CN202903457U - 一种新型测试机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种新型测试机构,包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。其特征在于:所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构,所述电机联接所述的凸轮,所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨,所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动,所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。采用对电子元器件底部测试的方法结构,更符合目前电子元器件的制作工艺,应用性更广。
Description
技术领域
本实用新型主要是涉及一种新型测试机构,进一步涉及一种对发光电子元器件底部测试机构。
背景技术
电子元器件(如LED)是一种非常有用及有效的光源,它的光学构造体将发出的光几乎无损失的集合起来,经狭小的结构投射出来,它的颜色根据它使用的半导体成份造成,目前大约有红、黄、蓝、绿及白光等等。
电子元器件(如LED)的优点是亮度高、工作电压低、功耗小、微型化、易于集成电路匹配、驱动简单、寿命长、耐冲击、性能稳定。然而,电子元器件因其体积小、定向发射光、高亮度、PN结电特性等特点,从而在品质的评价和检测方法方面产生许多问题。不同的应用场合,决定了对电子元器件产品的性能要求。此外,电子元器件既是一种光源,又是一种功率型的半导体器件,因此有关它的质量必须从光学、电学和热学等诸多方面进行综合评价。
因此,电子元器件的检测变得非常重要。然而,目前的电子元器件的测试一般采用的侧面测试的结构,随着电子元器件的制作工艺的发展,已不能满足目前的电子元器件的测试要求。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种采用针对电子元器件底部的测试机构,
本实用新型提供一种新型测试机构,包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。其特征在于:所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构,所述电机联接所述的凸轮,所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨,所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动,所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。
优选的,所述凸轮分为大行程和小行程两部分,能同时控制两行程不同的凸轮从动机构。
优选的,所述测试定位机构包括带定位的测试针基座和带弹簧缓冲的测试针。
优选的,所述压片机构包括由良好光学性能制作的压片、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片,传感器。
与现有技术相比,本实用新型的优点在于:采用了针对电子元器件底部测试的机构,有效的解决了对电子元器件底部引脚的测试,更符合目前的电子元器件的制造工艺。
附图说明
图1是本实用新型一种新型测试机构的轴测视图。
图2是本实用新型一种新型测试机构的左视图。
附图标记说明:1、基座 2、滑轨 3、测试针基座 4、压片5、电机 6、凸轮 7、凸轮从动机构一 8、凸轮从动机构二 9、测试针 10传感器 11、光学盖片 12、压缩气路
具体实施方式
下面参照附图结合实施例对本实用新型作进一步的描述。
如图1-图3所示,一种新型测试机构,包括基座1、电机5、凸轮机构、压片机构、测试定位机构。如图3所示凸轮机构包括凸轮6及凸轮从动机构8,电机5联接所述的凸轮6,凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨2,凸轮从动机构8分别位于凸轮6上下两侧并均可沿滑轨2上下滑动,压片机构和测试定位机构分别与各自的凸轮从动机构一7和凸轮从动机构二8联接,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。测试定位机构包括带定位的测试针基座3和带弹簧缓冲的测试针9。压片机构包括由良好光学性能制作的压片4、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路12、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片11,传感器10。
现对本实施方式的作用进行详细说明,首先,伺服电机5带动凸轮6转动,上凸轮从动机构向下运动,下凸轮从动机构在弹簧的作用下向上运动,压片对电子元器件定位,同时测试探针9继续动作,完全接触发光元器件,通电将发光元件点亮,由光学检测器具检测发光元件的光特性。检测完毕后,电机5带动凸轮转动,当测试针9离开发光元件时,压缩气路12开始吹气,将可能粘着在压片4上的发光元件吹下,光纤传感器10检测到电子元器件,这时电子元器件与压片4完全脱离,压缩气路停止吹气,电机继续转动,回到原位。
以上所述为本实用新型的一个较佳实施例,在不脱离本实用新型的发明构思的情况下,进行的任何显而易见的变形和替换,均属本实用新型的保护范围内。
Claims (4)
1.一种新型测试机构,包括基座、电机、凸轮机构、压片机构、测试定位机构,其特征在于:所述凸轮机构包括凸轮及凸轮从动机构,所述电机联接所述的凸轮,所述凸轮左右两侧分别有安装在基座上的滑轨,所述凸轮从动机构分别位于凸轮上下两侧并均可沿滑轨上下滑动,所述压片机构和测试定位机构分别联接凸轮从动机构上,且压片机构和测试定位机构可随凸轮从动机构运动。
2.根据权利要求1所述一种新型测试机构,其特征在于:所述凸轮分为大行程和小行程两部分,能同时控制两行程不同的凸轮从动机构。
3.根据权利要求1所述一种新型测试机构,其特征在于:所述测试定位机构包括带定位的测试针基座和带弹簧缓冲的测试针。
4.根据权利要求1所述一种新型测试机构,其特征在于,所述压片机构包括由良好光学性能制作的压片、防止粘性强的发光元件粘附到压片上的压缩气路、防止气体将脏物吹入检测器具中的光学盖片,传感器。
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DD01 | Delivery of document by public notice |
Addressee: Patent of Shenzhen Huateng Semiconductor Equipment Co.,Ltd. The person in charge Document name: Patent termination notice |
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CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20130424 |