KR100897494B1 - Probe Pin Assembly of Probe Unit - Google Patents

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Abstract

본 발명은 탐침 결합체에 관한 것으로, 그 구성은 탐침; 상기 탐침이 수용되는 하우징; 상기 탐침이 삽입 고정되는 다수개의 슬롯이 형성된 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트;를 포함하며, 상기 제1 핀 플레이트의 슬롯과 상기 제2 핀 플레이트의 슬롯은 서로 엇갈리게 형성되게 하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a probe assembly, the configuration of the probe; A housing in which the probe is accommodated; And a first pin plate and a second pin plate having a plurality of slots into which the probe is inserted and fixed, wherein the slots of the first pin plate and the slots of the second pin plate are staggered from each other. .

본 발명에 따르면, 탐침간의 간격을 최소화하여 삽입될 수 있을 뿐만 아니라 핀 플레이트 및 탐침을 단일 하우징 내에 고정할 수 있게 공간활용을 극대화할 수 있게 하는 효과가 있다.According to the present invention, the spacing between the probes can be minimized, and the pin plate and the probe can be fixed in a single housing, thereby maximizing space utilization.

탐침, 핀 플레이트, 하우징, 프로브 유닛 Probe, pin plate, housing, probe unit

Description

프로브 유닛의 탐침 결합체{Probe Pin Assembly of Probe Unit}Probe Pin Assembly of Probe Unit

도 1은 본 발명의 탐침 결합체를 나타내는 단면도.1 is a cross-sectional view showing a probe assembly of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 "A" 부분을 확대하여 나타내는 확대 단면도.FIG. 2 is an enlarged sectional view showing an enlarged portion "A" shown in FIG.

도 3은 도 2에 도시된 탐침 및 핀 플레이트를 나타내는 저면 부분 확대 사시도.3 is an enlarged bottom perspective view showing the probe and the pin plate shown in FIG.

도 4는 도 3에 도시된 탐침을 나타내는 부분 확대 측면도.4 is a partially enlarged side view showing the probe shown in FIG. 3;

도 4는 본 발명에 따른 제1,2 핀 플레이트에 슬롯을 형성시킨 형태를 나타내는 저면도.Figure 4 is a bottom view showing a form in which a slot is formed in the first and second pin plate according to the present invention.

<도면 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10 : 탐침 결합체 110 : 탐침10: probe combination 110: probe

112 : 수직편 114 : 수평편112: vertical piece 114: horizontal piece

120 : 제1 핀 플레이트 130 : 제2 핀 플레이트120: first pin plate 130: second pin plate

122,132 : 슬롯122,132: slot

본 발명은 탐침 결합체에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 탐침간의 간격을 최소화하여 삽입될 수 있을 뿐만 아니라 핀 플레이트 및 탐침을 단일 하우징 내에 고정할 수 있게 하여 공간활용을 극대화할 수 있게 하는 탐침 결합체에 관한 것이다.The present invention relates to a probe assembly, and more particularly to a probe assembly that can be inserted to minimize the gap between the probes, as well as to secure the pin plate and the probe in a single housing to maximize space utilization. will be.

일반적으로, TFT-LCD, PDP, OLED 등은 평판디스플레이의 일종으로써, 무수히 많은 셀로 이루어진 화소가 배열되어 소정의 크기를 갖고 있다. 평판 디스플레이(FPD)와 같은 평판 피검사체의 양부 검사는 피검사체의 각 전극에 대응하는 복수의 프로브를 갖춘 전기적 접속장치에 의한 통전 시험을 통하여 이루어진다.In general, TFT-LCD, PDP, OLED, etc. are a kind of flat panel display, in which pixels composed of a myriad of cells are arranged and have a predetermined size. Inspection of the quality of a flat object, such as a flat panel display (FPD), is made through an energization test by an electrical connection device having a plurality of probes corresponding to each electrode of the object under test.

이러한 전기적 접속장치에 이용되는 프로브에는 도전성 금속 세선을 피검사체 전극 패턴에 대응시켜 접착제로 고정한 니들형, 피검사체 전극에 대응하는 다수의 구멍에 스프링 핀을 배치한 스프링 핀형, 판상으로 형성된 블레이드형 등이 있다. 이 중 블레이드 타입의 프로브는 니들형, 스프링 핀형 프로브에 비해 비교적 적은 전극 피치에 대응할 수 있으며, 프로브의 교환도 용이한 장점이 있는데, 이러한 블레이드 타입의 프로브를 이용한 프로브 조립체에 대한 발명이 특허 제252566호 및 특허 제314586호에 개시되어 있다.The probe used for the electrical connection device includes a needle type in which a conductive metal thin wire is matched with an electrode pattern to be inspected with an adhesive, a spring pin shape in which spring pins are arranged in a plurality of holes corresponding to the electrode to be inspected, and a blade shape formed in a plate shape. There is this. Among these, the blade-type probe can correspond to a relatively small electrode pitch compared to the needle-type, spring pin-type probe, there is an advantage that the exchange of the probe is easy, the invention for the probe assembly using the blade-type probe is patented 252566 And 314586.

또한 내부 구조는 소자 마다 특징이 있지만 영상 신호를 인가하는 영상신호 전극 및 구동 회로는 공통적으로 구비되어 있다. 평판표시소자는 제조를 완료한 후, 평판 표시소자의 패드 전극에 프로브 조립체의 프로브를 접촉하여 전기신호를 인가함으로써 평판표시소자의 정상 유무를 확인하여 불량 표시소자를 조기에 제거하는 테스트(Test)공정을 진행하고 있다.In addition, although the internal structure is characteristic of each element, the video signal electrode and the driving circuit for applying the video signal are commonly provided. After the flat panel display device is manufactured, a test is performed to remove the defective display device early by checking whether the flat panel display device is normal by applying an electrical signal by contacting the probe of the probe assembly to the pad electrode of the flat panel display device. The process is in progress.

이와 같은 평판표시소자의 테스트는, 프로브 조립체를 구비한 프로브 유닛을 이용하여 이루어지고, 이와 같은 프로브 유닛의 프로브 조립체에서 구동 PCB와 구동 IC간의 전기적인 신호 전달은 스프링의 탄성을 이용한 미세 접촉 구조물로 연결하여 이루어지는 형태의 기술이 주로 사용되고 있다. 이것은 복잡한 기계가공품의 조립으로 이루어지기 때문에 가공 및 조립을 하고 있어 프로브 삽입 슬롯간의 간격을 특지어 간격 이상(45㎛) 유지하여야 하고 이를 유지하며 조립되야 하여 조립 공차가 발생하여 일대일 신호전달 정밀도에 있어 문제를 발생하여 정확한 정보 전달이 어려워지는 문제점이 있다. 즉, 프로브 삽입 슬롯의 간격이 너무 작을 경우 슬롯과 슬롯 사이 벽이 첫번째 가공 후 두번째 슬롯 가공시 손상된 문제점이 있다.The test of the flat panel display device is performed by using a probe unit having a probe assembly, and the electrical signal transmission between the driving PCB and the driving IC in the probe assembly of the probe unit is a micro contact structure using spring elasticity. The technology of the connection type is mainly used. Since this is done by assembling a complex machined product, it is being processed and assembled so that the gap between the insertion slots of probes should be kept above the interval (45㎛). There is a problem in that it is difficult to accurately transmit information. That is, if the spacing of the probe insertion slot is too small, there is a problem that the wall between the slot and the slot is damaged during the second slot machining after the first machining.

또한 탐침간의 간격이 널어 하나의 하우징에 고정하는 것이 곤란한 문제점이 있었다.In addition, there is a problem that it is difficult to fix in one housing due to the gap between the probes.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 탐침간의 간격을 최소화하여 삽입될 수 있을 뿐만 아니라 핀 플레이트 및 탐침을 단일 하우징 내에 고정할 수 있게 공간활용을 극대화할 수 있게 하는 탐침 결합체를 제공함에 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the object of the present invention can be inserted to minimize the interval between the probes, as well as to maximize the space utilization to fix the pin plate and the probe in a single housing It is to provide a probe assembly that allows.

본 발명은 앞서 본 목적을 달성하기 위하여 다음과 같은 구성을 가진다.The present invention has the following configuration to achieve the above object.

본 발명의 탐침 결합체는, 탐침; 상기 탐침이 수용되는 하우징; 상기 탐침이 삽입 고정되는 다수개의 슬롯이 형성된 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트;를 포함하며, 상기 제1 핀 플레이트의 슬롯과 상기 제2 핀 플레이트의 슬롯은 서로 엇갈 리게 형성되게 하는 것을 특징으로 한다.Probe conjugates of the present invention, the probe; A housing in which the probe is accommodated; And a first pin plate and a second pin plate having a plurality of slots into which the probe is inserted and fixed, wherein the slots of the first pin plate and the slots of the second pin plate are alternately formed. do.

또한 상기 탐침은 몸체 일측에서 몸체에 대해 수직하게 연장된 수직편과, 상기 몸체 타측으로 연장되는 수평편으로 이루어지며, 상기 수직편 및 수평편에 각각 형성된 접점부는 서로 상반된 방향으로 돌출되게 하며, 상기 제1 핀 플레이트 및 제 2 핀 플레이트는 상기 탐침에 마련된 수직편의 접점부와 상기 수평편의 접점부가 서로 이웃하게 마련되도록 한다.In addition, the probe is composed of a vertical piece extending vertically with respect to the body from one side of the body, and a horizontal piece extending to the other side of the body, the contact portions formed on the vertical piece and the horizontal piece respectively to protrude in opposite directions to each other, The first pin plate and the second pin plate are provided such that the contact portion of the vertical piece provided on the probe and the contact portion of the horizontal piece are adjacent to each other.

그리고 상기 하우징은 지지체에 의해 분리된 상부 공간부와 하부 공간부를 마련하며, 상기 상부 공간부 및 하부 공간부 양측 또는 한측에 탐침이 선택적으로 위치될 수 있게 한다.The housing provides an upper space portion and a lower space portion separated by a support, and allows the probe to be selectively positioned on both sides or one side of the upper space portion and the lower space portion.

그리고 상기 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트는 결합된 한쌍이 상기 하우징 내에 대칭되어 탐침이 상하 대칭되게 구비되는 것이 바람직하다.In addition, the first pin plate and the second pin plate is preferably a pair coupled to be symmetrical in the housing is provided with a probe up and down symmetrical.

또한 상기 수직편에는 접점부와의 사이에서 일측방향으로 절개된 절개부를 형성하며, 상기 절개부는 "

Figure 112007050602273-pat00001
" 형상인 것이 바람직하다.In addition, the vertical piece is formed with a cutout in one direction between the contact portion, the cutout "
Figure 112007050602273-pat00001
It is desirable to have a shape.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1에 도시된 바에 의하면 상기 탐침 결합체(10)는 탐침(110), 제1 핀 플레이트(120), 제2 핀 플레이트(130) 및 하우징(140)을 포함하여 이루어진다.As shown in FIG. 1, the probe assembly 10 includes a probe 110, a first pin plate 120, a second pin plate 130, and a housing 140.

상기 탐침(110)은 몸체(111) 일측 끝단에서 몸체에 대해 수직하게 연장된 수직편(112)과 몸체에서 수평하게 연장된 수평편(114)으로 이루어지며, 상기 수직편(111)과 수평편(114) 끝단은 접점부(113,115)가 형성되어 일측의 접점부(113)가 검사 대상체와 접점되며 타측의 접점부(115)는 프로브 카드 측과 접점되게 하고 있다. 또한 상기 몸체(111) 측을 관통 형성한 한쌍의 통공(116)이 형성되어 하우징(140) 핀에 의해 결합될 수 있게 하고 있다.The probe 110 is composed of a vertical piece 112 extending perpendicular to the body at one end of the body 111 and a horizontal piece 114 extending horizontally from the body, the vertical piece 111 and the horizontal piece (114) At the ends, contact portions 113 and 115 are formed so that one contact portion 113 contacts the test object and the other contact portion 115 contacts the probe card side. In addition, a pair of through holes 116 formed through the body 111 side are formed to be coupled by the housing 140 pin.

또한 도 4에 도시된 바와 같이 상기 수직편(112)과 수직편(112) 끝단의 접점부(113) 사이에 상부로 절개된 절개부(117)를 형성하여 접점부(113)가 검사 대상체와 접지시 절개부(117)에 의해 앞뒤로 유동되며 접점부로 하여금 검사 대상체에 스크래치가 발생되는 것을 방지하게 하고 있고 검사 대상체와의 접지력을 강화할 수 있게 하고 있다. 여기서 상기 절개부(113)는 "

Figure 112007050602273-pat00002
" 형상인 것이 바람직하다. 이는 접점부가 접지시 상부로 개방된 절개부에 앞뒤 방향으로 유동될 수 있게 하기 위함이다.In addition, as shown in FIG. 4, an upper cut portion 117 is formed between the vertical piece 112 and the contact part 113 at the end of the vertical piece 112 so that the contact part 113 is connected to the test object. It is flowed back and forth by the cutout 117 at the time of grounding to allow the contact portion to prevent the scratch from occurring in the test object and to strengthen the grounding force with the test object. Wherein the cutout 113 is "
Figure 112007050602273-pat00002
It is desirable to have a shape, in order to allow the contact portion to flow back and forth in the incision open to the top when grounded.

상기 제1 핀 플레이트(120)는 도 2 또는 도 3에 도시된 바와 같이 전면에 수직하게 절개한 슬롯(122)이 길이 방향 따라 일정한 간격을 갖고 형성되어 있으며 후면에는 후술하는 제2 핀 플레이트(130)와 결합될 수 있게 결합홈(124)이 길이 방향을 따라 형성되어 있다.As shown in FIG. 2 or FIG. 3, the first pin plate 120 has a slot 122 vertically cut at the front side with a predetermined interval along the length direction, and a second pin plate 130 to be described later on the back side. Coupling groove 124 is formed along the longitudinal direction so that it can be combined with ().

상기 제2 핀 플레이트(130)는 하측면 상에 수평 방향으로 절개된 슬롯(132)이 길이 방향을 따라 일정한 간격을 갖고 형성되며, 전면에는 상기 결합홈(124)과 대응되게 돌출된 결합돌기(134)가 길이 방향을 따라 형성되어 있어 상기 제1 핀 플레이트(120)와 제2 핀 플레이트(130)가 결합될 수 있게 하고 있다.The second pin plate 130 has a slot 132 cut in the horizontal direction on the lower side is formed at a predetermined interval along the longitudinal direction, the front side has a coupling protrusion protruding corresponding to the coupling groove 124 ( 134 is formed along the length direction to allow the first pin plate 120 and the second pin plate 130 to be coupled to each other.

상기 하우징(140)은 지지체(143) 양측면에 수직하게 마련되는 벽체(141)로 형성되며, 상기 지지체(143)를 기준으로 상부 공간부(142)와 하부 공간부(144)가 형성되어 상기 상부 공간부(142)와 하부 공간부(144) 측에 각각 탐침이 수용될 수 있게 하고, 벽체(141) 측을 관통하는 삽입공(146)을 형성시켜 핀(미도시)이 삽입될 수 있게 한다.The housing 140 is formed of a wall 141 vertically provided on both sides of the support 143, and an upper space 142 and a lower space 144 are formed based on the support 143 to form the upper portion. Probes may be accommodated in the space portion 142 and the lower space portion 144, respectively, and an insertion hole 146 penetrating the wall 141 side may be formed to allow a pin (not shown) to be inserted. .

본 발명의 결합관계를 살펴보면, 상기 제1 핀 플레이트(120)와 제2 핀 플레이트(130)를 각각 결합한 것을 각각 하우징(140) 전면 하단과 후면 상측에 위치시킨 후 상기 상부 공간부(142) 측에 위치되는 탐침과 하부 공간부(144)에 위치하는 탐침을 각각 마련하여 상기 각각의 탐침 중 상부에 위치한 탐침은 수직편이 제1 핀 플레이트에 결합시키고, 수평편이 상부에 마련된 제2 핀 플레이트에 결합되게 한다. 그리고 하부 공간부에 위치한 탐침은 하우징 하측의 제2 핀 플레이트 측에 수평편이 결합되고, 하부징 상측의 제1 핀 플레이트에 탐침의 수직편이 결합시켜 상기 상부 공간부에 위치한 탐침과 대칭되게 결합되게 하여 하나의 하우징 내에 탐침을 세밀하게 위치시킬 수 있게 한다. 그리고 핀(미도시)을 이용해 하우징과 탐침을 결합시킨다.Looking at the coupling relationship of the present invention, after combining the first pin plate 120 and the second pin plate 130, respectively located on the lower side of the front and rear of the housing 140, the upper space portion 142 side Providing a probe located in the lower space portion 144 and a probe positioned in the upper portion of each of the probes, the vertical piece is coupled to the first pin plate, the horizontal piece is coupled to the second pin plate provided at the top To be. And the probe located in the lower space portion is coupled to the horizontal piece is coupled to the second pin plate side of the lower housing, the vertical piece of the probe is coupled to the first pin plate on the lower jingge to be symmetrically coupled to the probe located in the upper space portion Allows the probe to be precisely positioned in one housing. And pins (not shown) to couple the housing and the probe.

여기서 상기 하우징(140) 상부 공간부에 위치한 탐침과 하부 공간부에 위치한 탐침은 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트에 의해 서로 엇갈리게 배치되게 된다.Here, the probe located in the upper space portion of the housing 140 and the probe located in the lower space portion are alternately disposed by the first pin plate and the second pin plate.

예컨대, 도 5에 도시된 바와 같이 상기 제1 핀 플레이트(120) 일측에서 첫번재 슬롯(122)까지의 간격을 "L"이라 하고, 첫번째 슬롯(122)에서 다음 슬롯(122')까지의 간격을 "A"하며, 상기 제2 핀 플레이트(130) 일측 끝단에서 첫번째 슬 롯(132) 슬롯(132)까지의 간격을 "L'"라 하고, 첫번째 슬롯(132)에서 다음 슬롯(132')까지의 간격을 "A"라 하였을 때, 상기 슬롯(122',132')은 동일한 간격을 갖게 하고, 상기 제2 핀 플레이트의 첫번째 슬롯(132)이 형성되는 간격 "L'"는 상기 제1 핀 플레이트의 첫번째 슬롯(122)가 형성되는 간격 "L"과 상기 첫번째 슬롯(122)과 다음 슬롯(122') 간격 "A"를 나눈 값을 합하여 형성하면 첫번째 슬롯(122,132) 형성 위치가 달라지게 되어 제1 핀 플레이트의 슬롯과 제2 핀 플레이트의 슬롯이 서로 엇갈리게 형성되어 제1 핀 플레이트와 제2 핀 플레이트에 결합되는 탐침 사이 간격은 슬롯 간격의 절반에 해당되어 탐침 간격을 세밀하게 할 수 있게 되는 것이다. 여기서 상기 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트 일측 끝단은 동일 선상에 있게 하는 것은 주지사실이다.For example, as shown in FIG. 5, an interval from one side of the first pin plate 120 to the first slot 122 is referred to as “L”, and an interval from the first slot 122 to the next slot 122 ′. "A", and the distance from one end of the second pin plate 130 to the slot 132 of the first slot 132 is referred to as "L '" and the next slot 132' in the first slot 132. When the interval up to "A" is referred to, the slots 122 'and 132' have the same interval, the interval "L '" in which the first slot 132 of the second pin plate is formed is the first If the sum of the interval "L" in which the first slot 122 of the pin plate is formed and the value obtained by dividing the interval "A" in the first slot 122 and the next slot 122 'is summed, the position where the first slots 122 and 132 are formed is different. Slots of the first pin plate and the slots of the second pin plate are staggered to be coupled to the first pin plate and the second pin plate. Is the distance between the probe is to be able to be half the slot interval to the finer the probe interval. Here, it is the governor's fact that one end of the first pin plate and the second pin plate are in the same line.

한편 본 발명의 바람직한 실시예로서 상기 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트를 결합하여 탐침이 하우징 상,하부에 마련되게 하는 것을 기재하고 있으나 상기 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트를 이용하여 하우징 내의 상부 공간부 또는 하부 공간부 중 어느 한 곳에만 탐침이 위치되게 함으로써 검사 대상과의 접점 위치에 따라 탐침 간격을 조정할 수도 있다. 즉 검사 대상과의 접점 간격이 넓으면 상부 또는 하부 한 곳에 위치한 탐침만을 이용하게 함으로써 가능하다.Meanwhile, as a preferred embodiment of the present invention, the probe is coupled to the first pin plate and the second pin plate so that the probe is provided on the upper and lower portions of the housing, but the first pin plate and the second pin plate are used in the housing. The probe spacing may be adjusted according to the position of contact with the test object by having the probe positioned only in either the upper space portion or the lower space portion. In other words, if the contact distance with the inspection object is wide, it is possible to use only the probe located in the upper or lower one.

이상의 본 발명은 상기에 기술된 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 청구항에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함된다.The present invention is not limited to the embodiments described above, and various modifications and changes can be made by those skilled in the art, which are included in the spirit and scope of the present invention as defined in the appended claims.

본 발명에 따르면, 탐침간의 간격을 최소화하여 삽입될 수 있을 뿐만 아니라 핀 플레이트 및 탐침을 단일 하우징 내에 고정할 수 있게 공간활용을 극대화할 수 있게 하는 효과가 있다.According to the present invention, the spacing between the probes can be minimized, and the pin plate and the probe can be fixed in a single housing, thereby maximizing space utilization.

또한 대칭되게 위치한 제1,2 핀 플레이트를 이용하여 하우징 내의 상부 또는 하부 공간부에 탐침을 위치시킬 수 있게 하여 검사 대상체와의 접점 간격에 맞게 탐침 간격을 조정할 수 있는 기대 효과가 있다.In addition, it is possible to position the probe in the upper or lower space in the housing by using the symmetrically positioned first and second pin plate to have the expected effect of adjusting the probe spacing according to the contact distance with the test object.

그리고 수직편 측에 형성된 절개부에 의해 검사대상체와의 접점시 수직편이 앞뒤로 유동할 수 있게 함으로서 검사대상체에 발생할 수 있는 스크래치를 억제할 수 있을 뿐만 아니라 검사대상체와의 접점을 강화할 수 있는 기대 효과가 있다.In addition, the cutout formed on the side of the vertical piece allows the vertical piece to flow back and forth during the contact with the inspection object, thereby reducing scratches that may occur on the inspection object as well as enhancing the contact with the inspection object. have.

Claims (7)

탐침;probe; 상기 탐침이 수용되는 하우징;A housing in which the probe is accommodated; 상기 탐침이 삽입 고정되는 다수개의 슬롯이 형성된 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트;를 포함하며,And a first pin plate and a second pin plate having a plurality of slots into which the probe is inserted and fixed. 상기 제1 핀 플레이트의 슬롯과 상기 제2 핀 플레이트의 슬롯은 서로 엇갈리게 형성되고,The slot of the first pin plate and the slot of the second pin plate are alternately formed, 상기 탐침은 몸체 일측에서 몸체에 대해 수직하게 연장된 수직편과, 상기 몸체 타측으로 연장되는 수평편으로 이루어지며, 상기 수직편 및 수평편에 각각 형성된 접점부는 서로 상반된 방향으로 돌출되고, 상기 수직편에는 접점부와의 사이에서 일측방향으로 절개된 절개부를 형성하는 것을 특징으로 하는 탐침 결합체. The probe is composed of a vertical piece extending vertically with respect to the body from one side of the body, and a horizontal piece extending to the other side of the body, the contact portions formed on the vertical piece and the horizontal piece respectively protrude in opposite directions to each other, the vertical piece The probe assembly, characterized in that for forming a cut out in one direction between the contact portion . 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 핀 플레이트 및 제 2 핀 플레이트는 상기 탐침에 마련된 수직편의 접점부와 상기 수평편의 접점부가 서로 이웃하게 마련되도록 하며, 상기 수직편은 접점부와의 사이에서 일측방향으로 절개된 절개부를 형성 것을 특징으로 하는 탐침 결합체.The first pin plate and the second pin plate are provided such that the contact portion of the vertical piece and the contact portion of the horizontal piece provided in the probe are adjacent to each other, and the vertical piece forms an incision cut in one direction between the contact portion and the contact portion. Probe combinations, characterized in that. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 하우징은 지지체에 의해 분리된 상부 공간부와 하부 공간부를 마련하며, 상기 상부 공간부와 하부 공간부 양측 또는 한측에 탐침이 선택적으로 위치될 수 있게 하는 것을 특징으로 하는 탐침 결합체.The housing provides an upper space portion and a lower space portion separated by a support, the probe assembly, characterized in that the probe can be selectively positioned on both sides or one side of the upper space and the lower space . 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 핀 플레이트 및 제2 핀 플레이트는 결합된 한쌍이 상기 하우징 내에 대칭되어 탐침이 상하 대칭되게 구비되는 것을 특징으로 하는 탐침 결합체.The first pin plate and the second pin plate is a probe combination, characterized in that the pair is symmetrical in the housing provided with the probe is up and down symmetrical. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 절개부는 "
Figure 112008081493412-pat00003
" 형상인 것을 특징으로 하는 탐침 결합체.The incision is "
Figure 112008081493412-pat00003
Probe shape, characterized in that the shape.
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