CN203745602U - Led光电性能相对标准的阵列评估测试系统 - Google Patents
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Abstract
一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体和采光机构，测试系统主体用于测试被测LED的光电参数；采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；LED承载平台上设有样品测试工位和被测LED测试工位，移动LED承载平台，所述测试系统主体可分别测试LED样品和被测LED的光电参数，并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。本实用新型具有一次安装测试完成后，即可评估整个矩阵发光二极管的性能，大幅度减少生产中LED性能评估时间；将光参数测试模块，电参数测试模块，矩阵开关都集成在机箱内，集成化程度高，不受外界环境的干扰。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种LED的光电性能相对标准的阵列评估测试系统。
背景技术
LED在出厂前需要进行很多性的测试，其中光学性能和电学性能是很重要的两个项目。
现有对LED的这两个项目的测试有两种方法，一种是单颗LED的方法，就是将单颗LED通过光谱仪或积分球测量后再根据标准样品进行修正测量；这种方法的缺陷是这种方法只能针对单颗封装后成品LED的测量,无法对批量LED生产封装前的光电性能进行测试评估。
二是LED的阵列测试方法，它适合于对批量LED生产封装前的光电性能的测试评估，这种方法大多采用LED阵列测试系统，该装置至少包括 测试控制单元、光参数测试模块、电参数测试模块和矩阵开关模块，矩阵开关模块与所述光参数测试模块和电参数测试模块电连接，所述测试控制单元控制光参数测试模块、电参数测试模块和矩阵开关模块协调工作，使用时将从产品中随机挑出来的用于被测的LED，排列成阵列结构的LED，然后将阵列结构的LED放在夹具上，所述测试控制单元控制矩阵开关模块分别点亮夹具上的其中几颗LED，这时，光参数测试模块和电参数测试模块分别测出这几颗LED光参数和电参数，并存储相应参数；然后，测试人员从阵列排布的LED上取下已被测试的几颗LED，再拿到光谱仪或积分球测量与样品进行对照测量，得到修正参数；测量人员再将修正参数输入给LED阵列测试系统，得出本批产品的相对光电参数值。
LED阵列测试系统只能测试阵列LED的光电参数，而不能同时进行相对标准的评估测试，无法满足生产中快速判定LED光电的性能要求。且这种测试系统使用超来比较繁锁，不方便操作人员快捷测试。
实用新型内容
为了克服上述问题，本实用新型向社会提供一种不仅能测试阵列LED的光色电参数，而且还能同时进行相对标准的评估，且操作方便快捷的LED的光电性能相对标准的评估测试系统。
本实用新型的技术方案是：提供一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体、被测LED矩阵开关、采光机构和LED承载平台，其中，
所述测试系统主体用于测试被测LED的光电参数；
所述被测LED矩阵开关受控于所述测试系统主体，用于按顺序点亮承载平台的被测LED安装工位上的被测LED，同时，采集被点亮的被测LED的电学性能供测试系统主体测试电学参数；
所述采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；
还包括受控于所述测试系统主体的样品测试矩阵开关，以及在所述LED承载平台上还设有用于放置被测LED样品的样品安装工位，移动所述LED承载平台，所述测试系统主体分别对被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行测试；
作为对本实用新型的改进，还对测试的被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行存储，并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。
作为对本实用新型的改进，还包括机台，所述测试系统主体设置在机台的一侧面上，所述采光机构设置在机台另一侧上方，所述被测LED矩阵开关的导电触点和样品测试矩阵开关的导电触点设置在采光机构的下方，被测LED安装工位和被测LED样品的样品安装工位设置在所述LED承载平台上，移动所述LED承载平台可以分别使被测LED样品的样品安装工位上的被测LED样品的连接脚与样品测试矩阵开关的导电触点电性连接；或者使被测LED的安装工位上的被测LED的连接脚与被测LED测试矩阵开关的导电触点电性连接。
作为对本实用新型的改进，所述LED承载平台包括长方形底板，在所述底板的长边两侧分别设有第一侧板和第二侧板，在所述长方形底板的一端短边侧设有第三侧板，所述被测LED安装工位设置在靠近第三侧板的长方形底板上，而所述被测LED样品的样品安装工位设置在远离第三侧板的长方形底板上。
作为对本实用新型的改进，在所述第一侧板和第二侧板的外侧面上分别设有滑条，用于与采光机构的外壳的相应部位滑动连接。
作为对本实用新型的改进，所述测试系统主体包括测试控制单元、光参数测试模块和电参数测试模块，其中，
所述光参数测试模块用于接收采光机构传输过来的光信号，对LED的光色参数进行测试；
所述电参数测试模块用于对LED的电学参数；
所述测试控制单元用于控制光参数测试模块、电参数测试模块、样品测试矩阵开关、被测LED测试矩阵开关和采光机构和协调工作。
作为对本实用新型的改进，所述LED承载平台还包括被测LED安装夹具和被测LED样品安装夹具，所述被测LED安装夹具用于固定被测LED，并将被测LED定位在所述被测LED安装工位上；所述被测LED样品安装夹具用于固定被测LED样品，并将被测LED样品定位在所述被测LED样品安装工位上。
作为对本实用新型的改进，所述采光机构包括积分球，所述积分球通过与采光窗口耦合的光纤连接到光谱装置，所述光谱装置将光信号变成电信号后，输送到光参数测试模块进行色度测试。
作为对本实用新型的改进，所述采光机构包括光亮度探测器，所述光亮度探测器与积分球耦合，将光强信号转化为相应的数字信号，输送到光参数测试模块进行光亮度测试。
本实用新型由于采用了在LED承载平台上设置样品安装工位，通过一次安装测试完成后，即可评估整个矩阵发光二极管的性能，大幅度减少生产中LED性能评估时间；同时，将光参数测试模块，电参数测试模块，矩阵开关都集成在机箱内，集成化程度高，不受外界环境的干扰。
附图说明
图1是本实用新型的一种实施例的结构原理示意图。
图２是利用图1所示原理制作的产品立体结构示意图（无箱体）。
图3是图2装上箱体后的产品立体结构示意图。
图4是图3中的LED承载平台的平面结构示意图。
图5是图3中样品夹具的平面结构示意图。
图6是图3装入被测LED和被测LED样品后的立体结构示意图。
图7是测试样品时的立体结构示意图。
图8是测试被测LED时的立体结构示意图。
下面结合附图对本实用新型做更具体的说明，图中，1、机台；2、测试控制单元；3电参数测试模块；4、光参数测试模块；5、积分球；6、采光窗口；7、光纤接口；8、光亮度探测器；9、光谱装置；10、被测矩阵支架夹具；11、被测样品夹具；12、样品矩阵开关；13、被测LED矩阵开关；14、机箱；15、被测LED电极触点；16、被测样品触点；17、承载平台。
具体实施方式
请参见图1，图1所揭示的是一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体100（见图2）、被测LED矩阵开关12、采光机构50（见图2）和LED承载平台13，本实施例中，所述测试系统主体包括测试控制单元2、光参数测试模块4和电参数测试模块3，所述光参数测试模块4用于接收采光机构传输过来的光信号，对LED的光色参数进行测试；所述电参数测试模块3用于对LED的电学参数；所述测试控制单元2用于控制光参数测试模块4、电参数测试模块3、样品测试矩阵开关12、被测LED测试矩阵开关13和采光机构50和协调工作；当被测样品处于样品测试位时，测试样品的光电参数，当被被测LED处理产品测试位时，测试产品的光电参数，并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。这样，就可以克服现有测试需要用两台测试仪分别测试后，才可以完成的问题；本实用新型可以实现一次性完成测试，简化了测试工序，减轻了测试人员的劳动强度。
本实施例中，所述被测LED矩阵开关13受控于所述测试系统主体，用于按顺序点亮承载平台17的被测LED安装工位上的被测LED，同时，采集被点亮的被测LED的电学性能供测试系统主体测试电学参数；所述采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；本实用新型还包括受控于所述测试系统主体的样品测试矩阵开关12，以及在所述LED承载平台17上还设有用于放置被测LED样品的样品安装工位，前后移动所述LED承载平台17，所述测试系统主体测试分别对被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行测试，并依据被测LED样品的光电参数校正被测LED的光电参数。
本实施例中，所述采光机构50包括积分球5，所述积分球5通过与采光窗口6耦合的光纤接口7连接到光谱装置8，所述光谱装置9将光信号变成电信号后，输送到光参数测试模块3进行色度测试；所述采光机构还包括光亮度探测器8，所述光亮度探测器8与积分球5耦合，将光强信号转化为相应的数字信号，输送到光参数测试模块4进行光亮度测试。
请参见图2和图3，本实用新型还包括机台18，所述测试系统主体100设置在机台18的一侧面上，所述采光机构50设置在机台18另一侧上方，所述被测LED矩阵开关13的导电触点和样品测试矩阵开关12的导电触点设置在采光机构50的下方，被测LED安装工位171和被测LED样品的样品安装工位172设置在所述LED承载平台17上，移动所述LED承载平台17可以分别使被测LED样品的样品安装工位172上的被测LED样品的连接脚与样品测试矩阵开关12的导电触点电性连接；或者使被测LED的安装工位171上的被测LED的连接脚与被测LED测试矩阵开关13的导电触点电性连接，实现对LED样品和被测LED分别测试；图2中，在所述被测LED的安装工位171上还设有被测LED夹具173；在样品安装工位172上还设有样品夹具174。
图3所示的结构与图2所示的结构大体相同，所不同的图3中加上机箱14。
请参见图3和图4，所述LED承载平台17包括长方形底板175，在所述底板175的长边两侧分别设有第一侧板176和第二侧板177，在所述长方形底板175的一端短边侧设有第三侧板178，在所述第三侧板178设有拉扣180，方便移动LED承载平台17；所述被测LED安装工位171设置在靠近第三侧板178的长方形底板175上，而所述被测LED样品的样品安装工位172设置在远离第三侧板175的长方形底板175上；在所述第一侧板176和第二侧板177的外侧面上分别设有滑条179，用于与采光机构50的外壳501的相应部位滑动连接。在图4中，相对于样品安装工位172画出了样品导电触点181，相对于被测LED安装工位171画出了被测LED导电触点182，需要说明的是样品导电触点181和被测LED导电触点182并不是设在LED承载平台17，它们而是设在采光机构50下面的机体上，分别与样品测试矩阵开关12和被测LED测试矩阵开关13电性连接；只是为了方便看图，而将样品导电触点181和被测LED导电触点182画在了图4中，同时，还需要说明的是图4中的样品导电触点181和被测LED导电触点182的个数并不代表产品的实际个数，它只为了示意而画。
本实施例中，所述LED承载平台17还包括被测LED安装夹具173和被测LED样品夹具174，所述被测LED夹具173用于固定被测LED，并将被测LED定位在所述被测LED安装工位171上；所述被测LED样品夹具174用于固定被测LED样品，并将被测LED样品定位在所述被测LED样品安装工位172上。
请参见图6至图8，先在LED样品夹具174上放置需要测试的样品（样品由相关部门提供），样品夹具174可以是固定的也可以是可拆卸的,样品可以是多种型号，也可以是多个标准样品；然后，在被测LED安装夹具173中放置矩阵的被测样品LED，把LED承载平台17推入外壳501内的样品测试位。先利用样品矩阵开关12测试单个或多个组合的样品的光电参数；样品测试完成后，根据样品提供者给出的样品标准参数，计算出系统修正系数，并存储。再利用被测LED矩阵开关13测试被测LED，测试方式可以以任意的方式点亮LED，可以是逐个点亮，也可以按固定行或者固定列点亮LED，然后根据各次测量结果，依照先前计算出的修正系数，校正出每一个LED的光色电的评估参数。
Claims (8)
1.一种LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，包括测试系统主体、被测LED矩阵开关、采光机构和LED承载平台，其中，
所述测试系统主体用于测试被测LED的光电参数；
所述被测LED矩阵开关受控于所述测试系统主体，用于按顺序点亮承载平台的被测LED安装工位上的被测LED，同时，采集被点亮的被测LED的电学性能供测试系统主体测试电学参数；
所述采光机构用于采集被测LED的光信号，并将光信号传输给测试系统主体进行光色参数的测试；
其特征在于：还包括受控于所述测试系统主体的样品测试矩阵开关，以及在所述LED承载平台上还设有用于放置被测LED样品的样品安装工位，移动所述LED承载平台，所述测试系统主体测试分别对被测LED样品的光电参数和被测LED的光电参数进行测试。
2.如权利要求1所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：还包括机台，所述测试系统主体设置在机台的一侧面上，所述采光机构设置在机台另一侧上方，所述被测LED矩阵开关的导电触点和样品测试矩阵开关的导电触点设置在采光机构的下方，被测LED安装工位和被测LED样品的样品安装工位设置在所述LED承载平台上，移动所述LED承载平台可以分别使被测LED样品的样品安装工位上的被测LED样品的连接脚与样品测试矩阵开关的导电触点电性连接；或者使被测LED的安装工位上的被测LED的连接脚与被测LED测试矩阵开关的导电触点电性连接。
3.如权利要求1或2所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：所述LED承载平台包括长方形底板，在所述底板的长边两侧分别设有第一侧板和第二侧板，在所述长方形底板的一端短边侧设有第三侧板，所述被测LED安装工位设置在靠近第三侧板的长方形底板上，而所述被测LED样品的样品安装工位设置在远离第三侧板的长方形底板上。
4.如权利要求3所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：在所述第一侧板和第二侧板的外侧面上分别设有滑条，用于与采光机构的外壳的相应部位滑动连接。
5.如权利要求1或2所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：所述测试系统主体包括测试控制单元、光参数测试模块和电参数测试模块，其中，
所述光参数测试模块用于接收采光机构传输过来的光信号，对LED的光色参数进行测试；
所述电参数测试模块用于对LED的电学参数；
所述测试控制单元用于控制光参数测试模块、电参数测试模块、样品测试矩阵开关、被测LED测试矩阵开关和采光机构和协调工作。
6.如权利要求1或2所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：所述LED承载平台还包括被测LED安装夹具和被测LED样品安装夹具，所述被测LED安装夹具用于固定被测LED，并将被测LED定位在所述被测LED安装工位上；所述被测LED样品安装夹具用于固定被测LED样品，并将被测LED样品定位在所述被测LED样品安装工位上。
7.如权利要求1或2所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：所述采光机构包括积分球，所述积分球通过与采光窗口耦合的光纤连接到光谱装置，所述光谱装置将光信号变成电信号后，输送到光参数测试模块进行色度测试。
8.如权利要求1或2所述的LED光电性能相对标准的阵列评估测试系统，其特征在于：所述采光机构包括光亮度探测器，所述光亮度探测器与积分球耦合，将光强信号转化为相应的数字信号，输送到光参数测试模块进行光亮度测试。
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| CP03 | Change of name, title or address |
Address after: 1st-3rd, 5th-8th Floor, Building A, Tea Tree, Tongfuyu Industrial Park, Inner Ring Road, Sanwei Community, Hangcheng Street, Baoan District, Shenzhen, Guangdong, China Patentee after: Shenzhen Biaopu Semiconductor Co.,Ltd. Address before: Floor 9-10, Zone 13, West Tea West Huafeng Industrial Zone, West Tea West, Bao'an District, Shenzhen, Guangdong 518000 Patentee before: SHENZHEN BIAOPU SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
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| CP03 | Change of name, title or address | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20140730 |
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| CX01 | Expiry of patent term |