KR101050813B1 - 서버 장치 및 기록 매체 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- 피처리 기판에 대한 소정의 프로세스를 실시하는 복수의 제조 장치와 접속되어 있으며, 이상(異常)을 검지한 후에 이상 분석을 실시하는 기능을 갖는 서버 장치로서,지시를 포함한 입력을 받아들이는 접수부와,상기 복수의 제조 장치에서 측정된 정보에 대한 시(時) 계열의 정보이며, 상기 제조 장치를 식별하는 장치 식별자와 시각을 나타내는 시각 정보를 갖는 정보인 측정 정보를 복수 저장할 수 있는 측정 정보 저장부와,이상을 나타내는 정보인 이상 정보와 1 개 이상(以上)의 측정 정보의 대응을 1 개 이상 저장할 수 있는 이상 정보 저장부와,상기 이상 정보 저장부가 저장하고 있는 1 개 이상의 이상 정보를 출력하는 이상 정보 출력부와,상기 접수부가, 상기 이상 정보 출력부가 출력한 1 개 이상의 이상 정보 중, 1 개 이상의 이상 정보에 대한 지시인 이상 정보 지시를 받아들인 경우, 상기 이상 정보 지시에 대응하는 1 개 이상의 이상 정보와 쌍을 이루는 1 개 이상의 측정 정보로부터 1 개 이상의 차트를 구성하는 차트 구성부와,상기 차트 구성부가 구성한 1 개 이상의 차트를 출력하는 출력부와,차트를 식별하는 정보인 차트 식별 정보를 2 개 이상 갖는 그룹 차트 정보를 1 개 이상 저장할 수 있는 그룹 차트 정보 저장부와,상기 1 개 이상의 차트가 출력된 후, 상기 접수부가 상기 출력된 1 개 이상의 차트에 관련된 관련 차트를 출력하는 지시인 관련 차트 출력 지시를 받아들인 경우, 상기 출력된 1개 이상의 차트를 식별하는 차트 식별 정보를 취득하고, 상기 취득한 차트 식별 정보를 갖는 그룹 차트 정보를 상기 그룹 차트 정보 저장부로부터 검색하여, 상기 출력된 1 개 이상의 차트를 식별하는 1 개 이상의 차트 식별 정보 중의 모든 차트 식별 정보 또는 하나의 차트 식별 정보를 갖는 그룹 차트 정보 중, 상기 출력된 1 개 이상의 차트를 식별하는 1 개 이상의 차트 식별 정보를 제외한 1 개 이상의 차트 식별 정보를 상기 그룹 차트 정보 저장부로부터 취득하는 관련 차트 식별 정보 취득부와,상기 관련 차트 식별 정보 취득부가 취득한 1 개 이상의 차트 식별 정보를 이용하여, 차트 식별 정보마다 상기 측정 정보 저장부로부터 1 개 이상의 측정 정보를 취득하고, 1 개 이상의 차트를 구성하는 관련 차트 구성부를 구비하고,상기 출력부는 상기 관련 차트 구성부가 구성한 1 개 이상의 차트도 출력하는 서버 장치.
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- 피처리 기판에 대한 소정의 프로세스를 실시하는 복수의 제조 장치와 접속되어 있으며, 이상(異常)을 검지한 후에 이상 분석을 실시하는 기능을 갖는 서버 장치에서 실행시키는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체에 있어서,복수의 제조 장치에서 측정된 정보에 대한 시 계열의 정보이며, 상기 제조 장치를 식별하는 장치 식별자와, 시각을 나타내는 시각 정보를 갖는 정보인 측정 정보를 복수 저장하고 있으며, 또한, 이상을 나타내는 정보인 이상 정보와 1 개 이상의 측정 정보의 대응을 1 개 이상 저장하고 있으며,컴퓨터에지시를 포함한 입력을 받아들이는 접수 단계와,상기 저장되어 있는 1 개 이상의 이상 정보를 출력하는 이상 정보 출력 단계와,상기 접수 단계에서, 상기 이상 정보 출력 단계에서 출력한 1 개 이상의 이상 정보 중의 1 개 이상의 이상 정보에 대한 지시인 이상 정보 지시를 받아들인 경우, 상기 이상 정보 지시에 대응하는 1 개 이상의 이상 정보와 쌍을 이루는 1 개 이상의 측정 정보로 1 개 이상의 차트를 구성하는 차트 구성 단계와,상기 차트 구성 단계에서 구성한 1 개 이상의 차트를 출력하는 출력 단계를 실행시키고,상기 1 개 이상의 차트가 출력된 후, 상기 접수 단계에서, 상기 출력된 1 개 이상의 차트에 관련된 관련 차트를 출력하는 지시인 관련 차트 출력 지시를 받아들인 경우, 상기 출력된 1개 이상의 차트를 식별하는 차트 식별 정보를 취득하고, 상기 취득한 차트 식별 정보를 갖는 그룹 차트 정보를 검색하여, 상기 출력된 1 개 이상의 차트를 식별하는 1 개 이상의 차트 식별 정보 중의 모든 차트 식별 정보 또는 하나의 차트 식별 정보를 갖는 그룹 차트 정보 중의, 상기 출력된 1 개 이상의 차트를 식별하는 1 개 이상의 차트 식별 정보를 제외한 1 개 이상의 차트 식별 정보를 취득하는 관련 차트 식별 정보 취득 단계와,상기 관련 차트 식별 정보 취득 단계에서 취득한 1 개 이상의 차트 식별 정보를 이용하여, 차트 식별 정보마다 1 개 이상의 측정 정보를 취득하고, 1 개 이상의 차트를 구성하는 관련 차트 구성 단계를 더 실행시키고,상기 출력 단계에서,상기 관련 차트 구성 단계에서 구성한 1 개 이상의 차트도 출력하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체.
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Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2010073322A1 (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-01 | キヤノンアネルバ株式会社 | 真空処理装置のデータ収集システム |
JP4386143B1 (ja) | 2009-02-05 | 2009-12-16 | パナソニック株式会社 | センサ装置 |
JP4337952B1 (ja) | 2009-02-05 | 2009-09-30 | パナソニック株式会社 | センサ装置 |
US8131508B2 (en) | 2009-02-05 | 2012-03-06 | Panasonic Corporation | Sensor apparatus |
JP2012164812A (ja) * | 2011-02-07 | 2012-08-30 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造システム及び製造方法 |
JP5556825B2 (ja) * | 2012-01-24 | 2014-07-23 | 株式会社安川電機 | 生産システムおよび物品製造方法 |
US9162357B2 (en) * | 2013-06-26 | 2015-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Control method for robot system and robot system |
JP2014082497A (ja) * | 2013-11-01 | 2014-05-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | データ検索方法、データ検索システム及び情報管理装置の管理プログラム |
JP6092834B2 (ja) * | 2014-11-07 | 2017-03-08 | シャープ株式会社 | 表示操作装置、画像形成装置、及び制御方法 |
CN105353329B (zh) * | 2015-11-19 | 2018-04-10 | 苏州众天力信息科技有限公司 | 基于云网络的故障电弧检测系统 |
JP7345353B2 (ja) | 2019-10-25 | 2023-09-15 | 東京エレクトロン株式会社 | 故障検知システム及び故障検知方法 |
EP3822724A1 (de) * | 2019-11-14 | 2021-05-19 | Siemens Aktiengesellschaft | Leitsystem für eine technische anlage dazu ausgebildet, ein visuell codiertes trenddiagramm zu erzeugen |
CN113049935A (zh) * | 2021-03-04 | 2021-06-29 | 长鑫存储技术有限公司 | 半导体智能检测系统、智能检测方法及存储介质 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1174185A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-03-16 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法 |
JP2005346655A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Omron Corp | 工程管理装置、工程管理方法、工程管理プログラム、および該プログラムを記録した記録媒体 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2941308B2 (ja) * | 1989-07-12 | 1999-08-25 | 株式会社日立製作所 | 検査システムおよび電子デバイスの製造方法 |
US5257206A (en) * | 1991-04-08 | 1993-10-26 | Praxair Technology, Inc. | Statistical process control for air separation process |
JP3006166B2 (ja) * | 1991-06-25 | 2000-02-07 | 株式会社日立製作所 | データ解析方法および検査システム並びに薄膜製品の製造方法 |
US5311759A (en) * | 1992-12-14 | 1994-05-17 | Ford Motor Company | Method and system for real-time statistical process monitoring |
JPH0815135B2 (ja) * | 1993-05-25 | 1996-02-14 | 日本電気株式会社 | 半導体装置の製造管理システム |
JP4242945B2 (ja) | 1998-06-05 | 2009-03-25 | 株式会社日立国際電気 | 半導体製造装置の群管理システムにおける測定データ加工方法 |
US6442445B1 (en) * | 1999-03-19 | 2002-08-27 | International Business Machines Corporation, | User configurable multivariate time series reduction tool control method |
JP3555859B2 (ja) * | 2000-03-27 | 2004-08-18 | 広島日本電気株式会社 | 半導体生産システム及び半導体装置の生産方法 |
JP4878085B2 (ja) * | 2001-04-20 | 2012-02-15 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 製造工程のための管理方法 |
US6727106B1 (en) * | 2001-07-12 | 2004-04-27 | Advanced Micro Devices, Inc. | System and software for statistical process control in semiconductor manufacturing and method thereof |
JP4592235B2 (ja) * | 2001-08-31 | 2010-12-01 | 株式会社東芝 | 生産装置の故障診断方法及び生産装置の故障診断システム |
US7849400B2 (en) * | 2001-09-13 | 2010-12-07 | Speech Products, Inc. | Electronic charting system |
TWI279657B (en) * | 2001-09-21 | 2007-04-21 | Olympus Corp | Management apparatus |
CN100375086C (zh) * | 2002-07-03 | 2008-03-12 | 东京电子株式会社 | 用于动态传感器配置和运行时间执行的方法和设备 |
JP4685446B2 (ja) * | 2002-08-20 | 2011-05-18 | 東京エレクトロン株式会社 | データコンテキストに基づいてデータを処理する方法 |
JP2004165282A (ja) * | 2002-11-11 | 2004-06-10 | Sharp Corp | 製造プロセスにおける装置状態判別システム及び製造プロセス安定化システム |
JP4355193B2 (ja) * | 2003-11-10 | 2009-10-28 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体デバイスの製造方法及び半導体デバイス製造システム |
JP2005173911A (ja) * | 2003-12-10 | 2005-06-30 | Trecenti Technologies Inc | 工程管理システムおよび工程管理方法 |
JP4253252B2 (ja) * | 2003-12-22 | 2009-04-08 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 品質改善システム |
JP4396286B2 (ja) * | 2004-01-21 | 2010-01-13 | 三菱電機株式会社 | 機器診断装置および機器監視システム |
US7974978B2 (en) * | 2004-04-30 | 2011-07-05 | International Business Machines Corporation | System and method for graph indexing |
US7117058B2 (en) * | 2004-06-24 | 2006-10-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Automatic statistical process control (SPC) chart generation apparatus and method thereof |
US7254513B2 (en) * | 2004-09-22 | 2007-08-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Fault detection and classification (FDC) specification management apparatus and method thereof |
US7254469B2 (en) * | 2004-11-18 | 2007-08-07 | Snap-On Incorporated | Superimposing current or previous graphing data for anomaly detection |
US7793162B2 (en) * | 2007-08-16 | 2010-09-07 | International Business Machines Corporation | Method for reporting the status and drill-down of a control application in an automated manufacturing environment |
-
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1174185A (ja) * | 1997-08-29 | 1999-03-16 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法 |
JP2005346655A (ja) * | 2004-06-07 | 2005-12-15 | Omron Corp | 工程管理装置、工程管理方法、工程管理プログラム、および該プログラムを記録した記録媒体 |
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