KR101177319B1 - Sorting Apparatus for Semiconductor Device - Google Patents

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KR101177319B1
KR101177319B1 KR1020100086721A KR20100086721A KR101177319B1 KR 101177319 B1 KR101177319 B1 KR 101177319B1 KR 1020100086721 A KR1020100086721 A KR 1020100086721A KR 20100086721 A KR20100086721 A KR 20100086721A KR 101177319 B1 KR101177319 B1 KR 101177319B1
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Abstract

본 발명은 소자소팅장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체칩과 같은 소자를 분류기준에 따라서 자동으로 분류하는 소자소팅장치 및 그 방법에 관한 것이다. 본 발명은 제2소자들이 삽입된 번인보드를 로딩하는 X-Y테이블과; 제2이송툴과 연동하여 상기 번인보드로부터 제2소자들을 인출함과 아울러 제1이송툴과 연동하여 제1소자들을 상기 번인보드의 빈자리로 삽입하도록 상기 X-Y테이블을 이동시키고, 상기 번인보드에 제1소자들의 삽입이 완료되면, 상기 X-Y테이블을 번인보드 교환위치로 이동시키는 X-Y테이블구동부와; 상기 제2소자들이 삽입된 번인보드들을 적재하여 로딩함과 아울러 상기 제1소자들이 삽입된 번인보드들을 순차적으로 적재하여 번인테스트부로 이송하는 보드로더와; 상기 X-Y테이블의 제1소자가 삽입된 번인보드를 상기 보드로더의 제2소자가 삽입된 번인보드와 교환하는 번인보드교환버퍼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치를 개시한다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an element sorting apparatus, and more particularly, to an element sorting apparatus and a method for automatically classifying an element such as a semiconductor chip according to classification criteria. The present invention provides an X-Y table for loading a burn-in board into which second elements are inserted; Move the XY table to withdraw the second elements from the burn-in board in conjunction with a second transfer tool and insert the first elements into the vacant positions of the burn-in board in conjunction with the first transfer tool; An XY table driving unit for moving the XY table to a burn-in board exchange position when insertion of one element is completed; A board loader for loading and loading the burn-in boards in which the second elements are inserted, and sequentially loading the burn-in boards in which the first elements are inserted, and transferring the burn-in boards to the burn-in test unit; Disclosed is a device sorting apparatus comprising a burn-in board exchange buffer unit for exchanging a burn-in board into which a first device of the X-Y table is inserted into a burn-in board into which a second device of the board loader is inserted.

Figure R1020100086721
Figure R1020100086721

Description

소자소팅장치 {Sorting Apparatus for Semiconductor Device}Device sorting device {Sorting Apparatus for Semiconductor Device}

본 발명은 소자소팅장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체칩과 같은 소자를 분류기준에 따라서 자동으로 분류하는 소자소팅장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an element sorting apparatus, and more particularly, to an element sorting apparatus for automatically classifying an element such as a semiconductor chip according to classification criteria.

반도체소자(이하 '소자'라 한다)는 패키지 공정을 마친 후 전기특성, 열이나 압력에 대한 신뢰성 검사 등 다양한 검사를 거친다. Semiconductor devices (hereinafter referred to as 'devices') undergo various tests such as electrical properties, heat or pressure reliability tests after the packaging process is completed.

이러한 반도체소자에 대한 검사들 중에는 번인테스트(Burn-in Test)가 있는데, 번인테스트는 번인보드에 다수의 소자들을 삽입하고, 이 번인보드를 번인테스트장치 내에 수납시켜 일정시간 동안 열이나 압력을 가한 뒤 소자에 불량이 발생하는지 판별하는 테스트이다.Among these tests, the burn-in test is a burn-in test, in which a plurality of devices are inserted into a burn-in board, and the burn-in board is placed in a burn-in test apparatus to apply heat or pressure for a predetermined time. It is a test to determine if a defect occurs in the back device.

번인테스트용 소자소팅장치는 일반적으로 번인테스트를 마친 소자를 적재하고 있는 번인보드로부터 양품, 불량품 등 각 소자별 검사결과에 따라서 부여된 분류기준에 따라서 소자를 각 트레이로 분류(언로딩)하면서, 소자가 위치하고 있던 번인보드의 비어있는 자리(소켓)에 다시 번인테스트를 수행할 새로운 소자를 삽입(로딩)하는 장치를 말한다.  The device sorting device for burn-in test generally classifies (unloads) the device into each tray according to the classification criteria given according to the inspection result for each device such as good or bad from the burn-in board that has loaded the device that has undergone the burn-in test. It is a device that inserts (loads) a new device to perform burn-in test again in an empty place (socket) of burn-in board where the device is located.

한편 상기와 같은 소자소팅장치의 성능은 단위 시간당 소팅 개수(UPH: Units Per Hour)로 평가되며, UPH는 소자소팅장치를 구성하는 각 구성요소 사이에서 소자의 이송, 번인보드의 이송에 소요되는 시간에 따라서 결정된다.On the other hand, the performance of the device sorting device as described above is evaluated as the number of sorts per unit (UPH), UPH is the time required for the transfer of the device, the burn-in board transfer between the components constituting the device sorting device It is decided according to.

따라서 소자소팅장치의 성능인 UPH를 높이기 위하여 각 구성요소의 구조 및 배치를 개선할 필요가 있다.Therefore, it is necessary to improve the structure and arrangement of each component in order to increase the UPH, which is the performance of the device sorting device.

본 발명의 목적은 보드로더와 X-Y테이블 사이에서 번인보드의 교환시간을 줄임으로써 소자소팅장치의 처리속도를 현저하게 향상시킬 수 있는 소자소팅장치를 제공하는 데 있다.An object of the present invention is to provide a device sorting device that can significantly improve the processing speed of the device sorting device by reducing the exchange time of the burn-in board between the board loader and the X-Y table.

본 발명의 다른 목적은 랙의 인출 및 X-Y테이블과의 번인보드교환을 위한 엘리베이터부를 번인보드가 적재된 랙들이 적재되는 한 쌍의 랙적재부들 사이에 설치하여 미리 랙을 인출함으로써 보드로더 및 X-Y테이블과의 번인보드 교환시간을 단축시켜 소자소팅장치의 처리속도를 현저하게 향상시킬 수 있는 소자소팅장치를 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to install the elevator unit for the take-out of the rack and the exchange of the burn-in board with the XY table between the pair of rack loading parts on which the racks loaded with the burn-in board is loaded to take out the rack in advance and the board loader and XY table The present invention provides a device sorting device capable of significantly improving the processing speed of a device sorting device by shortening a burn-in board replacement time.

본 발명의 다른 목적은 보드로더와 X-Y테이블 사이에 번인보드를 교환하기 위한 번인보드교환버퍼부를 설치하고 번인보드교환버퍼부를 상하좌우로 이동시켜 보드로더에 적재된 랙으로부터 번인보드를 인출하도록 하여 보드로더 및 X-Y테이블과의 번인보드 교환시간을 단축시켜 소자소팅장치의 처리속도를 현저하게 향상시킬 수 있는 소자소팅장치를 제공하는 데 있다.Another object of the present invention is to install the burn-in board exchange buffer portion for exchanging burn-in board between the board loader and the XY table and to move the burn-in board exchange buffer portion up, down, left and right to take out the burn-in board from the rack loaded on the board loader The present invention provides a device sorting device capable of significantly improving the processing speed of a device sorting device by shortening a burn-in board replacement time with a loader and an XY table.

본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은 제2소자들이 삽입된 번인보드를 로딩하는 X-Y테이블과; 제2이송툴과 연동하여 상기 번인보드로부터 제2소자들을 인출함과 아울러 제1이송툴과 연동하여 제1소자들을 상기 번인보드의 빈자리로 삽입하도록 상기 X-Y테이블을 이동시키고, 상기 번인보드에 제1소자들의 삽입이 완료되면, 상기 X-Y테이블을 번인보드 교환위치로 이동시키는 X-Y테이블구동부와; 상기 제2소자들이 삽입된 번인보드들을 적재하여 로딩함과 아울러 상기 제1소자들이 삽입된 번인보드들을 순차적으로 적재하여 번인테스트부로 이송하는 보드로더와; 상기 X-Y테이블의 제1소자가 삽입된 번인보드를 상기 보드로더의 제2소자가 삽입된 번인보드와 교환하는 번인보드교환버퍼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치를 개시한다.The present invention has been made to achieve the object of the present invention as described above, the present invention includes an X-Y table for loading the burn-in board is inserted into the second element; Move the XY table to withdraw the second elements from the burn-in board in conjunction with a second transfer tool and insert the first elements into the vacant positions of the burn-in board in conjunction with the first transfer tool; An XY table driving unit for moving the XY table to a burn-in board exchange position when insertion of one element is completed; A board loader for loading and loading the burn-in boards in which the second elements are inserted, and sequentially loading the burn-in boards in which the first elements are inserted, and transferring the burn-in boards to the burn-in test unit; Disclosed is a device sorting apparatus comprising a burn-in board exchange buffer unit for exchanging a burn-in board into which a first device of the X-Y table is inserted into a burn-in board into which a second device of the board loader is inserted.

상기 X-Y테이블은 상하로 번인보드가 안착되는 한 쌍의 번인보드안착부와, 한 쌍의 상기 번인보드안착부 사이에서 상측 및 하측 중 적어도 일방향으로 상기 번인보드안착부에 안착된 번인보드를 이동시키는 번인보드승강부를 포함하고, 상기 번인보드교환버퍼부는 상기 X-Y테이블의 번인보드안착부에 대응되어 상하로 번인보드가 안착되는 한 쌍의 번인보드버퍼부를 포함하여 구성될 수 있다.The XY table moves a burn-in board seated on the burn-in board seating part in at least one of an upper side and a lower side between the pair of burn-in board seating seats on which the burn-in board seats up and down, and the pair of burn-in board seating seats. The burn-in board lifting unit may be configured, and the burn-in board exchange buffer unit may include a pair of burn-in board buffers in which burn-in boards are seated up and down corresponding to the burn-in board seating portion of the XY table.

상기 제2소자들이 적재된 번인보드는 상기 보드로더로부터 인출되어 상기 번인보드교환버퍼부의 상측에 위치된 번인보드버퍼부를 거쳐 상기 X-Y테이블의 상측에 위치된 번인보드안착부로 전달되며, 상기 제1소자들이 적재된 번인보드는 상기 X-Y테이블의 하측에 위치된 번인보드안착부를 거쳐 상기 번인보드교환버퍼부의 하측에 위치된 번인보드버퍼부로 전달되어 상기 보드로더로 배출되도록 구성될 수 있다.The burn-in board on which the second elements are loaded is withdrawn from the board loader and transferred to the burn-in board seating portion located above the XY table via the burn-in board buffer portion located above the burn-in board exchange buffer portion. The loaded burn-in board may be configured to be delivered to the burn-in board buffer part located under the burn-in board exchange buffer part via the burn-in board seating part located at the lower side of the XY table and discharged to the board loader.

상기 번인보드는 상기 번인보드교환버퍼부 및 상기 보드로더 사이에서 하나 이상의 서브핑거들에 의하여 이송되며, 상기 서브핑거들은 상기 번인보드교환버퍼부 및 상기 보드로더 사이의 각 서브핑거들에 대응되는 복수개의 서브이동구간에서 상기 번인보드를 이송하도록 구성될 수 있다.The burn-in board is transported by one or more sub-fingers between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader, and the sub-fingers correspond to a plurality of sub-fingers between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader. The burn-in board may be configured to be transported in three sub-movement sections.

상기 보드로더는 상기 X-Y테이블의 Y축방향으로 배치되어 다수개의 번인보드들이 적재된 랙이 복수개의 단으로 적재되는 한 쌍의 랙적재부와; 상기 한 쌍의 랙적재부 사이에 설치되어 상기 랙적재부로부터 랙을 인출하여 상기 랙을 상하이동시키는 엘리베이터부를 포함하여 구성될 수 있다.The board loader includes a pair of rack loading parts arranged in the Y-axis direction of the X-Y table so that a rack including a plurality of burn-in boards is stacked in a plurality of stages; It is installed between the pair of rack loading portion may be configured to include an elevator unit for pulling out the rack from the rack loading portion to move the rack.

상기 보드로더는 상기 한 쌍의 랙적재부에 대응되어 상기 랙적재부 각각에 적재된 랙을 인출하기 위한 한 쌍의 랙인출부를 포함하여 구성될 수 있다.The board loader may include a pair of rack take-out units corresponding to the pair of rack loading units to withdraw the racks loaded on each of the rack loading units.

본 발명은 또한 제1소자들이 적재된 트레이가 로딩되는 로딩부와; 번인보드로부터 제2소자들을 인출하는 제2이송툴과; 상기 로딩부의 트레이에 적재된 제1소자들을 상기 번인보드의 빈자리로 삽입하는 제1이송툴과; 상기 제2이송툴에 의하여 상기 번인보드로부터 인출된 제2소자들을 전달받아 트레이에 적재하여 언로딩하는 언로딩부와; 상기 제1이송툴 및 제2이송툴과 연동하여 상기 번인보드가 로딩된 X-Y테이블을 X-Y방향으로 이동시시킴과 아울러 상기 번인보드에 제1소자들의 삽입이 완료되면, 상기 X-Y테이블을 번인보드 교환위치로 이동시키는 X-Y테이블구동부와; 번인보드들이 적재된 랙이 적재되는 복수개의 랙적재부를 포함하는 보드로더와; 상기 보드로더 및 상기 X-Y테이블구동부 사이에서 번인보드를 교환하도록 설치되며, 상기 보드로더에 적재된 랙으로부터 제2소자가 삽입된 번인보드를 인출하고 상기 X-Y테이블의 제1소자가 삽입된 번인보드와 상기 보드로더에 적재된 랙에 삽입하는 번인보드교환버퍼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치를 개시한다.The present invention also provides a loading unit for loading a tray loaded with the first elements; A second transfer tool for drawing out second elements from the burn-in board; A first transfer tool for inserting the first elements loaded in the tray of the loading unit into an empty position of the burn-in board; An unloading unit which receives the second elements drawn out from the burn-in board by the second transfer tool, loads them into a tray, and unloads them; In conjunction with the first transfer tool and the second transfer tool, the XY table loaded with the burn-in board is moved in the XY direction, and when the insertion of the first elements into the burn-in board is completed, the burn-in board exchange position XY table driving unit for moving to; A board loader including a plurality of rack loading parts on which a rack on which burn-in boards are stacked is mounted; The burn-in board is installed to exchange the burn-in board between the board loader and the XY table driving unit, and the burn-in board with the second element inserted therefrom is removed from the rack loaded on the board loader. Disclosed is a device sorting apparatus comprising a burn-in board exchange buffer unit inserted into a rack loaded on the board loader.

상기 번인보드교환버퍼부가 상기 각 랙적재부에 적재된 랙으로부터 번인보드를 인출할 수 있도록 상기 번인보드교환버퍼부의 수직 및 수평이동을 구동하기 위한 교환버퍼구동부를 포함할 수 있다.The burn-in board exchange buffer unit may include an exchange buffer driving unit for driving the vertical and horizontal movement of the burn-in board exchange buffer unit so as to withdraw the burn-in board from the rack loaded in each rack loading portion.

상기 교환버퍼구동부는 상기 보드로더에 적재된 랙의 상하를 기준으로 상기 번인보드교환버퍼부의 상하이동을 구동하는 제1구동부 및 상기 보드로더에 랙이 배치된 수평방향을 기준으로 상기 번인보드교환버퍼부의 수평이동을 구동하는 제2구동부를 포함할 수 있다.The exchange buffer driving unit includes a first drive unit for driving a shanghai movement of the burn-in board exchange buffer unit based on the top and bottom of the rack loaded on the board loader, and the burn-in board exchange buffer based on a horizontal direction in which the rack is arranged on the board loader. It may include a second driving unit for driving the horizontal movement of the part.

본 발명은 또한 상기 소자소팅장치의 보드로더모듈로서, 상기 번인보드교환버퍼부, 상기 교환버퍼구동부 및 상기 상기 교환버퍼구동부가 하나의 모듈로 구성된 보드로더모듈을 개시한다.The present invention also discloses a board loader module of the device sorting apparatus, wherein the burn-in board exchange buffer unit, the exchange buffer driver, and the exchange buffer driver comprise one module.

본 발명에 따른 소자소팅장치는 X-Y테이블 상의 번인보드로 소자의 인출 및 적재가 이루어질 때 보드로더로부터 번인보드를 교환하고, X-Y테이블 상의 번인보드로 소자의 인출 및 적재를 마친 후 X-Y테이블과 번인보드를 교환하는 번인보드교환버퍼부를 추가로 구비하여 번인보드의 교체시간을 단축시킴으로써 처리속도를 현저하게 높일 수 있는 이점이 있다.The device sorting apparatus according to the present invention exchanges the burn-in board from the board loader when the device is taken out and loaded into the burn-in board on the XY table, and after the drawing and loading of the device into the burn-in board on the XY table, the XY table and the burn-in board The burn-in board replacement buffer unit is further provided to replace the burn-in board, thereby reducing the replacement time of the burn-in board, thereby increasing the processing speed significantly.

또한 본 발명에 따른 소자소팅장치는 랙의 인출 및 X-Y테이블과의 번인보드교환을 위한 엘리베이터부를 번인보드가 적재된 랙들이 적재되는 한 쌍의 랙적재부들 사이에 설치하여 미리 랙을 인출함으로써 보드로더 및 X-Y테이블과의 번인보드 교환시간을 단축시켜 소자소팅장치의 처리속도를 현저하게 향상시킬 수 있는 이점이 있다.In addition, the device sorting apparatus according to the present invention is installed by the elevator unit for the draw out of the rack and the exchange of the burn-in board with the XY table between the pair of rack loading parts on which the racks with the burn-in boards are loaded to take out the rack in advance And it is possible to reduce the burn-in board replacement time with the XY table to significantly improve the processing speed of the element sorting apparatus.

또한 본 발명에 따른 소자소팅장치는 보드로더와 X-Y테이블 사이에 번인보드를 교환하기 위한 번인보드교환버퍼부를 설치하고 번인보드교환버퍼부를 상하좌우로 이동시켜 보드로더에 적재된 랙으로부터 번인보드를 인출하도록 하여 보드로더 및 X-Y테이블과의 번인보드 교환시간을 단축시켜 소자소팅장치의 처리속도를 현저하게 향상시킬 수 있다.In addition, the device sorting apparatus according to the present invention installs a burn-in board exchange buffer portion for exchanging burn-in boards between the board loader and the XY table, and moves the burn-in board exchange buffer portion up, down, left, and right to take out the burn-in board from the rack loaded on the board loader. By reducing the burn-in board replacement time with the board loader and the XY table, the processing speed of the element sorting device can be remarkably improved.

도 1은 본 발명에 따른 소자소팅장치의 일예를 보여주는 개념도이다.
도 2는 도 1의 소자소팅장치의 구성을 보여주는 평면도이다.
도 3은 도 1의 소자소팅장치의 제1이동버퍼들 및 제2이동버퍼들의 구성을 보여주는 단면도이다.
도 4는 도 1의 소자소팅장치에서 X-Y테이블 및 번인보드의 이동과정을 보여주는 배치도이다.
도 5는 도 1의 소자소팅장치에서 X-Y테이블 및 번인보드교환버퍼부 사이에서 번인보드의 교환과정을 보여주는 개념도들로서,
도 5a는 X-Y테이블과 번인보드교환버퍼부 사이에서 최초로 번인보드를 교환하기 전의 상태를,
도 5b는 X-Y테이블과 번인보드교환버퍼부 사이에서 번인보드를 교환한 후의 상태를,
도 5c 및 도 5d는 X-Y테이블과 번인보드교환버퍼부 사이에서 번인보드의 교환과정을 보여주는 도면들이다.
도 6은 도 1의 소자소팅장치에서 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드의 교환과정을 보여주는 개념도들로서,
도 6a는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드를 교환하기 전의 상태를,
도 6b는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로 인입되는 중간상태를,
도 6c는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로 인입된 상태를,
도 6d는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로부터 인출되는 중간상태를,
도 6e는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로부터 인출된 상태를 보여주는 개념도들이다.
도 7은 보드로더의 구성을 보여주는 측면도이다.
도 8a는 도 1의 소자소팅장치에서 변형된 구성을 가지는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더를 보여주는 측단면도이다.
도 8b는 도 8a의 보드로더를 보여주는 측면도이다.
1 is a conceptual diagram illustrating an example of a device sorting apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a plan view illustrating a configuration of the device sorting apparatus of FIG. 1.
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating the configuration of first and second moving buffers of the device sorting apparatus of FIG. 1.
FIG. 4 is a layout view illustrating a process of moving an XY table and a burn-in board in the device sorting apparatus of FIG. 1.
FIG. 5 is a conceptual diagram illustrating a process of exchanging a burn-in board between an XY table and a burn-in board exchange buffer unit in the device sorting apparatus of FIG. 1.
5A shows a state before the burn-in board is first exchanged between the XY table and the burn-in board replacement buffer section.
5B shows a state after the burn-in board is exchanged between the XY table and the burn-in board replacement buffer section.
5C and 5D are views illustrating a process of exchanging the burn-in board between the XY table and the burn-in board exchange buffer unit.
FIG. 6 is a conceptual diagram illustrating a process of exchanging a burn-in board between a burn-in board exchange buffer unit and a board loader in the device sorting apparatus of FIG. 1.
Figure 6a is a state before replacing the burn-in board between the burn-in board replacement buffer unit and the board loader,
Figure 6b is a middle state that the burn-in board is introduced into the rack of the board loader between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader,
6C is a view illustrating a state where a burn-in board is inserted into a rack of a board loader between a burn-in board exchange buffer unit and a board loader.
Figure 6d is a middle state that the burn-in board is drawn out from the rack of the board loader between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader,
6E is a conceptual diagram illustrating a state where a burn-in board is drawn out from the rack of the board loader between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader.
7 is a side view showing the configuration of the board loader.
8A is a side cross-sectional view illustrating a burn-in board exchange buffer unit and a board loader having a modified configuration in the device sorting apparatus of FIG. 1.
8B is a side view illustrating the board loader of FIG. 8A.

이하 본 발명에 따른 소자소팅장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a device sorting apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 소자소팅장치의 일예를 보여주는 개념도이고, 도 2는 도 1의 소자소팅장치의 구성을 보여주는 평면도이고, 도 3은 도 1의 소자소팅장치의 제1이동버퍼들 및 제2이동버퍼들의 구성을 보여주는 단면도이고, 도 4는 도 1의 소자소팅장치에서 X-Y테이블 및 번인보드의 이동과정을 보여주는 배치도이다.1 is a conceptual diagram illustrating an example of a device sorting apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a plan view showing a configuration of the device sorting apparatus of FIG. 1, and FIG. 3 is a first moving buffer and a first moving buffer of the device sorting apparatus of FIG. 1. 2 is a cross-sectional view showing the configuration of the moving buffer, Figure 4 is a layout showing the movement process of the XY table and the burn-in board in the device sorting apparatus of FIG.

본 발명의 실시예에 따른 소자소팅장치는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 로딩부(100), 언로딩부(200), 소팅부(300) 및 소자(10)들을 이송하기 위한 복수개의 이송툴(510, 520, 530, 540, 550, 560)들을 포함하여 구성된다.Device sorting apparatus according to an embodiment of the present invention, as shown in Figures 1 and 2, a plurality of for transporting the loading unit 100, unloading unit 200, sorting unit 300 and the elements 10 It comprises two transfer tools (510, 520, 530, 540, 550, 560).

상기 번인보드(20)는 번인테스트장치(미도시)에서 번인테스트를 거칠 수 있도록 제1소자(10)들이 적재되는 보드를 말하며, 고온 하에서 전기특성, 신호특성들에 대한 테스트가 가능하도록 소자(10)들이 각각 삽입되는 소켓들을 구비한다.The burn-in board 20 refers to a board on which the first devices 10 are loaded so as to undergo a burn-in test in a burn-in test apparatus (not shown). 10) each have sockets into which they are inserted.

상기 번인보드(20)는 소자소팅장치에 설치된 X-Y테이블(410)에 탑재되어 번인테스트를 마친 제2소자(10)들이 언로딩됨과 아울러 제1소자(10)들이 적재된다.The burn-in board 20 is mounted on the X-Y table 410 installed in the device sorting apparatus, and the second devices 10 that have been burn-in tested are unloaded and the first devices 10 are loaded.

상기 X-Y테이블(410)은 제2소자(10)들이 삽입된 번인보드(20)를 로딩하는 동시에 제1소자(10)들이 삽입된 번인보드(20)를 언로딩하기 위하여 번인보드(20)를 한 구성으로서, 도 1, 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, 소자(10)의 교환을 수행할 번인보드(20)를 공급받거나 소자(10)의 교환을 마친 번인보드(20)를 배출하기 위하여 번인보드교환장치(미도시)를 포함한다.The XY table 410 loads the burn-in board 20 into which the second elements 10 are inserted and simultaneously unloads the burn-in board 20 into which the first elements 10 are inserted. As a configuration, as shown in FIGS. 1, 2, and 4, the burn-in board 20 to be replaced with the element 10 is supplied or the burn-in board 20 after the replacement of the element 10 is discharged. Burn-in board exchanger (not shown).

그리고 상기 X-Y테이블(410)은 제1이송툴(530)에 의하여 번인보드(20)의 빈자리에 제1소자(10)들이 삽입되거나 번인보드(20)로부터 제2소자(10)들이 인출될 수 있도록 X-Y테이블구동부(미도시)에 의하여 구동되어 번인보드(20)를 이동시키도록 구성된다.In the XY table 410, the first elements 10 may be inserted into the empty positions of the burn-in board 20 by the first transfer tool 530, or the second elements 10 may be withdrawn from the burn-in board 20. It is configured to be driven by the XY table driver (not shown) to move the burn-in board (20).

상기 X-Y테이블구동부는 제2이송툴(540) 및 제1이송툴(530)이 소자(10)들을 번인보드(20)로부터 인출하거나 적재하는데 용이하도록 제2이송툴(540) 및 제1이송툴(530)과 연동하여 번인보드(20)가 로딩된 X-Y테이블(410)의 X-Y이동 또는 X-Y-θ이동 등 다양한 구성이 가능하다.The XY table driving unit includes a second transfer tool 540 and a first transfer tool to facilitate the second transfer tool 540 and the first transfer tool 530 to withdraw or load the elements 10 from the burn-in board 20. Various configurations such as XY movement or XY-θ movement of the XY table 410 loaded with the burn-in board 20 in conjunction with 530 may be possible.

즉, 상기 X-Y테이블구동부는 제2이송툴(540)과 연동하여 번인보드(20)로부터 제2소자(10)들을 인출함과 아울러 제1이송툴(530)과 연동하여 제1소자(10)들을 번인보드(20)의 빈자리로 삽입하도록 X-Y테이블(410)을 이동시키고 번인보드(20)에 제1소자(10)들의 삽입이 완료되면, X-Y테이블(410)을 번인보드 교환위치로 이동시키도록 구성될 수 있다.That is, the XY table driving unit withdraws the second elements 10 from the burn-in board 20 in cooperation with the second transfer tool 540 and the first element 10 in conjunction with the first transfer tool 530. Move the XY table 410 to insert the vacant position into the empty position of the burn-in board 20. When the insertion of the first elements 10 into the burn-in board 20 is completed, move the XY table 410 to the burn-in board replacement position. It can be configured to.

한편 상기 X-Y테이블(410)은 본 발명에 따른 소자소팅장치를 구성하는 본체(40)에 설치되며, 본체(40)는 제2이송툴(540) 및 제1이송툴(530)이 소자(10)들을 번인보드(20)로부터 인출하거나 적재하기 위한 개구부(41)가 형성된 상판(42)을 포함할 수 있다.Meanwhile, the XY table 410 is installed in the main body 40 constituting the element sorting apparatus according to the present invention, and the main body 40 includes the second transfer tool 540 and the first transfer tool 530. ) May include a top plate 42 having an opening 41 for extracting or loading the bundles from the burn-in board 20.

상기 로딩부(100)는 번인보드(20)에 적재될 다수개의 제1소자(10)들이 적재된 트레이(30)(이하 '로딩트레이'라 한다)들을 로딩하기 위한 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The loading unit 100 is a configuration for loading the tray 30 (hereinafter referred to as a 'loading tray') on which the plurality of first elements 10 to be loaded on the burn-in board 20 may be loaded. Do.

또한 상기 언로딩부(200)는 제2소자(10)들 중 양호한 소자(이하 '양품'이라 한다)들을 트레이(30)(이하 '언로딩트레이'라 한다)에 적재하여 언로딩하기 위한 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.In addition, the unloading unit 200 is configured to load and unload good elements (hereinafter referred to as 'good quality') among the second elements 10 in the tray 30 (hereinafter referred to as 'unloading tray'). As such, various configurations are possible.

상기 로딩부(100) 및 언로딩부(200)는 도 2에 도시된 바와 같이, 각각 트레이(30)가 이동될 수 있도록 가이드하는 한 쌍의 가이드레일(110, 210)과, 트레이(30)를 이동시키기 위한 구동부(미도시)를 포함하여 구성됨이 일반적이다.As shown in FIG. 2, the loading unit 100 and the unloading unit 200 each have a pair of guide rails 110 and 210 for guiding the tray 30 to be moved, and the tray 30. It is generally configured to include a drive unit (not shown) for moving the.

또한 상기 로딩부(100) 및 언로딩부(200)는 설계조건에 따라 다양한 배치가 가능하나, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 테스트부(170), 언로딩부(200), 소팅부(300), 제1이동버퍼(600), 제2이동버퍼(700) 등이 사이에 설치되도록 서로 평행하게 배치됨이 일반적이나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.In addition, the loading unit 100 and the unloading unit 200 may be variously arranged according to design conditions, as shown in FIGS. 1 and 2, the test unit 170, the unloading unit 200, and sorting. The unit 300, the first moving buffer 600, the second moving buffer 700, and the like are generally disposed in parallel with each other so as to be interposed therebetween, but are not limited thereto.

한편 상기 로딩부(100)에서 트레이(30)로부터 제1소자(10)들이 인출된 후 빈 트레이(30)들은 트레이이송부(미도시)에 의하여 제2소자(10)들이 적재될 수 있도록 언로딩부(200)로 전달될 수 있다.Meanwhile, after the first device 10 is withdrawn from the tray 30 in the loading unit 100, the empty trays 30 are unloaded so that the second devices 10 may be loaded by a tray transfer unit (not shown). It may be delivered to the unit 200.

이때 트레이(30)에 소자(10)가 잔존할 수 있는바, 트레이(30)가 로딩부(100)에서 언로딩부(200)로 전달되기 전에 트레이(30)에 잔존하는 소자(10)들을 제거하기 위하여 트레이(30)를 회전시켜 잔존하는 소자(10)를 제거하는 트레이회전부(150)가 추가로 설치될 수 있다.In this case, the element 10 may remain in the tray 30, so that the elements 10 remaining in the tray 30 before the tray 30 is transferred from the loading unit 100 to the unloading unit 200. In order to remove the tray 30 to rotate the tray 30 to remove the remaining element 10 may be additionally installed.

상기 트레이회전부(150)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 로딩부(100) 및 언로딩부(200) 사이에서 트레이(30)의 이송경로 상에 설치되며 트레이이송부에 의하여 로딩부(100)로부터 트레이(30)를 전달받아 트레이(30)를 회전시킨 후 언로딩부(200)로 트레이(30)를 전달하도록 구성된다. 1 and 2, the tray rotating unit 150 is installed on the transfer path of the tray 30 between the loading unit 100 and the unloading unit 200, and the loading unit ( The tray 30 is received from the 100, and the tray 30 is rotated, and then the tray 30 is transferred to the unloading unit 200.

이때 상기 트레이회전부(150)의 일측에는 소팅부(300) 이외에 소팅부(300), 언로딩부(200) 등으로 빈 트레이(30)를 공급하거나 로딩부(100)로부터 빈 트레이(30)를 임시로 적재할 수 있는 빈트레이부(160)가 추가로 설치될 수 있다.In this case, one side of the tray rotating unit 150 supplies the empty tray 30 to the sorting unit 300, the unloading unit 200, etc. in addition to the sorting unit 300, or supplies the empty tray 30 from the loading unit 100. A bin tray 160 that can be temporarily loaded may be additionally installed.

한편 본 발명에 따른 소자소팅장치는 양품의 제1소자(10)만을 번인보드(20)에 적재하기 위하여 번인보드(20)에 적재하기 전에 로딩부(100)들로부터 제1소자(10)들을 공급받아 소자(10)에 대한 DC특성과 같은 전기적 특성을 미리 테스트하기 위한 테스트부(170)가 추가로 설치될 수 있다.On the other hand, the device sorting apparatus according to the present invention is to load the first device 10 from the loading unit 100 before loading on the burn-in board 20 in order to load only the good first device 10 on the burn-in board 20 The test unit 170 may be additionally installed to test the electrical characteristics such as the DC characteristics of the device 10 in advance.

상기 테스트부(170)는 로딩부(100) 및 제1이동버퍼(600) 사이에 설치되어, 제1소자(10)들이 전기적으로 연결될 수 있는 복수 개의 소켓들로 구성되는 등 다양한 구성이 가능하며, 바람직하게는 가로방향으로 트레이(30)의 가로방향 개수와 동일한 수의 소켓들이 설치될 수 있다.The test unit 170 is installed between the loading unit 100 and the first moving buffer 600, it is possible to configure a variety of configurations, such as consisting of a plurality of sockets that can be electrically connected to the first element (10) Preferably, the same number of sockets as the horizontal number of the trays 30 in the horizontal direction may be installed.

상기 테스트부(170)의 각 제1소자(10)에 대한 테스트결과는 후술하는 소팅부(300)에서 소팅하기 위한 데이터로 활용된다.The test result of each of the first elements 10 of the test unit 170 is used as data for sorting in the sorting unit 300 to be described later.

한편 본 발명에 따른 소자소팅장치는 테스트부(170)의 테스트결과 불량으로 판정된 제1불량소자(10)들, 제2소자(10)들 중 분류가 필요한 제2불량소자(10)들을 분류하여 적재하기 위한 소팅부(300)를 포함할 수 있다.Meanwhile, the device sorting apparatus according to the present invention classifies the first defective elements 10 and the second defective elements 10 that need to be classified among the second elements 10 that are determined to be inferior as a result of the test of the test unit 170. It may include a sorting unit 300 for loading.

상기 소팅부(300)는 그 배치 및 분류기준에 따라서 다양한 구성이 가능하며, 각 분류기준(양호(Good), 불량1(Contact Reject), 불량2(DC Failure) 등)에 따라서 소자(10)가 적재되는 적정한 수의 트레이(30)-소팅트레이-들을 포함하며, 앞서 설명한 로딩부(100)의 구성과 유사한 구성을 가지거나 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본체(40)에 고정된 상태로 로딩부(100) 및 언로딩부(200) 사이에 배치될 수 있다.The sorting unit 300 may be configured in various ways according to its arrangement and classification criteria, and according to each classification criteria (Good, Bad Reject 1, Bad 2, DC Failure, etc.) It includes a suitable number of trays 30 (sorting trays), which are loaded, and have a configuration similar to that of the loading unit 100 described above, or fixed to the main body 40, as shown in Figures 1 and 2 It may be disposed between the loading unit 100 and the unloading unit 200 in the state.

또한 상기 소팅부(300)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 고정되어 설치되는 구성이외에, 로딩부(100) 및 언로딩부(200)의 구성과 유사하게 각각 트레이(30)가 이동될 수 있도록 가이드하는 한 쌍의 가이드레일과, 트레이(30)를 이동시키기 위한 구동부(미도시)를 포함하여 구성될 수 있다.In addition, the sorting unit 300 is a fixed installation as shown in Figures 1 and 2, in addition to the configuration of the loading unit 100 and the unloading unit 200 similar to the configuration of the tray 30, respectively It may be configured to include a pair of guide rails to guide so as to guide, and a drive unit (not shown) for moving the tray (30).

상기 이송툴은 번인보드(20) 및 로딩부(100), 테스트부(170), 언로딩부(200), 소팅부(300), 후술하는 제1이동버퍼(600), 제2이동버퍼(700) 사이에서 소자(10)들을 이송하기 위한 구성으로 각 구성의 배치에 따라서 다양한 구성이 가능하다.The transfer tool includes a burn-in board 20 and a loading unit 100, a test unit 170, an unloading unit 200, a sorting unit 300, a first moving buffer 600, a second moving buffer (to be described later) As a configuration for transferring the elements 10 between the 700, various configurations are possible according to the arrangement of each configuration.

예를 들면, 상기 이송툴은 로딩부(100) 및 테스트부(170) 사이에서 소자(10)들을 이송하는 제3이송툴(510)과, 테스트부(170) 및 제1이동버퍼(600) 사이에서 소자(10)들을 이송하는 제4이송툴(520)과, 제2이동버퍼(700) 및 언로딩부(200) 사이에서 소자(10)들을 이송하는 제5이송툴(550) 및 상기 제1이동버퍼(600), 및 제2이동버퍼(700)와 소팅부(300) 사이에서 소자(10)들을 이송하는 소팅툴(560)을 포함할 수 있다.For example, the transfer tool may include a third transfer tool 510 for transferring the elements 10 between the loading unit 100 and the test unit 170, the test unit 170, and the first moving buffer 600. The fourth transfer tool 520 for transferring the elements 10 between, the fifth transfer tool 550 for transferring the elements 10 between the second moving buffer 700 and the unloading unit 200 and the It may include a first moving buffer 600, and a sorting tool 560 for transferring the elements 10 between the second moving buffer 700 and the sorting unit 300.

또한 상기 이송툴(510, 520, 530, 540, 550, 560)은 제1이동버퍼(600) 및 번인보드(20) 사이에서 로딩부(100)의 트레이(30)에 적재된 소자(10)들을 전달받아 번인보드(20)의 빈자리로 삽입하는 제1이송툴(530)과, 번인보드(20) 및 제2이동버퍼(700) 사이에서 번인보드(20)로부터 제2소자(10)들을 이송하는 제2이송툴(540)을 포함하여 구성될 수 있다.In addition, the transfer tool (510, 520, 530, 540, 550, 560) is a device 10 loaded on the tray 30 of the loading unit 100 between the first moving buffer 600 and the burn-in board (20) The second device 10 from the burn-in board 20 between the first transfer tool 530 and the burn-in board 20 and the second moving buffer 700 are inserted into the empty seat of the burn-in board 20 It may be configured to include a second transfer tool 540 for transferring.

한편 상기 번인보드(20)에 적재되는 소자(10)들의 배열은 로딩부(100) 등의 트레이(30)에 적재되는 소자(10)들의 배열과 서로 다르며, 번인보드(20) 상의 배열이 상대적으로 많다.The arrangement of the elements 10 loaded on the burn-in board 20 is different from the arrangement of the elements 10 loaded on the tray 30 such as the loading unit 100, and the arrangement on the burn-in board 20 is relative. There are many.

따라서 상기 번인보드(20)로 소자(10)를 이송하거나 인출하는 제1이송툴(530) 및 제2이송툴(540)은 나머지 이송툴들과는 상대적으로 많은 수의 소자(10)들을 이송하도록 구성됨이 바람직하다. 예를 들면, 제1이송툴(530) 및 제2이송툴(540)은 12×2로하고, 나머지 이송툴들은 8×1, 8×2 등으로 할 수 있다.Therefore, the first transfer tool 530 and the second transfer tool 540 for transferring or withdrawing the element 10 to the burn-in board 20 are configured to transfer a large number of elements 10 relative to the remaining transfer tools. This is preferred. For example, the first transfer tool 530 and the second transfer tool 540 may be 12 × 2, and the remaining transfer tools may be 8 × 1, 8 × 2, or the like.

상기와 같이 이송툴들을 구성하는 경우 상대적으로 많은 수의 소자(10)들의 이송이 필요한 위치를 제외하고 상대적으로 적은 수의 이송이 필요한 위치에서 적은 수의 소자(10)들을 이송하는 이송툴의 사용이 가능해져 장치의 제조비용을 절감함과 동시에 장치의 크기 및 안정성을 향상시킬 수 있게 된다.When configuring the transfer tools as described above, except for the position where the transfer of a relatively large number of elements 10, the use of the transfer tool for transferring a small number of elements 10 in a position requiring a relatively small number of transfers This can reduce the manufacturing cost of the device and at the same time improve the size and stability of the device.

한편 상기 제1이송툴(530) 및 제2이송툴(540)은 번인보드(20) 상에서 소자(10)의 적재 및 인출이 번갈아 수행됨을 고려하여 서로 일체로 이동하도록 구성될 수 있다.Meanwhile, the first transfer tool 530 and the second transfer tool 540 may be configured to move integrally with each other in consideration of alternate loading and withdrawal of the element 10 on the burn-in board 20.

상기 제3이송툴(510) 및 제4이송툴(520) 또한 테스트부(170)를 사이에 두고 소자(10)를 이송하게 되므로 서로 일체로 이동하도록 구성될 수 있다.Since the third transfer tool 510 and the fourth transfer tool 520 are also transferred to the device 10 with the test unit 170 therebetween, the third transfer tool 510 and the fourth transfer tool 520 may be configured to move integrally with each other.

또한 상기 제1이송툴(530) 및 제2이송툴(540)의 픽커들의 가로방향 개수는 소자(10)의 효율을 고려하여 제1이동버퍼(600) 및 제2이동버퍼(700)에서 소자(10)의 적재를 위한 소자수용홈(미도시)의 가로방향 개수와 같게 구성될 수 있다.In addition, the number of pickers of the first transfer tool 530 and the second transfer tool 540 in the horizontal direction may be determined by considering the efficiency of the device 10 in the first and second moving buffers 600 and 700. It may be configured to be equal to the number of transverse direction of the device receiving groove (not shown) for the loading of the (10).

상기 소팅툴(560)은 하나 또는 복수개로 구성되는 등 다양한 구성이 가능하며, 제1이동버퍼(600) 및 소팅부(300) 사이에서 소자(10)들을 이송하고 제2이동버퍼(700) 및 소팅부(300) 사이에서 소자(10)들을 이송하는 제2소팅툴(520)로 구성될 수 있다.The sorting tool 560 may be configured in various ways, including one or a plurality of elements. The sorting tool 560 transfers the elements 10 between the first moving buffer 600 and the sorting unit 300, and the second moving buffer 700. The second sorting tool 520 may transfer the elements 10 between the sorting units 300.

한편 상기 이송툴들은 각각 끝단에 소자(10)를 진공압에 의하여 흡착하는 흡착헤드를 구비하는 하나 이상의 픽커와 픽커를 X-Z, Y-Z 또는 X-Y-Z방향으로 이동시키기 위한 픽커이송장치를 포함하여 구성될 수 있다.Meanwhile, the transfer tools may include a picker transfer device for moving one or more pickers and pickers in the XZ, YZ, or XYZ directions, each of which has an adsorption head for adsorbing the element 10 by vacuum pressure at an end thereof. .

특히 상기 이송툴들은 픽커들이 일렬로 배치되거나, 12×2 등 복렬로 배치될 수 있다.In particular, the transfer tools may be arranged in a row, pickers arranged in a row, such as 12 × 2.

한편 본 발명에 따른 소자소팅장치는 로딩부(100)로부터 제1소자(10)들을 번인보드(20)에 적재하거나 번인보드(20)로부터 제2소자(10)들을 언로딩부(200)로 인출할 때 그 적재 및 인출속도를 향상시킬 수 있도록 로딩부(100) 및 번인보드(20) 사이, 번인보드(20) 및 언로딩부(200) 사이에 각각 설치되어 제1소자(10) 및 제2소자(10)들이 임시적재 및 전달하는 제1이동버퍼(600)들 및 제2이동버퍼(700)들을 포함할 수 있다.Meanwhile, the device sorting apparatus according to the present invention loads the first devices 10 from the loading unit 100 onto the burn-in board 20 or the second devices 10 from the burn-in board 20 to the unloading unit 200. When the withdrawal is installed between the loading unit 100 and the burn-in board 20, between the burn-in board 20 and the unloading unit 200 to improve the loading and withdrawal speed of the first element 10 and The second elements 10 may include first moving buffers 600 and second moving buffers 700 that are temporarily loaded and transferred.

상기 제1이동버퍼(600) 및 제2이동버퍼(700)는 본체(40)에 이동가능하게 설치되어 번인보드(20)와 소자를 교환하는 소자교환위치③, 로딩부(100) 또는 언로딩부(200)와 소자를 교환하는 소자교환위치① 및 소팅부(300)와 소자를 교환하는 소팅위치②를 이동하면서 소자(10)의 교환이 끊김없이 원활하게 이루어지도록 함으로써 소팅작업속도를 현저하게 향상시킬 수 있다.The first moving buffer 600 and the second moving buffer 700 are installed on the main body 40 so as to be movable so as to replace the element and the burn-in board 20 and the element replacement position ③, the loading unit 100 or unloading The sorting operation speed is remarkably improved by moving the element replacement position ① for exchanging the element with the part 200 and the sorting position ② for exchanging the element with the sorting part 300 so that the exchange of the element 10 is made smoothly and seamlessly. Can be improved.

상기 제1이동버퍼(600)는 테스트부(170)로부터 제1소자(10)들을 제2이송툴(540)에 의하여 전달받아 적재하는 로딩위치(소자교환위치) ①과, 제1불량소자(10)들을 소팅부(300)의 소팅트레이(30)로 소팅툴(560)에 의하여 이송하는 소팅위치 ②와, 제1불량소자(10)들이 제거된 나머지 제1소자(10)들을 후술하는 제3이송툴(510)에 의하여X-Y테이블(410)의 번인보드(20)에 적재하는 적재위치(소자교환위치) ③으로 이동하도록 구성된다.The first moving buffer 600 is a loading position (element replacement position) ① and the first defective element (1) to receive and load the first element 10 from the test unit 170 by the second transfer tool 540 10 is a sorting position (2) for transferring the sorting unit (2) to the sorting tray (30) of the sorting unit (300) by the sorting tool (560), and the first defective elements (10) having been removed. The transfer tool 510 is configured to move to a loading position (element replacement position) 3 that is loaded onto the burn-in board 20 of the XY table 410.

상기 제1이동버퍼(600)들은 도 3에 도시된 바와 같이, 각각 소자(10)들이 적재되는 소자수용부(610)와, 소자수용부(610)를 본체(40)에 이동가능하게 지지하는 가이드부재(620)와, 가이드부재(620)을 통하여 소자수용부(610)를 이동시키는 이동장치(미도시)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 3, the first movable buffers 600 are movable to support the main body 40 with the element accommodating part 610 and the element accommodating part 610 on which the elements 10 are loaded. It comprises a guide member 620 and a moving device (not shown) for moving the element accommodating portion 610 through the guide member 620.

상기 소자수용부(610)는 적재위치 ③에서 보다 많은 수의 소자(10)들이 적재될 수 있도록 소자(10)의 적재를 위한 소자수용홈의 가로방향의 개수가 트레이(30)에 소자(10)를 적재하기 위한 소자수용홈의 가로방향의 개수보다 많은 것이 좋다.The element accommodating part 610 has a number of elements 10 in the horizontal direction of the element accommodating groove for loading the element 10 so that a larger number of elements 10 can be loaded at the mounting position ③. ) Is more than the number of transverse directions of the element receiving groove for loading.

여기서 상기 소자수용부(610)는 소자(10)들의 적재를 위한 구성으로서, 소자(10)들이 직접 적재되도록 구성되거나, 소팅 대상인 소자(10)의 종류에 따라서 크기가 달라질 수 있는바 소자수용홈들이 형성된 별도의 수용부재(610a)를 포함할 수 있다.Here, the element accommodating part 610 is configured to stack the elements 10, and may be configured to directly load the elements 10 or may vary in size depending on the type of the element 10 to be sorted. They may include a separate receiving member (610a) formed.

상기 제1이동버퍼(600)들은 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 각 위치(①, ②, ③)들에서 동시에 과정이 수행될 수 있도록 3개로 구성됨이 바람직하다. 이때 상기 가이드부재(620)는 이동시 다른 가이드부재(620)와 간섭되지 않도록 구성된다.As shown in FIGS. 1 and 2, the first moving buffers 600 are preferably configured in three so that the process may be simultaneously performed in each of the positions ①, ②, and ③. At this time, the guide member 620 is configured not to interfere with other guide member 620 during movement.

즉, 상기 제1이동버퍼(600)들은 도 3에 도시된 바와 같이, 제1가이드부재(621)에 지지되어 수평 이동하는 제1소자수용부(611)와, 제2가이드부재(622)에 지지되어 수평 이동하는 제2소자수용부(612)와, 제3가이드부재(623)에 지지되어 수평 이동하는 제3소자수용부(613)를 포함하여 구성될 수 있다. That is, as shown in FIG. 3, the first moving buffers 600 are supported by the first element accommodating part 611 and the second guide member 622 which are supported by the first guide member 621 and move horizontally. The second element accommodating part 612 supported and horizontally moved and the third element accommodating part 613 supported by the third guide member 623 and horizontally moved may be included.

상기 제1 내지 제3가이드부재(621, 622, 623)들은 각 소자수용부(611, 612, 613)들이 수평이동될 수 있도록 가이드하기 위한 구성으로서, 다양한 구성이 가능하며, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1가이드부재(621)는 본체(40)의 설치된 지지부재(640)의 상부, 즉 상단에 설치되고, 제2가이드부재(622)는 지지부재(640)의 중간부분, 즉 중간에 설치되고, 제3가이드부재(623)은 지지부재(640)의 하측, 즉 하단에 또는 본체(40)의 상판(42)에 설치될 수 있다. 여기서 상기 제1 내지 제3가이드부재(621, 622, 623)들은 소자수용부(620)을 안정적으로 지지할 수 있도록 쌍을 이루어 구성될 수 있다.The first to third guide members 621, 622, and 623 are configurations for guiding the respective element accommodating parts 611, 612, and 613 to be horizontally moved, and various configurations are possible, and are illustrated in FIG. 4. As described above, the first guide member 621 is installed on the upper portion, that is, the upper end of the supporting member 640 of the main body 40, and the second guide member 622 is the middle portion of the supporting member 640, that is, the middle portion. The third guide member 623 may be installed at the lower side of the support member 640, that is, at the lower end or on the upper plate 42 of the main body 40. The first to third guide members 621, 622, and 623 may be configured in pairs to stably support the element accommodating part 620.

한편 상기 제1 내지 제3가이드부재(621, 622, 623)들을 수평이동시키는 이동장치(630)는 구동방식에 따라서 다양한 구성이 가능하며, 제1 내지 제3가이드부재(621, 622, 623)들을 각각 수평이동시키는 제1 내지 제3이동장치(631, 632, 633)들을 포함할 수 있다. 이때 상기 제1 내지 제3이동장치(631, 632, 633)들은 각각 회전력을 발생시키는 모터와, 제1 내지 제3가이드부재(621, 622, 623)들과 결합되는 벨트, 특히 타이밍벨트 및 풀리의 조합에 의하여 구성될 수 있다.Meanwhile, the moving device 630 for horizontally moving the first to third guide members 621, 622, and 623 may be configured in various ways according to a driving method, and the first to third guide members 621, 622, and 623 may be used. It may include first to third mobile devices (631, 632, 633) for horizontally moving them. In this case, the first to third moving devices 631, 632, and 633 are respectively a motor generating a rotational force and a belt, in particular, a timing belt and a pulley, coupled to the first to third guide members 621, 622, and 623. It can be configured by a combination of.

상기와 같은 구성을 가지는 제1이동버퍼(600)의 작동을 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the first moving buffer 600 having the above configuration in detail as follows.

상기 제1이동버퍼(600)들은 로딩위치 ①에서, 로딩과정 즉, 테스트부(170)로부터 제1소자(10)들이 소자수용부(610)로 로딩된다. 이때 소자수용부(610)로 로딩되는 제1소자(10)들은 테스트부(170)에서 불량으로 판정된 제1불량소자(10)들이 포함된바 이를 선별할 필요가 있다.The first mobile buffers 600 are loaded at the loading position ①, that is, the first device 10 is loaded from the test unit 170 to the device receiving unit 610. In this case, the first devices 10 loaded into the device accommodating part 610 include the first defective devices 10 determined as defective in the test part 170.

따라서 상기 제1이동버퍼(600)들은 로딩위치 ①에서 소자(10)들의 로딩이 완료된 후에 제1불량소자(10)들을 선별하기 위하여 소팅위치 ②로 이동한다.Therefore, the first moving buffers 600 are moved to the sorting position ② to sort the first defective elements 10 after the loading of the elements 10 at the loading position ① is completed.

상기 제1이동버퍼(600)가 소팅위치 ②에 위치되면, 제1소팅과정 즉, 이송툴에 의하여 제1불량소자(10)들이 소자수용부(610)에서 소팅부(300)로 이송된다. 이때 각 제1불량소자(10)들은 그 불량기준에 따라서 소팅부(300)의 트레이(30)에 적재된다.When the first moving buffer 600 is located at the sorting position ②, the first defective element 10 is transferred from the element accommodating part 610 to the sorting part 300 by the first sorting process, that is, the transfer tool. At this time, each of the first defective elements 10 is loaded on the tray 30 of the sorting unit 300 according to the defect standard.

여기서 상기 소팅위치 ②에서 소자수용부(610) 중 제1불량소자(10)들이 제거된 자리에는 테스트부(170)의 테스트 결과 양품으로 판정된 소자(이하 '제1정상소자'자라 한다)(10)들이 미리 적재된 제1고정버퍼(341)로부터 제1정상소자(10)들로 채워진다-버퍼링과정.Where the first defective element 10 of the element accommodating portion 610 is removed at the sorting position ②, the element determined as a good result of the test of the test unit 170 (hereinafter referred to as 'first normal element') ( 10) are filled with the first normal elements 10 from the first fixed buffer 341 preloaded-buffering process.

한편 상기 제1고정버퍼(341)는 본체(40)에 설치되어 테스트 결과 제1정상소자(10)들이 미리 적재되어 있으며, 최초 또는 작동 중에 비워진 경우 제1이동버퍼(600)가 소팅위치 ②에 위치된 제1이동버퍼(600)의 소자수용부(610)에 제1정상소자(10)들이 적재될 수 있다. On the other hand, the first fixed buffer 341 is installed in the main body 40, and as a result of the test, the first normal elements 10 are pre-loaded. The first normal devices 10 may be loaded in the device accommodating part 610 of the first moving buffer 600 positioned.

상기 제1이동버퍼(600)에서 제1소팅과정이 모두 완료되면 소팅위치 ②에서 적재위치 ③으로 이동한다. 그리고 제1이동버퍼(600)에 적재된 제1정상소자(10)들은 이송툴에 의하여 번인보드(20)에 적재되는 적재과정이 수행된다.When all of the first sorting process is completed in the first moving buffer 600, it moves from the sorting position ② to the stacking position ③. The first normal elements 10 loaded on the first moving buffer 600 are loaded on the burn-in board 20 by a transfer tool.

그리고 상기 제1이동버퍼(600)의 소자수용부(610)가 모두 비워지면 제1소자(10)들이 적재될 수 있도록 적재위치 ③에서 로딩위치 ①로 이동하여 로딩과정이 다시 수행된다.When the device accommodating part 610 of the first moving buffer 600 is empty, the loading process is performed again by moving from the loading position ③ to the loading position ① so that the first elements 10 can be loaded.

상기 제2이동버퍼(700)는 제1이동버퍼(600)와 유사한 구성으로서, 번인보드(20)로부터 제2소자(10)들을 전달받아 제2이송툴(540)에 의하여 적재하는 적재위치(소자교환위치) ③과, 제2불량소자(10)들을 소팅부(300)의 트레이(30)-소팅트레이-로 이송툴에 의하여 이송하는 소팅위치 ②와, 제2불량소자(10)들이 제거된 나머지 제2소자(10)들을 제5이송툴(550)에 의하여 트레이(30)-언로딩트레이-에 적재하는 언로딩위치(소자교환위치) ①로 반복하여 이동하도록 구성된다.The second moving buffer 700 has a configuration similar to that of the first moving buffer 600, and receives the second elements 10 from the burn-in board 20 to be loaded by the second transfer tool 540 ( Element replacement position) and the sorting position ② for transferring the second defective elements 10 to the tray 30 of the sorting unit 300 by the sorting tray transfer tool, and the second defective elements 10 are removed. It is configured to repeatedly move the remaining second element 10 to the unloading position (element replacement position) ① that is loaded on the tray 30-the unloading tray-by the fifth transfer tool 550.

상기와 같은 구성을 가지는 제2이동버퍼(700)는 제1이동버퍼(700)와 유사한 구성을 가지며, 도 3에 도시된 바와 같이, 소자(10)들이 적재되는 소자수용부(710)와, 소자수용부(710)를 본체(40)에 이동가능하게 지지하는 가이드부재(720)와, 가이드부재(720)를 통하여 소자수용부(710)를 수평이동시키는 이동장치(730)를 포함하여 구성된다.The second mobile buffer 700 having the configuration as described above has a similar configuration to the first mobile buffer 700, and as shown in Figure 3, the element accommodating portion 710 on which the elements 10 are loaded, And a guide member 720 for movably supporting the element accommodating part 710 to the main body 40 and a moving device 730 for horizontally moving the element accommodating part 710 through the guide member 720. do.

상기 소자수용부(710)는 적재위치 ③에서 보다 많은 수의 소자(10)들이 적재될 수 있도록 소자(10)의 적재를 위한 소자수용홈의 가로방향의 개수가 트레이(30)의 소자(10)의 적재를 위한 소자수용홈의 가로방향 개수보다 많은 것이 좋다.The element accommodating part 710 has a horizontal number of element accommodating grooves for loading the element 10 so that a larger number of elements 10 can be loaded at the mounting position ③. It is better than the number of transverse direction of the element receiving groove for loading.

여기서 상기 소자수용부(710)는 소자(10)들의 적재를 위한 구성으로서, 소자(10)들이 직접 적재되도록 구성되거나, 소팅 대상인 소자(10)의 종류에 따라서 크기가 달라질 수 있는바 소자수용홈들이 형성된 별도의 수용부재(610a)로 구성될 수 있다.Here, the element accommodating part 710 is configured to load the elements 10, and may be configured to directly load the elements 10 or may vary in size depending on the type of the element 10 to be sorted. They may be formed of a separate receiving member (610a) formed.

상기 제2이동버퍼(700)는 도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이, 각 위치(①, ②, ③)들에서 과정이 수행될 수 있도록 3개로 구성됨이 바람직하다. 이때 상기 가이드부재(720)는 이동시 다른 가이드부재(720)와 간섭되지 않도록 구성된다.
As shown in FIGS. 1 and 2, the second moving buffer 700 may be configured in three so that the process may be performed at each position (①, ②, ③). At this time, the guide member 720 is configured not to interfere with other guide member 720 during movement.

*즉, 상기 제2이동버퍼(700)들은 도 3에 도시된 바와 같이, 제1가이드부재(721)에 지지되어 수평 이동하는 제1소자수용부(711)와 제2가이드부재(722)에 지지되어 수평 이동하는 제2소자수용부(712)와 제3가이드부재(723)에 지지되어 수평 이동하는 제3소자수용부(713)를 포함하여 구성될 수 있다. In other words, as shown in FIG. 3, the second moving buffers 700 are supported by the first element accommodating part 711 and the second guide member 722 which are supported by the first guide member 721 and move horizontally. The second element accommodating part 712 supported and horizontally moved and the third element accommodating part 713 supported and horizontally moved by the third guide member 723 may be configured.

상기 제1 내지 제3가이드부재(721, 722, 723)들은 각 버퍼(711, 712, 713)들이 수평 이동될 수 있도록 가이드하기 위한 구성으로서, 다양한 구성이 가능하며, 도 4에 도시된 바와 같이, 제1가이드부재(721)는 본체(40)의 설치된 지지부재(740)의 상부, 즉 상단에 설치되고, 제2가이드부재(722)는 제1가이드부재(721)의 지지부재(740)의 중간부분, 즉 중단에 설치되고, 제3가이드부재(723)는 지지부재(740)의 하부, 즉 하단에 또는 본체(40)의 상판(42)에 설치될 수 있다. 여기서 상기 제1 내지 제3가이드부재(721, 722, 723)들은 소자수용부(720)를 안정적으로 지지할 수 있도록 쌍을 이루어 구성될 수 있다.The first to third guide members 721, 722, and 723 are configurations for guiding the buffers 711, 712, and 713 to be horizontally moved. Various configurations are possible, as shown in FIG. 4. The first guide member 721 is installed on the upper portion, that is, the upper end of the supporting member 740 of the main body 40, and the second guide member 722 is the supporting member 740 of the first guide member 721. In the middle portion, that is, the middle of the installation, the third guide member 723 may be installed on the lower portion of the support member 740, that is, the lower end or the upper plate 42 of the main body 40. The first to third guide members 721, 722, and 723 may be configured in pairs to stably support the element accommodating part 720.

한편 상기 제1 내지 제3가이드부재(721, 722, 723)들을 수평이동시키는 이동장치(730)는 구동방식에 따라서 다양한 구성이 가능하며, 제1 내지 제3가이드부재(721, 722, 723)들을 각각 수평이동시키는 제1 내지 제3이동장치(731, 732, 733)들을 포함할 수 있다. 이때 상기 제1 내지 제3이동장치(731, 732, 733)들은 각각 회전력을 발생시키는 모터와, 제1 내지 제3가이드부재(721, 722, 723)들과 결합되는 벨트, 특히 타이밍벨트 및 풀리의 조합에 의하여 구성될 수 있다.Meanwhile, the moving device 730 for horizontally moving the first to third guide members 721, 722, and 723 may be configured in various ways according to a driving method, and the first to third guide members 721, 722, and 723 may be used. The first to the third mobile devices (731, 732, 733) for horizontally moving them may be included. In this case, the first to third moving devices 731, 732, and 733 are respectively a motor generating a rotational force, and a belt, in particular, a timing belt and a pulley coupled to the first to third guide members 721, 722, and 723. It can be configured by a combination of.

상기와 같은 구성을 가지는 상기 제2이동버퍼(700)는 제1이동버퍼(600)와 유사한 방식으로 작동하며, 적재위치 ③에서 번인보드(20)로부터 제2소자(10)들이 소자수용부(710)에 적재되는 적재과정과, 소팅위치 ②에서 제2불량소자(10)들을 소팅부(300)로 이송하는 제2소팅과정과, 언로딩위치 ①에서 나머지 제2소자(10)들을 언로딩부(200)의 트레이(30)로 이송하는 언로딩과정을 수행하게 된다.The second moving buffer 700 having the configuration as described above operates in a similar manner to the first moving buffer 600, and the second element 10 from the burn-in board 20 at the loading position ③ has an element accommodating portion ( 710, a stacking process, a second sorting process of transferring the second defective elements 10 to the sorting unit 300 at the sorting position ②, and unloading the remaining second elements 10 at the unloading position ①. The unloading process of transferring to the tray 30 of the unit 200 is performed.

상기 적재과정에서는 제1이동버퍼(600)에서 적재되는 소자(10)들의 개수와 동일한 개수의 소자들, 예를 들면 12×2와 같이 배열된 소자들을 한꺼번에 이송한다.In the loading process, the same number of elements as the number of elements 10 loaded in the first moving buffer 600, for example, elements arranged such as 12 × 2 are transferred at a time.

상기 제2소팅과정에서는 이송툴에 의하여 제2불량소자(10)들이 소자수용부(710)에서 소팅부(300)로 이송된다. 이때 각 제2불량소자(10)들은 그 불량기준에 따라서 소팅부(300)의 트레이(30)에 적재된다.In the second sorting process, the second defective elements 10 are transferred from the element accommodating part 710 to the sorting part 300 by a transfer tool. At this time, each of the second defective elements 10 is loaded on the tray 30 of the sorting unit 300 according to the defect standard.

여기서 상기 소팅위치 ②에서 소자수용부(710) 중 제2불량소자들이 제거된 자리에는 제2정상소자(10)들이 미리 적재된 제2고정버퍼(342)로부터 제2정상소자(10)들이 채워진다-버퍼링과정.Here, the second normal elements 10 are filled from the second fixed buffer 342 in which the second normal elements 10 are pre-loaded in the place where the second defective elements are removed from the element accommodating part 710 at the sorting position ②. -Buffering process.

한편 상기 제2고정버퍼(342)는 본체(40)에 설치되어 제2정상소자(10)들이 미리 적재되어 있으며, 최초 또는 작동 중에 비워진 경우 제2이동버퍼(700)가 소팅위치 ②에 위치된 제2이동버퍼(700)의 소자수용부(710)에 제2정상소자(10)들이 적재될 수 있다. On the other hand, the second fixed buffer 342 is installed in the main body 40, the second normal element 10 is pre-loaded, when the first or the second moving buffer 700 is empty in the sorting position ② when empty during operation The second normal devices 10 may be loaded in the device accommodating part 710 of the second moving buffer 700.

도 5는 도 1의 소자소팅장치에서 X-Y테이블 및 번인보드교환버퍼부 사이에서 번인보드의 교환과정을 보여주는 개념도들로서, 도 5a는 X-Y테이블과 번인보드교환버퍼부 사이에서 번인보드를 교환하기 전의 상태를, 도 5b는 X-Y테이블과 번인보드교환버퍼부 사이에서 번인보드를 교환한 후의 상태를 보여주는 도면들이고, 도 6은 도 1의 소자소팅장치에서 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드의 교환과정을 보여주는 개념도들로서, 도 6a는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드를 교환하기 전의 상태를, 도 6b는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로 인입되는 중간상태를, 도 6c는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로 인입된 상태를, 도 6d는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로부터 인출되는 중간상태를, 도 6e는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더 사이에서 번인보드가 보드로더의 랙으로부터 인출된 상태를 보여주는 개념도들이고, 도 7은 보드로더의 구성을 보여주는 측면도이다.5 is a conceptual view illustrating a process of exchanging burn-in boards between the XY table and the burn-in board exchange buffer unit in the device sorting apparatus of FIG. 1, and FIG. 5A is a state before exchanging the burn-in board between the XY table and the burn-in board exchange buffer unit. 5B is a view showing a state after the burn-in board is exchanged between the XY table and the burn-in board exchange buffer unit, and FIG. 6 is a view of the burn-in board between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader in the device sorting apparatus of FIG. As a conceptual diagram showing the exchange process, Figure 6a is a state before the burn-in board exchange between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader, Figure 6b is a burn-in board between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader to the rack of the board loader 6C is a state where the burn-in board is inserted into the rack of the board loader between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader, and FIG. 6D is a burn-in board exchange. Between the buffer part and the board loader, the burn-in board is drawn out from the rack of the board loader. FIG. 6E is a conceptual view showing the burn-in board is drawn out from the rack of the board loader between the burn-in board exchange buffer part and the board loader. 7 is a side view showing the configuration of the board loader.

한편 X-Y테이블(410) 상의 번인보드(20)에서 제1소자(10) 및 제2소자(10)의 교환이 완료되면 X-Y테이블(410)은 보드로더(800)와 제2소자(10)들이 적재된 새로운 번인보드(20)와 교환한다.On the other hand, when the exchange of the first device 10 and the second device 10 in the burn-in board 20 on the XY table 410 is completed, the XY table 410 is connected to the board loader 800 and the second device 10. Replace with the new burn-in board 20 loaded.

그런데 X-Y테이블(410) 상의 번인보드(20)가 교환될 때, 제1소자(10)의 로딩 및 제2소자(10)의 언로딩이 중지되므로 소자(10)의 로딩 및 언로딩은 X-Y테이블(410) 상의 번인보드(20) 교환시간만큼 지체된다.However, when the burn-in board 20 on the XY table 410 is replaced, the loading of the first device 10 and the unloading of the second device 10 are stopped, so that the loading and unloading of the device 10 is performed by the XY table. The burn-in board 20 on 410 is delayed by the exchange time.

따라서 X-Y테이블(410) 상의 번인보드(20) 교환시간을 단축하게 되면 그만큼 소자소팅장치의 처리속도, 소위 UPH를 향상시킬 수 있는 바, 본 발명에 따른 소자소팅장치는 제1소자(10)들이 적재된 번인보드(20) 및 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)를 번갈아 임시로 저장하며, X-Y테이블(410)의 제1소자(10)가 삽입된 번인보드(20)를 다수개의 번인보드(20)들이 적재된 보드로더(800)의 제2소자(10)가 삽입된 번인보드(20)와 교환하는 번인보드교환버퍼부(420)를 추가로 포함한다.Therefore, if the replacement time of the burn-in board 20 on the XY table 410 can be shortened, the processing speed of the device sorting device, so-called UPH, can be improved according to the present invention. The burn-in board 20 in which the stacked burn-in board 20 and the second devices 10 are alternately stored is temporarily stored, and the burn-in board 20 in which the first device 10 of the XY table 410 is inserted is stored. It further includes a burn-in board exchange buffer unit 420 for exchanging with the burn-in board 20 in which the second element 10 of the board loader 800 in which the plurality of burn-in boards 20 are loaded is inserted.

상기 번인보드교환버퍼부(420)는 보드로더(800) 및 X-Y테이블(410) 사이에 설치되어 번인보드(20)를 중개하는 구성으로서, 설계 및 디자인에 따라서 다양한 구성이 가능하다.The burn-in board exchange buffer unit 420 is installed between the board loader 800 and the X-Y table 410 to mediate the burn-in board 20, and various configurations are possible according to design and design.

상기 번인보드교환버퍼부(420)는 장치의 구성에 따라서 본체(40), 특히 X-Y테이블(410)의 이동영역 중 최외단의 일측 또는 보드로더(800)의 내부에 설치될 수 있다.The burn-in board exchange buffer unit 420 may be installed at the outermost side of the moving area of the main body 40, in particular, the X-Y table 410 or the board loader 800, depending on the configuration of the device.

한편 상기 번인보드(20)의 교환시간을 단축시킬 수 있도록, X-Y테이블(410)과 번인보드교환버퍼부(420)는 제1소자(10)들이 적재된 번인보드(20) 및 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)를 동시에 교환하는 것이 바람직하다.Meanwhile, in order to shorten the exchange time of the burn-in board 20, the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 may include the burn-in board 20 and the second device on which the first elements 10 are loaded. 10) It is desirable to replace the burn-in board 20 loaded with them at the same time.

그리고 번인보드(20)의 동시교환을 위하여 상기 X-Y테이블(410)은 상하로 번인보드(20)가 안착되는 한 쌍의 번인보드안착부(411)와, 한 쌍의 번인보드안착부(411) 사이에서 상측 및 하측 중 적어도 일방향으로 번인보드안착부(411)에 안착된 번인보드(10)를 이동시키는 번인보드승강부(412)를 포함하여 구성될 수 있다.In addition, the XY table 410 has a pair of burn-in board seating portion 411 on which the burn-in board 20 is seated up and down and a pair of burn-in board seating portion 411 for simultaneous exchange of the burn-in board 20. It may be configured to include a burn-in board lifting portion 412 for moving the burn-in board 10 seated on the burn-in board seating portion 411 in at least one direction of the upper side and the lower side.

이때, 상기 번인보드교환버퍼부(420)는 X-Y테이블(410)의 번인보드안착부(411)에 대응되어 상하로 번인보드(20)가 안착되는 한 쌍의 번인보드버퍼부(421)들을 포함하여 구성될 수 있다.In this case, the burn-in board exchange buffer unit 420 includes a pair of burn-in board buffer units 421 in which the burn-in board 20 is seated up and down corresponding to the burn-in board seating portion 411 of the XY table 410. Can be configured.

상기 번인보드버퍼부(421)는 번인보드(20)가 적재될 수 있는 구성이면 어떠한 구성도 가능하며, 후술하는 제1핑거부(441), 제2핑거부(442) 등의 이동에 간섭되지 않도록 구성되는 것이 바람직하다.The burn-in board buffer unit 421 may have any configuration as long as the burn-in board 20 can be stacked, and does not interfere with the movement of the first finger 441, the second finger 442, and the like. It is preferable to be configured so as not to.

한편 상기 X-Y테이블(410)과 번인보드교환버퍼부(420) 사이에서의 번인보드(20)의 이송은 도 5a 내지 도 5d에 도시된 바와 같이, 제1핑거부(441) 및 제2핑거부(442)에 의하여 이루어지며, 제1핑거부(441) 및 제2핑거부(442)의 구성 및 설치 위치는 설계 및 디자인에 따라서 다양한 구성이 가능한다.Meanwhile, the transfer of the burn-in board 20 between the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 is performed by the first finger 441 and the second finger part as shown in FIGS. 5A to 5D. 442, the configuration and installation positions of the first and second finger portions 441 and 442 may be configured in various ways depending on the design and design.

상기와 같은 구성을 가지는 상기 X-Y테이블(410)과 번인보드교환버퍼부(420) 사이에서의 번인보드(20)의 교환과정은 각 구성에 따라서 다양한 형태로 이루어질 수 있으며, 그 일례를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The exchange process of the burn-in board 20 between the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 having the above configuration may be made in various forms according to each configuration, and an example thereof is attached to the accompanying drawings. When described in detail with reference to as follows.

최초에 상기 X-Y테이블(410)은 도 5a 및 도 5b에 도시된 바와 같이, 번인보드교환버퍼부(420)로부터 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)를 공급받는다. 이때 X-Y테이블(410)과 번인보드교환버퍼부(420)가 번인보드(20)가 상하로 배치될 수 있는 구성을 가지는 경우 상측 또는 하측 중 어느 하나에서 X-Y테이블(410)은 번인보드교환버퍼부(420)로부터 번인보드(20)를 공급받을 수 있으며, 특히 도 6d 및 도 6e에 도시된 바와 같이, 상측에서 공급받는 것이 바람직하다.Initially, the X-Y table 410 receives the burn-in board 20 loaded with the second elements 10 from the burn-in board exchange buffer unit 420, as shown in FIGS. 5A and 5B. In this case, when the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 have a configuration in which the burn-in board 20 may be arranged up and down, the XY table 410 may be the burn-in board exchange buffer unit at either the upper side or the lower side. The burn-in board 20 may be supplied from 420, and as shown in FIGS. 6D and 6E, it is preferable to be supplied from the upper side.

상기 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)를 공급받은 X-Y테이블(410)은 개구부(41)를 통하여 제2소자(10)가 언로딩 및 제1소자(10)가 로딩될 수 있도록 X-Y방향으로 구동된다.In the XY table 410 supplied with the burn-in board 20 in which the second devices 10 are loaded, the second device 10 may be unloaded and the first device 10 may be loaded through the opening 41. So that it is driven in the XY direction.

상기 제2소자(10)의 언로딩 및 제1소자(10)의 로딩을 위하여 X-Y테이블(410)이 이동할 때 번인보드교환버퍼부(420)는 보드로더(800)로부터 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)를 공급받는다.When the XY table 410 is moved for unloading the second device 10 and loading the first device 10, the burn-in board exchange buffer unit 420 moves from the board loader 800 to the second device 10. The burn-in board 20 loaded with these is supplied.

그리고 제2소자(10)의 언로딩 및 제1소자(10)의 로딩이 완료되면 제1소자(10)가 적재된 번인보드(20)는 도 5c에 도시된 바와 같이, 제2소자(10)들이 적재된 다른 번인보드(20)를 공급받기 위하여 번인보드교환버퍼부(420) 쪽으로 이동한다. When the unloading of the second device 10 and the loading of the first device 10 are completed, the burn-in board 20 in which the first device 10 is loaded is shown in FIG. 5C, and the second device 10 is loaded. They move toward the burn-in board exchange buffer unit 420 to receive the other burn-in board 20 loaded thereon.

이때 상기 X-Y테이블(410)이 번인보드교환버퍼부(420) 쪽으로 이동하면서 X-Y테이블(410) 상의 번인보드(20)는 도 5c에 도시된 바와 같이, 번인보드교환버퍼부(420)와의 번인보드(20) 교환을 위하여 번인보드승강부(412)에 의하여 하측으로 이동한다.At this time, while the XY table 410 moves toward the burn-in board exchange buffer unit 420, the burn-in board 20 on the XY table 410 is burn-in board with the burn-in board exchange buffer unit 420, as shown in FIG. (20) It moves downward by the burn-in board lifting unit 412 for exchange.

한편 번인보드교환버퍼부(420) 쪽으로 이동한 X-Y테이블(410)은 도 5d에 도시된 바와 같이, 번인보드교환버퍼부(420)의 상측에 위치된 번인보드(20)를 공급받게 되며, 이때 X-Y테이블(410)의 하측에 위치된 번인보드(20)는 번인보드교환버퍼부(420)의 하측에 위치된 번인보드버퍼부(421)로 이동된다.Meanwhile, the XY table 410 moved toward the burn-in board exchange buffer unit 420 is supplied with the burn-in board 20 positioned above the burn-in board exchange buffer unit 420, as shown in FIG. The burn-in board 20 located under the XY table 410 is moved to the burn-in board buffer part 421 located under the burn-in board exchange buffer part 420.

그리고 X-Y테이블(410) 및 번인보드교환버퍼부(420) 사이의 번인보드(20) 교환은 그 교환시간을 단축시키기 위하여 동시에 이루어지는 것이 바람직하다.The exchange of the burn-in board 20 between the X-Y table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 is preferably performed simultaneously to shorten the exchange time.

한편 본 발명에 따른 소자소팅장치는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 번인보드(20)를 지속적으로 공급받을 수 있도록 일측에 설치된 보드로더(800)를 포함한다.Meanwhile, the device sorting apparatus according to the present invention includes a board loader 800 installed at one side to continuously receive the burn-in board 20, as shown in FIGS. 1 and 2.

상기 보드로더(800)는 제2소자(20)들이 삽입된 번인보드(20)들을 적재하여 로딩함과 아울러 제1소자(10)들이 삽입된 번인보드(20)들을 순차적으로 적재하여 번인테스트로 이송하기 구성, 즉 X-Y테이블(410)과 번인보드(20)를 지속적으로 교환하기 위한 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The board loader 800 loads and loads the burn-in boards 20 into which the second devices 20 are inserted, and sequentially loads the burn-in boards 20 into which the first devices 10 are inserted. Various configurations are possible as a configuration for continually exchanging the transport configuration, that is, the XY table 410 and the burn-in board 20.

한편 상기 랙(50)들 중 어느 하나의 번인보드(20)들 모두에 제1소자(10)들이 적재되면, 제1소자(10)들의 적재가 완료된 랙(50)은 언로딩될 제2소자(10)들을 적재하고 있는 다른 랙(50)과 교체된다.Meanwhile, when the first devices 10 are loaded on all of the burn-in boards 20 of any one of the racks 50, the rack 50 in which the first devices 10 have been stacked is the second device to be unloaded. It is replaced with another rack 50 which is loading (10).

그런데 상기 X-Y테이블(410) 등은 보드로더(800)에서 랙(50)이 교체가 완료되어 새로운 번인보드(20)를 공급받을 때까지 대기하여야 하므로 그만큼 소자소팅장치의 처리속도가 저하되는 문제점이 있다.However, the XY table 410 and the like should wait until the rack 50 is replaced in the board loader 800 and is supplied with a new burn-in board 20. Therefore, the processing speed of the element sorting device is reduced. have.

이에 본 발명에 따른 소자소팅장치의 보드로더(800)는 도 7에 도시된 바와 같이, 번인보드(20) 상의 소자(10)의 로딩 및 언로딩에 영향을 주지 않고 랙(50)을 교환할 수 있도록, X-Y테이블(410)의 Y축방향으로 배치되어 다수개의 번인보드(20)들이 적재된 랙(50)이 복수개의 단으로 적재되는 한 쌍의 랙적재부(810)와 한 쌍의 랙적재부(810) 사이에 설치되어 랙적재부(810)로부터 랙(50)을 인출하여 랙(50)을 상하이동시키는 엘리베이터부(820)를 포함하여 구성될 수 있다.Accordingly, as shown in FIG. 7, the board loader 800 of the device sorting apparatus according to the present invention may exchange the rack 50 without affecting the loading and unloading of the device 10 on the burn-in board 20. A pair of racks 810 and a pair of racks 810 are arranged in the Y-axis direction of the XY table 410 so that the racks 50 with the plurality of burn-in boards 20 are stacked in a plurality of stages. The elevator unit 820 may be installed between the stacking units 810 to draw the rack 50 from the rack stacking unit 810 to move the rack 50 up and down.

상기 랙적재부(810)는 랙(50)이 적재될 수 있는 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.The rack loading unit 810 may be any configuration as long as the rack 50 can be loaded.

특히 상기 랙적재부(810)는 한 쌍으로 구성되어 엘리베이터부(820)를 중심으로 엘리베이터부(820)의 양측에 설치됨이 바람직하다.In particular, the rack loading portion 810 is configured in a pair is preferably installed on both sides of the elevator 820 around the elevator 820.

상기 엘리베이터부(820)는 랙적재부(810)로부터 랙(50)을 인출하여 상하로 이동시키면서 X-Y테이블(410), 번인보드교환버퍼부(420)가 구비된 경우 번인보드교환버퍼부(420)와 번인보드(20)를 교환하도록 구성된다.When the elevator unit 820 is provided with the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 while pulling the rack 50 up and down from the rack loading unit 810, the burn-in board exchange buffer unit 420 is provided. And burn-in board 20.

한편 상기 보드로더(800)는 한 쌍의 랙적재부(810)에 대응되어 랙적재부(810) 각각에 적재된 랙(50)을 인출하기 위한 한 쌍의 랙인출부(830)를 포함한다.Meanwhile, the board loader 800 includes a pair of rack takeout units 830 corresponding to the pair of rack load units 810 to withdraw the racks 50 loaded on the rack load units 810, respectively. .

상기 랙인출부(830)는 랙적재부(810)로부터 엘리베이터부(820)의 지지부(821)로 랙(50)을 인출하거나, 반대로 엘리베이터부(820)로부터 랙적재부(810)로 랙(50)을 적재하도록 구성된다.The rack take-out part 830 draws the rack 50 from the rack loading part 810 to the support part 821 of the elevator part 820, or, conversely, the rack (from the elevator part 820 to the rack loading part 810). 50) is configured to load.

상기와 같은 구성을 가지는 번인보드교환버퍼부(420) 및 보드로더(800) 사이에서의 번인보드(20)의 교환과정은 각 구성에 따라서 다양한 형태로 이루어질 수 있으며, 그 일례를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The exchange process of the burn-in board 20 between the burn-in board exchange buffer unit 420 and the board loader 800 having the above configuration may be made in various forms according to each configuration, and an example thereof is attached to the accompanying drawings. Detailed description with reference to the following.

최초에 상기 번인보드교환버퍼부(420)는 도 6c 및 도 6d에 도시된 바와 같이, 보드로더(800)로부터 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)를 공급받는다. 이때 X-Y테이블(410)과 번인보드교환버퍼부(420)가 번인보드(20)가 상하로 배치될 수 있는 구성을 가지는 경우 상측 또는 하측 중 어느 하나에서 번인보드교환버퍼부(420)는 보드로더(800)로부터 번인보드(20)를 공급받을 수 있으며, 특히 X-Y테이블(410) 및 번인보드교환버퍼부(420) 사이의 보드교환을 고려하여 상측에서 공급받는 것이 바람직하다.First, the burn-in board exchange buffer unit 420 receives the burn-in board 20 loaded with the second elements 10 from the board loader 800, as shown in FIGS. 6C and 6D. In this case, when the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420 have a configuration in which the burn-in board 20 can be arranged up and down, the burn-in board exchange buffer unit 420 is either a board loader or a board loader. The burn-in board 20 may be supplied from the 800, and in particular, the burn-in board 20 may be supplied from the upper side in consideration of board exchange between the XY table 410 and the burn-in board exchange buffer unit 420.

즉, 상기 제2소자(10)들이 적재된 번인보드(20)는 보드로더(800)로부터 인출되어 번인보드교환버퍼부(420)의 상측에 위치된 번인보드버퍼부(421)를 거쳐 X-Y테이블(410)의 상측에 위치된 번인보드안착부(411)로 전달되며, 제1소자(10)들이 적재된 번인보드(20)는 X-Y테이블(410)의 하측에 위치된 번인보드안착부(411)를 거쳐 보드로더(800)로 배출된다.That is, the burn-in board 20 in which the second elements 10 are loaded is drawn out from the board loader 800 and passes through the burn-in board buffer part 421 located above the burn-in board exchange buffer part 420. The burn-in board seating part 411 which is transmitted to the burn-in board seating part 411 positioned on the upper side of the 410, and the burn-in board seating part 20 which is loaded with the first elements 10 is located at the bottom of the XY table 410. It is discharged to the board loader 800 through).

한편 상기 번인보드교환버퍼부(420)는 X-Y테이블(410)과의 보드교환을 마친 후 보드로더(800)와는 도 6a 및 도 6b에 도시된 바와 같은 과정을 거쳐 번인보드(20)를 교환한다.Meanwhile, the burn-in board exchange buffer unit 420 exchanges the burn-in board 20 with the board loader 800 after the board exchange with the XY table 410 through a process as shown in FIGS. 6A and 6B. .

상기 번인보드교환버퍼부(420)는 X-Y테이블(410)로부터 전달받은 번인보드(20), 특히 하측에 위치된 번인보드버퍼부(421)에 안착된 번인보드(20)를 보드로더(800)의 랙(50)의 빈자리로 인입시킨다. 여기서 상기 랙(50)은 번인보드(20)가 인입 또는 인출될 수 있도록 엘리베이터부(820)에 의하여 승하강되며 번인보드(20)의 원활한 교환을 위하여 가장 최상측 또는 최하측 중 적어도 하나는 번인보드(20)가 채워지지 않는 것이 바람직하다.The burn-in board exchange buffer unit 420 has a burn-in board 20 received from the XY table 410, in particular, the burn-in board 20 seated on the burn-in board buffer unit 421 located at the lower side of the board loader 800 Retract into the empty seat of the rack 50. Here, the rack 50 is lifted up and down by the elevator unit 820 so that the burn-in board 20 can be pulled in or pulled out, and at least one of the uppermost or the lowermost side is burn-in for smooth exchange of the burn-in board 20. It is preferable that the board 20 is not filled.

상기 번인보드교환버퍼부(420)는 제2소자(10)가 적재된 새로운 번인보드(20)를 랙(50)으로부터 인출한다. 여기서 상기 번인보드(20)는 랙(50)으로부터 인출되어, 번인보드교환버퍼부(420), 특히 상측에 위치된 번인보드버퍼부(421)에 안착된다.The burn-in board exchange buffer unit 420 draws out a new burn-in board 20 in which the second element 10 is loaded from the rack 50. The burn-in board 20 is withdrawn from the rack 50 and is seated on the burn-in board exchange buffer portion 420, especially the burn-in board buffer portion 421 located on the upper side.

상기와 같은 번인보드교환버퍼부(420) 및 보드로더(800) 사이의 번인보드(20)의 교환과정은, 도 6a 내지 도 6d에 도시된 바와 같이, 번인보드(20)가 번인보드교환버퍼부(420) 및 보드로더(800) 사이에서의 하나 이상의 서브핑거(443, 444)들에 의하여 이송되어 이루어진다.The exchange process of the burn-in board 20 between the burn-in board exchange buffer unit 420 and the board loader 800 as described above, as shown in Figure 6a to 6d, burn-in board 20 is a burn-in board exchange buffer It is carried by one or more subfingers 443, 444 between the part 420 and the board loader 800.

이때 상기 서브핑거(443, 444)들은 번인보드교환버퍼부(420) 및 보드로더(800) 사이의 이동구간을 각 서브핑거(443, 444)들에 대응되는 복수개의 서브이동구간에서 번인보드(20)를 이송하도록 구성될 수 있다.In this case, the sub-fingers 443 and 444 have a burn-in board in a plurality of sub-movement sections corresponding to each of the sub-fingers 443 and 444 in the movement section between the burn-in board exchange buffer unit 420 and the board loader 800. 20) can be configured to convey.

도 8a는 도 1의 소자소팅장치에서 변형된 구성을 가지는 번인보드교환버퍼부 및 보드로더를 보여주는 측단면도이고, 도 8b는 도 8a의 보드로더를 보여주는 측면도이다.8A is a side cross-sectional view illustrating a burn-in board exchange buffer unit and a board loader having a modified configuration in the device sorting apparatus of FIG. 1, and FIG. 8B is a side view illustrating the board loader of FIG. 8A.

한편 본 발명에 따른 소자소팅장치는 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 보드로더(800)가 랙(50)을 상하로 이동시키는 엘리베이터부의 구성을 설치하지 않고 랙(50)만이 적재되는 랙적재부(810)만으로 구성하고, 각 랙적재부(810)에 적재된 랙(50)으로부터 번인보드(20)를 인출할 수 있도록 번인보드교환버퍼부(420)가 상하좌우로 이동되도록 구성될 수 있다.Meanwhile, in the device sorting apparatus according to the present invention, as shown in FIGS. 8A and 8B, the rack in which only the rack 50 is loaded without installing the elevator unit in which the board loader 800 moves the rack 50 up and down is installed. Composed of only the loading unit 810, so that the burn-in board exchange buffer unit 420 can be moved up, down, left and right so as to withdraw the burn-in board 20 from the rack 50 loaded in each rack loading unit 810. Can be.

즉, 상기 보드로더(800)은 도 8b에 도시된 바와 같이, 복수개의 랙(50)들, 본 실시예에서는 9개의 랙(50)들이 적재될 수 있는 랙적재부(810)들로 구성될 수 있다.That is, as shown in FIG. 8B, the board loader 800 may include a plurality of racks 50, in this embodiment, rack loading units 810 into which nine racks 50 may be stacked. Can be.

그리고 본 발명에 따른 소자소팅장치는 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 번인보드교환버퍼부(420)의 수직 및 수평이동을 위한 교환버퍼구동부(430)을 추가로 포함할 수 있다.The device sorting apparatus according to the present invention may further include an exchange buffer driver 430 for vertical and horizontal movement of the burn-in board exchange buffer unit 420, as shown in FIGS. 8A and 8B.

상기 교환버퍼구동부(430)는 각 랙적재부(810)에 적재된 랙(50)으로부터 번인보드(20)를 인출할 수 있도록 번인보드교환버퍼부(420)가 상하좌우, 즉 수직 및 수평이동을 구동하기 위한 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The exchange buffer driver 430 has a burn-in board exchange buffer unit 420 vertically and horizontally ie vertically and horizontally so that the burn-in board 20 can be withdrawn from the rack 50 loaded in each rack loading unit 810. Various configurations are possible as the configuration for driving the.

상기 교환버퍼구동부(430)는 그 일예로서, 보드로더(800)에 적재된 랙(50)의 상하를 기준으로 번인보드교환버퍼부(420)의 상하이동을 구동하는 제1구동부(432) 및 보드로더(800)에 랙(50)이 배치된 수평방향을 기준으로 번인보드교환버퍼부(420)의 수평이동을 구동하는 제2구동부(431)를 포함하여 구성될 수 있다.As an example, the exchange buffer driving unit 430 may include a first driving unit 432 for driving a shanghai movement of the burn-in board exchange buffer unit 420 based on the top and bottom of the rack 50 loaded in the board loader 800, and The board loader 800 may include a second driving unit 431 for driving the horizontal movement of the burn-in board exchange buffer unit 420 based on the horizontal direction in which the rack 50 is disposed.

상기 제1구동부(432) 및 제2구동부(431)는 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같이, 번인보드교환버퍼부(420)를 지지하도록 설치되어 스크류잭, 또는 선형이동장치 등으로 구성되어 번인보드교환버퍼부(420)가 상하방향 및 수평방향으로 이동하도록 구동한다.As shown in FIGS. 8A and 8B, the first driving unit 432 and the second driving unit 431 are installed to support the burn-in board exchange buffer unit 420 and include a screw jack or a linear moving device. The burn-in board replacement buffer unit 420 is driven to move in the vertical direction and the horizontal direction.

상기와 같은 구성에 의하여 본 발명에 따른 소자소팅장치는 랙(50)이 고정된 상태에서 번인보드교환버퍼부(420)를 상하좌우로 이동시켜 번인보드(20)를 인출함으로써 번인보드(20)를 인출시간을 줄여 소자소팅장치의 처리속도를 현저히 높일 수 있다.The device sorting apparatus according to the present invention by the configuration as described above by moving the burn-in board exchange buffer unit 420 up, down, left and right in a fixed state of the rack 50, the burn-in board 20 by drawing the burn-in board 20 By reducing the withdrawal time can significantly increase the processing speed of the device sorting device.

또한 상기 번인보드교환버퍼부(420)를 상하좌우로 이동시키도록 구성함으로써 보드로더(800)의 구성에서 엘리베이터부의 설치를 요하지 않아 보드로더(800)의 구성을 간단화 할 수 있으며 보드로더(800)에 적재되는 랙(50)의 숫자를 늘려 랙(50)의 교체주기가 길어져 작업효율을 향상시킬 수 있다.In addition, by configuring the burn-in board exchange buffer unit 420 to move up, down, left, and right, it is possible to simplify the configuration of the board loader 800 without requiring the installation of the elevator unit in the configuration of the board loader 800 and the board loader 800 By increasing the number of racks (50) to be loaded) the replacement cycle of the rack 50 can be increased to improve the work efficiency.

한편 상기 번인보드교환버퍼부(420) 및 교환버퍼구동부(430)는 보드로더(800)와 함께 하나의 보드로더모듈로도 구성이 가능하다.
Meanwhile, the burn-in board exchange buffer unit 420 and the exchange buffer driver 430 may be configured as one board loader module together with the board loader 800.

이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께 하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is to be understood that both the technical idea and the technical spirit of the invention are included in the scope of the present invention.

110: X-Y테이블
210: 로딩부 220: 언로딩부
310: 테스트부 320: 소팅부
600: 제1이동버퍼 700: 제2이동버퍼
510, 520, 530, 540, 550, 560: 이송툴
110: XY table
210: loading unit 220: unloading unit
310: test unit 320: sorting unit
600: first moving buffer 700: second moving buffer
510, 520, 530, 540, 550, 560: transfer tool

Claims (10)

제2소자들이 삽입된 번인보드를 로딩하는 X-Y테이블과;
제2이송툴과 연동하여 상기 번인보드로부터 제2소자들을 인출함과 아울러 제1이송툴과 연동하여 제1소자들을 상기 번인보드의 빈자리로 삽입하도록 상기 X-Y테이블을 이동시키고, 상기 번인보드에 제1소자들의 삽입이 완료되면, 상기 X-Y테이블을 번인보드 교환위치로 이동시키는 X-Y테이블구동부와;
상기 제2소자들이 삽입된 번인보드들을 적재하여 로딩함과 아울러 상기 제1소자들이 삽입된 번인보드들을 순차적으로 적재하여 번인테스트부로 이송하는 보드로더와;
상기 X-Y테이블의 제1소자가 삽입된 번인보드를 상기 보드로더의 제2소자가 삽입된 번인보드와 교환하는 번인보드교환버퍼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
An XY table for loading the burn-in board into which the second elements are inserted;
Move the XY table to withdraw the second elements from the burn-in board in conjunction with a second transfer tool and insert the first elements into the vacant positions of the burn-in board in conjunction with the first transfer tool; An XY table driving unit for moving the XY table to a burn-in board exchange position when insertion of one element is completed;
A board loader for loading and loading the burn-in boards in which the second elements are inserted, and sequentially loading the burn-in boards in which the first elements are inserted, and transferring the burn-in boards to the burn-in test unit;
And a burn-in board exchange buffer unit for exchanging the burn-in board in which the first element of the XY table is inserted with the burn-in board in which the second element of the board loader is inserted.
청구항 1에 있어서,
상기 X-Y테이블은 상하로 번인보드가 안착되는 한 쌍의 번인보드안착부와, 한 쌍의 상기 번인보드안착부 사이에서 상측 및 하측 중 적어도 일방향으로 상기 번인보드안착부에 안착된 번인보드를 이동시키는 번인보드승강부를 포함하고,
상기 번인보드교환버퍼부는 상기 X-Y테이블의 번인보드안착부에 대응되어 상하로 번인보드가 안착되는 한 쌍의 번인보드버퍼부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method according to claim 1,
The XY table moves a burn-in board seated on the burn-in board seating part in at least one of an upper side and a lower side between the pair of burn-in board seating seats on which the burn-in board seats up and down, and the pair of burn-in board seating seats. Including burn-in board lift,
And the burn-in board exchange buffer unit includes a pair of burn-in board buffers in which the burn-in boards are seated up and down corresponding to the burn-in board seats of the XY table.
청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 제2소자들이 적재된 번인보드는 상기 보드로더로부터 인출되어 상기 번인보드교환버퍼부의 상측에 위치된 번인보드버퍼부를 거쳐 상기 X-Y테이블의 상측에 위치된 번인보드안착부로 전달되며,
상기 제1소자들이 적재된 번인보드는 상기 X-Y테이블의 하측에 위치된 번인보드안착부를 거쳐 상기 번인보드교환버퍼부의 하측에 위치된 번인보드버퍼부로 전달되어 상기 보드로더로 배출되는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method according to claim 1 or 2,
The burn-in board on which the second elements are loaded is withdrawn from the board loader and transferred to the burn-in board seating portion located above the XY table via the burn-in board buffer portion located above the burn-in board exchange buffer portion.
The burn-in board on which the first elements are loaded is transferred to the burn-in board buffer unit located below the burn-in board exchange buffer unit via the burn-in board seating unit located at the lower side of the XY table and discharged to the board loader. Sorting device.
청구항 1에 있어서,
상기 번인보드는 상기 번인보드교환버퍼부 및 상기 보드로더 사이에서 하나 이상의 서브핑거들에 의하여 이송되며,
상기 서브핑거들은 상기 번인보드교환버퍼부 및 상기 보드로더 사이의 각 서브핑거들에 대응되는 복수개의 서브이동구간에서 상기 번인보드를 이송하는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method according to claim 1,
The burn-in board is transported by one or more sub-fingers between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader,
And the sub-fingers transfer the burn-in board in a plurality of sub-movement sections corresponding to each sub-finger between the burn-in board exchange buffer unit and the board loader.
청구항 1에 있어서,
상기 보드로더는
상기 X-Y테이블의 Y축방향으로 배치되어 다수개의 번인보드들이 적재된 랙이 복수개의 단으로 적재되는 한 쌍의 랙적재부와;
상기 한 쌍의 랙적재부 사이에 설치되어 상기 랙적재부로부터 랙을 인출하여 상기 랙을 상하이동시키는 엘리베이터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method according to claim 1,
The board loader
A pair of rack loading parts arranged in the Y-axis direction of the XY table, in which a rack having a plurality of burn-in boards is stacked in a plurality of stages;
And an elevator unit installed between the pair of rack loading parts to lift the rack out of the rack loading part and move the rack up and down.
청구항 5에 있어서,
상기 보드로더는 상기 한 쌍의 랙적재부에 대응되어 상기 랙적재부 각각에 적재된 랙을 인출하기 위한 한 쌍의 랙인출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method according to claim 5,
And the board loader includes a pair of rack takeout units corresponding to the pair of rack load units to withdraw the racks loaded on the rack load units.
제1소자들이 적재된 트레이가 로딩되는 로딩부와;
번인보드로부터 제2소자들을 인출하는 제2이송툴과;
상기 로딩부의 트레이에 적재된 제1소자들을 상기 번인보드의 빈자리로 삽입하는 제1이송툴과;
상기 제2이송툴에 의하여 상기 번인보드로부터 인출된 제2소자들을 전달받아 트레이에 적재하여 언로딩하는 언로딩부와;
제2소자들이 삽입된 번인보드를 로딩하는 X-Y테이블과;
상기 제1이송툴 및 제2이송툴과 연동하여 상기 X-Y테이블을 X-Y방향으로 이동시시킴과 아울러 상기 번인보드에 제1소자들의 삽입이 완료되면, 상기 X-Y테이블을 번인보드 교환위치로 이동시키는 X-Y테이블구동부와;
번인보드들이 적재된 랙이 적재되는 복수개의 랙적재부를 포함하는 보드로더와;
상기 보드로더 및 상기 X-Y테이블구동부 사이에서 번인보드를 교환하도록 설치되며, 상기 보드로더에 적재된 랙으로부터 제2소자가 삽입된 번인보드를 인출하고 상기 X-Y테이블의 제1소자가 삽입된 번인보드를 상기 보드로더에 적재된 랙의 빈자리에 삽입하는 번인보드교환버퍼부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
A loading unit in which a tray loaded with the first elements is loaded;
A second transfer tool for drawing out second elements from the burn-in board;
A first transfer tool for inserting the first elements loaded in the tray of the loading unit into an empty position of the burn-in board;
An unloading unit which receives the second elements drawn out from the burn-in board by the second transfer tool, loads them into a tray, and unloads them;
An XY table for loading the burn-in board into which the second elements are inserted;
An XY table which moves the XY table in the XY direction in conjunction with the first transfer tool and the second transfer tool and moves the XY table to the burn-in board exchange position when insertion of the first elements into the burn-in board is completed. A drive unit;
A board loader including a plurality of rack loading parts on which a rack on which burn-in boards are stacked is mounted;
The burn-in board is installed to exchange the burn-in board between the board loader and the XY table driver, and the burn-in board in which the second device is inserted is removed from the rack loaded in the board loader. Device sorting apparatus comprising a burn-in board exchange buffer for inserting the empty space of the rack mounted on the board loader.
청구항 7에 있어서,
상기 번인보드교환버퍼부가 상기 각 랙적재부에 적재된 랙으로부터 번인보드를 인출할 수 있도록 상기 번인보드교환버퍼부의 수직 및 수평이동을 구동하기 위한 교환버퍼구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method of claim 7,
And an exchange buffer driver for driving the vertical and horizontal movement of the burn-in board exchange buffer unit so that the burn-in board exchange buffer unit can withdraw the burn-in board from the racks loaded in the rack loading units. .
청구항 8에 있어서,
상기 교환버퍼구동부는 상기 보드로더에 적재된 랙의 상하를 기준으로 상기 번인보드교환버퍼부의 상하이동을 구동하는 제1구동부 및 상기 보드로더에 랙이 배치된 수평방향을 기준으로 상기 번인보드교환버퍼부의 수평이동을 구동하는 제2구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자소팅장치.
The method according to claim 8,
The exchange buffer driving unit includes a first drive unit for driving a shanghai movement of the burn-in board exchange buffer unit based on the top and bottom of the rack loaded on the board loader, and the burn-in board exchange buffer based on a horizontal direction in which the rack is arranged on the board loader. Device sorting apparatus comprising a second driving unit for driving the horizontal movement of the unit.
청구항 8 내지 청구항 9 중 어느 하나의 항에 따른 소자소팅장치의 보드로더모듈로서, 상기 번인보드교환버퍼부, 상기 교환버퍼구동부 및 상기 교환버퍼구동부가 하나의 모듈로 구성된 보드로더모듈.A board loader module of an element sorting apparatus according to any one of claims 8 to 9, wherein the burn-in board exchange buffer unit, the exchange buffer driver and the exchange buffer driver comprise one module.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101810082B1 (en) * 2014-10-24 2017-12-18 (주)제이티 Sorting Apparatus for Semiconductor Device

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101399540B1 (en) * 2012-11-28 2014-05-27 바이옵트로 주식회사 Apparatus for testing
KR102401058B1 (en) * 2015-05-12 2022-05-23 (주)제이티 Sorting Apparatus for Semiconductor Device

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2929935B2 (en) * 1994-03-24 1999-08-03 日本電気株式会社 Classification equipment for semiconductor devices
KR100320260B1 (en) * 1999-04-20 2002-01-10 유홍준 It is operation method and eguipment that handleler outside test to elementary a semiconductor
US7183758B2 (en) * 2003-12-12 2007-02-27 International Business Machines Corporation Automatic exchange of degraders in accelerated testing of computer chips
KR20060041454A (en) * 2004-11-09 2006-05-12 삼성전자주식회사 Apparatus for automatically inspecting exterior of chip
TW200741219A (en) * 2006-04-25 2007-11-01 Chroma Ate Inc Rotary disk type testing and sorting device
KR100817469B1 (en) * 2006-06-13 2008-03-31 미래산업 주식회사 Burn-in sorter and sorting method using the same
KR100805655B1 (en) * 2006-10-26 2008-02-21 (주)제이티 Apparatus for sorting semiconductor device
KR20080084216A (en) * 2007-03-15 2008-09-19 한미반도체 주식회사 Sorting handler for burn-in test
KR100873670B1 (en) * 2007-05-23 2008-12-12 (주) 인텍플러스 System for inspection of semiconductor package

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101810082B1 (en) * 2014-10-24 2017-12-18 (주)제이티 Sorting Apparatus for Semiconductor Device
KR20170139481A (en) * 2014-10-24 2017-12-19 (주)제이티 Sorting Apparatus for Semiconductor Device
KR102269567B1 (en) * 2014-10-24 2021-06-25 (주)제이티 Sorting Apparatus for Semiconductor Device

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