CN203504565U - 一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，包括底板，还包括回形支架和门框形支架，回形支架顶部设置有器件定位夹具，回形支架套设在门框形支架上，回形支架由一固定在底板上的往复驱动装置驱动进行往复运动，同时带动器件定位夹具往复运动，耦合光纤接头和LD器件测试模块分别位于器件定位夹具两侧，可升降的APD器件测试模块设置在器件定位夹具下方，耦合光纤接头和LD器件测试模块可通过旋转推杆同时接近或者远离器件定位夹具。本实用新型避免手工操作疏失，确保器件测试的准确性及一致性，全部指标自动测试。可同时控制几个测试装置，有效提高测试效率，避免测试等待时间的浪费，有效地降低了测试成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及光检测装置领域，具体涉及一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，适用于单纤双向器件性能的检测。
背景技术
GPON单纤双向器件在光通讯中应用最广泛、而且用量最大的光学器件之一。该器件主要用一个组件代替发射和接收两个组件，实现一根光纤双向传输，用于用户接入网，以低成本完成图像与数据、语音等通信。因此，器件性能的好坏直接影响通信信息的质量。
现有的GPON单纤双向器件性能检测大多采用人为操作的方法，即需要测试人员用手动的方式对单纤双向器件进行装治具后，分别对每个器件依次进行激光器（LD）发射端LIV曲线测试及探测器（APD）接收端性能测试。通常APD接收端性能测试包括响应度测试、灵敏度测试、击穿电压Vbr测试、误码率测试等相关性能指标测试。一个GPON单纤双向器件的检测通常需经过两个测试工位的多项参数的检测，测试过程较为繁琐，测试等待时间较长，这不仅大大降低了生产效率，而且多次装治具过程也会对器件造成一定程度的损伤，易造成器件的失效。同时，测试人员将根据测试数据对测试结果进行主观判断，这为测试结果引入了较多人为因素影响，一定程度上影响了测试的可靠性。如此由测试人员的人为操作所达到的测试会产生弊端，例如：治具的插拔不方便造成测试操作不方便，手动操作作业时间长，且测试人员的疲劳度会影响发生错误测试动作，甚至人为手动操作下会发生误判，而提供错误的测试结果。
实用新型内容
本实用新型的目的是在于针对现有技术存在的上述问题，提供一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，解决了人工检测效率低，测试结果可靠性差的问题，大大提高了测试效率，降低测试成本。
本实用新型的上述目的通过以下技术方案实现：
一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，包括底板，还包括回形支架和门框形支架，回形支架顶部设置有器件定位夹具，回形支架套设在门框形支架上，回形支架由一固定在底板上的往复驱动装置驱动进行往复运动，门框形支架上设置有第二滑块，一步进电机通过支架固定在底板上，一旋转推杆的中部套设在步进电机的旋转轴上，旋转推杆一端通过光纤推杆带动耦合光纤接头运动，另一端与第二滑块一端连接，第二滑块另一端设置有LD器件测试模块，第二滑块上开设有斜槽，底板上还设置有ADP测试支架，一升降滚轮设置在ADP测试支架上并可沿ADP测试支架升降运动，升降滚轮上固定有APD器件测试模块，耦合光纤接头和LD器件测试模块分别位于器件定位夹具两侧，APD器件测试模块设置在器件定位夹具下方，升降滚轮放置于斜槽上。
如上所述的往复驱动装置包括设置在底板上的位移台底板滑轨，位移台底板滑轨一端设置有伺服电机，伺服电机与丝杆轴接，丝杆上套设有第一滑块，第一滑块与回形支架的底部连接。
本实用新型与现有技术相比，具有以下优点：
1、结构简单，使用方便；
2、避免手工操作疏失，实现单次装治具完成器件全部指标自动测试。一个测试人员可同时控制几个测试装置，有效提高测试效率，避免测试等待时间的浪费，有效地降低了测试成本。
3、确保器件测试的准确性及一致性，避免人工操作带来的测试误差。
附图说明
图1 为本实用新型的结构示意图；
图2 为单纤双向器件示意图；
图3 为器件定位夹具使用状态的结构示意图；
图4-1本实用新型的第一立体结构示意图；
图4-2本实用新型的第二立体结构示意图。
图中：1-底板，2-位移台底板滑轨，3-伺服电机支架，4-伺服电机，5-丝杆，6-第一滑块，7-器件夹具回型支架，8-门框形支架，9-第二滑块，10-滑轨，11-LD测试支架，12-LD器件测试模块（LD是激光二极管，由光功率及背光电流测试板进行测试。），13-第一测试探针，14-ADP测试支架，15-APD器件测试模块（APD是雪崩光电二极管，由可编程电源测击穿电压，误码仪测灵敏度及饱和光功率。），16-第二测试探针，17-升降滚轮，18-光纤支架，19-耦合光纤接头，20-步进电机，21-旋转推杆，22-光纤推杆，23-滑块推杆，24-步进电机支架，25-器件定位夹具，26-待测器件，27—第三滑块；28-测试光纤运动部分；29-测试夹具部分；30-激光器运动测试部分；31-APD运动测试部分；32-伺服运动部分；33-激光器发射端；34-APD接收端；35-光纤连接头；36-光纤；37-BOSA器件。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的技术方案作进一步详细描述。
实施例1
如图1~3、4-1、4-2所示， 一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，包括底板1，还包括回形支架7和门框形支架8，回形支架7顶部设置有器件定位夹具25，回形支架7套设在门框形支架8上，回形支架7由一固定在底板1上的往复驱动装置驱动进行往复运动，门框形支架8上设置有第二滑块9，一步进电机20通过支架固定在底板1上，一旋转推杆21的中部套设在步进电机20的旋转轴上，旋转推杆21一端通过光纤推杆22带动耦合光纤接头19运动，另一端与第二滑块9一端连接，第二滑块9另一端设置有LD器件测试模块12，第二滑块9上开设有斜槽，底板1上还设置有ADP测试支架14，一升降滚轮17设置在ADP测试支架14上并可沿ADP测试支架14升降运动，升降滚轮17上固定有APD器件测试模块15，耦合光纤接头19和LD器件测试模块12分别位于器件定位夹具25两侧，APD器件测试模块15设置在器件定位夹具25下方，升降滚轮17放置于斜槽上。
往复驱动装置包括设置在底板1上的位移台底板滑轨2，位移台底板滑轨2一端设置有伺服电机4，伺服电机4与丝杆5轴接，丝杆5上套设有第一滑块6，第一滑块6与回形支架7的底部连接。
待测器件26由激光器发射端，APD接收端，光纤连接头组成；激光器发射端发生波长为λ1的光信号，通过光纤传输到光纤连接头，光纤连接头接收波长为λ2光信号通过光纤由APD接收端接收。
待测器件26的光纤连接头，插入器件定位夹具25一端的定位槽中，待测器件26激光器发射端插入器件定位夹具的另一端的定位槽中，待测器件26的APD接收端插入器件定位夹具25的底板的定位孔中，通过三个方向的定位，待测器件26固定在器件定位夹具25上，1个器件定位夹具25可承载批量单纤双向器件。
伺服电机4固定在伺服电机支架3上，伺服电机支架3固定在位移台底板滑轨2一端，第一滑块6通过螺纹套设在丝杆5上，伺服电机4与丝杆5轴接，第一滑块6可在伺服电机4的推动下沿丝杆5方向移动。从而可以推动器件定位夹具25运动。
第一测试探针13、LD器件测试模块12，LD测试支架11构成器件LD测试端，第一测试探针13与LD器件测试模块12连接，LD器件测试模块12为待测激光器提供驱动信号。第一测试探针13与LD器件测试模块12均固定在LD测试支架11上。
第二测试探针16，APD器件测试模块15，ADP测试支架14构成器件APD端测试端，第二测试探针16与APD器件测试模块15连接，APD器件测试模块15实现接收信号的信号转换与处理。APD器件测试模块15固定在第三滑块27上，第三滑块27可通过纵向设置在ADP测试支架14上的轨道沿ADP测试支架14上下运动。
步进电机20固定在步进电机支架24上，步进电机20的旋转轴与旋转推杆21相连，旋转推杆21一端连接光纤推杆22，另一端连接滑动推杆23。滑动推杆23另一端连接第二滑块9，第二滑块9可在设置在门框形支架8上的滑轨10上沿往复运动。
第二滑块9为长条形，第二滑块9上开设有斜槽，升降滚轮17放置于斜槽上，随随着第二滑块9的横向往复运动，是的升降滚轮17位于斜槽上的不同的高度，从而实现调节APD器件测试模块15的上升或下降，由于被测激光模块的APD端在纵向位置与第二测试探针16对应，进而实现被测激光模块的APD端与第二测试探针16连接和断开。
光纤支架18固定耦合光纤接头19，光纤推杆22一端与光纤支架18相连，另一端与旋转推杆21相连接，通过步进电机20的运动，可推动耦合光纤接头19水平运动，实现耦合光纤接头19插入、拔出光纤连接头的测试过程。
具体装置工作步骤：
测试人员将批量器件一次装上器件定位夹具25，再将器件定位夹具25安装到器件夹具回型支架7上。
器件性能测试：步进电机20运动推动旋转推杆21按一定角度产生旋转，旋转带动与之连接的两端推杆前后运动，光纤推杆22向靠近夹具方运动，带动耦合光纤接头19向靠近器件定位夹具25方向运动一定距离，使耦合光纤接头19与待测器件的光纤连接头相接触。滑块推杆23则向远离器件定位夹具25方向运动一定距离，带动第二滑块9及与之相连接的发射端测试端同步产生一定运动，使接收端测试座向靠近器件定位夹具25方向运动一段距离。第一测试探针13与待测器件26的LD管脚相连接。 同时，由于第二滑块9运动使升降滚轮17向上运动，第二测试探针16与待测器件26的APD管脚相连接。这样实现与各个测试引脚及光纤接头的接触。先通过LD器件测试模块12对待测器件26的LD端进行供电，通过耦合光纤接头19输出的光信号，进入外接的光功率计，完成光功率的测试，通过对光功率计值进行读取、存储及分析。再通过计算机对误码仪进行控制，经误码仪的光口对待测器件26的光纤连接头一端输入一定光信号，通过待测器件的APD端进行数据的采集，采集后的数据经过误码仪电口后进入误码仪，再进行处理分析与存储。
当单个器件测试结束后，再次控制步进电机20运动，带动旋转推杆21产生预定角度的旋转，旋转带动与之连接的两端推杆再次前后运动，光纤推杆22向远离器件定位夹具25方向运动，带动耦合光纤接头19向远离器件定位夹具25方向运动一定距离，使耦合光纤接头19与待测器件26的光纤连接头相分离。滑动推杆23则向靠近器件定位夹具25方向运动一定距离，带动第二滑块9及与之相连接的发射端测试端同步产生一定运动，使接收端测试座向远离器件定位夹具25方向运动一段距离。与待测器件26的LD管脚相分离。 同时，由于第二滑块9的运动，使得到升降滚轮17向下运动到滑槽的底部，第二测试探针16与待测器件26的APD管脚相分离。这样实现与各个测试引脚及光纤接头的分离。此时，伺服电机4在计算机的控制下产生沿丝杆5一定距离的运动，该运动距离正好为器件定位夹具25上两个器件中心的间距。这样，伺服电机4的推动，使器件定位夹具25向里运动一定距离，第二待测器件26进入测试位置。重复上述测试过程，完成器件的测试。
这样可以通过计算机的控制，测试装置可实现器件的批量自动化测试，整个过程除了装备器件定位夹具25过程，均不需要测试人员干预，有效保证了测试的可靠性，排除了人为因素干扰。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
Claims (2)
1.一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，包括底板（1），其特征在于，还包括回形支架（7）和门框形支架（8），回形支架（7）顶部设置有器件定位夹具（25），回形支架（7）套设在门框形支架（8）上，回形支架（7）由一固定在底板（1）上的往复驱动装置驱动进行往复运动，门框形支架（8）上设置有第二滑块（9），一步进电机（20）通过支架固定在底板（1）上，一旋转推杆（21）的中部套设在步进电机（20）的旋转轴上，旋转推杆（21）一端通过光纤推杆（22）带动耦合光纤接头（19）运动，另一端与第二滑块（9）一端连接，第二滑块（9）另一端设置有LD器件测试模块（12），第二滑块（9）上开设有斜槽，底板（1）上还设置有ADP测试支架（14），一升降滚轮（17）设置在ADP测试支架（14）上并可沿ADP测试支架（14）升降运动，升降滚轮（17）上固定有APD器件测试模块（15），耦合光纤接头（19）和LD器件测试模块（12）分别位于器件定位夹具（25）两侧，APD器件测试模块（15）设置在器件定位夹具（25）下方，升降滚轮（17）放置于斜槽上。
2.根据权利要求1所述的一种单纤双向器件性能检测的自动测试装置，其特征在于，所述的往复驱动装置包括设置在底板（1）上的位移台底板滑轨（2），位移台底板滑轨（2）一端设置有伺服电机（4），伺服电机（4）与丝杆（5）轴接，丝杆（5）上套设有第一滑块（6），第一滑块（6）与回形支架（7）的底部连接。
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| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |
Denomination of utility model: Automatic testing device for performance detection of single-fiber bidirectional device Effective date of registration: 20150915 Granted publication date: 20140326 Pledgee: Guanggu Branch of Wuhan Rural Commercial Bank Co.,Ltd. Pledgor: WUHAN YUSHENG OPTICAL DEVICES Co.,Ltd. Registration number: 2015420000014 |
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| PLDC | Enforcement, change and cancellation of contracts on pledge of patent right or utility model | ||
| CP03 | Change of name, title or address |
Address after: 430070 room 401-6, 4th floor, unit 2, building C2, Rongke Zhigu, 555 Wenhua Avenue, Hongshan District, Wuhan City, Hubei Province Patentee after: Wuhan Yusheng photoelectric Co.,Ltd. Address before: No.5, huashiyuan Third Road, huashiyuan Science Park, Donghu Development Zone, Wuhan City, Hubei Province, 430074 Patentee before: WUHAN YUSHENG OPTICAL DEVICES Co.,Ltd. |
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| CP03 | Change of name, title or address | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20140326 |
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| CX01 | Expiry of patent term |