CN214756500U - 对手机信号的抗干扰测试系统 - Google Patents

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全莹
郁辉
戴佳龙
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Abstract

本实用新型公开了一种对手机信号的抗干扰测试系统,所述手机信号的频率范围为824MHz~5825MHz,其场强范围为:‑10dBm~33dBm,所述抗干扰测试系统包括全电波暗室,设置于所述全电波暗室内用于放置待测样品的测试平台,用于产生频率范围为824MHz~5825MHz、场强范围为:‑10dBm~33dBm的测试信号的信号发生装置,与所述信号发生装置相连设置于所述全电波暗室内的发射天线,用于夹持所述发射天线并使所述发射天线以预设路径在所述待测样品表面移动的机械臂,设置于所述电波暗室内与所述待测样品相对的监控装置。利用该抗干扰测试系统能实现手机信号对其他电子设备影响的自动化测试,减少了测试人员的参与,保障测试人员的生命安全。

Description

对手机信号的抗干扰测试系统
技术领域
本实用新型涉及辐射抗干扰测试系统,尤其涉及一种对手机信号的抗干扰测试系统。
背景技术
随着科学技术的飞速发展,手机原本只是一种通讯工具,现在已经可以作为一个只能终端,应用在工作、生活的方方面面。基本人人都会携带一部手机在身上。手机作为一个电子产品,其不可避免的会产生一些电池骚扰。除了电子线路工作带出来的电池骚扰外,更主要的是手机通话或数据流量工作时带出来的工作频率骚扰信号。手机通话或数据流量工作的主频信号作为手机基本功能所必备的工作频率,是必须使用的。但由于手机信号强度大,因此,会对其他电子设备产生非常大的影响。如在工作状态时使用的电脑就会受其影响。在现有的测试系统中,由于多环节需要测试人员的参与,干扰信号除对电子设备产生影响外同样也会对人体的健康产生威胁。
发明内容
为了克服现有技术中的缺陷,本实用新型实施例提供了一种对手机信号的抗干扰测试系统,利用该抗干扰测试系统能实现手机信号对其他电子设备影响的自动化测试,减少了测试人员的参与,保障测试人员的生命安全。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案是:一种对手机信号的抗干扰测试系统,所述手机信号的频率范围为824MHz~5825MHz,其场强范围为:-10dBm~33dBm,所述抗干扰测试系统包括全电波暗室,设置于所述全电波暗室内用于放置待测样品的测试平台,用于产生频率范围为824MHz~5825MHz、场强范围为:-10dBm~33dBm的测试信号的信号发生装置,与所述信号发生装置相连设置于所述全电波暗室内的发射天线,用于夹持所述发射天线并使所述发射天线以预设路径在所述待测样品表面移动的机械臂,设置于所述电波暗室内与所述待测样品相对的监控装置。
上述技术方案中,所述抗干扰测试系统还包括用于所述测试信号校准的校准装置。
上述技术方案中,所述校准系统包括设置于所述测试平台上的场强探头,与所述场强探头相连的功率计。
上述技术方案中,所述信号发生装置包括能够产生频率范围为80KHz~6GHz的干扰信号的信号发生器,与所述信号发生器相连的用于放大所述干扰信号的场强的功率放大器。
上述技术方案中,所述发射天线为同轴偶极子天线。
上述技术方案中,所述监控装置为摄像头,其与设置于所述全电波暗室外的客户端相连。
上述技术方案中,所述待测样品为电脑。
本实用新型至少具有如下有益效果:
1.本实用新型中利用机械臂夹持发射天线在待测样品周围发射与手机信号具有相同强度的测试信号,且在电波暗室内设置于待测样品相对的监控装置,避免了测试人员手持发射天线及近距离观察观察待测样品所受到的辐射,减少对测试人员的身体健康造成伤害。
2.将机械臂以预设路径在待测样品表面移动,确保待测样品表面的每一个位置都可以被测试到,保证测试条件的一致性,使测试结果更为准确可靠。
为让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例中抗干扰测试系统结构示意图。
以上附图的附图标记:1、全电波暗室;2、待测样品;3、测试平台;4、信号发生器;5、功率放大器;6、发射天线;7、场强探头;8、功率计。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例一:参见图1所示,一种对手机信号的抗干扰测试系统,所述手机信号的频率范围为824MHz~5825MHz,其场强范围为:-10dBm~33dBm,所述抗干扰测试系统包括全电波暗室1,设置于所述全电波暗室1内用于放置待测样品2的测试平台3,用于产生频率范围为824MHz~5825MHz、场强范围为:
-10dBm~33dBm的测试信号的信号发生装置,与所述信号发生装置相连设置于所述全电波暗室1内的发射天线6,用于夹持所述发射天线6并使所述发射天线6以预设路径在所述待测样品2表面移动的机械臂(图中未显示),设置于所述电波暗室内与所述待测样品2相对的监控装置(图中未显示)。
在所述全电波暗室1中设置所述机械臂,用于将所述发射天线6以所述预设路径在所述待测样品2表面移动,避免了测试人员手持式所述发射天线6的操作方式,减少对测试人员的辐射。且在所述全电波暗室1中设置所述监控装置,测试人员可从监控装置随时查看测试过程,更为方便。
其中,所述发射天线6用于将所述信号发生装置形成的所述测试信号施加到所述待测样品2上。所述发射天线6选用同轴偶极子天线,其与普通抗扰度测试的宽度天线相比,尺寸更为短小,方便所述机械臂的夹持。且所述同轴偶极子天线能覆盖手机通讯的各个频段需求,输出结果更为稳定。
参见图1所示,所述抗干扰测试系统还包括用于所述测试信号校准的校准装置。所述校准系统包括设置于所述测试平台3上的场强探头7,与所述场强探头7相连的功率计8。所述功率计8是通过所述场强探头7测量所述发射天线6发出的所述测试信号的强度是否满足指定的强度。在每次进行测试前,将所述信号装置调节至目标测试信号,再利用所述校准装置确认所述抗干扰测试系统中输出的所述测试信号是否正常。
所述信号发生装置包括信号发生器4,与所述信号发生器4相连的功率放大器5。所述信号发生器4可选用安捷伦E4438C,其能够产生频率范围为80KHz~6GHz的干扰信号。所述功率放大器5用于将所述信号发生器4产生的所述干扰信号放大到需要的强度。因为手机通讯信号的强度较大,所以,所述功率放大器5需要具有较大的输出能力。
所述机械臂与控制器相连,在测试前通过所述控制器根据所述测试样品的形状、尺寸等对所述机械臂设定所述预设路径。所述预设路径包括所述机械臂相对所述测试平台3的起始位置、终止位置、移动速度及移动轨迹等。设定所述预设路径可保证对于同样的所述测试样品实行相同的操作,保证测试条件的一致性,使测试结果更为准确可靠。
所述监控装置为摄像头,其与设置于所述全电波暗室1外的客户端相连。所述客户端可以是测试人员的手机、工作电脑等。测试人员可通过所述客户端随时查看测试过程,更为方便。
所述待测样品2为电脑或其他电子设备。
参见图1所示,所述全电波暗室1提供一个全屏蔽的测试环境,屏蔽外界信号的干扰,同时能防止所述测试信号对外界人员或设备的影响。
该抗干扰测试系统实现整个过程自动化测试,减少对测试人员的伤害且排除测试人员对测试过程的人为因素的影响,确保测试结果的准确性。
本实用新型中应用了具体实施例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (7)

1.一种对手机信号的抗干扰测试系统,所述手机信号的频率范围为824MHz~5825MHz,其场强范围为:-10dBm~33dBm,其特征在于:所述抗干扰测试系统包括全电波暗室,设置于所述全电波暗室内用于放置待测样品的测试平台,用于产生频率范围为824MHz~5825MHz、场强范围为:-10dBm~33dBm的测试信号的信号发生装置,与所述信号发生装置相连设置于所述全电波暗室内的发射天线,用于夹持所述发射天线并使所述发射天线以预设路径在所述待测样品表面移动的机械臂,设置于所述电波暗室内与所述待测样品相对的监控装置。
2.根据权利要求1所述的对手机信号的抗干扰测试系统,其特征在于:所述抗干扰测试系统还包括用于所述测试信号校准的校准装置。
3.根据权利要求2所述的对手机信号的抗干扰测试系统,其特征在于:所述校准装置包括设置于所述测试平台上的场强探头,与所述场强探头相连的功率计。
4.根据权利要求1所述的对手机信号的抗干扰测试系统,其特征在于:所述信号发生装置包括能够产生频率范围为80KHz~6GHz的干扰信号的信号发生器,与所述信号发生器相连的用于放大所述干扰信号的场强的功率放大器。
5.根据权利要求1所述的对手机信号的抗干扰测试系统,其特征在于:所述发射天线为同轴偶极子天线。
6.根据权利要求1所述的对手机信号的抗干扰测试系统,其特征在于:所述监控装置为摄像头,其与设置于所述全电波暗室外的客户端相连。
7.根据权利要求1所述的对手机信号的抗干扰测试系统,其特征在于:所述待测样品为电脑。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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