WO2005043537A1 - 記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置 - Google Patents

記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置 Download PDF

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recording
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test
signal
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PCT/JP2004/016238
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Mamoru Shoji
Harumitsu Miyashita
Isao Kobayashi
Takahiro Sato
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Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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    • G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
    • G11B7/1267—Power calibration

Definitions

  • the present invention relates to a recording method, a recording device, a program, and a recording control device for recording information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions.
  • An optical disc device records digital information on an optical disc by irradiating the optical disc with a laser beam.
  • the optical disk device and the optical disk have individual differences, the quality of a signal recorded on the optical disk deteriorates.
  • test recording of signals is performed when an optical disk is mounted on an optical disk device, and for example, irradiation power and optical pulse shape are optimized.
  • FIG. 10 shows a configuration of a conventional optical disc device 400.
  • the optical disk device 400 is configured so that the optical disk 401 can be mounted.
  • the optical disc device 400 includes an optical head 402, a reproducing unit 404, a demodulating ECC circuit 406, a recording condition determining unit 408, a recording compensation circuit 409, a laser driving circuit 412, and a recording power setting unit 411. Is provided.
  • Recording condition determining means 408 determines a recording pulse position and a recording power.
  • the recording compensation circuit 409 sets the recording pulse position according to the determination of the recording condition determining means 408.
  • the recording power setting means 411 sets the recording power according to the determination of the recording condition determining means 408.
  • the laser drive circuit 412 controls the optical head 402 so that the optical head 402 performs a predetermined test recording on the optical disc 401.
  • the laser drive circuit 412 controls the optical head 402 so that the optical head 402 reproduces a signal recorded on the optical disk 401.
  • the reproduction signal 403 is input to the reproduction means 404.
  • FIG. 11 shows a configuration of the reproducing unit 404.
  • the reproduction means 404 includes a preamplifier 501, an equalizer 502, a low-pass filter 503, a binarization circuit 505, a PLL (Phase Locked Loop) 507, an edge interval measurement circuit 508, And a jitter operation circuit 510.
  • a preamplifier 501 an equalizer 502, a low-pass filter 503, a binarization circuit 505, a PLL (Phase Locked Loop) 507, an edge interval measurement circuit 508, And a jitter operation circuit 510.
  • PLL Phase Locked Loop
  • the preamplifier 501 amplifies the reproduction signal 403, and the equalizer 502 and the low-pass filter 503 equalize the waveform of the amplified reproduction signal 403 to generate a signal 504.
  • the binarization circuit 505 generates a pulse signal 506 based on the signal 504 and the slice level.
  • the binary circuit 505 operates in a slice level band of usually several ⁇ such that the integral value of the mark is equal to the integral value of the space.
  • the pulse signal 506 is input to the PLL 507.
  • FIG. 12 shows the configuration of the PLL 507.
  • the PLL 507 is provided with a phase comparator 601, a low-pass filter 602, a VCO 603, a flip-flop 605, a frequency divider 606, and a gate circuit 607.
  • Phase comparator 601 detects a difference between the phase of pulse signal 506 and the phase of signal 608 output from gate circuit 607.
  • the phase comparator 601 generates an error signal indicating a phase difference and a frequency difference between the pulse signal 506 and the signal 608.
  • the low-pass filter 602 extracts only the low-frequency component of the error signal and generates a control signal indicating the control voltage of the VCO 603.
  • VCO 603 generates clock signal 604 based on the control voltage.
  • the frequency dividing circuit 606 divides the frequency of the clock signal 604.
  • the gate circuit 607 generates a signal 608 based on the divided clock signal 604.
  • VCO 603 is controlled so that the phases of two signals (pulse signal 506 and signal 608) input to phase comparator 602 are equal.
  • PLL 507 generates signal 405 based on pulse signal 506.
  • the edge interval measurement circuit 508 When the pulse signal 506 output from the binarization circuit 505 and the signal 405 output from the flip-flop 605 are input to the edge interval measurement circuit 508, the edge interval measurement circuit 508 The pulse edge intervals tO, tl, t2, t3, t4, t5, t6, t7, t8, t9 '... Are measured, and a signal 509 indicating the edge interval is output to the jitter calculation circuit 510 (see FIG. 13).
  • Jitter operation circuit 510 integrates the edge interval.
  • FIG. 14 shows a distribution of edge intervals.
  • the jitter calculation circuit 510 calculates the standard deviation based on, for example, the distribution of the edge intervals, and outputs a signal 407 indicating the calculation result to the recording condition determination unit 408.
  • the recording condition determining means 408 determines the optimum recording condition based on the signal 407. To explore.
  • Patent Document 1 JP-A-2000-200418
  • the present invention has been made in view of the above problems, and has as its object to provide a recording method for performing recording even when the shortest mark length is shorter than before.
  • the recording method of the present invention is a recording method for recording information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions, wherein (a) a plurality of test information is recorded under the plurality of recording conditions. And (b) recording the information on the recording medium under one of the plurality of recording conditions, wherein the step (b) comprises: b-1) a step of calculating a difference between each of the plurality of test signals obtained by reproducing the plurality of test information recorded on the recording medium and at least one desired signal; (b-2) And) selecting one of the plurality of recording conditions by referring to the divergence, whereby the object is achieved.
  • the step (a) may include (a-1) determining an initial condition, and (a-2) determining at least one recording condition based on the initial condition. Good.
  • the plurality of recording conditions include the initial condition and the determined at least one recording condition.
  • the step (b-1) comprises the steps of: obtaining the plurality of test signals by reproducing the plurality of test information from the recording medium; and performing maximum likelihood decoding of the plurality of test signals. Generating a plurality of binarized signals indicating a result of the maximum likelihood decoding; and calculating reliability of the result of the maximum likelihood decoding based on the plurality of test signals and the plurality of binarized signals.
  • the calculating step (b-2) includes selecting one of the plurality of recording conditions based on the plurality of values indicating the reliability. Hey.
  • the step (b-2) may include a step of selecting a recording condition corresponding to a minimum value among the plurality of values indicating the reliability among the plurality of recording conditions.
  • the step (b-1) includes a step of obtaining the plurality of test signals by reproducing the plurality of test information from the recording medium, and a step of obtaining a plurality of test signals based on each of the plurality of test signals. And calculating a plurality of indices indicating the reliability of the plurality of test signals based on each of the plurality of test signals and the plurality of paths.
  • the step (b-2) may include a step of selecting one of the plurality of recording conditions based on the plurality of indices,
  • the step (b-2) may include a step of selecting a recording condition corresponding to a minimum value of the plurality of indices among the plurality of recording conditions.
  • the plurality of recording conditions may be assigned a priority to be selected.
  • the step (b) comprises the steps of: determining a relative position of a plurality of light pulses included in light according to the selected one recording condition; and irradiating the recording medium with the light. Forming a plurality of recording marks having a predetermined length on the recording medium.
  • the plurality of recording marks having the predetermined length may include a shortest recording mark.
  • the plurality of recording marks having the predetermined length may include a recording mark next to the shortest recording mark.
  • the relative positions of a plurality of light pulses included in the light are determined in accordance with the length of a plurality of recording marks formed on the recording medium for recording the information on the recording medium. And recording the information by irradiating the recording medium with the light.
  • the relative positions of the plurality of optical pulses may be determined according to the length of the shortest recording mark among the plurality of recording marks.
  • the relative positions of the plurality of light pulses may be determined according to the length of the longest recording mark next to the shortest recording mark among the plurality of recording marks.
  • the initial condition may be recorded on the recording medium at the time of producing the recording medium.
  • the method may further include a step of determining a predetermined recording condition based on at least one of the edge shift amount and the jitter. Note that the predetermined recording condition is included in the plurality of recording conditions.
  • the step (a-1) may include a step of determining the predetermined recording condition as the initial condition.
  • the recording apparatus of the present invention is a recording apparatus that records information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions, wherein the plurality of test information is recorded under the plurality of recording conditions.
  • the program of the present invention is a program for causing a computer to execute a recording process of recording information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions.
  • the step (b) comprises: (b-1) each of a plurality of test signals obtained by reproducing a plurality of test information recorded on the recording medium and at least one desired signal; And (b-2) selecting one of the plurality of recording conditions by referring to the deviation, whereby the object is achieved.
  • the recording control device of the present invention records information under one of a plurality of recording conditions.
  • a recording control device for recording on a recording medium wherein a deviation between each of a plurality of test signals obtained by reproducing a plurality of test information recorded on the recording medium and at least one desired signal.
  • the recording device, the program, and the recording control device of the present invention a difference between a plurality of test signals obtained by reproducing a plurality of test information and a desired signal is calculated, and a plurality of recordings are performed. Select one of the recording conditions. Therefore, in order to match one recording condition with a desired signal condition, information is recorded on a recording medium under conditions close to the desired signal condition only by selecting one recording condition from a plurality of recording conditions. be able to. As a result, the recording parameters can be optimized with a simple circuit configuration.
  • test recording is performed before recording user data, and user data is recorded under the condition that the PRML error index M becomes small. U, can record.
  • test recording is performed before recording user data, and recording of user data is performed under the condition that the PRML error index M is small, thereby achieving variation in optical disc quality. And data that is not affected by variations in the quality of optical disc devices.
  • FIG. 1 is a state transition diagram A showing a state transition rule defined by a recording code having a minimum polarity inversion interval of 2 and an equalization method PR (1, 2, 2, 1).
  • FIG. 2 is a trellis diagram that can be obtained by developing state transition diagram A along a time axis.
  • FIG. 3 is a diagram showing a distribution of Pa—Pb.
  • FIG. 4 is a diagram showing a configuration of an optical disc device 100 according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram showing a configuration of an optical disc 101.
  • FIG. 6 is a diagram showing a waveform of light emitted by the optical head 102 during recording.
  • FIG. 7 is a diagram showing a test signal recorded on an optical disc in order to optimize a pulse position of a 3T mark.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a procedure for determining a plurality of conditions for optimizing a pulse position.
  • FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a reproducing unit 104.
  • FIG. 10 is a diagram showing a configuration of a conventional optical disk device 400.
  • FIG. 11 is a diagram showing a configuration of a reproducing unit 404.
  • FIG. 12 is a diagram showing a configuration of a PLL 507.
  • FIG. 13 is a diagram showing signals generated by a plurality of components included in the reproducing means 404.
  • FIG. 14 is a diagram showing distribution of edge intervals.
  • FIG. 15 is a diagram showing a distribution of edge intervals.
  • index M a PRML error index M (hereinafter, referred to as “index M”) referred to by the optical disc device according to the embodiment of the present invention will be described (see “1. About index M”), The details of the optical disc device according to the embodiment of the present invention will be described (see “2. Optical disc device according to embodiment of the present invention”).
  • the maximum likelihood decoding method generally determines a waveform pattern of a reproduction signal by comparing the waveform of the reproduction signal with a previously estimated waveform, and decodes the reproduction signal based on the determination result. This is a decoding method.
  • the minimum polarity reversal interval of the recording code is 2, and the waveform of the signal is shaped so that the frequency characteristic of the signal becomes PR (1, 2, 2, 1) equalization. .
  • the recording code at the current time is b
  • the recording code one time before is b
  • the recording code two times before is k k-1
  • the value Level is expressed by (Equation 1).
  • k is an integer representing time
  • V is an integer from 0-6.
  • Table 1 is a state transition table in which the state at time k is represented by S (b, b, b).
  • Table 1 State transition table determined by minimum inversion interval 2 and PR (1 2, 2 1) constraints
  • FIG. 1 is a state transition diagram A showing a state transition rule determined by a recording code having a minimum polarity inversion interval of 2 and an equalization method PR (1, 2, 2, 1). State transition diagram A can be obtained by referring to Table 1.
  • SO indicates the state S (0, 0, 0) at time k
  • S1 indicates the state S (0, 0, k k k at time k
  • S2 indicates the state S (0, 1, 1) at time k
  • S3 indicates the state k k k k at time k
  • S (l, 1, 1), S4 indicates state S (l, 1, 0) at time k, and S5 at time k
  • FIG. 2 is a trellis diagram that can be obtained by developing the state transition diagram A along the time axis.
  • Figure 2 shows the state S k k-4
  • path A and path B Two state transition sequences (path A and path B) that can be taken between 0 and state S2 are shown. Transition of path A 4
  • transition is state S2, state S4, state S5, state SO, and state SO.
  • Path B transition is state S2, state S4, state S5, state SO, and state SO.
  • (C, C, C, C, C, C, C) is the maximum k-6 k-5 k-4 k-3 k—2 k—1 k from time k6 to time k.
  • Pa ⁇ Pb indicates the reliability of the maximum likelihood decoding result.
  • FIG. 3 shows the distribution of Pa—Pb.
  • Pa ⁇ Pb the maximum likelihood decoder selects path A with a high probability.
  • Pa Pb
  • the maximum likelihood decoder selects path B with a high probability.
  • Pa Pb
  • the probability of selecting path B is 50%, the decoding result of the maximum likelihood decoding unit is correct, and the probability is 50%.
  • the Pa-Pb distribution is obtained by calculating Pa-Pb based on the decoding result a predetermined number of times or a predetermined number of times.
  • FIG. 3A shows the distribution of Pa—Pb calculated based on the reproduced signal on which noise is superimposed.
  • FIG. 3 (b) shows the distribution of I Pa—Pb I Pstd. Find the standard deviation and average value Pave of the distribution shown in Fig. 3 (b). Assume that the distribution shown in Fig. 3 (b) is a normal distribution. , And the error probability P ( ⁇ , Pave) is expressed as (Equation 3).
  • the average value Pave and the standard deviation ⁇ can be used as indices of the reproduced signal quality.
  • I Pa-Pb I Pstd the value of I Pa-Pb I Pstd will be less than or equal to a predetermined reference value. It is also possible to count a certain number of times and use the counted number as an index of signal quality.
  • Table 2 Combinations of the shortest state transitions that can take two transitions
  • Pa-Pb (E k 3 -F k 3 ) + (D k 2 -F k 2 ) + (B k -D k ) + (A k -B k )
  • Pa-Pb (F k — 3 -G k _ 3 ) + (D k — 2 -F k _ 2 ) + (B k —Factory D k — XA Bj
  • Pa-Pb (E k 3 -F k 3 ) + (D k 2 -F k 2 ) + (B k ,-D k ,) + (B k -C k )
  • Pa-Pb (F k — 3 -G k — 3 ) + (D k — 2 -F k — 2 ) + (B k —Factory Dk—XBk-Ck)
  • Pa-Pb (A k 3 -B k (B k 2 -D k 2 ) + (D k -F k ) + (E k -F k )
  • Pa-Pb (B k 3 -C k 3 ) + (B k 2 -D k 2 ) + (D kl -F k 1 ) + (E k -F k )
  • Pa-Pb (A k 3 -B k (B k 2 -D k 2 ) + (D k -F k ) + (F k -G k )
  • Pa-Pb (B k _ 3 -C k _ 3 ) + (B k _ 2 -D k _ 2 ) + (D k _ 1 -F k —,) + (F k -G k )
  • index 6 can be used as an index indicating the quality of
  • index M can be defined as (index 6) as an index M.
  • index M for evaluating a reproduced signal based on the maximum likelihood decoding method
  • FIG. 4 shows a configuration of the optical disc device 100 according to the embodiment of the present invention.
  • Reference numeral 100 denotes a configuration in which the optical disk 101 can be mounted.
  • FIG. 5 shows the configuration of the optical disc 101.
  • the optical disc 101 has a groove track 601 formed thereon.
  • the shape of the groove track 601 is, for example, a snail shape or a concentric shape.
  • the groove track 601 includes a recording area.
  • the optical disc device 100 includes an optical head 102, a reproducing unit 104, a demodulating ECC circuit 106, a recording condition determining unit 108, a recording compensating circuit 109, a recording power setting unit 111, and a laser driving circuit 112. I can.
  • FIG. 6 shows a waveform of light emitted by the optical head 102 during recording.
  • data of the Run Length Limited (1, 7) modulation method is recorded by the mark edge recording method.
  • the recording method is not limited to the mark edge recording method, but may be another recording method.
  • the parameters of the light waveform include a parameter indicating the recording power and a parameter indicating the pulse position.
  • Parameters indicating the recording power include peak power (Pw), bias power (Pe), and bottom power (Pbw).
  • Parameters indicating the pulse position include Ttop, dTtop, Tmp, and dTe.
  • the rising position of the pulse having the width Tmp and the starting point of d Ttop of the leading pulse are reference positions that define the relative relationship with the original signal.
  • the number of pulses is adjusted according to the length of the mark formed on the optical disc 101.
  • the 2T mark is recorded with one pulse
  • the 3T mark is recorded with two pulses.
  • the number of pulses increases by one as the mark formed on the optical disc 101 becomes longer by 1T.
  • the optical disc device 100 records information on the optical disc 101 under one of a plurality of recording conditions.
  • each of the plurality of recording conditions indicates a parameter of a light waveform.
  • the optical head 102 is controlled to move to a test area included in the optical disk 101. Is done. In the test area, the optimum recording power and Test information for setting the optimum pulse position is recorded.
  • the test area is not limited to being provided at the innermost circumference of the optical disc 101, for example, as long as the test area is a recording area other than a user area for recording data by a force provided at the innermost circumference of the optical disc 101. .
  • the test area may be provided on the outermost circumference of the optical disc 101, for example.
  • the recording power setting means 111 sets the initial values of the recording power (the initial values of the peak power, the noise power, and the bottom power) in the laser drive circuit 112.
  • the initial value of the recording power is previously recorded on the optical disk 101 at the time of manufacturing the optical disk 101, but when the optical disk 101 is mounted on the optical disk device 100, the initial value of the recording power is calculated by test recording and calculated. An initial value can be recorded on the optical disc 101.
  • the initial value of the recording power previously recorded on the optical disc 101 when the optical disc 101 is manufactured is supplied to the laser drive circuit 112.
  • the optical disc quality and the optical disc device quality are determined in consideration of the variation, and based on this value, it is possible to perform good recording with the SZN ratio secured.
  • the recording compensation circuit 109 sends a signal 110 to the laser drive circuit 112.
  • the laser drive circuit 112 generates a pulse train signal 113 shaped according to the length of the mark to be recorded, based on the signal 110.
  • the laser drive circuit 112 sends the pulse train signal 113 to the optical head 102, and the optical head 102 performs test recording of a test signal on the optical disk 101 based on the pulse train signal 113.
  • the output light of the semiconductor laser provided in the optical head 102 is focused on the optical disc 101 as a light spot, and the semiconductor laser forms a recording mark on the optical disc 101 in accordance with the emission waveform. Details of the test signal will be described later.
  • the test area Before the test recording, the test area can be recorded only with the bias power. By recording only with the no-power, the signal recorded in the test area before the test recording is erased from the test area, so that the influence of the signal recorded in the test area before the test recording on the test recording may be reduced. Can be reduced.
  • the wavelength of the laser beam from the optical head 102 is about 405 nm, and the NA (Numerical Aperture) of the objective lens is about 0.85.
  • the shortest mark length is about 0.16 microns is there.
  • FIG. 7 shows a test signal recorded on the optical disc in order to optimize the pulse position of the 3T mark.
  • the test signal has various conditions and is test-recorded on a groove track.
  • the groove track is included in the test area.
  • Test signals are recorded on the groove track under a plurality of conditions.
  • this groove track includes a test signal A having a condition A, a test signal B having a condition B, a test signal C having a condition C, and a test signal D having a condition D. It is recorded several times in order. Based on the reproduced signal obtained by reproducing these recorded signals, it is possible to reduce the influence of the tilt variation in the circumferential direction of the optical disc 101 and the scratches and stains on the disc.
  • the initial value indicating the pulse position indicates, for example, condition A.
  • the value indicating the condition A may be written in the optical disc 101 in advance, or may be obtained in advance based on the result of the test recording.
  • One example in which the initial value of the pulse position is described in advance on the optical disc 101 is a case where a value common to a plurality of optical discs created under the same conditions is described when the optical disc is created. For example, it can be recorded in advance by wobbling a group.
  • One example in which the initial value of the pulse position is obtained in advance based on the result of the test recording is a case where the recording parameters optimized for the optical disc 101 in the previous time are recorded in the test area. If both the value written when creating the optical disc 101 and the value of the recording parameter optimized for the previous optical disc 101 are recorded on the optical disc 101, the value of the recording parameter optimized for the previous optical disc 101 is used. It is better to use.
  • the recording parameter values optimized for the previous optical disc 101 were determined in consideration of the variations in the quality of the optical disc and the quality of the optical disc drive, and based on this value, the SZN ratio could be secured. Recording can be performed.
  • one condition may be recorded in one lap, and one test recording may be one or more laps. Optimization accuracy is improved by increasing the number of samples.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining a procedure for determining a plurality of conditions for optimizing a pulse position.
  • the procedure for determining a plurality of conditions for optimizing the pulse position is executed by at least one of the recording condition determining means 108 and the recording compensation circuit 109.
  • Condition A is determined as an initial value indicating the pulse position.
  • the value indicating the condition A may be written in the optical disc 101 in advance, or may be obtained in advance based on the result of the test recording.
  • the optical disc device 100 controls the optical head 102 to record the data on the optical disc 101! Read the initial value.
  • condition B is determined by fixing Ttop and dTtop of condition A and reducing dTe of condition A by a predetermined size ( ⁇ dTe).
  • Condition C is determined by increasing Ttop of condition A by a predetermined size ( ⁇ Ttop), increasing dTtop of condition A by a predetermined size ( ⁇ dTtop), and fixing dTe of condition A.
  • Ttop of condition A is increased by a predetermined size ( ⁇ Ttop)
  • dTtop of condition A is increased by a predetermined size ( ⁇ dTtop)
  • dTe of condition A is increased by a predetermined size ( ⁇ dTe).
  • condition D is determined.
  • the pulse position changing step (for example, ATtop, ⁇ dTtop, ⁇ dTe) is desirably about 1% to 7% of the window width.
  • Condition a is determined as an initial value indicating the pulse position.
  • the value indicating the condition a may be written in the optical disk 101 in advance, or may be obtained in advance based on the result of the test recording.
  • the condition b is determined by fixing Ttop and dTtop of the condition a and increasing the dTe of the condition a by a predetermined size ( ⁇ dTe).
  • the Ttop of the condition a is increased by a predetermined size ( ⁇ Ttop)
  • the dTtop of the condition a is increased by a predetermined size ( ⁇ dTtop)
  • the d of the condition a is further increased.
  • condition c is determined.
  • Ttop of condition a is increased by a predetermined size (ATto P)
  • dTtop of condition a is increased by a predetermined size ( ⁇ dTtop)
  • dTe of condition a is increased by a predetermined size ( ⁇ dTe).
  • the condition d is determined by increasing the value of
  • condition b ' is determined by fixing Ttop and dTtop of the condition a and reducing dTe of the condition a by a predetermined size ( ⁇ dTe).
  • Ttop of condition a is reduced by a predetermined size (ATtop)
  • dTtop of condition a is reduced by a predetermined size ( ⁇ dTtop)
  • dTe of condition a is reduced by a predetermined size ( ⁇ dTe).
  • the condition d ' is determined by reducing the value by as much as possible.
  • the pulse position changing step (for example, ATtop, ⁇ dTtop, ⁇ dTe) is desirably about 1% to 7% of the window width.
  • the parameters indicating the pulse position of 2T are set in condition a, condition b, condition c, and condition d (see Fig. 8 (b)), and the test signal indicating these conditions is recorded and reproduced.
  • the condition where M is the smallest is provisionally determined.
  • the parameters indicating the pulse position of 2T are set in condition a, condition b ', condition c', and condition d '(see Fig. 8 (b)), and the test signal indicating these conditions is recorded and reproduced.
  • the condition where the index M is the smallest is provisionally determined. Of the two provisionally determined conditions, the one with the smaller index M is determined as the condition indicating the 2T pulse position.
  • the pulse position of the mark other than the 3T mark is not changed, and similarly, when changing the pulse position of the 2T mark, the pulse position of the mark other than the 2T mark is not changed.
  • the data to be recorded may be a random pattern or may be fixed to a specific pattern.
  • the step of changing the pulse position is desirably about 1% to 7% of the window width.
  • One method for reducing the index M is to correctly identify the 2T mark and the 3T mark, and as in the present embodiment, the pulse of either one or both of the 2T mark and the 3T mark is used. By optimizing the position, recording can be performed more correctly.
  • the optimum pulse position of the 3T mark is determined once by performing test recording and reproduction under four conditions, and the seven conditions are divided into two times to perform test recording and reproduction.
  • the procedure for determining the optimal pulse position of the 2T mark is not limited to this.
  • the force determination procedure for simultaneously determining Ttop and dTtop is not limited to this.
  • the 3T mark is recorded by pulse positions corresponding to the four conditions, but all three conditions except the initial condition are conditions under which the 3T mark is recorded long. is there. In order to identify 2T marks with high frequency of appearance more reliably, there is a high probability that the optimum conditions will be found under conditions where the 3T marks are long.
  • the 2T signal is recorded by the pulse positions corresponding to the seven conditions.
  • the 2T signal has a large change in the SZN ratio due to variations between the optical disk and the optical disk device. Do not search only. Note that, in FIG. 8B, the upper right condition and the lower left condition have a risk that the mark length is greatly changed as compared with the initial state, and therefore, no search is performed in the present embodiment.
  • the pulse determination conditions for recording the 2T mark and the 3T mark in the present embodiment are such that the initial conditions are determined in the same procedure as in the present embodiment, or are described in the conventional example. This is effective when the jitter is determined by a procedure that reduces the jitter similarly to the procedure. If there is no basis that the initial condition and the optimum condition are close to each other, a pulse determining condition different from that of the present embodiment may be used.
  • the laser drive circuit 112 causes the optical head 102 to transmit the test signal recorded on the optical disc 101.
  • the optical head 102 is controlled so as to reproduce A, test signal B, test signal C, and test signal D.
  • the reproduced signal 103 generated by reproducing the test signal A, the test signal B, the test signal C, and the test signal D is input to the reproducing means 104.
  • the reproduction signal 103 changes according to the presence or absence of a recording mark formed on the optical disc 101.
  • FIG. 9 shows a configuration of the reproducing means 104.
  • the reproducing means 104 includes a preamplifier 201, a high-pass filter 202, an AGC circuit 203, a waveform equalizer 204, an AZD translator 205, a shaping section 206, a maximum likelihood decoder 207, and a reliability calculating section 208.
  • the shaping unit 206 is, for example, a digital filter, and a digital filter generated by the AZD converter 205. Receiving the digital signal and shaping the waveform of the digital signal so that the digital signal has a predetermined equalization characteristic.
  • the maximum likelihood decoder 207 is, for example, a Viterbi decoding circuit, performs maximum likelihood decoding on a digital signal whose waveform is output from the shaping unit 206, and generates a binary signal indicating a result of the maximum likelihood decoding. .
  • the reliability calculation unit 208 is, for example, a difference metric analyzer, and is based on the digital signal whose waveform is output from the shaping unit 206 and the binary signal output from the maximum likelihood decoder 207. Calculate the reliability of the result of maximum likelihood decoding.
  • the reliability of the result of maximum likelihood decoding is determined by the difference between the shaped digital signal output from the shaping unit 206 and the binarized signal output from the maximum likelihood decoder 207 or the output from the shaping unit 206. This is indicated by the difference between the digital signal whose waveform has been shaped and the signal generated based on the binary signal output from the maximum likelihood decoder 207.
  • Preamplifier 201 amplifies signal 103.
  • the amplified signal 103 is AC-coupled by the high-pass filter 202 and then input to the AGC 203.
  • AGC 203 adjusts the gain so that the output of waveform equalizer 204 has a constant amplitude.
  • the reproduced signal output from AGC 203 is shaped by waveform equalizer 204.
  • the waveform-shaped reproduced signal is input to AZD Transform 205.
  • AZD translator 205 samples the reproduced signal at clock 209.
  • the clock 209 is generated based on the reproduced signal by a PLL (not shown).
  • the reproduction signal generated by sampling the AZD transformer 205 is input to the shaping unit 206.
  • the shaping section 206 adjusts the frequency characteristic of the reproduced signal during recording and reproduction to the characteristic assumed by the maximum likelihood decoder 207 (in this embodiment, the PR (1, 2, 2, 1) equalization characteristic). Adjust the frequency of the playback signal (ie, shape the waveform of the playback signal).
  • Maximum likelihood decoder 207 performs maximum likelihood decoding on the waveform-shaped reproduced signal output from shaping section 206, and generates a binary signal.
  • the reliability calculation unit 208 receives the waveform-shaped reproduced signal output from the shaping unit 206 and the binarized signal. The reliability calculation unit 208 determines a state transition from the binary signal.
  • the reliability calculation unit 208 calculates an index M (see (Equation 6)) indicating the reliability of the decoding result based on V based on the determination result and the data 210.
  • the reliability calculator 208 calculates an index M based on the reproduced signals corresponding to the plurality of test signals A, and further calculates Calculate the average of multiple indicators M issued. Further, the reliability calculator 208 calculates the average of the index M for each of the plurality of test signals B, the plurality of test signals C, and the plurality of test signals D, as in the case of the plurality of test signals A. Is calculated.
  • the output result 107 is sent to the recording condition determining means 108.
  • Output 107 contains these averages.
  • the recording condition determining means 108 selects (determines) the condition corresponding to the smallest value from the plurality of average values included in the output result 107 as the pulse position condition of the 3T mark. If a plurality of average values are equal to or similar to each other, the value can be determined according to a priority assigned in advance. For example, an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals C may be prioritized over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals D. The average of multiple indicators based on multiple test signals B may take precedence over the average of multiple indicators based on multiple test signals C. An average of a plurality of indices based on a plurality of test signals A may be prioritized over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals B.
  • test signals A, test signals B, test signals C, and test signals D is not limited to a plurality. If there is not more than one test signal A, test signal B, test signal C and test signal D, there is no need to calculate the average of the indicators based on each test signal.
  • a plurality of test signals are subjected to maximum likelihood decoding, a plurality of binary signals indicating the result of the maximum likelihood decoding are generated, and a plurality of test signals and a plurality of binary signal signals are output by reliability calculating section 208.
  • the form in which the index M indicating the reliability of the decoding result is calculated has been described, but the calculation of the index indicating the reliability is not limited to this form. For example, when signals indicating a plurality of paths generated by the maximum likelihood decoder 207 based on the test signal are input to the reliability calculation unit 208, the reliability calculation unit 208 Based on the path, a plurality of indicators indicating the reliability of the test signal are calculated.
  • the reliability calculation unit 208 calculates the difference between the test signal and the path A and the difference between the test signal and the path B.
  • the reliability calculation unit 208 calculates an index indicating the reliability of the test signal with reference to these differences.
  • the recording condition determining means 408 can select one recording condition from the plurality of recording conditions based on the plurality of indices indicating the reliability of the plurality of test signals.
  • the parameter indicating the pulse position of the 3T mark has been optimally determined. According to these parameters, the relative positions of a plurality of light pulses included in the light are determined, and by irradiating the light to the optical disk 101, an optimal 3 ⁇ mark can be formed on the optical disk 101.
  • the optimization of the parameter indicating the pulse position of the 2 ⁇ mark is performed in the same manner as the optimization of the parameter indicating the pulse position of the 3 ⁇ mark.
  • test recording of test signal a, test signal b, test signal c, test signal d, test signal b ', test signal c', and test signal d 'indicating the pulse position of the 2 ⁇ mark is completed, the laser driving circuit The path 112 controls the optical head 102 so that the optical head 102 reproduces these test signals recorded on the optical disk 101.
  • a reproduced signal 103 generated by reproducing these test signals is input to reproducing means 104.
  • the reproduction signal 103 changes according to the presence or absence of a recording mark formed on the optical disc 101.
  • the reliability calculation unit 208 calculates the index M based on the reproduced signals corresponding to the plurality of test signals a, and further calculates the average of the plurality of calculated indexes M. Further, the reliability calculation unit 208 calculates the average of the index M for each of the plurality of test signals b, the plurality of test signals c, and the plurality of test signals d, as in the case of the plurality of test signals a. Is calculated.
  • the output result 107 is sent to the recording condition determining means 108.
  • Output 107 contains these averages.
  • the recording condition determining means 108 performs the first temporary determination using the condition corresponding to the smallest value among the plurality of average values included in the output result 107 as the pulse position condition of the 2T mark.
  • the reliability calculation unit 208 performs the reliability calculation unit 208 for each of the plurality of test signals a, the plurality of test signals b ', the plurality of test signals c', and the plurality of test signals d ' Calculate the average of the index M.
  • the output result 107 is sent to the recording condition determining means 108.
  • Output 107 contains these averages.
  • the recording condition determining means 108 performs the second temporary determination using the condition corresponding to the smallest value among the plurality of average values included in the output result 107 as the pulse position condition of the 2T mark.
  • the recording condition determining means 108 determines the condition corresponding to the smallest value of the condition determined in the first temporary determination and the condition determined in the second temporary determination as the pulse position condition of the 2T mark. To be determined.
  • the respective indexes are normalized. Then, the condition corresponding to the smallest value is determined as the T mark pulse position condition. For example, based on index M based on test signal a calculated for the first tentative decision, based on index based on multiple test signals b, index based on multiple test signals c, and based on multiple test signals d Normalize the indicator.
  • the index based on the multiple test signals b ', the index based on the multiple test signals c' and the multiple test signals d ' Normalize the index based on. Note that when recording for determining the 2T pulse position condition is performed, the immediately preceding 3T pulse position determination condition is reflected.
  • the value may be determined according to a priority order assigned in advance. For example, an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals c may be given priority over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals d. The average of multiple indicators based on multiple test signals b may be given priority over the average of multiple indicators based on multiple test signals c. An average of a plurality of indices based on a plurality of test signals a may be given priority over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals b.
  • an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals c ' may be prioritized over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals d'.
  • An average of a plurality of indices based on a plurality of test signals b ' may be prioritized over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals c'.
  • An average of a plurality of indices based on a plurality of test signals a may be prioritized over an average of a plurality of indices based on a plurality of test signals b '.
  • the priority order may be multiple test signals a, multiple test signals b ', multiple test signals b, multiple test signals d', multiple test signals c ', multiple test signals d, multiple test signals Signal c or multiple test signals a, multiple test signals b, multiple test signals b ', multiple test signals Signal d, the plurality of test signals c, the plurality of test signals d ', and the plurality of test signals c'.
  • test signal a test signal b, test signal c, test signal d, test signal b ', test signal c', and test signal d 'is not limited to plural. If each of these test signals is not plural, it is not necessary to calculate the average of the index based on each test signal.
  • the parameter indicating the pulse position of the 2T mark has been optimally determined. According to these parameters, the relative positions of a plurality of light pulses included in the light are determined, and by irradiating the light to the optical disc 101, an optimal 2T mark can be formed on the optical disc 101.
  • dTe generally has smaller fluctuations in the recording mark shape with respect to a change of one step than Ttop and dTto.
  • the initial condition when the initial condition is determined to be equal to or less than a predetermined jitter, by setting a priority order as in the present embodiment, it is possible to improve both the jitter and the index M.
  • the pulse position can be determined.
  • the clock 209 is output from the PLL, and jitter is an indicator of the stable operation of the PLL. Can be.
  • the priority order is set as in the present embodiment.
  • the pulse position can be determined such that the edge shift is small and the index M is good.
  • the initial condition can be determined based on at least one of the edge shift amount and the jitter.
  • the test recording is performed before the recording of the user data, and the recording of the user data is performed under the condition that the index M becomes small, so that the shortest time is obtained. If the mark length is short, even if it is positive U, recording can be performed. [0143] In determining the condition for optimizing the pulse position of the 2T mark and the condition for optimizing the pulse position of the 3T mark, only the pulse position different from the initial condition by one step is used. No search is performed, and the movement of the noise position is restricted.
  • a pulse position with small jitter degradation and a good index ⁇ can be obtained. Can be determined. Further, by repeating the search step, a pulse position different by two or more steps may be searched. In this case, the pulse position determined in one step may be used as the initial value in the next step! /.
  • the initial condition is determined by the circuit configuration as shown in FIG. 11 to be a recording condition such that the output signal of the edge interval measuring circuit 1108 is reduced
  • the priority as in the present embodiment is set.
  • parameters indicating recording power may be determined by test recording.
  • the magnitude of the index ⁇ that is, the eight patterns (see (Equation 4)
  • the force is also calculated
  • the standard deviation ⁇ is calculated.
  • the recording may be performed again by increasing the falling position of the trailing edge of the 2T mark or by delaying the falling position of the trailing edge of the 3T mark, and the smaller standard deviation may be determined.
  • the combination of mark and space If the position of the mark can be determined, the trailing edge of the trailing edge of the 2T mark in the 2T mark, 3T space and the following combination is increased, or the trailing edge of the 3T mark in the combination of the 3T mark and the 2T space By slowing down the falling position, the recording is performed again, and the standard deviation may be determined to be smaller. As a result, the edge position can be optimized with higher accuracy.
  • the recording may be performed again by increasing the rising position of the leading edge of the 3T mark or by decreasing the rising position of the leading edge of the 2T mark, and the standard deviation may be determined to be smaller.
  • the edge position can be determined by the combination of the mark and the space, the space of 3T or more, the rising position of the starting edge of the 3T mark in the combination of 3T marks, or the 4T or more
  • the standard deviation force may be determined by delaying the rising position of the leading edge of the 2T mark in the combination of the space and the 2T mark.
  • the force that determines the optimum pulse position for the 3T mark and the 2T mark may be determined only for the 2T mark. Since the 2T mark has the highest frequency of appearance, optimizing the pulse position of the 2T mark can achieve more accurate recording than before and shorten the time required to determine the optimum pulse position.
  • the optimal pulse positions of the 3T mark and the 2T mark are determined, but the pulse position of the 4T mark can be optimized. By determining the optimal pulse position of the 4T mark, more accurate recording can be performed. Similarly, if there is enough time to determine the optimum pulse position, the optimum pulse positions of all marks can be determined.
  • PR (1, 2, 2, 1) equalization is performed using a code having a minimum polarity reversal interval of 2 as a recording code. It is not limited to this.
  • the minimum polarity reversal interval is 2 such as a (1, 7) modulation code for a recording code
  • the above-described embodiment can be applied, and the minimum polarity inversion such as an 8-16 modulation code used for DVD is used.
  • the present invention can be implemented by using a state transition rule. Therefore, when using the state transition rule determined by the recording code that is the minimum polarity reversal interval force ⁇ and the equalization method PR (CO, CI, CI, CO), or the recording code that has the minimum polarity reversal interval of 2 or 3 And the equalization method PR (CO, CI, C2, CI). , CO) can be applied even when the state transition rule defined by CO, Cl, C2 are any positive numbers.
  • optical disc device 100 The configuration and operation of the optical disc device 100 according to the embodiment of the present invention have been described above.
  • the optical disk device 100 corresponds to “a recording device that records information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions”.
  • the laser driving circuit 112 corresponds to “first recording means for recording a plurality of test information on a recording medium under a plurality of recording conditions”
  • the reproduction means 104 corresponds to “a second recording means for recording information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions”
  • the reliability calculation unit 208 includes “a plurality of recording conditions recorded on a recording medium”.
  • the recording condition determination means 108 corresponds to a ⁇ calculation unit that calculates a difference between each of the plurality of test signals obtained by reproducing the test information of , One of multiple recording conditions Corresponding to the selected part "to select.
  • optical disk device 100 of the present invention is not limited to those shown in FIGS. 4 and 9. As long as the function of each means described above is achieved, a device having any configuration can be included in the scope of the present invention.
  • the discrepancies between a plurality of test signals obtained by reproducing a plurality of test information recorded on a recording medium by the optical disc device 100 and a desired signal indicating a desired pattern can be referred to.
  • the deviation is not limited to being represented by the index M.
  • the difference between the test signal waveform pattern and the pre-estimated pattern can be determined, and the recording condition can be selected based on the determination result.
  • the patterns estimated in advance are not limited to two patterns. If there is at least one pattern estimated in advance, one of a plurality of recording conditions can be selected by calculating a difference between at least one pattern and a test signal.
  • the pattern estimated in advance is not limited to a pattern indicating a 2T mark or a 2T space.
  • the pattern may be an nT mark or an nT space (n is a positive integer).
  • the pattern estimated in advance can be a combination of a plurality of patterns.
  • the pattern estimated in advance may be a combination of a pattern indicating a 2T mark, a pattern indicating a 2T space, and a pattern indicating a 3T mark.
  • the pattern estimated in advance is not limited to being stored in advance in a storage unit provided in the optical disk device.
  • the pre-estimated pattern can be generated by the optical disk device after the test signal is reproduced.
  • the optical disk device is capable of knowing in advance what shape a pattern having an ideal shape has.
  • each means described in the embodiment shown in FIGS. 4 and 9 may be realized by hardware, may be realized by software, or may be realized by hardware and software. It may be realized. Regardless of whether it is realized by hardware, software, or hardware and software, the optical disc device can record "multiple test information on a recording medium under multiple recording conditions." A step of recording information on a recording medium under one of a plurality of recording conditions, and a step of reproducing a plurality of pieces of test information recorded on the recording medium. Calculating a difference between each of the plurality of test signals and at least one desired signal '' and a step of selecting one of the plurality of recording conditions by referring to the difference.
  • the recording processing of the present invention can be executed.
  • the recording process of the present invention may have an arbitrary procedure as long as the above-described steps can be executed.
  • a recording processing program for executing the function of the optical disk device is stored in the optical disk device of the present invention.
  • the recording processing program causes a function of the optical disk device to be executed.
  • the recording processing program may be stored in advance in a storage unit included in the optical disk device when the computer is shipped. Alternatively, the recording processing program may be stored in the storage unit after the computer is shipped. For example, a user may download a recording processing program from a specific website on the Internet for a fee or free of charge, and install the downloaded program on a computer. If the recording processing program is recorded on a computer-readable recording medium such as a flexible disk, CD-ROM, DVD-ROM, etc., the access processing is installed in the computer using an input device (for example, a disk drive). I'm going to make it one shot. The installed recording processing program is stored in the storage unit.
  • the recording control device (the shaping unit 206, the maximum likelihood decoding unit 207, the reliability calculating unit 208, and the recording condition determining unit 108) is implemented as a one-chip LSI (semiconductor integrated circuit) or a part thereof. Can be manufactured.
  • the recording control device is manufactured as a one-chip LSI, the manufacturing process of the optical disk device can be simplified.
  • the recording method of the present invention is useful when performing high-density recording on an optical disc.
  • the recording device, the program, and the recording control device of the present invention a difference between a plurality of test signals obtained by reproducing a plurality of test information and a desired signal is calculated, and a plurality of recording signals are recorded. Select one of the recording conditions. Therefore, in order to match one recording condition with a desired signal condition, information is recorded on a recording medium under conditions close to the desired signal condition only by selecting one recording condition from a plurality of recording conditions. thing Can do. As a result, the recording parameters can be optimized with a simple circuit configuration.
  • test recording is performed before recording user data, and user data is recorded under the condition that the PRML error index M is small. Therefore, even if the shortest mark length is short, it is correct. U, can record.
  • test recording is performed before recording of user data, and user data is recorded under a condition where the PRML error index M is small, so that variations in optical disc quality can be achieved. And data that is not affected by variations in the quality of optical disc devices.

Landscapes

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Abstract

　本発明の記録方法は、複数の記録条件のうちの１つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法であって、（ａ）前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップと、（ｂ）前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ（ｂ）は、（ｂ−１）前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも１つの所望信号との乖離を算出するステップと、（ｂ−２）前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの１つの記録条件を選択するステップとを包含する。

Description

明 細 書
記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置
技術分野
[0001] 本発明は、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒体に記録する 記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置に関する。
背景技術
[0002] 光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射することによって光ディスクにデジ タル情報を記録する。しかし、光ディスク装置および光ディスクは個体差を有するた め、光ディスクに記録された信号の品質が低下する。個体差に起因する信号品質の 低下を防ぐために、例えば、光ディスクを光ディスク装置に装着する時に信号をテスト 記録し、例えば、照射パワーおよび光パルス形状を最適にする。
[0003] 図 10は、従来の光ディスク装置 400の構成を示す。
[0004] 光ディスク装置 400は、光ディスク 401が装着可能なように構成されている。光ディ スク装置 400は、光ヘッド 402と、再生手段 404と、復調 'ECC回路 406と、記録条件 決定手段 408と、記録補償回路 409と、レーザ駆動回路 412と、記録パワー設定手 段 411とを備える。
[0005] 記録条件決定手段 408は、記録パルス位置と記録パワーとを決定する。記録補償 回路 409は、記録条件決定手段 408の決定に従って記録パルス位置を設定する。 記録パワー設定手段 411は、記録条件決定手段 408の決定に従って記録パワーを 設定する。レーザ駆動回路 412は、光ヘッド 402が光ディスク 401に対して所定のテ スト記録を行うように、光ヘッド 402を制御する。
[0006] テスト記録が終わると、レーザ駆動回路 412は、光ヘッド 402が光ディスク 401に記 録された信号を再生するように、光ヘッド 402を制御する。再生信号 403は再生手段 404に入力される。
[0007] 図 11は、再生手段 404の構成を示す。
[0008] 再生手段 404は、プリアンプ 501と、イコライザ 502と、ローパスフィルタ 503と、 2値 化回路 505と、 PLL (Phase Locked Loop) 507と、エッジ間隔測定回路 508と、 ジッタ演算回路 510とを備える。
[0009] プリアンプ 501は、再生信号 403を増幅し、イコライザ 502およびローパスフィルタ 5 03は、増幅された再生信号 403を波形等化することによって、信号 504を生成する。 2値化回路 505は、信号 504とスライスレベルとに基づいてパルス信号 506を生成す る。 2値ィ匕回路 505は、マークの積分値とスペースの積分値とが等しくなるように、スラ イスレベルを通常数 ΙΟΚΗζの帯域で動作する。パルス信号 506は PLL507に入力 される。
[0010] 図 12は、 PLL507の構成を示す。
[0011] PLL507は、位相比較器 601と、ローパスフィルタ 602と、 VCO603と、フリップフロ ップ 605と、分周回路 606と、ゲート回路 607とを備免る。
[0012] 位相比較器 601は、パルス信号 506の位相とゲート回路 607から出力された信号 6 08の位相との差を検出する。位相比較器 601は、パルス信号 506と信号 608との位 相差および周波数差を示す誤差信号を生成する。
[0013] ローパスフィルタ 602は、誤差信号の低周波成分のみを取り出し、 VCO603の制 御電圧を示す制御信号を生成する。 VCO603は制御電圧に基づ ヽてクロック信号 6 04を生成する。分周回路 606は、クロック信号 604を分周する。ゲート回路 607は分 周されたクロック信号 604に基づいて、信号 608を生成する。 VCO603は、位相比 較器 602に入力される 2つの信号 (パルス信号 506および信号 608)の位相が等しく なるように制御される。このようにして、 PLL507は、パルス信号 506に基づいて、信 号 405を生成する。
[0014] 2値化回路 505から出力されたパルス信号 506と、フリップフロップ 605から出力さ れた信号 405とがエッジ間隔測定回路 508に入力されると、エッジ間隔測定回路 50 8は、 2つのパルスのエッジ間隔 tO、 tl、 t2、 t3、 t4、 t5、 t6、 t7、 t8、 t9 ' · ·を測定し 、ジッタ演算回路 510にエッジ間隔を示す信号 509を出力する（図 13参照)。
[0015] ジッタ演算回路 510は、エッジ間隔を積分する。
[0016] 図 14は、エッジ間隔の分布を示す。ジッタ演算回路 510は、例えば、エッジ間隔の 分布に基づいて標準偏差を算出し、算出結果を示す信号 407を記録条件決定手段 408に出力する。記録条件決定手段 408は、信号 407に基づいて最適な記録条件 を探索する。
特許文献 1：特開 2000-200418号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0017] しかし、記録データの最短マーク長が非常に短い場合には、例えば、符号間干渉 に起因して、エッジ間隔の分布の一部がウィンド幅を越えることがあった（図図 15参 照)。この場合でも正規分布から外れる部分は全体の総数に対して非常に少なぐ標 準偏差は分布の中心部分が支配的であるため、ジッタの増加は小さい。しかし、実際 にはウィンド幅を越えてエラーとなって 、るので、エラー発生確率は増大して 、た。 すなわちエラー発生確率が異なる場合でもジッタが同じになる場合がある。したがつ て、ジッタのみ力も正確なエラー発生確率を予測することが困難な場合があった。
[0018] 本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、最短マーク長が従来よりも短い 場合でも正 、記録を行うための記録方法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
[0019] 本発明の記録方法は、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒 体に記録する記録方法であって、（a)前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を 前記記録媒体に記録するステップと、 (b)前記複数の記録条件のうちの 1つの記録 条件で、前記情報を前記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ (b) は、（b— 1)前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得ら れた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出するス テツプと、（b— 2)前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1 つの記録条件を選択するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
[0020] 前記ステップ (a)は、 (a-1)初期条件を決定するステップと、（a— 2)前記初期条件 に基づいて、少なくとも 1つの記録条件を決定するステップとを包含してもよい。前記 複数の記録条件は、前記初期条件と前記決定された少なくとも 1つの記録条件とを 含む。
[0021] 前記ステップ (b— 1)は、前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することに よって、前記複数のテスト信号を得るステップと、前記複数のテスト信号を最尤復号し 、前記最尤復号の結果を示す複数の 2値化信号を生成するステップと、前記複数の テスト信号と前記複数の 2値化信号とに基づいて、前記最尤復号の結果の信頼性を 計算する計算ステップとを包含し、前記ステップ (b - 2)は、前記信頼性を示す複数の 値に基づ 、て、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択するステップを 包含してちょい。
[0022] 前記ステップ (b— 2)は、前記複数の記録条件のうち、前記信頼性を示す複数の値 のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含してもよい。
[0023] 前記ステップ (b - 1)は、前記記録媒体から前記複数のテスト情報を再生することに よって、前記複数のテスト信号を得るステップと、前記複数のテスト信号のそれぞれに 基づいて、複数のパスを生成するステップと、前記複数のテスト信号のそれぞれと前 記複数のパスとに基づ!、て、前記複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標を計 算する計算ステップとを包含し、前記ステップ (b— 2)は、前記複数の指標に基づいて 、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択するステップを包含してもよ 、
[0024] 前記ステップ (b - 2)は、前記複数の記録条件のうち、前記複数の指標のうちの最 小値に対応する記録条件を選択するステップを包含してもよい。
[0025] 前記複数の記録条件には、選択される優先順位が付されて 、てもよ 、。
[0026] 前記ステップ (b)は、前記選択された 1つの記録条件に従って、光に含まれる複数 の光パルスの相対位置を決定するステップと、前記光を前記記録媒体に照射するこ とによって、所定の長さを有する複数の記録マークを前記記録媒体に形成するステツ プとを包含してもよい。
[0027] 前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークを含んでもょ 、。
[0028] 前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークの次に長!、記録マ ークを含んでもよい。
[0029] 前記ステップ (b)は、前記情報を前記記録媒体に記録するために前記記録媒体に 形成される複数の記録マークの長さに応じて、光に含まれる複数の光パルスの相対 位置を決定するステップと、前記光を前記記録媒体に照射することによって、前記情 報を記録するステップとを包含してもよ 、。 [0030] 前記複数の記録マークのうち、最短記録マークの長さに応じて、前記複数の光パ ルスの相対位置を決定してもよ 、。
[0031] 前記複数の記録マークのうち、最短記録マークの次に長い記録マークの長さに応 じて、前記複数の光パルスの相対位置を決定してもよ 、。
[0032] 前記初期条件は、前記記録媒体作製時に前記記録媒体に記録されて!、てもよ 、。
[0033] エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、所定の記録条件を 決定するステップをさらに包含してもよい。なお、前記所定の記録条件は、前記複数 の記録条件に含まれる。
[0034] 前記ステップ (a - 1)は、前記所定の記録条件を前記初期条件として決定するステツ プを包含してもよい。
[0035] 本発明の記録装置は、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒 体に記録する記録装置であって、前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記 記録媒体に記録する第 1記録手段と、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件 で、前記情報を前記記録媒体に記録する第 2記録手段とを備え、前記第 2記録手段 は、前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複 数のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出する算出部と 、前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を 選択する選択部とを備え、これにより、上記目的が達成される。
[0036] 本発明のプログラムは、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒 体に記録する記録処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記 記録処理は、（a)前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録 するステップと、（b)前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、前記情報を前 記記録媒体に記録するステップとを包含し、前記ステップ (b)は、（b - 1)前記記録媒 体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号 のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出するステップと、（b— 2)前記 乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択 するステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
[0037] 本発明の記録制御装置は、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、情報を記 録媒体に記録するための記録制御装置であって、前記記録媒体に記録された複数 のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくと も 1つの所望信号との乖離を算出するための算出部と、前記乖離を参照することによ つて、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択するための選択部とを備 え、これにより、上記目的が達成される。
発明の効果
[0038] 本発明の記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置によれば、複数の テスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望信号との乖離を 算出し、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択する。したがって、 1つの記 録条件を所望信号の条件に整合させるために、複数の記録条件から 1つの記録条 件を選択するだけで、所望信号の条件に近 、条件で情報を記録媒体に記録すること ができる。その結果、簡単な回路構成で記録パラメータの最適化を図ることができる。
[0039] さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、 PRML誤差指標 Mが小さくなる条件でユーザデータを記録するため、最短マーク長 が短 、場合でも正 U、記録を行うことができる。
[0040] さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、 PRML誤差指標 Mが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、光ディ スクの品質のばらつきや光ディスク装置の品質のばらつきに影響されることなぐデー タを正確に記録できる。
図面の簡単な説明
[0041] [図 1]図 1は、最小極性反転間隔が 2である記録符号と等化方式 PR (1, 2, 2, 1)とか ら定まる状態遷移則を表す状態遷移図 Aである。
[図 2]図 2は、状態遷移図 Aを時間軸に沿って展開することによって得ることができるト レリス図である。
[図 3]図 3は、 Pa— Pbの分布を示す図である。
[図 4]図 4は、本発明の実施の形態の光ディスク装置 100の構成を示す図である。
[図 5]図 5は、光ディスク 101の構成を示す図である。
[図 6]図 6は、記録時に光ヘッド 102が照射する光の波形を示す図である。 [図 7]図 7は、 3Tマークのパルス位置を最適化するために光ディスクに記録されたテ スト信号を示す図である。
[図 8]図 8は、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順を説明するた めの図である。
[図 9]図 9は、再生手段 104の構成を示す図である。
[図 10]図 10は、従来の光ディスク装置 400の構成を示す図である。
[図 11]図 11は、再生手段 404の構成を示す図である。
[図 12]図 12は、 PLL507の構成を示す図である。
[図 13]図 13は、再生手段 404に含まれる複数の構成要素によって生成された信号を 示す図である。
[図 14]図 14は、エッジ間隔の分布を示す図である。
[図 15]図 15は、エッジ間隔の分布を示す図である。
符号の説明
100 光ディスク装置
101 光ディスク
102 光ヘッド
104 再生手段
106 復調 'ECC回路
108 記録条件決定手段
109 記録補償回路
111 記録パワー設定手段
112 レーザ駆動回路
201 プリアンプ
202 ハイパスフィルタ
203 AGC回路
204 波形等化器
205 AZD変
206 整形部 207 最尤復号器
208 信頼性計算部
発明を実施するための最良の形態
[0043] 以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
[0044] はじめに、本発明の実施の形態の光ディスク装置によって参照される PRML誤差 指標 M (以下、「指標 M」と記す)を説明し（「1.指標 Mについて」を参照）、次に、本 発明の実施の形態の光ディスク装置の詳細を説明する（「2.本発明の実施の形態の 光ディスク装置」を参照)。
[0045] 1.指標 Mについて
はじめに、最尤復号法に基づいた再生信号評価のための指標 Mを説明する。最尤 復号法とは、一般的に、再生信号の波形と予め推定された波形とを比較することによ つて、再生信号の波形のパターンを判定し、判定結果に基づいて、再生信号を復号 する復号方法である。
[0046] 以下、記録符号の最小極性反転間隔が 2であり、信号の波形は、信号の周波数特 性が PR(1, 2, 2, 1)等化となるように整形されているとする。
[0047] 現時刻の記録符号を bとし、 1時刻前の記録符号を b とし、 2時刻前の記録符号 k k-1
を b とし、 3時刻前の記録符号を b とする。 PR (1, 2, 2, 1)等化の理想的な出力 k-2 k-3
値 Levelは（式 1)で表される。
[0048] (式 1)
Level =b + 2b + 2b +b
v k-3 k-2 k-1 k
ここで、 kは時刻を表す整数であり、 Vは 0— 6までの整数である。
[0049」 表 1は、時刻 kにおける状態を S (b , b , b )で表した状態遷移表である。
k-2 k-1 k
[0050] [表 1] 表 1 ：最小反転間隔 2と PR ( 1 2, 2 1) の制約から定まる状態遷移表
Figure imgf000011_0001
図 1は、最小極性反転間隔が 2である記録符号と等化方式 PR (1, 2, 2, 1)とから 定まる状態遷移則を表す状態遷移図 Aである。状態遷移図 Aは、表 1を参照すること によって得ることができる。
[0051] SOは時刻 kにおける状態 S(0, 0, 0)を示し、 S1は時刻 kにおける状態 S(0, 0, k k k
1)を示し、 S2は時刻 kにおける状態 S(0, 1, 1)を示し、 S3は時刻 kにおける状態 k k k k
S(l, 1, 1)を示し、 S4は時刻 kにおける状態 S(l, 1, 0)を示し、 S5は時刻 kに
k k k k
おける状態 S(l, 0, 0)を示す。
k
[0052] 図 2は、状態遷移図 Aを時間軸に沿って展開することによって得ることができるトレリ ス図である。
[0053] 以下、図 1と図 2とを参照して、最小極性反転間隔が 2である記録符号と等化方式 P
R(l, 2, 2, 1)とから定まる状態遷移を説明する。
[0054] 時刻 kにおける状態 SOと時刻 k 4における状態 S2 〖こ注目する。図 2は、状態 S k k-4
0と状態 S2 との間でとりうる 2つの状態遷移列（パス A、パス B)を示す。パス Aの遷 ト 4
移は状態 S2 、状態 S4 、状態 S5 、状態 SO 、状態 SOである。パス Bの遷移
k-4 k-3 ト 2 ト 1 k
ίま状態 S2 S3 S4 S5 SOである。
k-4 k-3 ト 2 ト 1 k [0055] (C , C , C , C , C , C , C )が時刻 k 6から時刻 kまでの最 k-6 k-5 k-4 k-3 k— 2 k— 1 k
尤復号結果を示すとすると、 (c , c , c , c , c , c , c ) = ( k-6 k-5 ト 4 k-3 k— 2 ト 1 k
0, 1, 1, x, 0, 0, 0)となる復号結果 (xは 0または 1の値）が得られた場合には、パス Aおよびパス Bのうちの何れが最も確からしいか推定されたこととなる。パス Aおよび パス Bの両方とも、時刻 k 4における状態が状態 S2 であることの確からしさは同じ k-4
であるから、時刻 k 3における再生信号 y から時刻 kにおける再生信号 yまでの値 ト 3 k と、パス Aおよびパス Bそれぞれの期待値との差を 2乗した値の累積値を求めることよ つて、パス Aとパス Bとの何れが確からし!、かが分かる。
[0056] 時刻 k 3における再生信号 y と時刻 k 3におけるノ ス Aの期待値との差の 2乗値 k-3
、時刻 k 2における再生信号 y と時刻 k 2におけるノ ス Aの期待値との差の 2乗値 k-2
、時刻 k 1における再生信号 y と時刻 k 1におけるノ ス Aの期待値との差の 2乗値 k-1
および時刻 kにおける再生信号 yと時刻 kにおけるパス Aの期待値との差の 2乗値の k
累積値を Paとすると Paは（式 1)で表される。
[0057] (式 1)
Pa=(y -4)2+(y 3)2+(y — l)2+(y— 0)2
k-3 k-2 ト 1 k 時刻 k 3における再生信号 y と時刻 k 3におけるノ ス Bの期待値との差の 2乗値 k-3
、時刻 k 2における再生信号 y と時刻 k 2におけるノ ス Bの期待値との差の 2乗値 k-2
、時刻 k 1における再生信号 y と時刻 k 1におけるノ ス Bの期待値との差の 2乗値 k-1
および時刻 kにおける再生信号 yと時刻 kにおけるパス Bの期待値との差の 2乗値の k
累積値を Pbとすると Pbは (式 2)で表される。
[0058] (式 2)
Pb=(y -5)2+(y -5)2+(y 3)2+(y— l)2
k-3 k-2 k-1 k したがって、 Pa— Pbは、最尤復号結果の信頼性を示す。
[0059] 図 3は、 Pa— Pbの分布を示す。以下、差 Pa— Pbの意味を説明する。 Pa< <Pbであ れば、最尤復号部は、パス Aを高い確率で選択し、 Pa> >Pbであれば、最尤復号 部は、パス Bを高い確率で選択する。また Pa = Pbであれば、最尤復号部は、パス A またはパス Bを選択する可能性は 50パーセントであり、最尤復号部の復号結果が正 し 、可能性は 50パーセントである。このようにして所定の時間ある 、は所定の回数、 復号結果に基づいて Pa— Pbを算出することによって Pa— Pbの分布が得られる。
[0060] 図 3 (a)は、ノイズが重畳された再生信号に基づいて算出された Pa— Pbの分布を示 す。分布は 2つのピークを有する。 1つは Pa = 0となるときに頻度が極大となり、もう 1 つは Pb = 0となるときに頻度が極大となる。
[0061] Pa— Pbの絶対値を計算し、 I Pa— Pb |— Pstdを求める。ここで、 Pstdは、 Pa— Pb の値を示し（ただし、 Pa = 0)、 Pstdは、 Pa— Pbの値を示す（ただし、 Pb = 0)。
[0062] 図 3 (b)は I Pa— Pb I Pstdの分布を示す。図 3 (b)に示す分布の標準偏差びと 平均値 Paveを求める。図 3 (b)に示す分布が正規分布であるとし、例えば σと Pave とに基づいて復号結果の信頼性 I Pa— Pb Iの値が Pstd以下となるときを誤りが発 生した状態とすると、誤り確率 P ( σ , Pave)は (式 3)のように表される。
[0063] (式 3)
P ( σ , Pave) = erf c ( (Pstd + Pave) Z σ )
Pa— Pbの分布力 計算した平均値 Paveと標準偏差 σとから最尤復号結果を示す 2値ィ匕信号の誤り率を予想することができる。つまり平均値 Paveと標準偏差 σとを再 生信号品質の指標とすることができる。
[0064] なお、上記の例では I Pa— Pb Iの分布が正規分布となることを仮定した力 分布 が正規分布でない場合には、 I Pa— Pb I Pstdの値が所定の基準値以下になる回 数をカウントし、そのカウント数を信号品質の指標とすることも可能である。
[0065] 最小極性反転間隔が 2である記録符号と等化方式 PR (1 , 2, 2, 1)とから定まる状 態遷移則の場合、状態が遷移するときに 2つの状態遷移列をとり得るような組み合わ せは、時刻 k 4から時刻 kの範囲では 8パターンあり、時刻 k 5から時刻 kの範囲で は 16パターンである。
[0066] ここで重要なのは、信頼性 Pa— Pbを再生信号品質の指標とすることにより、すべて のパターンを検出しなくても、誤る可能性 (誤り率）が大のパターンのみを検出すれば 、その検出結果を誤り率と相関のある指標とすることができる。ここで、誤る可能性が 大のパターンとは、信頼性 Pa— Pbの値力 、となるパターンであり、 Pa— Pb= ± 10と なる 8パターンである。この 8パターンと Pa— Pbとにつ!、てまとめると（表 2)のようにな る。
[0067] [表 2] 表 2 ： 2つの遷移をとり得る最短の状態遷移の組み合わせ
Figure imgf000014_0001
上記 8通りの復号結果の信頼性 Pa— Pbをまとめると (式 4)が得られる c [0068] [数 1]
(式 4)
Pattern-1
(Ck 6' Ck 5, Ck 4， Ck 3， Ck 2, Ck Ck) = (0，1，1，x，0，0，0)のとき
Pa - Pb=(Ek 3- Fk 3)+(Dk 2- Fk 2)+(Bk - Dk )+(Ak - Bk)
Pattern-2
(Ck— 6, Ck— 5, Ck— 4， Ck— 3， Ck— 2, Ck l, Ck) = (1，1，1，x，0，0，0) のとき
Pa-Pb=(Fk— 3-Gk_3)+(Dk— 2- Fk_2)+(Bk—厂 Dk— XA Bj
Pattern-3
(Ck— 6, Ck_5' Ck_4, Ck_3， Ck_2, Ck—い Ck) = (0,1,1,x,0,0,D のとき
Pa - Pb=(Ek 3- Fk 3)+(Dk 2- Fk 2)+(Bk , - Dk， )+(Bk-Ck)
Pattern - 4
(Ck— 6, Ck_5, Ck_4， Ck_3， Ck_2, Ck l, Ck) = (1，1，1，x，0,0，1) のとき
Pa-Pb=(Fk— 3-Gk— 3)+(Dk_2- Fk_2)+(Bk—厂 Dk—XBk-Ck)
Pattern-5
(Ck 6, Ck 5, Ck 4， Ck 3， Ck 2, Ck Ck) = (0，0，0，x，1,1，0) のとき
Pa - Pb=(Ak 3- Bk (Bk 2-Dk 2)+(Dk - Fk )+(Ek - Fk)
Pattern-6
(Ck— 6, Ck_5, Ck_4， Ck— 3， Ck_2, Ck l, Ck) = (1，0，0，x，1,1，0) のとき
Pa-Pb=(Bk 3-Ck 3)+(Bk 2-Dk 2)+(Dk l-Fk 1) + (Ek-Fk)
Pattern-7
(Ck 6， Gk 5, Gk 4， Ck 3， Gk 2, Gk Gk) = (0，0，0，x,1，1，1) のとき
Pa - Pb=(Ak 3- Bk (Bk 2- Dk 2)+(Dk - Fk )+(Fk - Gk)
Pattern-8
(Ck— 6' Ck— 5' Ck— 4， Ck 3， Ck— 2, Ck l, Ck) = (1'0'0，x，1，1，1) のとき
Pa-Pb=(Bk_3-Ck_3)+(Bk_2-Dk_2)+(Dk_1 -Fk—， )+(Fk-Gk)
：で A = (y -0)", B =(y -lY , C = (y一 2)2, D = (y—3)2, E = (y—4):
k k k k k k k k k k F = (y—5 , G = (y— 6 とする。
k k k k
[0069] 最尤復号結果 c力 (式 5)を満たす Pa— Pbを求め、その分布から標準偏差 σ と
k 10 平均値 Pave とを算出する。正規分布であると仮定するとそれぞれ誤りを起こす確率
10
P は（式 5)となる。
10
[0070」 (式 5)
P ( σ , Pave ) =erfc ( (10 + Pave ) / σ )
10 10 10 10 10 上記 8パターンは、 1ビットシフトエラーを起こすパターンであり、他のパターンは、 2 ビット以上のシフトエラーを起こすパターンである。 PRML処理後のエラーパターンを 分析すると、ほとんどが、 1ビットシフトエラーであるため、（式 6)を求めることで再生信 号の誤り率が推定できる。このように、標準偏差 σ および平均値 pave を再生信号
10 10
の品質を示す指標として用いることができる。例えば、上記の指標を指標 Mとして、 ( 式 6)によって定義できる。
[0071] (式 6)
Μ= σ / (2-d 2) [%]
10 mm 但し、 d 2は、ユークリッド距離の最小値の 2乗です。例えば、最小極性反転間隔 min
力^の変調符号と PR(1, 2, 2, 1) ML方式との組み合わせでは、 d 2= 10 = Pstd
min
である。また、（式 5)における平均値 Pave は、 0と仮定し、（式 6)の指標の計算では
10
、考慮しない。
[0072] 以上、最尤復号法に基づ!、た再生信号評価のための指標 (指標 M)を説明した。
[0073] 2.本発明の実施の形態の光ディスク装置
以下、本発明の実施の形態の光ディスク装置 100の構成および動作を説明する。
[0074] 図 4は、本発明の実施の形態の光ディスク装置 100の構成を示す。光ディスク装置
100は、光ディスク 101が装着可能なように構成されて 、る。
[0075] 図 5は、光ディスク 101の構成を示す。光ディスク 101には、グルーブトラック 601が 形成されている。グルーブトラック 601の形状は、例えば、スノィラル状または同心円 状である。グルーブトラック 601は記録領域を含む。 [0076] 以下、図 4を参照して、光ディスク装置 100の構成を説明する。光ディスク装置 100 は、光ヘッド 102と、再生手段 104と、復調 'ECC回路 106と、記録条件決定手段 10 8と、記録補償回路 109と、記録パワー設定手段 111と、レーザ駆動回路 112とを備 える。
[0077] 図 6は、記録時に光ヘッド 102が照射する光の波形を示す。本実施の形態では、 R un Length Limited (1, 7)変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録す るものとする。この場合、最短 2Tから最長 8Tまで 7種類のマークおよびスペースが存 在する (Tは、基準周期を示す)。なお記録方式はマークエッジ記録方式に限定され ず、他の記録方式でも良い。
[0078] 光の波形のパラメータには、記録パワーを示すパラメータとパルス位置を示すパラメ ータとがある。記録パワーを示すパラメータは、ピークパワー（Pw)、バイアスパワー（ Pe)、ボトムパワー（Pbw)を含む。パルス位置を示すパラメータは、 Ttop、 dTtop、 T mp、 dTeを含む。ここで幅 Tmpのパルスの立ち上がり位置、および先頭のパルスの d Ttopの起点はオリジナル信号との相対関係を規定する基準位置である。
[0079] 光ディスク 101に形成するマークの長さに応じて、パルスの数が調整される。 2Tマ ークは 1つのパルスで記録され、 3Tマークは 2つのパルスで記録される。光ディスク 1 01に形成するマークが 1T長くなるに応じてパルスの数が 1つ増える。
[0080] 一般に、光の波形のパラメータの一部（例えば、ピークパワー（Pw)、バイアスパヮ 一（Pe)、ボトムパワー（Pbw)、 Tmp)は、マークの長さに依存しないが、光の波形の パラメータの他の一部（例えば、 Ttop, dTtop、 dTe)はマークの長さに依存する。し かし、光の波形のパラメータをどのように設定するかは、任意である。
[0081] 以下、図 4を参照して、光ディスク装置 100の動作を説明する。以下に説明するよう に、光ディスク装置 100は、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を光ディ スク 101に記録する。例えば、複数の記録条件のそれぞれは、光の波形のパラメータ を示す。
[0082] 光ディスク 101が光ディスク装置 100に装着され、光ディスク装置 100の所定動作（ ディスクタイプの識別および回転制御等）終了後、光ディスク 101に含まれるテスト領 域に移動するように光ヘッド 102が制御される。テスト領域には、最適記録パワーお よび最適パルス位置を設定するためのテスト情報がテスト記録される。テスト領域は、 例えば、光ディスク 101の最内周に設けられている力 ユーザがデータを記録するュ 一ザ領域以外の記録領域であれば、光ディスク 101の最内周に設けられることに限 定されない。テスト領域は、例えば、光ディスク 101の最外周に設けられていてもよい
[0083] テスト記録時には、記録パワー設定手段 111は、記録パワーの初期値 (ピークパヮ 一、ノ ィァスパワー、ボトムパワーの初期）をレーザ駆動回路 112に設定する。記録 パワーの初期値は、光ディスク 101作製時に予め光ディスク 101に記録されているが 、光ディスク 101が光ディスク装置 100に装着された時に、テスト記録によって記録パ ヮ一の初期値を算出し、算出された初期値を光ディスク 101に記録し得る。
[0084] テスト記録によって算出された記録パワーの初期値をレーザ駆動回路 112に設定 する場合は、光ディスク 101作製時に予め光ディスク 101に記録されて ヽる記録パヮ 一の初期値をレーザ駆動回路 112に設定する場合と比較して、光ディスクの品質お よび光ディスク装置の品質のばらつきを考慮して求められており、この値に基づけば 、 SZN比の確保できた良好な記録を行うことができる。
[0085] 記録補償回路 109は、信号 110をレーザ駆動回路 112に送る。
[0086] レーザ駆動回路 112は、信号 110に基づいて、記録するマークの長さに応じて整 形されたパルス列信号 113を生成する。レーザ駆動回路 112は、パルス列信号 113 を光ヘッド 102〖こ送り、光ヘッド 102は、パルス列信号 113に基づいて、光ディスク 10 1にテスト信号をテスト記録する。光ヘッド 102に備えられた半導体レーザの出力光 は、光ディスク 101上に光スポットとして集光され、半導体レーザは発光波形に応じた 記録マークを光ディスク 101に形成する。テスト信号の詳細は、後述される。
[0087] なお、テスト記録の前に、テスト領域をバイアスパワーのみで記録し得る。ノィァス パワーのみで記録することにより、テスト記録前にテスト領域に記録されていた信号が テスト領域から消去されるので、テスト記録前にテスト領域に記録されて 、た信号が テスト記録に与える影響を低減し得る。
[0088] なお、光ヘッド 102のレーザ光の波長は 405nm程度であり、対物レンズの NA (Nu merical Aperture)は 0. 85程度である。また最短マーク長は 0. 16ミクロン程度で ある。
[0089] 図 7は、 3Tマークのパルス位置を最適化するために光ディスクに記録されたテスト 信号を示す。テスト信号は、種々の条件を有し、グルーブトラックにテスト記録される。
[0090] このグルーブトラックは、テスト領域に含まれて 、る。このグルーブトラックには、テス ト信号が複数の条件で記録されている。具体的には、このグルーブトラックには、条 件 Aを有するテスト信号 Aと、条件 Bを有するテスト信号 Bと、条件 Cを有するテスト信 号 Cと、条件 Dを有するテスト信号 Dとがこの順番に複数回記録されている。記録され たこれらの信号を再生することによって得ることができた再生信号に基づいて、光ディ スク 101の周方向のチルトばらつきやディスクに付 、た傷、汚れの影響を低減できる
[0091] パルス位置を示す初期値は、例えば、条件 Aを示す。条件 Aを示す値が光ディスク 101に予め記載されて 、ても良 、し、テスト記録の結果に基づ 、て予め求められて いても良い。
[0092] パルス位置の初期値が光ディスク 101に予め記載されている例の 1つは、同一条件 で作成された複数の光ディスクに共通する値が光ディスク作成時に記載される場合 である。例えば、グループをゥォブルすることによって予め記録しえる。パルス位置の 初期値をテスト記録の結果に基づいて予め求めている例の 1つは、前回光ディスク 1 01を対象として最適化した記録パラメータをテスト領域に記録している場合である。 光ディスク 101作成時に記載された値および前回光ディスク 101を対象として最適化 した記録パラメータの値の両方が光ディスク 101に記録されている場合には、前回光 ディスク 101を対象として最適化した記録パラメータの値を使用する方が望ま 、。 前回光ディスク 101を対象として最適化した記録パラメータの値は、光ディスクの品 質および光ディスク装置の品質のばらつきを考慮して求められており、この値に基づ けば、 SZN比の確保できた良好な記録を行うことができる。
[0093] なお、 1周で 4条件を記録する代わりに、 1周で 1条件の記録でも良ぐまた 1回のテ スト記録が 1周以上でもよい。サンプル数を多くすることにより最適化の精度が向上す る。
[0094] 図 8は、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順を説明するための 図である。なお、パルス位置を最適化するための複数の条件の決定手順は、記録条 件決定手段 108および記録補償回路 109のうちの少なくとも一方によって実行される
[0095] 以下、図 8を参照して、パルス位置を最適化するための条件の決定手順を説明す る。
[0096] 図 8 (a)を参照して、 3Tマークのパルス位置を最適化するための条件の決定手順 を説明する。
[0097] パルス位置を示す初期値として、条件 Aを決定する。条件 Aを示す値は光ディスク 1 01に予め記載されて 、ても良 、し、テスト記録の結果に基づ 、て予め求められても 良い。光ディスク装置 100は、光ヘッド 102を制御することによって、光ディスク 101に 記録されて！ゝる初期値を読み取る。
[0098] 初期条件 Aに基づ ヽて、条件 B、条件 Cおよび条件 Dを決定する。例えば、条件 A の Ttopおよび dTtopを固定し、条件 Aの dTeを所定の大きさ（ Δ dTe)だけ小さくす ることによって、条件 Bを決定する。条件 Aの Ttopを所定の大きさ（Δ Ttop)だけ大き くし、条件 Aの dTtopを所定の大きさ（ Δ dTtop)だけ大きくし、さらに条件 Aの dTeを 固定することによって、条件 Cを決定する。条件 Aの Ttopを所定の大きさ（Δ Ttop) だけ大きくし、条件 Aの dTtopを所定の大きさ（Δ dTtop)だけ大きくし、さらに、条件 Aの dTeを所定の大きさ（ Δ dTe)だけ小さくすることによって、条件 Dを決定する。
[0099] なお、パルス位置の変更ステップ（例えば、 ATtop、 Δ dTtop, Δ dTe)はウィンド 幅の 1%— 7%程度が望ましい。
[0100] 図 8 (b)を参照して、 2Tマークのパルス位置を最適化するための条件の決定手順 を説明する。
[0101] パルス位置を示す初期値として、条件 aを決定する。条件 aを示す値は光ディスク 1 01に予め記載されて 、ても良 、し、テスト記録の結果に基づ 、て予め求められても 良い。
[0102] 条件 aの Ttopおよび dTtopを固定し、条件 aの dTeを所定の大きさ（ Δ dTe)だけ大 きくすることによって、条件 bを決定する。条件 aの Ttopを所定の大きさ（Δ Ttop)だ け大きくし、条件 aの dTtopを所定の大きさ（Δ dTtop)だけ大きくし、さらに条件 aの d Teを固定することによって、条件 cを決定する。条件 aの Ttopを所定の大きさ（ATto P)だけ大きくし、条件 aの dTtopを所定の大きさ（Δ dTtop)だけ大きくし、さらに、条 件 aの dTeを所定の大きさ（ Δ dTe)だけ大きくすることによって、条件 dを決定する。
[0103] さらに、条件 aの Ttopおよび dTtopを固定し、条件 aの dTeを所定の大きさ（ Δ dTe )だけ小さくすることによって、条件 b'を決定する。条件 aの Ttopを所定の大きさ（ΔΤ top)だけ小さくし、条件 aの dTtopを所定の大きさ（ Δ dTtop)だけ小さくし、さらに条 件 aの dTeを固定することによって、条件 c'を決定する。条件 aの Ttopを所定の大き さ（ ATtop)だけ小さくし、条件 aの dTtopを所定の大きさ（ Δ dTtop)だけ小さくし、さ らに、条件 aの dTeを所定の大きさ（Δ dTe)だけ小さくすることによって、条件 d'を決 定する。
[0104] なお、パルス位置の変更ステップ（例えば、 ATtop、 Δ dTtop, Δ dTe)はウィンド 幅の 1%— 7%程度が望ましい。
[0105] 2Tのパルス位置を示すパラメータを条件 a、条件 b、条件 cおよび条件 d (図 8 (b)参 照）に設定し、これらの条件を示すテスト信号を記録再生することによって、指標 Mが 最も小さい条件を仮決定する。続いて、 2Tのパルス位置を示すパラメータを条件 a、 条件 b'、条件 c'、条件 d' (図 8 (b)参照）に設定し、これらの条件を示すテスト信号を 記録再生することによって、指標 Mが最も小さい条件を仮決定する。仮決定された 2 つの条件のうち、指標 Mが小さ 、方を 2Tのパルス位置を示す条件として決定する。
[0106] 3Tマークのパルス位置を変更するときは 3Tマーク以外のマークのパルス位置を変 更せず、同様に 2Tマークのパルス位置を変更するときは 2Tマーク以外のマークの パルス位置を変更しない。記録するデータはランダムパターンでも良いし、特定のパ ターンに固定しても良い。またパルス位置の変更ステップはウィンド幅の 1%— 7%程 度が望ましい。
[0107] 指標 Mを小さくするための方法の一つは 2Tマークと 3Tマークの識別を正しく行うこ とであり、本実施の形態のように 2Tマーク、 3Tマークのどちらか一方もしくは両方の パルス位置を最適化することにより、より正しく記録できる。
[0108] なお、本実施の形態では、 4つの条件によってテスト記録再生することによって 3T マークの最適パルス位置を 1回で決定し、 7つの条件を 2回に分けてテスト記録再生 することによって 2Tマークの最適パルス位置を決定する力 決定手順はこれに限ら ない。また本実施の形態では Ttopと dTtopを同時に決定している力 決定手順はこ れに限らない。
[0109] さらに、本実施の形態において、 3Tマークを 4つの条件に対応したパルス位置によ り記録しているが、初期条件を除く 3つの条件はいずれも 3Tマークが長く記録される 条件である。出現頻度の高い 2Tマークの識別をより確実に行うために、 3Tマークが 長くなる条件で最適条件が見つかる確率が高い。
[0110] さらに、本実施の形態において、 2Tマークを 7つの条件に対応したパルス位置によ り記録している力 2T信号は光ディスクと光ディスク装置のばらつきにより SZN比が 大きく変わるので、一定の方向のみの探索を行わない。なお図 8 (b)において、右上 の条件と、左下の条件は初期状態と比較してマーク長が大きく変わる危険性がある ので、本実施の形態では探索を行っていない。
[0111] さらに、本実施の形態における 2Tマークと 3Tマークを記録する際のパルス決定条 件は、初期条件が、本実施の形態と同様の手順で決定されているか、または従来例 に記載した手順と同様にジッタが小さくなる手順で決定されている場合に有効であり 、初期条件と最適条件が近いという根拠がない場合には、本実施の形態と異なるパ ルス決定条件にしても良い。
[0112] 再び、図 4を参照して、光ディスク装置 100の動作の説明を続ける。
[0113] 3Tマークのパルス位置を示すテスト信号 A、テスト信号 B、テスト信号 C、テスト信号 Dのテスト記録が終わると、レーザ駆動回路 112は、光ヘッド 102が光ディスク 101に 記録されたテスト信号 A、テスト信号 B、テスト信号 C、テスト信号 Dを再生するように、 光ヘッド 102を制御する。テスト信号 A、テスト信号 B、テスト信号 C、テスト信号 Dを再 生することによって生成された再生信号 103は、再生手段 104に入力される。再生信 号 103は、光ディスク 101に形成された記録マークの有無に応じて変化する。
[0114] 図 9は、再生手段 104の構成を示す。再生手段 104は、プリアンプ 201と、ハイパス フィルタ 202と、 AGC回路 203と、波形等化器 204と、 AZD変翻 205と、整形部 2 06と、最尤復号器 207と、信頼性計算部 208とを備える。
[0115] 整形部 206は例えばデジタルフィルタであり、 AZD変換器 205が生成したデジタ ル信号を受け取ってデジタル信号が所定の等化特性を有するようにデジタル信号の 波形を整形する。
[0116] 最尤復号器 207は例えばビタビ復号回路であり、整形部 206から出力された波形 が整形されたデジタル信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す 2値化信号を生成 する。
[0117] 信頼性計算部 208は例えば差分メトリック解析器であり、整形部 206から出力され た波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器 207から出力された 2値ィ匕信号とに 基づいて最尤復号の結果の信頼性を計算する。最尤復号の結果の信頼性は、整形 部 206から出力された波形が整形されたデジタル信号と最尤復号器 207から出力さ れた 2値化信号との乖離または整形部 206から出力された波形が整形されたデジタ ル信号と最尤復号器 207から出力された 2値ィ匕信号に基づいて生成された信号との 乖離によって示される。
[0118] プリアンプ 201は、信号 103を増幅する。増幅された信号 103は、ハイパスフィルタ 202で ACカップリングされたのち AGC203に入力される。 AGC203は、波形等化 器 204の出力が一定振幅となるようゲインを調整する。 AGC203から出力された再 生信号は波形等化器 204によって波形整形される。波形整形された再生信号は AZ D変翻 205に入力される。 AZD変翻 205はクロック 209で再生信号をサンプリ ングする。クロック 209は PLL (図示せず）によって再生信号に基づいて生成される。
[0119] AZD変 205のサンプリングにより生成された再生信号は整形部 206に入力さ れる。整形部 206は、記録時および再生時の再生信号の周波数特性が最尤復号器 207の想定する特性 (本実施の形態では PR(1, 2, 2, 1)等化特性)となるように再 生信号の周波数を調整する (すなわち再生信号の波形を整形する)。
[0120] 最尤復号器 207は、整形部 206から出力された波形整形された再生信号を最尤復 号し、 2値化信号を生成する。信頼性計算部 208は、整形部 206から出力された波 形整形された再生信号と、 2値化信号とを受け取る。信頼性計算部 208は、 2値化信 号から状態遷移を判別する。信頼性計算部 208は、判別結果とデータ 210とに基づ Vヽて復号結果の信頼性を示す指標 M ( (式 6)参照)を算出する。信頼性計算部 208 は、複数のテスト信号 Aに対応する再生信号に基づいて指標 Mを算出し、さらに、算 出された複数の指標 Mの平均を算出する。さらに、信頼性計算部 208は、複数のテ スト信号 B、複数のテスト信号 Cおよび複数のテスト信号 Dのそれぞれに対しても、複 数のテスト信号 Aに対する場合と同様に、指標 Mの平均を算出する。
[0121] 出力結果 107が記録条件決定手段 108に送られる。出力結果 107には、これらの 平均値が含まれる。
[0122] 記録条件決定手段 108は、出力結果 107に含まれた複数の平均値のうち、最も小 さ 、値に対応する条件を 3Tマークのパルス位置条件として選択 (決定)する。なお、 複数の平均値が一致または同程度の場合には、予め割り当てられた優先順位に従 つて、値を決定しえる。例えば、複数のテスト信号 Dに基づく複数の指標の平均よりも 、複数のテスト信号 Cに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号 C に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号 Bに基づく複数の指標の平均を 優先し得る。複数のテスト信号 Bに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号 Aに基づく複数の指標の平均を優先し得る。
[0123] なお、テスト信号 A、テスト信号 B、テスト信号 Cおよびテスト信号 Dがそれぞれ複数 であることに限定されない。テスト信号 A、テスト信号 B、テスト信号 Cおよびテスト信号 Dがそれぞれ複数でない場合には、それぞれのテスト信号に基づく指標の平均を算 出する必要はない。
[0124] なお、複数のテスト信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す複数の 2値化信号 を生成し、信頼性計算部 208によって複数のテスト信号と複数の 2値ィ匕信号とに基づ いて、復号の結果の信頼性を示す指標 Mを計算する形態を説明したが、信頼性を示 す指標の計算は、この形態に限定されない。例えば、テスト信号に基づいて最尤復 号器 207によって生成された複数のパスを示す信号が、信頼性計算部 208に入力さ れた場合には、信頼性計算部 208はテスト信号と複数のパスとに基づいて、テスト信 号の信頼性を示す複数の指標を計算する。例えば、信頼性計算部 208は、テスト信 号とパス Aとの乖離およびテスト信号とパス Bとの乖離を計算する。信頼性計算部 20 8は、これらの乖離を参照して、テスト信号の信頼性を示す指標を計算する。記録条 件決定手段 408は複数のテスト信号の信頼性を示す複数の指標に基づいて、複数 の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択しえる。 [0125] 以上、 3Tマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定した。このパラメータ に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置が決定し、この光を光ディスク 1 01に照射することによって、最適な 3Τマークを光ディスク 101に形成することができ る。
[0126] 2Τマークのパルス位置を示すパラメータの最適化は、 3Τマークのパルス位置を示 すパラメータの最適化と同様に行われる。
[0127] 以下、 2Τマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定する手順を説明する
[0128] 2Τマークのパルス位置を示すテスト信号 a、テスト信号 b、テスト信号 c、テスト信号 d 、テスト信号 b'、テスト信号 c'、テスト信号 d'のテスト記録が終わると、レーザ駆動回 路 112は、光ヘッド 102が光ディスク 101に記録されたこれらのテスト信号を再生する ように、光ヘッド 102を制御する。これらのテスト信号を再生することによって生成され た再生信号 103は、再生手段 104に入力される。再生信号 103は、光ディスク 101に 形成された記録マークの有無に応じて変化する。
[0129] 信頼性計算部 208は、複数のテスト信号 aに対応する再生信号に基づいて指標 M を算出し、さらに、算出された複数の指標 Mの平均を算出する。さらに、信頼性計算 部 208は、複数のテスト信号 b、複数のテスト信号 cおよび複数のテスト信号 dのそれ ぞれに対しても、複数のテスト信号 aに対する場合と同様に、指標 Mの平均を算出す る。
[0130] 出力結果 107が記録条件決定手段 108に送られる。出力結果 107には、これらの 平均値が含まれる。
[0131] 記録条件決定手段 108は、出力結果 107に含まれた複数の平均値のうち、最も小 さい値に対応する条件を 2Tマークのパルス位置条件として 1回目の仮決定を行う。
[0132] さらに、信頼性計算部 208は、信頼性計算部 208は、複数のテスト信号 a、複数の テスト信号 b'、複数のテスト信号 c'および複数のテスト信号 d'のそれぞれに対して、 指標 Mの平均を算出する。
[0133] 出力結果 107が記録条件決定手段 108に送られる。出力結果 107には、これらの 平均値が含まれる。 [0134] 記録条件決定手段 108は、出力結果 107に含まれた複数の平均値のうち、最も小 さい値に対応する条件を 2Tマークのパルス位置条件として 2回目の仮決定を行う。
[0135] 記録条件決定手段 108は、 1回目の仮決定で求められた条件と 2回目の仮決定で 求められた条件とのうち、最も小さい値に対応する条件を 2Tマークのパルス位置条 件として決定する。
[0136] 1回目の仮決定のために算出したテスト信号 aに基づく指標 Mと 2回目の仮決定の ために算出したテスト信号 aに基づく指標 Mとが異なるときには、それぞれの指標を 正規ィ匕した上で最も小さい値に対応する条件を Tマークのパルス位置条件として決 定する。例えば、 1回目の仮決定のために算出したテスト信号 aに基づく指標 Mに基 づいて、複数のテスト信号 bに基づく指標、複数のテスト信号 cに基づく指標および複 数のテスト信号 dに基づく指標を正規化する。さらに、 2回目の仮決定のために算出 したテスト信号 aに基づく指標 Mに基づいて、複数のテスト信号 b 'に基づく指標、複 数のテスト信号 c'に基づく指標および複数のテスト信号 d'に基づく指標を正規化す る。なお、 2Tのパルス位置条件を決定するための記録を行う際には、直前の 3Tのパ ルス位置決定条件が反映されて!ヽるものとする。
[0137] なお、複数の平均値が一致または同程度の場合には、予め割り当てられた優先順 位に従って、値を決定しえる。例えば、複数のテスト信号 dに基づく複数の指標の平 均よりも、複数のテスト信号 cに基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト 信号 cに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号 bに基づく複数の指標の 平均を優先し得る。複数のテスト信号 bに基づく複数の指標の平均よりも、複数のテス ト信号 aに基づく複数の指標の平均を優先し得る。例えば、複数のテスト信号 d'に基 づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号 c 'に基づく複数の指標の平均を優 先し得る。複数のテスト信号 c 'に基づく複数の指標の平均よりも、複数のテスト信号 b 'に基づく複数の指標の平均を優先し得る。複数のテスト信号 b'に基づく複数の指標 の平均よりも、複数のテスト信号 aに基づく複数の指標の平均を優先し得る。さらに、 例えば、優先順位は、複数のテスト信号 a、複数のテスト信号 b '、複数のテスト信号 b 、複数のテスト信号 d'、複数のテスト信号 c'、複数のテスト信号 d、複数のテスト信号 c または複数のテスト信号 a、複数のテスト信号 b、複数のテスト信号 b '、複数のテスト信 号 d、複数のテスト信号 c、複数のテスト信号 d'、複数のテスト信号 c'でありえる。
[0138] なお、テスト信号 a、テスト信号 b、テスト信号 c、テスト信号 d、テスト信号 b'、テスト信 号 c'、テスト信号 d'がそれぞれ複数であることに限定されない。これらのテスト信号が それぞれ複数でない場合には、それぞれのテスト信号に基づく指標の平均を算出す る必要はない。
[0139] 以上、 2Tマークのパルス位置を示すパラメータを最適に決定した。このパラメータ に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位置が決定し、この光を光ディスク 1 01に照射することによって、最適な 2Tマークを光ディスク 101に形成することができ る。
[0140] 本実施の形態における光波形のパラメータのうち、一般に dTeが Ttopおよび dTto よりも、 1ステップの変更に対する記録マーク形状の変動が小さい。初期条件を最優 先し、続いて記録マーク形状の変動が小さい条件を優先させることにより、初期条件 と本実施の形態のパルス位置変更条件とを両立する条件に決定できる。その結果、 本実施の形態の様な回路構成を持たない再生装置における再生安定性を向上する ことができる。
[0141] 例えば、初期条件が所定のジッタ以下となるように決められている場合には、本実 施の形態の様な優先順位を設けることにより、ジッタと指標 Mが共に良好になるような パルス位置に決定することができる。前述のように、クロック 209は PLLから出力され ており、ジッタは PLLの安定動作の指標であることから、ジッタと指標 Mが共に良好で ある条件を求めることにより、より正しい記録再生を行うことができる。また、初期条件 力 図 11に示すような回路構成によりエッジ間隔測定回路 1108の出力信号が小さく なるような条件に決定されていれば、本実施の形態の様な優先順位を設けることによ り、エッジシフトが小さぐかつ指標 Mが良好になるようにパルス位置を決定することが できる。このように、本発明の実施の形態によれば、エッジシフト量およびジッタのうち の少なくとも一方に基づいて、初期条件を決定しえる。
[0142] 以上の様に、本発明の実施の形態の記録方法によれば、ユーザデータの記録前 にテスト記録を行 、、指標 Mが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより 、最短マーク長が短 、場合でも正 U、記録を行うことができる。 [0143] なお、 2Tマークのパルス位置を最適化するための条件の決定および 3Tマークの パルス位置を最適化するための条件の決定にぉ 、て、初期条件から 1ステップ異な るパルス位置までしか探索せず、ノ ルス位置の移動に制限を設けている。例えば、 初期条件が所定のジッタ以下となるように決められている場合には、本実施の形態の 様な優先順位を設けることにより、ジッタ劣化が小さぐかつ指標 Μが良好なパルス位 置に決定することができる。さらに、探索のステップを繰り返し行うことにより 2ステップ 以上異なるパルス位置を探索しても良い。この場合には、あるステップで決定したパ ルス位置を次回のステップでの初期値としてもよ！/、。
[0144] さらに、初期条件が、図 11に示すような回路構成によりエッジ間隔測定回路 1108 の出力信号が小さくなるような記録条件に決定されていれば、本実施の形態の様な 優先順位を設けることにより、エッジシフトが小さぐかつ指標 Μが良好なノルス位置 に決定することができる。
[0145] さらに、記録パワー（ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワー等）を示すパラメ一 タをテスト記録により決定しても良い。
[0146] さらに、本実施の形態によれば、指標 Μの大きさ、すなわち 8個のパターン（（式 4) 参照)力も算出された標準偏差 σ ( (式 5)参照)を基準にしてパルス位置条件を決
10
定している力 8個のパターンを 4個づつに分け、各々の標準偏差からパルス位置最 適条件を決定しても良い。すなわち、 cの値（（式 4)参照）が 1のときをマークとすると、 Pattern— 1、 Pattern— 2、 Pattern— 3、 Pattern— 4はマーク終端エッジに関し、 Pat tern— 5、 Pattern— 6、 Pattern— 7、 Pattern— 8はマーク始端エッジに関する。この ように、始端エッジと終端エッジとを区別して、標準偏差が大きい方のエッジを優先的 に最適化しても良い。更には 8個のパターンの内で標準偏差が大きいパターンのエツ ジを優先的に最適化しても良 、。
[0147] 例えば、 Pattern— 3における標準偏差が所定値よりも大きいときには、 2Tマーク、 3Tスペースと続く場合と、 3Tマーク、 2Tスペースと続く場合の区別が明確でないこと を示す。したがって、 2Tマークの終端エッジの立下り位置を早くすることによって、ま たは 3Tマークの終端エッジの立下り位置を遅くすることによって再度記録を行い、標 準偏差が小さい方に決定すれば良い nなお、マークとスペースの組み合わせでエツ ジ位置を決定できる場合には、 2Tマーク、 3Tスペースと続く組み合わせにおける 2T マークの終端エッジの立下り位置を早くすることによって、または 3Tマーク、 2Tスぺ ースの組み合わせにおける 3Tマークの終端エッジの立下り位置を遅くすることによつ て、再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。その結果、より精度 良くエッジ位置を最適化できる。
[0148] 同様に、例えば、 Pattern— 5における標準偏差が所定値よりも大きいときには、 3T 以上のスペース、 3Tマークと続く場合と、 4T以上のスペース、 2Tマークと続く場合の 区別が明確でないことを示す。したがって、 3Tマークの始端エッジの立ち上がり位置 を早くすることによって、または 2Tマークの始端エッジの立ち上がり位置を遅くするこ とによって、再度記録を行い、標準偏差が小さい方に決定すれば良い。このときも、 マークとスペースの組み合わせでエッジ位置を決定できる場合には、 3T以上のスぺ ース、 3Tマークの組み合わせにおける 3Tマークの始端エッジの立ち上がり位置を早 くすることによって、または 4T以上のスペース、 2Tマークの組み合わせにおける 2T マークの始端エッジの立ち上がり位置を遅くすることによって、標準偏差力 、さい方 に決定すれば良い。その結果、より精度良くエッジ位置を最適化できる。
[0149] さらに、本実施の形態では、 3Tマーク、 2Tマークについて最適なパルス位置を決 定している力 最適パルス位置の決定は 2Tマークだけでも良い。 2Tマークは出現頻 度が最も高いので 2Tマークのパルス位置を最適化することにより、従来よりも正しい 記録が実現できるとともに、最適パルス位置の決定に要する時間を短縮できる。
[0150] さらに、本実施の形態では 3Tマークおよび 2Tマークの最適なノ ルス位置を決定し ているが、 4Tマークのパルス位置の最適化を行い得る。 4Tマークの最適なパルス位 置を決定することにより、より正しい記録を行うことができる。同様に最適パルス位置 の決定に要する時間に余裕があるのであれば全てのマークの最適なパルス位置を 決定し得る。
[0151] さらに、本実施の形態では、記録符号として最小極性反転間隔が 2である符号を用 いて、 PR (1, 2, 2, 1)等化を行う場合について説明したが、本発明はこれに限定さ れない。例えば、記録符号が（1, 7)変調符号のような最小極性反転間隔が 2の場合 では上記実施例が適用でき、 DVDに使用されている 8— 16変調符号のような最小極 性反転間隔が 3である場合では PR (1, 2, 2, 1)等化により時刻 kにおいては 6つの 状態が存在し、時刻 k+ 1の 6つの状態へとり得る状態遷移を 8通りに制限される状態 遷移則を用いることにより本発明は実施可能である。したがって、最小極性反転間隔 力^である記録符号と等化方式 PR (CO, CI, CI, CO)とから定まる状態遷移則を用 いた場合や、最小極性反転間隔が 2または 3である記録符号と等化方式 PR (CO, C 1, CO)とから定まる状態遷移則を用いた場合や、最小極性反転間隔が 2または 3で ある記録符号と等化方式 PR (CO, CI, C2, CI, CO)とから定まる状態遷移則を用 いた場合においても適用できる。 CO、 Cl、 C2は任意の正の数である。
[0152] 以上、本発明の実施の形態の光ディスク装置 100の構成および動作を説明した。
[0153] 図 4および図 9に示された例では、光ディスク装置 100が「複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置」に対応し、光ヘッド 102とレ 一ザ駆動回路 112とが「複数の記録条件で、複数のテスト情報を記録媒体に記録す る第 1記録手段」に対応し、光ヘッド 102とレーザ駆動回路 112と記録条件決定手段 108と再生手段 104とが「複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、情報を記録 媒体に記録する第 2記録手段」に対応し、信頼性計算部 208が「記録媒体に記録さ れた複数のテスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号のそれぞれ と少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出する算出部」に対応し、記録条件決定手 段 108が「乖離を参照することによって、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を 選択する選択部」に対応する。
[0154] し力し、本発明の光ディスク装置 100が図 4および図 9に示されるものに限定される わけではない。上述した各手段の機能が達成される限りは、任意の構成を有する装 置が本発明の範囲内に含まれ得る。
[0155] 例えば、光ディスク装置 100によって、記録媒体に記録された複数のテスト情報を 再生することによって得られた複数のテスト信号と所望パターンを示す所望信号との 乖離を参照することができる限りは、乖離が指標 Mによって表されることに限定されな い。テスト信号の波形と予め推定されたパターンとを比較することによって、テスト信 号の波形のパターンと予め推定されたパターンとの差分を判定し、判定結果に基づ いて、記録条件を選択しえる。 [0156] さらに、予め推定されたパターンは、 2つのパターンに限らない。予め推定されたパ ターンの数が、少なくとも 1つある場合には、少なくとも 1つのパターンとテスト信号との 乖離を算出することによって、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択しえる
[0157] さらに、予め推定されたパターンは、 2Tマークまたは 2Tスペースを示すパターンに 限定されない。 nTマークまたは nTスペースを示すパターンでよい（nは、正の整数)。 さらに、予め推定されたパターンは、複数のパターンの組み合わせでありえる。例え ば、予め推定されたパターンは、 2Tマークを示すパターン、 2Tスペースを示すパタ ーンおよび 3Tマークを示すパターンの組み合わせでありえる。
[0158] さらに、予め推定されたパターンは、予め光ディスク装置に備えられた格納部に格 納されていることに限定されない。予め推定されたパターンは、テスト信号が再生され た後、光ディスク装置が生成し得る。光ディスク装置は、予め、理想形状を有するバタ ーンがどのような形状を有して 、るか知って 、る力らである。
[0159] さらに、図 4および図 9に示される実施の形態で説明した各手段は、ハードウェアに よって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよいし、ハードウェアとソ フトウェアとによって実現されてもよい。ハードウェアによって実現される場合でも、ソ フトウェアによって実現される場合でも、ハードウェアとソフトウェアとによって実現され る場合でも、光ディスク装置によって、「複数の記録条件で、複数のテスト情報を記録 媒体に記録するステップ」と、「複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、情報を記 録媒体に記録するステップ」と、「記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生す ることによって得られた複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との 乖離を算出するステップ」と、「乖離を参照することによって、複数の記録条件のうち の 1つの記録条件を選択するステップ」とを含む本発明の記録処理が実行され得る。 本発明の記録処理は、上述した各ステップを実行し得る限り、任意の手順を有し得る
[0160] 例えば、本発明の光ディスク装置には、光ディスク装置の機能を実行させるための 記録処理プログラムが格納されている。記録処理プログラムは、光ディスク装置の機 能を実行させる。 [0161] 記録処理プログラムは、コンピュータの出荷時に、光ディスク装置に含まれる格納手 段に予め格納されていてもよい。あるいは、コンピュータの出荷後に、記録処理プロ グラムを格納手段に格納するようにしてもよい。例えば、ユーザがインターネット上の 特定のウェブサイトから記録処理プログラムを有料または無料でダウンロードし、その ダウンロードされたプログラムをコンピュータにインストールするようにしてもよい。記録 処理プログラムがフレキシブルディスク、 CD— ROM、 DVD— ROMなどのコンピュー タ読み取り可能な記録媒体に記録されている場合には、入力装置 (例えば、ディスク ドライブ装置)を用いてアクセス処理をコンピュータにインスト一ノレするようにしてもょ ヽ 。インストールされた記録処理プログラムは、格納手段に格納される。
[0162] さらに、記録制御装置 (整形部 206と最尤復号部 207と信頼性算出部 208と記録 条件決定手段 108)は、 1チップ化された LSI (半導体集積回路)またはその一部とし て製造され得る。記録制御装置が、 1チップ化された LSIとして製造される場合には、 光ディスク装置の製造工程を容易にすることができる。
[0163] 以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきた力 本発 明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求 の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、 本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に 基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引 用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載さ れているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであるこ とが理解される。
産業上の利用可能性
[0164] 本発明の記録方法は、光ディスクへの高密度記録を行う際に有用である。
[0165] 本発明の記録方法、記録装置、プログラムおよび記録制御装置によれば、複数の テスト情報を再生することによって得られた複数のテスト信号と所望信号との乖離を 算出し、複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を選択する。したがって、 1つの記 録条件を所望信号の条件に整合させるために、複数の記録条件から 1つの記録条 件を選択するだけで、所望信号の条件に近 、条件で情報を記録媒体に記録すること ができる。その結果、簡単な回路構成で記録パラメータの最適化を図ることができる。
[0166] さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、 PRML誤差指標 Mが小さくなる条件でユーザデータを記録するため、最短マーク長 が短 、場合でも正 U、記録を行うことができる。
[0167] さらに、本発明の記録方法によれば、ユーザデータの記録前にテスト記録を行い、 PRML誤差指標 Mが小さくなる条件でユーザデータの記録を行うことにより、光ディ スクの品質のばらつきや光ディスク装置の品質のばらつきに影響されることなぐデー タを正確に記録できる。

Claims

請求の範囲 [1] 複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録方法 であって、 (a)前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップ と、 (b)前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記 録するステップと を包含し、 前記ステップ (b)は、 (b— 1)前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られ た複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出するステ ップと、 (b— 2)前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録 条件を選択するステップと を包含する記録方法。 [2] 前記ステップ (a)は、
(a-1)初期条件を決定するステップと、
(a— 2)前記初期条件に基づ 、て、少なくとも 1つの記録条件を決定するステップと を包含し、
前記複数の記録条件は、前記初期条件と前記決定された少なくとも 1つの記録条 件とを含む、請求項 1に記載の記録方法。
[3] 前記ステップ (b— 1)は、
前記記録媒体力 前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテス ト信号を得るステップと、
前記複数のテスト信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す複数の 2値化信 号を生成するステップと、
前記複数のテスト信号と前記複数の 2値化信号とに基づいて、前記最尤復号の結 果の信頼性を計算する計算ステップと を包含し、
前記ステップ (b— 2)は、前記信頼性を示す複数の値に基づいて、前記複数の記録 条件のうちの 1つの記録条件を選択するステップを包含する、請求項 1に記載の記録 方法。
[4] 前記ステップ (b— 2)は、前記複数の記録条件のうち、前記信頼性を示す複数の値 のうちの最小値に対応する記録条件を選択するステップを包含する、請求項 3に記 載の記録方法。
[5] 前記ステップ (b— 1)は、
前記記録媒体力 前記複数のテスト情報を再生することによって、前記複数のテス ト信号を得るステップと、
前記複数のテスト信号のそれぞれに基づ 、て、複数のノ スを生成するステップと、 前記複数のテスト信号のそれぞれと前記複数のパスとに基づ 、て、前記複数のテ スト信号の信頼性を示す複数の指標を計算する計算ステップと
を包含し、
前記ステップ (b - 2)は、前記複数の指標に基づいて、前記複数の記録条件のうち の 1つの記録条件を選択するステップを包含する、請求項 1に記載の記録方法。
[6] 前記ステップ (b— 2)は、前記複数の記録条件のうち、前記複数の指標のうちの最 小値に対応する記録条件を選択するステップを包含する、請求項 5に記載の記録方 法。
[7] 前記複数の記録条件には、選択される優先順位が付されて 、る、請求項 1に記載 の記録方法。
[8] 前記ステップ (b)は、
前記選択された 1つの記録条件に従って、光に含まれる複数の光パルスの相対位 置を決定するステップと、
前記光を前記記録媒体に照射することによって、所定の長さを有する複数の記録 マークを前記記録媒体に形成するステップと
を包含する、請求項 1に記載の記録方法。
[9] 前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークを含む、請求項 8 に記載の記録方法。
[10] 前記所定の長さを有する複数の記録マークは、最短記録マークの次に長い記録マ ークを含む、請求項 8に記載の記録方法。
[11] 前記初期条件は、前記記録媒体作製時に前記記録媒体に記録されている、請求 項 2に記載の記録方法。
[12] エッジシフト量およびジッタのうちの少なくとも一方に基づいて、所定の記録条件を 決定するステップをさらに包含し、
前記所定の記録条件は、前記複数の記録条件に含まれる、請求項 2に記載の記録 方法。
[13] 前記ステップ (a— 1)は、前記所定の記録条件を前記初期条件として決定するステツ プを包含する、請求項 12に記載の記録方法。
[14] 複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録装置 であって、
前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録する第 1記録手 段と、
前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記 録する第 2記録手段と
を備え、
前記第 2記録手段は、
前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数 のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出する算出部と、 前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を 選択する選択部と
を備えた、記録装置。
[15] 複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で情報を記録媒体に記録する記録処理 をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記記録処理は、
(a)前記複数の記録条件で、複数のテスト情報を前記記録媒体に記録するステップ と、
(b)前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、前記情報を前記記録媒体に記 録するステップと
を包含し、
前記ステップ (b)は、
(b— 1)前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られ た複数のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出するステ ップと、
(b— 2)前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録 条件を選択するステップと
を包含する、プログラム。
[16] 複数の記録条件のうちの 1つの記録条件で、情報を記録媒体に記録するための記 録制御装置であって、
前記記録媒体に記録された複数のテスト情報を再生することによって得られた複数 のテスト信号のそれぞれと少なくとも 1つの所望信号との乖離を算出するための算出 部と、
前記乖離を参照することによって、前記複数の記録条件のうちの 1つの記録条件を 選択するための選択部と
を備えた、記録制御装置。
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