 또한 상기 몸체(31)의 단부에는 단자부재(33)가 구비되어 있는데, 상기 단자부재(33)는 상기 몸체(31)의 일단에 구비되는 제1 단자부(331)와, 상기 몸체(31)의 타단에 구비되는 제2 단자부(333)로 이루어져 있다. 상기 제1 단자부(331)와 상기 제2 단자부(333)는 서로 동일한 형상으로 이루어지되, 몸체(31)를 기준으로 좌우 대칭인 형상으로 구비되는데, 설명의 편의를 위해 제1 단자부(331)를 기준으로 설명하면, 상기 제1 단자부(331)는 상기 몸체(31)의 단부에 구비되어 일측으로 절곡되는 제1 절곡부(331A)와, 상기 제1 절곡부(331A)에서 몸체(31)의 길이방향으로 절곡되어 LED 에 접하여 불량여부를 검사하는 제1 검사부(331B)가 구비되어 있다.
또한 상기 프로브 핀(30)의 타단에 구비되는 제2 단자부(333)는 상기 제1 단자부(331)와 동일한 형상으로 이루어지되, 제1 단자부(331)와 대칭되어 구비되는 제2 절곡부(333A)와, 상기 제2 절곡부(333A)에서 연장되어 몸체(31)의 길이방향으로 절곡되는 제2 검사부(333B)로 이루어지게 된다.
따라서 상기 프로브 핀(30)의 제2 단자부(333)에 전극을 연결하고, 연결된 전기적 흐름이 상기 제1 검사부(331B)를 통해 LED로 흘러감에 따라 LED의 불량여부를 감시하고, 상기 프로브 핀(30)이 한 쌍으로 구비됨에 따라 서로 다른 전극을 통하여 전류가 순환되게 함으로서 LED의 불량여부를 검사할 수 있도록 한다.
이 때 본 발명은 상기 제1 단자부(331)와 제2 단자부(333)가 서로 대칭되어 동일한 형상으로 구비됨에 따라 상기 제1 단자부(331)가 마모가 되거나 파손되는 경우, 상기 프로브 핀(30)을 뒤집어 상기 제2 단자부(333)가 LED에 접할 수 있도록 함으로서, 마모된 프로브 핀(30)을 한 번 더 재사용 할 수 있어 수명을 연장하고 유지보수 비용을 절감할 수 있도록 한다.
나아가 상기 이동홈(11)의 거리는 한 쌍의 프로브 핀(30)이 각 이동홈(11)에 결합되는 경우, 각각의 제1 단자부(331) 사이에 이격부(335)를 형성할 수 있는 거리로 구비되는 것이 바람직하며, 상기 이격부(335)에 의해 서로 다른 전극이 연결됨에 따라 전기적 쇼트가 나거나, LED를 지나치지 않아도 전기가 원활하게 흘러 LED의 불량여부를 검사할 수 없게 되는 문제점을 해결하도록 한다.
나아가 상기 프로브 핀(30)에는 복수개의 이동보조공(312)이 구비되어, 상기 이동홈(11) 내에서 프로브 핀(30)이 이동하는 경우, 이동보조공(312)을 통해 공기가 원활하게 순환되고, 마찰력을 감소시킬 수 있어 원활하게 왕복운동을 할 수 있도록 하는 것이 더욱 바람직하다.
다시 본 발명에 따른 LED 프로브 킷 어셈블리(A)는 상기 바디(10)와 상기 프로브 핀(30)을 연결하는 인장수단(40)이 더 구비되어 있다.
보다 상세하게는 상기 인장수단(40)은 상기 바디(10)에 구비되는 고정핀(41)과, 상기 프로브 핀(30)에 구비되는 인장핀(43) 및 상기 고정핀(41)과 인장핀(43)을 연결하는 탄성체(45)를 포함하여 이루어져 있다. 더욱 구체적으로 설명하면 상기 고정핀(41)은 상기 바디(10)의 이동홈(11) 중앙에 각각 구비되며, 상기 프로브 핀(30)이 이동홈(11)에 결합되는 경우, 프로브 핀(30)에 구비되는 이동공(311)을 관통하게 된다. 또한 상기 인장핀(43)은 상기 프로브 핀(30)의 몸체(31)에 구비되게 되며, 제1 단자부(331)를 이용하여 LED를 검사하는 경우 사용되는 인장핀(43)은 상기 제2 단자부(333) 측 전면에 돌출되어 구비되게 되고, 상기 제2 단자부(333)를 이용하여 LED를 검사하는 경우 사용되는 인장핀(43)은 상기 제1 단자부(331) 측 후면에 돌출되어 구비되게 된다.(상기에서 전면과 후면은 제1 단자부(331)를 이용하여 검사하는 경우를 기준으로 헤드(20)가 구비되는 방향을 전면, 바디(10)가 구비되는 방향을 후면으로 정한다.)
이 때 상기 제2 단자부(333)를 사용하기 위해 구비되는 돌출된 인장핀(43)에 의해 제1 단자부(331)를 사용하는 경우, 프로브 핀(30)의 이동을 제한하게 되는 문제점이 있는데, 이를 해결하기 위하여 상기 이동홈(11)에는 상기 인장핀(43)을 수용할 수 있는 수용홈(114)이 더 구비되어 있어 프로브 핀(30)의 이동을 방해하지 않도록 한다.
나아가 상기 고정핀(41)과 인장핀(43)을 연결하는 탄성체(45)가 더 구비되어 있는데, 보다 상세하게는 상기 탄성체(45)의 일측은 인장핀(43)에 결합되고, 타측은 고정핀(41)에 결합됨에 따라 도 3 에 도시된 바와 같이, 평소에는 한 쌍의 제1 단자부(331)가 전방(제1 단자부(331) 방향)으로 이동되고, 검사를 진행하는 경우, 상기 프로브 핀(30)을 LED 에 접촉하여 후방으로 이동시켜 검사하며 다시 검사가 완료된 후에는 상기 탄성체(45)의 탄성력에 의해 프로브 핀(30)이 처음 위치로 이동할 수 있도록 함으로서, 기존의 압축, 피스톤 방식을 이용하는 방법보다 자연스럽게 움직일 수 있으며, 내구성이 향상되고 측정의 정밀도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한 이 경우, 상기 고정핀(41), 인장핀(43), 탄성체(45)가 안착되는 안착홈(25)이 상기 헤드(20)에 구비되어, 상기 바디(10)에 헤드(20)를 덮는 경우에도, 상기 고정핀(41), 인장핀(43), 탄성체(45)가 안착홈(25) 내에 수용됨에 따라 프로브 핀(30)의 이동을 방해하지 않으며, 헤드(20)와 바디(10)를 밀착 결합할 수 있도록 한다.
다시 도 5는 본 발명에 따른 LED 프로브 핀(30)의 또 다른 실시예를 도시한 것으로서, 상기 프로브 핀(30)은 몸체(31)와, 상기 몸체(31)의 양 단부에 구비되는 단자부재(33)로 이루어지고, 상기 단자부재(33)는 상기 몸체(31)의 일단에 구비되는 제1 단자부(331)와 타단에 구비되는 제2 단자부(333)로 이루어진다. 이 때 상기 제1 단자부(331)에 구비되게 되는 제1 절곡부(331A)가 상기 몸체(31)의 단부에서 양측으로 구비되는 Y 자 형상으로 이루어지고, 각각의 제1 절곡부(331A)(331A′)에는 각각 제1 검사부(331B)(331B′)가 구비되어 서로 대칭을 이루는 형상으로 이루어지며, 상기 제2 단자부(333) 또한 Y 자 형상으로 한 쌍의 제2 절곡부(333A)(333A′)와 제2 검사부(333B)(333B′)를 구비하게 된다.
따라서 상기 프로브 핀(30)의 제1 단자부(331)가 마모되는 경우, 상기 프로브 핀(30)을 좌우로 뒤집어 대체하여 사용할 수 도 있고, 상기에서 언급한 바와 같이 전후로 뒤집어 제2 단자부(333)를 사용할 수 있는 등, 총 4번의 사용을 가능하게 함에 따라 수명을 더욱 연장시키고, 이에 유지보수 비용을 더욱 절감할 수 있는 효과가 있다. 또한 이 경우에는 상기 프로브 핀(30)에 구비되는 인장핀(43)이 상기 프로브 핀(30)의 몸체 앞, 뒷면에 모두 구비되는 것이 바람직하다.
또한 본 명세서에서 프로브 핀(30)과 바디(10)에 각각 구비되는 인장핀(43)과 고정핀(41)은 도면에는 도시되지 않았으나, 상기 프로브 핀(30)과 바디(10)에 핀홈 또는 핀홀이 구비되고, 상기 핀홈 또는 핀홀에 상기 인장핀(43) 또는 고정핀(41)이 억지끼움방식으로 견고하게 고정되도록 구비되는 것이 더욱 바람직하다.
또 이상에서 본 발명을 설명함에 있어 첨부된 도면을 참조하여 특정 형상과 구조 및 구성을 갖는 LED 프로브 킷 어셈블리를 위주로 설명하였으나 본 발명은 당업자에 의하여 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능하고, 이러한 수정, 변경 및 치환은 본 발명의 보호범위에 속하는 것으로 해석되어야 한다.
A : LED 프로브 킷 어셈블리
10 : 바디 11 : 이동홈
111 : 이동부 112 : 확장부
114 : 수용홈 12 : 결합공
14 : 제1 고정공 15 : 정위치확인공
20 : 헤드 21 : 대응결합공
23 : 제2 고정공 25 : 안착홈
30 : 프로브 핀 31 : 몸체
311 : 이동공 312 : 이동보조공
33 : 단자부재 331 : 제1 단자부
331A : 제1 절곡부
331B ; 제1 검사부 333 : 제2 단자부
333A : 제2 절곡부 333B : 제2 검사부
335 : 이격부 40 : 인장수단
41 : 고정핀 43 : 인장핀
45 : 탄성체

Claims (4)

  1. 한 쌍의 이동홈이 구비되는 바디;
    상기 바디 상부에 결합되어, 상기 바디를 덮는 헤드;
    상기 이동홈에 각각 구비되는 몸체와, 상기 몸체의 양단부에 각각 구비되는 제1 단자부와 제2 단자부로 이루어지는 단자부재를 포함하는 한 쌍의 프로브 핀; 및
    상기 바디에 구비되는 고정핀과, 상기 프로브 핀에 구비되는 인장핀 및 상기 고정핀과 인장핀을 연결하는 탄성체를 포함하는 인장수단;을 포함하여 이루어지되,
    상기 프로브 핀의 제1 단자부와 제2 단자부는 상기 프로브 핀을 뒤집어 상호 교차되어 사용되는 것을 특징으로 하는 LED 프로브 킷 어셈블리.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 각 프로브 핀의 단자부재는 상기 프로브 핀의 양 단부에 Y자형으로 각각 구비되는 것을 특징으로 하는 LED 프로브 킷 어셈블리.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 한 쌍의 프로브 핀은 서로 대칭되어 구비되되, 상기 각 프로브 핀의 제1 단자부 사이에는 이격부가 형성되는 것을 특징으로 하는 LED 프로브 킷 어셈블리.
  4. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 바디의 이동홈은
    이동부와, 상기 이동부에 구비되어 이동부보다 폭이 넓은 확장부가 구비되어 있는 것을 특징으로 하는 LED 프로브 킷 어셈블리.
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