KR101056713B1 - 위치 가변적 온도 측정 장치 - Google Patents

위치 가변적 온도 측정 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101056713B1
KR101056713B1 KR1020060078496A KR20060078496A KR101056713B1 KR 101056713 B1 KR101056713 B1 KR 101056713B1 KR 1020060078496 A KR1020060078496 A KR 1020060078496A KR 20060078496 A KR20060078496 A KR 20060078496A KR 101056713 B1 KR101056713 B1 KR 101056713B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature sensor
fastening
support
test apparatus
test
Prior art date
Application number
KR1020060078496A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20080017108A (ko
Inventor
우효상
신우진
이우철
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
Priority to KR1020060078496A priority Critical patent/KR101056713B1/ko
Publication of KR20080017108A publication Critical patent/KR20080017108A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101056713B1 publication Critical patent/KR101056713B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/14Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations
    • G01K1/146Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations arrangements for moving thermometers to or from a measuring position
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K13/00Thermometers specially adapted for specific purposes
    • G01K13/12Thermometers specially adapted for specific purposes combined with sampling devices for measuring temperatures of samples of materials
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/02Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/02Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • G01K7/023Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples provided with specially adapted connectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

본 발명은 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 시험 장치를 제공하는바, 이러한 시험 장치는 위치 가변적 암 부재를 포함함으로써, 테스트 시편의 다양한 부위에서 가변적으로 온도를 측정할 수 있고, 다수의 테스트 시편들에서 연속적으로 온도 측정할 수 있는 효과가 있다.

Description

위치 가변적 온도 측정 장치 {Position-variable Temperature Measurement Device}
도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 시험 장치의 사시도이다;
도 2는 도 1의 시험 장치에서 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전할 수 있도록 본체에 위치 가변적으로 결합되어 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다;
도 3은 도 1의 시험 장치에서 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전함과 동시에 피벗 회전할 수 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다;
도 4는 도 1의 시험 장치에서 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다;
도 5는 도 1의 시험 장치에서 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)과 전후 방향(Z)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 모식도이다;
도 6은 도 1의 시험 장치에서 수평 연장부의 단부 하단면에 온도센서가 장착되어 있는 하나의 예시적인 구조의 모식도이다;
도 7은 도 6에서 C 부위의 확대도이고, 도 8은 그것의 저면도이다.
<도면의 주요 부호에 대한 설명>
100: 온도 측정 장치 200: 테스트 시편
110: 본체 300: 암 부재
310: 지지부 320: 수평 연장부
400: 온도센서 500: 커넥터
본 발명은 가변적으로 위치를 이동하면서 온도를 측정할 수 있는 시험 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것을 특징으로 하는 시험 장치에 관한 것이다.
많은 전기/전자 관련 소자들은 작동과정에서 열이 발생한다. 예를 들어, 반도체 칩 등의 회로소자, AC-DC 변환기 등의 전기 부품들은 미시적 측면에서 작동시 전자의 이동이 수반되므로 정도의 차이는 있지만 작동 중에 필연적으로 다량의 열을 발생시킨다. 이러한 발열로 인한 당해 소자의 온도 상승은 오작동을 유발할 뿐만 아니라 작동 효율을 크게 저하시키는 원인이 된다. 따라서, 열에 대한 안전성을 향상시키기 위하여 제품의 생산단계 이전에 많은 시험들이 행해지며, 그러한 시험 중에는 테스트 시편의 온도를 측정하는 과정이 필수적으로 포함된다.
일반적으로, 테스트 시편의 온도를 측정하는데 있어서, 테스트 시편의 소정 부위에 온도센서를 부착하는 방식이 많이 사용되고 있다. 하지만, 상기의 방법은 다수의 시편들에 대해 온도를 측정하거나 또는 하나의 시편이라 하더라도 여러 부위의 온도를 측정하는 과정에서, 온도센서를 장착하는 과정 및 온도센서와 제어장치의 연결회로를 구성하는 과정 등의 일련의 작업이 수행되어야 하는 번거로움이 발생한다.
따라서, 테스트 시편의 다양한 온도 측정 부위에서의 가변적인 온도 측정 및, 다수의 테스트 시편들에서의 연속적인 온도 측정이 용이하게 이루어질 수 있는 기술에 대한 필요성이 높은 실정이다.
본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제점과 과거로부터 요청되어온 기술적 과제를 해결하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 목적은 테스트 시편의 다양한 부위에서 가변적으로 온도를 측정할 수 있고, 다수의 테스트 시편들에서 연속적으로 온도를 측정할 수 있는 시험 장치를 제공하는 것이다.
구체적으로, 본 발명의 또 다른 목적은 위치 가변적 암 부재를 포함하고 있는 시험 장치를 제공하는 것이다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 시험 장치는 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하는 것으로 구성되어 있다.
따라서, 본 발명에 따른 시험 장치는, 온도센서를 장착하거나 온도센서와 제어장치를 연결하기 위한 회로를 구성하는 별도의 과정을 거치지 않고, 다수의 테스트 시편 및 테스트 시편의 다양한 부위에서 온도를 용이하게 측정할 수 있는 장점을 가지고 있다.
상기 암 부재는 소망하는 온도 측정 부위로 온도센서를 가변적으로 위치시킬 수 있는 구조라면 특별히 제한되지 않으며, 하나의 바람직한 예에서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상하 방향, 좌우 방향 및 전후 방향으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나 이상의 방향으로 온도센서 장착 부위가 이동할 수 있도록 구성된 구조일 수 있다.
암 부재는 둘 이상의 다 수개가 설치될 수도 있으며, 이러한 다수 개의 암 부재는 테스트 시편의 소정 부위들에 대한 온도를 동시에 측정할 수 있다.
상기의 예에서, 온도센서가 장착되어 있는 부위는, 암 부재가 좁은 폭으로 이동될 경우라도 소망하는 측정 위치로의 이동이 용이하게 이루어질 수 있는 부위로서, 예를 들어, 암 부재의 단부일 수 있다.
하나의 바람직한 예에서, 온도센서는 암 부재의 단부 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 장착될 수 있다. 구체적으로는, 암 부재의 단부 하단면에 탄력적인 판 스프링 또는 압축 스프링이 장착되어 있고, 그러한 스프링의 단부면에 온도센서가 설치되어 있는 구조를 예로서 들 수 있다. 따라서, 암 부재를 테스트 시편의 표면에 위치시켰을 때, 온도센서는 스프링의 탄성력에 의해 테스트 시편 상에 탄력적으로 밀착될 수 있다.
본 발명에서는, 상기 암 부재의 이동을 용이하게 표현하기 위하여, 테스트 시편의 고정된 위치를 기준으로, 상기 테스트 시편의 상부와 하부를 연결하는 가상축 상에서의 이동 방향을 상하 방향, 상기 테스트 시편의 좌우 측부를 연결하는 가상축 상에서의 이동 방향을 좌우 방향, 및 상기 테스트 시편의 앞뒤 측부를 연결하는 가상축 상에서의 이동 방향을 전후 방향으로 명시하였다. 즉, 상기 테스트 시편이, 예를 들어, 육면체의 형상일 경우, 상기 상하 방향은 육면체의 상면과 하면 사이의 이동 방향을 의미하고, 상기 좌우 방향은 육면체의 좌면과 우면 사이의 이동 방향을 의미하며, 상기 전후 방향은 육면체의 전면과 후면 사이의 이동 방향을 의미한다. 이때, 상기 가상축은 직선으로 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 온도 센서가 장착되어 있는 부위가 포물선 형태로 이동될 수 있도록 곡선 등 다양할 수 있다.
더욱 구체적으로, 본 발명에 따른 시험 장치는, 상기 테스트 시편을 시험 상태로 위치 고정할 수 있는 본체와, 상기 본체의 일측에 설치되어 있고 온도센서가 장착되어 있는 위치 가변적 암 부재, 및 상기 시편의 테스트 장치의 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 측정장치로 송부하기 위한 커넥터를 포함하는 것으로 구성될 수 있다.
하나의 바람직한 구조의 예에서, 상기 위치 가변적 암 부재는, 본체에 가변적으로 연결된 지지부와, 상기 지지부에 가변적으로 연결된 수평 연장부를 포함하는 것으로 구성된 구조일 수 있다. 이 경우, 상기 온도센서는 다양한 방향으로의 이동이 가능할 수 있도록, 상기 수평 연장부에 장착되는 것이 바람직하다.
상기의 구조에서, 본체에 대한 지지부의 상기 가변적 연결은 지지부가 좌우 방향으로 회전할 수 있도록 본체에 결합되는 것으로 달성될 수 있다. 즉, 상기 지지부는 본체와 결합된 단부를 기준으로 그것에 대향하는 타단부가 가상의 곡선을 그리며 시편의 좌우 방향으로 회전될 수 있도록, 상기 본체에 연결될 수 있다.
구체적으로, 상기 지지부는 단면상 원형 구조로 이루어져 있고, 본체와 접하는 그것의 단부에 체결용 만입홈이 형성되어 있으며, 상기 본체에는 상기 만입홈에 대응하는 구조의 체결용 돌기가 형성되어 있을 수 있다. 이러한 구조에 의해, 상기 지지부는 그것의 만입홈와 상기 만입홈에 대응하는 본체의 돌기가 상호 체결됨으로써, 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체에 결합될 수 있다.
또한, 상기 본체에는 지지부에 대응하는 형상의 장착홈이 형성되어 있고, 상기 지지부의 단부에는 본체에 소정의 각도로 결합된 상태에서 피벗 회전이 가능하도록 피벗 구조가 형성되어 있을 수 있다. 이러한 구조에 의하여, 상기 지지부는 그것의 단부가 피벗 회전되도록 본체에 결합될 수 있으며, 좌우 방향으로 회전되어 상기 본체의 장착홈에 삽입될 수 있다. 이때, 상기 피벗 구조는 상기 지지부의 단부에 형성되어 있는 만입홈을 기준으로 그것의 상부쪽에 형성되어 있는 것이 바람 직하다. 따라서, 상기 지지부는 그것의 만입홈이 형성되어 있는 단부가 본체에 결합되어 고정된 상태에서도, 상기 만입홈의 상부에 형성되어 있는 피벗 구조에 의하여 피벗 회전될 수 있다.
상기의 구조에서, 지지부에 대한 수평 연장부의 상기 가변적 연결은, 수평 연장부가 지지부에 대해 상하 방향 및/또는 전후 방향으로 이동할 수 있도록, 지지부에 결합되는 것으로 이루어질 수 있다. 즉, 상기 수평 연장부는 지지부와 결합된 단부를 기준으로 그것에 대향하는 타단부가 시편의 상하 및/또는 전후 방향으로 이동될 수 있도록, 상기 지지부에 연결될 수 있다.
구체적으로, 상기 지지부에는 상하로 길게 수직 체결홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 수직 체결홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있을 수 있다. 이러한 구조에 의해, 상기 수평 연장부는 그것의 체결 단부가 지지부에 결합된 상태에서, 상기 지지부의 수직 체결홈을 따라 상하 방향으로 이동할 수 있다.
또는, 상기 지지부에는 상하로 길게 체결 관통홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 체결 관통홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하는 구조일 수 있다. 이러한 구조에 의해, 상기 수평 연장부는 그것의 체결 단부가 지지부에 결합된 상태에서, 상기 지지부의 체결 관통홈을 따라 전후 방향 및 상하 방향으로 움직일 수 있다.
상기의 구조에서, 상기 가변적 연결 부위에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부가 추가로 포함되어 있을 수 있다. 이러한 락킹부의 구조는 특별히 제한되 지 않고 다양할 수 있는 바, 예를 들어, 가변적 연결 부위에 연속적으로 형성되어 있는 락킹 홈 또는 탄성의 라킹 돌출부 등의 구조일 수 있다.
경우에 따라서, 상기 온도센서의 연결회로는 위치 가변적 암 부재를 따라 커넥터에 연결될 수 있다.
본 발명에서, 상기 온도센서의 예로는, 써머커플 또는 써미스터 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
본 발명에 따른 상기 시험 장치는 특별히 제한되지 않고 다양한 시편의 온도를 측정하는데 사용될 수 있으며, 그 중에서도 이차전지의 온도를 측정하는데 바람직하게 사용될 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하지만, 이는 본 발명의 더욱 용이한 이해를 위한 것으로, 본 발명의 범주가 그것에 의해 한정되는 것은 아니다.
도 1에는 본 발명의 하나의 실시예에 따른 시험 장치의 사시도가 모식적으로 도시되어 있다.
도 1을 참조하면, 시험 장치(100)는 테스트 시편으로서의 판상형 이차전지(200)가 고정될 수 있는 본체(110)와, 본체(110)의 일측에 설치되어 있고 온도센서(400)가 장착되어 있는 암 부재(300), 및 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 처리하는 커넥터(500)를 포함하는 것으로 구성되어 있다.
커넥터(500)는 검출 정보를 시간적 또는 청각적으로 표시하는 디플레이부(도 시하지 않음)를 포함하고 있는 측정장치(도시하지 않음)로 송부하는 역할을 한다.
암 부재(300)는 본체(100)에 가변적으로 연결되어 있는 지지부(310)와, 지지부(310)에 가변적으로 연결되어 있는 수평 연장부(320)로 이루어져 있고, 수평 연장부(320)의 타단부에 온도센서(400)가 장착되어 있으며, 시편(200)의 고정된 위치에 대해 상하 방향(Y), 좌우 방향(X), 및 전후 방향(Z)으로 이동될 수 있다. 이러한 구조는 점선원 A 및 B 부분의 확대도로서 모식적으로 도시되어 있는 도 2 내지 5에서 더욱 용이하게 확인할 수 있다.
구체적으로, 도 2에는 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전할 수 있도록 본체에 위치 가변적으로 결합되어 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있고, 도 3에는 수평 연장부가 좌우 방향(X)으로 회전함과 동시에 피벗 회전할 수 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있다.
우선, 도 2를 참조하면, 지지부(310)는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고, 본체(110)와 접하는 지지부(310)의 단부에는 체결용 만입홈(311)이 형성되어 있다. 지지부(310)의 만입홈(310)은 그에 대응하여 본체(110)에 형성되어 있는 체결용 돌기(111)와 맞물려 있다. 따라서, 지지부(310)의 만입홈(310)과 본체(110)의 체결용 돌기(111)의 가변적인 결합 구조에 의해, 지지부(310)는 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체(110)에 결합된다.
도 3을 참조하면, 지지부(310)는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고 본체(110)와 접하는 단부에 체결용 만입홈(311)이 형성되어서 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체(110)에 결합되어 있다는 점에서는 도 2의 구조와 동일하다. 그러한 좌우 방향으로의 회전과 동시에, 본체(110)에는 지지부(310)에 대응하는 형상의 장착홈(112)이 형성되어 있고, 지지부(310)의 단부는 본체(110)에 소정의 각도로 피벗 회전이 가능하도록 결합되어 있어서, 지지부(310)를 회전시켜 본체(110)의 장착홈(112)에 삽입할 수 있다. 즉, 지지부(310)의 측면에는 지지부(310)의 축을 기준으로 수직 방향으로 회전축(312)이 돌출되어 있고, 본체(110)에는 지지부(310)의 회전축(312)이 고정될 수 있는 축 홈(113)이 형성되어 있다. 따라서, 지지부(310)는 회전축(312)을 중심으로 화살표 방향으로 피벗 회전이 가능하다.
다시 도 1을 참조하면, 지지부(310)에 대한 수평 연장부(320)의 가변적인 결합 구조는 도 4 및 도 5를 참조하여 설명할 수 있다.
도 4에는 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있고, 도 5에는 지지부에 대해 수평 연장부가 상하 방향(Y)과 전후 방향(Z)으로 움직일 수 있는 가변적 결합 구조의 일 예가 도시되어 있다.
우선, 도 4를 참조하면, 지지부(310)에는 상하로 길게 수직 체결홈(313)이 형성되어 있고, 수평 연장부(320)에는 지지부(310)의 수직 체결홈(313)에 삽입 상태로 결합되어 있는 체결 단부(321)를 포함하고 있다. 따라서, 체결 단부(321)가 수직 체결홈(313)을 따라 상하 방향으로 움직일 수 있다.
도 5를 참조하면, 지지부(310)에는 상하로 길게 체결 관통홈(314)이 형성되어 있고, 수평 연장부(320)의 체결 단부(321)는 그러한 체결 관통홈(314)을 수평으로 관통한 상태로 결합되어 있다. 따라서, 수평 연장부(320)는 지지부(310)의 상 하 방향 뿐만 아니라 전후 방향으로도 움직일 수 있도록 결합되어 있다.
도 4와 도 5의 가변적 결합 구조에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부(도시하지 않음)가 추가로 포함될 수 있음은 물론이다.
도 6에는 도 1의 장치 중 수평 연장부의 단부 하단면에 온도센서가 장착되어 있는 하나의 예시적인 구조가 모식적으로 도시되어 있고, 도 7에는 도 6에서 C 부위의 확대도가 도시되어 있으며, 도 8에는 그것의 저면도가 도시되어 있다.
이들 도면을 참조하면, 온도센서(400)는 수평 연장부(320) 중 지지부(310)의 가변적 연결 부위에 대향하는 단부의 하단면에 장착되어 있다. 즉, 수평 연장부(320)의 단부 하단면에는 탄력적인 판 스프링(410)이 설치되어 있고, 그러한 판 스프링(410)의 단부면에 온도센서(400)가 설치되어 있다. 온도센서(400)는, 판 스프링(410)의 절곡 구조에 의해 수평 연장부(320)의 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 위치하게 되므로, 수평 연장부(320)를 테스트 시편(도시하지 않음)의 표면에 위치시켰을 때, 판 스프링(410)의 탄성력에 의해 테스트 시편 상에 온도센서(400)가 탄력적으로 밀착될 수 있다(화살표 방향의 변화 참조).
이상 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하였지만, 본 발명이 속한 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기 내용을 바탕으로 본 발명의 범주내에서 다양한 응용 및 변형을 행하는 것이 가능할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 시험 장치는 위치 가변적 암 부 재를 포함함으로써, 테스트 시편의 다양한 부위에서 가변적으로 온도를 측정할 수 있고, 다수의 테스트 시편들에서 연속적으로 온도 측정할 수 있는 효과가 있다.

Claims (17)

  1. 테스트 시편의 온도를 측정하기 위한 장치로서, 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상대적으로 위치를 변화시킬 수 있는 하나 이상의 암 부재를 포함하고 있고, 상기 암 부재 상에 온도센서가 장착되어 있어서, 암 부재를 임의의 위치로 변화시켜 상기 온도센서를 테스트 시편 상에 근접 또는 밀착시킴으로써 온도를 측정하며,
    상기 암 부재는 고정 위치의 테스트 시편에 대해 상하 방향, 좌우 방향 및 전후 방향으로 이루어진 군에서 선택되는 적어도 하나 이상의 방향으로 온도센서 장착 부위가 이동할 수 있도록 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 암 부재의 단부에 온도센서가 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 온도센서는 암 부재의 단부 하단면에 탄력적으로 장착된 판 스프링 또는 압축 스프링에 의해, 암 부재의 단부 하단면으로부터 소정의 이격 거리에 탄력적으로 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 스프링의 단부면에 온도센서가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 장치는,
    상기 테스트 시편을 시험 상태로 위치 고정할 수 있는 본체;
    상기 본체의 일측에 설치되어 있고 온도센서가 장착되어 있는 위치 가변적 암 부재; 및
    상기 시편의 테스트 장치의 작동을 제어하고 온도센서의 검출 정보를 측정장치로 송부하는 커넥터;
    를 포함하는 구성으로 이루어진 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 위치 가변적 암 부재는, 본체에 가변적으로 연결된 지지부와, 상기 지지부에 가변적으로 연결된 수평 연장부를 포함하는 것으로 구성되어 있고, 상기 온도센서는 상기 수평 연장부에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 본체에 대한 지지부의 상기 가변적 연결은 지지부가 좌우 방향으로 회전할 수 있도록 본체에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  9. 제 8 항에 있어서, 상기 지지부는 단면상으로 원형 구조로 이루어져 있고, 본체와 접하는 그것의 단부에는 체결용 만입홈이 형성되어 있으며, 상기 만입홈은 그에 대응하여 본체에 형성되어 있는 체결용 돌기에 결합되어 있어서, 지지부는 좌우 방향으로 회전 가능하도록 본체에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  10. 제 8 항에 있어서, 상기 본체에는 지지부에 대응하는 형상의 장착홈이 형성되어 있고, 상기 지지부의 단부는 본체에 소정의 각도로 피벗 회전이 가능하도록 결합되어 있어서, 지지부를 회전시켜 본체의 장착홈에 삽입할 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  11. 제 7 항에 있어서, 지지부에 대한 수평 연장부의 상기 가변적 연결은, 수평 연장부가 (i) 상하 방향, 또는 (ii) 전후 방향, 또는 (iii) 상하 방향 및 전후 방향으로 이동할 수 있도록 지지부에 결합되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 지지부에는 상하로 길게 수직 체결홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 수직 체결홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있어서, 상기 체결 단부가 수직 체결홈을 따라 상하 방향으로 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  13. 제 11 항에 있어서, 상기 지지부에는 상하로 길게 체결 관통홈이 형성되어 있고, 상기 수평 연장부는 상기 체결 관통홈에 결합될 수 있는 체결 단부를 포함하고 있어서, 상기 체결 단부가 체결 관통홈을 따라 전후 방향 및 상하 방향으로 움직일 수 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  14. 제 7 항에 있어서, 상기 가변적 연결 부위에는 가변 위치를 고정할 수 있는 락킹부가 추가로 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  15. 제 1 항에 있어서, 상기 온도센서의 연결회로는 위치 가변적 암 부재를 따라 커넥터에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  16. 제 1 항에 있어서, 상기 온도센서는 써머커플 또는 써미스터인 것을 특징으로 하는 시험 장치.
  17. 제 1 항에 있어서, 상기 장치는 이차전지의 온도를 측정하는데 사용되는 것을 특징으로 하는 시험 장치.
KR1020060078496A 2006-08-21 2006-08-21 위치 가변적 온도 측정 장치 KR101056713B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060078496A KR101056713B1 (ko) 2006-08-21 2006-08-21 위치 가변적 온도 측정 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060078496A KR101056713B1 (ko) 2006-08-21 2006-08-21 위치 가변적 온도 측정 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20080017108A KR20080017108A (ko) 2008-02-26
KR101056713B1 true KR101056713B1 (ko) 2011-08-12

Family

ID=39384668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060078496A KR101056713B1 (ko) 2006-08-21 2006-08-21 위치 가변적 온도 측정 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101056713B1 (ko)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101253448B1 (ko) * 2011-06-28 2013-04-11 주식회사 현대케피코 온도 센서 거치대
KR101617337B1 (ko) 2014-11-25 2016-05-02 유도스타자동화 주식회사 금형 사출물 표면온도 측정장치
KR102043755B1 (ko) * 2018-05-21 2019-12-02 한국에너지기술연구원 승강식 광폭 작업수행장치
KR102248226B1 (ko) 2018-06-12 2021-05-03 주식회사 엘지화학 이차전지용 이동형 온도측정기구 및 이를 포함하는 충방전 장치
KR102170730B1 (ko) * 2019-09-23 2020-10-27 넥센타이어 주식회사 공기입 타이어 표면온도 측정용 지그 어셈블리

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11125566A (ja) 1997-10-22 1999-05-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 表面温度測定センサ及び温度測定プローブ
KR100298849B1 (ko) * 1998-04-27 2002-01-17 김덕중 열감지장치
JP2003042852A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板の接触式温度測定装置およびそれを備えた基板の熱処理装置
KR20060062601A (ko) * 2004-12-04 2006-06-12 미림아이알티 주식회사 전자부품의 온도특성 측정 시스템

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11125566A (ja) 1997-10-22 1999-05-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 表面温度測定センサ及び温度測定プローブ
KR100298849B1 (ko) * 1998-04-27 2002-01-17 김덕중 열감지장치
JP2003042852A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板の接触式温度測定装置およびそれを備えた基板の熱処理装置
KR20060062601A (ko) * 2004-12-04 2006-06-12 미림아이알티 주식회사 전자부품의 온도특성 측정 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR20080017108A (ko) 2008-02-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101056713B1 (ko) 위치 가변적 온도 측정 장치
EP2496909B1 (en) Improved articulated arm
EP3139181B1 (en) Test and measurement probe with adjustable test point contact
US3369210A (en) Electrical connector
US10006938B2 (en) Probes with programmable motion
CN107063635B (zh) 光模块高低温测试装置
JPWO2018198859A1 (ja) 検査治具、及び基板検査装置
KR101195678B1 (ko) 회로 기판의 검사 방법 및 검사 장치
JP2003207330A (ja) トリガプローブおよびトリガプローブの組立て方法
JP5648795B2 (ja) 接触子及び自動結線装置
US8981801B2 (en) Positioning device for testing resistance of camera module
CN113588114A (zh) 一种测温结构、充电装置和机动车辆
KR20080088905A (ko) 인장시험기
CN107179040B (zh) 直径测量装置及测量设备
KR102311432B1 (ko) 전기 검사 장치 및 보유 지지 유닛
CN215811321U (zh) 一种测温结构、充电装置和机动车辆
KR20120066242A (ko) 패드 테스트 장치
CN208607319U (zh) 一种电路板电性能测试装置
TWI572873B (zh) 測試用連接器
JP2008045969A (ja) 四端子測定用プローブ
KR20100013641A (ko) 커넥터 검사장치 및 방법
JP5092231B2 (ja) プローブ装置及び基板検査装置
JP5467946B2 (ja) 接触荷重測定器
JP4490247B2 (ja) 回路基板試験装置
JP6576176B2 (ja) プローブユニットおよび基板検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140716

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150716

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160803

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170718

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180619

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190625

Year of fee payment: 9