CN108761141B - 一种测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种测试装置，包括：一承载板；一限位单元，其设置在所述承载板上；一测试单元，其设置在所述承载板的一侧；以及一PCB转接板单元；其中，所述限位单元上设置有与所述PCB转接板单元电连接的待测试的产品，所述测试单元包括一底座支架、一设置有测试探针且枢接在所述底座支架上的旋转座，测试时，下压所述旋转座使得所述测试探针与所述PCB转接板单元相接触以形成电连接。该测试装置，能够适用于操作空间受限的场合，具有结构紧凑、占用空间小、重量轻的优点。

Description

一种测试装置
技术领域
本发明涉及测试装置技术领域，尤其涉及具有自锁功能的测试装置。
背景技术
现在电子行业为确保产品质量的可靠性，每个产品生产过程中都会经过很多道测试工序，随着产品集成度越来越高，产品外形随之越越精致小巧，测试装置也需要越来越小，以方便操作。现有用于电子行业的测试装置的结构结构复杂且占用空间大，无法满足使用要求。因此有必要研究一种测试装置。
发明内容
针对上述技术中存在的不足之处，本发明提供了一种结构紧凑、占用空间小的测试装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种测试装置，包括：一承载板；一限位单元，其设置在所述承载板上；一测试单元，其设置在所述承载板的一侧；以及一PCB转接板单元；其中，所述限位单元上设置有与所述PCB转接板单元电连接的待测试的产品，所述测试单元包括一底座支架、一设置有测试探针且枢接在所述底座支架上的旋转座，测试时，下压所述旋转座使得所述测试探针与所述PCB转接板单元相接触以形成电连接。
优选的，所述承载板上设置有一第一开口。
优选的，所述限位单元设置在所述第一开口上，所述限位单元包括一紧固在所述第一开口上的底框、一枢接在所述底框边沿上的压盖以及一卡扣组件，其中，所述卡扣组件包括一枢接在所述压盖上的卡钩和一固定设置在所述底框上且与所述卡钩相卡合的卡扣。
优选的，所述PCB转接板单元包括一PCB转接板和一连接软排，其中，所述PCB转接板通过安装座紧固在所述承载板上，测试时，所述连接软排的一端部与所述PCB转接板电连接、另一端部与所述限位单元上的产品电连接。
优选的，所述测试单元还包括一连杆组件，其包括与所述底座支架铰接的一对第一连杆、分别与所述旋转座和所述第一连杆铰接的一对第二连杆，其中，所述第二连杆上设置有一弹性柱塞，所述第一连杆上设置有与所述弹性柱塞相对应的通孔，所述通孔上设置有一与所述弹性柱塞相配合的解锁组件，所述弹性柱塞沿所述通孔的轴向作伸缩运动，当下压所述旋转座使得所述测试探针与所述PCB转接板相接触时，所述弹性柱塞的端部弹入至所述通孔内形成自锁。
优选的，所述解锁组件包括一紧固在所述第一连杆的通孔上的套筒和一插设在所述套筒内且沿所述套筒的轴向运动的解锁推杆，其中，所述套筒和所述弹性柱塞位于所述第一连杆的相向两侧，所述套筒与所述通孔同轴设置，解锁时，通过在所述解锁推杆上施加一朝向所述弹性柱塞的推力使得所述弹性柱塞的端部移出所述通孔从而实现所述旋转座的解锁。
优选的，所述底座支架上设置有一用于限制所述第一连杆的转动角度的防护块。
优选的，所述第二连杆上成型有一压紧块，当下压所述旋转座使得所述测试探针与所述PCB转接板相接触时，所述压紧块压设在所述旋转座上。
优选的，所述第一连杆之间设置有一横梁，其中，所述横梁上成型有一便于将所述旋转座复位的延伸块。
本发明与现有技术相比，其有益效果是：本发明提供的测试装置，其旋转座以可旋转的方式设置在底座支架上，测试时，下压旋转座使得测试探针与PCB转接板单元相接触形成电连接，具有结构简单、占用空间小、操作方便的优点；承载板上设置有第一开口，有效的减轻了重量，具有重量轻的优点；底框和压盖通过卡扣组件实现锁合，在测试时，能够有效的实现产品的定位，避免在测试过程中产品发生移动，影响测试的正常进行；测试单元设置有一连杆组件，连杆组件的第二连杆上设置有弹性柱塞，连杆组件的第一连杆上设置有与弹性柱塞相配合的解锁组件，测试时，通过弹性柱塞卡位，使得旋转座下压后实现自锁，测试完成后，通过解锁组件使得旋转座解除自锁，具有操作方便的优点。
附图说明
图1是本发明所述测试装置的结构示意图；
图2是本发明所述测试装置在测试状态下的示意图；
图3是本发明的承载板的结构示意图；
图4是本发明的限位单元的结构示意图；
图5是本发明的限位单元在打开状态下的示意图；
图6是本发明的PCB转接板单元的结构示意图；
图7是本发明的测试单元的正视方向的结构示意图；
图8是本发明的测试单元的后视方向的结构示意图；
图9是本发明的解锁组件和第一连杆之间的位置关系示意图；
图10是本发明的旋转座的分解结构示意图。
图中：10、承载板；11、定位卡套；12、防滑垫；13、第一开口；20、限位单元；21、底框；22、压盖；221、第二开口；23、卡扣组件；231、卡钩；232、卡钩座；233、卡扣；234、卡扣座；30、PCB转接板单元；31、PCB转接板；311、安装座；32、连接软排；40、测试单元；41、底座支架；411、防护块；42、旋转座；421、基座；422、探针座；423、盖板；43、第一连杆；431、通孔；44、第二连杆；441、压紧块；45、弹性柱塞；46、解锁组件；461、套筒；462、解锁推杆；47、测试探针；48、横梁；481、延伸块。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
如图1、图2和图7所示，本发明提供了一种测试装置，包括：一承载板10；一限位单元20，其设置在所述承载板10上；一测试单元40，其设置在所述承载板10的一侧；以及一PCB转接板单元30；其中，所述限位单元20上设置有与所述PCB转接板单元30电连接的待测试的产品，所述测试单元40包括一底座支架41、一设置有测试探针47且枢接在所述底座支架41上的旋转座42，测试时，下压所述旋转座42使得所述测试探针47与所述PCB转接板单元30相接触以形成电连接。
作为本案一实施例，如图3所示，所述承载板10上设置有一第一开口13，有效的减轻了重量，具有重量轻的优点，同时也便于测试过程中的散热。
作为本案一实施例，如图1和图2所示，所述承载板10上设置有一对定位卡套11，所述定位卡套11位于所述承载板10的对角线上，以利于所述承载板10的定位，定位更为精准、可靠。所述承载板10的底端面上还设置有凹槽，所述凹槽内设置有防滑垫12，所述防滑垫12能够防止在测试过程中所述承载板10发生移动，影响测试的正常进行。
作为本案一实施例，如图4和图5所示，所述限位单元20设置在所述第一开口13上，所述限位单元20包括一紧固在所述第一开口13上的底框21、一枢接在所述底框21边沿上的压盖22以及一卡扣组件23，其中，所述卡扣组件23包括一枢接在所述压盖22上的卡钩231和一固定设置在所述底框21上且与所述卡钩231相卡合的卡扣233。具体的，所述卡钩231通过卡钩座232设置在所述压盖22的边沿上，所述卡钩231枢接在所述卡钩座232上，所述卡扣233通过卡扣座234紧固在所述底框21上。
作为本案一实施例，如图6所示，所述PCB转接板单元30包括一PCB转接板31和一连接软排32，其中，所述PCB转接板31通过安装座311紧固在所述承载板10上，测试时，所述连接软排32的一端部与所述PCB转接板31电连接、另一端部与所述限位单元20上的产品电连接，所述压盖22上设置有一便于所述连接软排32与产品连接的第二开口221，所述第二开口221的设置也便于产品在测试过程中散热。
作为本案一实施例，如图7和图8所示，所述测试单元40还包括一连杆组件，其包括与所述底座支架41铰接的一对第一连杆43、分别与所述旋转座42和所述第一连杆43铰接的一对第二连杆44，其中，所述第二连杆44上设置有一弹性柱塞45，所述第一连杆43上设置有与所述弹性柱塞45相对应的通孔431，所述通孔431上设置有一与所述弹性柱塞45相配合的解锁组件46，所述弹性柱塞45通过第二弹簧（图未示）设置在所述第二连杆44上，所述弹性柱塞45沿所述通孔431的轴向作伸缩运动，当下压所述旋转座42使得所述测试探针47与所述PCB转接板31相接触时，所述弹性柱塞45的端部弹入至所述通孔431内形成自锁，以完成测试。
作为本案一实施例，如图9所示，所述解锁组件46包括一紧固在所述第一连杆43的通孔431上的套筒461和一插设在所述套筒461内且沿所述套筒461的轴向运动的解锁推杆462，其中，所述套筒461和所述弹性柱塞45位于所述第一连杆43的相向两侧，所述套筒461与所述通孔431同轴设置，解锁时，通过在所述解锁推杆462上施加一朝向所述弹性柱塞45的推力使得所述弹性柱塞45的端部移出所述通孔431从而实现所述旋转座42的解锁。
作为本案一实施例，如图9所示，所述套筒461和所述解锁推杆462之间还设置有一第一弹簧（图未示），所述第一弹簧的一端卡设在所述套筒461的内壁上、另一端卡设在所述解锁推杆462上，本发明中，所述第一弹簧用于解锁推杆462的复位，当测试完成后，需在所述解锁推杆462上施加一个作用力，使得所述弹性柱塞45的端部移出所述通孔431从而实现所述旋转座42的解锁，当所述旋转座42解锁后，移除施加在所述解锁推杆462上的作用力，所述解锁推杆462在所述第一弹簧的作用下复位。
作为本案一实施例，如图7所示，所述底座支架41上设置有一用于限制所述第一连杆43的转动角度的防护块411，确保所述旋转座42的下压角度为90°，防止所述旋转座42过度转动而损坏所述测试探针47和所述PCB转接板31。
作为本案一实施例，如图8所示，所述第二连杆44上成型有一压紧块441，当下压所述旋转座42使得所述测试探针47与所述PCB转接板31相接触时，所述压紧块441压设在所述旋转座42上，以确保所述旋转座42不会松动，保证测试的稳定性。
作为本案一实施例，如图9所示，所述第一连杆43之间设置有一横梁48，其中，所述横梁48上成型有一便于将所述旋转座42复位的延伸块481。
作为本案一实施例，如图10所示，所述旋转座42包括一枢接在所述底座支架41上的基座421、设置在所述基座421上的一探针座422和一盖板423，其中，所述基座421上成型有一方形容置孔，所述探针座422通过销轴枢接在所述方形容置孔内，所述盖板423紧固在所述方形容置孔的正上方，所述盖板423用于防止所述探针座422在所述基座421上转动；所述旋转座42具有结构简单、拆装方便的优点。
该测试装置的工作原理如下：初始状态时，如图5和图7所示，压盖22与旋转座42处于打开位置，先将待测试的产品放置于底框21的容置腔内，然后下压所述压盖22，使得卡钩231与卡扣233扣合，产品实现定位；接着下压旋转座42，在旋转座42的下压过程中弹性柱塞45将第一连杆43与第二连杆44卡合，实现旋转座42的自锁，从而使得测试探针47与PCB转接板31稳定接触，开始产品的测试；测试完成后，按下解锁推杆462，按动延伸块481，使得旋转座42旋转90°，再打开压盖22，取出产品，进入下一测试循环。
尽管本发明的实施方案已公开如上，但其并不仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。

Claims (5)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：
一承载板(10)；
一限位单元(20)，其设置在所述承载板(10)上；
一测试单元(40)，其设置在所述承载板(10)的一侧；以及
一PCB转接板单元(30)；
其中，所述限位单元(20)上设置有与所述PCB转接板单元(30)电连接的待测试的产品，所述测试单元(40)包括一底座支架(41)、一设置有测试探针(47)且枢接在所述底座支架(41)上的旋转座(42)，测试时，下压所述旋转座(42)使得所述测试探针(47)与所述PCB转接板单元(30)相接触以形成电连接；
所述测试单元(40)还包括一连杆组件，其包括与所述底座支架(41)铰接的一对第一连杆(43)、分别与所述旋转座(42)和所述第一连杆(43)铰接的一对第二连杆(44)，其中，所述第二连杆(44)上设置有一弹性柱塞(45)，所述第一连杆(43)上设置有与所述弹性柱塞(45)相对应的通孔(431)，所述通孔(431)上设置有一与所述弹性柱塞(45)相配合的解锁组件(46)，所述弹性柱塞(45)沿所述通孔(431)的轴向作伸缩运动，当下压所述旋转座(42)使得所述测试探针(47)与所述PCB转接板(31)相接触时，所述弹性柱塞(45)的端部弹入至所述通孔(431)内形成自锁；所述解锁组件(46)包括一紧固在所述第一连杆(43)的通孔(431)上的套筒(461)和一插设在所述套筒(461)内且沿所述套筒(461)的轴向运动的解锁推杆(462)，其中，所述套筒(461)和所述弹性柱塞(45)位于所述第一连杆(43)的相向两侧，所述套筒(461)与所述通孔(431)同轴设置，解锁时，通过在所述解锁推杆(462)上施加一朝向所述弹性柱塞(45)的推力使得所述弹性柱塞(45)的端部移出所述通孔(431)从而实现所述旋转座(42)的解锁；
所述承载板(10)上设置有一第一开口(13)，所述限位单元(20)设置在所述第一开口(13)上，所述限位单元(20)包括一紧固在所述第一开口(13)上的底框(21)、一枢接在所述底框(21)边沿上的压盖(22)以及一卡扣组件(23)，其中，所述卡扣组件(23)包括一枢接在所述压盖(22)上的卡钩(231)和一固定设置在所述底框(21)上且与所述卡钩(231)相卡合的卡扣(233)；
所述底座支架(41)上设置有一用于限制所述第一连杆(43)的转动角度的防护块(411)；所述第二连杆(44)上成型有一压紧块(441)，当下压所述旋转座(42)使得所述测试探针(47)与所述PCB转接板(31)相接触时，所述压紧块(441)压设在所述旋转座(42)上；所述第一连杆(43)之间设置有一横梁(48)，其中，所述横梁(48)上成型有一便于将所述旋转座(42)复位的延伸块(481)；
初始状态时，压盖(22)与旋转座(42)处于打开位置，先将待测试的产品放置于底框(21)的容置腔内，然后下压所述压盖(22)，使得卡钩(231)与卡扣(233)扣合，产品实现定位；接着下压旋转座(42)，在旋转座(42)的下压过程中弹性柱塞(45)将第一连杆(43)与第二连杆(44)卡合，实现旋转座(42)的自锁，从而使得测试探针(47)与PCB转接板(31)稳定接触，开始产品的测试；测试完成后，按下解锁推杆(462)，按动延伸块(481)，使得旋转座(42)旋转90°，再打开压盖(22)，取出产品，进入下一测试循环。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述PCB转接板单元(30)包括一PCB转接板(31)和一连接软排(32)，其中，所述PCB转接板(31)通过安装座(311)紧固在所述承载板(10)上，测试时，所述连接软排(32)的一端部与所述PCB转接板(31)电连接、另一端部与所述限位单元(20)上的产品电连接。
3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述承载板(10)上设置有一对定位卡套(11)，所述定位卡套(11)位于所述承载板(10)的对角线上，以利于所述承载板(10)的定位；所述承载板(10)的底端面上还设置有凹槽，所述凹槽内设置有防滑垫(12)，所述防滑垫(12)能够防止在测试过程中所述承载板(10)发生移动。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述套筒(461)和所述解锁推杆(462)之间还设置有一第一弹簧，所述第一弹簧的一端卡设在所述套筒(461)的内壁上、另一端卡设在所述解锁推杆(462)上，所述第一弹簧用于解锁推杆(462)的复位，当测试完成后，需在所述解锁推杆(462)上施加一个作用力，使得所述弹性柱塞(45)的端部移出所述通孔(431)从而实现所述旋转座(42)的解锁，当所述旋转座(42)解锁后，移除施加在所述解锁推杆(462)上的作用力，所述解锁推杆(462)在所述第一弹簧的作用下复位。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述旋转座(42)包括一枢接在所述底座支架(41)上的基座(421)、设置在所述基座(421)上的一探针座(422)和一盖板(423)，其中，所述基座(421)上成型有一方形容置孔，所述探针座(422)通过销轴枢接在所述方形容置孔内，所述盖板(423)紧固在所述方形容置孔的正上方，所述盖板(423)用于防止所述探针座(422)在所述基座(421)上转动。
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新型模块化结构的 ICT 测试治具设计;宋巧莲;《工具技术》;20150930;第49卷(第9期);第104-106页 *

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CN113358903A (zh) * 2021-06-01 2021-09-07 广东拓斯达科技股份有限公司 直接扎针机构
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