KR101107866B1 - 무상관 적응 전치 보상기 - Google Patents

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Abstract

무상관 적응 전치 보상기는, RF 전력 증폭기에 사용하기 위해 구성되며, 이 RF 전력 증폭기는 RF 전력 증폭기의 입력에 결합되도록 구성되는 입력 루프 및, RF 전력 증폭기의 출력에 결합되는 출력 루프를 갖는다. 이와 같은 입력 루프는, 입력 신호 전력의 단조 증가 함수(monotonically increasing function)에 응답하여, 전치 보상 입력 신호를 형성하기 위해 입력 신호에 적용되는 전치 보상 값을 포함하는 조사표(look-up table)를 포함한다. 이와 같은 출력 루프는, 전치 보상 입력 신호로부터 유발되는 RF 전력 증폭기의 출력의 상호 변조 왜곡 곱(product)을 측정하도록 구성되고, 조사표내의 전치 보상 값을 갱신하도록 동작한다.
무상관 적응 전치 보상기, RF 전력 증폭기, 입력 루프, 출력 루프.

Description

무상관 적응 전치 보상기{AN UNCORRELATED ADAPTIVE PREDISTORTER}
도 1은 본 발명의 원리에 따른 무상관 적응 전치 보상기의 제 1 실시예의 개략도.
도 2는 본 발명의 원리에 따른 무상관 적응 전치 보상기의 제 2 실시예의 개략도.
도 3은 본 발명의 원리에 따른 무상관 적응 전치 보상기의 제 3 실시예의 개략도.
본 발명은 일반적으로 증폭기에 관한 것으로써, 특히 이와 같은 증폭기내의 왜곡 감소 기술에 관한 것이다.
셀룰러 네트워크내의 무선 통신 서비스는 개별 지리적 영역 또는 "셀"을 통해 제공되어 왔다. 역사적으로, 셀 사이트는, 일반적으로 셀룰러폰 및 페이징 소자와 같은 다수의 원격 소자 및 베이스 단국(base terminal station; BTS)과 통신하는 RF 안테나를 가진 셀룰러 타워(tower)를 포함하고 있다. BTS는, 통상적으로 무선 통신 신호를 원격 소자에 전송하기 위한 RF 안테나에 결합되는 하나 이상의 무 선 주파수(RF) 전력 증폭기를 포함한다. 셀룰러 네트워크는 디지털 변조 방식을 이용하여 서비스를 제공할 수 있다. 이와 같은 변조 방식은, 시분할 다중 접속(TDMA), 코드 분할 다중 접속(CDMA) 및, 이동 통신 세계화 시스템(GSM) 뿐만 아니라 다른 방식도 포함할 수 있다.
이론 또는 이상(ideal) RF 전력 증폭기에서, 이 증폭기의 출력은, 상수(K), 즉, 증폭 또는 이득 계수 만큼 증배되는 증폭기의 입력과 동일하며, 입력 레벨에 따라 변하지 않는다. 더욱이, 출력 신호의 위상은 입력 신호의 위상과 동일하다. 사실상, 출력 및 위상은 양자 모두 입력 신호의 함수로서 변한다.
일반적으로, 증폭기는 3개의 연산 영역을 가지고 있다. 제 1 영역, 또는 선형 영역은 입력 신호 전력 레벨이 비교적 작고, K가 일정한 연산을 포함한다. 선형 영역에서는, 증폭기의 응답은 이상 증폭기의 응답과 거의 비슷하다. 제 2 및 3 영역은 비선형 영역으로 지칭된다. 입력 레벨이 K가 입력의 더욱 더 증가로 감소 또는 롤-오프(roll-off)하기 시작하는 포인트까지 증가하는 경우에 제 2 영역 또는 압축 영역이 개시한다. 증폭기의 출력이 입력의 증가에 따라 증가하지 않는 경우에는 제 3 영역 또는 포화 영역이 개시한다.
무선 통신 사용자의 수의 계속된 증가로 유발되는 RF 스펙트럼에 관한 요구의 증가로, 상술한 디지털 변조 방식과 같이 스펙트럼으로 더욱 효율적인 변조 방식 및, 이와 사용하기 위한 더욱 효율적인 증폭기가 필요하게 된다. 더욱이, 셀룰러 통신 시스템과 함께 사용되는 무선 소자는, 배터리 수명을 연장하기 위한 고 전력 효율을 필요로 한다. 따라서, 이와 같은 시스템내에 사용되는 RF 전력 증폭기 는, 효율을 최대화시키도록, 종종 비선형 영역에 근접하거나 그 영역내에서 연산된다.
불행하게도, 비선형 영역 근처에서의 연산은, 결과적으로 요동 포락선(fluctuating envelope)을 지닌 디지털 변조 방식이 사용될 시에 비선형 연산을 이루게 할 수 있다. 예컨대, 압축 시의 연산은, 결과적으로 왜곡을 일으킬 수 있고, 인접한 채널로 스펙트럼 확산시킬 수 있다. 미국 연방 통신 위원회(FCC)는, 다른 관리부(governing bodies)처럼, 인접한 채널에서의 방출(emission)을 제한한다. 대역 확장 및/또는 비트 에러율의 증가가 또한 초래할 수 있다. 관리부는 통상적으로 대역외 방출도 제한한다. 어떤 경우에, 시스템이 지지할 수 있는 호출의 수는 감소될 수 있다.
따라서, 이와 같은 증폭기의 응답 시에 비선형성을 감소시켜 효율을 증가시키는 것이 바람직하다. 증폭기내의 비선형성을 감소시키기 위해 개발된 기술은 피드포워드(feed-forward), 피드백 또는 전치 보상(predistortion)으로 분류될 수 있으며, 이들은 제각기 이점 및 결점을 가지고 있다.
피드포워드 기술은 RF 전력 증폭기의 출력 신호의 일부를 감쇄시켜, 그것이 입력 신호와 동일한 레벨이도록 한다. 이런 왜곡된 출력 신호와 입력 신호 간의 차는 에러 신호를 발생시키는데 이용된다. 그 후, 에러 신호는 RF 전력 증폭기의 출력에서 증폭되고 감산되어, RF 전력 증폭기의 선형성을 향상시킨다. 일반적으로, 피드포워드 기술은 다중 반송파 신호를 처리할 수 있지만, 통상적으로 RF 전력 증 폭기와 관련된 드리프트(drift)의 효과를 처리할 시에 부실하게 설비된다.
피드백 기술은 동기하여 복조된 출력 신호를 피드백 정보로서 사용하며, 피드백 루프를 형성한다. 이들 신호는 입력 신호로부터 감산되어, 루프 에러 신호를 발생시킨다. 피드백 루프 이득이 충분할 경우, 루프 에러 신호는 RF 전력 증폭기의 응답 시에 어떤 비선형성을 연속적으로 교정한다. 일반적으로, RF 전력 증폭기에 이용된 피드백 기술은, 쉽게 구현되면서, 대역외 방출을 감소시킨다. 그러나, 안정성 요구 사항은, 루프 지연 상의 의존성으로 인해 대역폭을 제한하는 것이다. 따라서, 피드백 기술은 어떤 변조 방식으로 사용될 시에 유틸리티(utility)를 제한한다.
전치 보상 기술은, 적당히 왜곡된 신호를 RF 전력 증폭기에 제공하여, RF 전력 증폭기의 출력이 입력 신호의 스케일된 레플리카(scaled replica)이도록 한다. 한가지 유형의 전치 보상기는 증폭 전에 고정 신호의 전치 보상 회로를 사용한다. 고정 유형의 전치 보상기는, 요동 포락선을 지닌 디지털 변조 방식으로 사용될 시에 유틸리티를 제한하지만, 이와 함께 사용된 RF 전력 증폭기내에서 변화 또는 드리프트에 대해 설명하지 않는다.
다른 유형의 전치 보상기는 적응 전치 보상기이다. 하나의 적응 전치 보상기에서, RF 전력 증폭기의 진폭 변조 대 진폭 변조(AM-AM) 및 진폭 변조 대 위상 변조(AM-PM) 특징은, 3차 스플라인 보간법과 같은 수학적 기술을 이용하여, RF 전력 증폭기의 출력으로부터 동기 복조를 이용하여 발생된 왜곡 값의 조사표로부터 평가된다. 그 후, 평가된 값은, 입력 신호를 RF 전력 증폭기에 전치 보상하기 위해 사 용된다. 적응 전치 보상기의 성능은, 통상적으로 사용되는 변조 방식에서 제한을 받거나 드리프트되지 않고, 네가티브 피드백 및 피드포워드 기술의 성능과 비교된.
일반적으로, 이와 같은 적응 전치 보상기는 아래와 같이 동작한다. 첫째로, 디지털 신호 또는 기저대 신호는 동상(I) 및 직각 위상(Q) 성분으로 엔코드된다. 그 후, I/Q 성분은 펄스형 필터를 통과하여, 부호간 간섭(ISI) 프리(free) 전송을 확실하게 한다. 그 다음, I/Q 신호는, 기저대 입력 신호의 전력(power)을 나타내는 스칼라 값(Vm)2을 산출하는 제곱 회로(squaring circuit)에 인가된다. 그 다음, 스칼라 값(Vm)2은 I/Q 성분에 대한 전치 보상 값을 포함하는 조사표에 대한 포인터(pointer)로서 이용된다. 그 다음, 전치 보상 값은 I/Q 성분으로 증배되어, 제각기 전치 보상 신호 Id 및 Qd를 발생시킨다. 그 후, 전치 보상 신호 Id 및 Qd는 아날로그 신호로 변환되어 직교(quadrature) 변조기에 인가된다. 발진기에 의해 구동되는 직교 변조기는, RF 전력 증폭기에 인가되는 변조된 RF 신호를 발생시킨다.
RF 전력 증폭기의 출력의 일부는 동일한 발진기에 의해 구동되는 직교 복조기에 인가되어, I/Q 기저대 신호를 발생시킨다. I/Q 기저대 신호는 디지털 신호(I'/Q')로 변환된다. 그 다음, I'/Q'를 제각기 I/Q와 비교하여, RF 전력 증폭기의 AM-AM 및 AM-PM 특징을 평가한다. 전치 보상 신호 Id 및 Qd가 RF 전력 증폭기에 인가될 시와, 디지털 신호(I'/Q')가 발생되는 시간 사이에 시간의 지연이 있으므로, 입력 신호(I/Q)는 비교를 행하기 전에 동일한 시간량만큼 지연되어야 한다. 따라서, I/Q 신호를 비교할 시에, 이와 같은 전치 보상기는, I/Q 와 I'/Q'간의 1 대 1 대응이 있다는 "상관(correlated)"으로 지칭되고, 조사표에서의 값이 시간에 따라 변한다는 "적응(adaptive)"으로 지칭될 수 있다.
이와 같은 상관 적응 전치 보상기는, 조사표내에 저장된 값을 이용하여, 값(Vm)2에 대한 AM-AM 및 AM-PM 특징을 평가할 시에 3차 스플라인 보간법을 이용할 수 있다. 3차 스플라인 보간법에 의해 산출되는 것과 동일한 정확도는, 단일 다항식의 적합도(fit)를 위해 고차 다항식을 필요로 한다. 3차 스플라인 보간법의 사용 또는 응용으로, RF 전력 증폭기의 응답을 선형화할 시에 고차 다항식이 필요하지 않게 되지만, 이와 같은 상관 적응 전치 보상기는 그 내에 사용되는 지연 및 복조 회로에 의해 여전히 복잡하고 비용이 많이 든다.
이하, 첨부한 도면을 참조로 하여 본 발명의 원리를 더욱 상세히 설명하기로 한다.
동일 번호는 동일 부분을 나타내는 도 1 내지 도 3을 참조하면, 무선 주파수(RF) 전력 증폭기 및, 이와 함께 사용하기 위한 적응 전치 보상기가 도시되어 있다. 적응 전치 보상기는, RF 전력 증폭기의 응답 시에 비선형성을 감소시켜, 효율을 높이고, 복잡성 및 비용을 줄인다. 특히, 적응 전치 보상기는, 전치 보상 값을 가진 디지털 기반 조사표(LUT)를 포함하는 입력 루프 및, RF 전력 증폭기의 상호 변조(IM) 왜곡 곱을 측정하여, 이에 따라 LUT 전치 보상 값을 갱신하는 출력 루프를 구비한다. 더욱이, 스플라인 함수는, 출력 루프내에서 RF 전력 증폭기의 IM 왜곡 곱이 최소화되도록 LUT내에 최적 세트의 값을 산출하는데 이용될 수 있다.
먼저, 도 1을 참조하면, 증폭기 시스템의 제 1 실시예(20)는 RF 전력 증폭기(10) 및 무상관 적응 전치 보상기(12)를 포함한다. RF 전력 증폭기(10)는, 통상적으로 본 기술 분야의 숙련자에게 공지되고, 동작의 선형, 압축 및 포화 영역을 가진 RF 전력 증폭기이다. 또한, RF 전력 증폭기(10)는 단채널 또는 다채널 증폭기, 또는 AB 급 또는 B 급 증폭기일 수 있다.
무상관 적응 전치 보상기(12)는 입력 루프(18) 및 출력 루프(16)를 포함한다. 입력 루프(18)는, 포락선 검출 회로(22), LUT(14), 복소 승산기(24), 실수 및 허수 회로(26, 28), 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기(DAC)(30, 32), 직교 변조기(34) 및 RF 발진기(36)를 포함한다. 출력 루프(16)는, 결합기(38), 혼합기(40), 국부 발진기(42), 증폭기(44), 대역 통과 필터(BPF)(46), 검파기(48), 아날로그-디지털 변환기(ADC)(50) 및 프로세서(52)를 포함한다.
도 1에 구성되어 있는 바와 같이, 입력 루프(18)는, 동상 및 직각 위상 성분(I+jQ)를 포함하고, 여기서 "기저대 신호"로 지칭되며, 신호(I+jQ)를 포락선 검출 회로(22) 및 복소 승산기(24)에 결합하는 유형의 입력 신호를 수용한다. 포락선 검출 회로(22)는, 입력 전력의 단조 증가 함수를 나타내는 스칼라 값, 예컨대, LUT(14)에 대한 지표 기능을 하는 신호(I+jQ)의 전력, 입력 전력의 대수, 입력 전력의 제곱근 등을 산출한다.
LUT(14)는 신호(I+jQ)의 동상(I) 및 직각 위상(Q) 성분에 대한 전치 보상 값을 포함한다. LUT(14)의 초기 값은 다수의 방식 중 하나에서 결정될 수 있다. 예컨대, 교정 루틴(calibration routine)은 특정 RF 전력 증폭기의 전달 특성을 결정하는데 이용될 수 있고, LUT에서의 초기 값은 이에 기초로 한다. 마찬가지로, 특정 패밀리 또는 유형의 RF 전력 증폭기가 특징으로 할 수 있고, LUT에서의 초기 값은 이와 같이 생성된 특징에 기초로 할 수 있다. 증폭기의 성능을 특징지우고, LUT에 있게 하는 다른 방법은 본 기술 분야의 숙련자에게 명백해진다.
LUT(14)는 초기 전치 보상 값을 복소 승산기(24)에 결합하며, 여기서 전치 보상 값은 신호(I+jQ)와 곱해져, 전치 보상 신호(I'+jQ')를 형성한다. 복소 승산기(24)는, 전치 보상 신호(I'+jQ')의 동상(I') 및 직각 위상(Q') 성분을, 참조 번호(26 및 28)로 제각기 나타낸 바와 같은 실수(RE()) 및 허수(IM()) 회로에 결합한다. 입력 신호(I+jQ)의 실수부 및 허수부의 분리가 통상적으로 복소 혼합기(24) 내부에서 행해질 수 있지만, 특정 실시예에서 분리하는데 필요한 어떤 부가적인 회로가 있다면 더 설명을 위해 실수(RE()) 및 허수(IM()) 회로(26, 28)가 포함되는 것을 당업자는 알 수 있다.
실수 및 허수 회로(26, 28)는 전치 보상 신호(I'+jQ')의 동상(I') 및 직각 위상(Q') 성분을 제각기 제 1 및 2 DAC(30, 32)에 결합한다. 제 1 및 2 DAC(30, 32)는 디지털 신호(I'+jQ')의 실수부(I') 및 허수부(Q')를 아날로그 신호로 변환하여, 이 아날로그 신호를 직교 변조기(34)에 결합한다.
RF 발진기(36)에 결합되는 직교 변조기(34)는 아날로그 I' 및 Q' 신호를 반 송파 상으로 변조시키고, 신호 A'(t)cos[ω't+θ'(t)]로 나타낸 바와 같이 반송파를 RF 전력 증폭기(10)에 결합한다. RF 전력 증폭기(10)는 신호 A'(t)cos[ω't+θ'(t)]를 증폭하고, RF OPT로 나타낸 바와 같은 출력 신호를 가지고 있다. 이와 같은 출력 신호(RF OPT)는 디지털 동상 및 직각 위상 신호(I+jQ)를 무선 장치로 통신하기 위해 안테나에 결합될 수 있다.
출력 루프(16)를 참조하면, RF 전력 증폭기(10)의 출력 신호(RF OPT)의 일부는 결합기(38)에 의해 혼합기(40)에 결합된다. 결합기(38)는, 출력 신호(RF OPT)를 안테나에 결합할 시에 최소량의 전력이 상실되도록 하는 저 손실 결합기일 수 있다. 국부 발진기(42)도 또한 혼합기(40)에 결합된다.
국부 발진기(42)의 주파수는, 혼합기(40)가 RF 전력 증폭기(10)의 상호 변조 왜곡 곱, 예컨대, 제 3 상호 변조 왜곡 곱(3rd IMD)을 증폭기(44)에 결합하도록 선택된다. 국부 발진기가 주파수 동조 가능하거나, 하나 이상의 원하는 IM 왜곡 곱을 선택하도록 하는 원하는 주파수를 발생시키기 위해 선택될 수 있음을 당업자는 알 수 있다. 더욱이, 당업자는, 어떤 실시예에서, 증폭기(44)가 필요되지 않음을 알 수 있다.
예컨대, 증폭기(44)는 RF 전력 증폭기(10)의 3rd IMD를 증폭하여, BPF(46)에 결합한다. BPF(46)의 주파수는 RF 전력 증폭기(10)의 3rd IMD를 선택하여, 3rd IMD를 검파기(48)에 결합한다. 검파기(48)는, 3rd IMD의 크기를 나타내는 아날로그 신호를 발생시켜 ADC(50)에 결합한다. 당업자에 의해 알 수 있는 바와 같이, 검파기(48)는 다이오드일 수 있다. ADC(50)는 3rd IMD의 크기를 나타내는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환시켜, 디지털 신호를 프로세서(52)에 결합한다.
프로세서(52)는 기울기 탐색(gradient search)을 이용하여 최적 세트의 전치 보상 값을 선택하여, 예컨대, 3rd IMD의 크기의 연속 값을 비교하여, 3rd IMD를 최소화시키고, 이에 의해 RF 전력 증폭기(10)의 응답의 선형성을 향상시키도록 한다.
프로세서(52)는 또한 스플라인 함수와 같은 수학적 함수를 이용하여, LUT(14)에서 전치 보상 값을 갱신할 수 있다. 본 명세서의 이점을 가진 당업자는 스플라인 함수를 쉽게 이용할 수 있을 것이다. 이와 같은 스플라인 함수의 이용하여, 제각기 RF 전력 증폭기(10)의 입력 및 출력으로 지칭하는 진폭 대 진폭(AM-AM) 및 진폭 대 위상(AM-PM) 전치 보상 곡선을 분석하고, RF 전력 증폭기(10)의 전달 특성을 가장 가깝게 리젬블(resemble)하도록 LUT(14) 지표를 따라 결절점(knot)을 배치한다. 당업자는, 다른 수학적 함수도 본 발명의 정신으로부터 벗어나지 않고 이용될 수 있음을 알 수 있다.
RF 전력 증폭기(10)의 경우, 각 결절점은 크기에서만 변화된다. 예컨대, 동작 중에, 각 결절점의 크기는 변화되고, 전치 보상 값이 발생되며, 3rd IMD는 결절점의 크기의 변화가 3rd IMD 성능을 향상시켰는지를 판정하도록 측정된다. 이 프로세스는 RF 전력 증폭기(10)의 응답의 선형성을 개선하기 위해 계속 반복된다.
본 발명의 다른 실시예에서, LUT 지표를 따른 결절점 배치가 또한 변화될 수 있다. 이들 실시예에서, 프로세서(52)와 같은 프로세서에 의해 실행되는 처리의 복잡성은 본래 두배로 된다. 더욱이, 이와 같은 실시예에서, LUT 지표를 따른 배치의 변화가 유리할 수 있는 결절점의 서브세트(subset)가 존재할 수 있다.
당업자는, 결합기(38), 혼합기(40), 국부 발진기(42), 증폭기(44), BPF(46), 검파기(48), ADC(50) 및 프로세서(52)와 다른 전기 부품이 RF 전력 증폭기의 출력으로부터 하나 이상의 상호 변조 왜곡 곱을 선택하기 위해 원하는대로 사용될 수 있음을 알 것이다. 따라서, 결합기(38), 혼합기(40), 국부 발진기(42), 증폭기(44), BPF(46), 검파기(48), ADC(50) 및 프로세서(52)는 예를 위해 도시되어, 사실상 단순히 예시적이다.
이와 같은 실시예(20)는 개방 루프 구성으로서 생각될 수 있고, 절대적으로 안정할 수 있으며, 출력 루프(16)는 LUT(14)에서의 전치 보상 값을 갱신할 시에만 폐쇄된다. 더욱이, 이와 같은 실시예(20)는, 조사표내의 전치 보상 값이 시간에 따라 변한다는 "적응"이다. 이와 같은 실시예(20)는 또한 "무상관(uncorrelated)"인데, 그 이유는, 적용되는 전치 보상 값이 이전의 동상 및 직각 위상 신호의 3rd IMD에 기초를 두며, RF 전력 증폭기가 상관 적응 전치 보상기에서와 같이 막 증폭할려고 하는 동상 및 직각 위상 신호에 기초를 두지 않기 때문이다.
도 2를 참조하면, 증폭기 시스템의 제 2 실시예(20')가 도시되어 있다. 도 2의 증폭기 시스템(20')은 도 1의 증폭기 시스템(20)과 유사하며, 입력 루프(18')만 이 상이하다. 그래서, 입력 루프(18')만이 기술된다. 한편, 당업자는 알 수 있는 바와 같이, 도 2의 실시예(20')는 도 1의 실시예(20)와 동일한 방식으로 동작한다.
증폭기 시스템(20')은 RF 전력 증폭기(10) 및 무상관 적응 전치 보상기(12')를 포함한다. 무상관 적응 전치 보상기(12')는 입력 루프(18') 및 출력 루프(16)를 포함한다. 입력 루프(18')는, 제 1 변환 회로(I/Q-M/θ)(54), LUT(14'), 승산 회로(56), 가산 회로(58), 제 2 변환 회로(M'/θ'-I'/Q')(60), 실수 및 허수 회로(26, 28), 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기(DAC)(30, 32), 직교 변조기(34) 및 RF 발진기(36)를 포함한다.
도 2에 구성되어 있는 바와 같이, 입력 루프(18')는, 동상 및 직각 위상 성분(I+jQ)를 포함하고, 다시 "기저대 신호"로 지칭되며, 신호(I+jQ)를 제 1 변환 회로(I/Q-M/θ)(54)에 결합하는 유형의 입력 신호를 수용한다. 제 1 변환 회로(I/Q-M/θ)(54)는 신호(I+jQ)를 크기 M 및 위상 θ성분으로 변환시킨다. 크기 성분 M은 승산 회로(56) 및 LUT(14')에 결합된다. 위상 성분 θ은 가산 회로(58)에 결합된다. 크기 성분 M은, 기저대 신호(I+jQ)의 전력을 나타내는 스칼라 값으로서 기능하고, LUT(14')에 대한 지표 기능을 한다.
LUT(14')는, 제각기 기저대 신호(I+jQ)의 크기 및 위상 성분(M, θ)에 대한 전치 보상 값(G, Φ)을 포함한다. LUT(14')는, 전치 보상 값(G, Φ)을 제각기 승산 회로(56) 및 가산 회로(58)에 결합하며, 여기서 전치 보상 값(G, Φ)은 신호(I+jQ)의 크기 및 위상 성분(M, θ)과 조합되어, 전치 보상된 크기 및 위상 성분(M', θ')을 형성한다.
승산 회로(56) 및 가산 회로(58)는 전치 보상된 크기 및 위상 성분(M', θ')을 제 2 변환 회로(M'/θ'-I'/Q')(60)에 결합한다. 제 2 변환 회로(M'/θ'-I'/Q')(60)는 전치 보상된 크기 및 위상 성분(M', θ')을 전치 보상 신호(I'+jQ')의 동상(I') 및 직각 위상(Q') 성분으로 변환시킨다. 동상(I') 및 직각 위상(Q') 성분은 제각기 실수(RE()) 및 허수(IM()) 회로(26, 28)에 결합된다. 입력 신호(I+jQ)의 실수부 및 허수부의 분리가 통상적으로 제 2 변환 회로(60) 내부에서 행해질 수 있지만, 특정 실시예에서 분리하는데 필요한 어떤 부가적인 회로가 있다면 더 설명을 위해 실수(RE()) 및 허수(IM()) 회로(26, 28)가 포함되는 것을 당업자는 알 수 있다.
도 2에 도시된 입력 루프(18')의 잔여 실시예, 즉, 제 1 및 2 DAC(30, 32), 직교 변조기(34) 및 RF 발진기(36)는 도 1의 입력 루프(18)의 것과 동일한 방식으로 동작한다.
당업자는 알 수 있는 바와 같이, 도 1의 증폭기 시스템(20) 및 도 2의 증폭기 시스템(20')은 양자 모두 동상 및 직각 위상 성분을 포함하는 기저대 입력 신호에 의해 동작한다. 그러나, 도 1의 입력 루프(18)가 사각형 형태(I/Q)의 입력 신호에 의해 동작하는 반면에, 도 2의 입력 루프(18')는 극 형태(M, θ)의 입력 신호에 의해 동작한다는 점에서, 증폭기 시스템(20)은 증폭기 시스템(20')과 상이하다. 따라서, 본 발명은 어떤 특정 형태의 입력 신호를 처리하는데에 의존하지 않는다.
도 3에서, 증폭기 시스템의 제 3 실시예(20")이 도시되어 있다. 도 3의 증폭기 시스템(20")은 도 1 및 2의 증폭기 시스템(20 및 20')과 유사하며, 입력 루프(18")만이 상이하다. 그래서, 입력 루프(18")만이 기술된다. 도 3의 실시예(20")는 도 1 및 2의 실시예(20, 20')와 또한 동일한 방식으로 동작한다.
증폭기 시스템(20")은 RF 전력 증폭기(10) 및 무상관 적응 전치 보상기(12")를 포함한다. 무상관 적응 전치 보상기(12")는 입력 루프(18") 및 출력 루프(16)를 포함한다. 입력 루프(18")는, 지연 회로(62), 검파기 회로(64), 아날로그-디지털 변환기(ADC)(66), 복소 감쇠기(68) 및 LUT(14")를 포함한다.
도 1에 구성되어 있는 바와 같이, 입력 루프(18)는, 동상 및 직각 위상 성분(I+jQ)를 포함하고, 여기서 "기저대 신호"로 지칭되며, 신호(I+jQ)를 포락선 검출 회로(22) 및 복소 승산기(24)에 결합하는 유형의 입력 신호를 수용한다.
입력 루프(18")는 유형에서 A(t)cos[ω(t)+θ(t)]로 나타내는 변조된 RF 신호를 수용한다. 신호 A(t)cos[ωt+θ(t)]는 지연 회로(62) 및 검파 회로(64)에 결합된다. 검파 회로(64)는 신호 A(t)cos[ω(t)+θ(t)]의 전력으로 나타내는 스칼라 값 A(t)을 산출한다. 당업자는 다이오드가 검파 회로(64)의 일례인 것을 알 것이다. 검파 회로(64)는 ADC(66)에 결합된다. ADC(66)는 스칼라 값 A(t)을 LUT(14")에 대한 지표 기능을 하는 디지털 신호로 변환시킨다.
LUT(14")는 입력 신호 A(t)cos[ω(t)+θ(t)]의 크기 및 위상 성분에 대한 전치 보상 값을 포함한다. LUT(14")는 전치 보상 값을 복소 감쇠기(68)에 결합하는데, 여기서 전치 보상 값은 입력 신호 A(t)cos[ω(t)+θ(t)]의 크기 및 위상 성분에 영향을 주어, 전치 보상 신호 A'(t)cos[ω'(t)+θ'(t)]를 형성한다. 지연 회로(62)는 검출 및 변환하기에 충분한 시간을 허용하여, 신호 A(t)cos[ω(t)+θ(t)]가 전치 보상 값과 동일한 시간에 복소 감쇠기(68)에 결합되도록 한다. 복소 감쇠기(68)는 전치 보상 신호 A'(t)cos[ω'(t)+θ'(t)]를 RF 전력 증폭기에 결합한다.
당업자는, 위상 시프터와 결합된 전력 감쇠기가 복소 감쇠기 기능을 할 수 있음을 알 수 있다. 또한, 당업자에게는, 벡터 변조기가 복소 감쇠기로서 사용될 수 있음이 명백해진다.
당업자가 알 수 있는 바와 같이, 도 3의 증폭기 시스템(20")은 사인파 또는 RF 기반 입력 신호에 의해 동작한다. 따라서, 제각기, 사각형 형태(I/Q) 및 극 형태(M, θ)의 입력 신호에 의해 동작하는 도 1의 입력 루프(18) 및 도 2의 입력 루프(18')와는 달리, 입력 루프(18")는 사인파 신호에 의해 동작한다. 따라서, 본 발명은 사용되는 입력 신호의 형태로는 제한을 받지 않는다.
본 발명이 실시예의 설명으로 예시되고, 실시예가 상당히 상세히 기술되었지만, 출원인은 이와 같은 상세 사항으로 첨부한 청구범위의 범주를 제한하는 것으로 의도하지 않는다. 예컨대, 무상관 적응 전치 보상기로의 입력 신호는, 동상 및 직각 위상 성분 및 변조된 반송파 신호를 나타내는 유형 I+jQ 및 A(t)cos[ω(t)+θ(t)]를 포함하지만, 이것으로 제한하지 않는 다수 형태 중 어느 하나를 취할 수 있음을 알 수 있다. 더욱이, 입력 루프(18, 18', 18")는 이에 따라 이와 같은 신호를 수용하도록 구성될 수 있다. 부가적인 이점 및 수정은 당업자에게는 명백해진다. 그래서, 본 발명은 광의적인 면에서 도시되고 기술된 장치 및 방 법과 예시적인 예를 나타내는 특정 상세 사항으로 제한되지 않는다. 따라서, 출원인의 일반적인 발명의 개념의 정신 및 범주로부터 벗어나지 않고 그와 같은 상세 사항에서 이루어질 수 있다.

Claims (39)

  1. RF 전력 증폭기에 사용하기 위해 구성되는 무상관 적응 전치 보상기에 있어서,
    RF 전력 증폭기의 입력에 결합되도록 구성되고, 결절점(knot)을 가진 스플라인 함수(spline function)로부터 유도되는 전치 보상 값을 포함한 조사표를 포함하는 입력 루프로서, 상기 스플라인 함수의 결절점은 상기 조사표의 지표(index)를 따라 배치되며, 상기 입력 루프는, 입력 신호 전력의 단조 증가 함수(monotonically increasing function)에 응답하여, 전치 보상 입력 신호를 형성하기 위해 전치 보상 값을 입력 신호에 적용하도록 구성되는 입력 루프; 및
    상기 RF 전력 증폭기의 출력에 결합되는 출력 루프를 포함하는데, 상기 출력 루프는, 상기 RF 전력 증폭기의 출력으로부터 상호 변조 왜곡 곱(intermodulation distorton product)을 선택하기 위해 동작 가능한 회로, 상기 전치 보상 입력 신호로부터 생성되는 상기 RF 전력 증폭기의 출력의 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 측정하도록 구성되는 검출기 회로, 및 상기 조사표의 지표에 따른 상기 결절점의 배치의 변화 시에, 전치 보상 값을 생성시켜, 상기 결절점의 배치의 변화로부터 생성되는 각각의 상호 변조 왜곡 곱의 측정된 크기 및 생성된 전치 보상 값을 평가하도록 동작 가능한 처리 회로를 포함하며, 상기 처리 회로는 상기 크기의 평가에 기초로 하여 상기 조사표 내의 전치 보상 값을 갱신하여, 상기 조사표 내의 갱신된 전치 보상 값이 상기 입력 신호에 대하여 무상관되도록 하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호 전력의 단조 증가 함수는, 하나 이상의 입력 전력, 입력 전력의 대수 및 입력 전력의 제곱근을 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 상호 변조 왜곡 곱은 제 3 상호 변조 왜곡 곱인 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 기저대 신호 및 변조된 RF 신호 중 하나 이상의 유형인 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 기저대 신호이고, 상기 조사표내의 전치 보상 값은 동상 및 직각 위상 형태이며, 상기 입력 루프는,
    상기 조사표에 결합되고, 입력 신호의 전력을 나타내는 스칼라 값을 산출하도록 구성되는 포락선 검출 회로로서, 상기 스칼라 값은 조사표에 대한 지표 기능을 하는 포락선 검출 회로,
    상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 전치 보상 값을 입력 신호 및 출력의 전치 보상 신호와 결합하도록 구성되는 복소 승산기,
    상기 복소 승산기에 결합되고, 상기 전치 보상 신호의 동상 및 직각 위상 성분에 의해 동작하도록 구성되는 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기,
    상기 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기에 결합되고, 아날로그 동상 및 직각 위상 전치 보상 신호를 반송파 신호에 적용하도록 구성되는 직교 변조기 및,
    상기 직교 변조기에 결합되고, 상기 반송파 신호를 상기 직교 변조기에 제공하도록 구성되는 RF 발진기를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 기저대 신호이고, 상기 조사표내의 전치 보상 값은 크기 및 위상 형태이며, 상기 입력 루프는,
    상기 조사표에 결합되고, 상기 입력 신호를 크기 및 위상 형태로 변환하도록 구성되는 제 1 변환 회로로서, 상기 크기는 상기 조사표에 대한 지표 기능을 하는 제 1 변환 회로,
    상기 제 1 변환 회로 및 상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 크기 전치 보상 값을 상기 입력 신호의 크기와 결합하도록 구성되는 승산 회로,
    상기 제 1 변환 회로 및 상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 위상 전치 보상 값을 입력 신호의 위상과 결합하도록 구성되는 가산 회로,
    상기 승산 회로 및 상기 가산 회로에 결합되고, 전치 보상 신호를 출력하도록 구성되는 제 2 변환 회로,
    상기 제 2 변환 회로에 결합되고, 상기 전치 보상 신호의 동상 및 직각 위상 성분에 의해 동작하도록 구성되는 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기,
    상기 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기에 결합되고, 아날로그 동상 및 직각 위상 전치 보상 신호를 반송파 신호에 적용하도록 구성되는 직교 변조기 및,
    상기 직교 변조기에 결합되고, 상기 반송파 신호를 상기 직교 변조기에 제공하도록 구성되는 RF 발진기를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 변조된 RF 신호이고, 상기 조사표내의 전치 보상 값은 크기 및 위상 형태이며, 상기 입력 루프는,
    상기 조사표에 결합되고, 입력 신호의 전력을 나타내는 스칼라 값을 산출하도록 구성되는 검파 회로,
    상기 검파 회로 및 상기 조사표에 결합되고, 상기 스칼라 값을 상기 조사표에 대한 지표 기능을 하는 디지털 신호로 변환하도록 구성되는 아날로그-디지털 변환 회로,
    상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 전치 보상 값을 상기 입력 신호와 결합하도록 구성되는 복소 감쇠기 및,
    상기 복소 감쇠기에 결합되고, 상기 복소 감쇠기에 대한 상기 입력 신호의 인가를 지연하도록 구성되는 지연 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 복소 감쇠기는 전력 감쇠기 및 위상 시프터를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 복소 감쇠기는 벡터 변조기를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 출력 루프는,
    상기 RF 전력 증폭기의 출력에 결합되는 결합기,
    상기 결합기에 결합되는 혼합기,
    상기 혼합기에 결합되고, 상기 혼합기가 상기 RF 전력 증폭기의 제 3 상호 변조 왜곡 곱을 선택하도록 주파수를 출력하기 위해 구성되는 국부 발진기,
    상기 혼합기에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱을 증폭하도록 구성되는 증폭기,
    상기 증폭기에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱을 주파수 선택하도록 구성되는 대역 통과 필터,
    상기 대역 통과 필터에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 나타내는 아날로그 신호를 발생시키도록 구성되는 검파기,
    상기 검파기에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 나타내는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하도록 구성되는 아날로그-디지털 변환기 및,
    상기 아날로그-디지털 변환기 및 상기 조사표에 결합되고, 최적 세트의 전치 보상 값을 선택하도록 구성되는 처리 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 제 1 항에 있어서,
    상기 스플라인 함수를 이용하여 진폭 대 진폭 및 진폭 대 위상 전치 보상 곡선을 분석하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  14. 제 1 항에 있어서,
    상기 스플라인 함수는 결절점을 가지며, 변수의 변화로, 각 결절점의 크기가 변화되고, 전치 보상 값이 생성되며, 상기 결절점의 크기의 변화가 상호 변조 왜곡 성능을 향상시켰는지를 판정하도록 상호 변조 왜곡 곱이 측정되는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  15. 삭제
  16. 제 1 항에 있어서,
    상기 처리 회로는 상기 조사표 내의 전치 보상 값을 갱신하도록 선택적으로 활성화하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 전치 보상기.
  17. RF 전력 증폭기 및 무상관 적응 전치 보상기를 포함하는 증폭 시스템에 있어서,
    상기 무상관 적응 전치 보상기는,
    RF 전력 증폭기의 입력에 결합되도록 구성되고, 결절점을 가진 스플라인 함수로부터 유도되는 전치 보상 값을 포함한 조사표를 포함하는 입력 루프로서, 상기 스플라인 함수의 결절점은 상기 조사표의 지표를 따라 배치되며, 상기 입력 루프는, 입력 신호 전력의 단조 증가 함수에 응답하여, 전치 보상 입력 신호를 형성하기 위해 전치 보상 값을 입력 신호에 적용하도록 구성되는 입력 루프; 및
    상기 RF 전력 증폭기의 출력에 결합되는 출력 루프를 포함하는데, 상기 출력 루프는, 상기 RF 전력 증폭기의 출력으로부터 상호 변조 왜곡 곱을 선택하기 위해 동작 가능한 회로, 상기 전치 보상 입력 신호로부터 생성되는 상기 RF 전력 증폭기의 출력의 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 측정하도록 구성되는 검출기 회로, 및 상기 조사표의 지표에 따른 상기 결절점의 배치의 변화 시에, 전치 보상 값을 생성시켜, 상기 결절점의 배치의 변화로부터 생성되는 각각의 상호 변조 왜곡 곱의 측정된 크기 및 생성된 전치 보상 값을 평가하도록 동작 가능한 처리 회로를 포함하며, 상기 처리 회로는 상기 크기의 평가에 기초로 하여 상기 조사표 내의 전치 보상 값을 갱신하여, 상기 조사표 내의 갱신된 전치 보상 값이 상기 입력 신호에 대하여 무상관되도록 하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 입력 신호 전력의 단조 증가 함수는, 하나 이상의 입력 전력, 입력 전력의 대수 및 입력 전력의 제곱근을 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  19. 제 17 항에 있어서,
    상기 상호 변조 왜곡 곱은 제 3 상호 변조 왜곡 곱인 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  20. 제 17 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 기저대 신호 및 변조된 RF 신호 중 하나 이상의 유형인 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  21. 제 17 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 기저대 신호이고, 상기 조사표내의 전치 보상 값은 동상 및 직각 위상 형태이며, 상기 입력 루프는,
    상기 조사표에 결합되고, 입력 신호의 전력을 나타내는 스칼라 값을 산출하도록 구성되는 포락선 검출 회로로서, 상기 스칼라 값은 조사표에 대한 지표 기능을 하는 포락선 검출 회로,
    상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 전치 보상 값을 입력 신호 및 출력의 전치 보상 신호와 결합하도록 구성되는 복소 승산기,
    상기 복소 승산기에 결합되고, 상기 전치 보상 신호의 동상 및 직각 위상 성분에 의해 동작하도록 구성되는 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기,
    상기 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기에 결합되고, 아날로그 동상 및 직각 위상 전치 보상 신호를 반송파 신호에 적용하도록 구성되는 직교 변조기 및,
    상기 직교 변조기에 결합되고, 상기 반송파 신호를 상기 직교 변조기에 제공하도록 구성되는 RF 발진기를 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  22. 제 17 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 기저대 신호이고, 상기 조사표내의 전치 보상 값은 크기 및 위상 형태이며, 상기 입력 루프는,
    상기 조사표에 결합되고, 상기 입력 신호를 크기 및 위상 형태로 변환하도록 구성되는 제 1 변환 회로로서, 상기 크기는 상기 조사표에 대한 지표 기능을 하는 제 1 변환 회로,
    상기 제 1 변환 회로 및 상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 크기 전치 보상 값을 상기 입력 신호의 크기와 결합하도록 구성되는 승산 회로,
    상기 제 1 변환 회로 및 상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 위상 전치 보상 값을 입력 신호의 위상과 결합하도록 구성되는 가산 회로,
    상기 승산 회로 및 상기 가산 회로에 결합되고, 전치 보상 신호를 출력하도록 구성되는 제 2 변환 회로,
    상기 제 2 변환 회로에 결합되고, 상기 전치 보상 신호의 동상 및 직각 위상 성분에 의해 동작하도록 구성되는 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기,
    상기 제 1 및 2 디지털-아날로그 변환기에 결합되고, 아날로그 동상 및 직각 위상 전치 보상 신호를 반송파 신호에 적용하도록 구성되는 직교 변조기 및,
    상기 직교 변조기에 결합되고, 상기 반송파 신호를 상기 직교 변조기에 제공하도록 구성되는 RF 발진기를 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  23. 제 17 항에 있어서,
    상기 입력 신호는 변조된 RF 신호이고, 상기 조사표내의 전치 보상 값은 크기 및 위상 형태이며, 상기 입력 루프는,
    상기 조사표에 결합되고, 입력 신호의 전력을 나타내는 스칼라 값을 산출하도록 구성되는 검파 회로,
    상기 검파 회로 및 상기 조사표에 결합되고, 상기 스칼라 값을 상기 조사표에 대한 지표 기능을 하는 디지털 신호로 변환하도록 구성되는 아날로그-디지털 변환 회로,
    상기 조사표에 결합되고, 상기 조사표내의 전치 보상 값을 상기 입력 신호와 결합하도록 구성되는 복소 감쇠기 및,
    상기 복소 감쇠기에 결합되고, 상기 복소 감쇠기에 대한 상기 입력 신호의 인가를 지연하도록 구성되는 지연 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  24. 제 23 항에 있어서,
    상기 복소 감쇠기는 전력 감쇠기 및 위상 시프터를 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  25. 제 23 항에 있어서,
    상기 복소 감쇠기는 벡터 변조기를 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  26. 제 17 항에 있어서,
    상기 출력 루프는,
    상기 RF 전력 증폭기의 출력에 결합되는 결합기,
    상기 결합기에 결합되는 혼합기,
    상기 혼합기에 결합되고, 상기 혼합기가 상기 RF 전력 증폭기의 제 3 상호 변조 왜곡 곱을 선택하도록 주파수를 출력하기 위해 구성되는 국부 발진기,
    상기 혼합기에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱을 증폭하도록 구성되는 증폭기,
    상기 증폭기에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱을 주파수 선택하도록 구성되는 대역 통과 필터,
    상기 대역 통과 필터에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 나타내는 아날로그 신호를 발생시키도록 구성되는 검파기,
    상기 검파기에 결합되고, 상기 제 3 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 나타내는 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하도록 구성되는 아날로그-디지털 변환기 및,
    상기 아날로그-디지털 변환기 및 상기 조사표에 결합되고, 최적 세트의 전치 보상 값을 선택하도록 구성되는 처리 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  27. 삭제
  28. 삭제
  29. 제 17 항에 있어서,
    상기 스플라인 함수를 이용하여 진폭 대 진폭 및 진폭 대 위상 전치 보상 곡선을 분석하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  30. 제 17 항에 있어서,
    상기 스플라인 함수는 결절점을 가지며, 변수의 변화로, 각 결절점의 크기가 변화되고, 전치 보상 값이 생성되며, 상기 결절점의 크기의 변화가 상호 변조 왜곡 성능을 향상시켰는지를 판정하도록 상호 변조 왜곡 곱이 측정되는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  31. 삭제
  32. 제 17 항에 있어서,
    상기 처리 회로는 상기 조사표내의 전치 보상 값을 갱신하도록 선택적으로 활성화하는 것을 특징으로 하는 증폭 시스템.
  33. RF 전력 증폭기에 인가된 입력 신호를 전치 보상하는 무상관 적응 방법에 있어서,
    상기 입력 신호의 전력을 나타내는 스칼라 값을 산출하는 단계;
    조사표의 지표를 따라 배치되는 결절점을 가진 스플라인 함수로부터 유도되는 전치 보상 값을 포함한 조사표의 지표에 상기 스칼라 값을 적용하고, 상기 RF 전력 증폭기로부터의 출력을 산출하는 전치 보상 입력 신호를 형성하기 위해 상기 전치 보상 값을 상기 입력 신호에 적용하는 단계;
    최적 전치 보상 값을 선택하도록 상기 RF 전력 증폭기의 출력의 상호 변조 왜곡 곱의 크기를 측정하는 단계;
    상기 조사표의 지표에 따른 상기 결절점의 배치를 변화시키고, 전치 보상 값을 생성시켜, 상기 결절점의 배치의 변화로부터 생성되는 각각의 상호 변조 왜곡 곱의 측정된 크기 및 생성된 전치 보상 값을 평가하는 단계;
    상기 크기의 평가에 기초로 하여 상기 조사표 내의 전치 보상 값을 갱신함으로써, 상기 조사표 내의 갱신된 전치 보상 값이 상기 입력 신호에 대하여 무상관되는 단계; 및
    상기 RF 전력 증폭기의 선형성을 개선하도록 상기 전치 보상 값을 상기 입력 신호와 결합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 방법.
  34. 제 33 항에 있어서,
    상기 상호 변조 왜곡 곱은 제 3 상호 변조 왜곡 곱인 것을 특징으로 하는 무상관 적응 방법.
  35. 삭제
  36. 삭제
  37. 제 33 항에 있어서,
    상기 전치 보상 값은 상기 RF 전력 증폭기의 진폭 대 진폭 및 진폭 대 위상 특성에 스플라인 함수를 적용함으로써 갱신되는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 방법.
  38. 제 37 항에 있어서,
    상기 스플라인 함수는 결절점을 가지며, 상기 스플라인 함수의 변수의 변화로, 각 결절점의 크기가 변화되고, 전치 보상 값이 생성되며, 상기 결절점의 크기의 변화가 상호 변조 왜곡 성능을 향상시켰는지를 판정하도록 상호 변조 왜곡 곱이 측정되는 것을 특징으로 하는 무상관 적응 방법.
  39. 삭제
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