JP2009048722A - 記録条件決定方法、記録装置、及び制御プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】本発明は、未知の媒体でも記録ストラテジ調整の際に局所最適に陥ることを防止する記録装置を提供する。
【解決手段】相変化記録媒体に記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録装置である。他の調整に先立ち記録ストラテジ調整のベースとなるベース記録ストラテジのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段（４２）を有する。ベース記録ストラテジ調整手段は、各消去パワー条件毎に記録された各テストパターンを各々再生させ各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段（４２ａ）、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御手段（４２ｂ）を含む。
【選択図】図４

Description

本発明は、記録条件決定方法、記録装置、及び制御プログラムに関する。

記録装置や情報記録再生装置などは、記録情報に応じて変化するパルス列（記録ステラテジ）に基づいてレーザ光を強度変調し、相変化記録媒体上に集光し加熱することで非晶質・結晶質と変化させて記録マーク・スペースを形成し記録する。記録情報を再生する場合には、情報記録再生装置は、再生用のパワーにてレーザ光を照射し、前記記録マーク・スペースにて反射される反射光を検出することで記録情報を再生する。相変化記録媒体に情報を再生可能に確実に記録するには、記録ストラテジによるレーザ光制御を精度良く行う必要がある。

さて、相変化記録媒体は、その種類に応じて物性等の違いが生じ、異なる種類の相変化記録媒体に対して同一の記録ストラテジで記録を行うと、記録される記録マーク、スペースの大きさが変化し、再生情報の誤り率の悪化を招く。このため、情報記録再生装置は、相変化記録媒体への試し書き（テストライト）を行い、その再生信号から得た記録状態を判定し、必要に応じ記録条件を調整する。つまり、相変化記録媒体の物性等の違いや情報記録再生装置との相性により、最適な記録ストラテジに調整する必要がある。

相変化記録媒体に試し書きを行い、記録ストラテジなどの記録条件を調整する技術として、例えば、以下に示す特許文献１、特許文献２が公知である。

特許文献１では、２種類の異なる記録ストラテジ（第１の発光波形規則、第２の発光波形規則）で記録を行い、記録した情報から補正相関（位相誤差量を測定して比較）し、基準ライトストラテジを最適な記録ストラテジとするために、位相誤差を最低にする記録ストラテジ（発光波形規則）を設定して調整を行う（段落番号００５５）。

特許文献２では、先ず、トップパルス、ミドルパルスを変化させて記録を行い、記録データを性能評価結果が最も良い状態となるトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅を決定する（段落番号００９０）。次に、最適化されたトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅を用いて、テストライトにより記録パワーを決定する（段落番号００９２）。すなわち、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｏｒｏｌ）実施時に、最適な状態での再生信号の変調度に近づけるように記録パワーを求める。
特開２００３−３０８３７号公報 特開２００４−１４６０４３号公報

ところで、相変化記録媒体がＨＤ―ＤＶＤほどの高密度であると、記録ストラテジの調整は非常に微妙な調整を必要とし、また、記録パワーと記録ストラテジにはある程度相関があるので、記録パワー、記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルスを、各々独立に調整する事が出来ない。
このため、記録パワー、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを固定して調整しようとすると、容易に（ローカルミニマム）局所最適に陥ってしまう。例えば、記録条件の調整パラメータのうち、最初の一のパラメータの設定固定条件がそもそも違っていると、他のパラメータも違ってくることになり、全パラメータが最適条件を満たさないという状況に陥り、「局所最適」に陥る可能性があった。
特に、調整初期段階で決定される記録パワーと記録ストラテジの調整を間違えると、その後どのように調整しても全く性能が出ないという事態が生じ、調整が困難となるという改善すべき点があった。

また、調整初期段階では、信号品質指標が測定できないほど性能が悪い場合があり、調整が一向に進まなくなり、未知の相変化記録媒体によっては、記録条件の調整すら行えず、再生不能状態に陥るという改善すべき点があった。

さらに、特許文献１及び特許文献２では、未知の相変化記録媒体の性能が悪かった場合、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを変化させて記録を行っても全く性能評価結果に違いがでず、調整困難となる。

本発明は、上記した技術の改善すべき点を解決することを課題としてなされたものであって、その目的とするところは、未知の相変化記録媒体であっても、局所最適に陥り調整不能となることを防止して、記録条件の調整が可能な記録条件決定方法、記録装置、及び制御プログラムを提供することにある。

上記目的は、主たる独立請求項に記載の特徴の組み合わせにより達成され、また、下位請求項は、発明の更なる有利な具体例を規定する。この発明の概要は、必要な特徴すべてを列挙しているものではなく、よってここには記載されない下位請求項並びにこれらの特徴群の下位結合（サブコンビネーション）も発明になり得る。

本発明の記録条件決定方法の一態様は、相変化記録媒体上にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件を決定する記録条件決定方法であって、他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整ステップと、前記ベース記録ストラテジ調整ステップにて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整ステップと、前記ベース記録ストラテジ調整ステップにて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記パワー調整ステップによる調整後に、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整ステップと、を含み、前記ベース記録ストラテジ調整ステップは、消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定すること、を特徴としている。

本発明の記録条件決定方法の他の態様は、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて記録パワー、消去パワー、バイアスパワーの少なくとも３値の間で強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を記録する記録条件を決定する記録条件決定方法であって、前記消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の消去パワー条件下で、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を一律に変化させつつ記録を行うベースパルス幅変更記録ステップと、前記２種類の各消去パワー条件下にて各々記録された各パターン列を各々再生し、前記各消去パワー条件下での各再生信号変調度の差に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定ステップと、前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御ステップと、含むことを特徴としている。

本発明の記録装置の一の態様は、相変化記録媒体にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録装置であって、他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段と、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記レーザ光のパワーを調整するパワー調整手段と、前記パワー調整手段による調整後に、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段と、を含み、前記ベース記録ストラテジ調整手段は、前記パターン列を消去する消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定することを特徴としている。

本発明の記録装置の他の態様は、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を光照射によって記録を行う記録装置であって、前記記録マークを消去する消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の各消去パワー条件を切替制御する消去パワー条件切替制御手段と、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルスと逆極性のパルスをクーリングパルスとした時、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅を変化させるベースパルス幅変更制御手段と、前記２種類の各消去パワー条件下にて記録された各パターン列を各々再生し、再生された各記録マークの各々の再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段と、前記パルス幅依存性測定制御手段にて測定されたパルス幅依存性に基づいて、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの好ましいパルス幅を選択するベースパルス幅選択制御手段と、を含むことを特徴としている。

本発明の制御プログラムは、相変化記録媒体上にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件を決定制御する記録条件決定用の制御プログラムであって、コンピュータに、他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段と、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整手段と、前記パワー調整手段による調整後に、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段として、機能させ、前記ベース記録ストラテジ調整手段は、前記パターン列を消去する消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定することを特徴としている。

本発明の作用及び他の利得は、以下に説明する「発明を実施するための最良の形態」から明らかにされる。

本発明によれば、ベース記録ストラテジの調整にて、消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジが決定され、これをもとに他の調整を行うことで、未知の相変化記録媒体であっても局所最適に陥り調整不能となる事態を回避でき、以降の記録ストラテジ調整を良好に行うことができる。

以下に説明する内容は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、説明される構成の全てが、本発明の必須構成要件であるとは限らない。

以下に本発明の記録装置の基本的構成を説明するが、本発明の構成要件と、実施の形態における具体例との対応関係を例示すると、次のようになる。また、「基本的構成」の項目における括弧内の番号等は、図面における対応する要素を示す便宜的なものであり、従って、その記述は図面上の記載に限定拘束されるものではない。

〔記録装置の基本的構成〕
記録装置（例えば図１に示す符号１など）の第１の基本的構成は、相変化記録媒体にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録装置であって、他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段（例えば図３に示す符号４２など）と、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記レーザ光のパワーを調整するパワー調整手段（例えば図３に示す符号４３など）と、前記パワー調整手段による調整後に、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段（例えば図３に示す符号４４など）と、を含む構成としている。前記ベース記録ストラテジ調整手段は、前記パターン列を消去する消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅（例えば図１２の破線に示すパルス幅の範囲や図１３に示す矢印のパルス幅など）を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定する。

記録装置の第２の基本的構成は、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を光照射によって記録を行う記録装置であって、前記記録マークを消去する消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の各消去パワー条件を切替制御する消去パワー条件切替制御手段（例えば図４に示す符号４２ｃなど）と、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルスと逆極性のパルスをクーリングパルスとした時、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅を変化させるベースパルス幅変更制御手段（例えば図４に示す符号４２ｄなど）と、前記２種類の各消去パワー条件下にて記録された各パターン列を各々再生し、再生された各記録マークの各々の再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段（例えば図４に示す符号４２ａなど）と、前記パルス幅依存性測定制御手段にて測定されたパルス幅依存性に基づいて、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの好ましいパルス幅を選択するベースパルス幅選択制御手段（例えば図４に示す符号４２ｂなど）と、を含む構成としている。

第１の基本的構成の記録装置では、ベース記録ストラテジ調整手段は、（通常の記録ストラテジ調整の前処理として）、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定する。この決定されたベース記録ストラテジをもとに、他の調整（パワー調整手段によるパワー調整、記録ストラテジ調整手段による記録ストラテジ調整）を行う。
ここに、「消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅」を算出するには、各消去パワー条件下（例えば少なくとも２つの各消去パワー条件下）での再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性を測定する手法（第２の基本的構成など）や、各消去パワー条件下での各再生信号変調度に関するパルス幅依存性を測定する手法などが想定される。

ここで、本発明者等は、記録パワーを特定の値とし一の消去パワー条件で記録した時、一の記録マークを再生することで得られる一の再生信号変調度と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す一の消去パワー条件下の再生信号変調度―パルス幅依存性特性（例えば図１２に示す消去パワ＝０ｍＷにおける特性）；さらには、記録パワーを特定の値とし他の消去パワー条件で記録した時、他の記録マークを再生することで得られる他の再生信号変調度と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す他の消去パワー条件下での再生信号変調度―パルス幅依存性特性（例えば図１２に示す消去パワー＝６ｍＷにおける特性）；などはそれぞれ、特定のパルス幅範囲で特定の再生信号変調度にて概ね一定となることを見い出した（例えば図１２に示す記録ストラテジのパルス幅がおよそ０．３〜およそ０．５に相当する範囲等）。

すなわち、各消去パワー条件に依存せず、概ね一定となる再生信号変調度が得られる特定のパルス幅範囲が存在することとなる。
具体的には、特定の一消去パワー条件下（例えば０ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、一特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同様に、他の消去パワー条件下（例えば３ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同じく、さらに他の消去パワー条件下（例えば６ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、さらに他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。

さらに、本発明者等は、各消去パワー条件での各再生信号変調度の差分と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す各消去パワー条件下での再生信号変調度差分―パルス幅依存性特性；にて、再生信号変調度差分が概ね零となる特定のパルス幅範囲が存在することを確認した（例えば図１３等）。
また、本発明者等は、記録ストラテジの記録調整の初期値のパルス幅（ベース記録ストラテジのパルス幅）を変化させ、記録パワー、消去パワー調整後のＰＲＳＮＲ値と前記パルス幅との関係を確認した。これによると、消去パワーに依存せず、概ね一定の再生信号変調度が得られるパルス幅をベース記録ストラテジとして調整を行うと、最終的に高いＰＲＳＮＲ値が得られることが判明した（例えば図１４等）。

この際、最適ベースパルス幅として図１３に示す特性において、再生信号変調度の差分が概ね一定（ほぼ０）になる範囲のうち、パルス幅が最小となる（再生信号変調度に関するパルス幅依存性が＜依存しない非依存部分に＞変わる特徴点となる）例えば０．３Ｔを「最適ベースパルス幅」とすると、図１４に示すように、ＰＲＳＮＲ値が最大となることが判明した。

図１３及び図１４をみると、再生信号変調度が概ね一定となる範囲（ほぼ０になる範囲）の中でも、パルス幅が０．６Ｔや０．５ＴではＰＲＳＮＲ値が低く、局所最適に陥る可能性があり、パルス幅が０．４ＴでもＰＲＳＮＲ値が２０程度となっているが、パルス幅が０．２５Ｔ、０、３Ｔ、０、３５Ｔでは、ＰＲＳＮＲ値はきわめて高く、特にパルス幅が０、３ＴではＰＲＳＮＲ値が最大となっている。このＰＲＳＮＲ値が最大となっているパルス幅は、図１３の特性では、再生信号変調度の差分が概ね一定（ほぼ０）になる範囲のうちパルス幅が最小となる（再生信号変調度に関するパルス幅依存性が＜依存しない非依存部分に＞変わる特徴点となる）箇所である。

この結果、テストパターンの記録マークの大きさに比例する変調度の値が一定で変化しないということは、特定のパルス幅範囲では、如何なる消去パワーを用いても、記録マークの大きさが一定（記録マークの大きさに影響を与えない）ことを意味する。
すなわち、記録マークの大きさに比例する変調度が、消去パワーに依存しないということは、前記最適べースパルス幅の範囲で記録マーク形成条件と消去条件とを独立に調整可能であり、局所最適に落ち込みにくいことを意味する。そのため、消去パワーに依存しない概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅範囲内にて、最適ベースパルス幅を初期設定すると、局所最適を防止できる最適条件が得られる。
このように、未知の記録媒体であっても局所最適に陥り再生不能となる事態（通常の記録ストラテジ調整すら困難となる事態）を回避でき、以降の記録ストラテジ調整を良好に行うことを可能とするものである。

第２の基本的構成の記録装置では、前記消去パワー条件切替制御手段及び前記ベースパルス幅変更制御手段は、特定ベースパルス幅にて各前記消去パワー条件毎にテストパターンを各々記録し、前記パルス幅依存性測定制御手段は、該各々のテストパターンからの再生信号変調度を各々測定し、各前記再生信号変調度の差分を算出し、及び前記パルス幅依存性測定制御手段は、前記ベースパルス幅変更制御手段により前記各パルスのパルス幅を変化させつつ、記録、測定を繰り返し、前記再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を算出し、前記ベースパルス幅選択制御手段は、前記パルス幅依存性に基づいてベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択する。

また、このような記録装置は、単独で存在する場合もあるし、電子機器に組み込まれた状態で利用されることもあるなど、発明の思想としてはこれに限らず、各種の態様を含むものである。

これら基本的構成の記録装置において、このような最適ベースパルス幅を決定するためのより具体的構成と、最適ベースパルス幅でのベース記録ストラテジに基づく、記録パワーや消去パワーの調整、記録ストラテジの調整に関する具体的構成、このような作用、及び他の利得については、次に説明する各実施の形態からさらに明らかにされる。

以下、本発明の好適なさらに詳細な実施の形態の一例について、図面を参照して具体的に説明する。以下には、本発明の記録装置を「情報記録再生装置」に適用した例について説明する。
〔第１の実施の形態〕
先ず、情報記録再生装置の具体的構成について、全体構成から説明し、続いてＲＦ回路部の内部構成、システムコントローラの内部構成、システムコントローラ内部のパルス幅依存性測定器の詳細構成について説明することとする。

すなわち、第１の実施の形態においては、以下に示す項目
[１．１]（情報記録再生装置の全体構成）
[１．２]（ＲＦ回路部の構成）
[１．３]（システムコントローラの内部構成）
[１．３．１]（本第１の実施の形態の特徴的構成Ｉ：ベース記録ストラテジ調整部）
[１．３．２]（ベース記録ストラテジ調整部内のパルス幅依存性測定器）
[１．３．３]（本第１の実施の形態の特徴的構成ＩＩ：ベースパワー調整部）
[１．３．４]（パワー調整部）
[１．３．５]（記録ストラテジ調整部）
[１．３．６]（システムコントローラ内の各部の動作）
[２．１]（全体処理）
[２．２．１]（ベースパワー調整ステップ）
[２．２．２]（ベース記録ストラテジ調整ステップ）
[２．２．３]（パワー調整ステップ）
[２．２．４]（記録ストラテジ調整ステップ）
の順に説明することとする。

[１．１]（情報記録再生装置の全体構成）
本実施の形態の情報記録再生装置を動作させる前提となる、装置の全体構成について、図１を参照しつつ説明する。図１は、本発明における第１実施の形態の情報記録再生装置の全体の概略構成の一例を示すブロック図である。

本実施の形態の情報記録再生装置１は、相変化記録媒体上に図１１に示すパルストレイン型記録ストラテジにて強度変調したレーザー光を照射することによって、マークとスペースとによるパターン列を光照射によって相変化記録媒体に書き込む（記録する）情報記録再生装置を対象とするものである。

本例の情報記録再生装置１は、図１に示すように、相変化記録媒体の一例である光ディスク７８を駆動するスピンドル駆動系２と、データを記録又は再生するために光ディスク７８にレーザ光ビームを照射しそれを検出する光ヘッド部１０と、入力信号にフィルタリング等の処理を行うＲＦ回路部２０と、入力信号を復調する復調器３０と、装置全体を統括する全体制御部（全体制御手段）としてのシステムコントローラ４０と、記録すべき信号を変調する変調部としての変調器７２と、レーザダイオード（ＬＤ）１２を駆動するＬＤ駆動系７４と、光ディスク７８の表面の垂直軸と後述する対物レンズ１４の光軸との傾きを調整する傾き調整手段として機能し、かつ、サーボ信号をコントロールするサーボコントローラ７６と、を含んで構成されている。

スピンドル駆動系２は、システムコントローラ４０からの指令を受けて、光ディスク７８を回転駆動する。

光ヘッド部１０は、スピンドル駆動系２で回転駆動される光ディスク７８の盤面にレーザー光を照射し、光ディスク７８への情報の書込、光ディスク７８からの情報の再生を行う。
光ヘッド部１０は、レーザ光を出射する発光部としてのレーザダイオード１２と、レーザダイオード１２からのレーザ光ビームを集光して光ディスク７８に照射する対物レンズ１４と、この照射されたレーザ光ビームが光ディスク７８に反射されて生じる反射光を少なくとも２つ以上に分割して受光しこの各光から信号を検出する受光部１６と、レーザダイオード１２からの光ビームを対物レンズ１４に反射させるとともに、光ディスク７８からの反射光を受光部１６に通過させる光分離手段（偏光変換素子）としてのビームスプリッタ１８と、を含んで構成される。

このような構成の光ヘッド部１０の光学系において、レーザダイオード１２から出射されたレーザ光は、ビームスプリッタ１８により光軸変換され、対物レンズ１４により集光され、光ディスク７８上にスポット照射される。一方、光ディスク７８上にて反射された戻り光は、対物レンズ１４、ビームスプリッタ１８を介して直進し、受光部１６にて受光される。

受光部１６は、光ディスク７８の径方向に分割された２分割フォトディテクタにて構成することが好ましい。この場合、受光部１６は、戻り光のうち、光ディスク７８の半径方向に対して内側の第１受光素子部（不図示）で検出された戻り第１成分光からＩ１信号、外側の第２受光素子部（不図示）で検出された戻り第２成分光からＩ２信号を検出する。受光部１６の出力は、電流である。Ｉ１信号およびＩ２信号は、電流を電圧に変えるＩＶアンプ（電流電圧変換部）を通して使用する。Ｉ１＋Ｉ２により再生信号が生成される。

ここで、受光部１６は、光ディスク７８の径方向に分割された２種類の信号をＩ１、Ｉ２とすることで、光ディスク７８と対物レンズ１４との間の径方向の傾きずれが変化したときに、それによる劣化を防ぐ第１方向傾きずれ検出部として機能する。さらに、受光部１６は、光ディスク７８の走査方向に分割したフォトディテクタを使用することで、光ディスク７８と対物レンズ１４との間の走査方向の傾きずれが変化したときに、それによる劣化を防ぐ第２方向傾きずれ検出部として機能する。

受光部１６としては、２分割フォトディテクタに限らず、第１受光素子部、第２受光素子部、第３受光素子部、第４受光素子部から構成される４分割ディテクタを使用する構成としてもよい。この場合、受光部１６からの出力は、各受光素子部からの各出力信号を適宜を束ねてＩ１信号、Ｉ２信号を作り出すことが好ましい。

２分割フォトディテクタでは、光ディスク７８に記録された信号は、ディテクタの分割された２つの部分から、それぞれ分割して検出された信号として出力され、それぞれ単独で２種類の信号Ｉ１、Ｉ２を生成する。４分割フォトディテクタでは、光ディスク７８に記録された信号は、ディテクタの分割された４つの部分から、それぞれ４つに分割された信号の１つとして出力され、２つの信号を組み合わせることによって、２種類の信号Ｉ１、Ｉ２を生成する。
このように、様々なディテクタの形式が考えられるが、ディテクタの形式は適宜選定されてもよく、分割方法も実施形態に示す形に限定されるものではない。

ＲＦ回路部２０は、受光部１６から出力される信号に対してフィルタリング等の処理を行う。上述した信号Ｉ１、Ｉ２は、ＲＦ回路部２０に入力され、Ｉ１＋Ｉ２（再生信号）なる演算を行った後、フィルタリング、イコライジング、ＰＬＬ（フェーズロックドループ）等の処理を施される。ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）を使用する場合は、ここで、ビタビ復号等の処理も行われる。

復調器３０は、ＲＦ回路部２０で処理された再生信号を復調する。変調器７２は、システムコントローラ４０から出力される記録信号を変調する。

ＬＤ駆動系７４は、システムコントローラ４０からの指令を受けて、変調器７２で変調された記録信号に基づいてレーザーダイオード（ＬＤ）１２を駆動する。

サーボコントローラ７６は、システムコントローラ４０からのサーボ信号を受けて、受光部１６、特に光ディスク７８に対する対物レンズ１４の焦点位置を制御する。

システムコントローラ４０は、装置内の各部の制御を司るとともに装置全体を統括するものであって、その内部に、パルス幅依存性測定器４２ａと、ベースパルス幅選択器４２ｂと、消去パワー切り替え器４２ｃと、ベースパルス幅変更器４２ｄと、ベースパルス幅調整制御部４２ｅと、を含んで構成され、これらの各部が、本実施の形態における特徴的な要素をなすものである。これらの特徴的構成の詳細については、後述する。

以上のような構成からなる本実施の形態の図１のブロック図における動作は、以下のように行われる。この動作は、図１のブロック図の各構成要素が如何に作用するかを説明するためのものである。
本実施の形態では、システムコントローラ４０は、システムコントローラ４０内部で計算された再生信号変調度の差分に基づいて、変調度の差分を考慮して、ベース記録ストラテジのパルス幅の決定を行う際の制御機能を含む。

すなわち、システムコントローラ４０は、特定のパルス列からなる記録ストラテジである記録信号を出力する。記録信号は変調器７２にて変調される。システムコントローラ４０からの指令を受けて、ＬＤ駆動系７４は、変調器７２にて変調された記録信号に基づいて、レーザダイオード（ＬＤ）１２を駆動する。「記録モード」では、記録パワーの設定された記録ストラテジにて強度調整されたレーザダイオード１２から出射されたレーザ光は、種々の光学系を介して光ディスク７８の特定スポット上に照射され、記録ステラテジのパルス列に応じた記録マークを形成する。「再生モード」では、再生パワーに設定されたレーザダイオード１２から出射されたレーザ光は、種々の光学系を介して光ディスク７８の特定スポット上に照射され、前記記録マークを含む光ディスク７８上で反射される。光ディスク７８からの反射光（戻り光）は、光ヘッド部１０内の種々の光学系を介して受光部１６に受光され、再生信号としてＲＦ回路部２０に入力される。ＲＦ回路部２０は、再生信号に対して種々の処理を施し、復調器３０は、種々の処理の施された再生信号を復調してシステムコントローラ４０に入力する。一方、受光部１６からの再生信号は、後述するシステムコントローラ４０内のパルス幅依存性測定器４２ａにて再生信号変調度差分を測定演算するために、種々の配線部を介してシステムコントローラ内４０に直接入力される。

詳細は、後述の「システムコントローラの内部構成」の項目で詳述するが、このようにして、システムコントローラ４０は、特定のパルス列よりなる記録ストラテジの記録信号を出力して、光ディスク７８にテストパターンの記録マークを記録せしめ、記録マークからの再生信号に基づき、システムコントローラ４０内のパルス幅依存性測定器４２ａにて再生信号変調度の測定を行うこととなる。

ただし、本実施の形態では、２つの異なる条件の消去パワー（第１の消去パワー、第２の消去パワー）の各々の条件の下、すなわち、第１の消去パワーでの記録信号で第１テストパターンの記録マークを形成し、その記録マークの第１再生信号の第１再生信号変調度と、第２の消去パワーでの記録信号で第２テストパターンの記録マークを形成し、その記録マークの第２再生信号の第２再生信号変調度と、を各々測定する必要がある。そして、システムコントローラ４０内のパルス幅依存性測定器４２ａは、これらの第１、第２の各再生信号変調度に基づいて、再生信号変調度差分を算出する。このため、一つの再生信号変調度差分を測定・算出するためには、都合２回のテストパターンの記録マークの形成が不可欠となる。
このようにして、パルス幅依存性測定器４２ａが、再生信号変調度差分を算出することで、最適パルス幅の選択を行うことができる。

[１．２]（ＲＦ回路部の構成）
ここで、本例で使用されるＲＦ回路部２０のブロック図の一例を図２に示す。図２には、前記情報記録再生装置１内のＲＦ回路部２０の具体的構成が示されている。
ＲＦ回路部２０は、図２に示すように、プリフィルタ２１と、オートゲインコントローラ（ＡＧＣ）２２と、Ａ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）２３と、フェーズ・ロックド・ループ（ＰＬＬ）２４と、適応等化器２５と、ビタビ復号器２６と、ＰＲＳＮＲ計算器２７と、を含んで構成される。ＲＦ回路部２０は、最尤検出器として構成されている。

プリフィルタ２１は、受光部１６から入力する信号に対してフィルタリングの処理を行う。

オートゲインコントローラ２２は、プリフィルタ２１で処理された信号に対してイコライジングの処理を行い、信号のゲインを制御する。

Ａ／Ｄコンバータ２３は、オートゲインコントローラ２２で処理されたアナログの信号をデジタル信号にＡ／Ｄ変換する。

フェーズ・ロックド・ループ（ＰＬＬ）２４は、Ａ／Ｄ変換された信号に対してＰＬＬ処理を行う。

ここで、ＨＤ ＤＶＤでは、更なる高密度化に対応した２値化方式としてＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ ａｎｄ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）を用いている。ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）を使用する場合には、ビタビ復号等の処理が行われる。ここで、ＰＲＭＬとは、ＤＶＤなどの高密度の光ディスク７８に記録された情報を再生する場合に用いられる再生信号処理方式であって、光ディスク７８から読み出したデータ波形を１もしくは０と判断するときに、隣接するデータから干渉を受けることを考慮して信号の処理を行う方式を意味する。
ＰＲＭＬ技術は、符号間の干渉を取り除くために高域の周波数を極端に強調するなどの無理な波形等化をすることなく、隣接のチャンネルクロック位置に信号エネルギーが拡散することを許容しつつ、この拡散した信号エネルギーすべてを有効に使って再生を行う。この技術は、符号間干渉が一定量存在することを前提とした再生技術であるパーシャルレスポンスと、再生信号中から最も確からしい信号系列を選択復号する最尤復号部と、の組み合わせによりなる。
「パーシャルレスポンス」とは、無歪条件を実現するための完全な周波数レスポンスに対して、符号間干渉が残る不完全な（部分的な）周波数レスポンスである。

本例では、適応等化器２５、ビタビ復号器２６、ＰＲＳＮＲ計算器２７により、前記ＰＲＭＬを行うことができる。

適応等化器２５は、フェーズ・ロックド・ループ２４でＰＬＬ処理された信号を受けて、適応等化の処理を行う。適応等化器２５では、クロック周期毎の等化再生波形データが得られる。等化は、ノイズ成分をできるだけ抑制しつつ、再生波形がＰＲ波形に基づく目標波形にできるだけ近づくように等化される。

ビタビ復号器２６は、適応等化器２５からの信号を受けて、ビタビ復号の処理を行い、データ列信号をＰＲＳＮＲ計算器２７に出力する。ビタビ復号器２６は、等化後の再生信号から２値の識別信号へと復号する。各サンプル点における、実際の再生信号と想定されるすべてのパスとの誤差を累積加算し、累積加算値が最も小さいパスを選択する。ＰＲ特性の持つ既知の相関を利用し、複数点のサンプルから値を決定する。ＨＤ―ＤＶＤでは、記録再生系をＰＲ（１、２、２、２、１）特性と仮定している。

ＰＲＳＮＲ計算器２７は、ビタビ復号器２６でビタビ復号の処理がなされたデータ列信号を受けて、信号品質評価値であるＰＲＳＮＲ値を計算する。
ここで、ＰＲＳＮＲ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｓｉｇｎａｌ ｔｏ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）は、再生信号のS／N（信号対雑音比）、及び、実際の再生波形と理論的なＰＲ波形線形性とを指し示す指標であって、光ディスク７８のビット誤り率の推定を行うために用いられる。

ＰＲＳＮＲ値は、信号品質と非常に強い相関があり、ＨＤ―ＤＶＤの信号品質評価指標として用いられる。信号品質評価手段としてのＰＲＳＮＲ計算器２７は、データ列及びパーシャルレスポンス特性から求められる目標信号と、クロック周期毎の信号との差異である等化誤差をクロック周期毎に算出し、この等化誤差の自己相関に基づいて信号品質を評価する。

信号品質評価手段としてのＰＲＳＮＲ計算器２７は、入力した等化再生波形を用いて信号品質評価値（ＰＲＳＮＲ値）を算出して、再生波形の品質評価を行う。また、ＰＲＳＮＲ値は、あるパス間の実効的なＳＮＲであるためにエラー関数を介して、推定エラーレートを見積もることができる。ここで、ＰＲＳＮＲ、エラーレートは、どの程度誤りがあるかを示すもので（間違ったビット数）／（数えたビットの総数）で算出することができる。

パルス幅などの記録再生条件を変化させながら、或いはパワー調整部により記録パワーなどの記録再生条件を変化させながら、各条件毎に信号品質評価値Ｓを算出し、信号品質評価値Ｓが最大となる条件、もしくは、信号品質評価値が一定の値となる記録再生条件を見つけることで、情報の記録再生を安定した条件で行う。

適応等化後の信号と、ビタビ復号後のデータ列信号は、ＰＲＳＮＲ計算器２７に入力され、（信号品質評価手段としての）ＰＲＳＮＲ計算器２７によってＰＲＳＮＲ値が計算される。ＰＲＳＮＲ計算器２７は、記録マークのパターン列（ＮＲＺＩ：Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｓｉｏｎ）を再生した再生信号に基づいて算出される。

[１．３]（システムコントローラの内部構成）
次に、情報記録再生装置１のシステムコントローラ４０の内部構成について、図３を参照しつつ説明する。図３は、情報記録再生装置のシステムコントローラの内部構成の一例を示すブロック図である。

情報記録再生装置１のシステムコントローラ４０は、図３に示すように、他の調整に先立って、記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段の一例であるベース記録ストラテジ調整部４２と、前記ベース記録ストラテジ調整部４２による前記ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、前記レーザ光のパワーを調整するベースパワー調整手段の一例であるベースパワー調整部４１と、前記ベース記録ストラテジ調整部４２にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整手段の一例であるパワー調整部４３と、前記ベース記録ストラテジ調整部４２にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記パワー調整手段による調整後に、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段の一例である記録ストラテジ調整部４４と、ＰＲＳＮＲなどの信号品質評価情報を取得して該信号品質評価情報に基づいて記録ストラテジの信号品質の評価判定などの制御を行う信号品質判定制御部４５と、これらの各部の制御を司り、実行手順を制御するモジュール制御部としての主制御部４８と、その他各種の必要な処理を行う機能や特定の情報を記憶するための記憶部やワークエリアとしての機能を含むその他の各部４７と、を含んで構成される。

ベースパワー調整部４１は、変調度に関するパワー依存性に基づいて、記録ストラテジを構成するパワー（例えば、記録パワー、消去パワー、バイアスパワー等）を調整する。

ベース記録ストラテジ調整部４２は、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定する。

パワー調整部４３は、ベース記録ストラテジ調整部４２にて決定された最適ベースパルス幅よりなるベース記録ストラテジをもとに、信号品質判定制御部４５からのＰＲＳＮＲ値などの信号品質評価値を指標としてパワー調整（例えば記録パワー微調整、消去パワー微調整など）を行い、最適パワー（例えば最適記録パワー、最適消去パワーなど）を決定する。パワー調整は、パワーを段階的に変化させてＰＲＳＮＲ値が大となるパワー（好ましくは所定のＰＲＳＮＲ値の閾値より大となるＰＲＳＮＲ値に対応するパワー、さらに好ましくは、ＰＲＳＮＲ値が最大となるＰＲＳＮＲ値に対応するパワー）を算出することでパワーを決定し、そのパワーに変更する制御を行う。

記録ストラテジ調整部４４は、ベース記録ストラテジ調整部４２にて決定された最適ベースパルス幅よりなるベース記録ストラテジをもとに、信号品質判定制御部４５からのＰＲＳＮＲ値などの信号品質評価値を指標として各パルスのパルス幅調整を行い、最適パルス幅を決定する。例えば、トップパルス及びクーリングパルスを同時に調整したり、各パルスを各々独立に調整したり、長さの異なる記録マーク毎に各パルスを各々独立に調整する機能などを有する（詳細は後述）。

上述のような構成よりなるシステムコントローラ４０の概略構成において、概略以下のように動作する。すなわち、主制御部３８は、ベースパワー調整部４１を動作させ、ベース記録ストラテジに必要な記録パワーを、再生信号変調度に関する記録パワー依存性に基づいて決定させる。次に、主制御部３８は、本発明の特徴的構成であるベース記録ストラテジ調整部４２を動作させ、各消去パワー条件での各再生信号変調度の差分である再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性に基づいて最適ベースパルス幅を決定させる（具体的な説明は後述する）。

以上によりベース記録ステラテジが決定される。ところで未知の記録媒体を利用する際に、局所最適に陥ると調整すら困難となり、再生信号の信号品質評価値すら利用することができない。このような点に鑑み、決定前の各処理においては、信号品質評価値を用いずに、記録パワー依存性やパルス幅依存性などの測定をもとに調整を行う。そして、如何なる未知の記録媒体であてっも、基準となるベース記録ステラテジが決定、生成されるので、調整初期段階にて局所最適に陥り調整困難となる事態を確実に防止できる。

続いて、上述のようなベース記録ステラテジを基準に、パワー調整、記録ステラテジ調整を行っていく。この段階では、信号品質評価値を利用することができるので、この信号品質評価値をもとに調整を行っていく。
具体的には、主制御部３８は、パワー調整部４３及び信号品質判定制御部４５を動作させ、パワー調整部４３に、記録パワーを段階的に変化させ、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値が大となる記録パワーを決定させる。また、主制御部３８は、パワー調整部４３及び信号品質判定制御部４５を動作させ、パワー調整部４３に、消去パワーを段階的に変化させ、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値が大となる消去パワーを決定させる。

次に、主制御部３８は、記録ステラテジ調整部４３及び信号品質判定制御部４５を動作させ、記録ステラテジ調整部４３に、各パルスのパルス幅を段階的に変化させ、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値が大となるパルス幅を決定させる（詳細や手法は後述）。

[１．３．１]（本実施の形態の特徴的構成Ｉ：ベース記録ストラテジ調整部）
次に、本実施の形態の特徴的構成のベース記録ストラテジ調整部の詳細構成について、図４を参照しつつ説明する。図４は、情報記録再生装置のシステムコントローラの内部のベース記録ストラテジ調整部の詳細構成の一例を示すブロック図であり、システムコントローラ内部の消去パワー切り替え器、ベースパルス幅変更器、パルス幅依存性測定器、パルス幅選択器の関係性を表している。
る。
本発明の特徴的な要素は、システムコントローラ４０内部のベース記録ストラテジ調整の機能を実現する消去パワー切り替え器、ベースパルス幅変更器、パルス幅依存性測定器、パルス幅選択器にある。

ベース記録ストラテジ調整部４２の内部構成は、図４に示すように、パルス幅依存性測定器４２ａと、パルス幅選択器４２ｂと、消去パワー切り替え器４２ｃと、ベースパルス幅変更器４２ｄと、これらの各部を制御するベースパルス幅調整制御部４２ｅと、を含んで構成される。

消去パワー切り替え器４２ｃは、第１の消去パワー（例えば殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワー）と、第２の消去パワー（例えば概ね記録済みマークが消去される消去パワー）とを付与した２種類の条件を切り替える。

ベースパルス幅変更器４２ｄは、記録ストラテジを構成する最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルスと逆極性のパルスをクーリングパルスとした時、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅を所定の範囲内で変化させる。

パルス幅依存性測定器４２ａは、２種類の条件下で記録されたパターン列を再生し、再生された記録マークの再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性（例えば図１３等）を測定する。

ベースパルス幅選択器４２ｂは、パルス幅依存性測定器４２ａにて測定されたパルス幅依存性に基づいて、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの好ましいパルス幅を選択する。具体的には、ベースパルス幅選択器４２ｂは、図１３に示すように、再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択する。さらには、ベースパルス幅選択器４２ｂは、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択する。

ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、これらの各処理の実行順序を制御するモジュール制御部としての機能と、ベース記録ストラテジ調整部４２に必要な種々の処理を行うその他の処理部としての機能などを含んで構成される。特に、ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、ベースパルス幅選択器４２ｂに基づいて、消去パワー切り替え器４２ｃとベースパルス幅変更器４２ｄを制御する。

ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、パルス幅依存性測定器４２ａよりパルス幅依存性を取得し、ベースパルス幅選択器４２ｂに対して取得情報を供給してパルス幅を選択させ、選択されたパルス幅にてベースパルス幅変更器４２ｄにて変更するよう制御する。

また、ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、ベースパルス幅変更器４２ｄに対して、例えば、全てのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を同一値に設定し、記録ストラテジを構成するトップパルス及びミドルパルス並びにラストパルスの後縁を一律に変化させることで、複数のパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を変化させるよう制御する。

上述のような構成からなるシステムコントローラ４０のベース記録ストラテジ調整部４２の内部構成において、概略以下のように動作する。すなわち、消去パワー切り替え器４２ｃは、ＬＤ駆動系７４（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ）を制御し、設定された第１の消去パワーと、設定された第２の消去パワーとの消去パワーの切り替えを行う。また、ベースパルス幅変更器４８は、ＬＤ駆動系７４（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ）を制御し、記録ストラテジのパルス幅変更を行う。

記録された記録マークからの反射光（戻り光）は、受光部１６にて検出され、受光部１６にて光信号より電気信号に変換された再生信号は、パルス幅依存性測定器４２ａに入力される。パルス幅依存性測定器４２ａは、２つの条件下（例えば第１の消去パワーでの第１の再生信号変調度（例えば図１２の消去パワー０ｍＷの特性）と第２の消去パワーでの第２の再生信号変調度（例えば図１２の消去パワー６ｍＷの特性）との差である）再生信号の変調度差分におけるパルス幅依存性（例えば図１３）を測定する。
測定された再生信号の変調度差分におけるパルス幅依存性に基づいて、ベースパルス幅選択器は、記録ストラテジの最適ベースパルス幅を選択判定し、その記録ストラテジの最適ベースパルス幅の情報をベースパルス幅調整制御部４２ｅに送るようになっている。
ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、この最適ベースパルス幅に基づいて、ベース記録ストラテジに関する情報を蓄積し、後述の「パワ−調整部」、「記録ストラテジ調整部」に利用できるようにする。
これにより、最適ベースパルス幅の選択を精度良く行うことができる。

ここで、ＲＦ回路部２０からのデータには、記録マークのパターン列（ＮＲＺＩ：Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｓｉｏｎ）を再生した再生信号に基づいて算出されるＰＲＳＮＲなどの信頼性評価情報を含む。

[１．３．２]（ベース記録ストラテジ調整部内のパルス幅依存性測定器）
次に、パルス幅依存性測定器４２ａの詳細構成について、図５を参照しつつ説明する。図５は、再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性測定器の詳細構成の一例を示すブロック図である。

パルス幅依存性測定器４２ａは、図５に示すように、ピークホールド回路５１と、ボトムホールド回路５２と、変調度演算回路５３と、差分演算回路５４と、パルス幅依存性測定回路５５と、を含んで構成される。

ピークホールド回路５１は、受光部１６からの信号Ｉ（＝Ｉ１＋Ｉ２）の信号波形のピークレベル（最大値）を検出する。ボトムホールド回路５２は、受光部１６からの信号Ｉ（＝Ｉ１＋Ｉ２）の信号波形のボトムレベル（最小値）を検出する。

変調度演算回路５３は、ピークレベルとボトムレベルとに基づいて、例えば図１６に示すＩｔｏｐ（第１の基準値）、Ｉｂｏｔｔｏｍ（第２の基準値）を算出する。さらに、変調度演算回路５３は、Ｉｔｏｐと、Ｉｂｏｔｔｏｍとに基づいて、以下の（演算式Ａ）により変調度（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）を演算する。

Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ＝（Ｉｔｏｐ―Ｉｂｏｔｔｏｍ）／（Ｉｔｏｐ） （演算式Ａ）

差分演算回路５４は、２種類の条件下（第１の消去パワー、第２の消去パワー）のうち、一方の消去パワー（第１の消去パワー）にて（試し書きにより光ディスク７８上に）記録されたパターン列からの再生モードにおける戻り光に基づく信号により前記（演算式Ａ）にて得られた第１の再生信号変調度と、他方の消去パワー（第２の消去パワー）にて（試し書きにより光ディスク７８上に）記録されたパターン列からの再生モードにおける戻り光に基づく信号により前記（演算式Ａ）にて得られた第２の再生信号変調度と、の差分（再生信号変調度差分）を演算する。

パルス幅依存性測定回路５５は、前記２種類の条件下で記録ストラテジのパルス幅を一律に変化させたときに、各パルス幅と、各パルス幅における各々の（前記差分演算回路４４にて算出された）再生信号変調度差分との対応関係（変調度差分のパルス幅依存性）を測定する。

パルス幅依存性測定回路５５は、前記対応関係を（不図示の）記憶部（システムコントローラ内のメモリなど）の特定の記憶領域に書き込んでテーブル形式（パルス幅―変調度差分相関テーブル）で記憶しておくことが好ましい。そして、この（パルス幅―変調度差分相関テーブル）は、後段のベースパルス幅選択器４２ｂにて最適なパルス幅を種々演算ないしは判定処理に基づき選択される際に、参照され利用される。

以上のような構成からなる「パルス幅依存性測定器４２ａ」は、概略以下のように動作する。すなわち、２種類の条件下（第１の消去パワー、第２の消去パワー）にて（試し書きにより光ディスク７８上に）記録されたパターン列は、再生モードにおいて照射されるレーザー光により反射され、その戻り光は受光部１６で検出される。
そして、図５に示すように、ピークホールド回路５１にて受光部１６からの信号のピークレベルが検出され、ボトムホールド回路５２にて受光部１６からの信号のボトムレベルが検出される。

前記ピークホールド回路５１、ポトムホールド回路５２にて各々検出されたピークレベルとボトムレベルは、変調度演算回路５３にて、図１６に示すＩｔｏｐ、Ｉｂｏｔｔｏｍが算出され、さらに、前記（演算式Ａ）に基づいて、変調度（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）が算出される。

続いて、差分演算回路５４にて第１の消去パワーでの条件による再生信号の第１の再生信号変調度と、第２の消去パワーでの条件による再生信号の第２の再生信号変調度との差分（再生信号変調度差分）を計算する。

そして、ベースパルス幅変更器４２ｄにて記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルスのパルス幅を変更し記録を行う。パルス幅依存性測定回路５５は、パルス幅を変更し記録を行う度に、再生信号変調度差分を計算し、該再生信号変調度差分におけるパルス幅依存性に関する測定を行い、該パルス幅依存性に関する情報を蓄積処理する。

このパルス幅依存性測定回路５５にて測定されたパルス幅依存性に関する情報は、後段のベースパルス幅選択器４２ｂにてパルス幅を選択する際に利用される。これにより、最適パルス幅の選択を行うことができる。

ここで、本発明者等は、記録パワーを特定の値とし一の消去パワー条件で記録した時、一の記録マークを再生することで得られる一の再生信号変調度と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す一の消去パワー条件下の再生信号変調度―パルス幅依存性特性；さらには、記録パワーを特定の値とし他の消去パワー条件で記録した時、他の記録マークを再生することで得られる他の再生信号変調度と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す他の消去パワー条件下での再生信号変調度―パルス幅依存性特性；などはそれぞれ、特定のパルス幅範囲で特定の再生信号変調度にて概ね一定となることを見い出した（例えば図１２等）。

すなわち、各消去パワー条件に依存せず、概ね一定となる再生信号変調度が得られる特定のパルス幅範囲が存在することとなる。
具体的には、特定の一消去パワー条件下（例えば０ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、一特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同様に、他の消去パワー条件下（例えば３ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同じく、さらに他の消去パワー条件下（例えば６ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、さらに他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。

さらに、本発明者等は、各消去パワー条件での各再生信号変調度の差分と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す各消去パワー条件下での再生信号変調度差分―パルス幅依存性特性；にて、再生信号変調度差分が概ね零となる特定のパルス幅範囲が存在することを確認した（例えば図１３等）。

また、本発明者等は、記録ストラテジの記録調整の初期値のパルス幅（ベース記録ストラテジのパルス幅）を変化させ、記録パワー、消去パワー調整後のＰＲＳＮＲ値と前記パルス幅との関係を確認した。これによると、消去パワーに依存せず、概ね一定の再生信号変調度が得られるパルス幅をベース記録ストラテジとして調整を行うと、最終的に高いＰＲＳＮＲ値が得られることが判明した（例えば図１４等）。

この際、最適ベースパルス幅として図１３に示す特性において、再生信号変調度の差分が概ね一定（ほぼ０）になる範囲のうち、パルス幅が最小となる（再生信号変調度に関するパルス幅依存性が＜依存しない非依存部分に＞変わる特徴点となる）例えば０．３Ｔを「最適ベースパルス幅」とすると、図１４に示すように、ＰＲＳＮＲ値が最大となることが判明した。
図１３及び図１４をみると、再生信号変調度が概ね一定となる範囲（ほぼ０になる範囲）の中でも、パルス幅が０．６Ｔや０．５ＴではＰＲＳＮＲ値が低く、局所最適に陥る可能性があり、パルス幅が０．４ＴでもＰＲＳＮＲ値が２０程度となっているが、パルス幅が０．２５Ｔ、０、３Ｔ、０、３５Ｔでは、ＰＲＳＮＲ値はきわめて高く、特にパルス幅が０、３ＴではＰＲＳＮＲ値が最大となっている。このＰＲＳＮＲ値が最大となっているパルス幅は、図１３の特性では、再生信号変調度の差分が概ね一定（ほぼ０）になる範囲のうちパルス幅が最小となる（再生信号変調度に関するパルス幅依存性が＜依存しない非依存部分に＞変わる特徴点となる）箇所である。

この結果、テストパターンの記録マークの大きさに比例する変調度の値が一定で変化しないということは、特定のパルス幅範囲では、如何なる消去パワーを用いても、記録マークの大きさが一定（記録マークの大きさに影響を与えない）ことを意味する。
すなわち、記録マークの大きさに比例する変調度が、消去パワーに依存しないということは、前記最適べースパルス幅の範囲で記録マーク形成条件と消去条件とを独立に調整可能であり、局所最適に落ち込みにくいことを意味する。そのため、消去パワーに依存しない概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅範囲内にて、最適ベースパルス幅を初期設定すると、局所最適を防止できる最適条件が得られる。
このように、未知の記録媒体であっても局所最適に陥り再生不能となる事態（通常の記録ストラテジ調整すら困難となる事態）を回避でき、以降の記録ストラテジ調整を良好に行うことを可能とする。

[１．３．３]（本発明の特徴的構成ＩＩ：ベースパワー調整部）
次に、ベースパワー調整部４１の詳細について、図６を参照しつつ説明する。図６は、図３に示すシステムコントローラの内部の各部の詳細構成の一例を示すブロック図である。

ベースパワー調整部４１は、図６に示すように、記録パワーを段階的に変化させた場合に、各段階毎に受光部１６からの再生信号の変調度を測定取得し、各段階毎の記録パワーと変調度との相関関係（変調度に関する記録パワー依存性）を定義した相関テーブル（記録パワー依存性テーブル）を構築可能なパワー依存性測定器４１ａと、初期段階における記録パワーを、パワー依存性測定器４１ａにて測定された記録パワー依存性に基づいて算出される最適ベース記録パワーなどに変更制御するベースパワー調整用のパワー変更器４１ｂと、パワー依存性測定器４１ａにてパワー依存性を測定するために、ベース記録ストラテジの各パルス幅を等しく変更するパワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄと、これらの制御を司るベースパワー調整制御部４１ｃと、を含んで構成される。

ベースパワー調整制御部４１ｃは、図７に示すように、パワー依存性測定器４１ａにて測定された記録パワー依存性に基づいて最適ベース記録パワーを算出し、パワー変更器４１ｂに対して、ベース記録ストラテジ調整前であって、初期段階における記録パワーを最適ベース記録パワーに変更するように制御処理を行う記録パワー調整処理部４１ｃ―１と、前記パルス幅依存性の測定などとは異なるステップであって記録パワー依存性測定時における消去パワーの設定処理（例えば記録パワー調整の際に消去パワーを固定とする処理など）の調整を行う消去パワー調整処理部４１ｃ−２と、記録パワー依存性測定時に、記録ストラテジのトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを、再結晶化を防ぐ低めの値にて、全て同一パルス幅とするよう調整制御する記録パワー依存性測定用パルス幅調整処理部４１ｃ−３と、を含んで構成される。

上述のような構成を有するベースパワー調整部４１において、概略次のように動作する。すなわち、べ−スパワー調整制御部４１ｃは、図６に示すように、パワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄに対して制御指示を行い、これに基づき、パワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄは、記録ストラテジのトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを、再結晶化を防ぐ低めの値にて、全て同一パルス幅とする。さらに、べ−スパワー調整制御部４１ｃは、パワー変更器４１ｂに対して制御指示を行い、これに基づき、パワー変更器４１ｂは、消去パワーを零に設定する。その上で、ベースパワー調整制御部４１ｃは、パワー変更器４１ｂに対しては、記録パワーを変化させながら記録を行う制御をし、パワー依存性測定器４１ａに対しては、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性を測定するよう制御を行い、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅を決定する前処理段階にて、記録パワーを決定するための記録パワー依存性の測定制御を行う。
これにより、ベースパワー調整制御部４１ｃは、記録パワーを調整し、再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の例えば半分程度の再生信号変調度が得られる記録パワーに設定する。

より詳細には、先ず、図７に示すべースパワー調整制御部４１ｃの消去パワー調整処理部４１ｃ−２は、図６に示すパワー変更器４１ｂ内の消去パワー設定器に対して設定制御を行い、消去パワーを零に設定する処理を行う。

次に、図７に示すべースパワー調整制御部４１ｃの記録パワー依存性測定用パルス幅調整処理部４１ｃ−３は、図６に示すパワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄに対して、パワー依存性測定器４１ａにてパワー依存性を測定するために、ベース記録ストラテジの各パルス幅を等しく変更する制御処理を行う。具体的には、記録パワー依存性測定用パルス幅調整処理部４１ｃ−３は、記録ストラテジのトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを、再結晶化を防ぐ低めの値にて、全て同一パルス幅とするようパワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄに対して対して制御指示を行う。

その上で、図７に示すべースパワー調整制御部４１ｃの記録パワー調整処理部４１ｃ−１は、図６に示すパワー変更器４１ｂ内の記録パワー設定器に対しては、記録パワーを段階的に変化させながら記録を行う制御を行いつつ、図６に示すパワー依存性測定器４１ａに対しては、記録された記録マークの再生信号変調度に関する記憶パワー依存性の測定を行う制御を行う。
これにより、記録パワー調整処理部４１ｃ−１は、記録パワーを変化させながら記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性に関する測定を行う際のベース記録パワーの調整制御を行う。

記録パワー調整処理部４１ｃ−１によるベース記録ストラテジを決定する前処理としての記録パワーの設定調整処理は、ベース記録ストラテジの調整のために適度な再生信号の変調度が得られていれば良いため、再生信号の変調度の記録パワー依存性における飽和値の例えば半分程度の再生信号変調度が得られる記録パワーに設定することが好ましい。

ここで、再生信号の変調度の記録パワー依存性は、例えば、図１５に示すようになる。図１５は、記録ストラテジのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）Ｔと記録パワー（Ｗｒｉｔｅ Ｐｏｗｅｒ）［ｍＷ］との関係を示す特性図を示す。図１５では、前記記録ストラテジの記録パワーを、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値（変調度約１．１程度）の概ね半分程度の再生信号の変調度（約０．７程度）が得られる記録パワー（約９ｍW）に調整制御している。本例では、記録パワーを約９ｍWとしているが、これに限らず、記録パワーは、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の概ね半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワーでよい。
また、図１５では、ストラテジ＝０．２Ｔに設定してあるが、これに限るものではない。他のストラテジ、例えばストラテジ＝０．１Ｔ等に設定してもよい。このストラテジは、再結晶化を防止できる調整基準パルス幅であればよい。
これによって、ベース記録ストラテジ調整に必要な記録パワーの調整処理を行うことができる。

[１．３．４]（パワー調整部）
次に、パワー調整部４３の機能の詳細について、図８を参照しつつ説明する。図８は、図３に示すシステムコントローラ４０の内部のパワー調整部４３の詳細構成の一例を示すブロック図である。

パワー調整部４３は、図８に示すように、ベース記録ストラテジ調整後であって、ＰＲＳＮＲなどの信号品質評価情報に基づいて記録パワーを最適記録パワーに微調整するようにパワー微調整用の記録パワー変更器（不図示）などに対して制御処理を行う記録パワー微調整処理部４３aと、ベース記録ストラテジ調整後であって、ＰＲＳＮＲなどの信号品質評価情報に基づいて消去パワーを最適消去パワーに微調整するようにパワー微調整用の消去パワー変更器（不図示）などに対して制御処理を行う消去パワー微調整処理部４３ｂと、を含んで構成される。

記録パワー微調整処理部４３ａは、ベース記録ストラテジ調整にてパルス幅依存性に基づく最適ベースパルス幅が確定し設定されたパルス幅、トップパルス，ミドルパルス，ラストパルスのパルス幅において、記録パワー（Ｗｒｉｔｅ Ｐｏｗｅｒ）とＰＲＳＮＲ値との関係に基づいて、ＰＲＳＮＲ値が最も高くなる記録パワー（最適記録パワー）を決定し、記録パワーを微調整するよう制御する。

消去パワー微調整処理部４３ｂは、ベース記録ストラテジ調整にてパルス幅依存性に基づく最適ベースパルス幅が確定し設定されたパルス幅、トップパルス，ミドルパルス，ラストパルスのパルス幅において、記録パワー微調整処理部４３ａの微調整処理に引き続いて、消去パワー（Ｅｒａｓｅ Ｐｏｗｅｒ）とＰＲＳＮＲ値との関係に基づいて、ＰＲＳＮＲ値が最も高くなる消去パワー（最適消去パワー）を決定し、消去パワーを微調整するように制御する。

上述のような構成を有するパワー調整部４３において、ベース記録ストラテジのパルス幅の調整後には、記録パワー微調整処理部４３ａ、消去パワー微調整処理部４３ｂにより、記録パワー、消去パワーを各々微調整し、最適記録パワー、最適消去パワーの決定を行うこととなる。

[１．３．５]（記録ストラテジ調整部）
次に、記録ストラテジ調整部４４の機能の詳細について、図９を参照しつつ説明する。本実施の形態においては、記録ストラテジ調整部４４は、種々の機能を有するため、以下この点について詳述する。図９は、システムコントローラ４０の内部の記録ストラテジ調整部４４の詳細構成の一例を示すブロック図である。

記録ストラテジ調整部４４は、図９に示すように、トップパルスのパルス幅及びクーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて所定の範囲内で、段階的に変化させて記録し、記録マークのＰＲＳＮＲからトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅を同時に決定する処理の制御を行うトップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａと、トップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａにて調整された後、記録ストラテジに関し性能が確保されているか否かを判定する第１の性能確保判定部４４ｊと、トップパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なトップパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂと、ミドルパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なミドルパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃと、ラストパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄと、クーリングパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅと、を含んで構成される。

また、記録ストラテジ調整部４４は、図９に示すように、第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂ・第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃ・第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄ・第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅにて調整にて調整された後、記録ストラテジに関し性能が確保されているか否かをさらに判定する第２の性能確保判定部４４ｋと、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されていないものと判定された場合に、記録パターン毎に、トップパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なトップパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆと、記録パターン毎に、ミドルパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なミドルパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第２のミドルパルス独立調整処理部４４ｇと、記録パターン毎に、ラストパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈと、記録パターン毎に、クーリングパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なクーリングパルスのパルス幅に決定する処理の制御を行う第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉと、これら各部の各処理の実行順序を制御するモジュール制御部としての機能を有するとともにその他調整処理に必要な各種処理を行うその他の調整処理部４４ｍと、を含んで構成される。

その他の調整処理部４４ｍは、例えば、第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されているものと判定された場合に、処理を終了し、第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されていないものと判定された場合には、第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂ、第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃ、第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄ、第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅに対して独立調整処理を行うように制御する第１のパルス独立調整制御処理機能部と、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されているものと判定された場合には、処理を終了し、性能が確保されていないものと判定された場合には、第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆ、第２のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｇ、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈ、第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉに対して独立調整処理を行うように制御する第２のパルス独立調整制御処理機能部と、これらの各処理の実行順序を制御するモジュール制御部としての機能と、含んで構成される。

トップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａは、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて特定範囲内で段階的に変化させるように制御し、前記パターン列を構成する記録マークの信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値に基づいて、前記トップパルスのパルス幅と前記クーリングパルスのパルス幅とを同時に調整する制御を行う。

記録マークの始端部に関連するトップパルスと、記録マークの終端部に関連するクーリングパルスと相互に関連をもたせて調整する。記録マークの長さに関係する記録パルス幅パラメータ（トップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅）を、他の記録パルス幅パラメータ（ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅）より先に調整し、決定することによって、記録マークの長さが変化することを防止できる。
すなわち、トップパルスのパルス幅が長すぎたり、短すぎたりした場合には、記録マークの始端部の開始位置がずれることになり、クーリングパルスのパルス幅が長すぎたり、短すぎたりした場合には、記録マークの終端部の後エッジ位置がずれることになり、始端部における誤差と終端部における誤差との各々の誤差を含む累積誤差によって、記録マークの長さが変化する。
これに対して、トップパルス・クーリングパルス同時調整処理ステップでは、相互に一定の関係を持たせているため、累積誤差による影響を回避でき、精度良く記録マークの形成ができる。

第１の性能確保判定部４４ｊは、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅とを同時に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う。

第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂは、前記第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う。

第１のミドルパルス独立調整処理部４４ｃは、前記第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するミドルパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う。

第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄは、前記第１の性能確保判定部段４４ｊにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するラストパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う。

第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅは、前記第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するクーリングパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う。

第２の性能確保判定部４４ｋは、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立に信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う。

第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆは、前記第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整する制御を行う。

第２のミドルパルス独立調整処理部４４ｇは、前記第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するミドルパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整する制御を行う。

第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈは、前記第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するラストパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整する制御を行う。

第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉは、前記第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するクーリングパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整する制御を行う。

上記の「記録パターン毎」とは、例えばＥＴＭ変調では、ＲＬＬ（１、１０）＜ＲＬＬ：Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ ｅｎｃｏｄｉｎｇ、（ｄ、ｋ）拘束、ｄ：最小、ｋ：最大＞で記録マークの種類が２Ｔ〜１１Ｔの１０種類に、シンクコード中にあらわれる１４Ｔを加えた１１種類の記録マークのパターンを有し、これらのパターン毎にそれぞれ異なる調整を独立して行うことをいう。

上述のような構成を有する記録ストラテジ調整部４４において、概略次のように動作する。すなわち、図９に示すように、記録ストラテジ調整部４４のトップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａは、トップパルスのパルス幅及びクーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて所定の範囲内で、段階的に変化させて記録し、記録マークのＰＲＳＮＲからトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅を同時に決定する。

さらに、記録ストラテジ調整部４４のその他の調整処理部４４ｍは、第１の性能確保判定部４４ｊがトップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａでの調整後、記録ストラテジに関し性能が確保されていないと判定した場合に、第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂ、第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃ、第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄ、第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅに対して独立調整処理を行うように制御する。

さらに、記録ストラテジ調整部４４のその他の調整処理部４４ｍは、第２の性能確保判定部４４ｋが前記第１の独立調整処理後に記録ストラテジに関し性能が確保されていないものと判定された場合には、記録パターン毎に、第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆ、第２のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｇ、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈ、第２のクーリングパルス独立調整処理部４４iに対して独立調整処理を行うように制御する。

このようにして、前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａによる調整を行った後に、第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されていないと判定された場合には、トップパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立して調整を行うことができる。前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａでは、累積誤差を回避して記録ストラテジの全長と記録マークの全長と長さとしては同じにできるが、開始位置のずれなどによって、記録マークの始端部又は終端部における誤差が依然として残る場合が想定される。そこで、第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂにより独立してその開始位置のずれなどを調整することができる。

さらには、トップパルスだけではなく、第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃ、第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄ、第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅにより他のパルスも同様に独立して調整可能である。

また、各パルスを独立に調整した後であっても、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マーク毎に各々異なる長さの記録マークが連続する場合などには、隣り合う一方の記録マークでの調整は良好だとしても、スペース間の誤差などによって、隣り合う他方の記録マークではづれが生じる可能性が想定される。さらに、記録マーク、スペースが複数交互に連続して形成される状況にあっては、最初の記録マークは良好だとしても、後続の記録マークでは、後になる記録マークほど各スペース間の誤差（又は各記録マークの誤差）などの累積誤差が大きくなる可能性が想定され得る。
これに対して、第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆでは、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するトップパルス、他の記録マークに対応するトップパルス、さらに他の記録マークに対応するトップパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのトップパルスを、他の記録マークの例えばトップパルスなどとは独立して調整することができる。このため、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マークが連続するケースでも好適に調整できる。

さらには、トップパルスだけではなく、第２のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｇ、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈ、第２のクーリングパルス独立調整処理部４４iにより他のパルスも同様に独立して調整可能である。
すなわち、第２のミドルパルス独立調整処理部４４ｇでは、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するミドルパルス、他の記録マークに対応するミドルパルス、さらに他の記録マークに対応するミドルパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのミドルパルスを、他の記録マークの例えばミドルパルスなどとは独立して調整することができる。

また、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈでは、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するラストパルス、他の記録マークに対応するラストパルス、さらに他の記録マークに対応するラストパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのラストパルスを、他の記録マークの例えばラストパルスなどとは独立して調整することができる。

第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉでは、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するクーリングパルス、他の記録マークに対応するクーリングパルス、さらに他の記録マークに対応するクーリングパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのクーリングパルスを、他の記録マークの例えばクーリングパルスなどとは独立して調整することができる。
このため、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マークが連続するケースでも好適に調整できる。

ここで、図３及び図４に示すブロック図における一部の各ブロック（例えば符号４１、４２、４２ａ、４２ｂ、４２ｃ、４２ｄ、４２ｅ、４３、４４、４５、４７、４８等）、図６に示すブロック図における一部の各ブロック（例えば符号４１ａ、４１ｂ、４１ｃ、４１ｄ等）、図７に示すブロック（例えば符号４１ｃ−１、４１ｃ−２、４１ｃ−３など）、図８に示すブロック（例えば符号４３ａ、４３ｂなど）、図９に示すブロック（例えば符号４４ａ、４４ｂ、４４ｃ、４４ｄ、４４ｅ、４４ｆ、４４ｇ、４４ｈ、４４ｉ、４４ｊ、４４ｋ、４４ｍなど）、図２に示すブロック図における一部のブロック（例えば符号５３、５４、５５など）は、コンピュータが適宜なメモリに格納された各種プログラムを実行することにより、該プログラムにより機能化された状態を示すソフトウエアモジュール構成であってもよい。すなわち、物理的構成を例えば一又は複数のＣＰＵ（或いは一又は複数のＣＰＵと一又は複数のメモリ）等とした場合に、各部（回路・手段）によるソフトウエア構成は、プログラムの制御によってＣＰＵが発揮する複数の機能を、それぞれ複数の部（手段）による構成要素として表現したものであるということもできる。ＣＰＵがプログラムによって実行されている動的状態（プログラムを構成する各手順を実行している状態）を機能表現した場合、ＣＰＵ内に各部（手段）が構成されることになる。プログラムが実行されていない静的状態にあっては、各手段の構成を実現するプログラム全体（或いは各手段の構成に含まれるプログラム各部）は、メモリなどの記憶領域に記憶されている。以上に示した各部（手段）の説明は、プログラムにより機能化されたコンピュータをプログラムの機能と共に説明したものと解釈することも出来るし、また、固有のハードウエアにより恒久的に機能化された複数の電子回路ブロックからなる装置を説明したものとも解釈することが出来ることは、当然である。したがって、これらの機能ブロックがハードウェアのみ、ソフトウェアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現でき、いずれかに限定されるものではない。

ここで、本実施の形態に記載の構成要件は、次の述べる各手段の一例ということもできる。前記パルス幅依存性測定器４２ａは、「パルス幅依存性測定制御手段」ということもできる。また、前記ベースパルス幅選択器４２ｂは、「ベースパルス幅選択制御手段」とこともできる。さらに、前記消去パワー切り替え器４２ｃは、「消去パワー条件切替制御手段」ということもできる。さらにまた、前記ベースパルス幅変更器４２ｄは、「ベースパルス幅変更制御手段」ということもできる。またさらに、前記ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、「ベースパルス幅調整制御手段」ということもできる。

また、前記ベース記録ストラテジ調整部４１は、「ベース記録ストラテジ調整手段」ということもできる。さらに、前記パワー調整部４３は、「パワー調整手段」ということもできる。またさらに、前記記録ストラテジ調整部４４は、「記録ストラテジ調整手段」ということもできる。さらにまた、前記ベースパワー調整部４１は、「ベースパワー調整手段」ということもできる。

さらに、前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ｅは、「トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段」ということもできる。また、前記第１の性能確保判定部４５ａは、「第１の性能確保判定処理手段」ということもできる。またさらに、前記第２の性能確保判定部４５ａは、「第２の性能確保判定処理手段」ということもできる。

さらにまた、前記第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂは、「第１のトップパルス独立調整処理手段」ということもできる。また、前記第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂは、「第１のトップパルス独立調整処理手段」ということもできる。さらに、第１のミドルパルス独立調整処理部４４ｃは、「第１のミドルパルス独立調整処理手段」ということもできる。またさらに、前記第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄは、「第１のラストパルス独立調整処理手段」ということもできる。また、前記第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅは、「第１のクーリングパルス独立調整処理手段」ということもできる。

加えて、前記第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆは、「第２のトップパルス独立調整処理手段」ということもできる。また、前記第２のミドルパルス独立調整処理部４４ｇは、「第２のミドルパルス独立調整処理手段」ということもできる。さらに、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈは、「第２のラストパルス独立調整処理手段」ということもできる。またさらに、第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉは、「第２のクーリングパルス独立調整処理手段」ということもできる。

また、前記第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂと、前記第１のミドルパルス独立調整処理部４４ｃと、前記第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄと、前記第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅと、前記その他の調整処理部４４ｍの前記第１のパルス独立調整制御処理機能部とにより、「第１の独立調整処理手段」ということもできる。さらに、前記第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆと、前記第２のミドルパルス独立調整処理部４４ｇと、前記第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈと、前記第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉと、前記その他の調整処理部４４ｍの前記第２のパルス独立調整制御処理機能部とにより、「第２の独立調整処理手段」ということもできる。

ここで、「ベース記録ストラテジ調整手段」は、他の調整に先立って、記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する。「パワー調整手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整する。「記録ストラテジ調整手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記パワー調整手段による調整後に、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する。そして、「ベース記録ストラテジ調整手段」は、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定する。

一方、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を光照射によって記録を行う記録装置では、「消去パワー条件切替制御手段」は、前記記録マークを消去する消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の各消去パワー条件を切替制御することができる。また、「ベースパルス幅変更制御手段」は、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルスと逆極性のパルスをクーリングパルスとした時、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅を変化させることができる。

さらに、「パルス幅依存性測定制御手段」は、前記２種類の各消去パワー条件下にて記録された各パターン列を各々再生し、再生された各記録マークの各々の再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性を測定することができる。またさらに、「ベースパルス幅選択制御手段」は、前記パルス幅依存性測定制御手段にて測定されたパルス幅依存性に基づいて、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの好ましいパルス幅を選択することができる。

他方、「ベース記録ストラテジ調整手段」は、「消去パワー条件切替制御手段」、「ベースパルス幅変更制御手段」、「パルス幅依存性測定制御手段」、「ベースパルス幅選択制御手段」、「ベースパルス幅調整制御手段」を含む（例えば図４）構成とすることもできる。その場合、「消去パワー条件切替制御手段」は、互いに異なる少なくとも２つの各消去パワー条件を切替制御する。「パルス幅変更制御手段」は、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を変更する制御を行う。「パルス幅依存性測定制御手段」は、各前記消去パワー条件毎に記録された各テストパターンを各々再生させて、各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定する制御を行う。「ベースパルス幅選択制御手段」は、前記パルス幅依存性測定制御手段での前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択制御する。

そして、「ベースパルス幅調整制御手段」は、前記各手段を制御し、前記消去パワー条件切替制御手段及び前記ベースパルス幅変更制御手段に、特定ベースパルス幅にて各前記消去パワー条件毎にテストパターンを各々記録させ、前記パルス幅依存性測定制御手段に、該各々のテストパターンからの再生信号変調度を各々測定させ、各前記再生信号変調度の差分を算出させ、前記ベースパルス幅変更制御手段及び前記パルス幅依存性測定制御手段に、前記各パルスのパルス幅を変化させつつ、記録、測定を繰り返し、前記再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を算出させ、前記ベースパルス幅選択制御手段に、前記パルス幅依存性に基づいて前記記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択させる。

ここで、「パルス幅依存性測定制御手段」において、一方の前記消去パワー条件は、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワーを含むことが好ましい。また、他方の前記消去パワー条件は、概ね記録済みマークが消去される消去パワーを含むことが好ましい。その際に、「パルス幅依存性測定制御手段」は、前記消去パワー条件切替制御手段の切替制御による消去パワー条件と、前記ベースパルス幅変更制御手段のパルス幅条件とに基づいて、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される一方の再生信号変調度と、概ね記録済みマークが消去される消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される他方の再生信号変調度と、の差分である再生信号変調度差分を、各パルス幅の変化に応じて測定することにより前記再生信号変調度差分のパルス幅依存性を測定制御することとなる。

また、「ベースパルス幅選択制御手段」は、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。さらに、「ベースパルス幅選択制御手段」は、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。またさらに、「ベースパルス幅変更制御手段」は、前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの全てのパルスのパルス幅を等しくし、前記トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させることが好ましい。

「ベースパワー調整手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整手段による前記ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、前記レーザ光のパワーを調整する。また、「ベースパワー調整手段」は、「記録パワー依存性測定制御手段」、「ベースパワー調整制御手段」を含む。「記録パワー依存性測定制御手段」は、前記ベース記録ストラテジの記録パワーを変化させて記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性を測定制御する。「ベースパワー調整制御手段」は、前記記録パワー依存性測定制御手段での記録パワー依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジに関するパワーを調整する。

ここにおいて、「記録パワー依存性測定制御手段」は、調整前の前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを全て同一のパルス幅で、かつ、消去パワーを零とする条件下で、記録パワーを変化させて再生信号変調度の記録パワー依存性を測定する。また、「ベースパワー調整制御手段」は、前記消去パワーを零に設定し、前記記録パワー依存性に基づいて前記ベース記録ストラテジの記録パワーを調整制御することが好ましい。さらに、「ベースパワー調整制御手段」は、前記記録ストラテジの記録パワーを、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の概ね半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワーに調整制御することが好ましい。

また、「パワー調整手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録パワーを信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に微調整処理を行うことが好ましい。「パワー調整手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記消去パワーを信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に微調整処理を行うことが好ましい。

加えて、「記録ストラテジ調整手段」は、「トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段」を含む構成とすることができる。この「トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて特定範囲内で段階的に変化させるように制御し、前記パターン列を構成する記録マークのＰＲＳＮＲ値に基づいて、前記トップパルスのパルス幅と前記クーリングパルスのパルス幅とを同時に調整する制御を行うことができる。

また、「記録ストラテジ調整手段」は、「第１の性能確保判定処理手段」と、「第１の独立調整処理手段」とを含む構成とすることができる。この「第１の性能確保判定処理手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅とを同時に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行うことができる。さらに、「第１の独立調整処理手段」は、前記第１の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を各々独立に、ＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行うことができる。また、「第１の独立調整処理手段」は、第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されているものと判定された場合に、処理を終了し、第１の性能確保判定部４４ｊにて性能が確保されていないものと判定された場合には、第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂ、第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃ、第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄ、第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅに対して独立調整処理を行うように制御する第１のパルス独立調整制御処理機能部を包含している。

また、「記録ストラテジ調整手段」は、「第２の性能確保判定処理手段」と、「第２の独立調整処理手段」とを含む構成とすることができる。この「第２の性能確保判定処理手段」は、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立にＰＲＳＮＲ値を指標に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行うことができる。また、「第２の独立調整処理手段」は、前記第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、ＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整する制御を行うことができる。さらに、「第２の独立調整処理手段」は、第２の性能確保判定部４４ｋにて性能が確保されているものと判定された場合には、処理を終了し、性能が確保されていないものと判定された場合には、第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆ、第２のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｇ、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈ、第２のクーリングパルス独立調整処理部４４ｉに対して独立調整処理を行うように制御する第２のパルス独立調整制御処理機能部を包含している。

ここで、各パルスを独立に調整した後であっても、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マーク毎に各々異なる長さの記録マークが連続する場合などには、隣り合う一方の記録マークでの調整は良好だとしても、スペース間の誤差などによって、隣り合う他方の記録マークではづれが生じる可能性が想定される。さらに、記録マーク、スペースが複数交互に連続して形成される状況にあっては、最初の記録マークは良好だとしても、後続の記録マークでは、後になる記録マークほど各スペース間の誤差（又は各記録マークの誤差）などの累積誤差が大きくなる可能性が想定され得る。

これに対して、第２のトップパルス独立調整処理手段では、第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するトップパルス、他の記録マークに対応するトップパルス、さらに他の記録マークに対応するトップパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのトップパルスを、他の記録マークの例えばトップパルスなどとは独立して調整することができる。このため、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マークが連続するケースでも好適に調整できる。さらには、トップパルスだけではなく、他のパルスも同様に独立して調整可能である。

[１．３．６]（システムコントローラ内の各部の動作）
上述のような構成を有する情報記録再生装置１において、概略以下のように動作する。すなわち、システムコントローラ４０の主制御部４８は、図３に示すべースパワー調整部４１、ベース記録ステラテジ調整部４２、パワー調整部４３、記録ステラテジ調整部４４の順に実行する制御を行う。

具体的には、ベースパワー調整部４１が実行されると、図７に示すべースパワー調整制御部４１ｃの消去パワー調整処理部４１ｃ−２は、図６に示すパワー変更器４１ｂ内の消去パワー設定器に対して設定制御を行い、消去パワーを零に設定する処理を行う。

次に、図７に示すべースパワー調整制御部４１ｃの記録パワー依存性測定用パルス幅調整処理部４１ｃ−３は、図６に示すパワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄに対して、パワー依存性測定器４１ａにてパワー依存性を測定するために、ベース記録ストラテジの各パルス幅を等しく変更する制御処理を行う。具体的には、記録パワー依存性測定用パルス幅調整処理部４１ｃ−３は、記録ストラテジのトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを、再結晶化を防ぐ低めの値にて、全て同一パルス幅とするようパワー依存性測定用パルス幅変更器４１ｄに対して対して制御指示を行う。

その上で、図７に示すべースパワー調整制御部４１ｃの記録パワー調整処理部４１ｃ−１は、図６に示すパワー変更器４１ｂ内の記録パワー設定器に対しては、記録パワーを段階的に変化させながら記録を行う制御を行いつつ、図６に示すパワー依存性測定器４１ａに対しては、記録された記録マークの再生信号変調度に関する記憶パワー依存性の測定を行う制御を行う。
これにより、記録パワー調整処理部４１ｃ−１は、記録パワーを変化させながら記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性に関する測定を行う際のベース記録パワーの調整制御を行う。

記録パワー調整処理部４１ｃ−１によるベース記録ストラテジを決定する前処理としての記録パワーの設定調整処理は、ベース記録ストラテジの調整のために適度な再生信号の変調度が得られていれば良いため、記録パワー調整処理部４１ｃ−１は、再生信号の変調度の記録パワー依存性における飽和値の例えば半分程度の再生信号変調度が得られる記録パワーに設定を行う。

次に、ベース記録ストラテジ調整部４２にて、ベース記録ストラテジの調整処理を行う。ベース記録ストラテジ調整部４２のベースパルス幅調整制御部４２ｅは、パルス幅依存性に基づいて最適パルス幅を決定する制御を行う（パルス幅依存性測定器よりパルス幅依存性を取得し、ベースパルス幅選択器に対して取得情報を供給してパルス幅を選択させ、選択されたパルス幅にてベースパルス幅変更器４２ｄにて変更するよう制御する）。

すなわち、ベース記録ストラテジ調整部４２において、消去パワー切り替え器４２ｃが、ＬＤ駆動系７４（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ）を制御して、設定された第１の消去パワーと、設定された第２の消去パワーとの消去パワーの切り替えを行う。ベースパルス幅変更器４８は、ＬＤ駆動系７４（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ）を制御し、記録ストラテジのパルス幅変更を行う。

記録された記録マークからの反射光（戻り光）は、受光部１６にて検出され、受光部１６にて光信号より電気信号に変換された再生信号は、パルス幅依存性測定器４２ａに入力される。パルス幅依存性測定器４２ａは、２つの条件下（例えば第１の消去パワーでの第１の再生信号変調度（例えば図１２の消去パワー０ｍＷの特性）と第２の消去パワーでの第２の再生信号変調度（例えば図１２の消去パワー６ｍＷの特性）との差である）再生信号の変調度差分におけるパルス幅依存性（例えば図１３）を測定する。
測定された再生信号の変調度差分におけるパルス幅依存性に基づいて、ベースパルス幅選択器は、記録ストラテジの最適ベースパルス幅を選択判定し、その記録ストラテジの最適ベースパルス幅の情報をベースパルス幅調整制御部４２ｅに送るようになっている。
ベースパルス幅調整制御部４２ｅは、この最適ベースパルス幅に基づいて、ベース記録ストラテジに関する情報を蓄積し、「パワ−調整部４３」、「記録ストラテジ調整部４４」が、この最適ベースパルス幅のベース記録ストラテジをもとに調整可能とするようにしておく。

そして、パワー調整部４３及び信号品質判定制御部４５が機能し、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅決定後は、最適ベースパルス幅のベース記録ストラテジをもとに、記録パワー、消去パワーの微調整を行う。
すなわち、図８に示すように、パワー調整部４３の記録パワー微調整処理部４３ａは、パルス幅依存性に基づく（パルス幅依存性）最適ベースパルス幅が確定し設定されたパルス幅において、記録パワーの微調整により、ＰＲＳＮＲ値が最も高くなる記録パワーを決定する。
同様に、パワー調整部４３の消去パワー微調整処理部４３ｂは、（パルス幅依存性）最適ベースパルス幅において、消去パワーの微調整により、ＰＲＳＮＲ値が最も高くなる消去パワーを決定する。

次いで、記録ストラテジ調整部４４が機能すると、図９に示すように、この最適ベースパルス幅のベース記録ストラテジをもとに、記録ストラテジ調整部４４のトップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａは、トップパルスのパルス幅及びクーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて所定の範囲内で、段階的に変化させて記録し、記録マークのＰＲＳＮＲからトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅を同時に決定する。

さらに、記録ストラテジ調整部４４のその他の調整処理部４４ｍは、第１の性能確保判定部４４ｊがトップパルス・クーリングパルス同時調整処理部４４ａでの調整後、記録ストラテジに関し性能が確保されていないと判定した場合に、第１のトップパルス独立調整処理部４４ｂ、第１のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｃ、第１のラストパルス独立調整処理部４４ｄ、第１のクーリングパルス独立調整処理部４４ｅに対して独立調整処理を行うように制御する。

さらに、記録ストラテジ調整部４４のその他の調整処理部４４ｍは、第２の性能確保判定部４４ｋが前記第１の独立調整処理後に記録ストラテジに関し性能が確保されていないものと判定された場合には、記録パターン毎に、第２のトップパルス独立調整処理部４４ｆ、第２のミドルパルス独立幅調整処理部４４ｇ、第２のラストパルス独立調整処理部４４ｈ、第２のクーリングパルス独立調整処理部４４iに対して独立調整処理を行うように制御する。

（処理手順について）
[２．１]（全体処理）
次に、上述のような構成を有する情報記録再生装置における各種の処理手順について、図１７乃至図１９を参照しつつ説明する。図１７は、本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の処理手順の全体処理の概要の一例を示すフローチャートである。図１８は、本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の処理手順のうち全体処理の詳細手順の一例を示すフローチャートである。図１９は、本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の処理手順のうち最適ベースパルス幅を決定する処理の一例を示すフローチャートである。

本実施の形態に係る信号記録条件を決定する方法は、相変化記録媒体上にパルストレイン型記録ストラテジにて記録パワー、消去パワー、バイアスパワーの少なくとも３値の間で強度変調したレーザー光を照射することによって、マークとスペースによるパターン列を記録する光学的記録方式における記録条件決定方法を対象とするものである。

本第１の実施の形態に係る信号記録条件を決定する記録条件決定方法は、全体的処理の構成として、ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、レーザ光のパワーを調整するベースパワー調整ステップ（例えば図１７に示すステップＳ１０Ａのベースパワー調整処理）と、他の調整に先立って、記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整ステップ（例えば図１７に示すステップＳ１０Ｂのベース記録ストラテジ調整処理）と、前記ベース記録ストラテジ調整ステップにて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整ステップ（例えば図１７に示すステップＳ１０Ｃのパワー調整処理）と、前記ベース記録ストラテジ調整ステップにて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記パワー調整ステップによる調整後に、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整ステップ（例えば図１７に示すステップＳ１０Ｄの記録ストラテジ調整処理）と、を含む構成である。

また、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて記録パワー、消去パワー、バイアスパワーの少なくとも３値の間で強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を記録する記録条件を決定する記録条件決定方法は、他の構成として、前記消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の消去パワー条件下で、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を一律に変化させつつ記録を行うベースパルス幅変更記録ステップ（例えば図１９に示すステップＳ２０５、Ｓ２０７、Ｓ２１１による構成など）と、前記２種類の各消去パワー条件下にて各々記録された各パターン列を各々再生し、前記各消去パワー条件下での各再生信号変調度の差に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定ステップ（例えば図１９に示すステップＳ２０６、Ｓ２０８、Ｓ２０９、Ｓ２１１による構成など）と、前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御ステップ（例えば図１９に示すステップＳ２１３など）と、含む構成である。

ベースパワー調整処理（ステップＳ１０Ａ）は、本第１の実施の形態の特徴のベース記録ストラテジのパルス幅の調整に先立って、ベースパワーの一例である記録パワーを調整し、前記記録パワーを変化させ、複数の記録パワー条件に対する再生信号変調度の記録パワー依存性を測定し、得られた前記再生信号変調度の記録パワー依存性をもとに記録パワーを調整する。すなわち、前記ベースパワー調整処理では、記録パワーと消去パワーの２つのパワーのうち、どちらか一方のパワーを固定し（例えば消去パワーを零とする）、もう一方のパワー（例えば記録パワー）を段階的に変化させてテストパターンを記録し、テストパターンの再生信号変調度に関する記録パワー依存性を測定し、その記録パワー依存性に基づいて例えば記録パワーを決定する。ここで、記録パワーを段階的に変化させる際には、その変化させる範囲と、変化させる間隔を適宜設定することで行う。前記複数のパルス幅条件に関しては、全てのパルス幅を同一値に設定（調整前の前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを全て同一のパルス幅に設定）した後、消去パワーを零とする条件下で、前記記録パワーを一律に変化させる。そして、記録パワーの決定には、例えば、前記記録ストラテジの記録パワーを、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の概ね半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワーに決定し、該決定記録パワーにて調整制御する。

ベース記録ストラテジ調整処理（ステップＳ１０Ｂ）は、前記ベースパワー調整処理に引き続いて、実行される。ベース記録ストラテジ調整処理（ステップＳ１０Ｂ）は、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定する。

具体的には、ベース記録ストラテジ調整処理では、特定のパルス幅条件でかつ各消去パワー条件のうち一方の消去パワー条件にてテストパターンを相変化記録媒体に記録し、相変化記録媒体から再生した前記テストパターンの一方の再生信号変調度を測定する。次に、前記特定のパルス幅条件でかつ他方の消去パワー条件にてテストパターンを相変化記録媒体に記録し、相変化記録媒体から再生した前記テストパターンの他方の再生信号変調度を測定する。そして、一方及び他方の双方の再生信号変調度の差分である再生信号変調度差分を算出する。ここで、前記パルス幅条件に関しては、全てのパルス幅を同一値に設定することが好ましい。

次に、ベース記録ストラテジ調整処理では、前記特定のパルス幅条件を変更する。この際、ベース記録ストラテジ調整処理では、記録ストラテジを構成するそれぞれのパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させ、複数のパルス幅を変化させる。そして、いま述べた手法と同様に、一方及び他方の再生信号変調度を各々測定し、再生信号変調度差分を算出する。このようにして、パルス幅を変化させながら各パルス幅に応じた再生信号変調度差分を各々算出することで、再生信号変調度に関するパルス幅依存性を求める。

ベース記録ストラテジ調整処理では、パルス幅依存性に基づいて、最適ベースパルス幅を決定する。この最適ベースパルス幅の決定では、前記再生信号変調度差分のパルス幅依存性から、複数のパルス幅の中から最適なパルス幅を選択する。ここで、前記決定においては、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。また、決定においては、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することがさらに好ましい。すなわち、再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性が変わる例えば特徴点のうち最小におけるパルス幅をベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅として選択するおいうこともできる。

パワー調整処理（ステップＳ１０Ｃ）は、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅の決定後において、そのパルス幅条件の下、記録パワーを変化させながらテストパターンを記録し、該テストパターンの再生信号品質から最適記録パワーを決定し、記録パワーの微調整処理を行う。加えて、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅の決定後において、そのパルス幅条件の下、消去パワーを変化させながらテストパターンを記録し、該テストパターンの再生信号品質から最適消去パワーを決定し、消去パワーの微調整処理を行う。前記再生信号品質を示すデータとして、前記パターン列を再生した再生信号に基づいて算出される信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を用いることが好ましい。

記録ストラテジ調整処理（ステップＳ１０Ｂ）は、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅の決定後であって、記録パワー、消去パワーが決定された後において、その記録パワー、消去パワー、パルス幅条件を基準に、各パルスのパルス幅を変化させながらテストパターンを記録し、該テストパターンの再生信号品質から最適パルス幅を決定し、記録ストラテジの調整処理を行う。前記再生信号品質を示すデータとして、前記パターン列を再生した再生信号に基づいて算出される信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を用いることが好ましい。ここで、具体的調整手法は、種々有するので詳細は後述する。

以上が全体的処理の概要であるが、以下に各ステップのさらに詳細な処理を説明する。

（前提条件）
ここで、本発明の実施の形態に係る情報記録再生装置は、図１７、図１８、図１９に示す処理手順に基づいて、記録パワー、消去パワー、記録ストラテジ（Ｓｔｒａｔｅｇｙ）をそれぞれ調整する。実施の形態において用いる記録ストラテジは、図１０に示すものと同じであるが、パルストレイン（パルス列）として、特に、図１１に示すような(ｋ−１)型のパルストレイン（パルス列）を適用することが好ましい。

記録ストラテジでは、図１１に示すように、記録データに対応する半導体レーザーへの駆動電流をパルス列で与える。更に、(ｋ−１)型のパルストレインによる記録ストラテジのパルス列は、図１１に示すように、記録マークのパターン列（ＮＲＺＩ：Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｓｉｏｎ）の例えば８Ｔに対応するパルス列では、最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルス、前記ラストパルスに続く逆極性のパルスをクーリングパルス、により構成されている。ここで、トップパルスのパルス幅をＴｔｏｐ、ミドルパルスのパルス幅をＴｍｐ、ラストパルスのパルス幅をＴｌｐ、クーリングパルスのパルス幅をＴｃｌとしている。記録データの各記録マーク長に対応する書込み光を、これらのパルスに従って生じさせる。

また、(ｋ−１)型のパルストレインによる記録ストラテジのパルス列において、記録マークのパターン列が３Ｔの長さに対応するパルス列では、トップパルス、ラストパルス、クーリングパルス、により構成されている。さらに、記録マークのパターン列が２Ｔの長さに対応するパルス列では、トップパルス、クーリングパルス、により構成されている。ここで、ＲＬＬ（１、１０）では、図示しないが、この他、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、７Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔなどの長さのパターン列が想定されるが、これらはいずれもトップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルス、により構成されている。

さらに、以下に示す具体的な条件にて信号記録条件を調整する。すなわち、本実施の形態は、光ヘッド部１０として、レーザダイオード（ＬＤ）波長が例えば４０５ｎｍ等、対物レンズのＮＡ（開口数）が例えば０．６５等のものを使用することが好ましい。また、ＲＦ回路部２０には、パーシャルレスポンス特性として、例えばＰＲ（１、２、２、２、１）等に適用可能なビタビ復号器を有することが好ましい。相変化型光学記録媒体の一例である光ディスク７８は、例えば何度でも記録が可能な書き換え型のＨＤ ＤＶＤ−ＲＷ等を用いることが好ましい。

前記ＨＤ−ＤＶＤ−RWは、記録を行うと反射率が低くなるタイプの媒体であって、Ｈｉｇｈ−ｔｏ―Ｌｏｗメディアと呼ばれる種類の相変化記録媒体である。

加えて、光ディスク７８の物理構造としては、例えばポリカーボネイトからなる、厚さが例えば０．６ｍｍ等、直径が例えば１２ｃｍ等である円板状の透明な基板に、プリグルーブと呼ばれる案内溝が形成されている。光ディスク７８の記録及び再生時には、情報記録再生装置、即ち、相変化型光学記録媒体ドライブの光ビームがこの案内溝に沿って走査できるようになっている。この基板上に記録用の膜を成膜する。また、光ディスク７８に記録を行う場合の物理フォーマットとしては、ビットピッチが例えば０．１５μｍ等、トラックピッチが例えば０．４０μｍ等のイングルーブ・フォーマットを使用することが好ましい。
光ディスク７８は、反射膜としては例えばＡｌＴｉなどを使用することができ、また、光は、前記０．６ｍｍ厚の基板を通過する方向から入射する。

ＨＤ−ＤＶＤ−ＲＷを、図１に示す本実施形態に係る情報記録再生装置に装填し、図１７に示す信号記録条件の調整を試みる。すなわち、先ず、ベースパワーの一例である記録パワーの調整を行い、ベース記録ストラテジの調整を行い、パワー調整（記録パワー調整、消去パワー調整）を行い、次いで記録ストラテジの調整を行う。ここで、実施形態では、パルス幅の変更は、記録ストラテジを構成するトップパルス（Ｔｔｏｐ）及びミドルパルス（Ｔｍｐ）並びにラストパルス（Ｔｌｐ）のパルス幅を変更するにあたっては、それらのパルスの後縁を変更することで実施したが、それぞれのパルスの前縁を変更することによって実施しても良いものである。

[２．２．１]（ベースパワー調整ステップ）
先ず、本実施の形態の特徴的処理である「ベース記録ストラテジ調整」を行う前のベースパワー調整ステップについて説明する。
図１７及び図１８に示すように、ステップＳ１０Ａのベースパワー調整処理（ベースパワー調整ステップ）では、具体的には、システムコントローラ４０は、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅を決定する前処理として、記録パワーの調整を行う（ステップＳ１０１）＜記録パワー調整処理ステップないしは記録パワー調整処理機能＞。

図１１に示すパルストレイン（パルス列）は、相変化記録媒体に書き込む最終的なパルストレインであるから、トップパルス（Ｔｔｏｐ）のパルス幅が、他のミドルパルス（Ｔｍｐ）及びラストパルス（Ｔｌｐ）のパルス幅より広く設定されているが、記録パワーを調整する過程では、トップパルス（Ｔｔｏｐ）のパルス幅と、他のミドルパルス（Ｔｍｐ）及びラストパルス（Ｔｌｐ）のパルス幅とを同一値に設定して記録パワーの調整を行う。
本例では、使用するベース記録ストラテジとしては、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを全て同一パルス幅とし、そのベースパルス幅を例えば０．２Ｔ等とする。このパルス幅は、０．２Ｔに限らないが、再結晶化を防ぐ意味で低めの値が望ましい。

その後、システムコントローラ４０は、消去パワーを０ｍWと設定する。この状態で、記録パワーを変化させながら（例えば図２０に示すパルス幅として）テストパターンの記録を行い、記録されたテストパターンの記録マークの再生信号変調度を、各記録パワー毎に測定し、再生信号変調度に関する記録パワー依存性を測定する。

ここで、再生信号の変調度の記録パワー依存性は、例えば、図１５に示すようになる。図１５は、記録ストラテジのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）Ｔと記録パワー（Ｗｒｉｔｅ Ｐｏｗｅｒ）［ｍＷ］との関係を示す特性図を示す。図１５では、前記記録ストラテジの記録パワーを、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値（変調度約１．１程度）の概ね半分程度の再生信号の変調度（約０．７程度）が得られる記録パワー（約９ｍW）に調整制御する。本例では、記録パワーを約９ｍWとしているが、これに限らず、記録パワーは、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の概ね半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワーでよい。

この記録パワー調整段階では、記録パワー調整後に行う記録ストラテジ調整のために適度な再生信号の変調度が得られていれば良いので、システムコントローラ４０は、再生信号の変調度の記録パワー依存性における飽和値の半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワー（９ｍW）に設定する。

また、図１５では、ストラテジ＝０．２Ｔに設定してあるが、これに限るものではない。他のストラテジ、例えばストラテジ＝０．１Ｔ等に設定してもよい。このストラテジは、再結晶化を防止できる調整基準パルス幅であればよい。

以上の過程を経て、ベースパワー調整部によるベースパワー調整の処理が終了する。

システムコントローラ４０のベース記録ストラテジ調整部は、ベースパワー調整部による記録パワーの調整に引き続いて、ベース記録ストラテジを構成するそれぞれのパルス（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）の後縁を一律に変化させつつ、各消去パワー条件下にてテストパターンを相変化記録媒体に各々記録し、相変化記録媒体から再生した各々の前記テストパターン（再生信号）からの各々の再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性に基づいて最適ベースパルス幅を決定し、ベース記録ストラテジを調整する。

[２．２．２]（ベース記録ストラテジ調整ステップ）
次に、本実施の形態の特徴的処理であるベース記録ストラテジ調整ステップについて、図１８及び図１９を参照しつつ説明する。図１９は、本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置において、ベ−ス記録ストラテジ調整にて行われる処理手順の一例を示すフローチャートである。

図１８に示すステップＳ１０２のベース記録ステラテジを調整する処理＜ベース記録ストラテジ調整処理ステップないしはベース記録ストラテジ調整処理機能＞は、より詳細には、図１９に示すような処理となる。

ここで、本実施の形態では、記録ストラテジのパルス幅の変更は、どのパルスにおいても例えばパルス後縁を変更して実施する。また、本実施の形態では、ストラテジ調整を行う過程においては、初期パルス幅を例えば０．２T等、パルス幅変更間隔を例えば０．１T等、繰り返し回数を例えば８等とする。さらに、本実施の形態の記録ストラテジ調整前に設定された記録パワーを例えば９ｍW等とする。さらに、２つの異なる消去パワーは、例えば０ｍＷ等と、例えば６ｍW等に各々設定する。そして、図１９に示す調整方法に従って、再生信号の変調度差分における、記録ストラテジのパルス幅依存性（図１３参照）を測定する。その記録ストラテジのパルス幅依存性の変わる特徴点のうちより細いパルス幅、例えば（０．３T）等を最適記録ストラテジのパルス幅（パワー調整用ベース記録ストラテジ最適パルス幅）として選択する。

（パルス幅変更範囲決定ステップ）
まず、本実施の形態のベース記録ストラテジ調整に用いるパルス幅変更範囲を決定するため、システムコントローラ４０は、初期パルス幅ａ [Ｔ]、パルス幅変更間隔ｂ [Ｔ]、繰り返し回数ｍ [回]を設定する（ステップＳ２０１）＜パルス幅変更範囲設定ステップないしはパルス幅変更範囲設定機能＞。これにより、パルス幅変更範囲は、ａ [Ｔ]からａ＋ｂ×ｍ[Ｔ]までとなる。

初期パルス幅ａ［Ｔ］は、ベース記録ストラテジを構成するトップパルス（Ｔｔｏｐ）、ミドルパルス（Ｔｍｐ）、ラストパルス（Ｔｌｐ）、クーリングパルス（Ｔｃｌ）のパルス幅を変更する基準となる初期のパルス幅である。パルス幅変更間隔ｂ［Ｔ］は、繰り返し回数ｍの範囲において、記録ストラテジを構成するトップパルス（Ｔｔｏｐ）、ミドルパルス（Ｔｍｐ）、ラストパルス（Ｔｌｐ）、クーリングパルス（Ｔｃｌ）のパルス幅を前記初期のパルス幅に対して変更する割合を示すものである。ここで、前記パルス幅変更間隔ｂ及び前記繰り返し回数ｍは、想定される記録ストラテジのパルス幅の変化範囲を網羅するように設定する。

次に、システムコントローラ４０は、例えば、消去パワーを与えない状態での消去パワー等である第１の消去パワーｘ [ｍＷ]と、例えば、概ね記録済みマークが消去される消去パワー等である第２の消去パワーｙ [ｍＷ]とによる２つの異なる消去パワーの２条件を設定する（ステップＳ２０２）＜消去パワー２条件設定ステップないしは消去パワー２条件設定機能＞。

以上のように設定した状態で、ベース記録ストラテジを変化させ、パルス幅依存性測定器４１は、前記ベース記録ストラテジの複数のパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ、Ｔｃｌ）の条件に対する再生信号変調度の差分のパルス幅依存性を測定し、得られた前記再生信号変調度の差分のパルス幅依存性に基づいてベース記録ストラテジを調整する。

（記録・測定ステップ）
システムコントローラ４０は、設定が完了した後、実際記録を行い、ベース記録ストラテジ調整を行う。先ず、繰り返し回数を０回目に設定し（ステップＳ２０３）＜繰り返し回数設定ステップないしは繰り返し回数設定機能＞、システムコントローラ４０は、記録ストラテジのパルス幅をａ＋ｂ×ｉ（ｉ＝０）＝ａ[Ｔ]に設定する（ステップＳ２０４）。＜初期パルス幅設定ステップないしは初期パルス幅設定機能＞

そして、システムコントローラ４０は、ベース記録ストラテジのパルス幅をａ[Ｔ]、消去パワーをｘ [ｍＷ]にてテストパターンを記録する（ステップＳ２０５）＜第１消去パワーテストパターン記録ステップないしは第１消去パワーテストパターン記録機能＞。
すなわち、システムコントローラ４０は、「記録モード」とし、前記設定した消去パワーｘ（第１の消去パワー：一方の消去パワー条件）及びベース記録ストラテジのパルス幅（ａ）のデータ（例えば消去パワーｘ＝０であれば図２２に示すパルス列）を変調器、及びＬＤ駆動系にそれぞれ出力し、光ヘッド部１０により光ディスクにテストデータ（テストパターン）の書込を行う。これにより、光ディスクにテストパターンの記録マークが形成される。

その後、システムコントローラ４０は、「再生モード」とし、前記ステップＳ２０５にて光ディスクに書き込んだテストデータの記録マークを再生する。システムコントローラ４０により、再生された再生信号の変調度である再生信号変調度αを測定する（ステップＳ２０６）＜第１再生信号変調度測定ステップないしは第１再生信号変調度測定機能＞。
測定結果である再生信号変調度αに関するデータは、消去パワーｘ、パルス幅ａなどと対応づけられて、メモリなどの特定の記憶領域に書き込まれる。

次に、システムコントローラ４０は、ベース記録ストラテジのパルス幅を（ａ＋ｂ×ｉにてｉ＝０として）ａ[Ｔ]のままとし、消去パワーをｙ [ｍW]に変えてテストパターンを記録する（ステップＳ２０７）＜第２消去パワーテストパターン記録ステップないしは第２消去パワーテストパターン記録機能＞。
すなわち、システムコントローラ４０は、「記録モード」とし、前記設定した消去パワーｙ（第２の消去パワー）及びベース記録ストラテジのパルス幅（ａ）のデータ（例えば消去パワーｙ＝６であれば図２１に示すパルス列）を変調器、及びＬＤ駆動系にそれぞれ出力し、光ヘッド部１０により光ディスクの前記Ｓ２０５のテストデータとは異なる領域にテストデータ（テストパターン）の書込を行う。これにより、光ディスクにテストパターンの記録マークが形成される。

その後、システムコントローラ４０は、「再生モード」とし、前記ステップＳ２０７にて光ディスクに書き込んだテストデータの記録マークを再生する。システムコントローラ４０により、再生された再生信号の変調度である再生信号変調度βを測定する（ステップＳ２０８）＜第２再生信号変調度測定ステップないしは第２再生信号変調度測定機能＞。
測定結果である再生信号変調度βに関するデータは、消去パワーｙ、パルス幅ａなどと対応づけられて、メモリなどの特定の記憶領域に書き込まれる。

そして、測定された消去パワーをｘ [ｍＷ]にて記録された記録マークの再生信号変調度αと、消去パワーをｙ[ｍW]にて記録された記録マークの再生信号変調度βとの差分である再生信号変調度の差分γ＝α−βの演算処理を行う（ステップＳ２０９）＜再生信号変調度差分演算ステップないしは再生信号変調度差分演算機能＞。

続いて、繰り返し回数ｉ＝ｍか否かを判定する処理を行う（ステップＳ２１１）＜繰り返し回数判定処理ステップないしは繰り返し回数判定処理機能＞。
そして、このステップＳ２１１の判定処理において、繰り返し回数ｉがｍと等しくないと判定された場合には、ｉ＝i＋１とする処理、すなわち、ｉを１だけ増加させる処理を行い、ステップＳ２０３に戻る（ステップＳ２１２）＜繰り返しステップないしは繰り返し機能＞。

この「繰り返しステップ」では、ステップＳ２０３にてｉ＝１として、ステップＳ２０４では、記録ストラテジのパルス幅をa＋ｂ[Ｔ]とする。後は、ステップＳ２０４からステップS２０９を繰り返す。

すなわち、システムコントローラ４０は、「記録モード」とし、パルス幅をa＋ｂ[Ｔ]、消去パワーをｘ [ｍＷ]にて（例えばｘ＝０、ａ＝０．２Ｔ、ｂ＝０．１Ｔであれば、図２４に示すようにパルスの後縁を増加させたパルス列を与え：図２４ではパルス列の一部のみを誇張して示している）テストパターンを記録する。そして、システムコントローラ４０は、「再生モード」とし、前記光ディスクに書き込んだテストデータの記録マークを再生する。システムコントローラ４０により、再生された再生信号の変調度である再生信号変調度αを測定する。測定結果である再生信号変調度αに関するデータは、消去パワーｘ、パルス幅ａ＋ｂなどと対応づけられて、メモリなどの特定の記憶領域に書き込まれる。

加えて、システムコントローラ４０は、「記録モード」とし、パルス幅をa＋ｂ[Ｔ]、消去パワーをｙ [ｍＷ]にて（例えばｙ＝６、ａ＝０．２Ｔ、ｂ＝０．１Ｔであれば、図２３に示すようにパルスの後縁を増加させたパルス列を与え：図２３ではパルス列の一部のみを誇張して示している）テストパターンを記録する。そして、システムコントローラ４０は、「再生モード」とし、前記光ディスクに書き込んだテストデータの記録マークを再生する。システムコントローラ４０により、再生された再生信号の変調度である再生信号変調度βを測定する。測定結果である再生信号変調度βに関するデータは、消去パワーｘ、パルス幅ａ＋ｂなどと対応づけられて、メモリなどの特定の記憶領域に書き込まれる。

そして、パルス幅ａ＋ｂに対応する再生信号変調度の差分γ＝α−βが算出される。算出された再生信号変調度差分γは、パルス幅ａ＋ｂなどと対応づけられて、メモリなどの特定の記憶領域に書き込まれる。

以降、同様にして、一消去パワー条件での記録・再生・測定、他の消去パワー条件での記録・再生・測定、を繰り返すことによって、パルス幅ａ＋２ｂ、ａ＋３ｂ、・・・、ａ＋ｍｂに各々対応する各再生信号変調度差分γが各々算出され、各々対応づけられて、メモリなどの特定の記憶領域に書き込まれる。

一方、システムコントローラ４０は、前記ステップＳ２１１の判定処理において、繰り返し回数ｉがｍと等しいと判定された場合には、ステップＳ２１３に進む処理を行う。
このようにして、iを1増加させ、記録ストラテジのパルス幅を広げ、同様の測定をｍ[回]行う。すなわち、前記ステップＳ２１１と、前記ステップＳ２１２の「繰り返しステップないしは繰り返し機能」とによって、ステップＳ２０３〜ステップＳ２０９を繰り返し、システムコントローラ４０は、
パルス幅ａの再生信号変調度差分γ_０＝α_０−β_０（第１再生信号変調度差分）、
に加え、
パルス幅ａ＋ｂの再生信号変調度差分γ_１＝α_１−β_１（第２再生信号変調度差分）、
パルス幅ａ＋２ｂの再生信号変調度差分γ_２＝α_２−β_２（第３再生信号変調度差分）、
パルス幅ａ＋３ｂの再生信号変調度差分γ_３＝α_３−β_３（第４再生信号変調度差分）、
・
・
・
パルス幅ａ＋ｍｂの再生信号変調度差分γ_ｍ＝α_ｍ−β_ｍ（第ｍ＋１再生信号変調度差分）、
を各々算出する処理を行う。

そして、システムコントローラ４０は、ｍ[回]測定を行った時点で、再生信号の変調度差分における記録ストラテジのパルス幅依存性が取得できる。

さらに、システムコントローラ４０は、取得された記録ストラテジのパルス幅依存性の中で、実質変化しないパルス幅範囲を抽出する。

この抽出処理では、再生信号変調度差分の範囲が、例えば０を中心に±０．０５を越えない値となるパルス幅（或いはパルス幅範囲）を特定する、というような演算を行うこともできる。その場合において、再生信号変調度差分の範囲としては、前記±０．０５に限らず、精度や種々の事情により、任意の数値範囲例えば±０．０３、±０．０２、±０．０４、±０．０６といった範囲であってもよく、これら再生信号変調度差分の範囲を設定可能に構成してもよい（再生信号変調度差分範囲設定機能部）。このような処理を行うこのいによっても、再生信号変調度差分に関し、パルス幅に依存しないパルス幅の範囲を抽出できる。

そして、システムコントローラ４０は、抽出された実質変化しないパルス幅範囲の中から最も狭いパルス幅を最適な記録ストラテジのパルス幅とする（ステップＳ２１３）＜最適ストラテジ設定ステップないしは最適ストラテジ設定機能＞。
すなわち、パルス幅依存性測定器は、光ヘッド部で再生されたテストデータに基づいて、記録ストラテジに関する再生信号変調度の差分のパルス幅依存性の特徴点を測定する。

システムコントローラ４０は、以上のステップＳ２０３〜ステップＳ２１１までの処理を、ステップＳ２０１でセットされた繰り返し回数ｍまで繰り返して行う。（すなわち、一の消去パワー条件下での変調度の測定はｍ＋１回行われ、他の消去パワー条件下での変調度の測定はｍ＋１回行われ、再生信号変調度差分は、ｍ＋１個算出される。）

このようにして、記録ストラテジに基づいて半導体レーザの駆動電流を制御すると、トップパルスとミドルパルスとラストパルスに従ってレーザ光のパワーが記録パワーとバイアスパワーの間で変化し、その変化に応じて記録膜である相変化材料が溶融と冷却を繰り返すことでアモルファス相が形成される。また、記録データのスペース部に相当する期間に消去パワーレベルのレーザ光が照射されることで、相変化材料が結晶化される。
こうして、トップパルスとミドルパルスとラストパルス及びクーリングパルスに基づいて半導体レーザーの駆動電流を制御することにより、記録・再生特性の向上を図ることが可能な記録マークを形成する。

このような記録ストラテジにおいて、始端部（トップパルス）のパルス幅がずれている場合には、記録マークの先頭部分での形状が変化することになる。これは、パルス幅が変わることにより媒体に照射するレーザーエネルギーが変化するためである。すなわち、始端部のパルス幅が広すぎる場合には、記録マークの先頭部が膨らみ前縁部のマーク幅が太くなる。逆に始端部のパルス幅が狭すぎる場合には、記録マークの前縁部のマーク幅が細くなる。

同様に、中間部（ミドルパルス）のパルス幅が広すぎる場合には、記録マークの後半部分の記録マークが膨らむため、記録マークの幅が太くなる。逆に、中間部のパルス幅が狭すぎる場合には、記録マークの後半部分の記録マークが減少するため、記録マークの幅が細くなる。

このように、上記各記録パルス幅パラメータは、記録マーク形状（記録パワーパラメータ）に大きな影響を与える。

更に、終端部（ラストパルス）のパルス幅がずれている場合には、記録マークの後、エッジ位置が変化することになる。加えて、始端部のパルスの開始位置がずれている場合には、記録マークの前エッジ位置が変化することになる。これにより、記録マークの長さが変化する。すなわち、上記の各記録パルス幅パラメータは、記録マークの長さに大きな影響を与える。

そこで、本実施の形態では、特定のパルス列では、消去パワーが記録マークの大きさに依存しないことに着目して調整を行う。
すなわち、上記の方法で記録ストラテジの調整を簡単にする事ができ、局所最適に陥ることを回避する事が出来る理由は、以下の通りである。
再生信号変調度を測定した結果を図１２に示す。図１２は、消去パワー（レーザの光出力）を０ｍＷ、３ｍＷ、６ｍＷとし、記録パワーを９ｍＷに設定し記録した時の記録マークの再生信号の変調度における記録ストラテジのパルス幅依存性を示す図である。図７では、横軸に記録ストラテジの各パルスのパルス幅を、縦軸に再生信号変調度を取ることにより、前記再生信号変調度の変化を示している。さらに、図１２では、消去パワーを（０ｍＷ、３ｍＷ、６ｍＷ）と変化させた場合のそれぞれの再生信号変調度とパルス幅との関係が開示されている。

図１２から明らかなように、特定の一消去パワー条件下（例えば０ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、一特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同様に、他の消去パワー条件下（例えば３ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同じく、さらに他の消去パワー条件下（例えば６ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、さらに他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。

そして、一消去パワー条件下での一特定範囲、他の消去パワー条件下での他の特定範囲、さらに他の消去パワー条件下でのさらに他の特定範囲、の中で、共通する一定の特定範囲が生じている。図１２の矢印で示されたパルス幅（０．３Ｔ〜０．５Ｔ）ではどの消去パワー（０ｍＷ、３ｍＷ、６ｍＷ）においても再生信号変調度が同程度である事が分かる。
すなわち、消去パワーの大きさに関わらず一定の変調度となるパルス幅の範囲が存在することが確認できる。記録マークの大きさに比例する変調度が、消去パワーに依存しないということは、前記パルス幅の範囲で記録マーク形成条件と消去条件とを独立に調整しても、局所最適に落ち込まないことを意味する。このため、前記パルス幅の範囲で、消去パワーがどのような大きさであっても、記録マークの大きさが変わらないので、前記パルス幅の範囲で、記録マーク形成条件と消去条件とを独立に調整可能となる。そのため、消去パワーに依存しない概ね一定の変調度が得られるパルス幅範囲内にて、パルス幅を初期設定すると、局所最適を防止できる最適条件が得られる。

図１４に、トップパルス（Ｔｔｏｐ）、ミドルパルス（Ｔｍｐ）、ラストパルス（Ｔｌｐ）のパルス幅と、ＰＲＳＮＲ値との関係を示す。図１４では、記録ストラテジの記録調整の初期値としてパルス幅を０．１Ｔから０．８Ｔまでとして、それを基点として記録パワー、消去パワー調整後のＰＲＳＮＲ値を示している。

図１２及び図１４により、消去パワーに依存せず、ほぼ一定の再生信号変調度が得られるパルス幅から調整を始めたほうが、最終的に高いＰＲＳＮＲ値が得られることがわかる。特に、消去パワーに依存せず、ほぼ一定の変調度が得られるパルス幅のうち、最も小さいパルス幅を中心とした±０．１Ｔ（図１４では、０．３Ｔを中心として０．２Ｔ〜０．４Ｔの間）の初期設定において良好な（高い）ＰＲＳＮＲ値が得られていることがわかる。

図１３は、記録ストラテジのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）Ｔと再生信号変調度の差分との関係を示す特性図を示している。
システムコントローラ４０は、再生信号変調度差分と記録ストラテジのパルス幅Ｔとの関係に基づいて、再生信号変調度差分に関する記録ストラテジのパルス幅依存性の特徴点を求める。図９の場合、再生信号変調度差分概ね一定となる０．３Ｔ〜０．５Ｔの範囲の中から、特に最小となる０．３Ｔを選択する。或いは、再生信号変調度差分に関する記録ストラテジのパルス幅依存性が変わる特徴点における記録ストラテジのパルス幅Ｔは、０．３Ｔであるので、ベースパルス幅選択器４２ｂは、トップパルス，ミドルパルス，ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）Ｔを、０．３Ｔに決定する。
以上の過程を経て、最適ベースパルス幅が決定されるベース記録ストラテジ調整処理が終了する。

ここで、本例では、パルス幅依存性測定時において、ベース記録ストラテジの各パルスの後縁を一律に変化される例で説明したが、前縁を一律に変化される場合（例えば図２５に示すパルス幅の変化など）であっても、パルス幅依存性の測定を行うことが可能である。

[２．２．３]（パワー調整ステップ）
次に、パワー調整ステップについて、図１８を参照しつつ説明する。

図１９に示す処理（図１８のステップＳ１０２に相当）を終了し、図１８に示すステップＳ１０２の後、パワー調整ステップを行う。より詳細には、図１８に示すステップＳ１０３を実行する。
すなわち、システムコントローラ４０は、ベース記録ストラテジにて、ＰＲＳＮＲを指標に記録パワーの微調整処理を行う（ステップＳ１０３）＜記録パワー微調整処理ステップないし記録パワー微調整処理機能＞。先ず、記録パワーを所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高い記録パワーを最適な記録パワーに決定する。

具体的には、システムコントローラ４０内のパワー調整部４３の記録パワー微調整処理部４３ａは、「ベース記録ストラテジ調整ステップ」にてベース記録ストラテジ調整部４２のベースパルス幅選択器がパルス幅依存性に基づいて決定したベースとなる最適ベースパルス幅、すなわち、トップパルス，ミドルパルス，ラストパルスのパルス幅において、ＰＲＳＮＲ値を指標に、記録パワーの微調整処理を行う。そして、微調整処理により、最適記録パワーが決定され、設定される。この際、システムコントローラ内のパワー調整部は、記録パワー（Ｗｒｉｔｅ Ｐｏｗｅｒ）とＰＲＳＮＲ値との関係に基づいて、ＰＲＳＮＲ値が最も高くなる記録パワーを決定する（例えば図２６等）。
ここで、ＰＲＳＮＲ値は、微調整処理の過程において、レーザ駆動系の制御の下に光ディスクに記録され、その後再生された再生信号に基づいてＲＦ回路部のＰＲＳＮＲ計算器で算出されるデータである。

同様にして、システムコントローラ４０は、ベース記録ストラテジにて、ＰＲＳＮＲを指標に消去パワーの微調整処理を行う（ステップＳ１０４）＜消去パワー微調整処理ステップないし消去パワー微調整処理機能＞。このステップでは、消去パワーを所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高い消去パワーを最適な消去パワーに決定する。
具体的には、システムコントローラ４０内のパワー調整部４３の消去パワー微調整処理部４３ｂは、「ベース記録ストラテジ調整ステップ」にてベース記録ストラテジ調整部４２のベースパルス幅選択器がパルス幅依存性に基づいて決定したベースとなる最適ベースパルス幅、すなわち、トップパルス，ミドルパルス，ラストパルスのパルス幅において、ＰＲＳＮＲ値を指標に、消去パワーの微調整処理を行う。そして、微調整処理により、最適消去パワーが決定され、設定される。この際、システムコントローラ内のパワー調整部は、消去パワー（Ｅｒａｓｅ Ｐｏｗｅｒ）とＰＲＳＮＲ値との関係に基づいて、ＰＲＳＮＲ値が最も高くなる消去パワーを決定する（例えば図２７等）。
ここで、前記ステップＳ１０３とステップＳ１０４をまとめてステップＳ１０Ｂのベースパワー調整処理（ベースパワー調整ステップ）ということができる。

以上の過程を経て、パワー調整部によるパワー調整の処理が終了する。

記録ストラテジ調整部は、パワー調整部による記録パワーの微調整、消去パワーの微調整に引き続いて、記録ストラテジを構成するそれぞれのパルス（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ、Ｔｃｌ）の後縁を一律に変化させてテストパターンを相変化記録媒体に記録し、相変化記録媒体から再生した前記テストパターン（再生信号）からの信号品質に基づいて記録ストラテジを調整する。

[２．２．４]（記録ストラテジ調整ステップ）
（トップパルスのパルス幅・クーリングパルスのパルス幅の決定処理ステップ）
次に、記録ステラテジ調整ステップについて、図１８を参照しつつ説明する。

図１８に示すように、システムコントローラ４０は、トップパルスのパルス幅及びクーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて所定の範囲内で、段階的に変化させて記録し、記録マークのＰＲＳＮＲからトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅を同時に決定する（ステップＳ１０５）＜トップパルス独立幅決定処理ステップ・クーリングパルス独立幅決定処理ステップないしはトップパルス独立幅決定処理機能・クーリングパルス独立幅決定処理機能＞。

このステップＳ１０５では、パワー調整の処理で求めた記録パワー及び消去パワーのデータを使用する。信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に、トップパルス（Ｔｔｏｐ）、クーリングパルス（Ｔｃｌ）のパルス幅を決定する。
すなわち、システムコントローラ４０は、トップパルス（Ｔｔｏｐ）、クーリングパルス（Ｔｃｌ）のパルス幅を段階的に変化させながら、特定のＰＲＳＮＲ値以上となるまで、ないしは、ＰＲＳＮＲ値が最大となるパルス幅を算出し、トップパルス（Ｔｔｏｐ）、クーリングパルス（Ｔｃｌ）のパルス幅を決定し、そのパルス幅を設定する。

記録マークの始端部に関連するトップパルスと、記録マークの終端部に関連するクーリングパルスと相互に関連をもたせて調整する。記録マークの長さに関係する記録パルス幅パラメータ（トップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅）を、他の記録パルス幅パラメータ（ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅）より先に調整し、決定することによって、記録マークの長さが変化することを防止できる。
すなわち、トップパルスのパルス幅が長すぎたり、短すぎたりした場合には、記録マークの始端部の開始位置がずれることになり、クーリングパルスのパルス幅が長すぎたり、短すぎたりした場合には、記録マークの終端部の後エッジ位置がずれることになり、始端部における誤差と終端部における誤差との各々の誤差を含む累積誤差によって、記録マークの長さが変化する。
これに対して、トップパルス・クーリングパルス同時調整処理ステップでは、相互に一定の関係を持たせているため、累積誤差による影響を回避でき、精度良く記録マークの形成ができる。

続いて、システムコントローラ４０は、ステップＳ１０５の記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う（ステップＳ１０６）＜第１の性能確保判定処理ステップないしは第１の性能確保判定処理機能＞。
ステップＳ１０６の判定処理にて、性能が確保されているものと判定された場合には、処理を終了する。一方、ステップＳ１０６の判定処理にて、性能が確保されていないものと判定された場合には、ステップＳ１０７に進む。

このように、トップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅調整である程度性能が確保されている場合はその段階で調整を終了する。
ここで、この第１の性能確保判定処理ステップは、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅とを同時に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行うことができる。

以上の過程を経て、トップパルスのパルス幅・クーリングパルスのパルス幅の決定処理による記録ストラテジのパルス幅調整処理が終了する。

（第１のパルス独立調整処理ステップ）
図１８に示すように、ステップＳ１０６にて、性能が確保されていない場合は、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立にＰＲＳＮＲを指標に調整を行っていく。

具体的には、システムコントローラ４０は、トップパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なトップパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１０７）＜第１のトップパルス独立幅調整処理ステップないしは第１のトップパルス独立幅調整処理機能＞。この第１のトップパルス独立調整処理ステップは、前記第１の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行うことができる。

同様にして、システムコントローラ４０は、ミドルパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なミドルパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１０８）＜第１のミドルパルス独立幅調整処理ステップないしは第１のミドルパルス独立幅調整処理機能＞。この第１のミドルパルス独立調整処理ステップは、前記第１の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するミドルパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行うことができる。

同様にして、システムコントローラ４０は、ラストパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１０９）＜第１のラストパルス独立幅調整処理ステップないしは第１のラストパルス独立幅調整処理機能＞。この第１のラストパルス独立調整処理ステップは、前記第１の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するラストパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行うことができる。

同様にして、システムコントローラ４０は、クーリングパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１１０）＜第１のクーリングパルス独立幅調整処理ステップないしは第１のクーリングパルス独立幅調整処理機能＞。この第１のクーリングパルス独立調整処理ステップは、前記第１の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するクーリングパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行うことができる。

ここで、以上のステップＳ１０７〜ステップＳ１１０の各々ステップは、各パルス毎に各々独立して調整する処理であるから、各処理の順序は問わない。これらのステップＳ１０７〜ステップＳ１１０をまとめて「第１のパルス独立調整処理ステップ」と呼ぶこともできる。この「第１のパルス独立調整処理ステップ」は、前記第１の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立に信号品質評価値（ＰＲＳＮＲ値）を指標に調整する制御を行うこともできる。

次いで、システムコントローラ４０は、性能が確保されているか否か判定する処理を行う（ステップＳ１１１）＜第２の性能確保判定処理ステップないしは第２の性能確保判定処理機能＞。

ステップＳ２１１の判定処理にて、性能が確保されているものと判定された場合には、処理を終了する。一方、ステップＳ１１１の判定処理にて、性能が確保されていないものと判定された場合には、ステップＳ１１２に進む。

このように、Ｓ１１０までのパルス幅調整である程度性能が確保されている場合はその段階で調整を終了する。ここで、この第２の性能確保判定処理ステップは、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立に信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行うができる。

（第２のパルス独立調整処理ステップ）
図１８に示すように、前記ステップＳ１１１にて、それでも、性能が確保されない場合は、記録パターン毎にトップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルスのパルス幅を独立に調整していく事で、最適記録ストラテジパラメータに精度良く調整することが出来る。

具体的には、システムコントローラ４０は、一の記録パターンについて、トップパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なトップパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１１２）＜第２のトップパルス独立幅調整処理ステップないしは第２のトップパルス独立幅調整処理機能＞。この第２のトップパルス独立調整処理ステップは、前記第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行うことができる。

同様にして、システムコントローラ４０は、一の記録パターンについて、ミドルパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なミドルパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１１３）＜第２のミドルパルス独立幅調整処理ステップないしは第２のミドルパルス独立幅調整処理機能＞。この第２のミドルパルス独立調整処理ステップは、前記第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するミドルパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行うことができる。

同様にして、システムコントローラ４０は、一の記録パターンについて、ラストパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１１４）＜第２のラストパルス独立幅調整処理ステップないしは第２のラストパルス独立幅調整処理機能＞。この第２のラストパルス独立調整処理ステップは、前記第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するラストパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行うことができる。

同様にして、システムコントローラ４０は、一の記録パターンについて、クーリングパルスのパルス幅を所定の範囲内にて、所定の間隔で段階的に変化させて記録を行い、記録した記録マークのＰＲＳＮＲが最も高いパルス幅を最適なラストパルスのパルス幅に決定する（ステップＳ１１５）＜第２のクーリングパルス独立幅調整処理ステップないしは第２のクーリングパルス独立幅調整処理機能＞。この第２のクーリングパルス独立調整処理ステップは、前記第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するクーリングパルスのパルス幅を、信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行うことができる。

次に、システムコントローラ４０は、一の記録パターンについて、処理が終了すると、次の他の記録パターンについて、前記ステップ１１２〜ステップＳ１１５同様の調整処理を行っていく。
このようにして、次の他の記録パターンについて、処理が終了すると、さらに他の記録パターンという具合に順次調整を行っていく。

ここで、以上のステップＳ１１２〜ステップＳ１１５の各々ステップは、記録パターン毎に各パルス毎に各々独立して調整する処理であるから、一の記録パターンにおける各処理の調整順序は問わない。これらのステップＳ１１２〜ステップＳ１１５をまとめて「第２のパルス独立調整処理ステップ」と呼ぶこともできる。この「第２のパルス独立調整処理ステップ」は、前記第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立に信号品質評価値（ＰＲＳＮＲ値）を指標に調整を行うこともできる。

このようにして、前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理ステップによる調整でもここで、第１の性能確保判定処理ステプにて性能が確保されていないと判定された場合には、トップパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立して調整を行うことができる。前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理ステップでは、累積誤差を回避して記録ストラテジの全長と記録マークの全長と長さとしては同じにできるが、開始位置のずれなどによって、記録マークの始端部又は終端部における誤差が依然として残る場合が想定される。そこで、第１のトップパルス独立調整処理ステップにより独立してその開始位置のずれなどを調整することができる。

さらには、トップパルスだけではなく、第１のミドルパルス独立幅調整処理ステップ、第１のラストパルス独立調整処理ステップ、第１のクーリングパルス独立調整処理ステップにより他のパルスも同様に独立して調整可能である。

また、各パルスを独立に調整した後であっても、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マーク毎に各々異なる長さの記録マークが連続する場合などには、隣り合う一方の記録マークでの調整は良好だとしても、スペース間の誤差などによって、隣り合う他方の記録マークではづれが生じる可能性が想定される。さらに、記録マーク、スペースが複数交互に連続して形成される状況にあっては、最初の記録マークは良好だとしても、後続の記録マークでは、後になる記録マークほど各スペース間の誤差（又は各記録マークの誤差）などの累積誤差が大きくなる可能性が想定され得る。
これに対して、第２のトップパルス独立調整処理ステップでは、第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するトップパルス、他の記録マークに対応するトップパルス、さらに他の記録マークに対応するトップパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのトップパルスを、他の記録マークの例えばトップパルスなどとは独立して調整することができる。このため、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マークが連続するケースでも好適に調整できる。

さらには、トップパルスだけではなく、第２のミドルパルス独立幅調整処理ステップ、第２のラストパルス独立調整処理ステップ、第２のクーリングパルス独立調整処理ステップにより他のパルスも同様に独立して調整可能である。
すなわち、第２のミドルパルス独立調整処理ステップでは、第２の性能確保判定ステップにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するミドルパルス、他の記録マークに対応するミドルパルス、さらに他の記録マークに対応するミドルパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのミドルパルスを、他の記録マークの例えばミドルパルスなどとは独立して調整することができる。

また、第２のラストパルス独立調整処理ステップでは、第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するラストパルス、他の記録マークに対応するラストパルス、さらに他の記録マークに対応するラストパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのラストパルスを、他の記録マークの例えばラストパルスなどとは独立して調整することができる。

第２のクーリングパルス独立調整処理ステップでは、第２の性能確保判定処理ステップにて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するクーリングパルス、他の記録マークに対応するクーリングパルス、さらに他の記録マークに対応するクーリングパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのクーリングパルスを、他の記録マークの例えばクーリングパルスなどとは独立して調整することができる。
このため、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マークが連続するケースでも好適に調整できる。

このようにして記録ストラテジ調整部による「記録ストラテジ調整ステップ」の処理が終了する。

以上、「ベースパワー調整ステップ（ベースパワー調整処理）」、「ベース記録ストラテジ調整ステップ（ベース記録ストラテジ調整処理）」、「パワー調整ステップ（パワー調整処理）」、「記録ストラテジ調整ステップ（記録ストラテジ調整処理）」、の全工程が終了し、最終的な記録ストラテジ（記録マークの異なる長さに対応する各々について＜２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、７Ｔ、８Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔなど＞のトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅）、記録パワー、消去パワーなどを含む記録条件が決定される。

このようにして、未知の相変化記録媒体が装填され、記録条件が調整されて記録再生を良好に行うことが可能となる。ここで、この後に、他の種類の未知の相変化記録媒体が新たに装填された場合にも、前記同様の一連の処理が行われることによって記録条件を調整することができる。

ここで、以上のステップＳ２０１〜ステップＳ２１２により、「パルス幅依存性測定制御ステップ」を構成すこともるできる。この「パルス幅依存性測定制御ステップ」は、互いに異なる少なくとも２つの各消去パワー条件毎に、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を変化させつつテストパターンを各々記録し、該各々のテストパターンからの再生信号変調度を各々測定し、一方の消去パワー条件による一方の再生信号変調度と他方の消去パワー条件による他方の再生信号変調度との差分に関するパルス幅依存性を求める。

また、以上のステップＳ２１３により、「ベースパルス幅選択制御ステップ」を構成すすこともできる。この「ベースパルス幅選択制御ステップ」は、前記パルス幅依存性測定制御ステップにて算出された再生信号変調度差分に関する前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択制御する。

ここで、一方の前記消去パワー条件を、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワーとし、他方の前記消去パワー条件は、概ね記録済みマークが消去される消去パワーとした場合には、「パルス幅依存性測定制御ステップ」は、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される一方の再生信号変調度と、概ね記録済みマークが消去される消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される他方の再生信号変調度と、の差分である再生信号変調度差分を、各パルス幅の変化に応じて測定することにより前記再生信号変調度差分のパルス幅依存性を測定制御することができる。

さらに、「ベースパルス幅選択制御ステップ」は、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。また、「ベースパルス幅選択制御ステップ」は、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。

また、「パルス幅依存性測定制御ステップ」は、前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの全てのパルスのパルス幅を等しくし、前記トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させることが好ましい。

また、ステップＳ１０Ａは、「ベースパワー調整ステップ」に含まれる。「ベースパワー調整ステップ」は、前記ベース記録ストラテジ調整ステップによる前記ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、前記レーザ光のパワーを調整する。また、前記ベース記録ストラテジの記録パワーを変化させて記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性を測定し、該記録パワー依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジに関するパワーを調整する。

さらに、「ベースパワー調整ステップ」は、調整前の前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを全て同一のパルス幅で、かつ、消去パワーを零とする条件下で、記録パワーを変化させて再生信号変調度の記録パワー依存性を測定し、前記消去パワーを零に設定して前記記録パワー依存性に基づいて前記ベース記録ストラテジの記録パワーを調整制御することができる。
さらにまた、「ベースパワー調整ステップ」は、前記記録ストラテジの記録パワーを、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の概ね半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワーに調整制御することができる。

また、記録パワー微調整処理ステップは、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録パワーを信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に微調整処理を行う。
同じく、消去パワー微調整処理ステップは、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記消去パワーを信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値を指標に微調整処理を行う。

一方、前記記録ストラテジ調整ステップは、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて特定範囲内で段階的に変化させるように制御し、前記パターン列を構成する記録マークの信号品質評価値の一例であるＰＲＳＮＲ値に基づいて、前記トップパルスのパルス幅と前記クーリングパルスのパルス幅とを同時に調整する制御を行うことができる。

また、以上のステップＳ２０２は、「消去パワー条件設定ステップ」に含まれる。この「消去パワー条件設定ステップ」は、少なくとも２つの各前記消去パワー条件を各々設定可能である。
さらに、以上のステップＳ２０１は、「パルス幅変更範囲設定ステップ」に含まれる。この「パルス幅変更範囲設定ステップ」は、前記ベース記録ストラテジの前記パルス幅を一律に変化する特定範囲を設定可能である。また、前記パルス幅変更範囲設定ステップは、前記パルス幅を一律に変化させて、前記パルス幅依存性の記録、測定を繰り返す繰り返し回数を設定することができる。

また、ステップＳ２０５、ステップＳ２０７、ステップＳ２１１により、「ベースパルス幅変更記録ステップ」といこともできる。この「ベースパルス幅変更記録ステップ」は、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて記録パワー、消去パワー、バイアスパワーの少なくとも３値の間で強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を記録する記録条件を決定する場合、前記消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の消去パワー条件下で、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を一律に変化させつつ記録を行うことができる。

加えて、ステップＳ２０６、ステップＳ２０８、ステップＳ２０９、ステップＳ２１１により、「パルス幅依存性測定ステップ」を構成することもできる。この「パルス幅依存性測定ステップ」は、前記２種類の各消去パワー条件下にて各々記録された各パターン列を各々再生し、前記各消去パワー条件下での各再生信号変調度の差に関するパルス幅依存性を測定することができる。この際、ステップＳ２１３の「ベースパルス幅選択制御ステップ」で、前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を決定することができる。

（第１実施の形態の効果）
以上のように本実施の形態によれば、（通常の記録ストラテジ調整の前処理としての）ベース記録ストラテジの調整にて、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジが決定され、これをもとに他の調整（パワー調整、記録ストラテジ調整）を行うことで、未知の相変化記録媒体であっても局所最適に陥り調整不能となる事態（通常の記録ストラテジ調整すら困難となる事態）を回避でき、以降の記録ストラテジ調整を良好に行うことを可能とする。

また、高密度光ディスクの記録再生装置および記録ストラテジ調整法として、広く適応することができ、記録再生装置の信頼性を著しく高める効果を得ることができる。すなわち、殆ど消去パワーを与えない状態と、概ね記録済みマークが消去される消去パワーの２種類の条件下で、記録ストラテジを構成する全てのパルスのパルス幅を所定の範囲内で一律に変化させつつ記録を行い、再生された記録マークの２条件間での信号変調度の差のパルス幅依存性に基づいてパルス幅として好ましいパルス幅を選択する本願発明を用いることで、記録ストラテジの調整を簡単にすることができ、局所最適に陥る事を回避する事ができる。

上記の方法で記録ストラテジの調整を簡単にする事ができ、局所最適に陥ることを回避する事が出来る理由は、以下の通りである。
図１２の矢印で示されたパルス幅（０．３Ｔ〜０．５Ｔ）ではどの消去パワー（０ｍＷ、３ｍＷ、６ｍＷ）においても再生信号変調度が同程度である事が分かる。また、図１２及び図１４より、消去パワーに依存せず、ほぼ一定の再生信号変調度が得られるパルス幅から調整を始めたほうが、最終的に高いＰＲＳＮＲ値が得られることがわかる。特に、消去パワーに依存せず、ほぼ一定の変調度が得られるパルス幅のうち、最も小さいパルス幅を中心とした±０．１Ｔ（図１４では、０．３Ｔを中心として０．２Ｔ〜０．４Ｔの間）の初期設定において良好な（高い）ＰＲＳＮＲ値が得られていることがわかる。

記録マークの大きさに比例する変調度が消去パワーに依存しないということは、記録マーク形成条件と消去条件をほぼ独立に調整することが可能となり、局所最適に落ち込みにくいと考えられる。そのため、消去パワーに依存せず、ほぼ一定の変調度が得られるパルス幅に初期設定すると最適条件が得られると考えられる。

また、変調度が消去パワーに依存しないパルス幅のうち、最も小さいパルス幅を中心にした方が良い理由は、相変化記録媒体の場合、パルス幅を小さくして、昇温後の冷却速度を確保しないと、再結晶化を起こしてしまう可能性が高いためだと考えられる。ここで、再結晶化とは、レーザにより昇温された記録膜がアモルファス（記録マーク）を形成せず、冷却速度の不足から再度結晶（スペース部相当）になってしまう現象で、一般的に記録マークの品質を落とすことが知られている。

消去パワーの２種類の条件下で、記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を一律に変化させつつ記録を行い、再生された記録マークの２条件間での信号変調度の差のパルス幅依存性に基づいて好ましいパルス幅を選択でき、記録ストラテジの調整を簡単かつ正確にすることができ、局所最適に陥る事を回避でき、未知の記録媒体であっても使用できる。

このように、相変化記録媒体上にパルストレイン型記録ストラテジにて強度変調したレーザー光を照射することによってマークとスペースによるパターン列を光照射によって記録及び情報再生を行う情報記録再生装置において、未知の相変化記録媒体が挿入された場合にも、局所最適に陥ることなく、最適に近いパルス幅を求めることができる。

ここで、前記パルスのパルス幅を、変更前の初期段階の初期パルス幅部ａと、前記初期パルス幅部ａに連なりパルス幅変更される幅変更部ｂと、を含み、前記幅変更部ｂがｍ個（ｍは０以上の自然数）連なることにより前記パルス幅が変化するように構成した場合、前記再生信号変調度差分をｍ＋１個分測定することになるが、パルス幅ａ＋ｂｉを調整する場合において、ｂ（変更幅）を小さく、ｉ（もしくはｍ：繰り返し回数）を多くすることによって、再生信号変調度差分におけるパルス幅依存性に関するより詳細データが得られるので、ｂ＝ｂ１、ｉ＝ｉ１にて得られる第１最小パルス幅より、ｂ＝ｂ２（＜ｂ１）、ｉ＝ｉ２（ｉ＞ｉ１）にて得られる第２最小パルス幅の方がより最適なパルス幅を精度良く得ることができる。

また、「パルス幅依存性に基づくパルス幅を決定し、記録ストラテジ調整を行う」こと加えて、「記録パワー調整処理ステップ」、「微調整処理ステップ」、「微調整処理ステップ」、「（各パルスの）第１の独立調整ステップ」、「(記録マーク毎に各パルス幅を調整する)第２の独立調整ステップ」などにより、局所最適に陥らないという条件を満たしつつ、精度よく独立して調整を行うことができる。

また、「消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅」を算出する際に、各消去パワー条件下（例えば少なくとも２つの各消去パワー条件下）での再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性を測定することにより最適ベースパルス幅を算出する手法を適用する構成によると、前記ベースパルス幅調整制御手段は、前記消去パワー条件切替制御手段及び前記ベースパルス幅変更制御手段に、特定ベースパルス幅にて各前記消去パワー条件毎にテストパターンを各々記録させ、前記パルス幅依存性測定制御手段に、該各々のテストパターンからの再生信号変調度を各々測定させ、各前記再生信号変調度の差分を算出させ、前記ベースパルス幅変更制御手段及び前記パルス幅依存性測定制御手段に、前記各パルスのパルス幅を変化させつつ、記録、測定を繰り返し、前記再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を算出させ、前記ベースパルス幅選択制御手段に、前記パルス幅依存性に基づいて前記記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択させる。

ここで、各消去パワー条件は、２つの異なる消去パワー条件での測定を行う場合に限らず、３以上（例えば３、４、等）の各消去パワー条件での測定を行う場合であってもよい。この際、例えば複数の各再生信号変調度の差分を演算することによってパルス幅依存性が算出可能である。また、２つの異なる消去パワー条件は、例えば図１２に示す消去パワー０ｍＷと消去パワー６ｍＷの例に限らず、消去パワー０ｍＷと消去パワー３ｍＷの組み合わせや、消去パワー３ｍＷと消去パワー６ｍＷの組み合わせであってもよいし、さらには、これらの数値に限定されない、他の数値の組み合わせ（２ｍＷと４ｍＷ等）であってもよい。

ここで、各消去パワー条件としてより好ましい２条件を定義している。すなわち、一方の前記消去パワー条件は、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワー（例えば図１２に示す０ｍＷ等）を含み、他方の前記消去パワー条件は、概ね記録済みマークが消去される消去パワー（例えば図１２に示す６ｍＷ等）を含むことが好ましい。
これにより、消去パワー条件として概ね上限となる値から概ね下限となる値までを考慮した（網羅した）再生信号変調度差分を算出することができる。

すなわち、他の２条件（例えば０ｍＷと３ｍＷ等）の再生信号変調度差分では、中間値での消去パワー条件下（例えば０ｍＷ〜６ｍＷにおける４ｍＷ）での再生信号変調度の情報など網羅されない値が生じ、最適ベースパルス幅の特定範囲の算出の精度が低くなる可能性がある。また、精度を上げようとして、３条件や４条件により測定演算対象を増やそうとすると処理負担が増大して処理速度が低下する可能性がある。
これに対して、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワー（例えば図１２に示す０ｍＷ等）から概ね記録済みマークが消去される消去パワー（例えば図１２に示す６ｍＷ等）までを測定演算対象とすることで、２条件という再生信号変調度差分を算出するのに最低限の条件でありながら、消去パワーのとり得る範囲を全て網羅することで、再生信号変調度に関するパルス幅依存性における最適ベースパルス幅を算出する際の演算処理負担を低減して高速化を維持しながらも、演算精度を高めることができる。
ここで、前記パルス幅依存性測定制御手段（例えば図４に示す符号４２ａ）は、前記消去パワー条件切替制御手段の切替制御による消去パワー条件と、前記ベースパルス幅変更制御手段のパルス幅条件とに基づいて、殆ど消去パワーを与えない状態の消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される一方の再生信号変調度と、概ね記録済みマークが消去される消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される他方の再生信号変調度と、の差分である再生信号変調度差分を、各パルス幅の変化に応じて測定することにより前記再生信号変調度差分のパルス幅依存性を測定制御する。

また、前記ベースパルス幅選択制御手段は、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。「最適ベースパルス幅」として、実質変化しないパルス幅範囲内のうちいずれか一つの値を選択することができる。

さらに、前記ベースパルス幅選択制御手段は、前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することが好ましい。ここで、本発明者等は、特に、前記最適ベースパルス幅の特定範囲のうち、最も小さい最適べースパルス幅を中心として良好な（高い）信号品質評価値（例えばＰＲＳＮＲ値など）が得られることが判明した（例えば図１４等）。これにより、パルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することで、より高い再生信号品質（再生での誤り率の少ない再生信号）とすることが可能である。

また、ベース記録ストラテジ調整手段は、（通常の記録ストラテジ調整の前処理として）、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定する。この決定されたベース記録ストラテジをもとに、他の調整（パワー調整手段によるパワー調整、記録ストラテジ調整手段による記録ストラテジ調整）を行う。
ここにおいて、「消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅」を算出するには、各消去パワー条件下（例えば少なくとも２つの各消去パワー条件下）での再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性を測定する手法（第２の基本的構成など）や、各消去パワー条件下での各再生信号変調度に関するパルス幅依存性を測定する手法などが想定される。

ここで、本発明者等は、記録パワーを特定の値とし一の消去パワー条件で記録した時、一の記録マークを再生することで得られる一の再生信号変調度と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す一の消去パワー条件下の再生信号変調度―パルス幅依存性特性（例えば図１２に示す消去パワ＝０ｍＷにおける特性）；さらには、記録パワーを特定の値とし他の消去パワー条件で記録した時、他の記録マークを再生することで得られる他の再生信号変調度と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す他の消去パワー条件下での再生信号変調度―パルス幅依存性特性（例えば図１２に示す消去パワー＝６ｍＷにおける特性）；などはそれぞれ、特定のパルス幅範囲で特定の再生信号変調度にて概ね一定となることを見い出した（例えば図１２に示す記録ストラテジのパルス幅がおよそ０．３〜およそ０．５に相当する範囲等）。

すなわち、各消去パワー条件に依存せず、概ね一定となる再生信号変調度が得られる特定のパルス幅範囲が存在することとなる。
具体的には、特定の一消去パワー条件下（例えば０ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、一特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同様に、他の消去パワー条件下（例えば３ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。同じく、さらに他の消去パワー条件下（例えば６ｍｗ）で、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を一律に増加させていくと、さらに他の特定範囲内のパルス幅にて再生信号変調度が（例えば０．５にて）ほぼ一定となることが分かる。

さらに、本発明者等は、各消去パワー条件での各再生信号変調度の差分と、パルス幅の変化と、の相関関係を示す各消去パワー条件下での再生信号変調度差分―パルス幅依存性特性；にて、再生信号変調度差分が概ね零となる特定のパルス幅範囲が存在することを確認した（例えば図１３等）。
また、本発明者等は、記録ストラテジの記録調整の初期値のパルス幅（ベース記録ストラテジのパルス幅）を変化させ、記録パワー、消去パワー調整後のＰＲＳＮＲ値と前記パルス幅との関係を確認した。これによると、消去パワーに依存せず、概ね一定の再生信号変調度が得られるパルス幅をベース記録ストラテジとして調整を行うと、最終的に高いＰＲＳＮＲ値が得られることが判明した（例えば図１４等）。

この際、最適ベースパルス幅として図１３に示す特性において、再生信号変調度の差分が概ね一定（ほぼ０）になる範囲のうち、パルス幅が最小となる（再生信号変調度に関するパルス幅依存性が＜依存しない非依存部分に＞変わる特徴点となる）例えば０．３Ｔを「最適ベースパルス幅」とすると、図１４に示すように、ＰＲＳＮＲ値が最大となることが判明した。

図１３及び図１４をみると、再生信号変調度が概ね一定となる範囲（ほぼ０になる範囲）の中でも、パルス幅が０．６Ｔや０．５ＴではＰＲＳＮＲ値が低く、局所最適に陥る可能性があり、パルス幅が０．４ＴでもＰＲＳＮＲ値が２０程度となっているが、パルス幅が０．２５Ｔ、０、３Ｔ、０、３５Ｔでは、ＰＲＳＮＲ値はきわめて高く、特にパルス幅が０、３ＴではＰＲＳＮＲ値が最大となっている。このＰＲＳＮＲ値が最大となっているパルス幅は、図１３の特性では、再生信号変調度の差分が概ね一定（ほぼ０）になる範囲のうちパルス幅が最小となる（再生信号変調度に関するパルス幅依存性が＜依存しない非依存部分に＞変わる特徴点となる）箇所である。

この結果、テストパターンの記録マークの大きさに比例する変調度の値が一定で変化しないということは、特定のパルス幅範囲では、如何なる消去パワーを用いても、記録マークの大きさが一定（記録マークの大きさに影響を与えない）ことを意味する。
すなわち、記録マークの大きさに比例する変調度が、消去パワーに依存しないということは、前記最適べースパルス幅の範囲で記録マーク形成条件と消去条件とを独立に調整可能であり、局所最適に落ち込みにくいことを意味する。そのため、消去パワーに依存しない概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅範囲内にて、最適ベースパルス幅を初期設定すると、局所最適を防止できる最適条件が得られる。
このように、未知の記録媒体であっても局所最適に陥り再生不能となる事態（通常の記録ストラテジ調整すら困難となる事態）を回避でき、以降の記録ストラテジ調整を良好に行うことができる。

また、前記ベースパルス幅変更制御手段は、前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの全てのパルスのパルス幅を等しくし、前記トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させることが好ましい。これにより、パルス幅依存性を測定する際の測定精度が向上できる。

さらに、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅を決定するための調整を行う前に、さらなる前処理としてパワー（例えば記録パワー）をある程度調整しておく必要がある。このベースパワー調整手段による調整の際には、再生信号変調度に関する記録パワー依存性に基づいて、記録パワーを決定する。記録パワー依存性は、最適ベースパルス幅決定前の特定のパルス幅よりなるベース記録ストラテジにて、記録パワーを変化させて記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度と、記録パワーとの相関関係を測定により求めることで取得できる。

また、前記記録パワー依存性測定制御手段は、調整前の前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを全て同一のパルス幅で、かつ、消去パワーを零とする条件下で、記録パワーを変化させて再生信号変調度の記録パワー依存性を測定することが好ましい。このため、前記ベースパワー調整制御手段は、前記消去パワーを零に設定し、前記記録パワー依存性に基づいて前記ベース記録ストラテジの記録パワーを調整制御する。これにより、記録パワー依存性における測定精度を高めることができる。

この際、前記ベースパワー調整制御手段は、前記記録ストラテジの記録パワーを、前記再生信号変調度の記録パワー依存性における飽和値の概ね半分程度の再生信号の変調度が得られる記録パワーに調整制御することが好ましい。

以上のような局所最適を回避できる最適ベースパルス幅よりなるベース記録ストラテジに基づいて、以下に示す「パワー調整手段」による調整、「記録ストラテジ調整手段」による調整の具体的処理を、未知の記録媒体であっても（調整すら困難な局所最適に陥ることなく＜信号品質評価指標すら利用できない事態を回避して＞）、好適に実施できる。

すなわち、前記パワー調整手段は、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録パワーをＰＲＳＮＲ値を指標に微調整処理を行う記録パワー微調整処理手段（例えば図８に示す符号４３ａ）を含むことができる。
この「微調整処理」では、前記最適ベースパルス幅よりなるベース記録ストラテジを利用して、例えば、記録パワーを特定の範囲内にて特定の間隔で段階的に変化させ等により調整を行う。そして、高いＰＲＳＮＲ値となる記録パワーを決定する。

これにより、局所最適に陥り調整困難な事態を回避しつつ、記録パワーの調整を信号品質評価値であるＰＲＳＮＲ値をもとに好適に行うことができる。また、信号品質評価値としてＰＲＳＮＲ値を用いることで、例えばＨＤ−ＤＶＤやＢＤ等の（超）高密度の相変化記録媒体の再生信号の品質を評価することができる。

また、前記パワー調整手段は、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記消去パワーをＰＲＳＮＲ値を指標に微調整処理を行う消去パワー微調整処理手段（例えば図８に示す符号４３ｂ）を含むことが好ましい。消去パワーについても、記録パワー同様に微調整を行うことができる。

また、前記記録ストラテジ調整手段は、前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて特定範囲内で段階的に変化させるように制御し、前記パターン列を構成する記録マークのＰＲＳＮＲ値に基づいて、前記トップパルスのパルス幅と前記クーリングパルスのパルス幅とを同時に調整する制御を行うトップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段（例えば図９に示す符号４４ａ）を含むことが好ましい。

ここにおいて、記録マークの始端部に関連するトップパルスと、記録マークの終端部に関連するクーリングパルスと相互に関連をもたせて調整する。記録マークの長さに関係する記録パルス幅パラメータ（トップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅）を、他の記録パルス幅パラメータ（ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅）より先に調整し、決定することによって、記録マークの長さが変化することを防止できる。
すなわち、トップパルスのパルス幅が長すぎたり、短すぎたりした場合には、記録マークの始端部の開始位置がずれることになり、クーリングパルスのパルス幅が長すぎたり、短すぎたりした場合には、記録マークの終端部の後エッジ位置がずれることになり、始端部における誤差と終端部における誤差との各々の誤差を含む累積誤差によって、記録マークの長さが変化する。
これに対して、トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段では、相互に一定の関係を持たせているため、累積誤差による影響を回避でき、精度良く記録マークの形成ができる。

また、前記記録ストラテジ調整手段（例えば図３、図９に示す符号４４など）は、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅とを同時に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う第１の性能確保判定処理手段（例えば図９に示す符号４４ｊなど）と、前記第１の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立に、ＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う第１のトップパルス独立調整処理手段（例えば図９に示す符号４４ｋ）と、を含むことが好ましい。

これにより、前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段による調整を行った後に、第１の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合には、トップパルスのパルス幅を、他のパルスのパルス幅と独立して調整を行うことができる。前記トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段では、累積誤差を回避して記録ストラテジの全長と記録マークの全長と長さとしては同じにできるが、開始位置のずれなどによって、記録マークの始端部又は終端部における誤差が依然として残る場合が想定される。そこで、第１のトップパルス独立調整処理手段により独立してその開始位置のずれなどを調整することができる。

また、前記記録ストラテジ調整手段は、前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、ミドルパルスのパルス幅、ラストパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を、各々独立にＰＲＳＮＲ値を指標に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う第２の性能確保判定処理手段（例えば図９に示す符号４４ｋなど）と、前記第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅を、ＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行う第２のトップパルス独立調整処理手段（例えば図９に示す符号４４ｆ）と、を含むことが好ましい。

ここにおいて、各パルスを独立に調整した後であっても、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マーク毎に各々異なる長さの記録マークが連続する場合などには、隣り合う一方の記録マークでの調整は良好だとしても、スペース間の誤差などによって、隣り合う他方の記録マークではづれが生じる可能性が想定される。さらに、記録マーク、スペースが複数交互に連続して形成される状況にあっては、最初の記録マークは良好だとしても、後続の記録マークでは、後になる記録マークほど各スペース間の誤差（又は各記録マークの誤差）などの累積誤差が大きくなる可能性が想定され得る。
これに対して、第２のトップパルス独立調整処理手段では、第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保できていないと判定された場合に、一の記録マークに対応するトップパルス、他の記録マークに対応するトップパルス、さらに他の記録マークに対応するトップパルス、・・のうち任意の性能が確保されていないと判定された記録マークに対応する記録ストラテジのトップパルスを、他の記録マークの例えばトップパルスなどとは独立して調整することができる。このため、例えば（ｋ−１）型のパルス列（例えば図１１など）のように、記録マークが連続するケースでも好適に調整できる。さらには、トップパルスだけではなく、他のパルスも同様に独立して調整可能である。

さらには、トップパルスだけではなく他のパルスも同様に独立して調整可能である。すなわち、前記記録ストラテジ調整手段は、前記第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するミドルパルスのパルス幅を、ＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行う第２のミドルパルス独立調整処理手段（例えば図９に示す符号４４ｇ）を含むことが好ましい。

また、前記記録ストラテジ調整手段は、前記第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するラストパルスのパルス幅を、ＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行う第２のラストパルス独立調整処理手段（例えば図９に示す符号４４ｈ）を含むことが好ましい。

また、前記記録ストラテジ調整手段は、前記第２の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記パターン列を構成する記録マーク毎に、前記記録ストラテジを構成するクーリングパルスのパルス幅を、ＰＲＳＮＲ値を指標に独立して調整を行う第２のクーリングパルス独立調整処理手段（例えば図９に示す符号４４ｉ）を含むことが好ましい。

さらに、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を可能な限り大きく設定することが望ましい。これは、トップパルス，ミドルパルス，ラストパルスのパルス幅（Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ）を大きく設定することにより、記録パワーを低減することが可能となり、記録パワーの低減により、ＸＥ及びＸＴを抑えることが可能となる。

［第２の実施の形態］
次に、本発明にかかる第２の実施の形態について、図２８乃至図２９に基づいて説明する。以下には、前記第１の実施の形態と実質的に同様の構成ないしは処理手順に関しては説明を省略し、異なる部分についてのみ述べる。図２８は、本発明の記録装置を情報記録再生装置に適用した第２の実施の形態の一部の構成の一例を示すブロック図である。

本実施の形態では、「消去パワー設定条件」や「パルス幅変更範囲」などを設定可能とする構成を開示している。ここで、図２８において、前記第１の実施の形態と同様の構成については、同様の符号が付してある。

具体的には、本実施の形態の情報記録再生装置の構成では、図２８に示すように、ベース記録ストラテジ調整部４２に対して種々のパラメータを設定可能な設定部８０を含んで構成している。
設定部８０は、図２９に示すように、各消去パワー設定条件のうち一方の消去パワー設定条件である第１の消去パワーを設定可能な第１の消去パワー設定部８１と、各消去パワー設定条件のうち他方の消去パワー設定条件である第２の消去パワーを設定可能な第２の消去パワー設定部８２と、ベース記録ストラテジの調整における初期パルス幅ａを設定可能な初期パルス幅設定部８３と、ベース記録ストラテジの調整におけるパルス幅変更間隔ｂを設定可能なパルス幅変更間隔設定部８４と、ベース記録ストラテジの調整における繰り返し回数ｍを設定可能な繰り返し回数設定部８５と、を含んで構成される。

また、システムコントローラ４０のベース記録ストラテジ調整部４２の内部構成は、図２８に示すように、前記第１の実施の形態同様の構成である、パルス幅依存性測定器４２ａと、ベースパルス幅選択器４２ｂと、消去パワー切り替え器４２ｃと、ベースパルス幅変更器４２ｄの構成に加え、消去パワー設定条件設定制御部４２ｆと、パルス幅変更範囲設定制御部４２ｇと、これらの各部を制御するベースパルス幅調整制御部４２ｅと、を含んで構成される。

消去パワー設定条件設定制御部４２ｆは、要求に基づいて、消去パワー切り替え器４７に対して第１の消去パワーを設定制御する処理を行う第１の消去パワー設定制御部４２ｆ―１と、要求に基づいて、消去パワー切り替え器４２ｃに対して第１の消去パワーと異なる第２の消去パワーを設定制御する処理を行う第２の消去パワー設定制御部４２ｆ―２と、を含んで構成される。

パルス幅変更範囲設定制御部４２ｇは、要求に基づいて、初期パルス幅ａを設定制御する処理を行う初期パルス幅設定制御部４２ｇ−１と、要求に基づいて、パルス幅変更間隔ｂを設定制御する処理を行うパルス幅変更間隔設定制御部４２ｇ−２と、要求に基づいて、パルス幅依存性を測定するための繰り返し回数ｍ（測定回数はｍ＋１）を設定制御する処理を行う繰り返し回数設定制御部４２ｇ−３と、を含んで構成される。

ここで、前記第１の消去パワー設定部８１と前記第２の消去パワー設定部８２により、「消去パワー条件設定手段」を構成することもできる。この「消去パワー条件設定手段」は、少なくとも２つの各前記消去パワー条件を各々設定可能である。この際、ベース記録ストラテジ調整手段の一例であるベース記録ストラテジ調整部４２は、前記消去パワー条件設定手段にて設定された各消去パワー条件に基づいて、前記パルス幅依存性の測定を行うことができる。

また、前記初期パルス幅設定部８３と前記パルス幅変更間隔設定部８４と前記繰り返し回数設定部８５とにより、「パルス幅変更範囲設定手段」を構成することもできる。この「パルス幅変更範囲設定手段」は、前記ベース記録ストラテジの前記パルス幅を一律に変化する特定範囲を設定可能である。この際、前記ベース記録ストラテジ調整手段の一例であるベース記録ストラテジ調整部４２は、前記パルス幅変更範囲設定手段にて設定された特定範囲に基づいて、前記パルス幅依存性の測定を行う。

さらに、前記繰り返し回数設定部８５は、「繰り返し回数設定手段」の一例とすることもできる。この「繰り返し回数設定手段」は、前記パルス幅を一律に変化させて、記録、測定を繰り返す繰り返し回数を設定可能である。この際、前記ベース記録ストラテジ調整手段の一例であるベース記録ストラテジ調整部４２は、前記繰り返し回数設定手段にて設定された繰り返し回数に基づいて、前記パルス幅依存性の測定を行う。

上述のような構成からなるシステムコントローラの内部構成において、概略以下のように動作する。すなわち、消去パワー切り替え器４２ｃは、ＬＤ駆動系７４（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ）を制御し、第１の消去パワー設定制御部４９ｂ−１にて設定された第１の消去パワーと、第２の消去パワー設定制御部４９ｂ−２にて設定された第２の消去パワーとの消去パワーの切り替えを行う。また、ベースパルス幅変更器４２ｄは、ＬＤ駆動系７４（ＬＤ Ｄｒｉｖｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ）を制御し、記録ストラテジのパルス幅変更を行う。

ここで、第１の消去パワー、第２の消去パワーは、それぞれ、第１の消去パワー設定制御部４９ｂ−１、第２の消去パワー設定制御部４９ｂ−１の機能により設定可能となっている。この設定は、「要求」に基づいて行われるが、図示しない入力部から設定してもよいし、ネットワークを介して他の通信装置から設定データが供給されてもよいし、システムコントローラ内のメモリ等に予め複数のパターンが記憶されたものが、プログラムの実行とともに選択的に設定されるようにしてもよい。
また、初期パルス幅ａ、パルス幅変更間隔ｂ、繰り返し回数ｍについてのデ−タも、消去パワーの設定データ同様に、種々の設定手法が想定される。

さらに、初期パルス幅設定制御部４２ｇ−１は、設定部８０の初期パルス幅設定部８３にて設定された設定初期パルス幅に基づいて、特定の記憶領域に書き込む処理を行い、初期パルス幅ａを設定制御する処理を行う。

パルス幅変更間隔設定制御部４２ｇ−２は、設定部８０のパルス幅変更間隔設定部８４にて設定された設定パルス幅変更間隔に基づいて、特定の記憶領域に書き込む処理を行い、パルス幅変更間隔ｂを設定制御する処理を行う。

繰り返し回数設定制御部４２ｇ−３は、設定部８０の繰り返し回数設定部８５にて設定された設定繰り返し回数に基づいて、特定の記憶領域に書き込む処理を行い、パルス幅依存性を測定するための繰り返し回数ｍ（測定回数はｍ＋１）を設定制御する処理を行う。

以上のように本実施の形態によれば、前記第１の実施の形態と同様の作用効果を奏しながらも、繰り返し回数などが設定可能であるので、例えば前記パルスのパルス幅を、変更前の初期段階の初期パルス幅部ａと、前記初期パルス幅部ａに連なりパルス幅変更される幅変更部ｂと、を含み、前記幅変更部ｂがｍ個（ｍは０以上の自然数）連なることにより前記パルス幅が変化するように構成した場合、前記再生信号変調度差分をｍ＋１個分測定することになるが、パルス幅ａ＋ｂｉを調整する場合において、ｂ（変更幅）を小さく、ｉ（もしくはｍ：繰り返し回数）を多くすることによって、再生信号変調度差分におけるパルス幅依存性に関するより詳細データが得られるので、ｂ＝ｂ１、ｉ＝ｉ１にて得られる第１最小パルス幅より、ｂ＝ｂ２（＜ｂ１）、ｉ＝ｉ２（ｉ＞ｉ１）にて得られる第２最小パルス幅の方がより最適なパルス幅を精度良く得ることができる。
その他の構成およびその他のステップ並びにその作用効果については、前述した第１の実施の形態の場合と同一となっている。
また、上記の説明において、上述した各ステップの動作内容および各部をプログラム化し、コンピュータに実行させてもよい。

［第３の実施の形態］
次に、本発明にかかる第３の実施の形態について、図３０に基づいて説明する。ここで、以下には、前記第１及び第２の実施の形態と実質的に同様の構成ないしは処理手順に関しては説明を省略し、異なる部分についてのみ述べる。ただし、説明を省略するからといって、前記第１及び第２の実施の形態の構成要件や処理手順がないことを意味するものではない。図３０は、本発明の情報記録再生装置の第３の実施の形態の一例を示すブロック図である。

上述の第１の実施の形態では、例えばＨＤ ＤＶＤ用のレーザ、及び受光部（検出部）を１つずつ設ける構成としたが、本実施の形態では、複数のレーザ、及び複数の受光部を各々設ける構成としている。

具体的には、情報記録再生装置１００は、図３０に示すように、上述の第１の実施の形態と同様の構成である光ディスク１７８と、ＲＦ回路部１２０と、復調器１３０と、システムコントローラ１４０と、変調器１７２と、ＬＤ駆動系１７４と、を含む構成に加え、本実施の形態の特徴である、第１のレーザ１１２ａと、第２のレーザ１１２ｂと、第３のレーザ１１２ｃと、第１の受光部１１６ａと、第２の受光部１１６ｂと、第３の受光部１１６ｃと、種々の光学系１１０と、を含んで構成される。

本第２の実施の形態の情報記録再生装置１００は、波長４０５ｎｍの青色光と実効的開口数（対物レンズの形状と対物レンズへの入射光のビーム径によって決定する開口数である。以下、ＮＡとする。）が０．８５の対物レンズとを用いた記録再生を前提にした規格のＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｋ（以下、ＢＤとする）と、波長４０５ｎｍの青色光とＮＡ０．６５の対物レンズとを前提にした規格のＨＤ ＤＶＤと、波長６５０ｎｍの赤色光とＮＡ０．６０の対物レンズとを前提にした規格のＤＶＤと、波長７８０ｎｍの赤外光とＮＡ０．５０の対物レンズをと前提にした規格のＣＤとに対応してデータを記録再生する光ディスク装置である。

より詳細には、本第２の実施の形態の情報記録再生装置１００は、図３０に示すように、波長が異なる複数のレーザ光のいずれかを出力する発光手段として、波長４０５ｎｍの青色光を発光する第１のレーザ１１２ａと、波長６５０ｎｍの赤色光を発光する第２のレーザ１１２ｂと、波長７８０ｎｍの赤外光を発光する第３のレーザー１１２ｃと、を含んで構成される。

また、情報記録再生装置１００は、第１のレーザ１１２ａから出力されるレーザ光が第１の種類の光ディスク１７８上に記録マークを書き込み、その記録マークからの戻り光を検出する第１の受光部１１６ａと、第２のレーザ１１２ｂから出力されるレーザ光が第２の種類の光ディスク１７８上に記録マークを書き込み、その記録マークからの戻り光を検出する第２の受光部１１６ｂと、第３のレーザ１１２ｃから出力されるレーザ光が第３の種類の光ディスク１７８上に記録マークを書き込み、その記録マークからの戻り光を検出する第３の受光部１１６ｃと、を含んで構成される。

ここで、第１のレーザ１１２ａ、第２のレーザ１１２ｂ、第３のレーザー１１２ｃと光ディスク１７８との間、第１の受光部１１６ａ、第２の受光部１１６ｂ、第３の受光部１１６ｃと光ディスクとの間には、種々の光学系１１０が構成されている。
この「種々の光学系」としては、第１のレーザ１１２ａから出射（発光）される出射光が光ディスク１７８に到達し、反射した戻り光が第１の受光部１１６ａに到達し、かつ、第２のレーザ１１２ｂから出射（発光）される出射光が光ディスク１７８に到達し、反射した戻り光が第２の受光部１１６ｂに到達し、かつ、第３のレーザ１１２ａから出射（発光）される出射光が光ディスク１７８に到達し、反射した戻り光が第３の受光部１１６ａに到達するそれぞれの光軸が形成される構成であればよく、例えば、ビ−ムスプリッターや対物レンズ、凹レンズ、凸レンズ、種々のミラー、あるいはこれらの各部を駆動するレンズ駆動部、などを用いて構成することが好ましい。

本第２の実施の形態の情報記録再生装置１００においては、第１のレーザ１１２ａからの青色光は、種々の光学系１１０を介して光ディスク１７８上に焦点を結ぶ。光ディスク１７８上で反射された光は、種々の光学系１１０を介して第１の受光部１１６ａに導かれ、電気信号に変換される。

第２のレーザ１１２ｂからの赤色光は、種々の光学系１１０を介して光ディスク１７８上に焦点を結ぶ。光ディスク１７８上で反射された光は、種々の光学系１１０を介して第２の受光部１１６ｂに導かれ、電気信号に変換される。

第３のレーザ１１２ｃからの赤外光は、種々の光学系１１０を介して光ディスク１７８上に焦点を結ぶ。光ディスク１７８上で反射された光は、種々の光学系１１０を介して第３の受光部１１６ｃに導かれ、電気信号に変換される。

また、ＨＤ ＤＶＤ・ＤＶＤ・ＣＤ用対物レンズが、波長４０５ｎｍの青色光に対してはＮＡ０．６５、波長６５０ｎｍの赤色光に対してはＮＡ０．６０、波長７８０ｎｍの赤外光に対してはＮＡ０．５０になるように、または、ＢＤ用対物レンズがＮＡ０．８５となるように、対物レンズへの入射光のビーム径を波長に応じて特定されるように光ヘッド部内の種々の光学系１１０が構成されている。

ＬＤ駆動系１７４は、第１のレーザー１１２ａ、第２のレーザー１１２ｂ、第３のレーザー１１２ｃの発光又は消光を制御する。システムコントローラ１４０は、光ディスク装置１００の全体動作を統括する。

本第２の実施の形態の情報記録再生装置１００においても、第１の実施の形態と同様に、システムコントローラ１４０は、ＬＤ駆動系１７４及びサーボコントローラ（本例では不図示）を制御することで、第１のレーザー１１２ａからのレーザ光をＨＤ ＤＶＤ・ＤＶＤ・ＣＤ用対物レンズを介して光ディスク１７８に集光照射させる。

ここで、システムコントローラ１４０は、ＲＦ回路部１２０で生成されるフォーカスエラー信号を入力してフォーカスＳ字信号を検出しこのフォーカスＳ字信号に基づいて光ディスク１７８を判別する相変化媒体種別判別手段としての機能と、その判別結果に従って対物レンズと光ディスク１７８との位置を制御する機能と、を含んでよい。

光ディスク１７８の記録層には、媒体種別情報を記録した領域としてＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ Ｃｕｔｔｉｎｇ Ａｒｅａ）が設けられている場合があり、フォーカスＳ字信号に基づいて光ディスクの情報記録層の層数が特定されると、システムコントローラ１４０は、ＬＤ駆動系１７４を制御して、光ディスク１７８における１つ又は複数の情報記録層のうちの特定の情報記録層に存在するＢＣＡに媒体種別情報が記憶されているか否かを判定し、媒体種別情報の有無によって光ディスク１７８の種類を判別する媒体種別情報手段としての機能と、ＢＣＡに媒体種別情報が記憶されている場合に媒体種別情報を読み込み光ディスク１７８の種類を判別する媒体種別情報読込手段としての機能と、を有している。

本第２の実施の形態の情報記録再生装置１００においては、ＨＤ ＤＶＤ，ＤＶＤ，ＣＤ用としてＷＤを１．５ｍｍとする対物レンズを用い、ＢＤ用にＷＤを０．７ｍｍとする対物レンズを用いることが好ましい。

システムコントローラ１４０内には、前記第１の実施の形態と同様の構成である、ベースパワー調整部１４１、ベース記録ストラテジ調整部１４２、パワー調整部１４３、記録ストラテジ調整部１４４、信号品質判定制御部１４５などからなるＨＤ―ＤＶＤなどの高密度相変化記録媒体の記録条件を調整可能なＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ａ（第１種相変化記録媒体記録条件調整手段）と、ＣＤ／ＤＶＤなどの相変化記録媒体の記録条件を調整可能なＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ｂ（第２種相変化記録媒体記録条件調整手段）と、光ディスクの判別結果に基づいて、ＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０ＡとＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ｂとを切替制御する切替制御部１４０Ｃと、を含んで構成される。

ここで、ＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ａ内のベース記録ストラテジ調整部１４２には、前記第１の実施の形態と同様の構成である、パルス幅依存性測定器、ベースパルス幅選択器、消去パワー切り替え器、ベースパルス幅変更器、ベースパルス幅調整制御部などを含んでいる（第１の実施の形態の図４を参照：本実施の形態では省略）。さらに、ベースパワー調整部１４１には、前記第１の実施の形態と同様の構成である、パワー依存性測定器、パワー変更器、パワー依存性測定用パルス幅変更器、ベースパワー調整制御部などを含んでいる（第１の実施の形態の図６を参照：本実施の形態では省略）。

ここで、システムコントローラ１４０は、光ディスク１７８の判別結果に基づいて、光ディスクがＨＤ―ＤＶＤであることが判別されると、切替制御部１４０ＣによってＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ａを機能させる。また、システムコントローラ１４０は、ＨＤ−ＤＶＤに対応する第１のレーザ１１２ａ、第１の受光部１１６ａ、種々の光学系１１０内のＨＤ ＤＶＤ用ＷＤ＝１．５ｍｍとする対物レンズ（不図示）を機能させる。これによって、光経路が決定すると、ＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ａによる調整を開始する。調整の具体的内容は、前記第１の実施の形態同様なので省略する。

また、システムコントローラ１４０は、光ディスク１７８の判別結果に基づいて、光ディスクがＢＤであることが判別されると、切替制御部１４０ＣによってＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ａを機能させる。また、システムコントローラ１４０は、ＢＤに対応する第１のレーザ１１２ａ、第１の受光部１１６ａ、種々の光学系１１０内のＢＤ用ＷＤ＝０．７ｍｍとする対物レンズ（不図示：駆動機構により移動させる）を機能させる。これによって、光経路が決定すると、ＨＤ―ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０ＡによるＢＤ用相変化記録媒体の調整を開始する。調整の具体的内容は、前記第１の実施の形態同様なので省略する。

さらに、システムコントローラ１４０は、光ディスク１７８の判別結果に基づいて、光ディスクがＤＶＤであることが判別されると、切替制御部１４０ＣによってＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ｂを機能させる。また、システムコントローラ１４０は、ＤＶＤに対応する第２のレーザ１１２ｂ、第２の受光部１１６ｂ、種々の光学系１１０内のＷＤ＝１．５ｍｍとする対物レンズ（不図示：駆動機構により移動させる）を機能させる。これによって、光経路が決定すると、ＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ｂによる相変化記録媒体の調整を開始する。調整は、平均的な記録ストラテジであってもよいし、本発明の機能を組み込んだものであってもよい。

加えて、システムコントローラ１４０は、光ディスク１７８の判別結果に基づいて、光ディスクがＣＤであることが判別されると、切替制御部１４０ＣによってＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ｂを機能させる。また、システムコントローラ１４０は、ＣＤに対応する第３のレーザ１１２ｃ、第３の受光部１１６ｃ、種々の光学系１１０内のＷＤ＝＝１．５ｍｍとする対物レンズ（不図示：駆動機構により移動させる）を機能させる。これによって、光経路が決定すると、ＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部１４０Ｂによる相変化記録媒体の調整を行う。

上述のような構成からなる情報記録再生装置において、システムコントローラは、概略以下のように動作する。
すなわち、光ディスク１７８が第１の種類（例えば、ＨＤ ＤＶＤ、ＢＤ等）であると判別されると、第１のレーザー１１２aを用いて記録ストラテジの記録マークの記録を行う。戻り光は、第１の受光部１１６ａにて受光され、ベース記録ステラテジ調整部１４２内のパルス幅依存性測定器にて、第１の種類におけるパルス幅依存性が測定され、ベース記録ステラテジ調整部１４２内のベースパルス幅選択器にて最適ベースパルス幅が選択される。ベース記録ステラテジ調整部１４２内のベースパルス幅変更器は、最適ベースパルス幅となるベース記録ストラテジの記録信号を生成する。その後は、前記第１の実施の形態同様に種々の処理が行われる。

以上のように本第３の実施の形態によれば、前記第１の実施の形態と同様の作用効果を奏しながらも、記録媒体の種類を判別しつつ、未知の記録媒体に対する記録ストラテジのパルス幅調整を局所最適に陥ることなく、記録条件の調整を行うことができる。

その他の構成およびその他のステップ並びにその作用効果については、前述した実施の形態の場合と同一となっている。
また、上記の説明において、上述した各ステップおよび各部の動作内容をプログラム化し、コンピュータに実行させてもよい。

（第３の実施の形態の一変形例）
ここで、この第３の実施の形態では、システムコントローラ内の構成として、ＨＤ−ＤＶＤ用ストラテジ調整部とＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部とを各々構成する場合の例を示したがこれに限るものではなく、１つのストラテジ調整部（複数種兼用ストラテジ調整部：図示せず）として構成してもよい（図３０においてシステムコントローラ１４０内に形成すればよく、以下、図３０を代用して説明する）。

この場合、「複数種兼用ストラテジ調整部」は、前記第１の実施の形態同様に、ベースパワー調整部、ベース記録ストラテジ調整部、パワー調整部、記録ストラテジ調整部、信号品質判定制御部を含んで構成されればよい。そして、ベース記録ストラテジ調整部には、前記第１の実施の形態同様、パルス幅依存性測定器、ベースパルス幅選択器、消去パワー切り替え器、ベースパルス幅変更器、ベースパルス幅調整制御部などを含んでいる。さらに、ベースパワー調整部には、前記第１の実施の形態と同様の構成である、パワー依存性測定器、パワー変更器、パワー依存性測定用パルス幅変更器、ベースパワー調整制御部などを含んでいる。

このような構成にて、システムコントローラ内のベース記録ストラテジ調整部のパルス幅依存性測定器は、光ディスク１７８の判別結果に基づいて、３つの受光部のうちのいずれか一つからの再生信号の変調度を測定する。これによって、再生信号変調度差分を算出し、再生信号変調度に関するパルス幅依存性を測定する。

システムコントローラ１４０内のベース記録ストラテジ調整部のベースパルス幅変更器は、光ディスクの判別結果に基づいて、３つのレーザのうちいずれか一つのレーザを駆動するようレーザ駆動系が制御されると、いずれか一つのレーザに対するベース記録ストラテジのパルス幅を、パルス幅依存性測定器にて測定されたパルス幅依存性に基づいて、最適ベースパルス幅に変更する制御を行う。

これにより、ベース記録ストラテジ調整部は、光ディスクの判別結果に基づいて、３つの受光部のうちいずれか一つ受光部からの再生信号に基づき、再生信号変調度差分を算出し、パルス幅依存性に基づく最適ベースパルス幅にてベース記録ストラテジを生成し、３つのレーザのうちいずれか一つのレーザを駆動して、該記録ストラテジを供給する。

また、別の一局面では、ベース記録ストラテジ調整が行われる前に、システムコントローラ内のベースパワー調整部のパワー依存性測定器は、光ディスクの判別結果に基づいて、３つの受光部のうちのいずれか一つからの再生信号の変調度を測定する。これによって、変調度に関するパワー依存性を測定する。

システムコントローラ内のベースパワー調整部のパワー変更器は、光ディスクの判別結果に基づいて、３つのレーザのうちいずれか一つのレーザを駆動するようレーザ駆動系が制御されると、いずれか一つレーザに対するベース記録ストラテジの記録パワーを、パワー依存性測定器にて測定されたパワー依存性に基づいて、最適ベースパワーに変更する制御を行う。

これにより、パワー調整部は、光ディスクの判別結果に基づいて、３つの受光部のうちいずれか一つの受光部からの再生信号に基づき、変調度を算出し、パワー依存性に基づく最適ベースパワーにてベース記録ストラテジを生成し、３つのレーザのうちいずれか一つのレーザを駆動して、該ベース記録ストラテジを供給する。

このような構成では、光ディスク１７８が第１の種類（例えばＨＤ―ＤＶＤ等）の場合には、第３の実施の形態の上述した動作と同様であるが、光ディスク１７８が第２の種類（例えばＤＶＤ等）であると判別されると、第２のレーザー１１２ｂを用いてベース記録ストラテジの記録マークの記録を行う。戻り光は、第２の受光部１１６ｂにて受光され、ベース記録ステラテジ調整部内のパルス幅依存性測定器にて、第２の種類におけるパルス幅依存性が測定され、ベース記録ステラテジ調整部内のベースパルス幅選択器にて最適ベースパルス幅が選択される。ベースパルス幅変更器は、最適ベースパルス幅となるベース記録ストラテジの記録信号を生成する。

同様に、光ディスク１７８が第３の種類（例えばＣＤ等）であると判別されると、ＬＤ駆動系１７４は第３のレーザ１１２ｃを駆動させ、第３のレーザー１１２ｃを用いてテストパターンのベース記録ストラテジの記録マークの記録を行う。戻り光は、第３の受光部１１６ｃにて受光され、ベース記録ステラテジ調整部内のパルス幅依存性測定器にて、第３の種類におけるパルス幅依存性が測定され、ベース記録ステラテジ調整部内のベースパルス幅選択器にて最適ベースパルス幅が選択される。ベース記録ステラテジ調整部内のベースパルス幅変更器は、最適ベースパルス幅となるベース記録ストラテジの記録信号を生成する。

このようにして、光ディスクの種類に応じて、レーザ及び受光部の組み合わせを適宜変更し、それに応じてパルス幅依存性測定器、ベースパルス幅選択器、ベースパルス幅変更器、消去パワー切り替え器、パワー依存性測定器、などにて演算されるデータが適宜変更され、光ディスクの種類に応じたベースパルス幅調整、ベースパワー調整を行ってよい。
この際、光ディスク１７８が第１の種類の場合には、第１の種類に応じた最適ベースパルス幅でのベース記録ストラテジが生成され、光ディスク１７８が第２の種類の場合には、第２の種類に応じた最適ベースパルス幅でのベース記録ストラテジが生成され、光ディスク１７８が第３の種類の場合には、第３の種類に応じた最適ベースパルス幅でのベース記録ストラテジが生成される。

ここでは、ベースパワー調整、ベース記録ストラテジ調整の部分のみを説明したが、後工程のパワー調整、記録ストラテジ調整の場合も、同様の切替制御なので説明を省略する。

その他の構成およびその他のステップ並びにその作用効果については、前述した第３の実施の形態の場合と同一となっている。
また、上記の説明において、上述した各ステップおよび各部の動作内容をプログラム化し、コンピュータに実行させてもよい。

（第３の実施の形態の他の変形例）
さらに、前記第３の実施の形態のＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部に、前記第１の実施の形態同様に、ベースパワー調整部、ベース記録ストラテジ調整部、パワー調整部、記録ストラテジ調整部、信号品質判定制御部を含んで構成してもよい。

また、前記第３の実施の形態では、３つのレーザをそれぞれ異なる波長のレーザとしたが、３つのレーザを全て同じ波長（青色）のレーザとして構成し、光ディスクに対する照射位置を各々異なるようにしたマルチビームにて構成してもよい。この場合、光ディスクの判別機能は、例えば、ＢＤとＨＤ−ＤＶＤのみとしてもよいし、該判別機能がなくてもよい。

その他の構成およびその他のステップ並びにその作用効果については、前述した第３の実施の形態の場合と同一となっている。
また、上記の説明において、上述した各ステップおよび各部の動作内容をプログラム化し、コンピュータに実行させてもよい。

［第４の実施の形態］
次に、本発明にかかる第４の実施の形態について、図３１に基づいて説明する。ここで、以下には、前記第１の実施の形態と実質的に同様の構成ないしは処理手順に関しては説明を省略し、異なる部分についてのみ述べる。ただし、説明を省略するからといって、構成要件や処理手順がないことを意味するものではない。図３１は、本発明の情報記録再生装置の第４の実施の形態の一例を示すブロック図である。

前記第３の実施の形態では、ＨＤ−ＤＶＤ用ストラテジ調整部、ＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部を１つのシステムコントローラ内に構成した例を示したが、本実施の形態では、各々別々のハードウエア上の機能として構成としている。

具体的には、本実施の形態の情報記録再生装置２００は、図３１に示すように、前記第３の実施の形態のＨＤ−ＤＶＤ用ストラテジ調整部と同様の機能を有する回路２２０Ａを搭載した第１のＤＳＰ２２０と、前記第３の実施の形態のＣＤ／ＤＶＤ用ストラテジ調整部と同様の機能を内在した第２のＤＳＰ２２１と、第１のＤＳＰ２２０の処理に利用される情報一時記憶部（バッファ）として機能する第１のメモリ２２２と、第２のＤＳＰ２２１の処理に利用される情報一時記憶部（バッファ）として機能する第２のメモリ２２３と、前記第１の実施の形態又は前記第３の実施の形態の光学系などを含む光ピックアップ部２０１と、各種半導体レーザなどのレーザ駆動系を構成しレーザの駆動を制御するレーザ駆動回路２１０、ディスクの回転制御や光ヘッドとディスクとの相対位置関係の制御やその他の駆動系を制御するモータ駆動制御回路２１１と、光ピックアップ部２０１からなどのアナログ信号処理を行うアナログ処理ＬＳＩ２１２と、これらの制御を司るシステムコントローラ２２４と、を含んで構成される。

ここで、第１のＤＳＰ２２０、第２のＤＳＰ２２０、第１のメモリ２２２、第２のメモリ２２３、システムコントローラ２２４、レーザ駆動回路２１０、モータ駆動回路２１１、アナログ処理ＬＳＩ２１２などは、システムＬＳＩとして構成されている。

第１のＤＳＰ２２０（記録条件制御回路）は、前記第３の実施の形態の前記ＨＤ−ＤＶＤ用ストラテジ調整部と同様の機能を有する高精度ライトストラテジ回路２２０Ａの他、ＰＲＭＬ検出機能、ＬＤドライバのオートパワーコントロール機能、データエンコード／デコード機能、第２のＤＳＰ２２１との高速データＩ／Ｆ機能などを含んで構成される。

第２のＤＳＰ２２１は、ＡＴＡＰＩホストＩ／Ｆを介して他の情報処理装置と通信可能となっている。

上述のような構成からなる情報記録再生装置２００、すなわち、システムＬＳＩに含まれる制御回路としても構成でき、前記第１の実施の形態ないし第３の実施の形態と同様の作用効果を奏することのできる記録条件制御回路を提供できる。

その他の構成およびその他のステップ並びにその作用効果については、前述した実施の形態の場合と同一となっている。
また、上記の説明において、上述した各ステップおよび各部の動作内容をプログラム化し、コンピュータに実行させてもよい。

［第５の実施の形態］
次に、本発明にかかる第５の実施の形態について、図３２に基づいて説明する。ここで、以下には、前記第１の実施の形態と実質的に同様の構成ないしは処理手順に関しては説明を省略し、異なる部分についてのみ述べる。ただし、説明を省略するからといって、構成要件や処理手順がないことを意味するものではない。図３２は、本発明の情報記録再生装置の第４の実施の形態の一例を示すブロック図である。

前記第１の実施の形態では、「ベースパワー調整部」、「ベース記録ストラテジ調整部」、「パワー調整部」、「記録ステラテジ調整部」などの各部内に各々その機能専用のパルス幅変更器やパワー変更器を設ける構成（例えば図６）としたが、本実施の形態では、パワー設定器や記録ストラテジ設定器を各部の機能で共通で利用する構成としている。

具体的には、本実施の形態の情報記録再生装置のシステムコントローラ３００は、図３２に示すように、再生信号変調度に関する記録パワー依存性を測定する記録パワー依存性測定器３００と、各消去パワー条件下での各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定器３０２と、各機能の要求（各測定時や微調整などを含む）に応じて記録パワーを設定する記録パワー設定器３０３と、各機能の要求（各測定時や微調整などを含む）に応じて消去パワーを設定する消去パワー設定器３０４と、各機能の要求（各測定時や独立調整時などを含む）に応じて記録ストラテジ設定器３０５と、ＰＲＳＮＲ値などの信号品質評価値に基づいて信号品質の判定を行う信号品質判定器３０６と、これらの制御を司る主制御部３１０と、を含んで構成される。

主制御部３１０は、ベースパワー調整機能部３１１と、ベース記録ストラテジ調整機能部３１２と、パワー調整機能部３１３と、記録ストラテジ調整機能部３１４とを含んで構成される。

ベースパワー調整機能部３１１は、ベースパワーの調整を行う際に、消去パワー設定器３０４を零として記録ストラテジ設定器３０５には各パルスのパルス幅を全て同一に設定させ、記録パワー設定器３０３に対しては段階的に調整させ、その各々の段階の記録パワーでの再生信号変調度を記録パワー依存性測定器３０１にて測定させることで、再生信号変調度に関する記録パワー依存性に基づくベースパワーを決定する制御機能を有する。

ベース記録ストラテジ調整機能部３１２は、ベース記録ストラテジ調整の際に、消去パワー設定器３０４に対して一方の消去パワー条件を設定し、記録ストラテジ設定器３０５に対して各パルスのパルス幅を全て同一として、パルス幅依存性測定器３０２に対して一方の再生信号変調度を測定させ、消去パワー設定器３０４に対して他方の消去パワー条件を設定し、記録ストラテジ設定器３０５に対して各パルスのパルス幅を全て同一として、パルス幅依存性測定器３０２に対して他方の再生信号変調度を測定させて一方及び他方の各再生信号変調度の差分を演算させ、続いて、記録ストラテジ設定器３０５に対してパルスの後縁を一律に変化させるようにし、前記同様の処理を繰り返すことにより、再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性を求めた上で、最適ベースパルス幅を演算する制御機能を有する。

パワー調整機能部３１３は、パワー調整の際に、最適ベースパルス幅でのベース記録ストラテジを記録ストラテジ設定器３０５に設定させ、記録パワーを一律に変化させるよう記録パワー設定器３０３に対して制御指示し、各記録パワーでの信号品質評価値に基づく信号品質判定を信号品質判定器３０６に行わせ、最適記録パワーを求める制御を行うとともに、消去パワーに対しても同様に、最適ベースパルス幅でのベース記録ストラテジを記録ストラテジ設定器３０５に設定させ、消去パワーを一律に変化させるよう消去パワー設定器３０４に対して制御指示し、各記録パワーでの信号品質評価値に基づく信号品質判定を信号品質判定器３０６に行わせ、最適消去パワーを求める制御を行う。

記録ストラテジ調整機能部３１４は、記録ストラテジ調整の際に、トップパルスとク−リングパルスを同時に調整したり、各パルス或いは各記録マーク毎に各パルスを各々独立して調整するなどの調整を記録ストラテジ設定器３０５を使用しつつ、信号品質判定器３０６での判定にて最適なパルス幅を求める制御を行う。

以上のように本実施の形態によれば、前記第１の実施の形態と同様の作用効果を奏しながらも、このような構成とすることで、消去パワー設定器や記録ストラテジ設定器などを各機能毎に個別に設ける必要がないので、前記第１の実施の形態に比して構成の簡素化、簡略化を図ることができ、回路規模等を小型化、処理の高速化を図ることができる。

その他の構成およびその他のステップ並びにその作用効果については、前述した実施の形態の場合と同一となっている。
また、上記の説明において、上述した各ステップおよび各部の動作内容をプログラム化し、コンピュータに実行させてもよい。

[各種変形例]
ここで、本発明にかかる装置及び方法は、そのいくつかの特定の実施の形態に従って説明してきたが、本発明の主旨および範囲から逸脱することなく本発明の本文に記述した実施の形態に対して種々の変形が可能である。
例えば、上述の実施の形態では、情報記録再生装置を例に説明したが、記録装置であってもよいのは勿論である。
また、上述の実施の形態では、レーザー光の波長を４０５ｎｍ、対物レンズの開口数（ＮＡ）を０．６５の場合を一例として説明したが、これらに限定されることなく、あらゆる波長、およびＮＡに適応可能である。例えば、ＮＡは０．８５や０．６であってもよい。

また、上記実施の形態では、ＰＲ（１、２、２、２、１）というクラスを使用したが、これに代えて、ＰＲ（１、２、２、１）など他のクラスでも同様に使用することができる。

さらに、変調符号としては、ＨＤ ＤＶＤで採用されているＥＴＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ Ｔｗｅｌｖｅ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）＜８ビットのデータを１２ビットのコードに変換する方式＞の場合を想定して説明した。すなわち、ＲＬＬ（１、１０）＜ＲＬＬ：Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ ｅｎｃｏｄｉｎｇ、（ｄ、ｋ）拘束、ｄ：最小、ｋ：最大＞で記録マークの種類が２Ｔ〜１１Ｔの１０種類に、シンクコード中にあらわれる１４Ｔを加えた１１種類の記録マークのパターンを有する。
変調符号としては、このようなものに限らず、他の種々の変調符号、例えばＲＬＬ（１、７）の変調、ＲＬＬ（２、７）の変調、ＲＬＬ（２、１０）の変調、であっても、本発明の記録条件決定方法にて同様に使用できる。その場合、例えば、ＲＬＬ（２、７）の変調、ＲＬＬ（２、１０）の変調では、kＴ（kは、３以上の自然数）というような最短データ長が変わる場合もありうる。
さらに、他の変調方式として、ＥＦＭ（８ｔｏ１４ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）でもよい。

ここで、ＥＴＭの場合に、各パルス（トップ、ミドル、ラスト、クーリング）のパルス幅を変調度差分のパルス幅依存性を考慮して各々独立して調整するパルス幅独立調整部として、１１種類の記録マーク分×４＝４４個設けた構成としても構わない。

また、実施の形態では、相変化記録媒体としてＨＤ ＤＶＤを用いたが、ブルーレイディスク（ＢＤディスク）を使用しても良い。

さらに、前記実施の形態では、再生信号変調度差分に関しパルス幅依存性を測定する際に、第１の消去パワーと第２の消去パワーの２条件下にて算出する構成としたが、複数例えば３以上の消去パワー条件（例えば０ｍＷ、３ｍＷ、６ｍＷ等）であってもよい。この場合には、例えば、第１の消去パワー、第２の消去パワー、第３の消去パワーの差の絶対値にて比較するか、或いは、第１の消去パワーと第２の消去パワーでの差を算出した後、当該差と第３の消去パワーとの差を算出するようにしてもよい。

加えて、前記テストパターンの再生信号の品質評価指標として、パターン列を再生した前記再生信号に基づいて算出されるＰＲＳＮＲ値を指標としたが、ＲＦ回路部で算出されるエラーレートに基づいて品質判定を行ってもよい。この際、ＰＲＳＮＲ値での判定とエラーレートでの判定を適宜切り替えるようにしてもよい。ここで、前記ＰＩエラーレートは、実際に記録を行ったビット列と、再生されデコードされたビット列との差がどの程度あるかを示すもので、（間違ったビット数）／（数えたビットの総数）で算出する。

また、前記パワー調整部４３は、相変化記録媒体へ情報を書き込む際の記録パワー、相変化記録媒体から情報を消去する際の消去パワーをそれぞれ独立させて制御してよい。前記パワー調整部４３は、本発明の特徴であるベース記録ストラテジ調整部４２の消去パワー切り替え器とは別に、記録パワー設定器と、消去パワー設定器とを含んで構成してよい。記録パワー設定器は、相変化記録媒体へ情報を書き込む際の記録パワーを単独で調整する。消去パワー設定器は、相変化記録媒体から情報を消去する際の消去パワーを単独で調整する。さらに、ベースパワー調整部は、前記記録ストラテジの特定パルス幅条件における再生信号変調度に関する記録パワー依存性を測定し、得られた前記再生信号振幅の記録パワー依存性に基づいて記録パワーを調整する専用の記録パワー設定器をさらに別に備えてよい。

さらにまた、べース記録ストラテジ調整部は、記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを決定するものであって、前記ベース記録ストラテジのパルス幅を変化させ、前記ベース記録ストラテジを構成するそれぞれのパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させ、複数の前記ベース記録ストラテジのパルス幅を変化させる専用のパルス幅変更器を備えている。そして、このパルス幅変更器とは別に、ベースパワー調整部は、記録パワー依存性を測定する際にベース記録ストラテジを設定するための専用のパルス幅変更器（パルス幅設定器ないしは記録ストラテジ設定器と称呼することもできる）を備えてよい。さらにまた、記録ストラテジ調整部は、さらに別のパルス幅変更器を備えてよい。この際、各パルス毎、各記録マークの大きさ毎に各々独立して調整するために各独立調整用の各パルス幅変更器と、各パルス同士を相互に関連性をもたせるためのパルス関連性設定制御器とを含んで構成してよい。

また、図１３に示す再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性に関する測定情報は、再生信号変調度差分―パルス幅相関テーブル（パルス幅依存性に関するテーブル）として、システムコントローラ内外の特定の記憶領域など（例えば図３１に示すメモリでもよい）に格納することができる。この際のパルス幅依存性に関するテーブルは、データ構造として以下のようになる。すなわち、データ構造は、相変化記録媒体上にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件調整処理に用いられるデータ構造であって、互いに異なる少なくとも２つの各消去パワー条件毎に、ベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を変化させつつテストパターンを各々記録し、該各々のテストパターンからの再生信号変調度を各々測定し、一方の消去パワー条件による一方の再生信号変調度と他方の消去パワー条件による他方の再生信号変調度との差分を示す再生信号変調度差分情報と、前記再生信号変調度差分と対応づけて格納される各パルス幅情報（例えば図１３に示す特性図をテーブル化した構造）と、を含む構造とすることができる。

前記再生信号変調度差分情報、及び前記パルス幅情報は、コンピュータが、パワー調整及び記録ストラテジ調整に先立って、調整の基本となるベース記録ストラテジを構成する各パルスの、消去パワー条件に依存せず概ね一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を選択するベースパルス幅選択制御処理（例えば図１９に示すステップＳ２１３など）、を行うのに、利用される。

このデータ構造によれば、未知の相変化記録媒体の初回挿入時においては、記録（テストライト）・測定を繰り返す必要があるが、前記未知の相変化記録媒体と同種の未知の相変化記録媒体が挿入された場合には、既知となっているので、前記初回挿入時の再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性の測定データを、（特定の記憶領域に）格納されている情報を参照することで、調整初期段階における最適ベースパルス幅の決定を迅速に行うことができる。

また、図１５に示す再生信号変調度に関する記録パワー依存性に関する測定情報は、再生信号変調度―記録パワー相関テーブル（記録パワー依存性に関するテーブル）として、システムコントローラ内外の特定の記憶領域など（例えば図３１に示すメモリでもよい）に格納することができる。この際のパルス幅依存性に関するテーブルは、データ構造として以下のようになる。すなわち、データ構造は、調整前の前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスを全て同一のパルス幅で、かつ、消去パワーを零とする条件下で、記録パワーを変化させて記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度情報と、前記再生信号変調度と対応づけて格納される各記録パワー情報と（例えば図１５に示す特性図をテーブル化した構造）、を含む構造とすることができる。

前記再生信号変調度差分情報、及び前記記録パワー情報は、コンピュータが、前記ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、前記ベース記録ストラテジの記録パワーを調整制御するベースパワー調整制御処理（例えば図１７に示すステップＳ１０Ａ）、を行うのに、利用される。

このデータ構造によれば、調整初期段階ではベース記録ストラテジの調整と、このベース記録ストラテジの調整を行うための記録パワーの調整（ベースパワー調整）を行う。そして、未知の相変化記録媒体の初回挿入時においては、記録（テストライト）・測定を繰り返す必要があるが、前記未知の相変化記録媒体と同種の未知の相変化記録媒体が挿入された場合には、既知となっているので、前記初回挿入時の再生信号変調度に関する記録パワー依存性の測定データを、（特定の記憶領域に）格納されている情報を参照することで、調整初期段階における記録パワーの決定を迅速に行うことができる。

さらに、図３１に示す符号２２０Ａのような制御回路として半導体集積回路に含ませることもできる。この場合、記録条件調整制御回路（第１のストラテジ回路：ＨＤ−ＤＶＤ用ストラテジ回路）は、相変化記録媒体にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件調整制御回路であって、前記第１の実施の形態同様に、互いに異なる少なくとも２つの各消去パワー条件を切替制御する消去パワー条件切替制御手段と（例えば図４に示す符号４２ｃなど）、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を変更する制御を行うベースパルス幅変更制御手段（例えば図４に示す符号４２ｄなど）と、各前記消去パワー条件毎に記録された各テストパターンを各々再生させて、各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定する制御を行うパルス幅依存性測定制御手段（例えば図４に示す符号４２ａなど）と、前記パルス幅依存性測定制御手段での前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択制御するベースパルス幅選択制御手段（例えば図４に示す符号４２ｂなど）と、前記各手段を制御するベースパルス幅調整制御手段（例えば図４に示す符号４２ｅなど）と、を含むことができる。

この記録条件調整制御回路では、記録条件を調整する際の調整初期段階におけるベース記録ストラテジ調整を行う際に、各消去パワー条件での再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性に基づき最適ベースパルス幅を決定するための専用の制御回路を提供できる。

また、調整初期段階の記録条件決定方法は、相変化記録媒体にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件を調整するに先立って調整初期段階にて調整する調整初期段階の記録条件決定方法であって、消去パワーを固定し、調整初期段階での他の記録条件を調整すること（例えば図１７に示すステップＳ１０ＡとステップＳ１０Ｂによる処理）、を特徴としている。消去パワーは、他の記録条件と独立して調整が行えることが検証されたため、消去パワーを固定した上で、他の記録条件の調整（例えば再生信号変調度に関する記録パワー依存性に基づく記録パワーのベースパワー調整、再生信号変調度差分に関するパルス幅依存性に基づく最適ベースパルス幅の決定を含むベース記録ストラテジ調整など）を行うことで、他の調整に先立って行われる調整初期段階での調整では、局所最適に陥ることなく調整可能となる。

ここで、図２に示すＲＦ回路部も、前記記録条件調整制御回路に加え、前記半導体集積回路内に含ませることができる。その際、ＰＲＳＮＲ計算器の構成としては、例えば、図３３に示すような構成を採用することが好ましい。

（信号品質評価手段としてのＰＲＳＮＲ計算器の具体例）
ここで、ＰＲＳＮＲ計算器の説明の前に、ＰＲＳＮＲ値を算出する手法について説明すると、以下のようになる。
ＰＲＭＬは、高密度化時に精度よくデータを復号する。このＰＲＭＬでは、ノイズ成分を高めないように、再生波形を符号間干渉を有する波形にパーシャルレスポンス（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ：ＰＲ）等化（ＰＲ等化）し、ビタビ復号（ＭＬ）という手法でデータ識別を実施する。ＰＲ等化はデータ周期（クロック）毎の振幅で規定され、例えばＰＲ（ａｂｃ）は時刻０での振幅がａ、時刻Ｔでの振幅がｂ、時刻２Ｔの時の振幅がｃ、それ以外の時刻での振幅は０となる。振幅が０でない成分の総数は拘束長と呼ばれる。密度向上には拘束長の長いパーシャルレスポンス波形を用いることが有効である。

例えば、ＰＲ（１、２、２、２、１）特性では、符号ビット「１」に対する再生信号が「１２２２１」となる特性のことを表す。符号ビット系列とＰＲ特性を表す系列１２２２１との畳み込み演算が再生信号となる。例えば、符号ビット系列０１００００００００に対する再生信号は０１２２２１００００となる。同様に、符号ビット系列０１１０００００００の再生信号は、０１３４４３１０００、０１１１００００００の再生信号は、０１３７６５３１００、符号ビット系列０１１１１０００００の再生信号は００１３５７７５３１０、符号ビット系列０１１１１１００００の再生信号は、０１３５７８７５３１となる。ＰＲ（１、２、２、２、１）特性では、再生信号は９つのレベルになる。このような畳込演算により算出された再生信号は理想的な再生信号（パス）である。

実際の再生信号は、必ずしもＰＲ（１、２、２、２、１）特性になっておらず、雑音等の劣化要因も含まれる。そこで、ＰＲＭＬでは、等化器を用いて再生信号をＰＲ特性に近づけ（ＰＲ特性に近づいた再生信号を等化再生信号と呼ぶ。）、その後、ビタビ復号器を用いて、等化再生信号とのユークリッド距離が最も小さいパスを選択する。このパスと符号ビット系列は、１対１の関係である。ビタビ復号動作を行うビタビ復号器は、選択したパスに対応する符号ビット系列を復号２値データとして出力する。ＰＲＭＬを用いたシステムでは、再生信号は２値ではなく３値以上、いわゆる多値となる。スライス識別検出では適当なスライスでピットの有無を判定し、２値等化してデータを再生する。

ビタビ復号では、クロック周期毎に、再生信号の値とパーシャルレスポンスで定められる所定のレベルとの差の自乗を算出し、各パスに沿ってその自乗和を算出し、自乗和が最小となるパスを選択することにより、データの復号が行われる。

ここで、パス間の差とは信号レベルの時系列の差を表すものである。例えば、（−４、−３、−１、１、３）という信号レベルの時系列（この場合５時刻分を表記）を持つパスと（−３、−１，１，３，４）という信号レベルの時系列を持つパスの差を求めると、両時系列の差は（１，２，２，２，１）あるいは（−１、−２、−２、−２、−１）となる。この時系列の差の距離をユークリッド距離といい、ベクトル距離である。この場合は１×１＋２×２＋２×２＋２×２＋１×１＝１４となる。

ビタビ復号で検出誤りが起きやすいのは、パス間のユークリッド距離が小さい場合である。異なるパス間のユークリッド距離ｄは、
一方のパスに沿ったデータ列（パスに対応する符号ビット系列）ｂｋで定められる多項式をＢ（Ｄ）＝ΣｂｋＤｋ、
他方のパスに沿ったデータ列ｃｋ（ｂｋ、ｃｋは１もしくは−１の２値データ）で定められる多項式をＣ（Ｄ）＝ΣｃｋＤｋ、パーシャルレスポンスを規定する多項式Ｈ（Ｄ）＝ΣｈｋＤｋとして、
Ｎ（Ｄ）＝（Ｂ（Ｄ）―Ｃ（Ｄ））Ｈ（Ｄ）＝２ΣεiＤｉとして、
ｄ^２＝４Σεi^２で定義される。

ここで、Ｄは、クロック時間を単位とする時間遅延演算子を表し、ｈｋは、所定のパーシャルレスポンス特性を表す。パーシャルレスポンス特性は、一般に０でないｈｋの成分を使用してＰＲ（ｈ０、ｈ１、ｈ２、ｈ３、・・）と記述される。

パーシャルレスポンス特性をｈ_０＝１，ｈ_１＝２，ｈ_２＝１，ｈ_３以降はすべて０（この場合ＰＲ(１、２、１)と表現される）とし、
データ列ｂ_ｋをｂ_０＝１，ｂ_１＝１，ｂ_２＝−１，ｂ_３以降はすべて−１、
また、データ列ｃ_ｋをｃ_０＝−１，ｃ_１＝１，ｃ_２＝１，ｃ_３以降はすべて−１とする。
この場合、データ列ｂ_ｋに沿ったパスとデータ列ｃ_ｋに沿ったパス間のユークリッド距離は、Ｎ（Ｄ）＝２（１−Ｄ^２）（１＋２Ｄ＋Ｄ^２）＝２×（１＋２Ｄ−２Ｄ^３−Ｄ^４）からｄ^２＝４×（１×１＋２×２＋２×２＋１×１）と求められる。

２値データを表現するのに１／０の組み合わせを用いる場合と、１／―１の組み合わせを用いる場合があるが、例えば、1／―１の組み合わせを用いて説明する。

ここで、１／０の組み合わせを用いた場合の波形の振幅は、1／―１の組み合わせを用いた場合における波形の振幅の１／２となるので、数６から数８で定義されている評価値Ｓ_１〜Ｓ_３の分子を１／４にすれば良い。すなわち、３．５あるいは３とすれば良い。

ＰＲ多項式が規定されると、各々のε_ｉの組み合わせについてパス間のユークリッド距離を算出できる。ここで、相変化記録媒体では、例えば、d>＝１のラン長制限の記録符号が用いられ、例えば、ｄ＝１の記録符号の場合、ディスク上には２Ｔ以上の長さのマークが記録される。この制限をユークリッド距離算出において考慮するには、タップ係数ε_ｉの組み合わせについてε_iε_i+1≠−１という制約を課せば良い。すなわち、ε_iε_i+1＝−１を満たすデータ列は例えば、データ列ｂ_ｋとして、(ｘ、１、−１、ｙ)、データ列ｃ_ｋとして、(x、−１、１、ｙ)が考えられる。しかしながら、ｄ＝１の制限下では、（１、−１、１)もしくは（−１、１、−１）というパタンは禁じられているので、ｘ＝−１もしくはｙ＝１の場合にはデータ列ｂ_ｋがラン長制限を破るパタン（存在し得ないパタン）となり、また、ｘ＝１もしくはｙ＝―１の場合にはデータ列ｃ_ｋがラン長制限を破るパタンとなる。そのため、ラン長制限を満たしつつ、ε_iε_i+1＝―１を満足するデータ列ｂ_ｋ、ｃ_ｋの組み合わせは存在しないこととなる。また、ディスク上に記録されるマークの長さが３Ｔ以上の場合にはε_iε_i+1≠―１、かつ、ε_iε_i+2≠―１の制約を課せば良い。

ユークリッド距離がｄの２つのパス間で検出誤りが起こる確率は、例えば、データ列ｂ_ｋを基準に考えると、ノイズの影響によりΣ（ｙ_ｋ−Σｂ_ｋ−ｉｈ_ｉ）^２がΣ（ｙ_ｋ−Σｃ_ｋ−ｉｈ_ｉ）^２より大きくなる確率と等価である。データ列ｂ_ｋを基準に考えた場合、ｙ_ｋ−Σｂ_ｋ−ｉｈ_ｉは等化誤差である。また、Σ（ｙ_ｋ−Σｂ_ｋ−ｉｈ_ｉ）^２とΣ（ｙ_ｋ−Σｃ_ｋ−ｉｈ_ｉ）^２の大小関係は、Ｂ（Ｄ）Ｈ（Ｄ）とＣ（Ｄ）Ｈ（Ｄ）の差で定義される多項式の係数をベクトルの成分と見なしてエラーベクトルを定義し、そのエラーベクトル上に等化誤差を射影して考えても良い。

この場合、検出誤りが起こる確率は、エラーベクトル上に射影されたノイズの大きさ（ノイズの分散）が、パス間のユークリッド距離の半分より大きくなる確率で定義される。従って、パス間のユークリッド距離とエラーベクトル上に射影されたノイズの分散の比を算出することで、信号品質を推定できる。
ここで、基準となるデータ列は、記録条件の調整時など事前にデータが分かっている場合にはそのデータ列を、また、データが分からない場合には、確からしいデータである、ビタビ復号器により２値化されたデータを用いれば良い。

データ列ｂ_ｋをｂ_０＝―１、ｂ_１＝１、ｂ_２以降すべて１、また、データ列ｃ_ｋをｃ_０＝１，ｃ_１以降もすべて１とすると、Ａ（Ｄ）＝Ｃ（Ｄ）−Ｂ（Ｄ）＝２Σα_ｊＤ_ｊにおいて、α_０＝１、α₁以降はすべて０となる。
例えば、Ｈ（Ｄ）として、ｈ_０＝１，ｈ_１＝２，ｈ_２＝２，ｈ_３＝１を用いる場合（ＰＲ（１、２、２、１）に相当）、エラーベクトルを規定する多項式Ｎ（Ｄ）＝Ａ（Ｄ）Ｈ（Ｄ）＝２Σε_ｉＤ_ｉの係数ε_ｉはε_０，ε_１，ε_２，ε_３の順に(１、２、２、１)となる。したがって、ＰＲ（１、２、２、１）に対して、上記データ列ｂ_ｋを上記データ列ｃ_ｋと誤る確率は、２×（１、２、２、１）上に射影された等化誤差の大きさが２つのパス間のユークリッド距離（この場合は、２×（１＋２×２＋２×２＋１）^１／２）の半分より大きくなる確率となる。等化誤差のエラーベクトル上への射影は、下記式

で表されるので、エラーベクトル上に射影されたノイズの分散ＣＮは下記式

で表されることとなる。信号振幅に相当する２つのパス間のユークリッド距離の半分
は、下記式

であり、電力に相当するその振幅の自乗Ｅは下記式

であるので、Ｅ／ＣＮが誤り確率と相関を有する指標として求められる。
ここで、Ａ（Ｄ）及びＮ（Ｄ）の全体にかかる係数２は、計算結果に影響を与えないので、係数２を省略して、Ａ（Ｄ）＝Σα_ｊＤ_ｊ、Ｎ（Ｄ）＝Σε_ｉＤ_ｉとして式を算出してもよい。

以上のように、クロック周期毎の等化再生信号の値ｙ_ｋ、目標信号生成のための所定のデータ列ａ_ｋ、
所定のパーシャルレスポンス特性ｈ_ｋに対して、等化誤差をｖ_ｋ＝（ｙ_ｋ−Σａ_ｋ−ｉｈ_ｉ）、クロック時間を単位とする時間遅延演算子をＤ、
１、０、―１の３種類のいずれかの値を取り、かつ、α_j α_j+1≠―１を満足する係数をα_jとして定義される多項式をＡ（Ｄ）＝Σα_ｊＤ_ｊ、パーシャルレスポンスを規定するＰＲ多項式をＨ（Ｄ）＝Σｈ_ｋＤ_ｋとし、
Ｎ（Ｄ）＝Ａ（Ｄ）Ｈ（Ｄ）＝Σε_ｉＤ_ｉで定義される多項式に基づいて、下記式

で定義される信号品質評価値を算出し、検出誤りを起こす確率、すなわち再生信号の信号品質を評価することが好ましい。

ここで、数式５にて、誤りやすいデータ列の組み合わせの一例として、上記では、ｂ_ｋとｃ_ｋを引用して説明を行ったが、エラーベクトル上に射影されたノイズの分散を算出する際、必ずしも、特定のデータ列のみを選択して等化誤差を算出する必要はない。
すなわち、目標信号生成のためのデータ列ａ_ｋの中からデータ列ｂ_ｋに相当する時刻を抽出して等化誤差の分散を算出する必要はなく、毎クロック時刻毎に算出された等化誤差を用いて分散を算出することができる。これは、等化誤差がガウス分布に従って確率的に分布しているのであれば、特定部分を抽出して分散を算出しても、全体を用いて分散を算出しても結果は変わらないからである。もちろんある特定のデータ列ｂ_ｋにのみ着目してノイズの分散を計算しても良いが、パターンを選別せずに等化誤差の分散を算出する方が回路構成などがより簡略化できる。

ここで、パーシャルレスポンス特性として、ｈ_０＝１，ｈ_１＝２，ｈ_２＝２，ｈ_３＝２，ｈ_４＝１を用い、前記ｄが１２及び１４となる前記εの組み合わせそれぞれに対して得られる前記Ｓの値を算出する場合を例に説明すると、ｈ_０=１、ｈ_１=２、ｈ_２=２、ｈ_３=２、ｈ_４=１、ｈ_５以降はすべて０でとなる。パス間のユークリッド距離は、ＰＲＭＬ方式を採用したシステムにおける信号成分に相当する。

ＰＲ(１，２，２，２，１)特性と最小ランレングス１の記録２値データとを組み合わせた場合、パス間のユークリッド距離の小さいεｉとｄ²は、表１のようになる。

（１−ｋ）変調は、ｄ＞＝１制限の符号であり、ＰＲ（１，２，２，２，１）に対しては、表１に挙げたタップ係数ε_ｉに対してユークリッド距離が小さくなる。表１のパタン１で識別したε_ｉの組み合わせ（１２２２１）は、ビタビ検出で誤りやすい２組のデータ列、例えば、ｂ_ｋ：（１１１１−１−１．．．）とｃ_ｋ：（−１１１１−１−１．．．）と、パーシャルレスポンス等化特性（１２２２１）から定められるエラーベクトルである。ここで、表１に示したパタン２以降のタップ係数ε_ｉの組み合わせに対しては、２Ｔのマーク／スペースが連続する回数の上限（データ列として＋１＋１−１−１が連続する回数の上限：−１−１−１＋１＋１−１−１−１のような場合には１回、−１−１−１＋１＋１−１−１＋１＋１＋１のような場合には２回と数える）によって、（１，２，１）と（−１，−２，−１）の間の０の数及び（１，２，１）と（１，２，１）の間に入る０の上限が決まる。すなわち、２Ｔのマーク／スペースが連続する回数の上限が（２ｎ＋１）回の場合、（１，２，１）と（−１，−２，−１）の間には最大（４ｎ＋１）個の０が入り、連続する回数の上限が（２ｎ＋２）回の場合には、（１，２，１）と（１，２，１）の間には最大（４ｎ＋３）個の０が入ることになるので、その上限までのパタンを考慮して信号品質評価指標値ＰＲＳＮＲを算出すれば良い。表１には、２Ｔの連続が最大５までの場合のタップ係数ε_ｉの例を示してある。

等化誤差がパターン１に与える影響は、

Σ（v_k＋２v_k+1＋２v_k+2＋２v_k+3＋v_k+4）²＝
N*（１４R₀＋２４R₁＋１６R₂＋８R₃＋２R₄）、
（Ｒ_i＝Σv_kv_k+i／Nと定義）

と表現でき、パターン１に対する雑音成分に相当する。同様に、等化誤差がパターン2、3に与える影響は、

Σ（v_k＋２v_k+1＋v_k+2−v_k+4−２v_k+3−v_k+4）²＝
N*（１２R₀＋１６R₁＋２R₂−８R₃−１２R₄−８R_５―２R₆）

Σ（v_k＋２v_k+1＋v_k+2＋v_k+6＋２v_k+7＋v_k+8）²＝
N*（１２R₀＋１６R₁＋４R₂＋２R₄＋８R₅＋１２R₆＋８R₇＋２R₈）

と表現でき、各々パターン２，３に対する雑音成分に相当する。ここで、Ｒ_iは、等化誤差の自己相関に相当する。したがって、パターン１のＳＮＲである信号対雑音比を示す第１の信号品質評価値Ｓ１は、次式で与えられる。

同様に、パターン２、３の信号対雑音比を示す第２の信号品質評価値Ｓ２、第３の信号品質評価値Ｓ３は、次式で与えられる。

このように、信号品質評価手段としてのＰＲＳＮＲ計算器は、パーシャルレスポンス特性として、ｈ_０＝１，ｈ_１＝２，ｈ_２＝２，ｈ_３＝２，ｈ_４＝１を用い、等化誤差ｖ_ｋ及びサンプル数Ｎに対してＲ_ｉ＝Σｖ_ｋｖ_ｋ＋１／Ｎとし、前記数２式、数３式、数４式で表される第１の信号品質評価値Ｓ_１，第２の信号品質評価値Ｓ_２，第３の信号品質評価値Ｓ_３の値を調べて信号の品質を評価することが好ましい。

信号対雑音比が低いほど、再生信号の品質が劣悪である。Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３の中、最も低い値のものを再生信号品質のＳＮＲとし、ＰＲＳＮＲと呼ぶ。

図２に示した信号品質評価手段としてのＰＲＳＮＲ計算器２７の一例を詳細に示したのが図３３である。図３３は、このようにして表現されたＳの値を算出するためのＰＲＳＮＲ計算器２７の機能ブロックの構成の１例である。図３３に示した機能ブロックにより上記のＳの分母を算出することができる。

図２では、再生波形をＡＤ変換器により一定周波数でサンプリングした後、ＰＬＬ（位相同期ループ）回路、適応等化器によりクロック周期毎の等化再生波形データが得られる。等化は、ノイズ成分をできるだけ抑制しつつ、再生波形がＰＲ波形に基づく目標波形にできるだけ近づくように等化される。信号品質評価手段としてのＰＲＳＮＲ計算器２７は、入力した等化再生波形を用いて信号品質評価指標値ＰＲＳＮＲ値であるＳを算出して、再生波形の品質評価を行う。ここで、再生専用の光ディスクの場合や他の記録装置で記録された記録可能な光ディスクの場合、光ディスクに記録された元データａ_ｋは常に予め知られているとは限らない。この場合は、識別器であるビタビ復号器により２値化されたデータをａ_ｋとして代用すれば良い。

そして、図３３において、基準のＰＲ波形をｈ_ｉ、識別器であるビタビ復号器により識別された２値化データをａ_ｋとすると、目標信号生成器により目標信号Ｒ_ｋが下記式

に基づいて生成され、等化されたクロック周期毎の再生信号（等化信号）ｙ_ｋと目標信号Ｒ_ｋとの差である等化誤差ｖ_ｋが比較演算器により求められる。等化誤差ｖ_ｋをエラーベクトル上に射影するため、遅延器（タップ）によりクロック周期毎に等化誤差ｖ_ｋを遅延させる構成となっている。タップ係数を介して足し合わされた等化誤差Σε_ｉ×ｖ_ｋ＋ｉを乗算器で自乗する。

図３３においてＲｉは等化誤差の自己相関に相当する。等化誤差の自己相関を計算し、それらを所定の重み付け（乗算器により係数α_iを乗算）を行った後、和を取る構成となっている。乗算器６１の係数α_iは、例えばＳ１を算出するには、Ｓ１の分子を１４×１４とした場合は、α₀=１４、α₁=２４、α₂=１６、α₃=８、α₄=２、Ｓ１の分子を１４とした場合はα₀=１４／１４、α₁=２４／１４、α₂=１６／１４、α₃=８／１４、α₄=２／１４とすれば良い。
図３３における乗算器の個数は、算出するＳｊにより変化し、上記のＳ３を求めるには９個の乗算器が必要となる。この場合もパターンによって乗算器の個数を変化させるのが煩雑な場合は、十分多い（１５〜２０個程度）乗算器を確保しておき、演算に関係ない乗算器の係数を０にしておけば良い。

加算器により足し合わせることで、エラーベクトル上に射影されたノイズの分散に比例する値が求められる。除算器により値の逆数を取り、乗算器で（ＮΣε_ｉ ^２）×Σε_ｉ ^２との積を取ることで信号品質評価指標値ＰＲＳＮＲの値Ｓが求められる。
ＰＲＳＮＲ値が高いほど、信号品質が良好であるので、ＰＲＳＮＲ値が高くなるように、記録条件を調整すればよい。

パターン４、５、６の信号対雑音比も同様に求めることができる。したがって、パターン１乃至６の信号対雑音比を求め、その最小値をＰＲＳＮＲとすることもできる。しかし、一般にパターン４、５、６の生起確率は、パターン１、２、３に比べ低い。測定の容易さのため、例えば、パターン１、２、３からＰＲＳＮＲを求めることが好ましい。また、パス間のユークリッド距離がより大きいパターンの信号対雑音比も同様にして求めることが好ましい。より正確に信号品質を評価するため、それらのパターンに対する信号対雑音比も含めて、ＰＲＳＮＲを求めることもできる。ＰＲＳＮＲは、ビットエラーレート（ＢＥＲ）ともよく対比する。

図３３におけるＬＰＦ（ローパスフィルタ）は、平均演算手段によって実現しても良く、平均演算手段の一例としてＬＰＦ、デジタル演算による平均演算などが挙げられる。ここで、図３３において平均を取らない（サンプル総数Ｎで割らない）構成を取ることもでき、その場合は、単に和を取ってＳの分子（この例では１２あるいは１４）にＮをかければ良い。

上記では、誤りやすいデータ列を判別せずに毎クロック時刻毎の等化誤差に基づいて信号品質評価を行う実施の形態について記述してきたが、誤りやすい所定のデータ列を判別して、そのデータ列に対する等化誤差を用いて光ディスクの信号品質を評価することも可能である。この場合、予め設定されたパタンについてのみ等化誤差をその後の処理ブロックに出力する判別器を、ローパスフィルタの前段に設けてもよい。

ここで、表１に示した信号品質評価値Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３（パターン１、２、３）以外の信号品質評価値Ｓの値、或いは、任意のタップ係数εｉの組み合わせに対しても、同様にして、自己相関の関数として信号品質評価値Ｓを算出できる。

（種々のパターンについて）
その他、ＰＲ（１、２、２、１）とd>=1の記録符号を用いる場合は、表２に挙げたパタンについて信号品質評価値Ｓの値を評価すれば良い。また、より簡略にパタン１及びパタン２についてのみ信号品質評価値Ｓの値を評価しても良い。

さらに、その他、上記表１に示したパタンと極性が反対のパタン（例えばパタン１に対しては、（−１−２−２−２−１））も考えられるが、求められる信号品質評価指標値ＰＲＳＮＲの値Ｓは同一であるので、決まった極性（もしくはどちらの極性でもかまわないが、両方を評価する必要はない）のパターンのみ考慮しておけば良い。

その他、ＨＤ―ＤＶＤの評価指標では、ＰＲＳＮＲ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｓｉｇｎａｌ−ｔｏ−Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）の他（或いはそれに加えて）、ＳｂＥＲ（Ｓｉｍｕｌａｔｅｄ ｂｉｔ Ｅｒｒｏｒ Ｒａｔｅ）＜全体の推定ビットエラー率＞などを利用する場合であってもよい。さらに、信号評価としては、信号Ｉ１によるＰＲＳＮＲ１と、信号Ｉ２によるＰＲＳＮＲ２とに基づくＰＲＳＮＲとして利用する構成であってもよい。
この際、ＳｂＥＲは、以下のようにして算出することができる。ＰＲＭＬ識別方式において、ある記録２値パターンＴが別の２値パターンＦに誤識別される確率を考える。パターンＴがパターンＦに誤識別される条件は、等化再生信号をＳ、パターンＴ，Ｆのパスを各々ＰＴ、ＰＦとしたとき、

となる。ただし、E_PF,S は、パスPFと再生信号Sとのユークリッド距離、E_PT,S は、パスPTと再生信号Sとのユークリッド距離を表す。信号P１と信号P2とのユークリッド距離は、

で与えられる。
ＴのＦへ誤識別が発生する確率は、累積したＤ値の分布（図10）を正規分布と仮定し、その平均、標準偏差を各々μ、σとすると、

と表される。誤りの発生し易いパターン対Ｔ，Ｆに対し、F(0)を求めることで、ｂＥＲ（ビットエラー）の推定値ＳｂＥＲ、

が求められる。ただし、Ｃ_Ｔは、パターンＴの発生確率、Ｈ_Ｔ，Ｆは、ＴとＦのハミング距離を示す。このような演算処理を可能とするビットエラー算出手段を信号品質評価手段の一例として構成してもよいし、前記半導体集積回路の制御回路に含ませることも可能となる。

さらに、情報記録再生装置（例えば第３の実施の形態）に装填可能な相変化記録媒体としては、ＣＤ―Ｒ、ＣＤ―ＲＷ、ＨＤＤＶＤ（ＨＤＤＶＤ−Ｒ−ＳＬ＜1層＞、 ＨＤＤＶＤ−Ｒ−ＤＬ＜２層＞、ＨＤＤＶＤ−ＲＷ−ＳＬ、ＨＤＤＶＤ−ＲＷ−ＤＬ、ＤＶＤ±Ｒ−ＳＬ、ＤＶＤ±Ｒ−ＤＬ、ＤＶＤ±ＲＷ−ＳＬ、ＤＶＤ±ＲＷ−ＤＬ、Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｋ＜登録商標＞（ＢＤ−ＲーＳＬ、ＢＤ−Ｒ−ＤＬ、ＢＤ−ＲＥ−ＳＬ、ＢＤ−ＲＥ−ＤＬ）などが挙げられる。

また、情報記録再生装置とＡＴＡＰＩホストインターフェース或いはその他の各種通信インターフェースを介して情報処理装置と接続されたシステムを構成してよい。また、情報記録再生装置と情報処理装置との間の通信構造に際し、いずれか一方又は双方に形成されるインタフェースの種類は、例えばパラレルインタフェース、ＵＳＢインタフェース、ＩＥＥＥ１３９４、ＬＡＮやＷＡＮ等のネットワークやその他これに類するもの、もしくは今後開発される如何なるインタフェースであっても構わない。

加えて、複数の情報記録再生装置を配列した情報処理装置やデュプリケータなどにおいて、各部に対応するパルス幅依存性測定器を複数配設し、それらを一のコントローラが制御する構成としてもよい。

さらに、「通信」では、無線通信および有線通信は勿論、無線通信と有線通信とが混在した通信、即ち、ある区間では無線通信が行われ、他の区間では有線通信が行われるようなものであってもよい。さらに、ある装置から他の装置への通信が有線通信で行われ、他の装置からある装置への通信が無線通信で行われるようなものであってもよい。

そして、この通信には通信網が含まれる。通信網を構成するネットワークとしては、例えばインターネット（乃ち、ＴＣＰ・ＩＰプロトコルを用いた通信態様）やイントラネット、ＬＡＮ、ＷＡＮ、光ファイバー通信網などなどいずれのハードウエア構成でもよく、これらを含むファイバチャネルネットワークを含んでよい。
さらに、ネットワークは、ＴＣＰ・ＩＰプロトコルの他、種々の通信プロトコルを用いたネットワークあるいはソフトウエア的に構築された仮想ネットワークやこれに類するあらゆるネットワークを含むネットワークなどいかなる通信プロトコルであってもよい。また、ネットワークは、有線に限らず、ＩＥＥＥ８０２．１１ｂに準拠した無線ＬＡＮのようなスペクトラム拡散通信システム、ＩＥＥＥ８０２．１１ａやＨｉｐｅｒＬＡＮ／２のようなマルチキャリア通信システム、などを含むネットワーク）であっても構わず、これらの組み合わせを利用してもよく、他のネットワークと接続されたシステムであってもよい。

（プログラム）
また、前述した実施の形態の機能を実現する本発明の情報記録再生装置の制御に用いられるソフトウエアのプログラム（制御プログラム）は、前述した各実施の形態における図１、図２、図３、図４、図５、図６、図７、図８、図９、図２８、図２９、図３０、図３１、図３２、及び図３３等に示す各種ブロック図などに示された各部、各回路（処理部、処理手段）、機能などに対応したプログラムや、図１７、図１８、及び図１９等に示すフローチャートなどに示された処理手順、処理手段、機能などに対応したプログラムや、図１２、図１３、図１４、図１５、図２６、図２７に示すデータ構造を利用するプログラム、（上述の各実施の形態の情報記録再生装置など）において各々処理される各処理プログラム、本明細書で全般的に記述される方法（ステップ）、説明された処理、データ（例えば、パルス幅依存性を示すデータ、パワー依存性を示すデータ等）のデータの全体もしくは各部を含む。
すなわち、以上の説明では、本発明の実施形態を、ハードウェアとしての情報記録再生装置として構築したが、これに限られるものではない。本発明の実施形態は、上述した情報記録再生装置の機能をコンピュータに実行させるプログラムとして構築してもよいものである。

プログラムは、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等、ソースプログラム・中間コードプログラム・実行形式プログラムなどのプログラムの形態を問わない。プログラムは、高水準プロシージャ型またはオブジェクト指向プログラミング言語で、あるいは必要に応じてアセンブリまたはマシン言語で実装することができる。いずれの場合も、言語はコンパイラ型またはインタープリタ型言語であってもよい。上述の制御プログラムを、一般のパソコンなどで動作可能なアプリケーションソフトに組み込んだものも含む。

また、本発明の制御プログラムを開発するためのソフトウエア及びその装置もプログラムに含めることができる。

制御プログラムを供給する手法としては、電気通信回線（有線、無線を問わない）によってコンピュータと通信可能に接続された外部の機器から前記電気通信回線を通じて提供することも可能である。例えば、コンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続し、該ホームページからプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードすることによっても供給できる。また、プログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるサーバも、本発明の範囲に含まれるものである。

本発明の制御プログラムの一態様では、相変化記録媒体上にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件を決定制御する記録条件決定用の制御プログラムであって、コンピュータに、他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段（例えば図３に示す符号４２など）と、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整手段（例えば図３に示す符号４３など）と、前記パワー調整手段による調整後に、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段（例えば図３に示す符号４４など）として機能させることができる。前記ベース記録ストラテジ調整手段は、前記パターン列を消去する消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定することもできる。

また、本発明の制御プログラムの他の態様では、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を光照射によって記録を行う記録条件を決定する制御を行う制御プログラムであって、コンピュータに、前記記録マークを消去する消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の各消去パワー条件を切替制御する消去パワー条件切替制御手段（例えば図４に示す符号４２ｃなど）と、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルスと逆極性のパルスをクーリングパルスとした時、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅を変化させるベースパルス幅変更制御手段（例えば図４に示す符号４２ｄなど）と、前記２種類の各消去パワー条件下にて記録された各パターン列を各々再生し、再生された各記録マークの各々の再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段（例えば図４に示す符号４２ａなど）と、前記パルス幅依存性測定制御手段にて測定されたパルス幅依存性に基づいて、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの好ましいパルス幅を選択するベースパルス幅選択制御手段（例えば図４に示す符号４２ｂなど）として機能させることができる。

さらに、本発明の制御プログラムの他の態様では、相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて記録パワー、消去パワー、バイアスパワーの少なくとも３値の間で強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を記録する記録条件を決定する制御を行う制御プログラムであって、コンピュータに、前記消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の消去パワー条件下で、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を一律に変化させつつ記録を行うベースパルス幅変更記録ステップ（例えばステップＳ２０５、ステップＳ２０７、ステップＳ２１１による処理など）と、前記２種類の各消去パワー条件下にて各々記録された各パターン列を各々再生し、前記各消去パワー条件下での各再生信号変調度の差に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定ステップ（例えばステップＳ２０６、ステップＳ２０８、ステップＳ２０９、ステップＳ２１１による処理など）と、前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御ステップ（例えばステップＳ２１３など）と、
含む処理を実行させることができる。

本発明の制御プログラムによれば、当該制御プログラムを格納するＲＯＭ等の記憶媒体から、当該制御プログラムをコンピュータ（ＣＰＵ）に読み込んで実行させれば、或いは、当該制御プログラムを、通信手段を介してコンピュータにダウンロードさせた後に実行させれば、上述した本発明に係る記録装置を比較的簡単に実現できる。発明の思想の具現化例として記録装置のソフトウェアとなる場合には、かかるソフトウェアを記憶した記憶媒体上においても当然に存在し、利用される。

また、制御プログラムは、一次複製品、二次複製品などの複製段階については全く問はず、いずれの状態のプログラムも本発明の範囲に含まれる。プログラムの供給方法として通信回線を利用して行なう場合であれば通信回線が伝送媒体となって本発明が利用されることになる。むろん、プログラムの発明として特定することもできる。さらに、装置における従属請求項を、方法，プログラムにおける従属請求項として装置の従属請求項に対応した構成にすることも可能である。

（情報記録媒体）
また、制御プログラムを、情報記録媒体に記録した構成であってもよい。情報記録媒体には、制御プログラムを含むアプリケーションプログラムが格納されており、コンピュータが当該情報記録媒体からアプリケーションプログラムを読み出し、当該アプリケーションプログラムをハードディスクにインストールすることが可能である。これにより、上述のプログラムは、磁気記録媒体、光記録媒体あるいはＲＯＭなどの情報記録媒体に記録してプログラムを提供することができる。そのようなプログラムが記録された情報記録媒体を、コンピュータにおいて使用することは、好都合な情報処理装置を構成する。

プログラムを供給するための情報記録媒体としては、例えばＲＯＭ、ＲＡＭ、フラッシュメモリやＳＲＡＭ等の半導体メモリ並びに集積回路、あるいはそれらを含むＵＳＢメモリやメモリカード、光ディスク、光磁気ディスク、磁気記録媒体等を用いてよく、さらに、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ―Ｒ、ＣＤ―ＲＷ、ＦＤ、ＤＶＤＲＯＭ、ＨＤＤＶＤ（ＨＤＤＶＤ−Ｒ−ＳＬ＜1層＞、 ＨＤＤＶＤ−Ｒ−ＤＬ＜２層＞、ＨＤＤＶＤ−ＲＷ−ＳＬ、ＨＤＤＶＤ−ＲＷ−ＤＬ、ＨＤＤＶＤ−ＲＡＭ−ＳＬ）、ＤＶＤ±Ｒ−ＳＬ、ＤＶＤ±Ｒ−ＤＬ、ＤＶＤ±ＲＷ−ＳＬ、ＤＶＤ±ＲＷ−ＤＬ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｋ＜登録商標＞（ＢＤ−ＲーＳＬ、ＢＤ−Ｒ−ＤＬ、ＢＤ−ＲＥ−ＳＬ、ＢＤ−ＲＥ−ＤＬ）、ＭＯ、ＺＩＰ、磁気カード、磁気テープ、ＳＤカード、メモリスティック、不揮発性メモリカード、ＩＣカード、等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置、等に記録して構成して用いてよい。

さらに「情報記録媒体」は、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの（伝送媒体ないしは伝送波）、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。

また、コンピュータ上で稼働しているＯＳ、端末（例えば携帯電話など）上のＲＴＯＳ等が処理の一部又は全部を行う場合にも、上記実施の形態と同等の機能を実現できると共に、同等の効果を得ることができる。

さらに、プログラムを暗号化して記録媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせ、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。この場合、本発明の構成は、制御プログラムの各構成要素（各種の手段＜回路・各部＞、ステップ及びデータ）と、前記制御プログラム（各種の手段＜回路・各部＞）、ステップ及びデータ）を暗号化する暗号化手段と、を含んでよい。

さらに、上述の制御プログラムなどが搭載される情報処理装置としては、サーバは、例えばパーソナルコンピュータに限らず、各種サーバー、ＥＷＳ（エンジニアリングワークステーション）、中型コンピュータ、メインフレームなどが挙げられる。情報端末は、以上の例に加えて、携帯型情報端末、各種モバイル端末、ＰＤＡ、携帯電話機、ウエアラブル情報端末、種々の（携帯型などの）テレビ・ＤＶＤレコーダ・各種音響機器及びそのリモコン、各種情報通信機能を搭載した家電機器、ネットワーク機能を有するゲーム機器等からも利用できる構成としても構わない。あるいは、これらの端末に表示されるアプリケーションとして改良されたものも本発明の範囲に含めることができる。

また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。

ここで、本明細書において、フローチャートに示されるステップは、記載された手順に従って時系列的に行われる処理はもちろん、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別に実行される処理を含むものである。また、実装では、プログラム手順（ステップ）が実行される順序を変更することができる。さらに、実装の必要に応じて、本明細書で説明した特定の手順（ステップ）を、組み合わされた手順（ステップ）として実装、除去、追加、または再配置することができる。

さらに、情報記録再生装置の各手段（各部・各回路）、各機能、各ステップの手順の機能などのプログラムの機能を、専用のハードウエア（例えば専用の半導体回路等）によりその機能を達成してもよく、プログラムの全機能のうち一部の機能をハードウエアで処理し、全機能のうちさらに他の機能をソフトウエアで処理するようにしてもよい。専用のハードウエアの場合、各部を集積回路例えばＬＳＩにて形成されてもよい。これらは個別に１チップ化されても良いし、一部または全部を含むように１チップ化されても良い。また、ＬＳＩには、ストリーミングエンジンなど他の機能ブロックが含まれていても良い。また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。

（電子機器）
さらに、上述の各実施の形態の情報記録再生装置を一又は複数備えた電子機器を構成してもよい。電子機器は、例えば前記情報記録再生装置を備えたコンピュータ（情報処理装置）などが挙げられる。また、情報記録再生装置と、この情報記録再生装置と通信可能な情報処理装置とによるシステムを構成してもよい。

この電子機器の例としては、情報記録再生装置を内蔵したテレビ、情報記録再生装置を内蔵したパーソナルコンピュータ、情報記録再生装置を内蔵したサーバ、情報記録再生装置を内蔵したゲーム機器、ＨＤ―ＤＶＤライター（情報記録装置）、一の情報記録再生装置と他の情報記録再生装置とを備えたデュプリケータ（記録媒体複製装置）など各種の電気製品を含んでよい。それらの電子機器のうち、情報記録再生装置が複数形成されていてもよく、情報記録再生装置に加えて、情報記録装置や情報再生装置が一又は複数形成されている電子機器であってもよい。

さらに、ベース記録ストラテジの最適ベースパルス幅を決定し、記録条件を決定する手法は、必ずしも実体のある装置に限られる必要はなく、その方法としても機能することは容易に理解できる。このため、方法にかかる発明も、必ずしも実体のある装置に限らず、その方法としても有効であることに相違はない。この場合、方法を実現するための一例として情報記録再生装置や情報記録装置も含めることができる。

ところで、このような情報記録再生装置は、単独で存在する場合もあるし、ある機器に組み込まれた状態で利用されることもあるなど、発明の思想としてはこれに限らず、各種の態様を含むものである。従って、ソフトウェアであったりハードウェアであったりするなど、適宜、変更可能である。発明の思想の具現化例として記録装置のソフトウェアとなる場合には、かかるソフトウェアを記憶した記憶媒体上においても当然に存在し、利用されるといわざるをえない。

さらに、一部がソフトウェアであって、一部がハードウェアで実現されている場合においても、一部を記憶媒体上に記憶しておいて必要に応じて適宜読み込まれるような形態のものとしてあってもよい。本発明をソフトウェアで実現する場合、ハードウェアやオペレーティングシステムを利用する構成とすることも可能であるし、これらと切り離して実現することもできる。
実現方法は、オペレーティングシステムにおける所定の関数を呼び出して処理することも可能であれば、このような関数を呼び出すことなくハードウェアから入力することも可能である。そして、オペレーティングシステムの介在のもとで実現するとしても、プログラムが媒体に記録されて流通される過程においては、このプログラムだけで本発明を実施できるものと理解することができる。

さらに、上記各実施の形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。つまり、上述の各実施の形態同士、あるいはそれらのいずれかと各変形例のいずれかとの組み合わせによる例をも含む。この場合において、本実施の形態において特に記載しなくとも、各実施の形態及びそれらの変形例に開示した各構成から自明な作用効果については、当然のことながら実施の形態の作用効果として含めることができる。逆に、本実施の形態に記載されたすべての作用効果を奏することのできる構成が、本発明の本質的特徴部分の必須構成要件であるとは限らない。また、実施の形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除された構成による実施の形態並びにその構成に基づく技術的範囲も発明になりうる。

そして、各実施の形態及びそれらの変形例を含むこれまでの記述は、本発明の理解を容易にするために、本発明の多様な実施の形態のうちの一例の開示、すなわち、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、例証するものであり、制限するものではなく、適宜変形及び／又は変更が可能である。本発明は、その技術思想、またはその主要な特徴に基づいて、様々な形で実施することができ、各実施の形態及びその変形例によって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。
従って、上記に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物を含む趣旨である。

本発明は、記録装置を製造する製造業、コンピュータ産業などに適用可能である。

本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の概要の一例を示す概略説明図である。 図１に示す情報記録再生装置のＲＦ回路部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図１に示す情報記録再生装置のシステムコントローラの内部構成の一例を示すブロック図である。 図１に示す情報記録再生装置のシステムコントローラの内部のベース記録ストラテジ調整部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図４に示すシステムコントローラ内のベース記録ストラテジ調整部のパルス幅依存性測定器の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図３に示すシステムコントローラの内部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図６に示すシステムコントローラの内部のベースパワー調整制御部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図３に示すシステムコントローラの内部のパワー調整部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図３に示すシステムコントローラの内部の記録ストラテジ調整部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 情報記録再生装置に用いられる記録ストラテジのパルス列（パルストレイン）の一例を示す説明図である。 図１に示す情報記録再生装置に用いられる記録ストラテジの（ｋ−１）型パルス列（パルストレイン）の一例を示す説明図である。 図１に示す情報記録再生装置において、消去パワーを０ｍＷ、３ｍＷ、６ｍＷとした時の記録マークの再生信号変調度と記録ストラテジのパルスのパルス幅との相関関係の一例を示す図であって、再生信号変調度に関するパルス幅依存性を示す説明図である。 図１に示す情報記録再生装置において、再生信号変調度の差分と記録ストラテジのパルスのパルス幅との相関関係の一例を示す図であって、再生信号変調度の差分に関する記録ストラテジのパルスのパルス幅依存性を示す説明図である。 図１に示す情報記録再生装置において、記録ストラテジのパルス幅とＰＲＳＮＲ値との相関関係の一例を示す図であって、該パルス幅が０．１Ｔから０．８Tまでの場合に対し、各々のパルス幅で記録パワー、消去パワー及びトップパルス、ミドルパルス、ラストパルス、クーリングパルスを調整した後のＰＲＳＮＲ値を示す説明図である。 図１に示す情報記録再生装置において、消去パワーを０ｍＷとし、消去パワーを変化させながら記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度と記録パワーとの相関関係の一例であって、再生信号変調度に関する記録パワー依存性を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置において、ＲＦ信号（再生信号）のアイパターンを示す説明図である。 本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の処理手順の全体処理の概要の一例を示すフローチャートである。 本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の処理手順のうち全体処理の詳細手順の一例を示すフローチャートである。 本発明の第１の実施の形態による情報記録再生装置の処理手順のうち最適ベースパルス幅を決定する処理の一例を示すフローチャートである。 図１の情報記録再生装置に用いられるベース記録ストラテジにて記録パワー依存性測定時におけるパルス列の一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置に用いられるベース記録ストラテジにてパルス幅依存性測定時であって、消去パワーが６ｍＷに設定されている場合におけるパルス列の一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置に用いられるベース記録ストラテジにてパルス幅依存性測定時であって、消去パワーが０ｍＷに設定されている場合におけるパルス列の一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置に用いられるベース記録ストラテジにて消去パワーが６ｍＷに設定されている場合でのパルス幅依存性測定時であって、後縁を一律に変化させる場合おけるパルスの一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置に用いられるベース記録ストラテジにて消去パワーが０ｍＷに設定されている場合でのパルス幅依存性測定時であって、後縁を一律に変化させる場合おけるパルスの一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置に用いられるベース記録ストラテジにて消去パワーが６ｍＷに設定されている場合でのパルス幅依存性測定時であって、前縁を一律に変化させる場合おけるパルスの一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置の記録パワー微調整処理における記録パワーを段階的に変化させた場合における記録パワーとＰＲＳＮＲ値との相関関係の一例を示す説明図である。 図１の情報記録再生装置の消去パワー微調整処理における消去パワーを段階的に変化させた場合における消去パワーとＰＲＳＮＲ値との相関関係の一例を示す説明図である。 本発明の第２の実施の形態による情報記録再生装置のシステムコントローラ内のベース記録ストラテジ調整部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 図２８の情報記録再生装置の各部の詳細構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第３の実施の形態による情報記録再生装置の全体構成の一例を示すブロック図である。 本発明の第４の実施の形態による情報記録再生装置の概要の一例を示すブロック図である。 本発明の第５の実施の形態による情報記録再生装置の概要の一例を示すブロック図である。 図１の情報記録再生装置のＰＲＳＮＲ計算器の詳細構成の一例を示すブロック図である。

符号の説明

１ 情報記録再生装置
２ スピンドル駆動系
１０ 光ヘッド部
１２ レーザダイオード（ＬＤ）
１４ 対物レンズ
１６ 受光部
１８ ビームスプリッタ
２０ ＲＦ回路部
２１ プリフィルタ
２２ オートゲインコントロール（ＡＧＣ）
２３ Ａ／Ｄコンバータ（ＡＤＣ）
２４ フェーズロックドループ（ＰＬＬ）
２４ 適応等化器
２５ ビタビ復号器
２７ ＰＲＳＮＲ計算器
３０ 復調器
４０ システムコントローラ
４１ ベースパワー調整部（ベースパワー調整手段）
４１ａ パワー依存性測定器（記録パワー依存性測定制御手段）
４１ｂ パワー変更器
４１ｃ ベースパワー調整制御部（ベースパワー調整制御手段）
４１ｃ−１ 記録パワー調整処理部
４１ｃ−２ 消去パワー調整処理部
４１ｄ パワー依存性測定用パルス幅変更器
４２ ベース記録ストラテジ調整部（ベース記録ストラテジ調整手段）
４２ａ パルス幅依存性測定器（パルス幅依存性測定制御手段）
５１ ピークホールド回路
５２ ボトムホールド回路
５３ 変調度演算回路
５４ 差分演算回路
５５ パルス幅依存性測定回路
４２ｂ ベースパルス幅選択器（ベースパルス幅選択制御手段）
４２ｃ 消去パワー切り替え器（消去パワー条件切替制御手段）
４２ｄ ベースパルス幅変更器（ベースパルス幅変更制御手段）
４２ｅ ベースパルス幅調整制御部（ベースパルス幅変更制御手段）
４３ パワー調整部（パワー調整手段）
４３ａ 記録パワー微調整処理部（記録パワー微調整処理手段）
４３ｂ 消去パワー微調整処理部（消去パワー微調整処理手段）
４４ 記録ストラテジ調整部（記録ストラテジ調整手段）
４４ａ トップパルス・クーリングパルス同時調整処理部
（トップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段）
４４ｂ 第１のトップパルス独立調整処理部
４４ｃ 第１のミドルパルス独立調整処理部
４４ｄ 第１のラストパルス独立調整処理部
４４ｅ 第１のクーリングパルス独立調整処理部
４４ｆ 第２のトップパルス独立調整処理部
４４ｇ 第２のミドルパルス独立調整処理部
４４ｈ 第２のラストパルス独立調整処理部
４４ｉ 第２のクーリングパルス独立調整処理部
４４ｊ 第１の性能確保判定部（第１の性能確保判定処理手段）
４４ｋ 第２の性能確保判定部（第２の性能確保判定処理手段）
４５ 信号品質判定制御部
７２ 変調器
７４ ＬＤ駆動系
７６ サーボコントローラ
７８ 光ディスク（相変化記録媒体）

Ｓ１０Ａ ベースパワー調整処理ステップ（ベースパワー調整ステップ）
Ｓ１０Ｂ ベース記録ストラテジ調整処理ステップ
（ベース記録ストラテジ調整ステップ）
Ｓ１０Ｃ パワー調整処理ステップ（パワー調整ステップ）
Ｓ１０Ｄ 記録ストラテジ調整処理ステップ（記録ストラテジ調整ステップ）

Ｓ１０３ 記録パワー微調整処理ステップ
Ｓ１０４ 消去パワー微調整処理ステップ
Ｓ１０６ 第１の性能確保判定処理ステップ
Ｓ１０７ 第１のトップパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１０８ 第１のミドルパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１０９ 第１のラストパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１１０ 第１のクーリングパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１０７、Ｓ１０８、Ｓ１０９、Ｓ１１０ 第１のパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１１１ 第２の性能確保判定処理ステップ
Ｓ１１２ 第２のトップパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１１３ 第２のミドルパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１１４ 第２のラストパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１１５ 第２のクーリングパルス独立調整処理ステップ
Ｓ１１２、Ｓ１１３、Ｓ１１４、Ｓ１１５ 第２のパルス独立調整処理ステップ

Ｓ２０１〜Ｓ２１２ パルス幅依存性測定制御ステップ
Ｓ２０１ パルス幅変更範囲設定ステップ
Ｓ２０２ 消去パワー条件設定ステップ
Ｓ２０５、Ｓ２０７、Ｓ２１１ ベースパルス幅変更記録ステップ
Ｓ２０６、Ｓ２０８、Ｓ２０９、Ｓ２１１ パルス幅依存性測定ステップ
Ｓ２１３ ベースパルス幅選択制御ステップ

Claims (20)

1. 相変化記録媒体上にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件を決定する記録条件決定方法であって、
   他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整ステップと、
   前記ベース記録ストラテジ調整ステップにて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整ステップと、
   前記ベース記録ストラテジ調整ステップにて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記パワー調整ステップによる調整後に、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整ステップと、
   を含み、
   前記ベース記録ストラテジ調整ステップは、
   消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定すること、
   を特徴とする記録条件決定方法。
2. 請求項１に記載の記録条件決定方法において、
   前記ベース記録ストラテジ調整ステップは、
   互いに異なる少なくとも２つの各消去パワー条件毎に、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を変化させつつテストパターンを各々記録し、該各々のテストパターンからの再生信号変調度を各々測定し、一方の消去パワー条件による一方の再生信号変調度と他方の消去パワー条件による他方の再生信号変調度との差分に関するパルス幅依存性を求めるパルス幅依存性測定制御ステップと、
   前記パルス幅依存性測定制御ステップにて算出された再生信号変調度差分に関する前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択制御するベースパルス幅選択制御ステップと、
   を含むことを特徴とする記録条件決定方法。
3. 請求項２に記載の記録条件決定方法において、
   一方の前記消去パワー条件は、消去パワーを与えない状態の消去パワーを含み、
   他方の前記消去パワー条件は、記録済みマークが消去される消去パワーを含み、
   前記パルス幅依存性測定制御ステップでは、
   消去パワーを与えない状態の消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される一方の再生信号変調度と、記録済みマークが消去される消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される他方の再生信号変調度と、の差分である再生信号変調度差分を、各パルス幅の変化に応じて測定することにより前記再生信号変調度差分のパルス幅依存性を測定制御するようにしたこと、
   を特徴とする記録条件決定方法。
4. 請求項２又は請求項３に記載の記録条件決定方法において、
   前記ベースパルス幅選択制御ステップでは、
   前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択するようにしたことを特徴とする記録条件決定方法。
5. 請求項２乃至請求項４のうちいずれか一項に記載の記録条件決定方法において、
   前記ベースパルス幅選択制御ステップでは、
   前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択するようにしたことを特徴とする記録条件決定方法。
6. 請求項２乃至請求項５のうちいずれか一項に記載の記録条件決定方法において、
   前記パルス幅依存性測定制御ステップでは、
   前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの全てのパルスのパルス幅を等しくし、前記トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させるようにしたこと、
   を特徴とする記録条件決定方法。
7. 請求項１乃至請求項６のうちいずれか一項に記載の記録条件決定方法において、
   前記ベース記録ストラテジ調整ステップによる前記ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、前記レーザ光のパワーを調整するベースパワー調整ステップ、
   をさらに有し、
   前記ベースパワー調整ステップは、
   前記ベース記録ストラテジの記録パワーを変化させて記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性を測定し、該記録パワー依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジに関するパワーを調整すること、
   を特徴とする記録条件決定方法。
8. 請求項１乃至請求項７のうちいずれか一項に記載の記録条件決定方法において、
   前記記録ストラテジ調整ステップは、
   前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅とを同時に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う第１の性能確保判定処理ステップと、
   前記第１の性能確保判定処理ステップにて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を各々独立に、ＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う第１のパルス独立調整処理ステップと、
   を含むことを特徴とする記録条件決定方法。
9. 相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて記録パワー、消去パワー、バイアスパワーの少なくとも３値の間で強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を記録する記録条件を決定する記録条件決定方法であって、
   前記消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の消去パワー条件下で、他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を一律に変化させつつ記録を行うベースパルス幅変更記録ステップと、
   前記２種類の各消去パワー条件下にて各々記録された各パターン列を各々再生し、前記各消去パワー条件下での各再生信号変調度の差に関するパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定ステップと、
   前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を決定するベースパルス幅選択制御ステップと、
   含むことを特徴とする記録条件決定方法。
10. 相変化記録媒体にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録装置であって、
    他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段と、
    前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記レーザ光のパワーを調整するパワー調整手段と、
    前記パワー調整手段による調整後に、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段と、
    を含み、
    前記ベース記録ストラテジ調整手段は、
    前記パターン列を消去する消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定すること、
    を特徴とする記録装置。
11. 請求項１０に記載の記録装置において、
    前記ベース記録ストラテジ調整手段は、
    互いに異なる少なくとも２つの各消去パワー条件を切替制御する消去パワー条件切替制御手段と、
    前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を変更する制御を行うベースパルス幅変更制御手段と、
    各前記消去パワー条件毎に記録された各テストパターンを各々再生させて、各再生信号変調度の差分に関するパルス幅依存性を測定する制御を行うパルス幅依存性測定制御手段と、
    前記パルス幅依存性測定制御手段での前記パルス幅依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジを構成する各パルスの最適ベースパルス幅を選択制御するベースパルス幅選択制御手段と、
    前記各手段を制御するベースパルス幅調整制御手段と、
    を含むことを特徴とする記録装置。
12. 請求項１１に記載の記録装置において、
    一方の前記消去パワー条件は、消去パワーを与えない状態の消去パワーを含み、
    他方の前記消去パワー条件は、記録済みマークが消去される消去パワーを含み、
    前記パルス幅依存性測定制御手段は、
    前記消去パワー条件切替制御手段の切替制御による消去パワー条件と、前記ベースパルス幅変更制御手段のパルス幅条件とに基づいて、消去パワーを与えない状態の消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される一方の再生信号変調度と、記録済みマークが消去される消去パワーにて記録されたテストパターンの再生信号に基づいて測定される他方の再生信号変調度と、の差分である再生信号変調度差分を、各パルス幅の変化に応じて測定することにより前記再生信号変調度差分のパルス幅依存性を測定制御すること、
    を特徴とする記録装置。
13. 請求項１１又は請求項１２に記載の記録装置において、
    前記ベースパルス幅選択制御手段は、
    前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲内のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することを特徴とする記録装置。
14. 請求項１１乃至請求項１３のうちいずれか一項に記載の記録装置において、
    前記ベースパルス幅選択制御手段は、
    前記再生信号変調度差分がパルス幅の変化に対して実質変化しないパルス幅範囲のうち、最小のパルス幅を最適ベースパルス幅として選択することを特徴とする記録装置。
15. 請求項１１乃至請求項１４のうちいずれか一項に記載の記録装置において、
    前記ベースパルス幅変更制御手段は、
    前記ベース記録ストラテジを構成するトップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの全てのパルスのパルス幅を等しくし、前記トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの前縁又は後縁のいずれか一方を一律に変化させること、
    を特徴とする記録装置。
16. 請求項１０乃至請求項１５のうちいずれか一項に記載の記録装置において、
    前記ベース記録ストラテジ調整手段による前記ベース記録ストラテジのパルス幅調整前に、前記レーザ光のパワーを調整するベースパワー調整手段、
    をさらに有し、
    前記ベースパワー調整手段は、
    前記ベース記録ストラテジの記録パワーを変化させて記録を行い、記録された記録マークの再生信号変調度の記録パワー依存性を測定制御する記録パワー依存性測定制御手段と、
    前記記録パワー依存性測定制御手段での記録パワー依存性に基づいて、前記ベース記録ストラテジに関するパワーを調整するベースパワー調整制御手段と、
    を含むことを特徴とする記録装置。
17. 請求項１０乃至請求項１６のうちいずれか一項に記載の記録装置において、
    前記記録ストラテジ調整手段は、
    前記ベース記録ストラテジ調整後に、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅、クーリングパルスのパルス幅を相互に一定の対応関係を持たせて特定範囲内で段階的に変化させるように制御し、前記パターン列を構成する記録マークのＰＲＳＮＲ値に基づいて、前記トップパルスのパルス幅と前記クーリングパルスのパルス幅とを同時に調整する制御を行うトップパルス・クーリングパルス同時調整処理手段、
    を含むことを特徴とする記録装置。
18. 請求項１０乃至請求項１７のうちいずれか一項に記載の記録装置において、
    前記記録ストラテジ調整手段は、
    前記ベース記録ストラテジ調整後であって、前記記録ストラテジを構成するトップパルスのパルス幅とクーリングパルスのパルス幅とを同時に調整した後に、前記記録ストラテジの性能が確保されているか否か判定する処理を行う第１の性能確保判定処理手段と、
    前記第１の性能確保判定処理手段にて性能が確保されていないと判定された場合に、前記記録ストラテジを構成するパルスのパルス幅を各々独立に、ＰＲＳＮＲ値を指標に調整する制御を行う第１の独立調整処理手段と、
    を含むことを特徴とする記録装置。
19. 相変化記録媒体上にパルストレイン型の記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射することで記録マークとスペースによるパターン列を光照射によって記録を行う記録装置であって、
    前記記録マークを消去する消去パワーを与えない状態と、前記記録マークが消去される消去パワーを付与した状態との少なくとも２種類の各消去パワー条件を切替制御する消去パワー条件切替制御手段と、
    他の調整に先立って前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する最初のパルスをトップパルス、それに連なるパルス群をミドルパルス、最後のパルスをラストパルスと逆極性のパルスをクーリングパルスとした時、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスのパルス幅を変化させるベースパルス幅変更制御手段と、
    前記２種類の各消去パワー条件下にて記録された各パターン列を各々再生し、再生された各記録マークの各々の再生信号変調度の差におけるパルス幅依存性を測定するパルス幅依存性測定制御手段と、
    前記パルス幅依存性測定制御手段にて測定されたパルス幅依存性に基づいて、トップパルス、ミドルパルス、ラストパルスの好ましいパルス幅を選択するベースパルス幅選択制御手段と、
    を含むことを特徴とする記録装置。
20. 相変化記録媒体上にパルス列よりなる記録ストラテジにて強度変調したレーザ光を照射してパターン列を記録する記録条件を決定制御する記録条件決定用の制御プログラムであって、
    コンピュータに、
    他の調整に先立って、前記記録ストラテジの調整のベースとなるベース記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整するベース記録ストラテジ調整手段と、
    前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、パワーを調整するパワー調整手段と、
    前記パワー調整手段による調整後に、前記ベース記録ストラテジ調整手段にて調整されたベース記録ストラテジに基づいて、前記記録ストラテジを構成する各パルスのパルス幅を調整する記録ストラテジ調整手段として、
    機能させ、
    前記ベース記録ストラテジ調整手段は、
    前記パターン列を消去する消去パワー条件に依存せず一定の再生信号変調度が得られる最適ベースパルス幅を算出するための調整を行い、前記最適ベースパルス幅によるベース記録ストラテジを決定すること、
    を特徴とする制御プログラム。