KR101253112B1 - 워크 반송 장치 - Google Patents

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마사유키 니시다
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가부시키가이샤 도쿄 웰드
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Abstract

(과제) 리니어 피더(linear feeder)(6)로부터 분리 공급부(7)를 통해 워크 수납 구멍(3) 내에 공급되는 워크(W)의 자세를 용이하게 수정하여 이 워크(W)를 반송하는 것을 과제로 한다.
(해결 수단) 워크 반송 장치는 테이블 베이스(1)와, 테이블 베이스(1)상에 회전 가능하게 배치된 반송 테이블(2)과, 반송 테이블(2)의 워크 수납 구멍(3) 내에 워크(W)를 공급하는 리니어 피더(6)를 구비하고, 리니어 피더(6)와 반송 테이블(2) 사이에 분리 공급부(7)가 설치되어 있다. 리니어 피더(6) 및 분리 공급부(7)의 상면은, 각각 피더 커버(6x) 및 공급부 커버(7x)에 의해 덮여 있다. 분리 공급부(7) 내에 위치하는 워크 수납 구멍(3) 이외의 워크 수납 구멍(3)의 상면은 테이블 커버(5)에 의해 덮여 있다. 테이블 커버(5) 중, 공급부 커버(7x)에 인접하는 부분에, 천장 높이가 서서히 낮아지는 테이퍼부(5b)가 설치되어 있다.

Description

워크 반송 장치{WORK CONVEYING APPARATUS}
본 발명은 반송 테이블을 포함하는 워크 반송 장치에 관한 것으로, 특히 워크를 반송 테이블의 워크 수납 구멍 내에서 안정된 자세로 반송할 수 있는 워크 반송 장치에 관한 것이다.
종래로부터 워크 반송 장치로서, 테이블 베이스와, 테이블 베이스상에 회전 가능하게 배치되고, 외주부(外周部)에 복수의 워크 수납 구멍이 마련된 반송 테이블과, 반송 테이블에 분리 공급부를 통해 연결된 리니어 피더(linear feeder)를 구비한 것이 알려져 있다.
리니어 피더의 상면은 피더 커버에 의해 덮이고, 분리 공급부 및 분리 공급부 내에 위치하는 워크 수납 구멍의 상면은 공급부 커버에 의해 덮이며, 또한 분리 공급부 내에 위치하는 워크 수납 구멍 이외의 워크 수납 구멍의 상면은 테이블 커버에 의해 덮여 있다.
이와 같은 워크 반송 장치에 있어서, 리니어 피더로부터 보내져 오는 워크는 분리 공급부를 거쳐 반송 테이블의 워크 수납 구멍 내에 공급된다.
또한 피더 커버의 천장 높이와, 공급부 커버의 천장 높이는 동일 높이로 되어 있으며, 워크의 두께보다 충분히 높게 되어 있다. 이 경우, 테이블 커버의 천장 높이를 피더 커버의 천장 높이 및 공급부 커버의 천장 높이보다 낮게 하면, 워크가 분리 공급부에 있어서 워크 수납 구멍에 경사진 자세로 수납된 경우에, 반송 테이블의 회전에 의해, 워크가 공급부 커버의 하방으로부터 테이블 커버의 하방으로 이행할 때, 이 공급부 커버와 테이블 커버의 경계에 맞닿아, 워크가 손상되는 경우를 생각할 수 있다.
다른 한편, 테이블 커버의 천장 높이를 높게 하여 피더 커버의 천장 높이 및 공급부 커버의 천장 높이와 동일하게 했을 경우, 상술한 바와 같은 워크의 손상은 방지할 수 있지만, 후공정에 있어서 워크에 대하여 전기적 측정 등의 검사를 행할 때, 검사 속도가 저하한다는 문제가 생긴다.
일본국 특개2002-145445호 공보
본 발명은 이상의 점을 고려하여 이루어진 것으로, 반송 테이블의 워크 수납 구멍 내에 경사진 자세로 공급된 워크가 손상되지 않고, 또한 워크 수납 구멍 내에서 안정된 자세로 워크를 반송할 수 있는 워크 반송 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 테이블 베이스와, 테이블 베이스상에 회전 가능하게 배치되고, 외주부에 복수의 워크 수납 구멍이 마련된 반송 테이블과, 반송 테이블에 분리 공급부를 통해 연결되고, 반송 테이블의 워크 수납 구멍 내에 워크를 공급하는 리니어 피더를 구비하며, 리니어 피더의 상면은 피더 커버에 의해 덮이고, 분리 공급부 및 분리 공급부 내에 위치하는 워크 수납 구멍의 상면은 공급부 커버에 의해 덮이며, 분리 공급부 내에 위치하는 워크 수납 구멍 이외의 워크 수납 구멍의 상면은 테이블 커버에 의해 덮여 있어, 테이블 커버 중 공급부 커버에 인접하는 부분에, 테이퍼부를 설치함과 함께, 테이퍼부의 천장 높이는 공급부 커버에 인접하는 테이퍼 시점(始點)으로부터, 반송 테이블의 반송 방향을 향하여 테이퍼 종점까지 서서히 낮아지고 있어, 테이퍼부의 테이퍼 종점에 있어서의 천장 높이는, 피더 커버 및 공급부 커버의 천장 높이보다 낮은 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치이다.
본 발명은, 테이블 커버의 테이퍼 시점에 있어서의 천장 높이는 피더 커버 및 공급부 커버의 천장 높이보다 높은 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치이다.
본 발명은 피더 커버 및 공급부 커버의 천장 높이는, 서로 동일해져 있는 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치이다.
본 발명은 테이블 커버 중 테이퍼부 이외의 부분의 천장 높이는, 테이퍼 종점에 있어서의 천장 높이와 동일해져 있는 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치이다.
본 발명은, 워크는 직방체 형상으로 되어 있고, 리니어 피더 내에 위치하는 워크의 전방면 및 후방면 중, 적어도 한쪽으로부터, 워크 저면(底面) 또는 워크 상면과 동일면에 위치하는 전극이 돌출해 있는 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치이다.
이상과 같이 본 발명에 의하면, 테이블 커버 중 공급부 커버에 인접하는 부분에, 테이퍼 시점으로부터 테이퍼 종점까지 천장 높이가 낮아지는 테이퍼부를 설치했기 때문에, 이 테이퍼부에 있어서 리니어 피더로부터 분리 공급부를 통해 워크 수납 구멍 내에 경사진 자세로 공급된 워크를 반송할 때에, 그 자세를 용이하고 또한 확실하게 수정할 수 있다.
도 1은 본 발명을 적용한 워크 반송 장치의 평면도.
도 2는 워크를 나타내는 사시도.
도 3은 도 1에 나타내는 영역 S1의 확대도.
도 4는 도 3에 나타내는 영역 S2의 확대 투시도.
도 5는 도 3에서의 M방향 투시도.
도 6의 (a), (b)는 워크 수납 구멍을 나타내는 사시도.
도 7은 도 8에서의 F-F'선 단면도.
도 8은 도 3에 나타내는 영역 S3의 확대도.
도 9는 도 8에서의 L방향 투시도.
도 10은 도 9와 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 11은 도 9와 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 12는 도 9와 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 13은 도 9와 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 14는 도 9와 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 15는 도 7과 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 16은 도 7과 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 17은 도 7과 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 18은 도 7과 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 19는 도 7과 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 20은 도 7과 같은 방향에서 본 본 발명에 의한 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 21은 도 1에서의 G-G'선 단면도.
도 22는 도 1에서의 H-H'선 단면도로 제1 검사부의 작용을 나타내는 도면.
도 23은 도 1에서의 H-H'선 단면도로 제1 검사부의 작용을 나타내는 도면.
도 24는 도 9와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 25는 도 9와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 26은 도 9와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 27은 도 9와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 28은 도 5와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 29는 도 5와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 30은 도 7과 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 31은 도 7과 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 32는 도 7과 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 33은 도 7과 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 34는 도 7과 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 35는 도 7과 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 36은 도 9와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 37은 도 9와 같은 방향에서 본 비교예로서의 워크 반송 장치의 동작 설명도.
도 38은 비교예로서의 워크 반송 장치의 확대 평면도.
도 39는 도 38에 나타내는 영역 S3의 확대도.
도 40은 도 39에서의 L방향 투시도.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태에 대해서 설명한다.
도 1 내지 도 23에 나타내는 바와 같이, 워크 반송 장치는 테이블 베이스(1)와, 테이블 베이스(1)상에 회전 가능하게 배치되고 외주부에 복수의 워크 수납 구멍(3)이 마련된 반송 테이블(2)과, 반송 테이블(2)에 분리 공급부(7)를 통해 연결되고, 반송 테이블(2)의 워크 수납 구멍(3) 내에 워크(W)를 공급하는 리니어 피더(6)를 구비하고 있다. 이 중, 리니어 피더(6)의 상면은 피더 커버(6x)에 의해 덮여 있으며, 분리 공급부(7) 및 분리 공급부(7) 내에 위치하는 워크 수납 구멍(3)의 상면은 공급부 커버(7x)에 의해 덮여 있다. 또한 분리 공급부(7) 내에 위치하는 워크 수납 구멍(3) 이외의 워크 수납 구멍(3)의 상면은, 테이블 커버(5)에 의해 덮여 있다.
도 1에 나타내는 바와 같이, 반송 테이블(2)은 상술한 바와 같이 도시하지 않은 구동 기구에 의해 회전하고, 반송 테이블(2)의 외측에는, 도시되지 않은 진동 기구에 의해 진동하여 워크를 일렬 상태로 반송하는 리니어 피더(6)가 반송 테이블(2)의 외측 가장자리를 향하여 수평으로 설치되어 있다. 리니어 피더(6)의 종단부는 워크 수납 구멍(3)의 개구부와 대향해 있으며, 리니어 피더(6)의 종단부에는 상술한 분리 공급부(7)가 설치되고, 이 분리 공급부(7)에 의해, 워크를 1개씩 분리하여 워크 수납 구멍(3)에 공급한다. 또한, 반송 테이블(2)의 외주부에는, 간헐 회전 방향(화살표 A)을 따라 제1 검사부(8), 제2 검사부(9), 배출부(10)가 이 순으로 설치되어 있다.
또한 상술한 대로, 리니어 피더(6)의 상면은 피더 커버(6x)에 의해 덮이고, 분리 공급부(7)의 상면은 공급부 커버(7x)에 의해 덮이며, 또한 워크 수납 구멍(3)의 상면은 테이블 커버(5)에 의해 덮여 있다. 이 때문에, 워크(W)는 상면측으로부터 바로 볼 수는 없지만, 도 3에서는 리니어 피더(6) 및 워크 수납 구멍(3) 내의 워크(W)에 해칭(hatching)을 부여해서, 투시도로서 표시하고 있다.
다음으로 워크(W)에 대해서 설명한다. 워크(W)의 사시도를 도 2에 나타낸다. 워크(W)는 발광 다이오드(LED)로 이루어지고, 상면에 발광면(Ws)을 갖는 직방체 형상인 본체(Wx)와, 본체(Wx)로부터 길이 방향의 전방 및 후방에 돌출하는 리드 단자(Wa, Wb)를 갖고 있다.
예를 들면 워크(W)가 리니어 피더(6) 내에 위치했을 경우, 리드 단자(Wb)는 본체(Wx)의 전방면(Wd)으로부터 돌출해 있으며, 리드 단자(Wb)의 저면은 본체(Wx)의 저면에 일치하고, 리드 단자(Wa)는 본체(Wx)의 후방면(Wc)으로부터 돌출해 있으며, 리드 단자(Wa)의 저면은 본체(Wx)의 저면에 일치한다.
리드 단자(Wa 및 Wb)는 전극으로, 후술하는 프로브(Pa 및 Pb)가 각각 리드 단자(Wa 및 Wb)에 맞닿아, 워크(W)의 전기적 특성을 측정한다.
시판되고 있는 LED의 예로서, 본체(Wx)의 세로(X)가 3㎜, 가로(Y)가 5㎜, 높이(Z)가 1㎜, 리드 단자(Wa 및 Wb)의 돌출부의 길이(j)가 0.3㎜, 높이(k)가 0.25㎜인 것이 있다. 도 4에 나타내는 바와 같이 상술한 워크(W)는, 발광면(Ws)을 위로 향하여 리니어 피더(6) 내를 화살표 B의 방향으로 길이 방향을 향하여 반송된다.
도 8에서 워크(W)가 통과하는 개소에 해칭을 부여하고 있다. 리니어 피더(6) 내에서, 리니어 피더의 바닥면(6a)은 도시되지 않은 진동 기구의 작용에 의해 수직 방향으로 진동하고, 워크(W)를 반송한다. 리니어 피더(6)의 종단부에 위치하는 분리 공급부(7) 내의 바닥면, 및 워크 수납 구멍(3)의 바닥면은, 모두 테이블 베이스(1)의 상면이 된다.
또한 도 7에 나타내는 바와 같이, 리니어 피더(6)의 상면은 피더 커버(6x)에 의해 덮여 있다. 또한, 리니어 피더(6)의 바닥면(6a)은 피더 베이스(6y)의 상면이 되며, 이 피더 베이스(6y)는 도시되지 않은 진동 기구의 작용에 의해, 화살표 V와 같이 수직 방향으로 진동한다. 또한 상술한 바와 같이, 리니어 피더(6)의 종단부에 위치하는 분리 공급부(7)의 상면 및 워크 수납 구멍(3)의 상면은 공급부 커버(7x)에 의해 덮여 있다. 또한, 분리 공급부(7)의 바닥면 및 워크 수납 구멍(3)의 바닥면은 모두 테이블 베이스(1)의 상면(1a)이 되며, 분리 공급부(7)에 있어서, 테이블 베이스(1)의 워크 수납 구멍(3)의 바로 가까운 부분에는, 수직 방향으로 진퇴 가능하게 세퍼레이션 핀(12)이 설치되어 있다.
세퍼레이션 핀(12)은 도시되지 않은 구동 기구의 작용에 의해, 화살표 D 및 E의 방향으로 진퇴한다. 반송 테이블(2)의 중심측에 가까운 워크 수납 구멍(3)의 바닥면이 되는 테이블 베이스(1) 및 상면의 공급부 커버(7x)에는, 워크 검출부(13a 및 13b)가 설치되어 있어 있다.
워크 검출부(13a)는 워크 수납 구멍(3) 내를 향하여, 도시되지 않은 광원으로부터 광을 발광하고, 워크 검출부(13b)가 이 광을 검출한다. 이것에 의해, 워크 수납 구멍(3) 내에 워크(W)가 수납되었는지의 여부를 검출한다.
또한 분리 공급부(7)에 있어서, 반송 테이블(2)의 하면의 테이블 베이스(1)에는, 도시되지 않은 진공원에 연통(連通)하는 진공 통로(11)가 설치되어 있다. 진공 통로(11)는 반송 테이블(2)을 경유하여, 워크 수납 구멍(3)의 벽면에 마련된 흡인 구멍(11a)에 연통해 있으며, 워크 수납 구멍(3) 내의 워크(W)는 진공원의 작용에 의해 화살표 C의 방향으로 흡인 유지된다.
다음으로 워크 수납 구멍(3)의 사시도를 도 6의 (a), (b)에 나타낸다. 도 6의 (a)는 워크(W)가 수납되어 있지 않은 상태를 나타내는 도면으로, 워크 수납 구멍(3)이 분리 공급부(7)에 정지해 있을 때에는, 흡인 구멍(11a)으로부터 화살표 C의 방향으로 진공 흡인이 행해지고 있다. 도 6의 (b)는 분리 공급부(7)에 있어서 워크(W)가 수납된 상태를 나타내는 도면이다. 워크(W)는 길이 방향 즉 리드 단자(Wb)가 돌출해 있는 방향을 반송 테이블(2)의 중심 방향을 향하여 진공 흡인되어 있다.
리니어 피더(6) 내에서 워크(W)가 반송되는 모습을 도 5에 나타낸다. 워크(W)는 리드 단자(Wa 및 Wb)를 하측으로 하여 일렬로 리니어 피더 바닥면(6a)에 배치되고, 피더 베이스(6y)의 화살표 V방향의 진동에 의해 화살표 B의 방향으로 반송된다.
이때, 화살표 V방향의 진동에 의해 워크(W)가 피더 베이스(6y)의 상면(6a)으로부터 피더 커버(6x)의 하면(6b)을 향하여 도약하기 때문에, 리니어 피더의 바닥면(피더 베이스(6y)의 상면(6a))에서 피더 커버(6x)의 하면(6b)까지의 피더 커버(6x)의 천장 높이는, 워크의 높이(Z)에 도약하는 최대의 높이를 가산한 값보다 약간 큰 값(h1)으로 설정되어 있다.
워크(W)의 반송 속도를 빠르게 하기 위해서는 진동의 진폭을 크게 할 필요가 있으며, 진동의 진폭이 커지면 워크가 도약하는 최대 높이는 커진다. 따라서, 반송 속도가 빨라짐에 따라 피더 커버(6x)의 천장 높이(h1)는 높아진다. 일례로서, 도 2에서의 높이(Z)＝1㎜의 워크(W)를, 매분 900개의 속도로 반송하여 워크 수납 구멍(3)에 수납하기 위해서는, 피더 커버(6x)의 천장 높이(h1)는 1.4㎜가 된다.
도 7에서 테이블 베이스(1)는 진동하고 있지 않지만, 워크(W)는 피더 베이스(6y)의 진동에 의해 도약하면서 리니어 피더(6)로부터 분리 공급부(7)로 이재(移載)된다. 이 때문에, 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)은, 피더 커버(6x)의 하면(6b)과 동일 수평면상에 있다.
한편, 반송 테이블(2)의 두께 즉 워크 수납 구멍(3)의 높이(u)는, 도 2에서의 워크(W)의 높이(Z)보다 근소하게 큰 값으로 되어 있다. 일례로서, 상기의 높이(Z)＝1㎜의 워크(W)를 수납하는 워크 수납 구멍(3)의 높이(u)는 1.1㎜이다. 여기에서, 공급부 커버(7x)는 반송 테이블(2)의 일부의 상면(2a)을 덮고 있지만, 워크 수납 구멍(3) 내의 워크(W)에 작용하는 진공 흡인의 누설을 극력 억제할 필요가 있기 때문에, 공급부 커버(7x)의 하면(7a2)과 반송 테이블(2)의 상면(2a)과의 틈은 매우 작게 설정되어 있다. 일례로서, 상기와 같은 워크 수납 구멍(3)의 높이(반송 테이블(2)의 두께)(u)＝1.1㎜의 경우, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 공급부 커버(7x)의 하면(7a2)까지의 천장 높이(h2)는 1.2㎜가 된다. 즉, 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)과 하면(7a2)의 사이에는 단차(段差)가 있다.
상술한 바와 같이 분리 공급부(7) 및 분리 공급부(7) 내에 위치하는 워크 수납 구멍(3)은 공급부 커버(7x)에 의해 덮여 있다. 또한 분리 공급부(7) 이외의 워크 수납 구멍(3)을 포함하는 반송 테이블(2)의 상면은 테이블 커버(5)에 의해 덮여 있으며, 테이블 커버(5)의 하면(5a)은 공급부 커버(7x)의 가장 낮아지는 하면(7a2)과 동일 수평면상에 있다. 즉, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이블 커버(5)의 하면(5a)까지의 천장 높이는 h2로 되어 있다.
여기에서 피더 커버(6x)의 천장 높이는, 상술한 바와 같이 피더 베이스(6y)의 상면(6a)으로부터 피더 커버(6x)의 하면(6b)까지의 높이를 말하고, 공급부 커버(7x)의 천장 높이는 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)까지의 높이를 말하며, 테이블 커버(5)의 천장 높이는 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이블 커버(5)의 하면(5a)까지의 높이를 말한다.
그런데 도 9 내지 도 14에 나타내는 바와 같이, 테이블 커버(5) 중, 공급부 커버(7x)에 인접하는 부분에는, 테이블 커버(5) 내면에 테이퍼가 형성된 테이퍼부(5b)가 설치되어 있다. 이 경우, 테이블 커버(5)의 천장 높이는 이 테이퍼부(5b)에 있어서, 서서히 낮아진다.
즉 테이블 커버(5)의 천장 높이는, 테이퍼부(5b)에 있어서 공급부 커버(7x)에 인접하는 테이퍼 시점(P)으로부터 반송 테이블(2)의 반송 방향을 향하여 테이퍼 종점(Q)까지 서서히 낮아지고 있어, 테이블 커버(5)의 테이퍼 종점(Q)에 있어서의 천장 높이는, 테이퍼부(5b) 이외의 테이블 커버(5)의 천장 높이에 일치한다.
또한 테이퍼부(5b)의 테이퍼의 형상은, 도 9에 나타내는 바와 같이, 테이블 커버(5)가 공급부 커버(7x)에 인접하는 테이퍼 시점(P)에 있어서, 테이블 커버(5)의 천장 높이, 즉 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이퍼 시점(P)까지의 높이(hp)는 공급부 커버(7x)의 천장 높이(h1) 이상이며, 테이퍼 시점(P)으로부터 반송 테이블(2)의 회전 방향(화살표 A)을 따라 점차 테이블 커버(5)의 천장 높이가 낮아져, 테이퍼 종점(Q)에 있어서 테이블 커버(5)의 높이는, 상술한 바와 같이 테이블 커버(5)의 테이퍼부(5b) 이외의 부분의 천장 높이(h2)에 일치한다.
다음으로 이와 같은 구성으로 이루어지는 본 실시형태의 작용에 대해서 도 15 내지 도 23을 이용하여 설명한다. 도 15에서 워크(W1)는 분리 공급부(7) 내에 정지해 있는 워크 수납 구멍(3)에 수납되어 있으며, 진공 통로(11)로부터의 화살표 C방향의 진공 흡인에 의해 흡착되어 있다. 이때, 워크(W1)의 후속이 되는 워크(W2), 더욱 후속이 되는 워크(W3)가 피더 베이스(6y)의 화살표 V방향의 진동에 의해 화살표 B의 방향으로 반송되고 있기 때문에, 화살표 B의 방향으로 밀려 있지만, 워크(W2)는 분리 공급부(7) 내에서 워크 수납 구멍(3)의 바로 가까이에 돌출해 있는 세퍼레이션 핀(12)으로 저지되어 정지해 있다.
이때, 워크 검출부(13a)로부터 워크 수납 구멍(3) 내를 향하여 발광된 광은 워크(W1)에 의해 차단되기 때문에, 워크 검출부(13b)는 광을 검출하지 않고, 워크 수납 구멍(3) 내에 워크(W1)가 수납된 것을 검출한다. 그리고, 이 검출 정보는 도시되지 않은 제어부에 송신되고, 제어부는 반송 테이블(2)을 간헐 회전시켜, 워크(W)를 반송한다.
이 모습을 도 16에 나타낸다. 도 16에서, 도 15에서 워크 수납 구멍(3)이 정지해 있던 위치에는, 반송 테이블(2)의 워크 수납 구멍(3)이 없는 외주부가 도착해 있다.
이와 같이 반송 테이블(2)이 간헐 회전하면, 도 17과 같이 빈 워크 수납 구멍(3)이 분리 공급부(7) 내에 도달하여 정지한다. 그러면, 제어부의 작용에 의해, 세퍼레이션 핀(12)이 화살표 D의 방향으로 이동하여 퇴출한다. 그리고, 도 18에 나타내는 바와 같이 세퍼레이션 핀(12)에 의해 저지되어 정지해 있던 워크(W2)는, 화살표 C의 진공 흡인력의 작용에 의해, 워크 수납 구멍(3)을 향하여 화살표 B의 방향으로 이동한다. 그와 동시에 후속하는 워크(W3)는, 피더 베이스(6y)가 화살표 V방향으로 진동하여 후속하는 워크(W4)가 화살표 B방향으로 반송됨에 따라서, 워크(W4)에 밀려 분리 공급부(7) 내에 도달한다.
도 17 및 도 18에서는, 워크 검출부(13a)로부터 워크 수납 구멍(3) 내를 향하여 발광된 광은 워크 검출부(13b)에 의해 검출되므로, 워크 검출부(13b)는 워크 수납 구멍(3) 내가 빈 것을 검출한다. 그리고, 도 19에 나타내는 바와 같이, 워크(W2)가 워크 수납 구멍(3) 내에 수납되면, 워크 검출부(13a)로부터 워크 수납 구멍(3) 내를 향하여 발광된 광은 워크(W2)에 의해 차단되기 때문에, 워크 검출부(13b)는 워크 수납 구멍(3) 내에 워크(W2)가 수납된 것을 검출한다. 그리고, 이 검출 정보가 제어부에 송신되어, 제어부의 작용에 의해 세퍼레이션 핀(12)이 화살표 E의 방향으로 이동하여 진출하고, 도 20에 나타내는 바와 같이 워크(W3)를 저지한다. 이 시점에서, 워크(W2)는 워크 수납 구멍(3) 내에 완전히 수납되어 있어, 도 15의 상태와 마찬가지가 된다.
도 16의 상태에서, 워크(W)가 반송되는 모습을 도 1의 G-G'선 단면도로서 도 21에 나타낸다. 반송 테이블(2)의 간헐 회전에 의해 반송되는 워크(W)에는, 회전에 따르는 원심력이 작용한다. 그때에 도 21에 나타내는 바와 같이, 워크(W)는 테이블 커버(5)의 내벽(5x)에 가압되어 반송되고, 워크 수납 구멍(3)으로부터 외측으로 튀어나오지 않게 되어 있다. 또한 상술한 바와 같이, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이블 커버(5)의 하면(5a)까지의 천장 높이는, 반송 테이블(2)의 두께(u)보다 근소하게 큰 h2이다.
도 1에서 워크(W)가 제1 검사부(8)에 도달했을 때의 모습을, H-H'선 단면도로서 도 22 및 도 23에 나타낸다. 도 22에 나타내는 바와 같이, 제1 검사부(8)는 반송 테이블(2)의 외측 및 상부를 덮는 제1 검사부 커버(81)를 구비하고 있다. 제1 검사부 커버(81)의 내벽(81x)은, 도 21에 나타내는 테이블 커버(5)의 내벽(5x)과 동일 평면에 있고, 제1 검사부 커버(81)의 하면(81a)은 도 21에 나타내는 테이블 커버(5)의 하면(5a)과 동일 수평면상에 있다. 즉, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 제1 검사부 커버(81)의 하면(81a)까지의 천장 높이는, 반송 테이블(2)의 두께(u)보다 근소하게 큰 h2이다. 그리고, 도 21에 나타내는 바와 같이 반송 테이블(2)의 회전 중에 테이블 커버(5)의 내벽(5x)에 가압되어 반송된 워크(W)는, 제1 검사부(8)에 도달하여 반송 테이블(2)이 정지하면, 도 22에 나타내는 바와 같이, 제1 검사부 커버(81)의 내벽(81x)에 접촉한 상태가 된다.
이때, 리드 단자(Wa 및 Wb)의 바로 아래 위치의 테이블 베이스(1) 내에는, 수직 방향으로 진퇴 가능한 프로브(Pa 및 Pb)가 설치되어 있으며, 도시되지 않은 제어부의 작용에 의해, 리드 단자(Wa 및 Wb)를 향하여 진출한다. 그리고, 도 23에 나타내는 바와 같이, 프로브(Pa 및 Pb)는 리드 단자(Wa 및 Wb)에 맞닿은 상태에서 워크(W)를 밀어올려, 워크(W)의 상면이 제1 검사부 커버(81)의 하면(81a)에 맞닿은 상태로 정지한다. 프로브(Pa 및 Pb)는 도시되지 않은 측정기에 접속되어, 워크(W)의 전기적 특성을 측정한 후, 프로브(Pa 및 Pb)는 퇴출하여 도 22의 상태가 된다. 그리고, 제어부의 작용에 의해 반송 테이블(2)이 간헐 회전하고, 워크(W)는 반송된다.
도 1에 나타내는 제2 검사부(9)에 워크(W)가 도달하면, 제1 검사부(8)와는 다른 검사 항목에 대해서 검사가 실시된다. 검사 항목은 제1 검사부(8)와 마찬가지의 프로브를 이용한 전기적 특성 검사인 경우도 있고, 카메라 등의 촬영 수단을 이용한 외관 검사인 경우도 있다. 제2 검사부(9)에 있어서의 검사를 종료한 워크(W)는 배출부(10)에 도달하고, 도시되지 않은 배출 수단에 의해 워크 수납 구멍(3)으로부터 배출된다.
다음으로 도 9 내지 도 14에 의해, 리니어 피더(6)로부터 분리 공급부(7)를 통해 반송 테이블(2)의 워크 수납 구멍(3) 내에 공급되는 워크(W)의 거동에 대해서 상술한다.
워크(W2)는, 도 7에서 화살표 C의 방향으로 진공 흡인될 때에, 후방면(Wc)의 상변(WL)이 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)에 맞닿은 상태로 워크 수납 구멍(3) 내에 수납될 경우가 있다(도 35 참조). 그와 같은 상태에서, 도 10의 상태로부터 제어부의 작용에 의해, 반송 테이블(2)이 화살표 A의 방향으로 간헐 회전을 개시하면 도 11의 상태가 된다. 이 상태에서 반송 테이블(2)이 회전을 더 계속하면, 도 12에 나타내는 바와 같이, 워크(W2)는 테이블 커버(5)의 하방으로 이동한다. 이때, 테이블 커버(5)에는 테이퍼부(5b)가 설치되어 있고, 게다가 상술한 바와 같이, 공급부 커버(7x)에 인접하는 개소, 즉 테이퍼부(5b)의 테이퍼 시점(P)의 높이가 공급부 커버(7x)의 하면(7a1) 이상이기 때문에, 워크(W2)의 후방면(Wc)의 상변(WL)은, 반송 테이블(2)의 회전에 따라서 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)으로부터 테이퍼부(5b)로 원활하게 옮겨가, 테이퍼부(5b)에 맞닿은 상태가 된다.
그리고, 테이퍼부(5b)의 작용에 의해, 워크(W2)는 후방면(Wc)의 상변(WL)이 도 13과 같이 점차 그 높이가 낮아져, 테이퍼부(5)의 테이퍼 종점(Q)에 달한다. 그 후 도 14와 같이 , 테이퍼부(5b)가 없어진 테이블 커버(5) 하방에 있어서, 워크(W2)는 수평으로 수납된 상태가 되어 워크(W2)의 자세가 수정된다. 이때, 도 12에 나타내는 바와 같이 워크(W2)가 공급부 커버(7x)의 하방으로부터 테이블 커버(5)의 하방으로 이동한 상태에 있어서, 워크(W2)가 도 7에 나타내는 흡인 구멍(11a)으로부터 떨어지기 때문에, 도 7의 화살표 C방향의 진공 흡인력이 워크(W2)에 미치는 힘이 급격히 감소한다. 그 때문에, 워크(W2)의 후방면(Wc)의 상변(WL)을 상방에 가압하는 힘이 감소하여, 워크(W2)의 후방면(Wc)의 상변(WL)은 용이하게 테이퍼부(5b)의 작용에 의해 높이가 낮아진다.
다음으로 테이퍼부(5b) 이외의 낮은 천장 높이(h2)를 갖는 테이블 커버(5)의 부분의 하방에 들어가 반송된 워크(W2)는, 그대로 도 1에서의 제1 검사부(8)에 도달하고, 도 22 및 도 23에 나타내는 바와 같이, 프로브(Pa 및 Pb)가 리드 단자(Wa 및 Wb)에 맞닿아 전기적 특성의 검사가 행해진다. 이때 제1 검사부 커버(81)의 천장 높이는, 공급부 커버(7x)의 천장 높이(h1)보다 낮은 h2로 되어 있으므로, 후술하는 바와 같이 검사 속도가 저하하지 않는다.
본 실시형태에 의하면, 테이블 커버(5)의 테이퍼부(5b)에 있어서, 분리 공급부(7)에 있어서 워크 수납 구멍(3) 내에 경사진 자세로 공급된 워크(W)의 자세를 용이하고 또한 확실하게 수정할 수 있고, 또한 제1 검사부(8) 및 제2 검사부(9)에 있어서 신속하게 워크(W)에 대한 검사를 행할 수 있다.
이상의 설명에 있어서는, 제1 검사부(8), 제2 검사부(9)와 같이 2개의 검사부가 설치되고, 또한 배출부(10)가 설치되어 있지만, 검사부의 수는 2개로 한정되는 것이 아니다.
또한, 배출부(10) 대신에, 캐리어 테이프의 오목부에 워크를 삽입하는 삽입부나, 검사 결과에 의해 워크의 특성을 몇 개의 등급으로 분류하여 각 등급에 대응하는 용기에 워크를 분류 배출하는 분류 배출부를 설치해도 된다.
다음으로 본 발명의 비교예에 대해서, 도 24 내지 도 40에 의해 이하 설명한다.
이하의 비교예에서는, 도 38 내지 도 40에 나타내는 바와 같이, 분리 공급부(7) 내에 위치하는 워크 수납 구멍(3) 이외의 워크 수납 구멍(3)의 상면은, 테이퍼부를 갖지 않는 테이블 커버(50)에 의해 덮여 있고, 이 경우, 테이블 커버(50)는 분리 공급부(7)의 공급부 커버(7x)에 인접하여 설치되어 있다.
도 15에 나타내는 바와 같이, 워크(W1)가 워크 수납 구멍(3) 내에 수평으로 수납된 경우에는, 도 24 내지 도 27과 같이 반송 테이블(2)의 간헐 회전에 의해, 워크 수납 구멍(3) 내의 워크(W1)는 문제없이 반송된다. 즉, 도 15의 화살표 L방향 투시도인 도 24에서, 워크 수납 구멍(3) 내에 워크(W1)가 수납되어 있고, 이 상태를 워크 검출부(13a 및 13b)가 검출한다. 이 검출 정보가 제어부에 송신되고, 제어부는 도 25에 나타내는 바와 같이, 반송 테이블(2)을 화살표 A의 방향으로 간헐 회전시켜 워크(W1)를 반송한다. 그리고 도 26에 나타내는 바와 같이, 빈 워크 수납 구멍(3)이 분리 공급부(7)에 도달하고, 도 27과 같이 반송 테이블(2)이 정지하면, 제어부의 작용에 의해, 워크(W2)를 저지하고 있는 세퍼레이션 핀(12)이 화살표 D의 방향으로 퇴출하고, 워크(W2)는 도 15에서 화살표 C로 나타나는 진공 흡인의 작용에 의해, 워크 수납 구멍(3) 내에 수납된다(도 17 및 도 18).
여기에서, 길이 방향으로 리드 단자(Wa 및 Wb)를 갖는 워크(W)를, 진동에 의해 길이 방향으로 리니어 피더(6) 내를 반송하면, 진동시에 워크(W)가 수직 방향으로 도약하기 때문에, 인접하는 워크(W)의 리드 단자(Wa, Wb)끼리가 겹치는 경우가 있다. 그 예를 도 28 및 도 29에 나타낸다. 도 28은 선행하는 워크(W)의 리드 단자(Wa)가 후속하는 워크(W)의 리드 단자(Wb)상에 겹친 상태를 나타내고, 도 29는 선행하는 워크(W)의 리드 단자(Wa)상에 후속하는 워크(W)의 리드 단자(Wb)가 겹친 상태를 나타낸다. 이 중, 도 28의 상태로 분리 공급부(7)에 도달한 워크(W)의 동작에 대해서, 도 30 내지 도 35를 이용하여 설명한다.
도 30은 도 15에 대응하는 도면으로, 세퍼레이션 핀(12)에 의해 저지되어 정지해 있는 워크(W2)의 리드 단자(W2a)가 후속하는 워크(W3)의 리드 단자에 겹쳐 있는 상태를 나타낸다. 이 상태로 도 16에 대응하는 도 31에 나타내는 바와 같이 반송 테이블(2)이 간헐 회전하고, 도 17에 대응하는 도 32에 나타내는 바와 같이, 빈 워크 수납 구멍(3)이 분리 공급부(7) 내에 도달하여 정지한다. 이때, 제어부의 작용에 의해, 세퍼레이션 핀(12)이 화살표 D의 방향으로 이동하여 퇴출한다.
그리고, 도 18에 대응하는 도 33에 나타내는 바와 같이, 세퍼레이션 핀(12)에 의해 저지되어 정지해 있던 워크(W2)는, 화살표 C의 진공 흡인력의 작용에 의해, 워크 수납 구멍(3)을 향하여 화살표 B의 방향으로 이동한다. 그때, 워크(W2)의 이동 방향의 전방면(Wd)측의 리드 단자(W2b)가 테이블 베이스(1)의 상면(1a)에 접하고, 후방면(Wc)측의 리드 단자(W2a)가 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 이간(離間)한 상태로 이동을 개시한다. 그리고, 중력의 작용에 의해, 전방면(Wd)측의 리드 단자(W2b)와 후방면(Wc)측의 리드 단자(W2a)가 교대로 테이블 베이스(1)의 상면(1a)에 접하여 워크(W2)가 도약하면서 워크 수납 구멍(3) 내에 수납되는 경우가 있다.
즉, 도 33의 상태로부터 도 34에 나타내는 바와 같이, 워크(W)의 후방면(Wc)측의 리드 단자(W2a)가 일단 테이블 베이스(1)의 상면(1a)에 접함과 함께, 전방면(Wd)측 리드 단자(W2b)가 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 이간한 상태가 된다. 다음으로 도 35에 나타내는 바와 같이, 다시 워크(W)의 전방면(Wd)측의 리드 단자(W2b)가 테이블 베이스(1)의 상면(1a)에 접하고, 후방면(Wc)측의 리드 단자(W2a)가 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 이간한 상태로, 워크(W2)는 워크 수납 구멍(3) 내에 수납된다.
이때, 워크 수납 구멍(3)에 대한 흡인 구멍(11a)으로부터의 진공 흡인이, 테이블 베이스(1)의 경사 하방으로부터 화살표 C의 방향으로 행해지고 있기 때문에, 워크(W2)의 전방면(Wd)측의 리드 단자(W2b)가 경사 하방으로 흡인되고, 워크(W2)의 후방면(Wc)의 상변(WL)이 상방으로 가압된다. 이 때문에, 워크(W2)의 자세는, 전방면(Wd)측의 리드 단자(W2b)가 테이블 베이스(1)의 상면(1a)에 접하고, 후방면(Wc)의 상변(WL)이 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)에 맞닿은 이상한 자세로 고정되어버린다. 이 상태에서의, 도 35의 화살표 L의 방향으로부터의 투시도를 도 36에 나타낸다. 도 36에서 워크(W2)의 후방면(Wc)의 상변(WL)은 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)에 맞닿아 있다. 이 상태에서 반송 테이블(2)이 간헐 회전을 개시하면, 도 37의 상태가 된다. 도 37에서 워크(W2)를 수납한 워크 수납 구멍(3)은 공급부 커버(7x)로 덮여 있고, 도 35에 나타내는 진공 통로(11)로부터의 진공 흡인에 의해 워크(W2)는 진공 통로(11)측으로 흡인된다. 따라서, 워크(W2)의 자세는 도 36의 상태, 즉, 워크(W2)의 후방면(Wc)의 상변(WL)이 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)에 맞닿은 상태로, 반송 테이블(2)은 화살표 A의 방향으로 간헐 회전한다.
이 경우, 반송 테이블(2)의 회전 방향(도 37의 화살표 A)을 따라 공급부 커버(7x)에 인접하여 테이블 커버(50)가 설치되어 있으며, 상술한 바와 같이, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)까지의 천장 높이(h1)에 대하여, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이블 커버(5O)의 하면(50a)까지의 천장 높이(h2)는 낮아져 있다.
따라서, 도 37에서 워크 수납 구멍(3) 내의 워크(W2)는, 공급부 커버(7x)와 테이블 커버(50)의 경계면인 50x에 충돌하여, 워크(W2) 혹은 워크 수납 구멍(3)이 손상한다.
이를 방지하기 위해서는, 테이블 커버(50)의 하면(50a)을 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)과 동일 수평면상으로 가지고 와서, 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이블 커버(50)의 하면(50a)까지의 천장 높이를 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 공급부 커버(7x)의 하면(7a1)까지의 천장 높이(h1)와 동일하게 하는 것도 생각할 수 있다.
그러나, 이 경우에는 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 테이블 커버(50)의 하면(50a)까지의 천장 높이가 h2보다 높은 h1이 된다. 마찬가지로 테이블 베이스(1)의 상면(1a)으로부터 도 22 및 도 23에 나타내는 제1 검사부(8)의 제1 검사부 커버(81)의 하면(81a)까지의 천장 높이도 h2보다 큰 h1로 변화한다.
이때, 제1 검사부(8)에 있어서, 프로브(Pa 및 Pb)가 워크(W)의 리드 단자(Wa 및 Wb)를 향하여 진출하고, 워크(W)를 제1 검사부 커버(81)의 하면(81a)에 맞닿게 하여 워크(W)의 전기적 특성을 검사하고, 다음으로 프로브(Pa 및 Pb)가 퇴출할 때에, 프로브(Pa 및 Pb)의 진출 및 퇴출하는 소요 시간이 길어진다(도 22 및 도 23 참조). 즉, 검사 속도가 저하하여, 워크(W)의 단위 시간당 검사 개수가 감소한다.
일례로서, 상술한 도 2에서의 워크(W)의 높이(Z)＝1.0㎜의 경우, 천장 높이(h2)＝1.2㎜, 천장 높이(h1)＝1.4㎜로 하면, 천장 높이(h2 및 h1)에 대응하는 소요 시간은 각각 5㎳ 및 8㎳가 된다. 이와 같이, 천장 높이가 h2에서 h1로 커짐으로써 소요 시간이 3㎳ 증가하고, 이것이 원인으로 워크(W)의 매분의 검사 개수가 예를 들면 40개 감소한다. 이는, 상술한 바와 같이, 높이(Z)＝1.0㎜의 워크(W)를 매분 900개의 속도로 반송해도, 매분의 검사 개수가 40개 감소하는 것을 의미한다. 근래, 워크(W)의 반송 및 검사의 고속화가 요구되어지게 되어, 이와 같은 검사 개수의 감소는 성능의 저하로서 문제가 된다.
이에 대하여 본원 발명에 의하면, 테이블 커버(5)의 테이퍼부(5b)에 있어서 분리 공급부(7)로부터 워크 수납 구멍(3) 내에 공급되는 워크(W)의 자세를 용이하고 또한 확실하게 수정할 수 있다. 또한 테이블 커버(5) 중 테이퍼부(5b) 이외의 부분의 천장 높이(h2)는, 피더 커버(6x) 및 공급부 커버(7x)의 천장 높이(h1)에 비하여 낮아져 있으므로, 제1 검사부 커버(81)의 하면(81a)까지의 천장 높이(h2)가 낮아진다. 이 때문에, 제1 검사부(8)에 있어서 프로브(Pa, Pb)의 진출 및 퇴출의 소요 시간을 단축시킬 수 있어, 워크(W)의 검사 속도가 저하하지 않는다.
1 : 테이블 베이스
2 : 반송 테이블
3 : 워크 수납 구멍
5 : 테이블 커버
5b : 테이퍼부
6 : 리니어 피더
6x : 피더 커버
6y : 피더 베이스
7 : 분리 공급부
7x : 공급부 커버
8 : 제1 검사부
81 : 제1 검사부 커버
9 : 제2 검사부
10 : 배출부
11 : 진공 통로
1la : 흡인 구멍
12 : 세퍼레이션 핀
13a, 13b : 워크 검출부
W : 워크
P : 테이퍼 시점
Q : 테이퍼 종점

Claims (5)

  1. 테이블 베이스와,
    테이블 베이스상에 회전 가능하게 배치되고, 외주부(外周部)에 복수의 워크 수납 구멍이 마련된 반송 테이블과,
    반송 테이블에 분리 공급부를 통해 연결되고, 반송 테이블의 워크 수납 구멍 내에 워크를 공급하는 리니어 피더(linear feeder)를 구비하고,
    리니어 피더의 상면은 피더 커버에 의해 덮이고, 분리 공급부 및 분리 공급부 내에 위치하는 워크 수납 구멍의 상면은 공급부 커버에 의해 덮이며, 분리 공급부 내에 위치하는 워크 수납 구멍 이외의 워크 수납 구멍의 상면은 테이블 커버에 의해 덮여 있고,
    테이블 커버 중 공급부 커버에 인접하는 부분에, 테이퍼부를 설치함과 함께, 테이퍼부의 천장 높이는 공급부 커버에 인접하는 테이퍼 시점(始點)으로부터, 반송 테이블의 반송 방향을 향하여 테이퍼 종점까지 서서히 낮아지고 있어, 테이퍼부의 테이퍼 종점에 있어서의 천장 높이는, 피더 커버 및 공급부 커버의 천장 높이보다 낮은 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    테이블 커버의 테이퍼 시점에 있어서의 천장 높이는, 피더 커버 및 공급부 커버의 천장 높이보다 높은 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    피더 커버 및 공급부 커버의 천장 높이는, 서로 동일해져 있는 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    테이블 커버 중 테이퍼부 이외의 부분의 천장 높이는, 테이퍼 종점에 있어서의 천장 높이와 동일해져 있는 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    워크는 직방체 형상으로 되어 있고, 리니어 피더 내에 위치하는 워크의 전방면 및 후방면 중, 적어도 한쪽으로부터, 워크 저면(底面) 또는 워크 상면과 동일면에 위치하는 전극이 돌출해 있는 것을 특징으로 하는 워크 반송 장치.
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