JP3156717U

JP3156717U - ピン接続器及びピン接続器を備えるチップ点検修理治具

Info

Publication number: JP3156717U
Application number: JP2009007697U
Authority: JP
Inventors: シー‐ヤン，チョウ
Original assignee: ギガ−バイトテクノロジーカンパニーリミテッド
Priority date: 2009-10-29
Filing date: 2009-10-29
Publication date: 2010-01-14
Anticipated expiration: 2019-10-29

Abstract

【課題】チャックの代わりに磁力を用いて被検査ピンとの接触を行うチップ点検修理治具（チップ点検具）を提供する。【解決手段】本チップ点検修理治具は、チップ切換装置１及びピン接続器２を有する。チップ切換装置は、標準チップ１１及び切替スイッチ１２を含む。切替スイッチは、標準チップ又は被検査チップを回路板５に設定して作動させることができる。ピン接続器は、ピン接続コード３及び磁力ユニット４を含む。ピン接続コードの両端は、それぞれピンジョイント３１及びチップ切換装置１に接続することができる接続ポート３２が形成される。ピンジョイント３１は、被検査チップのピン付きセットに対応するピン付きセット３１１を有する。磁力ユニット４は、ピンジョイント３１が被検査チップに取り付けされる際、ピンジョイント３９と被検査チップを引き合わせ、ピンジョイントのピン付きセットと被検査チップのピン付きセットを対応させ接触させることができる。【選択図】図１

Description

本考案は、ピン接続器及びピン接続器を備えるチップ点検修理治具に関し、詳細には、回路板上の被検査チップの点検修理の補助をするチップ点検修理治具に関する。

従来は、回路板のチップに故障が発生したり、チップが正常に作動できなくなったりしたとき、実際に壊れたチップの位置を予測することができないため、破損が疑われるチップは、たとえそれが正常であろうとなかろうと、一つ一つ回路板上から取り外して検査することにより、実際に壊れたチップの位置を特定する。一般的にチップが正常に作動できない原因としては、チップ自身の故障である可能性もあるし、又は単純にチップ内部のデータの損傷という可能性もある。仮にその原因が後者である場合、データが損傷したチップの内部データを更新するだけで、チップを正常作動に回復させることができる。

特許文献１に開示されているチップ点検修理補助装置は、回路板上のチップを点検修理することができる。このチップ点検修理補助装置は、代替回路板、代替回路板に電気的に接続される代替チップ、及び切替スイッチを含む。代替回路板がチップのピン付きセットに電気的に接続された後、代替チップを切替スイッチの切替によってチップの代わりに回路板上で作動させることができる。仮に、代替チップの代替が成功し回路板が正常作動を回復できた場合は、チップは確実に問題があることを意味し、これにより壊れたチップ位置を判断できるようになる。このように、特許文献１に記載のチップ点検修理補助装置は、チップを回路板上で直接検査することを可能にし、チップを取り外して検査する必要がない。また、データが破損しただけのチップである場合、チップは内部データを更新すれば正常な作動を引き続き行うことができ、更新した後にチップの作動ができなかったり、データの更新ができない場合には、チップの取り外し交換が必要となる。

その他に従来のチップ点検修理補助装置として、ピン付きセットを有するチャックを用い、回路板上のチップのピンとチャックのピンとを接触させるチップ点検修理補助装置がある。このチップ点検修理補助装置のチャックは、そのピンとチップに対応するピン付きセットとをぴったりと接触させることができる。しかしながら、このチャックは、検査するときにチップに対して取り付け又は取り外しされるものであり、長期に渡るチャックの着脱の繰り返し使用は、チャック自体の寿命が短くなったり、接触不良を起こしやすくなるため、定期的なチャックの交換が必要になる。

台湾特許第Ｉ３１０４６０号明細書

本考案の主な目的は、回路板上の被検査チップの点検修理の補助をするチップ点検修理治具において、チャックの代わりに磁力を用いて被検査ピンとの接触を行うチップ点検修理治具（チップ点検具）を提供することにある。

本考案のチップ点検修理治具は、チップ切換装置及びピン接続器を含む。チップ切換装置は、標準チップ及び、標準チップ及び前記被検査チップの作動状態のオン／オフを制御する切替スイッチを含む。また、ピン接続器は、ピン接続コード及び磁力ユニットを含み、ピン接続コードの両端は、それぞれピンジョイント及び接続ポートが形成される。ピンジョイントは、被検査チップのピン付きセットに対応するピン付きセットを有する。接続ポートは、チップ切換装置に接続される。磁力ユニットは、相互に引き合うことができる磁石及び磁気シールを含む。磁石は、ピンジョイントに固定され、磁気シールは、被検査チップに貼り付けられる。これにより、ピンジョイントが被検査チップに近づいた（取り付けられる）際、ピンジョイントと被検査チップがその磁力により互いに引き合わされ、ピンジョイントのピン付きセットと被検査チップのピン付きセットが、それぞれ対応して相互に接触される。

本考案では、磁力ユニットにより、チップに対して被検査チップのピンと接触をする際の簡単な取り付け又は取り外しが可能となるとともに、非常に堅固で長持ちするチップ点検修理具を提供することができる。

本考案のチップ検査治具の好適な実施例における立体分解図である。本考案のチップ検査治具のピンジョイントと被検査チップを連結させる前の状態を示した図である。本考案のチップ検査治具のピンジョイントと被検査チップを連結させた後の状態を示した図である。本考案のチップ検査治具の磁力ユニットのもう一つの例を示した図である。本考案のチップ検査治具の磁力ユニットの更にもう一つの例を示した図である。

（実施例）
図１から図３は、回路板５上の被検査チップ６の点検修理を補助する本考案のチップ点検修理治具の好適な実施例である。本考案のチップ点検修理治具は、チップ切換装置１及びピン接続器２を含んで構成される。ピン接続器２は、電子装置であるチップ切換装置１と回路板上に配置されるチップである被検査チップ６とを電気的に接続させる。ピン接続器２は、ピン接続コード３及び磁力ユニット４を含んでいる。

図１に示すように、チップ切換装置１は、標準チップ（被検査チップ６に対応する検査用チップ）１１、切替スイッチ１２及び接続スロット１３を含んで構成される。切替スイッチ１２は、標準チップ１１及び被検査チップ６の作動状態のオン（Ｅｎａｂｌｅ）／オフ（Ｄｉｓａｂｌｅ）を制御することができる。例えば、チップ点検修理治具の全体が回路板６上に接続されるとき、切替スイッチ１２は標準チップ１１をオン（Ｅｎａｂｌｅ）にし、同時に被検査チップ６をオフ（Ｄｉｓａｂｌｅ）にすることができる。これにより標準チップ１１を被検査チップ６の代わりに回路板５上で作動させ、被検査チップ６の正常な作動（故障やデータ破損の有無等）を確認することができる。

ピン接続コード３の両端には、それぞれピンジョイント３１及び接続ポート３２が設けられ、ピンジョイント３１は、被検査チップ６のピン付きセット６１に対応するピン付きセット３１１が形成されている。ピン接続コード３の接続ポート３２は、チップ切換装置１の接続スロット１３に挿し込まれてチップ切換装置１と接続する。なお、ピン付きセット６１は、被検査チップのピン群であり、ピン付きセット３１１は、被検査チップのピン群６１に対応し、被検査チップのピン群６１の各々と接触して電気的に接続するピン群である。

磁力ユニット４は、ピン接続コード３のピンジョイント３１が被検査チップ６に近づいた際、言い換えれば、ピンジョイント３１が被検査チップ６に取り付けられる際、ピンジョイント３１と被検査チップ６を磁力によって引き合わせ、ピンジョイント３１のピン付きセット３１１と被検査チップ６のピン付きセット６１をそれぞれ対応させて相互に接触させる。

図１及び図２に示すように、磁力ユニット４は、磁石４１及び磁気シール４２を含んで構成される。磁石４１は、ピンジョイント３１上に固定配設され、磁気シール４２は、被検査チップ６の頂面に貼り付けられる。図３に示すように、ピン接続コード３のピンジョイント３１が被検査チップ６に近づいたとき、ピンジョイント３１と被検査チップ６は、磁石４１と磁気シール４２との引力によって引き合わされ、ピンジョイント３１のピン付きセット３１１及び被検査チップ６のピン付きセット６１を相互に電気的にぴったりと接触させることができ、ピン同士の接触がなされる。チップの検査が終了した後、ピンジョイント３１は、簡単に被検査チップ６から取り外すことができ、引き続き次のチップを検査することができる。

なお、磁力ユニット４は、ポカよけのため（人間が起こす単純ミスを防止するため）のポカよけシステムとして、以下のような構成を具備することができる。これにより被検査チップ６に対してピン接続コード３のピンジョイント３１の置く方向を間違えてピンを接続し間違えるという状況の発生を防ぐことができる。例えば、本実施例において、磁石４１のＮ極とＳ極は、図１に示すようにそれぞれ磁気シール４２のＳ極とＮ極に対応するように適切に配置される。すなわち、磁石４１は、磁気シール４２と対向する面内において所定方向に配列されるＮ極とＳ極を備える。磁気シール４２は、磁石４１に対向する面内において配列されるＮ極とＳ極とを備えるとともに、そのＮ極が磁石４１のＳ極と対応し、かつそのＳ極が磁石４１のＮ極に対応する位置関係で所定方向に配列される。このため、磁石４１と磁気シール４２は、被検査チップ６に対してピン接続コード３のピンジョイント３１を置く方向が正常であれば、被検査チップ６とピン接続コード３のピンジョイント３１とが引き合い、ピンジョイント３１を置く方向を間違えた場合には、磁石４１のＮ極（Ｓ極）と磁気シール４２のＮ極（Ｓ極）とが斥力によって反発し、ピンジョイント３１と被検査チップ６とが磁力によって互いに引き合って互いのピン付きセット３１１及び６１とが接触することの目的を達成することができなくなるので、被検査チップ６に対してピン接続コード３のピンジョイント３１の置く方向を間違えてピンを接続し間違えるという状況の発生を防ぐことができる。

図４は、磁力ユニット４のもう一つの例を示している。そのうち、磁力ユニット４は、磁石４１ａ及び磁気シール４２ａを含む。図４に示すように、ピンジョイント３１上に設置された磁石４１ａの二つの対向する磁極（Ｎ極及びＳ極）が上下（取り付け方向上下）に配置される。同様に、被検査チップ６上に貼り付けられた磁気シール４２ａの二つの対向する磁極（Ｎ極及びＳ極）も上下に配置される。磁気シール４２ａの底部の磁極（即ちＳ極）は、下に向かって（被検査チップ６に面して）被検査チップ６の頂面に貼られ、磁気シール４２ａの他方の磁極（即ちＮ極）が磁石４１ａに対向して配置される。このとき、磁石４１ａの底部の磁極（即ちＳ極）は、磁気シール４２ａの磁石４１ａに対向して配置される磁極と異なる磁極（即ちＮ極）と相互に引きあわせることができる。これにより、磁石４１ａ及び磁気シール４２ａは、同様にピンジョイント３１と被検査チップ６を引き合わせてピンの接触の目的を達成することができ、同時に、ピンジョイント３１を被検査チップ６から簡単に取り外すことができるようになる。

図５は、磁力ユニット４の更にもう一つの例を示している。そのうち、磁力ユニット４は、磁石４１ｂ及び金属片４２ｂを含む。金属片４２ｂは、必ず磁石４１ｂによって引き付けられることができ、例えば、鉄片等を用いることができる。磁石４１ｂ及び金属片４２ｂは、それぞれピンジョイント３１及び被検査チップ６上に固定される。これにより、磁石４１ｂ及び金属片４２ｂは、同様にピンジョイント３１と被検査チップ６をその引力によって引き合わせ、ピンの接触の目的を達成することができ、同時に、ピンジョイント３１を被検査チップ６から簡単に取り外すことができるようになる。

また、図２及び図３に示すように、ピン接続コード３のピンジョイント３１の底面には、被検査チップ６への取り付けに際して当該被検査チップ６の少なくとも一部を収容する（被検査チップ６の少なくとも一部と嵌め合わさって該被検査チップ６に当接する収容空間を備えた）収納溝３１０が形成されている。そしてピンジョイント３１の収納溝３１０は、被検査チップ６を収納するとき、ピンジョイント３１のピン付きセット３１１が、被検査チップ６のピン付きセット６１に適切に合わせられて位置決めされるように形成されている。こうすることで、ピンジョイント３１と被検査チップ６とが磁力の作用により相互に引き合う際にバイアスが発生しないようにすることができる。

本考案では、磁力ユニットを用いることより、チップ点検修理治具は、チップに対してピンの接触をする際、簡単に取り付け又は取り外しすることができ、非常に堅固で長持ちする。

なお、ピン接続器２は、回路板上の被検査チップの点検修理治具以外にも、チップと電子装置とを接続する接続器として用いることができる。つまり、回路板上に配置されるチップ又は回路板上に配置される前のチップと所定の電子装置とを電気的に接続させるピン接続器として適用することができる。

以上、本考案の詳細な説明では具体的な実施例について説明したが、本考案の要旨から逸脱しない範囲内で多様に変形できる。よって、本考案の技術的範囲は、上述の実施例に限定されるものではなく、実用新案登録請求の範囲の記載及びこれと均等なものに基づいて定められるべきである。

１チップ切換装置
１１標準チップ
１２切替スイッチ
１３接続スロット
２ピン接続器
３ピン接続コード
３１ピンジョイント
３１０収納溝
３１１ピン付きセット
３２接続ポート
４磁力ユニット
４１、４１ａ磁石
４１ｂ磁石
４２、４２ａ磁気シール
４２ｂ金属片
５回路板
６被検査チップ
６１ピン付きセット

Claims

回路板上の被検査チップの点検修理治具において、
前記被検査チップを検査するための標準チップと、前記標準チップ及び前記被検査チップの作動状態のオン／オフを制御する切替スイッチとを含むチップ切換装置と、
その一端が前記チップ切換装置に接続されるとともに、もう一端に前記被検査チップのピン群に対応するピン群を有するピンジョイントが形成されたピン接続コードと、
前記ピンジョイントが前記被検査チップに取り付けられる際、前記ピンジョイントと前記被検査チップとを互いに引き合わせ、前記ピンジョイントのピン群と前記被検査チップのピン群とをそれぞれ対応させて相互に接触させる磁力ユニットと、
を含むことを特徴とするチップ点検修理治具。
前記磁力ユニットは、磁石及び磁気シールを含み、前記磁石は前記ピンジョイントに固定され、前記磁気シールは前記被検査チップに貼り付けられることを特徴とする請求項１に記載のチップ点検修理治具。
前記磁石は、前記磁気シールと対向する面内において所定方向に配列されるＮ極とＳ極を備え、前記磁気シールは、前記磁石に対向する面内において配列されるＮ極とＳ極とを備えるとともに、前記Ｎ極が前記磁石の前記Ｓ極と対応し、かつ前記Ｓ極が前記磁石の前記Ｎ極に対応する位置関係で前記所定方向に配列されていることを特徴とする請求項２に記載のチップ点検修理治具。
前記磁気シールの二つの磁極は、前記ピンジョイントと前記被検査チップとの取り付け方向上下に配置され、一方の磁極が前記被検査チップに面して前記被検査チップの頂面に貼り付けられ、他方の磁極が前記磁石に対向して配置されるとともに、当該対向する前記磁石の磁極と異なる磁極であることを特徴とする請求項２に記載のチップ点検修理治具。
前記磁石の二つの磁極は、前記ピンジョイントと前記被検査チップとの取り付け方向上下に配置され、一方の磁極が、前記磁気シールの磁極と対向して配置されるとともに、当該対向する前記磁気シールの磁極と異なる磁極であることを特徴とする請求項２に記載のチップ点検修理治具。
前記磁力ユニットは、磁石及び金属片を含み、前記磁石が前記ピンジョイントに固定され、前記金属片が前記被検査チップに固定されることを特徴とする請求項１に記載のチップ点検修理治具。
前記ピンジョイントの底面に、前記ピンジョイントと前記被検査チップとが連結される際、前記ピンジョイントのピン群と前記被検査チップのピン群とが各々相互に接触する位置に前記ピンジョイントのピン群を位置決めするとともに、前記被検査チップの少なくとも一部が収容される収納溝が形成されていることを特徴とする請求項１から３のいずれか１つに記載のチップ点検修理治具。
回路板上に配置されるチップと所定の電子装置とを電気的に接続させるピン接続器であって、
前記チップのピン群に対応し、前記チップのピン群に接触するピン群を有するピンジョイント及び前記電子装置に接続される接続ポートが両端の各々に形成されたピン接続コードと、
前記ピンジョイントが前記チップに取り付けられる際、前記ピンジョイントと前記チップとを引き合わせ、前記ピンジョイントのピン群と前記チップのピン群とをそれぞれ対応させて相互に接触させる磁力ユニットと、
を有することを特徴とするピン接続器。
前記磁力ユニットは、磁石及び磁気シールを含み、前記磁石は前記ピンジョイントに固定され、前記磁気シールは前記チップに貼り付けられることを特徴とする請求項８に記載のピン接続器。
前記磁石は、前記磁気シールと対向する面内において所定方向に配列されるＮ極とＳ極を備え、前記磁気シールは、前記磁石に対向する面内において配列されるＮ極とＳ極とを備えるとともに、前記Ｎ極が前記磁石の前記Ｓ極と対応し、かつ前記Ｓ極が前記磁石の前記Ｎ極に対応する位置関係で前記所定方向に配列されていることを特徴とする請求項９に記載のピン接続器。
前記磁気シールの二つの磁極は、前記ピンジョイントと前記被検査チップとの取り付け方向上下に配置され、一方の磁極が前記被検査チップに面して前記被検査チップの頂面に貼り付けられ、他方の磁極が前記磁石に対向して配置されるとともに、当該対向する前記磁石の磁極と異なる磁極であることを特徴とする請求項９に記載のピン接続器。
前記磁石の二つの磁極は、前記ピンジョイントと前記被検査チップとの取り付け方向上下に配置され、一方の磁極が、前記磁気シールの磁極と対向して配置されるとともに、当該対向する前記磁気シールの磁極と異なる磁極であることを特徴とする請求項９に記載のピン接続器。
前記磁力ユニットは、磁石及び金属片を含み、前記磁石が前記ピンジョイントに固定され、前記金属片が前記チップに固定されることを特徴とする請求項８に記載のピン接続器具。
前記ピンジョイントの底面に、前記ピンジョイントと前記被検査チップとが連結される際、前記ピンジョイントのピン群と前記被検査チップのピン群とが各々相互に接触する位置に前記ピンジョイントのピン群を位置決めするとともに、前記被検査チップの少なくとも一部が収容される収納溝が形成されていることを特徴とする請求項８から１０のいずれか１つに記載のピン接続器。