KR101020489B1 - 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

엘이디 램프 검사장치 및 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101020489B1
KR101020489B1 KR1020100025490A KR20100025490A KR101020489B1 KR 101020489 B1 KR101020489 B1 KR 101020489B1 KR 1020100025490 A KR1020100025490 A KR 1020100025490A KR 20100025490 A KR20100025490 A KR 20100025490A KR 101020489 B1 KR101020489 B1 KR 101020489B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
led lamp
quality
power
characteristic value
optical characteristic
Prior art date
Application number
KR1020100025490A
Other languages
English (en)
Inventor
오장구
박종태
최태영
홍성호
Original Assignee
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지이노텍 주식회사
Priority to KR1020100025490A priority Critical patent/KR101020489B1/ko
Priority to US12/985,734 priority patent/US8705023B2/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101020489B1 publication Critical patent/KR101020489B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/44—Testing lamps
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J7/00—Measuring velocity of light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/12—Circuits for multi-testers, i.e. multimeters, e.g. for measuring voltage, current, or impedance at will
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R21/00—Arrangements for measuring electric power or power factor
    • G01R21/006—Measuring power factor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/003—Environmental or reliability tests

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

본 발명의 일 측면은, 광특성 측정수단을 이용하여 엘이디 램프의 광특성값을 측정하는 단계; 연산수단을 이용하여, 광특성값 중 엘이디 램프의 조도, 색도, 색좌표 및 색온도 값 중에서 선택된 1개 이상의 값을 기초로 하여, 광특성값을 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환하는 단계; 및 품질판단수단에서 양부판단을 위한 값이 설정범위 내에 있는지를 판단하여 설정범위 내에 있으면 엘이디 램프의 품질이 양호한 것으로 판단하는 단계;를 포함하는 엘이디 램프 검사방법을 제공한다.

Description

엘이디 램프 검사장치 및 검사방법{Apparatus and method for testing light emitting diode lamp}
본 발명은 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법에 관한 것으로, 특히 엘이디 램프를 생산한 후 특성검사를 진행할 때 품질불량 여부를 판단하기 위한 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
일반적으로, 엘이디(Light Emitting Diode, LED)는 반도체의 p-n 접합구조를 이용하여 주입된 소수 캐리어(전자)를 만들어내고, 이들 소수 캐리어의 재결합에 의해 발광이 이루어지도록 한 전자부품이다.
이러한 엘이디로 만들어진 엘이디 램프는 종래의 광원에 비해 소형이고 수명이 길뿐만 아니라, 전기에너지가 빛에너지로 직접 변환되기 때문에 전력이 적게 소모되며 효율이 우수한 고광도를 발한다.
또한, 엘이디는 고속응답의 특징을 지니고 있기 때문에 자동차 계기류의 표시소자, 광통신용 광원 등 각종 전자기기의 표시용 램프나 숫자표시장치 등에 많이 쓰이고 있으며, 가정용, 차량용, 선박용, 교통신호용, 각종 안내등 및 피난 유도등 등에 조명수단(lighting means)으로 다양하게 적용되고 있다.
본 발명의 일 측면은 여러 개의 엘이디 램프를 동시에 신속하면서도 신뢰성이 있게 검사할 수 있는 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일 측면은, 광특성 측정수단을 이용하여 엘이디 램프의 광특성값을 측정하는 단계; 연산수단을 이용하여, 상기 광특성값 중 상기 엘이디 램프의 조도, 색도, 색좌표 및 색온도 값 중에서 선택된 1개 이상의 값을 기초로 하여, 상기 광특성값을 상기 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환하는 단계; 및 품질판단수단에서 상기 양부판단을 위한 값이 설정범위 내에 있는지를 판단하여 상기 설정범위 내에 있으면 상기 엘이디 램프의 품질이 양호한 것으로 판단하고 상기 설정범위를 벗어나면 상기 엘이디 램프의 품질이 불량한 것으로 판단하는 단계;를 포함하는 엘이디 램프 검사방법을 제공한다.
삭제
삭제
본 발명의 일 실시예에서, 상기 양부판단을 위한 값은 엘이디 램프의 광속, 광의 색온도, 광효율 및 색좌표 중에서 선택된 1개 이상의 값인 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사방법을 제공한다.
본 발명의 다른 실시예에서, 전력측정수단을 이용하여 상기 엘이디 램프의 전력특성값을 측정하는 단계; 및 연산수단을 이용하여, 상기 전력특성값 중 상기 엘이디 램프의 출력전압, 역률, 소비전력, 출력전압의 전고조파 왜형율 및 입력전류 중에서 선택된 1개 이상의 값을 기초로 하여, 상기 전력 특성값을 상기 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환하는 단계;를 더 포함하는 엘이디 램프 검사방법을 제공한다.

본 발명의 다른 측면은, 조도계 또는 휘도계를 포함하고, 엘이디 램프의 광특성치를 측정하는 광특성 측정수단; 상기 광특성 측정수단에 의해 얻어진 광특성치를 엘이디 램프의 품질의 양부를 직접 판단 가능한 광특성치로 변환하는 연산수단; 및 상기 연산수단에 의해 변환된 후의 광특성치에 기초하여 상기 엘이디 램프의 품질의 양부를 판단하는 품질판단수단;을 구비한 엘이디 램프 검사장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 엘이디 램프의 전력 특성치를 측정하는 전력특성 측정수단을 더 포함하고, 상기 연산수단은 상기 전력특성 측정수단에 의해 얻어진 전력 특성치를 엘이디 램프의 품질 양부를 직접 판단 가능한 전력 특성치로 변환하고, 상기 품질판단수단은 상기 연산수단에 의해 변환된 후의 전력 특성치에 기초하여 상기 엘이디 램프의 품질의 양부를 판단하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치를 제공한다.
본 발명에 따르면, 여러 개의 엘이디 램프를 동시에 신속하면서도 신뢰성이 있게 검사할 수 있는 장치 및 방법을 제공하게 됨으로써, 1개의 램프만을 검사할 수 있는 적분구가 전수검사를 어렵게 하고 공정시간이 길어지게 하는 문제점을 해결할 수 있다.
도 1은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치의 정면도이다.
도 2는 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 초기위치에 있는 상태의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 측정위치에 있는 상태의 단면도이다.
도 4는 도 1의 엘이디 램프 검사장치의 내부 구성도이다.
도 5는 본 발명의 엘이디 램프 검사방법의 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치에 의하여 수집되는 광특성값 및 전력특성값의 파라미터 입력의 예를 나타낸 화면이다.
도 7은 본 발명의 검사장치에 있어서의 조도계를 이용하여 측정한 색좌표의 분포도이다.
도 8은 본 발명의 검사장치에 있어서의 조도계와 파워미터를 이용하여 측정한 측정결과 데이터를 나타낸 화면이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지의 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시형태로만 한정되는 것은 아니다. 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.
도 1은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치의 정면도이다. 도 1을 참조하면, 엘이디(Light Emitting Diode, LED) 램프(50) 검사장치는 안착부(100), 상하이동부(300), 전원부(500), 계측부(600), 디스플레이부(700)를 포함한다.
상기 검사장치는 제1 몸체부(200)의 상면에 엘이디 램프를 검사할 수 있도록 안착부(100)가 배치되어 있다. 그리고, 안착부(100)에는 엘이디 램프(50)가 삽입될 수 있는 홈이 형성되어 있다.
그리고, 제1 몸체부(200)의 상면에는 안착부(100) 양측에 판재형태의 수직지지부재(400a, 400b)가 배치되어 있고, 수직지지부재(400a, 400b) 상면에는 판재형태의 수평지지부재(400c)가 배치되어 있는데, 수평지지부재(400c)에는 상하이동부(300)가 관통되어 있다.
사용자는 안착부(100)의 홈에 엘이디를 삽입하고, PW(파워) 스위치를 눌러 상기 검사장치에 전원이 인가된 상태에서 상기 검사장치의 제어부(500)에 구비된 DN(하강) 스위치를 눌러 상하이동부(300)를 설정된 초기위치에서 측정위치로 하강하여 정지하도록 한 후에 계측부(600)를 통하여 엘이디 램프(50)의 품질을 측정할 수 있다. 품질이 측정된 엘이디 램프(50)는 제어부(500) 및 계측부(600)에 연결된 디스플레이부(700)에 측정된 품질의 양부(양호 또는 불량)가 디스플레이된다. 이 때, 계측부(600)는 제1 몸체부(200)의 내측 저면에 설치되어 있는 조도계 등의 광특성을 측정할 수 있는 기기(미도시) 및 상하이동부(300)와 연결되어 있는 파워미터와 같은 전력특성을 측정할 수 있는 기기(미도시)로부터 측정값을 입력받는다.
그리고, 엘이디 램프(50)를 검사한 후에는 제어부(500)에 구비된 UP(상승) 스위치를 눌러 상하이동부(300)가 측정위치에서 설정된 초기위치로 상승하여 정지하도록 한다. 상하이동부(300)는 내부에 구비된 실린더에 공급된 유압 또는 공압에 의해 상승 및 하강한다.
한편, 엘이디 램프(50)를 검사할 때, 다수 개의 엘이디 램프(50)의 검사가 가능하며, 본 발명의 실시예에서는 4개의 엘이디 램프(50)의 검사가 동시에 가능하도록 하였다. 또한, 4개의 엘이디 램프(50)를 동시에 검사하지 않더라도 1개 내지 3개의 엘이디 램프(50)의 검사가 가능하며, 특정한 엘이디 램프(50)의 수에 한정되지 않고 다양한 개수의 엘이디 램프(50)의 검사가 가능하도록 실시예를 변형할 수 있다.
도 2는 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 초기위치에 있는 상태의 단면도이고, 도 3은 본 발명의 엘이디 램프 검사장치가 측정위치에 있는 상태의 단면도이다.
상기 검사장치가 초기위치에 있는 경우에는 도 2에 도시된 바와 같이 상하이동부의 감지센서(360)의 하단과 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 이격되어 있고, 측정위치에 있는 경우에는 도 3에 도시된 바와 같이 상하이동부의 감지센서(360)의 하단과 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 접촉하게 된다.
감지센서(360)의 하단과 엘이디 램프(50)의 소켓부(51) 상단이 접촉할 때 감지센서(360)는 엘이디 램프(50) 감지신호를 도 1에 도시된 계측부(600)로 전달하고, 계측부(600)에서는 엘이디 램프(50)의 품질을 종합적으로 측정하여 디스플레이부(700)에 검사결과를 디스플레이한다. 즉, 감지센서(360)를 통하여 조절된 높이에서 상하이동부(300)가 소켓부(51)에 접촉하여 램프에 전원을 인가하고, 그에 의해 하방으로 조사되는 빛은 제1 몸체부(200)의 내측 저면에 설치되어 있는 조도계 등을 통하여 그 특성값이 측정되며, 동시에 상하이동부(300)와 연결되어 있는 파워미터 에 의하여 램프의 전력특성값이 측정된다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 소켓부(51), 램프부(52), 방열부(53)로 구성된 엘이디 램프(50)는 램프부(52)가 안착부(100)에 삽입되어 있는데, 사용자는 엘이디 램프(50) 검사시 안착부(100)의 홈에 엘이디 램프(50)를 삽입한다.
그리고, 제1 몸체부(200)의 상면에는 안착부(100) 양측에 판재형태의 수직지지부재(400a, 400b)가 배치되어 있고, 수직지지부재(400a, 400b)의 상면에는 판재형태의 수평지지부재(400c)가 배치되어 있다.
또한, 수평지지부재(400c)에는 수평지지부재(400c)에 형성된 홀을 관통하여 상승 및 하강하는 실린더(320)와, 실린더(320)의 양측에 실린더(320)의 길이방향과 평행하게 배치된 가이드 봉(310a, 310c)이 배치되어 있다. 구체적으로는, 실린더 (320)의 피스톤(320a)이 수평지지부재(400c)에 형성된 홀을 통하여 수직왕복운동을 하고, 가이드 봉(310a, 310b)은 수평지지부재(400c)를 관통하여 구비된 베어링 (bearing, 310e, 310f)을 통하여 실린더(320)의 피스톤(320a)이 수직왕복운동을 할 때 슬라이딩(sliding) 동작을 원활하게 할 수 있다.
또한, 실린더(320)와 가이드 봉(310a, 310c)의 하면에는 판재와 같은 수평부재(310d)가 부착되어 있다. 수평부재(310d)의 하면에는 제2 몸체부(330)가 부착되어 있다. 여기서, 수평부재(310d)를 부착하지 않고 실린더(320)와 가이드 봉(310a, 310c)의 하면에 수평길이를 늘여서 제2 몸체부(330)를 부착하여도 무방하다(도 2 및 도 3에는 수평부재(310d)가 부착된 형태를 도시함). 실린더(320)와 가이드 봉 (310a, 310c) 하면에 수평부재(310d)를 부착하는 이유는, 실린더(320)와 가이드 봉 (310a, 310c)을 수평부재(310d)를 통해 고정시킬 수 있기 때문에 제2 몸체부(330)의 크기를 불필요하게 크게 할 필요가 없기 때문이다.
또한, 제2 몸체부(330)의 하부에는 감지센서(360)가 삽입되어 있는데, 감지센서(360)의 하부는 스프링과 같은 탄성부재(350)에 의해 둘러싸여 있다. 감지센서(360)의 하부가 탄성부재(350)에 의해 둘러싸여 있기 때문에, 감지센서(360)를 보호하는 역할을 하며, 상하이동부 상승시에 탄력을 얻을 수 있게 된다.
탄성부재(350)의 양측에는 탄성부재(350)의 사행을 방지하는 가이드부(340a, 340b)가 형성되어 있다. 가이드부(340a, 340b)에 의해 탄성부재(350)는 가이드부(340a, 340b) 내측에서만 위 아래로 수직왕복운동을 할 수 있게 된다.
도 4는 도 1의 엘이디 램프 검사장치의 내부 구성도이다. 도 4를 참조하면, 엘이디 램프 검사장치는 광특성 측정수단(610), 전력특성 측정수단(620), 연산수단(630) 및 품질판단수단(640)을 포함한다.
광특성 측정수단(610)은 엘이디 램프의 광특성값을 측정한다. 전력특성 측정수단(620)으로는 파워미터(power meter)를 예로 들 수 있다. 광특성값은 엘이디 램프의 조도, 색도, 색좌표 및 색온도 중에서 선택된 1개 이상의 값을 측정한다. 광특성 측정수단(610)으로는 조도계(색도조도계 또는 색온도계라고도 함)를 예로 들 수 있으며, 휘도계와 같은 다른 종류의 광특성 측정수단을 이용하는 것도 가능하다. 본 발명에서는 조도계로 현재 시중에 시판되고 있는 CL-200을 사용하였는데, CL-200은 조도, 색도, 색좌표 및 색온도를 한꺼번에 간편하게 측정할 수 있는 조도계이다. 가장 이상적인 조도계는 인간의 시감영역에 가장 근접한 조도계인데, CL-200은 인간의 시감영역에 가장 일치시킨 조도계이다.
조도계가 측정할 수 있는 광특성값은 일반적으로 알려진 바와 같이 Ex[lx], x, y ,u', v', X, Y, Z, TCP[K]와 같은 종류가 있다. 여기서, Ex[lx]는 조도를 나타내는 기호이며, x, y, u', v'은 색도를 나타내는 기호이며, X, Y, Z는 색좌표를 나타내는 기호이며, TCP[K]는 색온도를 나타내는 기호이다.
전력특성 측정수단(620)은 엘이디 램프의 전력특성값을 측정한다. 전력특성 측정수단(620)으로는 파워미터(power meter)를 예로 들 수 있다. 전력특성값은 엘이디 램프의 출력전압, 역률, 소비전력, 출력전압의 전고조파 왜형율(Total Harmonic Distortion, THD) 또는 입력전류 중에서 선택된 1개 이상의 값을 측정한다.
연산수단(630)은 광특성값 및 전력특성값을 기초로 하여 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값을 얻는 설정수식에 의해 광특성값 및 전력특성값을 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환한다. 설정수식(변환수식)은 광속, 색온도, 광효율 색좌표 X, 색좌표 Y를 구하는 수식을 예로 들 수 있는데, 예를 들면 이들에 관한 수식은 수학식 1 내지 수학식 5와 같다.
[수학식 1]
광속 = EX[lx]×1
[수학식 2]
색온도 = Tcp+2
[수학식 3]
광효율 = 광속/소비전력×상관계수
[수학식 4]
색좌표 X = X + 1
[수학식 5]
색좌표 Y = Y + 1
품질판단수단(640)은 양부판단을 위한 값이 설정범위 내에 있는지를 판단하여 설정범위 내에 있으면 엘이디 램프의 품질이 양호한 것으로 판단하고 설정범위를 벗어나면 엘이디 램프의 품질이 불량한 것으로 판단한다. 양부판단을 위한 값은 엘이디 램프의 광속, 광의 색온도, 광효율, 색좌표 X 및 색좌표 Y 중에서 1개 이상이 될 수 있다. 그리고, 품질판단수단(640)은 양부판단을 위한 값이 모두 설정범위 내에 있는 경우에 엘이디 램프의 품질이 양호한 것으로 판단한다. 이것은 양부판단을 위한 값 중에서 어느 하나라도 설정범위 내에 있지 않으면 해당 광특성 또는 전력특성을 만족시키지 않기 때문에 불량으로 판단하도록 하는 것이다.
이때, 사용자의 선택에 따라 엘이디 램프 품질의 양부판단을 위해 광속, 광의 색온도, 광효율, 색좌표 이외에 광특성 측정수단(610) 또는 전력특성 측정수단(620)에 의하여 측정된 값을 추가로 더 사용하도록 품질판단수단(640)을 설정할 수 있다.
도 5는 본 발명의 엘이디 램프 검사방법의 흐름도이다. 도 5를 도 4와 함께 살펴보기로 한다.
먼저, 광특성 측정수단(610)을 이용하여 엘이디 램프의 광특성값을 측정하고(S100), 전력특성 측정수단(620)을 이용하여 엘이디 램프의 전력특성값을 측정한다(S200).
S100 단계 및 S200 단계 이후, 연산수단(630)을 이용하여 광특성값 및 전력특성값을 기초로 하여 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값을 얻는 설정수식에 의해 광특성값 및 전력특성값을 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환한다(S300). 설정수식은 반복된 측정으로 수집한 검사데이터를 기초로 하여 사용자에 의해 엘이디 램프의 양부판단을 위한 기준으로 설정된 수식이다. 즉, 설정수식은 엘이디 램프의 종류별로 달라질 수 있는 것이다.
예를 들면, 종래에는 램프검사를 위하여 적분구 등에 의하여 직접 측정된 광속, 색온도, 광효율, 또는 색좌표 값 등을 이용하였다. 그런데, 조도계 등을 통하여 측정된 광특성값들과 실제 적분구에 의하여 측정된 값들을 수 차례의 반복된 측정 데이터를 이용하여 비교하여 보면 일정한 상관관계를 얻을 수 있고, 이러한 상관관계를 기초로 하여 조도계와 같은 본 발명에 있어서의 광특성 측정수단(610)만을 이용하여 측정된 값을 적분구에 의하여 측정되는 값들로 변환함으로써 램프의 양부판단에 용이하게 사용할 수 있게 되는 것이다.
S300 단계 이후, 품질판단수단(640)에서 양부판단을 위한 값이 설정범위 내에 있는지를 판단하여 설정범위 내에 있으면 엘이디 램프의 품질이 양호한 것으로 판단하고 설정범위를 벗어나면 엘이디 램프의 품질이 불량한 것으로 판단한다 (S400).
본 발명에서는 상기 S100 내지 S400 단계와 같은 엘이디 램프 검사방법을 통하여, 종래의 적분구를 사용하여 엘이디 램프를 검사할 때의 과다한 검사시간, 전수검사의 불가능, 적분구를 사용함으로 인한 비용과다와 같은 문제점을 해결할 수 있게 된다.
도 6은 본 발명의 광특성값 및 전력특성값의 파라미터 입력의 예를 나타낸 화면이다. 도 6을 참조하면, CL-200의 조도계와 파워미터(power meter)를 각각 광특성 측정수단 및 전력특성 측정수단으로 사용하였다.
좌측 화면에서는 Ex[lx], x, y ,u', v', X, Y, Z, TCP[℃](이하, 각 기호의 의미는 도 4에서 정의한 바와 같음)의 값을 설정할 수 있고, 우측 화면에서는 엘이디 램프의 출력전압, 역률, 소비전력, 출력전압의 전고조파 왜형율(Total Harmonic Distortion, THD), 입력전류의 값을 설정할 수 있다.
좌측 아래 화면에서는 광속, 색온도, 광효율, 색좌표 X, 색좌표 Y를 구하는 변환수식을 설정할 수 있고, 우측 아래 화면에서는 광속, 색온도, 광효율, 색좌표 X, 색좌표 Y를 설정할 수 있다. 특히, 엘이디 램프 검사과정에서는 반드시 광속을 측정해야 하는데, 본 발명에서는 조도를 측정하여 설정수식을 통하여 간단히 광속으로 변환할 수 있게 한 큰 특징이 있다. 즉, 종래에는 적분구를 사용하여야만 광속측정이 가능하였으나, 본 발명을 통하여 적분구를 사용하지 않고도 간단히 광속측정이 가능하게 되었다.
도 7은 본 발명의 조도계를 이용하여 측정한 색좌표의 분포도이다. 도 7을 참조하면, 위쪽 화면에서는 측정결과, 광속, 색온도, 광효율, 입력전류, Ex[lx], x, y ,u', v', X, Y, Z와 같은 데이터를 나타내며, 아래쪽 화면에서는 조도계에서 측정한 색좌표 분포를 그래프로 확인할 수 있다. 즉, 이들 데이터들은 조도계를 이용하여 측정한 값들로 이후에 수학식 1 내지 5와 같은 설정수식을 통해 변환된다.
도 8은 본 발명의 조도계와 파워미터를 이용하여 측정한 측정결과 데이터를 나타낸 화면이다. 도 8을 참조하면, 순번에 따라 광속, 색온도, 광효율, 입력전류, Ex[lx], x, y ,u', v', X, Y, Z, 전압, 전류, 역률, 소비전력, V THD를 나타내고 있는데, 예를 들어 해당 엘이디 램프의 순번이 41인 경우에는 품질측정에 36번째로 합격(pass)하였고, 그 이전에는 5개의 엘이디 램프가 불합격(fail)하였음을 알 수 있다.
또한, 해당 엘이디 램프의 순번이 52인 경우에는 품질측정에 44번째로 합격하였고, 그 이전에는 8개의 엘이디 램프가 불합격하였음을 알 수 있다.
본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되지 아니한다. 첨부된 청구범위에 의해 권리범위를 한정하고자 하며, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.
50 : 엘이디 램프 51 : 소켓부
52 : 램프부 53 : 방열부
100 : 안착부 200 : 제1 몸체부
300 : 상하이동부 310a, 310b : 가이드 봉
310d : 수평부재 310e, 310f : 베어링
320 : 실린더 321a : 피스톤
330 : 제2 몸체부 340a, 340b : 가이드부
350 : 탄성부재 360 : 감지센서
400a, 400b : 수직지지부재 400c : 수평지지부재
500 : 제어부 600 : 계측부
700 : 디스플레이부

Claims (7)

  1. 광특성 측정수단을 이용하여 엘이디 램프의 광특성값을 측정하는 단계;
    연산수단을 이용하여, 상기 광특성값 중 상기 엘이디 램프의 조도, 색도, 색좌표 및 색온도 값 중에서 선택된 1개 이상의 값을 기초로 하여, 상기 광특성값을 상기 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환하는 단계; 및
    품질판단수단에서 상기 양부판단을 위한 값이 설정범위 내에 있는지를 판단하여 상기 설정범위 내에 있으면 상기 엘이디 램프의 품질이 양호한 것으로 판단하고 상기 설정범위를 벗어나면 상기 엘이디 램프의 품질이 불량한 것으로 판단하는 단계;
    를 포함하는 엘이디 램프 검사방법.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 양부판단을 위한 값은 엘이디 램프의 광속, 광의 색온도, 광효율 및 색좌표 중에서 선택된 1개 이상의 값인 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사방법.
  5. 제1항에 있어서,
    전력측정수단을 이용하여 상기 엘이디 램프의 전력특성값을 측정하는 단계; 및
    연산수단을 이용하여, 상기 전력특성값 중 상기 엘이디 램프의 출력전압, 역률, 소비전력, 출력전압의 전고조파 왜형율 및 입력전류 중에서 선택된 1개 이상의 값을 기초로 하여, 상기 전력 특성값을 상기 엘이디 램프의 양부판단을 위한 값으로 변환하는 단계;
    를 더 포함하는 엘이디 램프 검사방법.
  6. 조도계 또는 휘도계를 포함하고, 엘이디 램프의 광특성치를 측정하는 광특성 측정수단;
    상기 광특성 측정수단에 의해 얻어진 광특성치를 엘이디 램프의 품질의 양부를 직접 판단 가능한 광특성치로 변환하는 연산수단; 및
    상기 연산수단에 의해 변환된 후의 광특성치에 기초하여 상기 엘이디 램프의 품질의 양부를 판단하는 품질판단수단;
    을 구비한 엘이디 램프 검사장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 엘이디 램프의 전력 특성치를 측정하는 전력특성 측정수단을 더 포함하고, 상기 연산수단은 상기 전력특성 측정수단에 의해 얻어진 전력 특성치를 엘이디 램프의 품질 양부를 직접 판단 가능한 전력 특성치로 변환하고, 상기 품질판단수단은 상기 연산수단에 의해 변환된 후의 전력 특성치에 기초하여 상기 엘이디 램프의 품질의 양부를 판단하는 것을 특징으로 하는 엘이디 램프 검사장치.
KR1020100025490A 2010-03-22 2010-03-22 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법 KR101020489B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100025490A KR101020489B1 (ko) 2010-03-22 2010-03-22 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법
US12/985,734 US8705023B2 (en) 2010-03-22 2011-01-06 Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100025490A KR101020489B1 (ko) 2010-03-22 2010-03-22 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101020489B1 true KR101020489B1 (ko) 2011-03-09

Family

ID=43938583

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100025490A KR101020489B1 (ko) 2010-03-22 2010-03-22 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101020489B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101258163B1 (ko) * 2011-08-29 2013-04-25 (주)에이피텍 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법
KR101376537B1 (ko) 2012-01-05 2014-03-19 광전자정밀주식회사 인라인 타입의 엘이디 검사시스템
KR20210122967A (ko) * 2020-04-02 2021-10-13 주식회사 도원조명 조명장치 검사 시스템

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10253697A (ja) 1997-03-07 1998-09-25 Toshiba Corp ランプ点灯試験装置
JP3041201B2 (ja) 1994-08-19 2000-05-15 株式会社クボタ ランプの発光特性検査装置
KR100281480B1 (ko) 1998-04-18 2001-02-01 장영환 램프 검사시스템 및 그 검사방법
KR100931322B1 (ko) 2009-02-20 2009-12-11 (주)큐엠씨 엘이디 칩 테스트장치 및 이를 이용한 테스트방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3041201B2 (ja) 1994-08-19 2000-05-15 株式会社クボタ ランプの発光特性検査装置
JPH10253697A (ja) 1997-03-07 1998-09-25 Toshiba Corp ランプ点灯試験装置
KR100281480B1 (ko) 1998-04-18 2001-02-01 장영환 램프 검사시스템 및 그 검사방법
KR100931322B1 (ko) 2009-02-20 2009-12-11 (주)큐엠씨 엘이디 칩 테스트장치 및 이를 이용한 테스트방법

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101258163B1 (ko) * 2011-08-29 2013-04-25 (주)에이피텍 엘이디 테스트 시스템 및 엘이디 테스트 방법
KR101376537B1 (ko) 2012-01-05 2014-03-19 광전자정밀주식회사 인라인 타입의 엘이디 검사시스템
KR20210122967A (ko) * 2020-04-02 2021-10-13 주식회사 도원조명 조명장치 검사 시스템
KR102505737B1 (ko) * 2020-04-02 2023-04-04 주식회사 도원조명 조명장치 검사 시스템

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8705023B2 (en) Testing apparatus and method for testing light emitting diode lamp
KR101039652B1 (ko) 엘이디 램프 검사장치의 동작방법
CN201212842Y (zh) 一种大功率led结温测量装置
CN103267588B (zh) 基于led相对光谱随温度变化的结温测试方法
CN101699235B (zh) 半导体照明灯具结温分析测试系统及其测试方法
CN102829860B (zh) 灯具空间色度与光强分布的快速测量装置与方法
CN103364032A (zh) 半导体发光器件或模组在线多功能测试系统及方法
CN104459507A (zh) 一种检测led芯片光学性能的多路检测系统
CN203225042U (zh) 一种用于高校光电专业教学应用的led特性测试装置
KR101020489B1 (ko) 엘이디 램프 검사장치 및 검사방법
CN101699240B (zh) 半导体照明产品散热性能检测装置及其检测方法
CN104459568A (zh) 一种led芯片检测分析系统
CN204228906U (zh) 一种检测led芯片光学性能的多路检测系统
CN103018256B (zh) 一种led缺陷检测系统
KR101063242B1 (ko) 엘이디 램프 검사장치
Quan et al. Research on lumen depreciation related to LED packages by in-situ measurement method
KR101449603B1 (ko) 조명 검사 장치
CN201600237U (zh) 一种光源试验装置
CN204228934U (zh) 一种led芯片检测分析系统
CN204228907U (zh) 一种led芯片的多路检测系统
CN201429463Y (zh) 一种led灯具流明效率测试装置
CN105258924A (zh) Led灯综合测试仪
CN109490750A (zh) 一种检测led芯片的仪器和方法
CN104459506A (zh) 一种led芯片的多路检测系统
CN104729742A (zh) 一种非接触式led整灯结温测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140206

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150205

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160205

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170207

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180205

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee