CN108646169A - 一种bosa测试方法和系统 - Google Patents

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邱东灼
李凯帆
邓行欢
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors

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Abstract

本发明公开了一种BOSA测试方法和系统，方法包括：设置适用于BOSA的测试电路板，在所述测试电路板的测试点上设置管脚转接底座，将待测试的BOSA的管脚插入所述转接底座，启动测试电路板并执行测试程序以测试所述BOSA。系统包括适用于BOSA的测试电路板，设置于所述测试电路板的测试点上的管脚转接底座，待测试的BOSA。本发明通过设置适用于BOSA的测试电路板以执行BOSA的模拟测试，通过测试点上设置的管脚转接底座以方便不同BOSA的接入和取出，能够在不伤及BOSA和测试电路板的情况下实现BOSA的测试。

Description

一种BOSA测试方法和系统
技术领域
本发明涉及BOSA测试技术领域，尤其涉及一种BOSA测试方法和系统。
背景技术
目前光纤通信中BOSA为光发射接收的器件，其原理是：将带有信息的电信号(光信号)转换成光信号(电信号)的转换装置.新品和不良的二次判定，新品和二次判定BOSA需将测试板上原来的BOSA解焊取出、吸锡器吸孔、焊接待判定BOSA,解焊时极易弄掉灌孔PCB铜箔导致测试板报废。
发明内容
为了解决上述问题，本发明提供一种BOSA测试方法和系统。
本发明采用的技术方案一方面为一种BOSA测试方法，包括：设置适用于BOSA的测试电路板，在所述测试电路板的测试点上设置管脚转接底座，将待测试的BOSA的管脚插入所述转接底座，启动测试电路板并执行测试程序以测试所述BOSA。
优选地，所述测试程序用于调整测试电路板输出的参数以测试所述BOSA的TX功率、眼图、APD电压、RX功率、灵敏度和接收光信号衰临界点。
优选地，所述管脚转接底座包括若干金属管和基座。
优选地，所述金属管设置于所述基座内部并延伸至外部，所述基座不与所述测试电路板接触。
本发明采用的技术方案一方面为一种BOSA测试系统，适用于上述方法，包括：适用于BOSA的测试电路板，设置于所述测试电路板的测试点上的管脚转接底座，待测试的BOSA。
优选地，所述测试电路板包括用于执行测试程序的CPU，其中，所述测试程序用于调整测试电路板输出的参数以测试所述BOSA的TX功率、眼图、APD电压、RX功率、灵敏度和接收光信号衰临界点。
优选地，所述管脚转接底座包括若干金属管和基座。
优选地，所述金属管设置于所述基座内部并延伸至外部，所述基座不与所述测试电路板接触。
本发明的有益效果为通过设置适用于BOSA的测试电路板以执行BOSA的模拟测试，通过测试点上设置的管脚转接底座以方便不同BOSA的接入和取出，能够在不伤及BOSA和测试电路板的情况下实现BOSA的测试。
具体实施方式
以下结合实施例对本发明进行说明。
基于发明的实施例，一种BOSA测试方法，包括：设置适用于BOSA的测试电路板，在所述测试电路板的测试点上设置管脚转接底座，将待测试的BOSA的管脚插入所述转接底座，启动测试电路板并执行测试程序以测试所述BOSA。
所述测试程序用于调整测试电路板输出的参数以测试所述BOSA的TX功率、眼图、APD电压、RX功率、灵敏度和接收光信号衰临界点。
所述管脚转接底座包括若干金属管和基座。
所述金属管设置于所述基座内部并延伸至外部，所述基座不与所述测试电路板接触。
作为实施例的进一步改进，BOSA为光发射接收的器件，将带有信息的电信号(光信号)转换成光信号(电信号)的转换装置；
BOSA测试的内容包括：TX功率：代表输出光功率大小，一般以毫瓦为单位或者DBM为单位；眼图：示波器将扫描所得的每一个码元波形重叠在一起形成眼图；RX功率：代表接收光功率大小，一般以毫瓦为单位或者DBM为单位；灵敏度：在保证达到所要求的误码比特率的条件，接收机所需要的最小输入光功率；警告(去)：接收机所能接收光信号的衰临界点。
管脚转接底座包括若干金属管，金属管内部位空心，将金属管焊接到测试电路板的焊点上，然后将待测试的ROSA的管脚插入金属管的内部，通过两者的接触以实现信号的导入；同时设置一个基座以起到固定所述若干金属管，这样可以防止金属管的变形，起到保护的作用；基座不与测试电路板接触以防止短路，同时也便于查看金属管是否被焊接在正确的位置上。
基于发明的实施例，一种BOSA测试系统，适用于上述方法，包括：适用于BOSA的测试电路板，设置于所述测试电路板的测试点上的管脚转接底座，待测试的BOSA。
所述测试电路板包括用于执行测试程序的CPU，其中，所述测试程序用于调整测试电路板输出的参数以测试所述BOSA的TX功率、眼图、APD电压、RX功率、灵敏度和接收光信号衰临界点。
所述管脚转接底座包括若干金属管和基座。
所述金属管设置于所述基座内部并延伸至外部，所述基座不与所述测试电路板接触。
以上所述，只是本发明的较佳实施例而已，本发明并不局限于上述实施方式，只要其以相同的手段达到本发明的技术效果，都应属于本发明的保护范围。在本发明的保护范围内其技术方案和/或实施方式可以有各种不同的修改和变化。

Claims (8)

1.一种BOSA测试方法，其特征在于，包括：
设置适用于BOSA的测试电路板，在所述测试电路板的测试点上设置管脚转接底座，将待测试的BOSA的管脚插入所述转接底座，启动测试电路板并执行测试程序以测试所述BOSA。
2.根据权利要求1所述的一种BOSA测试方法，其特征在于，所述测试程序用于调整测试电路板输出的参数以测试所述BOSA的TX功率、眼图、APD电压、RX功率、灵敏度和接收光信号衰临界点。
3.根据权利要求1所述的一种BOSA测试方法，其特征在于，所述管脚转接底座包括若干金属管和基座。
4.根据权利要求3所述的一种BOSA测试方法，其特征在于，所述金属管设置于所述基座内部并延伸至外部，所述基座不与所述测试电路板接触。
5.一种BOSA测试系统，适用于权利要求1所述方法，其特征在于，包括：
适用于BOSA的测试电路板，设置于所述测试电路板的测试点上的管脚转接底座，待测试的BOSA。
6.根据权利要求5所述的BOSA测试系统，其特征在于，所述测试电路板包括用于执行测试程序的CPU，其中，
所述测试程序用于调整测试电路板输出的参数以测试所述BOSA的TX功率、眼图、APD电压、RX功率、灵敏度和接收光信号衰临界点。
7.根据权利要求5所述的BOSA测试系统，其特征在于，所述管脚转接底座包括若干金属管和基座。
8.根据权利要求7所述的BOSA测试系统，其特征在于，所述金属管设置于所述基座内部并延伸至外部，所述基座不与所述测试电路板接触。
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