KR101182435B1 - 전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법 - Google Patents

전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101182435B1
KR101182435B1 KR1020050010188A KR20050010188A KR101182435B1 KR 101182435 B1 KR101182435 B1 KR 101182435B1 KR 1020050010188 A KR1020050010188 A KR 1020050010188A KR 20050010188 A KR20050010188 A KR 20050010188A KR 101182435 B1 KR101182435 B1 KR 101182435B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
layer
conductive polymer
light emitting
shadow mask
manufacturing
Prior art date
Application number
KR1020050010188A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20060089106A (ko
Inventor
김상열
강인남
이태우
구본원
박상훈
김유진
김무겸
박종진
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020050010188A priority Critical patent/KR101182435B1/ko
Priority to CN200610006080A priority patent/CN100594627C/zh
Priority to JP2006017847A priority patent/JP2006216544A/ja
Priority to US11/346,552 priority patent/US7704677B2/en
Publication of KR20060089106A publication Critical patent/KR20060089106A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101182435B1 publication Critical patent/KR101182435B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/76Patterning of masks by imaging
    • G03F1/78Patterning of masks by imaging by charged particle beam [CPB], e.g. electron beam patterning of masks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/76Patterning of masks by imaging
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/40Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/60Forming conductive regions or layers, e.g. electrodes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/032Materials
    • H05K2201/0329Intrinsically conductive polymer [ICP]; Semiconductive polymer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/05Patterning and lithography; Masks; Details of resist
    • H05K2203/0548Masks
    • H05K2203/0557Non-printed masks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/09Treatments involving charged particles
    • H05K2203/092Particle beam, e.g. using an electron beam or an ion beam
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/11Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
    • H05K2203/1142Conversion of conductive material into insulating material or into dissolvable compound
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/20Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning
    • H10K71/211Changing the shape of the active layer in the devices, e.g. patterning by selective transformation of an existing layer
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/111Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
    • H10K85/113Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
    • H10K85/1135Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S430/00Radiation imagery chemistry: process, composition, or product thereof
    • Y10S430/143Electron beam

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명은 전도성 고분자의 새로운 패터닝 방법 및 이를 이용한 유기전계발광소자 및 그 제조방법을 시한다. 본 발명은 기판상에 전도성 고분자층을 형성하는 단계; 상기 전도성 고분자층위에 섀도우 마스크를 정열하는 단계; 및 상기 섀도우 마스크를 통해 전하를 띤 입자빔이 전도성 고분자층에 조사되어 절연층 및 전도성 고분자로 이루어진 패턴층을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전도성 고분자의 새로운 패터닝 방법 및 이를 이용한 유기전계발광소자와 그 제조방법에 관한 것이다.

Description

전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계발광소자 및 그 제조방법{Conductive polymer patterned layer and patterning method the layer, organic light emitting device and fabrication method thereof}
도 1은 종래 기술에 의한 전도성고분자의 패터닝 방법을 나타낸다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 일 실시예에 따른 전도성 고분자 패터닝 방법을 설명하기 위한 공정도이다.
도 3는 전하를 띤 입자빔이 전하를 띤 섀도우 마스크 통과시 집속되는 것을 나타낸다.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따라 제조된 전도성 고분자층의 발광모습을 보여준다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의해 전도성 고분자 패턴층이 형성된 유기전계발광소자의 단면을 나타낸다.
〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉
110 : 유리기판 120 : PEDOT층
130 : 포토마스크 140 : PEDOT층
150 : 절연층 210 : 기판
220 : 전도성 고분자층 230 : 섀도우 마스크
240 : 입자빔 250 : 전도성 고분자 패턴층
260 : 절연층 510 : 양극
520 : 발광층 530 : 음극
본 발명은 전고성 고분자의 새로운 패터닝 방법에 관한 것으로, 상세히는 전하를 띤 입자빔을 이용한 전도성 고분자의 패터닝 방법에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 유기전계발광소자 및 그 제조방법에 관한 것으로, 상세히는 전하를 띤 입자빔을 이용한 전도성 고분자의 패터닝 방법을 적용한 유기전계발광소자 및 그 제조방법에 관한 것이다.
칼라 표시 소자로의 응용에 주목 받고 있는 소자 중의 하나가 유기전계발광소자(OLED : Organic light-emitting device)이다. 유기화합물을 사용해 스스로 발광하는 능동발광 디스플레이인 유기전계발광소자는, TFT-LCD에 비하여 구조와 제조공정이 간단하여 제조비용이 저렴하고, 낮은 소비전력, 얇은 두께 및 높은 응답속도 등을 가진다.
유기전계발광소자는 유기재료에서 전기에너지를 광에너지로 변환하는 소자로서, 애노드와 캐소드 전극에서 각각 주입된 정공과 전자가 유기분자에서 재결합하여 여기자(exciton)가 발생되면서 발광이 이루어지는 소자이다.
이러한 유기전계발광소자의 기본적인 적층물에는 순차적으로 적층된 금속음극 (metallic cathode), 발광층 (EML: emission material layer), 양극 (anode)이 포함된다. 이러한 유기전계발광소자의 성능은 다층박막구조의 변화에 의해서 많은 영향을 받으며, 기본 구조에 다양한 기능층, 예를 들어 정공수송층, 전자수송층 등의 추가에 의해 유기전계발광소자의 발광효율과 수명이 향상될 수 있다.
상기 정공수송층은 정공주입층(HIL, Hole Injection Layer), 정공이송층(HTL, Hole Transport Layer), 전자방지층(EBL, Electron Blocking Layer) 등을 포함한다. 상기 정공수송층은 양극으로부터 정공을 주입하기 쉽게 하기 위하여 이온화 포텐셜이 적은 전자공여성 분자가 사용될 수 있는데, 단분자(monomer)인 TPD(triphenyldiamine) 등은 열적 안정성이 떨어져 오랫동안 열에 노출되면 결정화되어 정공수송물질의 성질을 잃어버린다. 따라서 열적 안정성과 높은 전도도를 가지는 전도성 고분자, 예를 들어 PEDOT(polyethylenedioxythiophene), PANI(Polyaniline) 등이 정공수송 물질로 이용된다. 또한, 유기전계 발광소자가 디스플레이용으로 이용하기 위해 전도성 고분자층을 기판상에 스핀 코팅 후 포토 공정을 통해서 패터닝하는 방법이 고려되어 왔다.
도 1은 유기전기 발광표시장치를 위한 전도성고분자의 종래 패터닝 방법을 나타낸다.(한국 특허 2003-0044562 참조)
도 1을 참조하면, 종래방법은 유리기판(110)위에 PEDOT층(120)을 스핀 코팅하는 단계 및 PEDOT(120)층으로 코팅된 유리기판(110)위에 포토 마스크(130)를 통해서 강한 UV 또는 X-ray를 주사하여 절연층(150)과 정공수송층(140)을 형성하는 단계를 포함한다.
종래 전도성고분자의 패터닝 방법은 포토 마스크(130)를 이용하여 강한 광자, 예를 들어 UV 또는 X-ray를 조사하여 전도성고분자 패턴을 형성한다.
상술한 종래 전도성고분자의 패터닝 방법에서, 굴절, 반사 및 간섭의 특징을 가지는 광자가 이용되기 때문에, 포토 마스크(130)를 통과한 광자는 제어되기가 어렵고, 웨이브 가이딩(wave guiding)에 의해 불완전한 패턴을 형성시킨다. 또한, 광자의 웨이브 가이딩을 줄이기 위해 포토 마스크(130)와 PEDOT층(120)사이의 간격이 좁혀지면 포토 마스크(130)와 PEDOT층(120)이 접촉하여 PEDOT층(120)이 오염된다. 부수적으로 상기의 광자를 이용한 패터닝 방법은 고출력의 광자를 필요로 하기 때문에 에너지가 많이 소모된다는 문제점을 가지고 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 전도성 고분자 물질층을 패터닝할 때 정밀한 패턴을 형성하고 전도성 고분자층의 오염을 줄일 뿐만 아니라, 상대적으로 적은 에너지를 소모할 수 있는 전도성 고분자 패터닝 방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 본 발명의 전도성 고분자 패터닝 방법은, 기판상에 전도성 고분자층을 형성하는 단계; 상기 전도성 고분자층위에 섀도우 마스크를 정열하는 단계; 및 상기 섀도우 마스크를 통해 전하를 띤 입자빔을 전도성 고분자층에 조사하여 절연층 및 전도성 고분자 패턴층을 형성하는 단계;를 포함한다. 상기 전도성 고분자층은 공액계 고분자로 이루어 질 수 있다.
상기 절연층은 전하를 띤 입자빔이 조사된 절연성 고분자층이고, 상기 전도성 고분자 패턴층은 전하를 띤 입자빔이 조사되지 않은 전도성 고분자층으로 이루어진다. 상기 전도성 고분자 패턴층은 정공주입층 또는 정공수송층으로 사용될 수 있다. 상기 전하를 띤 입자는 전자 또는 이온이다. 상기 이온은 H, He, Ar, N, O 및 Cs 중 어느 하나로 이루어 질 수 있다.
상기 전도성 고분자 패터닝 방법은 전도성 고분자의 패턴을 구비하는 모든 표시 소자, 예를 들면 유기전계발광표시장치 및 유기 TFT표시소자 등에 적용될 수 있다.
즉, 기판 상에 마련되는 양극, 상기 양극 상에 마련되는 전도성 고분자 패턴층 및 절연층, 상기 절연층과 상기 전도성 고분자 패턴층을 덮는 발광층 및 상기 발광층상에 마련되는 음극을 갖춘 유기전계발광소자를 제조하는 방법은 상기 기판 상에 상기 양극을 형성하는 단계; 상기 양극 상에 전도성 고분자층을 형성하는 단계; 상기 전도성 고분자층위에 섀도우 마스크를 정열하는 단계; 상기 섀도우 마스크를 통해 전하를 띤 입자빔이 상기 전도성 고분자층에 조사하여 상기 절연층 및 상기 전도성 고분자 패턴층을 형성하는 단계; 상기 전도성 고분자 패턴층과 상기 절연층 상에 상기 발광층을 형성하는 단계; 및 상기 발광층상에 상기 음극을 형성하는 단계;를 포함한다. 상기 전도성 고분자층은 공액계 고분자로 이루어질 수 있다.
상기 절연층은 전하를 띤 입자빔이 조사된 절연성 고분자층이고, 상기 전도성 고분자 패턴층은 전하를 띤 입자빔이 조사되지 않은 전도성 고분자층이다. 상기 입자는 전자 및 이온 중 어느 하나로 이루어질 수 있고, 상기 이온은 예를 들어 H, He, Ar, N, O 및 Cs 중 어느 하나로 이루어질 수 있다.
이하, 본 발명에 의한 전도성 고분자 패터닝 방법을 첨부된 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 층이나 영역들의 두께는 설명의 빠른 이해를 위해 과장되게 도시되었음에 유의해야 한다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 일 실시예에 따른 전도성 고분자 패터닝 방법을 설명하기 위한 공정도이다.
도 2a 내지 도 2d를 참조하면, 기판(210)상에 전도성 고분자층(220)을 형성하는 단계(도 2a), 전도성 고분자층에 이격하여 섀도우 마스크(230)를 정열하는 단계(도 2b) 및 섀도우 마스크(230)를 통해 전하를 띤 입자빔(240)이 전도성 고분자층(220)에 조사되어(도 2c) 절연층(260) 및 전도성 고분자 패턴층(250)을 형성하는 단계(도 2d)를 포함한다.
구체적으로 도 2a를 참조하면, 기판(210)상에 전도성 고분자층(220)은 습식공정, 예를 들어 스핀코팅, 딥코팅, 롤코팅 또는 잉크젯 방법에 의해 적층한다. 여기서 전도성 고분자층(220)은 공액계 고분자로 이루어지고, 예를 들어 PEDOT, PANI등으로 이루어 질 수 있다. 기판은 상기 기판(210)은 투명성을 갖는 소재가 바람직하며, 예를 들어 유리, 석영 및 유기 고분자 화합물 등으로 이루어 질 수 있다.
도 2b를 참조하면, 상기 전도성 고분자층(220)위에 섀도우 마스크(230)를 정열시킨다. 이 때에 패턴 형성시 전도성 고분자층(220)상에 입자빔(240)이 주사되기 때문에 전도성 고분자층(220)과 섀도우 마스크(230)사이의 간격은 좁혀질 필요가 없다.
도 2c을 참조하면, 정열된 섀도우 마스크(230)위로부터 전하를 띤 입자빔(240)이 전도성 고분자층(220)의 방향으로 섀도우 마스크(230)를 통과하여 전도성 고분자층(220)상에 충돌(charged partcle beam bombardment)한다. 여기서 입자는 전자 또는 이온으로 이루어지며, 이온은 H, He, Ar, N, O 및 Cs 중 어느 하나로 이루어 질 수 있다.
도 2d는 도 2c 공정결과를 보인다. 도 2d를 참조하면, 전도성 고분자층(220)에 입자빔(240)이 조사된 후 전도성 고분자층(220)은 입자빔(240)이 조사된 절연층(260)과 입자빔(240)이 조사되지 않은 전도성 고분자 패턴층(250)으로 된다. 이러한 전도성 고분자 패턴층(250)은 정공주입층(HIL, Hole Injection Layer) 또는 정공수송층(HTL, Hole Transport Layer)으로 사용될 수 있다.
도 3는 도 2c 공정의 변형예로서 섀도우 마스크(230)에 소정의 전위를 인가한 상태에서 패터닝하는 방법을 도시한다. 섀도우 마스크는 한께 또는 복수개 구비될 수 있다. 도 3을 참조하면, 전하를 띤 입자빔(240)은 순차적인 전위를 갖는 복수의 섀도우 마스크(230)들을 적절하게 정렬함으로써 섀도우 마스크(230)를 통과한 후 전도성 고분자층(220)상에 집속(focusing)될 수 있다. 이것은 정밀한 패터닝이 요구되는 고해상도 소자 제조의 제작에 응용가능하다.
도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따라 제조된 전도성 고분자층의 발광모습을 보여준다.
도 4a는 패터닝이 형성되기 전 발광소자가 빛을 방출하는 모습을 나타낸 사 진이다. 도 4b는 본 발명에 의한 패터닝 방법에 의해 상기 발광소자에 패턴을 형성한 뒤 빛을 방출하는 모습을 나타낸 사진이고, 도 4c 패턴층을 200배 확대한 사진이다. 도 4c를 참조하면 패턴층 표면에서 방출된 빛이 균일하고, 패턴경계선이 명확하여 입자빔에 의한 웨이브 가이딩이 감소됨을 알 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의해 전도성 고분자 패턴층이 형성된 유기전계발광소자의 단면을 나타낸다.
도 5를 참조하면, 기판(210) 상에 마련되는 양극(510), 양극(510) 상에 마련되는 전도성 고분자 패턴층(250) 및 절연층(260), 절연층(260)과 전도성 고분자 패턴층(250)을 덮는 발광층(520) 및 발광층(520) 상에 마련되는 음극(530)을 갖춘 유기전계발광소자를 제조하는 방법은 기판(210) 상에 양극(510)을 형성하는 단계, 양극(510) 상에 전도성 고분자층을 형성하는 단계, 상기 전도성 고분자층위에 섀도우 마스크를 정열하는 단계, 상기 섀도우 마스크를 통해 전하를 띤 입자빔이 상기 전도성 고분자층에 조사하여 절연층(260) 및 전도성 고분자 패턴층(250)을 형성하는 단계, 전도성 고분자 패턴층(250)과 절연층(260) 상에 발광층(520)을 형성하는 단계 및 발광층(520) 상에 음극(530)을 형성하는 단계를 포함한다.
본 발명에서는 입자빔(240)을 이용하기 때문에 섀도우 마스크(230)와 전도성 고분자층(220)의 접촉에 의한 전도성 고분자 패턴층(250)의 표면오염은 줄어들고, 웨이브 가이딩에 의한 불완전한 패터닝의 문제를 감소시킬 수 있다. 또한 순차적인 전위를 띤 섀도우 마스크(230)를 적절하게 정렬하면, 입자가 집속되어 더욱 미세한 패터닝에 응용될 수 있다. 이와 함께 고출력의 광자와 달리 입자빔(240)은 이용되 는 에너지의 소모를 줄여준다.
이하에서 실시예를 들어 본 발명에 관하여 더욱 상세하게 설명하나, 이들은 단지 설명의 목적을 위한 것으로 본 발명의 보호범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 안 된다.
실시예 1: 패터닝된 유기 전계 발광 소자의 제작
먼저 ITO(indium-tin oxide)를 유리기판 위에 코팅한 투명 전극 기판을 깨끗이 세정한 후, UV-Ozone 표면처리를 15분 실시하였다.
상기 ITO 전극 상부에 Baytron P AI4083(Bayer社)(PEDOT의 상품명)을 약 50nm~110nm의 두께로 코팅한 후, 110 도에서 약 10분 동안 베이킹(baking)하여 정공 수송층을 형성하였다.
상기 정공 수송층이 코팅된 기판을 약 1×10-6 ~ 1×10-7 torr 진공챔버 안에서 새도우 마스크를 이용하여 에너지 100eV 전자빔을 600초 동안 조사하여 패터닝을 하였다.
상기 정공 수송층 상부에 폴리플루오렌계 고분자 TS-9을 클로로벤젠 10 g에 용해시켜 제조된 발광층 형성용 조성물을 스핀코팅하고 베이킹 처리 후에 진공 오븐내에서 용매를 완전히 제거하여 발광층을 형성하였다. 이 때, 상기 발광층 형성용 조성물은 스핀 코팅에 적용하기 이전에 0.2 μm 필터로 여과되었으며, 발광층의 두께는 상기 발광층 형성용 조성물의 농도와 스핀속도를 조절함으로써 약 50~100 nm의 범위에 들도록 조절되었다.
이어서, 상기 발광층 상부에 진공도를 1×10-6 torr 이하로 유지하면서 Ca과 Al을 순차적으로 증착하여 캐소드를 형성함으로써 유기 전계 발광 소자를 제작하였다. 증착시 막두께 및 막의 성장속도는 크리스탈 센서(crystal sensor)를 이용하여 조절하였다.
상술한 과정에 따라 제작된 EL 소자는 ITO/정공수송층/발광고분자/Ca/Al의 구조를 가지는 다층형 소자로서, 패터닝된 소자의 발광 모습은 도 4b,c에 보이는 바와 같다
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 전도성 고분자 패터닝 방법은 전하를 띤 입자빔과 섀도우 마스크를 이용하여 정밀한 패턴을 형성하고 전도성 고분자층의 오염을 줄일 뿐만 아니라, 상대적으로 적은 에너지를 소모한다.
이러한 본원 발명인 방법 및 장치는 이해를 돕기 위하여 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상적 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.

Claims (17)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 기판 상에 양극을 형성하는 단계;
    상기 양극 상에 전도성 고분자층을 형성하는 단계;
    상기 전도성 고분자층위에 하나 또는 그 이상의 섀도우 마스크를 정열하는 단계;
    상기 섀도우 마스크를 통해 전하를 띤 입자빔을 상기 전도성 고분자층에 조사하여 절연층 및 전도성 고분자 패턴층을 형성하는 단계;
    상기 전도성 고분자 패턴층과 상기 절연층 상에 발광층을 형성하는 단계; 및
    상기 발광층상에 음극을 형성하는 단계;를 포함하며, 상기 입자빔은 전자빔 및 이온빔 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조방법.
  9. 제 8항에 있어서,
    상기 전도성 고분자층은 공액계 고분자로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기 전계발광소자의 제조방법.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 절연층은 전하를 띤 입자빔이 조사된 전도성 고분자층이고, 상기 전도성 고분자 패턴층은 전하를 띤 입자빔이 조사되지 않은 전도성 고분자층인 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조방법.
  11. 삭제
  12. 제 8 항에 있어서,
    상기 이온은 H, He, Ar, N, O 및 Cs 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조방법.
  13. 제8항의 제조방법에 의해 형성된 유기전계발광소자에 있어서, 상기 전도성 고분자 패턴층을 정공주입층 및 정공수송층 중 어느 하나로 사용하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자.
  14. 제8항에 있어서,
    상기 섀도우 마스크 정렬 단계는, 상기 전도성 고분자층 상에 이격되도록 상기 섀도우 마스크를 정렬하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조방법.
  15. 제8항에 있어서,
    상기 섀도우 마스크 정렬 단계는, 복수 개의 상기 섀도우 마스크들이 서로 이격되도록 정렬되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조방법.
  16. 제8항에 있어서,
    상기 섀도우 마스크 정렬 단계와 상기 전도성 고분자 패턴층 형성 단계 사이에 상기 섀도우 마스크에 전위를 인가하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조 방법.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 전위 인가 단계는, 복수 개의 상기 섀도우 마스크들에 순차적인 전위를 인가하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광소자의 제조방법.
KR1020050010188A 2005-02-03 2005-02-03 전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법 KR101182435B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050010188A KR101182435B1 (ko) 2005-02-03 2005-02-03 전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법
CN200610006080A CN100594627C (zh) 2005-02-03 2006-01-26 构图导电聚合物层的方法、有机发光装置及其制造方法
JP2006017847A JP2006216544A (ja) 2005-02-03 2006-01-26 伝導性高分子パターン膜及びそのパターニング方法、並びにそれを利用する有機電界発光素子及びその製造方法
US11/346,552 US7704677B2 (en) 2005-02-03 2006-02-03 Method of patterning conductive polymer layer, organic light emitting device, and method of manufacturing the organic light emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050010188A KR101182435B1 (ko) 2005-02-03 2005-02-03 전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060089106A KR20060089106A (ko) 2006-08-08
KR101182435B1 true KR101182435B1 (ko) 2012-09-12

Family

ID=36947179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050010188A KR101182435B1 (ko) 2005-02-03 2005-02-03 전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7704677B2 (ko)
JP (1) JP2006216544A (ko)
KR (1) KR101182435B1 (ko)
CN (1) CN100594627C (ko)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100793358B1 (ko) 2006-05-03 2008-01-11 삼성에스디아이 주식회사 유기전계발광소자의 제조방법
US7915806B2 (en) * 2006-12-28 2011-03-29 E.I. Du Pont De Nemours And Company Electronic device including an organic device layer
KR100865485B1 (ko) * 2007-06-11 2008-10-27 단국대학교 산학협력단 마이크로 웨이브 소스를 이용한 전도성 고분자 막 의 건식식각 방법
KR101052394B1 (ko) 2008-11-24 2011-07-28 서울대학교산학협력단 잉크젯 프린팅과 기상증착중합법을 이용한 전도성 고분자 패턴 형성
EP2244315A1 (en) 2009-04-22 2010-10-27 Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Method of manufacturing an organic light emitting diode (OLED)
WO2011007296A1 (en) * 2009-07-16 2011-01-20 Koninklijke Philips Electronics N.V. Light-emitting device and method of manufacturing a light-emitting device
CN102110775B (zh) * 2010-12-03 2012-11-07 哈尔滨工业大学深圳研究生院 实现半导体聚合物图形化的方法及其应用器件
ITTV20120167A1 (it) * 2012-08-20 2014-02-21 Spf Logica S R L Struttura a strati atta a convertire una corrente elettrica in fotoni luminosi o viceversa.
KR101455239B1 (ko) * 2013-04-17 2014-10-27 에스케이씨 주식회사 전극 기판, 이를 포함하는 입력 장치 및 표시 장치, 및 이의 제조방법
DE102013208435A1 (de) * 2013-05-08 2014-11-27 Siemens Aktiengesellschaft Folien-Stapelaktor mit integrierten Kunststoff-Elektroden
KR101633696B1 (ko) * 2015-10-30 2016-06-28 한국원자력연구원 유기 발광 소자용 정공 수송층의 제조방법 및 이에 따라 제조되는 정공 수송층을 포함하는 유기 발광 소자
WO2021064958A1 (ja) * 2019-10-03 2021-04-08 シャープ株式会社 表示装置の製造方法および表示装置
US20220045274A1 (en) * 2020-08-06 2022-02-10 Facebook Technologies Llc Ofets having organic semiconductor layer with high carrier mobility and in situ isolation

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02103547A (ja) * 1988-10-13 1990-04-16 Fujitsu Ltd 導電性層の形成方法
US5198153A (en) * 1989-05-26 1993-03-30 International Business Machines Corporation Electrically conductive polymeric
JP3143007B2 (ja) * 1993-01-29 2001-03-07 株式会社日立製作所 導体の接続方法およびその構造
JPH06230562A (ja) * 1993-01-29 1994-08-19 Hitachi Ltd 転写マスクおよび電子線描画装置
EP1271669A3 (en) * 1994-09-06 2005-01-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. Electroluminescent device comprising a transparent structured electrode layer made from a conductive polymer
KR100304402B1 (ko) 1996-11-12 2002-03-08 포만 제프리 엘 전기전도성중합체의패턴및그의전극또는전기접점으로서의용도
JP4043135B2 (ja) * 1999-03-29 2008-02-06 株式会社東芝 機能素子および多成分多相系高分子成形体
JP2001076870A (ja) * 1999-09-08 2001-03-23 Toyota Motor Corp 有機el素子の表示パターン形成方法
JP2002203806A (ja) * 2000-10-31 2002-07-19 Toshiba Corp 半導体装置の製造方法、ステンシルマスク及びその製造方法
JP2002252164A (ja) * 2001-02-27 2002-09-06 Riipuru:Kk 転写用マスク及び転写用マスクの検査方法
KR20030044562A (ko) * 2001-11-30 2003-06-09 오리온전기 주식회사 유기전기 발광 표시장치를 위한 전도성 고분자의 패터닝방법
JP2004165580A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Pd Service:Kk 転写用マスクと電子ビーム露光装置
US7112113B2 (en) * 2002-12-25 2006-09-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Manufacturing method of display device
JP2005166441A (ja) * 2003-12-02 2005-06-23 Pioneer Electronic Corp 有機elパネルおよび有機elパネルの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006216544A (ja) 2006-08-17
CN1828974A (zh) 2006-09-06
US7704677B2 (en) 2010-04-27
CN100594627C (zh) 2010-03-17
KR20060089106A (ko) 2006-08-08
US20060228906A1 (en) 2006-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101182435B1 (ko) 전도성 고분자 패턴막 및 이를 패터닝 하는 방법 그리고 이를 이용하는 유기전계 발광소자 및 그 제조방법
TWI472079B (zh) 高解析度有機薄膜圖案之製造方法
KR101097301B1 (ko) 백색발광소자
KR101213491B1 (ko) 유기 발광 표시 장치 제조 방법 및 유기 발광 표시 장치용 표면 처리 장치
KR100939688B1 (ko) 전계 발광 소자 및 그 제조 방법
JP2012079707A (ja) 大面積有機電子デバイス
KR20090028513A (ko) 유기 el 소자 및 그 제조 방법
JP2006222082A (ja) 有機発光ダイオードデバイスおよび有機発光ダイオードデバイスの製造方法
JP2012502411A (ja) 有機発光素子の製造方法および有機発光素子
JP2009506200A (ja) 薄膜層の作成方法
JP2000235894A (ja) 有機el素子とその製造方法
WO2012017501A1 (ja) 有機el素子およびその製造方法
Islam et al. A review on fabrication process of organic light emitting diodes
TW200541385A (en) Printing of organic electronic devices
KR20110063372A (ko) 유기 광-전자 디바이스에 전기 상호접속부를 형성하기 위한 방법, 유기 광-전자 디바이스를 형성하기 위한 방법, 및 유기 발광 디바이스
US20080268567A1 (en) Method for fabricating organic light emitting display
KR20070097085A (ko) 조사를 사용하는 장치 패턴화
JP2012204202A (ja) 有機エレクトロルミネッセンスパネル及びその製造方法
KR100623225B1 (ko) 유기 전계발광 소자 및 그의 제조방법
JP2002015870A (ja) 電場発光デバイスの製造方法
KR20030075971A (ko) 유기 전자 소자의 박막 패턴 형성 방법
JP2010003797A (ja) 有機el素子及び有機el素子の製造方法
Nüesch et al. Patterned surface dipole layers for high-contrast electroluminescent displays
KR20010003986A (ko) 상 분리를 이용한 고효율 고분자 발광소자
JP2011238377A (ja) 有機elディスプレイの製造方法及び有機elディスプレイ

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160831

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180829

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190822

Year of fee payment: 8