KR101241130B1 - Auto probe inspection appratus for inspecting LCD panel - Google Patents
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Abstract
본 발명은 액정패널을 검사하는 워크 테이블에 편광판의 고도조절장치를 설치하여 사용자가 액정패널과 편광판의 거리를 조절하면서 액정패널의 검사를 수행할 수 있는 액정패널의 오토 프로브 장치에 관한 것으로, 액정패널을 검사하기 위한 워크 테이블; 상기 액정패널의 상에 편광판을 지지하는 편광판 홀더; 상기 편광판 홀더와 연결되며, 상기 워크 테이블의 일측에 고정되어 있고, 상기 편광판을 상기 액정패널과 접근 및 이격시키는 고도조절장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an auto-probe device of a liquid crystal panel in which an altitude adjusting device of a polarizing plate is installed on a work table for inspecting a liquid crystal panel so that a user can perform the inspection of the liquid crystal panel while adjusting the distance between the liquid crystal panel and the polarizing plate. Work table for inspecting panels; A polarizer holder for supporting a polarizer on the liquid crystal panel; And an altitude adjusting device connected to the polarizing plate holder and fixed to one side of the work table and approaching and separating the polarizing plate from the liquid crystal panel.
오토 프로브, 액정패널, 편광판, 누름 검사, 고도조절장치 Auto probe, liquid crystal panel, polarizer, push test, altitude controller
Description
도 1은 종래기술에 따른 액정패널을 검사하는 오토 프로브 장치의 개략도1 is a schematic diagram of an auto probe device for inspecting a liquid crystal panel according to the related art.
도 2는 종래기술에 따른 오토 프로브 장치의 워크 테이블의 상세도Figure 2 is a detailed view of the work table of the auto probe device according to the prior art
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 고도조절장치가 설치된 워크 테이블의 개략도3 is a schematic diagram of a work table equipped with an altitude adjusting device according to a first embodiment of the present invention;
도 4a 내지는 도 4e는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 고도조절장치의 구성품의 개별도4A to 4E are individual views of the components of the altitude adjusting device according to the first embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명에 제 1 실시예에 따른 고도조절장치의 접철 상태도이다.5 is a folding state diagram of the altitude control apparatus according to the first embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 워크 테이블에 설치되는 고도조절장치의 상세도6 is a detailed view of the altitude control device installed in the work table according to the second embodiment of the present invention;
도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 고도조절장치의 연결대 고정장치의 상세도7 is a detailed view of a connecting rod fixing device of the altitude control device according to a second embodiment of the present invention;
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 고도조절장치의 접철 상태도8 is a folded state diagram of the altitude control apparatus according to a second embodiment of the present invention
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS
110 : 워크 테이블 111 : 액정패널110: work table 111: liquid crystal panel
112 : 유닛블럭 113 : 편광판 홀더112: unit block 113: polarizer holder
114 : 고도조절장치 116 : 견착대114: altitude control device 116: shoulder strap
118 : 다단연장장치 123 : 댐퍼118: multi-stage extension device 123: damper
126 : 연결대 고정장치 150 : 이동 홀더126: connecting rod fixing device 150: moving holder
본 발명은 액정패널의 오토 프로브 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 액정패널을 검사하는 워크 테이블에 편광판의 고도조절장치를 설치하여 사용자가 액정패널과 편광판의 거리를 조절하면서 액정패널의 검사를 수행할 수 있는 액정패널의 오토 프로브 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an auto-probe device of a liquid crystal panel, and more particularly, by installing an altitude adjusting device of a polarizing plate on a work table for inspecting a liquid crystal panel, the user performs the inspection of the liquid crystal panel while adjusting the distance between the liquid crystal panel and the polarizing plate. It is related with the auto probe apparatus of the liquid crystal panel which can be performed.
액정패널의 셀을 검사하기 위해, 오토 프로브가 사용되며, 일반적으로 액정패널은 박막 트랜지스터의 공정, 셀 공정, 및 모듈공정으로 나누어진다. 박막 트랜지스터의 공정은 유리 기판 상에 박막의 증착 및 식각을 반복하여 다수의 트랜지스터를 배열하여 제작하는 공정으로서, 박막의 증착은 진공장비의 내부에 증착에 필요한 가스를 주입하여 압력과 기판 온도가 설정되면 RF(Radio Frequency)전력을 이용하여 주입된 가스를 플라즈마 상태로 분해하여 기판 위에 증착하는 화학기상증착법(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition), 또는 RF 전력이나 DC 전력에 의 해 형성된 플라즈마 내에서 높은 에너지를 갖고 있는 기체이온이 타겟표면과 충돌하여 증착하고자 하는 타겟 입자들이 튀어나와 기판에 증착되는 스퍼터링(Sputtering) 방법을 사용하고, 박막을 식각하여 패터닝하는 공정은 감광성 화학약품(Photo resist)이 빛을 받으면 화학반응을 일으켜서 성질이 변화하는 원리를 이용하여 얻고자 하는 패턴의 마스크를 사용하여 빛을 선택적으로 감광막에 조사함으로써 마스크의 패턴과 동일한 패턴을 형성시키는 현상 과정과 기체 플라즈마로부터 만들어진 원자나 자유기(radical)와 같은 반응성 물질과 기판에 증착된 물질이 반응하여 휘발성 물질로 변하는 현상을 이용한 식각 과정으로 이루어진다.In order to inspect the cells of the liquid crystal panel, an auto probe is used, and in general, the liquid crystal panel is divided into a thin film transistor process, a cell process, and a module process. The thin film transistor process is a process of arranging a plurality of transistors by repeating the deposition and etching of a thin film on a glass substrate. In the deposition of a thin film, a pressure and a substrate temperature are set by injecting a gas required for deposition into a vacuum device. In this case, plasma enhanced chemical vapor deposition (CVD), which decomposes the injected gas into a plasma state using RF (Radio Frequency) power and deposits it on a substrate, or high energy in plasma formed by RF power or DC power. The sputtering method in which the gas ions collide with the target surface and the target particles to be deposited are popped out and deposited on the substrate, and the process of etching and patterning the thin film is performed when the photoresist receives light. Using the principle that the properties change by the chemical reaction, the mask of the pattern A process of forming a pattern identical to that of a mask by selectively irradiating light to the photoresist layer and a process of reacting a reactive material such as atoms or radicals made from a gas plasma with a deposited material on a substrate to turn into a volatile material It is made of an etching process using.
그리고, 셀(Cell) 공정은 박막 트랜지스터가 형성되어 있는 하부기판과 컬러필터가 형성된 상부기판에 배향막을 형성하는 배향막 도포과정, 배향막에 액정이 잘 정렬할 수 있도록 하는 러빙(rubbing) 과정, 스페이서(spacer)를 산포하는 스페이서 과정, 상판과 하판을 합착한 후에 모세관 현상을 이용하여 액정을 내부에 주입한 후, 주입구를 봉지하는 액정주입과정으로 이루어진다.The cell process includes applying an alignment layer to form an alignment layer on a lower substrate on which a thin film transistor is formed and an upper substrate on which a color filter is formed, a rubbing process to align liquid crystals on the alignment layer, and a spacer ( After the spacer process of dispersing the spacer), the upper plate and the lower plate are bonded to each other, the liquid crystal is injected into the liquid crystal using a capillary phenomenon, and then the liquid crystal injection process is encapsulated.
모듈(Module) 공정은 최종적으로 사용자에게 전해지는 제품 품질을 결정하는 단계로서, 완성된 패널에 편광판을 부착하고 드라이버 칩를 실장한 후 PCB(Printed Circuit Board)를 조립하여 최종적으로 백라이트 유닛(Backlight unit)과 기구물을 조립하게 된다. 여기서, 상기 셀 공정에서는 액정주입 과정 후에 오토 프로브(auto probe) 검사과정을 추가로 진행하게 되는데, 검사자가 액정주입상태를 관측 검사하게 된다.The module process is a step to finally determine the product quality to be delivered to the user, attaching a polarizer to the finished panel, mounting a driver chip, and then assembling a printed circuit board (PCB) to finally provide a backlight unit. And the assembly of the appliance. In the cell process, an auto probe inspection process is further performed after the liquid crystal injection process, and the inspector observes the liquid crystal injection state.
이하에서는 도면을 참조하여 종래기술에 따른 오토 프로브 과정을 설명하기로 한다. Hereinafter, an auto probe process according to the prior art will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 종래기술에 따른 액정패널을 검사하는 오토 프로브 장치의 개략도이고, 도 2는 종래기술에 따른 오토 프로브 장치의 워크 테이블의 상세도이다. 도 1 및 도 2를 참조하여 종래기술의 오토 프로브 장치에 대하여 설명하면 다음과 같다.1 is a schematic diagram of an auto probe device for inspecting a liquid crystal panel according to the prior art, and FIG. 2 is a detailed view of a work table of the auto probe device according to the prior art. Referring to Figures 1 and 2 will be described with respect to the prior art auto probe device.
오토 프로브 장치는 검사대상의 액정패널(11)을 지지하는 지지프레임(10)과, 액정패널(11)의 주변부에 설치되어 있는 패드(도시하지 않음)에 구동신호를 인가하기 위한 유닛블럭(uint block)(30)을 설치하는 유닛블럭 설치대(15)와, 액정패널(11)의 위치를 감지하여 유닛블럭 설치대(15)와 정렬시키기 위한 카메라(17)와, 지지프레임(10)에서 수직 및 수평으로 이동가능한 현미경(20)과, 지지프레임(10)은 중간부위에 설치되는 워크 테이블(12)로 이루어져 있으며, 지지프레임(10)의 좌우단에는 한 쌍의 세로 스크류바(13)와, 세로 스크류바(13)에 각각 볼스크류 방식으로 연결된 한 쌍의 이동 브라켓(도시하지 않음)과, 이동 브라켓에 양단이 회전 가능하게 지지되는 가로 스크류바(16)와, 가로 스크류바(16)에 볼스크류 연결되며 현미경(20)을 지지하게 되는 현미경 장착 브라켓(22)으로 구성되어 있다.The auto probe device is a unit block for applying a driving signal to a
그리고 도 2와 같이 오토 프로브 장치의 워크 테이블(12)에는 액정패널(11)이 위치하고, 액정패널(11)의 검사를 위하여, 액정패널(11)의 상부에 편광판(23)이 설치되고, 편광판 홀더(24)에 의해서 편광판(23)의 종변과 횡변이 지지되고, 편광판 홀더(24)는 워크 테이블(12)의 일측에 설치되어 있는 견착대(25)에 의해 고정되 고, 견착대(25)는 워크 테이블(12)의 일측에 볼트결합으로 연결된다. 그리고, 액정패널(11)의 패드에 전기적 신호를 인가하기 위한 유닛블럭(unit block)(30)이 배치되어 있다.As shown in FIG. 2, the
오토 프로브 장치는 액정패널(11)의 동작을 검증하는 장비로, 액정패널(11)에 전기적 신호를 인가하여, 액정패널(11)의 상부에 설치되어 있는 편광판을 통하여 화소의 구동상태를 육안으로 검사한다. 액정패널(11)을 워크 테이블(12)에 위치시키고, 액정패널(11)의 하부에 있는 백 라이트(back light)(도시하지 않음)의 빛을 액정패널(11)의 액정을 통하여 복굴절시키고, 복굴절된 빛을 편광판(23)을 통하여 최종적으로 육안으로 확인한다. The auto probe device is a device that verifies the operation of the
그런데, 오토 프로브 장치에서 액정패널(11)의 검사는 편광판(23)을 통한 검사 외에, 작업자가 액정패널(11)에 대한 누름 검사가 있다. 이러한 액정패널(11)의 누름 검사를 수행하기 위하여, 한 손으로는 편광판(23)을 들어 올려 액정패널(11)과 이격시키고, 다른 한 손으로는 액정패널(11)을 눌러 검사하게 된다. 그러나, 작업자가 직접 편광판(23)을 들어서 하는 검사는 편광판(23)의 이탈착시, 편광판(23) 주위에 있는 액정패널(11)에 전기적 신호를 인가하는 유닛블럭(30)에 손상을 줄 수 있고, 또한 작업자의 피로를 가중시켜 작업능률을 저하시키는 원인이 된다.By the way, the inspection of the
본 발명은 액정패널을 검사하는 워크 테이블에 편광판의 고도조절장치를 설 치하여 사용자가 액정패널과 편광판의 거리를 조절하면서 액정패널의 검사를 수행할 수 있는 액정패널의 오토 프로브 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is to provide an auto-probe device of the liquid crystal panel that can be installed in the work table for inspecting the liquid crystal panel of the polarizing plate by adjusting the distance between the liquid crystal panel and the liquid crystal panel, the user can perform the inspection of the liquid crystal panel The purpose.
특히, 편광판이 액정패널과 근접되어 있는 상태에서는 편광판을 통한 검사를 수행하고, 고도조절장치를 이용하여 액정패널과 편광판을 이격시켜 액정패널의 누름검사를 수행하여, 검사효율을 개선하는 액정패널의 오토 프로브 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In particular, when the polarizing plate is in close proximity to the liquid crystal panel, the inspection is performed through the polarizing plate, and the pressing test of the liquid crystal panel is performed by separating the liquid crystal panel from the polarizing plate using the altitude control device to improve the inspection efficiency. It is an object to provide an auto probe device.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예에 따른 액정패널의 오토 프로브 장치는 액정패널을 검사하기 위한 워크 테이블; 상기 액정패널의 상에 편광판을 지지하는 편광판 홀더; 상기 편광판 홀더와 연결되며, 상기 워크 테이블의 일측에 고정되어 있고, 상기 편광판을 상기 액정패널과 접근 및 이격시키는 고도조절장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an auto probe device of a liquid crystal panel according to an embodiment of the present invention includes a work table for inspecting the liquid crystal panel; A polarizer holder for supporting a polarizer on the liquid crystal panel; And an altitude adjusting device connected to the polarizing plate holder and fixed to one side of the work table and approaching and separating the polarizing plate from the liquid crystal panel.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 편광판 홀더는 상기 편광판의 종변 및 횡변을 지지하며, 상기 편광판 홀더는 상기 편광판의 고도를 조절하기 위한 상기 고도조절장치의 이동 홀더와 결합하는 것을 특징으로 한다.In the auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, the polarizing plate holder supports the longitudinal side and the lateral side of the polarizing plate, the polarizing plate holder is coupled to the movement holder of the altitude adjusting device for adjusting the altitude of the polarizing plate. Characterized in that.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 편광판 홀더에 손잡이를 부착하는 것을 특징으로 한다.In the auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, the handle is attached to the polarizing plate holder.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 고도조절장치는, 상기 워크 테이블에 고정되는 견착대; 상기 견착대의 상부에 설치되는 연장장치; 상기 연장장치와 결합되며, 상기 편광판을 이동시키기 위한 이동 홀더;를 포함하는 것을 특징으로 한다.An auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, wherein the altitude adjustment device includes: a strap fixed to the work table; An extension device installed at an upper portion of the shoulder strap; It is coupled to the extension device, the holder for moving the polarizing plate; characterized in that it comprises a.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 견착대 양측의 상부에 돌출되는 제 1 지지대 및 제 2 지지대; 상기 제 1 지지대 및 상기 제 2 지지대의 각각에 결합되는 제 1 하부 연장부 및 제 2 하부 연장부; 상기 제 1 하부 연장부 및 상기 제 2 하부 연장부의 각각에 결합되는 제 1 상부 연장부 및 제 2 상부 연장부; 상기 제 1 상부 연장부 및 상기 제 2 상부 연장부와 결합하는 상기 이동 홀더;를 포함하는 것을 특징으로 한다.An auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, comprising: a first support and a second support protruding from the upper sides of the shoulder straps; A first lower extension and a second lower extension coupled to each of the first support and the second support; A first upper extension and a second upper extension coupled to each of the first lower extension and the second lower extension; And the movable holder coupled to the first upper extension and the second upper extension.
상기와 같은 액정패널의 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 제 1 상부 연장부 및 상기 제 2 상부 연장부의 상단에는 상기 이동 홀더가 결합되고, 상기 1 상부 연장부 및 상기 제 2 상부 연장부의 하단에는 연결대가 결합되는 것을 특징으로 한다.In the auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, the movement holder is coupled to the upper end of the first upper extension and the second upper extension, and the lower end of the first upper extension and the second upper extension. It is characterized in that the connecting rod is coupled.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 제 1 하부 연장부 및 제 2 하부 연장부와 상기 제 1 상부 연장부 및 상기 제 2 상부 연장부의 연장상태를 고정시키기 위하여, 상기 견착대와 연결되며, 상기 연결대와 접착되는 연결대 고정장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, in order to fix the extended state of the first lower extension portion and the second lower extension portion and the first upper extension portion and the second upper extension portion, It is connected to the mounting, characterized in that it comprises a connecting rod fixing device bonded to the connecting rod.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 연결대 고정장치는, 상기 견착대와 연결되는 하부 지지대; 상기 하부 지지대에 회전 축을 개재하여 연결되며, 자력을 가지는 상부 지지대;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, The connecting rod fixing device, the lower support is connected to the shoulder strap; And an upper support having a magnetic force connected to the lower support via a rotation shaft.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 하부 지지대를 상기 제 1 지지대 또는 상기 제 2 지지대에 연결시키는 보강대를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, it characterized in that it comprises a reinforcement for connecting the lower support to the first support or the second support.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 제 1 지지대 및 상기 제 2 지지대의 각각에 설치되며, 상기 제 1 하부 연장부 및 상기 제 2 하부 연장부를 활강시키기 위한 제 1 하부 안내로 및 제 2 하부 안내로; 상기 제 1 하부 연장부 및 제 2 하부 연장부의 각각에 설치되며, 상기 제 1 상부 연장부 및 상기 제 2 상부 연장부를 활강시키기 위한 제 1 상부 안내로 및 제 2 상부 안내로; 상기 제 1 지지대 및 상기 제 2 지지대의 각각의 상단부에 설치되며, 상기 제 1 하부 연장부 및 상기 제 2 하부 연장부의 이탈을 방지하고, 연장상태를 고정시키는 제 1 하부 걸림장치 및 제 2 하부 걸림장치; 상기 제 1 하부 연장부 및 상기 제 2 하부 연장부의 각각의 상단부에 설치되며, 상기 제 1 상부 연장부 및 상기 제 2 상부 연장부의 이탈을 방지하고, 연장상태를 고정시키는 제 1 상부 걸림장치 및 제 2 상부 걸림장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the above-described auto probe device for inspecting the liquid crystal panel, the first lower guide is provided on each of the first support and the second support, the first lower guide for sliding the first lower extension and the second lower extension. Furnace and second lower guiding furnace; A first upper guide path and a second upper guide path installed on each of the first lower extension part and the second lower extension part, and configured to slide the first upper extension part and the second upper extension part; A first lower locking device and a second lower locking device which are installed at upper ends of each of the first support and the second support and prevent separation of the first lower extension part and the second lower extension part and fix an extended state; Device; A first upper locking device and a first upper locking device which are installed at upper ends of each of the first lower extension part and the second lower extension part to prevent separation of the first upper extension part and the second upper extension part and to fix an extended state; It characterized in that it comprises a; 2 upper locking device.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 견착대에서 연장되어, 상기 이동 홀더와 대응되는 부분에 설치되는 충격완화장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the above-described auto probe device for inspecting the liquid crystal panel, it characterized in that it comprises a shock absorbing device extending from the shoulder strap and installed in a portion corresponding to the moving holder.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 충 격완화장치는, 상기 견착대에서 연장되는 댐퍼 지지대; 상기 댐퍼 지지대 상에 체결되는 댐퍼;를 포함하는 것을 특징으로 한다.An auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, wherein the shock absorber includes: a damper support extending from the shoulder strap; And a damper fastened onto the damper support.
상기와 같은 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치에 있어서, 상기 댐퍼는, 댐퍼 지지대에 고정되는 체결부; 상기 이동홀더의 하강시 상기 이동홀더와 접촉하는 접촉부; 상기 체결부의 내부에 설치되는 충격흡수부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.An auto probe device for inspecting the liquid crystal panel as described above, wherein the damper includes: a fastening part fixed to a damper supporter; A contact part which contacts the moving holder when the moving holder descends; And an impact absorbing part installed inside the fastening part.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 고도조절장치가 설치된 워크 테이블의 개략도이고, 도 4a 내지는 도 4e는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 고도조절장치의 구성품의 개별도이고, 도 5는 본 발명에 제 1 실시예에 따른 고도조절장치의 접철 상태도이다. 도 3 및 도 5를 참조하여 본 발명의 제 1 실시예에 따른 고도조절장치를 설명하면 다음과 같다, Figure 3 is a schematic diagram of a work table with an altitude adjustment device according to a first embodiment of the present invention, Figures 4a to 4e is a separate view of the components of the altitude adjustment device according to a first embodiment of the present invention, Figure 5 Is a folding state diagram of the altitude control apparatus according to the first embodiment of the present invention. Referring to Figure 3 and 5 will be described the altitude adjustment device according to a first embodiment of the present invention,
별도의 도면에서는 도시하지 않았지만, 본 발명에 따른 오토 프로브 장치는 검사대상의 액정패널을 지지하는 지지프레임과, 액정패널의 주변부에 설치되어 있는 패드에 구동신호를 인가하기 위한 핀 타입(pin type)의 유닛블럭(unit block)과, 지지프레임에서 액정패널을 검사하기 위한 워크 테이블과, 액정패널을 워크 테이블에 정렬시키기 위한 정렬수단과, 액정패널을 이동시키기 위한 이동수단으로 구성된다.Although not shown in the drawings, the auto probe device according to the present invention includes a support frame for supporting a liquid crystal panel to be inspected and a pin type for applying a driving signal to a pad provided at a periphery of the liquid crystal panel. A unit block, a work table for inspecting the liquid crystal panel in the support frame, alignment means for aligning the liquid crystal panel to the work table, and moving means for moving the liquid crystal panel.
그리고, 도 3 및 도 4와 같이, 워크 테이블(110)에 액정패널(111)을 위치시키고, 액정패널(111)에 전기적 신호를 인가하기 위해, 액정패널(111)의 패드를 유닛블럭(160)과 접촉시키고, 액정패널(111)의 상부에 편광판(112)을 설치한다. 편광판(112)은 고도조절장치(114)에 결합되어 있다.3 and 4, in order to position the
도 4a는 편광판(112)을 편광판 홀더(113)와 결합되어 있는 상태를 나타내고 있으며, 편광판(112)은 편광판 홀더(113)에 의해서 편광판(112)의 종변과 횡변이 지지되고 있으며, 편광판 홀더(113)에는 손잡이(115)가 부착되어 있고, 손잡이(115)는 작업자가 액정패널(111)을 검사할 때, 편광판(112)의 각도를 변환시키기 위해 사용된다. 도 4b는 편광판(112)의 고도를 조절하기 위한 편광판(112)과 연결되는 이동 홀더(150)이고, 도 4c는 편광판(112)에 편광판 홀더(113)와 이동 홀더(150)에 결합되어 있는 상태이고, 도 4d는 편광판(112)의 고도를 조절하는 고도조절장치(114)이다. 편광판 홀더(113)는 고정핀(151)에 의해서 고도조절장치(114)의 이동 홀더(150)와 결합되고, 이동 홀더(150)는 편광판(112)의 고도를 조절하기 위해, 고도조절장치(114)의 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)에 결합된다. 4A illustrates a state in which the
도 4d와 같이, 고도조절장치(114)는 워크 테이블(110)의 일측부에 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)를 고정시키기 위한 견착대(116)와, 견착대(116)의 양측 상부에 돌출되어 있는 제 1 지지대(117a)와 제 2 지지대(117b)와, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)에 의해 지지되며, 편광판(112)과 액정패널(111)의 간격을 조절하기 위한 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장 치(118b)로 구성되며, 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)에 이동 홀더(150)를 결합시킨다. As shown in FIG. 4D, the
제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)의 각각은 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)에 부착되어 있으며, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)의 각각에 상하로 활강가능한 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)가 부착되어 있고, 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)의 각각에 상하로 활강가능한 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)가 부착되어 있다. 그리고, 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)의 하부에는 편광판(112)을 상하로 이동시키는 이동홀더(150)가 결합되고, 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)의 상부에는 수작업으로 편광판(112)을 이동할 수 있는 연결대(119)와, 연결대(119)의 측면에 손잡이(151)를 설치한다.Each of the first multistage extension device 118a and the second
제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)의 각각은 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)에 요부형태로 설치되어 있는 제 1 하부 안내로(도시하지 않음) 및 제 2 하부 안내로(도시하지 않음)를 따라 활강하며, 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)가 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)를 이탈하지 않고, 연장상태에서 고정되도록, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)의 각각의 상단부에 제 1 하부 걸림장치(도시하지 않음) 및 제 2 하부 걸림장치(도시하지 않음)가 설치된다. 또한 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)의 각각은 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)에 설치되어 있는 제 1 상부 안내로(도시하지 않음) 및 제 2 상부 안내로(도시하지 않음)를 따라 활강하며, 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)가 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)를 이탈하지 않고, 연장상태에서 고정되도록, 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)의 각각의 상단부에 제 1 상부 걸림장치(도시하지 않음) 및 제 2 상부 걸림장치(도시하지 않음)가 설치된다. Each of the first
제 1 하부 걸림장치, 제 2 하부 걸림장치, 제 1 상부 걸림장치, 및 제 2 상부 걸림장치는 탄성부를 가지는 베어링(도시하지 않음)과, 제 1 하부 연장부, 제 2 하부 연장부, 제 1 상부 연장부, 및 제 2 상부 연장부에 베어링과 대응되는 부분에 오목부(도시하지 않음)를 설치하여 형성한다.The first lower locking device, the second lower locking device, the first upper locking device, and the second upper locking device include a bearing (not shown) having an elastic portion, a first lower extension, a second lower extension, and a first The upper extension portion and the second upper extension portion are formed by providing recesses (not shown) in portions corresponding to the bearings.
그리고, 도 4e와 같이, 고도조절장치(114)의 견착대(116)의 중앙부분에서 워크 테이블(110) 방향으로 연장되는 댐퍼 지지대(122)를 연결하고, 이동 홀더(150)와 대응되는 위치의 댐퍼 지지대(122) 상에 댐퍼(damper)(123)를 설치한다. 댐퍼(123)는 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)가 연장되어, 편광판(112)을 이동시키는 이동 홀더(150)가 액정패널(111)로부터 이격되어 있는 상태에서, 편광판(112)을 액정패널(111)과 근접시키기 위하여 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)를 접철시키면, 편광판(112)과 이동 홀더(150)가 하강하면서 충격을 받을 수 있어, 충격을 완화시키기 위해 댐퍼(123)를 사용한다. 도 4d는 고도조절장치(114)를 연장한 상태를 도시한 도면이고, 도 5는 고도조절장치(114)를 접철시킨 상태를 도시한 도면이다.And, as shown in Figure 4e, connecting the damper support 122 extending in the direction of the work table 110 in the center portion of the
댐퍼(123)는, 댐퍼 지지대(122)에 고정시키기 위한 체결부(124)와 이동 홀더(150)가 하강할 때 이동 홀더(150)과 접촉하는 접촉부(125)와, 체결부(124)의 내 부에 설치되며, 접촉부(125)가 충격을 받았을 때, 충격을 흡수하기 위한 충격흡수장치(도시하지 않음)로 구성된다. 충격흡수장치는 체결부(124)에 스프링을 삽입하여 형성한다. The
종래기술에서는 오토 프로브 장치에는 액정패널(111)을 이동하기 위한 이동장치가 설치되어 있어, 작업자가 오토 프로브 장치에 근접한 상태에서 작업을 수행하면, 이동장치의 이동에 의해 작업자의 안전을 위협받을 수 있어, 워크 테이블(110)의 양측에는 안전센서(area sensor)(도시하지 않음)가 설치되어 있으며, 작업자 또는 물체가 안전센서의 영역에 접근하면, 오토 프로브 장치의 동작을 중지시키게 된다. 따라서 작업자가 액정패널(111)의 누름검사를 수행할 때, 오토 프로브 장치의 동작이 중단되므로, 안전센서를 오프(OFF) 상태로 하여 작업자의 안전에 문제가 있었다. 그러나, 본 발명에 의하면, 안전센서를 온(ON) 상태로 유지시키고, 작업을 하여도, 오토 프로브 장치와 별도로 물리적인 방법에 의하여 고도조절장치(114)가 구동되므로, 편광판(112)을 액정패널(111)과 이격시키고 누름 검사를 수행할 수 있어, 작업자의 안전을 확보할 수 있다.In the prior art, the auto probe device is provided with a moving device for moving the
도 3 및 도 5에서 도시한 고도조절장치(114)를 사용하여, 워크 테이블(110) 상에 위치한 액정패널(111)을 검사하는 방법은, 액정패널(111)을 워크 테이블(110)에 위치시키고, 편광판(112)을 고정시킨 편광판 홀더(113)를 고도조절장치(114)의 이동 홀더(150)에 연결시킨다. 액정패널(111)과 편광판(112)을 밀착시킨 상태에서 액정패널(111)의 하부에 있는 백 라이트(도시하지 않음)의 빛을 액정패널(111)의 액정을 통하여 복굴절시키고, 복굴절된 빛을 편광판(112)을 통하여 육안으로 검사한다. 그리고, 고도조절장치(114)의 다단연장장치(118)를 연장시켜 액정패널(111)과 편광판(112)을 이격시키고, 액정패널(111)과 편광판(112)의 사이에 작업자가 손을 넣어 누름검사를 수행한다. 따라서, 종래기술과 같이, 액정패널(111)의 누름 검사를 수행할 때, 작업자가 한 손으로는 편광판(112)을 들어 올려 액정패널(111)과 이격시키고, 다른 한 손으로는 액정패널(111)을 눌러 검사하게 되는 비능률을 게거하고, 또한 전술한 바와 같이 안전센서를 오프시킨 상태에서 작업하여 작업자의 안전을 위협받는 일이 없게 된다.In the method of inspecting the
도 6은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 워크 테이블에 설치되는 고도조절장치의 상세도이고, 도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 고도조절장치의 연결대 고정장치의 상세도이고, 도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 고도조절장치의 접철 상태도이다. 도 6 내지는 도 8을 참조하여 본 발명의 제 2 실시예의 고도조절장치를 설명하면 다음과 같다, 6 is a detailed view of the altitude control device installed on the work table according to the second embodiment of the present invention, Figure 7 is a detailed view of the connecting rod fixing device of the altitude control device according to a second embodiment of the present invention, 8 is a folding state diagram of the altitude control apparatus according to a second embodiment of the present invention. Referring to Figure 6 to Figure 8 describes the altitude adjustment device of a second embodiment of the present invention.
도 6 내지는 도 8은 본 발명의 제 1 실시예와 다르게 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)가 연장되었을 때, 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)의 상부에 설치되어 있는 연결대(119)를 고정시키기 위한 연결대 고정장치(126)를 설치한다. 6 to 8 are different from the first embodiment of the present invention, when the first multistage extension device 118a and the second
연결대 고정장치(126)는, 고도조절장치(114)의 견착대(116)의 측면에 제 1 회전축(도시하지 않음)을 개재하여 설치되는 하부 지지대(127)와, 하부 지지대(127)의 안정성을 보강하기 위하여, 견착대(116)의 양측에 설치되어 있는 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b) 중 하나와 연결시키는 보강대(128)와, 하부 지지대(127)에 제 2 회전축(129)을 개재하여 회전가능하도록 연결되며, 자력에 의해, 연결대(119)를 고정시킬 수 있는 상부 지지대(130)로 구성된다. 보강대(128)는 하부 지지대(127)와 탈착이 가능하며, 도 6 및 도 7과 같이, 연장상태에서는 하부 지지대(127)가 보강대(128)와 연결되지만, 도 8과 같이 접철상태에서는 하부 지지대(127)와 보강대(128)는 분리된다. Connecting
상부 지지대(130)가 수직으로 연장되었을 때, 상부 지지대(130)와 대응되는 연결대(119)에는 고정 접촉부(153)가 설치되고, 고정 접촉부(153)는 상부 지지대(130)와 접촉하여 자력에 의해 고정시키는 기능을 한다. 상부 지지대(130)는 고정 접촉부(153)와 접착하는 부분을 자석으로 형성하거나, 고정 접촉부(153)를 자석으로 형성한다. When the
본 발명의 제 2 실시예에서는, 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)와 연결되어 있는 연결대(119)를 연결대 고정장치(126)에 의해 고정시키므로, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)의 각각의 상단부에 제 1 하부 걸림장치 및 제 2 하부 걸림장치와, 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)의 각각의 상단부에 제 1 상부 걸림장치 및 제 2 상부 걸림장치를 설치할 필요가 없다. In the second embodiment of the present invention, since the connecting table 119 connected to the first multi-stage extension device 118a and the second
그리고, 본 발명의 제 2 실시예에서는, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)의 각각의 상단부에 제 1 하부 걸림장치 및 제 2 하부 걸림장치와 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)의 각각의 상단부에 제 1 상부 걸림장치 및 제 2 상부 걸림장치가 설치되지 않으므로, 편광판(112)을 고정시키는 이동 홀더(150)가 하강할 때, 충격이 크므로 댐퍼(123)의 역활이 중요하다. And, in the second embodiment of the present invention, the first lower locking device and the second lower locking device and the first
도 6 내지는 도 8에서 도시한 고도조절장치(114)를 사용하여, 워크 테이블(110) 상에 위치한 액정패널(111)을 검사하는 방법은, 본 발명의 제 1 실시예와 유사하며, 액정패널(111)의 하부에 있는 백 라이트의 빛을 액정패널(111)의 액정을 통하여 복굴절시키고, 복굴절된 빛을 편광판(112)을 통하여 육안으로 검사하고, 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)를 연장시켜, 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)와 연결되어 있는 연결대(119)를 연결대 고정장치(126)에 의해 고정시키고, 액정패널(111)의 누름 검사를 수행한 후에, 연결대 고정장치(126)의 상부 지지대(130)를 연결대(119)에는 고정 접촉부(151)로 분리시키면, 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)가 접철되면서, 이동 홀더(150)가 강하하고, 이동 홀더(150)의 강하충격은 댐퍼(123)에 의해서 흡수된다.6 to 8, the method for inspecting the
본 발명의 제 1 실시예 및 제 2 실시예에서는 제 1 다단연장장치(118a) 및 제 2 다단연장장치(118b)의 각각에 대해서, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)와, 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b)와, 제 1 상부 연장부(121a) 및 제 2 상부 연장부(121b)로 구성하였지만, 제 1 지지대(117a) 및 제 2 지지대(117b)에 제 1 하부 연장부(120a) 및 제 2 하부 연장부(120b) 만을 부착하여 구성할 수 있다.In the first and second embodiments of the present invention, for each of the first multistage extension device 118a and the second
본 발명의 제 1 실시예 및 제 2 실시예에 따르면, 오토 프로브 장치에서 액정패널(111)의 검사는 편광판(112)을 통한 검사와 누름 검사로 구분되며, 작업자가 편광판(112)을 통한 육안으로 액정패널(112)을 검사한 후에, 고도조절장치(114)를 이용하여, 편광판(112)과 액정패널(112)을 이격시켜 일정한 간격을 형성하고, 이동홀더(150)를 고정시켜, 누름 검사를 용이하게 수행하여 작업능률을 개선할 수 있다.According to the first and second embodiments of the present invention, the inspection of the
본 발명의 실시예에 따른 액정패널을 검사하기 위한 오토 프로브 장치는 다음과 같은 효과가 있다.An auto probe device for inspecting a liquid crystal panel according to an embodiment of the present invention has the following effects.
오토 프로브 장치에서 수행하는 액정패널의 편광판을 통한 검사와 누름 검사에 대하여, 작업자가 편광판을 통하여 액정패널을 육안으로 검사하고, 고도조절장치를 이용하여, 편광판과 액정패널을 이격시켜 일정한 간격을 형성하고, 이동 홀더를 고정시켜, 누름 검사를 용이하게 수행하여 작업능률을 개선하는 효과가 있다.For the inspection and pressing test through the polarizing plate of the liquid crystal panel performed by the auto probe device, the operator visually inspects the liquid crystal panel through the polarizing plate, and forms a constant gap by separating the polarizing plate and the liquid crystal panel using the altitude control device. And, by fixing the moving holder, it is easy to perform the pressing test has the effect of improving the work efficiency.
또한 오토 프로브 장치의 워크 테이블 양측에 안전영역으로 작업자 또는 물체가 접근하면 오토 프로브 장치의 동작을 중지시키는 안전센서(area sensor)가 설치되어 있기 때문에, 누름 검사를 수행할 때는 작업자가 안전영역으로 근접하게 되어 안전센서의 작동에 의해 오토 프로브 장치의 동작이 중지된다. 따라서, 안전센 서의 오프 상태에서 작업자가 누름 검사를 수행하기 위하여 작업자의 안전에 문제가 있었으나, 본 발명에서는 오토 프로브 장치와 별도로 물리적인 방법에 의하여 고도조절장치가 구동되므로, 편광판을 액정패널과 이격시키고 누름 검사를 수행할수 있어, 작업자의 안전을 확보할 수 있는 효과가 있다.In addition, safety sensors (area sensors) are installed on both sides of the work table of the auto probe device to stop the operation of the auto probe device when an operator or object approaches the safety area. The operation of the auto probe device is stopped by the operation of the safety sensor. Therefore, there is a problem in the safety of the operator in order to perform the pressing test by the operator in the off state of the safety sensor, in the present invention, since the altitude control device is driven by a physical method separate from the auto probe device, the polarizing plate and the liquid crystal panel Since it can be spaced apart and pressed test, there is an effect that can ensure the safety of the operator.
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- 2006-12-13 KR KR1020060126939A patent/KR101241130B1/en active IP Right Grant
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