KR100961306B1 - 방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법 - Google Patents

Abstract

이 발명의 방사선 촬상장치는 제1 조사보다 전의 비조사시에 있어서 취득된 복수의 방사선 검출신호에 근거한 래그 데이터를, 제1 및 제2 방사선 검출신호에 같이 작용시켜 래그 보정을 각각 실행하도록 구성되어 있다. 따라서, 제1 조사와 제2 조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고 동시에 래그 보정이 가능하게 되고, 하나의 화상에 대하여 방사선의 2회 조사(제1조사·제2조사)를 행하는 경우에 있어서도 방사선 검출신호에 포함되는 시간 지연분을 방사선 검출신호로부터 용이하게 제거할 수 있다.

방사선 검출 신호,방사선 화상,래그

Description

방사선 촬상장치 및 방사선 검출신호 처리방법{RADIATION IMAGING DEVICE AND RADIATION DETECTION SIGNAL PROCESSING METHOD}

본 발명은, 피검체를 조사하여 검출된 방사선 검출 신호에 근거하여 방사선 화상을 얻는 방사선 촬상 장치 및 방사선 검출 신호 처리 방법에 관한 것이며, 특히, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 기술에 관한 것이다.

방사선 촬상 장치의 예로서 X선을 검출하여 X 선 화상을 얻는 촬상 장치에서는, 종래에는 X선 검출 수단으로서 이미지 인텐시파이어(I.I)가 이용되고 있었으나, 근년에 있어서, 플랫 패널형 X선 검출기(이하, 'FPD'라 약기한다)가 이용되고 있다.

FPD는, 감응막이 기판 위에 적층되어 구성된 것으로, 그 감응막에 입사한 방사선을 검출하고, 검출된 방사선을 전하로 변환하여, 2차원 배열 상태로 배치된 캐패시터에 전하를 축적한다. 축적된 전하는 스위칭 소자를 ON 하는 것으로 판독되고, 방사선 검출 신호로서 화상처리부에 보내진다. 그리고, 화상처리부에 있어서 방사선 검출 신호에 근거한 화소를 갖는 화상을 얻을 수 있다.

이러한 FPD를 이용했을 경우, 종래부터 이용되고 있는 이미지 인텐시파이어 에 등에 비해, 경량이고, 또한 복잡한 검출 변형이 발생하지 않는다. 따라서, 장치 구조나 화상 처리의 면에서 FPD는 유리하다.

그렇지만, FPD를 이용하면, X선 검출 신호에 시간지연 분이 포함된다.그 시간지연 분에 의해서 전회(前回)의 촬상에 있어서 X선의 조사시의 잔상이 아티팩트로서 X선 화상에 찍혀들어가 버린다. 특히, 단시간의 시간간격(예를 들면 1/30초)으로 X선 조사를 연속적으로 행하는 투시에 있어서는, 시간 지연분의 타임 래그의 영향이 큰 진단에 방해가 된다.

여기서, 백 라이트를 이용해 시간지연 분의 장시정수(長時定數) 성분의 저감을 도모한다(예를 들면, 특허 문헌 1참조), 혹은 시간지연 분이 복수의 시정수를 갖는 지수함수의 총합이라고 하여, 그들 지수함수를 이용하여 재귀적 연산처리를 실시해서, 래그 보정을 실시하는(예를 들면, 특허 문헌 2 참조)것으로, 시간지연 분에 의한 아티팩트를 저감시킨다.

상술한 특허 문헌 1과 같이 백 라이트를 이용하면 백 라이트을 위한 구조에 의해서 구조가 복잡화된다. 특히, 경량 구조를 실현한 FPD에 백 라이트을 이용하면, 구조가 재차 중량화, 복잡화하게 된다. 또, 상술한 특허 문헌 2의 경우에는, X 선 검출 신호를 취득 하는 샘플링의 회수분, 재귀적 연산처리를 행하여 래그 보정을 실시할 필요가 있어, 래그 보정에 번잡함이 따른다.

그래서, X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 간단히 제거할 수 있도록, 래그 보정을 실시할 시에, 촬상에 있어서 X선의 조사 전의 비조사시에 복수의 X선 검출 신호를 취득하여, 그것들을 이용해 촬상에 있어서 X선 조사 시의 X선 검출 신호로부터 래그 제거하는 수법을 생각할 수 있다.

한편, 상술한 래그 보정에 의해서 X선 화상을 취득하는 방법과는 별도로, 고에너지 X선 조사로 얻어진 X선 화상과 저에너지 X선 조사의 화상의 2개로부터 새로운 화상을 취득하는 에너지 차분(差分)(DES)법(이하, 편의상「DES법」이라고 약기한다)이 있다(예를 들면, 특허 문헌 3~6 참조). 이 방법은, 예를 들면 늑골 신호가 억제된 흉부촬영상을 얻는 경우 등에 이용된다. DES법은, 도 11에 나타난 바와 같이, 예를 들면 120kV, 10ms의 제1조사를 행하고, 즉시 60kV, 50~100ms의 제2조사를 실시한다. 실제로는, 장치의 기능의 한계에 의해, 제1 조사와 제2 조사와의 사이에는 200 ms 정도의 빈시간이 생긴다. 상술한 제1 및 제2조사로 각각 얻어진 화상에 적절한 중요도 평가를 실시하여 서브트랙션 처리를 실시한다. 서브트랙션 처리에서는, 예를 들면 하기 (1)식에 의해서 행해진다.

　I_DES=I₁ ×W₁－I₂ ×W₂　　　　…(1)

다만, I_DES는 에너지 차분 화상, I₁은 제1조사로 취득된 X선 검출 신호(의 강도), I₂는 제2조사로 취득된 X선 검출 신호(의 강도), W₁는 I₁의 무게, W₂는 I₂의 무게이다. 또한 상기 (1)식으로 한정되지 않고, 상술한 특허 문헌 3~6과 같이, 각각의 대수끼리 서브트랙션을 실시해도 좋다.

특허 문헌 1

　　특개평 9－9153호 공보( 제3－8페이지, 도 1)

특허 문헌 2

　　특개 2004－242741호 공보( 제4－11 페이지, 도 1, 3－6)

특허 문헌 3

　　특개 2002－171444호 공보

특허 문헌 4

　　특개 2002－152594호 공보

특허 문헌 5

　　특개 2002－152593호 공보

특허 문헌 6

　　특개 2000－121579호 공보

그렇지만, 래그 보정에 상술한 DES법을 적용하면 이하와 같은 문제점이 있다. DES법 있어서도 시간지연 분의 래그 성분은 각 X선 검출 신호마다 포함된다. 이 경우에는, 도 12에 나타난 바와 같이, 제1조사에서의 X선 검출 신호에 근거하는 화상에는 그 이전의 조사에 기인한 래그 성분(도 12중의 K₀를 참조)이 중복되고, 제2조사에서의 X선 검출 신호에 근거하는 화상에는, 상술한 래그 성분(도 12중의 K₀를 참조) 외에, 제1조사에 기인한 래그 성분(도 12중의 K₁를 참조)이 한층 더 중복된다. 그리고, 2의 조사에 의한 화상을 촬상 한 후에, 서브 트랙션등의 화상간 연산처리를 실시할 필요가 있으므로, 두 개의 화상 사이에 피검체의 움직임등에 의한 엇갈림이 생기지 않도록, 제 1조사·제 2조사 사이의 시간을 최대한 짧게 할 필요가 있다. 따라서, 제 1조사와 제 2조사와의 사이에 래그 성분(도 12에서는 K₀ 및 K₁)의 취득(래그 수집)을 실시할 시간의 여지가 없고, 래그 보정에 DES법을 적용 하면, 제2조사에서의 화상을 위한 래그 수집이 제 1조사와 제2조사와의 사이에 실시될 수 없다는 문제가 생긴다.

본 발명은, 이러한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 1개의 화상에 대해서 방사선의 2회 조사를 실시하는 경우에 있어서도 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있는 방사선 촬상 장치 및 방사선 검출 신호 처리 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

본 발명은, 이러한 목적을 달성하기 위해서, 다음과 같은 구성을 취한다. 즉, 이 발명의 방사선 촬상 장치는, 방사선 검출 신호에 근거하여 방사선 화상을 얻는 방사선 촬상 장치로, 피검체를 향해서 방사선을 조사하는 방사선조사 수단과, 피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출 수단과, (1) 방사선 검출 수단으로 검출된 복수의 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선 조사 전의 비조사시에 취득하는 비조사 신호 취득 수단과 (2) 방사선 검출 수단으로 검출된 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선 조사시에 취득 하는 조사 신호 취득 수단과 (3) 비조사를 사이에 두고 2회의 조사를 실시할 시에, 전의 조사를 제1조사로 하는 것과 동시에, 후의 조사를 제2조사로 하고, 상기 제 1조사에 있어서 상기 조사 신호 취득 수단으로 취득된 방사선 검출 신호를 제1방사선 검출 신호로 하는 것과 동시에, 상기 제 2조사에 있어서 조사 신호 취득 수단으로 취득된 방사선 검출 신호를 제2방사선 검출 신호로 했을 시에, 제1조사보다 전의 비조사시에 있어서 비조사 신호 취득 수단으로 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 상기 제 1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호와 함께 작용시키고, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시하는 래그 보정 수단과, (4) 상기 래그 보정 수단에 의해서 함께 래그 보정 된 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 방사선 화상을 취득 하는 방사선 화상 취득 수단을 갖추고 있는 것을 특징으로 하는 것이다.

본 발명의 방사선 촬상 장치에 의하면, 비조사 신호 취득 수단은, 방사선 검출 수단으로 검출된 복수의 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 전의 비조사시에 취득하는 것과 동시에, 조사 신호 취득 수단은, 방사선 검출 수단으로부터 검출된 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 시에 취득한다. 비조사를 사이에 두어 2회의 조사를 실시할 시에, 앞의 조사를 제1조사로 하는 것과 동시에, 후의 조사를 제2조사로 하고, 상술한 제1조사에 있어서 상술한 조사 신호 취득 수단으로 취득된 방사선 검출 신호를 제1방사선 검출 신호로 하는 것과 동시에, 상술한 제2조사에 있어서 조사 신호 취득 수단으로 취득된 방사선 검출 신호를 제2방사선 검출 신호로 한다.이와 같이 했을 시에, 제1조사보다 전의 비조사시 에 있어서 비조사 신호 취득 수단으로 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 래그 보정 수단은 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호와 함께 동작시키고, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시한다. 상기 래그 보정 수단에 의해서 함께 래그 보정된 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호를 이용해 방사선 화상 취득 수단이 서브 트랙션을 실시하는 것으로, 방사선 화상을 취득한다. 이와 같이, 상술한 특허 문헌 2와 같이 방사선 검출 신호를 취득하는 샘플링의 회수분(回數分)은, 재귀 적 연산처리를 실시해 래그 보정을 실시할 필요가 없다. 또 제1조사보다 전의 비조사시에 있어서 비조사 신호 취득 수단으로 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 제1 및 제2방사선 검출 신호에 함께 동작시켜 래그 보정을 각각 실행하고 있으므로, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 래그 보정이 가능하다. 따라서, 1개의 화상에 대해서 방사선의 2회 조사(제1조사·제2조사)를 실시하는 경우에 있어서도 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있다. 또, 상술한 특허 문헌 1과 같은 후위등을 이용할 필요가 없고, 장치의 구조가 복잡화되는 일도 없다.

또, 이 발명의 방사선 검출 신호 처리 방법은, 피검체를 조사해 검출된 방사선 검출 신호에 근거해 방사선 화상을 얻는 신호 처리를 실시하는 방사선 검출 신호 처리 방법으로, 상기 신호 처리는, (a) 복수의 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 전의 비조사시에 취득하는 비조사 신호 취득 공정과, (b) 방사선 검출 신호를 상기 비조사 신호 취득 공정의 후의 촬상에 있어서 방사선의 조사시인 제1조사 시에 취득하는 제1조사 신호 취득 공정과, (c) 제1조사 신호 취득 공정 후의 비조사를 사이에 두고, 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 시인 제2조사 시에 취득하는 제2조사 신호 취득 공정이라과, (d) 상기 비조사 신호 취득 공정으로 취득된 상기 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 상기 제 1조사 신호 취득 공정으로 취득된 방사선 검출 신호인 제1방사선 검출 신호, 및 상기 제 2조사 신호 취득 공정으로 취득된 방사선 검출 신호인 제2방사선 검출 신호에 함께 동작시키고, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시하는 래그 보정 공정과, (e) 상기 래그 보정 공정에 의해서 함께 래그 보정된 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 방사선 화상을 취득하는 방사선 화상 취득 공정을 갖추고 있는 것을 특징으로 하는 것이다.

이 발명의 방사선 검출 신호 처리 방법에 의하면, 비조사 신호 취득 공정에서는, 복수의 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 전의 비조사시에 취득하는 것과 동시에, 제1조사 신호 취득 공정에서는, 방사선 검출 신호를 상술한 비조사 신호 취득 공정의 후의 촬상에 있어서 방사선의 조사시인 제1조사 시에 취득한다. 또, 제2조사 신호 취득 공정에서는, 상술한 제1조사 신호 취득 공정의 후의 비조사를 사이에 두고, 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 시인 제2조사 시에 취득한다. 비조사 신호 취득 공정으로 취득된 상기 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 래그 보정 공정에서는, 제1조사 신호 취득 공정으로 취득된 방사선 검출 신호인 제1방사선 검출 신호, 및 제2조사 신호 취득 공정으로 취득된 방사선 검출 신호인 제2방사선 검출 신호와 함께 동작시키고, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시한다. 상기 래그 보정 공정에 의해서 함께 래그 보정된 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호를 이용해 방사선 화상 취득 공정으로 서브 트랙션을 실시하는 것으로 방사선 화상을 취득한다. 이와 같이, 상술한 특허 문헌 2와 같이 방사선 검출 신호를 취득하는 샘플링의 회수 분, 재귀적 연산처리를 실시해 래그 보정을 행할 필요가 없다. 또 제1조사보다 전의 비조사 신호 취득 공정에서 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 제1 및 제2방사선 검출 신호와 함께 동작시켜 래그 보정을 각각 행하고 있으므로, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고 같이 래그 보정이 가능하다. 따라서, 1개의 화상에 대해서 방사선의 2회 조사(제1조사·제2조사)를 실시하는 경우에 있어서도 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있다.

또, 제2조사 신호 취득 공정에서 취득된 제2방사선 검출 신호에는 제1조사 신호 취득 공정에서 취득된 제1방사선 검출 신호에 의한 래그 성분이 포함되어 있다고 간주할 수 있다. 여기서, 이 발명의 방사선 검출 신호 처리 방법은, 제1방사선 검출 신호에 근거하는 값을 이용해 제2방사선 검출 신호로부터 래그 제거하고, 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시하는 것이 바람직하다.이러한 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시하는 경우에 있어서도, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 제1방사선 검출 신호에 근거하는 값을 이용하는 것으로 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정이 가능하다.

이러한 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정으로 이용되는 제1방사선 검출 신호에 근거하는 값의 일례는, 제1방사선 검출 신호의 함수로 나타내지는 것이다.또 다른 일례는, 각각의 제1방사선 검출 신호에 각각 미리 대응할 수 있었던 값이다.

전자의 함수의 경우, 후자의 각각의 제1방사선 검출 신호에 각각 미리 대응 할 수 있었던 값의 경우에 있어서도, 일련의 방사선 검출 신호보다 사전에 취득된 방사선 검출의 정보, 일련의 방사선 검출 신호보다 사전의 취득 조건 혹은 방사선 검출을 검출하는 방사선 검출 수단의 고유의 정보로 결정된다.

이 발명과 관련되는 방사선 촬상 장치 및 방사선 검출 신호 처리 방법에 의하면, 제1조사보다 전의 비조사 시에 있어서 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 제1 및 제2방사선 검출 신호에 함께 동작시켜 래그 보정을 각각 행하고 있으므로, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 래그 보정이 가능하다.따라서, 1개의 화상에 대해서 방사선의 2회 조사(제1조사·제2조사)를 실시하는 경우에 있어서도 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있다.

도 1은 각 실시예와 관련되는 X선 투시 촬영장치의 블록도이다.

도 2는 X선 투시 촬영장치에 이용되고 있는 측면시한 플래트 패널형 X선 검출기의 등가회로이다.

도 3은 평면시한 플래트패널형 X선 검출기의 등가회로이다.

도 4는 실시예 1과 관련되는 비조사 신호 취득부나 조사 신호 취득부나 래그 보정부나 X선 화상배치 취득부에 의한 일련의 신호 처리를 나타내는 플로우차트이다.

도 5는 (a), (b)는, 각 X선의 조사 및 X선 검출 신호의 취득에 관한 타이밍 차트이다.

도 6은 실시예 1, 2와 관련되는 화상 처리 부 및 메모리 부에 관한 데이터의 흐름을 나타낸 개략도이다.

도 7은 실시예 2와 관련되는 비조사 신호 취득부나 조사 신호 취득부나 래그 보정부나 X선 화상배치 취득부에 의한 일련의 신호 처리를 나타내는 플로우차트이다.

도 8은 실시예 3과 관련되는 화상 처리부 및 메모리부에 관한 데이터의 흐름을 나타낸 개략도이다.

도 9는 실시예 3과 관련되는 비조사 신호 취득부나 조사 신호 취득부나 래그 보정부나 X선 화상 취득부에 의한 일련의 신호 처리를 나타내는 플로우차트이다.

　　 도 10은 각 실시예에서의 제2보정 데이터를 나타내는 제1 X선 검출 신호의 함수를 사전에 결정하기 위한 제 1조사의 래그에 대해서 모식적으로 나타낸 설명도이다.

　　 도 11은 1개의 화상에 대해서 X선의 2회 조사를 실시하는 경우의 타이밍 차트이다.

　　 도 12는 도 11에 래그 성분을 중복시킨 타이밍 차트이다.

<도면 부호의 설명>

　2　X 선관

　3　플랫 패널형 X선 검출기(FPD)

　9a　비조사 신호 취득부

　9b　조사 신호 취득부

　9c　래그 보정부

　9d　X선 화상 취득부

　I　 X선 검출 신호

　A　제1 보정 데이터

　B　제2 보정 데이터

　M　피검체

방사선 검출 신호 처리 방법에 있어서, 제1조사보다 전의 비조사 시에 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 제1 및 제2방사선 검출 신호에 함께 동작시켜 래그 보정을 각각 실시하는 것으로, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 래그 보정이 가능하게 되고, 1개의 화상에 대해서 방사선의 2회 조사를 실시하는 경우에 있어서도 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 간단하게 제거하는 목적을 실현했다.

<실시예 1>

이하, 도면을 참조해 이 발명의 실시예 1을 설명한다. 도 1은, 실시예 1과 관련되는 X선 투시 촬영장치의 블록도이고, 도 2는, X선 투시 촬영장치에 이용되고 있는 측면시한 플래트 패널형 X선 검출기의 등가회로이며, 도 3은, 평면시한 플래트 패널형 X선 검출기의 등가회로이다. 후술하는 실시예 2, 3도 포함하여, 본 실시예 1에서는 방사선 검출 수단으로서 플래트 패널형 X선 검출기(이하,「FPD」라고 한다)를 예로 듦과 동시에, 방사선 촬상 장치로서 X선 투시 촬영장치를 예로 들어 설명한다.

본 실시예 1과 관련되는 X선 투시 촬영장치는, 도 1에 나타난 바와 같이, 피검체 M를 재치(載置)하는 상판(1)과 그 피검체 (M)를 향해서 X선을 조사하는 X 선관 (2)과 피검체 (M)를 투과 한 X선을 검출하는 FPD(3)을 갖추고 있다. X 선관(2)은, 이 발명에 있어서 방사선조사 수단에 상당하고, FPD(3)는 이 발명에 있어서 방사선 검출 수단에 상당한다.

X선 투시 촬영장치는, 그 밖에, 상판(1)의 승강 및 수평이동을 제어하는 상판 제어부(4)나, FPD3의 주사(走査)를 제어하는 FPD 제어부(5)나, X 선관(2)의 관전압이나 튜브 전류를 발생시키는 고전압 발생부(6)를 가지는 X 선관 제어부(7)이나, FPD3로부터 전하 신호인 X선 검출 신호를 디지털화해 꺼내는 A/D 변환기(8)나, A/D 변환기(8)로부터 출력된 X선 검출 신호에 근거하여 여러 가지의 처리를 실시하는 화상 처리부(9)나, 이러한 각 구성부를 통괄하는 콘트롤러(10)나, 처리된 화상 등을 기억하는 메모리 부(11)나, 오퍼레이터가 입력 설정을 실시하는 입력부(12)나, 처리된 화상 등을 표시하는 모니터(13)등을 구비하고 있다.

상판 제어부(4)는, 상판(1)을 수평이동시켜 피검체 M를 촬상위치까지 수용 하거나 승강, 회전 및 수평이동시켜 피검체 M를 원하는 위치에 설정하거나 수평이동 시키면서 촬상을 실시하거나 촬상 종료 후에 수평이동시켜 촬상 위치로부터 퇴피시키는 제어 등을 실시한다.

FPD 제어부(5)는, FPD3을 수평이동 시키거나 피검체 M의 체축(體軸)의 축심 주위에 회전 이동시키는 것에 의한 주사에 관한 제어 등을 실시한다. 고전압 발생부(6)은, X선을 조사시키기 위한 관전압이나 튜브 전류를 발생 하여 X 선관(2)에게 주고, X 선관 제어부(7)는, X 선관(2)을 수평이동 시키거나 피검체 M의 몸 축의 축심 주위에 회전이동 시키는 것에 의한 주사에 관한 제어나, X 선관(2)측의 콜리메이터(도시 생략)의 조시야(照視野)의 설정의 제어 등을 실시한다. 또한 X 선관(2)나 FPD3의 주사 시에는, X 선관(2)로부터 조사된 X선을 FPD3가 검출 할 수 있도록 X 선관(2) 및 FPD3가 서로 대향하면서 각각의 이동을 실시한다.

제어기(10)는, 중앙처리장치(CPU) 등으로 구성되고, 메모리 부(11)는, ROM (Read-only Memory)이나 RAM(Random-Access Memory) 등에 대표 되는 기억매체등으로 구성되고 있다. 또, 입력부(12)는, 마우스나 신호키 보드나 조이스틱이나 트랙볼이나 터치패널 등으로 대표 되는 지시장치로 구성되고 있다. X선 투시 촬영장치에서는, 피검체 M를 투과 한 X선을 FPD3가 검출하고, 검출된 X선에 근거해 화상 처리부 (9)로 화상 처리를 실시하는 것으로 피검체 M의 촬상을 실시한다.

또한 화상 처리부(9)는, 복수의 X선 검출 신호를 촬상에 있어서 X선 조사 전의 비조사시에 취득하는 비조사 신호 취득부(9a)와, X선 검출 신호를 촬상에 있어 서 X선의 조사 시에 취득하는 조사 신호 취득부(9b)와 후술하는 제1조사보다 전의 비조사시에 있어서 비조사 신호 취득부(9a)로 취득된 복수의 X선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터(각 실시예에서는 제1보정 데이터 A)를, 비조사 신호 취득부 (9b)로 취득된 후술 하는 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호와 함께 동작시켜 래그 제거하는 래그 보정부(9c)와 상기 래그 보정부(9c)에 의해서 함께 래그 보정된 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 X선 화상배치를 취득하는 X선 화상배치 취득부(9d)를 갖추고 있다. 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호를 함께 동작시켜 래그 제거하는 것으로, X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 래그 보정부(9c)가 실시한다. 비조사 신호 취득부(9a)는, 이 발명에 있어서 비조사 신호 취득 수단에 상당하고, 조사 신호 취득부(9b)는, 이 발명에 있어서 조사 신호 취득 수단에 상당하며, 래그 보정부(9c)는, 이 발명에 있어서 래그 보정 수단에 상당하고, X선 화상배치 취득부(9d)는, 이 발명에 있어서 방사선 화상 취득 수단에 상당한다.

또한 메모리 부(11)는, 비조사 신호 취득부(9a)로 취득된 비조사 시의 각 X선 검출 신호를 기록하여 기억하는 비조사 신호용 메모리 부(11a)와 제1조사에 있어서 조사 신호 취득부(9b)로 취득된 제1 X선 검출 신호나, 래그 보정부(9c)로 래그 보정 된 제1 X선 검출 신호를 기록하여 기억하는 제1 X선 검출 신호용 메모리 부(11b)와 제2조사에 있어서 조사 신호 취득부(9b)로 취득된 제2 X선 검출 신호나, 래그 보정부(9c)로 래그 보정된 제2 X선 검출 신호를 기록하여 기억하는 제2 X선 검출 신호용 메모리 부(11c)와 X선 화상 취득부(9d)로 취득된 X선 화상배치를 기록하여 기억하는 X선 화상용 메모리 부(11d)를 갖추고 있다. 그 외에, 메모리 부(11)는 후술하는 제1 X선 검출 신호의 함수에 의해 제1 X선 검출신호로부터 제1 X선 검출신호에 근거하는 값(각 실시예에서는 제2 보정 데이터 B)으로 변환하는 함수 변환프로그램(11A)을 갖추고 있다. 여기서, 비조사를 사이에 두고 2회의 조사를 실시 할 시에, 전의 조사를 제1조사로 하는 것과 동시에, 후의 조사를 제2조사로 하고 있다. 또, 제1조사에 있어서 조사 신호 취득부(9b)로 취득된 X선 검출 신호를 제1 X선 검출 신호로 하는 것과 동시에, 제2조사에 있어서 조사 신호 취득 수단으로 취득된 X선 검출 신호를 제2 X선 검출 신호로 하고 있다.

또, 함수 변환프로그램(11A)을 갖추는 것으로, 콘트롤러(10)는, 그 함수 변환프로그램(11A)를 읽어내고, 제1 X선 검출 신호의 함수에 의한 변환을 실시한다.그 제1 X선 검출 신호의 함수에 의해서 변환된 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값( 각 실시예에서는 제2보정 데이터 B)은, 제2 X선 검출 신호에 대한 래그 보정으로 이용된다. 이와 같이, 상술한 제1보정 데이터 A는, 이 발명에 있어서 제1조사보다 전의 비조사 시에 있어서 비조사 신호 취득 수단(혹은 비조사 신호 취득 공정)으로 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터에 상당하고, 제2보정 데이터 B는, 이 발명에 있어서 제1방사선 검출 신호에 근거하는 값에 상당한다.

후술하는 실시예 2도 포함해 본 실시예 1에서는, 비조사 신호용 메모리 부 (11a)로부터 읽혀진 비조사 시의 각 X선 검출 신호에 근거해 래그 보정부(9c)는 래그 데이터인 제1보정 데이터 A를 취득하고(도 6을 참조), 그 제1보정 데이터 A를 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호와 함께 동작시켜 래그 제거한다. 또한 후술하는 실시예 3에서는 래그 데이터 A의 취득에 대해서는 후술하는 재귀적인 가중평균(재귀 호출 처리)에 의해서 행해진다(도 8을 참조).

FPD3은, 도 2에 나타낸 바와 같이, 유리 기판(31)과 유리 기판(31)상에 형성 된 박막트랜지스터 TFT로부터 구성되고 있다. 박막트랜지스터 TFT에 대해서는, 도 2, 도 3에 나타낸 바와 같이, 세로 · 가로식 2차원 매트릭스 상태 배열로 스위칭 소자(32)가 다수 개(예를 들면, 1024개×1024개) 형성되어 있고, 캐리어 수집 전극(33)마다 스위칭 소자(32)가 서로 분리 형성되어 있다. 즉, FPD3은, 2차원 배열 방사선검출기이기도 하다.

도 2에 나타낸 바와 같이 캐리어 수집 전극(33) 위에는 X선 감응형 반도체 (34)가 적층 형성되고, 도 2, 도 3에 나타낸 바와 같이 캐리어 수집 전극 (33)은, 스위칭 소자 (32)의 소스 (S)에 접속되고 있다.게이트 드라이버 (35)에서는 복수개의 게이트 버스라인 (36)이 접속되고 있는 것과 동시에, 각 게이트 버스라인 (36)은 스위칭 소자 (32)의 게이트 (G)에 접속되고 있다. 한편, 도 3에 나타낸 바와 같이, 전하 신호를 수집해 하나로 출력하는 멀티플랙서 (37)에는 증폭기 (38)를 통하여 복수개의 데이터버스 라인 (39)가 접속되고 있는 것과 동시에, 도 2, 도 3에 나타낸 바와 같이 각 데이터버스 라인 (39)은 스위칭 소자 (32)의 드레인 D에 접속되고 있다.

도시를 생략하는 공통 전극에 바이어스 전압을 인가한 상태로, 게이트 버스라인 (36)의 전압을 인가(또는 0 V로)하는 것으로 스위칭 소자 (32)의 게이트가 ON 되고, 캐리어수집 전극(33)은, 검출면 측에서 입사한 X선으로부터 X선 감응형 반도체(34)를 통하여 변환된 전하 신호(캐리어)를, 스위칭 소자 (32)의 소스 S와 드레인 D을 통하여 데이터버스 라인 (39)에 읽어 낸다. 또한 스위칭 소자가 ON 될 시까지는, 전하 신호는 캐패시터(도시 생략)로 잠정적으로 축적되어 기억된다.

각 데이터버스 라인(39)에 읽혀진 전하 신호를 증폭기 (38)로 증폭하고, 멀티플랙서 (37)로 1개의 전하 신호로 정리해 출력한다. 출력된 전하 신호를 A/D 변환기 (8)로 디지털화해 X선 검출 신호로서 출력한다.

다음에, 본 실시예 1과 관련되는 비조사 신호 취득부 (9a)나 조사 신호 취득부 (9b)나 래그 보정부 (9c)나 X선 화상 취득부 (9d)에 의한 일련의 신호 처리에 대해서, 도 4의 플로우차트 및 도 5의 타이밍 차트를 참조하여 설명한다. 또한 이 처리에서는, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사의 종료로부터, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사를 거치고, 이번 촬상에 있어서 X선의 제2조사까지를 예로 들어 설명한다.

(스텝 S1) 대기시간이 경과하였나?

전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사의 종료로부터, 도 5(a)에 나타낸 바와 같이 소정의 대기시간 (T_W)이 경과했는지 여부를 판단한다.조사의 종료 직후에는 시간지연 분 중의 단시정수 성분 혹은 중시정수 성분이 많이 포함된다. 상기 단/중 시정수 성분은 단시간에 감쇠하고, 감쇠 후에는 장시정수 성분이 지배적으로 되어, 거의 같은 강도로 잔류를 계속한다. 거기서, 전회의 촬상에 있어서 제2 X선의 조사 로부터 소정 시간경과 후의 비조사 시에 X선 검출 신호를 취득하듯이 대기시간 (T_W)을 마련해 그 대기시간 (T_W)이 경과하고 나서, 다음의 스텝 (S2)으로 진행되도록 한다.또한 대기시간 (T_W)이 경과했는지 아닌지의 판단을, 타이머(도시 생략)에 의해서 실시하면 좋다.즉, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사의 종료와 동시에 타이머를 리셋하여 「0」으로 하고, 타이머의 카운트를 개시하고, 대기시간 (T_W)에 상당하는 카운트에 이르면, 대기시간 (T_W)이 경과했다고 판단하면 된다.

또, FPD3 개별의 래그 특성에도 의하나, 대기시간 (T_W)에 대해서는 15초 정도가 바람직하고, 30초 정도 있으면 충분하다.또, 대기시간 (T_W)은 긴 만큼, 예를 들면 30초 이상이 바람직하지만, 시간을 너무 길게 취하면 촬영 사이의 시간이 연장 되어 버린다. 거기서, 실제로는 대기시간 (T_W)은 3초 정도가 현실적이다.

　(스텝 S2) 비조사시의 X선 검출 신호의 취득

비조사 신호 취득부 (9a)는, 대기시간 (T_W)경과후의 비조사시에 각 X선 검출 신호를 샘플링 시간간격△T(예를 들면 1/30초) 마다 순차적으로 취득한다. 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시까지의 샘플링 회수를(N＋1)(다만, K=0, 1, 2,… N－1, N으로 한다)로 하고, 대기시간 (T_W)경과 직후에 최초에 취득하는 첨자를 K=0으로 한다. 그리고, (K＋1) 번째에 취득하는 X선 검출 신호를 I_K로 하면, 대기시간 (T_W)경과 직후에 최초에 취득되는 X선 검출 신호는 I₀가 되고, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시 직전에 취득되는 X선 검출 신호는 I_N이 된다.또한 샘플링 시간간격△T마다 스텝 S2~S5를 계속해 실시하는 것으로 한다.

　(스텝 S3) 제1조사에 이르렀는가?

스텝 S2에서의 X선 검출 신호의 취득 시점, 즉 샘플링 시점이, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시에 이르렀는지(여기에서는 K=N＋1이 되었는지) 아닌지를 판단한다.만약, 도달했을 경우에는, 스텝 S6으로 진행한다.만약, 도달하지 않은 경우에는, 다음의 스텝 S4으로 진행된다.

　(스텝 S4) K의 값을 1씩 앞당긴다

첨자 K의 값을 1씩 앞당기고, 다음의 샘플링을 위해서 준비한다.

　(스텝 S5) 전의 X선 검출 신호의 기각(棄却)

스텝 S2에서 비조사 신호 취득부 (9a)에 의해 취득된 X선 검출 신호 I_K를 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기록하여 기억한다. 이때, X선 검출 신호 I_K보다 전 시점에서 취득된 X선 검출 신호 I_{K －1}은 불필요해지므로 기각한다. 따라서, 최신의 X선 검출 신호만이 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기억 되게 된다. 또한 스텝 S4에서 K=0으로부터 K=1로 앞당겨 스텝 S5로 진행되었을 경우에는, X선 검출 신호 I₀보다 전의 시점에서는 X선 검출 신호는 존재하지 않기 시문에 기각할 필요가 없다. 그리고, 다음의 샘플링을 위해서 스텝 S2로 돌아와서, 샘플링 시간간격△T 마다 스 텝 S2~S5를 반복해 실시한다.본 실시예 1에서는 전의 X선 검출 신호를 기각 해 최신의 X선 검출 신호만을 남겼지만, 물론, 반드시 기각할 필요는 없다. 상술한 스텝 S2~S5는, 이 발명에 있어서 비조사 신호 취득 공정에 상당한다.

　(스텝 S6) 제1조사 시의 제1 X선 검출 신호의 취득

스텝 S3에서 샘플링 시점이 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사에 이르면, 스텝 S2로 취득된 (N＋1) 번째의 X선 검출 신호 I_N를 제1보정 데이터 A로서 채용한다.즉, 래그 보정 부 (9c)는, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시 직전에 취득된 X선 검출 신호 I_N를 비조사 신호용 메모리 부 (11a)로부터 읽어내고, 그 X선 검출 신호 I_N를 제1보정 데이터 A로서 취득 한다.제1보정 데이터 A는 A=I_N가 된다.그리고, 래그 보정 부 (9c)에 의해서 취득된 제1보정 데이터 A를 후술하는 스텝 S8 에 있어서 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호에 동작시킨다. 이 제1보정 데이터 A의 취득과 병행하여 제1조사에서는 120 kV, 10 ms의 X선 조사를 실시한다.이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사를 종료하면, 그 조사에 의해서 얻어진 제1조사 시의 제1 X선 검출 신호를 제1 X선 검출 신호용 메모리 부 (11b)에 기록하여 기억한다.이 스텝 S6는, 이 발명에 있어서 제1방사선 검출 신호 취득 공정에 상당한다.

　(스텝 S7) 제2조사 시의 제2 X선 검출 신호의 취득

스텝 S6의 제1조사가 종료되면 즉시 제2조사를 실시한다.실제로는, 장치의 기능의 임계치에 의해, 제1조사와 제2조사와의 사이에는 200 ms 정도의 빈시간이 생긴다.제2조사에서는 60 kV, 50~100 ms의 X선 조사를 실시한다.이번 촬상에 있어 서 X선의 제2조사를 종료하면, 그 조사에 의해서 얻어진 제2조사 시의 제2 X선 검출 신호를 제2 X선 검출 신호용 메모리 부 (11c)에 기록하여 기억한다.이 스텝 S7는, 이 발명에 있어서 제2방사선 검출 신호 취득 공정에 상당한다.

(스텝 S8) 제1 · 제2 X선 검출 신호에 대한 래그 보정

래그 보정부(c)는, 스텝 S6에서 취득된 제1보정 데이터 A를, 제1 X선 검출 신호 용 메모리 부 (11b)로부터 읽혀진 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호용 메모리 부 (11c)로부터 읽혀진 제2 X선 검출 신호와 함께 동작시키고, 제1, 제2 X 선검출 신호에 대한 래그 보정을 실시한다. 각 실시예에서는, 각 화소마다 제1,제2 X선 검출 신호로부터 제1보정 데이터 A를 각각 감산하는 것으로 래그 보정을 실시한다. 제1 X선 검출 신호를 I_FIRST로 하고, 제2 X선 검출 신호를 I_SECOND로 하며, 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호를 I'_FIRST로 하고, 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호를 I'_SECOND로 하면, 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST는 I'_FIRST=I_FIRST－A가 되고, 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호 I'_SECOND는 I'_SECOND=I_SECOND－A가 된다. 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST도 제1 X선 검출 신호용 메모리 부 (11b)에 재차 기록하여 기억함과 동시에, 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호 I'_SECOND도 제2 X선 검출 신호용 메모리 부 (11c)에 재차 기록하여 기억한다.

또한 실제로는, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 타이밍은 반드시 미리 결정되고 있는 것은 아니다. 따라서, K=N＋1에 이르는 타이밍도 반드시 사전에 알 고 있는 것은 아니다. 여기서, 실제로는, 상술한 스텝 S2~S5을 샘플링 시간간격△T마다 반복하여 실행하고, 스텝 S3에서 샘플링 시점이 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시에 이르렀을 때가, K=N＋1에 도달한 타이밍이 된다. 물론, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 타이밍이 미리 결정되고 있는 경우에는, K=N＋1에 이르는 타이밍도 사전에 알고 있으므로, N의 값을 미리 결정 해 K=N＋1에 이른 타이밍에 맞추고, 샘플링 시점이 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시에 이르도록 설정해도 좋다. 이 스텝 S8은, 이 발명에 있어서 래그 보정 공정에 상당한다.

　(스텝 S9) 제2 X선 검출 신호에 대한 새로운 래그 보정

　상술한 것처럼, 제1조사가 종료되면 즉시 제2조사를 실시하고 있다.따라서, 제 1조사(스텝 S6)와 제2조사(스텝 S7)와의 사이로는 래그 보정을 위한 비조사시의 X선 검출 신호를 취득 하지 않는다. 여기서, 도 5(b)에 나타낸 바와 같이, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사보다 이전의 래그 성분에 대해서는 상술한 제1보정 데이터 A로서 중복되고, 이번 촬상에 있어서 X선의 제2조사보다 이전의 래그 성분에 대해서는 제1보정 데이터 A 외에 제 1조사에 기인한 래그 성분이 제2보정 데이터 B로서 중복된다고 간주할 수 있다. 즉, 스텝 S7로 취득된 제2 X선 검출 신호에는 스텝 S6에서 취득된 제1 X선 검출 신호에 의한 래그 성분(여기에서는 제2보정 데이터 B)이 포함되어 있으면 간주할 수 있다. 여기서, 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값인 제2보정 데이터 B를 이용해 제2 X선 검출 신호로부터 래그 제거하고, 제2 X선 검출 신호에 대한 새로운 래그 보정을 실시하고 있다.각 실시예에서는, 스텝 S8에서 래그 보정 된 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST의 함수로 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값인 제2보정 데이터 B를 나타내고, 스텝 S8에서 래그 보정된 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호 I'_SECOND로부터 그 제2보정 데이터 B를 감산하는 것으로, 제2보정 데이터 B를 이용한 제2 X선 검출 신호에 대한 새로운 래그 보정을 실시한다.구체적으로는, 함수를 F로 하고, 새로운 2번째의 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호를 I''_SECOND로 하면, 하기 (2)식과 같이 제2보정 데이터 B를 구하고, 하기 (3)식과 같이 제2 X선 검출 신호 I''_SECOND를 구한다.

　B=F(I'_FIRST)　　　　　　　　…(2)

　I''_SECOND=I'_SECOND－B　　 …(3)

　상기 (2)식에서 함수 변환하는 경우에는, 상술한 함수 변환프로그램 (11A)를 실행한다. 함수의 구체적인 결정 방법에 대해서는, 실시예 3의 뒤에 정리하여 서술한다. 새로운 2번째의 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호 I''_SECOND도 제2 X선 검출 신호용 메모리 부 (11c)에 재차 기록하여 기억한다.

　(스텝 S10) 서브 트랙션 · X선 화상의 취득

스텝 S6에서 래그 보정된 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST 및 스텝 S9에서 새롭게 래그 보정된 2번째의 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호 I''_SECOND를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 X선 화상취득부 (9d)는 X선 화상을 취득한 다. X선 화상취득부(9d)에 의해서 취득된 X선 화상을 X선 화상용 메모리 부 (11d)에 기록하여 기억한다. 서브 트랙션에 대해서는, 상기 (1)식 중의 I₁를 I'_FIRST에 옮겨놓고, I₂를 I''_SECOND에 옮겨놓아, 에너지 차분 화상 I_DES을 구하고, 상기 에너지 차분 화상 I_DES를 X선 화상으로 하면 된다. 또, 서브 트랙션에 대해서는, 상기 (1)식으로 한정되지 않고 , 상술한 특허 문헌 3~6과 같이, 각각의 대수(對數)끼리 서브 트랙션을 실시해도 좋다. 이 스텝 S10는, 이 발명에 있어서 방사선 화상 취득 공정에 상당한다. 또, X선 화상은, 이 발명에 있어서 촬상의 대상이 되는 방사선 화상에 상당한다.

이상과 같이 구성된 본 실시예 1에 의하면, 스텝 S2~S5에서는, 복수의 X선 검출 신호(본 실시예 1에서는 I₀, I₁, I₂,… I_{N －1}, I_N)를 촬상에 있어서 X선 조사 전의 비조사시에 취득함과 동시에, 스텝 S6에서는, X선 검출 신호를 상술한 스텝 S2~S5 후의 촬상에 있어서 X선의 조사 시인 제1조사 시에 취득한다. 또, 스텝 S7에서는, 상술한 스텝 S6 후의 비조사를 사이에 두고, X선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 시인 제2조사 시에 취득한다. 스텝 S2~S5로 취득된 그것들 X선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터( 제1보정 데이터 A)를, 스텝 S8에서는, 스텝 S6로 취득 된 X선 검출 신호인 제1 X선 검출 신호 I_FIRST, 및 스텝 S7에서 취득된 X선 검출 신호인 제2 X선 검출 신호 I_SECOND와 함께 동작시키고, X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보 정을 실시한다. 그 스텝 S8에 의해서 함께 래그 보정된 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST 및 제2 X선 검출 신호 I''_SECOND를 이용해 스텝 S10로 서브 트랙션을 실시하는 것으로 X선 화상을 취득한다.

이와 같이, 상술한 특허 문헌 2와 같이 X선 검출 신호를 취득하는 샘플링의 회수분(回數分), 재귀적 연산처리를 실시해 래그 보정을 실시할 필요가 없다. 또 제1조사보다 전의 스텝 S2~S5에서 취득된 복수의 X선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터(제1보정 데이터 A)를, 제1 및 제2 X선 검출 신호와 함께 동작시켜 래그 보정을 각각 행하고 있으므로, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 래그 보정이 가능하다. 따라서, 1개의 화상에 대해서 X선의 2회 조사( 제1조사 · 제2조사)를 실시하는 경우에 있어서도 X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있다. 또, 상술한 특허 문헌 1과 같은 후위등을 이용할 필요가 없고, 장치의 구조가 복잡화될 것도 없다.

또, 상술한 것처럼, 스텝 S7에서 취득된 제2 X선 검출 신호에는 스텝 S6로 취득된 제1 X선 검출 신호에 의한 래그 성분(여기에서는 제2보정 데이터 B)이 포함되어 있는 걸로 간주할 수 있다. 여기서, 후술하는 실시예 2, 3도 포함하여, 본 실시예 1과 같이, 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값(여기에서는 제2보정 데이터 B)을 이용하여 제2 X선 검출 신호로부터 래그 제거하고, 스텝 S9와 같이 제2 X선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시하는 것이 바람직하다. 이러한 제2 X선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시하는 경우에 있어서도, 제1조사와 제2조사와 의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값(제2보정 데이터 B)을 이용하는 것으로 제2 X선 검출 신호에 대한 래그 보정이 가능하다.

후술하는 실시예 2, 3도 포함하고, 본 실시예 1에서는, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사로부터 소정 시간(본 실시예 1에서는 대기시간 T_W) 경과후의 비조사 시에 복수의 X선 검출 신호를 취득하는 것으로, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사 전의 비조사 시에서의 복수의 X선 검출 신호를 취득하고 있다. 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사가 종료되어 비조사 상태로 이행하면, 시간지연 분 중의 단 시정수 성분 혹은 중 시정수 성분은 단시간에 감쇠하고, 감쇠후에는 장(長) 시정수 성분이 지배적으로 되어, 거의 같은 강도로 잔류를 계속한다. 따라서, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사가 종료된 직후에, X선 검출 신호를 취득하면 단/중 시정수 성분이 포함된 상태로 신호가 취득되고, 단/중 시정수 성분의 시간지연 분까지 올바르게 제거할 수 없다. 여기서, 본 실시예 1과 같이, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사로부터 소정 시간경과 후의 비조사시에 복수의 X선 검출 신호를 취득 하는 것으로, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사로부터 소정 시간경과 후의 비조사시에 복수의 X선 검출 신호를 취득 하는 것으로, 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사 전의 비조사시로의 복수의 X선 검출 신호를 취득 하게 되어, 소정 시간경과 후에 잔류하고 있는 장시정수 성분만이 포함된 상태로 신호가 취득되므로, 단/중 시정수 성분의 시간지연 분이 없고, 또한 장시정수 성분의 시간지연 분도 정확하게 제거 할 수 있다.

<실시예 2>

다음에, 도면을 참조하여 이 발명의 실시예 2를 설명한다. 상술한 실시예 1으로 공통되는 개소에 대해서는 같을 부호를 교부하여 그 설명을 생략 한다. 또, 실시예 2와 관련되는 X선 투시 촬영장치는, 실시예 1과 관련되는 X선 투시 촬영장치와 같은 구성으로, 비조사 신호 취득부 (9 a)나 조사 신호 취득부 (9 b)나 래그 보정부 (9c)나 X선 화상취득부 (9d)에 의한 일련의 신호 처리만이, 실시예 1과 다르다.

여기서, 본 실시예 2와 관련되는 비조사 신호 취득부 (9a)나 조사 신호 취득부 (9b)나 래그 보정부 (9c)나 X선 화상취득부 (9d)에 의한 일련의 신호 처리에 대해서, 도 7의 플로우차트를 참조하여 설명한다. 또한 상술한 실시예 1과 공통되는 스텝에 대해서는, 같을 번호를 교부해 그 설명을 생략한다.

(스텝 S1) 대기시간이 경과하였는가?

상술한 실시예 1과 같이, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사의 종료로부터 대기시간 T_W가 경과하였는지 여부를 판단한다. 대기시간 T_W가 경과하고 나서, 다음의 스텝 S12로 진행된다.

　(스텝 S12) 비조사시의 X선 검출 신호의 취득

상술한 실시예 1과 같이, 대기시간 T_W경과후의 비조사시에 각 X선 검출 신호를 샘플링 시간간격△T(예를 들면 1/30초) 마다 순차적으로 취득한다.다만, 본 실시예 2에서는, 후술하는 설명으로부터 분명한 바와 같이, 8번째의 X선 검출 신호 I₇(즉 K=7)를 취득할 때까지는, 대기시간 T_W경과 직후에 최초로 취득된 X선 검출 신호 I₀로부터 7번째로 취득된 X선 검출 신호 I₆까지는 기각되지 않고 , 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기억된 상태이다. 또한 샘플링 시간간격△T마다 스텝 S12~S14를 계속하여 실시하는 것으로 한다.

　(스텝 S13) K=7?

첨자 K가 7이 되었는지, 즉 샘플링 시점이 8번째에 이르렀는지(여기에서는 K=7이 되었는지) 아닌지를 판단한다. 만약, 도달했을 경우에는, 스텝 S2로 건너 뛴다.만약, 도달하지 않은 경우에는, 다음의 스텝 S14로 진행된다.

　(스텝 S14) K의 값을 1씩 앞당긴다.

상술한 실시예 1과 같이, 첨자 K의 값을 1씩 앞당기고, 다음의 샘플링을 위해서 준비한다. 그리고, 8번째의 X선 검출 신호 I₇(즉 K=7)를 취득할 때까지는, 스텝 S12에서 비조사 신호 취득부 (9a)에 의해 취득된 각 X선 검출 신호 I_K를 순서대로 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기록하여 기억한다. 이때, X선 검출 신호 I_K보다 전의 시점에서 취득된 X선 검출 신호 I_{K －1}에 대해서는 기각하지 않고 , 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기억한 상태로서 X선 검출 신호가 8개 분이 될 때까지 축적한다.그리고, 다음의 샘플링을 위해서 스텝 S12로 돌아오고, 샘플링 시간간격△T마다 스텝 S12~S14를 반복하여 실시한다.

　(스텝 S2)~(스텝 S10)

스텝 S13에서 샘플링 시점이 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시에 이르면, 상술한 실시예 1과 같은 스텝 S2~S8를 실시한다. 다만, 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에는 8개 분의 X선 검출 신호가 항상 기억 되도록 하고 있어, 스텝 S5에서 새롭게 최신의 X선 검출 신호가 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기억되면, 최고(最古)의 X선 검출 신호만이 기각되도록 되어 있다. 그리고, 스텝 S3에서 샘플링 시점이 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사의 개시에 이르면, 스텝 S2에서 취득 된(N－6) 번째의 X선 검출 신호 I_{N －7}로부터 (N＋1) 번째의 X선 검출 신호 I_N까지의 8개 분의 신호에 근거해 제1보정 데이터 A를 구한다. 구체적으로는, 이러한 신호의 평균을 제1보정 데이터 A로서 구한다.(A=ΣI_i/8, 단,Σ는 i=N-7~N까지의 총합).제1보정 데이터 A의 취득과 병행한 제1조사시의 제1 X선 검출 신호의 취득 이후부터 서브 트랙션 · X선 화상의 취득에 대해서는 실시예 1과 같으므로, 그 설명을 생략한다.

이상과 같이 구성된 본 실시예 2에 의하면, 상술한 실시예 1과 같이, 검출 된 X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 제거하는 것으로 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시할 때에, 이하와 같이 된다. 즉, 촬상에 있어서 X선의 조사 전의 비조사시에 복수의 X선 검출 신호(본 실시예 2에서는 I₀, I₁, I₂,… I_{N －1}, I_N)를 취득하고, 그것들 X선 검출 신호에 근거하여 래그 데이터(제1보정 데이터 A)를, 스텝 S8에서는, 스텝 S6에서 취득된 X선 검출 신호인 제1 X선 검출 신호 I_FIRST, 및 스텝 S7에서 취득된 X선 검출 신호인 제2 X선 검출 신호 I_SECOND와 함께 동작시키고, X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시한다. 그리고, 래그 보정 된 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST 및 제2 X선 검출 신호 I''_SECOND를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 X선 화상을 취득한다. 이와 같이, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 래그 보정이 가능하므로, 하나의 화상에 대해서 X선의 2회 조사(제1조사 · 제2조사)를 실시하는 경우에 있어서도 X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있다.

또한 실시예 1에서는, 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST의 랜덤 노이즈 성분이 I_FIRST의 2^1/2배가 되므로, SN비가 41%(=(2^1/2－1))열화 한다.이 열화를 억제하기 위해서, 본 실시예 2의 경우에는, 실시예 1로 상이하게, 복수의 X선 검출 신호(본 실시예 2에서는 I_{N －7}, I_{N －6}, … I_{N －1}, I_N)를 직접적으로 이용해 제1보정 데이터 A를 요구하고 있다. 이 경우에는, 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST의 랜덤 노이즈 성분은 보정 전의 제1 X선 검출 신호 I_FIRST의 6%의 열화에 머물게 되므로, SN비를 열화 시키지 않고 래그 보정을 실현할 수 있다. 래그 보정 후의 제2 X선 검출 신호 I'_SECOND의 랜덤 노이즈 성분에 대해서도, 래그 보정 후의 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST의 랜덤 노이즈 성분과 같다.

본 실시예 2에서는 8개 분의 X선 검출 신호를 직접적으로 이용해 제1보정 데이터 A를 구했지만, 이용하는 X선 검출 신호의 개수에 대해서는 제한되지 않는다.또, 신호의 평균으로 제1보정 데이터 A를 구했지만, 예를 들면 중앙치에서 제1보정 데이터 A를 구하거나 혹은 신호의 강도에 관한 도수분포도를 취하고, 그 도수분포도로부터 최대 빈수(最頻値)를 제1보정 데이터 A로서 구하는 등, 비조사시에 취득 된 방사선 검출 신호(X선 검출 신호)에 근거하는 래그 데이터(여기에서는 제1보정 데이터 A)의 구체적인 구하는 방법에 대해서는 특히 제한되지 않는다.

<실시예 3>

다음으로, 도면을 참조하여 이 발명의 실시예 3을 설명한다. 도 8은, 실시예 3과 관련되는 화상 처리부 (9) 및 메모리 부 (11)에 관한 데이터의 흐름을 나타낸 개략도이다. 상술한 실시예 1, 2와 공통되는 개소에 대해서는 같을 부호를 교부하여 그 설명을 생략한다. 또, 실시예 3과 관련되는 X선 투시 촬영장치는, 도 8의 화상 처리부 (9) 및 메모리 부 (11)에 관한 데이터의 흐름을 제외하면, 실시예 1, 2와 관련되는 X선 투시 촬영장치와 같은 구성이다. 또, 비조사 신호 취득부 (9a)나 조사 신호 취득부 (9b)나 래그 보정부 (9c)나 X선 화상취득부 (9d)에 의한 일련의 신호 처리에 대해서도, 실시예 1, 2와 다르다.

본 실시예 3에서는, 도 8에 나타낸 바와 같이, 비조사 신호용 메모리 부 (11a)로부터 읽혀진 비조사시의 X선 검출 신호에 근거해 래그 보정부 (9c)는 재귀적 연산처리로 래그 데이터(각 실시예에서는 제1보정 데이터 A)를 취득한다. 재귀적 연산처리에 의한 제1보정 데이터 A의 취득에 대해서는, 후술하는 도 9의 플로우 차트로 설명한다. 또한 래그 보정부 (9c)가 제1보정 데이터 A를 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호에 함께 동작시켜 래그 제거하는, 그 래그 보정부 (9c)에 의해서 같이 래그 보정된 제1 X선 검출 신호 및 제2 X선 검출 신호를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 X선 화상취득부 (9d)가 X선 화상를 취득하는 것은, 상술한 실시예 1, 2와 같다.

다음에, 본 실시예 3과 관련되는 비조사 신호 취득부 (9a)나 조사 신호 취득부 (9b)나 래그 보정부 (9c)나 X선 화상취득부 (9d)에 의한 일련의 신호 처리에 대해서, 도 9의 플로우차트를 참조하여 설명한다. 또한 상술한 실시예 1, 2로 공통되는 스텝에 대해서는, 같은 번호를 교부해 그 설명을 생략한다.

　(스텝 S1) 대기시간이 경과하였는가?

상술한 실시예 1, 2와 같이, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사의 종료로부터 대기시간 T_W가 경과하였는지 여부를 판단한다. 대기시간 T_W가 경과하고 나서, 다음의 스텝 S22에 진행된다.

　(스텝 S22) 대기시간 경과 직후의 X선 검출 신호의 취득

상술한 실시예 1, 2와 같이, 대기시간 T_W 경과후의 비조사시에 각 X선 검출 신호를 샘플링 시간간격△T(예를 들면 1/30초) 마다 순차적으로 취득한다. 먼저, 대기시간 T_W경과 직후의 X선 검출 신호 I₀를 취득한다. 이 대기시간 T_W경과 직후에 최초에 취득된 X선 검출 신호 I₀를 비조사 신호용 메모리 부 (11a)에 기록하여 기억한다.

　(스텝 S23) 초기치의 제1보정 데이터의 취득

그리고, 래그 보정부 (9c)는, 이 X선 검출 신호 I₀를 비조사 신호용 메모리 부 (11a)로부터 읽어내고, 그 X선 검출 신호 I₀를 제1보정 데이터 A의 초기치인 제1보정 데이터 A₀로서 취득한다.

　(스텝 S3)~(스텝 S4)

스텝 S23에서 초기치의 제1보정 데이터 A₀를 취득하면, 상술한 실시예 1과 같은 스텝 S3, S4를 실시한다.

　(스텝 S52) 비조사시의 X선 검출 신호의 취득

상술한 실시예 1, 2와 같이, 대기시간 T_W 경과후의 비조사시에 각 X선 검출 신호를 샘플링 시간간격△T(예를 들면 1/30초) 마다 순차적으로 취득한다. 다만, 본 실시예 3에 있어서 스텝 S52에서의 비조사시의 X선 검출 신호의 취득은, 2번째의 X선 검출 신호 I₁ 이후이다.

　(스텝 S53) 새로운 제1보정 데이터의 취득

2번째 이후의 새로운 제1보정 데이터를 취득할 시 , (N＋1) 번째의 제1보정 데이터 A_N를, 비조사시의 X선 검출 신호 I_N, 및 전회의 제1보정 데이터 A_{N －1}에 근거하는 재귀적 연산처리에서 구한다. 본 실시예 3에서는, 재귀적인 가중평균(이하,「재귀 호출 처리」라고 한다)에 의해서, 하기 (4)식과 같이 제1보정 데이터 A_N를 취득한다.

　A_N=(1－P)×A_{N －1}＋P×I_N　　…(4)

다만, 상술한 것처럼 I₀=A₀이다.또, P는 가중 비율로, 0~1의 값을 갖는다.

그리고, 다음 제1보정 데이터 A_K의 취득을 위해서 스텝 S3로 돌아오고, 상기 (4)식의 재귀 호출 처리를 실시한다. 또, 스텝 S3에서 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사에 이르렀을 경우에는, 그 스텝 S3의 직전의 스텝 S53에서 취득된 제1보정 데이터 A_N가 최신의 데이터가 된다. 상기 최신의 제1보정 데이터 A_N를 보정 데이터 A로서 취득 한다.

　(스텝 S6)~(스텝 S10)

　스텝 S6에서의 제1조사 시의 제1 X선 검출 신호의 취득 이후부터 스텝 S10에서의 서브 트랙션 · X선 화상의 취득에 대해서는 실시예 1과 같으므로, 그 설명을 생략 한다.

이상과 같이 구성된 본 실시예 3에 의하면, 상술한 실시예 1, 2와 마찬가지로, 취득된 제1보정 데이터 A를 제1 X선 검출 신호 I_FIRST, 및 제2 X선 검출 신호 I_SECOND와 함께 동작시켜, X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시한다. 그리고, 래그 보정된 제1 X선 검출 신호 I'_FIRST 및 제2 X선 검출 신호 I''_SECOND를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 X선 화상을 취득한다. 이와 같이, 제1조사와 제2조사와의 사이에 래그 성분을 취득하지 않고서도 래그 보정이 가능하므로, 1개의 화상에 대 해서 X선의 2회 조사(제1조사 · 제2조사)를 실시하는 경우에 있어서도 X선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 X선 검출 신호로부터 간단하게 제거할 수 있다.

본 실시예 3에서는, 비조사시에 각 X선 검출 신호를 샘플링 시간△T 간격(예를 들면 1/30초) 마다 순차적으로 취득하는 것으로 복수의 X선 검출 신호를 취득 하고, 비조사시에 있어서 어떤 시점을(N＋1) 번째로 했을 시에, 그(N＋1) 번째를 포함해 지금까지 순차적으로 취득된 복수의 X선 검출 신호에 근거하는 제1보정 데이터 A, 즉 (N＋1) 번째의 제1보정 데이터 A_N를 취득하기 위해서, 그 (N＋1)번째에서 취득된 X선 검출 신호 I_N와 그 (N＋1) 번째보다 전의 시점인 N번째를 포함해 지금까지 순차적으로 취득된 복수의 X선 검출 신호에 근거하는 제1보정 데이터 A, 즉 제1보정 데이터 A_N보다 전의 제1보정 데이터 A_{N －1}에 근거하여 실시하는 재귀적 연산처리를 반복해 실시하는 것으로, 제1보정 데이터 A를 취득하고 있다.

본 실시예 3의 경우에는, 재귀적 연산처리로서 재귀적인 가중평균인 재귀 호출 처리(상기(4) 식을 참조)에 의해서 제1보정 데이터를 취득하므로, 제1보정 데이터에 의한 래그 보정을 보다 확실하게 실시할 수 있다.

［함수의 결정］

다음에, 각 실시예의 제2보정 데이터 B에서 이용한 함수 F의 구체적인 결정 방법에 대해서 설명한다. 도 10은, 각 실시예에서의 제2보정 데이터 B를 나타내는 제1 X선 검출 신호의 함수 F를 사전에 결정하기 위한 제 1조사의 래그에 대해서 모식적으로 나타낸 설명도이다.

제1 X선 검출 신호의 함수 F는, 일련의 X선 검출 신호보다 사전에 취득된 X선 검출의 정보, 일련의 X선 검출 신호보다 사전의 취득 조건 혹은 X선을 검출 하는 플래트패널형 X선 검출기(FPD)(3)의 고유의 정보로 결정된다. 보다 구체적으로는, 일련의 X선 검출 신호보다 사전에 취득된 X선 검출의 정보의 예로서 FPD3의 출하 전에 취득된 X선 검출 신호의 강도가, 일련의 X선 검출 신호보다 사전의 취득 조건의 예로서 제1조사와 제2조사와의 사이의 시간을 각각 들 수 있다. 또, FPD3의 고유의 정보로서 예를 들면 사용하는 FPD3 마다 도 10에 나타낸 바와 같은 취득 조건 아래에서 출하 전에 각각 구한다.

도 10에 나타낸 바와 같이, 출하 전에 실제의 촬상과 같게 제1조사를 실시한다. 이 때, 제2조사에 대해서는 실시하지 않는다. 만약, 제2조사를 출하 전에도 실행하고 있다고 가정하면, 제2조사에서의 조사시간은 도 10의 2점 쇄선에서의 t₁~t_N까지의 시간에 상당한다. 제1조사가 종료되면, 제1조사에 기인한 래그 성분이 도 10에서 점선으로 나타낸 바와 같이 감쇠하면서 본래 행해지고 있어야 할 제2조사의 타이밍에 이르러도 잔류한다. 이 래그 성분을 도 10에 나타낸 바와 같이 f(t)로 한다. 그러면, 제1조사에 의한 래그를 L로 하면, 제1조사에 의한 래그 L는, 제2조사에서는 f(t)를 t₁~t_N까지의 시간으로 적분한 값(도 10중의 해칭을 참조)으로 간주할 수 있다(하기 (5) 식을 참조).

L=∫f(t) dt　　　　　　　　　…(5)

다만∫은 t₁~t_N까지의 시간으로의 적분이다. 그 제1조사에 의한 래그를 0으 로 하도록 함수 F를 결정하면, 제1 X선 검출 신호의 함수 F에 의해서 제2보정 데이터 B로 변환하고, 그 제2보정 데이터 B로 상기(3) 식과 같이 감산하는 것으로, 출하 후의 이번 촬상에 있어서 X선의 제1조사로 취득된 제1 X선 검출 신호에 의한 래그 성분을 제거할 수 있다. 제1조사에 의한 래그를 0으로 하도록 함수 F를 결정하기 위해서는, 출하 전의 제1조사로 취득된 제1 X선 검출 신호를 S로 하면, 하기 (6)식과 같이 제1 X선 검출 신호 S의 함수 F가 상술한 제1조사에 의한 래그 L에 동일해지도록 함수 F를 결정 한다.

F(S)=L　　　　　　　　　　　…(6)

이상을 정리하면, 출하 전에 제1조사를 실시하고, 한편 제2조사를 실시하지 않는 상태로, t₁~t_N까지의 시간에서 제1조사에 의한 래그 L를 상기 (5)식에 의해 구하고, 상기 제1조사에 의한 래그 L과 출하 전의 제1조사로 취득된 제1 X선 검출 신호가 서로 동일해지도록(상기 (6)식을 참조) 함수 F를 결정한다.

　이 발명은, 상기 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 하기와 같이 변형실시 가능하다.

(1) 상술한 각 실시예에서는, 도 1에 나타내는 X선 투시 촬영장치를 예로 들어 설명했지만, 이 발명은, 예를 들면 C형 암에 배설된 X선 투시 촬영장치에 적용 해도 좋다. 또, 이 발명은, X선 CT 장치에 적용해도 좋다. 또한 이 발명은, X 선촬영장치와 같이(투시촬영이 아닌) 실제 촬영을 실시할 때 특히 유용하다.

(2) 상술한 각 실시예에서는, 플래트패널형 X선 검출기(FPD) (3)을 예로 들 어 설명했지만, 통상 이용되는 X선 검출 수단이면, 이 발명은 적용할 수 있다.

(3) 상술한 각 실시예에서는, X선을 검출하는 X선 검출 그릇을 예로 들어 설명했지만, 이 발명은, ECT(Emission Computed Tomography) 장치와 같이 방사성 동위 원소(RI)를 투여된 피검체로부터 방사되는 γ선을 검출하는 γ선 검출기에 예시된 바와 같이, 방사선을 검출하는 방사선검출기이면 특히 제한되지 않는다. 마찬가지로, 이 발명은, 상술한 ECT 장치에 예시되듯이, 방사선을 검출하여 촬상을 행하는 장치이면 특히 제한되지 않는다.

(4) 상술한 각 실시예에서는, FPD3는, 방사선(실시예에서는 X선) 감응형의 반도체를 갖추어, 입사한 방사선을 방사선 감응형의 반도체에서 직접적으로 전하 신호로 변환하는 직접변환형의 검출기였으나, 방사선 감응형 대신에 광감응형의 반도체를 구비함과 동시에 신틸레이터를 갖추고, 입사한 방사선을 신틸레이터로 빛(光)으로 변환하고, 변환된 빛을 광감응형의 반도체에서 전하 신호로 변환하는 간접변환형의 검출기이어도 좋다.

(5) 상술한 각 실시예에서는, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사로부터 소정시간(각 실시예에서는 대기시간 T_W) 경과후의 비조사시에 X선 검출 신호의 취득을 개시했지만, 단/중 시정수 성분이 무시할 수 있는 정도이면, 전회의 촬상에 있어서 X선의 제2조사가 종료되어 비조사 상태로 이행하는 것과 동시에 X선 검출 신호의 취득을 개시해도 괜찮다. X선 이외의 방사선 있어서도 마찬가지이다.

(6) 상술한 각 실시예에서는, 래그 보정의 기초가 되는 제1보정 데이터 A는, 이번 촬상에 있어서 제1조사의 개시 직전에 취득되는 X선 검출 신호 I_N의 데이터가 포함되어 있었지만, 반드시 X선 검출 신호 I_N의 데이터를 포함할 필요는 없다. 다만, 직전의 데이터가 가장 신뢰성이 높으므로, 각 실시예와 같이 X선 검출 신호 I_N의 데이터를 포함해 제1보정 데이터 A를 취득하고, 상기 제1보정 데이터 A를 이용해 래그 제거하는 것으로 래그 보정을 실시하는 것이 바람직하다. X선 이외의 방사선에 있어서도 마찬가지이다.

(7) 상술한 각 실시예에서는, 상기 (4)식에 나타난 바와 같이 재귀적인 가중평균(재귀 호출 처리)이었지만, 재귀적 연산처리이면, 재귀적인 가중평균으로 한정되지 않고, 중요도 평가를 하지 않는 재귀적 연산처리이어도 좋다.따라서, X선 검출 신호 I_N와 제1보정 데이터 A_{N － 1}으로 나타내어지는 함수 D(I_N, A_{N －1})가, 제1보정 데이터 A_N로 나타내어지면 좋다.

(8) 상술한 각 실시예에 있어서 제2보정 데이터 B를 나타내는 제1 X선 검출 신호의 함수 F에 대해서는 특히 제한되지 않는다. 예를 들면 정수를 C로 했을 시에, 상기 (2)식을 하기(2)'식과 같이 변형해도 좋다.

B=C×I'_FIRST　　　　　　　　　…(2)'

상기(2)'식의 경우에는, 함수 F는 1차 함수가 된다. 함수 F가 1차 함수의 경우에는, 그 정수 C를 결정하려면, 하기 (6)'식과 같이 제1 X선 검출 신호 S에 정수 C를 곱한 값이 제1조사에 의한 래그 L과 동일해지도록 C를 결정하면 좋다.

C×S=L　　　　　　　　　　　…(6)'

또한 1차 함수로 한정되지 않고, 2차 함수와 같이 차수가 2 이상이어도 괜찮고, 그 이외에 대수함수나 삼각함수 등, 적당히 필요에 따라 함수 F를 설정하면 좋다.

(9) 상술한 각 실시예에서는, 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값(제2보정 데이터 B)는, 제1 X선 검출 신호의 함수 F로 결정되었지만, 예를 들면, 각각의 제1 X선 검출 신호에 각각 대응한 값을 기억한 테이블을 준비하고, 그 테이블을 참조하는 것으로, 상기 대응한 값을 제1 X선 검출 신호에 근거하는 값으로 채용해도 좋다. 이 경우에서는, 상기 (6)식에서 함수 F를 결정하는 대신에, 제1 X선 검출 신호의 강도가 각각 변하도록 출하 전에 도 10에 도시한 제1조사를 복수회 실시하고, 각 제1 X선 검출 신호의 강도마다 제1조사에 의한 래그 L를 각각 구하고, 그 래그 L과 각각의 제1 X선 검출 신호를 각각 대응하여 테이블로서 작성해 기억하면 좋다.

(10) 상술한 각 실시예에서는, 제2방사선 검출 신호(각 실시예에서는 제2 X선 검출 신호)에는 제1방사선 검출 신호에 의한 래그 성분이 포함되어 있는 것으로, 제1방사선 검출 신호(각 실시예에서는 제1 X선 검출 신호)에 근거하는 값(각 실시예에서는 제2보정 데이터 B)를 이용해 제2방사선 검출 신호로부터 래그 제거 하고, 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시했지만, 제1조사와 제2조사와의 사이가 충분히 비어 있고, 제1방사선 검출 신호에 의한 래그 성분이 무시할 수 있는 정도이면, 반드시 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시할 필요는 없다.

(11) 상술한 각 실시예에 있어서 제2보정 데이터 B를 나타내는 제1 X선 검출 신호의 함수 F를 결정할 때에, 서브 트랙션으로 이용되는 무게(W₁, W₂)를 포함하게 한 상태로 함수 F를 결정해도 좋다.

(12) 상술한 각 실시예에서는, 래그 데이터(각 실시예에서는 제1보정 데이터 A)를, 제1방사선 검출 신호(각 실시예에서는 제1 X선 검출 신호) 및 제2방사선 검출 신호(각 실시예에서는 제2 X선 검출 신호)와 함께 동작시켜 래그 보정을 실시하기 위해서, 각 방사선 검출 신호로부터 제1보정 데이터 A를 감산했지만, 각 방사선 검출 신호로부터 제1보정 데이터 A를 나눗셈 하는 등과 같이 작용시켜 래그 제거를 실시하는 구체적인 연산 수법에 대해서는 특히 제한되지 않는다.

이상과 같이, 이 발명은, 플래트패널형 X선 검출기(FPD)를 갖춘 방사선 촬상 장치에 적합하다.

Claims (7)

1. 방사선 검출 신호에 근거해 방사선 화상을 얻는 방사선 촬상 장치로,

   피검체를 향해서 방사선을 조사하는 방사선 조사 수단과,

   피검체를 투과한 방사선을 검출하는 방사선 검출 수단과,

   (1) 방사선 검출 수단으로부터 검출된 복수의 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 전의 비조사(非照射)시에 취득하는 비조사 신호 취득 수단과,

   (2) 방사선 검출 수단으로부터 검출된 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사시에 취득하는 조사 신호 취득 수단과,

   (3) 비조사를 사이에 두어 2회의 조사(照射)를 실시할 때에, 전의 조사를 제1조사로 하는 것과 동시에, 후의 조사를 제2조사로 하고, 상기 제 1조사에 있어서 상기 조사 신호 취득 수단으로 취득된 방사선 검출 신호를 제1방사선 검출 신호로 하는 것과 동시에, 상기 제 2조사에 있어서 조사 신호 취득 수단으로 취득된 방사선 검출 신호를 제2방사선 검출 신호로 했을 시에, 제1조사보다 전의 비조사시에 있어서 비조사 신호 취득 수단으로 취득된 복수의 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 상기 제 1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호와 같이 동작시키고, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시하는 래그 보정 수단과,

   (4) 상기 래그 보정 수단에 의해서 함께 래그 보정된 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 방사선 화상을 취득 하는 방사선 화상 취득 수단을 갖추고 있는 것을 특징으로 하는 방사선 촬상 장치.
2. 피검체를 조사하여 검출된 방사선 검출 신호에 근거하여 방사선 화상을 얻는 신호 처리를 실시하는 방사선 검출 신호 처리 방법으로,

   상기 신호 처리는,

   (a) 복수의 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 전의 비조사시에 취득하는 비조사 신호 취득 공정과,

   (b) 방사선 검출 신호를 상기 비조사 신호 취득 공정의 후의 촬상에 있어서 방사선의 조사 시인 제1조사 시에 취득하는 제1조사 신호 취득 공정과,

   (c) 제1조사 신호 취득 공정의 후의 비조사를 사이에 두고, 방사선 검출 신호를 촬상에 있어서 방사선의 조사 시인 제2조사 시에 취득하는 제2조사 신호 취득 공정과,

   (d) 상기 비조사 신호 취득 공정으로 취득된 이들 상기 방사선 검출 신호에 근거하는 래그 데이터를, 상기 제 1조사 신호 취득 공정으로 취득된 방사선 검출 신호인 제1방사선 검출 신호, 및 상기 제 2조사 신호 취득 공정으로 취득된 방사선 검출 신호인 제2방사선 검출 신호와 같이 동작시키고, 방사선 검출 신호에 포함되는 시간지연 분을 방사선 검출 신호로부터 제거하는 것에 의한 시간지연 분에 관한 래그 보정을 실시하는 래그 보정 공정과,

   (e) 상기 래그 보정 공정에 의해서 함께 래그 보정된 제1방사선 검출 신호 및 제2방사선 검출 신호를 이용해 서브 트랙션을 실시하는 것으로 방사선 화상을 취득하는 방사선 화상 취득 공정을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 방사선 검출 신호 처리 방법.
3. 제2항에 있어서,

   상기 제 2조사 신호 취득 공정으로 취득된 제2방사선 검출 신호에는 상기 제 1조사 신호 취득 공정으로 취득된 제1방사선 검출 신호에 의한 래그 성분이 포함되어 있는 것으로, 제1방사선 검출 신호에 근거하는 값을 이용하여 제2방사선 검출 신호로부터 래그 제거하여, 제2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정을 한층 더 실시하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출 신호 처리 방법.
4. 제3항에 있어서,

   상기 제 2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정에서 이용되는 상기 제 1방사선 검출 신호에 근거하는 값은, 제1방사선 검출 신호의 함수로 나타내지는 것을 특징으로 하는 방사선 검출 신호 처리 방법.
5. 제3항에 있어서,

   상기 제 2방사선 검출 신호에 대한 래그 보정에서 이용되는 상기 제 1방사선 검출 신호에 근거하는 값은, 각각의 제1방사선 검출 신호에 각각 미리 대응된 값인 것을 특징으로 하는 방사선 검출 신호 처리 방법.
6. 제4항에 있어서,

   상기 함수는, 일련의 방사선 검출 신호보다 사전에 취득된 방사선 검출의 정보, 일련의 방사선 검출 신호보다 사전의 취득 조건 혹은 방사선 검출을 검출하는 방사선 검출 수단의 고유의 정보로 결정되는 것을 특징으로 하는 방사선 검출 신호 처리 방법.
7. 제5항에 있어서,

   상기 각각의 제1방사선 검출 신호에 각각 미리 대응된 값은, 일련의 방사선 검출 신호보다 사전에 취득된 방사선 검출의 정보, 일련의 방사선 검출 신호보다 사전의 취득조건 혹은 방사선 검출을 검출하는 방사선 검출 수단의 고유의 정보로 각각 결정되는 것을 특징으로 하는 방사선 검출 신호 처리 방법.

Images