TWI572873B - 測試用連接器 - Google Patents

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TWI572873B
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郭章緯
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鴻海精密工業股份有限公司
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals

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Description

測試用連接器
本發明提供一種測試用於連接器,特別涉及一種用於測試相機致動器模組的測試用連接器。
在對相機致動器做電性功能測試時,常使用公規的連接器將相機致動器的軟性線路板上的金手指與測試板進行電性連接。然,對於軟性線路板非常短的致動器來說,無法使用公規的連接器進行電性測試。
有鑒於此,本發明提供一種測試用連接器,以解決上述技術問題。
所述連接器包括用於承載待測元件的承載件以及與所述承載件轉動連接的旋轉臂,所述旋轉臂上設置有若干探針,所述若干探針的針頭面向所述承載件,旋轉所述旋轉臂一定角度時,所述若干探針的針頭與置於所述承載件上的待測元件上的柔性線路板接觸。
所述連接器包括用於承載待測元件的承載件、與所述承載件轉動連接的旋轉臂及所述旋轉臂轉動連接的底座,所述旋轉臂上設置有若干探針,所述若干探針的針頭面向所述承載件,旋轉所述旋轉臂一定角度時,所述若干探針的針頭與置於所述承載件上的待 測元件上的柔性線路板接觸,所述承載件、旋轉臂及底座上分別設置有磁性件,所述底座上的磁性件與所述承載件、旋轉臂上的磁性件相互吸引。
採用本發明中的連接器,旋轉旋轉臂就能使探針的針頭與待測元件的柔性線路板上的金手指接觸,因此連接器能對具有短的柔性相路板的待測元件進行電性測試。
100‧‧‧測試用連接器
10‧‧‧承載件
11‧‧‧第一頂端
12‧‧‧第一連接部
13‧‧‧第一底端
111‧‧‧凹槽
131‧‧‧磁性件
20‧‧‧旋轉臂
21‧‧‧第二頂端
22‧‧‧第二連接部
23‧‧‧第二底端
231‧‧‧磁性件
40‧‧‧探針
200‧‧‧待測元件
201‧‧‧柔性線路板
30‧‧‧底座
31‧‧‧底板
32‧‧‧第三連接部
311‧‧‧磁性
圖1為本發明一種實施方式中測試用連接器的立體視圖。
圖2為圖1中的測試用連接器的另一立體試圖,示意出測試用連接器與待測元件的連接狀態。
請參考圖1及圖2,本實施方式中的測試用連接器100包括用於承載待測元件200的承載件10、與承載件10轉動連接的旋轉臂20及與旋轉臂20轉動連接的底座30。在本實施方式中,待測元件200為相機致動器。
承載件10包括第一頂端11、與第一頂端11平行的第一底端13及與第一頂端11、第一底端13垂直連接的第一連接部12。第一頂端11面向旋轉臂20的側壁上開設有凹槽111,用於收容相機致動器200的柔性線路板201。第一底端13上設有磁性件131。
旋轉臂20包括第二頂端21、與第二頂端21平行的第二底端23及與第二頂端21、第二底端23垂直連接的第二連接部22。第二底端23遠離第二連接部22的一端轉動連接於第一底端13連接第一連接部12的一端。第二頂端21上設有若干探針40,探針40的針頭面向凹 槽111。旋轉旋轉臂20一定角度能使探針40的針頭伸入凹槽111內。在本實施方式中,旋轉臂20的高度略小於承載件10的高度,將旋轉臂20旋轉至平行於承載件10時,探針40的針頭能伸入凹槽111。第二底端23上設有磁性件231。
底座30包括底板31及與底板31垂直連接的第三連接部32。第三連接部32與第二底端23連接第二連接部22的一端轉動連接。底板31上設置有兩個磁性件311,分別與磁性件131、231相互吸引。
在對相機致動器200進行電性測試時,將相機致動器200置於第一頂端11上,使相機致動器200的柔性線路板201置於凹槽111內。旋轉旋轉臂20至旋轉臂20與承載件10平行時,探針40的針頭與柔性線路板201上的金手指接觸。磁性件311與磁性件131及磁性件311與磁性件231之間的吸引力使第一底端13、第二底端23置於底座30上。磁性件131、231、311之間的吸引力限制了旋轉臂20的旋轉,使得在進行電性測試時,旋轉臂20不易鬆動,從而確保在進行電性測試時探針40的針頭一直與柔性線路板301上的金手指連接。
採用本實施方式中的連接器100,旋轉旋轉臂20就能使探針40的針頭與相機致動器200的柔性線路板201上的金手指接觸,因此連接器100能對具有短的柔性相路板的相機致動器200進行電性測試。
100‧‧‧測試用連接器
10‧‧‧承載件
11‧‧‧第一頂端
12‧‧‧第一連接部
13‧‧‧第一底端
111‧‧‧凹槽
131‧‧‧磁性件
20‧‧‧旋轉臂
21‧‧‧第二頂端
22‧‧‧第二連接部
23‧‧‧第二底端
231‧‧‧磁性件
40‧‧‧探針
30‧‧‧底座
31‧‧‧底板
32‧‧‧第三連接部
311‧‧‧磁性

Claims (3)

  1. 一種測試用連接器,其中,所述連接器包括用於承載待測元件的承載件以及與所述承載件轉動連接的旋轉臂,所述旋轉臂上設置有若干探針,所述若干探針的針頭面向所述承載件,旋轉所述旋轉臂一定角度時,所述若干探針的針頭與置於所述承載件上的待測元件上的柔性線路板接觸,所述承載件包括第一頂端、與所述第一頂端平行的第一底端及與所述第一頂端、第一底端垂直連接的第一連接部,所述旋轉臂包括第二頂端、與所述第二頂端平行的第二底端及與所述第二頂端、第二底端垂直連接的第二連接部,所述第二底端遠離所述第二連接部的一端轉動連接於所述第一底端連接所述第一連接部的一端,所述第一頂端面向所述第二頂端的側壁設有用於收容待測元件的柔性線路板的凹槽,所述第二頂端上設有所述若干探針,所述若干探針的針頭面向所述凹槽,旋轉所述旋轉臂使所述旋轉臂與所述承載件平行時,所述若干探針的針頭伸入所述凹槽與所述凹槽內的柔性線路板上的金手指接觸。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的測試用連接器,其中,所述連接器還包括底座,所述底座包括底板及與所述底板垂直連接的第三連接部,所述第三連接部與所述第二底端連接所述第二連接部的一端轉動連接,所述第一底端、第二底端及所述底板上分別設置有磁性件,所述底板上的磁性件與所述第一底端、第二底端上的磁性件相互吸引。
  3. 一種測試用連接器,其中,所述連接器包括用於承載待測元件的承載件、與所述承載件轉動連接的旋轉臂及所述旋轉臂轉動連接的底座,所述旋轉臂上設置有若干探針,所述若干探針的針頭面向所述承載件,旋轉所述旋轉臂一定角度時,所述若干探針的針頭與置於所述承載件上的待 測元件上的柔性線路板接觸,所述承載件、旋轉臂及底座上分別設置有磁性件,所述底座上的磁性件與所述承載件、旋轉臂上的磁性件相互吸引,所述承載件包括第一頂端、與所述第一頂端平行的第一底端及與所述第一頂端與第一底端垂直連接的第一連接部,所述旋轉臂包括第二頂端、與所述第二頂端平行的第二底端及與所述第二頂端與第二底端垂直連接的第二連接部,所述第二底端遠離所述第二連接部的一端轉動連接於所述第一底端連接所述第一連接部的一端,所述第一頂端面向所述第二頂端的一面設有用於收容待測元件的柔性線路板的凹槽,所述第二頂端上設有所述若干探針,所述若干探針的針頭面向所述凹槽,旋轉所述旋轉臂使所述旋轉臂與所述承載件平行時,所述若干探針的針頭伸入所述凹槽與所述凹槽內的柔性線路板上的金手指接觸。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20160169964A1 (en) * 2014-12-16 2016-06-16 Tektronix, Inc. Magnetic probe cable anchor with metal marker bands
CN108761141B (zh) * 2018-03-29 2021-01-05 苏州赛腾精密电子股份有限公司 一种测试装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW366549B (en) * 1998-05-28 1999-08-11 Vanguard Int Semiconduct Corp Wafer ring chuck inspection device
US6305656B1 (en) * 1999-02-26 2001-10-23 Dash-It Usa Inc. Magnetic coupler and various embodiments thereof
CN100582794C (zh) * 2005-12-12 2010-01-20 艾普特佩克股份有限公司 测试图像传感器封装的装置、单元和方法
US8030957B2 (en) * 2009-03-25 2011-10-04 Aehr Test Systems System for testing an integrated circuit of a device and its method of use

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100556849B1 (ko) * 2003-05-13 2006-03-10 엘지전자 주식회사 휴대용 단말기의 카메라 모듈 연결장치
FR2878379B1 (fr) * 2004-11-19 2008-04-04 Airbus France Sas Armoire electrique avec connexion electrique a sa porte
EP2273279A1 (en) * 2005-04-27 2011-01-12 Aehr Test Systems, Inc. Apparatus for testing electronic devices
KR100677475B1 (ko) * 2005-07-14 2007-02-02 엘지전자 주식회사 휴대용 단말기의 카메라 에프피시비 설치구조 및 설치방법
EP2225803B1 (en) * 2007-11-29 2012-01-18 Fci Fcp connector having rotating actuator
US7800382B2 (en) * 2007-12-19 2010-09-21 AEHR Test Ststems System for testing an integrated circuit of a device and its method of use

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW366549B (en) * 1998-05-28 1999-08-11 Vanguard Int Semiconduct Corp Wafer ring chuck inspection device
US6305656B1 (en) * 1999-02-26 2001-10-23 Dash-It Usa Inc. Magnetic coupler and various embodiments thereof
CN100582794C (zh) * 2005-12-12 2010-01-20 艾普特佩克股份有限公司 测试图像传感器封装的装置、单元和方法
US8030957B2 (en) * 2009-03-25 2011-10-04 Aehr Test Systems System for testing an integrated circuit of a device and its method of use

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