JP6329499B2 - Etching protection resin composition and etching protection sheet - Google Patents

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Description

本発明は、エッチング保護用樹脂組成物及びエッチング保護シートに関する。   The present invention relates to a resin composition for etching protection and an etching protective sheet.

プリント配線板等の回路を形成する方法は、まず、前処理した基板上にレジストフイルムを形成し、次いでフォトマスクを介して回路パターンの露光を行い回路パターン状に硬化させた後、弱アルカリ水溶液であるアルカリ現像液を用いて未硬化部を現像し、基板上にレジストパターンを形成する。次いで、レジスト画像部以外の露出した金属層をエッチング液でエッチング除去した後、強アルカリ水溶液であるレジスト剥離液を用いてレジスト画像を除去することにより形成される。   A method of forming a circuit such as a printed wiring board is as follows. First, a resist film is formed on a pre-processed substrate, then the circuit pattern is exposed through a photomask and cured into a circuit pattern, and then a weak alkaline aqueous solution. The uncured portion is developed using an alkaline developer, and a resist pattern is formed on the substrate. Next, the exposed metal layer other than the resist image portion is etched away with an etching solution, and then the resist image is removed using a resist stripping solution that is a strong alkaline aqueous solution.

このようにして回路が形成されるプリント配線板は、基板の両面又は片面のみに回路を形成したものが多い。しかし、多層プリント配線板作製において、基板の片面(A面)に回路を形成し、もう一方の面(B面)には、ほぼ全面に金属層を残した、金属べた部を有するプリント配線板が要求される場合がある。この要求に対して、B面にレジストフイルムを貼り付け、全面露光して硬化させて、エッチングに耐えうるマスキング材を形成し、次に、A面にエッチングレジスト層を形成した後にエッチングを行って回路形成し、次いで、レジスト剥離工程で、A面のエッチングレジスト層と共にB面のマスキング材を剥離する作製方法が行われている。   Many of the printed wiring boards on which circuits are formed in this way have circuits formed on both sides or only one side of the substrate. However, in the production of a multilayer printed wiring board, a printed wiring board having a solid metal part in which a circuit is formed on one side (A side) of the substrate and a metal layer is left almost entirely on the other side (B side). May be required. In response to this requirement, a resist film is applied to the B surface, and the entire surface is exposed and cured to form a masking material that can withstand etching, and then an etching resist layer is formed on the A surface and then etched. A circuit is formed, and then, in a resist stripping step, a manufacturing method is performed in which the masking material on the B side is stripped together with the A-side etching resist layer.

また、例えば、リジッド−フレックス型のプリント配線板を製造する場合には、あらかじめ回路が形成されたフレキシブル回路基板にスクリーン印刷によってカバーレイを作製し、フレキシブル回路基板と層間接着シートとを積層した後、リジッド部に回路を形成する作製方法が行われている。リジッド部に再度回路を形成する際には、レジストフイルムの形成、パターン露光、アルカリ現像、エッチング、レジスト剥離工程が行われるため、回路が既に形成されているフレキシブル配線板上の回路部を保護する必要があり、保護すべき領域にエッチング液で剥がれないマスキングテープが貼り付けられる。   For example, when manufacturing a rigid-flex type printed wiring board, a coverlay is produced by screen printing on a flexible circuit board on which a circuit has been formed in advance, and the flexible circuit board and the interlayer adhesive sheet are laminated. A manufacturing method for forming a circuit in a rigid portion has been performed. When a circuit is formed again on the rigid portion, resist film formation, pattern exposure, alkali development, etching, and resist stripping steps are performed, so that the circuit portion on the flexible wiring board on which the circuit has already been formed is protected. A masking tape that is necessary and is not peeled off by the etching solution is applied to the area to be protected.

このように、金属べた部や回路部をエッチングによる腐食から保護する要求が、プリント配線板、リードフレーム、シャドウマスク等の金属部をエッチングして回路を形成する分野では多々あり、その要求に対して、硬化したレジストフイルムによるマスキング材やマスキングテープが使用されている。   In this way, there are many demands for protecting metal solid parts and circuit parts from corrosion caused by etching, in the field of forming circuits by etching metal parts such as printed wiring boards, lead frames, and shadow masks. Masking materials and masking tapes using hardened resist films are used.

しかしながら、硬化したレジストフイルムを使用する方法では、露光時に部分的に硬化不良になってピンホールが発生する問題、全面露光を行う手間の問題、レジストフイルムが光や熱の影響を受けるといったレジストフイルムの取り扱い性の問題があった。また、マスキングテープを使用する方法では、マスキングテープを剥がした後に粘着物が基板に残存する問題、マスキングテープを物理的に剥離する手間の問題があった。   However, in the method using a cured resist film, there is a problem that a pinhole is generated due to partial curing failure at the time of exposure, a trouble of performing entire exposure, and a resist film that is affected by light or heat. There was a problem of handling. Further, in the method using the masking tape, there are problems that the adhesive remains on the substrate after the masking tape is peeled off, and troubles in physically peeling the masking tape.

このような問題に対し、(C)レジスト除去液に溶解し且つ粘着性を有する層(未硬化のレジストフイルム、アクリル樹脂)上に、(A)エッチング液に溶解する層(金属層)と(B)レジスト除去液に溶解し且つアルカリ現像液に溶解しない層(硬化したレジストフイルム)の何れか1層が積層されてなるエッチング保護シートが開示されているが、硬化したレジストフイルムの作製には全面露光が必要であり、また、未硬化のレジストフイルムの取り扱い性にも問題があった(例えば、特許文献1参照)。   For such a problem, (A) a layer (metal layer) dissolved in an etching solution (A) on a layer (uncured resist film, acrylic resin) that is dissolved in the resist removal solution and has adhesiveness ( B) An etching protective sheet is disclosed in which any one of the layers (cured resist film) that dissolves in the resist removing solution and does not dissolve in the alkali developer is disclosed. For the production of a cured resist film, Full exposure is required, and there is also a problem in the handling of uncured resist films (see, for example, Patent Document 1).

特開2004−60030号公報JP 2004-60030 A

本発明の課題は、金属べた部や回路部がエッチングで腐食しないように保護することが可能で、全面露光の必要がなく、レジスト剥離で物理的剥離の手間を必要とせず、製造にも手間がかからないエッチング保護シートを提供するものである。   The problem of the present invention is that it is possible to protect the metal solid part and the circuit part so as not to be corroded by etching, and it is not necessary to expose the entire surface, and it is not necessary to physically remove the resist by removing the resist. The present invention provides an etching protective sheet that does not take up any damage.

上記課題を解決するために鋭意検討した結果、少なくとも(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂、及び(B)下記一般式(b1)と(b2)の群から選ばれる少なくとも1種の化合物を含有してなり、(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂がベンジルメタクリレート/メタクリル酸を質量比85/15〜90/10で共重合させた共重合樹脂であるエッチング保護用樹脂組成物と該エッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層を有するエッチング保護シートを見出した。 As a result of intensive studies to solve the above problems, it contains at least (A) an alkali-soluble resin containing a benzyl group, and (B) at least one compound selected from the group of the following general formulas (b1) and (b2) and Ri Na to, (a) an alkali-soluble resin of benzyl methacrylate / methacrylic acid weight ratio 85 / 15-90 / 10 in copolymerized was copolymerized resin der Ru etching protective resin composition and the containing benzyl An etching protective sheet having a layer containing a resin composition for etching protection was found.

Figure 0006329499
(式中mは、平均付加モル数であり、1〜10の数である)
Figure 0006329499
(Where m is the average number of moles added and is a number from 1 to 10)

Figure 0006329499
(式中nは、平均付加モル数であり、1〜10の数である)
Figure 0006329499
(Where n is the average number of moles added and is a number from 1 to 10)

本発明のエッチング保護用樹脂組成物及びエッチング保護シートは、プリント配線板、リードフレーム、シャドウマスク等の金属部をエッチングして回路形成する分野において、エッチングによる腐食から保護する必要のある金属べた部や回路部(以下、「保護部」と呼ぶ)を被覆するために使用される。そして、レジストフイルムの形成、パターン露光、アルカリ現像、エッチング等の工程が行われている間、保護部から剥がれず、エッチング液の浸透もなく、保護部の金属部をエッチング液から保護することができる。また、レジスト剥離工程において、レジスト剥離液によって保護部から剥がれるため、マスキングテープのように粘着物が残存することがないという利点がある。更に、レジストフイルムのように光や熱の影響を受けることが少なく、取り扱い性にも優れている。その上、全面露光等の硬化処理も必要としないため、手間もかからないという利点がある。   The resin composition for etching protection and the etching protective sheet of the present invention are metal solid parts that need to be protected from corrosion due to etching in the field of forming circuits by etching metal parts such as printed wiring boards, lead frames, and shadow masks. And a circuit part (hereinafter referred to as “protection part”). And while the steps of resist film formation, pattern exposure, alkali development, etching, etc. are performed, the protective part is not peeled off, the etchant does not penetrate, and the metal part of the protective part can be protected from the etchant. it can. Moreover, since it peels from a protection part with a resist peeling liquid in a resist peeling process, there exists an advantage that an adhesive substance does not remain like a masking tape. Furthermore, it is less affected by light and heat unlike a resist film, and is excellent in handling. In addition, since there is no need for a curing process such as full exposure, there is an advantage that it does not take time and effort.

以下、本発明のエッチング保護用樹脂組成物及びエッチング保護シートについて詳細に説明する。   Hereinafter, the resin composition for etching protection and the etching protective sheet of the present invention will be described in detail.

本発明のエッチング保護用樹脂組成物は、少なくとも(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂、及び(B)一般式(b1)と(b2)の群から選ばれる少なくとも1種の化合物を含有してなる。   The resin composition for etching protection of the present invention contains at least (A) an alkali-soluble resin containing a benzyl group, and (B) at least one compound selected from the group of the general formulas (b1) and (b2). Become.

(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂としては、ベンジル基とカルボキシル基を含有するアクリル樹脂等が挙げられる。つまり、エチレン性不飽和カルボン酸とベンジル(メタ)アクリレート等のベンジル基を有する(メタ)アクリレートとを少なくとも共重合させてなるアクリル系重合体等が挙げられる。その他の共重合可能なエチレン性不飽和基を有する単量体を共重合させてもよい。   (A) Examples of the alkali-soluble resin containing a benzyl group include acrylic resins containing a benzyl group and a carboxyl group. That is, an acrylic polymer obtained by copolymerizing at least an ethylenically unsaturated carboxylic acid and a (meth) acrylate having a benzyl group such as benzyl (meth) acrylate. Other monomers having a copolymerizable ethylenically unsaturated group may be copolymerized.

(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂に対して、ベンジル基を有する(メタ)アクリレートの含有量は、好ましくは50〜95質量%であり、より好ましくは80〜95質量%であり、更に好ましくは85〜90質量%である。該含有量が50質量%未満だと、アルカリ現像液に膨潤しやすくなる場合がある。また、該含有量が95質量%を超えると、レジスト剥離液で除去しにくくなる場合がある。   (A) The content of the (meth) acrylate having a benzyl group with respect to the alkali-soluble resin containing a benzyl group is preferably 50 to 95% by mass, more preferably 80 to 95% by mass, and still more preferably. Is 85-90 mass%. If the content is less than 50% by mass, the alkaline developer may easily swell. Moreover, when this content exceeds 95 mass%, it may become difficult to remove with a resist stripping solution.

上記エチレン性不飽和カルボン酸として、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸等のモノカルボン酸が好適に用いられ、マレイン酸、フマル酸、イタコン酸等のジカルボン酸や、それらの無水物やハーフエステルを用いることもできる。これらの中でも、アクリル酸、メタクリル酸が特に好ましい。   Monocarboxylic acids such as acrylic acid, methacrylic acid, and crotonic acid are preferably used as the ethylenically unsaturated carboxylic acid, and dicarboxylic acids such as maleic acid, fumaric acid, and itaconic acid, and anhydrides and half esters thereof. It can also be used. Among these, acrylic acid and methacrylic acid are particularly preferable.

(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂に対して、エチレン性不飽和カルボン酸の含有量は、好ましくは5〜35質量%であり、より好ましくは7〜20質量%であり、更に好ましくは10〜15質量%である。該含有量が5質量%未満だと、レジスト剥離液で除去しにくくなる場合がある。また、該含有量が35質量%を超えると、アルカリ現像液に膨潤しやすくなる場合がある。   (A) The content of the ethylenically unsaturated carboxylic acid with respect to the alkali-soluble resin containing a benzyl group is preferably 5 to 35% by mass, more preferably 7 to 20% by mass, and still more preferably 10%. ˜15 mass%. If the content is less than 5% by mass, it may be difficult to remove with a resist stripping solution. Moreover, when this content exceeds 35 mass%, it may become easy to swell to an alkali developing solution.

上記共重合可能なエチレン性不飽和基を有する単量体としては、例えば、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、n−プロピル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、n−ヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、グリシジル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、2−(ジメチルアミノ)エチル(メタ)アクリレート、2−(ジエチルアミノ)エチル(メタ)アクリレート、2,2,2−トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート、スチレン、α−メチルスチレン、p−メチルスチレン、p−エチルスチレン、p−メトキシスチレン、p−エトキシスチレン、p−クロロスチレン、p−ブロモスチレン、(メタ)アクリロニトリル、(メタ)アクリルアミド、ジアセトンアクリルアミド、ビニルトルエン、酢酸ビニル、ビニル−n−ブチルエーテル等が挙げられる。   Examples of the monomer having a copolymerizable ethylenically unsaturated group include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, n-butyl ( (Meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, n-hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, Glycidyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, 2- (dimethylamino) ethyl (meth) acrylate, 2- (diethylamino) ethyl (meth) acrylate, 2,2,2 Trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meth) acrylate, styrene, α-methylstyrene, p-methylstyrene, p-ethylstyrene, p-methoxystyrene, p-ethoxystyrene , P-chlorostyrene, p-bromostyrene, (meth) acrylonitrile, (meth) acrylamide, diacetone acrylamide, vinyl toluene, vinyl acetate, vinyl n-butyl ether and the like.

(A)アルカリ可溶性樹脂の酸価は、30〜150mgKOH/gであることが好ましく、50〜120mgKOH/gであることがより好ましい。酸価が30mgKOH/g未満では、レジスト剥離工程での剥離時間が長くなる場合がある。一方、酸価が150mgKOH/gを超えると、アルカリ現像工程でエッチング保護用樹脂組成物の寸法が変化して、保護部の金属部がエッチングされてしまう場合がある。   (A) The acid value of the alkali-soluble resin is preferably 30 to 150 mgKOH / g, and more preferably 50 to 120 mgKOH / g. When the acid value is less than 30 mgKOH / g, the stripping time in the resist stripping process may be long. On the other hand, when the acid value exceeds 150 mgKOH / g, the dimension of the resin composition for etching protection changes in the alkali development step, and the metal part of the protective part may be etched.

また、(A)アルカリ可溶性樹脂の質量平均分子量は、10,000〜200,000であることが好ましく、50,000〜150,000であることがより好ましい。質量平均分子量が10,000未満では、エッチング保護用樹脂組成物を被膜状態に保つのが困難になって、保護部の金属部がエッチングされてしまう場合がある。一方、質量平均分子量が200,000を超えると、レジスト剥離液に対する溶解性が悪化する場合がある。   The mass average molecular weight of the (A) alkali-soluble resin is preferably 10,000 to 200,000, and more preferably 50,000 to 150,000. If the mass average molecular weight is less than 10,000, it may be difficult to keep the etching protection resin composition in a film state, and the metal part of the protective part may be etched. On the other hand, when the mass average molecular weight exceeds 200,000, the solubility in the resist stripping solution may deteriorate.

本発明のエッチング保護用樹脂組成物は、一般式(b1)と(b2)の群から選ばれる少なくとも1種の化合物を含有する。mとnは、平均付加モル数であり、1〜10であり、より好ましくは1〜6である。一般式(b1)と(b2)の群から選ばれる少なくとも1種の化合物は、単独で含有されても良いし、2種類以上を組み合わせて含有されていても良い。   The resin composition for etching protection of the present invention contains at least one compound selected from the group consisting of general formulas (b1) and (b2). m and n are average addition mole numbers, are 1-10, More preferably, it is 1-6. At least one compound selected from the group of the general formulas (b1) and (b2) may be contained alone or in combination of two or more.

本発明のエッチング保護用樹脂組成物には、必要に応じて、上記成分(A)、(B)以外の成分を含有させてもよい。このような成分としては、溶剤、可塑剤、着色剤(染料、顔料)、充填剤、消泡剤、難燃剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化防止剤、香料、熱硬化剤、光硬化剤、撥水剤及び撥油剤等が挙げられ、各々0.01〜20質量%程度含有することができる。これらの成分は、1種を単独で又は2種類以上を組み合わせて用いることができる。   You may make the resin composition for etching protection of this invention contain components other than the said component (A) and (B) as needed. Such components include solvents, plasticizers, colorants (dyes, pigments), fillers, antifoaming agents, flame retardants, adhesion-imparting agents, leveling agents, release accelerators, antioxidants, perfumes, and thermosetting. Agent, photocuring agent, water repellent and oil repellent, and the like, each of which can be contained in an amount of about 0.01 to 20% by mass. These components can be used individually by 1 type or in combination of 2 or more types.

本発明のエッチング保護用樹脂組成物において、成分(A)の配合量は、成分(A)と(B)の総量に対して、60〜80質量%であることが好ましい。成分(A)の配合量が60質量%未満では、耐アルカリ現像液性が低下する場合がある。成分(A)の配合量が80質量%を超えると、レジスト剥離液で除去しにくくなる場合がある。   In the resin composition for etching protection of the present invention, the amount of component (A) is preferably 60 to 80% by mass based on the total amount of components (A) and (B). When the blending amount of the component (A) is less than 60% by mass, the alkali developer resistance may be deteriorated. If the amount of component (A) exceeds 80% by mass, it may be difficult to remove with a resist stripper.

本発明のエッチング保護用樹脂組成物は、プリント配線板、リードフレーム、シャドウマスク等の金属部をエッチングして回路を形成する分野で使用することができる。例えば、プリント配線板等の回路を形成する方法は、まず、前処理した基板上にレジストフイルムを形成し、次いでフォトマスクを介して回路パターンの露光を行い回路パターン状に硬化させた後、アルカリ現像液を用いて未硬化部を現像し、基板上にレジストパターンを形成する。次いで、レジスト画像部以外の露出した金属層をエッチング液でエッチング除去した後、レジスト剥離液を用いてレジスト画像を除去することにより形成される。   The resin composition for etching protection of the present invention can be used in the field of forming circuits by etching metal parts such as printed wiring boards, lead frames and shadow masks. For example, in a method of forming a circuit such as a printed wiring board, first, a resist film is formed on a pretreated substrate, then the circuit pattern is exposed through a photomask and cured into a circuit pattern, and then an alkali is formed. The uncured portion is developed using a developer to form a resist pattern on the substrate. Next, the exposed metal layer other than the resist image portion is removed by etching with an etching solution, and then the resist image is removed using a resist stripping solution.

アルカリ現像液としては、例えば、炭酸アルカリ金属塩、リン酸又は炭酸アンモニウム塩等の無機塩基性化合物の0.1〜3質量%の水溶液が挙げられ、汎用的に使用されているレジスト用のアルカリ現像液が使用できる。アルカリ現像では、硬化したレジストフイルムに対する溶解性を制御するため、濃度、温度、スプレー圧等を調整することが好ましい。アルカリ現像液の温度が高いほど、未硬化のレジストフイルムが溶解する速度が速くなるが、30℃程度が好ましい。一般的に好ましく使用されているアルカリ現像液は、炭酸ナトリウムを含有し、その好ましい濃度は0.2〜1.5質量%である。アルカリ現像に使用される装置としては、ディップ処理装置、超音波装置、シャワースプレー装置等が挙げられる。   Examples of the alkali developer include a 0.1 to 3% by mass aqueous solution of an inorganic basic compound such as an alkali metal carbonate, phosphoric acid or ammonium carbonate. Developer can be used. In alkali development, it is preferable to adjust the concentration, temperature, spray pressure, etc. in order to control the solubility in the cured resist film. The higher the temperature of the alkali developer, the faster the uncured resist film dissolves, but about 30 ° C. is preferred. The alkaline developer generally preferably used contains sodium carbonate, and its preferred concentration is 0.2 to 1.5% by mass. Examples of the apparatus used for alkali development include a dip treatment apparatus, an ultrasonic apparatus, a shower spray apparatus, and the like.

エッチング液としては、金属部をエッチングできる酸性のエッチング液が使用できる。エッチングする金属の種類によっても異なるが、例えば、硫酸−過酸化水素、塩化第二銅、過硫酸塩、塩化第二鉄等、硝酸、硫酸、塩酸等の水溶液が使用できる。エッチングに使用される装置や方法としては、例えば、水平スプレーエッチング、浸漬エッチング等の装置や方法が挙げられる。   As the etchant, an acidic etchant that can etch the metal part can be used. For example, an aqueous solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide, cupric chloride, persulfate, ferric chloride, nitric acid, sulfuric acid, hydrochloric acid or the like can be used although it varies depending on the type of metal to be etched. Examples of the apparatus and method used for etching include apparatuses and methods such as horizontal spray etching and immersion etching.

レジスト剥離液としては、アルカリ現像液よりも強アルカリの水溶液が有用に使用される。例えば、アルカリ金属水酸化物等の無機塩基性化合物の水溶液、エタノールアミン、エチレンジアミン、プロパンジアミン、トリエチレンテトラミン、モルホリン、水酸化テトラメチルアンモニウム等の有機塩基性化合物を使用することができ、汎用的に使用されているレジストフイルムの現像液が使用できる。これらレジスト剥離では、硬化したレジストフイルムや本発明のエッチング保護用樹脂組成物に対する剥離性を制御するため、濃度、温度、スプレー圧等を調整することが好ましい。レジスト剥離液の温度が高いほど、剥離速度が速くなり、好ましい温度は40℃以上である。濃度については、水酸化ナトリウムを用いた場合には、1〜4質量%が好ましい。レジスト剥離に使用される装置としては、ディップ処理装置、超音波装置、シャワースプレー装置等が挙げられる。   As the resist stripping solution, an aqueous solution of a stronger alkali than the alkali developer is usefully used. For example, an aqueous solution of an inorganic basic compound such as an alkali metal hydroxide, an organic basic compound such as ethanolamine, ethylenediamine, propanediamine, triethylenetetramine, morpholine, and tetramethylammonium hydroxide can be used. The resist film developer used in the above can be used. In the resist stripping, it is preferable to adjust the concentration, temperature, spray pressure and the like in order to control the stripping property with respect to the cured resist film or the resin composition for etching protection of the present invention. The higher the temperature of the resist stripping solution, the faster the stripping rate, and the preferred temperature is 40 ° C. or higher. About a density | concentration, when sodium hydroxide is used, 1-4 mass% is preferable. Examples of the apparatus used for resist stripping include a dip processing apparatus, an ultrasonic apparatus, and a shower spray apparatus.

本発明のエッチング保護用樹脂組成物は、ポリエチレンテレフタレート等の支持体にエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層を積層したフィルム形態の構成からなるエッチング保護シートとして使用することができる。その場合、エッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層面を保護部に熱圧着させて使用される。また、エッチング保護用樹脂組成物を保護部に直接塗工し、エッチング保護用樹脂組成物を含有する層を形成しても良い。   The resin composition for etching protection of the present invention can be used as an etching protective sheet having a film configuration in which a layer comprising the resin composition for etching protection is laminated on a support such as polyethylene terephthalate. In that case, the layer surface containing the resin composition for etching protection is used by thermocompression bonding to the protective part. Alternatively, the etching protection resin composition may be directly applied to the protective portion to form a layer containing the etching protection resin composition.

エッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層の厚みは、10〜50μmであることが好ましい。厚みが50μmを超えると、剥離時間が長くなり過ぎる場合がある。逆に、厚みが10μmを下回ると、耐アルカリ現像液性が悪化する場合やエッチングで保護部が腐食してしまう場合がある。   The thickness of the layer containing the etching protecting resin composition is preferably 10 to 50 μm. If the thickness exceeds 50 μm, the peeling time may be too long. On the other hand, when the thickness is less than 10 μm, the resistance to alkali developer may be deteriorated or the protective part may be corroded by etching.

以下、実施例によって本発明を更に詳しく説明するが、本発明はこの実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention in more detail, this invention is not limited to this Example.

(実施例1〜6、比較例1、2)
表1に示す配合量で各成分を混合し、エッチング保護用樹脂組成物用塗工液を得た。なお、表1における各成分配合量の単位は「質量部」である。得られた塗工液を、ワイヤーバーを用いて、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(商品名:R310、25μm厚、三菱樹脂社製)上に塗工し、80℃で8分間乾燥し、溶剤成分をとばし、PETフィルムの片面上に、実施例1〜6、比較例1〜2のエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層(乾燥膜厚:30μm)を積層してなるエッチング保護シートを得た。
(Examples 1-6, Comparative Examples 1 and 2)
Each component was mixed with the compounding quantity shown in Table 1, and the coating liquid for resin compositions for etching protection was obtained. In addition, the unit of each component compounding amount in Table 1 is “part by mass”. The obtained coating solution was coated on a polyethylene terephthalate (PET) film (trade name: R310, 25 μm thickness, manufactured by Mitsubishi Plastics) using a wire bar, and dried at 80 ° C. for 8 minutes. An etching protective sheet formed by laminating a layer (dry film thickness: 30 μm) containing the resin composition for etching protection of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2 on one side of the PET film Obtained.

Figure 0006329499
Figure 0006329499

表1において、各成分は以下の通りである。   In Table 1, each component is as follows.

(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂
(A−1)ベンジルメタクリレート/メタクリル酸を質量比85/15で共重合させた共重合樹脂(質量平均分子量100000)
(A) Alkali-soluble resin containing benzyl group (A-1) Copolymerized resin (mass average molecular weight 100000) obtained by copolymerizing benzyl methacrylate / methacrylic acid at a mass ratio of 85/15

(A−2)ベンジルメタクリレート/メタクリル酸を質量比90/10で共重合させた共重合樹脂(質量平均分子量100000)   (A-2) A copolymer resin obtained by copolymerizing benzyl methacrylate / methacrylic acid at a mass ratio of 90/10 (mass average molecular weight 100,000)

(B)一般式(b1)と(b2)の群から選ばれる少なくとも1種の化合物
(B−1)ジエチレングリコールモノフェニルエーテル
(B−2)一般式(b1)のm=5.5の化合物
(B−3)ジエチレングリコールモノベンジルエーテル
(B) At least one compound selected from the group consisting of general formulas (b1) and (b2) (B-1) diethylene glycol monophenyl ether (B-2) a compound of m = 5.5 in general formula (b1) ( B-3) Diethylene glycol monobenzyl ether

その他
(α−3)メチルメタクリレート/n−ブチルアクリレート/メタクリル酸を質量比60/15/25で共重合させた共重合樹脂(質量平均分子量100000)
Others (α-3) Copolymerized resin (mass average molecular weight 100,000) obtained by copolymerizing methyl methacrylate / n-butyl acrylate / methacrylic acid at a mass ratio of 60/15/25

(β−4)ポリエチレングリコール(エトキシ基数が4)   (Β-4) Polyethylene glycol (4 ethoxy groups)

(実施例1〜6、比較例1〜2)
両面銅張積層板(銅箔厚み18μm、積層板厚み0.2mm)の片面(B面)に、実施例1〜6、比較例1〜2で作製したエッチング保護シートを熱圧着により全面に貼り付けた。エッチング保護シートを貼り付けた面とは反対の面(A面)に、回路形成用のレジストフイルム(日立化成工業(株)製、38μm厚)を貼り付け、回路パターンを露光し、次に、1.0質量%の炭酸ナトリウム水溶液によって、スプレー現像を施した。この際、比較例1及び2のエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層は、アルカリ現像により剥がれ落ちた。
(Examples 1-6, Comparative Examples 1-2)
The etching protective sheets prepared in Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2 are attached to the entire surface by thermocompression bonding on one side (B surface) of a double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 μm, laminate thickness 0.2 mm). I attached. A resist film for circuit formation (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., 38 μm thickness) is pasted on the surface opposite to the surface on which the etching protection sheet is pasted (A surface), the circuit pattern is exposed, Spray development was performed with a 1.0% by mass aqueous sodium carbonate solution. At this time, the layer containing the resin composition for etching protection of Comparative Examples 1 and 2 was peeled off by alkali development.

次に、塩化第二銅エッチング液をスプレーし、銅箔をエッチングした。ここまで、実施例1〜6のエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層は残存していた。その後、3質量%の水酸化ナトリウム水溶液にてスプレーし、A面の硬化したレジストフイルムを除去すると同時に、B面のエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層を除去した。実施例1〜6のいずれにおいても、エッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層は完全に除去されていた。B面でエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層によって保護していた銅箔(金属ベタ部)は、エッチング液によって腐食されておらず、また、エッチング保護用樹脂組成物の残存物も観察されなかった。   Next, a cupric chloride etching solution was sprayed to etch the copper foil. Up to this point, the layer containing the resin composition for etching protection of Examples 1 to 6 remained. Thereafter, spraying was performed with a 3% by weight aqueous sodium hydroxide solution to remove the cured resist film on the A side, and at the same time, the layer containing the resin composition for etching protection on the B side was removed. In any of Examples 1 to 6, the layer containing the etching protection resin composition was completely removed. The copper foil (metal solid part) protected by the layer comprising the etching protective resin composition on the B surface is not corroded by the etching solution, and the etching protective resin composition remains Not observed.

(比較例3)
両面銅張積層板(銅箔厚み18μm、基材厚み0.2mm)の両面にレジストフイルム(日立化成工業(株)製、38μm厚)を貼り付けた。片面(A面)において、回路パターンを露光し、もう一方の面(B面)において、全面露光を実施した。1.0質量%の炭酸ナトリウム水溶液にてスプレー現像を施した。次に、塩化第二銅エッチング液をスプレーし、銅箔をエッチングした。次いで、3質量%の水酸化ナトリウム水溶液をスプレーし、A面及びB面の硬化したレジストフイルムを除去した。その結果、B面の銅箔には、露光時の異物による露光不良が原因のピンホールが数箇所確認され、エッチング液による腐食が確認され、良好な金属ベタ部が得られなかった。
(Comparative Example 3)
A resist film (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., 38 μm thickness) was attached to both sides of a double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.2 mm). The circuit pattern was exposed on one side (A side), and the entire surface was exposed on the other side (B side). Spray development was performed with a 1.0 mass% aqueous sodium carbonate solution. Next, a cupric chloride etching solution was sprayed to etch the copper foil. Next, a 3% by mass aqueous sodium hydroxide solution was sprayed to remove the cured resist films on the A and B sides. As a result, several pinholes due to exposure failure due to foreign matters during exposure were confirmed in the copper foil on the B surface, corrosion due to the etching solution was confirmed, and a good solid metal portion could not be obtained.

(比較例4)
両面銅張積層板(銅箔厚み18μm、基材厚み0.2mm)の片面(B面)に、アルカリ現像液に溶解しないマスキングテープを全面に貼り付けた。その反対の面(A面)に、回路形成用のレジストフイルム(日立化成工業(株)製、38μm厚)を貼り付け、回路パターンを露光し、次に、1.0質量%の炭酸ナトリウム水溶液によって、スプレー現像を施した。次に、塩化第二銅エッチング液をスプレーし、銅箔をエッチングした。その後、3質量%の水酸化ナトリウム水溶液にてスプレーし、A面の硬化したレジストフイルムを除去した。続いて、マスキングテープを剥がしたが、剥がす際に負荷がかかり、銅箔の折れが発生し、マスキングテープで保護していた銅箔に粘着物の残存が観察された。
(Comparative Example 4)
A masking tape that does not dissolve in an alkaline developer was applied to one side (B side) of a double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.2 mm). On the opposite side (A side), a resist film for circuit formation (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., 38 μm thickness) is attached, the circuit pattern is exposed, and then a 1.0% by mass sodium carbonate aqueous solution Was spray developed. Next, a cupric chloride etching solution was sprayed to etch the copper foil. Thereafter, spraying was performed with a 3% by mass aqueous sodium hydroxide solution to remove the cured resist film on the A side. Subsequently, the masking tape was peeled off. However, a load was applied when the masking tape was peeled off, the copper foil was broken, and the adhesive remained on the copper foil protected with the masking tape.

(比較例5)
紫外線を照射して硬化させたレジストフイルム(日立化成工業(株)製、38μm厚)に、未硬化のレジストフイルム(日立化成工業(株)製、38μm厚)を張り合わせて、硬化したレジストフイルムと未硬化のレジストフイルムの2層からなるエッチング保護シートを作製した。次に、両面銅張積層板(銅箔厚み18μm、積層板厚み0.2mm)の片面(B面)に、該エッチング保護シートを熱圧着により全面に貼り付けた。エッチング保護シートを貼り付けた面とは反対の面(A面)に、回路形成用のレジストフイルム(日立化成工業(株)製、38μm厚)を貼り付け、回路パターンを露光し、次に、1.0質量%の炭酸ナトリウム水溶液によって、スプレー現像を施した。次に、塩化第二銅エッチング液をスプレーし、銅箔をエッチングした。その後、3質量%の水酸化ナトリウム水溶液にてスプレーし、A面の硬化したレジストフイルムを除去すると同時に、B面のエッチング保護シートを除去した。エッチング保護シート用の硬化したレジストフイルムの作製には全面露光が必要であり、露光時の異物による露光不良が原因のピンホールが数箇所確認された。また、硬化及び未硬化のレジストフイルムとの張り合わせ時の取り扱い性にも、光や熱に注意をする必要があった。
(Comparative Example 5)
An uncured resist film (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., 38 μm thickness) is laminated on a resist film (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., 38 μm thickness) which has been cured by irradiating ultraviolet rays. An etching protective sheet consisting of two layers of an uncured resist film was produced. Next, the etching protective sheet was attached to one surface (B surface) of a double-sided copper-clad laminate (copper foil thickness 18 μm, laminate thickness 0.2 mm) by thermocompression bonding. A resist film for circuit formation (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., 38 μm thickness) is pasted on the surface opposite to the surface on which the etching protection sheet is pasted (A surface), the circuit pattern is exposed, Spray development was performed with a 1.0% by mass aqueous sodium carbonate solution. Next, a cupric chloride etching solution was sprayed to etch the copper foil. Thereafter, spraying was performed with a 3% by mass aqueous sodium hydroxide solution to remove the cured resist film on the A side, and at the same time, the etching protective sheet on the B side was removed. Preparation of the cured resist film for the etching protection sheet requires whole-surface exposure, and several pinholes due to exposure failure due to foreign matters during exposure were confirmed. In addition, it is necessary to pay attention to light and heat for handling at the time of pasting with a cured and uncured resist film.

本発明は、エッチング液による金属部の腐食をマスキングする樹脂組成物として広く利用できる。   The present invention can be widely used as a resin composition for masking corrosion of a metal part by an etching solution.

Claims (2)

少なくとも(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂、及び(B)下記一般式(b1)と(b2)の群から選ばれる少なくとも1種の化合物を含有してなり、(A)ベンジル基を含むアルカリ可溶性樹脂がベンジルメタクリレート/メタクリル酸を質量比85/15〜90/10で共重合させた共重合樹脂であるエッチング保護用樹脂組成物。
Figure 0006329499
(式中mは、平均付加モル数であり、1〜10の数である)
Figure 0006329499
(式中nは、平均付加モル数であり、1〜10の数である)
Comprising an alkali-soluble resin, and (B) at least one Ri name containing compound, (A) a benzyl group selected from the group of the following general formula and (b1) (b2) contains at least (A) a benzyl group alkali-soluble resin is etched protective resin composition Ru copolymer resins der obtained by copolymerizing benzyl methacrylate / methacrylic acid in a weight ratio of 85 / 15-90 / 10.
Figure 0006329499
(Where m is the average number of moles added and is a number from 1 to 10)
Figure 0006329499
(Where n is the average number of moles added and is a number from 1 to 10)
請求項1に記載のエッチング保護用樹脂組成物を含有してなる層を有するエッチング保護シート。   The etching protection sheet which has a layer formed by containing the resin composition for etching protection of Claim 1.
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