KR102236670B1 - Pcba inspection device - Google Patents

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윌리엄 이원준
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주식회사 에머릭스
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Abstract

The present invention relates to a PCBA inspection device for inspecting whether a PCBA is defective, which includes: a base frame; a stage provided on the upper side of the base frame and supporting the PCBA; a transport device provided on the upper part of the stage and transporting the probe to the upper part of the PCBA; and a probe device coupled to one side of the transport device to be transported by the transport device, and measuring an electrical signal in contact with an element of the PCBA.

Description

PCBA 검사 장치{PCBA INSPECTION DEVICE}PCBA inspection device {PCBA INSPECTION DEVICE}

본 발명은 검사 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 PCBA의 불량 여부를 검사하는 PCBA 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus, and more particularly, to a PCBA inspection apparatus for inspecting the defect of the PCBA.

전자 장치는 일반적으로 전자 소자를 탑재한 PCBA(Printed Circuit Board Assembly)에 전원을 공급하여 동작되는데, PCBA의 전기적 특성은 제조 프로세스가 완료된 이후에나 검사될 수 있다. PCBA에는 전자 소자가 안정적으로 부착되어야 하는데, 전자 소자는 납땜 공정 등에 의해 PCBA와 전기적으로 결합되므로 공정 과정에서 접촉 불량이 발생할 수 있다. 또한, 전자 소자가 불량이거나 적정 용량을 갖지 못하는 경우 PCBA는 정상적으로 동작될 수 없다.Electronic devices are generally operated by supplying power to a printed circuit board assembly (PCBA) on which an electronic device is mounted, and the electrical characteristics of the PCBA can be inspected only after the manufacturing process is completed. The electronic device must be stably attached to the PCBA, but since the electronic device is electrically coupled to the PCBA by a soldering process or the like, contact failure may occur during the process. In addition, if the electronic device is defective or does not have an appropriate capacity, the PCBA cannot operate normally.

PCBA의 불량 여부 판단에는 각 전자 소자의 전기신호를 측정하는 검사 장치가 이용되는데, 일반적으로 검사 장치는 PCBA를 지지하는 스테이지, PCBA를 고정하는 얼라이너, 및 프로브를 구비한다. 검사 장치는 프로브를 전자 소자의 전극에 접촉하여 전기신호를 측정함으로써 전자 소자의 불량 여부를 판단할 수 있다.In determining whether the PCBA is defective, an inspection apparatus for measuring an electrical signal of each electronic element is used. In general, the inspection apparatus includes a stage supporting the PCBA, an aligner fixing the PCBA, and a probe. The inspection apparatus may determine whether the electronic device is defective by contacting the probe with the electrode of the electronic device and measuring an electrical signal.

KRKR 10-205751710-2057517 B1B1 (2019.12.13(2019.12.13 등록)Enrollment) KRKR 10-2020-001414010-2020-0014140 AA (2020.02.10(2020.02.10 공개)open) JPJP 2010-0452822010-045282 AA (2010.02.25(2010.02.25 공개)open) JPJP 2016-1925492016-192549 AA (2016.11.10(2016.11.10 공개)open) JPJP 1994-0589781994-058978 AA (1994.03.04(1994.03.04 공개)open)

본 발명의 목적은 PCBA의 영상 이미지를 분석하고, 전자 소자에 흐르는 전기 신호를 측정하여 PCBA에 배치된 전자 소자의 불량 여부를 검사하는 PCBA 검사 장치를 제공함에 있다.It is an object of the present invention to provide a PCBA inspection apparatus that analyzes an image image of a PCBA and measures an electrical signal flowing through an electronic device to check whether an electronic device disposed in the PCBA is defective.

전술한 본 발명의 목적은, 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임의 상측에 마련되며 PCBA를 지지하는 스테이지; 상기 스테이지의 상부에 마련되며 상기 PCBA의 상부로 프로브를 이송하는 이송장치; 및 상기 이송장치의 일측에 결합되어 상기 이송장치에 의해 이송되며, 상기 PCBA의 소자에 접촉하여 전기 신호를 측정하는 프로브장치를 포함하는 기판 검사 장치를 제공함에 의해 달성될 수 있다.An object of the present invention described above, the base frame; A stage provided on the upper side of the base frame and supporting the PCBA; A transfer device provided on the top of the stage and transferring the probe to the top of the PCBA; And a probe device coupled to one side of the transfer device and transferred by the transfer device, and contacting an element of the PCBA to measure an electrical signal.

본 발명의 일 특징에 의하면, 상기 스테이지는, 복수 개의 지지기둥에 의해 상기 베이스 프레임의 상측에 좌우 방향으로 소정 간격 상호 이격하여 전후 방향으로 연장 설치되는 제1,제2 스테이지레일과, 상기 제1,제2 스테이지레일의 일단에 결합되는 고정프레임과, 상기 제1,제2 스테이지레일을 따라 양단이 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 이동프레임을 포함할 수 있다.According to a feature of the present invention, the stage includes first and second stage rails extending in the front and rear directions by spaced apart from each other at a predetermined interval in the left and right directions on the upper side of the base frame by a plurality of support columns, and the first , It may include a fixed frame coupled to one end of the second stage rail, and a movable frame coupled so that both ends slide along the first and second stage rails.

본 발명의 다른 특징에 의하면, 상기 스테이지는, 상기 고정프레임의 하부에 승강 가능하게 설치되는 제1 승강프레임과, 상기 제1 승강프레임의 하부에 설치되는 제1 스테핑모터와, 상기 이동프레임의 하부에 승강 가능하게 설치되는 제2 승강프레임과, 상기 제2 승강프레임의 하부에 설치되는 제2 스테핑모터를 더 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the stage includes a first lifting frame installed to be elevating below the fixed frame, a first stepping motor installed below the first lifting frame, and a lower portion of the moving frame. It may further include a second elevating frame installed to be elevating to and a second stepping motor installed below the second elevating frame.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 스테이지는, 상기 제1 승강프레임과 상기 제2 승강프레임의 상측에 각각 마련되는 복수 개의 탄성블록을 더 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the stage may further include a plurality of elastic blocks each provided on the upper side of the first lifting frame and the second lifting frame.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 이송장치는, 상기 스테이지의 상부에 좌우 방향으로 연장 형성되는 베이스레일과, 상기 베이스레일을 따라 슬라이드 이동 가능하게 결합되며 전후 방향으로 연장 형성되는 한 쌍의 이동레일과, 상기 한 쌍의 이동레일을 따라 슬라이드 이동 가능하게 각각 결합되는 이동블록을 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the transfer device includes a base rail extending in a left and right direction on an upper portion of the stage, and a pair of movements that are coupled to be slidably moved along the base rail and extend in the front and rear direction. It may include a rail and a moving block that is respectively coupled to slide along the pair of moving rails.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 프로브장치는, 상기 이송장치의 일측에 설치되는 회전모터와, 상기 회전모터에 의해 회전 가능하게 결합되는 가이드블록과, 상기 가이드블록의 일측에 설치되는 서보모터와, 상기 서보모터에 의해 상기 가이드블록을 따라 승강 가능하게 결합되며 일측에 프로브가 구비되는 프로브블록을 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the probe device includes a rotation motor installed on one side of the transfer device, a guide block rotatably coupled by the rotation motor, and a servo motor installed on one side of the guide block. And, it may include a probe block that is coupled to be elevating along the guide block by the servo motor and provided with a probe on one side.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 하단에 구비되는 종동풀리와, 상기 종동풀리와 상기 서보모터 사이에 연결되며 상기 서보모터의 작동에 따라 상기 프로브블록을 승강시키는 타이밍벨트를 더 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the probe device includes a driven pulley provided at a lower end of the guide block, and is connected between the driven pulley and the servo motor, and lifts and lowers the probe block according to the operation of the servo motor. It may further include a timing belt.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 일측에 결합되어 상기 PCBA를 촬영하는 카메라 모듈을 더 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the probe device may further include a camera module coupled to one side of the guide block to photograph the PCBA.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 일측에 결합되어 상기 PCBA를 비추는 조명 모듈을 더 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the probe device may further include a lighting module coupled to one side of the guide block to illuminate the PCBA.

본 발명의 또 다른 특징에 의하면, 상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 일측에 결합되며 상기 PCBA 방향으로 레이저 빔을 조사하는 레이저 모듈을 더 포함할 수 있다.According to another feature of the present invention, the probe device may further include a laser module coupled to one side of the guide block and irradiating a laser beam in the PCBA direction.

본 발명에 따른 PCBA 검사 장치에 의하면, PCBA에 실장된 전자 소자의 불량 여부를 검사함으로써, PCBA의 불량, 파손 등에 의한 오류를 정확하게 선별할 수 있다.According to the PCBA inspection apparatus according to the present invention, errors due to defects or breakages of the PCBA can be accurately selected by inspecting whether or not an electronic device mounted on the PCBA is defective.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치의 사진.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치의 베이스 프레임 상부 사진.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치의 스테이지 사진.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 스테이지의 하부 모습을 나타낸 사진.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 고정프레임과 제1 승강프레임의 사진.
도 6a와 도 6b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 승강프레임의 승강 모습을 나타낸 사진.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 이동레일과 제1 프로브장치를 나타낸 사진.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 이동레일과 제2 프로브장치를 나타낸 사진.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 프로브장치의 작동 모습을 나타낸 사진.
1 is a photograph of a PCBA testing apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 2 is a photograph of the upper base frame of the PCBA inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a photograph of the stage of the PCBA inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a photograph showing the bottom view of the stage according to an embodiment of the present invention.
5 is a photograph of a fixed frame and a first lifting frame according to an embodiment of the present invention.
6A and 6B are photographs showing the lifting state of the first lifting frame according to an embodiment of the present invention.
7 is a photograph showing a first moving rail and a first probe device according to an embodiment of the present invention.
8 is a photograph showing a second moving rail and a second probe device according to an embodiment of the present invention.
9 is a photograph showing the operation of the first probe device according to an embodiment of the present invention.

이하에서는 본 발명의 실시예에 관하여 첨부도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 이하에서 설명되는 실시예는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 발명을 쉽게 실시할 수 있을 정도로 상세하게 설명하기 위한 것에 불과하며, 이로 인해 본 발명의 보호범위가 한정되는 것을 의미하지는 않는다. 그리고 본 발명의 여러 실시예를 설명함에 있어서, 동일한 기술적 특징을 갖는 구성요소에 대하여는 동일한 도면부호를 사용하기로 한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments described below are only for explaining in detail enough that a person of ordinary skill in the art can easily carry out the invention, and thus, the protection scope of the present invention is limited. I don't mean it. In addition, in describing various embodiments of the present invention, the same reference numerals will be used for components having the same technical characteristics.

실시예Example

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치의 사진이며, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치의 베이스 프레임 상부 사진이다.1 is a photograph of a PCBA testing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a photograph of an upper portion of a base frame of a PCBA testing apparatus according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치(100)는, 도 1과 도 2에 도시된 바와 같이 베이스 프레임(200)과, 베이스 프레임(200)의 상측에 설치되는 스테이지(300)와, 스테이지(300)의 상부에 마련되는 이송장치(400)와, 이송장치(400)에 의해 이송되는 프로브장치(500,600)를 포함한다.PCBA inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, as shown in Figs. 1 and 2, the base frame 200, the stage 300 installed on the upper side of the base frame 200, and the stage It includes a transfer device 400 provided on the upper portion of the 300, and probe devices 500 and 600 transferred by the transfer device 400.

한편, 베이스 프레임(200)의 상측에는 둘레를 따라 좌우 측면과 후면 및 상면에 상부 프레임(210)이 형성되며, 상부 프레임(210)의 전면에는 상면의 일부까지 연장되어 내부를 개폐할 수 있는 도어(220)가 상하 방향 회동 가능하게 설치된다.On the other hand, the upper frame 210 is formed on the left and right sides, rear and upper surfaces along the circumference on the upper side of the base frame 200, and a door extending to a part of the upper surface on the front of the upper frame 210 to open and close the interior. 220 is installed so as to be able to rotate in the vertical direction.

상부 프레임(210)의 전방 일측에는 검사결과를 확인할 수 있도록 모니터(230)가 마련되며, 모니터(230)의 하부에는 키보드 등의 입력장치(240)가 구비된다. 또한, 상부 프레임(210)의 전면 일측에 비상버튼(250)이 구비될 수 있다.A monitor 230 is provided on one front side of the upper frame 210 to check the test result, and an input device 240 such as a keyboard is provided under the monitor 230. In addition, an emergency button 250 may be provided on one side of the front side of the upper frame 210.

스테이지(300) 위에 오류 검사를 위한 PCBA(10, 도 3 참조)가 안착되며, 스테이지(300)는 검사 과정 동안 PCBA(10)를 지지하여 유동을 방지하는 역할을 한다.A PCBA 10 (refer to FIG. 3) for error inspection is mounted on the stage 300, and the stage 300 serves to prevent flow by supporting the PCBA 10 during the inspection process.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치의 스테이지 사진이며, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 스테이지의 하부 모습을 나타낸 사진이다.3 is a photograph of a stage of a PCBA inspection apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a photograph showing a lower view of the stage according to an exemplary embodiment of the present invention.

일 예로서, 스테이지(300)는 도 3과 도 4에 도시된 바와 같이, 베이스 프레임(200)의 상측에 수직하게 설치되는 복수 개의 지지기둥(301)과, 지지기둥(301)에 의해 베이스 프레임(200)의 상측에 좌우 방향으로 소정 간격 상호 이격하여 나란히 설치되는 제1,제2 스테이지레일(310,320)을 포함할 수 있다.As an example, the stage 300 is a base frame by a plurality of support pillars 301 installed perpendicular to the upper side of the base frame 200 and the support pillars 301 as shown in FIGS. 3 and 4. It may include first and second stage rails 310 and 320 installed side by side at a predetermined interval spaced apart from each other in the left and right direction on the upper side of the 200.

이때, 제1,제2 스테이지레일(310,320)은 전후 방향으로 길게 연장 형성되며, 각각 전후 방향으로 소정 간격 이격하는 한 쌍의 지지기둥(301)에 의해 베이스 프레임(200)의 상부로 소정 간격 이격하여 지지된다.At this time, the first and second stage rails 310 and 320 are formed to extend long in the front-rear direction, and are spaced apart by a predetermined distance from the top of the base frame 200 by a pair of support columns 301 spaced at a predetermined distance in the front-rear direction. Is supported.

또한, 제1,제2 스테이지레일(310,320)의 후단에 고정프레임(330)이 결합되며, 제1,제2 스테이지레일(310,320)을 따라 이동프레임(340)의 양단이 슬라이드 이동 가능하게 결합된다. 이동프레임(340)은 제1,제2 스테이지레일(310,320)을 따라 고정프레임(330)에 대하여 전후 방향으로 슬라이드 이동할 수 있다.In addition, the fixing frame 330 is coupled to the rear ends of the first and second stage rails 310 and 320, and both ends of the moving frame 340 are slidably coupled along the first and second stage rails 310 and 320. . The moving frame 340 may slide along the first and second stage rails 310 and 320 with respect to the fixed frame 330 in the front-rear direction.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 고정프레임과 제1 승강프레임의 사진이며, 도 6a와 도 6b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 승강프레임의 승강 모습을 나타낸 사진이다.5 is a photograph of a fixed frame and a first elevating frame according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 6A and 6B are photographs showing an elevating state of a first elevating frame according to an embodiment of the present invention.

도 5와 도 6을 참조하면, 고정프레임(330)의 하부에는 소정 간격 상호 이격하여 복수 개의 제1 지지블록(331)이 하향 돌출 형성되며, 각각의 제1 지지블록(331)에는 PCBA(10)의 지지를 위한 단턱(332)이 단차 형성된다. 또한, 이동프레임(340)의 하부에도 소정 간격 상호 이격하여 단턱(미도시)을 갖는 복수 개의 제2 지지블록(341, 도 4 참조)이 하향 돌출 형성되어 고정프레임(330)의 제1 지지블록(331)과 전후 방향으로 대향하게 된다.5 and 6, a plurality of first support blocks 331 are formed to protrude downward at a predetermined distance apart from each other at a lower portion of the fixing frame 330, and each of the first support blocks 331 has a PCBA (10). ) Stepped step 332 for support is formed. In addition, a plurality of second support blocks 341 (refer to FIG. 4) having stepped jaws (not shown) are formed to protrude downwardly at a predetermined distance from each other at a lower portion of the movable frame 340 so that the first support block of the fixed frame 330 It is opposed to (331) in the anteroposterior direction.

고정프레임(330)의 하부에는 고정프레임(330)의 제1 지지블록(331)과 상하 방향으로 대향하여 제1 승강프레임(350)이 상하 방향으로 승강 가능하게 설치된다. 구체적으로는, 제1 승강프레임(350)의 하단에 제1 스태핑모터(360)가 수직하게 설치되며, 제1 스태핑모터(360)의 작동에 따라 제1 승강프레임(350)이 고정프레임(330)에 대하여 승강하게 된다. A first lifting frame 350 is installed at a lower portion of the fixed frame 330 so as to face the first support block 331 of the fixed frame 330 in the vertical direction so as to be able to move up and down in the vertical direction. Specifically, the first stepping motor 360 is vertically installed at the lower end of the first lifting frame 350, and according to the operation of the first stepping motor 360, the first lifting frame 350 is fixed to the frame 330 ) Will rise and fall.

이때, 제1 승강프레임(350)의 상측에는 복수 개의 제1 탄성블록(351)이 결합되며, 제1 승강프레임(350)의 상승시 각각의 제1 탄성블록(351)은 고정프레임(330) 하부의 제1 지지블록(331) 사이 공간으로 삽입되어 PCBA(10)를 지지하게 된다. 이때, 고정프레임(330)의 제1 지지블록(331) 사이 공간에는 제1 승강프레임(350)의 승강 방향을 안내하기 위한 제1 가이드바(333)가 설치될 수 있다.At this time, a plurality of first elastic blocks 351 are coupled to the upper side of the first lifting frame 350, and when the first lifting frame 350 is raised, each of the first elastic blocks 351 is a fixed frame 330 It is inserted into the space between the lower first support blocks 331 to support the PCBA (10). In this case, a first guide bar 333 for guiding the elevating direction of the first elevating frame 350 may be installed in the space between the first support blocks 331 of the fixed frame 330.

마찬가지로, 이동프레임(340)의 하부에는 이동프레임(340)의 제2 지지블록(341)과 대향하여 제2 승강프레임(370, 도 4 참조)이 상하 방향으로 승강 가능하게 설치된다. 구체적으로는, 제2 승강프레임(370)의 하단에 제2 스태핑모터(380, 도 4 참조)가 수직하게 설치되며, 제2 스태핑모터(380)의 작동에 따라 제2 승강프레임(370)이 이동프레임(340)에 대하여 승강하게 된다. 이때, 이동프레임(340)의 제2 지지블록(341) 사이 공간에는 제1 승강프레임(350)의 승강 방향을 안내하기 위한 제2 가이드바(342, 도 4 참조)가 설치될 수 있다.Likewise, a second lifting frame 370 (refer to FIG. 4) is installed to be able to move up and down in a lower portion of the moving frame 340 to face the second support block 341 of the moving frame 340. Specifically, a second stepping motor 380 (see FIG. 4) is vertically installed at the lower end of the second lifting frame 370, and the second lifting frame 370 is formed according to the operation of the second stepping motor 380. It is lifted with respect to the moving frame 340. In this case, in the space between the second support blocks 341 of the moving frame 340, a second guide bar 342 (see FIG. 4) for guiding the lifting direction of the first lifting frame 350 may be installed.

또한, 제2 승강프레임(370)의 상측에 복수 개의 제2 탄성블록(371, 도 4 참조)이 결합되며, 제2 승강프레임(370)의 상승시 각각의 제2 탄성블록(371)은 이동프레임(340) 하부의 제2 지지블록(341) 사이 공간으로 삽입되어 PCBA(10)를 지지하게 된다. In addition, a plurality of second elastic blocks 371 (see FIG. 4) are coupled to the upper side of the second lifting frame 370, and each second elastic block 371 moves when the second lifting frame 370 is raised. It is inserted into the space between the second support blocks 341 under the frame 340 to support the PCBA 10.

즉, 본 발명에 따르면, 검사하고자 하는 PCBA(10)의 규격에 따라, 고정프레임(330)에 대하여 이동프레임(340)을 전후 방향으로 이동시켜 고정프레임(330)과 이동프레임(340) 사이에 PCBA(10)를 안착시킬 수 있다. 이때, PCBA(10)는 고정프레임(330)과 이동프레임(340)의 대향면에 각각 형성된 단턱(332)에 안착된다. 이후, 제1,제2 스태핑모터(360,380)에 의해 제1,제2 승강프레임(350,370)이 상승하면, 고정프레임(330)과 제1 탄성블록(351) 사이에 PCBA(10)의 일측 테두리가 가압 지지되며, 이동프레임(340)과 제2 탄성블록(371) 사이에는 PCBA(10)의 타측 테두리가 가압 지지되는 것이다.That is, according to the present invention, according to the standard of the PCBA 10 to be inspected, the moving frame 340 is moved forward and backward with respect to the fixed frame 330 so that between the fixed frame 330 and the moving frame 340 PCBA (10) can be seated. At this time, the PCBA 10 is seated on the stepped jaws 332 formed on opposite surfaces of the fixed frame 330 and the moving frame 340, respectively. Thereafter, when the first and second lifting frames 350 and 370 are raised by the first and second stepping motors 360 and 380, one edge of the PCBA 10 between the fixing frame 330 and the first elastic block 351 Is supported by pressure, and the other edge of the PCBA 10 is supported by pressure between the moving frame 340 and the second elastic block 371.

다시 도 1과 도 2를 참조하면, 이송장치(400)는 스테이지(300)의 상부에 마련되며, 스테이지(300)에 지지된 PCBA(10)의 상부로 프로브(580,680)를 이송한다.Referring back to FIGS. 1 and 2, the transfer device 400 is provided above the stage 300 and transfers the probes 580 and 680 to the top of the PCBA 10 supported by the stage 300.

여기서 이송장치(400)는, 스테이지(300)의 상부에 좌우 방향으로 길게 연장 형성되는 베이스레일(410)과, 전후 방향으로 길게 연장 형성되며 베이스레일(410)을 따라 좌우 방향으로 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 한 쌍의 이동레일(420,430)과, 각각의 이동레일(420,430)을 따라 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 이동블록(421,431)을 포함할 수 있다.Here, the transfer device 400 includes a base rail 410 extending long in the left and right direction on the top of the stage 300, and extending long in the front and rear direction, and slides in the left and right directions along the base rail 410. It may include a pair of coupled moving rails 420 and 430 and moving blocks 421 and 431 that are coupled to slide along each of the moving rails 420 and 430.

예컨대, 스테이지(300)의 후방에 소정 간격 이격하여, 한 쌍의 지지대(260)가 베이스 프레임(200)의 상측에 좌우 방향으로 소정 간격 이격하여 돌출 형성될 수 있으며, 지지대(260)의 상측에 베이스레일(410)이 좌우 방향으로 길게 연장 형성될 수 있다.For example, by being spaced apart from the rear of the stage 300 by a predetermined distance, a pair of supports 260 may be formed to protrude from the upper side of the base frame 200 at a predetermined distance in the left and right direction, and the upper side of the support base 260 The base rail 410 may be formed to extend long in the left and right direction.

이때, 후술하는 이동레일(420,430)을 견고히 지지할 수 있도록, 도면에 도시된 바와 같이 한 쌍의 지지대(260) 위에 한 쌍의 베이스레일(410)이 전후 방향으로 소정 간격 이격하여 나란히 설치될 수 있다.At this time, in order to firmly support the moving rails 420 and 430 to be described later, as shown in the drawing, a pair of base rails 410 on a pair of supports 260 may be installed side by side at a predetermined distance apart in the front and rear direction. have.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 이동레일과 제1 프로브장치를 나타낸 사진이며, 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 이동레일과 제2 프로브장치를 나타낸 사진이다.7 is a photograph showing a first moving rail and a first probe device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a photograph showing a second moving rail and a second probe device according to an embodiment of the present invention.

베이스레일(410)의 상단 양측에 제1 이동블록(411)과 제2 이동블록(412)이 슬라이드 이동 가능하게 각각 결합되며, 베이스레일(410)의 양측 하부에 제1,제2 구동모터(413,414, 도 4 참조)가 각각 설치된다. 제1,제2 구동모터(413,414)는 스크류축에 의해 제1,제2 이동블록(411,412)과 각각 결합되며, 제1,제2 구동모터(413,414)의 작동에 따라 제1,제2 이동블록(411,412)이 베이스레일(410)을 따라 좌우 방향으로 슬라이드 이동하게 된다.A first moving block 411 and a second moving block 412 are coupled to each of the upper sides of the base rail 410 so as to be slidably moved, and the first and second driving motors ( 413,414, see Fig. 4) are installed respectively. The first and second driving motors 413 and 414 are respectively coupled to the first and second moving blocks 411 and 412 by a screw shaft, and the first and second movements according to the operation of the first and second driving motors 413 and 414 The blocks 411 and 412 slide along the base rail 410 in the left and right directions.

또한, 제1 이동블록(411)의 상측에 제1 이동레일(420)이 결합되며, 제2 이동블록(412)의 상측에는 제2 이동레일(430)이 제1 이동레일(420)과 나란히 결합된다. 제1 이동레일(420)의 내측에 제3 이동블록(421)이 슬라이드 이동 가능하게 결합되며, 제2 이동레일(430)의 내측에는 제4 이동블록(431)이 슬라이드 이동 가능하게 결합된다. 제1,제2 이동레일(420,430)의 후단에 제1,제2 이동모터(422,432)가 각각 설치되며, 제1,제2 이동모터(422,432)는 스크류축에 의해 제3,제4 이동블록(421,431)과 각각 결합된다. 이에 따라, 제1,제2 이동모터(422,432)의 작동에 따라 제3,제4 이동블록(421,431)이 제1,제2 이동레일(420,430)을 따라 전후 방향으로 슬라이드 이동하게 된다.In addition, the first moving rail 420 is coupled to the upper side of the first moving block 411, and the second moving rail 430 is parallel to the first moving rail 420 on the upper side of the second moving block 412. Are combined. The third moving block 421 is slidably coupled to the inner side of the first moving rail 420, and the fourth moving block 431 is slidably coupled to the inner side of the second moving rail 430. First and second moving motors 422 and 432 are installed at the rear ends of the first and second moving rails 420 and 430, respectively, and the first and second moving motors 422 and 432 are the third and fourth moving blocks by the screw shaft. Combined with (421,431) respectively. Accordingly, according to the operation of the first and second moving motors 422 and 432, the third and fourth moving blocks 421 and 431 slide along the first and second moving rails 420 and 430 in the front and rear directions.

한편, 제3,제4 이동블록(421,431)의 상단에는 리미트부재(440, 도 2 참조)가 외측으로 각각 절곡 형성되며, 제1,제2 이동레일(420,430)의 상측에는 리미트부재(440)를 감지하기 위한 리미트센서(441, 도 2 참조)가 전후 방향으로 소정 간격 이격하여 각각 구비된다. 이에 따라, 제3,제4 이동블록(421,431)의 전후 방향 이동거리는 리미트센서(441)에 의해 제한될 수 있다.On the other hand, a limit member 440 (refer to FIG. 2) is formed to be bent outward at the upper ends of the third and fourth moving blocks 421 and 431, respectively, and a limit member 440 is provided above the first and second moving rails 420 and 430. Limit sensors 441 (refer to FIG. 2) for detecting the are provided at predetermined intervals in the front-rear direction. Accordingly, the moving distance in the front and rear directions of the third and fourth moving blocks 421 and 431 may be limited by the limit sensor 441.

프로브장치(500,600)는 이송장치(400)의 일측에 결합되어 이송장치(400)에 의해 이송되며, PCBA(10)의 소자에 접촉하여 전기 신호를 측정하는 프로브(580,680)를 포함한다.The probe devices 500 and 600 are coupled to one side of the transfer device 400 and transferred by the transfer device 400, and include probes 580 and 680 that contact elements of the PCBA 10 to measure electrical signals.

예컨대, 프로브장치(500,600)는, 이송장치(400)의 일측에 설치되는 회전모터(510,610)와, 회전모터(510,610)에 의해 회전 가능하게 결합되는 가이드블록(520,620)과, 가이드블록(520,620)의 일측에 설치되는 서보모터(540,640)와, 서보모터(540,640)에 의해 승강하는 프로브블록(550,650)과, 프로브블록(550,650)에 구비되는 프로브(580,680)를 포함하여 이루어질 수 있다.For example, the probe devices 500 and 600 include rotation motors 510 and 610 installed on one side of the transfer device 400, guide blocks 520 and 620 rotatably coupled by the rotation motors 510 and 610, and guide blocks 520 and 620. Servo motors 540 and 640 installed on one side of the, probe blocks 550 and 650 that are raised and lowered by the servo motors 540 and 640, and probes 580 and 680 provided in the probe blocks 550 and 650 may be included.

구체적으로, 본 발명에 따른 프로브장치는, 제1 이동레일(420)의 일측에 결합되는 제1 프로브장치(500)와, 제2 이동레일(430)의 일측에 결합되는 제2 프로브장치(600)를 포함할 수 있다.Specifically, the probe device according to the present invention includes a first probe device 500 coupled to one side of the first moving rail 420 and a second probe device 600 coupled to one side of the second moving rail 430. ) Can be included.

본 발명의 일 실시예에 따른 제1 프로브장치(500)에 의하면, 브라켓에 의해 제3 이동블록(421)의 내측에 제1 회전모터(510)가 설치될 수 있으며, 제1 회전모터(510)의 하단에는 제1 회전모터(510)의 작동에 따라 회전 가능하게 제1 가이드블록(520)이 결합될 수 있다. 이때, 제1 회전모터(510)와 제1 가이드블록(520) 사이에는 제1 감속기(530)가 설치될 수 있다.According to the first probe device 500 according to an embodiment of the present invention, a first rotation motor 510 may be installed inside the third moving block 421 by a bracket, and the first rotation motor 510 A first guide block 520 may be coupled to the lower end of) so as to be rotatable according to the operation of the first rotary motor 510. In this case, a first reducer 530 may be installed between the first rotation motor 510 and the first guide block 520.

또한, 제1 가이드블록(520)은 하나의 블록으로 형성될 수도 있고, 복수 개의 블록이 상호 결합되어 이루어질 수도 있으며, 후술하는 제1 프로브블록(550)의 승강 방향을 안내하기 위한 제1 가이드레일(521)을 포함한다.In addition, the first guide block 520 may be formed as a single block, or may be formed by combining a plurality of blocks, and a first guide rail for guiding an elevation direction of the first probe block 550 to be described later. Including 521.

제1 가이드블록(520)의 외측에 제1 서보모터(540)가 설치되며, 제1 가이드블록(520)의 제1 가이드레일(521)을 따라 승강 가능하게 제1 프로브블록(550)이 결합된다. 이때, 제1 가이드블록(520)의 하단에는 제1 종동풀리(560)가 구비되며, 제1 서보모터(540)의 구동축에 결합된 구동풀리(미도시)와 제1 종동풀리(560) 사이에 제1 타이밍벨트(570)가 연결된다. 제1 타이밍벨트(570)의 양단이 제1 프로브블록(550)에 결합되며, 이에 따라 제1 서보모터(540)의 작동에 의해 제1 프로브블록(550)이 제1 가이드블록(520)의 제1 가이드레일(521)을 따라 승강하게 된다.A first servo motor 540 is installed outside the first guide block 520, and the first probe block 550 is coupled to be elevating along the first guide rail 521 of the first guide block 520 do. At this time, a first driven pulley 560 is provided at the lower end of the first guide block 520, and between the driving pulley (not shown) and the first driven pulley 560 coupled to the drive shaft of the first servo motor 540 The first timing belt 570 is connected to. Both ends of the first timing belt 570 are coupled to the first probe block 550, and accordingly, the first probe block 550 of the first guide block 520 by the operation of the first servomotor 540 It goes up and down along the first guide rail 521.

제1 프로브블록(550)의 일측에는 제1 프로브블록(550)의 하강시 PCBA(10)에 실장된 전자 소자와 전기적으로 접촉하도록 제1 프로브(580)가 구비된다.At one side of the first probe block 550, a first probe 580 is provided to electrically contact an electronic device mounted on the PCBA 10 when the first probe block 550 is lowered.

한편, 제1 가이드블록(520)의 일측에는 PCBA(10)를 촬영하기 위한 제1 카메라 모듈(591)이 설치될 수 있다. 제1 카메라 모듈(591)은 제1 프로브(580)의 단부가 향하는 방향을 촬영한다. 또한, 제1 카메라 모듈(591)의 일측에는 PCBA(10)를 비추도록 LED 등 제1 조명 모듈(592)이 설치될 수 있으며, 제1 조명 모듈(592)의 일측에는 PCBA(10) 방향으로 레이저 빔을 조사하는 제1 레이저 모듈(593)이 설치될 수 있다.Meanwhile, a first camera module 591 for photographing the PCBA 10 may be installed at one side of the first guide block 520. The first camera module 591 photographs a direction in which the end of the first probe 580 faces. In addition, a first lighting module 592, such as an LED, may be installed at one side of the first camera module 591 to illuminate the PCBA 10, and at one side of the first lighting module 592, in the direction of the PCBA 10 A first laser module 593 for irradiating a laser beam may be installed.

아울러, 제4 이동블록(431)의 내측에도 전술한 바와 같이 구성된 제2 프로브장치(600)가 설치될 수 있다.In addition, the second probe device 600 configured as described above may be installed inside the fourth moving block 431.

예컨대, 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 프로브장치(600)에 의하면, 브라켓에 의해 제4 이동블록(431)의 내측에 제2 회전모터(610)가 설치될 수 있으며, 제2 회전모터(610)의 하단에는 제2 회전모터(610)의 작동에 따라 회전 가능하게 제2 가이드블록(620)이 결합될 수 있다. 이때, 제2 회전모터(610)와 제2 가이드블록(620) 사이에는 제2 감속기(630)가 설치될 수 있다.For example, according to the second probe device 600 according to an embodiment of the present invention, a second rotary motor 610 may be installed inside the fourth moving block 431 by a bracket, and a second rotary motor A second guide block 620 may be coupled to the lower end of the 610 so as to be rotatable according to the operation of the second rotary motor 610. In this case, a second reducer 630 may be installed between the second rotary motor 610 and the second guide block 620.

또한, 제2 가이드블록(620)은 하나의 블록으로 형성될 수도 있고, 복수 개의 블록이 상호 결합되어 이루어질 수도 있으며, 후술하는 제2 프로브블록(650)의 승강 방향을 안내하기 위한 제2 가이드레일(621)을 포함한다.In addition, the second guide block 620 may be formed as a single block, a plurality of blocks may be combined with each other, and a second guide rail for guiding the elevation direction of the second probe block 650 to be described later. Includes (621).

제2 가이드블록(620)의 외측에 제2 서보모터(640)가 설치되며, 제2 가이드블록(620)의 제2 가이드레일(621)을 따라 승강 가능하게 제2 프로브블록(650)이 결합된다. 이때, 제2 가이드블록(620)의 하단에는 제2 종동풀리(660)가 구비되며, 제2 서보모터(640)의 구동축에 결합된 구동풀리(미도시)와 제2 종동풀리(660) 사이에 제2 타이밍벨트(670)가 연결된다. 제2 타이밍벨트(670)의 양단이 제2 프로브블록(650)에 결합되며, 이에 따라 제2 서보모터(640)의 작동에 의해 제2 프로브블록(650)이 제2 가이드블록(620)의 제2 가이드레일(621)을 따라 승강하게 된다.A second servo motor 640 is installed outside the second guide block 620, and the second probe block 650 is coupled so as to be elevated along the second guide rail 621 of the second guide block 620 do. At this time, a second driven pulley 660 is provided at the lower end of the second guide block 620, and between the driving pulley (not shown) coupled to the drive shaft of the second servo motor 640 and the second driven pulley 660 The second timing belt 670 is connected to. Both ends of the second timing belt 670 are coupled to the second probe block 650, and accordingly, the second probe block 650 is moved to the second guide block 620 by the operation of the second servomotor 640. It goes up and down along the second guide rail 621.

제2 프로브블록(650)의 일측에는 제2 프로브블록(650)의 하강시 PCBA(10)에 실장된 전자 소자와 전기적으로 접촉하도록 제2 프로브(680)가 구비된다.A second probe 680 is provided at one side of the second probe block 650 to make electrical contact with an electronic device mounted on the PCBA 10 when the second probe block 650 is lowered.

한편, 제2 가이드블록(620)의 일측에는 PCBA(10)를 촬영하기 위한 제2 카메라 모듈(691)이 설치될 수 있다. 제2 카메라 모듈(691)은 제1 프로브(680)의 단부가 향하는 방향을 촬영한다. 또한, 제2 카메라 모듈(691)의 일측에는 PCBA(10)를 비추도록 LED 등 제2 조명 모듈(692)이 설치될 수 있으며, 제2 조명 모듈(692)의 일측에는 PCBA(10) 방향으로 레이저 빔을 조사하는 제2 레이저 모듈(미도시)이 설치될 수 있다.Meanwhile, a second camera module 691 for photographing the PCBA 10 may be installed at one side of the second guide block 620. The second camera module 691 photographs a direction in which the end of the first probe 680 is directed. In addition, a second lighting module 692 such as an LED may be installed at one side of the second camera module 691 to illuminate the PCBA 10, and at one side of the second lighting module 692, in the direction of the PCBA 10 A second laser module (not shown) that irradiates a laser beam may be installed.

도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 프로브장치의 작동 모습을 나타낸 사진이다.9 is a photograph showing the operation of the first probe device according to an embodiment of the present invention.

도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 프로브장치(500)는 이송장치(400)에 의해 PCBA(10)의 상부로 이송되며, 제1 프로브(580)가 PCBA(10)의 전자 소자에 검사신호를 인가하게 된다. 9, the first probe device 500 according to an embodiment of the present invention is transferred to the upper portion of the PCBA 10 by the transfer device 400, and the first probe 580 is transferred to the PCBA ( The test signal is applied to the electronic device of 10).

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCBA 검사 장치(100)는, PCBA(10)의 설계 데이터를 리드하여 배치된 전자 소자의 위치 정보를 판단하는 제어 모듈(미도시)을 포함한다. 다른 예로서, 제어 모듈에 기판 설계 데이터가 별도로 제공되지 않는 경우, 사용자는 입력장치(240)를 통해 모니터(230)에 표시된 PCBA(10) 영상에 직접 전자 소자가 배치된 영역을 설정할 수도 있다.Meanwhile, the PCBA inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes a control module (not shown) that reads design data of the PCBA 10 and determines position information of the electronic elements disposed thereon. As another example, when board design data is not separately provided to the control module, the user may directly set an area in which the electronic device is disposed on the image of the PCBA 10 displayed on the monitor 230 through the input device 240.

제어 모듈은 전자 소자의 검사 순서에 따라 이송장치(400)의 동작을 제어하여, 제1,제2 프로브(580,680)들을 스테이지(300)에 지지된 PCBA(10)에 접촉시킬 수 있고, 제1,제2 프로브(580,680)들을 통해 전자 소자에 검사신호를 인가할 수 있다. The control module controls the operation of the transfer device 400 according to the inspection order of the electronic device, so that the first and second probes 580 and 680 may contact the PCBA 10 supported on the stage 300, and the first , The inspection signal may be applied to the electronic device through the second probes 580 and 680.

또한, 제어 모듈은 검사 신호에 응답하여 전자 소자로부터 출력되는 전기 신호를 분석하고, 분석 결과를 기초로 전자 소자의 불량 여부를 판단할 수 있다. 예컨대, 제어 모듈은 제1,제2 프로브(580,680)에 의해 측정된 전기 신호를 이용하여 전자 소자의 임피던스, 인가 전압, 전류 변화량, 회로의 단락 여부 등을 판단할 수 있는데, 측정된 전기 신호가 기준 신호의 임계범위 내에 있는 경우에는 정상 소자로 판단하고, 임계범위를 벗어난 경우에는 불량 소자로 판단하게 되는 것이다.In addition, the control module may analyze an electrical signal output from the electronic device in response to the inspection signal, and determine whether the electronic device is defective based on the analysis result. For example, the control module can determine the impedance of the electronic element, the applied voltage, the amount of change in current, whether the circuit is shorted, etc., using the electric signals measured by the first and second probes 580 and 680. If it is within the threshold range of the reference signal, it is determined as a normal device, and if it is out of the threshold range, it is determined as a defective device.

이때, 모니터(230)에는 검사 대상인 PCBA(10)의 영상과 함께, 전자 소자의 단자 상태가 실시간으로 사용자에게 제공된다.At this time, the monitor 230 is provided with an image of the PCBA 10 as an inspection target and the terminal status of the electronic device to the user in real time.

이상에서 본 발명의 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 특허청구범위를 벗어남이 없이 다양하게 변형 실시할 수 있을 것으로 이해된다.Although the embodiments of the present invention have been described above, it is understood that those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can perform various modifications without departing from the scope of the claims of the present invention.

100 : PCBA 검사 장치 200 : 베이스 프레임
230 : 모니터 240 : 입력장치
300 : 스테이지 310 : 제1 스테이지레일
320 : 제2 스테이지레일 330 : 고정프레임
340 : 이동프레임 350 : 제1 승강프레임
360 : 제1 스태핑모터 370 : 제2 승강프레임
380 : 제2 스태핑모터 400 : 이송장치
410 : 베이스레일 420 : 제1 이동레일
430 : 제2 이동레일 500 : 제1 프로브장치
510 : 제1 회전모터 520 : 제1 가이드블록
550 : 제1 프로브블록 580 : 제1 프로브
600 : 제2 프로브장치 610 : 제2 회전모터
620 : 제2 가이드블록 650 : 제2 프로브블록
680 : 제2 프로브
100: PCBA inspection device 200: base frame
230: monitor 240: input device
300: stage 310: first stage rail
320: second stage rail 330: fixed frame
340: moving frame 350: first lifting frame
360: first stepping motor 370: second lifting frame
380: second stepping motor 400: transfer device
410: base rail 420: first moving rail
430: second moving rail 500: first probe device
510: first rotating motor 520: first guide block
550: first probe block 580: first probe
600: second probe device 610: second rotary motor
620: second guide block 650: second probe block
680: second probe

Claims (10)

베이스 프레임;
상기 베이스 프레임의 상측에 마련되며 PCBA를 지지하는 스테이지;
상기 스테이지의 상부에 마련되며 상기 PCBA의 상부로 프로브를 이송하는 이송장치; 및
상기 이송장치의 일측에 결합되어 상기 이송장치에 의해 이송되며, 상기 PCBA의 소자에 접촉하여 전기 신호를 측정하는 프로브장치를 포함하되,
상기 스테이지는,
복수 개의 지지기둥에 의해 상기 베이스 프레임의 상측에 좌우 방향으로 소정 간격 상호 이격하여 전후 방향으로 연장 설치되는 제1,제2 스테이지레일과, 상기 제1,제2 스테이지레일의 일단에 결합되는 고정프레임과, 상기 제1,제2 스테이지레일을 따라 양단이 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 이동프레임과, 상기 고정프레임의 하부에 승강 가능하게 설치되는 제1 승강프레임과, 상기 제1 승강프레임의 하부에 설치되는 제1 스테핑모터와, 상기 이동프레임의 하부에 승강 가능하게 설치되는 제2 승강프레임과, 상기 제2 승강프레임의 하부에 설치되는 제2 스테핑모터와, 상기 고정프레임의 하부에 소정 간격 상호 이격하여 하향 돌출 형성되며, 상기 PCBA를 지지하도록 단턱이 단차 형성되는 복수 개의 제1 지지블록과, 상기 제1 승강프레임의 상측에 마련되며, 상기 제1 승강프레임의 상승시 상기 복수 개의 제1 지지블록 사이 공간으로 삽입되어 상기 PCBA를 지지하는 제1 탄성블록과, 상기 복수 개의 제1 지지블록 사이 공간에 각각 설치되며 상기 제1 승강프레임의 승강 방향을 안내하는 제1 가이드바와, 상기 이동프레임의 하부에 소정 간격 상호 이격하여 하향 돌출 형성되며, 상기 PCBA를 지지하도록 단턱이 단차 형성되는 복수 개의 제2 지지블록과, 상기 제2 승강프레임의 상측에 마련되며, 상기 제2 승강프레임의 상승시 상기 복수 개의 제2 지지블록 사이 공간으로 삽입되어 상기 PCBA를 지지하는 제2 탄성블록과, 상기 복수 개의 제2 지지블록 사이 공간에 각각 설치되며 상기 제2 승강프레임의 승강 방향을 안내하는 제2 가이드바를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
Base frame;
A stage provided on the upper side of the base frame and supporting the PCBA;
A transfer device provided on the top of the stage and transferring the probe to the top of the PCBA; And
A probe device coupled to one side of the transfer device and transferred by the transfer device, comprising a probe device for measuring an electrical signal by contacting an element of the PCBA
The stage,
First and second stage rails extending in the front and rear directions by spaced apart from each other at a predetermined interval in the left and right directions on the upper side of the base frame by a plurality of support columns, and a fixed frame coupled to one end of the first and second stage rails And, a moving frame having both ends slidably coupled to each other along the first and second stage rails, a first lifting frame installed to be elevating under the fixed frame, and a lower part of the first lifting frame The first stepping motor to be configured, a second lifting frame installed to be elevating below the moving frame, a second stepping motor installed below the second lifting frame, and spaced apart from each other at a predetermined interval under the fixed frame A plurality of first support blocks protruding downward and having a stepped step formed to support the PCBA, and provided on an upper side of the first lifting frame, and the plurality of first support blocks when the first lifting frame is raised A first elastic block inserted into the interspace to support the PCBA, a first guide bar installed in the space between the plurality of first support blocks and guiding the elevating direction of the first elevating frame, and a lower portion of the moving frame A plurality of second support blocks are formed to protrude downward at a predetermined distance from each other, and have a stepped step formed to support the PCBA, and are provided on the upper side of the second lifting frame, and when the second lifting frame is raised, the plurality of A second elastic block inserted into the space between the two second support blocks to support the PCBA, and a second guide bar installed in each space between the plurality of second support blocks and guiding the elevating direction of the second lifting frame. PCBA inspection device, characterized in that.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 이송장치는, 상기 스테이지의 상부에 좌우 방향으로 연장 형성되는 베이스레일과, 상기 베이스레일을 따라 슬라이드 이동 가능하게 결합되며 전후 방향으로 연장 형성되는 한 쌍의 이동레일과, 상기 한 쌍의 이동레일을 따라 슬라이드 이동 가능하게 각각 결합되는 이동블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
The method according to claim 1,
The transfer device includes a base rail extending in a left and right direction on an upper portion of the stage, a pair of moving rails coupled to be slidably movable along the base rail and extending in a front and rear direction, and the pair of moving rails PCBA inspection device, characterized in that it comprises a moving block that is coupled to each of the slide movement along the.
청구항 1에 있어서,
상기 프로브장치는, 상기 이송장치의 일측에 설치되는 회전모터와, 상기 회전모터에 의해 회전 가능하게 결합되는 가이드블록과, 상기 가이드블록의 일측에 설치되는 서보모터와, 상기 서보모터에 의해 상기 가이드블록을 따라 승강 가능하게 결합되며 일측에 프로브가 구비되는 프로브블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
The method according to claim 1,
The probe device includes a rotation motor installed on one side of the transfer device, a guide block rotatably coupled by the rotation motor, a servo motor installed on one side of the guide block, and the guide by the servo motor. PCBA inspection apparatus, characterized in that it comprises a probe block that is coupled to be liftable along the block and provided with a probe on one side.
청구항 6에 있어서,
상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 하단에 구비되는 종동풀리와, 상기 종동풀리와 상기 서보모터 사이에 연결되며 상기 서보모터의 작동에 따라 상기 프로브블록을 승강시키는 타이밍벨트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
The method of claim 6,
The probe device further comprises a driven pulley provided at a lower end of the guide block, and a timing belt connected between the driven pulley and the servo motor and for raising and lowering the probe block according to the operation of the servo motor. PCBA inspection device.
청구항 6에 있어서,
상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 일측에 결합되어 상기 PCBA를 촬영하는 카메라 모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
The method of claim 6,
The probe device further comprises a camera module coupled to one side of the guide block to photograph the PCBA.
청구항 6에 있어서,
상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 일측에 결합되어 상기 PCBA를 비추는 조명 모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
The method of claim 6,
The probe device further comprises a lighting module coupled to one side of the guide block to illuminate the PCBA.
청구항 6에 있어서,
상기 프로브장치는, 상기 가이드블록의 일측에 결합되며 상기 PCBA 방향으로 레이저 빔을 조사하는 레이저 모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCBA 검사 장치.
The method of claim 6,
The probe device further comprises a laser module coupled to one side of the guide block and irradiating a laser beam in the PCBA direction.
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