KR101174860B1 - Display panel test device for aligning tested object with testing board - Google Patents

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KR101174860B1
KR101174860B1 KR1020120015125A KR20120015125A KR101174860B1 KR 101174860 B1 KR101174860 B1 KR 101174860B1 KR 1020120015125 A KR1020120015125 A KR 1020120015125A KR 20120015125 A KR20120015125 A KR 20120015125A KR 101174860 B1 KR101174860 B1 KR 101174860B1
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Abstract

PURPOSE: A panel inspecting device for a display on which a tested object and a test board are arranged and a control method thereof are provided to precisely make a glass parallel with a probe unit, thereby increasing a test speed. CONSTITUTION: A test module(140) is formed on a moving route of a glass stage module. A probe unit is formed in the test module. The probe unit contacts a cell of a glass mounted on the glass stage module. A test board is mounted on the test module. The test board tests the cell. The test module arranges the test board to arrange the probe unit with a cell of the glass.

Description

피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치 및 그 제어방법{Display Panel Test Device for Aligning Tested Object with Testing Board}Display panel test device for alignment with test object and test board and control method thereof {Display Panel Test Device for Aligning Tested Object with Testing Board}

본 발명은 검사장치에 관한 것으로서, 좀 더 자세하게는 평판 디스플레이등의 기판을 검사할 때 피검사물과 상기 피검사물과 접촉하여 검사를 수행하는 검사체의 정렬이 이루어지는 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus, and more particularly, to an inspection apparatus in which an inspection object is aligned with an inspection object in contact with the inspection object when inspecting a substrate such as a flat panel display.

근래에 들어 액정디스플레이(LCD)패널이나, 유기발광다이오드(OLED)방식의 디스플레이패널 등의 평판디스플레이가 널리 사용됨에 따라 그 제작도 늘어나고 있다.In recent years, as flat panel displays such as liquid crystal display (LCD) panels and organic light emitting diode (OLED) display panels are widely used, their production is also increasing.

상기와 같은 평판디스플레이 패널은 제조과정에서의 불량 유무를 검사하여 후속공정을 진행하는데, 그 중 일 예로 LCD 방식 패널은 패턴 어레이 검사과정을 수행한다.The flat panel display panel as described above checks for defects in the manufacturing process and proceeds to a subsequent process. For example, the LCD panel performs a pattern array inspection process.

도 1은 종래의 패턴 어레이 검사에 사용되는 장치를 간략하게 도시한 도면이다.1 is a diagram schematically showing an apparatus used for a conventional pattern array inspection.

상기 검사장치는 글래스 스테이지 모듈(20)과 테스트 기판 탑재부(30)로 이루어질 수 있다.The inspection apparatus may include a glass stage module 20 and a test substrate mounting part 30.

상기 글래스 스테이지 모듈(20)은, 패턴 어레이가 형성된 셀이 복수개 형성된 글래스(10)가 안착되는 구성요소로서, X축 구동부, Y축 구동부 및 턴테이블이 구비되어 X축, Y축이동 및 수평상태로 회전등이 가능하게 구비되며, 상기 테스트 기판 탑재부(30)는 상기 글래스의 각 셀과 컨택하여 각 셀의 패턴 어레이를 검사하는 프로브 유닛(42)이 구비된 테스트 기판(40)이 장착되는 테스트 프레임(32)으로 이루어진다.The glass stage module 20 is a component on which the glass 10 having a plurality of cells in which a pattern array is formed is seated. The glass stage module 20 is provided with an X-axis driver, a Y-axis driver, and a turntable to move the X-axis, the Y-axis, and the horizontal state. A test frame including a probe board 42 having a probe unit 42 contacting each cell of the glass and inspecting a pattern array of each cell may be mounted on the test board mounting unit 30. It consists of 32.

한편, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 셀(12)에는 신호의 입출력을 위한 접속회로패턴(14)이 형성되며, 상기 테스트 기판(40)에는 상기 셀의 접속회로패턴(14)과의 컨택을 위한 프로브 유닛(42)이 구비된다. 그런데, 상기 접속회로패턴(14)과 접촉하는 프로브 유닛(42)의 프로브 핀(미도시)은 매우 미세한 폭으로 정밀하게 형성되어 있어 정확한 컨택을 위해서는 상기 글래스(10)의 정렬이 필요하다.Meanwhile, as shown in FIG. 2, a connection circuit pattern 14 for inputting and outputting signals is formed in the cell 12, and the test substrate 40 contacts the connection circuit pattern 14 of the cell. Probe unit 42 is provided for. By the way, the probe pin (not shown) of the probe unit 42 in contact with the connection circuit pattern 14 is precisely formed with a very fine width, so that the glass 10 needs to be aligned for accurate contact.

한편, 상기 글래스(10)에는 각 모서리에 글래스(10)의 얼라인을 위한 글래스 얼라인 마크(16)가 형성되며, 상기 각 셀(12)의 각 모서리에도 얼라인을 위한 셀 얼라인 마크(18)가 형성된다.On the other hand, the glass 10 has a glass align mark 16 for aligning the glass 10 at each corner, the cell align mark for aligning at each corner of the cell 12 ( 18) is formed.

따라서, 도면에 도시되지 않은 별도의 카메라 등의 수단으로서 상기 글래스 얼라인 마크(16) 및 셀 얼라인 마크(18)를 센싱하여 위치를 인식하고, 글래스 스테이지 모듈(20)을 움직여 상기 글래스(10)의 프로브 유닛(42)에 대한 위치 및 각도를 정렬한 후에 컨택을 시도한다.Therefore, the glass align mark 16 and the cell align mark 18 are sensed by means of a separate camera or the like not shown in the drawing to recognize the position, and the glass stage module 20 is moved to move the glass 10. Contact is attempted after aligning the position and angle with respect to the probe unit 42.

그러나, 접속회로패턴(14) 및 프로브 핀은 매우 미세한 폭으로 정밀형성되어 있어 상기 얼라인 마크를 인식하는 오차 및 상기 글래스 스테이지 모듈(20)의 오차 등으로 인해 도 3에 도시된 바와 같이, 글래스(10)와 프로브 유닛(42)이 미세하게 평행정렬을 이루지 못하는 경우가 발생할 수 있으며, 이로 인해 동일 글래스(10)에서도 컨텍을 시도할 때 마다 얼라인을 반복해야 하여 검사시간이 증대되어 생산속도가 저하되는 문제점이 있었다.However, as shown in FIG. 3, the connection circuit pattern 14 and the probe pin are precisely formed to have a very fine width, due to an error in recognizing the alignment mark and an error in the glass stage module 20. (10) and the probe unit 42 may not be finely aligned in parallel, which may cause the alignment time should be repeated every time the contact is attempted in the same glass 10, thereby increasing the inspection time There was a problem that is lowered.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 글래스와 프로브 유닛이 보다 정밀하게 평행을 이룰 수 있어 검사속도의 향상을 꾀할 수 있는 피검사물과 검사체의 정렬이 이루어지는 검사장치를 제공하는 것을 과제로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and provides an inspection apparatus in which an object to be inspected is aligned with a specimen, which can achieve a more precise parallelism between the glass and the probe unit, thereby improving the inspection speed. Shall be.

상기한 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 형태에 따르면, 메인프레임, 상기 메인프레임상에 구비되고, 하나 이상의 셀이 형성된 글래스가 안착되며, 상기 글래스를 상기 메인프레임에 대하여 이동시키는 글래스 스테이지 모듈, 상기 글래스 스테이지 모듈의 이동경로 상측에 구비되며, 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 컨택되는 프로브 유닛이 구비되어 상기 셀의 검사를 수행하는 테스트 기판이 탑재되고, 상기 프로브 유닛이 상기 글래스의 셀과 정렬되도록 상기 테스트 기판의 위치를 정렬하는 테스트 모듈을 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치가 제공된다.According to one embodiment of the present invention for solving the above problems, a glass stage module is provided on the main frame, the glass is provided on the main frame, one or more cells are formed, the glass stage module for moving the glass relative to the main frame, A probe unit is provided above the movement path of the glass stage module, and is provided with a probe unit contacting a cell of a glass seated on the glass stage module to mount a test substrate for inspecting the cell. Provided is a display panel inspection apparatus for displaying an object to be tested and a test substrate including a test module for aligning a position of the test substrate to be aligned with a cell.

상기 글래스 스테이지 모듈은, 상기 글래스가 안착되는 스테이지 베이스, 상기 스테이지 베이스를 상기 메인프레임에 대하여 어느 일측방향으로 이동시키는 1축 구동부, 상기 스테이지 베이스를 상기 메인프레임에 대하여, 상기 일측방향과 직교하는 타측방향으로 이동시키는 2축 구동부, 상기 스테이지 베이스를 수직방향으로 승강시키는 승강부, 상기 스테이지 베이스를 지면에 수직한 축을 중심으로 회전시키는 회전부를 포함하여 이루어질 수 있다.The glass stage module may include a stage base on which the glass is seated, a one-axis drive unit which moves the stage base in one direction with respect to the main frame, and the other side orthogonal to the one direction with respect to the main frame. It may include a two-axis drive unit for moving in the direction, the lifting unit for elevating the stage base in the vertical direction, the rotating unit for rotating the stage base about an axis perpendicular to the ground.

상기 글래스 스테이지 모듈은, 상기 스테이지 베이스의 테두리부에 복수개 구비되어 상기 스테이지 베이스에 놓여진 글래스를 정렬하는 글래스 얼라이너를 더 포함하여 이루어질 수 있다.The glass stage module may further include a glass aligner provided in a plurality of edge portions of the stage base to align the glass placed on the stage base.

상기 글레스 스테이지 모듈은, 상기 글래스 스테이지 모듈의 상기 테스트 모듈을 향하는 측에 서로 이격된 위치에 적어도 2개 구비되며, 각각 상기 프로브 유닛의 지정된 지점을 센싱하여, 상기 스테이지 베이스와 상기 프로브 유닛과의 평행을 측정하는 프로브 핀 카메라를 더 포함하여 이루어질 수 있다.The glass stage module includes at least two glass stage modules at positions spaced apart from each other on a side facing the test module of the glass stage module, and senses a predetermined point of the probe unit, respectively, so that the stage base and the probe unit are parallel to each other. It may further comprise a probe pin camera to measure the.

상기 글래스 스테이지 모듈과 상기 테스트 모듈 사이에 구비되어, 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 얼라인 마크를 센싱하는 기준위치 인식 카메라 유닛이 더 구비될 수 있다.A reference position recognition camera unit may be further provided between the glass stage module and the test module to sense an alignment mark of the glass seated on the glass stage module.

상기 테스트 모듈은, 상기 메인프레임의 일측에 구비되는 서브 프레임, 하측에 상기 글래스 스테이지 모듈이 이동되는 공간을 형성하도록 상기 서브 프레임의 상측에 구비되는 고정 플레이트, 상기 고정 플레이트의 하측에 구비되며, 상기 테스트 기판이 고정되는 기판장착 스테이지, 상기 기판장착 스테이지를 상기 고정 플레이트에 대하여 이동시켜 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 상기 테스트 기판의 프로브 유닛을 정렬시키는 테스트 기판 얼라인부를 포함하여 이루어질 수 있다.The test module may include a subframe provided at one side of the main frame, a fixing plate provided at an upper side of the subframe so as to form a space in which the glass stage module is moved, and a lower side of the fixing plate. It may include a substrate mounting stage to which a test substrate is fixed, a test substrate alignment unit for moving the substrate mounting stage relative to the fixing plate to align the cells of the glass seated on the glass stage module and the probe unit of the test substrate. have.

상기 테스트 기판 얼라인부는, 상기 고정 플레이트에 구비되어 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스에 형성된 셀 얼라인 마크를 센싱하는 셀 얼라인 카메라, 상기 고정 플레이트와 상기 기판장착 스테이지 사이에 구비되어 상기 기판장착 스테이지를 상기 고정 플레이트에 대하여 일측과 타측방향으로 이동시키거나 회전시키는 기판장착 스테이지 얼라이너, 상기 셀 얼라인 카메라에서 측정한 셀 얼라인 마크와 정렬지점의 오차량에 따라 상기 기판장착 스테이지 얼라이너의 이송량을 조절하여 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 상기 테스트 기판의 프로브 유닛을 정렬시키는 제어부를 포함하여 이루어질 수 있다.The test substrate alignment unit may include a cell alignment camera provided on the fixing plate and configured to sense a cell alignment mark formed on the glass seated on the glass stage module, and between the fixing plate and the substrate mounting stage. Substrate mounting stage aligner for moving or rotating the stage in one direction and the other direction with respect to the fixed plate, the transfer amount of the substrate mounting stage aligner according to the error amount of the cell alignment mark and the alignment point measured by the cell alignment camera The control unit may be configured to align the probe unit of the test substrate and the glass cell mounted on the glass stage module.

상기 기판장착 스테이지 얼라이너는, 상기 기판장착 스테이지의 적어도 두 개소 이상의 복수지점에 각각 구비되며, 상측은 상기 고정 플레이트에 고정되고, 하측은 상기 기판장착 스테이지에 회전가능하게 결합되며 일측과 타측으로 슬라이딩 가능하게 구비되어, 상기 복수개의 기판장착 스테이지 얼라이너가 일측과 타측으로 슬라이딩하는 양에 따라 상기 기판장착 스테이지를 일측과 타측으로 이동시키거나 회전시키도록 이루어질 수 있다.The substrate mounting stage aligner is provided at at least two or more points of the substrate mounting stage, respectively, and an upper side thereof is fixed to the fixing plate, and a lower side thereof is rotatably coupled to the substrate mounting stage and slidable to one side and the other side. The plurality of substrate mounting stage aligners may be configured to move or rotate the substrate mounting stage to one side and the other side according to an amount of sliding of the plurality of substrate mounting stage aligners to one side and the other side.

상기 테스트 모듈은, 상기 글래스의 셀과 프로브 유닛의 컨택지점을 모니터링 하는 컨택 카메라를 더 포함하여 이루어질 수 있다.The test module may further include a contact camera that monitors a contact point of the cell of the glass and the probe unit.

한편, 본 발명의 다른 형태에 따르면, 글래스를 글래스 스테이지 모듈에 반입하는 반입단계, 상기 글래스를 스테이지 베이스에 정렬하는 글래스 정렬단계, 상기 글래스 스테이지 모듈이 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판의 하측의 기준지점으로 이동되는 이동단계, 상기 스테이지 베이스와 테스트 기판의 평행을 정렬하는 스테이지정렬단계, 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스에 형성된 셀 얼라인 마크를 센싱하여 상기 글라스의 셀과 테스트 기판간의 평행량 오차를 측정하고 상기 테스트 기판을 이동하여 글라스 셀과 테스트 기판간의 평행을 조절하는 테스트 기판 정렬단계, 상기 스테이지 베이스가 상승하여 상기 글라스의 셀과 테스트 기판이 컨텍하여 글라스의 셀과 테스트 기판이 전기적으로 연결되는 컨텍단계, 상기 셀의 검사가 수행되는 검사수행단계를 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법이 제시된다.Meanwhile, according to another aspect of the present invention, an importing step of bringing glass into a glass stage module, a glass alignment step of aligning the glass to a stage base, and a reference point below the test substrate on which the glass stage module is mounted on a test module A movement step to be moved to, a stage alignment step of aligning the parallel between the stage base and the test substrate, and a cell alignment mark formed on the glass seated on the glass stage module by sensing a parallel amount error between the cell of the glass and the test substrate A test substrate alignment step of measuring and moving the test substrate to adjust parallelism between the glass cell and the test substrate, wherein the stage base is raised so that the cells of the glass and the test substrate are contacted to electrically connect the cells of the glass and the test substrate. Contact step, inspection of the cell is performed Provided is a control method of a display panel inspecting apparatus in which an object to be inspected and a test substrate are aligned, including an inspecting step.

상기 글래스 정렬단계는, 글래스 얼라이너가 작동하여 상기 글래스를 상기 스테이지 베이스에 정렬하는 단계인 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 단계일 수 있다.The glass aligning step may be a step in which an object to be tested and a test substrate are aligned, in which a glass aligner is operated to align the glass to the stage base.

상기 이동단계에서 상기 기준지점은, 상기 글래스 스테이지 모듈과 테스트 모듈 사이에 구비된 기준위치 인식 카메라 유닛이 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 얼라인 마크를 센싱하는 위치인 것을 특징으로 하는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 단계일 수 있다.In the moving step, the reference point is an object to be inspected, wherein the reference position recognition camera unit provided between the glass stage module and the test module senses an alignment mark of the glass seated on the glass stage module. The test substrate may be aligned.

상기 스테이지 정렬단계는, 글래스 스테이지 모듈의 상기 테스트 모듈을 향하는 측에 서로 이격된 위치에 적어도 2개 구비된 프로브 핀 카메라가 상기 프로브 유닛의 각각 지정된 지점을 센싱하여 상기 스테이지 베이스와 프로브 유닛과의 평행여부 및 오차을 측정하는 제1평행 측정단계와, 상기 제1평행 측정단계에서 측정된 오차량만큼 스테이지 베이스를 회전하여 스테이지 베이스와 프로브 유닛과의 평행을 이루는 제1평행 정렬단계를 포함하여 이루어질 수 있다.In the stage alignment step, at least two probe pin cameras provided at positions spaced apart from each other on a side facing the test module of the glass stage module sense respective designated points of the probe unit to be parallel to the stage base and the probe unit. And a first parallel measurement step of measuring whether or not and an error, and a first parallel alignment step of rotating the stage base by the amount of the error measured in the first parallel measurement step to form a parallel between the stage base and the probe unit. .

상기 프로브 유닛 정렬단계는, 셀 얼라인 카메라가 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스에 형성된 셀 얼라인 마크를 센싱하여 상기 글라스의 셀과 프로브 유닛간의 평행량 오차를 측정하는 제2평행 측정단계와 상기 제2평행 측정단계에서 측정된 오차량만큼 기판장착 스테이지 얼라이너의 이송량을 조절하여 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 상기 테스트 기판의 프로브 유닛의 평행을 이루는 제2평행 정렬단계를 포함하여 이루어질 수 있다.The probe unit aligning step may include a second parallel measurement step in which a cell alignment camera senses a cell alignment mark formed on the glass seated on the glass stage module to measure a parallel amount error between the cell of the glass and the probe unit; And a second parallel alignment step of adjusting the transfer amount of the substrate mounting stage aligner by the error amount measured in the second parallel measurement step to parallel the cell of the glass seated on the glass stage module and the probe unit of the test substrate. Can be.

본 발명의 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치 및 그 제어방법에 따르면, 글래스와 테스트 기판의 평행정렬을 위해 스테이지에 안착된 글래스는 물론 테스트 기판의 위치 및 각도 또한 정렬이 가능하므로 정렬도가 우수하여 컨텍불량이 일어날 확률이 없음며, 재정렬 빈도 또한 확연하게 줄어들어 디스플레이용 패널 검사에 소요되는 시간이 대폭 단축되는 효과가 있다.According to the display panel inspection device and the control method for the alignment of the test object and the test substrate of the present invention, the position and angle of the test substrate as well as the glass seated on the stage for parallel alignment of the glass and the test substrate can be also aligned Therefore, there is no possibility of contact failure due to excellent alignment, and the reordering frequency is also significantly reduced, which greatly reduces the time required for inspecting the display panel.

도 1은 종래의 검사장치를 도시한 사시도;
도 2는 글래스의 셀을 확대하여 도시한 도면;
도 3은 글래스와 테스트 기판의 정렬이 어긋난 상태를 도시한 도면;
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치를 도시한 사시도;
도 5는 도 4의 글래스 스테이지 모듈의 단면을 도시한 사시도;
도 6은 도 5의 글래스 얼라이너를 확대하여 도시한 사시도;
도 7은 도 4의 테스트 모듈을 분해하여 도시한 분해 사시도;
도 8은 도 7의 테스트 모듈이 장착된 상태를 도시한 사시도;
도 9는 글래스 스테이지 모듈과 테스트 모듈을 저면에서 바라본 모습을 도시한 저면 사시도;
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법을 도시한 순서도; 그리고,
도 11은 본 발명에 따라 테스트 기판이 글래스와 평행을 이루도록 위치가 보정된 상태를 나타낸 도면 이다.
1 is a perspective view showing a conventional inspection device;
2 is an enlarged view of a cell of glass;
3 is a view showing a state in which the glass is misaligned with the test substrate;
4 is a perspective view illustrating a display panel inspecting apparatus in which an object to be inspected and a test substrate are aligned according to an exemplary embodiment of the present invention;
5 is a perspective view showing a cross section of the glass stage module of FIG. 4;
FIG. 6 is an enlarged perspective view of the glass aligner of FIG. 5; FIG.
7 is an exploded perspective view illustrating an exploded view of the test module of FIG. 4;
8 is a perspective view illustrating a state in which the test module of FIG. 7 is mounted;
9 is a bottom perspective view showing the glass stage module and the test module viewed from the bottom;
10 is a flowchart illustrating a method of controlling a display panel inspecting apparatus in which an object to be inspected and a test substrate are aligned according to another embodiment of the present invention; And,
11 is a view showing a state in which the position is corrected so that the test substrate is in parallel with the glass in accordance with the present invention.

이하 본 발명의 목적이 구체적으로 실현될 수 있는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 본 실시예를 설명함에 있어서, 동일 구성에 대해서는 동일 명칭 및 동일 부호가 사용되며 이에 따른 부가적인 설명은 생략하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In describing the present embodiment, the same designations and the same reference numerals are used for the same components, and further description thereof will be omitted.

본 실시예의 설명에서, 피 검사체는 LCD 패널에 사용되는 패턴 어레이가 형성된 셀인 것으로 예를 들어 설명하기로 한다. 다만, 본 발명에서 상기 피 검사체는 상기 셀에 한정되지는 않으며 광의의 평판 디스플레이를 포함하는 의미로 칭하기로 한다.In the description of this embodiment, the object under test will be described with an example as a cell in which a pattern array used for an LCD panel is formed. However, in the present invention, the inspected object is not limited to the cell and is referred to as a meaning including a broad flat panel display.

본 실시예에 따른 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치(이하, 설명의 편의를 위하여 '검사장치'라 칭하기로 함)은 도 4에 도시된 바와 같이, 메인프레임(110)과 글래스 스테이지 모듈(120), 테스트 모듈(140)을 포함하여 이루어질 수 있다.The display panel inspection apparatus (hereinafter, referred to as an "inspection apparatus" for convenience of description) in which an object to be inspected and a test substrate is aligned according to the present embodiment is illustrated in FIG. 4, the main frame 110. And a glass stage module 120 and a test module 140.

상기 메인프레임(110)은 상기 검사장치의 설치면에 놓여지면서 상기 글래스 스테이지 모듈(120)과 테스트 모듈(140) 등 상기 검사장치(100)에 포함되는 구성요소를 지지하기 위한 구성요소이다.The main frame 110 is a component for supporting the components included in the inspection apparatus 100 such as the glass stage module 120 and the test module 140 while being placed on the installation surface of the inspection apparatus.

상기 글래스 스테이지 모듈(120)은 반입된 글래스(10)가 안착되며, 상기 글래스(10)를 상기 메인프레임(110)에 대해서 이동시키는 구성요소이다.The glass stage module 120 is a component to which the imported glass 10 is seated, and moves the glass 10 with respect to the main frame 110.

한편, 상기 글래스(10)에 대해서 좀 더 설명하자면, 도 2에 도시된 바와 같이, 패턴 어레이가 형성된 셀(12)이 복수개 형성되며, 상기 셀(12)의 일측에는 신호의 입출력을 위하여 후술하는 프로브 유닛(164)과 접촉하는 접속회로패턴(14)이 형성된다. 또한, 상기 글래스(10)의 각 모서리에 글래스의 얼라인(Align)을 위한 글래스 얼라인 마크(16)가 형성되며, 상기 셀(12)의 모서리에도 얼라인을 위한 셀 얼라인 마크(18)가 형성된다.Meanwhile, the glass 10 will be described in more detail. As shown in FIG. 2, a plurality of cells 12 having a pattern array are formed, and one side of the cell 12 will be described later for input / output of a signal. The connection circuit pattern 14 in contact with the probe unit 164 is formed. In addition, a glass align mark 16 for aligning the glass is formed at each corner of the glass 10, and a cell align mark 18 for aligning the edge of the cell 12. Is formed.

상기 글래스 스테이지 모듈(120)은 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 스테이지 베이스(130), 1축 구동부(122), 2축 구동부(124), 승강부(126) 및 회전부(128)를 포함하여 이루어질 수 있다.As shown in FIGS. 4 and 5, the glass stage module 120 includes a stage base 130, a single axis driver 122, a two axis driver 124, a lifting unit 126, and a rotating unit 128. It can be made, including.

상기 스테이지 베이스(130)는, 상기 글래스(10)가 안착되는 구성요소로서, 상기 글래스(10)가 놓이도록 상면에 평평한 면이 형성되며, 놓여진 글래스(10)를 흡착고정하도록 이루어질 수 있다.The stage base 130 is a component on which the glass 10 is to be seated, and a flat surface is formed on an upper surface of the glass 10 on which the glass 10 is placed, and may be configured to suck and fix the glass 10.

상기 1축 구동부(122)는 상기 스테이지 베이스(130)를 상기 메인프레임(110)에 대하여 어느 일측방향으로 이동시키는 구성요소이다. 본 실시예에서, 상기 1축 구동부(122)는 상기 스테이지 베이스(130)를 y축으로 이동시키도록 형성되는 것을 예로 들어 설명하기로 한다. 상기 y축은 지면에 평행한 어느 한 측 방향을 뜻한다. The one axis driver 122 is a component that moves the stage base 130 in one direction with respect to the main frame 110. In this embodiment, the one-axis drive unit 122 will be described by taking an example that is formed to move the stage base 130 in the y-axis. The y-axis refers to one side direction parallel to the ground.

상기 2축 구동부(124)는, 상기 스테이지 베이스(130)를 상기 메인프레임(110)에 대하여 상기 일측방향과 직교하는 타측방향으로 이동시키는 구성요소이다. 본 실시예에서, 상기 타측은 x축 방향을 뜻하기로 한다.The two-axis drive unit 124 is a component for moving the stage base 130 in the other direction perpendicular to the one direction with respect to the main frame 110. In the present embodiment, the other side means the x-axis direction.

또한, 상기 승강부(126)는 상기 스테이지 베이스(130)를 수직방향 (z축방향)으로 승하강시키도록 이루어질 수 있다. 본 실시예에서 상기 승강부(126)는, 상기 승강부가 2축 구동부에 결합되는 로워파트와, 상기 로워파트와는 분할되며 상기 스테이지 베이스(130)을 지지하는 어퍼파트 및 상기 어퍼파트를 승강시키는 모터 등으로 이루어질 수 있다.In addition, the lifting unit 126 may be configured to raise and lower the stage base 130 in the vertical direction (z-axis direction). In the present exemplary embodiment, the lifting unit 126 may include a lower part in which the lifting part is coupled to the two-axis driving part, an upper part that is divided from the lower part, and supports the stage base 130. Motor and the like.

또한, 상기 회전부(128)는 상기 스테이지 베이스(130)를 지면에 수직한 방향을 축으로 하여(즉, 지면에 수평한 방향으로) 회전시키도록 이루어 질 수 있다.In addition, the rotating unit 128 may be configured to rotate the stage base 130 in a direction perpendicular to the ground (ie, in a direction horizontal to the ground).

상기한 1축 구동부(122), 2축 구동부(124)와 승강부(126) 및 회전부(128)에 대해서는 기 공지된 구조가 다수여서 당업자라면 능히 그 구조를 알 수 있으므로 자세한 설명은 생략하기로 한다.The one-axis drive unit 122, the two-axis drive unit 124 and the lifting unit 126 and the rotating unit 128 has a number of known structures, so those skilled in the art will be able to know the structure thereof will not be described in detail. do.

또한, 상기 스테이지 베이스(130)의 테두리에는 글래스 얼라이너(135)가 더 구비될 수 있다.In addition, a glass aligner 135 may be further provided at an edge of the stage base 130.

상기 글래스 얼라이너(135)는 상기 스테이지 베이스(130) 상에 놓여진 글래스(10)를 정렬하는 구성요소이다. 상기와 같은 글래스 얼라이너(135)는 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이, 얼라인 핀(136)과 슬라이더(137) 및 레일(138)을 포함하여 이루어질 수 있다.The glass aligner 135 is a component for aligning the glass 10 placed on the stage base 130. As shown in FIGS. 5 and 6, the glass aligner 135 may include an alignment pin 136, a slider 137, and a rail 138.

또한, 상기 스테이지 베이스(130)의 테두리의 상기 글래스 얼라이너(135)가 구비되는 위치에는 상기 글래스 얼라이너(135)의 얼라인 핀(136)이 움직일 수 있는 홈(132)이 복수개 형성될 수 있다.In addition, a plurality of grooves 132 through which the alignment pin 136 of the glass aligner 135 may move may be formed at a position where the glass aligner 135 of the edge of the stage base 130 is provided. have.

즉, 도시되지 않은 모터 또는 솔레노이드 등의 구동원으로서, 상기 슬라이더(137)가 레일(138)을 슬라이딩함에 따라 상기 얼라인 핀(136)이 스테이지 베이스(130)의 내측으로 이동되면서 상기 글래스(10)를 상기 스테이지 베이스(130) 상에 정렬하는 것이다.That is, as a driving source such as a motor or a solenoid (not shown), the alignment pin 136 is moved to the inside of the stage base 130 as the slider 137 slides the rail 138, and the glass 10 To align on the stage base 130.

상기 글래스(10)는 정렬된 후에 상기 스테이지 베이스(130)에 흡착고정될 수 있다.The glass 10 may be fixed to the stage base 130 after being aligned.

한편, 상기 테스트 모듈(140)은, 도 4 및 도 7 내지 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 이동경로상의 상측에 구비되며, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스(10)의 셀(12)과 컨택되는 프로브 유닛(164)이 구비되어 상기 셀(12)의 검사를 수행하는 테스트 기판(160)이 탑재되고, 상기 프로브 유닛(164)이 상기 글래스(10)의 셀(12)과 정렬되도록 상기 테스트 기판(160)의 위치를 정렬하는 구성요소이다.Meanwhile, as illustrated in FIGS. 4 and 7 to 8, the test module 140 is provided on the movement path of the glass stage module 120 and is seated on the glass stage module 120. A probe unit 164 is provided to contact the cell 12 of the glass 10 to mount the test substrate 160 to inspect the cell 12, and the probe unit 164 is mounted on the glass 10. ) Is a component that aligns the position of the test substrate 160 to be aligned with the cell 12 of.

상기 테스트 기판(160)은 도 7에 도시된 바와 같이, 회로나 장비가 실장된 보드(162)와, 상기 보드(162)의 전측에 구비되며, 상기 글래스(10)의 셀(12)과 컨택하여 전기적 접촉을 이루는 프로브 유닛(164)을 포함하여 이루어질 수 있다. 또한, 도면에 도시하지는 않았지만, 상기 프로브 유닛(164)의 글래스(10)와 접촉하는 면에는 상기 셀(12)의 접속회로패턴(14)과 접촉하는 프로브 핀(미도시)이 형성될 수 있다.As illustrated in FIG. 7, the test board 160 is provided on a board 162 on which circuits or equipment are mounted, and on the front side of the board 162, and contacts the cells 12 of the glass 10. And a probe unit 164 making electrical contact. Although not shown in the drawings, a probe pin (not shown) contacting the connection circuit pattern 14 of the cell 12 may be formed on a surface of the probe unit 164 that contacts the glass 10. .

상기와 같은 테스트 기판(160)은 피검사물인 글래스(10)의 종류 및 셀(12)의 크기와 형성된 개수 및 검사의 종류에 따라 여러가지 다양한 형태가 장착될 수 있다.The test substrate 160 as described above may be mounted in various forms depending on the type of the glass 10 to be inspected, the size of the cell 12, the number of the formed cells, and the type of inspection.

한편, 상기 테스트 모듈(140)은, 도 7에 도시된 바와 같이, 서브 프레임(142)과, 고정 플레이트(144), 기판장착 스테이지(146) 및 테스트 기판 얼라인부를 포함하여 이루어질 수 있다.Meanwhile, as illustrated in FIG. 7, the test module 140 may include a subframe 142, a fixing plate 144, a substrate mounting stage 146, and a test substrate alignment unit.

상기 서브 프레임(142)은 상기 메인프레임(110)의 일측방향에 구비된다. 즉, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)이 y축 방향으로 이송되는 측에 구비될 수 있으며, 상기 글래스(10)가 탑재된 글래스 스테이지 모듈(120)이 하측에 이동될 수 있는 공간을 확보하도록 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 이송경로보다 상측으로 솟아오른 형태로 이루어질 수 있다.The subframe 142 is provided at one side of the mainframe 110. That is, the glass stage module 120 may be provided on the side to be transferred in the y-axis direction, and the glass stage module 120 on which the glass 10 is mounted may be secured to secure a space in which the glass stage module 120 may be moved below. The stage module 120 may be formed to rise above the transfer path.

그리고, 상기 고정 플레이트(144)는 하측에 상기 글래스 스테이지 모듈(120)이 이동되는 공간을 형성하도록 상기 서브 프레임(142)의 상측에 고정되어 구비될 수 있다. 또한, 상기 고정 플레이트(144)는 내측에 개구부(145)를 형성할 수 있다.The fixing plate 144 may be fixed to an upper side of the subframe 142 to form a space in which the glass stage module 120 moves. In addition, the fixing plate 144 may form an opening 145 therein.

그리고, 상기 기판장착 스테이지(146)는, 상기 고정 플레이트(144)의 하측에 구비되며, 상기 테스트 기판(160)이 결합되어 고정되도록 구비된다. 상기 기판장착 스테이지(146) 또한 중앙부에 상기 고정 플레이트(144)의 개구부(145)와 연통되는 개구부(147)가 형성될 수 있다.The substrate mounting stage 146 is provided below the fixing plate 144, and the test substrate 160 is coupled to and fixed to the test substrate 160. The substrate mounting stage 146 may also have an opening 147 communicating with the opening 145 of the fixing plate 144.

그리고, 상기 테스트 기판 얼라인부는, 상기 기판장착 스테이지(146)를 상기 고정 플레이트(144)에 대하여 이동시켜 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스(10)의 셀(12)과 상기 테스트 기판(160)의 프로브 유닛(164)을 정렬시키는 구성요소로서, 셀 얼라인 카메라(149)와, 기판장착 스테이지 얼라이너(150) 및 제어부(미도시)를 포함하여 이루어질 수 있다.The test substrate aligning unit moves the substrate mounting stage 146 with respect to the fixing plate 144 and the cell 12 of the glass 10 mounted on the glass stage module 120 and the test substrate. As a component for aligning the probe unit 164 of the 160, the cell alignment camera 149, the substrate mounting stage aligner 150, and a controller (not shown) may be formed.

상기 셀 얼라인 카메라(149)는 상기 고정 플레이트(144)에 구비되며, 상기 고정 플레이트(144)와 기판장착 스테이지(146)에 각각 형성된 개구부(145, 147)를 통해 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스(10)에 형성된 셀 얼라인 마크(18)를 센싱하는 구성요소이다. 상기 각 개구부(145, 147)는, 상기 셀 얼라인 카메라(149)가 상기 테스트 기판(160)의 하측에 위치되는 글래스(10)에 형성된 셀 얼라인 마크(18)를 센싱할 수 있도록 충분히 큰 크기로 형성될 수 있다.The cell alignment camera 149 is provided in the fixing plate 144, and the glass stage module 120 is provided through openings 145 and 147 formed in the fixing plate 144 and the substrate mounting stage 146, respectively. The cell align mark 18 formed on the glass 10 seated on the element is sensed. Each of the openings 145 and 147 is large enough to allow the cell alignment camera 149 to sense the cell alignment marks 18 formed on the glass 10 positioned below the test substrate 160. It can be formed in size.

또한, 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)는, 상기 고정 플레이트(144)와 상기 기판장착 스테이지(146) 사이에 구비되어 상기 기판장착 스테이지(146)를 상기 고정 플레이트(144)에 대하여 일측과 타측방향으로 이동시키거나 회전시키도록 이루어진다.In addition, the substrate mounting stage aligner 150 may be provided between the fixing plate 144 and the substrate mounting stage 146 to provide the substrate mounting stage 146 with respect to the fixing plate 144. To move or rotate in a direction.

한편, 상기 제어부는, 상기 셀 얼라인 카메라(149)에서 측정한 셀 얼라인 마크(18)와 정렬지점의 오차량에 따라 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)의 이송량을 조절하여 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스(10)의 셀(12)과 상기 테스트 기판(160)의 프로브 유닛(164)을 정렬시키도록 이루어진다.The control unit controls the transfer amount of the substrate mounting stage aligner 150 according to the error amount of the cell alignment mark 18 and the alignment point measured by the cell alignment camera 149 to perform the glass stage module. The cell 12 of the glass 10 seated on the 120 is made to align the probe unit 164 of the test substrate 160.

상기와 같은 기판장착 스테이지 얼라이너(150)는, 일측방향(Y축방향)으로 이송되도록 구비되는 Y축 레일(152)과, 타측방향(X축 방향)으로 이송되도록 구비되는 X축 레일(154) 및 상기 상기 X축 레일(152) 및 Y축 레일(154)의 하측에 구비되며 기판장착 스테이지(146)에 회전가능하게 결합되는 힌지부(156)를 포함하여 이루어질 수 있다. 또한, 도면에 도시하지는 않았지만 상기 X축 레일(154) 및 Y축 레일(152)을 가동시키는 가동부(미도시)가 포함될 수 있다. 상기 가동부(미도시)는 모터 및 렉과 피니언 기어등으로 이루어질 수 있다. 또한, 상기와 같은 X축 레일(154) 또는 Y축 레일(152)은 상기 기판장착 스테이지(146)에 고정될 수 있으며, 상기 기판장착 스테이지(146)의 모서리부에는 상기 힌지부(156)가 삽입되어 고정되는 홈(148)이 형성될 수 있다.The substrate mounting stage aligner 150 as described above is provided with a Y-axis rail 152 provided to be transported in one direction (Y-axis direction) and an X-axis rail 154 provided to be transported in the other direction (X-axis direction). And a hinge portion 156 provided below the X-axis rail 152 and the Y-axis rail 154 and rotatably coupled to the substrate mounting stage 146. In addition, although not shown, a movable part (not shown) for moving the X-axis rail 154 and the Y-axis rail 152 may be included. The movable part (not shown) may include a motor, a rack, and a pinion gear. In addition, the X-axis rail 154 or the Y-axis rail 152 as described above may be fixed to the substrate mounting stage 146, the hinge portion of the substrate mounting stage 146, the hinge portion 156 A groove 148 inserted and fixed may be formed.

본 실시예에서는 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)가 상기 고정 플레이트(144)와 기판장착 스테이지(146)의 각 모서리에 장착되는 것을 예로 들어 설명하나, 본 발명은 반드시 이에 한정된 것은 아니며, 상기 기판장착 스테이지(146)의 자유도를 제한하지 않는 범위라면 두 개 이상 복수개가 장착되어도 무방하다.In the present exemplary embodiment, the substrate mounting stage aligner 150 is mounted on each corner of the fixing plate 144 and the substrate mounting stage 146, but the present invention is not limited thereto. As long as the degree of freedom of the mounting stage 146 is not limited, two or more may be mounted.

즉, 도 8에 도시된 바와 같이, 상기와 같은 기판장착 스테이지 얼라이너(150)가 모두 X축 또는 Y축으로 동일한 방향만큼 이송하면 상기 기판장착 스테이지(146) 또한 해당방향으로 해당량만큼 이송되며, 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)가 X축 또는 Y축으로의 변위량이 상호 동일하지 않다면, 상기 기판장착 스테이지(146)가 그 차이만큼 회전하게 되는 것이다. 따라서, 상기 제어부에서는 상기 복수개의 기판장착 스테이지 얼라이너(150)를 각각 개별적으로 제어함으로써 상기 기판장착 스테이지(146)의 위치를 보정할 수 있다.That is, as shown in Figure 8, if all of the substrate mounting stage aligner 150 as described above is transferred in the same direction in the X-axis or Y-axis, the substrate mounting stage 146 is also transferred by the corresponding amount in the corresponding direction If the substrate mounting stage aligner 150 does not have the same displacement amount in the X-axis or the Y-axis, the substrate mounting stage 146 rotates by the difference. Accordingly, the controller may correct the position of the substrate mounting stage 146 by individually controlling the plurality of substrate mounting stage aligners 150.

상기와 같은 기판장착 스테이지 얼라이너는 특성상 이송량이 크지 않아도 무방하며 대신 정밀하게 미소변위를 움직일 수 있는 것이 바람직하다. 본 실시예에서는 상기 기판장착 스테이지 얼라이너가 UVW방식의 구동방식을 가지는 것을 예로 들어 설명하나, 본 발명은 반드시 이에 한정된 것은 아니며 다른 방식의 구동방식으로 구현되어도 무방하다.The substrate mounting stage aligner as described above does not have to be large in nature, and it is preferable that the micro displacement can be precisely moved instead. In the present embodiment, the substrate mounting stage aligner is described as having a UVW driving method as an example, but the present invention is not necessarily limited thereto and may be implemented in other driving methods.

또한, 상기 제어부는, 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)를 제어하는 것은 물론, 상기 글래스 스테이지 모듈(120) 및 테스트 모듈(140)의 등 본 실시예의 검사장치 전반적인 작동을 제어하는 구성요소일 수 있으며, 메인프레임(110)상에 일체로 구비되거나 또는 별도로 구비된 외부의 컴퓨터 등으로 구성될 수 있다.In addition, the control unit may be a component that controls not only the substrate mounting stage aligner 150 but also the overall operation of the inspection apparatus of the present embodiment, such as the glass stage module 120 and the test module 140. In addition, the mainframe 110 may be integrally provided or may be configured as an external computer provided separately.

한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 테스트 모듈(140)의 글래스 스테이지 모듈(120)이 이송되어 오는 지점에는 기준위치 인식 카메라 유닛(170)이 더 구비될 수 있다. 상기 기준위치 인식 카메라 유닛(170)은 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스(10)의 글래스 얼라인 마크(16)를 인식하는 구성요소로서, 상기 글래스(10)와 테스트 기판(160)이 컨택하기 전 상기 글래스 스테이지 모듈(120)이 이송되어 올 때 그 기준위치를 인식하여, 상기 글래스(10)와 상기 테스트 모듈(140)과의 위치를 정렬하기 위한 구성요소이다.4, the reference position recognition camera unit 170 may be further provided at the point where the glass stage module 120 of the test module 140 is transferred. The reference position recognition camera unit 170 is a component for recognizing the glass alignment mark 16 of the glass 10 seated on the glass stage module 120, and the glass 10 and the test substrate 160. The glass stage module 120 recognizes the reference position when the glass stage module 120 is transferred before the contact, and is a component for aligning the position between the glass 10 and the test module 140.

상기와 같은 기준위치 인식 카메라 유닛(170)은 상기 메인프레임(110)의 X축 방향으로 가로지르도록 구비된 컬럼(172)과 상기 컬럼(172)상을 슬라이딩 하면서 상기 글래스(10)에 형성된 글래스 얼라인 마크(16)를 인식하는 기준위치 인식 카메라(174)를 포함하여 이루어질 수 있다.The reference position recognition camera unit 170 as described above is provided with a glass formed on the glass 10 while sliding on the column 172 and the column 172 provided to cross in the X-axis direction of the main frame 110. And a reference position recognition camera 174 that recognizes the alignment mark 16.

그리고, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)은, 도 9에 도시된 바와 같이, 프로브 핀 카메라(129)가 더 구비될 수 있다.In addition, the glass stage module 120 may further include a probe pin camera 129 as shown in FIG. 9.

상기 프로브 핀 카메라(129)는, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 상기 테스트 모듈(140)을 향하는 측의 서로 이격된 위치에 적어도 2개 구비되며, 각각 상기 테스트 기판(160)의 지정된 지점을 센싱하여 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 스테이지 베이스(130)와 상기 테스트 기판(160)과의 평행을 측정하도록 구비된다.At least two probe pin cameras 129 are provided at positions spaced apart from each other on the side of the glass stage module 120 facing the test module 140, and each of the probe pin cameras 129 senses a designated point of the test substrate 160. In order to measure parallelism between the stage base 130 of the glass stage module 120 and the test substrate 160.

본 실시예에서, 상기 프로브 핀 카메라(129)는 상기 테스트 기판(160)의 전단에 구비된 복수개의 프로브 유닛(164)의 각 외측지점 즉, 최좌측에 구비된 프로브 유닛(164)의 좌측면과, 최우측에 구비된 프로브 유닛(164)의 우측면을 인식하도록 구비될 수 있다.In the present exemplary embodiment, the probe pin camera 129 may be an outer side surface of each of the plurality of probe units 164 provided at the front end of the test substrate 160, that is, the left surface of the probe unit 164 provided at the leftmost side. And, it may be provided to recognize the right side of the probe unit 164 provided on the right side.

또는, 상기 프로브 핀 카메라(129)가 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 상기 테스트 모듈(140)을 향하는 측면에 하나 구비되고, 상기 글래스 스테이지 모듈의 2축 구동부(124)가 X축 방향으로 움직이면서, 상기 하나의 프로브 핀 카메라(129)가 복수개의 프로브 유닛(164)의 각 외측지점 즉, 최좌측에 구비된 프로브 유닛(164)의 좌측면과, 최우측에 구비된 프로브 유닛(164)의 우측면을 인식하도록 구비될 수도 있다.Alternatively, the probe pin camera 129 is provided on one side of the glass stage module 120 facing the test module 140, while the two-axis drive unit 124 of the glass stage module moves in the X-axis direction, The one probe pin camera 129 has a left side of each outer point of the plurality of probe units 164, that is, a left side of the probe unit 164 provided on the leftmost side, and a right side of the probe unit 164 provided on the rightmost side. It may be provided to recognize.

한편, 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 고정 플레이트(144)의 상측에는 상기 고정 플레이트(144) 및 기판장착 스테이지(146)의 개구부(145, 147)를 통해 상기 프로브 유닛(164)과 셀(12)이 접촉한 부위를 모니터링 하는 컨텍 카메라(180)가 더 구비될 수 있다.As shown in FIG. 7, the probe unit 164 and the cell (top) of the fixing plate 144 through the openings 145 and 147 of the fixing plate 144 and the substrate mounting stage 146. 12 may further include a contact camera 180 to monitor the contact area.

상기 컨텍 카메라(180)는 상기 테스트 기판(160)의 폭방향(X축 방향)으로 슬라이딩 가능하도록 상기 고정 플레이트에 구비된 레일에 설치됨으로써 상기 복수개의 프로브 유닛(164)의 접촉지점을 모니터링 할 수 있도록 구비될 수 있다.
The contact camera 180 may be installed on a rail provided on the fixing plate to be slidable in the width direction (X-axis direction) of the test substrate 160 to monitor contact points of the plurality of probe units 164. It may be provided to.

이하, 본 발명에 따른 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법에 대해서 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of controlling the display panel inspecting apparatus in which the inspected object and the test substrate are aligned according to the present invention will be described.

본 실시예에 따른 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법은 도 10에 도시된 바와 같이, 반입단계(S110)와 글래스 정렬단계(S120), 이동단계(S130), 스테이지 정렬단계(S140), 테스트 기판 정렬단계(S150), 컨텍단계(S160) 및 검사수행단계(S170)를 포함하여 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 10, a control method of a display panel inspecting device in which an object to be inspected and a test substrate are aligned according to the present exemplary embodiment is carried out in a loading step S110, a glass alignment step S120, a moving step S130, and the like. A stage alignment step S140, a test substrate alignment step S150, a contact step S160, and an inspection performing step S170 may be performed.

상기 반입단계(S110)는, 셀(12)이 형성된 글래스(10)를 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 도시되지 않은 픽커나 로봇 등으로 반입하는 단계이다. 즉, 본 단계에서 글래스(10)가 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 스테이지 베이스(130) 상면에 놓여진다.The importing step (S110) is a step of bringing the glass 10, in which the cell 12 is formed, into a picker or a robot not shown in the glass stage module 120. That is, in this step, the glass 10 is placed on the top surface of the stage base 130 of the glass stage module 120.

상기 글래스 정렬단계(S120)는 상기 스테이지 베이스(130)에 놓여진 글래스(10)가 상기 스테이지 베이스(130)의 정위치에 놓여지도록 정렬하는 단계이다. 즉, 도 4 및 도 5에 도시된 글래스 얼라이너(135)가 작동하여, 상기 글래스(10)가 상기 스테이지 베이스(130) 상의 정위치에 놓여지도록 정렬할 수 있다.The glass aligning step (S120) is a step of aligning the glass 10 placed on the stage base 130 to be placed in the correct position of the stage base 130. That is, the glass aligner 135 illustrated in FIGS. 4 and 5 may be operated to align the glass 10 to be positioned on the stage base 130.

상기 이동단계(S130)는, 상기 글래스(10)의 정렬이 이루어진 글래스 스테이지 모듈(120)이 상기 테스트 기판(160)과 컨텍하기 위해 기준지점까지 이동하는 단계이다. 상기 테스트 기판(160)이 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 상측에 위치되므로, 상기 기준위치에서 상기 글래스 스테이지 모듈(120)은 상기 테스트 모듈(140)의 하측에 위치될 수 있다.In the moving step S130, the glass stage module 120 in which the glass 10 is aligned is moved to a reference point in order to contact the test substrate 160. Since the test substrate 160 is positioned above the glass stage module 120, the glass stage module 120 may be positioned below the test module 140 at the reference position.

이 때, 상기 기준지점은, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)과 테스트 모듈(140) 사이에 구비된 기준위치 인식 카메라 유닛(170)이 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스 얼라인 마크(16)를 센싱하는 위치일 수 있다.In this case, the reference point is a glass alignment mark 16 in which the reference position recognition camera unit 170 provided between the glass stage module 120 and the test module 140 is seated on the glass stage module 120. ) May be a location for sensing.

즉, 상기와 같이 메인프레임(110)상의 Y축방향으로 고정된 위치에 구비되는 기준위치 인식 카메라(174)가 상기 글래스 얼라인 마크(16)를 인식함으로써, 상기 글래스(10)가 상기 메인프레임(110)상의 Y축방향의 기준되는 지점에 위치되도록 정렬할 수 있는 것이다.That is, the reference position recognition camera 174 provided at the fixed position in the Y-axis direction on the main frame 110 as described above recognizes the glass alignment mark 16, so that the glass 10 is the main frame It can be aligned to be located at the reference point in the Y-axis direction on the (110).

상기 스테이지 정렬단계(S140)는, 상기 스테이지 베이스(130)와 테스트 기판(160)의 평행을 정렬하는 단계이다. 상기 스테이지 정렬단계(S140)는, 제1평행 측정단계(S142) 및 제1평행 정렬단계(S144)를 포함하여 이루어질 수 있다.The stage alignment step (S140) is a step of aligning the parallel between the stage base 130 and the test substrate 160. The stage alignment step S140 may include a first parallel measurement step S142 and a first parallel alignment step S144.

상기 제1평행 측정단계(S142)는, 도 9에 도시된 상기 프로브 핀 카메라(129)가 상기 테스트 기판(160)의 각각 지정된 지점을 센싱하여 상기 스테이지 베이스(130)와 테스트 기판(160)의 평행 여부 및 오차를 측정하는 단계이다.In the first parallel measurement step S142, the probe pin camera 129 illustrated in FIG. 9 senses respective designated points of the test substrate 160 to determine the stage base 130 and the test substrate 160. It is a step of measuring the parallelism and the error.

즉, 상기 복수개의 프로브 핀 카메라(129)가 상기 테스트 기판(160)의 복수 지점을 센싱함에 따라, 상기 글래스 스테이지 모듈(120)과 테스트 기판(160)의 평행 오차량을 측정할 수 있으며, 그에 따라 제어부에 입력된 스테이지 베이스(130)의 회전량으로서 상기 스테이지 베이스(130)와 테스트 기판(160)과의 평행 여부 및 오차량 또한 계산할 수 있다.That is, as the plurality of probe pin cameras 129 sense a plurality of points of the test substrate 160, the parallel error amount between the glass stage module 120 and the test substrate 160 may be measured, and Accordingly, as the amount of rotation of the stage base 130 input to the controller, the parallelism between the stage base 130 and the test substrate 160 and an error amount may also be calculated.

상기 제1평행 정렬단계(S144)는, 상기 제어부가 상기 제1평행 측정단계(S142)에서 측정된 오차량만큼 상기 스테이지 베이스(130)를 회전시켜 상기 스테이지 베이스(130)와 테스트 기판(160)이 평행을 이루는 단계이다.In the first parallel alignment step S144, the stage base 130 and the test substrate 160 are rotated by the control unit by rotating the stage base 130 by the amount of error measured in the first parallel measurement step S142. This step is parallel.

한편, 스테이지 정렬단계(S140)에서 상기 스테이지 베이스(130)와 테스트 기판(160)간에 평행을 정렬했음에도 불구하고, 상기 글래스 스테이지 모듈(120) 자체의 오차 및 상기 글래스(10)가 스테이지 베이스(130)에 놓여진 위치의 오차 등에 의해 상기 글래스(10)와 테스트 기판(160)이 정확하게 정렬되지 않을 수도 있다.On the other hand, despite the parallel alignment between the stage base 130 and the test substrate 160 in the stage alignment step (S140), the error of the glass stage module 120 itself and the glass 10 is the stage base 130 ), The glass 10 and the test substrate 160 may not be correctly aligned due to an error in the position of the glass.

따라서, 본 실시예에서는, 상기 테스트 기판(160)의 위치를 보정하여 상기 글래스(10)의 셀(12)과 상기 테스트 기판(160)을 정렬하는 테스트 기판 정렬단계(S150)가 수행될 수 있다.Therefore, in the present exemplary embodiment, a test substrate alignment step (S150) for aligning the cell 12 of the glass 10 and the test substrate 160 by correcting the position of the test substrate 160 may be performed. .

상기 테스트 기판 정렬단계(S150)는, 제2평행 측정단계(S152)와 제2평행 정렬단계(S154)를 포함하여 이루어질 수 있다.The test substrate alignment step S150 may include a second parallel measurement step S152 and a second parallel alignment step S154.

상기 제2평행 측정단계(S152)는, 도 7에 도시된 상기 테스트 모듈(140)의 고정 플레이트(144)에 구비된 셀 얼라인 카메라(149)가 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착되어 테스트 모듈(140)의 하측까지 이송된 글래스(10)에 형성된 셀 얼라인 마크(18)를 센싱하여 상기 글래스(10)의 셀(12)과 테스트 기판(160)간의 평행량 오차를 측정하는 단계이다.In the second parallel measurement step (S152), the cell alignment camera 149 provided on the fixing plate 144 of the test module 140 illustrated in FIG. 7 is seated on the glass stage module 120 and tested. The cell alignment mark 18 formed on the glass 10 transferred to the lower side of the module 140 is sensed to measure the parallel amount error between the cell 12 of the glass 10 and the test substrate 160. .

상기와 같은 셀 얼라인 카메라(149)는 상기 고정 플레이트(144)의 좌 우측 양 측에 각각 구비되므로, 상기 글래스(10)에 형성된 서로 이격된 복수지점의 셀 얼라인 마크(18)를 센싱함으로써, 상기 글래스(10)와 고정 플레이트(144)간의 평행여부 및 평행오차량을 측정할 수 있다. Since the cell alignment camera 149 is provided on both left and right sides of the fixing plate 144, the cell alignment marks 18 of the plurality of points spaced apart from each other formed on the glass 10 are sensed. In addition, the parallel between the glass 10 and the fixing plate 144 and the amount of parallel errors can be measured.

한편, 상기 제어부에는 상기 테스트 기판(160)이 결합된 기판장착 스테이지(146)의 상기 고정 플레이트(144)에 대한 위치가 저장되어 있어, 상기 제2평행 측정단계(S152)에서 상기 글래스(10)와 테스트 기판(160)과의 평행 여부 및 평행오차량을 계산할 수 있다.On the other hand, the control unit stores the position of the fixing plate 144 of the substrate mounting stage 146 to which the test substrate 160 is coupled, so that the glass 10 in the second parallel measurement step (S152). And the parallel with the test substrate 160 and the amount of parallel error can be calculated.

그리고, 상기 제2평행 정렬단계(S154)에서는, 상기 제2평행 측정단계(S152)에서 측정된 오차량만큼 상기 제어부가 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)의 이송량을 조절하여 상기 글래스 스테이지 모듈(120)에 안착된 글래스(10)의 셀(12)과 상기 테스트 기판(160)의 프로브 유닛(164)의 정렬을 이룰 수 있다.And, in the second parallel alignment step (S154), the control unit adjusts the transfer amount of the substrate mounting stage aligner 150 by the error amount measured in the second parallel measurement step (S152) to the glass stage module ( The cell 12 of the glass 10 seated on the 120 and the probe unit 164 of the test substrate 160 may be aligned.

즉, 상기 기판장착 스테이지 얼라이너(150)가, 상기 테스트 기판(160)이 결합된 기판장착 스테이지(146)를 미세보정함으로써 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 테스트 기판(160)과 글래스(10)의 평행을 이루는 것이다.That is, as shown in FIG. 11, the substrate mounting stage aligner 150 finely corrects the substrate mounting stage 146 to which the test substrate 160 is coupled, and thus, the test substrate 160 and the glass 10. ) Is parallel.

상기 테스트 기판 정렬단계(S150)에서, 기판과 테스트 기판(160)의 정렬이 완료되면, 상기 컨텍단계(S160)가 수행된다. 상기 컨텍단계(S160)에서는 상기 글래스 스테이지 모듈(120)의 승강부(126)가 작동하여, 상기 스테이지 베이스(130)가 상승함으로써, 상기 스테이지 베이스(130)에 놓여진 글래스(10)의 셀(12)과 상기 테스트 기판(160)의 각 프로브 유닛(164)이 컨텍하여 상기 글래스(10)의 셀(12)과 테스트 기판(160)이 전기적으로 연결된다.In the test substrate alignment step S150, when the alignment of the substrate and the test substrate 160 is completed, the contact step S160 is performed. In the contact step (S160), the lifting unit 126 of the glass stage module 120 operates to raise the stage base 130, whereby the cell 12 of the glass 10 placed on the stage base 130 is placed. ) And each probe unit 164 of the test substrate 160 are contacted to electrically connect the cell 12 of the glass 10 to the test substrate 160.

상기와 같은 컨텍단계(S160) 후에는 상기 테스트 기판(160)에 의해 상기 셀(12)의 검사가 수행되는 검사수행단계(S170)가 수행된다.After the contact step (S160) as described above, the test performing step (S170) in which the test of the cell 12 is performed by the test substrate 160 is performed.

상기 검사수행단계(S170)에서 상기 테스트 기판(160)에 컨텍된 셀(12)의 검사가 완료되면, 상기 스테이지 베이스(130)가 하강하고, 그 다음 검사구간의 셀(12)이 상기 프로브 유닛(164)의 하측에 이동되도록 상기 스테이지 베이스(130)가 평행 이동한 후, 상승하여 해당 검사구간의 셀(12)이 프로브 유닛(164)과 컨택하여 검사가 수행되는 과정을 상기 글래스(10)에 형성된 셀(12) 전체에 걸쳐 반복하여 글래스(10)에 형성된 셀(12) 모두에 대한 검사를 수행할 수 있다.When the inspection of the cell 12 contacted to the test substrate 160 is completed in the inspection performing step S170, the stage base 130 is lowered, and then the cell 12 of the inspection section is moved to the probe unit. After the stage base 130 is moved in parallel so as to move to the lower side of the 164, the glass base 10 is moved up and the cell 12 of the corresponding test section contacts the probe unit 164. Inspection of all the cells 12 formed on the glass 10 may be repeated by repeating the entire cells 12 formed on the glass 10.

또한, 상기 컨텍 카메라(180)는 상기 테스트 기판(160)의 프로브 유닛(164)과 셀(12)의 컨텍지점을 지속적으로 모니터링 함으로써 별도로 마련된 모니터(미도시) 등을 통하여 작업자에게 컨텍상황을 중계할 수 있다.In addition, the contact camera 180 relays the contact status to a worker through a monitor (not shown) separately provided by continuously monitoring the contact points of the probe unit 164 and the cell 12 of the test substrate 160. can do.

이상과 같이 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명된 실시예 이외에도 본 발명이 그 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 특정 형태로 구체화 될 수 있다는 사실은 해당 기술에 통상의 지식을 가진 이들에게는 자명한 것이다. 그러므로, 상술된 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.It will be apparent to those skilled in the art that the present invention can be embodied in other specific forms without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is obvious to them. Therefore, the above-described embodiments should be regarded as illustrative rather than restrictive, and thus, the present invention is not limited to the above description and may be modified within the scope of the appended claims and their equivalents.

10: 글래스 12: 셀
14: 접속회로패턴 16: 글래스 얼라인 마크
18: 셀 얼라인 마크
100: 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치
110: 메인 프레임 120: 글래스 스테이지 모듈
122: 1축 이송부 124: 2축 이송부
126: 승강부 128: 회전부
129: 프로브 핀 카메라 130: 스테이지 베이스
135: 글래스 얼라이너 140: 테스트 모듈
142: 서브 프레임 144: 고정 플레이트
146: 기판장착 스테이지 148: 홈
149: 셀 얼라인 카메라 150: 기판장착 스테이지 얼라이너
152: Y축 레일 154: X축 레일
156: 힌지부 160: 테스트 기판
162: 보드 164: 프로브 유닛
170: 기준위치 인식 카메라 유닛 172: 컬럼
174: 기준위치 인식 카메라
10: glass 12: cell
14: Connection circuit pattern 16: Glass alignment mark
18: cell alignment mark
100: display panel inspection device for alignment of the test object and the test substrate
110: main frame 120: glass stage module
122: 1-axis feed section 124: 2-axis feed section
126: lifting unit 128: rotating unit
129: probe pin camera 130: stage base
135: glass aligner 140: test module
142: sub-frame 144: fixed plate
146: substrate mounting stage 148: groove
149: cell alignment camera 150: substrate mounting stage aligner
152: Y-axis rail 154: X-axis rail
156: hinge portion 160: test substrate
162: board 164: probe unit
170: reference position recognition camera unit 172: column
174: reference position recognition camera

Claims (15)

메인프레임;
상기 메인프레임상에 구비되고, 하나 이상의 셀이 형성된 글래스가 안착되며, 상기 글래스를 상기 메인프레임에 대하여 이동시키는 글래스 스테이지 모듈;
상기 글래스 스테이지 모듈의 이동경로 상측에 구비되며, 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 컨택되는 프로브 유닛이 구비되어 상기 셀의 검사를 수행하는 테스트 기판이 탑재되고, 상기 프로브 유닛이 상기 글래스의 셀과 정렬되도록 상기 테스트 기판의 위치를 정렬하는 테스트 모듈;
을 포함하여 이루어지며,
상기 테스트 모듈은,
상기 메인프레임의 일측에 구비되는 서브 프레임;
하측에 상기 글래스 스테이지 모듈이 이동되는 공간을 형성하도록 상기 서브 프레임의 상측에 구비되는 고정 플레이트;
상기 고정 플레이트의 하측에 구비되며, 상기 테스트 기판이 고정되는 기판장착 스테이지; 및
상기 기판장착 스테이지를 상기 고정 플레이트에 대하여 이동시켜 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 상기 테스트 기판의 프로브 유닛을 정렬시키는 테스트 기판 얼라인부;
를 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
Mainframe;
A glass stage module provided on the main frame and having a glass on which at least one cell is formed, and moving the glass with respect to the main frame;
A probe unit is provided above the movement path of the glass stage module, and is provided with a probe unit that contacts a cell of a glass seated on the glass stage module. A test module for aligning a position of the test substrate to align with a cell;
, ≪ / RTI >
The test module,
A sub frame provided at one side of the main frame;
A fixing plate provided on an upper side of the subframe to form a space in which the glass stage module is moved;
A substrate mounting stage provided below the fixing plate and to which the test substrate is fixed; And
A test substrate aligning unit which moves the substrate mounting stage with respect to the fixing plate to align the cells of the glass seated on the glass stage module with the probe units of the test substrate;
Display panel inspection apparatus for alignment of the test object and the test substrate comprising a.
제1항에 있어서,
상기 글래스 스테이지 모듈은,
상기 글래스가 안착되는 스테이지 베이스;
상기 스테이지 베이스를 상기 메인프레임에 대하여 어느 일측방향으로 이동시키는 1축 구동부;
상기 스테이지 베이스를 상기 메인프레임에 대하여, 상기 일측방향과 직교하는 타측방향으로 이동시키는 2축 구동부;
상기 스테이지 베이스를 수직방향으로 승강시키는 승강부;
상기 스테이지 베이스를 지면에 수직한 축을 중심으로 회전시키는 회전부;
를 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 1,
The glass stage module,
A stage base on which the glass is mounted;
A one-axis drive unit which moves the stage base in one direction with respect to the main frame;
A two-axis drive unit which moves the stage base in the other direction perpendicular to the one direction with respect to the main frame;
An elevating unit for elevating the stage base in a vertical direction;
A rotating part rotating the stage base about an axis perpendicular to the ground;
Display panel inspection apparatus for alignment of the test object and the test substrate comprising a.
제2항에 있어서,
상기 글래스 스테이지 모듈은,
상기 스테이지 베이스의 테두리부에 복수개 구비되어 상기 스테이지 베이스에 놓여진 글래스를 정렬하는 글래스 얼라이너를 더 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 2,
The glass stage module,
And a plurality of glass aligners which are provided in a plurality of edge portions of the stage base to align the glass placed on the stage base.
제2항에 있어서,
상기 글레스 스테이지 모듈은,
상기 글래스 스테이지 모듈의 상기 테스트 모듈을 향하는 측면에 구비되며, 상기 테스트 기판의 지정된 적어도 2지점을 센싱하여, 상기 스테이지 베이스와 상기 테스트 기판과의 평행을 측정하는 프로브 핀 카메라를 더 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 2,
The glass stage module,
A test pin provided on a side of the glass stage module facing the test module, the probe pin camera configured to sense at least two designated points of the test substrate and measure parallelism between the stage base and the test substrate Display panel inspection device for alignment with the test substrate.
제2항에 있어서,
상기 글레스 스테이지 모듈은,
상기 글래스 스테이지 모듈의 상기 테스트 모듈을 향하는 측에 서로 이격된 위치에 적어도 2개 구비되며, 각각 상기 테스트 기판의 지정된 지점을 센싱하여, 상기 스테이지 베이스와 상기 테스트 기판과의 평행을 측정하는 프로브 핀 카메라를 더 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 2,
The glass stage module,
Probe pin camera which is provided with at least two at a position spaced apart from each other on the side facing the test module of the glass stage module, each sensing a specified point of the test substrate, to measure the parallel between the stage base and the test substrate Display panel inspection apparatus for alignment of the test object and the test substrate made further comprising.
제1항에 있어서,
상기 글래스 스테이지 모듈과 상기 테스트 모듈 사이에 구비되어, 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 얼라인 마크를 센싱하는 기준위치 인식 카메라 유닛이 더 구비되는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 1,
The panel inspection for the display, which is provided between the glass stage module and the test module, and further includes a reference position recognition camera unit configured to sense an alignment mark of the glass seated on the glass stage module. Device.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 테스트 기판 얼라인부는,
상기 고정 플레이트에 구비되어 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스에 형성된 셀 얼라인 마크를 센싱하는 셀 얼라인 카메라;
상기 고정 플레이트와 상기 기판장착 스테이지 사이에 구비되어 상기 기판장착 스테이지를 상기 고정 플레이트에 대하여 일측과 타측방향으로 이동시키거나 회전시키는 기판장착 스테이지 얼라이너;
상기 셀 얼라인 카메라에서 측정한 셀 얼라인 마크와 정렬지점의 오차량에 따라 상기 기판장착 스테이지 얼라이너의 이송량을 조절하여 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 상기 테스트 기판의 프로브 유닛을 정렬시키는 제어부;
를 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 1,
The test substrate alignment unit,
A cell alignment camera provided on the fixing plate and configured to sense a cell alignment mark formed on the glass seated on the glass stage module;
A substrate mounting stage aligner provided between the fixing plate and the substrate mounting stage to move or rotate the substrate mounting stage in one side and the other direction with respect to the fixing plate;
By adjusting the transfer amount of the substrate mounting stage aligner according to the error amount of the cell alignment mark and the alignment point measured by the cell alignment camera to align the cells of the glass seated on the glass stage module with the probe unit of the test substrate. Control unit;
Display panel inspection apparatus for alignment of the test object and the test substrate comprising a.
제8항에 있어서,
상기 기판장착 스테이지 얼라이너는,
상기 기판장착 스테이지의 적어도 두 개소 이상의 복수지점에 각각 구비되며,
상측은 상기 고정 플레이트에 고정되고, 하측은 상기 기판장착 스테이지에 회전가능하게 결합되며 일측과 타측으로 슬라이딩 가능하게 구비되어,
상기 복수개의 기판장착 스테이지 얼라이너가 일측과 타측으로 슬라이딩하는 양에 따라 상기 기판장착 스테이지를 일측과 타측으로 이동시키거나 회전시키도록 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 8,
The substrate mounting stage aligner,
Are provided at at least two or more points of the substrate mounting stage, respectively,
The upper side is fixed to the fixing plate, the lower side is rotatably coupled to the substrate mounting stage and provided to be slidable to one side and the other side,
And an object to be tested and a test substrate arranged to move or rotate the substrate mounting stage to one side and the other side according to the amount of sliding of the plurality of substrate mounting stage aligners to one side and the other side.
제1항에 있어서,
상기 테스트 모듈은,
상기 글래스의 셀과 프로브 유닛의 컨택지점을 모니터링 하는 컨택 카메라를 더 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치.
The method of claim 1,
The test module,
And a contact camera for monitoring a contact point of the cell of the glass and the probe unit.
글래스를 글래스 스테이지 모듈에 반입하는 반입단계;
상기 글래스를 스테이지 베이스에 정렬하는 글래스 정렬단계;
상기 글래스 스테이지 모듈이 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판의 하측의 기준지점으로 이동되는 이동단계;
상기 스테이지 베이스와 테스트 기판의 평행을 정렬하는 스테이지정렬단계;
상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스에 형성된 셀 얼라인 마크를 센싱하여 상기 글라스의 셀과 테스트 기판간의 평행량 오차를 측정하고 상기 테스트 기판을 이동하여 글라스 셀과 테스트 기판간의 평행을 조절하는 테스트 기판 정렬단계;
상기 스테이지 베이스가 상승하여 상기 글라스의 셀과 테스트 기판이 컨텍하여 글라스의 셀과 테스트 기판이 전기적으로 연결되는 컨텍단계;
상기 셀의 검사가 수행되는 검사수행단계;
를 포함하여 이루어지며,
상기 테스트 기판 정렬단계는,
셀 얼라인 카메라가 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스에 형성된 셀 얼라인 마크를 센싱하여 상기 글라스의 셀과 테스트 기판간의 평행량 오차를 측정하는 제2평행 측정단계;
상기 제2평행 측정단계에서 측정된 오차량만큼 기판장착 스테이지 얼라이너의 이송량을 조절하여 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 셀과 상기 테스트 기판의 평행을 이루는 제2평행 정렬단계;
를 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법.
Importing the glass into the glass stage module;
A glass alignment step of aligning the glass to a stage base;
A movement step in which the glass stage module is moved to a reference point below the test substrate mounted on the test module;
A stage alignment step of aligning parallel of the stage base and a test substrate;
Test substrate alignment to sense the parallelism error between the cell of the glass and the test substrate by sensing the cell alignment mark formed on the glass seated on the glass stage module and to adjust the parallel between the glass cell and the test substrate by moving the test substrate step;
A contact step in which the stage base is raised to contact the cells of the glass and the test substrate to electrically connect the cells of the glass and the test substrate;
An inspection performing step of inspecting the cell;
And,
The test substrate alignment step,
A second parallel measuring step of measuring, by a cell alignment camera, a cell alignment mark formed on the glass seated on the glass stage module to measure a parallel amount error between the cell of the glass and the test substrate;
A second parallel alignment step of adjusting the transfer amount of the substrate mounting stage aligner by the error amount measured in the second parallel measurement step to parallel the cell of the glass seated on the glass stage module with the test substrate;
Control method of the panel inspection apparatus for a display is made, including the test object and the test substrate made of a.
제11항에 있어서,
상기 글래스 정렬단계는,
글래스 얼라이너가 작동하여 상기 글래스를 상기 스테이지 베이스에 정렬하는 단계인 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법.
The method of claim 11,
The glass alignment step,
And a glass aligner operating to align the glass to the stage base, wherein the test object and the test substrate are aligned.
제11항에 있어서,
상기 이동단계에서,
상기 기준지점은,
상기 글래스 스테이지 모듈과 테스트 모듈 사이에 구비된 기준위치 인식 카메라 유닛이 상기 글래스 스테이지 모듈에 안착된 글래스의 얼라인 마크를 센싱하는 위치인 것을 특징으로 하는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법.
The method of claim 11,
In the moving step,
The reference point is,
The reference panel for detecting the reference position camera unit provided between the glass stage module and the test module is a position for sensing the alignment mark of the glass seated on the glass stage module, the display panel is aligned with the test object Control method of inspection device.
제11항에 있어서,
상기 스테이지 정렬단계는,
글래스 스테이지 모듈의 상기 테스트 모듈을 향하는 측에 서로 이격된 위치에 적어도 2개 구비된 프로브 핀 카메라가 상기 테스트 기판의 각각 지정된 지점을 센싱하여 상기 스테이지 베이스와 테스트 기판과의 평행여부 및 오차를 측정하는 제1평행 측정단계;
상기 제1평행 측정단계에서 측정된 오차량만큼 스테이지 베이스의위치를 보정하여 스테이지 베이스와 테스트 기판과의 평행을 이루는 제1평행 정렬단계;
를 포함하여 이루어지는 피검사물과 테스트 기판의 정렬이 이루어지는 디스플레이용 패널 검사장치의 제어방법.
The method of claim 11,
The stage alignment step,
At least two probe pin cameras provided at positions spaced apart from each other on the side facing the test module of the glass stage module sense respective designated points of the test substrate to measure whether the stage base and the test substrate are parallel or error. A first parallel measurement step;
A first parallel alignment step of correcting the position of the stage base by the amount of error measured in the first parallel measurement step to make the stage base parallel to the test substrate;
Control method of the panel inspection apparatus for a display is made, including the test object and the test substrate made of a.
삭제delete
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