KR101039652B1 - 엘이디 램프 검사장치의 동작방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 일 측면은, 엘이디 램프 검사장치에 구비된 상하이동부의 하강을 위해 제1 스위칭 수단의 온에 의해, 상기 제1 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 닫히게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 형성하는 제1단계; 상기 상하이동부가 설정된 초기위치에서 측정위치로 하강하여 정지하는 제2단계; 상기 엘이디 램프 검사장치에 장착된 엘이디 램프의 품질을 측정하는 제3단계; 상기 상하이동부의 상승을 위해 제2 스위칭 수단의 온에 의해, 상기 제2 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 열리게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 해제하는 제4단계; 및 상기 상하이동부가 측정위치에서 상기 설정된 초기위치로 상승하는 제5단계;를 포함하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.

Description

엘이디 램프 검사장치의 동작방법{Method for moving test apparatus of light emitting diode lamp}
본 발명은 엘이디 램프 검사장치의 동작방법에 관한 것으로, 특히 엘이디 램프를 생산한 후 특성검사를 진행할 때 품질불량 여부를 판단하기 위한 검사장치의 동작방법에 관한 것이다.
일반적으로, 엘이디(Light Emitting Diode, LED)는 반도체의 p-n 접합구조를 이용하여 주입된 소수 캐리어(전자)를 만들어내고, 이들 소수 캐리어의 재결합에 의해 발광이 이루어지도록 한 전자부품이다.
이러한 엘이디로 만들어진 엘이디 램프는 종래의 광원에 비해 소형이고 수명이 길뿐만 아니라, 전기에너지가 빛에너지로 직접 변환되기 때문에 전력이 적게 소모되며 효율이 우수한 고광도를 발한다.
또한, 엘이디는 고속응답의 특징을 지니고 있기 때문에 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용 광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프나 숫자표시장치 등에 많이 쓰이고 있으며, 가정용, 차량용, 선박용, 교통신호용, 각종 안내등 및 피난 유도등 등에 조명수단(lighting means)으로 다양하게 적용되고 있다.
본 발명의 일 측면은 여러 개의 엘이디 램프를 동시에 신속하면서도 신뢰성이 있게 검사할 수 있는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일 측면은 엘이디 램프 검사장치에 구비된 상하이동부의 하강을 위해 제1 스위칭 수단의 온에 의해, 상기 제1 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 닫히게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 형성하는 제1단계; 상기 상하이동부가 설정된 초기위치에서 측정위치로 하강하여 정지하는 제2단계; 상기 엘이디 램프 검사장치에 장착된 엘이디 램프의 품질을 측정하는 제3단계; 상기 상하이동부의 상승을 위해 제2 스위칭 수단의 온에 의해, 상기 2 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 열리게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 해제하는 제4단계; 및 상기 상하이동부가 측정위치에서 상기 설정된 초기위치로 상승하는 제5단계;를 포함하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 제1단계의 이전에는 상기 엘이디 램프 검사장치에 구비된 다수 개의 상하이동부 중의 1개 이상의 상하이동부의 하강 및 상승을 위해 전원이 투입되는 단계를 더 포함하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명의 다른 실시예에서, 상기 제2단계에서 상기 정지하는 동작은 상기 엘이디 램프 검사장치에 구비된 감지센서에 의해 상기 엘이디 램프의 일 부위와의 접촉을 감지하여 정지하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명의 또 다른 실시예에서, 상기 제2단계는 상기 상하이동부가 설정된 초기위치에서 상기 엘이디 램프의소켓부와 접촉하는 측정위치로 하강하여 정지하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명의 또 다른 실시예에서, 상기 제3단계에서 상기 엘이디 램프의 품질을 측정할 때 상기 엘이디 램프가 점등된 상태에서 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명의 또 다른 실시예에서, 상기 제3단계의 상기 엘이디 램프의 품질측정은 상기 상하이동부가 정지한 후 제1 설정시간이 경과했을 때 상기 엘이디 램프의 품질을 측정이 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명의 또 다른 실시예에서, 상기 제4단계는 상기 제3단계의 상기 엘이디 램프의 품질 측정 후 제2 설정시간이 경과했을 때 자기유지회로의 해제가 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 제공한다.
본 발명에 따르면, 여러 개의 엘이디 램프를 동시에 신속하면서도 신뢰성이 있게 검사할 수 있는 방법을 제공하게 됨으로써, 1개의 램프만을 검사할 수 있는 적분구가 전수검사를 어렵게 하고 공정시간이 길어지게 하는 문제점을 해결할 수 있다.
도 1은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치의 정면도이다.
도 2는 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 초기위치에 있는 상태의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 측정위치에 있는 상태의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 엘이디 램프 검사장치의 내부 회로도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지의 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시형태로만 한정되는 것은 아니다. 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.
도 1은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치의 정면도이다. 도 1을 참조하면, 엘이디(Light Emitting Diode, LED) 램프(50) 검사장치는 안착부(100), 상하이동부(300), 전원부(500), 계측부(600), 디스플레이부(700)를 포함한다.
상기 검사장치는 제1 몸체부(200)의 상면에 엘이디 램프를 검사할 수 있도록 안착부(100)가 배치되어 있다. 그리고, 안착부(100)에는 엘이디 램프(50)가 삽입될 수 있는 홈이 형성되어 있다.
그리고, 제1 몸체부(200)의 상면에는 안착부(100) 양측에 판재형태의 수직지지부재(400a, 400b)가 배치되어 있고, 수직지지부재(400a, 400b) 상면에는 판재형태의 수평지지부재(400c)가 배치되어 있는데, 수평지지부재(400c)에는 상하이동부(300)가 관통되어 있다.
사용자는 안착부(100)의 홈에 엘이디를 삽입하고, PW(파워) 스위치를 눌러 상기 검사장치에 전원이 인가된 상태에서 상기 검사장치의 제어부(500)에 구비된 DN(하강) 스위치를 눌러 상하이동부(300)를 설정된 초기위치에서 측정위치로 하강하여 정지하도록 한 후에 계측부(600)를 통하여 엘이디 램프(50)의 품질을 측정할 수 있다. 품질이 측정된 엘이디 램프(50)는 제어부(500) 및 계측부(600)에 연결된 디스플레이부(700)에 측정된 품질의 양부(양호 또는 불량)가 디스플레이된다. 이 때, 계측부(600)는 제1 몸체부(200)의 내측 저면에 설치되어 있는 조도계 등의 광특성을 측정할 수 있는 기기(미도시) 및 상하이동부(300)와 연결되어 있는 파워미터와 같은 전력특성을 측정할 수 있는 기기(미도시)로부터 측정값을 입력받는다.
그리고, 엘이디 램프(50)를 검사한 후에는 제어부(500)에 구비된 UP(상승) 스위치를 눌러 상하이동부(300)가 측정위치에서 설정된 초기위치로 상승하여 정지하도록 한다. 상하이동부(300)는 내부에 구비된 실린더에 공급된 유압 또는 공압에 의해 상승 및 하강한다.
한편, 엘이디 램프(50)를 검사할 때, 다수 개의 엘이디 램프(50)의 검사가 가능하며, 본 발명의 실시예에서는 4개의 엘이디 램프(50)의 검사가 동시에 가능하도록 하였다. 또한, 4개의 엘이디 램프(50)를 동시에 검사하지 않더라도 1개 내지 3개의 엘이디 램프(50)의 검사가 가능하며, 특정한 엘이디 램프(50)의 수에 한정되지 않고 다양한 개수의 엘이디 램프(50)의 검사가 가능하도록 실시예를 변형할 수 있다.
도 2는 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 초기위치에 있는 상태의 단면도이고, 도 3은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 측정위치에 있는 상태의 단면도이다.
상기 검사장치가 초기위치에 있는 경우에는 도 2에 도시된 바와 같이 상하이동부의 감지센서(360)의 하단과 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 이격되어 있고, 측정위치에 있는 경우에는 도 3에 도시된 바와 같이 상하이동부의 감지센서(360)의 하단과 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 접촉하게 된다.
감지센서(360)의 하단과 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 접촉할 때 감지센서(360)는 엘이디 램프(50) 감지신호를 도 1에 도시된 계측부(600)로 전달하고, 계측부(600)에서는 엘이디 램프(50)의 품질을 종합적으로 측정하여 디스플레이부(700)에 검사결과를 디스플레이한다. 즉, 감지센서(360)를 통하여 조절된 높이에서 상하이동부(300)가 소켓부(51)에 접촉하여 램프에 전원을 인가하고, 그에 의해 하방으로 조사되는 빛은 제1 몸체부(200)의 내측 저면에 설치되어 있는 조도계 등을 통하여 그 특성값이 측정되며, 동시에 상하이동부(300)와 연결되어 있는 파워미터 에 의하여 램프의 전력특성값이 측정된다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 소켓부(51), 램프부(52), 방열부(53)로 구성된 엘이디 램프(50)는 램프부(52)가 안착부(100)에 삽입되어 있는데, 사용자는 엘이디 램프(50) 검사시 안착부(100)의 홈에 엘이디 램프(50)를 삽입한다.
그리고, 제1 몸체부(200)의 상면에는 안착부(100) 양측에 판재형태의 수직지지부재(400a, 400b)가 배치되어 있고, 수직지지부재(400a, 400b)의 상면에는 판재형태의 수평지지부재(400c)가 배치되어 있다.
또한, 수평지지부재(400c)에는 수평지지부재(400c)에 형성된 홀을 관통하여 상승 및 하강하는 실린더(320)와, 실린더(320)의 양측에 실린더(320)의 길이방향과 평행하게 배치된 가이드 봉(310a, 310c)이 배치되어 있다. 구체적으로는, 실린더 (320)의 피스톤(320a)이 수평지지부재(400c)에 형성된 홀을 통하여 수직왕복운동을 하고, 가이드 봉(310a, 310b)은 수평지지부재(400c)를 관통하여 구비된 베어링 (bearing, 310e, 310f)을 통하여 실린더(320)의 피스톤(320a)이 수직왕복운동을 할 때 슬라이딩(sliding) 동작을 원활하게 할 수 있다.
또한, 실린더(320)와 가이드 봉(310a, 310c)의 하면에는 판재와 같은 수평부재(310d)가 부착되어 있다. 수평부재(310d)의 하면에는 제2 몸체부(330)가 부착되어 있다. 여기서, 수평부재(310d)를 부착하지 않고 실린더(320)와 가이드 봉(310a, 310c)의 하면에 수평길이를 늘여서 제2 몸체부(330)를 부착하여도 무방하다(도 2 및 도 3에는 수평부재(310d)가 부착된 형태를 도시함). 실린더(320)와 가이드 봉 (310a, 310c) 하면에 수평부재(310d)를 부착하는 이유는, 실린더(320)와 가이드 봉 (310a, 310c)을 수평부재(310d)를 통해 고정시킬 수 있기 때문에 제2 몸체부(330)의 크기를 불필요하게 크게 할 필요가 없기 때문이다.
또한, 제2 몸체부(330)의 하부에는 감지센서(360)가 삽입되어 있는데, 감지센서(360)의 하부는 스프링과 같은 탄성부재(350)에 의해 둘러싸여 있다. 감지센서(360)의 하부가 탄성부재(350)에 의해 둘러싸여 있기 때문에, 감지센서(360)를 보호하는 역할을 하며, 상하이동부 상승시에 탄력을 얻을 수 있게 된다.
탄성부재(350)의 양측에는 탄성부재(350)의 사행을 방지하는 가이드부(340a, 340b)가 형성되어 있다. 가이드부(340a, 340b)에 의해 탄성부재(350)는 가이드부(340a, 340b) 내측에서만 위 아래로 수직왕복운동을 할 수 있게 된다.
도 4는 본 발명의 엘이디 램프 검사장치의 내부 회로도이다. 도 4를 도 1과 함께 참조하여, 도 1에 제어부(500)에 구성된 내부 회로도의 동작을 살펴보기로 한다.
도 4를 참조하면, 제어부(500)는 제1 및 제2 스위칭 수단(501, 502), 제3 내지 제10 스위칭 수단(503~510), 제1 내지 17 접점(513, 514, 516, 517, 519, 520, 522~525, 528, 530, 532~536), 제1 내지 제9 릴레이(512, 515, 518, 521, 526, 527, 529, 531, 537), 엘이디 램프(50)를 포함하고 있으며, 전원으로부터 전원을 공급받아 상하이동부(300)가 하강하여 상하이동부(300)의 감지센서(360) 하단이 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단에 접촉하여 엘이디 램프(50)에 전원이 인가되면 엘이디 램프 검사장치를 구성하는 조도계나 파워미터 등에 의하여 측정된 값을 이용하여 엘이디 램프(50)를 검사하고, 상하이동부(300)의 상승시에 감지센서(360) 하단이 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단과 이격된다.
엘이디 램프 검사장치는 간략하게 다음과 같은 동작방법을 갖는다.
제1단계 : 엘이디 램프 검사장치에 구비된 상하이동부(300)의 하강을 위해 제1 스위칭 수단(501)의 온에 의해, 상기 제1 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 닫히게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 형성한다.
제2단계 : 상하이동부(300)가 설정된 초기위치에서 측정위치로 하강하여 정지한다.
제3단계 : 엘이디 램프 검사장치에 장착된 엘이디 램프(50)의 품질을 측정한다.
제4단계 : 상하이동부(300)의 상승을 위해 제2 스위칭 수단(502)의 온에 의해, 제2 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 열리게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 해제한다.
제5단계 : 상하이동부(300)가 측정위치에서 설정된 초기위치로 상승한다.
상기한 바와 같은 엘이디 램프 검사장치의 동작방법을 상세히 살펴보기로 한다. 4개의 엘이디 램프(50)의 품질을 측정하기 위해서는 사용자가 수동 스위칭 소자인 제3 내지 제10 스위칭 수단(503~510)을 온시켜야 한다. 만약, 1개의 엘이디 램프만의 품질을 측정하기 위해서는 제3 내지 제4 스위칭 수단(503, 504)만을 온시키면 된다.
제1 내지 제10 스위칭 수단(501~510)은 필요에 따라 사용자에 의해 조작되는 수동 스위칭 소자로 구성된다. 즉, 다수 개의 상하이동부(300) 중의 1개 이상의 상하이동부(300)의 하강 및 상승을 위해 전원을 투입할 수 있다.
먼저, 엘이디 램프 검사장치에 구비된 상하이동부(300)의 하강을 위해 사용자가 수동 스위칭 소자인 제1 스위칭 수단(501)을 온시키면 제5 릴레이(526)에 의해 제9 접점(524)이 닫히고 제12 접점(530)을 통하여 전류가 흘러 자기유지회로가 형성된다. 자기유지회로의 형성으로 인하여, 제5 릴레이(526)를 통하여 상하이동부(300)의 하강을 위한 전류가 계속 흐르게 된다.
그리고, 제5 릴레이(526)에 의해 제9 릴레이(537)가 동작하여 제14 내지 제17 접점(533~536)이 닫혀 상하이동부(300)가 설정된 초기위치에서 측정위치(엘이디 램프(50)의 소켓부(51)와 접촉하는 위치)로 하강하여 정지한다. 즉, 상하이동부(300)는 엘이디 램프(50)가 삽입된 안착부(100)의 방향으로 하강하여 정지한다.
또한, 제5 릴레이(526)에 의해 제10 접점(525)이 닫히면 제13 접점(532)을 통하여 전류가 흘러 감지센서(360)를 동작시키고, 타이머 릴레이(timer relay)인 제6 릴레이(527)에 의해 제1 설정시간이 경과했을 때 제11 접점(528)이 닫혀 제1 내지 제4 릴레이(512, 515, 518, 521)를 동작시켜 제1 내지 제8 접점(513, 514, 516, 517, 519, 520, 522, 523)이 닫혀 엘이디 램프(50)가 점등된다. 제1 설정시간이 경과했을 때 상하이동부(300)에 구비된 감지센서(360)의 하단이 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 접촉되어 엘이디 램프(50)가 점등된다. 이때, 조도계 및 파워미터 에 의해 엘이디 램프(50)가 검사되고, 여러 특성값들이 측정/수집되어 계측부(600)로 전달된다.
한편, 엘이디 램프 검사장치에 구비된 상하이동부(300)의 하강을 위해 사용자가 수동 스위칭 소자인 제2 스위칭 수단(502)을 온시키면 제2 설정시간이 경과했을 때 타이머 릴레이인 제7 릴레이(529)가 동작하여 제12 접점(530)이 열리므로 제1 스위칭 수단(501)의 온에 의해 형성된 자기유지회로가 해제된다. 자기유지회로의 해제로 인하여, 제5 릴레이(526) 및 제9 릴레이(537)는 동작하지 않게 되고, 제9 릴레이(537)가 동작하지 않게 되어 제14 내지 제17 접점(533~536)이 열리므로 상하이동부(300)가 측정위치에서 설정된 초기위치로 상승하게 된다.
또한, 제8 릴레이(531)에 의해 제13 접점(525)이 b에서 a로 닫히면 감지센서(360)의 동작이 해제되고, 타이머 릴레이인 제6 릴레이(527)가 동작하지 않게 되어 제11 접점이 열리게 되므로 제1 내지 제4 릴레이(512, 515, 518, 521)가 동작하지 않게 되어 제1 내지 제8 접점(513, 514, 516, 517, 519, 520, 522, 523)이 열려 엘이디 램프(50)가 소등된다. 엘이디 램프(50)가 소등할 때는 상하이동부(300)가 측정위치에서 설정된 초기위치로 상승하게 된다.
본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되지 아니한다. 첨부된 청구범위에 의해 권리범위를 한정하고자 하며, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.
50 : 엘이디 램프 51 : 소켓부
52 : 램프부 53 : 방열부
100 : 안착부 200 : 제1 몸체부
300 : 상하이동부 310a, 310b : 가이드 봉
310d : 수평부재 310e, 310f : 베어링
320 : 실린더 321a : 피스톤
330 : 제2 몸체부 340a, 340b : 가이드부
350 : 탄성부재 360 : 감지센서
400a, 400b : 수직지지부재 400c : 수평지지부재
500 : 제어부
501~510 : 제1 내지 제10 스위칭 수단
512, 515, 518, 521, 526, 527, 529, 531, 537 : 제1 내지 제9 릴레이
513, 514, 516, 517, 519, 520, 522~525, 528, 530, 532~536 : 제1 내지 제17 접점
600 : 계측부
700 : 디스플레이부

Claims (7)

  1. 엘이디 램프 검사장치에 구비된 상하이동부의 하강을 위해 제1 스위칭 수단의 온에 의해, 상기 제1 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 닫히게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 형성하는 제1단계;
    상기 상하이동부가 설정된 초기위치에서 측정위치로 하강하여 정지하는 제2단계;
    상기 엘이디 램프 검사장치에 장착된 엘이디 램프의 품질을 측정하는 제3단계;
    상기 상하이동부의 상승을 위해 제2 스위칭 수단의 온에 의해, 상기 제2 스위칭 수단에 연결된 릴레이의 동작으로 스위칭되는 접점을 열리게 하여, 상기 상하이동부의 하강을 위한 자기유지회로를 해제하는 제4단계; 및
    상기 상하이동부가 측정위치에서 상기 설정된 초기위치로 상승하는 제5단계;
    를 포함하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1단계의 이전에는 상기 엘이디 램프 검사장치에 구비된 다수 개의 상하이동부 중의 1개 이상의 상하이동부의 하강 및 상승을 위해 전원이 투입되는 단계를 더 포함하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제2단계에서 상기 정지하는 동작은 상기 엘이디 램프 검사장치에 구비된 감지센서에 의해 상기 엘이디 램프의 일 부위와의 접촉을 감지하여 정지하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제2단계는 상기 상하이동부가 설정된 초기위치에서 상기 엘이디 램프의소켓부와 접촉하는 측정위치로 하강하여 정지하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제3단계에서 상기 엘이디 램프의 품질을 측정할 때 상기 엘이디 램프가 점등된 상태에서 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제3단계의 상기 엘이디 램프의 품질측정은 상기 상하이동부가 정지한 후 제1 설정시간이 경과했을 때 상기 엘이디 램프의 품질을 측정이 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 제4단계는 상기 제3단계의 상기 엘이디 램프의 품질 측정 후 제2 설정시간이 경과했을 때 자기유지회로의 해제가 수행되는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치의 동작방법.
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