KR100852614B1 - 기록 방법，기록 장치，프로그램이 기록된 기록 매체 및 기록 제어 장치 - Google Patents

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이사오 고바야시
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Abstract

본 발명의 기록 방법은 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 방법으로, (a) 상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝과, (b) 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 조건으로 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝을 포함하고, 상기 스텝 (b)는 (b-1) 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 하나의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 스텝과, (b-2) 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함한다.
Figure R1020067008398
기록 방법, 기록 조건, 테스트 정보, 괴리, 기록 제어 장치

Description

기록 방법，기록 장치，프로그램이 기록된 기록 매체 및 기록 제어 장치{Recording method，recording apparatus，recording medium have recorded thereon a program and recording control apparatus}
본 발명은 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 방법, 기록 장치, 프로그램이 기록된 기록 매체 및 기록 제어 장치에 관한 것이다.
광디스크 장치는 레이저광을 광디스크에 조사함으로써 광디스크에 디지털 정보를 기록한다. 그러나, 광디스크 장치 및 광디스크는 개체차를 갖기 때문에, 광디스크에 기록된 신호의 품질이 저하된다. 개체차에 기인하는 신호 품질의 저하를 막기 위해서, 예를 들면, 광디스크를 광디스크 장치에 장착할 때에 신호를 테스트 기록하여, 예를 들면, 조사 파워 및 광펄스 형상을 최적으로 한다.
도 10은 종래의 광디스크 장치(400)의 구성을 도시한다.
광디스크 장치(400)는 광디스크(401)가 장착 가능하도록 구성되어 있다. 광디스크 장치(400)는 광헤드(402)와, 재생 수단(404)과, 복조·ECC회로(406)와, 기록 조건 결정 수단(408)과, 기록 보상 회로(409)와, 레이저 구동 회로(412)와, 기록 파워 설정 수단(411)을 구비한다.
기록 조건 결정 수단(408)은 기록 펄스 위치와 기록 파워를 결정한다. 기록 보상 회로(409)는 기록 조건 결정 수단(408)의 결정에 따라서 기록 펄스 위치를 설정한다. 기록 파워 설정 수단(411)은 기록 조건 결정 수단(408)의 결정에 따라서 기록 파워를 설정한다. 레이저 구동 회로(412)는 광헤드(402)가 광디스크(401)에 대하여 소정의 테스트 기록을 하도록, 광헤드(402)를 제어한다.
테스트 기록이 끝나면, 레이저 구동 회로(412)는 광헤드(402)가 광디스크(401)에 기록된 신호를 재생하도록, 광헤드(402)를 제어한다. 재생 신호(403)는 재생 수단(404)에 입력된다.
도 11은 재생 수단(404)의 구성을 도시한다.
재생 수단(404)은 프리앰프(501)와, 이퀄라이저(502; equalizer)와, 로우패스 필터(503)와, 2치화회로(505)와, PLL(507; Phase Locked Loop)과, 에지 간격 측정 회로(508)와, 지터(jitter) 연산회로(510)를 구비한다.
프리앰프(501)는 재생 신호(403)를 증폭하고, 이퀄라이저(502) 및 로우패스 필터(503)는 증폭된 재생 신호(403)를 파형 등화함으로써, 신호(504)를 생성한다. 2치화회로(505)는 신호(504)와 슬라이스 레벨에 기초하여 펄스 신호(506)를 생성한다. 2치화회로(505)는 마크의 적분치와 스페이스의 적분치가 같아지도록, 슬라이스 레벨을 통상 수십KHz의 대역으로 동작한다. 펄스 신호(506)는 PLL(507)에 입력된다.
도 12는 PLL(507)의 구성을 도시한다.
PLL(507)은 위상 비교기(601)와, 로우패스 필터(602)와, VCO(603)와, 플립플롭(605)과, 분주회로(606)와, 게이트회로(607)를 구비한다.
위상 비교기(601)는 펄스 신호(506)의 위상과 게이트회로(607)로부터 출력된 신호(608)의 위상과의 차를 검출한다. 위상 비교기(601)는 펄스 신호(506)와 신호(608)의 위상차 및 주파수차를 나타내는 오차 신호를 생성한다.
로우패스 필터(602)는 오차 신호의 저주파 성분만을 추출하여, VCO(603)의 제어 전압을 나타내는 제어 신호를 생성한다. VCO(603)는 제어 전압에 기초하여 클록 신호(604)를 생성한다. 분주회로(606)는 클록 신호(604)를 분주한다. 게이트회로(607)는 분주된 클록 신호(604)에 기초하여, 신호(608)를 생성한다. VCO(603)는 위상 비교기(602)에 입력되는 2개의 신호(펄스 신호(506) 및 신호(608))의 위상이 같아지도록 제어된다. 이렇게 하여, PLL(507)은 펄스 신호(506)에 기초하여, 신호(405)를 생성한다.
2치화회로(505)로부터 출력된 펄스 신호(506)와, 플립플롭(605)으로부터 출력된 신호(405)가 에지 간격 측정 회로(508)에 입력되면, 에지 간격 측정 회로(508)는 2개의 펄스의 에지 간격(t0, t1, t2, t3, t4, t5, t6, t7, t8, t9···)을 측정하여, 지터 연산회로(510)에 에지 간격을 나타내는 신호(505)를 출력한다(도 13 참조).
지터 연산회로(510)는 에지 간격을 적분한다.
도 14는 에지 간격의 분포를 도시한다. 지터 연산회로(510)는 예를 들면, 에지 간격의 분포에 기초하여 표준 편차를 산출하고, 산출 결과를 나타내는 신호(407)를 기록 조건 결정 수단(408)에 출력한다. 기록 조건 결정 수단(408)은 신호(407)에 기초하여 최적의 기록 조건을 탐색한다.
특허문헌 1: 일본 공개특허공보2000-200418호
발명이 해결하고자 하는 과제
그러나, 기록 데이터의 최단 마크 길이가 대단히 짧은 경우에는 예를 들면, 부호간 간섭에 기인하여, 에지 간격의 분포의 일부가 윈드폭을 넘는 경우가 있다(도 15 참조). 이 경우에도 정규 분포로부터 벗어나는 부분은 전체의 총수에 대하여 대단히 적고, 표준 편차는 분포의 중심부분이 지배적이기 때문에, 지터의 증가는 작다. 그러나, 실제로는 윈드폭을 넘어서 에러가 되었기 때문에, 에러 발생 확률은 증대하였다. 즉 에러 발생 확률이 다른 경우에도 지터가 같아지는 경우가 있다. 따라서, 지터만으로부터 정확한 에러 발생 확률을 예측하는 것이 곤란한 경우가 있었다.
본 발명은 상기 과제를 감안하여 이루어진 것으로, 최단 마크 길이가 종래보다도 짧은 경우에도 올바른 기록을 하기 위한 기록 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
과제를 해결하기 위한 수단
본 발명의 기록 방법은 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 방법이며, (a) 상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝과, (b) 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로, 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝을 포함하고, 상기 스텝 (b)는 (b-1) 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 하나의 소망 신호의 괴리를 산출하는 스텝과, (b-2) 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하고, 이것에 의해, 상기 목적이 달성된다.
상기 스텝 (a)는 (a-1) 초기 조건을 결정하는 스텝과, (a-2) 상기 초기 조건에 기초하여, 적어도 하나의 기록 조건을 결정하는 스텝을 포함하여도 좋다. 상기 복수의 기록 조건은 상기 초기 조건과 상기 결정된 적어도 하나의 기록 조건을 포함한다.
상기 스텝 (b-1)은 상기 기록 매체로부터 상기 복수의 테스트 정보를 재생함으로써, 상기 복수의 테스트 신호를 얻는 스텝과, 상기 복수의 테스트 신호를 최우(最尤) 복호하고, 상기 최우 복호의 결과를 나타내는 복수의 2치화 신호를 생성하는 스텝과, 상기 복수의 테스트 신호와 상기 복수의 2치화 신호에 기초하여, 상기 최우 복호의 결과의 신뢰성을 계산하는 계산 스텝을 포함하고, 상기 스텝 (b-2)는 상기 신뢰성을 나타내는 복수의 값에 기초하여, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하여도 좋다.
상기 스텝 (b-2)는 상기 복수의 기록 조건 중, 상기 신뢰성을 나타내는 복수의 값 중 최소치에 대응하는 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하여도 좋다.
상기 스텝 (b-1)은 상기 기록 매체로부터 상기 복수의 테스트 정보를 재생함으로써, 상기 복수의 테스트 신호를 얻는 스텝과, 상기 복수의 테스트 신호의 각각 기초하여, 복수의 패스를 생성하는 스텝과, 상기 복수의 테스트 신호의 각각과 상기 복수의 패스에 기초하여, 상기 복수의 테스트 신호의 신뢰성을 나타내는 복수의 지표를 계산하는 계산 스텝을 포함하고, 상기 스텝 (b-2)는 상기 복수의 지표에 기초하여, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하여도 좋다.
상기 스텝 (b-2)는 상기 복수의 기록 조건 중, 상기 복수의 지표 중 최소치에 대응하는 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하여도 좋다.
상기 복수의 기록 조건에는 선택되는 우선순위가 부가되어 있어도 좋다.
상기 스텝 (b)는 상기 선택된 하나의 기록 조건에 따라서, 광에 포함되는 복수의 광펄스의 상대위치를 결정하는 스텝과, 상기 광을 상기 기록 매체에 조사함으로써, 소정의 길이를 갖는 복수의 기록 마크를 상기 기록 매체에 형성하는 스텝을 포함하여도 좋다.
상기 소정의 길이를 갖는 복수의 기록 마크는 최단 기록 마크를 포함하여도 좋다.
상기 소정의 길이를 갖는 복수의 기록 마크는 최단 기록 마크의 다음으로 긴 기록 마크를 포함하여도 좋다.
상기 스텝 (b)는 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하기 위해서 상기 기록 매체에 형성되는 복수의 기록 마크의 길이에 따라서, 광에 포함되는 복수의 광펄스의 상대위치를 결정하는 스텝과, 상기 광을 상기 기록 매체에 조사함으로써, 상기 정보를 기록하는 스텝을 포함하여도 좋다.
상기 복수의 기록 마크 중, 최단 기록 마크의 길이에 따라서, 상기 복수의 광펄스의 상대위치를 결정하여도 좋다.
상기 복수의 기록 마크 중, 최단 기록 마크의 다음으로 긴 기록 마크의 길이에 따라서, 상기 복수의 광펄스의 상대위치를 결정하여도 좋다.
상기 초기 조건은 상기 기록 매체 제작시에 상기 기록 매체에 기록되어 있어도 좋다.
에지 시프트량 및 지터 중 적어도 한쪽에 기초하여, 소정의 기록 조건을 결정하는 스텝을 더욱 포함하여도 좋다. 또, 상기 소정의 기록 조건은 상기 복수의 기록 조건에 포함된다.
상기 스텝 (a-1)은 상기 소정의 기록 조건을 상기 초기 조건으로 하여 결정하는 스텝을 포함하여도 좋다.
본 발명의 기록 장치는 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 장치로, 상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 제 1 기록 수단과, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로, 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 제 2 기록 수단을 구비하고, 상기 제 2 기록 수단은 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 하나의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 산출부와, 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하는 선택부를 구비하고, 이것에 의해, 상기 목적이 달성된다.
본 발명의 프로그램이 기록된 기록 매체는 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 처리를 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램이 기록된 기록 매체이며, 상기 기록 처리는 (a) 상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝과, (b) 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로, 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝을 포함하고, 상기 스텝 (b)는 (b-1) 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 하나의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 스텝과, (b-2) 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하고, 이것에 의해, 상기 목적이 달성된다.
본 발명의 기록 제어 장치는 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로, 정보를 기록 매체에 기록하기 위한 기록 제어 장치이며, 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 하나의 소망 신호와의 괴리를 산출하기 위한 산출부와, 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택하기 위한 선택부를 구비하고, 이것에 의해, 상기 목적이 달성된다.
발명의 효과
본 발명의 기록 방법, 기록 장치, 프로그램이 기록된 기록 매체 및 기록 제어 장치에 의하면, 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호와 소망 신호의 괴리를 산출하여, 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건을 선택한다. 따라서, 하나의 기록 조건을 소망 신호의 조건에 정합시키기 위해서, 복수의 기록 조건으로부터 하나의 기록 조건을 선택하는 것만으로, 소망 신호의 조건과 가까운 조건으로 정보를 기록 매체에 기록할 수 있다. 그 결과, 간단한 회로 구성으로 기록 파라미터의 최적화를 도모할 수 있다.
또, 본 발명의 기록 방법에 의하면, 사용자 데이터의 기록 전에 테스트 기록을 하고, PRML 오차 지표(M)가 작아지는 조건으로 사용자 데이터를 기록하기 위해서, 최단 마크 길이가 짧은 경우에도 올바른 기록을 할 수 있다.
또, 본 발명의 기록 방법에 의하면, 사용자 데이터의 기록 전에 테스트 기록을 하고, PRML 오차 지표(M)가 작아지는 조건으로 사용자 데이터의 기록을 함으로써, 광디스크의 품질의 불균일함이나 광디스크 장치의 품질의 불균일함에 영향을 미치지 않고, 데이터를 정확히 기록할 수 있다.
도 1은 최소 극성 반전 간격이 2인 기록 부호와 등화 방식 PR(1, 2, 2, 1))로 정해지는 상태 천이칙을 나타내는 상태 천이도 A.
도 2는 상태 천이도 A를 시간축에 따라 전개함으로써 얻을 수 있는 트렐리스도.
도 3은 Pa-Pb의 분포를 도시하는 도면.
도 4는 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치(100)의 구성을 도시하는 도면.
도 5는 광디스크(101)의 구성을 도시하는 도면.
도 6은 기록시에 광헤드(102)가 조사하는 광의 파형을 도시하는 도면.
도 7은 3T 마크의 펄스 위치를 최적화하기 위해서 광디스크에 기록된 테스트 신호를 도시하는 도면.
도 8은 펄스 위치를 최적화하기 위한 복수의 조건의 결정 순서를 설명하기 위한 도면.
도 9는 재생 수단(104)의 구성을 도시하는 도면.
도 10은 종래의 광디스크 장치(400)의 구성을 도시하는 도면.
도 11은 재생 수단(404)의 구성을 도시하는 도면.
도 12는 PLL(507)의 구성을 도시하는 도면.
도 13은 재생 수단(404)에 포함되는 복수의 구성요소에 의해서 생성된 신호를 도시하는 도면.
도 14는 에지 간격의 분포를 도시하는 도면.
도 15는 에지 간격의 분포를 도시하는 도면.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 간단한 설명 *
100 : 광디스크 장치 101 : 광디스크
102 : 광헤드 104 : 재생 수단
106 : 복조·ECC회로 108 : 기록 조건 결정 수단
109 : 기록 보상 회로 111 : 기록 파워 설정 수단
112 : 레이저 구동 회로 201 : 프리앰프
202 : 하이패스 필터 203 : AGC회로
204 : 파형 등화기 205 : A/D 변환기
206 : 정형부 207 : 최우 복호기
208 : 신뢰성 계산부
발명을 실시하기 위한 최선의 형태
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다.
처음에, 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치에 의해서 참조되는 PRML 오차 지표(M; 이하, 「지표(M)」라고 함)를 설명하고(「1. 지표(M)에 관해서」를 참조), 다음에, 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치의 상세를 설명한다(「2. 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치」를 참조).
1. 지표(M)에 관해서
처음에, 최우 복호법에 기초한 재생 신호평가를 위한 지표(M)를 설명한다. 최우 복호법은 일반적으로, 재생 신호의 파형과 미리 추정된 파형을 비교함으로써, 재생 신호의 파형의 패턴을 판정하고, 판정 결과에 기초하여, 재생 신호를 복호하는 복호방법이다.
이하, 기록 부호의 최소 극성 반전 간격이 2이고, 신호의 파형은 신호의 주파수 특성이 PR(1, 2, 2, 1) 등화가 되도록 정형되어 있다고 한다.
현시각의 기록 부호를 bk로 하고, 1시각 전의 기록 부호를 bk-1로 하며, 2시각 전의 기록 부호를 bk-2로 하고, 3시각 전의 기록 부호를 bk-3으로 한다. PR(1, 2, 2, 1) 등화의 이상적인 출력치 Levelv은 (식 1)로 나타내진다.
(식 1)
Levelv=bk-3+2bk-2+2bk-1+bk
여기에서, k는 시각을 나타내는 정수이고, v는 0-6까지의 정수이다.
표 1은 시각 k에서의 상태를 S(bk-2, bk-1, bk)로 도시한 상태 천이 표이다.
[표 1]
표 1:최소 반전 간격 2와 PR(1, 2, 2, 1)의 제약으로부터 정해지는 상태 천이 표
시각 k-1에서의 상태 S(bk-3, bk-2, bk-1) 시각 k에서의 상태 S(bk-2, bk-1, bk) bk/Levelv
S(0, 0, 0) S(0, 0, 0) 0/0
S(0, 0, 0) S(0, 0, 1) 1/1
S(0, 0, 1) S(0, 1, 1) 1/3
S(0, 1, 1) S(1, 1, 0) 0/4
S(0, 1, 1) S(1, 1, 1) 1/5
S(1, 0, 0) S(0, 0, 0) 0/1
S(1, 0, 0) S(0, 0, 1) 1/2
S(1, 1, 0) S(1, 0, 0) 0/3
S(1, 1, 1) S(1, 1, 0) 0/5
S(1, 1, 1) S(1, 1, 1) 1/6
도 1은 최소 극성 반전 간격이 2인 기록 부호와 등화 방식 PR(1, 2, 2, 1)로부터 정해지는 상태 천이칙을 나타내는 상태 천이도 A이다. 상태 천이도 A는 표 1을 참조함으로써 얻을 수 있다.
SOk는 시각 k에서의 상태 S(O, O, O)k를 나타내고, S1k는 시각 k에서의 상태 S(O, O, 1)k를 나타내고, S2k는 시각 k에서의 상태 S(0, 1, 1)k를 나타내고, S3k는 시각 k에서의 상태S(1, 1, 1)k를 나타내고, S4k는 시각 k에서의 상태 S(1, 1, 0)k를 나타내고, S5k는 시각 k에 있어서의 상태 S(1, O, 0)k를 나타낸다.
도 2는 상태 천이도 A를 시간축에 따라 전개함으로써 얻을 수 있는 트렐리스도이다.
이하, 도 1과 도 2를 참조하여, 최소 극성 반전 간격이 2인 기록 부호와 등화 방식 PR(1, 2, 2, 1)로부터 정해지는 상태 천이를 설명한다.
시각 k에서의 상태 S0k와 시각 k-4에 있어서의 상태 S2k-4에 주목한다. 도 2는 상태 SOk와 상태 S2k-4의 사이에서 취할 수 있는 2개의 상태 천이열(패스 A, 패스 B)을 도시한다. 패스 A의 천이는 상태 S2k-4, 상태 S4k-3, 상태 S5k-2, 상태 S0k-1, 상태 S0k이다. 패스 B의 천이는 상태 S2k-4, S3k-3, S4k-2, S5k-1, S0k이다.
(Ck -6, Ck -5, Ck -4, Ck -3, Ck -2, Ck -1, Ck)가 시각 k-6으로부터 시각 k까지의 최우 복호 결과를 나타낸다고 하면, (Ck -6, Ck -5, Ck -4, Ck -3, Ck -2, Ck -1, Ck)=(O, 1, 1, x, O, 0, 0)이 되는 복호 결과(x는 O 또는 1의 값)가 얻어진 경우에는 패스 A 및 패스 B 중 어느 것이 가장 확실한지 추정되게 된다. 패스 A 및 패스 B의 양쪽 모두, 시각 k-4에 있어서의 상태가 상태 S2k-4인 것의 확률은 같기 때문에, 시각 k-3에 있어서의 재생 신호 yk-3으로부터 시각 k에서의 재생 신호 yk까지의 값과, 패스 A 및 패스 B 각각의 기대치와의 차를 2승한 값의 누적치를 구함으로써, 패스 A와 패스 B의 어느 것이 확실한지를 알 수 있다.
시각 k-3에 있어서의 재생 신호 yk-3과 시각 k-3에 있어서의 패스 A의 기대치의 차의 2승치, 시각 k-2에 있어서의 재생 신호 yk-2와 시각 k-2에 있어서의 패스 A의 기대치의 차의 2승치, 시각 k-1에 있어서의 재생 신호 yk-1과 시각 k-1에 있어서 의 패스 A의 기대치의 차의 2승치 및 시각 k에서의 재생 신호 yk와 시각 k에서의 패스 A의 기대치의 차의 2승치의 누적치를 Pa로 하면 Pa는 (식 1)로 나타내진다.
(식 1)
Pa=(yk-3-4)2+(yk-2-3)2+(yk-1-1)2+(yk-O)2
시각 k-3에 있어서의 재생 신호 yk-3과 시각 k-3에 있어서의 패스 B의 기대치의 차의 2승치, 시각 k-2에 있어서의 재생 신호 yk-2와 시각 k-2에 있어서의 패스 B의 기대치의 차의 2승치, 시각 k-1에 있어서의 재생 신호 yk-1과 시각 k-1에 있어서의 패스 B의 기대치의 차의 2승치 및 시각 k에서의 재생 신호 yk와 시각 k에서의 패스 B의 기대치의 차의 2승치의 누적치를 Pb로 하면 Pb는(식 2)으로 나타내진다.
(식 2)
Pb=(yk-3-5)2+(yk-2-5)2+(yk-1-3)2+(yk-1)2
따라서, Pa-Pb는 최우 복호 결과의 신뢰성을 나타낸다.
도 3은 Pa-Pb의 분포를 도시한다. 이하, 차 Pa-Pb의 의미를 설명한다. Pa<<Pb이면, 최우 복호부는 패스 A를 높은 확률로 선택하고, Pa>>Pb이면, 최우 복호부는 패스 B를 높은 확률로 선택한다. 또한 Pa=Pb이면, 최우 복호부는 패스 A 또는 패스 B를 선택할 가능성은 50퍼센트이고, 최우 복호부의 복호 결과가 올바를 가능성은 50퍼센트이다. 이렇게 하여 소정의 시간 또는 소정의 회수, 복호 결과에 기초하여 Pa-Pb를 산출함으로써 Pa-Pb의 분포가 얻어진다.
도 3a는 노이즈가 중첩된 재생 신호에 기초하여 산출된 Pa-Pb의 분포를 도시한다. 분포는 2개의 피크를 갖는다. 하나는 Pa=0이 될 때에 빈도가 극대가 되고, 또 하나는 Pb=O이 될 때 빈도가 극대가 된다.
Pa-Pb의 절대치를 계산하여, ｜Pa-Pb｜-Pstd를 구한다. 여기에서, -Pstd는 Pa-Pb의 값을 나타내고(단, Pa=O), Pstd는 Pa-Pb의 값을 나타낸다(단, Pb=O).
도 3b는 ｜Pa-Pb｜-Pstd의 분포를 도시한다. 도 3b에 도시하는 분포의 표준 편차(σ)와 평균치(Pave)를 구한다. 도 3b에 도시하는 분포가 정규 분포라고 하고, 예를 들면 σ와 Pave에 기초하여 복호 결과의 신뢰성 ｜Pa-Pb｜의 값이 -Pstd 이하가 될 때를 오류가 발생한 상태로 하면, 오류 확률 P(σ, Pave)는 (식 3)과 같이 나타내진다.
(식 3)
P(σ, Pave)=erfc((Pstd+Pave)/σ)
Pa-Pb의 분포로부터 계산한 평균치(Pave)와 표준 편차(σ)로부터 최우 복호 결과를 나타내는 2치화 신호의 오류율을 예상할 수 있다. 요컨대 평균치(Pave)와 표준 편차(σ)를 재생 신호 품질의 지표로 할 수 있다.
또, 상기한 예에서는 ｜Pa-Pb｜의 분포가 정규 분포가 되는 것을 가정하였지만, 분포가 정규 분포가 아닌 경우에는 ｜Pa-Pb｜-Pstd의 값이 소정의 기준치 이하가 되는 회수를 카운트하고, 그 카운트수를 신호 품질의 지표로 하는 것도 가능하다.
최소 극성 반전 간격이 2인 기록 부호와 등화 방식 PR(1, 2, 2, 1)로부터 정해지는 상태 천이칙의 경우, 상태가 천이할 때의 2개의 상태 천이열을 취할 수 있는 조합은 시각 k-4로부터 시각 k의 범위에서는 8패턴 있고, 시각 k5로부터 시각 k의 범위에서는 16패턴이다.
여기에서 중요한 것은 신뢰성 Pa-Pb를 재생 신호 품질의 지표로 함으로써, 모든 패턴을 검출하지 않더라도, 잘못할 가능성(오류율)이 큰 패턴만을 검출하면, 그 검출 결과를 오류율과 상관이 있는 지표로 할 수 있다. 여기에서, 잘못할 가능성이 큰 패턴은 신뢰성 Pa-Pb의 값이 소(小)가 되는 패턴이고, Pa-Pb=±10이 되는 8패턴이다. 이 8패턴과 Pa-Pb에 대해서 정리하면 (표 2)와 같아진다.
[표 2]
표 2 : 2개의 천이를 취할 수 있는 최단의 상태 천이의 조합
상태 천이 복호결과의 신뢰성 Pa-Pb
Pa=0인 경우 Pb=0인 경우
S2k-4→SOk -10 +10
S3k-4→SOk -10 +10
S2k-4→S1k -10 +10
S3k-4→S1k -10 +10
S0k-4→S4k -10 +10
S5k-4→S4k -10 +10
S0k-4→S3k -10 +10
S5k-4→S3k -10 +10
상기 8가지의 복호 결과의 신뢰성 Pa-Pb를 정리하면 (식 4)를 얻을 수 있다.
[수학식 1]
(식 4)
Pattern-1
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(O, 1, 1, X, O, O, O)일 때 Pa-Pb=(Ek-3-Fk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Ak-Bk)
Pattern-2
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(1, 1, 1, X, O, O, O)일 때 Pa-Pb=(Fk-3-Gk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Ak-Bk)
Pattern-3
(Ck -6, Ck -5, Ck -4, Ck -3, Ck -2, Ck -1, Ck)=(O, 1, 1, X, O, O, 1)일 때 Pa-Pb=(Ek-3-Fk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Bk-Ck)
Pattern-4
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(1, 1, 1, X, O, O, 1)일 때 Pa-Pb=(Fk-3-Gk-3)+(Dk-2-Fk-2)+(Bk-1-Dk-1)+(Bk-Ck)
Pattern-5
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(O, O, O, X, 1, 1, O)일 때 Pa-Pb=(Ak-3-Bk-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Ek-Fk)
Pattern-6
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(1, O, O, X, 1, 1, O)일 때 Pa-Pb=(Bk- 3-Ck-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Ek-Fk)
Pattern-7
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(O, O, O, X, 1, 1, 1)일 때 Pa-Pb=(Ak-3-Bk-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Fk-Gk)
Pattern-8
(Ck-6, Ck-5, Ck-4, Ck-3, Ck-2, Ck-1, Ck)=(1, O, O, X, 1, 1, 1)일 때 Pa-Pb=(Bk-3-Ck-3)+(Bk-2-Dk-2)+(Dk-1-Fk-1)+(Fk-Gk)
여기에서 Ak=(yk-0)2, Bk=(yk-1)2, Ck=(yk-2)2, Dk=(yk-3)2, Ek=(yk-1)2, Fk=(yk-5)2, Gk=(yk-6)2로 한다.
최우 복호 결과 ck로부터 (식 5)를 만족시키는 Pa-Pb를 구하고, 그 분포로부터 표준 편차(σ10)와 평균치(Pave10)를 산출한다. 정규 분포라고 가정하면 각각 오류를 일으키는 확률 P10은 (식 5)가 된다.
(식 5)
P10(σ10, Pave10)=erfc((10+Pave10)/σ10)
상기 8패턴은 1비트 시프트 에러를 일으키는 패턴이고, 다른 패턴은 2비트 이상의 시프트 에러를 일으키는 패턴이다. PRML 처리 후의 에러 패턴을 분석하면, 대부분이, 1비트 시프트 에러이기 때문에, (식 6)을 구하는 것으로 재생 신호의 오류율을 추정할 수 있다. 이와 같이, 표준 편차(σ10) 및 평균치(Pave10)를 재생 신호의 품질을 나타내는 지표로서 사용할 수 있다. 예를 들면, 상기한 지표를 지표(M)로 하여, (식 6)에 의해서 정의할 수 있다.
(식 6)
M=σ10/(2·dmin 2)[%]
단, dmin 2는 유클리드(Euclid) 거리의 최소치의 2승입니다. 예를 들면, 최소 극성 반전 간격이 2의 변조 부호와 PR(1, 2, 2, 1) ML 방식과의 조합에서는 dmin 2=10=Pstd이다. 또한, (식 5)에 있어서의 평균치(Pave10)는 0으로 가정하고, (식 6)의 지표의 계산에서는 고려하지 않는다.
이상, 최우 복호법에 기초한 재생 신호평가를 위한 지표(지표(M))를 설명하였다.
2. 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치
이하, 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치(100)의 구성 및 동작을 설명한다.
도 4는 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치(100)의 구성을 도시한다. 광디스크 장치(100)는 광디스크(101)가 장착 가능하도록 구성되어 있다.
도 5는 광디스크(101)의 구성을 도시한다. 광디스크(101)에는 그루브(groove) 트랙(601)이 형성되어 있다. 그루브 트랙(601)의 형상은 예를 들면, 소용돌이형 또는 동심원형이다. 그루브 트랙(601)은 기록 영역을 포함한다.
이하, 도 4를 참조하여, 광디스크 장치(100)의 구성을 설명한다. 광디스크 장치(100)는 광헤드(102)와, 재생 수단(104)과, 복조·ECC회로(106)와, 기록 조건 결정 수단(108)과, 기록 보상 회로(109)와, 기록 파워 설정 수단(111)과, 레이저 구동 회로(112)를 구비한다.
도 6은 기록시에 광헤드(102)가 조사하는 광의 파형을 도시한다. 본 실시형태에서는 Run Length Limited(1, 7) 변조 방식의 데이터를 마크 에지 기록 방식으로 기록하는 것으로 한다. 이 경우, 최단 2T에서 최장 8T까지 7종류의 마크 및 스페이스가 존재한다(T는 기준 주기를 나타냄). 또 기록 방식은 마크 에지 기록 방식에 한정되지 않고, 다른 기록 방식이어도 좋다.
광의 파형의 파라미터에는 기록 파워를 나타내는 파라미터와 펄스 위치를 나타내는 파라미터가 있다. 기록 파워를 나타내는 파라미터는 피크 파워(Pw), 바이어스 파워(Pe), 보텀 파워(Pbw)를 포함한다. 펄스 위치를 나타내는 파라미터는 Ttop, dTtop, Tmp, dTe를 포함한다. 여기에서 폭 Tmp의 펄스의 상승 위치, 및 선두의 펄스의 dTtop의 기점은 오리지널 신호와의 상대관계를 규정하는 기준위치이다.
광디스크(101)에 형성하는 마크의 길이에 따라서, 펄스의 수가 조정된다. 2T 마크는 하나의 펄스로 기록되고, 3T 마크는 2개의 펄스로 기록된다. 광디스크(101)에 형성하는 마크가 1T 길어짐에 따라서 펄스의 수가 하나 증가한다.
일반적으로, 광의 파형의 파라미터의 일부(예를 들면, 피크 파워(Pw), 바이어스 파워(Pe), 보텀 파워(Pbw), Tmp)는 마크의 길이에 의존하지 않지만, 광의 파형의 파라미터의 다른 일부(예를 들면, Ttop, dTtop, dTe)는 마크의 길이에 의존한다. 그러나, 광의 파형의 파라미터를 어떻게 설정할지는 임의이다.
이하, 도 4를 참조하여, 광디스크 장치(100)의 동작을 설명한다. 이하에 설명하는 바와 같이, 광디스크 장치(100)는 복수의 기록 조건 중 하나의 기록 조건으로 정보를 광디스크(101)에 기록한다. 예를 들면, 복수의 기록 조건의 각각은 광의 파형의 파라미터를 도시한다.
광디스크(101)가 광디스크 장치(100)에 장착되고, 광디스크 장치(100)의 소정 동작(디스크 타입의 식별 및 회전 제어 등) 종료 후, 광디스크(101)에 포함되는 테스트 영역으로 이동하도록 광헤드(102)가 제어된다. 테스트 영역에는 최적 기록 파워 및 최적 펄스 위치를 설정하기 위한 테스트 정보가 테스트 기록된다. 테스트 영역은 예를 들면, 광디스크(101)의 최내주에 설치되어 있지만, 사용자가 데이터를 기록하는 사용자영역 이외의 기록 영역이면, 광디스크(101)의 최내주에 설치되는 것에 한정되지 않는다. 테스트 영역은 예를 들면, 광디스크(101)의 최외주에 설치되어 있어도 좋다.
테스트 기록시에는 기록 파워 설정 수단(111)은 기록 파워의 초기치(피크 파워, 바이어스 파워, 보텀 파워의 초기)를 레이저 구동 회로(112)에 설정한다. 기록 파워의 초기치는 광디스크(101) 제작시에 미리 광디스크(101)에 기록되어 있지만, 광디스크(101)가 광디스크 장치(100)에 장착되었을 때에, 테스트 기록에 의해서 기록 파워의 초기치를 산출하고, 산출된 초기치를 광디스크(101)에 기록할 수 있다.
테스트 기록에 의해서 산출된 기록 파워의 초기치를 레이저 구동 회로(112)에 설정하는 경우는 광디스크(101) 제작시에 미리 광디스크(101)에 기록되어 있는 기록 파워의 초기치를 레이저 구동 회로(112)에 설정하는 경우와 비교하여, 광디스크의 품질 및 광디스크 장치의 품질의 불균일함을 고려하여 구해져 있고, 이 값에 근거하면, S/N비의 확보할 수 있는 양호한 기록을 할 수 있다.
기록 보상 회로(109)는 신호(110)를 레이저 구동 회로(112)에 보낸다.
레이저 구동 회로(112)는 신호(110)에 기초하여, 기록하는 마크의 길이에 따라서 정형된 펄스열 신호(113)를 생성한다. 레이저 구동 회로(112)는 펄스열 신호(113)를 광헤드(102)에 보내고, 광헤드(102)는 펄스열 신호(113)에 기초하여, 광디스크(101)에 테스트 신호를 테스트 기록한다. 광헤드(102)에 구비된 반도체 레이저의 출력광은 광디스크(101) 상에 광스폿으로서 집광되고, 반도체 레이저는 발광파형에 따른 기록 마크를 광디스크(101)에 형성한다. 테스트 신호의 상세한 것은 후술된다.
또, 테스트 기록 전에, 테스트 영역을 바이어스 파워만으로 기록할 수 있다. 바이어스 파워만으로 기록함으로써, 테스트 기록 전에 테스트 영역에 기록되어 있던 신호가 테스트 영역으로부터 소거되기 때문에, 테스트 기록 전에 테스트 영역에 기록되어 있던 신호가 테스트 기록에 주는 영향을 저감할 수 있다.
또, 광헤드(102)의 레이저광의 파장은 405nm 정도이고, 대물렌즈의 NA(Numerical Aperture)는 0.85정도이다. 또한 최단 마크 길이는 0.16미크론정도 이다.
도 7은 3T 마크의 펄스 위치를 최적화하기 위해서 광디스크에 기록된 테스트 신호를 도시한다. 테스트 신호는 여러가지의 조건을 갖고, 그루브 트랙에 테스트 기록된다.
이 그루브 트랙은 테스트 영역에 포함되어 있다. 이 그루브 트랙에는 테스트 신호가 복수의 조건으로 기록되어 있다. 구체적으로는 이 그루브 트랙에는 조건 A를 갖는 테스트 신호 A와, 조건 B를 갖는 테스트 신호 B와, 조건 C를 갖는 테스트 신호 C와, 조건 D를 갖는 테스트 신호 D가 이 순서로 복수회 기록되어 있다. 기록된 이들의 신호를 재생함으로써 얻을 수 있는 재생 신호에 기초하여, 광디스크(101)의 둘레 방향의 틸트 불균일함이나 디스크에 있는 상처, 오염의 영향을 저감시킬 수 있다.
펄스 위치를 나타내는 초기치는 예를 들면, 조건 A를 나타낸다. 조건 A를 나타내는 값이 광디스크(101)에 미리 기재되어 있어도 좋고, 테스트 기록의 결과에 기초하여 미리 구해져 있어도 좋다.
펄스 위치의 초기치가 광디스크(101)에 미리 기재되어 있는 예의 하나는 동일 조건으로 작성된 복수의 광디스크에 공통하는 값이 광디스크 작성시에 기재되는 경우이다. 예를 들면, 그루브를 워블함으로써 미리 기록할 수 있다. 펄스 위치의 초기치를 테스트 기록의 결과에 기초하여 미리 구하고 있는 예의 하나는 전회 광디스크(101)를 대상으로 하여 최적화한 기록 파라미터를 테스트 영역에 기록하고 있는 경우이다. 광디스크(101) 작성시에 기재된 값 및 전회 광디스크(101)를 대상으로 하여 최적화한 기록 파라미터의 값의 양쪽이 광디스크(101)에 기록되어 있는 경우에는 전회 광디스크(101)를 대상으로 하여 최적화한 기록 파라미터의 값을 사용하는 것이 바람직하다. 전회 광디스크(101)를 대상으로 하여 최적화한 기록 파라미터의 값은 광디스크의 품질 및 광디스크 장치의 품질의 불균일함을 고려하여 구해져 있고, 이 값에 근거하면, S/N비의 확보할 수 있는 양호한 기록을 할 수 있다.
또, 1둘레로 4조건을 기록하는 대신에, 1둘레로 1조건의 기록이어도 좋고, 또한 1회의 테스트 기록이 1둘레 이상이어도 좋다. 샘플수를 많이 함으로써 최적화의 정밀도가 향상된다.
도 8은 펄스 위치를 최적화하기 위한 복수의 조건의 결정 순서를 설명하기 위한 도면이다. 또한, 펄스 위치를 최적화하기 위한 복수의 조건의 결정 순서는, 기록 조건 결정 수단(108) 및 기록 보상 회로(109) 중 적어도 한쪽에 의해서 실행된다.
이하, 도 8을 참조하여, 펄스 위치를 최적화하기 위한 조건의 결정 순서를 설명한다.
도 8a를 참조하여, 3T 마크의 펄스 위치를 최적화하기 위한 조건의 결정 순서를 설명한다.
펄스 위치를 나타내는 초기치로서, 조건 A를 결정한다. 조건 A를 나타내는 값은 광디스크(101)에 미리 기재되어 있어도 좋고, 테스트 기록의 결과에 기초하여 미리 구해져도 좋다. 광디스크 장치(100)는, 광헤드(102)를 제어함으로써, 광디스크(101)에 기록되어 있는 초기치를 판독한다.
초기 조건 A에 기초하여, 조건 B, 조건 C 및 조건 D를 결정한다. 예를 들면, 조건 A의 Ttop 및 dTtop을 고정하고, 조건 A의 dTe를 소정의 크기(ΔdTe)만큼 작게 함으로써, 조건 B를 결정한다. 조건 A의 Ttop를 소정의 크기(ΔTtop)만큼 크게 하고, 조건 A의 dTtop를 소정의 크기(ΔdTtop)만큼 크게 하고, 또한 조건 A의 dTe를 고정함으로써, 조건 C를 결정한다. 조건 A의 Ttop를 소정의 크기(ΔTtop)만큼 크게 하고, 조건 A의 dTtop를 소정의 크기(ΔdTtop)만큼 크게 하고, 또한, 조건 A의 dTe를 소정의 크기(ΔdTe)만큼 작게 함으로써, 조건 D를 결정한다.
또한, 펄스 위치의 변경 스텝(예를 들면, ΔTtop, ΔdTtop, ΔdTe)은 윈드 폭의 1% 내지 7% 정도가 바람직하다.
도 8b를 참조하여, 2T 마크의 펄스 위치를 최적화하기 위한 조건의 결정 순서를 설명한다.
펄스 위치를 나타내는 초기치로서, 조건 a를 결정한다. 조건 a를 나타내는 값은 광디스크(101)에 미리 기재되어 있어도 좋고, 테스트 기록의 결과에 기초하여 미리 구해져도 좋다.
조건 a의 Ttop 및 dTtop을 고정하고, 조건 a의 dTe를 소정의 크기(ΔdTe)만큼 크게 함으로써, 조건 b를 결정한다. 조건 a의 Ttop를 소정의 크기(ΔTtop)만큼 크게 하고, 조건 a의 dTtop를 소정의 크기(ΔdTtop)만큼 크게 하고, 또한 조건 a의 dTe를 고정함으로써, 조건 c를 결정한다. 조건 a의 Ttop를 소정의 크기(ΔTtop)만큼 크게 하고, 조건 a의 dTtop를 소정의 크기(ΔdTtop)만큼 크게 하고, 또한, 조건 a의 dTe를 소정의 크기(ΔdTe)만큼 크게 함으로써, 조건 d를 결정한다.
또한, 조건 a의 Ttop 및 dTtop을 고정하고, 조건 a의 dTe를 소정의 크기(Δ dTe)만큼 작게 함으로써, 조건 b'를 결정한다. 조건 a의 Ttop를 소정의 크기(ΔTbp)만큼 작게 하고, 조건 a의 dTtop를 소정의 크기(ΔdTtop)만큼 작게 하고, 또한 조건 a의 dTe를 고정함으로써, 조건 c'를 결정한다. 조건 a의 Ttop를 소정의 크기(ΔTtop)만큼 작게 하고, 조건 a의 dTtop를 소정의 크기(ΔdTtop)만큼 작게 하고, 또한, 조건 a의 dTe를 소정의 크기(ΔdTe)만큼 작게 함으로써, 조건 d'를 결정한다.
또한, 펄스 위치의 변경 스텝(예를 들면, ΔTtop, ΔdTtop, ΔdTe)은 윈드 폭의 1% 내지 7% 정도가 바람직하다.
2T의 펄스 위치를 나타내는 파라미터를 조건 a, 조건 b, 조건 c 및 조건 d(도 8b 참조)에 설정하고, 이들의 조건을 나타내는 테스트 신호를 기록 재생함으로써, 지표 M이 가장 작은 조건을 가결정한다. 계속해서, 2T의 펄스 위치를 나타내는 파라미터를 조건 a, 조건 b', 조건 c', 조건 d'(도 8b 참조)에 설정하고, 이들의 조건을 나타내는 테스트 신호를 기록 재생함으로써, 지표 M이 가장 작은 조건을 가결정한다. 가결정된 2개의 조건 중, 지표 M이 작은 쪽을 2T의 펄스 위치를 나타내는 조건으로서 결정한다.
3T 마크의 펄스 위치를 변경할 때는 3T 마크 이외의 마크의 펄스 위치를 변경하지 않고, 마찬가지로 2T 마크의 펄스 위치를 변경할 때는 2T 마크 이외의 마크의 펄스 위치를 변경하지 않는다. 기록하는 데이터는 랜덤 패턴이라도 좋고, 특정한 패턴으로 고정하여도 좋다. 또한 펄스 위치의 변경 스텝은 윈드 폭의 1% 내지 7% 정도가 바람직하다.
지표 M을 작게 하기 위한 방법의 하나는 2T 마크와 3T 마크의 식별을 올바르게 하는 것이고, 본 실시형태와 같이 2T 마크, 3T 마크의 어느 한쪽 또는 양쪽의 펄스 위치를 최적화함으로써, 보다 올바르게 기록할 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는, 4개의 조건에 의해서 테스트 기록 재생함으로써 3T 마크의 최적 펄스 위치를 1회로 결정하고, 7개의 조건을 2회로 나누어 테스트 기록 재생함으로써 2T 마크의 최적 펄스 위치를 결정하지만, 결정 순서는 이것에 한정되지 않는다. 또한 본 실시형태에서는 Ttop과 dTtop를 동시에 결정하고 있지만, 결정 순서는 이것에 한정되지 않는다.
또한, 본 실시형태에 있어서, 3T 마크를 4개의 조건에 대응한 펄스 위치에 의해 기록하고 있지만, 초기 조건을 제외한 3개의 조건은 모두 3T 마크가 길게 기록되는 조건이다. 출현 빈도가 높은 2T 마크의 식별을 보다 확실하게 하기 위해서, 3T 마크가 길어지는 조건에서 최적 조건이 발견될 확률이 높다.
또한, 본 실시형태에 있어서, 2T 마크를 7개의 조건에 대응한 펄스 위치에 의해 기록하고 있지만, 2T 신호는 광디스크와 광디스크 장치의 불균일함에 의해 S/N 비가 크게 바뀌기 때문에, 일정한 방향만의 탐색을 하지 않는다. 또한 도 8b에 있어서, 우측상부의 조건과, 좌측하부의 조건은 초기 상태와 비교하여 마크 길이가 크게 바뀔 위험성이 있으므로, 본 실시형태에서는 탐색하고 있지 않다.
또한, 본 실시형태에 있어서의 2T 마크와 3T 마크를 기록할 때의 펄스 결정조건은, 초기 조건이 본 실시형태와 동일한 순서로 결정되어 있거나, 또는 종래 예에 기재한 순서와 마찬가지로 지터가 작아지는 순서로 결정되어 있는 경우에 유효하고, 초기 조건과 최적 조건이 가깝다는 근거가 없는 경우에는, 본 실시형태와 다른 펄스 결정 조건으로 하여도 좋다.
재차, 도 4를 참조하여, 광디스크 장치(100)의 동작을 계속 설명한다.
3T 마크의 펄스 위치를 나타내는 테스트 신호 A, 테스트 신호 B, 테스트 신호 C, 테스트 신호 D의 테스트 기록이 끝나면, 레이저 구동 회로(112)는, 광헤드(102)가 광디스크(101)에 기록된 테스트 신호 A, 테스트 신호 B, 테스트 신호 C, 테스트 신호 D를 재생하도록, 광헤드(102)를 제어한다. 테스트 신호 A, 테스트 신호 B, 테스트 신호 C, 테스트 신호 D를 재생함으로써 생성된 재생 신호(103)는 재생 수단(104)에 입력된다. 재생 신호(103)는, 광디스크(101)에 형성된 기록 마크의 유무에 따라서 변화한다.
도 9는, 재생 수단(104)의 구성을 도시한다. 재생 수단(104)은 프리앰프(201)와, 하이패스 필터(202)와, AGC 회로(203)와, 파형 등화기(204)와, A/D 변환기(205)와, 정형부(206)와, 최우 복호기(207)와, 신뢰성 계산부(208)를 구비한다.
정형부(206)는 예를 들면 디지털 필터이고, A/D 변환기(205)가 생성한 디지털 신호를 받아들여 디지털 신호가 소정의 등화 특성을 갖도록 디지털 신호의 파형을 정형한다.
최우 복호기(207)는 예를 들면 비터비 복호 회로이고, 정형부(206)로부터 출력된 파형이 정형된 디지털 신호를 최우 복호하고, 최우 복호의 결과를 나타내는 2치화 신호를 생성한다.
신뢰성 계산부(208)는 예를 들면 차분 매트릭 해석기이고, 정형부(206)로부터 출력된 파형이 정형된 디지털 신호와 최우 복호기(207)로부터 출력된 2치화 신호에 기초하여 최우 복호의 결과의 신뢰성을 계산한다. 최우 복호의 결과의 신뢰성은 정형부(206)로부터 출력된 파형이 정형된 디지털 신호와 최우 복호기(207)로부터 출력된 2치화 신호와의 괴리 또는 정형부(206)로부터 출력된 파형이 정형된 디지털 신호와 최우 복호기(207)로부터 출력된 2치화 신호에 기초하여 생성된 신호와의 괴리에 의해서 나타난다.
프리앰프(201)는 신호(103)를 증폭한다. 증폭된 신호(103)는 하이패스 필터(202)에서 AC 커플링(coupling)된 후 AGC(203)에 입력된다. AGC(203)는 파형 등화기(204)의 출력이 일정 진폭으로 되도록 게인을 조정한다. AGC(203)로부터 출력된 재생 신호는 파형 등화기(204)에 의해서 파형 정형된다. 파형 정형된 재생 신호는 A/D 변환기(205)에 입력된다. A/D 변환기(205)는 클록(209)으로 재생 신호를 샘플링한다. 클록(209)은 PLL(도시하지 않음)에 의해서 재생 신호에 기초하여 생성된다.
A/D 변환기(205)의 샘플링에 의해 생성된 재생 신호는 정형부(206)에 입력된다. 정형부(206)는 기록시 및 재생시의 재생 신호의 주파수 특성이 최우 복호기(207)가 상정하는 특성(본 실시형태에서는 PR(1,2,2,1) 등화 특성)으로 되도록 재생 신호의 주파수를 조정한다(즉 재생 신호의 파형을 정형한다).
최우 복호기(207)는 정형부(206)로부터 출력된 파형 정형된 재생 신호를 최우 복호하고, 2치화 신호를 생성한다. 신뢰성 계산부(208)는 정형부(206)로부터 출력된 파형 정형된 재생 신호와 2치화 신호를 받아들인다. 신뢰성 계산부(208)는 2치화 신호로부터 상태 천이를 판별한다. 신뢰성 계산부(208)는 판별 결과와 데이터(210)에 기초하여 복호 결과의 신뢰성을 나타내는 지표 M((식 6) 참조)을 산출한다. 신뢰성 계산부(208)는, 복수의 테스트 신호 A에 대응하는 재생 신호에 기초하여 지표 M을 산출하고, 또한, 산출된 복수의 지표 M의 평균을 산출한다. 또한, 신뢰성 계산부(208)는, 복수의 테스트 신호 B, 복수의 테스트 신호 C 및 복수의 테스트 신호 D의 각각 대해서도, 복수의 테스트 신호 A에 대한 경우와 마찬가지로, 지표 M의 평균을 산출한다.
출력 결과(107)가 기록 조건 결정 수단(108)에 보내진다. 출력 결과(107)에는, 이들의 평균치가 포함된다.
기록 조건 결정 수단(108)은 출력 결과(107)에 포함된 복수의 평균치 중 가장 작은 값에 대응하는 조건을 3T 마크의 펄스 위치조건으로서 선택(결정)한다. 또한, 복수의 평균치가 일치하거나 또는 동일 정도인 경우에는, 미리 할당된 우선 순위에 따라서 값을 결정할 수 있다. 예를 들면, 복수의 테스트 신호 D에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 C에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 복수의 테스트 신호 C에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 B에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 복수의 테스트 신호 B에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 A에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다.
또한, 테스트 신호 A, 테스트 신호 B, 테스트 신호 C 및 테스트 신호 D가 각각 복수인 것에 한정되지 않는다. 테스트 신호 A, 테스트 신호 B, 테스트 신호 C 및 테스트 신호 D가 각각 복수가 아닌 경우에는 각각의 테스트 신호에 기초하는 지표의 평균을 산출할 필요는 없다.
또한, 복수의 테스트 신호를 최우 복호하고, 최우 복호의 결과를 나타내는 복수의 2치화 신호를 생성하고, 신뢰성 계산부(208)에 의해서 복수의 테스트 신호와 복수의 2치화 신호에 기초하여, 복호 결과의 신뢰성을 나타내는 지표 M을 계산하는 형태를 설명하였지만, 신뢰성을 나타내는 지표의 계산은 이 형태에 한정되지 않는다. 예를 들면, 테스트 신호에 기초하여 최우 복호기(207)에 의해서 생성된 복수의 패스를 나타내는 신호가 신뢰성 계산부(208)에 입력된 경우에는, 신뢰성 계산부(208)는 테스트 신호와 복수의 패스에 기초하여 테스트 신호의 신뢰성을 나타내는 복수의 지표를 계산한다. 예를 들면, 신뢰성 계산부(208)는 테스트 신호와 패스 A와의 괴리 및 테스트 신호와 패스 B와의 괴리를 계산한다. 신뢰성 계산부(208)는, 이들의 괴리를 참조하여, 테스트 신호의 신뢰성을 나타내는 지표를 계산한다. 기록 조건 결정 수단(408)은 복수의 테스트 신호의 신뢰성을 나타내는 복수의 지표에 기초하여, 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택할 수 있다.
이상, 3T 마크의 펄스 위치를 나타내는 파라미터를 최적으로 결정하였다. 이 파라미터에 따라서, 광에 포함되는 복수의 광펄스의 상대 위치가 결정되고, 이 광을 광디스크(101)에 조사함으로써, 최적의 3T 마크를 광디스크(101)에 형성할 수 있다.
2T 마크의 펄스 위치를 나타내는 파라미터의 최적화는 3T 마크의 펄스 위치를 나타내는 파라미터의 최적화와 마찬가지로 행하여진다.
이하, 2T 마크의 펄스 위치를 나타내는 파라미터를 최적으로 결정하는 순서를 설명한다.
2T 마크의 펄스 위치를 나타내는 테스트 신호 a, 테스트 신호 b, 테스트 신호 c, 테스트 신호 d, 테스트 신호 b', 테스트 신호 c', 테스트 신호 d'의 테스트 기록이 끝나면, 레이저 구동 회로(112)는 광헤드(102)가 광디스크(101)에 기록된 이들의 테스트 신호를 재생하도록, 광헤드(102)를 제어한다. 이들의 테스트 신호를 재생함으로써 생성된 재생 신호(103)는 재생 수단(104)에 입력된다. 재생 신호(103)는 광디스크(101)에 형성된 기록 마크의 유무에 따라서 변화한다.
신뢰성 계산부(208)는 복수의 테스트 신호 a에 대응하는 재생 신호에 기초하여 지표 M을 산출하고, 또한, 산출된 복수의 지표 M의 평균을 산출한다. 또한, 신뢰성 계산부(208)는 복수의 테스트 신호 b, 복수의 테스트 신호 c 및 복수의 테스트 신호 d의 각각 대해서도, 복수의 테스트 신호 a에 대한 경우와 마찬가지로, 지표 M의 평균을 산출한다.
출력 결과(107)가 기록 조건 결정 수단(108)에 보내진다. 출력 결과(107)에는, 이들의 평균치가 포함된다.
기록 조건 결정 수단(108)은 출력 결과(107)에 포함된 복수의 평균치 중 가장 작은 값에 대응하는 조건을 2T 마크의 펄스 위치 조건으로서 1회째의 가결정을 한다.
또한, 신뢰성 계산부(208)는, 복수의 테스트 신호 a, 복수의 테스트 신호 b', 복수의 테스트 신호 c' 및 복수의 테스트 신호 d'의 각각 대하여, 지표 M의 평균을 산출한다.
출력 결과(107)가 기록 조건 결정 수단(108)에 보내진다. 출력 결과(107)에는 이들의 평균치가 포함된다.
기록 조건 결정 수단(108)은 출력 결과(107)에 포함된 복수의 평균치 중 가장 작은 값에 대응하는 조건을 2T 마크의 펄스 위치조건으로서 2회째의 가결정을 한다.
기록 조건 결정 수단(108)은 1회째의 가결정에서 구해진 조건과 2회째의 가결정에서 구해진 조건의 중 가장 작은 값에 대응하는 조건을 2T 마크의 펄스 위치조건으로서 결정한다.
1회째의 가결정을 위해 산출한 테스트 신호 a에 기초하는 지표 M과 2회째의 가결정을 위해 산출한 테스트 신호 a에 기초하는 지표 M이 다를 때에는 각각의 지표를 정규회한 후에 가장 작은 값에 대응하는 조건을 T 마크의 펄스 위치조건으로서 결정한다. 예를 들면, 1회째의 가결정을 위해 산출한 테스트 신호 a에 기초하는 지표 M에 기초하여, 복수의 테스트 신호 b에 기초하는 지표, 복수의 테스트 신호 c에 기초하는 지표 및 복수의 테스트 신호 d에 기초하는 지표를 정규화한다. 또한, 2회째의 가결정을 위해 산출한 테스트 신호 a에 기초하는 지표 M에 기초하여, 복수의 테스트 신호 b'에 기초하는 지표, 복수의 테스트 신호 c'에 기초하는 지표 및 복수의 테스트 신호 d'에 기초하는 지표를 정규화한다. 또한, 2T의 펄스위치 조건을 결정하기 위한 기록을 할 때는 직전의 3T의 펄스 위치 결정 조건이 반영되어 있는 것으로 한다.
또한, 복수의 평균치가 일치하거나 또는 동일 정도인 경우에는 미리 할당된 우선 순위에 따라서 값을 결정할 수 있다. 예를 들면, 복수의 테스트 신호 d에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 c에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 복수의 테스트 신호 c에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 b에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 복수의 테스트 신호 b에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 a에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 예를 들면, 복수의 테스트 신호 d'에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 c'에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 복수의 테스트 신호 c'에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 b'에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 복수의 테스트 신호 b'에 기초하는 복수의 지표의 평균보다도 복수의 테스트 신호 a에 기초하는 복수의 지표의 평균을 우선할 수 있다. 또한, 예를 들면, 우선 순위는, 복수의 테스트 신호 a, 복수의 테스트 신호 b', 복수의 테스트 신호 b, 복수의 테스트 신호 d', 복수의 테스트 신호 c', 복수의 테스트 신호 d, 복수의 테스트 신호 c 또는 복수의 테스트 신호 a, 복수의 테스트 신호 b, 복수의 테스트 신호 b', 복수의 테스트 신호 d, 복수의 테스트 신호 c, 복수의 테스트 신호 d', 복수의 테스트 신호 c'일 수 있다.
또한, 테스트 신호 a, 테스트 신호 b, 테스트 신호 c, 테스트 신호 d, 테스트 신호 b', 테스트 신호 c', 테스트 신호 d'가 각각 복수인 것에 한정되지 않는다. 이들의 테스트 신호가 각각 복수가 아닌 경우에는 각각의 테스트 신호에 기초하는 지표의 평균을 산출할 필요는 없다.
이상, 2T 마크의 펄스 위치를 나타내는 파라미터를 최적으로 결정하였다. 이 파라미터에 따라서, 광에 포함되는 복수의 광펄스의 상대위치가 결정되고, 이 광을 광디스크(101)에 조사함으로써, 최적의 2T 마크를 광디스크(101)에 형성할 수 있다.
본 실시형태에 있어서의 광파형의 파라미터 중 일반적으로 dTe가 Ttop 및 dTtop보다도, 1스텝의 변경에 대한 기록 마크형상의 변동이 작다. 초기 조건을 최우선하여, 계속해서 기록 마크 형상의 변동이 작은 조건을 우선시킴으로써, 초기 조건과 본 실시형태의 펄스 위치 변경 조건을 양립시키는 조건으로 결정할 수 있다. 그 결과, 본 실시형태와 같은 회로 구성을 가지지 않는 재생 장치에 있어서의 재생 안정성을 향상시킬 수 있다.
예를 들면, 초기 조건이 소정의 지터 이하로 되도록 정해져 있는 경우에는, 본 실시형태와 같은 우선 순위를 마련함으로써, 지터와 지표 M이 모두 양호하게 되는 펄스 위치에 결정할 수 있다. 상술한 바와 같이, 클록(209)은 PLL로부터 출력되어 있고, 지터는 PLL의 안정 동작의 지표이므로, 지터와 지표 M이 모두 양호한 조건을 구함으로써, 보다 올바른 기록 재생을 할 수 있다. 또한, 초기 조건이 도 11에 도시하는 바와 같은 회로 구성에 의해 에지 간격 측정 회로(1108)의 출력 신호가 작아지는 조건에 결정되어 있으면, 본 실시형태와 같은 우선 순위를 마련함으로써, 에지 시프트가 작고, 또한 지표 M이 양호하게 되도록 펄스 위치를 결정할 수 있다. 이와 같이, 본 발명의 실시형태에 의하면, 에지 시프트량 및 지터 중 적어도 한쪽에 기초하여 초기 조건을 결정할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 실시형태의 기록 방법에 의하면, 사용자 데이터의 기록전에 테스트 기록을 하고, 지표 M이 작아지는 조건으로 사용자 데이터의 기록을 함으로써, 최단 마크 길이가 짧은 경우에도 올바른 기록을 할 수 있다.
또한, 2T 마크의 펄스 위치를 최적화하기 위한 조건의 결정 및 3T 마크의 펄스 위치를 최적화하기 위한 조건의 결정에 있어서, 초기 조건으로부터 1스텝 다른 펄스 위치까지밖에 탐색하지 않고, 펄스 위치의 이동에 제한을 두고 있다. 예를 들면, 초기 조건이 소정의 지터 이하로 되도록 정해져 있는 경우에는, 본 실시형태와 같은 우선 순위를 마련함으로써, 지터 열화가 작고, 또한 지표 M을 양호한 펄스 위치에 결정할 수 있다. 또한, 탐색의 스텝을 반복하는 것에 의해 2스텝 이상 다른 펄스 위치를 탐색하여도 좋다. 이 경우에는, 어떤 스텝에서 결정한 펄스 위치를 다음번의 스텝에서의 초기치로 하여도 좋다.
또한, 초기 조건이 도 11에 도시하는 바와 같은 회로 구성에 의해 에지 간격 측정 회로(1108)의 출력 신호가 작아지는 기록 조건에 결정되어 있으면, 본 실시형태와 같은 우선 순위를 마련함으로써, 에지 시프트가 작고, 또한 지표 M이 양호한 펄스 위치에 결정할 수 있다.
또한, 기록 파워(피크 파워, 바이어스 파워, 보텀 파워 등)를 나타내는 파라미터를 테스트 기록에 의해 결정하여도 좋다.
또한, 본 실시형태에 의하면, 지표 M의 크기, 즉 8개의 패턴((식 4) 참조)으로부터 산출된 표준 편차 σ10((식 5) 참조)을 기준으로 하여 펄스 위치조건을 결정하고 있지만, 8개의 패턴을 4개씩으로 나눠, 각각의 표준 편차로부터 펄스 위치 최적조건을 결정하여도 좋다. 즉, c의 값((식 4) 참조)이 1일 때를 마크로 하면, Pattern-1, Pattern-2, Pattern-3, Pattern-4는 마크 종단 에지에 관하여, Pattern-5, Pattern-6, Pattern-7, Pattern-8은 마크 시단 에지에 관한 것이다. 이와 같이, 시단 에지와 종단 에지를 구별하여 표준 편차가 큰 쪽의 에지를 우선적으로 최적화하여도 좋다. 또한 8개의 패턴 중에서 표준 편차가 큰 패턴의 에지를 우선적으로 최적화하여도 좋다.
예를 들면, Pattern-3에 있어서의 표준 편차가 소정치보다도 클 때에는, 2T 마크, 3T 스페이스와 계속되는 경우와, 3T 마크, 2T 스페이스와 계속되는 경우의 구별이 명확하지 않는 것을 나타낸다. 따라서, 2T 마크의 종단 에지의 하강 위치를 빠르게 함으로써, 또는 3T 마크의 종단 에지의 상승 위치를 느리게 함으로써 재차 기록을 하고, 표준 편차가 작은 쪽으로 결정하면 좋다. 또한, 마크와 스페이스의 조합으로 에지 위치를 결정할 수 있는 경우에는, 2T 마크, 3T 스페이스와 계속되는 조합에 있어서의 2T 마크의 종단 에지의 하상 위치를 빠르게 함으로써, 또는 3T 마크, 2T 스페이스의 조합에 있어서의 3T 마크의 종단 에지의 하상 위치를 느리게 함으로써, 재차 기록을 하고, 표준 편차가 작은 쪽으로 결정하면 좋다. 그 결과, 보다 정밀도 좋게 에지 위치를 최적화 할 수 있다.
마찬가지로, 예를 들면, Pattern-5에 있어서의 표준 편차가 소정치보다도 클 때에는, 3T 이상의 스페이스, 3T 마크와 계속되는 경우와, 4T 이상의 스페이스, 2T 마크와 계속되는 경우의 구별이 명확하지 않은 것을 나타낸다. 따라서, 3T 마크의 시단 에지의 상승 위치를 빠르게 함으로써, 또는 2T 마크의 시단 에지의 상승 위치를 느리게 함으로써, 재차 기록을 하고, 표준 편차가 작은 쪽으로 결정하면 좋다. 이 때도, 마크와 스페이스의 조합으로 에지 위치를 결정할 수 있는 경우에는, 3T 이상의 스페이스, 3T 마크의 조합에 있어서의 3T 마크의 시단 에지의 상승 위치를 빠르게 함으로써, 또는 4T 이상의 스페이스, 2T 마크가 조합에 있어서의 2T 마크의 시단 에지의 상승 위치를 느리게 함으로써, 표준 편차가 작은 쪽으로 결정하면 좋다. 그 결과, 보다 정밀도 좋게 에지 위치를 최적화할 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는, 3T 마크, 2T 마크에 대하여 최적의 펄스 위치를 결정하고 있지만, 최적 펄스 위치의 결정은 2T 마크뿐이라도 좋다. 2T 마크는 출현빈도가 가장 높기 때문에 2T 마크의 펄스 위치를 최적화함으로써, 종래부터도 올바른 기록이 실현됨과 동시에, 최적 펄스 위치의 결정에 요하는 시간을 단축시킬 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는 3T 마크 및 2T 마크의 최적의 펄스 위치를 결정하고 있지만, 4T 마크의 펄스 위치를 최적화할 수 있다. 4T 마크의 최적의 펄스 위치를 결정함으로써, 보다 올바른 기록을 할 수 있다. 마찬가지로 최적 펄스 위치의 결정에 요하는 시간에 여유가 있다면 모든 마크가 최적의 펄스 위치를 결정할 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는 기록 부호로서 최소 극성 반전 간격이 2인 부호를 사용하여, PR(1,2,2,1) 등화를 하는 경우에 관해서 설명하였지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않는다. 예를 들면, 기록 부호가(1,7) 변조 부호와 같은 최소 극성 반전 간격이 2인 경우에는 상기 실시예를 적용할 수 있고, DVD에 사용되고 있는 8-16 변조 부호와 같은 최소 극성 반전 간격이 3인 경우에는 PR(1,2,2,1) 등화에 의해 시각 k에서는 6개의 상태가 존재하고, 시각 k+1의 6개의 상태로 취할 수 있는 상태 천이를 8가지로 제한되는 상태 천이칙을 사용함으로써 본 발명은 실시 가능하다. 따라서, 최소 극성 반전 간격이 3인 기록 부호와 등화 방식 PR(C0, C1, C1, C0)로부터 정해지는 상태 천이칙을 사용한 경우나, 최소 극성 반전 간격이 2 또는 3인 기록 부호와 등화 방식 PR(C0, C1, C0)로부터 정해지는 상태 천이칙을 사용한 경우나, 최소 극성 반전 간격이 2 또는 3인 기록 부호와 등화 방식 PR(C0, C1, C2, C1, C0)으로 정해지는 상태 천이칙을 사용한 경우에 있어서도 적용할 수 있다. C0, C1, C2는 임의의 양의 수이다.
이상, 본 발명의 실시형태의 광디스크 장치(100)의 구성 및 동작을 설명하였다.
도 4 및 도 9에 도시된 예에서는, 광디스크 장치(100)가 「복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 장치」에 대응하고, 광헤드(102)와 레이저 구동 회로(112)가 「복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 기록 매체에 기록하는 제 1 기록 수단」에 대응하고, 광헤드(102)와 레이저 구동 회로(112)와 기록 조건 결정 수단(108)과 재생 수단(104)이 「복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로, 정보를 기록 매체에 기록하는 제 2 기록 수단」에 대응하고, 신뢰성 계산부(208)가 「기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 1개의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 산출부」에 대응하여, 기록 조건 결정 수단(108)이 「괴리를 참조함으로써, 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 선택부」에 대응한다.
그러나, 본 발명의 광디스크 장치(100)가 도 4 및 도 9에 도시되는 것에 한정되는 것은 아니다. 상술한 각 수단의 기능이 달성되는 한은, 임의의 구성을 갖는 장치가 본 발명의 범위 내에 포함될 수 있다.
예를 들면, 광디스크 장치(100)에 의해서, 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호와 소망 패턴을 나타내는 소망 신호와의 괴리를 참조할 수 있는 한은, 괴리가 지표 M에 의해서 나타나는 것에 한정되지 않는다. 테스트 신호의 파형과 미리 추정된 패턴을 비교함으로써, 테스트 신호의 파형의 패턴과 미리 추정된 패턴의 차분을 판정하여, 판정 결과에 기초하여, 기록 조건을 선택할 수 있다.
또한, 미리 추정된 패턴은 2개의 패턴에 한정되지 않는다. 미리 추정된 패턴의 수가 적어도 1개 있는 경우에는, 적어도 1개의 패턴과 테스트 신호와의 괴리를 산출함으로써, 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택할 수 있다.
또한, 미리 추정된 패턴은 2T 마크 또는 2T 스페이스를 나타내는 패턴에 한정되지 않는다. nT 마크 또는 nT 스페이스를 나타내는 패턴이라도 좋다(n은, 양의 정수). 또한, 미리 추정된 패턴은 복수의 패턴의 조합일 수 있다. 예를 들면, 미리 추정된 패턴은, 2T 마크를 나타내는 패턴, 2T 스페이스를 나타내는 패턴 및 3T 마크를 나타내는 패턴의 조합일 수 있다.
또한, 미리 추정된 패턴은 미리 광디스크 장치에 구비된 격납부에 격납되어 있는 것에 한정되지 않는다. 미리 추정된 패턴은 테스트 신호가 재생된 후, 광디스크 장치를 생성할 수 있다. 광디스크 장치는, 미리, 이상(理想) 형상을 갖는 패턴이 어떠한 형상을 갖고 있는지 알고 있기 때문이다.
또한, 도 4 및 도 9에 도시되는 실시형태에서 설명한 각 수단은 하드웨어에 의해서 실현되어도 좋고, 소프트웨어에 의해서 실현되어도 좋고, 하드웨어와 소프트웨어에 의해서 실현되어도 좋다. 하드웨어에 의해서 실현되는 경우라도, 소프트웨어에 의해서 실현되는 경우라도, 하드웨어와 소프트웨어에 의해서 실현되는 경우라도, 광디스크 장치에 의해서, 「복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 기록 매체에 기록하는 스텝」과, 「복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로, 정보를 기록 매체에 기록하는 스텝」과, 「기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 1개의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 스텝」과, 「괴리를 참조함으로써, 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 스텝」을 포함하는 본 발명의 기록 처리가 실행될 수 있다. 본 발명의 기록 처리는, 상술한 각 스텝을 실행할 수 있는 한, 임의의 순서를 가질 수 있다.
예를 들면, 본 발명의 광디스크 장치에는, 광디스크 장치의 기능을 실행시키기 위한 기록 처리 프로그램이 격납되어 있다. 기록 처리 프로그램은 광디스크 장치의 기능을 실행시킨다.
기록 처리 프로그램은 컴퓨터의 출하시에, 광디스크 장치에 포함되는 격납 수단에 미리 격납되어 있어도 좋다. 또는, 컴퓨터의 출하 후에, 기록 처리 프로그램을 격납 수단에 격납하도록 하여도 좋다. 예를 들면, 사용자가 인터넷상의 특정한 웹사이트로부터 기록 처리 프로그램을 유료 또는 무료로 다운로드하고, 그 다운로드된 프로그램을 컴퓨터에 인스톨하도록 하여도 좋다. 기록 처리 프로그램이 플렉시블디스크, CD-ROM, DVD-ROM 등의 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록되어 있는 경우에는 입력 장치(예를 들면, 디스크 드라이브 장치)를 사용하여 액세스 처리를 컴퓨터에 인스톨하도록 하여도 좋다. 인스톨된 기록 처리 프로그램은 격납 수단에 격납된다.
또한, 기록 제어 장치(정형부(206)와 최우 복호부(207)와 신뢰성 산출부(208)와 기록 조건 결정 수단(108))는 1칩화된 LSI(반도체 집적회로) 또는 그 일부로서 제조될 수 있다. 기록 제어 장치가 1칩화된 LSI로서 제조되는 경우에는, 광디스크 장치의 제조 공정을 용이하게 할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 바람직한 실시형태를 사용하여 본 발명을 예시하여 왔지만, 본 발명은 이 실시형태에 한정하여 해석되어야 하는 것은 아니다. 본 발명은 특허청구의 범위에 의해서만 그 범위가 해석되어야 하는 것이 이해된다. 당업자는 본 발명의 구체적인 바람직한 실시형태의 기재로부터, 본 발명의 기재 및 기술 상식에 기초하여 등가인 범위를 실시할 수 있는 것이 이해된다. 본 명세서에 있어서 인용한 특허, 특허출원 및 문헌은 그 내용 자체가 구체적으로 본 명세서에 기재되어 있는 것과 마찬가지로 그 내용이 본 명세서에 대한 참고로서 원용되어야 하는 것이 이해된다.
본 발명의 기록 방법은 광디스크로의 고밀도기록을 할 때에 유용하다.
본 발명의 기록 방법, 기록 장치, 프로그램이 기록된 기록 매체 및 기록 제어 장치에 의하면, 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호와 소망 신호와의 괴리를 산출하여, 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택한다. 따라서, 1개의 기록 조건을 소망 신호의 조건에 정합시키기 위해서, 복수의 기록 조건으로부터 1개의 기록 조건을 선택하는 것만으로 소망 신호의 조건에 가까운 조건으로 정보를 기록 매체에 기록할 수 있다. 그 결과, 간단한 회로 구성으로 기록 파라미터의 최적화를 도모할 수 있다.
또한, 본 발명의 기록 방법에 의하면, 사용자 데이터의 기록전에 테스트 기록을 하고, PRML 오차지표 M이 작아지는 조건으로 사용자 데이터를 기록하기 때문에, 최단 마크 길이가 짧은 경우라도 올바른 기록을 할 수 있다.
또한, 본 발명의 기록 방법에 의하면, 사용자 데이터의 기록전에 테스트 기록을 하고, PRML 오차지표 M이 작아지는 조건으로 사용자 데이터의 기록을 함으로써, 광디스크의 품질의 불균일함이나 광디스크 장치의 품질의 불균일함에 영향받지 않고서, 데이터를 정확하게 기록할 수 있다.

Claims (16)

  1. 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 방법으로서,
    (a) 상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝과,
    (b) 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로, 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝을 포함하고,
    상기 스텝(b)은,
    (b-1) 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 1개의 소망 신호와의 괴리(乖籬)를 산출하는 스텝과,
    (b-2) 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 스텝(a)은,
    (a-1) 초기 조건을 결정하는 스텝과,
    (a-2) 상기 초기 조건에 기초하여, 적어도 1개의 기록 조건을 결정하는 스텝을 포함하고,
    상기 복수의 기록 조건은 상기 초기 조건과 상기 결정된 적어도 1개의 기록 조건을 포함하는, 기록 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 스텝(b-1)은,
    상기 기록 매체로부터 상기 복수의 테스트 정보를 재생함으로써, 상기 복수의 테스트 신호를 얻는 스텝과,
    상기 복수의 테스트 신호를 최우(最尤) 복호하여, 상기 최우 복호의 결과를 나타내는 복수의 2치화 신호를 생성하는 스텝과,
    상기 복수의 테스트 신호와 상기 복수의 2치화 신호에 기초하여, 상기 최우 복호의 결과의 신뢰성을 계산하는 계산스텝을 포함하고,
    상기 스텝(b-2)은 상기 신뢰성을 나타내는 복수의 값에 기초하여, 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 스텝(b-2)은 상기 복수의 기록 조건 중 상기 신뢰성을 나타내는 복수의 값 중 최소치에 대응하는 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 스텝(b-1)은,
    상기 기록 매체로부터 상기 복수의 테스트 정보를 재생함으로써, 상기 복수의 테스트 신호를 얻는 스텝과,
    상기 복수의 테스트 신호의 각각에 기초하여, 복수의 패스를 생성하는 스텝과,
    상기 복수의 테스트 신호의 각각과 상기 복수의 패스에 기초하여, 상기 복수의 테스트 신호의 신뢰성을 나타내는 복수의 지표를 계산하는 계산스텝을 포함하고,
    상기 스텝(b-2)은 상기 복수의 지표에 기초하여, 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 스텝(b-2)은 상기 복수의 기록 조건 중 상기 복수의 지표 중 최소치에 대응하는 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 기록 조건에는 선택되는 우선 순위가 붙어 있는, 기록 방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 스텝(b)은,
    상기 선택된 1개의 기록 조건에 따라서, 광에 포함되는 복수의 광펄스의 상대 위치를 결정하는 스텝과,
    상기 광을 상기 기록 매체에 조사함으로써, 소정의 길이를 갖는 복수의 기록 마크를 상기 기록 매체에 형성하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 소정의 길이를 갖는 복수의 기록 마크는 최단기록 마크를 포함하는, 기록 방법.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 소정의 길이를 갖는 복수의 기록 마크는 최단 기록 마크의 다음으로 긴 기록 마크를 포함하는, 기록 방법.
  11. 제 2 항에 있어서,
    상기 초기 조건은 상기 기록 매체 제작시에 상기 기록 매체에 기록되어 있는, 기록 방법.
  12. 제 2 항에 있어서,
    에지 시프트량 및 지터 중 적어도 한쪽에 기초하여, 소정의 기록 조건을 결정하는 스텝을 더 포함하고,
    상기 소정의 기록 조건은 상기 복수의 기록 조건에 포함되는, 기록 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 스텝(a-1)은 상기 소정의 기록 조건을 상기 초기 조건으로서 결정하는 스텝을 포함하는, 기록 방법.
  14. 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 장치로서,
    상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 제 1 기록 수단과,
    상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로, 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 제 2 기록 수단을 구비하고,
    상기 제 2 기록 수단은,
    상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 1개의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 산출부와,
    상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 선택부를 구비한, 기록 장치.
  15. 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로 정보를 기록 매체에 기록하는 기록 처리를 컴퓨터에 실행시키기 위한 프로그램이 기록된 기록 매체로서,
    상기 기록 처리는,
    (a) 상기 복수의 기록 조건으로, 복수의 테스트 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝과,
    (b) 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로, 상기 정보를 상기 기록 매체에 기록하는 스텝을 포함하고,
    상기 스텝(b)은,
    (b-1) 상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 1개의 소망 신호와의 괴리를 산출하는 스텝과,
    (b-2) 상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하는 스텝을 포함하는, 프로그램이 기록된 기록 매체.
  16. 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건으로, 정보를 기록 매체에 기록하기 위한 기록 제어 장치이며,
    상기 기록 매체에 기록된 복수의 테스트 정보를 재생함으로써 얻어진 복수의 테스트 신호의 각각과 적어도 1개의 소망 신호와의 괴리를 산출하기 위한 산출부와,
    상기 괴리를 참조함으로써, 상기 복수의 기록 조건 중 1개의 기록 조건을 선택하기 위한 선택부를 구비한, 기록 제어 장치.
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