KR101115162B1 - Film type transfer material - Google Patents

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Abstract

본 발명은 베이스 필름, 수지 보호층, 감광성 수지층 및 보호필름을 포함하고, 상기 수지 보호층의 점착력이 0.005㎏f/㎠ 이하인 필름형 감광성 전사재료를 제공하는 바, 이를 인쇄회로기판에 적용할 경우 베이스 필름을 제거한 상태에서 노광이 가능하게 되어 노광 시 마스크와 감광성 수지층간의 간격을 좁힐 수 있음으로써 결과적으로 패턴의 해상도를 향상시킬 뿐 아니라 베이스 필름을 노광 공정 이전에 제거하여도 시트(sheet)형태로 작업을 하거나 롤투롤(roll to roll) 공정에의 적용이 가능하다.The present invention provides a film-type photosensitive transfer material comprising a base film, a resin protective layer, a photosensitive resin layer and a protective film, wherein the adhesive force of the resin protective layer is 0.005 kgf / cm 2 or less, which can be applied to a printed circuit board. In this case, the exposure can be performed with the base film removed, so that the gap between the mask and the photosensitive resin layer can be narrowed during exposure, thereby improving the resolution of the pattern and even removing the base film before the exposure process. It is possible to work in the form or apply to a roll to roll process.

필름형 감광성 전사재료, 수지 보호층 Film-type photosensitive transfer material, resin protective layer

Description

필름형 감광성 전사재료{Film type transfer material}Film-type photosensitive transfer material

본 발명은 필름형 감광성 전사재료에 관한 것이다.The present invention relates to a film-type photosensitive transfer material.

일반적으로 필름형의 감광성 전사재료로는 드라이 필름 형태(이하, '드라이 필름 포토레지스트'라 한다.)가 대표적으로 사용된다. In general, as a film-type photosensitive transfer material, a dry film form (hereinafter, referred to as a 'dry film photoresist') is typically used.

드라이 필름 포토레지스트는 프린트 배선판, 인쇄회로기판, IC패키징, 금속 릴리프 상 형성 등에 사용되며 일반적으로는 베이스 필름, 감광성 수지층 및 보호필름을 포함한다. Dry film photoresists are used for printed wiring boards, printed circuit boards, IC packaging, metal relief phase formation, and the like, and generally include a base film, a photosensitive resin layer, and a protective film.

베이스 필름은 감광성 수지층의 지지체 역할을 하는 것으로 점착력을 갖고 있는 감광성 수지층의 노광시 취급이 용이하도록 하는 것이다. 감광성 수지층은 일예로 광중합성 단량체, 광중합개시제, 바인더 폴리머 등을 포함하여 목적에 맞도록 제조된다. 한편 보호필름은 감광성 수지층의 베이스 필름이 형성되지 않은 면에 형성되어 감광성 수지층의 손상을 방지해주는 역할을 할 수 있다. The base film serves as a support for the photosensitive resin layer to facilitate handling during exposure of the photosensitive resin layer having adhesive force. The photosensitive resin layer is manufactured to suit the purpose, including, for example, a photopolymerizable monomer, a photopolymerization initiator, a binder polymer, and the like. On the other hand, the protective film is formed on the surface where the base film of the photosensitive resin layer is not formed may serve to prevent damage to the photosensitive resin layer.

이와 같은 드라이 필름 포토레지스트를 이용한 패턴 형성방법의 일예로서 인쇄회로기판 제조의 예를 들면, 먼저 보호필름을 벗겨내고 동장적층판(CCL) 상에 라 미네이션(Lamination)한 후 원하는 패턴의 마스크를 대고 자외선(UV)을 조사하여 노광(Exposing)하고, 적절한 용제를 사용하여 경화되지 않은 부분을 씻어내는 현상(Developing)과정을 거친다. 통상적으로 노광은 도 3에 도시된 바와 같이, 감광성 수지층(20)에 베이스 필름(40)이 부착된 채로 진행되며, 이 경우 감광성 수지층(20)과 마스크(60)가 베이스 필름(40)의 두께만큼 이격되므로, 결과적으로는 해상도의 저하가 발생할 수 있다. 이에 베이스 필름을 벗겨낸 후 노광할 수도 있으나, 일반적으로 감광성 수지층은 점착성을 갖고 있어 베이스 필름을 벗겨내면 마스크가 감광성 수지층과 붙게 되므로 감광성 수지층에 손상이 가게 되며, 결과적으로는 해상도가 저하된다. 따라서, 현실적으로 베이스 필름을 벗겨낸 후의 노광은 이루어지기 어렵고, 이로 인한 해상도 저하의 문제는 여전히 남아 있다.As an example of a pattern forming method using such a dry film photoresist, for example in manufacturing a printed circuit board, the protective film is first peeled off and laminated on a copper clad laminate (CCL), and then a mask having a desired pattern is applied. Exposing through irradiation with ultraviolet (UV) light, and developing (developing) the uncured portion using a suitable solvent. Typically, exposure is performed with the base film 40 attached to the photosensitive resin layer 20, as shown in FIG. 3, in which case the photosensitive resin layer 20 and the mask 60 are attached to the base film 40. Since it is spaced apart by the thickness of, as a result, the degradation of the resolution may occur. This may be exposed after peeling off the base film, but in general, the photosensitive resin layer has adhesiveness, and when the base film is peeled off, the mask adheres to the photosensitive resin layer, thereby damaging the photosensitive resin layer, and consequently, the resolution decreases. do. Therefore, in reality, the exposure after peeling off the base film is difficult to be achieved, and thus the problem of deterioration of resolution remains.

더욱이 인쇄회로기판의 고밀도화 및 반도체 패키징 기술의 발전에 따라 회로 선폭의 고밀도화가 진행됨으로써 이러한 미세회로기판에 적용할 수 있는 고해상의 필름형 감광성 전사재료에 대한 요구가 절실한 상황이다.Furthermore, as the density of printed circuit boards increases and the density of circuit lines increases with the development of semiconductor packaging technology, there is an urgent need for a high resolution film-type photosensitive transfer material that can be applied to such a fine circuit board.

이에 본 발명은, 베이스 필름을 제거하고 노광이 가능한 필름형 감광성 전사재료를 제공하고자 한다. Accordingly, the present invention is to provide a film-type photosensitive transfer material capable of removing the base film and exposure.

또한 본 발명은 노광시 마스크와 감광성 수지층간의 간격을 최소화하여 해상도를 높일 수 있는 필름형 감광성 전사재료 및 이를 이용하여 패턴을 형성한 표시 소자용 기판을 제공하고자 한다.In addition, the present invention is to provide a film-type photosensitive transfer material that can increase the resolution by minimizing the gap between the mask and the photosensitive resin layer during exposure, and a substrate for a display element formed with a pattern.

본 발명의 일 구현예에서는 베이스 필름, 수지 보호층, 감광성 수지층 및 보호필름을 포함하며; 수지 보호층은, 베이스 필름을 벗겨내고 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는 데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의되는 점착력이 0.005kgf/㎠ 이하인 필름형 감광성 전사재료를 제공한다. In one embodiment of the present invention includes a base film, a resin protective layer, a photosensitive resin layer and a protective film; The resin protective layer is defined as the force per unit area required to peel off the base film, laminate a separate PET film on the resin protective layer, and then begin to release it to release from 5 cm to 8 cm from the starting point. Provided is a film-type photosensitive transfer material having an adhesive force of 0.005 kgf / cm 2 or less.

본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 수지 보호층은 알칼리 현상 가능형 고분자층일 수 있다. In the film type photosensitive transfer material according to the embodiment of the present invention, the resin protective layer may be an alkali developable polymer layer.

바람직한 본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 수지 보호층은 다음과 같이 정의되는 25℃에서 메틸에틸케톤 용액에 대한 용해도가 5g 이하인 것일 수 있다. In the film type photosensitive transfer material according to an embodiment of the present invention, the resin protective layer may be a solubility of 5 g or less in methyl ethyl ketone solution at 25 ℃ defined as follows.

용해도: 메틸에틸케톤 100g에 수지보호층 50g을 넣고 25℃에서 1시간 동안 교반 후 거름종이로 여과한 다음 거름종이에 남은 수지보호층의 무게를 측정하여, 수지보호층 무게의 감소량으로 정의.Solubility: Add 50 g of a resin protective layer to 100 g of methyl ethyl ketone, stir at 25 ° C. for 1 hour, filter with filter paper, and measure the weight of the resin protective layer remaining on the filter paper to define a reduction in the weight of the resin protective layer.

본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 수지 보호층은 중량평균 분자량이 5,000~300,000인 수용성 고분자를 포함하는 코팅액으로부터 형성된 것일 수 있다. In the film-type photosensitive transfer material according to an embodiment of the present invention, the resin protective layer may be formed from a coating liquid containing a water-soluble polymer having a weight average molecular weight of 5,000 to 300,000.

본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 보호필름과 감광성 수지층과의 이형력이 베이스 필름과 수지 보호층과의 이형력보다 작은 것일 수 있다. In the film-type photosensitive transfer material according to an embodiment of the present invention, the release force of the protective film and the photosensitive resin layer may be less than the release force of the base film and the resin protective layer.

또한, 수지 보호층은 두께가 0.001~10㎛ 인 것일 수 있다. In addition, the resin protective layer may be a thickness of 0.001 ~ 10㎛.

본 발명의 바람직한 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 수지 보호층은 다음 수학식 1로 표시되는 점착력 변화율이 5000% 이하인 것일 수 있다. In the film-type photosensitive transfer material according to a preferred embodiment of the present invention, the resin protective layer may be a change in adhesion force of 5000% or less represented by the following equation (1).

수학식 1Equation 1

Figure 112008074044157-pat00001
Figure 112008074044157-pat00001

상기 식에서, 제1점착력은 베이스 필름을 벗겨낸 직후 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의되고, 제2점착력은 베이스 필름을 벗겨내고 온도 25℃, 습도 50% 조건하에 240시간 방치한 후 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의된다. In the above formula, the first adhesive force is the force per unit area required to release a separate PET film on the resin protective layer immediately after peeling off the base film, and then start to release the mold from 5 cm to 8 cm from the starting point. The second adhesive force is defined, and the second adhesive force is peeled off and left for 240 hours under a temperature of 25 ° C. and a humidity of 50%, and then a separate PET film is laminated on the resin protective layer and then released to release from 5 cm from the starting point. It is defined as the force per unit area required to release up to 8 cm.

본 발명의 바람직한 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 수지 보호층은 폴리비닐알코올계 수지층일 수 있다. 이때 수지 보호층은 습윤제(wetting agent), 레벨링제(leveling agent), 소포제, 접착제 및 점착제 중에서 선택되는 적어도 1종이상의 첨가제를 포함할 수 있다. In the film-type photosensitive transfer material according to a preferred embodiment of the present invention, the resin protective layer may be a polyvinyl alcohol-based resin layer. In this case, the resin protective layer may include at least one or more additives selected from a wetting agent, a leveling agent, an antifoaming agent, an adhesive, and an adhesive.

본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 보호필름은 이형층을 갖거나 갖지 않는 폴리에스테르계 필름일 수 있다. In the film-type photosensitive transfer material according to an embodiment of the present invention, the protective film may be a polyester film with or without a release layer.

본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서, 베이스 필름은 이형층을 갖거나 갖지 않는 폴리에스테르계 필름일 수 있다. In the film type photosensitive transfer material according to an embodiment of the present invention, the base film may be a polyester film with or without a release layer.

본 발명의 예시적인 구현예에서는 상술한 필름형 감광성 전사재료를 이용하여 패턴을 형성한 표시 소자용 기판을 제공한다.An exemplary embodiment of the present invention provides a display device substrate having a pattern formed by using the film-type photosensitive transfer material described above.

본 발명의 필름형 감광성 전사재료는 베이스 필름을 박리한 다음 노광이 가능함에 따라 노광시 감광성 수지층과의 거리를 좁혀 패턴의 해상도를 보다 향상시킬 수 있는 필름형 감광성 전사재료 및 표시 소자용 기판을 제공할 수 있다.The film-type photosensitive transfer material of the present invention is a film-type photosensitive transfer material and a display element substrate that can further improve the resolution of the pattern by narrowing the distance to the photosensitive resin layer during exposure as the base film is peeled off and then exposed. Can provide.

또한 본 발명은 노광 전에 베이스 필름을 박리할 수 있으면서 감광성 수지층의 손상 없이 시트 단위로 작업을 하거나 롤투롤(roll to roll)공정의 적용이 가능한 필름형 감광성 전사재료를 제공할 수 있다.In addition, the present invention can provide a film-type photosensitive transfer material that can be peeled off the base film prior to exposure and can be applied in a sheet unit or applied to a roll to roll process without damaging the photosensitive resin layer.

또한 본 발명은 베이스 필름을 제거하고 바로 노광공정이 이루어지므로 노광 공정 후 이물 제거 공정을 수행한 다음 베이스 필름을 제거하던 종래의 공정을 간편화할 수 있고 표시 소자용 기판의 제조 원가 절감 효과를 가져 올 수 있다. In addition, since the present invention removes the base film and the exposure process is performed immediately, the conventional process of removing the base film after performing the foreign material removal process after the exposure process can be simplified, and the manufacturing cost of the display device substrate can be reduced. Can be.

이하, 본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명한다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 필름형 감광성 전사재료의 일구현예를 도시한 것이다. 본 발명의 필름형 감광성 전사재료는 보호필름(10), 감광성 수지층(20), 수지 보호층(30) 및 베이스 필름(40)을 포함하는 구조를 가진다. 1 shows an embodiment of the film-type photosensitive transfer material of the present invention. The film-type photosensitive transfer material of the present invention has a structure including a protective film 10, a photosensitive resin layer 20, a resin protective layer 30, and a base film 40.

도 1에 도시하지 않았으나 보호필름(10) 및/또는 베이스 필름(40)은 각각의 적어도 일면에 이형층을 포함할 수도 있다. Although not shown in FIG. 1, the protective film 10 and / or the base film 40 may include a release layer on at least one surface thereof.

도 2는 본 발명의 필름형 감광성 전사재료가 적용된 표시 소자용 기판의 노광시 적층구조 단면을 도시한 것이다. 이와 같은 본 발명의 필름형 감광성 전사재료는 프린트 배선판, 인쇄회로기판 등의 표시소자용 기판에 적용시 보호필름(10)을 벗기고 동장적층판(50) 상에 감광성 수지층이 오도록 드라이 필름을 라미네이션시킨 뒤 베이스필름(40)을 박리한 후 수지보호층 상에 마스크를 놓고 노광 과정을 거친 다음 현상과정을 거치게 된다. 2 is a cross-sectional view of a laminated structure during exposure of a substrate for a display device to which a film type photosensitive transfer material of the present invention is applied. Such a film-type photosensitive transfer material of the present invention, when applied to a display device substrate such as a printed wiring board, a printed circuit board, peeling off the protective film 10 and laminating the dry film so that the photosensitive resin layer is on the copper-clad laminate 50. After the base film 40 is peeled off, the mask is placed on the resin protective layer, subjected to an exposure process, and then subjected to a development process.

이하, 각 층을 상세히 설명한다.Hereinafter, each layer is explained in full detail.

<베이스 필름><Base film>

본 발명의 베이스 필름은 수지 보호층과 감광성 수지층의 지지체 역할을 하므로 충분한 기계적 특성을 구비한 것이 바람직하다. 베이스 필름에 적합한 재료로는 폴리에틸렌테레프탈레이트 또는 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르계 필름, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리이미드, 폴리아미드, 셀룰로오스트리아세테 이트, 셀룰로오스디아세테이트, 알킬폴리(메트)아크릴레이트, (메트)아크릴산에스테르 공중합체, 폴리비닐클로라이드와 비닐 아세테이트의 공중합체, 폴리테트라플루오로에틸렌 및 폴리트리플루오로에틸렌 등이 있으며, 특히 바람직한 것은 폴리에틸렌테레프탈레이트이다. 베이스 필름의 두께는 10~100㎛의 범위이며, 바람직하게는 15~30㎛인 것이나, 이에 한정되는 것은 아니다.Since the base film of the present invention serves as a support for the resin protective layer and the photosensitive resin layer, it is preferable to have sufficient mechanical properties. Suitable materials for the base film include polyester film such as polyethylene terephthalate or polyethylene naphthalate, polyethylene, polypropylene, polyimide, polyamide, cellulose triacetate, cellulose diacetate, alkylpoly (meth) acrylate, ( Meth) acrylic acid ester copolymers, copolymers of polyvinylchloride and vinyl acetate, polytetrafluoroethylene and polytrifluoroethylene, and the like, and polyethylene terephthalate is particularly preferred. The thickness of a base film is the range of 10-100 micrometers, Preferably it is 15-30 micrometers, but it is not limited to this.

후술하는 수지 보호층 조성에 따라서 베이스 필름은 이형성 조절을 위한 이형층을 포함하는 것일 수 있다. 이때 이형층의 형성의 방법 및 구체적인 조성에는 각별히 한정이 있는 것은 아니며, 다만 베이스 필름과 수지 보호층간의 이형력이 보호필름과 감광성 수지층간의 이형력보다 더 높은 정도를 만족하면서 수지 보호층의 손상을 방지할 수 있는 정도의 표면특성을 만족할 수 있을 정도이면 충분하다. According to the resin protective layer composition to be described later may be a base film including a release layer for controlling the release property. At this time, the method and specific composition of the formation of the release layer is not particularly limited, but damage to the resin protective layer while satisfying the degree that the release force between the base film and the resin protective layer is higher than the release force between the protective film and the photosensitive resin layer. It is sufficient to be able to satisfy the surface properties to the extent that can be prevented.

<수지 보호층><Resin protective layer>

수지 보호층은 베이스 필름과 감광성 수지층 사이에 위치하며, 이러한 수지 보호층을 포함하는 본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료는 노광시 베이스 필름을 박리시킨 후에 수지 보호층 상에 마스크를 올려놓고 노광을 수행할 수 있다. The resin protective layer is positioned between the base film and the photosensitive resin layer, and the film-type photosensitive transfer material according to one embodiment of the present invention including such a resin protective layer is masked on the resin protective layer after peeling off the base film during exposure. The exposure can be carried out with.

따라서 수지 보호층은 베이스 필름으로부터 용이하게 이형되어야 하며, 또한 마스크와 점착되지 않아야 한다. 또한 노광 후 시트 단위 작업 또는 롤투롤(roll to roll) 작업 시 수지 보호층끼리 적층되거나 동장적층판과 수지 보호층이 서로 접촉되어도 불량이 발생하지 않을 정도로 낮은 점착력을 가질 것이 요구된다.Therefore, the resin protective layer should be easily released from the base film and should not stick to the mask. In addition, it is required to have a low adhesive strength so that no defects occur even when the resin protective layers are laminated or the copper-clad laminate and the resin protective layer are in contact with each other during sheet-based work or roll-to-roll operation after exposure.

특히, 베이스 필름을 박리시킨 후에 수지 보호층이 노출된 상태에서 노광시키게 되면 수지 보호층이 마스크와 점착되지 않는 것이 중요하다. 이 때 마스크는 주로 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 유리기판(glass) 등을 사용할 수 있으며, 이에 본 발명의 수지 보호층은 베이스 필름을 박리시킨 후 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름을 다시 적층하였다가 용이하게 이형될 수 있어야 한다.In particular, it is important that the resin protective layer does not stick to the mask when the base film is peeled off and then exposed in a state where the resin protective layer is exposed. In this case, the mask may mainly use polyethylene terephthalate (PET), glass substrate (glass), etc., and thus the resin protective layer of the present invention is easily peeled off after re-laminating the polyethylene terephthalate film after peeling the base film. It should be possible.

이러한 점에서 본 발명의 수지 보호층은 베이스 필름을 벗겨낸 후, 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 후 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘으로 정의되는 점착력이 0.005kgf/㎠ 이하인 것이 바람직하다. 구체적인 점착력 측정의 방법은 폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호 필름을 제거하여 동장적층판에 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후 베이스 필름을 제거한다. 여기에 폭 4㎝, 길이 25㎝, 두께 19㎛의 PET필름을 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후, 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 만능인장시험기를 사용하여 측정한다.In this regard, the resin protective layer of the present invention peels off the base film, and then laminates a separate PET film on the resin protective layer and starts to release it, per unit area required to release from 5 cm to 8 cm from the starting point. It is preferable that the adhesive force defined by force is 0.005 kgf / cm <2> or less. A specific method of measuring the adhesive force was to remove the protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm, laminating the copper clad laminate at 110 ° C and 4 kgf / cm 2 at a speed of 2 m / min, and then removing the base film. Remove Here, after laminating a PET film having a width of 4 cm, a length of 25 cm, and a thickness of 19 μm at a speed of 2 m / min under conditions of 110 ° C. and 4 kgf / cm 2, the PET film was started to be released from the point 5 cm from the starting point. The force per unit area required to release to the point of 8 cm is measured using a universal tensile tester.

이와 같은 측정방법에 의해 얻어지는 점착력이 0.005kgf/㎠ 보다 큰 경우에는 마스크 통과의 접촉시 이형이 용이하지 않고 뜯김이 발생되어 베이스 필름 제거 후 노광함으로 인한 유리한 효과를 얻기 힘들다.When the adhesive force obtained by such a measuring method is larger than 0.005kgf / cm 2, release is not easy and tearing occurs when contacting the mask passes, and thus it is difficult to obtain an advantageous effect due to exposure after removing the base film.

한편, 수지보호층은 노광시 감광성 수지층의 중합 반응을 저해하는 산소를 차단할 수 있어야 하며, 노광 공정 이후 현상공정에서 같이 제거될 수 있는 것이 바람직하다. On the other hand, the resin protective layer should be able to block the oxygen inhibiting the polymerization reaction of the photosensitive resin layer during exposure, it is preferable that can be removed together in the development process after the exposure process.

이러한 점을 고려하여 수지 보호층은 알칼리 현상 가능형 고분자층인 것이 바람직할 수 있다. 여기서 "알칼리 현상 가능형"이라 함은 묽은 농도의 Na2CO3, NaOH 또는 KOH 등의 알칼리 용액에 의해 현상되는 특성을 의미하는 것으로 이해될 것이다.In consideration of this point, it may be preferable that the resin protective layer is an alkali developable polymer layer. As used herein, the term " alkali developable type " will be understood to mean a property developed by an alkaline solution such as Na 2 CO 3, NaOH or KOH at a low concentration.

이러한 점을 고려하여 수지 보호층은 폴리비닐에테르무수말레인산의 수용성 염류, 셀룰로오스에테르의 수용성 염류, 카르복실알킬셀룰로오스의 수용성 염류, 카르복실알킬전분 수용성 염류, 폴리비닐알콜, 폴리비닐피롤리돈, 폴리아크릴아미드류, 폴리아미드의 수용성 염류, 폴리아크릴산의 수용성 염류, 폴리에틸렌글리콜, 폴리프로필렌글리콜, 젤라틴, 산화에틸렌중합체, 전분 등의 수용성 고분자를 포함하는 조성으로부터 형성될 수 있다.In consideration of this point, the resin protective layer is a water-soluble salt of polyvinyl ether maleic anhydride, a water-soluble salt of cellulose ether, a water-soluble salt of carboxyalkyl cellulose, a carboxyl alkyl starch water-soluble salt, polyvinyl alcohol, polyvinylpyrrolidone, poly It may be formed from a composition containing water-soluble polymers such as acrylamide, water-soluble salts of polyamide, water-soluble salts of polyacrylic acid, polyethylene glycol, polypropylene glycol, gelatin, ethylene oxide polymer, starch and the like.

특히 수지보호층 형성용 조성물의 점도는 도포층의 물성에 영향을 미치며, 점도는 또한 중합체의 중합도에 영향을 받으므로 조성 중 중합체의 중량평균분자량은 5,000~300,000인 것이 바람직하다. 중량평균분자량이 5000미만이면 필름상의 도포가 곤란해지고, 강도가 약해 감광성 수지층의 보호 기능을 수행하기 힘들어 바람직하지 않으며, 중량평균분자량이 300,000을 초과하면 현상시간이 길어지고 동장적층판 상에 적층 후 베이스 필름을 박리시킬 때 손상될 우려가 있다. In particular, since the viscosity of the composition for forming a resin protective layer affects the physical properties of the coating layer, and the viscosity is also affected by the degree of polymerization of the polymer, the weight average molecular weight of the polymer in the composition is preferably 5,000 to 300,000. If the weight average molecular weight is less than 5000, the coating on the film becomes difficult, and the strength is weak, so that it is difficult to perform the protective function of the photosensitive resin layer, and if the weight average molecular weight exceeds 300,000, the development time is long and after lamination on the copper clad laminate There is a risk of damage when peeling the base film.

또한 바람직한 본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서 수지 보호층은 25℃에서 메틸에틸케톤 용액에 대한 용해도가 5g 이하인 것이 유통 과정 중 감광성 수지층과 수지 보호층간의 성분의 확산(diffusion)을 방지하 여 궁극적으로는 제품의 유통기한을 연장할 수 있는 측면에서 바람직할 수 있다. In addition, in the film type photosensitive transfer material according to the preferred embodiment of the present invention, the resin protective layer has a solubility of 5 g or less in methyl ethyl ketone solution at 25 ° C. in the distribution process of components between the photosensitive resin layer and the resin protective layer ( It may be desirable in terms of preventing diffusion and ultimately extending the shelf life of the product.

여기서 메틸에틸케톤 용액에 대한 용해도는 구체적으로, 메틸에틸케톤 100g에 수지보호층 50g을 넣고 25℃에서 1시간 동안 교반한 다음 거름종이로 여과한 후거름종이에 남은 수지보호층의 무게를 측정하여 수지보호층 무게의 감소량으로 정의된다.Herein, the solubility in methyl ethyl ketone solution was specifically, 50 g of a resin protective layer was added to 100 g of methyl ethyl ketone, stirred at 25 ° C. for 1 hour, filtered through a filter paper, and then the weight of the resin protective layer remaining on the filter paper was measured. It is defined as the amount of reduction of the resin protective layer weight.

한편 상술한 것과 같이 본 발명의 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료의 경우 후공정에서 베이스 필름을 제거한 후 노광공정을 수행할 수 있는바, 이 경우 노광공정에 진입하기까지 소정의 시간이 소요될 경우 외부 환경에 노출될 때 수지 보호층이 수분을 흡수하는 등 물성의 변화를 유발할 수 있다. 이러한 점을 고려하여 본 발명의 바람직한 일 구현예에 의한 필름형 감광성 전사재료에 있어서 수지 보호층은 다음 수학식 1로 표시되는 점착력 변화율이 5000% 이하인 것이 바람직할 수 있다. Meanwhile, as described above, in the case of the film-type photosensitive transfer material according to the exemplary embodiment of the present invention, the exposure process may be performed after removing the base film in a later process, in which case a predetermined time may be required before entering the exposure process. In this case, the resin protective layer absorbs moisture when exposed to the external environment, and may cause a change in physical properties. In consideration of this point, in the film type photosensitive transfer material according to the preferred embodiment of the present invention, the resin protective layer may preferably have an adhesive change rate of 5000% or less represented by Equation 1 below.

수학식 1Equation 1

Figure 112008074044157-pat00002
Figure 112008074044157-pat00002

상기 식에서, 제1점착력은 베이스 필름을 벗겨낸 직후 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의되고, 제2점착력은 베이스 필름을 벗겨내고 온도 25C, 습도 50%조건하에 10일간 방치한 후 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의된다. In the above formula, the first adhesive force is the force per unit area required to release a separate PET film on the resin protective layer immediately after peeling off the base film, and then start to release the mold from 5 cm to 8 cm from the starting point. After the base film is peeled off and left for 10 days at 25 ° C. and 50% humidity conditions, the second adhesive force is laminated to a separate PET film on the resin protective layer, and then starts to release it, starting from 5 cm from the starting point. It is defined as the force per unit area required to release to the point cm.

상기한 측면을 고려할 때 바람직한 수지 보호층은 폴리비닐알코올계 수지층일 수 있다. 여기서 폴리비닐알코올계 수지층이라 함은 수지층을 형성하는 조성 중 폴리비닐알코올계 수지가 적어도 10중량% 이상을 차지하는 수지층으로 이해될 것이다. Considering the above aspect, the preferred resin protective layer may be a polyvinyl alcohol-based resin layer. Here, the polyvinyl alcohol-based resin layer will be understood as a resin layer in which the polyvinyl alcohol-based resin occupies at least 10% by weight or more of the composition for forming the resin layer.

수지 보호층이 폴리비닐알코올계 수지층인 경우 베이스 필름에 따라서 도포성이 달라질 수 있으며 이를 고려할 때 습윤제(wetting agent)를 더 포함할 수 있다. When the resin protective layer is a polyvinyl alcohol-based resin layer, the coatability may vary depending on the base film, and may further include a wetting agent in consideration of this.

또한 베이스 필름 및 후술하는 보호필름의 선정에 따라 이형력의 제어가 필요할 경우도 있는데 이 경우에도 이형성을 조절할 수 있는 첨가제, 일예로 습윤제(wetting agent), 레벨링제(leveling agent), 소포제, 접착제 및 점착제 중에서 선택되는 적어도 1종 이상의 첨가제를 포함할 수 있다. In addition, depending on the selection of the base film and the protective film to be described later it may be necessary to control the release force, even in this case, additives that can control the release property, for example, wetting agent (leveling agent), leveling agent (defoamer), adhesive and At least one additive selected from the pressure-sensitive adhesives may be included.

이러한 첨가제에 각별히 한정이 있는 것은 아니며, 상술한 것과 같이 베이스 필름과 수지 보호층간의 이형력에 비하여 보호필름과 감광성 수지층간의 이형력이 작은 정도로 조절할 수 있는 첨가제이면 무방할 것이다. There is no particular limitation on such additives, and as described above, any additive capable of controlling the release force between the protective film and the photosensitive resin layer to a small extent as compared with the release force between the base film and the resin protective layer may be used.

이러한 수지 보호층을 형성하는 방법으로는 특별히 한정되는 것은 아니며, 수지 보호층 형성용 조성물을 유기 용제 및 물, 좋기로는 물에 용해하여 베이스 필름 상에 도포 및 건조하여 형성시킬 수 있다. It does not specifically limit as a method of forming such a resin protective layer, The composition for resin protective layer formation can be melt | dissolved in the organic solvent and water, Preferably water, and can apply | coat and dry on a base film, and can form.

그리고 수지 보호층이 형성되어 있는 상태에서 노광 공정을 수행하게 되므로 해상도를 높이기 위해서는 수지 보호층의 두께가 얇을수록 좋으며, 바람직하게는 0.001~10㎛인 것이 좋다. Since the exposure process is performed in a state where the resin protective layer is formed, the thickness of the resin protective layer is better to increase the resolution, and preferably 0.001 to 10 μm.

<감광성 수지층><Photosensitive resin layer>

감광성 수지층 조성물은 일반적으로 바인더 폴리머, 광중합성 단량체, 광개시제, 기타 첨가제로 구성되며 인쇄회로기판의 특성 및 성격에 따라 가변적으로 조성될 수 있다.The photosensitive resin layer composition is generally composed of a binder polymer, a photopolymerizable monomer, a photoinitiator, and other additives, and may be variably formed according to the characteristics and characteristics of the printed circuit board.

상기 수지 보호층에 접하는 감광성 수지층의 형성방법으로는 각별히 한정이 있는 것은 아니나 감광성 수지층을 보호 필름 상에 도포하여 상기 베이스 필름 상에 형성된 수지 보호층과 접합하는 방법이 유리할 수 있다. The method of forming the photosensitive resin layer in contact with the resin protective layer is not particularly limited, but a method of applying the photosensitive resin layer on the protective film and bonding the resin protective layer formed on the base film may be advantageous.

감광성 수지층의 두께는 인쇄회로기판의 종류에 따라 일반적으로 10~100㎛일 수 있다.The thickness of the photosensitive resin layer may be generally 10 to 100 μm depending on the type of the printed circuit board.

<보호필름><Protective Film>

보호필름으로는 필름형 전사재료를 후공정에 적용할 때는 용이하게 이탈되면서 보관 및 유통할 때에는 이형되지 않도록 적당한 이형성을 필요로 한다. As a protective film, a suitable release property is required so that a film-type transfer material is easily detached when applied to a post process and is not released when stored and distributed.

감광성 수지층을 보호필름에 도포한 후 베이스 필름 상에 형성되는 수지 보호층과 라미네이션하여 필름형 감광성 전사재료를 제조하는 방법적 측면에서 유리하기로는, 감광성 수지층의 도포성을 고려할 때 보호필름은 폴리에스테르계 필름인 것이 바람직하다. 특히 이형성을 고려할 때 이형층을 포함하는 폴리에스테르계 필름인 것이 바람직할 수 있다. 이형층의 일예로는 실리콘을 코팅 또는 인화하는 방법을 들 수 있으나 이에 한정이 있는 것은 아니다. 상술한 것과 같이 보호필름과 감광성 수지층간의 이형력이 베이스 필름과 수지 보호층간의 이형력에 비하여 작은 정도이면서 감광성 수지층의 표면특성을 저해하지 않는 정도라면 이형층 형성이 방법 및 조성에 각별히 한정이 있는 것은 아니다. In view of the method of producing a film-type photosensitive transfer material by applying a photosensitive resin layer to a protective film and then laminating with a resin protective layer formed on a base film, the protective film is considered in view of the applicability of the photosensitive resin layer. It is preferable that it is a polyester film. In particular, considering the release property, it may be preferable that the polyester film including a release layer. An example of the release layer may be a method of coating or igniting silicon, but is not limited thereto. As described above, as long as the release force between the protective film and the photosensitive resin layer is small compared with the release force between the base film and the resin protective layer and does not impair the surface properties of the photosensitive resin layer, formation of the release layer is particularly limited in the method and composition. This is not the case.

베이스 필름 상에 수지 보호층을 형성하고 수지 보호층 상에 감광성 수지층을 도포한 다음 보호필름을 최종적으로 라미네이션하는 경우라면 두께 15~25㎛의 폴리올레핀계 필름 또한 보호필름으로 바람직할 수 있다. If a resin protective layer is formed on the base film, the photosensitive resin layer is applied on the resin protective layer, and the protective film is finally laminated, a polyolefin film having a thickness of 15 to 25 μm may also be preferable as a protective film.

이하, 본 발명을 실시예를 통하여 보다 상세히 설명하나, 본 발명의 범위가 하기 실시예로 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples, but the scope of the present invention is not limited to the following Examples.

<실시예 1>&Lt; Example 1 >

(a) 메타아크릴산(Methacrylic acid) : 아크릴산(Acrylc acid) : 메틸메타크릴레이트(Methylmethacrylate:MAA)를 20:10:70 중량비율로 사용하여(중량평균분자량 70,000, 고형분 50%), 용매 MEK, 중합개시제 AIBN 1%, 반응온도 80℃, 반응시간 4시간, 후첨개시제 AIBN 3%의 조건하에서 중합하여 아크릴산 고분자를 제조하였다.(a) Methacrylic acid (Acthacrylic acid): Acrylic acid (Acrylc acid): Methyl methacrylate (Methylmethacrylate: MAA) using a weight ratio of 20:10:70 (weight average molecular weight 70,000, solid content 50%), solvent MEK, An acrylic acid polymer was prepared by polymerization under conditions of a polymerization initiator AIBN of 1%, a reaction temperature of 80 ° C., a reaction time of 4 hours, and a post initiator AIBN of 3%.

(b) 상기 아크릴산 고분자를 메틸에틸케톤으로 200cps로 희석하여 수지보호층용 조성물을 얻고, 이를 두께 20㎛ 베이스 필름(OPP) 위에 코팅 바를 이용하여 코팅하고 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 10분간 건조하여 두께 2㎛의 수지 보호층을 형성하였다.(b) diluting the acrylic acid polymer to 200 cps with methyl ethyl ketone to obtain a composition for a resin protective layer, coating it on a 20 μm thick base film (OPP) using a coating bar and drying at 80 ° C. for 10 minutes using a hot air oven. A resin protective layer having a thickness of 2 μm was formed.

(c) UH-9200 series(Kolon)에 사용된 조성 및 함량으로 감광성 수지 조성물을 제조하였다. 구체적으로는, 광개시제류를 용매인 메틸에틸케톤과 메틸알코올에 녹인 후, 광중합성 올리고머류와 바인더 폴리머를 첨가하여 Mechanical Stirrer를 이용하여 1시간 동안 혼합하여 감광성 수지 조성물을 제조하였다.(c) A photosensitive resin composition was prepared in the composition and content used for UH-9200 series (Kolon). Specifically, the photoinitiators were dissolved in methyl ethyl ketone and methyl alcohol as solvents, and then photopolymerizable oligomers and binder polymers were added and mixed for 1 hour using a mechanical stirrer to prepare a photosensitive resin composition.

(d) 상기 감광성 수지 조성물을 20㎛ 두께의 보호필름(OPP) 상에 코팅 바를 이용하여 코팅한 뒤 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 6분간 건조하여 두께 15㎛의 감광성 수지층을 형성하였다.(d) The photosensitive resin composition was coated on a 20 μm thick protective film (OPP) using a coating bar and then dried at 80 ° C. for 6 minutes using a hot air oven to form a photosensitive resin layer having a thickness of 15 μm.

(e) 건조가 완료된 (d)의 필름의 감광성 수지층과 상기 (b)의 수지 보호층이 접하도록 50℃에서 압력 4kgf/㎠로 라미네이션하여 도 1과 같은 형태의 두께 57㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. (e) film-sensitive photosensitive film having a thickness of 57 μm in the form as shown in FIG. 1 by laminating at a pressure of 4 kgf / cm 2 at 50 ° C. such that the dried photosensitive resin layer of the film of (d) and the resin protective layer of (b) contact each other. A transfer material was prepared.

<실시예 2><Example 2>

수지 보호층 조성물로 폴리에틸렌글리콜(제조사 : Sigma-Aldrich, 중량평균분자량 20,000)을 2차증류수로 200cps로 희석한 것을 사용한 것을 제외하고 실시예 1과 같은 방법으로 두께 57㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. A film-type photosensitive transfer material having a thickness of 57 μm was obtained in the same manner as in Example 1, except that polyethylene glycol (manufacturer: Sigma-Aldrich, weight average molecular weight 20,000) was diluted to 200 cps with secondary distilled water as a resin protective layer composition. Prepared.

<실시예 3><Example 3>

상기 실시예 1의 수지 보호층용 조성물을 0.5㎛로 코팅한 것을 제외하고 실 시예 1과 같은 방법으로 두께 55.5㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. A film-type photosensitive transfer material having a thickness of 55.5 μm was prepared in the same manner as in Example 1, except that the composition for resin protective layer of Example 1 was coated with 0.5 μm.

<실시예 4><Example 4>

상기 실시예 1에서 보호필름으로 OPP 대신에 실리콘 이형처리된 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름(두께 19㎛, CY201-19um, KOLON)을 사용한 것을 제외하고는 동일한 방법으로 두께 56㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. A film-type photosensitive transfer material having a thickness of 56 μm was manufactured in the same manner as in Example 1, except that a polyethylene terephthalate film (thickness 19 μm, CY201-19um, KOLON), instead of OPP, was used as a protective film. It was.

<비교예 1>Comparative Example 1

UH-9200 series(Kolon사 제조)에 사용된 조성 및 함량으로 감광성 수지 조성물을 제조하고, 19㎛ 두께의 PET 필름(FDFR, Kolon) 상에 코팅 바를 이용하여 코팅한 뒤 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 6분간 건조하여 두께 15㎛의 감광성 수지층을 형성하였다. 건조가 완료된 필름을 폴리에스테르 필름(23㎛)과 25℃에서 4kgf/㎠로 라미네이션하여 두께 57㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. A photosensitive resin composition was prepared using the composition and content used in the UH-9200 series (manufactured by Kolon), coated on a 19 μm-thick PET film (FDFR, Kolon) using a coating bar, and then heated to 80 ° C. using a hot air oven. It dried for 6 minutes at and formed the photosensitive resin layer of thickness 15micrometer. The dried film was laminated with a polyester film (23 μm) at 4 kgf / cm 2 at 25 ° C. to prepare a film type photosensitive transfer material having a thickness of 57 μm.

상기 실시예 및 비교예에 의하여 제조된 필름형 감광성 전사재료의 이형력, 점착력 및 점착력 변화율을 다음과 같이 측정하였으며 그 결과는 표 1과 같다. The release force, adhesive force, and adhesive force change rate of the film-type photosensitive transfer material prepared according to Examples and Comparative Examples were measured as follows, and the results are shown in Table 1 below.

(1) 이형력(1) release force

<보호필름><Protective Film>

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호필름을 이형시키면 서 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 만능시험기(UTM, 4303 series, Instron사)를 사용하여 측정하였다.While releasing the protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm, the universal testing machine (UTM, 4303 series, Instron Co., Ltd.) Measured using.

<베이스 필름><Base film>

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호필름을 제거한 뒤 110℃에서 속도 2m/min, 압력 4㎏f/㎠ 으로 동장적층판에 라미네이션하였다. 이후 베이스 필름을 이형시키면서 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하였다.After removing the protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen of 3cm in width, 20cm in length, it was laminated on the copper clad laminate at 110 ° C. at a speed of 2 m / min and a pressure of 4 kgf / cm 2. Then, the force per unit area required for releasing the base film from 5 cm to 8 cm from the starting point while releasing the base film was measured using UTM (4303 series, Instron).

(2) 점착력(2) adhesion

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호 필름을 제거하여 동장적층판에 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후 베이스 필름을 제거하였다. 여기에 폭 4㎝, 길이 25㎝, 두께 19㎛의 PET 필름(FDFR, Kolon사 제조)을 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후, 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하였다. The protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm was removed, and the base film was removed after laminating the copper-clad laminate at 110 ° C. and 4 kgf / cm 2 at a speed of 2 m / min. After laminating a 4 cm wide, 25 cm long, 19 μm thick PET film (FDFR, manufactured by Kolon) at 110 ° C. and 4 kgf / cm 2 conditions at a rate of 2 m / min, the PET film began to be released. The force per unit area required to release from 5 cm to 8 cm from the starting point was measured using UTM (4303 series, Instron).

상기 PET필름의 라미네이션 할 때의 조건은 일반적인 노광 시의 마스크와 접착되는 조건과 동일하며 이때 측정된 점착력은 실시예 및 비교예 2의 경우 수지보호층과 PET 필름간의 점착력이며, 비교예 1의 경우 감광성 수지층과 PET 필름간의 점착력이다.The conditions for laminating the PET film are the same as the conditions for bonding with a mask during general exposure, and the measured adhesive force is the adhesive force between the resin protective layer and the PET film in Examples and Comparative Examples 2 and 1. It is adhesive force between the photosensitive resin layer and PET film.

(3) 수지 보호층의 점착력 변화율(3) Change rate of adhesion of resin protective layer

실시예 1 내지 4에 따른 필름형 전사재료에 대하여 다음과 같은 방법으로 제1점착력 및 제2점착력을 구하고, 다음 수학식 1을 이용하여 점착력 변화율을 산출하였다. For the film transfer material according to Examples 1 to 4, the first adhesive force and the second adhesive force were obtained by the following method, and the adhesive force change rate was calculated using Equation 1 below.

수학식 1Equation 1

Figure 112008074044157-pat00003
Figure 112008074044157-pat00003

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호 필름을 제거하여 동장적층판에 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후 베이스 필름을 제거하였다. 베이스 필름을 제거한 직후로, 여기에 폭 4㎝, 길이 25㎝, 두께 19㎛의 PET 필름(FDFR, Kolon사 제조)을 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후, 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하여 이를 제1점착력으로 정의하였다. The protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm was removed, and the base film was removed after laminating the copper-clad laminate at 110 ° C. and 4 kgf / cm 2 at a speed of 2 m / min. Immediately after removing the base film, the PET film (FDFR, manufactured by Kolon) having a width of 4 cm, a length of 25 cm, and a thickness of 19 μm was laminated at a speed of 2 m / min under conditions of 110 ° C and 4 kgf / cm 2, The force per unit area required for releasing the PET film and releasing from 5 cm to 8 cm from the starting point was measured using UTM (4303 series, Instron) and defined as the first adhesive force.

또한 동일한 방법으로 베이스 필름을 벗겨내고 온도 25℃, 습도 50% 조건하에 240시간 방치한 후 상기한 방법으로 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하여 이를 제2점착력으로 정의하였다. In addition, the base film was peeled off in the same manner, and left for 24 hours under a temperature of 25 ° C. and a humidity of 50%. Then, a separate PET film was laminated on the resin protective layer by the method described above, and then the mold film was released. The force per unit area required for releasing from 5 cm to 8 cm was measured using UTM (4303 series, Instron) and defined as the second adhesive force.


이형력(kgf/㎠)Release force (kgf / ㎠) 점착력(kgf/㎠)Adhesion (kgf / ㎠) 점착력변화율(%)Adhesive force change rate (%)
보호 필름Protective film 베이스 필름Base film PET 필름(마스크)PET film (mask) 실시예 1Example 1 0.00390.0039 0.00530.0053 0.00010.0001 10% 미만Less than 10% 실시예 2Example 2 0.00370.0037 0.00570.0057 0.00050.0005 10% 미만Less than 10% 실시예 3Example 3 0.00380.0038 0.00540.0054 0.00010.0001 10% 미만Less than 10% 실시예 4Example 4 0.00380.0038 0.00490.0049 0.00010.0001 10% 미만Less than 10% 비교예 1Comparative Example 1 0.00310.0031 0.00670.0067 0.00640.0064 10% 미만Less than 10%

상기 측정 결과, 감광성 수지층과 보호필름간의 이형력 및 수지보호층과 베이스 필름간의 이형력이 작업성을 저해하지 않는 범위에 있는 것을 알 수 있으며, 점착력의 경우 비교예에 비하여 실시예의 경우가 월등히 낮음을 볼 수 있다. 이로써 실시예의 수지 보호층과 노광 조건에서 일반적으로 사용되는 마스크 재질간의 점착력이 매우 낮은 것을 알 수 있으며 따라서 노광시 취급이 용이함을 알 수 있다.As a result of the measurement, it can be seen that the releasing force between the photosensitive resin layer and the protective film and the releasing force between the resin protective layer and the base film are in a range that does not impair workability. You can see low. As a result, it can be seen that the adhesive force between the resin protective layer of the embodiment and the mask material generally used under the exposure conditions is very low, and thus, the handling is easy during exposure.

이후 상기 실시예 및 비교예에서 제조된 필름형 감광성 전사재료를 다음과 같은 방법으로 인쇄회로기판에 형성하였으며 다음과 같이 물성평가를 실시하였다. Thereafter, the film-type photosensitive transfer material prepared in Examples and Comparative Examples was formed on a printed circuit board by the following method, and physical property evaluation was performed as follows.

동장적층판(CCL)에 브러시 전처리기를 사용하여 새로운 동면을 형성하고 적절한 표면조도를 형성한다. 이후 5% 황산용액에서 산처리 후 수세, 건조를 하여 라미네이터에 투입하였다. 라미네이터는 Hakuto Mach 610i를 사용하였으며 110℃에서 압력 4㎏f/㎠, 속도 2m/min로 실시예 및 비교예에서 제조된 필름형 감광성 전사재료를 동장적층판에 라미네이션하였으며, 이때 예열은 실시하지 않았다. 이후 UV 노광기(Perkin Elmer OB-7120, 5KW 평행광)로 조사하여 노광을 실시하였다. 노광을 마친 인쇄회로기판을 현상기를 통과시켜 현상하였다.A brush preprocessor is used for the copper clad laminate (CCL) to form new copper surfaces and to form the appropriate surface finish. After acid treatment in 5% sulfuric acid solution, washed with water, dried and added to the laminator. As a laminator, Hakuto Mach 610i was used, and the film-type photosensitive transfer material prepared in Examples and Comparative Examples was laminated on a copper clad laminate at 110 ° C. at a pressure of 4 kgf / cm 2 and a speed of 2 m / min. At this time, no preheating was performed. Then, the exposure was performed by irradiating with a UV exposure machine (Perkin Elmer OB-7120, 5KW parallel light). After the exposure, the printed circuit board was developed by passing through a developer.

이때 수지보호층을 포함한 실시예 1 에서 4의 경우 노광공정 전에 베이스 필름을 벗겨내었으며 수지보호층이 포함되지 않은 비교예 1의 경우 베이스 필름을 노광 이후 현상 공정 전에 벗겨내었다.In this case, in Examples 1 to 4 including the resin protective layer, the base film was peeled off before the exposure process, and in the case of Comparative Example 1 in which the resin protective layer was not included, the base film was peeled off before the developing process after exposure.

(4) 감도와 노광량(4) sensitivity and exposure dose

노광시 실시예 1 에서 4의 경우 수지 보호층 상에, 비교예 1의 경우 베이스 필름상에 감도기(21단 Stouffer Step Tablet)를 위치시킨 후, 감도 5단, 6단, 7단을 얻기 위한 노광량을 광량계(UV-351, ORC사 제조)를 사용하여 측정하였으며, 그 값은 표 2와 같다. 이때 감도는 현상 후 기판에 남아있는 감광성 레지스트의 최대 단위 개수로 평가하였다. In the case of exposure, after placing the sensitizer (21-stage Stouffer Step Tablet) on the resin protective layer in the case of Examples 1 to 4 and on the base film in the case of Comparative Example 1, The exposure amount was measured using a photometer (UV-351, manufactured by ORC), and the values are shown in Table 2. At this time, the sensitivity was evaluated by the maximum number of units of the photosensitive resist remaining on the substrate after development.

(5) 현상시간(5) Developing time

현상시간은 상기 동박적층판에 라미네이션을 마친 인쇄회로기판을 현상기를 통과시켜 라미네이션 된 부위가 현상액에 완전히 씻겨서 제거되는 시간을 최소현상시간으로 측정하였으며, 실제현상시간은 최소현상시간의 두 배의 시간으로 산정하였다. 이때 수지보호층이 존재 할 경우, 실제 현상시간은 최소현상시간에 수지보호층이 현상되는 시간을 최소현상시간에 더한 시간으로 계산하였다. The development time was measured by passing the printed circuit board after the lamination on the copper-clad laminate through a developing device as the minimum development time and the time at which the laminated part was completely washed by the developer solution, and the actual development time was twice the minimum development time. Calculated as In this case, when the resin protective layer is present, the actual development time was calculated as the minimum development time plus the minimum development time plus the development time of the resin protection layer.

(6) 회로물성: 해상도, 세선밀착력, 1/1(Line/Space)해상도(6) Circuit Properties: Resolution, Fine Line Adhesion, 1/1 (Line / Space) Resolution

Kolon Test Artwork를 이용하여 해상도, 세선밀착력, 1/1(Line/Space)해상도를 측정하여 회로물성을 평가하였다. The Kolon Test Artwork was used to evaluate the circuit properties by measuring the resolution, thin line adhesion, and 1/1 (Line / Space) resolution.

본 실험에서 해상도는 미노광부위가 현상될 때 얼마나 작은 선폭까지 현상되었는지 정도를 측정한 값으로 이 값이 작을수록 해상도가 높으며, 측정된 해상도의 측정에 사용된 마스크는 4㎛~20㎛까지 0.5㎛의 간격으로 형성되어 있으며 구현하고자 하는 값의 해상도에 간격 400㎛로 만들어진 마스크를 사용한다. 세선밀착력 값은 노광부위가 현상 후 얼마나 작은 선폭까지 침식을 받지 않고 직선의 회로를 형성하는가를 측정한 값으로 이 값이 작을수록 세선밀착력 값이 좋으며, 측정된 세선밀착력 값의 측정에 사용된 마스크는 4㎛~20㎛까지 0.5㎛의 간격으로 형성되어 있으며 구현하고자 하는 값의 세선밀착력 값에 간격 400㎛로 만들어진 마스크를 사용한다. 또한 1/1 해상도는 회로라인과 회로라인 사이의 간격을 1:1로 하여 깨끗하게 현상된 최소 선폭을 측정한 값을 나타낸다.In this experiment, the resolution is a measure of how small the line width was developed when the unexposed areas were developed. The smaller this value, the higher the resolution.The mask used for measuring the measured resolution was 0.5 to 4㎛ ~ 20㎛. The mask is formed at intervals of 탆 and a mask made of a thickness of 400 탆 is used for the resolution of the value to be realized. The thin line adhesion value is a measure of how small the line width after exposure is formed to form a straight line circuit without being eroded. The smaller the value, the better the fine line adhesion value, and the mask used for measuring the measured thin line adhesion value. Is formed at intervals of 0.5㎛ from 4㎛ ~ 20㎛ and using a mask made of a 400㎛ spacing to the thin line adhesion value of the value to be implemented. In addition, 1/1 resolution represents the value of the cleanest developed minimum line width with a distance of 1: 1 between the circuit line and the circuit line.

(7) 표면 분석(7) surface analysis

실시예 1 및 비교예 1의 필름형 감광성 전사재료를 적용한 인쇄회로기판을 상기와 같이 노광 및 현상공정을 거친 뒤, 표면을 전자현미경으로 촬영하여 각각 도 4 및 도 5에 나타내었다.After the printed circuit board to which the film-type photosensitive transfer material of Example 1 and Comparative Example 1 was applied was subjected to the exposure and development processes as described above, the surface of the printed circuit board was photographed with an electron microscope and shown in FIGS. 4 and 5, respectively.


현상시간Developing time 노광 조건Exposure conditions 회로 물성Circuit properties
최소
현상시간
(sec)
at least
Developing time
(sec)
실제
현상시간
(sec)
real
Developing time
(sec)
노광
에너지
(mJ/㎠)
Exposure
energy
(mJ / ㎠)
감도
(sst/21sst)
Sensitivity
(sst / 21sst)
해상도
(㎛)
resolution
(Μm)
세선밀착력
(㎛)
Fine wire adhesion
(Μm)
1/1 해상도
(㎛)
1/1 resolution
(Μm)
실시예 1

Example 1

10

10

18

18

5050 5/215/21 77 1313 99
6060 6/216/21 99 1111 99 8080 7/217/21 99 88 99 실시예 2

Example 2

11

11

19

19

5050 5/215/21 77 1313 99
6060 6/216/21 99 1111 99 8080 7/217/21 1010 99 1010 실시예 3

Example 3

8.5

8.5

16.5

16.5

5050 5/215/21 77 1313 99
6060 6/216/21 88 1111 99 8080 7/217/21 99 88 99 실시예 4

Example 4

10

10

18

18

5050 5/215/21 77 1313 99
6060 6/216/21 99 1111 99 8080 7/217/21 99 88 99 비교예 1
Comparative Example 1
8

8

16

16

5050 5/215/21 88 1313 1010
6060 6/216/21 1111 1313 1111 8080 7/217/21 1313 88 1313

상기 측정 결과, 같은 단수를 구현하기 위해 필요한 노광량은 실시예와 비교예의 차이가 거의 없었으며, 회로물성 측정 결과는 실시예의 경우 해상도를 비롯하여 더욱 우수한 결과를 나타냄을 알 수 있다.As a result of the measurement, the amount of exposure required to implement the same number of steps was almost no difference between the embodiment and the comparative example, the circuit property measurement results, it can be seen that the result of the embodiment, even better results, including the resolution.

한편 본 발명의 수지 보호층을 포함한 필름형 감광성 전사재료의 경우 수지보호층 현상시간이 수지보호층 두께 1㎛당 0.5~3초 정도인 것을 알 수 있다.On the other hand, in the case of the film-type photosensitive transfer material including the resin protective layer of the present invention, it can be seen that the developing time of the resin protective layer is about 0.5 to 3 seconds per 1 μm of the thickness of the resin protective layer.

또한 도 4 및 도 5의 전자현미경 사진을 통한 표면 관찰 결과, 실시예 1에 의한 필름형 감광성 전사재료를 적용한 인쇄회로기판 표면 사진인 도 4의 경우, 비교예 1을 적용한 도 5보다 배율이 큼에도 불구하고 측면 및 표면의 요철이 적게 보이는 것을 볼 수 있다. 따라서 본 발명의 필름형 감광성 전사재료를 적용한 경우, 노광시 취급이 용이할 뿐만 아니라 해상도가 향상되는 것을 알 수 있다.In addition, as a result of surface observation through the electron micrographs of FIGS. 4 and 5, in the case of FIG. 4, which is a surface photograph of the printed circuit board to which the film-type photosensitive transfer material according to Example 1 is applied, the magnification is larger than that of FIG. 5 to which Comparative Example 1 is applied. Nevertheless, it can be seen that the irregularities of the side and the surface are less visible. Therefore, when the film-type photosensitive transfer material of this invention is applied, it turns out that not only handling is easy at the time of exposure, but resolution is improved.

<실시예 5>Example 5

(a) PVA205(KURARAY사, 일본) 20g을 증류수 100g에 넣고 80℃에서 6시간 교반하여 완전히 녹여 수지보호층용 조성물을 얻고, 이를 두께 19㎛ 베이스 필름(실리콘 이형처리된 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, CY201-19㎛, KOLON) 위에 코팅 바를 이용하여 코팅하고 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 10분간 건조하여 두께 2㎛의 수지 보호층을 형성하였다.(a) 20 g of PVA205 (KURARAY Co., Japan) was added to 100 g of distilled water and stirred at 80 ° C. for 6 hours to completely dissolve to obtain a composition for the resin protective layer. 19 μm, KOLON) was coated using a coating bar and dried at 80 ° C. for 10 minutes using a hot air oven to form a resin protective layer having a thickness of 2 μm.

(c) UH-9200 series(Kolon)에 사용된 조성 및 함량으로 감광성 수지 조성물을 제조하였다. 구체적으로는, 광개시제류를 용매인 메틸에틸케톤과 메틸알코올에 녹인 후, 광중합성 올리고머류와 바인더 폴리머를 첨가하여 Mechanical Stirrer를 이용하여 1시간 동안 혼합하여 감광성 수지 조성물을 제조하였다.(c) A photosensitive resin composition was prepared in the composition and content used for UH-9200 series (Kolon). Specifically, the photoinitiators were dissolved in methyl ethyl ketone and methyl alcohol as solvents, and then photopolymerizable oligomers and binder polymers were added and mixed for 1 hour using a mechanical stirrer to prepare a photosensitive resin composition.

(d) 상기 감광성 수지 조성물을 19㎛ 두께의 보호필름(실리콘 이형처리된 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, CY201-19㎛, KOLON) 상에 코팅 바를 이용하여 코팅한 뒤 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 6분간 건조하여 두께 15㎛의 감광성 수지층을 형성하였다.(d) coating the photosensitive resin composition on a 19 μm thick protective film (silicone release-treated polyethylene terephthalate film, CY201-19 μm, KOLON) using a coating bar and then using a hot air oven for 6 minutes at 80 ° C. It dried and the 15-micrometer-thick photosensitive resin layer was formed.

(e) 건조가 완료된 (d) 필름의 감광성 수지층과 상기 (b)의 수지 보호층이 접하도록 50℃에서 압력 4kgf/㎠로 라미네이션하여 도 1과 같은 형태의 두께 55㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. (e) film-type photosensitive transfer having a thickness of 55 μm in the form as shown in FIG. 1 by laminating at a pressure of 4 kgf / cm 2 at 50 ° C. such that the dried photosensitive resin layer of the film (d) and the resin protective layer of (b) contact each other. The material was prepared.

<실시예 6><Example 6>

(a) PVA205(KURARAY사, 일본)20g 및 BYK-349(wetting제, BYK Chemie)0.5g을 증류수 100g에 넣고 80℃에서 6시간 교반하여 완전히 녹여 수지보호층용 조성물을 얻고, 이를 두께 19㎛ 베이스 필름(폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 상품명 FDFR-19, KOLON) 위에 코팅 바를 이용하여 코팅하고 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 10분간 건조하여 두께 2㎛의 수지 보호층을 형성하였다.(a) 20 g of PVA205 (KURARAY, Japan) and 0.5 g of BYK-349 (wetting agent, BYK Chemie) were added to 100 g of distilled water and stirred at 80 ° C. for 6 hours to completely dissolve to obtain a composition for a resin protective layer. A film was coated on a film (polyethylene terephthalate film, trade name FDFR-19, KOLON) using a coating bar, and dried at 80 ° C. for 10 minutes using a hot air oven to form a resin protective layer having a thickness of 2 μm.

(c) UH-9200 series(Kolon)에 사용된 조성 및 함량으로 감광성 수지 조성물을 제조하였다. 구체적으로는, 광개시제류를 용매인 메틸에틸케톤과 메틸알코올에 녹인 후, 광중합성 올리고머류와 바인더 폴리머를 첨가하여 Mechanical Stirrer를 이용하여 1시간 동안 혼합하여 감광성 수지 조성물을 제조하였다.(c) A photosensitive resin composition was prepared in the composition and content used for UH-9200 series (Kolon). Specifically, the photoinitiators were dissolved in methyl ethyl ketone and methyl alcohol as solvents, and then photopolymerizable oligomers and binder polymers were added and mixed for 1 hour using a mechanical stirrer to prepare a photosensitive resin composition.

(d) 상기 감광성 수지 조성물을 19㎛ 두께의 보호필름(실리콘 이형처리된 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, CY201-19㎛, KOLON) 상에 코팅 바를 이용하여 코팅한 뒤 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 6분간 건조하여 두께 15㎛의 감광성 수지층을 형성하였다.(d) coating the photosensitive resin composition on a 19 μm thick protective film (silicone release-treated polyethylene terephthalate film, CY201-19 μm, KOLON) using a coating bar and then using a hot air oven for 6 minutes at 80 ° C. It dried and the 15-micrometer-thick photosensitive resin layer was formed.

(e) 건조가 완료된 (d)의 필름의 감광성 수지층과 상기 (b)의 수지 보호층이 접하도록 50℃에서 압력 4kgf/㎠로 라미네이션하여 도 1과 같은 형태의 두께 55㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. (e) film-type photosensitive film having a thickness of 55 μm in the form as shown in FIG. 1 by laminating at a pressure of 4 kgf / cm 2 at 50 ° C. such that the dried photosensitive resin layer of the film of (d) and the resin protective layer of (b) are in contact with each other. A transfer material was prepared.

<실시예 7><Example 7>

(a) PVA205(KURARAY사, 일본) 20g을 증류수 100g에 넣고 80℃에서 6시간 교반하여 완전히 녹여 수지보호층용 조성물을 얻고, 이를 두께 19㎛ 베이스 필름(실리콘 이형처리된 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, CY201-19㎛, KOLON) 위에 코팅 바를 이용하여 코팅하고 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 10분간 건조하여 두께 10㎛의 수지 보호층을 형성하였다.(a) 20 g of PVA205 (KURARAY Co., Japan) was added to 100 g of distilled water and stirred at 80 ° C. for 6 hours to completely dissolve to obtain a composition for the resin protective layer. 19 μm, KOLON) was coated using a coating bar and dried at 80 ° C. for 10 minutes using a hot air oven to form a resin protective layer having a thickness of 10 μm.

(c) UH-9200 series(Kolon)에 사용된 조성 및 함량으로 감광성 수지 조성물을 제조하였다. 구체적으로는, 광개시제류를 용매인 메틸에틸케톤과 메틸알코올에 녹인 후, 광중합성 올리고머류와 바인더 폴리머를 첨가하여 Mechanical Stirrer를 이용하여 1시간 동안 혼합하여 감광성 수지 조성물을 제조하였다.(c) A photosensitive resin composition was prepared in the composition and content used for UH-9200 series (Kolon). Specifically, the photoinitiators were dissolved in methyl ethyl ketone and methyl alcohol as solvents, and then photopolymerizable oligomers and binder polymers were added and mixed for 1 hour using a mechanical stirrer to prepare a photosensitive resin composition.

(d) 상기 감광성 수지 조성물을 19㎛ 두께의 보호필름(실리콘 이형처리된 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, CY201-19㎛, KOLON) 상에 코팅 바를 이용하여 코팅한 뒤 열풍오븐을 이용하여 80℃에서 6분간 건조하여 두께 15㎛의 감광성 수지층을 형성하였다.(d) coating the photosensitive resin composition on a 19 μm thick protective film (silicone release-treated polyethylene terephthalate film, CY201-19 μm, KOLON) using a coating bar and then using a hot air oven for 6 minutes at 80 ° C. It dried and the 15-micrometer-thick photosensitive resin layer was formed.

(e) 건조가 완료된 (d) 필름의 감광성 수지층과 상기 (b)의 수지 보호층이 접하도록 50℃에서 압력 4kgf/㎠로 라미네이션하여 도 1과 같은 형태의 두께 63㎛의 필름형 감광성 전사재료를 제조하였다. (e) film-type photosensitive transfer having a thickness of 63 μm in the form as shown in FIG. The material was prepared.

상기 실시예 5 내지 7에 의하여 제조된 필름형 감광성 전사재료의 이형력, 수지 보호층의 점착력, MEK 용해도 및 점착력 변화율을 다음과 같이 측정하였으며 그 결과는 표 3과 같다. The release force, the adhesive force of the resin protective layer, the MEK solubility, and the adhesive force change rate of the film-type photosensitive transfer material prepared in Examples 5 to 7 were measured as follows, and the results are shown in Table 3 below.

(1) 이형력(1) release force

<보호필름><Protective Film>

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호필름을 이형시키면서 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 만능시험기(UTM, 4303 series, Instron사)를 사용하여 측정하였다.Using the universal testing machine (UTM, 4303 series, Instron Co., Ltd.), the force per unit area required to release the protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm from 5 cm to 8 cm from the starting point. It was measured by.

<베이스 필름><Base film>

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호필름을 제거한 뒤 110℃에서 속도 2m/min, 압력 4㎏f/㎠ 으로 동장적층판에 라미네이션하였다. 이후 베이스 필름을 이형시키면서 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하였다.After removing the protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen of 3cm in width, 20cm in length, it was laminated on the copper clad laminate at 110 ° C. at a speed of 2 m / min and a pressure of 4 kgf / cm 2. Then, the force per unit area required for releasing the base film from 5 cm to 8 cm from the starting point while releasing the base film was measured using UTM (4303 series, Instron).

(2) 점착력(2) adhesion

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호 필름을 제거하여 동장적층판에 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후 베이스 필름을 제거하였다. 여기에 폭 4㎝, 길이 25㎝, 두께 19㎛의 PET 필름(FDFR, Kolon사 제조)을 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후, 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하였다. The protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm was removed, and the base film was removed after laminating the copper-clad laminate at 110 ° C. and 4 kgf / cm 2 at a speed of 2 m / min. After laminating a 4 cm wide, 25 cm long, 19 μm thick PET film (FDFR, manufactured by Kolon) at 110 ° C. and 4 kgf / cm 2 conditions at a rate of 2 m / min, the PET film began to be released. The force per unit area required to release from 5 cm to 8 cm from the starting point was measured using UTM (4303 series, Instron).

상기 PET필름의 라미네이션 할 때의 조건은 일반적인 노광 시의 마스크와 접착되는 조건과 동일하며 이때 측정된 점착력은 수지보호층과 PET 필름간의 점착력이다.The conditions for laminating the PET film are the same as the conditions for bonding with the mask during normal exposure, and the measured adhesive force is the adhesive force between the resin protective layer and the PET film.

(3) 수지 보호층의 점착력 변화율(3) Change rate of adhesion of resin protective layer

실시예 5 내지 7에 따른 필름형 전사재료에 대하여 다음과 같은 방법으로 제1점착력 및 제2점착력을 구하고, 다음 수학식 1을 이용하여 점착력 변화율을 산출하였다. For the film transfer material according to Examples 5 to 7, the first adhesive force and the second adhesive force were obtained by the following method, and the adhesive force change rate was calculated using the following equation (1).

수학식 1Equation 1

Figure 112008074044157-pat00004
Figure 112008074044157-pat00004

폭 3㎝, 길이 20㎝의 필름형 감광성 전사재료 시편의 보호 필름을 제거하여 동장적층판에 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후 베이스 필름을 제거하였다. 베이스 필름을 제거한 직후로, 여기에 폭 4㎝, 길이 25㎝, 두께 19㎛의 PET 필름(FDFR, Kolon사 제조)을 110℃, 4㎏f/㎠ 조건하에서 2m/min 속도로 라미네이션한 후, 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하여 이를 제1점착력으로 정의하였다. The protective film of the film-type photosensitive transfer material specimen having a width of 3 cm and a length of 20 cm was removed, and the base film was removed after laminating the copper-clad laminate at 110 ° C. and 4 kgf / cm 2 at a speed of 2 m / min. Immediately after removing the base film, the PET film (FDFR, manufactured by Kolon) having a width of 4 cm, a length of 25 cm, and a thickness of 19 μm was laminated at a speed of 2 m / min under conditions of 110 ° C and 4 kgf / cm 2, The force per unit area required for releasing the PET film and releasing from 5 cm to 8 cm from the starting point was measured using UTM (4303 series, Instron) and defined as the first adhesive force.

또한 동일한 방법으로 베이스 필름을 벗겨내고 온도 25℃, 습도 50% 조건 하에 240시간 방치한 후 상기한 방법으로 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 상기 PET 필름을 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요한 단위면적당 힘을 UTM(4303 series, Instron사)을 사용하여 측정하여 이를 제2점착력으로 정의하였다. In addition, the base film was peeled off in the same manner, and left for 24 hours under a temperature of 25 ° C. and a humidity of 50%. Then, a separate PET film was laminated on the resin protective layer by the above-described method, and then the mold film was released. The force per unit area required for releasing from 5 cm to 8 cm was measured using UTM (4303 series, Instron) and defined as the second adhesive force.

(4) 수지 보호층의 메틸에틸케톤에 대한 용해도(4) Solubility in methyl ethyl ketone of the resin protective layer

수지보호층의 메틸에틸케톤에 대한 용해도는 메틸에틸케톤 100g에 수지보호층 50g을 넣고 25℃에서 1시간 동안 교반 후 거름종이로 여과한 다음 거름종이에 남은 수지보호층의 무게를 측정하였다. 용해도는 수지보호층 무게의 감소량으로 정의된다.The solubility of the resin protective layer in methyl ethyl ketone was 50 g of the resin protective layer in 100 g of methyl ethyl ketone, stirred at 25 ° C. for 1 hour, filtered through a filter paper, and the weight of the resin protective layer remaining on the filter paper was measured. Solubility is defined as the amount of reduction in the weight of the resin protective layer.


이형력(kgf/㎠)Release force (kgf / ㎠) 점착력(kgf/㎠)Adhesion (kgf / ㎠) 점착력변화율(%)Adhesive force change rate (%) 수지 보호층의 MEK에 대한 용해도(g)Solubility in MEK of the resin protective layer (g)
보호 필름Protective film 베이스 필름Base film PET 필름(마스크)PET film (mask) 실시예 5Example 5 0.00480.0048 0.00500.0050 0.00010.0001 1010 0.10.1 실시예 6Example 6 0.00480.0048 0.00570.0057 0.00010.0001 1010 0.10.1 실시예 7Example 7 0.00480.0048 0.00500.0050 0.00010.0001 1010 0.10.1

상기 측정 결과, 감광성 수지층과 보호필름간의 이형력 및 수지보호층과 베이스필름간의 이형력이 작업성을 저해하지 않는 범위에 있는 것을 알 수 있으며, 수지 보호층은 마스크용 PET와의 점착력이 낮음을 알 수 있다. 이로써 실시예의 수지 보호층과 노광 조건에서 일반적으로 사용되는 마스크 재질간의 점착력이 매우 낮은 것을 알 수 있으며 따라서 노광시 취급이 용이함을 알 수 있다.As a result of the measurement, it can be seen that the release force between the photosensitive resin layer and the protective film and the release force between the resin protective layer and the base film are in a range that does not impair workability, and the resin protective layer has low adhesive force with the PET for mask. Able to know. As a result, it can be seen that the adhesive force between the resin protective layer of the embodiment and the mask material generally used under the exposure conditions is very low, and thus, the handling is easy during exposure.

또한 수지 보호층은 MEK 용해도가 5g 이하로 낮은바, 이로써 장기간 필름형 감광성 수지를 보관 및 유통함에 있어서 감광성 수지층과 수지 보호층간의 성분의 확산(diffusion)을 방지할 수 있는 측면에서 폴리비닐알코올계 수지층이 수지 보호층으로 최적한 것임을 알 수 있다. In addition, the resin protective layer has a low solubility of MEK of less than 5 g. Thus, polyvinyl alcohol is prevented from diffusing components between the photosensitive resin layer and the resin protective layer in the storage and distribution of the film-type photosensitive resin for a long time. It turns out that a system resin layer is optimal as a resin protective layer.

또한 수지 보호층은 점착력 변화율이 5000% 이하로 낮은바, 이로써 필름형 감광성 전사재료를 이용한 후공정에 있어서 베이스 필름 제거 이후 일정 시간이 소요되더라도 흡습에 의해 마스크와의 점착이 일어나는 등의 문제를 방지할 수 있음을 알 수 있다.In addition, the resin protective layer has a low adhesive force change rate of 5000% or less, thereby preventing problems such as adhesion with a mask due to moisture absorption even if a certain time is required after removing the base film in a post-process using a film-type photosensitive transfer material. It can be seen that.

이후 상기 실시예 및 비교예에서 제조된 필름형 감광성 전사재료를 다음과 같은 방법으로 인쇄회로기판에 형성하였으며 다음과 같이 물성평가를 실시하여 그 결과를 다음 표 4에 나타내었다. Thereafter, the film-type photosensitive transfer material prepared in Examples and Comparative Examples was formed on the printed circuit board by the following method, and the physical properties were evaluated as follows, and the results are shown in Table 4 below.

동장적층판(CCL)에 브러시 전처리기를 사용하여 새로운 동면을 형성하고 적절한 표면조도를 형성한다. 이후 5% 황산용액에서 산처리 후 수세, 건조를 하여 라미네이터에 투입하였다. 라미네이터는 Hakuto Mach 610i를 사용하였으며 110℃에서 압력 4㎏f/㎠, 속도 2m/min로 실시예 및 비교예에서 제조된 필름형 감광성 전사재료를 동장적층판에 라미네이션하였으며, 이때 예열은 실시하지 않았다. 이후 UV 노광기(Perkin Elmer OB-7120, 5KW 평행광)로 조사하여 노광을 실시하였다. 노광을 마친 인쇄회로기판을 현상기를 통과시켜 현상하였다.A brush preprocessor is used for the copper clad laminate (CCL) to form new copper surfaces and to form the appropriate surface finish. After acid treatment in 5% sulfuric acid solution, washed with water, dried and added to the laminator. As a laminator, Hakuto Mach 610i was used, and the film-type photosensitive transfer material prepared in Examples and Comparative Examples was laminated on a copper clad laminate at 110 ° C. at a pressure of 4 kgf / cm 2 and a speed of 2 m / min. At this time, no preheating was performed. Then, the exposure was performed by irradiating with a UV exposure machine (Perkin Elmer OB-7120, 5KW parallel light). After the exposure, the printed circuit board was developed by passing through a developer.

이때 노광공정 전에 베이스 필름을 벗겨내었다.At this time, the base film was peeled off before the exposure step.

(5) 감도와 노광량(5) sensitivity and exposure dose

노광시 보호층 상에 감도기(21단 Stouffer Step Tablet)를 위치시킨 후, 감도 5단, 6단, 7단을 얻기 위한 노광량을 광량계(UV-351, ORC사 제조)를 사용하여 측정하였으며, 그 값은 표 1과 같다. 이때 감도는 현상 후 기판에 남아있는 감광성 레지스트의 최대 단위 개수로 평가하였다. After exposing the sensitizer (21-stage Stouffer Step Tablet) on the protective layer at the time of exposure, the exposure amount for obtaining the 5-stage, 6-stage, and 7-stage sensitivity was measured using a photometer (UV-351, manufactured by ORC). And the values are shown in Table 1. At this time, the sensitivity was evaluated by the maximum number of units of the photosensitive resist remaining on the substrate after development.

(6) 현상시간(6) Developing time

현상시간은 상기 동박적층판에 라미네이션을 마친 인쇄회로기판을 현상기를 통과시켜 라미네이션 된 부위가 현상액에 완전히 씻겨서 제거되는 시간을 최소현상시간으로 측정하였으며, 실제현상시간은 최소현상시간의 두 배의 시간으로 산정하였다. 이때 실제 현상시간은 최소현상시간에 수지보호층이 현상되는 시간을 최소현상시간에 더한 시간으로 계산하였다. The development time was measured by passing the printed circuit board after the lamination on the copper-clad laminate through a developing device as the minimum development time and the time at which the laminated part was completely washed by the developer solution, and the actual development time was twice the minimum development time. Calculated as In this case, the actual development time was calculated by adding the minimum development time to the minimum development time.

(7) 회로물성: 해상도, 세선밀착력, 1/1(Line/Space)해상도(7) Circuit Properties: Resolution, Fine Line Adhesion, 1/1 (Line / Space) Resolution

Kolon Test Artwork를 이용하여 해상도, 세선밀착력, 1/1(Line/Space)해상도를 측정하여 회로물성을 평가하였다. The Kolon Test Artwork was used to evaluate the circuit properties by measuring the resolution, thin line adhesion, and 1/1 (Line / Space) resolution.

본 실험에서 해상도는 미노광부위가 현상될 때 얼마나 작은 선폭까지 현상되었는지 정도를 측정한 값으로 이 값이 작을수록 해상도가 높으며, 측정된 해상도의 측정에 사용된 마스크는 4㎛~20㎛까지 0.5㎛의 간격으로 형성되어 있으며 구현하고자 하는 값의 해상도에 간격 400㎛로 만들어진 마스크를 사용한다. 세선밀착력 값은 노광부위가 현상 후 얼마나 작은 선폭까지 침식을 받지 않고 직선의 회로를 형성하는가를 측정한 값으로 이 값이 작을수록 세선밀착력 값이 좋으며, 측정된 세선밀착력 값의 측정에 사용된 마스크는 4㎛~20㎛까지 0.5㎛의 간격으로 형성되어 있으며 구현하고자 하는 값의 세선밀착력 값에 간격 400㎛로 만들어진 마스크를 사용한다. 또한 1/1 해상도는 회로라인과 회로라인 사이의 간격을 1:1로 하여 깨끗하게 현상된 최소 선폭을 측정한 값을 나타낸다.In this experiment, the resolution is a measure of how small the line width was developed when the unexposed areas were developed. The smaller this value, the higher the resolution.The mask used for measuring the measured resolution was 0.5 to 4㎛ ~ 20㎛. The mask is formed at intervals of 탆 and a mask made of a thickness of 400 탆 is used for the resolution of the value to be realized. The thin line adhesion value is a measure of how small the line width after exposure is formed to form a straight line circuit without being eroded. The smaller the value, the better the fine line adhesion value, and the mask used for measuring the measured thin line adhesion value. Is formed at intervals of 0.5㎛ from 4㎛ ~ 20㎛ and using a mask made of a 400㎛ spacing to the thin line adhesion value of the value to be implemented. In addition, 1/1 resolution represents the value of the cleanest developed minimum line width with a distance of 1: 1 between the circuit line and the circuit line.

(6) 표면 분석(6) surface analysis

실시예 5 내지 7의 필름형 감광성 전사재료를 적용한 인쇄회로기판을 상기와 같이 노광 및 현상공정을 거친 뒤, 표면을 전자현미경으로 촬영하여 각각 도 6 내지 도 8에 나타내었다.The printed circuit boards to which the film-type photosensitive transfer materials of Examples 5 to 7 were subjected to the exposure and development processes as described above, and the surfaces thereof were photographed by electron microscopy, and are shown in FIGS. 6 to 8, respectively.


현상시간Developing time 노광 조건Exposure conditions 회로 물성Circuit properties
최소
현상시간
(sec)
at least
Developing time
(sec)
실제
현상시간
(sec)
real
Developing time
(sec)
노광
에너지
(mJ/㎠)
Exposure
energy
(mJ / ㎠)
감도
(sst/21sst)
Sensitivity
(sst / 21sst)
해상도
(㎛)
resolution
(Μm)
세선밀착력
(㎛)
Fine wire adhesion
(Μm)
1/1 해상도
(㎛)
1/1 resolution
(Μm)
실시예 5
Example 5
99 1717 5050 5/215/21 77 1313 99
6060 6/216/21 99 1111 99 8080 7/217/21 99 88 99 실시예 6
Example 6
99 1717 5050 5/215/21 77 1313 99
6060 6/216/21 99 1111 99 8080 7/217/21 99 88 99 실시예 7
Example 7
1313 2121 5050 5/215/21 88 1313 99
6060 6/216/21 99 1111 99 8080 7/217/21 1010 88 1010

상기 측정 결과, 같은 단수를 구현하기 위해 필요한 노광량은 실시예와 비교예의 차이가 거의 없었으며, 회로물성 측정 결과는 실시예의 경우 해상도를 비롯하여 더욱 우수한 결과를 나타냄을 알 수 있다.As a result of the measurement, the amount of exposure required to implement the same number of steps was almost no difference between the embodiment and the comparative example, the circuit property measurement results, it can be seen that the result of the embodiment, even better results, including the resolution.

한편 본 발명의 수지 보호층을 포함한 필름형 감광성 전사재료의 경우 수지보호층의 두께 1㎛당 현상시간이 0.5~3초 정도인 것을 알 수 있다.On the other hand, in the case of the film-type photosensitive transfer material including the resin protective layer of the present invention, it can be seen that the developing time per 1 μm of the thickness of the resin protective layer is about 0.5 to 3 seconds.

또한 도 6 내지 도 8의 전자현미경 사진을 통한 표면 관찰 결과, 실시예 5 내지 실시예 6에 의한 필름형 감광성 전사재료를 적용한 인쇄회로기판 표면 사진인 도 6 내지 도 8의 경우, 비교예 1을 적용한 도 5보다 배율이 큼에도 불구하고 측면 및 표면의 요철이 적게 보이는 것을 볼 수 있다. 따라서 본 발명의 필름형 감광성 전사재료를 적용한 경우, 노광시 취급이 용이할 뿐만 아니라 해상도가 향상되는 것을 알 수 있다.In addition, as a result of surface observation through the electron micrographs of FIGS. 6 to 8, Comparative Example 1 of FIG. 6 to FIG. Although the magnification is larger than that of FIG. Therefore, when the film-type photosensitive transfer material of this invention is applied, it turns out that not only handling is easy at the time of exposure, but resolution is improved.

도 1은 본 발명에 따른 바람직한 형태의 필름형 감광성 전사재료의 적층구조 단면, 1 is a cross-sectional view of a laminated structure of a film-type photosensitive transfer material of a preferred form according to the present invention,

도 2는 본 발명의 필름형 감광성 전사재료가 적용된 표시 소자용 기판의 노광시 단면,2 is a cross-sectional view during exposure of a substrate for a display element to which a film-type photosensitive transfer material of the present invention is applied;

도 3은 일반적인 3층 적층구조의 필름형 감광성 전사재료가 적용된 표시 소자용 기판의 노광시 단면,3 is a cross-sectional view during exposure of a substrate for a display device to which a film type photosensitive transfer material of a general three-layer laminated structure is applied;

도 4는 본 발명의 실시예에서 제조된 현상 공정 후의 인쇄회로기판의 표면을 800배로 확대하여 촬영한 전자현미경 사진, 4 is an electron micrograph taken at 800 times magnification of the surface of a printed circuit board after the development process manufactured in the embodiment of the present invention;

도 5는 비교예에서 제조된 현상 공정 후의 인쇄회로기판의 표면을 600배로 확대하여 촬영한 전자현미경 사진이다.5 is an electron micrograph taken at 600 times magnification of the surface of a printed circuit board after the developing process manufactured in Comparative Example.

도 6 내지 8은 본 발명의 실시예 5 내지 7에서 제조된 현상 공정 후의 인쇄회로기판의 표면을 확대하여 촬영한 전자현미경 사진(각각 1500배, 2000배, 2500배)이다. 6 to 8 is an electron micrograph (1500 times, 2000 times, 2500 times, respectively) photographed by enlarging the surface of the printed circuit board after the developing process prepared in Examples 5 to 7 of the present invention.

*도면 주요부호의 상세한 설명* Detailed description of the main symbols in the drawing

10 : 보호 필름(cover film)10: cover film

20 : 감광성 수지층20: photosensitive resin layer

30 : 수지 보호층30: resin protective layer

40 : 베이스 필름40: base film

50 : 동장적층판(FCCL)50: copper clad laminate (FCCL)

60 : 마스크60 mask

Claims (12)

베이스 필름, 수지 보호층, 감광성 수지층 및 보호필름을 포함하며;A base film, a resin protective layer, a photosensitive resin layer, and a protective film; 수지 보호층은, 베이스 필름을 벗겨내고 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는 데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의되는 점착력이 0.005kgf/㎠ 이하이고,The resin protective layer is defined as the force per unit area required to peel off the base film, laminate a separate PET film on the resin protective layer, and then begin to release it to release from 5 cm to 8 cm from the starting point. Adhesive strength is 0.005kgf / cm 2 or less, 상기 수지 보호층은 알칼리 현상 가능형 고분자층이고, 중량평균 분자량이 5,000~300,000인 수용성 고분자를 포함하는 코팅액으로부터 형성되고,The resin protective layer is an alkali developable polymer layer, and is formed from a coating liquid containing a water-soluble polymer having a weight average molecular weight of 5,000 to 300,000, 상기 수지 보호층은 다음과 같이 정의되는 25℃에서 메틸에틸케톤 용액에 대한 용해도가 5g 이하인 것을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료.The resin protective layer is a film-type photosensitive transfer material, characterized in that the solubility in the methyl ethyl ketone solution at 25 ℃ defined as follows 5g or less. 용해도 : 메틸에틸케톤 100g에 수지보호층 50g을 넣고 25℃에서 1시간 동안 교반 후 거름종이로 여과한 다음 거름종이에 남은 수지보호층의 무게를 측정하여, 수지 보호층 무게의 감소량으로 정의.Solubility: Add 50 g of resin protective layer to 100 g of methyl ethyl ketone, stir at 25 ° C. for 1 hour, filter with filter paper, and measure the weight of the resin protective layer remaining on the filter paper. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서, 보호필름과 감광성 수지층과의 이형력이 베이스 필름과 수지 보호층과의 이형력보다 작은 것을 특징으로 하는 감광성 전사재료. The photosensitive transfer material according to claim 1, wherein the release force between the protective film and the photosensitive resin layer is smaller than the release force between the base film and the resin protective layer. 제 1 항에 있어서, 수지 보호층은 두께가 0.001~10㎛ 인 것임을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료.The film type photosensitive transfer material according to claim 1, wherein the resin protective layer has a thickness of 0.001 to 10 µm. 제 1 항에 있어서, 수지 보호층은 다음 수학식 1로 표시되는 점착력 변화율이 5000% 이하인 것을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료. The film-type photosensitive transfer material according to claim 1, wherein the resin protective layer has a change in adhesion force of 5000% or less represented by the following formula (1). 수학식 1Equation 1
Figure 112008074044157-pat00005
Figure 112008074044157-pat00005
상기 식에서, 제1점착력은 베이스 필름을 벗겨낸 직후 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의되고, 제2점착력은 베이스 필름을 벗겨내고 온도 25C, 습도 50% 조건 하에 240시간 방치한 후 별도의 PET 필름을 수지보호층 상에 라미네이션 한 다음 이를 이형시키기 시작하여 시작점에서 5㎝ 지점부터 8㎝ 지점까지 이형시키는데 필요로 하는 단위면적당 힘으로 정의된다. In the above formula, the first adhesive force is the force per unit area required to release a separate PET film on the resin protective layer immediately after peeling off the base film, and then start to release the mold from 5 cm to 8 cm from the starting point. Defined, the second adhesive force is peeled off the base film and left for 240 hours at a temperature of 25C, 50% humidity conditions, then laminating a separate PET film on the resin protective layer and starting to release it, starting from 5 cm from the starting point 8 It is defined as the force per unit area required to release to the point cm.
제 1 항 또는 제 7 항에 있어서, 수지 보호층은 폴리비닐알코올계 수지층인 것임을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료. The film type photosensitive transfer material according to claim 1 or 7, wherein the resin protective layer is a polyvinyl alcohol-based resin layer. 제 8 항에 있어서, 수지 보호층은 습윤제(wetting agent), 레벨링제(leveling agent), 소포제, 접착제 및 점착제 중에서 선택되는 적어도 1종 이상의 첨가제를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료. The film type photosensitive transfer material according to claim 8, wherein the resin protective layer comprises at least one additive selected from a wetting agent, a leveling agent, an antifoaming agent, an adhesive, and an adhesive. 제 1 항에 있어서, 보호필름은 이형층을 갖거나 갖지 않는 폴리에스테르계 필름인 것을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료. The film-type photosensitive transfer material according to claim 1, wherein the protective film is a polyester film with or without a release layer. 제 1 항 또는 제 10 항에 있어서, 베이스 필름은 이형층을 갖거나 갖지 않는 폴리에스테르계 필름인 것을 특징으로 하는 필름형 감광성 전사재료. The film-type photosensitive transfer material according to claim 1 or 10, wherein the base film is a polyester film with or without a release layer. 제 1 항의 필름형 감광성 전사재료를 이용하여 패턴을 형성한 표시 소자용 기판.The display element substrate which formed the pattern using the film type photosensitive transfer material of Claim 1.
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