KR100935485B1 - 탑재장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (4)
- 피 처리체를 탑재하는 승강 가능한 탑재대와 이 탑재대를 소정의 각도범위 내에서 회전시키는 탑재대 회전 구동기구를 구비하고, 상기 탑재대를 수직으로 상승시켜 상기 탑재대를 상기 탑재대 회전 구동기구에 의해서 회전시키는 탑재장치에 있어서,상기 탑재대 회전 구동기구는 상기 탑재대의 접선 방향으로 연장하는 구동축,이 구동축을 통하여 상기 접선 방향으로 이동하는 이동체,이 이동체에 수직으로 부착된 제 1 캠 팔로우,이 제 1 캠 팔로우와 접촉하도록 상기 탑재대의 외주면으로부터 수평으로 연장하는 제 2 캠 팔로우,제 1 캠 팔로우와 제 2 캠 팔로우가 탄성 접촉하도록 상기 탑재대와 상기 이동체를 연결하는 탄성부재를 구비한 것을 특징으로 하는 탑재장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 탑재대 회전 구동기구는 상기 구동축을 회전시키는 회전 구동기구를 갖는 것을 특징으로 하는 탑재장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 탑재대 회전 구동기구는 상기 이동체를 상기 접선 방향으로 이동, 안내하는 직진 가이드기구를 갖는 것을 특징으로 하는 탑재장치.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,상기 탄성부재가 스프링인 것을 특징으로 하는 탑재장치.
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010024961A (ko) * | 1999-01-29 | 2001-03-26 | 히가시 데쓰로 | 피 검사체용 탑재대의 회전 구동 기구 및 피 검사체의탑재 기구 |
JP2004071909A (ja) * | 2002-08-07 | 2004-03-04 | Tokyo Electron Ltd | 載置台の駆動装置及びプローブ装置 |
KR20040060799A (ko) * | 2002-12-27 | 2004-07-06 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 반송 기구, 이동식 프로브 카드 반송 장치, 프로브 장치,및 프로브 카드를 프로브 장치에 반입하는 방법 |
JP2005189202A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Hioki Ee Corp | プローブ駆動機構 |
Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
JPS6470734A (en) * | 1987-07-14 | 1989-03-16 | Mitsubishi Electric Corp | Z-theta fine adjustment table |
US5198752A (en) * | 1987-09-02 | 1993-03-30 | Tokyo Electron Limited | Electric probing-test machine having a cooling system |
JP3086005B2 (ja) * | 1991-05-14 | 2000-09-11 | オリンパス光学工業株式会社 | 位置決めステージ装置 |
KR100343252B1 (ko) * | 1993-05-19 | 2002-11-23 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 검사장치및검사장치에있어서의접속방법 |
US6140828A (en) * | 1997-05-08 | 2000-10-31 | Tokyo Electron Limited | Prober and probe method |
JP4310504B2 (ja) * | 1999-02-25 | 2009-08-12 | Tdk株式会社 | ワーク搭載用テーブルのθ軸調整機構 |
JP4721247B2 (ja) * | 2001-03-16 | 2011-07-13 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ方法及びプローブ装置 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010024961A (ko) * | 1999-01-29 | 2001-03-26 | 히가시 데쓰로 | 피 검사체용 탑재대의 회전 구동 기구 및 피 검사체의탑재 기구 |
JP2004071909A (ja) * | 2002-08-07 | 2004-03-04 | Tokyo Electron Ltd | 載置台の駆動装置及びプローブ装置 |
KR20040060799A (ko) * | 2002-12-27 | 2004-07-06 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 반송 기구, 이동식 프로브 카드 반송 장치, 프로브 장치,및 프로브 카드를 프로브 장치에 반입하는 방법 |
JP2005189202A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Hioki Ee Corp | プローブ駆動機構 |
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