KR101101262B1

KR101101262B1 - 핀 커넥터 및 상기 핀 커넥터를 구비하는 칩 점검수리 지그

Info

Publication number: KR101101262B1
Application number: KR1020090106251A
Authority: KR
Inventors: 스양 초우
Original assignee: 기가 바이트 테크놀러지 컴퍼니 리미티드
Priority date: 2009-09-11
Filing date: 2009-11-05
Publication date: 2012-01-04
Also published as: US8198907B2; EP2317330B1; EP2317330A1; US20110128021A1; KR20110028195A

Abstract

본 발명은 칩 점검수리 지그에 관한 것으로서, 회로기판 위의 측정하고자 하는 칩의 점검수리 보조(輔助)를 위한 것이다. 상기 칩 점검수리 지그는 칩 전환 장치 및 핀 커넥터를 포함한다. 상기 칩 전환 장치는 표준 칩과 전환 스위치를 포함한다. 상기 전환 스위치는 상기 표준 칩 또는 상기 측정하고자 하는 칩이 상기 회로기판에서 동작하도록 설정하기 위한 것이다. 상기 핀 커넥터는 핀 연결선 및 자력 유닛을 포함한다. 상기 핀 연결선의 양단에는 각각 핀 단자 및 상기 칩 전환 장치에 연결될 연결 포트가 형성된다. 상기 핀 단자는 핀 조합(assembly)을 가지고 있으며, 이는 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합에 대응된다. 상기 자력 유닛은 상기 핀 단자가 상기 측정하고자 하는 칩에 다가갔을 때, 상기 핀 단자와 상기 측정하고자 하는 칩을 흡인하여 다가가게 하여, 상기 핀 단자의 핀 조합과 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합이 대응 접촉되도록 한다.

칩 점검수리 지그, 핀 커넥터, 자성 유닛, 자력 유닛

Description

핀 커넥터 및 상기 핀 커넥터를 구비하는 칩 점검수리 지그{Pin Connector and Chip Repair Fixture with that Pin Connector}

본 발명은 핀 커넥터 및 상기 핀 커넥터를 가지고 있는 칩 점검수리 지그에 관한 것으로서, 회로기판 위의 측정하고자 하는 칩의 점검수리를 보조하기 위한 것이다.

전통적으로, 회로기판 위의 칩이 고장 나거나 또는 정상적으로 작동하지 않을 때, 실제 파손된 칩 위치를 미리 알 수 없기 때문에 파손되었다고 의심되는 칩은 정상 여부를 막론하고 모두 하나하나 떼어내서 검사하여 실제 파손된 칩 위치를 확인한다. 실제로 칩이 정상적으로 작동되지 않는 원인은 칩 고장 또는 칩 내부 데이터의 파괴일 수 있다. 만약 후자일 경우, 데이터가 파괴된 칩의 내부 데이터를 업데이트하면 상기 칩은 정상적으로 작동할 수 있다.

대만 공고 제I310460호 특허는 칩 점검수리 보조 장치를 제안한 것으로서, 회로기판 위의 칩을 점검 수리하기 위한 것이다. 상기 칩 점검수리 보조 장치는 대체용 칩을 전기적으로 연결하는 대체용 회로기판, 및 전환 스위치를 포함한다. 상기 대체용 회로기판이 상기 칩의 핀 조합에 전기적으로 연결된 후, 상기 대체용 칩 은 상기 전환 스위치의 전환에 의해 상기 칩의 상기 회로기판 위에서 동작을 대체한다. 만약 상기 대체용 칩의 성공적인 대체로 상기 회로기판이 정상 동작을 회복하면, 상기 칩이 확실히 문제가 된다는 것을 나타내어, 이에 의해 파손된 칩의 위치를 판단할 수 있다. 이렇게 함으로써, 상기 대만 특허는 칩을 떼어내지 않고 회로기판에서 직접 검사할 수 있도록 하였다. 만약 데이터가 파괴된 칩일 때는 상기 칩의 내부 데이터를 업데이트한 후 계속 정상적으로 동작할 수 있으며; 만약 업데이트 후에도 여전히 동작하지 않거나 업데이트할 수 없을 때에야 상기 칩을 떼어내어 교환한다.

그 외, 현재 알려져 있는 칩 점검수리 보조 장치는 핀 조합 클램프를 이용하며, 회로기판 위의 칩 핀과 접촉하게 한다. 이러한 클램프는 핀과 대응되는 상기 칩의 핀 조합과 실제 접촉한다. 그러나 상기 클램프로 검사할 때, 반드시 클램프와 핀이 맞물려야 하거나 칩을 떼어내야 되어 장기적으로 사용하면 수명이 줄어들거나 접촉 불량이 발생하기 때문에 반드시 자주 클램프를 바꿔야 하는 문제점이 있다.

본 발명의 목적은 이상에서 언급한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 자력을 이용하여 클램프를 대체하여 핀 접촉을 진행하는 칩 점검수리 지그를 제공하여 회로기판 위의 측정하고자 하는 칩의 점검 수리를 보조하기 위한 것이다.

이상과 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 칩 점검수리 지그는 칩 전환 장치 및 핀 커넥터로 구성된다. 상기 칩 전환 장치는 표준 칩 및 전환 스위치를 포함한다. 상기 전환 스위치는 상기 표준 칩 및 상기 측정하고자 하는 칩의 작동 또는 중지 상태를 제어한다. 또한, 상기 핀 커넥터는 핀 연결선 및 자력유닛을 포함한다. 상기 핀 연결선의 양단에는 각각 핀 단자 및 연결 포트를 형성한다. 상기 핀 단자에는 핀 조합이 있으며, 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합에 대응된다. 상기 연결 포트는 상기 칩 전환 장치와의 연결에 사용된다. 상기 자력유닛은 서로 흡인하는 자석 및 자성 스티커를 포함한다. 상기 자석은 상기 핀 단자에 고정되며, 상기 자성 스티커는 상기 칩에 붙인다. 이로 인하여, 상기 핀 단자가 상기 측정하고자 하는 칩에 접근하였을 때, 상기 핀 단자와 상기 측정하고자 하는 칩은 흡인하여 다가가게 하며, 상기 핀 단자의 핀 조합과 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합이 각각 서로 대응 접촉하게 된다.

본 발명은 상기 자력유닛을 통하여 상기 칩 점검수리 지그로 하여금 칩에 대 하여 핀 접촉할 때 쉽게 맞물리거나 쉽게 분리될 수 있도록 하여, 견고하고 오래 사용할 수 있다.

이상에서 설명한 본 발명에 따른 핀 커넥터 및 상기 핀 커넥터를 가지는 칩 점검수리 지그는 다음과 같은 효과를 제공한다.

본 발명은 상기 자력유닛의 설계로 상기 칩 점검수리 지그가 칩에 대해 핀 조합 접촉할 때 쉽게 맞물리거나 쉽게 분리될 수 있도록 하여, 견고하고 오래 사용할 수 있다.

이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 설명한다.

도 1 내지 3은 본 발명에 따른 칩 점검수리 지그의 바람직한 실시예를 나타내는 것으로서, 회로기판(5) 위의 측정하고자 하는 칩(6)의 점검수리를 보조하기 위한 것이다. 상기 칩 점검수리 지그는 칩 전환 장치(1) 및 핀 커넥터(2)를 포함한다. 상기 핀 커넥터(2)는 예를 들면 상기 칩 전환 장치(1)와 같은 전자장치가 예를 들면 상기 측정하고자 하는 칩(6)과 같은 칩에 전기적으로 연결되게 한다. 여기서, 상기 핀 커넥터(2)는 핀 연결선(3) 및 자력 유닛(4)을 포함한다.

도 1을 참조하면, 상기 칩 전환 장치(1)는 표준 칩(11), 전환 스위치(12) 및 연결 슬롯(13)을 포함한다. 상기 전환 스위치(12)는 상기 표준 칩(11) 및 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 작동(Enable) 또는 중지(Disable) 상태를 제어한다. 예를 들면, 상기 칩 점검수리 지그를 상기 회로기판(6)에 연결하였을 때, 상기 전환 스 위치(12)는 상기 표준 칩(11)을 작동(Enable)하게 함과 동시에 상기 측정고자 하는 칩(6)을 중지(Disable)하게 하며, 이에 의하여 상기 표준 칩(11)은 상기 측정하고자 하는 칩(6)을 대체하여 회로기판(5)에서 작동하여, 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 상태를 확인할 수 있다.

상기 핀 연결선(3)의 양단에는 각각 핀 단자(31) 및 연결 포트(32)가 형성된다. 상기 핀 단자(31)에는 핀 조합(311)이 형성되어 있으며, 이는 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 핀 조합(61)에 대응된다. 상기 핀 연결선(3)의 연결 포트(32)는 상기 칩 전환 장치(1)의 연결 슬롯(13)에 삽입되게 한다.

상기 자력 유닛(4)은 상기 핀 연결선(3)의 핀 단자(31)가 상기 측정하고자 하는 칩(6)에 접근하였을 때, 상기 핀 단자(31)와 상기 측정하고자 하는 칩(6)을 흡인하여 다가가도록 하며, 상기 핀 단자(31)의 핀 조합(311)과 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 핀 조합(61)이 각각 서로 대응 접촉되게 한다.

도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 자력 유닛(4)은 자석(41) 및 자성 스티커(42)를 포함한다. 상기 자석(41)은 상기 핀 단자(31)에 고정되며, 상기 자성 스티커(42)는 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 윗면에 붙인다. 상기 핀 연결선(3)의 핀 단자(31)가 상기 측정하고자 하는 칩(6)에 접근할 때, 상기 핀 단자(31)와 상기 측정하고자 하는 칩(6)은 흡인되어 다가가며, 상기 핀 조합들(311 및 61)은 서로 긴밀히 접촉하게 되어 핀 접촉 목적을 달성하게 되는데 이는 도 3에서 나타낸 것과 같다. 칩 검사 완료 후, 상기 핀 단자(31)는 상기 측정하고자 하는 칩(6)으로부터 쉽게 분리될 수 있으며, 계속하여 다음 칩을 측정할 수 있다.

여기서, 상기 자력 유닛(4)은 포카요케 시스템(poka-yoke system)을 가질 수 있으며, 이에 의하여 칩을 잘못 놓아 핀 조합을 잘못 연결하는 현상을 피할 수 있다. 예를 들면, 본 실시예에서, 도 1에 나타내듯이, 상기 자석(41)의 N극과 S극이 각각 상기 자성 스티커(42)의 S극과 N극에 바로 대응되게 하였다. 이로 하여, 상기 핀 단자(31)의 방향이 틀리면, 상기 측정하고자 하는 칩(6)과 흡인하는 목적을 달성할 수 없다.

도 4는 상기 자력 유닛(4)을 나타내는 다른 실시예이다. 여기에서, 상기 자력 유닛(4)은 자석(41a) 및 자성 스티커(42a)를 포함한다. 도에서 나타내듯이, 핀 단자(31)에 설치한 상기 자석(41a)의 서로 반대되는 자극(즉: N극과 S극)은 상하로 배치된다. 마찬가지로, 상기 측정하고자 하는 칩(6)에 붙인 상기 자성 스티커(42a)의 서로 반대되는 자극(즉: N극과 S극)도 상하로 배치된다. 상기 자성 스티커 밑 부분의 자극(즉 S극)은 아래로 향하여 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 윗면에 가까이 닿는다. 이때, 상기 자석(41a) 밑 부분의 자극(즉 S극)은 상기 자성 스티커(42a)의 윗부분의 다른 자극(즉 N극)과 서로 흡인한다. 이로 하여, 상기 자석(41a) 및 상기 자성 스티커(42a)는 상기 핀 단자(31)와 상기 측정하고자 하는 칩(6)이 흡인하여 핀 조합이 접촉하게 하는 목적을 달성하게 되며, 동시에 상기 핀 단자(31)를 상기 측정하고자 하는 칩(6)에서 분리시킬 수 있다.

도 5는 상기 자력 유닛(4)의 또 다른 실시예를 나타낸다. 여기서, 상기 자력 유닛(4)은 자석(41b) 및 금속편(42b)을 포함한다. 상기 금속편(42b)은 예를 들면 철판과 같이 상기 자석(41b)에 의해 반드시 흡인되어야 한다. 상기 자석(41b) 및 상기 금속편(42b)은 각각 상기 핀 단자(31) 및 상기 측정하고자 하는 칩(6)에 고정한다. 이로 인하여, 상기 자석(41b) 및 상기 금속편(42b)은 마찬가지로 상기 핀 단자(31)와 상기 측정하고자 하는 칩(6)이 흡인하여 핀 조합이 접촉하게 하는 목적을 달성하게 되며, 또한 상기 핀 단자(31)를 상기 측정하고자 하는 칩(6)에서 쉽게 분리시킬 수 있다.

도 2 및 3을 참조하면, 상기 핀 연결선(3)의 핀 단자(31)의 밑면에는 측정하고자 하는 칩(6)과 맞물리는 홈(310)이 설치되어 있으며, 상기 핀 단자(31)의 홈(310)이 상기 측정하고자 하는 칩(6)을 수용하였을 때, 상기 핀 단자(31)의 핀 조합(311)은 상기 측정하고자 하는 칩(6)의 핀 조합(611)에 마침 대응되게 된다. 이로 인하여, 상기 핀 단자(31)와 상기 측정하고자 하는 칩(6)이 자력에 의해 서로 흡인할 때 편위가 발생하지 않게 한다.

위에서 본 발명의 바람직한 실시예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어져서는 아니 되며 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

도 1은 본 발명에 따른 칩 점검수리 지그의 바람직한 실시예의 분해 사시도이며,

도 2는 상기 점검수리 지그의 핀 단자와 측정하고자 하는 칩이 서로 결합하기 전의 상태를 나타내고,

도 3은 상기 칩 점검수리 지그의 상기 핀 단자와 상기 측정하고자 하는 칩이 결합한 후의 상태를 나타내며,

도 4는 상기 칩 점검수리 지그의 자력 유닛의 다른 실시예를 나타내며,

도 5는 상기 칩 점검수리 지그의 자력 유닛의 또 다른 실시예를 나타낸다.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*

1: 칩 전환 장치 11: 표준 칩

12: 전환 스위치 13: 연결 슬롯

2: 핀 커넥터 3: 핀 연결선

31: 핀 단자 310: 홈

311: 핀 조합 32: 연결 포트

4: 자력 유닛 41: 자석

42: 자성 스티커 5: 회로기판

6: 측정하고자 하는 칩 61: 핀 조합

Claims

회로기판 상의 측정하고자 하는 칩의 점검수리를 보조하는데 사용되는 칩 점검수리 지그로서,

표준 칩 및 상기 표준 칩과 상기 측정하고자 하는 칩의 작동(Enable) 또는 중지(Disable) 상태를 제어하는 전환 스위치를 포함하는 칩 전환 장치;

일단은 상기 칩 전환 장치에 연결되고, 타단은 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합에 대응되는 핀 조합을 가지고 있는 핀 단자를 형성하는 핀 연결선;

상기 핀 단자가 상기 측정하고자 하는 칩에 접근하였을 때, 상기 핀 단자와 상기 측정하고자 하는 칩이 흡인하여 다가가도록 하여, 상기 핀 단자의 핀 조합과 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합이 서로 대응 접촉되게 하는 자력 유닛을 포함하는 칩 점검수리 지그.
제1항에 있어서,

상기 자력 유닛은 서로 흡인하는 자석 및 자성 스티커를 포함하고,

상기 자석은 상기 핀 단자에 고정되며 상기 자성 스티커는 상기 측정하고자 하는 칩에 붙이는 것을 특징으로 하는 칩 점검수리 지그.
제2항에 있어서,

상기 자석의 N극과 S극은 각각 상기 자성 스티커의 S극과 N극에 흡인하도록 하는 것을 특징으로 하는 칩 점검수리 지그.
제2항에 있어서,

상기 자성 스티커의 두 개의 서로 반대되는 자극은 상하로 배치되고,

상기 자성 스티커를 상기 측정하고자 하는 칩에 붙일 때, 상기 자성 스티커의 밑부분의 자극이 상기 측정하고자 하는 칩의 윗면에 붙으며 상기 자성 스티커의 윗부분의 자극이 위를 향하여 상기 자석의 한 자극과 서로 흡인되게 하는 것을 특징으로 하는 칩 점검수리 지그.
제2항에 있어서,

상기 자석의 서로 반대되는 자극은 상하로 배치되고,

상기 자석의 밑부분의 자극은 아래를 향하여 상기 자성 스티커의 한 자극과 서로 흡인되게 하는 것을 특징으로 하는 칩 점검수리 지그.
제1항에 있어서,

상기 자력 유닛은 자석 및 상기 자석에 흡인되는 금속편을 포함하며,

상기 자석 및 상기 금속편은 각각 상기 핀 단자 및 상기 측정하고자 하는 칩 위에 고정되는 것을 특징으로 하는 칩 점검수리 지그.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 핀 단자의 밑면에 상기 측정하고자 하는 칩에 대응되는 홈이 형성되며,

상기 핀 단자의 홈에 상기 측정하고자 하는 칩이 수용되었을 경우, 상기 핀 단자의 핀 조합이 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합에 대응되는 것을 특징으로 하는 칩 점검수리 지그.
전자장치가 칩의 핀 조합에 전기적으로 연결되게 하기 위한 핀 커넥터로서,

양단에 각각 상기 칩의 핀 조합에 대응되는 핀 조합을 갖는 핀 단자 및 상기 전자장치에 연결되는 연결 포트가 형성되는 핀 연결선; 및

상기 핀 단자가 상기 칩에 접근하였을 때, 상기 핀 단자와 상기 칩을 흡인하여 상기 핀 단자의 핀 조합과 상기 칩의 핀 조합이 각각 서로 대응 접촉되게 하는 자력 유닛을 포함하는 핀 커넥터.
제8항에 있어서,

상기 자력 유닛은 서로 흡인하는 자석 및 자성 스티커를 포함하며,

상기 자석은 상기 핀 단자에 고정되고 상기 자성 스티커는 상기 칩에 붙이는 것을 특징으로 하는 핀 커넥터.
제9항에 있어서,

상기 자석의 N극과 S극은 각각 상기 자성 스티커의 S극과 N극을 흡인하게 하는 것을 특징으로 하는 핀 커넥터.
제9항에 있어서,

상기 자성 스티커의 두 개의 서로 반대되는 자극이 상하로 배치되며,

상기 자성 스티커를 측정하고자 하는 칩에 붙일 때, 상기 자성 스티커의 밑부분의 자극은 상기 측정하고자 하는 칩의 윗면에 붙으며, 상기 자성 스티커의 윗부분의 자극은 위를 향하여 상기 자석의 자극과 서로 흡인되게 하는 것을 특징으로 하는 핀 커넥터.
제9항에 있어서,

상기 자석의 서로 반대되는 자극이 상하로 배치되며,

상기 자석의 밑부분의 자극은 아래를 향하여 상기 자성 스티커의 자극과 서로 흡인하는 것을 특징으로 하는 핀 커넥터.
제8항에 있어서,

상기 자력 유닛은 자석 및 상기 자석에 흡입되는 금속편을 포함하며,

상기 자석 및 상기 금속편은 각각 상기 핀 단자 및 측정하고자 하는 칩 위에 고정되는 것을 특징으로 하는 핀 커넥터.
제8항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 핀 단자의 밑면에 측정하고자 하는 칩에 대응되는 홈이 형성되며,

상기 핀 단자의 홈에 상기 측정하고자 하는 칩이 수용된 경우, 상기 핀 단자의 핀 조합이 상기 측정하고자 하는 칩의 핀 조합에 대응되는 것을 특징으로 하는 핀 커넥터.